KR101523222B1

KR101523222B1 - 전자 디바이스의 전자파 측정 장치

Info

Publication number: KR101523222B1
Application number: KR1020130165670A
Authority: KR
Inventors: 이중희; 문형범
Original assignee: 주식회사 이레테크
Priority date: 2013-12-27
Filing date: 2013-12-27
Publication date: 2015-05-28

Abstract

본 발명은, 전자 디바이스의 전자파 측정 장치에 관한 것으로서, 차폐실내에 기립설치되는 테스트 본체; 테스트 본체가 안착되며 테스트 본체를 기립방향의 가로방향으로 회전시키는 턴테이블; 테스트 본체의 일측에 설치되어 테스트 본체의 기립방향으로 회전하며, 상호 평행하게 이격 배치되어 그 사이에 전자 디바이스를 파지하는 한 쌍의 파지암을 갖는 메인 지그; 한 쌍의 파지암의 자유단부에 한 쌍의 파지암이 상호 접근하는 방향으로 가압하도록 장착되며, 폭의 조절이 가능한 보조 지그;를 포함할 수 있다. 이에 의해, 테스트 중 전자 디바이스가 테스트 장치로부터 분리 및 이탈되는 것을 방지할 수 있으며, 간편하게 보조 지그를 장착시킬 수 있다.

Description

전자 디바이스의 전자파 측정 장치{ELECTROMAGNETIC MEASUREMENT APPRATUS FOR ELECTRIC DEVICE}

본 발명은 전자 디바이스의 전자파 측정 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 테스트시 전자 디바이스가 테스트 장치로부터 분리 및 이탈되는 것을 방지할 수 있으며, 전자 디바이스를 간편하게 고정할 수 있도록 하는 전자 디바이스의 전자파 측정 장치에 관한 것이다.

전자기기에서 발생하는 노이즈 혹은 전자파가 인체 혹은 다른 전자기기에 미치는 영향의 정도를 측정하는 것을 전자파 측정 혹은 전자 정합성(EMC, Electromagnetic Compatibility) 테스트라고 한다.

전자기기가 점점 더 디지털화되고 고속화되면서 전자기기의 회로 내에서 순환하는 전류들이 많아지게 되었고 전자기기들은 좀더 많은 노이즈와 전자파를 일으킬 개연성이 높아지게 되었다. 이러한 이유로 전자기기에서 발생하는 전자기적 노이즈 혹은 전자파에 대해 규제가 강화되고 있고, 전자기기가 이러한 규제를 만족하는지를 측정하기 위한 다양한 전자파 측정 장치들이 제시되고 있다.

전자파 측정 장치들 중에는 전도성 노이즈(Conducted Emissions)를 측정하는 장치가 있고, 방사성 노이즈(Radiated Emissions)를 측정하는 장치가 있다. 전자기기에서 발생하는 노이즈 혹은 전자파는 전원과 같은 유선을 통해 다른 전자기기로 전파될 수 있다. 이렇게 전자기기에 연결되어 있는 유선을 통해 다른 전자기기로 전파되는 노이즈를 측정하는 것을 전도성 노이즈 측정이라고 한다. 이와 달리, 전자기기는 회로 내에서의 전자기적 에너지의 흐름에 따라 노이즈 혹은 전자파를 공중으로 방사할 수 있는데, 이렇게 공중으로 방사되는 노이즈 혹은 전자파를 측정하는 것을 방사성 노이즈 측정이라고 한다.

한편, 방사성 노이즈는 전자파 측정 안테나를 통해 수신되고 유선을 통해 전파되는데, 이러한 유선을 통해 전파되는 전기 신호의 크기는 작다. 이렇게 크기가 작은 전기 신호를 주변에 존재하는 노이즈 플로어(Noise Floor) 이상의 전기 신호로 변환하여 전자파 측정 신호 분석기로 전달할 필요가 있다.

이러한 전자 디바이스의 노이즈 혹은 전자파를 측정하기 위해 사용되는 전자파 측정 장치는, 차폐실 내에 설치되며, 차폐실 내에 마련된 안테나를 이용하여 전자 디바이스의 전자파 등을 측정하게 된다.

도 1은 종래의 전자파 측정 장치를 갖는 시스템의 구성도이다.

시험 대상 기기(100)에서 방사되는 전자파는 전자파 측정 안테나(210)에 의해 수신된다. 전자파 측정 안테나(210)에 의해 수신된 전자파는 전기 신호로서 케이블(230)을 통해 분석기(240)로 전달된다. 시험 대상 기기(100)와 전자파 측정 안테나(210)는 차폐실(1) 내에 위치할 수 있고, 분석기(240)는 차폐실(1) 밖에 위치할 수 있다.

시험 대상 기기(100)는 전자파를 방사하는 전자기기이다. 텔레비전, 전기자동차 및 통신단말기 등 전기를 사용함으로써 전자파를 방사하게 되는 모든 전자기기가 시험 대상 기기(100)가 될 수 있으나, 본 전자파 측정 장치(110)는 휴대폰, PDA, 테블릿 PC 등 크기가 비교적 작은 전자 디바이스를 시험하는 장치이다.

전자파 측정 안테나(210)는 시험 대상 기기(110)로부터 방사되는 전자파를 수신한다. 전자파 측정 안테나(210)의 일 예는 지향성 안테나일 수 있다. 지향성 안테나는 하나 이상의 방향에 대하여 높은 수신 감도를 가질 수 있다. 지향성 안테나의 한 예시 형태가 로그 주기 안테나(log-periodic antenna)이다. 지향성 안테나는 30MHz와 같이 낮은 주파수의 전자파를 측정하는데 사용될 수 있다. 전자파 측정 안테나(210)의 다른 예는 혼 안테나이다. 혼 안테나는 나팔꽃 형상의 메탈로 이루어진 안테나로 300MHz 이상의 높은 주파수의 전자파를 측정하는데 사용될 수 있다.

케이블(230)은 외부의 전자파로부터 영향을 받지 않고 전기 신호를 전달하기 위해 차폐 처리될 수 있다. 차폐 처리된 케이블(230)은 전기 신호를 전달하기 위한 내부 도선이 있고, 이러한 도선을 둘러싸는 차폐막을 가질 수 있다. 차폐막은 금속과 같은 도전성 부재로 이루어지면 그라운드와 연결될 수 있다. 케이블(230)은 차폐막과 내부 도선 사이에 절연막을 포함할 수 있다.

분석기(240)는 전자파 측정 안테나(210)로부터 전달되는 전기 신호를 분석하여 그 결과를 데이터로 출력하거나 화면으로 표시한다. 분석기(240)의 일 예는 파워미터이다. 파워미터는 전기 신호가 가지고 있는 전기에너지의 시간당 값을 분석 혹은 측정하는 장치로서, 시험자는 파워미터로 측정되는 값을 통해 전자파 측정 안테나(210)로부터 전달되는 전기 신호에 대한 파워의 크기를 측정할 수 있다. 분석기(240)의 다른 예는 오실로스코프이다. 오실로스코프는 전기 신호의 시간축 상에서의 파형을 표시하는 장치로서, 시험자는 이러한 오실로스코프를 통해 전자파 측정 안테나(210)로부터 전달되는 전기 신호에 대한 시간축 상의 변화 양상을 파악할 수 있다.

분석기(240)의 또 다른 예는 스펙트럼 분석기이다. 스펙트럼 분석기는 입력되는 전기 신호에 대하여 주파수별 신호의 크기를 측정한다. 전자기기들은 특정 주파수 대역에 해당되는 전자파에 대해 민감할 수 있다. 예를 들어, 통신 단말기의 경우 통신을 위해 사용하는 주파수 대역의 전자파에 영향을 받는 경우 통신 장애를 일으킬 수 있다. 이러한 이유로 전자파 장해를 측정하는 장치에서는 스펙트럼 분석기를 사용하여 시험 대상 기기(100)에서 방사되는 전자파에 대하여 주파수별 신호의 크기를 측정할 수 있다.

차폐실(1)은 전자파가 반사되지 않도록 처리된 방으로 시험 대상 기기(100)에서 방사된 전자파는 차폐실(1)의 벽체로 흡수될 수 있다. 차폐실(1)의 벽체는 전자파를 흡수할 수 있는 부착물을 포함할 수 있다. 이러한 부착물은 피라미드 형상의 조각들로 이루어질 수 있다. 차폐실(1) 내부의 모든 면이 이러한 피라미드 형상의 전자파 흡수 부착물을 포함할 수 있다. 전자파 흡수 부착물의 재질로서는 탄소 및 철의 혼합물을 함유한 발포성 고무가 사용될 수 있다. 차폐실(1)의 벽체에 포함되어 있으면서 전자파를 흡수하는 부착물은 전술한 재질과 형태로 제한되는 것은 아니며, 전자파 흡수 부착물은 페라이트(ferrite) 재질의 평판 타일의 형상일 수도 있다.

도 2는 종래의 전자파 측정 장치의 지그 영역의 확대 평면도이다.

전자파 측정 장치(110)는, 바닥면에 대해 회전하는 본체(120)와, 본체(120)의 일측에 장착되며 전자 디바이스(100)를 고정하는 지그(130)를 포함한다. 여기서, 지그(130)는 본체(120)의 기립방향의 가로로 형성된 회전축을 중심으로 회전한다.

지그(130)는, 본체(120)에 결합되는 지그체(135)와, 폭 조절이 가능하도록 지그체(135)에 결합되는 한 쌍의 파지암(140)을 포함한다. 한 쌍의 파지암(140) 사이에는 테스트를 하기 위한 전자 디바이스(100)가 장착된다.

이러한 전자파 측정 장치(110)가 구동하면, 전자파 측정 장치(110)의 본체(120)는 차폐실의 바닥에 대해 회전하고, 지그(130)는 차폐실 바닥의 가로방향으로 회전하게 된다. 이렇게 전자파 측정 장치(110)가 두 방향으로 회전함에 따라, 지그(130)에 장착된 전자 디바이스(100)가 지그(130)에 안정적으로 고정되지 아니하면, 전자 디바이스(100)가 원심력에 의해 전자파 측정 장치(110)의 외부로 이탈될 수 있다.

이에 따라, 전자 다바이스를 지그(130)에 안정적으로 고정하기 위해, 종래에는 고무줄을 사용하였다. 도 2에 도시된 바와 같이, 전자 디바이스(100)를 한 쌍의 파지암(140) 사이에 장착시킨 다음, 전자 디바이스(100)와 각 파지암(140)을 둘러싸도록 고무줄을 여러 회 감아서 전자 디바이스(100)를 각 파지암(140) 사이에 고정하고, 각 파지암(140)의 단부를 다시 한 번 고무줄로 여러 회 감아서 각 파지암(140)이 상호 접근하도록 가압함으로써, 전자 디바이스(100)가 각 파지암(140) 사이에서 미끄러지더라도 파지암(140)으로부터 이탈되지 않도록 한다.

그런데, 이렇게 고무줄을 사용하는 경우, 전자 다바이스를 안정적으로 고정할 수 있기는 하나, 시험자가 고무줄을 일일이 감아야 하므로, 시간이 비교적 오래 걸리고 번거롭다는 단점이 있으며, 반복적인 사용에 의해 고무줄이 헤어지는 경우 전자 디바이스(100)의 테스트 중 고무줄이 절단될 수 있으며, 이에 따라, 전자 디바이스(100)가 테스트 장치로부터 분리 및 이탈되어 파손될 수 있다.

본 발명은, 테스트시 전자 디바이스가 테스트 장치로부터 분리 및 이탈되는 것을 방지할 수 있으며, 전자 디바이스를 간편하게 고정할 수 있도록 하는 전자 디바이스의 전자파 측정 장치를 제안한다.

상기 목적은, 차폐실내에 기립설치되는 테스트 본체; 상기 테스트 본체가 안착되며, 상기 테스트 본체를 기립방향의 가로방향으로 회전시키는 턴테이블; 상기 테스트 본체의 일측에 설치되어 상기 테스트 본체의 기립방향으로 회전하며, 상호 평행하게 이격 배치되어 그 사이에 전자 디바이스를 파지하는 한 쌍의 파지암을 갖는 메인 지그; 상기 한 쌍의 파지암의 자유단부에 상기 한 쌍의 파지암이 상호 접근하는 방향으로 가압하도록 장착되며, 폭의 조절이 가능한 보조 지그;를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 디바이스의 전자파 측정 장치에 의해 달성될 수 있다.

이러한 전자 디바이스의 전자파 측정 장치에 따르면, 보조 지그를 이용하여 메인 지그에 장착된 전자 디바이스를 한 쌍의 파지암 사이에 안정적으로 고정시킬 수 있으므로, 테스트 중 전자 디바이스가 테스트 장치로부터 분리 및 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 연결간을 이용하여 보조 지그의 폭을 조절함으로써, 간편하게 보조 지그를 메인 지그에 장착시킬 수 있다.

도 1은 종래의 전자파 측정 장치를 갖는 시스템의 구성도,
도 2는 종래의 전자파 측정 장치의 지그 영역의 확대 평면도,
도 3은 본 발명에 따른 전자 디바이스의 전자파 측정 장치의 구성도,
도 4는 본 발명에 따른 전자파 측정 장치의 메인 지그의 평면도,
도 5는 본 발명에 따른 보조 지그가 장착된 메인 지그의 평면도,
도 6 및 도 7은 본 발명에 따른 전자파 측정 장치의 보조 지그의 사시도이다.

이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성 요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.

도 3은 본 발명에 따른 전자 디바이스의 전자파 측정 장치의 구성도, 도 4는 본 발명에 따른 전자파 측정 장치의 메인 지그의 평면도, 도 5는 본 발명에 따른 보조 지그가 장착된 메인 지그의 평면도, 도 6 및 도 7은 본 발명에 따른 전자파 측정 장치의 보조 지그의 사시도이다.

본 전자 디바이스의 전자파 측정 장치(10)는, 휴대폰, PDA, 테블릿 PC 등 크기가 비교적 작은 전자 디바이스를 테스트하는 장치로서, 도 1에 도시된 바와 같이, 차폐실(1) 내에 설치된 안테나(210)는 전자 디바이스(100)에서 발생된 전파의 강도를 측정하게 된다.

본 전자 디바이스(100)의 전자파 측정 장치(10)는, 도 3에 도시된 바와 같이, 차폐실(1) 바닥에 설치된 턴테이블(5)과, 턴테이블(5)에 안착되는 테스트 본체(20)와, 테스트 본체(20)의 일측에 회전가능하게 설치되며 전자 디바이스(100)를 파지하는 메인 지그(30)와, 메인 지그(30)를 회전시키는 지그 모터(15)와, 메인 지그(30)의 자유단을 파지하는 보조 지그(50)를 포함할 수 있다.

턴테이블(5)은 차폐실(1) 바닥내에 함몰되어 설치되며, 차폐실(1) 바닥의 판면에 대해 회전하게 된다. 턴테이블(5)의 회전축에는 턴테이블(5)에 회전력을 제공하는 모터(미도시)가 설치되어 있다.

테스트 본체(20)는, 턴테이블(5)에 안착되는 지지유닛(11)과, 지지유닛(11)으로부터 기립설치된 메인유닛(13)을 포함한다. 지지유닛(11)은 메인유닛(13)을 안정적으로 지지하기 위해 일정한 높이와 폭을 가지도록 제작된다. 메인유닛(13)에는 전자 디바이스(100)를 파지하는 메인 지그(30)가 설치되며, 턴테이블(5)의 회전에 따라 메인유닛(13)은 회전축을 중심으로 회전하게 된다.

메인 지그(30)는, 테스트 본체(20)의 메인유닛(13)에 장착되며, 메인유닛(13)의 회전방향의 가로방향으로 회전한다.

메인 지그(30)는, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 테스트 본체(20)의 메인유닛(13)에 고정되는 지그체(35)와, 상호 평행하게 배치되어 그 사이에 위치한 전자 디바이스(100)를 파지하는 한 쌍의 파지암(40)을 갖는다. 지그체(35)는 일측으로 긴 판상으로 형성되며, 테스트 본체(20)의 메인유닛(13)의 측면방향에 대해 회전가능하도록 테스트 본체(20)의 메인유닛(13)의 측면에 결합된다.

각 파지암(40)은, 지그체(35)에 결합되는 결합부(41)와, 결합부(41)로부터 외측으로 절곡되어 전자 디바이스(100)를 파지하는 암부(45)를 포함한다. 결합부(41)에는 결합부(41)의 길이방향을 따라 일정 길이의 장공(43)이 형성되어 있고, 각 파지암(40)은 장공(43)을 통과하는 볼트에 의해 지그체(35)에 결합된다. 장공(43)에 의해 각 파지암(40)은 지그체(35)의 길이방향을 따라 위치의 조절이 가능하며, 이에 따라, 각 파지암(40) 간의 간격 조절이 가능하므로, 테스트하고자 하는 전자 디바이스(100)의 폭에 따라 적합한 간격을 형성할 수 있다.

이러한 메인 지그(30)는 테스트 본체(20)의 메인유닛(13)에 장착된 지그 모터(15)에 의해 메인유닛(13)의 측면방향에 대해 회전가능하게 된다. 지그 모터(15)의 모터축은 메인 지그(30)의 지그체(35) 중심에 결합됨으로써, 지그 모터(15)로부터의 구동력이 메인 지그(30)로 전달될 수 있다. 이때, 지그 모터(15)와 메인 지그(30)의 지그체(35) 사이에는 지그 모터(15)로부터의 구동력을 감속시키는 기어가 장착될 수도 있다.

보조 지그(50)는, 메인 지그(30)의 한 쌍의 파지암(40)에 착탈가능하게 장착되며, 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 한 쌍의 파지암(40)의 외벽면에 접촉하는 한 쌍의 클램프 암(55a,55b)과, 한 쌍의 클램프 암(55a,55b)을 상호 접근 및 이격되도록 조절하는 연결간(60)과, 연결간(60)에 의해 한 쌍의 클램프 암(55a,55b)이 상호 접근 및 이격될 때 각 클램프 암(55a,55b)이 안정적으로 이동하도록 지지하는 한 쌍의 가이드간(70)을 포함할 수 있다.

한 쌍의 클램프 암(55a,55b)은 상호 다소 상이한 형상으로 형성되며, 제1클램프 암(55a)은, 메인 지그(30)의 파지암(40) 중 하나의 외측면에 접촉하여 파지암(40)을 가압하는 가압판(56a)과, 가압판(56a)으로부터 절곡되며 제2클램프 암(55b)을 향해 연장된 슬라이딩판(57a)을 포함한다.

슬라이딩판(57a)은 'ㅗ'자 형상으로 형성되며, 중앙에 돌출된 부분이 제2클램프 암(55b)을 향하도록 배치된다. 가압판(56a)과 슬라이딩판(57a)은 소정의 두께를 가지도록 형성되며, 슬라이딩판(57a) 중앙의 돌출된 부분에는 돌출방향을 따라 결합홈(58)이 형성되어 있다. 결합홈(58)의 내면에는 나사산이 형성되어 있으며, 결합홈(58)에는 연결간(60)이 나사결합되어 수용되고, 연결간(60)은 결합홈(58)내에서 연결간(60)의 길이방향을 따라 이동할 수 있다. 슬라이딩판(57a)의 결합홈(58)의 양측에는 한 쌍의 가이드간(70)을 수용하여 고정하는 한 쌍의 고정홈(59)이 함몰형성되어 있다. 각 가이드간(70)은 각 고정홈(59)내에 고정되며, 각 가이드간(70)의 자유단부는 제2클램프 암(55b)을 향해 돌출되어 있다.

제2클램프 암(55b)은, 메인 지그(30)의 파지암(40) 중 다른 하나의 외측면에 접촉하여 파지암(40)을 가압하는 가압판(56b)과, 가압판(56b)으로부터 절곡되며 제1클램프 암(55a)을 향해 연장된 슬라이딩판(57b)을 포함한다.

슬라이딩판(57b)은 요철형상으로 형성되어 중앙영역은 함몰되고 양측 영역은 제1클램프 암(55a)을 향해 돌출되도록 형성된다. 이에 따라, 제2클램프 암(55b)의 슬라이딩판(57b)은 제1클램프 암(55a)의 슬라이딩판(57b)과 끼움결합된다.

슬라이딩판(57b)의 중앙영역에는 슬라이딩판(57b)을 관통하는 관통공(68)이 형성되어 있고, 관통공(68)의 내부에는 나사산이 형성되어 있다. 관통공(68)에는 연결간(60)이 관통하여 결합된다.

슬라이딩판(57b)의 양측 돌출 영역에는 각 가이드간(70)을 수용하는 수용홈(69)이 함몰형성되어 있다. 각 가이드간(70)은 수용홈(69)내에서 길이방향을 따라 이동가능하며, 제1클램프 암(55a)과 제2클램프 암(55b)이 상호 접촉하도록 접근하면, 각 가이드간(70)은 수용홈(69)내에 완전히 수용된다. 반대로 제1클램프 암(55a)과 제2클램프 암(55b)이 상호 이격되기 시작하면, 각 가이드간(70)은 수용홈(69)으로부터 외측으로 이동하기 시작한다. 그러나, 각 가이드간(70)은 수용홈(69)으로부터 완전히 이탈되지는 아니한다.

연결간(60)은 일측으로 긴 봉형상으로 형성되며, 연결간(60)의 외주면에는 나사산이 형성되어 있다. 그리고 연결간(60)의 일단에는 연결간(60)을 회전시켜 양측 클램프 암(55a,55b) 사이의 간격을 조절하기 위한 노브(65)가 결합되어 있다.

연결간(60)은 제2클램프 암(55b)을 관통하여 결합되며, 이때, 노브(65)가 제2클램프 암(55b)의 외측에 배치되도록 결합된다. 그리고 노브(65)에 대향되는 연결간(60)의 타단부는 제1클램프 암(55a)의 결합홈(58)에 결합되며, 노브(65)의 회전에 따라 연결간(60)의 타단부는 제1클램프 암(55a)의 결합홈(58)내에서 이동한다. 제1클램프 암(55a)과 제2클램프 암(55b)이 상호 접촉하도록 접근하면, 연결간(60)의 결합홈(58)내에 완전히 수용된다. 반대로 제1클램프 암(55a)과 제2클램프 암(55b)이 상호 이격되기 시작하면, 연결간(60)은 결합홈(58)으로부터 외측으로 이동하기 시작하나, 연결간(60)은 결합홈(58)으로부터 완전히 이탈되지는 아니한다.

이러한 구성의 보조 지그(50)는, 한 쌍의 가이드간(70)이 제2클램프 암(55b)의 수용홈(69)에 수용되도록 하고, 연결간(60)이 제2클램프 암(55b)의 관통공(68)을 관통하도록 한 다음 제1클램프 암(55a)의 결합홈(58)내에 나사결합시킴으로써, 제1클램프 암(55a)과 제2클램프 암(55b)을 조립할 수 있다.

조립이 완료된 보조 지그(50)는, 연결간(60)의 노브(65)를 회전시켜 연결간(60)이 결합홈(58)내에서 이동하도록 함으로써, 제1클램프 암(55a)과 제2클램프 암(55b) 사이의 간격을 조절할 수 있다. 제1클램프 암(55a)과 제2클램프 암(55b)을 이용하여 조절할 수 있는 간격은 연결간(60) 및 가이드간(70)의 길이와 수용홈(69) 및 결합홈(58)의 길이에 따라 얼마든지 변경설계할 수 있으며, 본 발명에서 제1클램프 암(55a)과 제2클램프 암(55b) 사이의 간격을 40 내지 60mm 정도 조절할 수 있도록 보조 지그(50)를 설계한다.

이러한 보조 지그(50)는 아세탈로 제작된다. 아세탈은 엔지니어링 플라스틱으로서, 높은 결정성을 가진 고분자로서 수소결합을 가지고 있어 기계적 강도가 크고 내마모성이 우수하다. 특히 아세탈은 유전율이 낮아 전자파를 간섭하지 않으므로, 전자 디바이스(100)의 안테나 방사특성과 전자파 흡수율에 영향을 미치지 않으므로, 본 전자 다바이스의 전자파 측정 장치(10)에 채용할 수 있다.

이러한 구성에 의한 전자 디바이스(100)의 전자파 측정 장치(10)에 전자 디바이스(100)를 장착시키는 과정을 살펴보면 다음과 같다.

먼저, 시험자는 전자 디바이스(100)의 폭에 따라, 한 쌍의 파지암(40) 사이에 전자 디바이스(100)가 고정되도록 메인 지그(30)의 각 파지암(40)의 위치를 조절한다. 시험자는 지그체(35)의 길이방향을 따라 각 파지암(40)이 상호 접근 또는 이격되도록 각 파지암(40)을 이동시키며, 메인 지그(30)의 각 파지암(40)에는 장공(43)이 형성되어 있으므로, 시험자는 볼트를 장공(43)을 관통시켜 지그체(35)에 나사결합시킨다. 이때, 각 파지암(40)이 지그체(35)를 따라 슬라이딩할 수 있을 정도로 볼트를 느슨하게 둔 상태에서 각 파지암(40)의 위치를 조절한다. 각 파지암(40)의 위치가 결정되면, 볼트를 조여 한 쌍의 파지암(40)을 지그체(35)에 고정한다.

이렇게 메인 지그(30)를 이용하여 전자 디바이스(100)를 고정시킨 상태에서, 시험자는 보조 지그(50)를 한 쌍의 파지암(40)의 자유단부에 장착시킨다. 먼저, 보조 지그(50)를 각 클램프 암(55a,55b)이 상호 이격되도록 연결간(60)의 노브(65)를 회전시킨다. 제1클램프 암(55a)과 제2클램프 암(55b)이 한 쌍의 파지암(40)을 둘러쌀만큼 충분한 간격을 두고 이격되면, 시험자는 보조 지그(50)를 메인 지그(30)의 한 쌍의 파지암(40)을 감싸도록 배치시킨다. 그런 다음, 제1클램프 암(55a)과 제2클램프 암(55b)의 가압판(56a,55b)이 각 파지암(40)의 외측면에 접촉된 후, 각 파지암(40)이 상호 근접하는 방향으로 소정의 압력이 가해질 때까지 연결간(60)의 노브(65)를 회전시킨다. 이에 따라, 보조 지그(50)가 메인 지그(30)의 각 파지암(40)을 안정적으로 고정시키게 된다.

이렇게 메인 지그(30)와 보조 지그(50)를 이용하여 전자 디바이스(100)를 안정적으로 고정시킨 다음, 전자파 측정 장치(10)를 동작시키면, 턴테이블(5)에 의해 테스트 본체(20)는 차폐실(1) 바닥의 평면에 대해 회전하고, 메인 지그(30)와 보조 지그(50)는 테스트 본체(20)의 회전축의 가로방향으로 회전하게 된다. 이때, 전자 디바이스(100)는 메인 지그(30)와 보조 지그(50)에 의해 테스트 장치에 안정적으로 고정되므로, 이탈의 염려가 없다.

이와 같이, 본 발명에 따른 전자 디바이스(100)의 전자파 측정 장치(10)에 따르면, 메인 지그(30)에 전자 디바이스(100)를 장착시킨 다음, 한 쌍의 파지암(40)의 자유단부에 보조 지그(50)를 결합시킨다. 이에 따라, 메인 지그(30)에 장착된 전자 디바이스(100)를 한 쌍의 파지암(40) 사이에 안정적으로 고정시킬 수 있으므로, 테스트 중 전자 디바이스(100)가 테스트 장치로부터 분리 및 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 보조 지그(50)를 메인 지그(30)의 자유단부에 장착시킬 때, 연결간(60)을 이용하여 보조 지그(50)의 폭을 조절함으로써, 간편하게 보조 지그(50)를 메인 지그(30)에 장착시킬 수 있다.

전술한 실시예에서 언급한 표준내용 또는 표준문서들은 명세서의 설명을 간략하게 하기 위해 생략한 것으로 본 명세서의 일부를 구성한다. 따라서, 위 표준내용 및 표준문서들의 일부의 내용을 본 명세서에 추가하거나 청구범위에 기재하는 것은 본 발명의 범위에 해당하는 것으로 해석되어야 한다.

이상의 설명은 본 발명의 기술사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야하며, 그와 동등한 범위내에 있는 모든 기술사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

10 : 테스트 본체 15 : 지그 모터
30 : 메인 지그 35 : 지그체
40 : 파지암 50 : 보조 지그
55a : 제1클램프 암 55b : 제2클램프 암
60 : 연결간 65 : 노브
70 : 가이드간

Claims

차폐실내에 기립설치되는 테스트 본체;
상기 테스트 본체가 안착되며, 상기 테스트 본체를 기립방향의 가로방향으로 회전시키는 턴테이블;
상기 테스트 본체의 일측에 설치되어 상기 테스트 본체의 기립방향으로 회전하며, 상호 평행하게 이격 배치되어 그 사이에 전자 디바이스를 파지하는 한 쌍의 파지암을 갖는 메인 지그;
상기 한 쌍의 파지암의 자유단부에 상기 한 쌍의 파지암이 상호 접근하는 방향으로 가압하도록 장착되며, 폭의 조절이 가능한 보조 지그;를 포함하되,
상기 보조 지그는, 상기 각 파지암의 외벽면에 접촉하는 판면을 갖는 한 쌍의 클램프 암과, 상기 한 쌍의 클램프 암을 상호 접근 및 이격 가능하게 상호 연결하는 연결간을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 디바이스의 전자파 측정 장치.
삭제
제1항에 있어서,
상기 연결간의 외면에는 나사산이 형성되어 있고, 상기 연결간의 일단은 일측의 클램프 암에 결합되고, 상기 연결간의 타단은 타측의 클램프 암을 관통하여 외부로 돌출되며, 상기 타측의 클램프 암을 관통하여 외부로 돌출된 상기 연결간의 타단에는 상기 연결간을 회전시켜 상기 한 쌍의 클램프 암 간의 간격을 조절하기 위한 노브가 장착된 것을 특징으로 하는 전자 디바이스의 전자파 측정 장치.
제3항에 있어서,
상기 일측의 클램프 암에 고정되고, 상기 타측의 클램프 암에 형성된 수용홈내에서 상기 수용홈의 길이방향을 따라 이동하는 적어도 하나의 가이드간을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 디바이스의 전자파 측정 장치.
제3항에 있어서,
상기 일측의 클램프 암과 상기 타측의 클램프 암에는, 각각 상기 메인 지그의 파지암 중 하나의 외측면에 접촉하여 파지암을 가압하는 가압판과, 상기 가압판으로부터 절곡되며 상대방 클램프 암을 향해 연장된 슬라이딩판을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 디바이스의 전자파 측정 장치.
제5항에 있어서,
상기 일측의 클램프 암에 형성된 상기 슬라이딩판은 상기 타측의 클램프 암을 향해 중앙영역이 돌출된 'ㅗ'자 형상으로 형성되며, 상기 중앙영역에는 내면에 나사산이 형성된 결합홈이 형성되고, 상기 결합홈에는 상기 연결간의 일단부가 나사결합된 것을 특징으로 하는 전자 디바이스의 전자파 측정 장치.
제5항에 있어서,
상기 타측의 클램프 암에 형성된 상기 슬라이딩판은 상기 일측의 클램프 암을 향해 양측 영역이 돌출된 요철형상으로 형성되며, 중앙영역에는 상기 연결간이 관통하는 관통공이 형성된 것을 특징으로 하는 전자 디바이스의 전자파 측정 장치.
제1항에 있어서,
상기 보조 지그는 아세탈로 제작된 것을 특징으로 하는 전자 디바이스의 전자파 측정 장치.