KR101532761B1 - Connector for probe card inspection - Google Patents
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Abstract
본 발명은 프로브 카드 검사용 커넥터에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 원형판 형상으로 다수의 관통공 열과 검사용 패턴이 형성된 베이스보드, 베이스보드의 각 관통공 열의 상측에 각각 배열되고, 내부에 각 관통공과 연통되도록 장착공간부를 갖는 하우징, 하우징의 양면을 따라 다수 개 구비되어 검사를 위한 프로브 카드와 접촉되기 위한 컨택트, 베이스보드의 하측에 위치되되, 각 관통공에 대응되도록 다수의 고정공이 형성되는 클램프플레이트 및 하우징의 장착공간부에 장착되고, 베이스보드의 각 관통공을 통과하여 클램프플레이트의 고정공에 걸려 하우징을 베이스보드에 고정시키는 삽입플레이트로 구성되며, 컨택트가 구비된 하우징을 교체할 경우, 클램프플레이트의 고정공을 통과한 삽입플레이트의 고정핀 단부를 절단시켜 베이스보드에서 분리시킬 수 있음에 따라 커넥터를 수평방향 변위 및 흔들림없이 용이하게 고정시켜 프로브 카드에 대한 검사가 이루어짐은 물론, 교체 시, 용이하게 분리시킬 수 있어 비용을 절감시키며, 작업효율을 향상시킬 수 있다.The present invention relates to a connector for inspecting a probe card, more particularly, to a connector for inspecting a probe card, which comprises a base board on which a plurality of through holes and an inspection pattern are formed in the shape of a circular plate and arranged on each of the through holes of the base board, A plurality of contact holes provided on both sides of the housing to contact the probe card for inspection; a clamp plate positioned below the base board and having a plurality of fixing holes corresponding to the through holes; And an insertion plate mounted on a mounting space portion of the housing and passing through the through holes of the base board to be fixed to the fixing holes of the clamp plate to fix the housing to the base board. When replacing the housing with the contacts, The end of the fixing pin of the insertion plate passing through the fixation hole of the plate is cut, The connector can be easily fixed without horizontal displacement and shake, so that the probe card can be inspected and, at the time of replacement, can be easily separated, thereby reducing the cost and improving the working efficiency .
Description
본 발명은 검사용 커넥터에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 프로브 카드 검사를 위한 커넥터를 베이스보드에 견고하게 고정시킴은 물론, 교체 시, 용이하게 분리할 수 있게하여 용이한 검사와 교체에 따른 작업효율을 향상시킬 수 있는 프로브 카드 검사용 커넥터에 관한 것이다.
More particularly, the present invention relates to a connector for inspecting a probe card, which is firmly fixed to a base board, and which can be easily separated when replacing, To a connector for inspecting a probe card.
일반적으로, 각종 반도체 및 회로기판은 제작 후, 검사과정을 거침에 따라 불량여부를 확인하게 되고, 양품의 경우만, 제품화하여 판매되고 있다.Generally, various semiconductors and circuit boards are checked for defects according to an inspection process after their fabrication, and only good products are commercialized and sold.
이러한 검사를 위한 커넥터는 다수의 컨택트를 갖는 하우징이 구비되고, 회로기판에 결합됨에 따라 회로기판(이하, '베이스보드'라 함.)의 검사용 패턴과 다수의 컨택트가 접속되며, 검사를 위한 카드를 결합시켜 카드에 대한 검사가 이루어진다.The connector for such inspection is provided with a housing having a plurality of contacts and is connected to a circuit board to connect a plurality of contacts with a pattern for inspection of a circuit board (hereinafter, referred to as a 'base board'), The cards are combined to test the card.
여기서, 종래 검사용 커넥터는 베이스보드에 다수 개 구비되며, 각 커넥터는 리벳터미널에 의해 베이스보드에 결합되는 것으로, 리벳터미널은 커넥터의 하우징에 구비되어 베이스보드의 리벳공에 관통된 후, 하단을 소성변형시켜 커넥터를 베이스보드에 결합시키게 된다.In the conventional connector for testing, a plurality of connectors are provided on the base board, and each connector is coupled to the base board by a rivet terminal. The rivet terminal is provided in the housing of the connector, passes through the rivet hole of the base board, And the connector is connected to the base board by plastic deformation.
그러나 종래 커넥터의 리베팅 작업 과정에서 리벳을 변형시키기 위하여 과도한 힘이 소요되는 문제점이 발생하였을 뿐만 아니라, 이 힘에 의해 커넥터의 각종 부품 및 베이스보드 등이 손상되는 문제점도 발생하였다.However, there has been a problem that excessive force is required to deform the rivet in the process of revetting the connector, and various parts and base boards of the connector are damaged by this force.
특히, 리벳공의 직경이 리벳의 직경보다 커 고정된 커넥터가 베이스보드의 면과 수평한 방향으로 이동될 수 있어 해당 컨택트가 검사용 패턴과 접촉되지 못함에 따라 검사가 되지 않는 문제점이 있다.Particularly, the connector having the rivet hole whose diameter is larger than the diameter of the rivet can be moved in the horizontal direction with respect to the surface of the base board, so that the contact can not be inspected due to the contact with the inspection pattern.
이를 해소하기 위해, 등록특허 10-0909683호에서 개진된 바와 같이, 리벳터미널은 다수의 수직고정편이 형성되고, 각 수직고정편의 하단부는 양측으로 분기되어 리벳홈이 형성된다.To solve this problem, as disclosed in Patent No. 10-0909683, a plurality of vertical fixing pieces are formed on the rivet terminal, and a lower end of each vertical fixing piece is branched to both sides to form a rivet groove.
이러한 리벳터미널은 다수의 수직고정편이 회로기판의 해당 관통공에 관통설치된 후, 분기된 단부가 리벳홈을 기준으로 외측으로 벌어짐에 따라 베이스보드에 고정된다.The rivet terminal is fixed to the base board as a plurality of vertical fixing pieces are inserted through the corresponding through-holes of the circuit board, and then the branched ends are expanded outward with respect to the rivet grooves.
또한 관통공에 위치되는 수직고정편의 양측에는 다수의 걸림돌기가 형성되되 관통공의 직경보다 크게 형성되고, 내측에는 탄성밀착공이 형성되어 관통공 설치 시, 다수의 걸림돌기가 관통공의 내주면과 닿으면 관통되도록 탄성밀착공이 변형되어 베이스보드에 고정되는 것이다.In addition, a plurality of locking projections are formed on both sides of the vertical fixing piece located in the through hole, and the elastic fixing holes are formed on the inner side of the through hole. When a plurality of locking projections contact the inner peripheral surface of the through hole, So that the elastic contact holes are deformed and fixed to the base board.
그러나 커넥터의 결합 시, 어느 한측으로 힘이 더 가해져 양측의 걸림돌기가 동일한 형상으로 변형되지 못하게 되어 관통공의 내주면을 파손시킬 수 있으며, 이는 수평방향의 변위 및 흔들림을 발생시키게되는 원인이 되고 있다.However, when the connectors are coupled, a force is applied to one side of the connector to prevent the locking protrusions on both sides from being deformed into the same shape, thereby damaging the inner circumferential surface of the through hole. This causes displacement and shaking in the horizontal direction.
특히, 마모된 컨택트를 갖는 커넥터를 교체할 경우, 양측으로 벌어진 수직고정핀의 하단부를 원상복구시키고, 상측으로 분리시켜야 됨에 따라 베이스보드의 관통공을 파손시켜 교체된 커넥터의 수평 변위와 흔들림이 더욱 심해져 검사신뢰성이 저하되는 문제점이 있다.Particularly, when replacing a connector having a worn contact, it is necessary to restore the lower end of the vertical fixing pin opened to both sides and to separate the upper end of the vertical fixing pin, so that the through hole of the base board is broken, The reliability of the inspection is deteriorated.
이에 따라, 베이스보드에 수평이동 및 흔들림 없이 견고하게 고정시킴은 물론, 용이하게 분리시킬 수 있어 파손방지에 따른 비용절감과 검사신뢰성 및 작업효율을 향상시킬 수 있는 기술에 대한 개발이 절실히 요구되고 있는 실정이다.
Accordingly, it is required to develop a technique that can securely fix the base board to the base board without being horizontally moved and shaken, and can easily separate the base board, thereby reducing cost due to breakage prevention, improving inspection reliability and work efficiency It is true.
이에 본 발명은 상기와 같은 문제점들을 해소하기 위해 안출된 것으로써, 다수의 컨택트가 구비된 하우징을 베이스보드에 고정시키되, 베이스보드의 관통공에 대응되는 고정공이 형성된 클램프플레이트를 베이스보드 하측에 위치시키고, 하우징에 고정되는 삽입플레이트의 고정핀이 고정공에 관통설치되도록 하여 하우징을 흔들림없이 베이스보드에 견고하게 고정시킬 수 있으며, 클램프플레이트의 고정공을 통과한 고정핀의 단부를 절단시켜 하우징을 베이스보드에서 용이하게 분리시킬 수 있어 비용 절감은 물론, 작업효율성을 향상시킬 수 있는 프로브 카드 검사용 커넥터를 제공하는 것이 목적이다.
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention has been made keeping in mind the above problems occurring in the prior art, and it is an object of the present invention to provide a method of mounting a housing having a plurality of contacts on a base board, And the fixing pin of the insertion plate fixed to the housing is inserted through the fixing hole so that the housing can be firmly fixed to the base board without shaking and the end of the fixing pin passing through the fixing hole of the clamp plate is cut, It is an object of the present invention to provide a connector for inspecting a probe card that can be easily separated from a base board, thereby reducing cost and improving work efficiency.
상기 목적을 이루기 위한 본 발명은, 원형판 형상으로 형성되며, 상호 일정 간격으로 이격된 다수의 관통공이 하나의 열을 이루고, 검사용 패턴이 형성된 베이스보드, 상기 베이스보드의 각 관통공 열의 상측에 각각 배열되고, 내부에 상기 각 관통공과 연통되도록 장착공간부를 갖는 하우징, 상기 하우징의 양면을 따라 다수 개 구비되어 검사를 위한 프로브 카드와 접촉되기 위한 컨택트, 상기 베이스보드의 하측에 위치되되, 상기 각 관통공에 대응되도록 다수의 고정공이 형성되는 클램프플레이트, 및 상기 하우징의 장착공간부에 장착되고, 상기 베이스보드의 각 관통공을 통과하여 상기 클램프플레이트의 고정공에 걸려 고정됨에 따라 상기 하우징을 베이스보드에 고정시키는 삽입플레이트,를 포함하여 이루어진다.According to an aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device comprising: a base board formed in a circular plate shape and having a plurality of through holes spaced apart from each other by a predetermined distance, the base board having a pattern for inspection; A housing having a mounting space for communicating with the through holes, a plurality of contacts provided on both sides of the housing for contact with a probe card for inspection, and a plurality of contacts disposed on a lower side of the base board, A clamp plate having a plurality of fixing holes formed therein to correspond to the holes of the base plate, and a fixing plate mounted on the mounting space of the housing and fixed to the fixing holes of the clamp plate through the through holes of the base plate, And an insertion plate fixed to the base plate.
바람직하게, 상기 삽입플레이트는, 상기 하우징에 구비되는 지지플레이트, 상기 베이스보드의 각 관통공에 관통설치되도록 상기 지지플레이트의 하단부에 다수 개 구비되는 고정핀, 및 상기 각 고정핀의 양측으로 돌출되며, 상기 클램프플레이트의 고정공에 걸려지기 위한 다수의 걸림돌기,를 포함하여 이루어지고, 상기 하우징을 분리시킬 경우, 상기 클램프플레이트의 고정공을 통과한 상기 고정핀 단부를 절단하여 상기 베이스보드에서 분리된다.Preferably, the insertion plate includes: a support plate provided in the housing; a plurality of fixing pins provided at a lower end portion of the support plate so as to penetrate through the through holes of the base board; And a plurality of locking protrusions for hooking the fixing hole of the clamp plate. When the housing is detached, the end of the fixing pin passed through the fixing hole of the clamp plate is cut off from the base board do.
그리고 상기 삽입플레이트와 하우징은 이중사출에 의해 일체로 성형된다.And the insert plate and the housing are integrally molded by double injection molding.
또한, 상기 관통공 열은 상기 베이스보드의 가장자리를 따라 다수 열 형성되고, 각 관통공 열에 상기 컨택트가 구비된 하우징이 각각 구비되어 프로브 카드에 대한 검사가 이루어진다.The through holes may be formed in a plurality of rows along the edge of the base board, and a housing having the contacts may be provided in each of the through holes to inspect the probe card.
그리고 상기 다수의 걸림돌기는 상기 고정핀의 중심축을 기준으로 대칭되도록 형성된다.The plurality of locking protrusions are formed to be symmetrical with respect to the central axis of the fixing pin.
또한, 상기 다수의 걸림돌기는 상기 고정핀의 중심축을 기준으로 비대칭되도록 교대로 하나씩 형성되어 지그재그 형상으로 형성된다.The plurality of locking protrusions are alternately formed in a zigzag shape so that they are asymmetric with respect to the central axis of the fixing pin.
그리고 상기 다수의 걸림돌기는 상단이 상기 고정핀의 중심축과 직교되도록 형성되고, 하단이 상기 고정핀의 중심축과 일정 경사지도록 형성되어 상기 클램프플레이트의 고정공을 하측으로만 통과시키고, 상측으로 통과되지 않는다.The plurality of locking projections are formed such that an upper end thereof is orthogonal to a central axis of the fixing pin and a lower end thereof is formed to be inclined at a predetermined angle with a center axis of the fixing pin so that the fixing hole of the clamping plate passes only downward, It does not.
또한, 상기 클램프플레이트의 고정공은 하측으로 돌출되도록 고정단턱이 돌출형성되되, 상기 고정공의 직경은 상기 베이스보드의 해당 관통공의 직경보다 작게 형성되고, 상기 고정단턱의 내측은 상기 베이스보드의 해당 관통공의 직경보다 큰 직경을 갖는 걸림공간부가 형성되어 관통공을 통과한 상기 고정핀의 걸림돌기는 상기 클램프플레이트의 고정공 가장자리에만 걸려져 고정되며, 상기 고정공의 하측으로 돌출된 고정핀의 단부 절단 시, 절단되지 않은 걸림돌기들은 상기 관통공을 이탈할 수 있다.The fixture hole of the clamp plate may protrude downward so that a diameter of the fixture hole is smaller than a diameter of the through hole of the base plate, And a locking protrusion of the fixing pin which passes through the through hole is fixed by being caught by only a fixing hole edge of the clamp plate, and a fixing pin protruding downward from the fixing hole When cutting the end portion, the uncut cutting projections may be detached from the through hole.
그리고 상기 고정핀은, 하단부의 폭이 하측으로 갈수록 점진적으로 좁아지도록 형성됨에 따라 걸림돌기의 단부가 하측으로 갈수록 상기 고정핀의 중심축 방향으로 위치된다.The width of the lower end portion of the fixing pin is gradually reduced toward the lower side, so that the end portion of the locking protrusion is positioned in the center axis direction of the fixing pin toward the lower side.
또한, 상기 각 관통공 열이 형성된 베이스보드의 하단부 내측에 베이스보드의 외주방향과 하측으로 개방된 장착홈이 형성되되, 하측으로 개방된 부분은 외주방향으로 개방된 부분보다 작은 폭으로 형성되고, 상기 장착홈의 외주방향 개방된 부분으로 상기 클램프플레이트가 삽입되어 베이스보드에 장착된다.
In addition, a mounting groove opened to the outer circumferential direction and the lower side of the base board is formed on the inner side of the lower end of the base board on which the through holes are formed, the lower open portion is formed to have a smaller width than the open portion in the outer circumferential direction, And the clamp plate is inserted into the opening portion of the mounting groove in the outer circumferential direction and mounted on the base board.
상기한 바와 같이, 본 발명에 의한 프로브 카드 검사용 커넥터에 의하면, 커넥터를 수평방향 변위 및 흔들림없이 베이스보드에 용이하게 고정시켜 프로브 카드에 대한 검사가 이루어짐은 물론, 교체 시, 용이하게 분리시킬 수 있어 비용을 절감시키며, 작업효율을 향상시킬 수 있게 하는 매우 유용하고 효과적인 발명이다.
As described above, according to the probe card inspecting connector of the present invention, the connector can be easily fixed to the base board without horizontally displacing and shaking to inspect the probe card, and can be easily separated Which is a very useful and effective invention that can reduce costs and improve work efficiency.
도 1은 본 발명에 따른 프로브 카드 검사용 커넥터를 도시한 도면이고,
도 2는 본 발명에 따른 프로브 카드 검사용 커넥터의 분해도를 도시한 도면이며,
도 3은 본 발명에 따른 프로브 카드 검사용 커넥터의 단면도를 도시한 도면이고,
도 4는 본 발명에 따른 삽입플레이트의 고정핀과 클램프플레이트를 도시한 도면이며,
도 5는 본 발명에 따른 삽입플레이트의 고정핀의 다른 실시 예를 도시한 도면이고,
도 6은 본 발명에 따른 삽입플레이트의 고정핀의 또 다른 실시 예를 도시한 도면이며,
도 7은 본 발명에 따른 하우징의 분리상태를 도시한 도면이고,
도 8은 본 발명에 따른 클램프플레이트의 다른 실시 예를 도시한 도면이다.1 is a view showing a connector for inspecting a probe card according to the present invention,
2 is an exploded view of a connector for inspecting a probe card according to the present invention,
3 is a cross-sectional view of a connector for inspecting a probe card according to the present invention,
4 is a view showing a fixing pin and a clamp plate of the insertion plate according to the present invention,
5 is a view showing another embodiment of the fixing pin of the insertion plate according to the present invention,
6 is a view showing another embodiment of the fixing pin of the insertion plate according to the present invention,
FIG. 7 is a view showing a separated state of the housing according to the present invention,
8 is a view showing another embodiment of the clamp plate according to the present invention.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
또한, 본 실시 예는 본 발명의 권리범위를 한정하는 것은 아니고 단지 예시로 제시된 것이며, 그 기술적 요지를 이탈하지 않는 범위 내에서 다양한 변경이 가능하다.It should be noted that the present invention is not limited to the scope of the present invention but is only illustrative and various modifications are possible within the scope of the present invention.
도 1은 본 발명에 따른 프로브 카드 검사용 커넥터를 도시한 도면이고, 도 2는 본 발명에 따른 프로브 카드 검사용 커넥터의 분해도를 도시한 도면이며, 도 3은 본 발명에 따른 프로브 카드 검사용 커넥터의 단면도를 도시한 도면이고, 도 4는 본 발명에 따른 삽입플레이트의 고정핀과 클램프플레이트를 도시한 도면이며, 도 5는 본 발명에 따른 삽입플레이트의 고정핀의 다른 실시 예를 도시한 도면이고, 도 6은 본 발명에 따른 삽입플레이트의 고정핀의 또 다른 실시 예를 도시한 도면이며, 도 7은 본 발명에 따른 하우징의 분리상태를 도시한 도면이고, 도 8은 본 발명에 따른 클램프플레이트의 다른 실시 예를 도시한 도면이다.FIG. 1 is an exploded perspective view of a connector for inspecting a probe card according to the present invention, FIG. FIG. 4 is a view showing a fixing pin and a clamp plate of the insertion plate according to the present invention, FIG. 5 is a view showing another embodiment of the fixing pin of the insertion plate according to the present invention, and FIG. And FIG. 6 is a view showing still another embodiment of the fixing pin of the insertion plate according to the present invention. FIG. 7 is a view showing the separated state of the housing according to the present invention, Fig.
도면에서 도시한 바와 같이, 프로브 카드 검사용 커넥터(10)는 베이스보드(100)와 하우징(200), 컨택트(300), 클램프플레이트(400) 및 삽입플레이트(500)로 구성된다.As shown in the figure, the probe
먼저, 베이스보드(100)는 원형판 형상으로 형성되며, 상호 일정 간격으로 이격된 다수의 관통공(102)이 하나의 열(110)을 이루고, 검사용 패턴(미 도시)이 형성된다.First, the
그리고 하우징(200)은 베이스보드(100)의 각 관통공 열(110)의 상측에 각각 배열되고, 내부에 각 관통공(102)과 연통되도록 장착공간부(210)가 형성된다.The
컨택트(300)는 하우징(200)의 양면을 따라 다수 개 구비되어 검사를 위한 프로브 카드와 접촉되기 위해 구비된다.A plurality of
또한 클램프플레이트(400)는 베이스보드(100)의 하측에 위치되되, 각 관통공(102)에 대응되도록 다수의 고정공(410)이 형성된다.The
삽입플레이트(500)는 하우징(200)의 장착공간부(210)에 장착되고, 베이스보드(100)의 각 관통공(102)을 통과하여 클램프플레이트(400)의 고정공(410)에 걸려짐에 따라 하우징(200)을 베이스보드(100)에 고정시키게 된다.The
이러한 삽입플레이트(500)를 더욱 자세히 살펴보면, 지지플레이트(510)와 고정핀(520) 및 걸림돌기(530)로 구성된다.The
지지플레이트(510)는 하우징(200)에 구비되고, 고정핀(520)은 베이스보드(100)의 각 관통공(102)에 관통설치되도록 지지플레이트(510)의 하단부에 다수 개 구비된다.The
그리고 걸림돌기(530)는 각 고정핀(520)의 양측으로 각각 다수 개 돌출되며, 클램프플레이트(400)의 고정공(410)에 걸려지게 된다.A plurality of
여기서, 삽입플레이트(500)는 하우징(200)의 장착공간부(210)에 탈부착될 수도 있고, 일체로 형성될 수도 있다.Here, the
탈부착될 경우, 다수의 돌기와 홈이 각각 대응되도록 형성되어 상호 끼워져 고정되며, 일체로 형성될 경우, 이중사출에 의해 성형됨이 바람직하다.In the case of detachment, a plurality of protrusions and grooves are formed so as to correspond to each other, and are fitted and fixed to each other. When the protrusions and the grooves are integrally formed, they are preferably formed by double injection.
이러한 프로브 카드 검사용 커넥터(10)는 일정 횟수 또는 기간 프로브 카드 검사를 실시 후, 교체할 경우, 클램프플레이트(400)의 고정공(410)을 통과한 삽입플레이트(500)의 고정핀(520) 단부를 절단시켜 베이스보드(100)에서 분리시킬 수 있다.When the probe
다시 말해, 도 7에서 도시한 바와 같이, 삽입플레이트(500)에 의해 고정된 하우징(200)을 분리시킬 경우, 클램프플레이트(400)의 고정공(410)을 통과한 고정핀(520) 단부를 절단하여 베이스보드(100)에서 분리시킬 수 있는 것이다.7, when the
여기서, 관통공 열(110)은 베이스보드(100)의 가장자리를 따라 다수 열 형성되고, 각 관통공 열(110)에 컨택트(300)가 구비된 하우징(200)이 각각 구비되어 프로브 카드에 대한 검사가 이루어진다.
The through
그리고 도 4에서 도시한 바와 같이, 삽입플레이트(500)의 고정핀(520) 양측에 형성된 다수의 걸림돌기(530)는 고정핀(520)의 중심축을 기준으로 대칭되도록 형성된다.4, a plurality of
이에, 고정핀(520) 양측에 형성된 해당 걸림돌기(530)가 클램프플레이트(400)의 고정공(410)을 통과 후, 가장자리에 걸려지는 것이다.
Accordingly, the
한편, 도 5에서 도시한 바와 같이, 삽입플레이트(500)의 고정핀(520) 양측에 형성된 다수의 걸림돌기(530)는 고정핀(520)의 중심축을 기준으로 비대칭되도록 교대로 하나씩 형성되어 지그재그 형상으로 형성된다.5, the plurality of
다시 말해, 고정핀(520)의 어느 한 측에 형성된 인접한 두 개의 걸림돌기(530)의 중간부를 수평으로 지나는 수평연장선상에 다른 한 측에 형성된 걸림돌기(530)가 위치된다.In other words, the
이는, 지그재그 형상으로 형성된 걸림돌기(530) 중 하나가 클램프플레이트(400)의 고정공(410)을 통과 후, 가장자리에 걸려지는 것으로, 클램프플레이트(400)와의 걸려지는 간격이 좁아 하우징(200)을 베이스보드(100)에 더욱 밀착시킨 상태로 고정킬 수 있는 것이다.
This is because one of the
그리고 도 4 내지 5에서 도시한 바와 같이, 삽입플레이트(500)의 고정핀(520) 양측에 형성된 다수의 걸림돌기(530)는 상단이 고정핀(520)의 중심축과 직교되도록 형성되고, 하단이 고정핀(520)의 중심축과 일정 경사지도록 형성된다.4 to 5, a plurality of locking
이에, 클램프플레이트(400)의 고정공(410)을 하측으로만 통과시키고, 상측으로 통과되지 않게하여 고정되는 것이다.Thus, the fixing
여기서, 고정핀(520)의 중심축은 길이방향과 평행한 중심축을 나타낸다.
Here, the central axis of the fixing
또한 도 4 내지 도 5에서 도시한 바와 같이, 클램프플레이트(400)의 고정공(410)은 하측으로 돌출되도록 고정단턱(420)이 돌출형성되되, 고정공(410)의 직경은 베이스보드(100)의 해당 관통공(102)의 직경보다 작게 형성된다.4 to 5, the fixing
이러한 고정단턱(420)의 내측은 베이스보드(100)의 해당 관통공(102)의 직경보다 큰 직경을 갖는 걸림공간부(430)가 형성되어 관통공(102)을 통과한 고정핀(520)의 걸림돌기(530)는 클램프플레이트(400)의 고정공(410) 가장자리에만 걸려져 고정되는 것이다.An inner side of the fixed
이에, 고정공(410)의 하측으로 돌출된 고정핀(520)의 단부 절단 시, 절단되지 않은 걸림돌기(530)들은 관통공(102)을 이탈할 수 있어, 삽입플에이트(500)와 하우징(200)을 베이스보드(100)에서 용이하게 분리시킬 수 있다.
When the end of the fixing
그리고 도 6에서 도시한 바와 같이, 다른 실시 예의 고정핀(520)은 하단부의 폭이 하측으로 갈수록 점진적으로 좁아지도록 형성됨에 따라 걸림돌기(530)의 단부가 하측으로 갈수록 고정핀(520)의 중심축 방향으로 위치된다.6, the fixing
이에, 삽입플에이트(500)와 하우징(200) 분리 시, 걸림돌기(530)가 베이스보드(100)의 관통공(102)에 걸려지는 것을 방지하여 용이하게 분리시킬 수 있는 것이다.
The locking
또한 도 8에서 도시한 바와 같이, 각 관통공 열(110)이 형성된 베이스보드(100)의 하단부 내측에 베이스보드(100)의 외주방향과 하측으로 개방된 장착홈(120)이 형성된다.8, a mounting
이 장착홈(120)의 하측으로 개방된 부분은 외주방향으로 개방된 부분보다 작은 폭으로 형성되고, 외주방향 개방된 부분으로 클램프플레이트(400)가 삽입되어 베이스보드(100)에 장착된다.The lower portion of the mounting
이에, 하우징(200)과 삽입플에이트(500)를 베이스보드(100)에 용이하게 고정시킬 수 있다.
Thus, the
10 : 검사용 커넥터 100 : 베이스보드
102 : 관통공 110 : 관통공 열
120 : 장착홈 200 : 하우징
210 : 장착공간부 300 : 컨택트
400 : 클램프플레이트 410 : 고정공
500 : 삽입플레이트 510 : 지지플레이트
520 : 고정핀 530 : 걸림돌기10: Connector for inspection 100: Base board
102: through hole 110: through hole heat
120: mounting groove 200: housing
210: mounting space part 300: contact
400: clamp plate 410: stationary ball
500: insert plate 510: support plate
520: Fixing pin 530:
Claims (10)
상기 베이스보드의 각 관통공 열의 상측에 각각 배열되고, 내부에 상기 각 관통공과 연통되도록 장착공간부를 갖는 하우징;
상기 하우징의 양면을 따라 다수 개 구비되어 검사를 위한 프로브 카드와 접촉되기 위한 컨택트;
상기 베이스보드의 하측에 위치되되, 상기 각 관통공에 대응되도록 다수의 고정공이 형성되는 클램프플레이트; 및
상기 하우징의 장착공간부에 장착되고, 상기 베이스보드의 각 관통공을 통과하여 상기 클램프플레이트의 고정공에 걸려 고정됨에 따라 상기 하우징을 베이스보드에 고정시키는 삽입플레이트;를 포함하고,
상기 삽입플레이트는,
상기 하우징에 구비되는 지지플레이트,
상기 베이스보드의 각 관통공에 관통설치되도록 상기 지지플레이트의 하단부에 다수 개 구비되는 고정핀, 및
상기 각 고정핀의 양측으로 돌출되며, 상기 클램프플레이트의 고정공에 걸려지기 위한 다수의 걸림돌기,를 포함하여 이루어지고,
상기 하우징을 분리시킬 경우, 상기 클램프플레이트의 고정공을 통과한 상기 고정핀 단부를 절단하여 상기 베이스보드에서 분리되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
A base board which is formed in a circular plate shape and in which a plurality of through holes spaced apart from each other at regular intervals form one row and in which a pattern for inspection is formed;
A housing arranged on the upper side of each of the through holes of the base board and having a mounting space portion communicating with the through holes;
A plurality of contacts provided on both sides of the housing to contact the probe card for inspection;
A clamp plate positioned below the base board and having a plurality of fixing holes corresponding to the through holes; And
And an insertion plate mounted on a mounting space of the housing and fixed to the fixing plate of the clamp plate through the through holes of the base plate to fix the housing to the base board,
The insertion plate
A support plate provided on the housing,
A plurality of fixing pins provided at a lower end of the support plate so as to penetrate through the through holes of the base board,
And a plurality of locking protrusions protruding from both sides of the fixing pins and hooked to the fixing holes of the clamp plate,
Wherein when the housing is detached, the end of the fixing pin passing through the fixing hole of the clamp plate is cut off and separated from the base board.
상기 삽입플레이트와 하우징은 이중사출에 의해 일체로 성형되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
The method according to claim 1,
Wherein the insertion plate and the housing are integrally formed by double injection.
상기 관통공 열은 상기 베이스보드의 가장자리를 따라 다수 열 형성되고, 각 관통공 열에 상기 컨택트가 구비된 하우징이 각각 구비되어 프로브 카드에 대한 검사가 이루어지는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
The method according to claim 1,
Wherein the through holes are formed in a plurality of rows along an edge of the base board and each of the through holes is provided with a housing provided with the contacts to inspect the probe card.
상기 다수의 걸림돌기는 상기 고정핀의 중심축을 기준으로 대칭되도록 형성되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
The method according to claim 1,
Wherein the plurality of locking protrusions are formed to be symmetrical with respect to a center axis of the fixing pin.
상기 다수의 걸림돌기는 상기 고정핀의 중심축을 기준으로 비대칭되도록 교대로 하나씩 형성되어 지그재그 형상으로 형성되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
The method according to claim 1,
Wherein the plurality of locking protrusions are alternately formed in a zigzag shape so that they are asymmetric with respect to the central axis of the fixing pin.
상기 다수의 걸림돌기는 상단이 상기 고정핀의 중심축과 직교되도록 형성되고, 하단이 상기 고정핀의 중심축과 일정 경사지도록 형성되어 상기 클램프플레이트의 고정공을 하측으로만 통과시키고, 상측으로 통과되지 않는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
The method according to claim 1,
The plurality of locking protrusions are formed such that an upper end thereof is orthogonal to a central axis of the fixing pin and a lower end thereof is formed to be inclined at a predetermined angle with respect to a central axis of the fixing pin so that the fixing hole of the clamping plate passes only downward, Wherein the first and second connectors are connected to each other.
상기 클램프플레이트의 고정공은 하측으로 돌출되도록 고정단턱이 돌출형성되되, 상기 고정공의 직경은 상기 베이스보드의 해당 관통공의 직경보다 작게 형성되고, 상기 고정단턱의 내측은 상기 베이스보드의 해당 관통공의 직경보다 큰 직경을 갖는 걸림공간부가 형성되어 관통공을 통과한 상기 고정핀의 걸림돌기는 상기 클램프플레이트의 고정공 가장자리에만 걸려져 고정되며, 상기 고정공의 하측으로 돌출된 고정핀의 단부 절단 시, 절단되지 않은 걸림돌기들은 상기 관통공을 이탈할 수 있는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
The method according to claim 1,
Wherein the fixing hole of the clamp plate is formed with a fixing step protruded so as to protrude downward, the diameter of the fixing hole being smaller than the diameter of the through hole of the base board, Wherein the engaging space portion having a diameter larger than the diameter of the hole is formed so that the engaging protrusion of the fixing pin passing through the through hole is caught and fixed only at the fixing hole edge of the clamp plate, And the unthreaded protrusions are able to separate from the through hole.
하단부의 폭이 하측으로 갈수록 점진적으로 좁아지도록 형성됨에 따라 걸림돌기의 단부가 하측으로 갈수록 상기 고정핀의 중심축 방향으로 위치되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
[2] The apparatus of claim 1,
And the width of the lower end portion is gradually narrowed toward the lower side, so that the end portion of the latching protrusion is positioned in the center axis direction of the fixing pin toward the lower side.
상기 각 관통공 열이 형성된 베이스보드의 하단부 내측에 베이스보드의 외주방향과 하측으로 개방된 장착홈이 형성되되, 하측으로 개방된 부분은 외주방향으로 개방된 부분보다 작은 폭으로 형성되고, 상기 장착홈의 외주방향 개방된 부분으로 상기 클램프플레이트가 삽입되어 베이스보드에 장착되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.The method according to claim 1,
Wherein a mounting groove is formed at an inner side of a lower end portion of the base board on which the through holes are formed, the mounting groove being opened to the outer circumferential direction and the lower side of the base board, the lower opening portion is formed to have a smaller width than the portion opened in the outer peripheral direction, And the clamp plate is inserted into the open portion of the groove in the outer circumferential direction, and is mounted on the base board.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020130158700A KR101532761B1 (en) | 2013-12-18 | 2013-12-18 | Connector for probe card inspection |
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| KR1020130158700A KR101532761B1 (en) | 2013-12-18 | 2013-12-18 | Connector for probe card inspection |
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|---|---|
| KR20150071545A KR20150071545A (en) | 2015-06-26 |
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| KR (1) | KR101532761B1 (en) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102051358B1 (en) | 2018-06-19 | 2020-01-08 | 주식회사 오킨스전자 | Guide structure for clamping probe ZIF connector |
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| KR20000004854A (en) * | 1998-06-02 | 2000-01-25 | 히로시 오우라 | Probe card suitable for checking a multi pin device |
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| KR20120104812A (en) * | 2011-03-14 | 2012-09-24 | 삼성전자주식회사 | Semiconductor wafer testing system and method |
-
2013
- 2013-12-18 KR KR1020130158700A patent/KR101532761B1/en active IP Right Grant
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| KR20150071545A (en) | 2015-06-26 |
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