KR101605807B1

KR101605807B1 - ZIF Connector

Info

Publication number: KR101605807B1
Application number: KR1020140051022A
Authority: KR
Inventors: 전진국; 박성규; 장승철
Original assignee: 주식회사 오킨스전자
Priority date: 2014-04-28
Filing date: 2014-04-28
Publication date: 2016-03-24
Also published as: KR20150124554A

Abstract

본 발명은 하우징; 상기 하우징 내에 좌우 한쌍으로 장착되는 커넥터용 터미널 컨택트; 상기 하우징 내에 고정장착되는 고정플레이트와 상기 고정플레이트의 하부에 복수개 연장형성되어 하방으로 돌출된 돌출지지부가 형성된 인서트 플레이트; 및 상기 돌출지지부의 단부가 관통하는 관통공이 형성되고 프로브 카드의 하면에 부착되는 클램핑 플레이트를 포함하는 지아이에프 커넥터를 제공한다.The present invention relates to a semiconductor device comprising: a housing; A terminal contact for a connector mounted in a pair in the housing; An insert plate having a stationary plate fixedly mounted in the housing and a plurality of protruding support portions extending downwardly from the stationary plate; And a clamping plate having a through hole through which the end of the protruding support part passes and attached to the lower surface of the probe card.

Description

Zieff connector {ZIF Connector}

본 발명은 지아이에프 커넥터에 관한 것으로, 보다 상세하게는 제조공정이 간단하고 프로브 카드에 부착시 무리한 힘을 가하지 않고서도 수평방향 변위 및 흔들림 없이 손쉽게 부착시킬 수 있는 지아이에프 커넥터에 관한 것이다.
The present invention relates to a GIAFE connector, and more particularly, to a GIAFE connector in which a manufacturing process is simple and can be easily attached without horizontal displacement and shake without imposing excessive force when attached to a probe card.

일반적으로, 각종 반도체 및 회로기판은 제작 후, 검사과정을 거침에 따라 불량여부를 확인하게 되고, 양품의 경우만, 제품화하여 판매되고 있다.Generally, various semiconductors and circuit boards are checked for defects according to an inspection process after their fabrication, and only good products are commercialized and sold.

이러한 검사를 위한 커넥터는 다수의 터미널 컨택트를 갖는 하우징이 구비되고, 회로기판에 결합됨에 따라 프로브 카드의 검사용 패턴과 다수의 터미널 컨택트가 접속되며, 검사를 위한 카드를 결합시켜 카드에 대한 검사가 이루어진다.The connector for such inspection is provided with a housing having a plurality of terminal contacts. As it is coupled to the circuit board, a pattern for inspection of the probe card and a plurality of terminal contacts are connected. .

여기서, 종래 검사용 커넥터는 프로브 카드에 다수 개 구비되며, 각 커넥터는 도 1에 도시한 바와 같이 리벳터미널(3)에 의해 프로브 카드(4)에 결합되는 것으로, 리벳터미널은 커넥터의 하우징(2)에 구비되어 프로브 카드의 리벳공에 관통된 후, 하단을 소성변형시켜 커넥터를 프로브 카드에 결합시키게 된다.1, each of the connectors is coupled to the probe card 4 by a rivet terminal 3 as shown in Fig. 1, and the rivet terminal is connected to the housing 2 of the connector ), Penetrates the rivet hole of the probe card, and then plastically deforms the lower end to couple the connector to the probe card.

그러나 종래 커넥터의 리베팅 작업 과정에서 리벳을 변형시키기 위하여 도 1에 도시한 바와 같이 과도한 힘이 소요되는 문제점이 발생하였을 뿐만 아니라, 이 힘에 의해 커넥터의 각종 부품 및 프로브 카드 등이 손상되는 문제점도 발생하였다.However, in order to deform the rivet in the process of revetting the conventional connector, an excessive force is required as shown in Fig. 1, and also various parts of the connector and the probe card are damaged by the force Respectively.

특히, 리벳공의 직경이 리벳의 직경보다 커 고정된 커넥터가 프로브 카드의 면과 수평한 방향으로 이동될 수 있어 해당 터미널 컨택트가 검사용 패턴과 접촉되지 못함에 따라 검사가 되지 않는 문제점이 있다.Particularly, the connector having the rivet hole whose diameter is larger than the diameter of the rivet can be moved in a direction parallel to the surface of the probe card, and the terminal contact can not be inspected due to the contact with the inspection pattern.

이를 해소하기 위해, 등록특허 10-0909683호에서 개진된 바와 같이, 리벳터미널은 다수의 수직고정편(3a)이 형성되고, 각 수직고정편의 하단부는 양측으로 분기되어 리벳홈(3b)이 형성된다.In order to solve this problem, as disclosed in Patent Document 10-0909683, the rivet terminal is formed with a plurality of vertical fixing pieces 3a, and a lower end of each vertical fixing piece is branched to both sides to form a rivet groove 3b .

이러한 리벳터미널은 다수의 수직고정편이 프로브 카드의 해당 관통공에 관통설치된 후, 분기된 단부가 리벳홈을 기준으로 외측으로 벌어짐에 따라 프로브 카드에 고정된다.The rivet terminal is fixed to the probe card as a plurality of vertical fasteners are inserted through the corresponding through-holes of the probe card, and then the branched end is expanded outward with respect to the rivet groove.

또한 관통공에 위치되는 수직고정편의 양측에는 다수의 걸림돌기(3d)가 형성되되 관통공의 직경보다 크게 형성되고, 내측에는 탄성밀착공(3c)이 형성되어 관통공 설치 시, 다수의 걸림돌기(3d)가 관통공의 내주면과 닿으면 관통되도록 탄성밀착공(3c)이 변형되어 프로브 카드에 고정되는 것이다.In addition, a plurality of locking projections 3d are formed on both sides of the vertical fixing pieces located in the through holes, and the elastic fixing holes 3c are formed on the inner side of the through holes, And the elastic contact holes 3c are deformed and fixed to the probe card so that the elastic contact holes 3d penetrate the inner circumferential surface of the through hole.

그러나 커넥터의 결합 시, 어느 한측으로 힘이 더 가해져 양측의 걸림돌기가 동일한 형상으로 변형되지 못하게 되어 관통공의 내주면을 파손시킬 수 있으며, 이는 수평방향의 변위 및 흔들림을 발생시키게 되는 원인이 되고 있다.However, when the connectors are coupled, a force is applied to one side of the connector to prevent the locking protrusions on both sides from being deformed into the same shape, thereby damaging the inner circumferential surface of the through hole. This causes displacement and shaking in the horizontal direction.

특히, 마모된 컨택트를 갖는 커넥터를 교체할 경우, 양측으로 벌어진 수직고정핀의 하단부를 원상복구시키고, 상측으로 분리시켜야 됨에 따라 프로브 카드의 관통공을 파손시켜 교체된 커넥터의 수평 변위와 흔들림이 더욱 심해져 검사신뢰성이 저하되는 문제점이 있다.Particularly, when the connector having the worn contact is replaced, the lower end portion of the vertical fixing pin opened on both sides is restored to the original position and separated to the upper side, so that the through hole of the probe card is broken, The reliability of the inspection is deteriorated.

이에 따라, 프로브 카드에 수평이동 및 흔들림 없이 견고하게 고정시킴은 물론, 용이하게 분리시킬 수 있어 파손방지에 따른 비용절감과 검사신뢰성 및 작업효율을 향상시킬 수 있는 기술에 대한 개발이 절실히 요구되고 있는 실정이다.Accordingly, the probe card is firmly fixed to the probe card without being horizontally moved or shaken, and can be easily separated. Therefore, there is a desperate need to develop a technology that can reduce cost due to breakage prevention, improve inspection reliability, and work efficiency It is true.

본 발명은 상기한 바와 같은 종래기술이 가지는 문제를 해결하기 위해 안출된 것으로, 그 목적은 제조공정이 간단하고 프로브 카드에 부착시 무리한 힘을 가하지 않고서도 수평방향 변위 및 흔들림 없이 손쉽게 부착시킬 수 있는 지아이에프 커넥터를 제공함에 있다.
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the problems of the prior art as described above, and its object is to provide a probe card which can be easily attached without any horizontal displacement and shake without applying excessive force when attached to a probe card Thereby providing a Jiaife connector.

상기한 바와 같은 본 발명의 기술적 과제는 다음과 같은 수단에 의해 달성되어진다.The technical problem of the present invention as described above is achieved by the following means.

(1) 하우징; 상기 하우징 내에 좌우 한쌍으로 장착되는 커넥터용 터미널 컨택트; 상기 하우징 내에 고정장착되는 고정플레이트와 상기 고정플레이트의 하부에 복수개 연장형성되어 하방으로 돌출된 돌출지지부가 형성된 인서트 플레이트; 및 상기 돌출지지부의 단부가 관통하는 관통공이 형성되고 프로브 카드의 하면에 부착되는 클램핑 플레이트를 포함하는 지아이에프 커넥터.
(1) a housing; A terminal contact for a connector mounted in a pair in the housing; An insert plate having a stationary plate fixedly mounted in the housing and a plurality of protruding support portions extending downwardly from the stationary plate; And a clamping plate formed with a through hole through which the end of the protruding support portion passes and attached to a lower surface of the probe card.

(2) 상기 (1)에 있어서,(2) In the above (1)

하우징의 생산공정 중 상기 인서트 플레이트를 하우징 금형내 삽입한 상태에서 수지재료를 주입하여 사출성형하여 일체로 제조 것을 특징으로 하는 지아이에프 커넥터.
Wherein the insert plate is integrally formed by injection molding a resin material in a state where the insert plate is inserted into the housing mold during the production process of the housing.

(3) 상기 (1)에 있어서,(3) In the above (1)

돌출지지부의 단부는 상광하협의 테이퍼 구조를 이루며, 단부가 강제끼움 방식으로 관통공을 관통하는 과정에서 관통공의 내주연이 예각으로 기립하면서 돌출지지부의 외주연에 스크래치를 가하는 방식으로 내측으로 가압한 것을 특징으로 하는 지아이에프 커넥터.
The end portion of the projecting support portion has a tapered structure having a vertical light-tight tapered structure. The end portion of the projecting support portion is pressed inwardly in such a manner that the inner periphery of the through hole rises at an acute angle and scratches the outer periphery of the projecting support portion during the passage of the end portion through the through- Wherein the first and second connectors are electrically connected to each other.

(4) 상기 (1)에 있어서, 상기 터미널 컨택트는 (4) In the above-mentioned (1), the terminal contact

상단의 상대 커넥터 삽입부; 상기 커넥터 삽입부와 하방으로 연결된 지지대; 및 상기 지지대 하단에 하방으로 연장형성되며, 외측으로 절곡된 절곡부와 상기 절곡부에 연장형성된 무절곡단부를 갖는 단자접촉부를 포함하는 지아이에프 커넥터.
An upper mating connector inserting portion; A support base connected to the connector insertion portion downward; And a terminal contact portion extending downward from the lower end of the support portion and having a bent portion bent outwardly and a non-bent end portion extending in the bent portion.

(5) 상기 (4)에 있어서, (5) In the above (4)

지지대 하방에 상기 단자접촉부를 지지하도록 수평으로 연장된 지지돌부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 지아이에프 커넥터.
Further comprising a support protrusion extending horizontally to support the terminal contact portion below the support frame.

(6) 상기 (4)에 있어서,(6) In the above (4)

상기 지지돌부는 지지대 하방에 연장형성되며, 단자접촉부로부터 분기형성되어 포크구조를 이루는 것을 특징으로 하는 지아이에프 커넥터.
Wherein the support protrusions extend downward from the support frame and branch from the terminal contact portions to form a fork structure.

상기와 같은 본 발명에 따르면, 제조공정이 간단하고 프로브 카드에 부착시 무리한 힘을 가하지 않고서도 수평방향 변위 및 흔들림 없이 손쉽게 부착시킬 수 있는 지아이에프 커넥터를 제공할 수 있다.
According to the present invention as described above, it is possible to provide a GIAFEFE connector which is simple in manufacturing process and can be easily attached without horizontal displacement and shake without imposing an excessive force when attached to a probe card.

도 1은 종래기술에 따른 지아이에프 커넥터의 단면구성도.
도 2는 본 발명 실시예에 따른 지아이에프 커넥터용 터미널 컨택트의 구성도.
도 3은 본 발명 실시예에 따른 터미널 컨택트가 장착되는 지아이에프 커넥터의 분리사시도.
도 4는 본 발명 실시예에 따른 터미널 컨택트가 장착된 지아이에프 커넥터의 결합상태도.
도 5는 본 발명 실시예에 따른 지아이에프 커넥터를 프로브 카드에 부착시킨 상태의 결합단면도.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a cross-sectional view of a conventional JiaFe connector. FIG.
2 is a schematic view of a terminal contact for a GIAFE connector according to an embodiment of the present invention;
Fig. 3 is an exploded perspective view of a Zieffe connector to which a terminal contact according to an embodiment of the present invention is mounted; Fig.
4 is an assembled state diagram of a Jiafeq connector equipped with a terminal contact according to an embodiment of the present invention.
FIG. 5 is an assembled cross-sectional view showing a state in which a GIAFE connector according to an embodiment of the present invention is attached to a probe card. FIG.

본 발명에 따른 지아이에프 커넥터는 하우징; 상기 하우징 내에 좌우 한쌍으로 장착되는 커넥터용 터미널 컨택트; 상기 하우징 내에 고정장착되는 고정플레이트와 상기 고정플레이트의 하부에 복수개 연장형성되어 하방으로 돌출된 돌출지지부가 형성된 인서트 플레이트; 및 상기 돌출지지부의 단부가 관통하는 관통공이 형성되고 프로브 카드의 하면에 부착되는 클램핑 플레이트를 포함한다.
A connector according to the present invention includes: a housing; A terminal contact for a connector mounted in a pair in the housing; An insert plate having a stationary plate fixedly mounted in the housing and a plurality of protruding support portions extending downwardly from the stationary plate; And a clamping plate formed with a through hole through which the end of the protruding support unit passes and attached to the lower surface of the probe card.

이하 본 발명의 내용을 도 2 내지 도 5를 참조하여 보다 구체적으로 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the contents of the present invention will be described in more detail with reference to FIG. 2 to FIG.

도 2는 본 발명에 따른 지아이에프 커넥터에 적용되는 터미널 컨택트의 일 실시예로써, 상단은 상대 커넥터의 접속단자(미도시)가 삽입되는 상대 커넥터 삽입부(10)가 형성되어 있다.
FIG. 2 is a perspective view of a terminal contact according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a top view showing a mating connector insertion portion 10 into which a connection terminal (not shown) of a mating connector is inserted.

상기 커넥터 삽입부(10)는 포켓형상으로 절곡시켜 상대 커넥터의 접속단자를 수용하여 이탈되는 일이 없이 안정적으로 접속을 이루도록 한다.
The connector insertion portion 10 is folded into a pocket shape so that the connection terminal of the mating connector is accommodated and stably connected without being separated.

상기 커넥터 삽입부(10)의 아래에는 하방으로 지지대(20)가 연결되며, 상기 지지대는 커넥터 삽입부(10)를 하우징 내에 견고하게 고정될 수 있도록 지지하며, 커넥터 삽입부(10)에 삽입고정된 상대 커넥터의 접속단자와 하부의 단자접촉부간의 전기적 신호교환을 위한 신호전달통로로써의 기능을 제공한다.
Below the connector insertion portion 10, a support base 20 is connected downward. The support base supports the connector insertion portion 10 to be firmly fixed in the housing, And serves as a signal transmission path for electrical signal exchange between the connection terminal of the mating connector and the lower terminal contact portion.

상기 단자접촉부(30)는 프로브카드에 형성된 접촉패드(미도시)와 전기적인 접속을 이루는 영역으로 상기 지지대(20) 하단에 하방으로 연장형성되며, 외측으로 절곡된 절곡부(31)와 상기 절곡부(31)에 연장형성된 무절곡단부(32)를 갖는 것을 특징으로 한다.
The terminal contact portion 30 is an area electrically connected to a contact pad (not shown) formed on the probe card. The terminal contact portion 30 extends downward at the lower end of the support base 20 and includes an outwardly bent bent portion 31, And a non-bent end portion (32) extending from the portion (31).

상기 절곡부(31)는 무절곡단부(32)가 프로브 카드의 접촉패드에 전기적인 접속을 위하여 결합을 이룰 때 탄성력을 이용하여 가압하는 것에 의해 안정적으로 접속을 이루도록 한다.
The bending portion 31 allows the unfolded end portion 32 to be stably connected by applying an elastic force to the contact pad of the probe card when the connection is made for electrical connection.

상기 절곡부(31)에 연장형성된 무절곡단부(32)는 절곡부위가 형성되지 않은 일자형의 단부를 말하며, 절곡부가 형성될 경우 프로브 카드의 접촉패드와의 접촉과정에서 슬라이딩이 발생하여 접촉불량이 발생하기 쉽고 제조공정의 추가로 인한 생산단가의 상승을 초래하게 된다.
The unfolded end portion 32 formed on the bending portion 31 is a straight end portion without a bending portion formed therein. When the bending portion is formed, sliding occurs in the process of contacting the probe card with the contact pad, And the production cost increases due to the addition of the manufacturing process.

상기 일자형의 단부 혹은 첨부를 갖도록 무절곡단부(32)를 형성하는 것은 상기 무절곡단부가 탄성가압에 의해 프로브 카드의 접촉패드와의 접촉과정에서 스크래치를 가하는 방법으로 접촉을 이루도록 하여 슬라이딩 현상을 미연에 방지할 수 있도록 함에 안정적인 테스트 수행을 가능하게 할 수 있다.
The formation of the unfolded end portion (32) to have the straight end or the attachment is achieved by making the unfolded end contact with the probe card by a method of applying a scratch during the contact with the contact pad of the probe card by elastic pressure, So that it is possible to perform a stable test.

또한, 본 발명은 바람직하게는 상기 지지대 하방에 상기 단자접촉부(30)를 지지하도록 수평으로 연장된 지지돌부(40)를 더 포함할 수 있다. In addition, the present invention may further include a supporting protrusion 40 horizontally extending to support the terminal contact portion 30 below the supporting frame.

본 발명의 실시예로 상기 지지돌부(40)는 바람직하게는 지지대(20) 하방에 연장형성되며, 단자접촉부(30)로부터 분기형성되어 포크구조를 이루도록 한다. The support protrusion 40 is preferably extended under the support base 20 and branched from the terminal contact portion 30 to form a fork structure.

상기 지지돌부(40)는 하우징내 형성된 수용부에 고정되어 상기 단자접촉부(30)가 상부에서의 가압에 의해 하방으로 탄성가압되는 과정에서 발생할 수 있는 이동을 잡아주는 기능 외에 상대 커넥터(미도시)의 하부 접촉단자가 커넥터 삽입부(10)에 삽입되는 과정에서 상방으로 가압하는 힘을 제공하게 되어 상대 커넥터와 커넥터 삽입부와의 접속력을 보다 강화해 주는 기능을 제공하게 된다.
The support protrusion 40 is fixed to a receiving portion formed in the housing and has a function of catching movement that may occur in the process of elastically pressing down the terminal contact portion 30 by downward pressing, The lower contact terminal of the connector insertion portion 10 is provided with a force for pressing upward in the process of inserting the lower contact terminal into the connector insertion portion 10, thereby providing a function of further strengthening the connecting force between the mating connector and the connector insertion portion.

상기와 같이 본 발명에 따른 커넥터용 터미널 컨택트는 상대방 커넥터 및 프로브 카드와의 전기적인 접촉특성이 우수할 뿐만 아니라, 프로브 카드에 접속하여 장기간의 반복적인 테스트를 수행하는 동안에도 충분한 접촉력을 제공하게 되어 신뢰성 있는 테스트 수행은 물론이거니와 수명을 연장하는 장점을 제공한다.
As described above, the terminal contact for a connector according to the present invention not only has excellent electrical contact characteristics with the counterpart connector and the probe card, but also provides sufficient contact force even when performing repeated long-term testing by connecting to the probe card It provides the advantages of reliable testing as well as extended lifetime.

도 3 내지 도 5는 본 발명에 따른 터미널 컨택트가 장착된 지아이에프(ZIF)형 커넥터의 구성을 보여주고 있다.
Figs. 3 to 5 show the construction of a ZIF-type connector equipped with a terminal contact according to the present invention.

본 발명에 따른 ZIF형 커넥터는 하우징(100), 상기 하우징(100) 내에 좌우 한쌍으로 장착되는 커넥터용 터미널 컨택트(200), 상기 하우징(100) 내에 고정장착되는 고정플레이트(310)와 상기 고정플레이트의 하부에 복수개 연장형성되어 하방으로 돌출된 돌출지지부(320)가 형성된 인서트 플레이트(300), 상기 돌출지지부(320)의 단부가 관통하는 관통공(410)이 형성되고 프로브 카드(500)의 하면에 부착되는 클램핑 플레이트(400)로 이루어진다.
The ZIF type connector according to the present invention includes a housing 100, a terminal contact 200 for a connector which is mounted in the housing 100 as a pair of left and right connectors, a fixing plate 310 fixedly mounted in the housing 100, A plurality of protrusions 320 protruding downward from the bottom surface of the probe card 500 and a through hole 410 through which the end of the protrusion support 320 penetrates are formed on the bottom surface of the probe card 500, And a clamping plate 400 attached to the clamping plate 400.

상기 하우징(100) 내에 좌우 한쌍으로 장착되는 커넥터용 터미널 컨택트(200)는 앞에서 이미 충분히 설명하였으므로 이를 전체적으로 인용하는 것으로 하고, 이하에서는 커넥터용 터미널 컨택트(200)의 구성을 제외한 나머지 구성에 한정하여 상세하게 설명하기로 한다.
The terminal contact 200 for a connector, which is mounted in the housing 100 as a pair of left and right, has been described fully hereinbefore and will be referred to as a whole. Hereinafter, the terminal contact 200 will be described in detail .

상기 본 발명에 따른 ZIF형 커넥터는 하우징(100)의 생산공정 중 상기 인서트 플레이트(300)를 금형내 삽입한 상태에서 수지재료를 주입하여 사출성형하여 일체로 제조하는 것이 바람직하다.
The ZIF type connector according to the present invention is preferably manufactured by injection molding a resin material in a state in which the insert plate 300 is inserted into the mold during the manufacturing process of the housing 100.

이 경우 하우징을 먼저 제작한 후, 인서트 플레이트를 후공정에 의해 하우징의 수납홈에 삽입하는 공정을 줄일 수 있다.
In this case, it is possible to reduce the step of inserting the insert plate into the housing groove of the housing by a post-process after first manufacturing the housing.

상기 본 발명에 따른 인서트 플레이트(300)를 구성하는 돌출지지부(320)는 고정플레이트의 하부에 복수개 연장형성되어 프로브 카드에 형성된 관통홀(510)을 통과한 후, 프로브 카드의 하면에 부착되는 클램핑 플레이트(400)의 관통공(410)을 통과하게 된다.
A plurality of protrusion supporting portions 320 constituting the insert plate 300 according to the present invention are formed at a lower portion of the fixing plate so as to pass through the through holes 510 formed in the probe card, And passes through the through hole 410 of the plate 400.

이때, 상기 클램핑 플레이트(400)는 상기 커넥터용 터미널 컨택트(200)를 프로브 카드(600)에 단단히 결속시키기 위한 것으로, 상기 관통공(410)의 직경은 상기 돌출지지부(320)의 직경보다 작게 형성되어, 돌출지지부(320)의 단부가 관통공(410)을 강제끼움 형식으로 뚫고 나가도록 체결한다.
The clamping plate 400 tightly binds the connector terminal contact 200 to the probe card 600. The diameter of the through hole 410 is smaller than the diameter of the protrusion supporting portion 320 So that the end of the protrusion supporting portion 320 is tightened so as to penetrate the through hole 410 in a forced fit manner.

이를 위해 상기 돌출지지부(320)의 단부는 상광하협의 테이퍼 구조를 이루도록 하는 것이 바람직하며, 단부가 강제끼움 방식으로 관통공(410)을 관통하는 과정에서 관통공(410)의 내주연(411)이 예각으로 기립하면서 돌출지지부(320)의 외주연에 스크래치(321)를 가하는 방식으로 내측으로 가압하여 인서트 플레이트(300)를 단단하게 죄일 수 있다.
The end of the protrusion supporting part 320 preferably has a tapered structure with a vertical light tightness. When the end part of the protrusion supporting part 320 passes through the through hole 410 in a forced fitting manner, the inner peripheral edge 411 of the through hole 410, The insert plate 300 can be tightly clamped by pushing it inward by applying a scratch 321 to the outer periphery of the protruding support 320 while standing at the acute angle.

상기와 같은 구성에 의해 상대 커넥터 및 프로브 카드와의 전기적인 접촉특성이 우수할 뿐만 아니라, 프로브카드에 접속하여 장기간의 반복적인 테스트를 수행하는 동안에도 충분한 접촉력을 제공하게 되어 신뢰성 있는 테스트 수행은 물론이거니와 수명을 연장하는 효과를 제공하게 된다.
With this configuration, not only is the electrical contact property with the mating connector and the probe card excellent, but also sufficient contact force is provided even during repeated long-term testing by connecting to the probe card, Thereby providing an effect of extending the lifetime.

상기와 같이, 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술 분야의 숙련된 당업자라면 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it will be understood by those of ordinary skill in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. It can be understood that

10: 상대 커넥터 삽입부
20: 지지대
30: 단자접촉부
31: 절곡부
32: 무절곡단부
100: 하우징
200: 커넥터용 터미널 컨택트
300: 인서트 플레이트
310: 고정플레이트
320: 돌출지지부
400: 클램핑 플레이트
410: 관통공
500: 프로브 카드10: Mating connector insertion part
20: Support
30: Terminal contact
31:
32: no bending end
100: Housing
200: Terminal contact for connector
300: insert plate
310: Fixing plate
320:
400: Clamping plate
410: Through hole
500: probe card

Claims

housing; A terminal contact for a connector mounted in a pair in the housing; An insert plate having a stationary plate fixedly mounted in the housing and a plurality of protruding support portions extending downwardly from the stationary plate; And a clamping plate having a through hole through which the end of the protruding support unit passes, and attached to a lower surface of the probe card,
The terminal contact includes:
An upper mating connector inserting portion; A support base connected to the connector insertion portion downward; And a terminal contact portion extending downwardly from the lower end of the support, the terminal contact portion having a bent portion bent outwardly and a non-bent end portion extending in the bent portion,
Further comprising: a supporting protrusion horizontally extending to support the terminal contact portion below the support frame.

The method according to claim 1,
Wherein the insert plate is integrally formed by injection molding a resin material in a state where the insert plate is inserted into the housing mold during the production process of the housing.

The method according to claim 1,
The end portion of the projecting support portion has a tapered structure having a vertical light-tight tapered structure. In the process of passing the end portion through the through hole by the forced fitting method, the inner peripheral edge of the through hole is raised at an acute angle, Wherein the first and second connectors are electrically connected to each other.

delete

The method according to claim 1,
Wherein the support protrusions extend downward from the support frame and branch from the terminal contact portions to form a fork structure.