KR101467171B1 - 전자파 측정 시스템 및 신호 처리 장치 - Google Patents

전자파 측정 시스템 및 신호 처리 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 시험 대상 기기로부터 방사되는 전자파를 수신하여 유선으로 전파하는 전자파 측정 안테나, 전자파 측정 안테나로부터 전파되는 전기 신호에 대하여 특정 대역의 주파수 성분을 감쇠 처리하는 필터, 필터로 처리된 전기 신호의 크기를 증폭시키는 증폭기, 시험 대상 기기, 전자파 측정 안테나, 필터 및 증폭기를 둘러싸는 무향실 및 무향실 외부에서 증폭기에 의해 증폭된 전기 신호를 분석 처리하는 분석기를 포함하는 전자파 측정 시스템을 제공한다.

Description

전자파 측정 시스템 및 신호 처리 장치{ELECTROMAGNETIC MEASUREMENT SYSTEM AND SIGNAL PROCESSING APPARATUS}
본 발명은 전자파 측정 시스템에 관한 것이다.
전자기기에서 발생하는 노이즈 혹은 전자파가 인체 혹은 다른 전자기기에 미치는 영향의 정도를 측정하는 것을 전자파 측정 혹은 전자 정합성(EMC, Electromagnetic Compatibility) 테스트라고 한다.
전자기기가 점점 더 디지털화되고 고속화되면서 전자기기의 회로 내에서 순환하는 전류들이 많아지게 되었고 전자기기들은 좀더 많은 노이즈와 전자파를 일으킬 개연성이 높아지게 되었다. 이러한 이유로 전자기기에서 발생하는 전자기적 노이즈 혹은 전자파에 대해 규제가 강화되고 있고, 전자기기가 이러한 규제를 만족하는지를 측정하기 위한 다양한 전자파 측정 시스템들이 제시되고 있다.
전자파 측정 시스템들 중에는 전도성 노이즈(Conducted Emissions)를 측정하는 시스템이 있고, 방사성 노이즈(Radiated Emissions)를 측정하는 시스템이 있다. 전자기기에서 발생하는 노이즈 혹은 전자파는 전원과 같은 유선을 통해 다른 전자기기로 전파될 수 있다. 이렇게 전자기기에 연결되어 있는 유선을 통해 다른 전자기기로 전파되는 노이즈를 측정하는 것을 전도성 노이즈 측정이라고 한다. 이와 달리, 전자기기는 회로 내에서의 전자기적 에너지의 흐름에 따라 노이즈 혹은 전자파를 공중으로 방사할 수 있는데, 이렇게 공중으로 방사되는 노이즈 혹은 전자파를 측정하는 것을 방사성 노이즈 측정이라고 한다.
한편, 방사성 노이즈는 전자파 측정 안테나를 통해 수신되고 유선을 통해 전파되는데, 이러한 유선을 통해 전파되는 전기 신호의 크기는 작다. 이렇게 크기가 작은 전기 신호를 주변에 존재하는 노이즈 플로어(Noise Floor) 이상의 전기 신호로 변환하여 전자파 측정 신호 분석기로 전달할 필요가 있다.
이러한 배경에서, 본 발명의 목적은, 전자파 측정 안테나로부터 분석기로 전달되는 전기 신호에 대하여 노이즈의 영향이 최소가 되도록 하는 것이다.
전술한 목적을 달성하기 위하여, 일 측면에서, 본 발명은, 시험 대상 기기로부터 방사되는 전자파를 수신하여 유선으로 전파하는 전자파 측정 안테나; 상기 전자파 측정 안테나로부터 전파되는 전기 신호에 대하여 특정 대역의 주파수 성분을 감쇠 처리하는 필터; 상기 필터로 처리된 전기 신호의 크기를 증폭시키는 증폭기; 상기 시험 대상 기기, 상기 전자파 측정 안테나, 상기 필터 및 상기 증폭기를 둘러싸는 무향실; 및 상기 무향실 외부에서 상기 증폭기에 의해 증폭된 전기 신호를 분석 처리하는 분석기를 포함하는 전자파 측정 시스템을 제공한다.
다른 측면에서, 본 발명은, 무향실 안의 신호 처리 장치이고, 시험 대상 기기로부터 방사되는 전자파를 수신하는 전자파 측정 안테나로부터 상기 전자파에 대한 전기 신호를 전달받고 상기 전기 신호에 대하여 특정 대역의 주파수 성부를 감쇠 처리하는 필터; 상기 필터로 처리된 전기 신호의 크기를 증폭시키고 상기 증폭된 전기 신호를 무향실 밖의 분석기로 출력하는 증폭기; 및 전자파 차폐 부재로 외피를 형성하고 상기 필터 및 상기 증폭기를 수납하는 박스를 포함하는 신호 처리 장치를 제공한다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 전자파 측정 안테나로부터 분석기로 전달되는 전기 신호에 대하여 노이즈의 영향이 최소가 되도록 하는 효과가 있다.
도 1은 전자파 장해 측정 시스템의 구성도이다.
도 2는 통신 단말기에 대한 전자파 장해 측정 시스템의 구성도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템의 구성도이다.
도 4은 필터 및 증폭기가 안테나 수직 하방에 위치하는 것을 나타낸 도면이다.
도 5는 무향실이 2중 바닥이고 2중 바닥 사이에 필터 및 증폭기가 위치하는 것을 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자파 측정 시스템의 구성도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 신호 처리 장치의 블록도이다.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
도 1은 전자파 장해 측정 시스템의 구성도이다.
도 1을 참조하면, 시험 대상 기기(EUT : Equipment Under Test, 10)에서 방사되는 전자파는 전자파 측정 안테나(20)에 의해 수신된다. 전자파 측정 안테나(20)에 의해 수신된 전자파는 전기 신호로서 케이블(30)을 통해 분석기(40)로 전달된다. 시험 대상 기기(10)와 전자파 측정 안테나(20)는 무향실(50) 내에 위치할 수 있고, 분석기(40)는 무향실(50) 밖에 위치할 수 있다.
시험 대상 기기(10)는 전자파를 방사하는 전자기기이다. 텔레비전, 전기자동차 및 통신단말기 등 전기를 사용함으로써 전자파를 방사하게 되는 모든 전자기기가 시험 대상 기기(10)가 될 수 있다.
전자파 측정 안테나(20)는 시험 대상 기기(10)로부터 방사되는 전자파를 수신한다. 전자파 측정 안테나(20)의 일 예는 지향성 안테나일 수 있다. 지향성 안테나는 하나 이상의 방향에 대하여 높은 수신 감도를 가질 수 있다. 지향성 안테나의 한 예시 형태가 로그 주기 안테나(log-periodic antenna)이다. 지향성 안테나는 30MHz와 같이 낮은 주파수의 전자파를 측정하는데 사용될 수 있다. 전자파 측정 안테나(20)의 다른 예는 혼 안테나이다. 혼 안테나는 나팔꽃 형상의 메탈로 이루어진 안테나로 300MHz 이상의 높은 주파수의 전자파를 측정하는데 사용될 수 있다.
케이블(30)은 외부의 전자파로부터 영향을 받지 않고 전기 신호를 전달하기 위해 차폐 처리될 수 있다. 차폐 처리된 케이블(30)은 전기 신호를 전달하기 위한 내부 도선이 있고, 이러한 도선을 둘러싸는 차폐막을 가질 수 있다. 차폐막은 금속과 같은 도전성 부재로 이루어지면 그라운드와 연결될 수 있다. 케이블(30)은 차폐막과 내부 도선 사이에 절연막을 포함할 수 있다.
분석기(40)는 전자파 측정 안테나(20)로부터 전달되는 전기 신호를 분석하여 그 결과를 데이터로 출력하거나 화면으로 표시한다. 분석기(40)의 일 예는 파워미터이다. 파워미터는 전기 신호가 가지고 있는 전기에너지의 시간당 값을 분석 혹은 측정하는 장치로서, 시험자는 파워미터로 측정되는 값을 통해 전자파 측정 안테나(20)로부터 전달되는 전기 신호에 대한 파워의 크기를 측정할 수 있다. 분석기(40)의 다른 예는 오실로스코프이다. 오실로스코프는 전기 신호의 시간축 상에서의 파형을 표시하는 장치로서, 시험자는 이러한 오실로스코프를 통해 전자파 측정 안테나(20)로부터 전달되는 전기 신호에 대한 시간축 상의 변화 양상을 파악할 수 있다.
분석기(40)의 또 다른 예는 스펙트럼 분석기이다. 스펙트럼 분석기는 입력되는 전기 신호에 대하여 주파수별 신호의 크기를 측정한다. 전자기기들은 특정 주파수 대역에 해당되는 전자파에 대해 민감할 수 있다. 예를 들어, 통신 단말기의 경우 통신을 위해 사용하는 주파수 대역의 전자파에 영향을 받는 경우 통신 장애를 일으킬 수 있다. 이러한 이유로 전자파 장해를 측정하는 시스템에서는 스펙트럼 분석기를 사용하여 시험 대상 기기(10)에서 방사되는 전자파에 대하여 주파수별 신호의 크기를 측정할 수 있다.
무향실(50)은 전자파가 반사되지 않도록 처리된 방으로 시험 대상 기기(10)에서 방사된 전자파는 무향실(50)의 벽체로 흡수될 수 있다. 무향실(50)의 벽체는 전자파를 흡수할 수 있는 부착물을 포함할 수 있다. 이러한 부착물은 피라미드 형상의 조각들로 이루어질 수 있다. 무향실(50) 내부의 모든 면이 이러한 피라미드 형상의 전자파 흡수 부착물을 포함할 수 있다. 전자파 흡수 부착물의 재질로서는 탄소 및 철의 혼합물을 함유한 발포성 고무가 사용될 수 있다. 무향실(50)의 벽체에 포함되어 있으면서 전자파를 흡수하는 부착물은 전술한 재질과 형태로 제한되는 것은 아니며, 전자파 흡수 부착물은 페라이트(ferrite) 재질의 평판 타일의 형상일 수도 있다.
시험 대상 기기(10)는 모바일 폰과 같은 통신 단말기일 수 있다. 아래에서는 시험 대상 기기(10)가 통신 단말기인 실시예를 중심으로 설명하나 본 발명은 이로 제한되는 것은 아니며, 전자파 장해 측정의 대상이 되는 모든 전자기기는 본 발명에서의 시험 대상 기기(10)가 될 수 있다.
도 2는 통신 단말기(11)에 대한 전자파 장해 측정 시스템의 구성도이다.
도 2를 참조하면, 통신 단말기(11)에 대한 전자파 장해 측정 시스템은 시험 대상 통신 단말기(11), 전자파 측정 안테나(20), 필터(60), 증폭기(70), 분석기(40) 및 테이블(80) 등을 포함할 수 있다.
시험 대상 기기(10)로서의 통신 단말기(11)의 특성 중 하나는 다른 시험 대상 기기(10)가 의도하지 않고 전자파를 방사하는데 반해 통신 단말기(11)는 통신을 위해 일부 대역의 전파를 방사한다는 것이다. 통신 단말기(11)가 방사하는 이러한 대역의 전파는 전자파 장해 측정의 대상이 되지 않는다. 또한, 이러한 대역의 전파는 매우 강한 전파 세기를 가지기 때문에 분석기(40)로 직접 전달될 경우 분석기(40)의 오동작 혹은 고장을 유발할 수 있다. 분석기(40)의 과부하와 파손을 피하기 위해서는 분석기(40)로 일정 크기 이하(예, 150mV 이하)의 전기 신호만 전달해야 한다.
필터(60)는 이러한 통신 주파수 대역의 전파를 감쇠시킬 수 있다. 특정 통신 주파수 대역의 전파를 감쇠시키기 위해 필터(60)에는 밴드 리젝트 필터, 로우 패스 필터 혹은 하이 패스 필터 등이 적용될 수 있다.
또한, 필터(60)는 노이즈를 제거할 수 있다. 시스템을 통해 측정하고자 하는 대역이 30MHz 이상일 경우, 필터(60)에는 30MHz 이하의 신호를 감쇠시키는 하이 패스 필터가 적용될 수 있다.
필터(60)는 특정 통신 주파수 대역의 전파를 감쇠시키는 필터와 노이즈를 제거하는 필터를 모두 포함할 수도 있다. 이 경우, 하나의 필터로서 설계될 수도 있으나, 둘 이상의 단을 가지는 필터(예, 2단 필터)의 형태로 설계될 수도 있다.
분석기(40)는 일정 레벨 이상의 전기 신호를 입력으로 요구할 수 있다. 분석기(40)는 노이즈 플로어(Noise Floor) 레벨을 가지고 있으면서 이러한 레벨 이하의 전기 신호는 크기를 측정하지 못할 수 있다.
증폭기(70)는 전자파 측정 안테나(20)로부터 전달되는 전기 신호를 증폭시킬 수 있다. 증폭기(70)는 전자파 측정 안테나(20)로부터 전달되는 전기 신호를 분석기(40)가 요구하는 수준의 신호 레벨로 증폭시켜 준다.
테이블(80)은 통신 단말기(11)를 고정시키는 역할과 함께 통신 단말기(11)를 회전시키는 역할을 수행한다.
도 2를 참조하면, 테이블(80)은 위에 설치되어 있는 통신 단말기(11)를 참조번호 81과 같이 지평면에 평행하게 360도 회전시킬 수 있다. 통신 단말기(11)는 전방향으로 전자파를 방사하기 때문에 시험자는 참조번호 81과 같이 통신 단말기(11)를 360도 회전시키면서 전자파 장해를 측정하게 된다.
일부 전자기기(텔레비전, 전기자동차 등)는 설치 방향이 고정되어 있어 참조번호 81과 같이 한 평면상으로만 전자파 장해를 측정하여도 된다. 그러나, 통신 단말기(11)는 전방향으로 회전할 수 있는 전자기기이기 때문에 시험자는 참조번호 82와 같은 방향으로도 회전시키면서 잔자파 장해를 측정하게 된다. 참조번호 82의 회전은 테이블(80) 위에 설치되어 있는 회전팔(83)에 의해 수행될 수 있다.
테이블(80)과 회전팔(83)에는 전기모터가 포함되어 있으면서 각각의 회전이 전자동으로 제어될 수 있게 한다.
전자파 측정 안테나(20)는 수평 및 수직 편파 각각에 대해 민감하게 전자파를 수신할 수 있다. 전자파 측정 안테나(20)는 수평 편파에 대하여 전자파 장해를 한 번 측정하고 90도 회전(21)하여 수직 편파에 대하여 전자파 장해를 한 번 측정할 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(300)의 구성도이다.
도 3을 참조하면, 전자파 측정 시스템(300)은 전자파 측정 안테나(20), 필터(60), 증폭기(70), 무향실(50) 및 분석기(40)를 포함할 수 있다. 또한, 전자파 측정 시스템(300)은 도 3에 도시된 것과 같이 실시예에 따라 박스(310)를 더 포함할 수 있다.
시험 대상 기기인 통신 단말기(11)로부터 방사되는 전자파는 전자파 측정 안테나(20)로 수신되고 이렇게 수신된 전자파는 유선을 타고 필터(60)로 전파된다.
필터(60)는 전자파 측정 안테나(20)로부터 전파되는 전기 신호에 대하여 특정 대역의 주파수 성분을 감쇠 처리할 수 있다. 필터(60)가 감쇠 처리하는 특정 대역은 통신 단말기(11)의 통신 주파수 대역에 따라 결정될 수 있다. 예를 들어, 통신 단말기(11)가 GSM(Global System for Mobile communications) 850 밴드에서 통신할 경우, 필터(60)는 850MHz 근처의 주파수 대역을 감쇠처리하고, 통신 단말기(11)가 GSM 1900 밴드에서 통신할 경우, 필터(60)는 1900MHz 근처의 주파수 대역을 감쇠처리한다.
필터(60)로 처리된 전기 신호는 증폭기(70)에 의해 증폭되어 분석기(40)로 전달된다.
도 3을 참조하면, 전자파 측정 시스템(300)에서 시험 대상 기기인 통신 단말기(11), 전자파 측정 안테나(20), 필터(60) 및 증폭기(70)은 무향실(50)에 의해 둘러싸여 있고, 분석기(40)는 무향실(50) 외부에 위치하고 있다.
증폭기(70)는 전자파 측정 안테나(20)로부터 전달되는 전기 신호를 증폭시켜 분석기(40)가 노이즈와 구별되는 전기 신호를 수신할 수 있도록 한다. 증폭기(70)는 통신 단말기(11)에 의해 방사된 전자파에 대한 전기 신호만을 증폭하는 것이 아니고 전자파 측정 안테나(20) 혹은 필터(60)를 통해 전달되는 다른 신호(노이즈) 또한 증폭할 수 있다. 이러한 이유로, 증폭기(70)가 증폭하는 전기 신호에서 정상 신호의 크기는 작고 노이즈 신호의 크기가 클 경우, 증폭기(70)에 의해 증폭된 전기 신호의 효용도가 떨어지게 된다.
증폭기(70)가 전기적으로 신호를 처리하는 프로세스에서는 노이즈 플로어(Noise Floor)가 영향을 미칠 수 있다. 노이즈 플로어란 일종의 최소 잡음 전력이다. 증폭기(70)가 입력으로 들어오는 정상 전기 신호를 증폭할 때, 이러한 정상 전기 신호의 크기가 노이즈 플로어보다 작을 경우 증폭기(70)는 정상 전기 신호와 노이즈 플로어를 구별하지 못하고 정상적으로 증폭 신호를 만들어 낼 수 없게 된다.
전자파 측정 안테나(20)로부터 전달되는 수신된 전자파에 대한 전기 신호는 유선을 타고 전파되면서 그 크기가 점점 감소하게 된다. 유선 케이블에는 라인 저항이 있어 이러한 저항에 의해 전기 에너지의 일부가 소모됨으로써 유선 케이블로 전파되는 전기 신호의 크기는 점점 감소하게 된다.
전자파 측정 안테나(20)로부터 증폭기(70) 사이의 거리가 멀어질수록 증폭기(70)가 증폭시켜야할 전기 신호의 크기는 감소한다. 또한, 전자파 측정 안테나(20)로부터 증폭기(70) 사이의 거리가 멀어질수록 전기 신호가 전달되는 과정에서 노이즈가 유입될 가능성이 커지게 된다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(300)에서 증폭기(70)는 전자파 측정 안테나(20)에 근접하여 위치한다. 전자파 측정 안테나(20)와 증폭기(70) 사이의 거리를 최소화하기 위해 필터(60) 및 증폭기(70)는 무향실(50) 내에 위치한다.
필터(60) 혹은 증폭기(70)는 전자파 차폐 부재를 포함하는 박스(310)로 둘러싸일 수 있다.
박스(310)는 내부에 위치한 필터(60) 혹은 증폭기(70)가 방사시킬 수 있는 전자파가 전자파 측정 안테나(20)로 유입되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 외부에서 발생하는 전자파가 필터(60) 혹은 증폭기(70)로 유입되어 증폭기(70)가 증폭하고자 하는 정상적인 전기 신호에 노이즈를 추가하는 것을 방지할 수 있다. 박스(310)는 금속성 전자파 차폐 부재로 외피를 형성할 수 있는데, 그 두께는 2mm 이상일 수 있다.
필터(60) 혹은 증폭기(70)는 전자파 측정 안테나(20)의 하방에 위치할 수 있다.
또한, 필터(60) 및 증폭기(70)가 박스(310) 내부에 수납될 때, 박스(310)는 시험 대상 기기인 통신 단말기(11) 및 전자파 측정 안테나(20)를 연장하는 선의 수직 하방에 위치할 수 있다.
도 4은 필터 및 증폭기가 안테나 수직 하방에 위치하는 것을 나타낸 도면이다.
도 4를 참조하면, 통신 단말기(11)와 전자파 측정 안테나(20)를 연결하는 가상선(410)에 수직으로 아래 방향(420)에 박스(310)가 위치해 있다.
전자파 측정 안테나(20)는 지향성 안테나로 시험 대상 기기인 통신 단말기(11) 방향에서 방사되는 전자파를 가장 잘 수신하고 다른 방향에서 전파되는 전자파는 잘 수신하지 못하도록 설계되어 있다.
필터(60) 혹은 증폭기(70)가 전술한 가상선(410)에 수직이면서 전자파 측정 안테나(20)의 아래 방향에 위치하는 경우, 필터(60) 혹은 증폭기(70)에서 방사되는 전자파는 전자파 측정 안테나(20)가 수신하기 어려운 방향으로 전파된다.
무향실(50)은 전자파 차폐 부재를 포함하는 2중 바닥을 형성하고, 이러한 2중 바닥 사이의 공간에 필터(60) 혹은 증폭기(70)가 수납될 수 있다.
도 5는 무향실(50)이 2중 바닥이고 2중 바닥 사이에 필터 및 증폭기가 위치하는 것을 나타낸 도면이다.
도 5를 참조하면, 무향실(50)은 상층 바닥(510) 밑으로 공간을 형성하는 2중 바닥 구조를 형성하고 있다. 그리고, 무향실(50)은 이러한 2중 바닥의 사이에 필터(60) 및 증폭기(70)를 수납하고 있다. 상층 바닥(510)은 전자파 차폐 부재를 포함하고 있어, 필터(60) 혹은 증폭기(70)에서 방사하는 전자파가 전자파 측정 안테나(20)로 유입되지 못하도록 차단할 수 있다. 또한 상층 바닥(510)은 전자파 차폐 부재를 포함하고 있어, 시험 대상 기기인 통신 단말기(11)에서 방사되는 전자파가 필터(60) 혹은 증폭기(70)로 유입되는 것을 차단할 수 있다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자파 측정 시스템의 구성도이다.
도 6을 참조하면, 전자파 측정 시스템(600)은 전자파 측정 안테나(20), 신호 처리 장치(610), 무향실(50) 및 분석기(40)를 포함할 수 있다.
시험 대상 기기인 통신 단말기(11)로부터 방사되는 전자파는 전자파 측정 안테나(20)로 수신되고 이렇게 수신된 전자파는 유선을 타고 신호 처리 장치(610)로 전파된다. 신호 처리 장치(610)는 전자파 측정 안테나(20)로부터 전파되어 오는 전기 신호를 처리하여 분석기(40)로 전달한다.
신호 처리 장치(610)는 무향실(50) 안에 설치되는 장치이다. 이는 전자파 측정 안테나(20)와 증폭기(720) 사이의 거리를 최소화하기 위한 구성이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 신호 처리 장치의 블록도이다.
도 7을 참조하면, 신호 처리 장치(610)는 필터(710) 및 증폭기(720)를 포함할 수 있다. 또한, 실시예의 형태에 따라 제어기(740) 및 광전 변환기(750) 등을 더 포함할 수 있다. 신호 처리 장치(610)에서의 필터(710) 및 증폭기(720)를 전술한 필터(60) 및 증폭기(70)와 다른 참조번호를 사용하여 설명하나 이는 설명의 편의를 위한 것이며 도 1 내지 도 5를 참조하여 설명한 필터(60) 및 증폭기(70)의 모든 실시예는 신호 처리 장치(610)에서의 필터(710) 및 증폭기(720)에 적용될 수 있다.
필터(710)는 시험 대상 기기인 통신 단말기(11)로부터 방사되는 전자파를 수신하는 전자파 측정 안테나(20)로부터 전기 신호를 전달받고 이러한 전기 신호에 대하여 특정 대역의 주파수 성분을 감쇠 처리한다.
증폭기(720)는 필터(710)로 처리된 전기 신호의 크기를 증폭시키고 증폭된 전기 신호를 무향실(50) 밖의 분석기(40)로 출력한다.
필터(710) 및 증폭기(720)는 전자파 차폐 부재로 외피를 형성하는 박스(730)로 둘러싸일 수 있다. 박스(730)의 외피를 형성하는 전자파 차폐 부재는 2mm 이상의 두께를 가지는 금속성 전자파 차폐 부재일 수 있다.
신호 처리 장치(610)는 신호 처리 장치의 제반 기능을 제어하는 제어기(740)를 더 포함할 수 있다. 또한, 신호 처리 장치(610)는 광신호 및 전기 신호를 상호 변환하는 광전 변환기(750)를 더 포함할 수 있다.
광전 변환기(750)는 무향실(50) 밖의 다른 장치로부터 광신호를 수신하여 전기 신호로 변환하고, 제어기(740)는 이렇게 변환된 전기 신호를 이용하여 신호 처리 장치(610)를 제어할 수 있다. 예를 들어, 무향실(50) 밖에 주제어 장치(80)가 있을 때, 신호 처리 장치(610)는 광전 변환기(750)를 이용하여 주제어 장치(80)와 광통신을 통해 제어 정보를 송수신할 수 있다. 이러한 방식으로 신호 처리 장치(610)는 주제어 장치(80)로부터 제어 정보를 수신하고 이를 이용하여 제어를 수행할 수 있다.
신호 처리 장치(610)는 광전 변환기(750)를 통해 광통신으로 다른 장치와 정보를 주고 받음으로써 다른 장치와의 전기적 접촉을 피할 수 있다. 신호 처리 장치(610)가 다른 장치와 긴 도선을 통해 전기 신호를 주고 받는 경우 도선을 통해 노이즈가 유입될 수 있고, 이러한 노이즈는 전자파 측정 시스템의 측정 결과에 오류를 유발시킬 수도 있다.
제어기(740)는 광전 변환기(750)를 이용하여 신호 처리 장치(610)의 상태 정보를 무향실(50) 외부 모니터링 장치(80)로 송신할 수도 있다. 제어기(740)는 신호 처리 장치(610)의 상태 정보를 전기 신호로서 광전 변환기(750)로 송신하고, 광전 변환기(750)는 제어기(740)로부터 수신되는 전기 신호를 광신호로 변환하여 무향실(50) 밖의 모니터링 장치(80)로 송신할 수 있다.
신호 처리 장치(610)는 서로 다른 주파수 대역에 대하여 감쇠 처리하는 둘 이상의 필터로 이루어진 필터뱅크를 더 포함할 수 있다. 통신 단말기(11)는 통신 방식에 따라 사용하는 주파수의 대역이 다를 수 있다. 전자파 측정 시험에서 사용 주파수가 다른 여러 대의 통신 단말기(11)에 대하여 시험을 하는 경우, 전자파 측정 시스템(610)은 각각의 사용 주파수에 맞는 필터를 가지고 있어야 한다. 신호 처리 장치(610)는 이러한 각각의 사용 주파수에 맞는 필터를 병렬로 연결한 필터뱅크를 가지고 있으면서 시험을 위해 사용되는 통신 단말기(11)의 사용 주파수에 따라 필터뱅크 내의 필터를 선택할 수 있다. 필터뱅크에서 각각의 필터를 선택하는 것은 전자식 스위치에 따라 전자동으로 제어될 수 있다.
이상에서 기재된 "포함하다", "구성하다" 또는 "가지다" 등의 용어는, 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 해당 구성 요소가 내재될 수 있음을 의미하는 것이므로, 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함한 모든 용어들은, 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥 상의 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

Claims (11)

  1. 무향실;
    상기 무향실 내부에 위치하는 지향성 안테나로서 통신 단말기로부터 방사되는 전자파를 수신하여 라인 저항이 있는 유선 케이블을 통해 전파하는 전자파 측정 안테나;
    상기 무향실 내부에서 상기 통신 단말기 및 상기 전자파 측정 안테나를 연장하는 선의 수직 하방에 위치하고,
    상기 유선 케이블을 통해 상기 전자파 측정 안테나로부터 전기 신호를 수신하고 수신된 전기 신호에 대하여 통신 주파수 대역의 주파수 성분을 감쇠 처리하는 필터,
    상기 필터에 의해 처리된 전기 신호의 크기를 증폭시키는 증폭기 및
    전자파 차폐 부재로 외피를 형성하고 상기 필터 및 상기 증폭기를 수납하는 박스를 포함하는 신호 처리 장치; 및
    상기 무향실 외부에 위치하고 상기 증폭기에 의해 증폭된 전기 신호를 분석 처리하는 분석기
    를 포함하는 전자파 측정 시스템.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    상기 박스는 2mm 이상의 두께를 가지는 금속성 전자파 차폐 부재로 외피를 형성하는 것을 특징으로 하는 전자파 측정 시스템.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 무향실은 전자파 차폐 부재를 포함하는 2중 바닥을 형성하고,
    상기 2중 바닥 사이의 공간에 상기 박스가 수납되는 것을 특징으로 하는 전자파 측정 시스템.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 신호 처리 장치는,
    상기 신호 처리 장치를 제어하는 제어기; 및
    광신호 및 전기 신호를 상호 변환하는 광전 변환기를 더 포함하되,
    상기 광전 변환기는 상기 무향실 외부에 위치하는 다른 장치로부터 광신호를 수신하여 전기 신호로 변환하고, 상기 제어기는 상기 변환된 전기 신호를 이용하여 상기 신호 처리 장치를 제어하는 것을 특징으로 하는 전자파 측정 시스템.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 제어기는 상기 신호 처리 장치에 대한 상태 정보를 전기 신호로서 상기 광전 변환기로 송신하고, 상기 광전 변환기는 상기 제어기로부터 수신되는 전기 신호를 광신호로 변환하여 상기 무향실 외부에 위치하는 모니터링 장치로 송신하는 것을 특징으로 하는 전자파 측정 시스템.
  7. 삭제
  8. 삭제
  9. 삭제
  10. 삭제
  11. 삭제
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