KR101588492B1 - Polyimide resin, manufacturing method therefor, adhesive resin composition, coverlay film, and circuit board - Google Patents

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Abstract

하기의 일반식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위 :
[화학식 1]

Figure 112012046963319-pct00017

[식 중, Ar 은 방향족 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 4 가의 방향족기, R1 은 디아미노실록산으로부터 유도되는 2 가의 디아미노실록산 잔기, R2 는 방향족 디아민으로부터 유도되는 2 가의 방향족 디아민 잔기를 각각 나타내고, Ar 및/또는 R2 중에 케톤기를 포함하고, m, n 은 각 구성 단위의 존재 몰비를 나타내고, m 은 0.75 ∼ 1.0 의 범위 내, n 은 0 ∼ 0.25 의 범위 내이다] 를 갖는 폴리이미드실록산에 있어서의 케톤기에, 적어도 2 개의 제 1 급 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물을 반응시켜 얻어지는 폴리이미드 수지.The structural unit represented by the following general formulas (1) and (2)
[Chemical Formula 1]
Figure 112012046963319-pct00017

Wherein Ar is a tetravalent aromatic group derived from an aromatic tetracarboxylic acid anhydride, R 1 is a divalent diaminosiloxane residue derived from a diaminosiloxane, R 2 is a divalent aromatic diamine residue derived from an aromatic diamine And m and n are in the range of 0.75 to 1.0 and n is in the range of 0 to 0.25, respectively, and the ketone group is contained in Ar and / or R 2 , A polyimide resin obtained by reacting a ketone group in a mid siloxane with an amino compound having at least two primary amino groups as a functional group.

Description

폴리이미드 수지, 그 제조 방법, 접착제 수지 조성물, 커버레이 필름 및 회로 기판{POLYIMIDE RESIN, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, ADHESIVE RESIN COMPOSITION, COVERLAY FILM, AND CIRCUIT BOARD}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a polyimide resin, a method for producing the same, an adhesive resin composition, a coverlay film, and a circuit board,

본 발명은 플렉시블 프린트 배선판 등의 회로 기판에 있어서 접착제로서 유용한 폴리이미드 수지, 그 제조 방법, 및 그 이용에 관한 것이다.The present invention relates to a polyimide resin useful as an adhesive in a circuit board such as a flexible printed wiring board, a method for producing the same, and a use thereof.

최근, 전자 기기의 소형화, 경량화, 스페이스 절약화의 진전에 수반하여, 얇고 경량이며, 가요성을 가져 굴곡을 반복해도 우수한 내구성을 갖는 플렉시블 프린트 배선판 (FPC ; Flexible Printed Circuits) 의 수요가 증대되고 있다. FPC 는 한정된 스페이스라도 입체적이고 또한 고밀도의 실장이 가능하기 때문에, 예를 들어, HDD, DVD, 휴대 전화 등의 전자 기기의 가동 부분의 배선이나, 케이블, 커넥터 등의 부품으로 그 용도가 확대되고 있다.2. Description of the Related Art In recent years, demand for flexible printed circuit boards (FPCs), which are thin, lightweight, flexible, and excellent in durability even when bending is repeated, has increased along with progress in miniaturization, weight saving, and space saving of electronic devices . Since the FPC has three-dimensional and high-density mounting even in a limited space, applications of FPCs are expanding, for example, to components such as wirings, cables, and connectors for moving parts of electronic devices such as HDDs, DVDs, and cellular phones .

FPC 에는, 배선 부분을 보호할 목적으로 커버레이 필름이 사용된다. 커버레이 필름은 폴리이미드 수지 등의 합성 수지제의 커버레이용 필름재와 접착제층을 적층하여 형성되어 있다. FPC 의 제조에 있어서는, 예를 들어 열 프레스 등의 방법을 이용하여 회로 기판에 접착제층을 개재하여 커버레이용 필름재를 첩부하고 있다. 접착제층은 구리 배선 등의 회로 배선 패턴과 커버레이용 필름재의 양방에 대해 높은 접착성이 요구된다. 이와 같은 커버레이 필름용 접착제로서, 비교적 저온의 열압착 조건으로 가공이 가능하고, 내열성 등의 특성이 우수한 것으로서, 실록산 유닛을 갖는 폴리이미드 수지와 에폭시 수지의 혼합 수지에, 인산에스테르계, 프탈산에스테르계, 폴리에스테르계 및 지방산 에스테르계에서 선택되는 1 종 이상의 가소제를 배합하여 이루어지는 프린트 기판용 접착제 수지 조성물이 제안되어 있다 (예를 들어, 특허문헌 1).In the FPC, a coverlay film is used for the purpose of protecting the wiring portion. The coverlay film is formed by laminating a cover material made of a synthetic resin such as polyimide resin and an adhesive layer. In the manufacture of an FPC, a film material for a cover liner is attached to a circuit board through an adhesive layer using a method such as hot pressing. The adhesive layer is required to have high adhesion to both the circuit wiring pattern such as copper wiring and the film material for covering. As such an adhesive for a coverlay film, it is preferable to use a polyester resin having a siloxane unit and an epoxy resin mixed with a phosphate ester, a phthalic ester Based adhesive resin composition comprising at least one plasticizer selected from the group consisting of a polyester resin, a polyester resin, and a fatty acid ester (see, for example, Patent Document 1).

한편, 접착 필름에 사용하는 폴리이미드 수지의 저온 첩부성, 저흡습성, 열시에 있어서의 접착력, 내 PCT 성을 개선할 목적으로, 비스(3,4-디카르복시페닐)에테르 2무수물과, 특정 구조의 실록산디아민을 반응시킨 후에, 다른 산 무수물 및/또는 다른 디아민을 반응시키는 폴리이미드 수지의 제조 방법이 제안되어 있다 (예를 들어 특허문헌 2). 또, 실리콘 구조를 주사슬에 갖는 고분자량의 폴리이미드 수지를 안전하고 안정적으로 제조할 목적으로, 실리콘계 디아민과 실리콘계 산 2무수물을 특정한 몰비의 범위로 혼합하여 가열 탈수 축합하고, 분자량이 올라가지 않게 될 때까지 반응시킨 후, 반응액에 방향족 디아민을 소정의 몰비로 첨가하여 반응시켜, 분자량을 제어하는 폴리이미드 수지의 제조 방법도 제안되어 있다 (예를 들어, 특허문헌 3).On the other hand, bis (3,4-dicarboxyphenyl) ether dianhydrides and bisphenols having a specific structure (hereinafter, referred to as " polyisocyanates ") have been used for the purpose of improving the low temperature sticking property, the low moisture absorption property, (Hereinafter referred to as " polyimide resin ") is reacted with another acid anhydride and / or other diamine. For the purpose of safely and stably producing a high molecular weight polyimide resin having a silicon structure in its main chain, a silicone-based diamine and a silicone-based acid dianhydride are mixed in a specific molar ratio range and subjected to heat dehydration condensation, A method of producing a polyimide resin in which aromatic diamine is added to a reaction solution at a predetermined molar ratio and reacted to control the molecular weight has been proposed (for example, Patent Document 3).

일본 공개특허공보 평10-212468호Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-212468 일본 공개특허공보 2006-117945호Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2006-117945 일본 공개특허공보 2004-359874호Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2004-359874

FPC 의 가공에는, 땜납 공정이 거의 필수적으로 포함되기 때문에, 커버레이 필름에 사용하는 접착제에는 높은 땜납 내열성이 요구된다. 이 점에서, 비교적 내열성이 우수한 폴리이미드 수지는 커버레이 필름의 접착제로서 적합한 소재이지만, 땜납 내열성을 더욱 향상시킬 수 있으면, 커버레이 필름용 접착제로서의 기능을 보다 높일 수 있다.Since a soldering process is almost indispensably included in the processing of the FPC, the adhesive used for the coverlay film is required to have high solder heat resistance. From this point of view, the polyimide resin having a relatively high heat resistance is a suitable material for an adhesive for a coverlay film, but if the solder heat resistance can be further improved, the function as an adhesive for a coverlay film can be further enhanced.

또, FPC 를 사용한 자동차의 차재용 전자 기기에서는, 반복하여 150 ℃ 정도의 고온 환경에 놓여지기 때문에, 장기간의 사용으로 FPC 의 커버레이 필름과 배선의 접착력이 저하되어, 배선 보호 기능이 대폭 저하되는 문제가 발생한다. FPC 의 용도 확대에 수반하여, 차재용 전자 기기에 한하지 않고, 마찬가지로 가혹한 온도 환경에서 FPC 가 사용되는 상황은 앞으로도 증가되어 갈 것으로 예상된다. 이것으로부터, 고온 환경에서 사용되는 FPC 에 있어서, 커버레이 필름의 접착력의 저하에 대해 대책을 강구할 것이 강하게 요구되고 있다.In addition, since the electronic devices for automobiles using FPCs are placed in a high-temperature environment of about 150 ° C repeatedly, the adhesive force between the coverlay film and the wiring of the FPC is deteriorated due to long-term use, Lt; / RTI > As the use of the FPC increases, it is expected that the situation in which the FPC is used not only in the automotive electronic devices but also in a severe temperature environment will increase in the future. Therefore, it is strongly desired to take countermeasures against the deterioration of the adhesive force of the coverlay film in an FPC used in a high-temperature environment.

따라서, 본 발명의 과제는 우수한 땜납 내열성을 갖고, 또한 반복 고온에 노출되는 사용 환경에서도, 배선층과 커버레이 필름의 접착력을 저하시키지 않는 접착제층을 형성 가능한 폴리이미드 수지를 제공하는 것이다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a polyimide resin capable of forming an adhesive layer which does not deteriorate the adhesion between the wiring layer and the coverlay film even in a use environment having excellent solder heat resistance and exposed to repeated high temperatures.

본 발명자들은 상기 과제를 해결하기 위해 예의 연구를 실시한 결과, 이미드화 후의 폴리이미드 수지에 제 1 급 아미노기를 갖는 아미노 화합물을 반응시키면, 폴리이미드 수지의 땜납 내열성이 현저하게 향상됨과 함께, 고온 환경에서의 사용에 있어서도 접착력의 저하가 대폭 개선되는 것을 알아내어, 본 발명을 완성하였다.The inventors of the present invention have conducted intensive studies to solve the above problems. As a result, it has been found that when the imidized polyimide resin is reacted with an amino compound having a primary amino group, the solder heat resistance of the polyimide resin is remarkably improved, The inventors of the present invention have completed the present invention.

즉, 본 발명의 폴리이미드 수지는, 하기의 일반식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위를 갖는 폴리이미드실록산에 있어서의 케톤기에, 적어도 2 개의 제 1 급 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물의 아미노기가 반응하여 C=N 결합을 형성하고 있는 것에 의해, 상기 폴리이미드실록산이 상기 아미노 화합물에 의해 가교된 구조를 갖는다.That is, the polyimide resin of the present invention is a polyimide resin obtained by copolymerizing an amino compound having at least two primary amino groups as functional groups in a ketone group in a polyimide siloxane having constituent units represented by the following general formulas (1) and (2) And the polyimide siloxane is crosslinked by the amino compound because the amino group reacts to form a C = N bond.

[화학식 1][Chemical Formula 1]

Figure 112012046963319-pct00001
Figure 112012046963319-pct00001

[식 중, Ar 은 방향족 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 4 가의 방향족기, R1 은 디아미노실록산으로부터 유도되는 2 가의 디아미노실록산 잔기, R2 는 방향족 디아민으로부터 유도되는 2 가의 방향족 디아민 잔기를 각각 나타내고, Ar 및/또는 R2 중에는 케톤기를 포함하고, m, n 은 각 구성 단위의 존재 몰비를 나타내고, m 은 0.75 ∼ 1.0 의 범위 내, n 은 0 ∼ 0.25 의 범위 내이다]Wherein Ar is a tetravalent aromatic group derived from an aromatic tetracarboxylic acid anhydride, R 1 is a divalent diaminosiloxane residue derived from a diaminosiloxane, R 2 is a divalent aromatic diamine residue derived from an aromatic diamine each represents, while Ar and / or R 2 contains a ketone group, m, and n denotes the molar ratio of the structural units present, m is in the range of 0.75 ~ 1.0 I, n is in the range of 0 to 0.25;

또, 본 발명의 접착제 수지 조성물은 하기 성분 (A) 및 (B), The adhesive resin composition of the present invention comprises the following components (A) and (B),

(A) 하기의 일반식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위를 갖는, 중량 평균 분자량이 10,000 ∼ 200,000 인 폴리이미드실록산, 및 (A) a polyimide siloxane having a structural unit represented by the following general formula (1) and (2) and having a weight average molecular weight of 10,000 to 200,000, and

(B) 적어도 2 개의 제 1 급 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물을 포함하고, 상기 (A) 성분 중의 케톤기 1 몰에 대해, 상기 제 1 급 아미노기가 합계로 0.004 몰 ∼ 1.5 몰의 범위내가 되도록 상기 (B) 성분을 함유한다.(B) an amino compound having at least two primary amino groups as a functional group, wherein the total amount of the primary amino groups is in the range of 0.004 mol to 1.5 mol based on 1 mol of the ketone group in the component (A) And contains the component (B).

[화학식 2](2)

Figure 112012046963319-pct00002
Figure 112012046963319-pct00002

[식 중, Ar 은 방향족 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 4 가의 방향족기, R1 은 디아미노실록산으로부터 유도되는 2 가의 디아미노실록산 잔기, R2 는 방향족 디아민으로부터 유도되는 2 가의 방향족 디아민 잔기를 각각 나타내고, Ar 및/또는 R2 중에는 케톤기를 포함하고, m, n 은 각 구성 단위의 존재 몰비를 나타내고, m 은 0.75 ∼ 1.0 의 범위 내, n 은 0 ∼ 0.25 의 범위 내이다]Wherein Ar is a tetravalent aromatic group derived from an aromatic tetracarboxylic acid anhydride, R 1 is a divalent diaminosiloxane residue derived from a diaminosiloxane, R 2 is a divalent aromatic diamine residue derived from an aromatic diamine each represents, while Ar and / or R 2 contains a ketone group, m, and n denotes the molar ratio of the structural units present, m is in the range of 0.75 ~ 1.0 I, n is in the range of 0 to 0.25;

본 발명의 경화물은 상기 접착제 수지 조성물을 경화시켜 얻어지는 것이다.The cured product of the present invention is obtained by curing the adhesive resin composition.

본 발명의 커버레이 필름은 접착제층과 커버레이용 필름재층을 적층한 커버레이 필름으로서, The coverlay film of the present invention is a coverlay film obtained by laminating an adhesive layer and a film material for use as a coverlay,

상기 접착제층이 상기 접착제 수지 조성물을 이용하여 형성된 것이다.And the adhesive layer is formed using the adhesive resin composition.

본 발명의 회로 기판은 기재와, 그 기재 위에 형성된 배선층과, 그 배선층을 피복하는 상기 커버레이 필름을 구비한 것이다. 이 경우, 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 장기 내열성 시험 후의 상기 배선층과 상기 커버레이 필름의 박리 강도가 0.2 kN/m 이상인 것이 바람직하다.The circuit board of the present invention comprises a substrate, a wiring layer formed on the substrate, and the coverlay film covering the wiring layer. In this case, it is preferable that the peel strength of the wiring layer and the coverlay film after the long-term heat resistance test at 150 占 폚 for 1000 hours in the atmosphere is 0.2 kN / m or more.

본 발명의 폴리이미드 수지의 제조 방법은, 케톤기를 갖는 폴리이미드실록산을 함유하는 폴리이미드 용액을 준비하는 공정과, The method for producing a polyimide resin of the present invention comprises the steps of preparing a polyimide solution containing a polyimide siloxane having a ketone group,

상기 폴리이미드 용액에, 적어도 2 개의 제 1 급 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물을 첨가하는 공정과, Adding an amino compound having at least two primary amino groups as a functional group to the polyimide solution;

상기 폴리이미드실록산의 케톤기와 상기 아미노 화합물의 제 1 급 아미노기를 축합 반응시키는 공정을 구비하고 있다. 이 경우, 상기 케톤기 1 몰에 대해, 상기 제 1 급 아미노기가 합계로 0.004 몰 ∼ 1.5 몰의 범위내가 되도록 상기 아미노 화합물을 첨가하는 것이 바람직하다. 또, 방향족 테트라카르복실산 2무수물을 포함하는 산 무수물 성분과, 디아미노실록산 및 방향족 디아민을 포함하는 디아민 성분을 반응시켜 상기 폴리이미드실록산을 형성하는 공정을 추가로 갖고 있어, 원료인 상기 방향족 테트라카르복실산 2무수물 및 상기 디아민 성분 중 적어도 어느 하나에 케톤기를 함유하는 것이 바람직하다.And a condensation reaction of the ketone group of the polyimide siloxane with the primary amino group of the amino compound. In this case, it is preferable that the amino compound is added so that the total amount of the primary amino groups is in the range of 0.004 mol to 1.5 mol based on 1 mol of the ketone group. Further, there is further provided a step of reacting an acid anhydride component containing an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride with a diamine component containing a diaminosiloxane and an aromatic diamine to form the polyimide siloxane. Thus, the aromatic tetra The carboxylic acid dianhydride and the diamine component preferably contain a ketone group.

본 발명의 회로 기판의 제조 방법은 기재와, 그 기재 위에 형성된 배선층과, 그 배선층을 피복하는 커버레이 필름을 구비한 회로 기판의 제조 방법으로서, A manufacturing method of a circuit board of the present invention is a manufacturing method of a circuit board having a substrate, a wiring layer formed on the substrate, and a coverlay film covering the wiring layer,

상기 접착제 수지 조성물을, 용액 상태로 커버레이용 필름재층 위에 도포, 건조시킴으로써 접착제층을 갖는 커버레이 필름을 준비하는 공정과, Preparing a coverlay film having an adhesive layer by applying and drying the adhesive resin composition on a film material for use in a cover in a solution state,

상기 접착제층이 상기 배선층에 맞닿도록 상기 커버레이 필름을 배치하고, 열압착하는 공정을 구비하고, Disposing the coverlay film so that the adhesive layer is in contact with the wiring layer, and thermally compressing the coverlay film,

상기 열압착과 동시에, (A) 성분의 케톤기와 (B) 성분의 제 1 급 아미노기를 축합 반응시켜 C=N 결합을 형성시키는 것을 특징으로 한다.The ketone group of the component (A) and the primary amino group of the component (B) are condensed to form a C = N bond simultaneously with the thermocompression bonding.

상기 본 발명의 각 측면에서, 상기 아미노 화합물은 디하이드라지드 화합물인 것이 바람직하다.In each aspect of the present invention, the amino compound is preferably a dihydrazide compound.

본 발명의 폴리이미드 수지는, 일반식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위를 갖는 폴리이미드실록산의 Ar 및/또는 R2 중에 포함되는 케톤기에, 적어도 2 개의 제 1 급 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물을 반응시켜 얻어진 가교 구조를 갖기 때문에, 땜납 내열성이 우수함과 함께, 반복 고온 환경에 놓여져도, 금속 배선층과의 접착력을 저하시키지 않는 접착제층을 형성할 수 있다. 따라서, 본 발명의 폴리이미드 수지를 사용하여 접착제층을 형성한 커버레이 필름의 박리 강도를 높여, 그 커버레이 필름을 사용한 회로 기판의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.The polyimide resin of the present invention is a polyimide resin which has at least two primary amino groups as a functional group in a ketone group contained in Ar and / or R 2 of a polyimide siloxane having constituent units represented by the general formulas (1) and (2) It is possible to form an adhesive layer which is excellent in soldering heat resistance and does not deteriorate the adhesive force with the metal wiring layer even if it is placed in a repeated high temperature environment. Therefore, by using the polyimide resin of the present invention, the peel strength of the coverlay film formed with the adhesive layer can be increased, and the reliability of the circuit board using the coverlay film can be improved.

[폴리이미드 수지] [Polyimide resin]

본 발명의 폴리이미드 수지는, 상기 일반식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위를 갖는 폴리이미드실록산에 있어서의 기 Ar 및/또는 기 R2 중의 케톤기에, 적어도 2 개의 제 1 급 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물을 반응시켜 C=N 결합을 형성시킴으로써, 폴리이미드실록산이 아미노 화합물에 의해 가교된 구조를 갖는 것이다.The polyimide resin of the present invention contains at least two primary amino groups in the ketone group in the group Ar and / or the group R 2 in the polyimide siloxane having the structural units represented by the above general formulas (1) and (2) The polyimide siloxane is crosslinked with an amino compound by reacting an amino compound having a functional group to form a C = N bond.

상기 일반식 (1) 및 (2) 중의 기 Ar 은 방향족 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 4 가의 방향족기이며, 기 R1 은 디아미노실록산으로부터 유도되는 2 가의 디아미노실록산 잔기이며, 기 R2 는 방향족 디아민으로부터 유도되는 2 가의 방향족 디아민 잔기이다. 수지 중의 식 (1) 로 나타내는 구성 단위의 존재량은 75 몰% ∼ 100 몰% 의 범위 내, 바람직하게는 80 몰% ∼ 100 몰% 의 범위 내이다.The group Ar in the general formulas (1) and (2) is a tetravalent aromatic group derived from an aromatic tetracarboxylic acid anhydride, the group R 1 is a divalent diaminosiloxane residue derived from a diaminosiloxane, and the group R 2 Is a bivalent aromatic diamine residue derived from an aromatic diamine. The amount of the structural unit represented by the formula (1) in the resin is in the range of 75 mol% to 100 mol%, preferably in the range of 80 mol% to 100 mol%.

[폴리이미드실록산] [Polyimide siloxane]

상기 일반식 (1), (2) 로 나타내는 구성 단위를 갖는 폴리이미드실록산에 있어서, 기 Ar 및/또는 기 R2 중에는, 케톤기를 포함하고, 이 케톤기가, 아미노 화합물과의 반응에 관여한다.In the polyimide siloxane having the structural units represented by the general formulas (1) and (2), the group Ar and / or the group R 2 includes a ketone group, and the ketone group participates in the reaction with the amino compound.

일반식 (1), (2) 로 나타내는 구성 단위에 있어서, 케톤기를 포함하는 기 Ar 을 형성하기 위한 방향족 테트라카르복실산으로서는, 예를 들어 하기의 식 (3) 으로 나타내는 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물 (BTDA) 을 들 수 있다.Examples of the aromatic tetracarboxylic acid for forming the group Ar containing a ketone group in the structural units represented by the general formulas (1) and (2) include 3,3 ', 4 (4) , 4'-benzophenone tetracarboxylic acid dianhydride (BTDA).

[화학식 3](3)

Figure 112012046963319-pct00003
Figure 112012046963319-pct00003

또, 일반식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위에 있어서, 기 Ar 을 형성하기 위한 원료가 되는 방향족 테트라카르복실산으로서는, 상기 케톤기를 갖는 것 이외에, 예를 들어, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA), 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르복실산 2무수물 (DSDA), 피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 등을 사용할 수 있다. 이들은 단독 또는 2 종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.Examples of the aromatic tetracarboxylic acid serving as a raw material for forming the group Ar in the structural units represented by the general formulas (1) and (2) include, for example, 3,3 ' (BPDA), 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfone tetracarboxylic acid dianhydride (DSDA), pyromellitic dianhydride (PMDA), etc., Can be used. These may be used alone or in combination of two or more.

또, 일반식 (1) 로 나타내는 구성 단위에 있어서 기 R1 로서는, 예를 들어, 하기의 식 (4) 로 나타내는 디아미노실록산으로부터 유도된 디아미노실록산 잔기를 들 수 있다.As the group R 1 in the constituent unit represented by the general formula (1), for example, a diaminosiloxane residue derived from a diaminosiloxane represented by the following formula (4) can be mentioned.

[화학식 4][Chemical Formula 4]

Figure 112012046963319-pct00004
Figure 112012046963319-pct00004

[여기에서, R3 및 R4 는 각각 산소 원자를 함유하고 있어도 되는 2 가의 유기기를 나타내고, R5 ∼ R8 은 각각 탄소수 1 ∼ 6 의 탄화수소기를 나타내고, 평균 반복수인 m1 은 1 ∼ 20 이다]Wherein R 3 and R 4 each represent a divalent organic group which may contain an oxygen atom, R 5 to R 8 each represent a hydrocarbon group having 1 to 6 carbon atoms, and m 1 , the average number of repeating units, is 1 to 20 to be]

특히, 기 R1 로서는, 폴리이미드의 가용성을 부여하기 위해, 식 (4) 중의 R3 및 R4 가 각각 2 가의 탄화수소기이며, R5 ∼ R8 이 각각 탄소수 1 ∼ 6 의 탄화수소기이며, 평균 반복수인 m1 이 5 ∼ 15 인 것이 바람직하다.Particularly, as the group R 1 , R 3 and R 4 in the formula (4) are each a divalent hydrocarbon group, R 5 to R 8 each are a hydrocarbon group having 1 to 6 carbon atoms, M 1, which is the average number of repeats, is preferably 5 to 15.

상기 디아미노실록산 잔기는, 디아미노실록산에서 아미노기를 제거한 실록산 결합 (Si-O-Si) 을 갖는 기이지만, 이 실록산 결합의 비율을 증가시키는 것에 의해, 가소제를 배합하지 않아도 접착제층에 충분한 유연성이 부여되어, 커버레이 필름의 휨을 억제할 수 있다. 또, 가소제 중에는 극성기가 많이 포함되는 것으로부터, 가소제를 배합하지 않는 것의 이점으로서, 일반식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위를 갖는 폴리이미드실록산을 사용한 접착제 수지 조성물 중에 포함되는 극성기의 양을 억제할 수 있는 것을 들 수 있다. 이 때문에, 본 발명에서는, 식 (1) 에 있어서의 m 의 값을 0.75 이상, 바람직하게는 0.80 이상으로 한다. m 의 값이 0.75 미만에서는 휨의 억제 효과가 충분히 얻어지지 않는다. 또, 실록산 결합을 증가시키는 것에 의해, 폴리이미드실록산의 이미드 결합 부위의 감소에 의한 경화 수축을 저감시키는 효과도 있는 것으로 생각된다. 이와 같은 것으로부터, 식 (2) 에 있어서의 n 의 값을 0 ∼ 0.25, 바람직하게는 0 ∼ 0.2 의 범위 내로 한다.The diaminosiloxane residue is a group having a siloxane bond (Si-O-Si) in which an amino group is removed from a diaminosiloxane. However, by increasing the proportion of the siloxane bond, sufficient flexibility is obtained in the adhesive layer So that warping of the coverlay film can be suppressed. The plasticizer contains a large amount of polar groups. Therefore, as an advantage of not blending the plasticizer, the amount of the polar group contained in the adhesive resin composition using the polyimide siloxane having the constituent units represented by the general formulas (1) and (2) Can be suppressed. Therefore, in the present invention, the value of m in the formula (1) is set to 0.75 or more, preferably 0.80 or more. When the value of m is less than 0.75, the effect of suppressing warpage is not sufficiently obtained. It is also believed that by increasing the siloxane bond, there is also an effect of reducing the hardening shrinkage due to the decrease of the imide bond sites of the polyimide siloxane. From the above, the value of n in the formula (2) is set within the range of 0 to 0.25, preferably 0 to 0.2.

이와 같이, 상기 일반식 (4) 로 나타내는 디아미노실록산을 사용하여 폴리이미드 중에 실록산 골격을 도입함으로써, 얻어지는 폴리이미드실록산에 가열 압착시의 유동성을 부여하여, 프린트 회로 배선 상에서의 충전성을 향상시킬 수 있다. 일반식 (4) 로 나타내는 디아미노실록산의 구체예로서는, 하기의 식 (5) ∼ 식 (9) 로 나타내는 디아미노실록산이 바람직하고, 이들 중에서도 식 (5) 또는 (6) 으로 나타내는 지방족 디아미노실록산이 보다 바람직하다. 이들 디아미노실록산은, 2 종 이상을 조합하여 배합할 수도 있다. 또, 2 종 이상의 디아미노실록산을 조합하여 배합하는 경우, 식 (5) 또는 (6) 으로 나타내는 지방족 디아미노실록산을 전체 디아미노실록산 100 중량부에 대해, 90 중량부 이상 배합하는 것이 바람직하다. 또한, 식 (4) ∼ 식 (9) 에 있어서, 평균 반복수인 m1 은 1 ∼ 20 의 범위 내이며, 바람직하게는 5 ∼ 15 의 범위 내이다. m1 이 1 보다 작으면 접착제로 한 경우의 충전성이 저하되고, 20 을 초과하면 접착성이 저하된다.Thus, by introducing the siloxane skeleton into the polyimide by using the diaminosiloxane represented by the general formula (4), the resulting polyimide siloxane is provided with fluidity at the time of hot pressing to improve the filling property on the printed circuit wiring . Specific examples of the diaminosiloxane represented by the general formula (4) are diaminosiloxanes represented by the following formulas (5) to (9), and among them, aliphatic diamino siloxanes represented by the formula (5) Is more preferable. These diaminosiloxanes may be used in combination of two or more. When two or more diaminosiloxanes are combined and combined, it is preferable that 90 parts by weight or more of the aliphatic diaminosiloxane represented by the formula (5) or (6) is blended with 100 parts by weight of the total diaminosiloxane. In the formulas (4) to (9), m 1 , the average number of repeats, is in the range of 1 to 20, preferably in the range of 5 to 15. When m 1 is less than 1, the filling property in the case of using an adhesive is lowered, and when it exceeds 20, the adhesiveness is lowered.

[화학식 5][Chemical Formula 5]

Figure 112012046963319-pct00005
Figure 112012046963319-pct00005

일반식 (2) 로 나타내는 구성 단위에 있어서, 케톤기를 포함하는 기 R2 (방향족 디아민으로부터 유도되는 2 가의 방향족 디아민 잔기) 로서는, 예를 들어 이하의 식 (10), (11) 로 나타내는 것을 들 수 있다. 이들은 단독 또는 2 종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.Examples of the group R 2 (bivalent aromatic diamine residue derived from an aromatic diamine) having a ketone group in the structural unit represented by the general formula (2) include those represented by the following formulas (10) and (11) . These may be used alone or in combination of two or more.

[화학식 6][Chemical Formula 6]

Figure 112012046963319-pct00006
Figure 112012046963319-pct00006

[여기에서, R9 는 독립적으로 탄소수 1 ∼ 6 의 1 가의 탄화수소기 또는 알콕시기를 나타내고, X 는 CO 를 나타내고, n1 은 독립적으로 0 ∼ 4 의 정수를 나타낸다]Wherein R 9 independently represents a monovalent hydrocarbon group or alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, X represents CO, and n 1 independently represents an integer of 0 to 4,

상기 식 (10), (11) 로 나타내는 기 R2 를 형성하기 위한 방향족 디아민으로서는, 예를 들어, 4,4'-비스(3-아미노페녹시)벤조페논 (BABP), 1,3-비스[4-(3-아미노페녹시)벤조일]벤젠 (BABB) 등을 들 수 있다.Examples of the aromatic diamine for forming the group R 2 represented by the above formulas (10) and (11) include aromatic diamines such as 4,4'-bis (3-aminophenoxy) benzophenone (BABP) [4- (3-aminophenoxy) benzoyl] benzene (BABB).

또, 일반식 (2) 로 나타내는 구성 단위에 있어서, 기 R2 를 형성하기 위한 원료가 되는 그 밖의 방향족 디아민으로서는, 예를 들어, 2,2-비스(4-아미노페녹시페닐)프로판 (BAPP), 2,2'-디비닐-4,4'-디아미노비페닐 (VAB), 2,2'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐 (m-TB), 2,2'-디에틸-4,4'-디아미노비페닐, 2,2',6,6'-테트라메틸-4,4'-디아미노비페닐, 2,2'-디페닐-4,4'-디아미노비페닐, 9,9-비스(4-아미노페닐)플루오렌 등을 들 수 있다. 이들 방향족 디아민은 단독 혹은 2 종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.Examples of the other aromatic diamine that is a raw material for forming the group R 2 in the structural unit represented by the general formula (2) include 2,2-bis (4-aminophenoxyphenyl) propane (BAPP ), 2,2'-divinyl-4,4'-diaminobiphenyl (VAB), 2,2'-dimethyl-4,4'- diaminobiphenyl (m- Diethyl 4,4'-diaminobiphenyl, 2,2 ', 6,6'-tetramethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 2,2'-diphenyl-4,4'-dia Minibiphenyl, 9,9-bis (4-aminophenyl) fluorene, and the like. These aromatic diamines may be used alone or in combination of two or more.

폴리이미드실록산의 원료가 되는 이상의 산 무수물 및 디아민은, 각각 그 1 종만을 사용해도 되고, 혹은 2 종 이상을 병용할 수도 있다. 또, 상기 이외의 산 무수물 및 디아민을 병용할 수도 있다.The acid anhydrides and diamines serving as raw materials of the polyimide siloxane may be used alone or in combination of two or more. In addition, other acid anhydrides and diamines may be used in combination.

폴리이미드 수지를 접착제로서 사용한 경우의 장기 내열성을 높이기 위해, 원료가 되는 방향족 테트라카르복실산 무수물 및 방향족 디아민으로서, 극성기가 적은 것을 사용하는 것이 바람직하다. 그 때문에, 방향족 테트라카르복실산 무수물 및 방향족 디아민으로서, 하기의 수식 (ⅰ) 및 (ⅱ) 에 기초하여 산출되는, 분자 중에 포함되는 극성기의 양을 나타내는 지표인 p 값이 모두 1.0 이하인 것을 사용하는 것이 바람직하다. 특히, 방향족 디아민의 p 값은 0.7 이하인 것이 보다 바람직하고, 0.6 이하가 더욱 바람직하다.In order to enhance long-term heat resistance when a polyimide resin is used as an adhesive, it is preferable to use, as the aromatic tetracarboxylic acid anhydride and aromatic diamine to be used as raw materials, those having a small number of polar groups. Therefore, as the aromatic tetracarboxylic acid anhydride and the aromatic diamine, the p value, which is an index indicating the amount of the polar group contained in the molecule, calculated based on the following formulas (i) and (ii) . In particular, the p value of the aromatic diamine is more preferably 0.7 or less, and still more preferably 0.6 or less.

방향족 테트라카르복실산 무수물의 p 값 = (A1/B1) × 100 … (ⅰ) P value of aromatic tetracarboxylic acid anhydride = (A1 / B1) x 100 ... (I)

방향족 디아민의 p 값 = (A2/B2) × 100 … (ⅱ)P value of aromatic diamine = (A2 / B2) x 100 ... (Ii)

[여기에서, A1 = (기 Ar 중의 극성기의 개수) × (기 Ar 의 몰수) Here, A1 = (the number of polar groups in the Ar group) x (the number of moles of the Ar group)

A2 = (기 R2 중의 극성기의 개수) × (기 R2 의 몰수) A2 = (number of polar groups in the group R 2) × (the number of moles of group R 2)

B1 = (기 Ar 의 분자량) × (기 Ar 의 몰수)            B1 = (molecular weight of group Ar) x (number of moles of group Ar)

B2 = (기 R2 의 분자량) × (기 R2 의 몰수) 를 의미한다]B2 = (the molecular weight of the group R 2 ) x (the number of moles of the group R 2 )

상기 p 값을 산출하는 기준이 되는 극성기는, 전기 쌍극자 모멘트의 크기로부터 3 단계로 구분된다. 제 1 구분은 -X (여기에서, X 는 할로겐 원자), -OH, -SH, -O-, -S-, -SO-, -NH-, -CO-, -CN, -P=O, -PO- 이며, 이들은 각각 개수가 1 개인 극성기로서 계산된다. 제 2 의 구분은 -SO2-, -CONH- 이며, 이들은 각각 개수가 2 개인 극성기로서 계산된다. 제 3 구분은 -SO3H 이며, 이것은 개수가 3 개인 극성기로서 계산된다.The polar group as a reference for calculating the p value is divided into three levels based on the magnitude of the electric dipole moment. The first group is -X (where X is a halogen atom), -OH, -SH, -O-, -S-, -SO-, -NH-, -CO-, -CN, -PO < - >, and these are calculated as a polar group having a number of 1, respectively. The second group is -SO 2 -, -CONH-, and these are calculated as polar groups each having 2 numbers. The third segment is -SO 3 H, which is calculated as a polar group having three units.

[폴리이미드실록산의 합성] [Synthesis of polyimide siloxane]

일반식 (1) 및 (2) 나타내는 구성 단위를 갖는 폴리이미드실록산은, 상기 방향족 테트라카르복실산 무수물, 디아미노실록산 및 방향족 디아민 (필요한 경우) 을 용매 중에서 반응시켜, 전구체 수지인 폴리아미드산을 생성한 후 가열 폐환시킴으로써 제조할 수 있다. 예를 들어, 산 무수물 성분과 디아민 성분을 거의 등몰로 유기 용매 중에 용해시켜, 0 ∼ 100 ℃ 범위 내의 온도에서 30 분 ∼ 24 시간 교반하여 중합 반응시킴으로써 폴리이미드의 전구체인 폴리아미드산이 얻어진다. 반응에 있어서는, 생성되는 전구체가 유기 용매 중에 5 ∼ 30 중량% 의 범위 내, 바람직하게는 10 ∼ 20 중량% 의 범위내가 되도록 반응 성분을 용해시킨다. 중합 반응에 사용하는 유기 용매로서는, 예를 들어, N,N-디메틸포름아미드, N,N-디메틸아세트아미드 (DMAC), N-메틸-2-피롤리돈, 2-부타논, 디메틸술폭사이드, 황산디메틸, 시클로헥사논, 디옥산, 테트라하이드로푸란, 디글라임, 트리글라임 등을 들 수 있다. 이들 용매를 2 종 이상 병용하여 사용할 수도 있고, 나아가서는 자일렌, 톨루엔과 같은 방향족 탄화수소의 병용도 가능하다.The polyimide siloxane having the structural units represented by the general formulas (1) and (2) is obtained by reacting the aromatic tetracarboxylic acid anhydride, the diaminosiloxane and the aromatic diamine (if necessary) in a solvent to obtain a polyamic acid Followed by heating and ring closing. For example, polyamic acid which is a precursor of polyimide is obtained by dissolving an acid anhydride component and a diamine component in an almost equimolar amount in an organic solvent, and conducting polymerization reaction at a temperature in the range of 0 to 100 ° C for 30 minutes to 24 hours. In the reaction, the reaction components are dissolved so that the resulting precursor is in the range of 5 to 30% by weight, preferably 10 to 20% by weight, in the organic solvent. Examples of the organic solvent used in the polymerization reaction include N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide (DMAC), N-methyl-2-pyrrolidone, , Dimethyl sulfate, cyclohexanone, dioxane, tetrahydrofuran, diglyme, triglyme and the like. Two or more of these solvents may be used in combination, and further, aromatic hydrocarbons such as xylene and toluene may be used in combination.

합성된 전구체는 통상, 반응 용매 용액으로서 사용하는 것이 유리하지만, 필요에 따라 농축, 희석 또는 다른 유기 용매로 치환할 수 있다. 또, 전구체는 일반적으로 용매 가용성이 우수하기 때문에 유리하게 사용된다. 전구체를 이미드화시키는 방법은, 특별히 제한되지 않고, 예를 들어 상기 용매 중에서, 80 ∼ 300 ℃ 범위 내의 온도 조건에서 1 ∼ 24 시간에 걸쳐 가열하는 열처리가 바람직하게 채용된다.The synthesized precursor is usually advantageously used as a reaction solvent solution, but it may be condensed, diluted or replaced with another organic solvent if necessary. In addition, the precursor is advantageously used because it is generally excellent in solvent solubility. The method for imidizing the precursor is not particularly limited, and for example, a heat treatment in which the film is heated for 1 to 24 hours at a temperature within the range of 80 to 300 占 폚 is preferably employed in the above solvent.

일반식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위를 갖는 폴리이미드실록산을 조제할 때, 원료가 되는 산 무수물 성분 및 디아민 성분의 배합 비율은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 폴리이미드실록산의 말단 치환기를 아미노기로 하고, 즉, 산 무수물기를 디아민으로 밀봉하여, 폴리이미드 수지의 극성을 억제한다는 관점에서, 산 무수물 성분 : 디아민 성분으로서, 몰비로 1.000 : 1.001 ∼ 1.0 : 1.2 가 바람직하다.When the polyimide siloxane having the structural units represented by the general formulas (1) and (2) is prepared, the compounding ratio of the acid anhydride component and the diamine component to be used as the raw material is not particularly limited. For example, polyimide siloxane Is preferably 1.000: 1.001 to 1.0: 1.2 in terms of the molar ratio of the acid anhydride component to the diamine component, from the viewpoint that the terminal substituent of the polyimide resin is an amino group, that is, the acid anhydride group is sealed with diamine to suppress the polarity of the polyimide resin.

또, 상기 식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위를 갖는 폴리이미드실록산은, 방향족 테트라카르복실산 무수물, 디아미노실록산 및 방향족 디아민과의 반응에 의해 얻어지는 이미드 구조로 되어 있고, 예를 들어 커버레이 필름의 접착제로서 사용한 경우에, 구리의 확산을 억제하기 위해 완전히 이미드화된 구조가 가장 바람직하다. 단, 폴리이미드의 일부가 아미드산이 되어 있어도 되고, 이 경우, 미반응의 아미드산 부위 (-CONH- 및 -COOH) 는, 구리의 확산을 유발하는 극성기로 간주한다. 즉, 1 개의 아미드산은 극성기를 4 개 (-CONH- 의 2 개, -COOH 의 2 개) 갖는 치환기로서 계산한다. 이와 같은 것으로부터, 후술하는 P 값이 바람직하게는 0.7 이하 (보다 바람직하게는 0.6 이하) 가 되도록, 이미드화를 완결하는 것이 바람직하다. 그 이미드화율은, 푸리에 변환 적외 분광 광도계 (시판품 : 니혼 분광 제조 FT/IR620) 를 이용하여, 1 회 반사 ATR 법에 의해 폴리이미드 박막의 적외선 흡수 스펙트럼을 측정하는 것에 의해, 1015 ㎝-1 부근의 벤젠고리 흡수체를 기준으로 하여, 1780 ㎝- 1 의 이미드기에서 유래하는 C=O 신축의 흡광도로부터 산출된다.The polyimide siloxane having the structural units represented by the above formulas (1) and (2) has an imide structure obtained by reaction with an aromatic tetracarboxylic acid anhydride, a diaminosiloxane and an aromatic diamine, When used as an adhesive for a coverlay film, a structure that is completely imidized to suppress the diffusion of copper is most preferable. However, a part of the polyimide may be amidic acid. In this case, the unreacted amide acid moiety (-CONH- and -COOH) is regarded as a polar group causing diffusion of copper. That is, one amide acid is calculated as a substituent having four polar groups (two of -CONH- and two of -COOH). From such a viewpoint, it is preferable to complete the imidization so that the P value described later is preferably 0.7 or less (more preferably 0.6 or less). The imidization ratio is, the Fourier transform infrared spectrophotometer (commercially available product: manufactured by Nippon spectroscopy FT / IR620) using, by measuring the infrared absorption spectrum of the polyimide film by one reflection ATR method of Korea, 1015 ㎝ -1 vicinity Based on the benzene ring absorber of 1780 cm & lt ; -1 & gt ;.

[아미노 화합물] [Amino compound]

본 발명의 폴리이미드 수지에 있어서, 상기 식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위를 갖는 폴리이미드실록산의 케톤기와 반응시키는 상대방의, 적어도 2 개의 제 1 급 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물로서는, (Ⅰ) 방향족 디아민, (Ⅱ) 디아미노실록산, (Ⅲ) 지방족 아민, (Ⅳ) 디하이드라지드 화합물 등을 예시할 수 있다.In the polyimide resin of the present invention, examples of the amino compound having at least two primary amino groups as functional groups in the other side reacting with the ketone group of the polyimide siloxane having the structural units represented by the above-mentioned formulas (1) and (2) (I) aromatic diamines, (II) diaminosiloxanes, (III) aliphatic amines, and (IV) dihydrazide compounds.

(Ⅰ) 방향족 디아민 : (I) Aromatic diamine:

방향족 디아민으로서는, 예를 들어 이하의 식 (12), (13) 으로 나타내는 것을 들 수 있다.Examples of the aromatic diamine include those represented by the following formulas (12) and (13).

[화학식 7](7)

Figure 112012046963319-pct00007
Figure 112012046963319-pct00007

[여기에서, R10 은 독립적으로 탄소수 1 ∼ 6 의 1 가의 탄화수소기 또는 알콕시기를 나타내고, Z 는 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 15 의 2 가의 탄화수소기, O, S, CO, SO, SO2, NH 혹은 CONH 에서 선택되는 2 가의 기를 나타내고, n2 는 독립적으로 0 ∼ 4 의 정수를 나타낸다]Z represents a single bond or a divalent hydrocarbon group of 1 to 15 carbon atoms, O, S, CO, SO, SO 2 , NH 2 or a monovalent hydrocarbon group having 1 to 6 carbon atoms; R 10 represents independently a monovalent hydrocarbon group or alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms; Or CONH, and n 2 independently represents an integer of 0 to 4,

이와 같은 방향족 디아민으로서는, 예를 들어, 4,4'-디아미노디페닐에테르, 2'-메톡시-4,4'-디아미노벤즈아닐리드, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 2,2'-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]프로판, 2,2'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 3,3'-디하이드록시-4,4'-디아미노비페닐, 4,4'-디아미노벤즈아닐리드, 비스아닐린플루오렌 등을 바람직하게 들 수 있다.Examples of such aromatic diamines include 4,4'-diaminodiphenyl ether, 2'-methoxy-4,4'-diaminobenzanilide, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobis Phenyl, 3,3'-dihydroxy-4,4'-diaminobiphenyl, 4,4'-diaminobenzanilide, and bisaniline fluorene.

또한, 방향족 디아민의 그 밖의 예로서, 2,2-비스-[4-(3-아미노페녹시)페닐]프로판, 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]술폰, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]술폰, 비스[4-(4-아미노페녹시)]비페닐, 비스[4-(3-아미노페녹시)비페닐, 비스[1-(4-아미노페녹시)]비페닐, 비스[1-(3-아미노페녹시)]비페닐, 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]메탄, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]메탄, 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]에테르, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]에테르, 비스[4-(4-아미노페녹시)]벤조페논, 비스[4-(3-아미노페녹시)]벤조페논, 비스[4,4'-(4-아미노페녹시)]벤즈아닐리드, 비스[4,4'-(3-아미노페녹시)]벤즈아닐리드, 9,9-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]플루오렌, 9,9-비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]플루오렌, 2,2-비스-[4-(4-아미노페녹시)페닐]헥사플루오로프로판, 2,2-비스-[4-(3-아미노페녹시)페닐]헥사플루오로프로판, 4,4'-메틸렌디-o-톨루이딘, 4,4'-메틸렌디-2,6-자일리딘, 4,4'-메틸렌-2,6-디에틸아닐린, 4,4'-디아미노디페닐프로판, 3,3'-디아미노디페닐프로판, 4,4'-디아미노디페닐에탄, 3,3'-디아미노디페닐에탄, 4,4'-디아미노디페닐메탄, 3,3'-디아미노디페닐메탄, 4,4'-디아미노디페닐술파이드, 3,3'-디아미노디페닐술파이드, 4,4'-디아미노디페닐술폰, 3,3'-디아미노디페닐술폰, 4,4'-디아미노디페닐에테르, 3,3-디아미노디페닐에테르, 3,4'-디아미노디페닐에테르, 벤지딘, 3,3'-디아미노비페닐, 3,3'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 3,3'-디메톡시벤지딘, 4,4''-디아미노-p-테르페닐, 3,3''-디아미노-p-테르페닐, m-페닐렌디아민, p-페닐렌디아민, 2,6-디아미노피리딘, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 4,4'-[1,4-페닐렌비스(1-메틸에틸리덴)]비스아닐린, 4,4'-[1,3-페닐렌비스(1-메틸에틸리덴)]비스아닐린, 비스(p-아미노시클로헥실)메탄, 비스(p-β-아미노-t-부틸페닐)에테르, 비스(p-β-메틸-δ-아미노펜틸)벤젠, p-비스(2-메틸-4-아미노펜틸)벤젠, p-비스(1,1-디메틸-5-아미노펜틸)벤젠, 1,5-디아미노나프탈렌, 2,6-디아미노나프탈렌, 2,4-비스(β-아미노-t-부틸)톨루엔, 2,4-디아미노톨루엔, m-자일렌-2,5-디아민, p-자일렌-2,5-디아민, m-자일릴렌디아민, p-자일릴렌디아민, 2,6-디아미노피리딘, 2,5-디아미노피리딘, 2,5-디아미노-1,3,4-옥사디아졸, 피페라진 등을 들 수 있다.Examples of other aromatic diamines include bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] propane, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (4-aminophenoxy)] biphenyl, bis [4- ] Biphenyl, bis [1- (3-aminophenoxy)] biphenyl, bis [4- (4-aminophenoxy) (3-aminophenoxy) phenyl] ether, bis [4- (4-aminophenoxy)] benzophenone, bis [4- Benzophenone, bis [4,4 '- (4-aminophenoxy)] benzanilide, bis [4,4' - (3-aminophenoxy)] benzanilide, Phenyl] fluorene, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] fluorene, 9,9-bis [4- ) Phenyl] hexafluoropropane, 2,2-bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] 4,4'-methylene di-o-toluidine, 4,4'-methylene di-2,6-xylidine, 4,4'-methylene-2,6-diethylaniline, Diaminodiphenylpropane, 3,3'-diaminodiphenylpropane, 4,4'-diaminodiphenylethane, 3,3'-diaminodiphenylethane, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,3'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylsulfide, 3,3'-diaminodiphenylsulfide, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,3'- - diaminodiphenylsulfone, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,3-diaminodiphenyl ether, 3,4'-diaminodiphenyl ether, benzidine, 3,3'-diaminobiphenyl , 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dimethoxybenzidine, 4,4'-diamino-p-terphenyl, p-phenylenediamine, 2,6-diaminopyridine, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis ) Benzene, 4,4 '- [1,4-phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline, 4,4' - [1,3 Bis (p-aminocyclohexyl) methane, bis (p-β-amino-t-butylphenyl) ether, bis Bis (1,1-dimethyl-5-aminopentyl) benzene, 1,5-diaminonaphthalene, 2,6- Diamine, 2,4-bis (? -Amino-t-butyl) toluene, 2,4-diaminotoluene, m-xylene-2,5- diamine, p- m-xylylenediamine, p-xylylenediamine, 2,6-diaminopyridine, 2,5-diaminopyridine, 2,5-diamino-1,3,4-oxadiazole, .

이상의 방향족 디아민은 단독이어도 되고, 2 종류 이상 혼합하여 사용할 수도 있다.The above aromatic diamines may be used singly or in combination of two or more.

(Ⅱ) 디아미노실록산 : (II) diaminosiloxane:

디아미노실록산으로서는, 하기 일반식 (14) 로 나타내는 디아미노실록산 또는 그 올리고머를 바람직하게 들 수 있다.The diaminosiloxane is preferably a diaminosiloxane represented by the following general formula (14) or an oligomer thereof.

[화학식 8][Chemical Formula 8]

Figure 112012046963319-pct00008
Figure 112012046963319-pct00008

(여기에서, R11 및 R12 는 2 가의 탄화수소기를 나타내고, R13 ∼ R16 은 탄소수 1 ∼ 6 의 탄화수소기를 나타내고, m1 은 1 ∼ 20 의 수, 바람직하게는 1 ∼ 10 의 수를 나타낸다)(Wherein R 11 and R 12 represent a divalent hydrocarbon group, R 13 to R 16 each represent a hydrocarbon group of 1 to 6 carbon atoms, and m 1 represents a number of 1 to 20, preferably 1 to 10 )

이와 같은 디아미노실록산으로서는, 예를 들어 디아미노프로필테트라메틸디실록산, 상기 일반식 (5) ∼ (9) 로 나타내는 디아미노실록산 등을 들 수 있다.Examples of such a diaminosiloxane include diaminopropyltetramethyldisiloxane and diaminosiloxanes represented by the above general formulas (5) to (9).

이상의 디아미노실록산은, 단독이어도 되고, 2 종류 이상 혼합하여 사용할 수도 있다.These diamino siloxanes may be used alone or in combination of two or more.

(Ⅲ) 지방족 아민 : (III) Aliphatic amines:

지방족 아민으로서는, 예를 들어, 1,4-디아미노부탄, 1,5-디아미노펜탄, 1,6-디아미노헥산, 2-메틸-1,5-디아미노펜탄, 1,7-디아미노헵탄, 1,8-디아미노옥탄, 1,3-비스(아미노메틸)시클로헥산, 1,4-비스(아미노메틸)시클로헥산, 1,9-디아미노노난, 1,10-디아미노데칸, 1,11-디아미노운데칸, 1,12-디아미노도데칸, 4,4'-메틸렌비스시클로헥실아민 등의 디아미노알칸류, 트리스(2-아미노에틸)아민, N,N'-비스(2-아미노에틸)-1,3-프로판디아민, 비스(3-아미노프로필)에틸렌디아민, 1,4-비스(3-아미노프로필)피페라진, 디에틸렌트리아민, N-메틸-2,2'-디아미노디에틸아민, 3,3'-디아미노디프로필아민, N,N-비스(3-아미노프로필)메틸아민 등의 질소 원자를 함유하는 아민류, 비스(3-아미노프로필)에테르, 1,2-비스(2-아미노에톡시)에탄, 3,9-비스(3-아미노프로필)-2,4,8,10-테트라옥사스피로[5.5]-운데칸 등의 산소 원자를 함유하는 아민류, 2,2'-티오비스(에틸아민) 등의 황 원자를 갖는 아민류 등을 들 수 있다.Examples of the aliphatic amine include 1,4-diaminobutane, 1,5-diaminopentane, 1,6-diaminohexane, 2-methyl-1,5-diaminopentane, 1,7-diamino Heptane, 1,8-diaminooctane, 1,3-bis (aminomethyl) cyclohexane, 1,4-bis (aminomethyl) cyclohexane, 1,9- , Diaminoalkanes such as 1,11-diamino undecane, 1,12-diaminododecane and 4,4'-methylenebiscyclohexylamine, tris (2-aminoethyl) amine, N, N'- (2-aminoethyl) -1,3-propanediamine, bis (3-aminopropyl) ethylenediamine, 1,4-bis (3-aminopropyl) piperazine, diethylenetriamine, Amines containing a nitrogen atom such as 2'-diaminodiethylamine, 3,3'-diaminodipropylamine and N, N-bis (3-aminopropyl) methylamine, amines containing nitrogen atom such as bis (2-aminoethoxy) ethane, 3,9-bis (3-aminopropyl) -2,4,8,10-tetraoxaspiro [ There may be mentioned amines containing oxygen atoms, such as decane, amines or the like having a sulfur atom such as 2,2'-thio-bis (ethylamine).

이상의 지방족 아민은, 단독이어도 되고, 2 종류 이상 혼합하여 사용할 수도 있다.These aliphatic amines may be used singly or in combination of two or more.

(Ⅳ) 디하이드라지드 화합물 : (IV) dihydrazide compound:

디하이드라지드 화합물로서는, 하기 일반식 (15) 로 나타내는 것을 들 수 있다.Examples of the dihydrazide compound include those represented by the following general formula (15).

[화학식 9][Chemical Formula 9]

Figure 112012046963319-pct00009
Figure 112012046963319-pct00009

일반식 (15) 중, R17 은 예를 들어 단결합, 지방족기, 방향족기 등을 들 수 있다. R17 로서 바람직한 것을 디하이드라지드 화합물의 예시에 의해 설명하면, 다음의 화합물을 들 수 있다. 예를 들어, 옥살산디하이드라지드, 말론산디하이드라지드, 숙신산디하이드라지드, 글루탈산디하이드라지드, 아디프산디하이드라지드, 피멜산디하이드라지드, 수베르산디하이드라지드, 아젤라산디하이드라지드, 세바스산디하이드라지드, 도데칸2산디하이드라지드, 말레산디하이드라지드, 푸말산디하이드라지드, 디글리콜산디하이드라지드, 타르타르산디하이드라지드, 말산디하이드라지드, 프탈산디하이드라지드, 이소프탈산하이드라지드, 테레프탈산디하이드라지드, 2,6-나프토에산디하이드라지드, 4,4-비스벤젠디하이드라지드, 1,4-나프토산디하이드라지드, 2,6-피리딘디하이드라지드, 이타콘산디하이드라지드 등을 들 수 있다.In the general formula (15), R 17 includes, for example, a single bond, an aliphatic group, and an aromatic group. As preferable examples of R < 17 & gt ;, the following compounds can be mentioned by way of example of dihydrazide compounds. For example, there may be mentioned oxalic acid dihydrazide, malonic acid dihydrazide, succinic acid dihydrazide, glutaric acid dihydrazide, adipic acid dihydrazide, pimelic acid dihydrazide, suberic acid dihydrazide, But are not limited to, dihydrazide, dihydrazide, sebastianidhydrazide, dodecane dianhydride, maleic dihydrazide, fumaric acid dihydrazide, diglycolic acid dihydrazide, , Phthalic acid dihydrazide, isophthalic acid hydrazide, terephthalic acid dihydrazide, 2,6-naphthoic acid dihydrazide, 4,4-bisbenzene dihydrazide, 1,4- Diradide, 2,6-pyridine dihydrazide, itaconic acid dihydrazide, and the like.

이상의 디하이드라지드 화합물은 단독이어도 되고, 2 종류 이상 혼합하여 사용할 수도 있다.The above-mentioned dihydrazide compounds may be used singly or in combination of two or more.

상기와 같은 적어도 2 개의 제 1 급 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물 중에서도, 특히 디하이드라지드 화합물이 가장 바람직하다. 디하이드라지드 화합물을 사용한 경우에는, 다른 아미노 화합물을 사용한 경우에 비해 접착제 수지 조성물의 경화 시간을 단축시킬 수 있다. 이것은, 디하이드라지드 화합물의 제 1 급 아미노기가 케톤기와 반응하여 얻어지는 생성물이, 세미카르바존 형태의 분자 구조가 되어, 분자간의 NH 끼리의 수소 결합에 의한 2 량체 구조를 형성함으로써 생성물의 안정성이 향상되기 때문에, 반응의 평형이 생성물측에 치우쳐, 원료인 폴리이미드실록산의 케톤기와 디하이드라지드 화합물의 아미노기를 생성하는 방향으로의 역반응이 일어나기 어려워지는 것에 인한 것으로 생각된다.Among the amino compounds having at least two primary amino groups as functional groups as described above, a dihydrazide compound is most preferable. When the dihydrazide compound is used, the curing time of the adhesive resin composition can be shortened as compared with the case where other amino compounds are used. This is because the product obtained by the reaction of the primary amino group of the dihydrazide compound with the ketone group becomes a semicarbazone-type molecular structure and forms a dimer structure by hydrogen bonding between the NH groups between the molecules, It is believed that the reaction equilibrium is shifted toward the product side and the reverse reaction in the direction of generating the ketone group of the raw material polyimide siloxane and the amino group of the dihydrazide compound hardly occurs.

또, 상기 (Ⅰ) 방향족 디아민, (Ⅱ) 디아미노실록산, (Ⅲ) 지방족 아민, (Ⅳ) 디하이드라지드 화합물 등의 아미노 화합물은, 예를 들어 (Ⅰ) 과 (Ⅱ) 의 조합, (Ⅰ) 과 (Ⅲ) 의 조합, (Ⅰ) 과 (Ⅱ) 와 (Ⅲ) 의 조합, (Ⅰ) ∼ (Ⅳ) 의 조합과 같이, 카테고리를 초과하여 2 종 이상 조합하여 사용할 수도 있다. 특히, (Ⅰ), (Ⅱ) 또는 (Ⅲ) 의 아미노 화합물과, (Ⅳ) 의 디하이드라지드 화합물을 소정의 배합 비율로 조합하는 것에 의해, (Ⅰ) ∼ (Ⅲ) 의 아미노 화합물의 특성을 살리면서, (Ⅳ) 의 디하이드라지드 화합물의 배합 비율에 따라 경화 시간의 단축 효과를 얻는 것이 기대된다.The amino compounds such as the above (I) aromatic diamines, (II) diaminosiloxanes, (III) aliphatic amines and (IV) dihydrazide compounds can be used, for example, in combination of (I) and A combination of (I) and (III), a combination of (I), (II) and (III), and combinations of (I) to (IV). Particularly, the combination of the amino compound of (I), (II) or (III) and the dihydrazide compound of (IV) It is expected that the effect of shortening the curing time is obtained according to the compounding ratio of the dihydrazide compound of (IV).

[폴리이미드 수지의 제조] [Production of polyimide resin]

본 발명의 폴리이미드 수지는 상기 일반식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위를 갖는 폴리이미드실록산을 포함하는 수지 용액에, 적어도 2 개의 제 1 급 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물을 첨가하여, 폴리이미드실록산의 케톤기와 아미노 화합물의 제 1 급 아미노기를 축합 반응시킴으로써 제조된다. 이 축합 반응에 의해, 접착제 수지 조성물은 경화되어 경화물이 된다. 이 경우, 아미노 화합물의 첨가량은, 케톤기 1 몰에 대해, 제 1 급 아미노기가 합계로 0.004 몰 ∼ 1.5 몰, 바람직하게는 0.005 몰 ∼ 1.2 몰, 보다 바람직하게는 0.03 몰 ∼ 0.9 몰, 특히 바람직하게는 0.04 몰 ∼ 0.5 몰이 되도록 아미노 화합물을 첨가하는 것이 바람직하다. 케톤기 1 몰에 대해 제 1 급 아미노기가 합계로 0.004 몰 미만이 되는 아미노 화합물의 첨가량에서는, 아미노 화합물에 의한 폴리이미드실록산의 가교가 충분하지 않기 때문에, 폴리이미드 수지를 포함하는 접착제 수지 조성물을 경화시킨 후의 경화물에 있어서 땜납 내열성이 발현되기 어려운 경향이 되고, 아미노 화합물의 첨가량이 1.5 몰을 초과하면 미반응의 아미노 화합물이 열가소제로서 작용하여, 동 경화물에 있어서 땜납 내열성을 저하시키거나, 고온에서의 장기 내열성을 저하시키거나 하는 경향이 있다.In the polyimide resin of the present invention, an amino compound having at least two primary amino groups as functional groups is added to a resin solution containing a polyimide siloxane having the structural units represented by the above general formulas (1) and (2) And then condensing the ketone group of the polyimide siloxane with the primary amino group of the amino compound. By this condensation reaction, the adhesive resin composition is cured to be a cured product. In this case, the amount of the amino compound to be added is 0.004 mol to 1.5 mol, preferably 0.005 mol to 1.2 mol, more preferably 0.03 mol to 0.9 mol, and particularly preferably 0.02 mol to 0.1 mol, in terms of the total number of the primary amino groups per mol of the ketone group It is preferable to add the amino compound so as to be 0.04 mol to 0.5 mol. The amount of the amino compound in which the total amount of the primary amino groups is less than 0.004 mol per 1 mol of the ketone group is insufficient for the crosslinking of the polyimide siloxane with the amino compound. Therefore, the adhesive resin composition containing the polyimide resin is hardened And when the addition amount of the amino compound exceeds 1.5 mol, the unreacted amino compound functions as a thermal plasticizer to lower the solder heat resistance in the copper cured product, The long-term heat resistance at a high temperature tends to be lowered.

또, 축합 반응의 조건은 폴리이미드실록산에 있어서의 케톤기와 아미노 화합물의 제 1 급 아미노기가 반응하여 이민 결합 (C=N 결합) 을 형성하는 조건이면, 특별히 제한되지 않는다. 아미노 화합물의 종류에 따라 상이하기도 하지만, 예를 들어 지방족 아민을 사용하는 경우에는, 상온에서도 폴리이미드실록산에 있어서의 케톤기와 축합시키는 것이 가능하지만, 가열에 의해 축합 반응을 촉진하는 것이 바람직하다. 지방족 아민을 사용하는 경우에는, 예를 들어 60 ∼ 200 ℃ 의 범위 내에서 가열 축합을 실시하는 것이 바람직하고, 방향족 아민을 사용하는 경우에는, 예를 들어 120 ∼ 220 ℃ 의 범위 내에서 가열 축합을 실시하는 것이 바람직하다. 가열 축합의 온도는, 축합에 의해 생성되는 물을 계 외로 방출시키기 위해, 또는 폴리이미드실록산의 합성 후에 계속하여 가열 축합 반응을 실시하는 경우에 당해 축합 공정을 간략화하기 위함 등의 이유로, 예를 들어 120 ∼ 220 ℃ 의 범위내가 바람직하고, 140 ∼ 200 ℃ 의 범위내가 보다 바람직하다. 반응 시간은, 1 시간 ∼ 24 시간 정도가 바람직하고, 반응의 종점은, 예를 들어 푸리에 변환 적외 분광 광도계 (시판품 : 니혼 분광 제조 FT/IR620) 를 이용하여, 적외선 흡수 스펙트럼을 측정하는 것에 의해, 1670 ㎝-1 부근의 폴리이미드실록산에 있어서의 케톤기에서 유래하는 흡수 피크의 감소 또는 소실, 및 1635 ㎝-1 부근의 이민기에서 유래하는 흡수 피크의 출현에 의해 확인할 수 있다.The conditions for the condensation reaction are not particularly limited as long as the ketone group in the polyimide siloxane reacts with the primary amino group of the amino compound to form an imine bond (C = N bond). Although it depends on the kind of the amino compound, for example, when an aliphatic amine is used, it is possible to condense with a ketone group in the polyimide siloxane even at room temperature, but it is preferable to accelerate the condensation reaction by heating. In the case of using an aliphatic amine, it is preferable to carry out heat condensation in the range of, for example, 60 to 200 ° C. In the case of using an aromatic amine, heat condensation is carried out, for example, . The temperature for the heat condensation may be adjusted to, for example, to simplify the condensation process in order to release the water produced by the condensation to the outside of the system or to carry out the heat condensation reaction continuously after the synthesis of the polyimide siloxane, More preferably in the range of 120 to 220 占 폚, and more preferably in the range of 140 to 200 占 폚. The reaction time is preferably about 1 hour to 24 hours, and the end point of the reaction can be measured by measuring the infrared absorption spectrum using, for example, a Fourier transform infrared spectrophotometer (commercial product: FT / IR620 manufactured by Nihon Spectroscopy) The decrease or disappearance of the absorption peak originating from the ketone group in the polyimide siloxane near 1670 cm -1 and the appearance of the absorption peak originating from the imigrant near 1635 cm -1 .

폴리이미드실록산의 케톤기와 아미노 화합물의 제 1 급 아미노기의 가열 축합은, 예를 들어, The heating and condensation of the ketone group of the polyimide siloxane and the primary amino group of the amino compound can be carried out, for example,

(a) 폴리이미드실록산의 합성 (이미드화) 에 계속하여, 아미노 화합물을 첨가하여 가열하는 것, (a) synthesizing (imidation) of a polyimide siloxane, followed by heating by addition of an amino compound,

(b) 디아민 성분으로서 미리 과잉량의 아미노 화합물을 주입해 두고, 폴리이미드실록산의 합성 (이미드화) 에 계속하여, 이미드화 (혹은 아미드화) 에 관여하지 않는 나머지 아미노 화합물과 함께 폴리이미드실록산을 가열하는 것, 또는(b) an excess amount of an amino compound is preliminarily injected as a diamine component, and after the synthesis (imidization) of the polyimide siloxane, a polyimide siloxane is added together with the remaining amino compounds not involved in imidization (or amidation) Heating, or

(c) 아미노 화합물을 첨가한 폴리이미드실록산의 조성물을 소정의 형상으로 가공한 후 (예를 들어 임의의 기재에 도포한 후나 필름상으로 형성한 후) 에 가열하는 것 등에 의해 실시할 수 있다.(c) heating the composition of the polyimide siloxane to which the amino compound has been added in a predetermined shape (for example, after coating it on an arbitrary substrate or after film formation).

상기 (b) 의 경우, 과잉된 아미노 화합물은, 폴리이미드실록산의 제조시에 있어서의 말단 치환기로서 산 무수물기를 밀봉하는 반응에 소비되어, 생성되는 폴리이미드실록산의 분자량이 극단적으로 저하되는 경우가 있으므로, 경화물에 있어서 충분한 내열성을 얻기 어려운 경향이 있다. 그 때문에, 미리 과잉량의 아미노 화합물을 주입하는 경우 [상기 (b)] 는, 본 발명의 효과를 저해하지 않는 범위 내에서 적절히 사용하는 것이 바람직하다. 아미노 화합물에 있어서의 적어도 2 개의 제 1 급 아미노기를 유효하게 케톤기와 반응시켜 C=N 결합을 형성시키기 위해서는, 상기 (a) 또는 (c) 와 같이, 아미노 화합물을 폴리이미드실록산의 합성 (이미드화) 을 완료한 후에 첨가하는 것이 바람직하다. 상기 (c) 의 경우, 가열 축합은, 예를 들어 아미노 화합물과 폴리이미드실록산이 혼합된 상태의 조성물에 의해 커버레이 필름의 접착제층을 형성할 때 실시하는 열처리의 열이나, 그 접착제층을 형성한 후, 배선층을 갖는 회로 기판에 열압착시킬 때의 열 등을 이용하여 실시할 수도 있다.In the case of (b) above, the excess amino compound is consumed in the reaction of sealing the acid anhydride group as a terminal substituent in the production of the polyimide siloxane, and the molecular weight of the resulting polyimide siloxane may be extremely lowered , It tends to be difficult to obtain sufficient heat resistance in the cured product. Therefore, it is preferable that the above-mentioned (b) is appropriately used within a range that does not impair the effect of the present invention when an excessive amount of amino compound is injected in advance. In order to effectively react at least two primary amino groups in an amino compound with a ketone group to form a C = N bond, the amino compound is preferably synthesized (imidized ) Is completed, it is preferable to add it. In the case of (c) above, the heat condensation can be carried out by, for example, heat of heat treatment performed when the adhesive layer of the coverlay film is formed by the composition in which the amino compound and the polyimide siloxane are mixed, And then heat or the like when thermocompression bonding is performed on a circuit board having a wiring layer.

이상과 같이 하여 얻어지는 본 발명의 폴리이미드 수지는, 커버레이 필름 등의 접착제로서 사용한 경우, 반복 고온 환경에 놓여져도 접착력을 유지할 수 있도록 하기 위해, 하기의 수식 (ⅲ) 에 기초하여 산출되는 P 값이 0.7 이하인 것이 바람직하고, 0.6 이하인 것이 보다 바람직하다. P 값은 수식 (ⅲ) 으로 나타내는 바와 같이, 폴리이미드 수지 중의 방향족 테트라카르복실산 무수물 잔기 및 방향족 디아민 잔기의 몰수 및 분자량과, 그들 잔기에 포함되는 상기 극성기의 개수로부터 결정할 수 있다.The polyimide resin of the present invention obtained as described above is used as an adhesive agent such as a coverlay film or the like in order to maintain the adhesive force even when it is placed in a repeated high temperature environment, Is preferably 0.7 or less, more preferably 0.6 or less. The P value can be determined from the number of moles and the molecular weight of the aromatic tetracarboxylic acid anhydride residue and the aromatic diamine residue in the polyimide resin and the number of the polar groups contained in the residues as shown in the formula (iii).

P 값 ={(A1 + A2)/(B1 + B2)}× 100 … (ⅲ)  P value = {(A1 + A2) / (B1 + B2)} 100 ... (Iii)

[여기에서, A1, A2, B1, B2 는 상기와 동일한 의미를 갖고, 극성기의 개수는 상기 P 값의 경우와 동일하게 계산한다]Here, A1, A2, B1, and B2 have the same meanings as above, and the number of polar groups is calculated in the same manner as in the case of the above P value)

이 P 값은 폴리이미드 수지에 포함되는 극성기의 양을 나타내는 지표로서, P 값이 클수록, 폴리이미드 수지 중의 극성기의 양이 큰 것을 의미한다. 커버레이 필름 등의 접착제로서 사용한 경우에, 접착제층 중에 포함되는 극성기는, 구리 배선으로부터의 구리의 확산을 유발하는 요인이 된다. 요컨대, 접착제층 중에 극성기가 다량으로 포함되면, 가열이 반복되는 동안에 구리 배선으로부터의 구리가 접착제층 중으로 광범위하게 확산된다. 그 결과, 접착제층의 접착력이 약해져, 커버레이 필름이 박리되기 쉬워지는 것으로 생각된다. 본 발명에서는, 폴리이미드 수지의 P 값을 바람직하게는 0.7 이하 (보다 바람직하게는 0.6 이하) 로 하는 것에 의해, 폴리이미드 수지 중에 포함되는 극성기의 양을 저감시켜, 접착력의 저하를 억제할 수 있다.The P value is an index indicating the amount of the polar group contained in the polyimide resin, and the larger the P value, the larger the amount of the polar group in the polyimide resin. When used as an adhesive agent such as a coverlay film, the polar group contained in the adhesive layer causes diffusion of copper from the copper wiring. That is, when a polar group is contained in a large amount in the adhesive layer, copper from the copper wiring is diffused widely into the adhesive layer while heating is repeated. As a result, the adhesive force of the adhesive layer is weakened, and it is considered that the coverlay film is easily peeled off. In the present invention, by setting the P value of the polyimide resin to be preferably 0.7 or less (more preferably, 0.6 or less), the amount of the polar group contained in the polyimide resin can be reduced and the decrease of the adhesive force can be suppressed .

본 발명에 있어서, P 값의 산출을, 일반식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위를 갖는 폴리이미드실록산의 기 Ar (방향족 테트라카르복실산 무수물 잔기) 및 기 R2 (방향족 디아민 잔기) 중에 포함되는 극성기를 기준으로 하여 실시하는 이유는, 이들 기 Ar 중 및 기 R2 중에 포함되는 극성기의 양으로, 폴리이미드 수지 전체의 극성이 대체로 결정되기 때문이다. 따라서, 디아미노실록산 잔기나 아미노 화합물의 잔기 중에 포함되는 극성기 및 이미드 결합에 관여하는 극성기는 P 값을 산출하는 데에 있어서 고려하지 않는다.In the present invention, the calculation of the P value is carried out by using the group Ar (aromatic tetracarboxylic acid anhydride residue) and the group R 2 (aromatic diamine residue) of the polyimide siloxane having the constitutional units represented by the general formulas (1) and (2) Is that the polarity of the entire polyimide resin is generally determined by the amount of the polar groups contained in the group Ar and the group R 2 . Therefore, the polar group contained in the diaminosiloxane residue or the residue of the amino compound and the polar group related to the imide bond are not taken into consideration in calculating the P value.

[작용] [Action]

일반식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위를 갖는 폴리이미드실록산의 케톤기와 아미노 화합물의 제 1 급 아미노기의 반응은, 탈수 축합 반응이며, 폴리이미드실록산 중의 케톤기의 탄소 원자와 제 1 급 아미노기의 질소 원자가 C=N 결합을 형성하는 결과, 사슬형 폴리이미드실록산이 아미노 화합물에 의해 가교되어 그물상의 고분자를 형성하는 것으로 생각된다. 폴리이미드실록산은 분자간 상호 작용을 발생시키기 어렵기 때문에, 폴리이미드실록산의 배향 제어는 곤란하지만, 이와 같은 가교 구조가 발생하면, 폴리이미드실록산에 있어서의 외관 상의 고분자량화뿐만 아니라, 폴리이미드실록산의 분자끼리를 어느 정도 구속하는 것이 가능해지기 때문에, 폴리이미드 수지의 내열성이 향상되어, 매우 우수한 땜납 내열성이 얻어지는 것으로 생각된다. 또, C=N 결합에 있어서의 질소 원자 근방이 입체적으로 부피가 커짐으로써, 폴리이미드 수지에 포함되는 극성기의 구리 원자의 구핵능을 저하시키는 것에 의해, 구리 배선으로부터의 구리의 접착제층으로의 확산을 억제할 수 있어, 고온 환경에서의 사용에 있어서의 접착 강도의 저하를 억제하는 효과가 얻어지는 것으로 생각된다. 이와 같은 이유에 의해, 본 발명에서 사용하는 아미노 화합물은, 적어도 2 개의 아미노기를 가질 필요가 있고, 아미노기의 수는 바람직하게는 2 ∼ 5, 보다 바람직하게는 2 ∼ 3 이다. 또, 아미노기를 3 개 이상 갖는 아미노 화합물에서는, 2 개의 아미노기가 C=N 결합을 형성한 후의 가교 구조체가 입체적으로 부피가 커지기 때문에, 나머지 미반응의 아미노기가 케톤기와 반응하기 어려워지는 것으로부터, 아미노기의 수는 2 인 것이 특히 바람직하다. 또한, 상기와 같이 접착제 수지 조성물의 경화 시간을 단축하는 관점에서는, 아미노 화합물로서 디하이드라지드 화합물을 사용하는 것이 가장 바람직하다. 또, 아미노 화합물의 가교에 의한 그물상의 구조를 보다 조밀하게 한다는 관점에서, 본 발명에서 사용하는 아미노 화합물은, 그 분자량 (아미노 화합물이 올리고머인 경우에는 중량 평균 분자량) 이 5,000 이하인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 90 ∼ 2,000, 더욱 바람직하게는 100 ∼ 1,500 이 좋다. 이 중에서도, 100 ∼ 1,000 의 분자량을 갖는 아미노 화합물이 특히 바람직하다. 아미노 화합물의 분자량이 90 미만이 되면, 아미노 화합물의 1 개의 아미노기가 폴리이미드실록산의 케톤기를 C=N 결합을 형성하는 것에 그쳐, 나머지 아미노기의 주변이 입체적으로 부피가 커지기 때문에 나머지 아미노기는 C=N 결합하기 어려운 경향이 된다.The reaction of the ketone group of the polyimide siloxane having the structural units represented by the general formulas (1) and (2) with the primary amino group of the amino compound is a dehydration condensation reaction, and the carbon atom of the ketone group in the polyimide siloxane and the primary As a result of the nitrogen atom of the amino group forming a C = N bond, it is thought that the polyimide siloxane is crosslinked by the amino compound to form a net-like polymer. Although it is difficult to control the orientation of the polyimide siloxane because it is difficult for the polyimide siloxane to generate intermolecular interaction, when such a cross-linked structure is formed, not only the appearance of the polyimide siloxane in its appearance is increased in molecular weight, It is considered that the heat resistance of the polyimide resin is improved and excellent solder heat resistance is obtained because the molecules can be bound to each other to some extent. In addition, since the neighborhood of the nitrogen atom in the C = N bond becomes bulky in three dimensions, the nucleophilicity of the copper atom of the polar group contained in the polyimide resin is lowered, whereby the diffusion of copper from the copper wiring into the adhesive layer And it is considered that the effect of suppressing the lowering of the adhesive strength in use in a high temperature environment can be obtained. For this reason, the amino compound used in the present invention needs to have at least two amino groups, and the number of amino groups is preferably 2 to 5, more preferably 2 to 3. Further, in the amino compound having three or more amino groups, since the cross-linked structure after the two amino groups form a C = N bond becomes bulky in three dimensions, the remaining unreacted amino group becomes difficult to react with the ketone group. Is preferably 2. Further, from the viewpoint of shortening the curing time of the adhesive resin composition as described above, it is most preferable to use a dihydrazide compound as the amino compound. The amino compound used in the present invention preferably has a molecular weight (weight average molecular weight in the case where the amino compound is an oligomer) of 5,000 or less from the viewpoint of making the network structure by crosslinking the amino compound more dense, Preferably 90 to 2,000, and more preferably 100 to 1,500. Among these, an amino compound having a molecular weight of 100 to 1,000 is particularly preferable. When the molecular weight of the amino compound is less than 90, one amino group of the amino compound forms a C = N bond to the ketone group of the polyimide siloxane, and the remaining amino group becomes bulky in three dimensions. It tends to be difficult to combine.

[접착제 수지 조성물] [Adhesive resin composition]

본 발명의 접착제 수지 조성물은, 상기 일반식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위를 갖는 폴리이미드실록산 [(A) 성분] 과, 적어도 2 개의 제 1 급 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물 [(B) 성분] 을 필수 성분으로서 함유한다. 이 접착제 수지 조성물은, (A) 성분 및 (B) 성분을 혼합 혹은 혼련시킴으로써, 그리고/또는 (A) 성분 및 (B) 성분을 함유한 상태에서 가열함으로써, 상기 폴리이미드실록산의 케톤기와 아미노 화합물의 제 1 급 아미노기가 축합 반응하여 C=N 결합을 형성하는 성질을 갖는다. 즉, 폴리이미드실록산과 아미노 화합물의 축합 반응에 의해 본 발명의 폴리이미드 수지로 변화된다. 본 발명의 접착제 수지 조성물에 있어서, (A) 성분의 중량 평균 분자량은 10,000 ∼ 200,000 이 바람직하고, 20,000 ∼ 150,000 이 보다 바람직하다. (A) 성분의 중량 평균 분자량이 10,000 미만이면, 접착제 수지 조성물을 용액으로 한 경우의 유동성의 제어가 곤란해지고, 또 경화물의 내열성의 저하가 발생하는 경향이 된다. 한편, 중량 평균 분자량이 200,000 을 초과하면, 용제에 대한 가용성을 저해하는 경향이 된다.The adhesive resin composition of the present invention comprises a polyimide siloxane [component (A)] having a structural unit represented by the above general formulas (1) and (2) and an amino compound having at least two primary amino groups as a functional group [ B)] as an essential component. This adhesive resin composition is obtained by mixing or kneading the component (A) and the component (B), and / or by heating the component (A) and the component (B) in the presence of the ketone group of the polyimide siloxane and the amino compound Has a property of condensation reaction to form a C = N bond. That is, the polyimide resin is changed to a polyimide resin of the present invention by the condensation reaction of the polyimide siloxane and the amino compound. In the adhesive resin composition of the present invention, the weight average molecular weight of the component (A) is preferably from 10,000 to 200,000, more preferably from 20,000 to 150,000. When the weight average molecular weight of the component (A) is less than 10,000, it becomes difficult to control the flowability when the adhesive resin composition is used as a solution, and the heat resistance of the cured product tends to decrease. On the other hand, when the weight-average molecular weight exceeds 200,000, the solubility of the solvent tends to be impaired.

접착제 수지 조성물은 케톤기 1 몰에 대해, 제 1 급 아미노기가 합계로 0.004 몰 ∼ 1.5 몰, 바람직하게는 0.005 몰 ∼ 1.2 몰, 보다 바람직하게는 0.03 몰 ∼ 0.9 몰, 특히 바람직하게는 0.04 몰 ∼ 0.5 몰이 되도록 아미노 화합물을 함유한다.The adhesive resin composition preferably contains 0.004 to 1.5 mol, preferably 0.005 to 1.2 mol, more preferably 0.03 to 0.9 mol, and particularly preferably 0.04 to 0.1 mol, of primary amino groups per mol of the ketone group, 0.5 mole.

본 발명의 접착제 수지 조성물에는, 상기 폴리이미드실록산, 아미노 화합물과 함께 가소제를 함유할 수 있다. 단, 가소제에는, 극성기를 많이 함유하는 것이 있어, 그것이 구리 배선으로부터의 구리의 확산을 조장할 염려가 있기 때문에, 가소제는 최대한 사용하지 않는 것이 바람직하다. 또, 본 발명의 접착제 수지 조성물에서는, 원료의 전체 디아민 성분 중에 있어서의 일반식 (4) 의 디아미노실록산의 몰비를 75 몰% 이상으로 설정함으로써, 가소제를 첨가하지 않아도, 충분한 유연성이 얻어져, 커버레이 필름의 휨을 방지할 수 있다. 이 때문에, 가소제를 사용하는 경우에는, 본 발명의 효과를 저해하지 않는 범위에서 배합하는 것이 바람직하다.The adhesive resin composition of the present invention may contain a plasticizer together with the polyimide siloxane and the amino compound. However, the plasticizer contains a large amount of polar groups, and it is preferable that the plasticizer is not used as much as possible because it may cause diffusion of copper from the copper wiring. Further, in the adhesive resin composition of the present invention, by setting the molar ratio of diaminosiloxane of the general formula (4) in the total diamine component of the raw material to 75 mol% or more, sufficient flexibility can be obtained without adding a plasticizer, Warpage of the coverlay film can be prevented. Therefore, in the case of using a plasticizer, it is preferable that the plasticizer is blended to the extent that the effect of the present invention is not impaired.

또, 본 발명의 접착제 수지 조성물에는, 상기 폴리이미드실록산, 아미노 화합물 및 임의 성분의 가소제 이외에, 추가로 필요에 따라, 에폭시 수지 등의 다른 수지 성분, 경화 촉진제, 커플링제, 충전제, 안료, 용제 등을 적절히 배합할 수 있다. 이들 임의 성분을 배합하는 경우에는, 상기 수식 (ⅲ) 을 변형한 하기의 수식 (ⅳ) 에 의해, 모든 임의 성분을 포함한 접착제 수지 조성물 전체의 P 값을 구할 수 있다. 이 경우도, 접착제 수지 조성물 전체의 P 값을 바람직하게는 0.7 이하 (보다 바람직하게는 0.6 이하) 로 함으로써, 접착제 수지 조성물 중에 포함되는 극성기의 양을 저감시켜, 접착력의 저하를 억제할 수 있다.In addition to the polyimide siloxane, the amino compound and the optional plasticizer, the adhesive resin composition of the present invention may further contain other resin components such as an epoxy resin, a curing accelerator, a coupling agent, a filler, a pigment, a solvent Can be appropriately blended. In the case of blending these optional components, the P value of the entire adhesive resin composition containing all optional components can be obtained by the following formula (iv) in which the formula (iii) is modified. Also in this case, the P value of the whole adhesive resin composition is preferably 0.7 or less (more preferably 0.6 or less), whereby the amount of the polar group contained in the adhesive resin composition can be reduced and the deterioration of the adhesive strength can be suppressed.

P 값 ={(A1 + A2 + An)/(B1 + B2 + Bn)}× 100 … (ⅳ) P value = {(A1 + A2 + An) / (B1 + B2 + Bn)} 100 ... (Iv)

[여기에서, A1, A2, B1, B2 는 상기와 동일한 의미를 갖고, [Wherein A1, A2, B1, and B2 have the same meanings as defined above,

An = (1 개의 임의 성분 중의 극성기의 개수) × (임의 성분의 몰수) An = (the number of polar groups in one arbitrary component) x (the number of moles of arbitrary components)

Bn = (1 개의 임의 성분의 분자량) × (임의 성분의 몰수) Bn = (molecular weight of one optional component) x (number of moles of optional component)

이며, An 및 Bn 은 임의 성분마다 가산되는 것으로 한다. 또, 임의 성분 중의 극성기의 개수는, 상기 P 값의 경우와 동일하게 계산한다]And An and Bn are added for each arbitrary component. Incidentally, the number of polar groups in any component is calculated in the same manner as in the case of the above P value)

본 발명의 접착제 수지 조성물에 임의 성분을 배합하는 경우에는, 예를 들어, 폴리이미드 수지 100 중량부에 대해, 임의 성분의 합계로 1 ∼ 10 중량부의 배합량으로 하는 것이 바람직하고, 2 ∼ 7 중량부의 배합량으로 하는 것이 보다 바람직하다.In the case of blending optional components in the adhesive resin composition of the present invention, it is preferable that the blending amount of the optional components is 1 to 10 parts by weight, preferably 2 to 7 parts by weight, relative to 100 parts by weight of the polyimide resin, It is more preferable that the amount is in the blending amount.

이상과 같이 하여 얻어지는 본 발명의 접착제 수지 조성물은, 이것을 사용하여 접착제층을 형성한 경우에 우수한 유연성과 열가소성을 갖는 것이 되고, 예를 들어 FPC, 리지드·플렉스 회로 기판 등의 배선부를 보호하는 커버레이 필름용 접착제로서 바람직한 특성을 갖고 있다. 커버레이 필름의 접착제층으로서 사용하는 경우, 커버레이용 필름재의 편면에 본 발명의 접착제 수지 조성물을 용액 상태 (예를 들어, 용제를 함유하는 바니시상) 로 도포한 후, 예를 들어 60 ∼ 220 ℃ 의 온도에서 열압착시킴으로써, 커버레이용 필름재층과 접착제층을 갖는 본 발명의 커버레이 필름을 형성할 수 있다. 이 경우, 열압착시의 열을 이용하여 폴리이미드실록산의 케톤기와 아미노 화합물의 제 1 급 아미노기를 가열 축합시킬 수 있다. 또, 열압착시의 가열 축합이 충분하지 않은 경우에도, 열압착 후에 다시 열처리를 실시하여 가열 축합시킬 수도 있다. 열압착 후에 열처리를 실시하는 경우, 열처리 온도는, 예를 들어 60 ∼ 220 ℃ 가 바람직하고, 80 ∼ 200 ℃ 가 보다 바람직하다. 또, 임의의 기재 위에, 본 발명의 접착제 수지 조성물을 용액 상태 (예를 들어, 용제를 함유하는 바니시상) 로 도포하고, 예를 들어 80 ∼ 180 ℃ 의 온도에서 건조시킨 후, 박리함으로써, 접착제 필름을 형성하고, 이 접착제 필름을, 상기 커버레이용 필름재와 예를 들어 60 ∼ 220 ℃ 의 온도에서 열압착시키는 것에 의해서도, 커버레이용 필름재층과 접착제층을 갖는 본 발명의 커버레이 필름을 형성할 수 있다. 이 경우도, 열압착시의 열을 이용하여 폴리이미드실록산의 케톤기와 아미노 화합물의 제 1 급 아미노기를 가열 축합시킬 수 있다. 이상과 같이, 본 발명의 접착제 수지 조성물은, 폴리이미드실록산의 케톤기와 아미노 화합물의 제 1 급 아미노기가 미반응 상태에서 여러 가지의 형태로 가공하여 이용할 수 있다. 또한, 본 발명의 접착제 수지 조성물은, 임의의 기재 위에, 스크린 인쇄에 의해 용액 상태로 피복막을 형성하고, 예를 들어 80 ∼ 180 ℃ 의 온도에서 건조시켜 사용할 수도 있다. 바람직하게는 다시 130 ∼ 220 ℃ 의 온도에서 소정 시간 열처리하여, 피복막을 완전히 경화시킴으로써, 경화물을 형성할 수도 있다. 이 경우도, 경화시킬 때의 열을 이용하여 가열 축합시킬 수도 있다.The adhesive resin composition of the present invention obtained as described above has excellent flexibility and thermoplasticity when an adhesive layer is formed using the adhesive resin composition. The adhesive resin composition of the present invention can be used as a cover layer for protecting wiring portions such as FPC, Rigid- And has preferable characteristics as an adhesive for a film. When the adhesive resin composition of the present invention is used as an adhesive layer of a coverlay film, the adhesive resin composition of the present invention is applied in a solution state (for example, a varnish containing a solvent) Lt; 0 > C, the coverlay film of the present invention having the film material for coverlay and the adhesive layer can be formed. In this case, the ketone group of the polyimide siloxane and the primary amino group of the amino compound can be heat-condensed by using the heat at the time of thermocompression bonding. Also, even when the heat condensation at the time of thermocompression bonding is not sufficient, heat-condensation may be performed again after thermocompression bonding to perform heat condensation. When heat treatment is performed after thermocompression bonding, the heat treatment temperature is preferably, for example, 60 to 220 占 폚, more preferably 80 to 200 占 폚. Further, the adhesive resin composition of the present invention is applied on an arbitrary substrate in a solution state (for example, a varnish containing a solvent), dried at a temperature of, for example, 80 to 180 ° C, The cover layer film of the present invention having a film material for coverlay and an adhesive layer can be formed by thermally pressing the adhesive film at a temperature of, for example, 60 to 220 DEG C, . Also in this case, the ketone group of the polyimide siloxane and the primary amino group of the amino compound can be heat-condensed using heat at the time of thermocompression bonding. As described above, the adhesive resin composition of the present invention can be used by processing the ketone group of the polyimide siloxane and the primary amino group of the amino compound into various forms in the unreacted state. In addition, the adhesive resin composition of the present invention may be formed by forming a coating film in a solution state by screen printing on an arbitrary substrate, and drying it at a temperature of, for example, 80 to 180 ° C. Preferably at 130 to 220 DEG C for a predetermined period of time to completely cure the coating film to form a cured product. Also in this case, heat-condensation may be performed using heat at the time of curing.

[커버레이 필름·본딩 시트] [Coverage film, bonding sheet]

본 발명의 커버레이 필름에 있어서의 커버레이용 필름재로서는, 한정하는 취지는 아니지만, 예를 들어 폴리이미드 수지, 폴리에테르이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지 등의 폴리이미드계 수지 필름이나, 폴리아미드계 수지 필름, 폴리에스테르계 수지 필름 등을 사용할 수 있다. 이들 중에서도, 우수한 내열성을 갖는 폴리이미드계 수지 필름을 사용하는 것이 바람직하다. 커버레이용 필름재층의 두께는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어 5 ㎛ 이상 100 ㎛ 이하가 바람직하다. 또, 접착제층의 두께는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어 10 ㎛ 이상 50 ㎛ 이하가 바람직하다.Examples of the film material used for the coverlay in the coverlay film of the present invention include, but not limited to, polyimide resin films such as polyimide resin, polyetherimide resin and polyamideimide resin, A resin film, a polyester-based resin film, or the like can be used. Among them, it is preferable to use a polyimide-based resin film having excellent heat resistance. The thickness of the film material used for covering is not particularly limited, but is preferably 5 占 퐉 or more and 100 占 퐉 or less, for example. The thickness of the adhesive layer is not particularly limited, but is preferably 10 탆 or more and 50 탆 or less, for example.

또, 본 발명의 접착제 수지 조성물을 필름상으로 형성한 것은, 예를 들어 다층 FPC 의 본딩 시트로서도 이용할 수 있다. 본딩 시트서 이용하는 경우, 임의의 기재 필름 위에, 본 발명의 접착제 수지 조성물을 용액 상태로 도포하고, 예를 들어 80 ∼ 180 ℃ 의 온도에서 건조시킨 후, 박리하여 얻어지는 접착제 필름을 그대로 본딩 시트로서 사용해도 되고, 이 접착제 필름을 임의의 기재 필름과 적층한 상태에서 사용해도 된다. 본딩 시트로서 사용하는 경우도, 열압착시의 열을 이용하여 폴리이미드실록산의 케톤기와 아미노 화합물의 제 1 급 아미노기를 가열 축합시킬 수 있고, 열압착 후에 다시 열처리를 실시하여 가열 축합시킬 수도 있다.It is also possible to use the adhesive resin composition of the present invention in the form of a film, for example, as a bonding sheet of a multilayer FPC. In the case of using a bonding sheet, the adhesive resin composition of the present invention is applied on an arbitrary substrate film in a solution state, dried at a temperature of, for example, 80 to 180 ° C and then peeled off to obtain an adhesive film Or the adhesive film may be used in a state of being laminated with an arbitrary base film. Also in the case of using as the bonding sheet, the ketone group of the polyimide siloxane and the primary amino group of the amino compound can be heat-condensed using heat at the time of thermocompression bonding, and heat-condensation can be carried out again after thermocompression bonding.

또, 커버레이 필름이나 본딩 시트는, 접착제면에 이형재를 첩합하여 이형재층을 갖는 형태로 해도 된다. 이형재의 재질은, 커버레이 필름이나 본딩 시트의 형태를 저해하지 않고 박리 가능하면 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 등의 수지 필름이나, 이들 수지 필름을 종이 위에 적층한 것 등을 사용할 수 있다.Further, the coverlay film or the bonding sheet may be in the form of having a releasing material layer by bonding the releasing material to the adhesive surface. The material of the release material is not particularly limited as long as it can be peeled without inhibiting the shape of the coverlay film or the bonding sheet. For example, a resin film such as polyethylene terephthalate, polyethylene or polypropylene, And the like may be used.

본 발명의 접착제 수지 조성물을 사용하여 성형하고, 열처리에 의해 상기 가열 축합 반응을 발생시켜 얻어지는 커버레이 필름이나 본딩 시트는, 폴리이미드실록산과 아미노 화합물의 반응에 의해 얻어진 폴리이미드 수지를 함유하기 때문에, 우수한 땜납 내열성을 갖고 있다. 보다 구체적으로는, 후기 실시예에 나타내는 바와 같이, 땜납 내열성 (건조) 이 260 ℃ 이상, 바람직하게는 280 ℃ 이상, 보다 바람직하게는 300 ℃ 이상이며, 땜납 내열성 (내습) 이 200 ℃ 이상, 바람직하게는 260 ℃ 이상, 보다 바람직하게는 280 ℃ 이상이다. 이와 같이 매우 우수한 땜납 내열성을 구비함으로써, 땜납 공정으로 변형이나 박리 등의 발생이 방지되어, 제조되는 회로 기판 등의 수율과 신뢰성의 향상에 기여할 수 있다.The coverlay film or the bonding sheet obtained by molding the adhesive resin composition of the present invention and generating the heat condensation reaction by heat treatment contains the polyimide resin obtained by the reaction of the polyimide siloxane and the amino compound, And has excellent solder heat resistance. More specifically, as shown in the later embodiments, the solder heat resistance (dry) is preferably 260 占 폚 or higher, preferably 280 占 폚 or higher, more preferably 300 占 폚 or higher, and the solder heat resistance 260 DEG C or higher, and more preferably 280 DEG C or higher. By having such excellent solder heat resistance, occurrence of deformation and peeling in the soldering process can be prevented, and the yield and reliability of the produced circuit board and the like can be improved.

[회로 기판] [Circuit board]

본 발명의 회로 기판은 이상과 같이 하여 얻어지는 커버레이 필름이나 본딩 시트를 구비하고 있는 한, 그 구성에 특별히 제한은 없다. 예를 들어, 본 발명의 회로 기판의 바람직한 형태는, 적어도 기재와, 기재 위에 소정의 패턴으로 형성된 구리 등의 금속으로 이루어지는 배선층과, 그 배선층을 덮는 본 발명의 커버레이 필름을 구비하고 있다. 회로 기판의 기재로서는, 특별히 한정하는 취지는 아니지만, FPC 의 경우에는, 상기 커버레이용 필름재와 동일한 재질을 사용하는 것이 바람직하고, 폴리이미드계 수지제의 기재를 사용하는 것이 바람직하다.The circuit board of the present invention is not particularly limited as long as it includes a coverlay film or a bonding sheet obtained as described above. For example, a preferred form of the circuit board of the present invention comprises at least a substrate, a wiring layer formed of a metal such as copper formed in a predetermined pattern on the substrate, and a coverlay film of the present invention covering the wiring layer. The base material of the circuit board is not particularly limited, but in the case of FPC, it is preferable to use the same material as the above-mentioned cover material, and it is preferable to use a base made of a polyimide resin.

본 발명의 회로 기판은, 본 발명의 커버레이 필름을 사용함으로써, 우수한 유연성과 열가소성을 갖는 접착제층이 배선 사이에 충전되어, 커버레이 필름과 배선층의 높은 밀착성이 얻어진다. 또, 폴리이미드실록산과 아미노 화합물의 반응에 의해 얻어진 폴리이미드 수지를 포함하는 접착제층을 형성함으로써, 구리 배선으로부터의 구리의 확산이 억제되어, 고온 환경에서의 사용이 반복되어도, 우수한 밀착성을 장기간에 걸쳐 유지할 수 있다. 보다 구체적으로는, 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 장기 내열성 시험 후에, 에너지 분산형 X 선 (EDX) 분석 장치에 의한 측정 (후기 실시예를 참조) 에 의해, 접착제층으로의 구리의 확산량을 2.5 % 이하로 억제할 수 있다. 그 결과, 장기 내열성 시험 후의 구리 배선층과 커버레이용 필름재층의 박리 강도를 0.2 kN/m 이상으로 유지하는 것이 가능하다. 특히, 일반식 (1) 및 (2) 중의 기 Ar, 기 R1 및 기 R2 를 선정함으로써, 0.4 kN/m 이상의 매우 높은 박리 강도를 얻는 것이 가능하다. 또, 원료의 전체 디아민 성분에 대한 디아미노실록산의 배합 비율을 75 몰% 이상으로 함으로써, 우수한 가용성을 얻는 것이 가능하여, 가소제를 배합하지 않아도 커버레이 필름의 휨을 방지할 수 있다.In the circuit board of the present invention, by using the coverlay film of the present invention, an adhesive layer having excellent flexibility and thermoplasticity is filled between wirings, and a high adhesion between the coverlay film and the wiring layer is obtained. Further, by forming an adhesive layer containing a polyimide resin obtained by the reaction of a polyimide siloxane and an amino compound, the diffusion of copper from the copper wiring is suppressed, and even if the use in a high temperature environment is repeated, . More specifically, after the long-term heat resistance test at 150 占 폚 for 1000 hours in the atmosphere, the amount of copper diffused into the adhesive layer by the measurement by an energy dispersive X-ray (EDX) analyzer Can be suppressed to 2.5% or less. As a result, it is possible to maintain the peel strength between the copper wiring layer and the cover material for coverlay after the long-term heat resistance test at 0.2 kN / m or more. Particularly, it is possible to obtain a very high peel strength of 0.4 kN / m or more by selecting the groups Ar, R 1 and R 2 in the general formulas (1) and (2). In addition, by making the mixing ratio of the diaminosiloxane to the total diamine component of the raw material 75 mol% or more, excellent solubility can be obtained, and warpage of the coverlay film can be prevented even without adding a plasticizer.

또, 본 발명의 회로 기판은, 다층 회로 기판으로서 구성해도 된다. 이 경우, 커버레이 필름뿐만 아니라, 본딩 시트에도, 본 발명의 접착제 수지 조성물로부터 얻어지는 접착제 필름을 사용할 수 있다.Further, the circuit board of the present invention may be configured as a multilayer circuit board. In this case, an adhesive film obtained from the adhesive resin composition of the present invention can be used for not only the coverlay film but also the bonding sheet.

본 발명의 회로 기판의 제조는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어 동장 적층판 등의 금속장 적층판의 금속박을 화학 에칭 등의 방법에 의해 소정의 패턴으로 회로 가공한 후, 그 회로상의 필요한 부분에 커버레이 필름을 적층하고, 예를 들어 열 프레스 장치 등을 이용하여 열압착하는 방법 등을 들 수 있다. 이 경우, 압착 조건은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 압착 온도는 바람직하게는 130 ℃ 이상 220 ℃ 이하, 보다 바람직하게는 140 ℃ 이상 200 ℃ 이하, 압력은 0.1 ㎫ 이상 4 ㎫ 이하로 하는 것이 바람직하다. 또한, 커버레이 필름 상태에서, 폴리이미드실록산의 케톤기와 아미노 화합물의 제 1 급 아미노기가 미반응인 경우는, 커버레이 필름을 회로 배선에 열압착시킬 때의 열을 이용하여 축합 반응을 일으키게 할 수 있다. 즉, 커버레이 필름의 접착제층이 배선층에 맞닿도록 배치하고, 양 부재를 열압착하는 공정과 동시에, 접착제층 중에 포함되는 (A) 성분의 케톤기와 (B) 성분의 제 1 급 아미노기를 축합 반응시켜 C=N 결합을 형성시키는 것이 가능하다.The production of the circuit board of the present invention is not particularly limited. For example, a metal foil of a metal laminated board such as a copper clad laminate is subjected to circuit processing in a predetermined pattern by chemical etching or the like, A method of laminating a coverlay film and thermocompression bonding using, for example, a hot press apparatus or the like. In this case, the pressing conditions are not particularly limited. For example, the pressing temperature is preferably 130 占 폚 or more and 220 占 폚 or less, more preferably 140 占 폚 or more and 200 占 폚 or less, and the pressure is 0.1 MPa or more and 4 MPa or less . When the ketone group of the polyimide siloxane and the primary amino group of the amino compound are unreacted in the state of the coverlay film, the condensation reaction can be caused by using the heat at the time of thermally bonding the coverlay film to the circuit wiring have. That is, the step of arranging the adhesive layer of the coverlay film so as to be in contact with the wiring layer, the step of thermocompression bonding both members and the condensation reaction of the ketone group of the component (A) and the primary amino group of the component To form a C = N bond.

실시예Example

이하, 본 발명을 실시예에 의해 구체적으로 설명하는데, 본 발명은 이들 실시예에 의해 전혀 한정되지 않는다. 또한, 이하의 실시예에 있어서, 특별히 언급하지 않는 한 각종 측정, 평가는 하기에 의한 것이다.Hereinafter, the present invention will be described concretely with reference to Examples, but the present invention is not limited at all by these Examples. In the following examples, unless otherwise stated, various measurements and evaluations are made as follows.

[접착 강도의 측정] [Measurement of Adhesive Strength]

접착 강도는, 폭 10 ㎜, 길이 100 ㎜ 로 자른 시험편의 접착제면을 동박 (35 ㎛ 두께) 의 광택면 (방청 금속을 제거한 것) 위에 놓고, 온도 170 ℃, 압력 1 ㎫, 시간 1 분의 조건으로 프레스하고, 그 후 오븐으로 온도 150 ℃, 시간 24 시간의 조건으로 가열 (단, 실시예 21 에 대해서는, 온도 200 ℃, 압력 1 ㎫, 시간 60 분의 조건으로 열압착하고, 그 후의 열처리는 생략) 한 후, 인장 시험기 (토요 정기 주식회사 제조, 스트로그래프 M1) 를 이용하여, 180 ° 방향으로 50 ㎜/분의 속도로 박리할 때의 힘을 접착 강도로 한다. 본 실험에서는, 접착 강도가 0.2 kN/m 이상인 경우를 「가능」, 0.35 kN/m 이상인 경우를 「양호」로 판정하였다.The adhesive strength was measured by placing the adhesive surface of a test piece cut into a width of 10 mm and a length of 100 mm on a glossy surface (with a rustproof metal removed) of a copper foil (35 占 퐉 thickness) under conditions of a temperature of 170 占 폚, a pressure of 1 MPa, And then heated in an oven under the conditions of a temperature of 150 占 폚 for 24 hours under the conditions of a temperature of 200 占 폚 and a pressure of 1 MPa for a time of 60 minutes for Example 21, The adhesive strength is defined as the force at the time of peeling at a rate of 50 mm / min in the direction of 180 DEG by using a tensile tester (Strogo Graph M1 manufactured by Toyooka Kogyo Co., Ltd.). In the present experiment, the case where the bonding strength was 0.2 kN / m or more was judged as "possible" and the case where the bonding strength was 0.35 kN / m or more was judged as "good".

[중량 평균 분자량 (Mw) 의 측정] [Measurement of weight average molecular weight (Mw)] [

중량 평균 분자량은 겔 침투 크로마토그래프 (토소 주식회사 제조, HLC-8220GPC 를 사용) 에 의해 측정하였다. 표준 물질로서 폴리스티렌을 사용하고, 전개 용매에 N,N-디메틸아세트아미드를 사용하였다.The weight average molecular weight was measured by gel permeation chromatograph (HLC-8220GPC manufactured by Tosoh Corporation). Polystyrene was used as a standard substance and N, N-dimethylacetamide was used as a developing solvent.

[휨 평가 방법] [Evaluation method of bending]

휨의 평가는 이하의 방법으로 실시하였다. 두께 25 ㎛ 의 캡톤 필름 위에 건조 후의 두께가 35 ㎛ 가 되도록 폴리이미드 접착제를 도포하였다. 이 상태에서 캡톤 필름이 하면이 되도록 놓고, 필름의 4 구석의 휘어져 올라와 있는 높이의 평균을 측정하여, 5 ㎜ 이하를 「양호」, 5 ㎜ 를 초과하는 경우를 「불량」 이라고 하였다.The evaluation of the warpage was carried out in the following manner. A polyimide adhesive was applied on a 25 mu m thick Capton film so that the thickness after drying was 35 mu m. In this state, the capton film was placed on the underside, and the average height of the bent portions of the film at four corners was measured to be "good" for 5 mm or less, and "poor" for cases exceeding 5 mm.

[땜납 내열성 (건조) 의 평가 방법] [Evaluation method of soldering heat resistance (drying)] [

폴리이미드 동장 적층판 (신닛데츠 화학사 제조, 상품명 ; 에스파넥스 MC18 -25-00FRM) 을 회로 가공하여, 배선폭/배선 간격 (L/S) = 1 ㎜/1 ㎜ 의 회로가 형성된 프린트 기판을 준비하여, 시험편의 접착제면을 프린트 기판의 배선 위에 놓고, 온도 170 ℃, 압력 1 ㎫, 시간 1 분의 조건으로 프레스하고, 그 후 오븐으로 온도 150 ℃, 시간 24 시간의 조건으로 가열하였다 (단, 실시예 21 에 대해서는, 온도 200 ℃, 압력 1 ㎫, 시간 60 분의 조건으로 열압착하고, 그 후의 열처리는 생략하였다). 이 동박이 부착된 시험편을 105 ℃, 상대 습도 50 % 로 1 시간 방치한 후, 각 평가 온도로 설정한 땜납욕 중에 10 초간 침지시키고, 그 접착 상태를 관찰하여, 발포, 팽창, 박리 등의 문제 유무를 확인하였다. 내열성은 문제가 발생하지 않는 상한의 온도로 표현하고, 예를 들어 「320 ℃」는, 320 ℃ 의 땜납욕 중에서 평가하여, 문제가 확인되지 않는 것을 의미한다 (후기 표 2 ∼ 4 참조).A printed circuit board on which circuits were formed with wiring width / wiring interval (L / S) = 1 mm / 1 mm was prepared by circuit processing a polyimide copper clad laminate (trade name: Espanex MC18 -25-00FRM, , The adhesive side of the test piece was placed on the wiring of the printed circuit board and pressed under the conditions of a temperature of 170 DEG C, a pressure of 1 MPa, and a time of 1 minute, and then heated in an oven at a temperature of 150 DEG C for 24 hours For Example 21, thermocompression was performed under the conditions of a temperature of 200 占 폚, a pressure of 1 MPa, and a time of 60 minutes, and the subsequent heat treatment was omitted. The test piece to which the copper foil was attached was allowed to stand at 105 DEG C and 50% RH for 1 hour, then immersed in a solder bath set at each evaluation temperature for 10 seconds, and the adhesion state was observed to find problems such as foaming, Respectively. Heat resistance is expressed by the upper limit temperature at which no problem occurs. For example, "320 ° C" means that the problem is not confirmed by evaluating the solder bath at 320 ° C (see Tables 2 to 4).

[땜납 내열성 (내습) 의 평가 방법] [Evaluation method of solder heat resistance (humidity)] [

폴리이미드 동장 적층판 (신닛데츠 화학사 제조, 상품명 ; 에스파넥스 MC18 -25-00FRM) 을 회로 가공하여, 배선폭/배선 간격 (L/S) = 1 ㎜/1 ㎜ 의 회로가 형성된 프린트 기판을 준비하여, 시험편의 접착제면을 프린트 기판의 배선 위에 놓고, 온도 170 ℃, 압력 1 ㎫, 시간 1 분의 조건으로 프레스하고, 그 후 오븐으로 온도 150 ℃, 시간 24 시간의 조건으로 가열하였다 (단, 실시예 21 에 대해서는, 온도 200 ℃, 압력 1 ㎫, 시간 60 분의 조건으로 열압착하고, 그 후의 열처리는 생략하였다). 이 동박이 부착된 시험편을 85 ℃, 상대 습도 85 % 로 24 시간 방치한 후, 각 평가 온도로 설정한 땜납욕 중에 10 초간 침지시키고, 그 접착 상태를 관찰하여, 발포, 팽창, 박리 등의 문제 유무를 확인하였다. 내열성은 문제가 발생하지 않는 상한의 온도로 표현하고, 예를 들어 「280 ℃」는, 280 ℃ 의 땜납욕 중에서 평가하여, 문제가 확인되지 않는 것을 의미한다 (후기 표 2 ∼ 4 참조).A printed circuit board on which circuits were formed with wiring width / wiring interval (L / S) = 1 mm / 1 mm was prepared by circuit processing a polyimide copper clad laminate (trade name: Espanex MC18 -25-00FRM, , The adhesive side of the test piece was placed on the wiring of the printed circuit board and pressed under the conditions of a temperature of 170 DEG C, a pressure of 1 MPa, and a time of 1 minute, and then heated in an oven at a temperature of 150 DEG C for 24 hours For Example 21, thermocompression was performed under the conditions of a temperature of 200 占 폚, a pressure of 1 MPa, and a time of 60 minutes, and the subsequent heat treatment was omitted. The test piece to which the copper foil was attached was allowed to stand at 85 캜 and 85% relative humidity for 24 hours, and then immersed in a solder bath set at each evaluation temperature for 10 seconds to observe the state of adhesion thereof to find problems such as foaming, Respectively. The heat resistance is expressed by an upper limit temperature at which no problem occurs. For example, " 280 占 폚 " is evaluated in a soldering bath at 280 占 폚 to indicate that no problem is identified (see Tables 2 to 4 below).

[인장 시험] [Tensile test]

폴리이미드 수지의 필름을 35 ㎛ 두께로 제조한 샘플을, 폭 12.5 ㎜ × 길이 120 ㎜ 의 직사각 형상으로 잘라 시험편으로 하고, 인장 시험기 (토요 정기 주식회사 제조, 스트로그래프 R1) 를 이용하여, 크로스 헤드 스피드 25 ㎜/분, 척 간 거리 101.6 ㎜ 로 측정을 실시하여, 측정 하중을 시험편의 단면적 (0.31 ㎟) 으로 나눈 값을 인장 강도로 한다.A sample made of a polyimide resin film having a thickness of 35 mu m was cut into a rectangular shape having a width of 12.5 mm and a length of 120 mm to prepare a test piece. Using a tensile tester (Strograph R1, manufactured by Toyobo Co., Ltd.) 25 mm / min, and the chuck distance of 101.6 mm, and the value obtained by dividing the measured load by the cross sectional area (0.31 mm 2) of the test piece is taken as the tensile strength.

본 실시예에서 사용한 약호는 이하의 화합물을 나타낸다. The following abbreviations are used in this embodiment.

BTDA : 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물 BTDA: 3,3 ', 4,4'-benzophenone tetracarboxylic acid dianhydride

(BTDA 의 극성기 ; 1, p 값 = 0.56)  (Polar group of BTDA: 1, p value = 0.56)

BPDA : 3,3',4,4'-디페닐테트라카르복실산 2무수물 BPDA: 3,3 ', 4,4'-diphenyltetracarboxylic acid dianhydride

(BPDA 의 극성기 ; 0, p 값 = 0)  (Polar group of BPDA: 0, p value = 0)

BAPP : 2,2-비스(4-아미노페녹시페닐)프로판 BAPP: 2,2-bis (4-aminophenoxyphenyl) propane

(BAPP 의 극성기 ; 2, p 값 = 0.53)  (Polar group of BAPP; 2, p value = 0.53)

DAPE : 4,4'-디아미노디페닐에테르 DAPE: 4,4'-diaminodiphenyl ether

TPE-R : 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠 TPE-R: 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene

p-PDA : p-페닐렌디아민 p-PDA: p-phenylenediamine

m-TB : 2,2'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐 m-TB: 2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl

BAFL : 비스아닐린플루오렌 BAFL: Bisaniline fluorene

HMDA : 1,6-헥사메틸렌디아민 HMDA: 1,6-hexamethylene diamine

PSX-A : 상기 식 (5) 로 나타내는 디아미노실록산 PSX-A: diaminosiloxane represented by the above formula (5)

(단, m1 의 수평균값은 1 ∼ 20 의 범위 내이며, 중량 평균 분자량은 740 이다) (Provided that the number average value of m 1 is in the range of 1 to 20 and the weight average molecular weight is 740)

N-12 : 도데칸2산디하이드라지드 N-12: Dodecane dianhydride

(상기 식 (15) 에 있어서의 R17 이 C10H20) (R 17 in the formula (15) This C 10 H 20 )

ADH : 아디프산디하이드라지드 ADH: adipic acid dihydrazide

(상기 식 (15) 에 있어서의 R17 이 C4H8)(The C 4 H 8 R 17 in the formula (15))

합성예 1 Synthesis Example 1

1000 ㎖ 의 세퍼러블 플라스크에, 71.30 g 의 PSX-A (0.0964 몰), 9.89 g 의 BAPP (0.0241 몰), 38.66 g 의 BTDA (0.120 몰), 168 g 의 N-메틸-2-피롤리돈 및 112 g 의 자일렌을 장입하고, 실온에서 1 시간 잘 혼합하여, 폴리아미드산 용액을 얻었다. 이 폴리아미드산 용액을 190 ℃ 로 승온시켜, 20 시간 가열, 교반하여, 이미드화를 완결한 폴리이미드 용액 a 를 얻었다. 얻어진 폴리이미드 용액 a 에 있어서의 폴리이미드 수지의 중량 평균 분자량 (Mw) 은 122,000 이었다. 이 때의 전체 디아민 성분에 대한 디아미노실록산 성분의 몰% 는 80 % (m 값 = 0.8) 이다. 또한, 「m 값」은 얻어진 폴리이미드 수지 중에 포함되고, 상기 일반식 (1) 로 나타내는 구성 단위의 존재 몰비를 의미한다 (이하, 동일하다). 또, 얻어진 폴리이미드 수지에 포함되는 극성기의 양을 나타내는 지표인 P 값은 0.55 이다.In a 1000 ml separable flask, 71.30 g of PSX-A (0.0964 mole), 9.89 g of BAPP (0.0241 mole), 38.66 g of BTDA (0.120 mole), 168 g of N-methyl- 112 g of xylene was charged and mixed well at room temperature for 1 hour to obtain a polyamic acid solution. The polyamic acid solution was heated to 190 캜 and heated and stirred for 20 hours to obtain a polyimide solution a in which the imidization was completed. The weight average molecular weight (Mw) of the polyimide resin in the obtained polyimide solution a was 122,000. The mole% of the diaminosiloxane component relative to the total diamine component is 80% (m value = 0.8). The " m value " means the molar ratio of the structural unit represented by the general formula (1) contained in the obtained polyimide resin (hereinafter the same). The P value, which is an index indicating the amount of polar groups contained in the obtained polyimide resin, is 0.55.

합성예 2 Synthesis Example 2

1000 ㎖ 의 세퍼러블 플라스크에, 71.30 g 의 PSX-A (0.0964 몰), 9.89 g 의 BAPP (0.0241 몰), 38.66 g 의 BTDA (0.120 몰), 168 g 의 N-메틸-2-피롤리돈 및 112 g 의 자일렌을 장입하고, 실온에서 1 시간 잘 혼합하여, 폴리아미드산 용액을 얻었다. 이 폴리아미드산 용액을 190 ℃ 로 승온시켜, 6 시간 가열, 교반하여, 이미드화를 완결한 폴리이미드 용액 b 를 얻었다. 얻어진 폴리이미드 용액 b 에 있어서의 폴리이미드 수지의 중량 평균 분자량 (Mw) 은 36,700 이었다. 이 때의 전체 디아민 성분에 대한 디아미노실록산 성분의 몰% 는, 80 % (m 값 = 0.8) 이다. 또, 얻어진 폴리이미드 수지에 포함되는 극성기의 양을 나타내는 지표인 P 값은 0.55 이다.In a 1000 ml separable flask, 71.30 g of PSX-A (0.0964 mole), 9.89 g of BAPP (0.0241 mole), 38.66 g of BTDA (0.120 mole), 168 g of N-methyl- 112 g of xylene was charged and mixed well at room temperature for 1 hour to obtain a polyamic acid solution. The polyamic acid solution was heated to 190 캜 and heated and stirred for 6 hours to obtain a polyimide solution b in which imidization was completed. The weight average molecular weight (Mw) of the polyimide resin in the obtained polyimide solution b was 36,700. The mole% of the diaminosiloxane component relative to the total diamine component at this time is 80% (m value = 0.8). The P value, which is an index indicating the amount of polar groups contained in the obtained polyimide resin, is 0.55.

합성예 3 Synthesis Example 3

1000 ㎖ 의 세퍼러블 플라스크에, 73.41 g 의 PSX-A (0.0992 몰), 10.21 g 의 BAPP (0.0249 몰), 36.46 g 의 BPDA (0.1239 몰), 168 g 의 N-메틸-2-피롤리돈 및 112 g 의 자일렌을 장입하고, 실온에서 1 시간 잘 혼합하여, 폴리아미드산 용액을 얻었다. 이 폴리아미드산 용액을 190 ℃ 로 승온시켜, 6 시간 가열, 교반하여, 이미드화를 완결한 폴리이미드 용액 c 를 얻었다. 얻어진 폴리이미드 용액 c 에 있어서의 폴리이미드 수지의 중량 평균 분자량 (Mw) 은 27,900 이었다. 이 때의 전체 디아민 성분에 대한 디아미노실록산 성분의 몰% 는 80 % (m 값 = 0.8) 이다. 또, 얻어진 폴리이미드 수지에 포함되는 극성기의 양을 나타내는 지표인 P 값은 0.18 이다.In a 1000 ml separable flask, 73.41 g of PSX-A (0.0992 mole), 10.21 g of BAPP (0.0249 mole), 36.46 g of BPDA (0.1239 mole), 168 g of N-methyl- 112 g of xylene was charged and mixed well at room temperature for 1 hour to obtain a polyamic acid solution. The polyamic acid solution was heated to 190 ° C and heated and stirred for 6 hours to obtain a polyimide solution c in which imidization was completed. The weight average molecular weight (Mw) of the polyimide resin in the obtained polyimide solution c was 27,900. The mole% of the diaminosiloxane component relative to the total diamine component is 80% (m value = 0.8). The P value, which is an index indicating the amount of polar groups contained in the obtained polyimide resin, is 0.18.

합성예 1 ∼ 3 을 표 1 에 정리하였다.Synthesis Examples 1 to 3 are summarized in Table 1.

Figure 112012046963319-pct00010
Figure 112012046963319-pct00010

참고예 1Reference Example 1

합성예 1 에서 얻어진 폴리이미드 용액 a 를 폴리이미드 필름 (듀퐁사 제조, 상품명 ; 캡톤 ENS, 세로 × 가로 × 두께 = 200 ㎜ × 300 ㎜ × 25 ㎛) 의 편면에 도포하고, 80 ℃ 에서 15 분간 건조를 실시하여, 접착제층 두께 35 ㎛ 의 커버레이 필름으로 하였다. 푸리에 변환 적외 분광 광도계 (시판품 : 니혼 분광 제조 FT/IR620) 를 이용하여, 커버레이 필름에 있어서의 접착제층의 적외선 흡수 스펙트럼을 측정함으로써, 1673 ㎝-1 부근에 BTDA 유래의 케톤기의 흡수를 확인하였다. 다음으로, 얻어진 커버레이 필름을 표면의 방청 금속층을 제거한 동박 위에 놓고, 온도 170 ℃, 압력 1 ㎫, 시간 1 분의 조건으로 프레스하고, 그 후 오븐으로 온도 150 ℃, 시간 24 시간의 조건으로 가열하여, 평가 샘플을 얻었다. 평가 결과를 표 2 에 나타낸다.The polyimide solution a obtained in Synthesis Example 1 was applied to one side of a polyimide film (trade name: Capton ENS, length × width × thickness = 200 mm × 300 mm × 25 μm) manufactured by DuPont) and dried at 80 ° C. for 15 minutes To form a coverlay film having an adhesive layer thickness of 35 mu m. The infrared absorption spectrum of the adhesive layer in the coverlay film was measured using a Fourier transform infrared spectrophotometer (commercial product: FT / IR620, manufactured by Nihon Spectroscopy) to confirm absorption of the ketone group derived from BTDA near 1673 cm -1 Respectively. Next, the obtained coverlay film was placed on a copper foil on which a rust-preventive metal layer was removed from the surface, pressed under the conditions of a temperature of 170 占 폚, a pressure of 1 MPa, and a time of 1 minute, and then heated in an oven at a temperature of 150 占 폚 for 24 hours To obtain an evaluation sample. The evaluation results are shown in Table 2.

[실시예 1] [Example 1]

합성예 1 에서 얻어진 폴리이미드 용액 a 에 5.78 g 의 BAPP (0.014 몰) 를 배합하고, 다시 1 시간 교반함으로써 폴리이미드 용액 1 을 얻었다.5.78 g of BAPP (0.014 mol) was added to the polyimide solution a obtained in Synthesis Example 1 and further stirred for 1 hour to obtain polyimide solution 1.

얻어진 폴리이미드 용액 1 을 폴리이미드 필름 (듀퐁사 제조, 상품명 ; 캡톤 ENS, 세로 × 가로 × 두께 = 200 ㎜ × 300 ㎜ × 25 ㎛) 의 편면에 도포하고, 80 ℃ 에서 15 분간 건조를 실시하여, 접착제층 두께 35 ㎛ 의 커버레이 필름 1 로 하였다. 이 커버레이 필름 1 을 표면의 방청 금속층을 제거한 동박 위에 놓고, 온도 170 ℃, 압력 1 ㎫, 시간 1 분의 조건으로 프레스하고, 그 후 오븐으로 온도 150 ℃, 시간 24 시간의 조건으로 가열하여, 평가 샘플 1 을 얻었다. 접착제층 경화 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도는 1.9 kN/m 였다. 또, 커버레이 필름의 휨도 문제 없었다. 푸리에 변환 적외 분광 광도계 (시판품 : 니혼 분광 제조 FT/IR620) 를 이용하여, 평가 샘플 1 에 있어서의 접착제층의 적외선 흡수 스펙트럼을 측정한 결과, 1673 ㎝-1 부근에 BTDA 유래의 케톤기의 흡수가 감소되어 있는 것이 확인되고, 또한 1635 ㎝-1 부근에 이민기의 흡수가 확인되었다.The resulting polyimide solution 1 was applied to one side of a polyimide film (product name: Capton ENS, length × width × thickness = 200 mm × 300 mm × 25 μm, manufactured by DuPont) and dried at 80 ° C. for 15 minutes, Thereby forming a coverlay film 1 having an adhesive layer thickness of 35 mu m. The coverlay film 1 was placed on a copper foil on which a rust-preventive metal layer was removed, and pressed under the conditions of a temperature of 170 占 폚, a pressure of 1 MPa, and a time of 1 minute, and then heated in an oven at a temperature of 150 占 폚 for 24 hours, Evaluation sample 1 was obtained. The adhesive strength between the copper foil and the coverlay film after curing of the adhesive layer was 1.9 kN / m. Also, there was no problem with the warpage of the coverlay film. The infrared absorption spectrum of the adhesive layer in the evaluation sample 1 was measured using a Fourier transform infrared spectrophotometer (commercial product: FT / IR620, manufactured by Nihon Spectroscopy). As a result, absorption of the ketone group derived from BTDA was observed near 1673 cm -1 , And absorption of imine group was confirmed near 1635 cm -1 .

다음으로 평가 샘플 1 에 대해 오븐으로 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 열처리를 실시하였다. 처리 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도를 측정한 결과, 0.80 kN/m 였다. 이 때의 박리면은 구리와 접착제층의 계면이었다.Next, the evaluation sample 1 was subjected to heat treatment in an oven at 150 캜 for 1000 hours in the air. The adhesion strength between the treated copper foil and the coverlay film was measured and found to be 0.80 kN / m. The peeling surface at this time was the interface between the copper and the adhesive layer.

또한, 폴리이미드 필름의 양면에 구리에 의해 회로{배선폭/배선 간격 (L/S) = 25 ㎛/25 ㎛}가 형성된 프린트 기판을 준비하여, 실시예 1 에서 얻어진 커버레이 필름 1 을 프린트 기판의 회로면에 놓고, 온도 170 ℃, 압력 1 ㎫, 시간 1 분의 조건으로 프레스하고, 그 후 오븐으로 온도 150 ℃, 시간 24 시간의 조건으로 가열하여, 커버레이 필름을 구비한 배선 기판 1 을 얻었다.A printed circuit board on which a circuit (wiring width / wiring interval (L / S) = 25 占 퐉 / 25 占 퐉) was formed on both sides of the polyimide film by copper was prepared and the coverlay film 1 obtained in Example 1 was mounted on a printed substrate And pressed under the conditions of a temperature of 170 DEG C, a pressure of 1 MPa, and a time of 1 minute, and then heated in an oven under the conditions of a temperature of 150 DEG C for 24 hours to obtain a wiring board 1 having a coverlay film .

[실시예 2] [Example 2]

실시예 1 에 있어서의 5.78 g 의 BAPP 를 배합한 것 대신에, 5.78 g 의 DAPE (0.029 몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 2 를 얻은 후, 커버레이 필름 2 를 얻고, 평가 샘플 2 를 얻었다. 접착제층 경화 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도는 1.55 kN/m 였다. 또, 커버레이 필름의 휨도 문제 없었다.A polyimide solution 2 was obtained in the same manner as in Example 1 except that 5.78 g of DAPE (0.029 mole) was used instead of 5.78 g of BAPP in Example 1, 2 was obtained, and evaluation sample 2 was obtained. The adhesion strength between the copper foil and the coverlay film after curing of the adhesive layer was 1.55 kN / m. Also, there was no problem with the warpage of the coverlay film.

다음으로 평가 샘플 2 에 대해 오븐으로 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 열처리를 실시하였다. 처리 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도를 측정한 결과, 0.63 kN/m 였다. 이 때의 박리면은, 구리와 접착제층의 계면이었다.Next, the evaluation sample 2 was subjected to heat treatment in an oven at 150 캜 for 1000 hours in the air. The bonding strength between the treated copper foil and the coverlay film was measured and found to be 0.63 kN / m. The peeling surface at this time was the interface between copper and the adhesive layer.

또한, 실시예 1 과 동일하게 하여, 회로{배선폭/배선 간격 (L/S) = 25 ㎛/25 ㎛}가 형성된 프린트 기판을 준비하여, 실시예 2 에서 얻어진 커버레이 필름 2 를 프린트 기판의 회로면에 놓고 열압착하여, 커버레이 필름을 구비한 배선 기판 2 를 얻었다.A printed board on which a circuit (wiring width / wiring interval (L / S) = 25 占 퐉 / 25 占 퐉) was formed was prepared in the same manner as in Example 1 to prepare a coverlay film 2 obtained in Example 2, And placed on a circuit surface and thermocompression-bonded to obtain a wiring board 2 having a coverlay film.

[실시예 3] [Example 3]

실시예 1 에 있어서의 5.78 g 의 BAPP 를 배합한 것 대신에, 5.78 g 의 p-PDA (0.053 몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 3 을 얻은 후, 커버레이 필름 3 을 얻고, 평가 샘플 3 을 얻었다. 접착제층 경화 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도는 1.0 kN/m 였다. 또, 커버레이 필름의 휨도 문제 없었다.A polyimide solution 3 was obtained in the same manner as in Example 1 except that 5.78 g of p-PDA (0.053 mole) was used instead of 5.78 g of BAPP in Example 1, Ray film 3 was obtained, and evaluation sample 3 was obtained. The adhesion strength between the copper foil and the coverlay film after curing of the adhesive layer was 1.0 kN / m. Also, there was no problem with the warpage of the coverlay film.

다음으로 평가 샘플 3 에 대해 오븐으로 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 열처리를 실시하였다. 처리 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도를 측정한 결과, 0.54 kN/m 였다. 이 때의 박리면은, 구리와 접착제층의 계면이었다.Next, Evaluation Sample 3 was subjected to a heat treatment in an oven at 150 ° C for 1000 hours in an oven. The adhesion strength between the treated copper foil and the coverlay film was measured and found to be 0.54 kN / m. The peeling surface at this time was the interface between copper and the adhesive layer.

또한, 실시예 1 과 동일하게 하여, 회로{배선폭/배선 간격 (L/S) = 25 ㎛/25 ㎛}가 형성된 프린트 기판을 준비하여, 실시예 3 에서 얻어진 커버레이 필름 3 을 프린트 기판의 회로면에 놓고 열압착하여, 커버레이 필름을 구비한 배선 기판 3 을 얻었다.A printed board on which a circuit (wiring width / wiring interval (L / S) = 25 占 퐉 / 25 占 퐉) was formed was prepared in the same manner as in Example 1 to prepare a coverlay film 3 obtained in Example 3 Placed on a circuit surface and thermocompression-bonded to obtain a wiring board 3 having a coverlay film.

[실시예 4] [Example 4]

실시예 1 에 있어서의 5.78 g 의 BAPP 를 배합한 것 대신에, 5.78 g 의 m-TB (0.027 몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 4 를 얻은 후, 커버레이 필름 4 를 얻고, 평가 샘플 4 를 얻었다. 접착제층 경화 후의 동박과 커버레이 필름의 동박의 접착 강도는 1.18 kN/m 였다. 또, 커버레이 필름의 휨도 문제 없었다.A polyimide solution 4 was obtained in the same manner as in Example 1 except that 5.78 g of m-TB (0.027 mol) was used instead of 5.78 g of BAPP in Example 1, Ray film 4 was obtained, and evaluation sample 4 was obtained. The adhesion strength between the copper foil of the cover layer film and the copper foil after curing of the adhesive layer was 1.18 kN / m. Also, there was no problem with the warpage of the coverlay film.

다음으로 평가 샘플 4 에 대해 오븐으로 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 열처리를 실시하였다. 처리 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도를 측정한 결과, 0.46 kN/m 였다. 이 때의 박리면은, 구리와 접착제층의 계면이었다.Next, Evaluation Sample 4 was subjected to a heat treatment in an oven at 150 ° C for 1000 hours in an oven. The bonding strength between the treated copper foil and the coverlay film was measured and found to be 0.46 kN / m. The peeling surface at this time was the interface between copper and the adhesive layer.

또한, 실시예 1 과 동일하게 하여, 회로{배선폭/배선 간격 (L/S) = 25 ㎛/25 ㎛}가 형성된 프린트 기판을 준비하여, 실시예 4 에서 얻어진 커버레이 필름 4 를 프린트 기판의 회로면에 놓고 열압착하여, 커버레이 필름을 구비한 배선 기판 4 를 얻었다.A printed board on which a circuit (wiring width / wiring interval (L / S) = 25 占 퐉 / 25 占 퐉) was formed was prepared in the same manner as in Example 1, and the coverlay film 4 obtained in Example 4 was mounted on a printed board And placed on the circuit surface and thermocompression bonded to obtain a wiring board 4 having a coverlay film.

[실시예 5] [Example 5]

실시예 1 에 있어서의 5.78 g 의 BAPP 를 배합한 것 대신에, 5.78 g 의 TPE-R (0.020 몰) 을 배합한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 5 를 얻은 후, 커버레이 필름 5 를 얻고, 평가 샘플 5 를 얻었다. 접착제층 경화 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도는 2.0 kN/m 였다. 또, 커버레이 필름의 휨도 문제 없었다.A polyimide solution 5 was obtained in the same manner as in Example 1 except that 5.78 g of TPE-R (0.020 mol) was used instead of 5.78 g of BAPP in Example 1, Ray film 5 was obtained, and evaluation sample 5 was obtained. The adhesion strength between the copper foil and the coverlay film after curing of the adhesive layer was 2.0 kN / m. Also, there was no problem with the warpage of the coverlay film.

다음으로 평가 샘플 5 에 대해 오븐으로 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 열처리를 실시하였다. 처리 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도를 측정한 결과, 0.66 kN/m 였다. 이 때의 박리면은, 구리와 접착제층의 계면이었다.Next, Evaluation Sample 5 was subjected to a heat treatment in an oven at 150 ° C for 1000 hours in an oven. The bonding strength between the treated copper foil and the coverlay film was measured and found to be 0.66 kN / m. The peeling surface at this time was the interface between copper and the adhesive layer.

또한, 실시예 1 과 동일하게 하여, 회로{배선폭/배선 간격 (L/S) = 25 ㎛/25 ㎛}가 형성된 프린트 기판을 준비하여, 실시예 5 에서 얻어진 커버레이 필름 5 를 프린트 기판의 회로면에 놓고 열압착하여, 커버레이 필름을 구비한 배선 기판 5 를 얻었다.A printed board on which a circuit (wiring width / wiring interval (L / S) = 25 占 퐉 / 25 占 퐉) was formed was prepared in the same manner as in Example 1 to prepare a coverlay film 5 obtained in Example 5, And placed on the circuit surface and thermocompression bonded to obtain a wiring board 5 having a coverlay film.

[실시예 6] [Example 6]

실시예 1 에 있어서의 5.78 g 의 BAPP 를 배합한 것 대신에, 5.78 g 의 BAFL (0.017 몰) 을 배합한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 6 을 얻은 후, 커버레이 필름 6 을 얻고, 평가 샘플 6 을 얻었다. 접착제층 경화 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도는 1.22 kN/m 였다. 또, 커버레이 필름의 휨도 문제 없었다.A polyimide solution 6 was obtained in the same manner as in Example 1 except that 5.78 g of BAFL (0.017 mol) was used instead of 5.78 g of BAPP in Example 1, 6 was obtained, and evaluation sample 6 was obtained. The adhesion strength between the copper foil and the coverlay film after curing of the adhesive layer was 1.22 kN / m. Also, there was no problem with the warpage of the coverlay film.

다음으로 평가 샘플 6 에 대해 오븐으로 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 열처리를 실시하였다. 처리 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도를 측정한 결과, 0.65 kN/m 였다. 이 때의 박리면은, 구리와 접착제층의 계면이었다.Next, Evaluation Sample 6 was subjected to a heat treatment in an oven at 150 ° C for 1000 hours in an oven. The bonding strength between the treated copper foil and the coverlay film was measured and found to be 0.65 kN / m. The peeling surface at this time was the interface between copper and the adhesive layer.

또한, 실시예 1 과 동일하게 하여, 회로{배선폭/배선 간격 (L/S) = 25 ㎛/25 ㎛}가 형성된 프린트 기판을 준비하여, 실시예 6 에서 얻어진 커버레이 필름 6 을 프린트 기판의 회로면에 놓고 열압착하여, 커버레이 필름을 구비한 배선 기판 6 을 얻었다.A printed board on which a circuit (wiring width / wiring interval (L / S) = 25 占 퐉 / 25 占 퐉) was formed was prepared in the same manner as in Example 1 to prepare the coverlay film 6 obtained in Example 6 And placed on the circuit surface and thermocompression-bonded to obtain a wiring board 6 having a coverlay film.

참고예 2 Reference Example 2

실시예 1 에 있어서의 폴리이미드 용액 a 대신에, 합성예 3 에서 얻어진 폴리이미드 용액 c 를 사용한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, BAPP 를 첨가한 폴리이미드 용액을 얻었다. 이 폴리이미드 용액을 폴리이미드 필름 (듀퐁사 제조, 상품명 ; 캡톤 ENS, 세로 × 가로 × 두께 = 200 ㎜ × 300 ㎜ × 25 ㎛) 의 편면에 도포하고, 80 ℃ 에서 15 분간 건조를 실시하여, 접착제층 두께 35 ㎛ 의 커버레이 필름으로 하였다. 이 커버레이 필름에 대해, 실시예 1 과 동일하게 하여 평가하였다.A polyimide solution to which BAPP had been added was obtained in the same manner as in Example 1 except that the polyimide solution c obtained in Synthesis Example 3 was used instead of the polyimide solution a in Example 1. This polyimide solution was applied to one side of a polyimide film (product name: Capton ENS, length × width × thickness = 200 mm × 300 mm × 25 μm) manufactured by DuPont) and dried at 80 ° C. for 15 minutes, Thereby forming a coverlay film having a layer thickness of 35 mu m. The coverlay film was evaluated in the same manner as in Example 1. [

실시예 1 ∼ 실시예 6 및 참고예 1 ∼ 2 의 결과를 정리하여 표 2 에 나타내었다. 표 2 에 있어서, 접착 강도 1 은 접착제층 경화 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도를 나타내고, 접착 강도 2 는, 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 열처리 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도를 나타낸다 (표 4 및 표 5 에 있어서도 동일하다). 또한, 표 2 중의 몰비는, 폴리이미드실록산 중의 케톤기 1 몰에 대한 아미노 화합물 중의 제 1 급 아미노기의 합계의 몰비를 의미한다 (표 3, 표 4및 표 5 에 있어서도 동일하다).The results of Examples 1 to 6 and Reference Examples 1 to 2 are summarized in Table 2. In Table 2, the bonding strength 1 indicates the bonding strength between the copper foil and the coverlay film after curing of the adhesive layer, and the bonding strength 2 indicates the bonding strength between the copper foil and the coverlay film after the heat treatment at 150 ° C for 1000 hours in air (The same applies to Tables 4 and 5). The molar ratio in Table 2 means the total molar ratio of primary amino groups in the amino compound to 1 mole of the ketone group in the polyimide siloxane (the same applies in Tables 3, 4 and 5).

Figure 112012046963319-pct00011
Figure 112012046963319-pct00011

[실시예 7] [Example 7]

실시예 1 에 있어서의 폴리이미드 용액 a 대신에, 합성예 2 에서 얻어진 폴리이미드 용액 b 를 사용한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 7 을 얻은 후, 커버레이 필름 7 을 얻고, 평가 샘플 7 을 얻었다. 평가 결과를 표 3 에 나타낸다.A polyimide solution 7 was obtained in the same manner as in Example 1 except that the polyimide solution b obtained in Synthesis Example 2 was used instead of the polyimide solution a in Example 1 to obtain a coverlay film 7, Evaluation sample 7 was obtained. The evaluation results are shown in Table 3.

또한, 실시예 1 과 동일하게 하여, 회로{배선폭/배선 간격 (L/S) = 25 ㎛/25 ㎛}가 형성된 프린트 기판을 준비하여, 실시예 7 에서 얻어진 커버레이 필름 7 을 프린트 기판의 회로면에 놓고 열압착하여, 커버레이 필름을 구비한 배선 기판 7 을 얻었다.A printed board on which a circuit (wiring width / wiring interval (L / S) = 25 占 퐉 / 25 占 퐉) was formed was prepared in the same manner as in Example 1 to prepare a coverlay film 7 obtained in Example 7, Placed on the circuit surface, and thermocompression-bonded to obtain a wiring board 7 having a coverlay film.

[실시예 8] [Example 8]

실시예 2 에 있어서의 폴리이미드 용액 a 대신에, 합성예 2 에서 얻어진 폴리이미드 용액 b 를 사용한 것 이외에는, 실시예 2 와 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 8 을 얻은 후, 커버레이 필름 8 을 얻고, 평가 샘플 8 을 얻었다. 평가 결과를 표 3 에 나타낸다.A polyimide solution 8 was obtained in the same manner as in Example 2 except that the polyimide solution b obtained in Synthesis Example 2 was used instead of the polyimide solution a in Example 2 to obtain a coverlay film 8, Evaluation Sample 8 was obtained. The evaluation results are shown in Table 3.

또한, 실시예 1 과 동일하게 하여, 회로{배선폭/배선 간격 (L/S) = 25 ㎛/25 ㎛}가 형성된 프린트 기판을 준비하여, 실시예 8 에서 얻어진 커버레이 필름 8 을 프린트 기판의 회로면에 놓고 열압착하여, 커버레이 필름을 구비한 배선 기판 8 을 얻었다.A printed board on which a circuit (wiring width / wiring interval (L / S) = 25 占 퐉 / 25 占 퐉) was formed was prepared in the same manner as in Example 1, and the coverlay film 8 obtained in Example 8 was mounted on a printed board Placed on the circuit surface and thermocompression bonded to obtain a wiring board 8 having a coverlay film.

[실시예 9] [Example 9]

실시예 3 에 있어서의 폴리이미드 용액 a 대신에, 합성예 2 에서 얻어진 폴리이미드 용액 b 를 사용한 것 이외에는, 실시예 3 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 9 를 얻은 후, 커버레이 필름 9 를 얻고, 평가 샘플 9 를 얻었다. 평가 결과를 표 3 에 나타낸다.A polyimide solution 9 was obtained in the same manner as in Example 3 except that the polyimide solution b obtained in Synthesis Example 2 was used instead of the polyimide solution a in Example 3 to obtain a coverlay film 9, Evaluation sample 9 was obtained. The evaluation results are shown in Table 3.

또한, 실시예 1 과 동일하게 하여, 회로{배선폭/배선 간격 (L/S) = 25 ㎛/25 ㎛}가 형성된 프린트 기판을 준비하여, 실시예 9 에서 얻어진 커버레이 필름 9 를 프린트 기판의 회로면에 놓고 열압착하여, 커버레이 필름을 구비한 배선 기판 9 를 얻었다.A printed board on which a circuit (wiring width / wiring interval (L / S) = 25 占 퐉 / 25 占 퐉) was formed was prepared in the same manner as in Example 1, and the coverlay film 9 obtained in Example 9 was laminated on the printed substrate Placed on the circuit surface, and thermocompression-bonded to obtain a wiring board 9 having a coverlay film.

[실시예 10] [Example 10]

실시예 4 에 있어서의 폴리이미드 용액 a 대신에, 합성예 2 에서 얻어진 폴리이미드 용액 b 를 사용한 것 이외에는, 실시예 4 와 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 10 을 얻은 후, 커버레이 필름 10 을 얻고, 평가 샘플 10 을 얻었다. 평가 결과를 표 3 에 나타낸다.A polyimide solution 10 was obtained in the same manner as in Example 4 except that the polyimide solution b obtained in Synthesis Example 2 was used instead of the polyimide solution a in Example 4 to obtain a coverlay film 10, Evaluation sample 10 was obtained. The evaluation results are shown in Table 3.

또한, 실시예 1 과 동일하게 하여, 회로{배선폭/배선 간격 (L/S) = 25 ㎛/25 ㎛}가 형성된 프린트 기판을 준비하여, 실시예 10 에서 얻어진 커버레이 필름 10 을 프린트 기판의 회로면에 놓고 열압착하여, 커버레이 필름을 구비한 배선 기판 10 을 얻었다.A printed board on which a circuit (wiring width / wiring interval (L / S) = 25 占 퐉 / 25 占 퐉) was formed was prepared in the same manner as in Example 1 to prepare a coverlay film 10 obtained in Example 10 Placed on the circuit surface and thermocompression bonded to obtain a wiring board 10 having a coverlay film.

[실시예 11] [Example 11]

실시예 5 에 있어서의 폴리이미드 용액 a 대신에, 합성예 2 에서 얻어진 폴리이미드 용액 b 를 사용한 것 이외에는, 실시예 5 와 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 11 을 얻은 후, 커버레이 필름 11 을 얻고, 평가 샘플 11 을 얻었다. 평가 결과를 표 3 에 나타낸다.A polyimide solution 11 was obtained in the same manner as in Example 5 except that the polyimide solution b obtained in Synthesis Example 2 was used instead of the polyimide solution a in Example 5 to obtain a coverlay film 11, Evaluation Sample 11 was obtained. The evaluation results are shown in Table 3.

또한, 실시예 1 과 동일하게 하여, 회로{배선폭/배선 간격 (L/S) = 25 ㎛/25 ㎛}가 형성된 프린트 기판을 준비하여, 실시예 11 에서 얻어진 커버레이 필름 11 을 프린트 기판의 회로면에 놓고 열압착하여, 커버레이 필름을 구비한 배선 기판 11 을 얻었다.A printed board on which a circuit (wiring width / wiring interval (L / S) = 25 占 퐉 / 25 占 퐉) was formed was prepared in the same manner as in Example 1 to prepare a coverlay film 11 obtained in Example 11, And placed on the circuit surface and thermocompression bonded to obtain a wiring board 11 having a coverlay film.

[실시예 12] [Example 12]

실시예 6 에 있어서의 폴리이미드 용액 a 대신에, 합성예 2 에서 얻어진 폴리이미드 용액 b 를 사용한 것 이외에는, 실시예 6 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 12 를 얻은 후, 커버레이 필름 12 를 얻고, 평가 샘플 12 를 얻었다. 평가 결과를 표 3 에 나타낸다.A polyimide solution 12 was obtained in the same manner as in Example 6 except that the polyimide solution b obtained in Synthesis Example 2 was used instead of the polyimide solution a in Example 6 to obtain a coverlay film 12, Evaluation sample 12 was obtained. The evaluation results are shown in Table 3.

또한, 실시예 1 과 동일하게 하여, 회로{배선폭/배선 간격 (L/S) = 25 ㎛/25 ㎛}가 형성된 프린트 기판을 준비하여, 실시예 12 에서 얻어진 커버레이 필름 12 를 프린트 기판의 회로면에 놓고 열압착하여, 커버레이 필름을 구비한 배선 기판 12 를 얻었다.A printed board on which a circuit (wiring width / wiring interval (L / S) = 25 占 퐉 / 25 占 퐉) was formed was prepared in the same manner as in Example 1 to prepare a coverlay film 12 obtained in Example 12 And placed on the circuit surface and thermocompression bonded to obtain a wiring board 12 having a coverlay film.

참고예 3 Reference Example 3

합성예 2 에서 얻어진 폴리이미드 용액 b 를 폴리이미드 필름 (듀퐁사 제조, 상품명 ; 캡톤 ENS, 세로 × 가로 × 두께 = 200 ㎜ × 300 ㎜ × 25 ㎛) 의 편면에 도포하고, 80 ℃ 에서 15 분간 건조를 실시하여, 접착제층 두께 35 ㎛ 의 커버레이 필름으로 하였다. 이 커버레이 필름에 대해, 실시예 1 과 동일하게 하여 평가하였다. 평가 결과를 표 3 에 나타낸다.The polyimide solution b obtained in Synthesis Example 2 was applied to one side of a polyimide film (trade name: Capton ENS, length × width × thickness = 200 mm × 300 mm × 25 μm) manufactured by DuPont), dried at 80 ° C. for 15 minutes To form a coverlay film having an adhesive layer thickness of 35 mu m. The coverlay film was evaluated in the same manner as in Example 1. [ The evaluation results are shown in Table 3.

실시예 7 ∼ 실시예 12 및 참고예 3 의 결과를 정리하여 표 3 에 나타내었다.The results of Examples 7 to 12 and Reference Example 3 are summarized in Table 3.

Figure 112012046963319-pct00012
Figure 112012046963319-pct00012

[실시예 13] [Example 13]

실시예 1 에 있어서의 5.78 g 의 BAPP 를 배합한 것 대신에, 0.12 g 의 BAPP (0.28 밀리몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 13 을 얻은 후, 커버레이 필름 13 을 얻고, 평가 샘플 13 을 얻었다. 평가 결과를 표 4 에 나타낸다.A polyimide solution 13 was obtained in the same manner as in Example 1 except that 0.12 g of BAPP (0.28 mmol) was used instead of 5.78 g of BAPP in Example 1, 13 was obtained, and evaluation sample 13 was obtained. The evaluation results are shown in Table 4.

[실시예 14] [Example 14]

실시예 1 에 있어서의 5.78 g 의 BAPP 를 배합한 것 대신에, 0.58 g 의 BAPP (1.4 밀리몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 14 를 얻은 후, 커버레이 필름 14 를 얻고, 평가 샘플 14 를 얻었다. 평가 결과를 표 4 에 나타낸다.A polyimide solution 14 was obtained in the same manner as in Example 1, except that 0.58 g of BAPP (1.4 mmol) was used instead of 5.78 g of BAPP in Example 1, 14 was obtained, and evaluation sample 14 was obtained. The evaluation results are shown in Table 4.

[실시예 15] [Example 15]

실시예 1 에 있어서의 5.78 g 의 BAPP 를 배합한 것 대신에, 1.15 g 의 BAPP (2.8 밀리몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 15 를 얻은 후, 커버레이 필름 15 를 얻고, 평가 샘플 15 를 얻었다. 평가 결과를 표 4 에 나타낸다.A polyimide solution 15 was obtained in the same manner as in Example 1 except that 1.15 g of BAPP (2.8 mmol) was used instead of 5.78 g of BAPP in Example 1, 15 was obtained, and evaluation sample 15 was obtained. The evaluation results are shown in Table 4.

[실시예 16] [Example 16]

실시예 1 에 있어서의 5.78 g 의 BAPP 를 배합한 것 대신에, 3.46 g 의 BAPP (8.4 밀리몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 16 을 얻은 후, 커버레이 필름 16 을 얻고, 평가 샘플 16 을 얻었다. 평가 결과를 표 4 에 나타낸다.A polyimide solution 16 was obtained in the same manner as in Example 1 except that 3.46 g of BAPP (8.4 mmol) was used instead of 5.78 g of BAPP in Example 1, 16 was obtained, and evaluation sample 16 was obtained. The evaluation results are shown in Table 4.

[실시예 17] [Example 17]

실시예 1 에 있어서의 5.78 g 의 BAPP 를 배합한 것 대신에, 11.53 g 의 BAPP (0.028 몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 17 을 얻은 후, 커버레이 필름 17 을 얻고, 평가 샘플 17 을 얻었다. 평가 결과를 표 4 에 나타낸다.A polyimide solution 17 was obtained in the same manner as in Example 1 except that 11.53 g of BAPP (0.028 mol) was used instead of 5.78 g of BAPP in Example 1, 17 was obtained, and evaluation sample 17 was obtained. The evaluation results are shown in Table 4.

[실시예 18] [Example 18]

실시예 1 에 있어서의 5.78 g 의 BAPP 를 배합한 것 대신에, 17.29 g 의 BAPP (0.042 몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 18 을 얻은 후, 커버레이 필름 18 을 얻고, 평가 샘플 18 을 얻었다. 평가 결과를 표 4 에 나타낸다.A polyimide solution 18 was obtained in the same manner as in Example 1 except that 17.29 g of BAPP (0.042 mole) was used instead of 5.78 g of BAPP in Example 1, 18 was obtained, and evaluation sample 18 was obtained. The evaluation results are shown in Table 4.

[실시예 19] [Example 19]

실시예 1 에 있어서의 5.78 g 의 BAPP 를 배합한 것 대신에, 23.05 g 의 BAPP (0.056 몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 19 를 얻은 후, 커버레이 필름 19 를 얻고, 평가 샘플 19 를 얻었다. 평가 결과를 표 4 에 나타낸다.A polyimide solution 19 was obtained in the same manner as in Example 1 except that 23.05 g of BAPP (0.056 mol) was used instead of 5.78 g of BAPP in Example 1, 19 was obtained, and evaluation sample 19 was obtained. The evaluation results are shown in Table 4.

[실시예 20] [Example 20]

실시예 1 에 있어서의 5.78 g 의 BAPP 를 배합한 것 대신에, 28.82 g 의 BAPP (0.070 몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 20 을 얻은 후, 커버레이 필름 20 을 얻고, 평가 샘플 20 을 얻었다. 평가 결과를 표 4 에 나타낸다.A polyimide solution 20 was obtained in the same manner as in Example 1 except that 28.82 g of BAPP (0.070 mol) was used instead of 5.78 g of BAPP in Example 1, 20 was obtained, and evaluation sample 20 was obtained. The evaluation results are shown in Table 4.

[실시예 21] [Example 21]

합성예 1 에서 얻어진 폴리이미드 용액 a 에 5.78 g 의 BAPP (0.014 몰) 를 배합하고, 다시 1 시간 교반함으로써 폴리이미드 용액 21 을 얻었다.5.78 g of BAPP (0.014 mol) was added to the polyimide solution a obtained in Synthesis Example 1 and further stirred for 1 hour to obtain a polyimide solution 21.

얻어진 폴리이미드 용액 21 을 폴리이미드 필름 (듀퐁사 제조, 상품명 ; 캡톤 ENS, 세로 × 가로 × 두께 = 200 ㎜ × 300 ㎜ × 25 ㎛) 의 편면에 도포하고, 80 ℃ 에서 15 분간 건조를 실시하여, 접착제층 두께 35 ㎛ 의 커버레이 필름 21 로 하였다. 이 커버레이 필름 21 을 표면의 방청 금속층을 제거한 동박 위에 놓고, 온도 200 ℃, 압력 1 ㎫, 시간 60 분의 조건으로 열압착하여, 평가 샘플 21 을 얻었다. 접착제층 경화 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도는, 2.0 kN/m 였다. 또, 커버레이 필름의 휨도 문제 없었다. 평가 샘플 21 에 있어서의 접착제층의 적외선 흡수 스펙트럼을 측정한 결과, 1673 ㎝-1 부근에 BTDA 유래의 케톤기의 흡수가 감소되어 있는 것이 확인되고, 또한 1635 ㎝-1 부근에 이민기의 흡수가 확인되었다. 이 측정 결과로부터, 평가 샘플 21 에서는, 커버레이 필름과 동박의 열압착과 동시에, 폴리이미드 수지 중의 케톤기와 아미노 화합물 (BAPP) 의 축합 반응이 발생한 것으로 추정된다. 평가 샘플 21 의 평가 결과를 표 4 에 나타낸다.The resulting polyimide solution 21 was applied to one side of a polyimide film (manufactured by DuPont, trade name: Capton ENS, length × width × thickness = 200 mm × 300 mm × 25 μm) and dried at 80 ° C. for 15 minutes, Thereby forming a coverlay film 21 having an adhesive layer thickness of 35 mu m. The coverlay film 21 was placed on a copper foil having a rust-proof metal layer removed therefrom, and thermally bonded under the conditions of a temperature of 200 캜, a pressure of 1 MPa, and a time of 60 minutes to obtain an evaluation sample 21. The adhesion strength between the copper foil and the coverlay film after curing of the adhesive layer was 2.0 kN / m. Also, there was no problem with the warpage of the coverlay film. The infrared absorption spectrum of the adhesive layer in the evaluation sample 21 was measured. As a result, it was confirmed that the absorption of the BTDA-derived ketone group was reduced around 1673 cm -1 , and the absorption of the imine group was confirmed near 1635 cm -1 . From the measurement results, it is estimated that in the evaluation sample 21, a condensation reaction of the ketone group in the polyimide resin and the amino compound (BAPP) occurred simultaneously with the thermal compression of the coverlay film and the copper foil. Evaluation results of the evaluation sample 21 are shown in Table 4.

실시예 13 ∼ 실시예 21 의 결과를 정리하여 표 4 에 나타내었다.The results of Examples 13 to 21 are summarized in Table 4.

Figure 112012046963319-pct00013
Figure 112012046963319-pct00013

표 2 ∼ 표 4 로부터, 폴리이미드 수지에 아미노 화합물을 첨가한 후, 폴리이미드 수지 중의 케톤기와 아미노 화합물의 축합 반응을 발생시킨 실시예 1 ∼ 21 의 커버레이 필름은, 모두 땜납 내열성 (건조) 이 280 ℃ 이상, 땜납 내열성 (내습) 이 260 ℃ 이상이며, 또, 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 열처리 후에도 0.2 kN/m 를 대폭 상회하는 우수한 접착 강도가 얻어졌다. 또, 커버레이 필름의 휨도 억제되어 있었다.From the Tables 2 to 4, the coverlay films of Examples 1 to 21 in which the amino compound was added to the polyimide resin and then the condensation reaction of the ketone group and the amino compound in the polyimide resin were caused, And excellent solder heat resistance (humidity resistance) of 260 占 폚 or higher and an excellent bonding strength remarkably exceeding 0.2 kN / m even after heat treatment at 150 占 폚 for 1000 hours in the atmosphere. In addition, warpage of the coverlay film was also suppressed.

[실시예 22] [Example 22]

합성예 1 에서 얻어진 폴리이미드 용액 a 에 1.16 g 의 N-12 (0.004 몰) 를 배합하고, 다시 1 시간 교반함으로써 폴리이미드 용액 22 를 얻었다.1.16 g of N-12 (0.004 mol) was added to the polyimide solution a obtained in Synthesis Example 1 and further stirred for 1 hour to obtain a polyimide solution 22.

얻어진 폴리이미드 용액 1 을 폴리이미드 필름 (듀퐁사 제조, 상품명 ; 캡톤 ENS, 세로 × 가로 × 두께 = 200 ㎜ × 300 ㎜ × 25 ㎛) 의 편면에 도포하고, 80 ℃ 에서 15 분간 건조를 실시하여, 접착제층 두께 35 ㎛ 의 커버레이 필름 22 로 하였다. 이 커버레이 필름 22 를 표면의 방청 금속층을 제거한 동박 위에 놓고, 온도 170 ℃, 압력 1 ㎫, 시간 1 분의 조건으로 프레스하고, 그 후 오븐으로 온도 150 ℃, 시간 6 시간의 조건으로 가열하여, 평가 샘플 22 를 얻었다. 커버레이 필름의 휨은 문제 없었다. 푸리에 변환 적외 분광 광도계 (시판품 : 니혼 분광 제조 FT/IR620) 를 이용하여, 평가 샘플 1 에 있어서의 접착제층의 적외선 흡수 스펙트럼을 측정한 결과, 1673 ㎝-1 부근에 BTDA 유래의 케톤기의 흡수가 감소되어 있는 것이 확인되었다.The resulting polyimide solution 1 was applied to one side of a polyimide film (product name: Capton ENS, length × width × thickness = 200 mm × 300 mm × 25 μm, manufactured by DuPont) and dried at 80 ° C. for 15 minutes, Thereby forming a coverlay film 22 having an adhesive layer thickness of 35 mu m. The coverlay film 22 was placed on a copper foil on which a rust preventive metal layer was removed and pressed under the conditions of a temperature of 170 DEG C and a pressure of 1 MPa for a time of 1 minute and then heated in an oven at a temperature of 150 DEG C for 6 hours, Evaluation Sample 22 was obtained. The warpage of the coverlay film was satisfactory. The infrared absorption spectrum of the adhesive layer in the evaluation sample 1 was measured using a Fourier transform infrared spectrophotometer (commercial product: FT / IR620, manufactured by Nihon Spectroscopy). As a result, absorption of the ketone group derived from BTDA was observed near 1673 cm -1 , Respectively.

평가 샘플 22 의 접착제층 경화 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도는 1.85 kN/m 였다. 다음으로 평가 샘플 22 를 오븐으로 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 열처리를 실시하였다. 처리 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도를 측정한 결과, 0.73 kN/m 였다.The adhesive strength of the copper foil and the coverlay film after the curing of the adhesive layer of the evaluation sample 22 was 1.85 kN / m. Next, the evaluation sample 22 was subjected to heat treatment in an oven at 150 캜 for 1000 hours in the air. The bonding strength between the treated copper foil and the coverlay film was measured and found to be 0.73 kN / m.

[실시예 23] [Example 23]

실시예 22 에 있어서의 1.16 g 의 N-12 를 배합한 것 대신에, 3.47 g 의 N-12 (0.013 몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 22 와 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 23 을 얻은 후, 커버레이 필름 23 을 얻고, 평가 샘플 23 을 얻었다.A polyimide solution 23 was obtained in the same manner as in Example 22 except that 3.47 g of N-12 (0.013 mol) was used instead of 1.16 g of N-12 in Example 22 , And a coverlay film 23 were obtained, and an evaluation sample 23 was obtained.

평가 샘플 23 의 접착제층 경화 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도는 1.62 kN/m 였다. 다음으로 평가 샘플 23 을 오븐으로 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 열처리를 실시하였다. 처리 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도를 측정한 결과, 0.62 kN/m 였다.The adhesive strength of the copper foil and the coverlay film after the curing of the adhesive layer of the evaluation sample 23 was 1.62 kN / m. Next, the evaluation sample 23 was subjected to a heat treatment in an oven at 150 캜 for 1000 hours in the air. The bonding strength between the treated copper foil and the coverlay film was measured and found to be 0.62 kN / m.

[실시예 24] [Example 24]

실시예 22 에 있어서의 1.16 g 의 N-12 를 배합한 것 대신에, 5.78 g 의 N-12 (0.022 몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 22 와 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 24 를 얻은 후, 커버레이 필름 24 를 얻고, 평가 샘플 24 를 얻었다.A polyimide solution 24 was obtained in the same manner as in Example 22 except that 5.78 g of N-12 (0.022 mol) was used instead of 1.16 g of N-12 in Example 22 , And a coverlay film 24 were obtained, and an evaluation sample 24 was obtained.

평가 샘플 24 의 접착제층 경화 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도는 1.36 kN/m 였다. 다음으로 평가 샘플 24 를 오븐으로 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 열처리를 실시하였다. 처리 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도를 측정한 결과, 0.58 kN/m 였다.The adhesive strength of the copper foil and the coverlay film after the curing of the adhesive layer of the evaluation sample 24 was 1.36 kN / m. Next, the evaluation sample 24 was subjected to a heat treatment in an oven at 150 DEG C for 1000 hours in the oven. The adhesive strength of the treated copper foil and coverlay film was measured and found to be 0.58 kN / m.

[실시예 25] [Example 25]

실시예 22 에 있어서의 1.16 g 의 N-12 를 배합한 것 대신에, 1.16 g 의 ADH (0.007 몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 22 와 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 25 를 얻은 후, 커버레이 필름 25 를 얻고, 평가 샘플 25 를 얻었다.A polyimide solution 25 was obtained in the same manner as in Example 22 except that 1.16 g of ADH (0.007 mol) was used instead of 1.16 g of N-12 in Example 22, Ray film 25 was obtained, and evaluation sample 25 was obtained.

평가 샘플 25 의 접착제층 경화 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도는 1.65 kN/m 였다. 다음으로 평가 샘플 25 를 오븐으로 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 열처리를 실시하였다. 처리 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도를 측정한 결과, 0.7 kN/m 였다.The adhesive strength of the copper foil and the coverlay film after the curing of the adhesive layer of the evaluation sample 25 was 1.65 kN / m. Next, the evaluation sample 25 was subjected to a heat treatment in an oven at 150 캜 for 1000 hours in the air. The adhesion strength between the treated copper foil and the coverlay film was measured and found to be 0.7 kN / m.

[실시예 26] [Example 26]

실시예 22 에 있어서의 1.16 g 의 N-12 를 배합한 것 대신에, 3.47 g 의 ADH (0.020 몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 22 와 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 26 을 얻은 후, 커버레이 필름 26 을 얻고, 평가 샘플 26 을 얻었다.A polyimide solution 26 was obtained in the same manner as in Example 22 except that 3.47 g of ADH (0.020 mol) was used instead of 1.16 g of N-12 in Example 22, Ray film 26 was obtained, and evaluation sample 26 was obtained.

평가 샘플 26 의 접착제층 경화 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도는 1.32 kN/m 였다. 다음으로 평가 샘플 26 을 오븐으로 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 열처리를 실시하였다. 처리 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도를 측정한 결과, 0.56 kN/m 였다.The adhesive strength of the copper foil and the coverlay film after the curing of the adhesive layer of the evaluation sample 26 was 1.32 kN / m. Next, the evaluation sample 26 was subjected to heat treatment in an oven at 150 캜 for 1000 hours in the air. The bonding strength between the treated copper foil and the coverlay film was measured and found to be 0.56 kN / m.

[실시예 27] [Example 27]

실시예 22 에 있어서의 1.16 g 의 N-12 를 배합한 것 대신에, 5.78 g 의 ADH (0.033 몰) 를 배합한 것 이외에는, 실시예 22 와 동일하게 하여, 폴리이미드 용액 27 을 얻은 후, 커버레이 필름 27 을 얻고, 평가 샘플 27 을 얻었다.A polyimide solution 27 was obtained in the same manner as in Example 22 except that 5.78 g of ADH (0.033 mole) was used instead of 1.16 g of N-12 in Example 22, Ray film 27 was obtained, and evaluation sample 27 was obtained.

평가 샘플 27 의 접착제층 경화 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도는 1.02 kN/m 였다. 다음으로 평가 샘플 27 을 오븐으로 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 열처리를 실시하였다. 처리 후의 동박과 커버레이 필름의 접착 강도를 측정한 결과, 0.48 kN/m 였다.The adhesion strength of the copper foil and the coverlay film after the curing of the adhesive layer of the evaluation sample 27 was 1.02 kN / m. Next, the evaluation sample 27 was subjected to a heat treatment in an oven at 150 DEG C for 1000 hours in an oven. The bonding strength between the treated copper foil and the coverlay film was measured and found to be 0.48 kN / m.

참고예 4 Reference Example 4

실시예 1 과 동일하게 하여 커버레이 필름을 얻었다. 얻어진 커버레이 필름을 표면의 방청 금속층을 제거한 동박 위에 놓고, 온도 170 ℃, 압력 1 ㎫, 시간 1 분의 조건으로 프레스하고, 그 후 오븐으로 온도 150 ℃, 시간 6 시간의 조건으로 가열하여, 평가 샘플을 얻었다. 평가 결과를 표 5 에 나타낸다.A coverlay film was obtained in the same manner as in Example 1. The obtained coverlay film was placed on a copper foil on which a rust preventive metal layer was removed and pressed under the conditions of a temperature of 170 占 폚, a pressure of 1 MPa, and a time of 1 minute, and then heated in an oven at a temperature of 150 占 폚 for 6 hours, A sample was obtained. The evaluation results are shown in Table 5.

실시예 22 ∼ 실시예 27 및 참고예 4 의 결과를 정리하여 표 5 에 나타내었다.The results of Examples 22 to 27 and Reference Example 4 are summarized in Table 5.

Figure 112012046963319-pct00014
Figure 112012046963319-pct00014

표 5 로부터, 폴리이미드 수지에 디하이드라지드 화합물을 첨가한 후, 폴리이미드 수지 중의 케톤기와 아미노 화합물의 축합 반응을 발생시킨 실시예 22 ∼ 27 의 커버레이 필름은, 프레스 후의 경화 시간을 대폭 단축했음에도 불구하고, 모두 땜납 내열성 (건조) 이 260 ℃ 이상, 땜납 내열성 (내습) 이 200 ℃ 이상이며, 또, 대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 열처리 후에도 0.2 kN/m 를 대폭 상회하는 우수한 접착 강도가 얻어졌다. 또, 커버레이 필름의 휨도 억제되어 있었다.From Table 5, the coverlay films of Examples 22 to 27 in which the condensation reaction of the ketone group and the amino compound in the polyimide resin after the addition of the dihydrazide compound to the polyimide resin significantly shortened the curing time after pressing (Dry) of 260 ° C or higher, solder heat resistance (moisture resistance) of 200 ° C or higher, and even after heat treatment at 150 ° C for 1000 hours in the air, an excellent adhesion strength exceeding 0.2 kN / m . In addition, warpage of the coverlay film was also suppressed.

이상, 본 발명의 실시형태를 예시의 목적으로 상세하게 설명했지만, 본 발명은 상기 실시형태에 제약되지는 않는다. 당업자는 본 발명의 사상 및 범위를 일탈하지 않고 많은 개변을 이뤄 내, 그들도 본 발명의 범위 내에 포함된다. 예를 들어, 상기 실시형태에서는, 본 발명의 폴리이미드 수지의 용도로서, FPC 등의 회로 기판의 커버레이 필름이나 본딩 시트용 접착제를 예로 들었지만, 상기 이외의 용도, 예를 들어 테이프 오토메이티드 본딩 (TAB), 칩 사이즈 패키지 (CSP) 등에 있어서의 접착용 수지의 형성에도 이용할 수 있다.Although the embodiment of the present invention has been described in detail for the purpose of illustration, the present invention is not limited to the above embodiment. Those skilled in the art will understand that many changes can be made without departing from the spirit and scope of the present invention, and they are also included in the scope of the present invention. For example, in the above embodiment, a coverlay film of a circuit board such as an FPC or an adhesive for a bonding sheet is taken as an example of the use of the polyimide resin of the present invention. However, other applications such as tape automotive bonding TAB), a chip size package (CSP), and the like.

Claims (20)

하기의 일반식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위 :
[화학식 1]
Figure 112015075123356-pct00018

[식 중, Ar 은 방향족 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 4 가의 방향족기, R1 은 디아미노실록산으로부터 유도되는 2 가의 디아미노실록산 잔기, R2 는 방향족 디아민으로부터 유도되는 2 가의 방향족 디아민 잔기를 각각 나타내고, Ar 및/또는 R2 중에는 케톤기를 포함하고, m, n 은 각 구성 단위의 존재 몰비를 나타내고, m 은 0.75 ∼ 1.0 의 범위 내, n 은 0 ∼ 0.25 의 범위 내이다. 단, n 이 0 일 때에는, Ar 중에 상기 케톤기를 포함한다.]
를 갖는, 중량 평균 분자량이 10,000 ∼ 200,000 인 폴리이미드실록산에 있어서의 상기 케톤기 1 몰에 대해, 적어도 2 개의 제 1 급 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물의 아미노기가 합계로 0.004 몰 ∼ 1.5 몰의 범위 내가 되도록 상기 아민 화합물이 배합되어 이루어지고, 상기 케톤기와 상기 아미노기가 반응하여 C=N 결합을 형성하고 있는 것에 의해, 상기 폴리이미드실록산이 상기 아미노 화합물에 의해 가교된 구조를 갖는 폴리이미드 수지.
The structural unit represented by the following general formulas (1) and (2)
[Chemical Formula 1]
Figure 112015075123356-pct00018

Wherein Ar is a tetravalent aromatic group derived from an aromatic tetracarboxylic acid anhydride, R 1 is a divalent diaminosiloxane residue derived from a diaminosiloxane, R 2 is a divalent aromatic diamine residue derived from an aromatic diamine each represents, while Ar and / or R 2 contains a ketone group, and, m, n denotes the molar ratio of the structural units present, m is in the range of 0.75 ~ 1.0 I, n is in the range of 0 to 0.25. Provided that, when n is 0, the ketone group is contained in Ar.
In the polyimide siloxane having a weight average molecular weight of 10,000 to 200,000, the amino group of the amino compound having at least two primary amino groups as a functional group in a total amount of 0.004 to 1.5 mol Wherein the amino compound is reacted with the amine group to form a C = N bond, whereby the polyimide siloxane is crosslinked with the amino compound.
제 1 항에 있어서,
상기 일반식 (2) 중, n 이 적어도 0.2 인 폴리이미드 수지.
The method according to claim 1,
In the general formula (2), n is at least 0.2.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 아미노 화합물이 디하이드라지드 화합물인 폴리이미드 수지.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein the amino compound is a dihydrazide compound.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 Ar 이, 하기 식 (3)
[화학식 2]
Figure 112015075123356-pct00019

으로 나타내는 방향족 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 4 가의 방향족기인 폴리이미드 수지.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein Ar is a group represented by the following formula (3)
(2)
Figure 112015075123356-pct00019

Wherein the polyimide resin is a tetravalent aromatic group derived from an aromatic tetracarboxylic acid anhydride.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 R2 가, 하기 식 (10) 또는 (11)
[화학식 3]
Figure 112015075123356-pct00020

[여기서, R9 는 독립적으로 탄소수 1 ∼ 6 의 1 가의 탄화수소기 또는 알콕시기를 나타내고, X 는 CO 를 나타내고, n1 은 독립적으로 0 ∼ 4의 정수를 나타낸다.]
로 나타내는 것인 폴리이미드 수지.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein R 2 is the following formula (10) or (11)
(3)
Figure 112015075123356-pct00020

Wherein R 9 independently represents a monovalent hydrocarbon group or alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, X represents CO, and n 1 independently represents an integer of 0 to 4.
Lt; / RTI >
하기 성분 (A) 및 (B),
(A) 하기의 일반식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위 :
[화학식 4]
Figure 112015075123356-pct00021

[식 중, Ar 은 방향족 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 4 가의 방향족기, R1 은 디아미노실록산으로부터 유도되는 2 가의 디아미노실록산 잔기, R2 는 방향족 디아민으로부터 유도되는 2 가의 방향족 디아민 잔기를 각각 나타내고, Ar 및/또는 R2 중에는 케톤기를 포함하고, m, n 은 각 구성 단위의 존재 몰비를 나타내고, m 은 0.75 ∼ 1.0 의 범위 내, n 은 0 ∼ 0.25 의 범위 내이다. 단, n 이 0 일 때에는, Ar 중에 상기 케톤기를 포함한다.]
를 갖는, 중량 평균 분자량이 10,000 ∼ 200,000 인 폴리이미드실록산, 및
(B) 적어도 2 개의 제 1 급 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물을 포함하고, 상기 (A) 성분 중의 케톤기 1 몰에 대해, 상기 제 1 급 아미노기가 합계로 0.004 몰 ∼ 1.5 몰의 범위 내가 되도록 상기 (B) 성분을 함유하는 접착제 수지 조성물.
The following components (A) and (B),
(A) a structural unit represented by the following general formulas (1) and (2):
[Chemical Formula 4]
Figure 112015075123356-pct00021

Wherein Ar is a tetravalent aromatic group derived from an aromatic tetracarboxylic acid anhydride, R 1 is a divalent diaminosiloxane residue derived from a diaminosiloxane, R 2 is a divalent aromatic diamine residue derived from an aromatic diamine each represents, while Ar and / or R 2 contains a ketone group, and, m, n denotes the molar ratio of the structural units present, m is in the range of 0.75 ~ 1.0 I, n is in the range of 0 to 0.25. Provided that, when n is 0, the ketone group is contained in Ar.
A polyimide siloxane having a weight average molecular weight of 10,000 to 200,000, and
(B) an amino compound having at least two primary amino groups as a functional group, wherein the total amount of the primary amino groups is in the range of 0.004 mol to 1.5 mol based on 1 mol of the ketone group in the component (A) The adhesive resin composition containing the component (B).
제 6 항에 있어서,
상기 일반식 (2) 중, n이 적어도 0.2 인 접착제 수지 조성물.
The method according to claim 6,
Wherein in the general formula (2), n is at least 0.2.
제 6 항 또는 제 7 항에 있어서,
상기 아미노 화합물이 디하이드라지드 화합물인 접착제 수지 조성물.
8. The method according to claim 6 or 7,
Wherein the amino compound is a dihydrazide compound.
제 6 항 또는 제 7 항에 있어서,
상기 Ar 이, 하기 식 (3)
[화학식 5]
Figure 112015075123356-pct00022

으로 나타내는 방향족 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 4 가의 방향족기인 접착제 수지 조성물.
8. The method according to claim 6 or 7,
Wherein Ar is a group represented by the following formula (3)
[Chemical Formula 5]
Figure 112015075123356-pct00022

Is a tetravalent aromatic group derived from an aromatic tetracarboxylic acid anhydride.
제 6 항 또는 제 7 항에 있어서,
상기 R2 가, 하기 식 (10) 또는 (11)
[화학식 6]
Figure 112015075123356-pct00023

[여기서, R9 는 독립적으로 탄소수 1 ∼ 6 의 1 가의 탄화수소기 또는 알콕시기를 나타내고, X 는 CO 를 나타내고, n1 은 독립적으로 0 ∼ 4 의 정수를 나타낸다.]
로 나타내는 것인 접착제 수지 조성물.
8. The method according to claim 6 or 7,
Wherein R 2 is the following formula (10) or (11)
[Chemical Formula 6]
Figure 112015075123356-pct00023

Wherein R 9 independently represents a monovalent hydrocarbon group or alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, X represents CO, and n 1 independently represents an integer of 0 to 4.
.
제 6 항 또는 제 7 항에 기재된 접착제 수지 조성물을 경화시켜 얻어지는 경화물.A cured product obtained by curing the adhesive resin composition according to claim 6 or 7. 접착제층과 커버레이용 필름재층을 적층한 커버레이 필름으로서,
상기 접착제층이, 제 6 항 또는 제 7 항에 기재된 접착제 수지 조성물을 사용하여 형성된 것인 것을 특징으로 하는 커버레이 필름.
A coverlay film comprising a laminate of an adhesive layer and a film material for a coverlay,
Wherein the adhesive layer is formed using the adhesive resin composition according to claim 6 or 7.
기재와, 그 기재 위에 형성된 배선층과, 그 배선층을 피복하는 제 12 항에 기재된 커버레이 필름을 구비한 회로 기판.A circuit board comprising a substrate, a wiring layer formed on the substrate, and a coverlay film according to claim 12 which covers the wiring layer. 제 13 항에 있어서,
대기 중, 150 ℃, 1000 시간의 장기 내열성 시험 후의 상기 배선층과 상기 커버레이 필름의 박리 강도가 0.2 kN/m 이상인 회로 기판.
14. The method of claim 13,
Wherein the peel strength of the wiring layer and the coverlay film after the long-term heat resistance test at 150 占 폚 in the atmosphere is 0.2 kN / m or more.
하기의 일반식 (1) 및 (2) 로 나타내는 구성 단위 :
[화학식 7]
Figure 112015075123356-pct00024

[식 중, Ar 은 방향족 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 4 가의 방향족기, R1 은 디아미노실록산으로부터 유도되는 2 가의 디아미노실록산 잔기, R2 는 방향족 디아민으로부터 유도되는 2 가의 방향족 디아민 잔기를 각각 나타내고, Ar 및/또는 R2 중에는 케톤기를 포함하고, m, n 은 각 구성 단위의 존재 몰비를 나타내고, m 은 0.75 ∼ 1.0 의 범위 내, n 은 0 ∼ 0.25 의 범위 내이다. 단, n 이 0 일 때에는, Ar 중에 상기 케톤기를 포함한다.]
를 갖는, 중량 평균 분자량이 10,000 ∼ 200,000 인 폴리이미드실록산을 함유하는 폴리이미드 용액을 준비하는 공정과,
상기 폴리이미드 용액에, 적어도 2 개의 제 1 급 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물을, 상기 폴리이미드실록산에 있어서의 상기 케톤기 1 몰에 대해, 적어도 2 개의 제 1 급 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물의 아미노기가 합계로 0.004 몰 ∼ 1.5 몰의 범위 내가 되도록 상기 아미노 화합물을 첨가하는 공정과,
상기 폴리이미드실록산의 케톤기와 상기 아미노 화합물의 제 1 급 아미노기를 축합 반응시키는 공정을 구비하는 폴리이미드 수지의 제조 방법.
The structural unit represented by the following general formulas (1) and (2)
(7)
Figure 112015075123356-pct00024

Wherein Ar is a tetravalent aromatic group derived from an aromatic tetracarboxylic acid anhydride, R 1 is a divalent diaminosiloxane residue derived from a diaminosiloxane, R 2 is a divalent aromatic diamine residue derived from an aromatic diamine each represents, while Ar and / or R 2 contains a ketone group, and, m, n denotes the molar ratio of the structural units present, m is in the range of 0.75 ~ 1.0 I, n is in the range of 0 to 0.25. Provided that, when n is 0, the ketone group is contained in Ar.
A polyimide siloxane having a weight average molecular weight of 10,000 to 200,000,
An amino compound having at least two primary amino groups as functional groups in the polyimide solution is added to the polyimide solution in such an amount that the amount of the amino compound having at least two primary amino groups as a functional group relative to 1 mole of the ketone group in the polyimide siloxane Adding the amino compound so that the total of the amino groups is in the range of 0.004 to 1.5 moles,
And a condensation reaction of the ketone group of the polyimide siloxane with the primary amino group of the amino compound.
제 15 항에 있어서,
상기 일반식 (2) 중, n 이 적어도 0.2 인 폴리이미드 수지의 제조 방법.
16. The method of claim 15,
Wherein, in the general formula (2), n is at least 0.2.
제 15 항 또는 제 16 항에 있어서,
상기 아미노 화합물이 디하이드라지드 화합물인 폴리이미드 수지의 제조 방법.
17. The method according to claim 15 or 16,
Wherein the amino compound is a dihydrazide compound.
제 15 항 또는 제 16 항에 있어서,
상기 Ar 이, 하기 식 (3)
[화학식 8]
Figure 112015075123356-pct00025

으로 나타내는 방향족 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 4 가의 방향족기인 폴리이미드 수지의 제조 방법.
17. The method according to claim 15 or 16,
Wherein Ar is a group represented by the following formula (3)
[Chemical Formula 8]
Figure 112015075123356-pct00025

Wherein the aromatic tetracarboxylic acid anhydride is a tetravalent aromatic group derived from an aromatic tetracarboxylic acid anhydride represented by the following formula.
제 15 항 또는 제 16 항에 있어서,
상기 R2 가, 하기 식 (10) 또는 (11)
[화학식 9]
Figure 112015075123356-pct00026

[여기서, R9 는 독립적으로 탄소수 1 ∼ 6 의 1 가의 탄화수소기 또는 알콕시기를 나타내고, X 는 CO 를 나타내고, n1 은 독립적으로 0 ∼ 4의 정수를 나타낸다.]
로 나타내는 것인 폴리이미드 수지의 제조 방법.
17. The method according to claim 15 or 16,
Wherein R 2 is the following formula (10) or (11)
[Chemical Formula 9]
Figure 112015075123356-pct00026

Wherein R 9 independently represents a monovalent hydrocarbon group or alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, X represents CO, and n 1 independently represents an integer of 0 to 4.
Wherein the polyimide resin is a polyimide resin.
기재와, 그 기재 위에 형성된 배선층과, 그 배선층을 피복하는 커버레이 필름을 구비한 회로 기판의 제조 방법으로서,
제 6 항 또는 제 7 항에 기재된 접착제 수지 조성물을, 용액 상태로 커버레이용 필름재층 위에 도포, 건조시킴으로써 접착제층을 갖는 커버레이 필름을 준비하는 공정과,
상기 접착제층이 상기 배선층에 맞닿도록 상기 커버레이 필름을 배치하고, 열압착하는 공정을 구비하고,
상기 열압착과 동시에, (A) 성분의 케톤기와 (B) 성분의 제 1 급 아미노기를 축합 반응시켜 C=N 결합을 형성시키는 것을 특징으로 하는 회로 기판의 제조 방법.
A circuit board manufacturing method comprising a substrate, a wiring layer formed on the substrate, and a coverlay film covering the wiring layer,
A process for preparing a coverlay film having an adhesive layer by applying the adhesive resin composition according to claim 6 or 7 on a film material for use as a cover layer in a solution state and drying the same,
Disposing the coverlay film so that the adhesive layer is in contact with the wiring layer, and thermally compressing the coverlay film,
Wherein a ketone group of the component (A) and a primary amino group of the component (B) are subjected to a condensation reaction simultaneously with the thermocompression bonding to form a C = N bond.
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