JP2016038374A - Light source device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は光学装置に関し、特に光源デバイスに関する。 The present invention relates to an optical apparatus, and more particularly to a light source device.
科学技術の発展に伴い、人々の電気製品における電気部品の精密度及び品質に対する要求も益々高くなっている。現在電気製品の電気部品において、例えばプリント回路基板の品質試験は重要な課題の一つである。異なる光源の搭載により、現在は各種のプリント回路基板の製造時も、製造プロセスの各段階で、各層の構造に対して良好な試験を行うため、例えばプリント回路基板内部の金属配線とソルダマスク層の完成度に対して良好な試験とスクリーニングが可能となる。 With the development of science and technology, the demand for precision and quality of electric parts in people's electric products is increasing. Currently, for example, a quality test of a printed circuit board is an important issue in an electrical component of an electrical product. Due to the mounting of different light sources, at the time of manufacturing various printed circuit boards, in order to perform good tests on the structure of each layer at each stage of the manufacturing process, for example, the metal wiring inside the printed circuit board and the solder mask layer Good testing and screening for completeness is possible.
しかし、従来使用されている方法は往々にして各種のプリント回路基板、各種の電気部品、若しくはその他の精密部品に対して専用の光学試験治具を製作することにより試験を行なっている。あるプリント回路基板の製造に対して、甚だしきに至っては異なる光源の要求により、異なる光学試験治具が必要となり、これらの治具の製作も往々にして全体の製造上のコスト高を招くこととなり、繰り返し使用できない光学試験治具は往々にして無駄となる。 However, conventionally used methods are often tested by producing dedicated optical test jigs for various printed circuit boards, various electrical components, or other precision components. For the manufacture of certain printed circuit boards, different optical test jigs are required due to the requirement of different light sources, and the production of these jigs often leads to high manufacturing costs. Optical test jigs that cannot be used repeatedly are often wasted.
本発明の目的は、試験サンプルに対して複数の種類の試験モードを提供することができる光源デバイスを提供することである。 An object of the present invention is to provide a light source device capable of providing a plurality of types of test modes for a test sample.
本発明は、これらの問題を解決するため本発明は以下の構成を備える。 In order to solve these problems, the present invention has the following configuration.
本発明は、第1光源ユニットと、少なくとも一つの第2光源ユニットと、分光ユニットと、検査モジュールとを含む光源デバイスを提供する。分光ユニットは第1位置及び第2位置に移動するのに適する。前記分光ユニットが第1位置に移動したとき、前記第1光源ユニットが第1光束を放射し、前記分光ユニットは少なくとも一部の前記第1光束を試験サンプルに進行させる。前記少なくとも一部の第1光束は前記試験サンプルで前記検出モジュールに進行する第1サンプル光束として反射される。前記分光ユニットが前記第2位置に移動したとき、前記第2光源ユニットは第2光束を放射し、前記第2光束は前記試験サンプルに放射され、前記第2光束は前記試験サンプルで前記検査モジュールに進行する第2サンプル光束として反射される。 The present invention provides a light source device including a first light source unit, at least one second light source unit, a spectroscopic unit, and an inspection module. The spectroscopic unit is suitable for moving to the first position and the second position. When the spectroscopic unit moves to the first position, the first light source unit emits a first light beam, and the spectroscopic unit advances at least a part of the first light beam to a test sample. The at least part of the first light flux is reflected as a first sample light flux that travels to the detection module in the test sample. When the spectroscopic unit is moved to the second position, the second light source unit emits a second light beam, the second light beam is emitted to the test sample, and the second light beam is the test sample and the inspection module. Is reflected as a second sample light beam traveling forward.
本発明の1つの実施例において、前記分光ユニットが前記第2位置に移動したとき、前記第2光束は前記分光ユニットの傍らを介して前記試験サンプルに進行し、且つ前記第2サンプル光束は分光ユニットの傍らを介して試験モジュールに進行する。 In one embodiment of the present invention, when the spectroscopic unit is moved to the second position, the second light flux travels to the test sample via the spectroscopic unit, and the second sample light flux is spectroscopic. Proceed to the test module through the side of the unit.
本発明の1つの実施例において、前記分光ユニットは、前記試験サンプルからの少なくとも一部の前記第1サンプル光束を前記検出モジュールに進行させる。 In one embodiment of the invention, the spectroscopic unit advances at least a portion of the first sample beam from the test sample to the detection module.
本発明の1つの実施例において、前記第1光源ユニットからの前記少なくとも一部の第1光束は、前記分光ユニットにより前記試験サンプルに反射させられ、且つ前記試験サンプルからの少なくとも一部の前記第1サンプル光束は、前記分光ユニットを透過して前記試験モジュールに進行する。 In one embodiment of the present invention, the at least part of the first light beam from the first light source unit is reflected by the spectroscopic unit to the test sample, and at least part of the first light beam from the test sample. One sample beam passes through the spectroscopic unit and proceeds to the test module.
本発明の1つの実施例において、前記第1光源ユニットは複数の異なる色の発光ユニットを含み、前記第1光束は、一部の前記発光ユニットが放射した光によって構成される。 In one embodiment of the present invention, the first light source unit includes a plurality of light emitting units of different colors, and the first light flux is constituted by light emitted by some of the light emitting units.
本発明の1つの実施例において、前記第1光源ユニットは更に拡散ユニットを含み、前記拡散ユニットは前記発光ユニットが放射する光の経路上に配置される。 In one embodiment of the present invention, the first light source unit further includes a diffusion unit, and the diffusion unit is disposed on a path of light emitted by the light emitting unit.
本発明の1つの実施例において、前記第1光源ユニットは第1軌道グループに固定され、前記第1軌道グループは前記第1光束が前記試験サンプルに入射する方向に調整するのに適し、前記第2光源ユニットは第2軌道グループに固定され、前記第2軌道グループは前記第2光束が前記試験サンプルに入射する入射角を調整するのに適する。 In one embodiment of the present invention, the first light source unit is fixed to a first trajectory group, and the first trajectory group is suitable for adjusting the direction in which the first light flux is incident on the test sample, The two light source units are fixed to a second track group, and the second track group is suitable for adjusting an incident angle at which the second light beam enters the test sample.
本発明の1つの実施例において、前記光源デバイスは、第3光源ユニットを更に含む。前記分光ユニットが第1位置に移動したとき、前記第3光源ユニットは第3光束を放射し、前記第3光束は前記分光ユニットの傍らを介して前記試験サンプルに進行し、且つ前記第3光束は前記試験サンプルで前記検出モジュールに進行する第3サンプル光束として反射される。 In one embodiment of the present invention, the light source device further includes a third light source unit. When the spectroscopic unit is moved to the first position, the third light source unit emits a third light flux, the third light flux travels to the test sample via the spectroscopic unit, and the third light flux Is reflected by the test sample as a third sample beam traveling to the detection module.
本発明の1つの実施例において、前記分光ユニットが前記第1位置に移動したとき、前記第2光源ユニットは光束を放射せず、且つ前記分光ユニットが前記第2位置に移動したとき、前記第1光源ユニット及び第3光源ユニットは光束を放射しない。 In one embodiment of the present invention, when the spectroscopic unit moves to the first position, the second light source unit does not emit a light beam, and when the spectroscopic unit moves to the second position, The one light source unit and the third light source unit do not emit a light beam.
本発明の1つの実施例において、前記第3光源ユニットは第3軌道グループに固定され、前記第3軌道グループは前記第3光束が前記試験サンプルに入射する入射角を調整するのに適する。 In one embodiment of the present invention, the third light source unit is fixed to a third trajectory group, and the third trajectory group is suitable for adjusting an incident angle at which the third light flux is incident on the test sample.
本発明の1つの実施例において、前記第3光源ユニットは更に拡散ユニット及びレンズを含み、前記拡散ユニット及び前記レンズはそれぞれ前記第3光束の進行経路上に配置され、且つ前記第3光源ユニットは線光源である。 In one embodiment of the present invention, the third light source unit further includes a diffusing unit and a lens, the diffusing unit and the lens are respectively disposed on a traveling path of the third light flux, and the third light source unit is It is a line light source.
本発明の1つの実施例において、前記第2光束及び前記第3光束は異なる入射角を以って前記試験サンプルに入射される。 In one embodiment of the present invention, the second light flux and the third light flux are incident on the test sample with different incident angles.
本発明の1つの実施例において、前記第1光源ユニットは面光源であり、前記第2光源は線光源である。 In one embodiment of the present invention, the first light source unit is a surface light source, and the second light source is a line light source.
本発明の1つの実施例において、前記第2光源ユニットは複数であり、これらの第2光源ユニットは紫外線光源、赤外線光源若しくはその組み合わせである。 In one embodiment of the present invention, there are a plurality of the second light source units, and these second light source units are an ultraviolet light source, an infrared light source or a combination thereof.
本発明の1つの実施例において、前記試験サンプルはプリント回路基板である。 In one embodiment of the invention, the test sample is a printed circuit board.
本発明の1つの実施例において、前記検出モジュールは、試験レンズと、受光部品とを含む。前記試験サンプルによって反射された後の前記複数の第1光束及び前記少なくとも第2光束は前記試験レンズを透過した後に前記受光部品に進行する。 In one embodiment of the present invention, the detection module includes a test lens and a light receiving component. The plurality of first light fluxes and the at least second light flux after being reflected by the test sample pass through the test lens and then travel to the light receiving component.
本発明の1つの実施例において、前記第2光源ユニットは拡散ユニットを含み、前記拡散ユニットは前記第2光束の進行経路上に配置される。 In one embodiment of the present invention, the second light source unit includes a diffusion unit, and the diffusion unit is disposed on a traveling path of the second light flux.
本発明の1つの実施例において、前記光源デバイスは前記分光ユニットに連接される一方の端部を備える駆動ユニットを更に含み、前記駆動ユニットは前記分光ユニットを前記第1位置及び第2位置に駆動させるのに適している。 In one embodiment of the present invention, the light source device further includes a driving unit having one end connected to the spectroscopic unit, and the driving unit drives the spectroscopic unit to the first position and the second position. Suitable for letting
本発明の1つの実施例において、前記光源デバイスは作動ユニットと、制御ユニットとを更に含む。前記作動ユニットは前記駆動ユニットの他方の端部に連接される。前記制御ユニットは、前記作動ユニット、前記第1光源ユニット、及び前記第2光源ユニットに電気的に接続される。前記制御ユニットは、前記作動ユニットを制御することにより、前記作動ユニットに、前記駆動ユニットによって前記分光ユニットの位置を移動させると共に、前記第1光源ユニットと前記第2光源ユニットのスイッチを制御する。 In one embodiment of the invention, the light source device further comprises an actuation unit and a control unit. The operating unit is connected to the other end of the driving unit. The control unit is electrically connected to the operating unit, the first light source unit, and the second light source unit. The control unit controls the operation unit to cause the operation unit to move the position of the spectroscopic unit by the drive unit and to control the switches of the first light source unit and the second light source unit.
本発明の1つの実施例において、前記作動ユニットは前記駆動ユニットの前記他方の端部を押し又は引くことにより前記分光ユニットを移動させる。 In one embodiment of the invention, the operating unit moves the spectroscopic unit by pushing or pulling the other end of the drive unit.
本発明の1つの実施例において、前記作動ユニットは前記駆動ユニットを押し又は引くとき、前記駆動ユニットは支点を回転中心として回転する。 In one embodiment of the present invention, when the operating unit pushes or pulls the drive unit, the drive unit rotates about a fulcrum.
本発明の1つの実施例において、前記分光ユニットは分光軌道グループに連接され、前記分光軌道グループは前記分光ユニットを経路に沿って前記第1位置及び第2位置の間で移動させる。 In one embodiment of the present invention, the spectroscopic unit is connected to a spectroscopic trajectory group, and the spectroscopic trajectory group moves the spectroscopic unit between the first position and the second position along a path.
本発明の1つの実施例において、前記分光ユニットが前記第1位置に移動したとき、前記第2光源ユニットは光束を放射せず、且つ前記分光ユニットが第2位置に移動したとき、前記第1光源ユニットは光束を放射しない。 In one embodiment of the present invention, when the spectroscopic unit moves to the first position, the second light source unit does not emit a light beam, and when the spectroscopic unit moves to the second position, The light source unit does not emit a light beam.
上述の記載に基づき、本発明の実施例で提供される光源デバイスは、複数の位置に移動する分光ユニットにより、試験サンプルに対して異なる試験モードの試験光束を提供することができる。この分光ユニットの設計により、光源デバイスが提供する光束は更に高い自由度を具備し、試験サンプルの各種欠陥に対して適当な光束を提供することにより試験を行なうことができる。 Based on the above description, the light source device provided in the embodiment of the present invention can provide test light beams of different test modes to the test sample by the spectroscopic unit moving to a plurality of positions. Due to the design of this spectroscopic unit, the luminous flux provided by the light source device has a higher degree of freedom, and the test can be performed by providing an appropriate luminous flux for various defects of the test sample.
図1は本発明の実施例における光学デバイスの構成図である。図2Aは本発明の実施例における光源デバイスの立体図である。図2B及び図2Cは本発明の実施例における光源デバイスの局部立体図である。2D及び2Eは本発明における光源デバイスの平面図である。図3A及び図3Bは本発明の実施例における光源デバイスの構成図である。なお、上述の図は本発明の実施例が提供する光源デバイスを明確化することができるようにするため、一部の図は一部の構成を省略するように記載しており、これは主に本発明の実施例における光源デバイスの光学運動方式を説明するために用いるものであり、これらの構造及び配置方式に限られるものではない。図1、図3A及び図3Bを参照すると、本発明の実施例において、光源デバイス100は、第1光源ユニット110、第2光源ユニット120、分光ユニット140及び検出モジュール150を含む。分光ユニット140は第1位置及び第2位置に移動するのに適する。具体的には、図3Aは本実施例における分光ユニット140が第1位置に移動したときの構成図であり、分光ユニット140が第1位置に移動したとき、第1光源ユニット110は第1光束L1を放射し、分光ユニット140は少なくとも一部の第1光束L1を試験サンプル50に進行させる。試験サンプル50は少なくとも一部の第1光束L1を検出モジュール150に進行する第1サンプル光束S1として反射する。図3Bは本実施例における分光ユニット140が第2位置に移動したときの構成図であり、分光ユニット140が第2位置に移動したとき、第2光源ユニット120は第2光束L2を放射し、第2光束L2は試験サンプル50に放射され(即ち第2光束L2は分光ユニット140を通過しない)、試験サンプル50は第2光束L2を第2サンプル光束S2として反射し、第2サンプル光束S2は検出モジュール150に進行する。(即ち第2サンプル光束S2は分光ユニット140を通過しない)。
FIG. 1 is a configuration diagram of an optical device according to an embodiment of the present invention. FIG. 2A is a three-dimensional view of a light source device in an embodiment of the present invention. 2B and 2C are local three-dimensional views of the light source device in the embodiment of the present invention. 2D and 2E are plan views of the light source device according to the present invention. 3A and 3B are configuration diagrams of a light source device according to an embodiment of the present invention. In addition, in order to clarify the light source device provided by the embodiment of the present invention, some of the above-described drawings are not illustrated in FIG. These are used for explaining the optical motion system of the light source device in the embodiment of the present invention, and are not limited to these structures and arrangement systems. Referring to FIGS. 1, 3A, and 3B, in an embodiment of the present invention, the
具体的には、図1、図2A、図2B、図3Aを参照すると、これらのうちの図2Bは第2光源ユニット120を省略して示しており、本発明の実施例において、上述した分光ユニット140が第1位置に位置するとき、分光ユニット140は第1光源ユニット110が提供する第1光束L1の進行経路上に位置し、かつ第2光源ユニット120は光束を放射せず、このため第1光束L1の一部を試験サンプル50に反射させ、検出モジュール150は試験サンプル50からの第1のサンプル光束S1を検出することができる。本実施例において、分光ユニット140は例えば光束の一部を反射させ、且つ一部を透過させるビームスプリッターであり、例えば半透過型(Transflective)鏡である。
Specifically, referring to FIG. 1, FIG. 2A, FIG. 2B, and FIG. 3A, FIG. 2B of these shows the second
図1、図3Bを参照すると、本発明の実施例において、上述した分光ユニット140が第2位置に位置するとき、第1光源ユニット110は光束を放射せず、第2光源ユニットが放射する第2光束L2は分光ユニット140の傍らを介して試験サンプル50に進行し、且つ第2サンプル光束S2は分光ユニット140の傍らを介して検出モジュール150に進行する。すなわち、本実施例において、分光ユニット140が第2位置に位置するとき、分光ユニット140は第2光源ユニット120が提供する第2光束L2の進行経路及び第2サンプル光束S2の進行経路外となる。このため、本発明の実施例において提供された光源デバイス100は分光ユニット140の移動によって、異なる光束を試験サンプル50上に提供し、異なる試験効果を提供することにより、異なる試験の要求に対して異なる試験モード及びそれが適用する試験光束を提供する。
Referring to FIGS. 1 and 3B, in the embodiment of the present invention, when the above-described
具体的には、図1、図2A、図2B、図3A及び図3Bを参照すると、本発明の実施例において、光源デバイス100は更に第3光源ユニット130を含み、第3光源ユニットは第3光束L3を放射する。分光ユニット140が第1位置に移動したとき、第3光束L3は分光ユニット140の傍らを介して試験サンプル50に進行し、試験サンプル50は第3光束L3を検出モジュール150に進行する第3サンプル光束S3として反射する。すなわち、図3Aを参照すると、分光ユニット140は第1位置に移動したとき、一部の第1光源ユニット110から放射される第1光束L1及び第3光源ユニット130が放射する第3光束L3は、いずれも試験サンプル50に進行することができ、第2光源ユニット120は光束を放射せず、検出モジュール150は第1光束L1及び第3光束L3によって試験サンプル50を照射して得られた試験影像を取得することができる。図3Bを参照すると、分光ユニット140が第2位置に移動したとき、第1光源ユニット110及び第3光源ユニット130はいずれも光束を放射せず、第2光源ユニット120が放射する第2光束L2は試験サンプル50に放射される。上述した分光ユニット140と、これらの光源ユニットの搭載により、本発明の実施例における光源デバイス100は最適な試験光束を適切に提供することができる。
Specifically, referring to FIGS. 1, 2A, 2B, 3A, and 3B, in an embodiment of the present invention, the
具体的には、図1、図3A、及び図3Bを参照すると、本発明の実施例において、第1光源ユニット110は複数の異なる色の発光ユニット112を含み、第1光束L1は一部のこれらの発光ユニット112によって放射される光によって構成される。第2光源ユニット120は複数の第2光源ユニット120であり、これらの第2光源ユニット120は紫外線光源、赤外線光源、若しくはこれらの組み合わせである。第3光源ユニット130は複数の発光ユニット132を含む。
Specifically, referring to FIG. 1, FIG. 3A, and FIG. 3B, in an embodiment of the present invention, the first
図4A及び図4Bは本発明の実施例における面光源の構成図である。図3A、図4A及び図4Bを参照すると、詳細には、本発明の実施例において、第1光源ユニット110はこれらの発光ユニット112が構成する面光源であり、且つ第1光源ユニット110は更に拡散ユニット114を含み、拡散ユニット114はこれらの発光ユニット112が放射する光束の進行経路上に配置され、これらの発光ユニット112が放射する光束は少なくとも赤色、緑色、青色、及び白色の可視光線を含み、かつこれらの異なる色の光は拡散ユニット114によって第1光束L1に混合される。拡散ユニット114は例えば光学拡散板であり、光束を混合することができる他、第1光束L1を均一に試験サンプル50に照射させることができ、且つ拡散を経た第1光束L1は複数の角度に進行するため、第1光束L1が照射する影像は、それが照射する表面上の構造により容易に影響されず、第1光束L1によって照射され覆われる試験サンプル50の表面を更に平滑な影像を以って現すことができる。本実施例において、第1光源110は更にコンタクト115(図4B参照)を含むことによりその他の部材に電気的に接続され、その他の部品もコンタクト115に連接されることによって第1光源ユニット110を制御する。
4A and 4B are configuration diagrams of a surface light source in an embodiment of the present invention. Referring to FIGS. 3A, 4A and 4B, in detail, in the embodiment of the present invention, the first
図5A及び図5Bは本発明の実施例における線光源の構成図である。図3A、図5A及び図5Bを参照すると、詳細には、本発明の実施例において、第3光源ユニット130はこれらの発光ユニット132が構成する線光源であり、且つ第3光源ユニット130は更にレンズ136及び拡散ユニット134を含み、これらはいずれも発光ユニット132が放射する光束の進行経路上に配置され、これらの発光部材132が放射する光は少なくとも赤色、緑色、青色の可視光線を含み、且つこれらの異なる色の光は先ずレンズ136を介して焦点が合わせられ、再び拡散ユニット134を介して第3光束L3を混合する。第3発光ユニット130は線光源であるため、第3光束L3は所定の入射角度を以って試験サンプル50に入射することが可能であり、さらに、試験サンプル50の表面に均一に照射させ覆われる第1光束L1と協力し、第3光束L3は、表面上の所定の瑕疵若しくは構造が影を呈するので、試験サンプル50に対して良好な試験を行なうことができる。本実施例において、第3光源ユニット130は更にコンタクト135を含むことにより(図5B参照)、その他の部材と電気的に接続され、その他の部材はコンタクト135に連接されることにより第3光源ユニット130を制御する。
5A and 5B are configuration diagrams of the line light source in the embodiment of the present invention. Referring to FIGS. 3A, 5A and 5B, in detail, in the embodiment of the present invention, the third
図3B、図5A、及び図5Bを参照すると、詳細には、本発明の実施例において、これらの第2の光源ユニット120は線光源を構成し、それは第3光源ユニット130に類似するように配置されるため、後述のレンズ及び拡散ユニットの配置位置は上述の第3光源ユニット130の内容と直接対応する。本実施例において、第2光源ユニット120は更にレンズ及び拡散ユニットを含み、それらはいずれもこれらの第2光源ユニット120が放射する光束の進行経路上に配置され、これらの第2光源ユニット120が放射する光は先ずレンズを介して焦点が合わせられ再び拡散ユニットを介して第2光束L2を混合する。第2発光ユニット120は線光源であるため、第2光束L2は所定の入射角度を以って試験サンプル50に入射され、所定波長を具備する第2光束L2は試験サンプル50における所定の層に対して良好な試験を行なうことができる。
Referring to FIGS. 3B, 5A, and 5B, in detail, in the embodiment of the present invention, these second
具体的には、図3B、図5A及び図5Bを参照すると、本発明の実施例における第2の光束L2は例えば紫外線であり、それは試験サンプル50に対する透過率は比較的低いため、試験サンプル50の最外層に対して試験を行なうのに適している。更に具体的には、本発明の実施例における試験サンプル50は例えばプリント回路基板であり、紫外線はプリント回路基板の最外層のソルダマスク層に対して試験を行なうのに適するが、これに限られるものではない。その他の実施例において、第2光源ユニット120は例えば赤外線光源であり、それが放射する赤外線は試験サンプル50を透過するのに適するので、例えばプリント回路基板に対して試験を行なうとき、第2光源ユニット120が放射する赤外線は、ソルダマスク層を透過して中の金属導電層を試験するのに適している。他の実施例において、第2光源ユニット120は更に赤外線光源と紫外線光源を同時に具備することができ、それは必要とされる試験の目的に基づいて所望の光束の種類を調整することができる。本実施例において、第2光源ユニット120は更にコンタクトを含むことによりその他の部材と電気的に接続され、その他の部材はコンタクトと接続することにより第2光源ユニット120を制御する。
Specifically, referring to FIG. 3B, FIG. 5A, and FIG. 5B, the second light beam L2 in the embodiment of the present invention is, for example, ultraviolet light, and the transmittance of the
図3A及び図3Bを参照すると、本発明の実施例において、試験サンプル50は更にステージ60に置くことができ、ステージ60は方向d1に沿って移動する。このため、上述の第2光束L2が試験サンプル50を照射するとき、ステージ60の移動によって、検出モジュール150が検査する第2サンプル光束に、全体の試験サンプル50の上面の試験パターンを構成させる。一方、本実施例において、第2光束L2は例えば約23度の入射角を以って試験サンプル50に入射され、第3光束L3は例えば約55度の入射角を以って試験サンプル50に入射される。
Referring to FIGS. 3A and 3B, in the embodiment of the present invention, the
図1、図2A、図2B、及び図3Aを参照すると、更に本発明の実施例において、第1光源ユニット110は第1軌道グループ(図示せず)に固定され、第1軌道グループは第1光束L1が試験サンプル50に入射する方向に調整されるのに適している。第2光源ユニット120は第2軌道グループ128に固定され、第2軌道グループ128は、第2光束L2が試験サンプル50に入射する入射角を調整するのに適しており、第3光源ユニット130は第3軌道グループ138に固定され、第3軌道グループ138は、第3光束L3が試験サンプル50に入射する入射角を調整するのに適している。具体的には、第2光束L2及び第3光束L3はそれぞれ異なる入射角を以って試験サンプル50に入射されるが、これに限られるものではない。本実施例において、これらの軌道グループは、異なる試験サンプル50に基づいて調整することができるので、異なる試験サンプルに対して良好な試験光束を提供することができる。
Referring to FIGS. 1, 2A, 2B, and 3A, in an embodiment of the present invention, the first
詳細には、図2B及び図3Aを参照すると、本発明の実施例において、分光ユニット140は試験サンプル50からの少なくとも一部の第1サンプル光束S1を検出モジュール150に進行させる。すなわち、本実施例において、分光ユニット140が第1位置に位置するとき、一部の第1光束L1は試験サンプル50に反射させることができ、同時に試験サンプル50からの第1サンプル光束S1の一部を透過させる。分光ユニット140は第2位置に位置するとき、第2光束L2の進行経路から離れ、第2光束L2に試験サンプル50を照射させ、同時に第2サンプル光束S2を試験モジュール150に進行させる。
Specifically, referring to FIGS. 2B and 3A, in an embodiment of the present invention, the
本発明の実施例において、上述の分光ユニット140は例えば手動により第1位置及び第2位置の間を移動させることができるが、本発明はこれに限られない。図2B及び図2Cを参照すると、本発明の実施例において、光源デバイス100は更に駆動ユニット160を含み、この駆動ユニット160は分光ユニット140に連接される一方の端部161を具備し、且つ駆動ユニット160は、分光ユニット140を第1位置及び第2位置に駆動させるのに適している。更に具体的には、本発明の実施例において、光源デバイス100は更に作動ユニット170及び制御ユニット180(図3A及び図3Bを併せて参照のこと)を含む。作動ユニット170は駆動ユニット160の他方の端部163に連接される。制御ユニット180は作動ユニット170、第1光源ユニット110及び第2光源ユニット120に電気的に接続される。制御ユニット180が作動ユニット170を制御することにより、作動ユニット170に、駆動ユニット160によって分光ユニット140の位置を移動させ、制御ユニット180は第1光源ユニット110と第2光源ユニットのスイッチも制御する。更に述べると、本実施例において、制御ユニット180は第3光源ユニット130に電気的に接続されており、制御ユニット180は第3光源ユニットのスイッチを制御できる。
In the embodiment of the present invention, the above-described
詳細には、図2B及び図2Cを参照すると、本発明の実施例において、作動ユニット170は駆動ユニット160の端部163を押し又は引くことにより、分光ユニット140を移動させ、作動ユニット170が駆動ユニット160を押し又は引くとき、駆動ユニット160は支点162を回転中心として回転する。つまり、駆動ユニット160は例えば支点162により固定されるものであり、作動ユニット170の押し引きにより、駆動ユニット160に、例えば「てこの原理」によって分光ユニット140を移動させるものである。更に、本実施例において分光ユニット140は分光軌道グループ(図示せず)に連接され、分光軌道グループは、分光ユニット140を経路に沿って第1位置及び第2位置の間を移動させる。すなわち、作動ユニット170が駆動ユニット160を押し又は引くことにより、分光ユニット140を分光軌道グループに沿って移動させるともいえる。具体的には、本実施例において、作動ユニット170は例えば空気圧シリンダ若しくは空気圧機器であり、気体の充填若しくは排出によりその他の部材を押し動かす。
In detail, referring to FIGS. 2B and 2C, in the embodiment of the present invention, the
図1を参照すると、本発明の実施例において、上述の検出モジュール150は、試験レンズ及び受光部品(図示せず)を含む。試験サンプル50に反射された後の一部の第1サンプル光束S1及び一部の第2サンプル光束S2は試験レンズを透過した後、受光部品に到達する。即ち、本実施例においては、検出モジュール150は例えば試験レンズを含んだ電荷結合素子(Charger-Coupled Device, CCD)であるが、これには限られない。
Referring to FIG. 1, in the embodiment of the present invention, the
一方、図1乃至図2Eを参照すると、本発明の実施例において、第2発光ユニット120及び第3発光ユニット130は、それぞれ放熱ブロック121、131及び放熱ファン123、133を含み、第1発光ユニット120及び第3発光ユニット130に更に良好な発光機能を持たせるようにしても良い。
Meanwhile, referring to FIGS. 1 to 2E, in the embodiment of the present invention, the second
以上の様に、本発明の実施例が提供する光源デバイスは第1光源ユニット、第2光源ユニット、及び複数の位置に移動可能な分光ユニットにより、試験サンプルに対して異なる試験モードを提供することが可能であり、試験モードは例えば異なる波長、異なる入射角度を具備する試験光束である。これらの種類の分光ユニットの設計により、光源デバイスが提供する光束は更に高い自由度を具備することができ、例えば試験光束の波長と入射角度はサンプル及び要求により調整することができ、併せて試験サンプルの各種の欠陥に対して適切な光束を提供することにより検査を行なうことができる。また、複数の波長の光束及び異なる角度の入射方式を提供することができるので、本発明の実施例が提供する光源デバイスは各種の異なる試験サンプルに適用されるため、異なる試験サンプルに対して新たな検査治具を特別に製作する必要がない。 As described above, the light source device provided by the embodiment of the present invention provides different test modes for the test sample by the first light source unit, the second light source unit, and the spectroscopic unit movable to a plurality of positions. The test mode is, for example, a test beam having different wavelengths and different incident angles. Due to the design of these types of spectroscopic units, the luminous flux provided by the light source device can have a higher degree of freedom, for example, the wavelength and the incident angle of the test luminous flux can be adjusted according to the sample and requirements, together with the test Inspection can be performed by providing an appropriate luminous flux for various defects in the sample. In addition, since light beams of a plurality of wavelengths and incident systems with different angles can be provided, the light source device provided by the embodiment of the present invention is applied to various different test samples, and thus is newly applied to different test samples. There is no need to make a special inspection jig.
本発明は実施例の如く説明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、如何なる技術における当業者が本発明の精神と範囲を逸脱しない限りにおいて、変更と追加が許されるものであり、本発明の保護範囲は本発明の均等の範囲にまで及ぶものとする。 Although the present invention has been described by way of examples, the present invention is not limited thereto, and modifications and additions are permitted without departing from the spirit and scope of the present invention by those skilled in the art. The protection scope of the present invention extends to the equivalent scope of the present invention.
本発明の実施例の光源デバイスは各種の異なる試験サンプルの試験に広く応用することができる。 The light source devices of the embodiments of the present invention can be widely applied to test various different test samples.
d1 方向
L1 第1光束
L2 第2光束
L3 第3光束
S1 第1サンプル光束
S2 第2サンプル光束
S3 第3サンプル光束
50 試験サンプル
60 ステージ
100 光源デバイス
110 第1光源ユニット
112 発光ユニット
114 拡散ユニット
115 コンタクト
120 第2光源ユニット
121 放熱ブロック
123 放熱ファン
128 第2軌道グループ
130 第3光源ユニット
131 放熱ブロック
132 発光ユニット
133 放熱ファン
134 拡散ユニット
135 コンタクト
136 レンズ
138 第3軌道グループ
140 分光ユニット
150 検出モジュール
160 駆動ユニット
161、163 端部
162 支点
170 作動ユニット
180 制御ユニット
d1 direction L1 first light beam L2 second light beam L3 third light beam S1 first sample light beam S2 second sample light beam S3 third
Claims (23)
少なくとも一つの第2光源ユニットと、
第1位置及び第2位置に移動するのに適する分光ユニットと、
検査モジュールを含み、
前記分光ユニットが第1位置に移動したとき、前記第1光源ユニットが第1光束を放射し、前記分光ユニットは少なくとも一部の前記第1光束を試験サンプルに進行させ、前記少なくとも一部の第1光束は前記試験サンプルで、前記検出モジュールに進行する第1サンプル光束として反射され、且つ前記分光ユニットが前記第2位置に移動したとき、前記第2光源ユニットは第2光束を放射し、前記第2光束は前記試験サンプルに放射され、前記第2光束は前記試験サンプルで前記検出モジュールに進行する第2サンプル光束として反射される、
ことを特徴とする光源デバイス。 A first light source unit;
At least one second light source unit;
A spectroscopic unit suitable for moving to a first position and a second position;
Including inspection module,
When the spectroscopic unit is moved to the first position, the first light source unit emits a first light beam, the spectroscopic unit advances at least a part of the first light beam to a test sample, and the at least a part of the first light beam unit. One light beam is reflected by the test sample as a first sample light beam traveling to the detection module, and when the spectroscopic unit moves to the second position, the second light source unit emits a second light beam, A second light beam is emitted to the test sample, and the second light beam is reflected by the test sample as a second sample light beam traveling to the detection module;
A light source device characterized by that.
ことを特徴とする請求項1に記載の光源デバイス。 When the spectroscopic unit is moved to the second position, the second light beam travels to the test sample via the spectroscopic unit, and the second sample light beam passes to the test module via the spectroscopic unit. proceed,
The light source device according to claim 1.
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の光源デバイス。 The spectroscopic unit advances at least a portion of the first sample beam from the test sample to the detection module;
The light source device according to claim 1, wherein the light source device is a light source device.
ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の光源デバイス。 The at least a part of the first light beam from the first light source unit is reflected by the spectroscopic unit to the test sample, and at least a part of the first sample light beam from the test sample passes through the spectroscopic unit. Pass through to the test module,
The light source device according to claim 1, wherein the light source device is a light source device.
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の光源デバイス。 The first light source unit includes a plurality of light emitting units of different colors, and the first light flux is constituted by light emitted by some of the light emitting units.
The light source device according to claim 1, wherein the light source device is a light source device.
ことを特徴とする請求項5に記載の光源デバイス。 The first light source unit further includes a diffusion unit, and the diffusion unit is disposed on a path of light emitted from the light emitting unit.
The light source device according to claim 5.
ことを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の光源デバイス。 The first light source unit is fixed to a first trajectory group, the first trajectory group is suitable for adjusting a direction in which the first light beam is incident on the test sample, and the second light source unit is a second trajectory group. Fixed, and the second trajectory group is suitable for adjusting an incident angle at which the second light flux is incident on the test sample,
The light source device according to claim 1, wherein the light source device is a light source device.
前記分光ユニットが第1位置に移動したとき、前記第3光源ユニットは第3光束を放射し、前記第3光束は前記分光ユニットの傍らを介して前記試験サンプルに進行し、且つ前記第3光束は前記試験サンプルで前記検出モジュールに進行する第3サンプル光束として反射される、
ことを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載の光源デバイス。 A third light source unit;
When the spectroscopic unit is moved to the first position, the third light source unit emits a third light flux, the third light flux travels to the test sample via the spectroscopic unit, and the third light flux Is reflected by the test sample as a third sample beam traveling to the detection module,
The light source device according to claim 1, wherein the light source device is a light source device.
ことを特徴とする請求項8に記載の光源デバイス。 When the spectroscopic unit moves to the first position, the second light source unit does not emit a light beam, and when the spectroscopic unit moves to the second position, the first light source unit and the third light source unit are Does not emit luminous flux,
The light source device according to claim 8.
ことを特徴とする請求項8又は9に記載の光源デバイス。 The third light source unit is fixed to a third trajectory group, and the third trajectory group is suitable for adjusting an incident angle at which the third light flux enters the test sample;
The light source device according to claim 8, wherein the light source device is a light source device.
ことを特徴とする請求項8〜10のいずれか一項に記載の光源デバイス。 The third light source unit further includes a diffusing unit and a lens, the diffusing unit and the lens are respectively disposed on a traveling path of the third light beam, and the third light source unit is a linear light source.
The light source device according to claim 8, wherein the light source device is a light source device.
ことを特徴とする請求項8〜11のいずれか一項に記載の光源デバイス。 The second light flux and the third light flux are incident on the test sample with different angles of incidence;
The light source device according to claim 8, wherein the light source device is a light source device.
ことを特徴とする請求項1〜12のいずれか一項に記載の光源デバイス。 The first light source unit is a surface light source, and the second light source is a line light source.
The light source device according to claim 1, wherein the light source device is a light source device.
ことを特徴とする請求項1〜13のいずれか一項に記載の光源ユニット。 There are a plurality of the second light source units, and these second light source units are an ultraviolet light source, an infrared light source or a combination thereof.
The light source unit according to claim 1, wherein the light source unit is a light source unit.
ことを特徴とする請求項1〜14のいずれか一項に記載の光源デバイス。 The test sample is a printed circuit board;
The light source device according to claim 1, wherein the light source device is a light source device.
試験レンズと、
受光部品とを含み、
前記試験サンプルによって反射された後の前記複数の第1光束及び前記少なくとも第2光束は前記試験レンズを透過した後に前記受光部品に到達する、
ことを特徴とする請求項1〜15のいずれか一項に記載の光源デバイス。 The detection module includes:
A test lens,
Including light receiving parts,
The plurality of first light fluxes and the at least second light flux after being reflected by the test sample reach the light receiving component after passing through the test lens,
The light source device according to claim 1, wherein the light source device is a light source device.
ことを特徴とする請求項1〜16のいずれか一項に記載の光源デバイス。 The second light source unit includes a diffusion unit, and the diffusion unit is disposed on a traveling path of the second light flux.
The light source device according to claim 1, wherein the light source device is a light source device.
前記駆動ユニットは前記分光ユニットを前記第1位置及び第2位置に駆動させるのに適している、
ことを特徴とする請求項1〜17のいずれか一項に記載の光源デバイス。 A driving unit having one end connected to the spectroscopic unit;
The drive unit is suitable for driving the spectroscopic unit to the first position and the second position.
The light source device according to claim 1, wherein the light source device is a light source device.
前記作動ユニット、前記第1光源ユニット、及び前記第2光源ユニットに電気的に接続され、前記作動ユニットを制御することにより、前記作動ユニットに、前記駆動ユニットによって前記分光ユニットの位置を移動させると共に、前記第1光源ユニットと前記第2光源ユニットのスイッチを制御する制御ユニットと、
を更に含むことを特徴とする請求項18に記載の光源デバイス。 An actuation unit connected to the other end of the drive unit;
While electrically connected to the operating unit, the first light source unit, and the second light source unit and controlling the operating unit, the operating unit moves the position of the spectroscopic unit by the driving unit. A control unit for controlling a switch of the first light source unit and the second light source unit;
The light source device according to claim 18, further comprising:
ことを特徴とする請求項19に記載の光源デバイス。 The actuating unit moves the spectroscopic unit by pushing or pulling the other end of the drive unit;
The light source device according to claim 19.
ことを特徴とする請求項19又は20に記載の光源デバイス。 When the actuating unit pushes or pulls the driving unit, the driving unit rotates around a fulcrum,
21. The light source device according to claim 19 or 20, wherein:
ことを特徴とする請求項1〜21のいずれか一項に記載の光源デバイス。 The spectroscopic unit is connected to a spectroscopic trajectory group, and the spectroscopic trajectory group moves the spectroscopic unit between the first position and the second position along a path;
The light source device according to claim 1, wherein the light source device is a light source device.
ことを特徴とする請求項1〜22のいずれか一項に記載の光源デバイス。 When the spectroscopic unit moves to the first position, the second light source unit does not emit a light beam, and when the spectroscopic unit moves to the second position, the first light source unit does not emit a light beam.
The light source device according to claim 1, wherein the light source device is a light source device.
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