KR101490322B1 - Laser Champering Apparatus for Substrate - Google Patents

Laser Champering Apparatus for Substrate Download PDF

Info

Publication number
KR101490322B1
KR101490322B1 KR20130058473A KR20130058473A KR101490322B1 KR 101490322 B1 KR101490322 B1 KR 101490322B1 KR 20130058473 A KR20130058473 A KR 20130058473A KR 20130058473 A KR20130058473 A KR 20130058473A KR 101490322 B1 KR101490322 B1 KR 101490322B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
substrate
chamfering
unit
line
laser
Prior art date
Application number
KR20130058473A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20140138421A (en
Inventor
이현철
Original Assignee
이노6 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 이노6 주식회사 filed Critical 이노6 주식회사
Priority to KR20130058473A priority Critical patent/KR101490322B1/en
Publication of KR20140138421A publication Critical patent/KR20140138421A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101490322B1 publication Critical patent/KR101490322B1/en

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/36Removing material
    • B23K26/362Laser etching
    • B23K26/364Laser etching for making a groove or trench, e.g. for scribing a break initiation groove
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/08Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
    • B23K26/0823Devices involving rotation of the workpiece
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/08Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
    • B23K26/10Devices involving relative movement between laser beam and workpiece using a fixed support, i.e. involving moving the laser beam
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/70Auxiliary operations or equipment
    • B23K26/702Auxiliary equipment
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2101/00Articles made by soldering, welding or cutting
    • B23K2101/36Electric or electronic devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)

Abstract

본 발명은 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치에 관한 것으로, 기판의 모서리 부위에 챔퍼링 라인을 따라 레이저 빔을 조사하여 더욱 정확하고 절단면의 상태가 매끈한 고품질의 챔퍼링 가공 작업을 수행할 수 있고, 레이저를 이용하여 챔퍼링 가공을 수행함으로써, 챔퍼링 라인을 직선 또는 곡선으로 형성할 수 있으며, 이에 따라 기판의 종류 및 용도에 따라 적합한 형태의 챔퍼링 라인을 다양하게 형성할 수 있고, 기판의 강도를 더욱 향상시켜 제조 과정에서 불량율을 감소시킬 수 있으며, 챔퍼링에 따른 여유 공간을 확보할 수 있어 더욱 다양한 형태의 디자인 구현을 가능하게 하는 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치를 제공한다.The present invention relates to a substrate-chamfering apparatus using a laser, in which a laser beam is irradiated along a chamfering line to a corner of a substrate to perform a chamfering operation of a higher quality with a more accurate and smooth state of a cut surface, The chamfering line can be formed into a straight line or a curved line by performing the chamfering process using the substrate and the chamfering line so that various types of chamfering lines of a suitable shape can be formed according to the type and use of the substrate, The present invention also provides a substrate-chamfering apparatus using a laser, which can reduce the defective rate in the manufacturing process, secure a clearance space due to chamfering, and enable more various types of designs to be implemented.

Description

레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치{Laser Champering Apparatus for Substrate}[0001] The present invention relates to a laser chamfering apparatus for substrate,

본 발명은 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는 기판의 모서리 부위에 챔퍼링 라인을 따라 레이저 빔을 조사하여 더욱 정확하고 절단면의 상태가 매끈한 고품질의 챔퍼링 가공 작업을 수행할 수 있고, 레이저를 이용하여 챔퍼링 가공을 수행함으로써, 챔퍼링 라인을 직선 또는 곡선으로 형성할 수 있으며, 이에 따라 기판의 종류 및 용도에 따라 적합한 형태의 챔퍼링 라인을 다양하게 형성할 수 있고, 기판의 강도를 더욱 향상시켜 제조 과정에서 불량율을 감소시킬 수 있으며, 챔퍼링에 따른 여유 공간을 확보할 수 있어 더욱 다양한 형태의 디자인 구현을 가능하게 하는 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치에 관한 것이다.
The present invention relates to a substrate-chamfering apparatus using a laser. More specifically, it is possible to perform a chamfering process using a laser by irradiating a laser beam along a chamfering line to a corner portion of the substrate, thereby performing a chamfering process with a more accurate and smooth cut surface, The chamfering line can be formed into a straight line or a curved line. Accordingly, it is possible to form various chamfering lines of a suitable shape according to the type and use of the substrate, and to further improve the strength of the substrate, The present invention also relates to a laser abrasive substrate abrading apparatus capable of ensuring a free space due to chamfering and realizing more various types of designs.

최근 핸드폰(Mobile Phone), PDA, 컴퓨터, 대형 TV와 같은 각종 전자기기가 발전함에 따라 이에 적용할 수 있는 평면 디스플레이 장치에 대한 요구가 점차 증대되고 있다.2. Description of the Related Art Recently, various electronic devices such as a mobile phone, a PDA, a computer, and a large-sized TV have been developed.

이러한 평면 디스플레이 장치는 LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), FED(Field Emission Display), VFD(Vacuum Fluorescent Display), OLED(Organic Light Emitting Diodes) 등이 활발히 연구되고 있지만, 양산화 기술, 구동수단의 용이성, 고화질의 구현이라는 이유로 인해 현재 액정표시장치(LCD)가 가장 널리 사용되고 있으나, 최근에는 기술력의 발달로 인해 다양한 장치의 활용이 더욱 증가되고 있는 추세이다.Such a flat display device has been actively studied for a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), a field emission display (FED), a vacuum fluorescent display (VFD), and an organic light emitting diode (OLED) Liquid crystal displays (LCDs) have been widely used for reasons of ease of driving means and high image quality. However, recently, due to the development of technology, various devices are being used more and more.

이러한 평면 디스플레이 장치 등에 사용되는 기판은 일반적으로 각종 소자 등이 실장되는 하부 패널과, 이러한 하부 패널의 상부에 별도의 상부 패널이 결합되는 복합 기판의 형태로 구성된다. 복합 기판은 상부 패널보다 하부 패널이 그 크기가 더 크게 형성되어 하부 패널이 상부 패널의 일측면에 돌출되는 형태로 구성되며, 이와 같이 돌출된 하부 패널의 일측에 외부 기기와의 전기적 접속을 위한 별도의 연결 단자가 배치된다.The substrate used for such a flat panel display device is generally configured in the form of a lower panel on which various devices and the like are mounted and a composite substrate on which an upper panel is coupled to the upper panel. The composite panel is configured such that the lower panel is larger in size than the upper panel, so that the lower panel protrudes from one side of the upper panel, and a separate part for electrical connection with an external device is formed on one side of the protruded lower panel. Are disposed.

이러한 구조에 따라 복합 기판은 하부 패널의 돌출된 부위가 상대적으로 강도가 약하여 제작 과정에서 쉽게 깨지는 등의 문제가 있었으며, 특히 하부 패널의 모서리 부위에서 그러한 파손이 매우 빈번하게 발생하였다. According to such a structure, there is a problem that the protruded portion of the lower panel of the composite substrate is relatively weak in the manufacturing process due to the relatively low strength. Particularly, such breakage occurred at the corner portion of the lower panel.

또한, 최근에는 각종 전자 기기의 초 슬림화 경향에 따라 디스플레이 장치 및 이에 사용되는 복합 기판 또한 더욱 슬림하고 컴팩트한 디자인이 요구되고 있으므로, 복합 기판의 하부 패널에 대한 모서리 부위에서의 손상이 제작 과정 및 운반 과정 등 전체 공정에서 더욱 빈번하게 발생되는 문제가 있었다.In recent years, display devices and composite substrates used therefor have been required to be more slim and compact in design due to the trend of ultra-thinness of various electronic devices. Therefore, There is a problem that it occurs more frequently in the whole process such as a process.

아울러, 최근에는 디스플레이 장치 등에 사용되는 기판이 상판과 하판으로 구성된 복합 기판의 형태가 아니라 하판 만으로 구성되는 단일 기판 형태로 적용하고자 하는 연구가 진행되고 있으며, 이 경우 기판 모서리 부위에서의 손상이 더욱 심화된다는 문제가 있다.
In addition, in recent years, studies have been made to apply a substrate used for a display device or the like to a single substrate composed of only a lower substrate instead of a composite substrate composed of a top substrate and a lower substrate. In this case, .

본 발명은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 발명한 것으로서, 본 발명의 목적은 기판의 모서리 부위에 챔퍼링 라인을 따라 레이저 빔을 조사하여 더욱 정확하고 절단면의 상태가 매끈한 고품질의 챔퍼링 가공 작업을 수행할 수 있는 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치를 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the problems of the prior art, and it is an object of the present invention to provide a method of manufacturing a high-quality chamfering work by accurately irradiating a laser beam along a chamfering line to a corner of a substrate, And to provide a substrate-chamfering device using the laser that can be performed.

본 발명의 다른 목적은 기판의 모서리 부위에 대한 챔퍼링 가공을 레이저를 이용하여 수행하도록 함으로써, 챔퍼링 라인을 직선 또는 곡선으로 형성할 수 있으며, 이에 따라 기판의 종류 및 용도에 따라 적합한 형태의 챔퍼링 라인을 다양하게 형성할 수 있고, 기판의 강도를 더욱 향상시켜 제조 과정에서 불량율을 저감할 수 있으며, 챔퍼링에 따른 여유 공간을 확보할 수 있어 더욱 다양한 형태의 디자인 구현을 가능하게 하는 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치를 제공하는 것이다.It is another object of the present invention to provide a method and apparatus for forming a chamfering line by forming a chamfering line in a straight line or a curved line by performing a chamfering process on a corner portion of a substrate by using a laser, It is possible to variously form the furring line and further improve the strength of the substrate, thereby reducing the defect rate in the manufacturing process, securing the space for chamfering, And to provide a substrate chucking apparatus using the same.

본 발명의 또 다른 목적은 레이저 유닛을 고정시킨 상태로 챔퍼링 라인을 따라 레이저 빔을 조사할 수 있도록 함으로써, 더욱 신속한 공정이 가능하며 장치 전체의 구성을 단순화하고 소형화할 수 있는 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치를 제공하는 것이다.
It is still another object of the present invention to provide a laser processing apparatus and a laser processing method which can irradiate a laser beam along a chamfering line while fixing a laser unit, Thereby providing a furring device.

본 발명은, 기판의 모서리 부위를 챔퍼링하는 기판 챔퍼링 장치에 있어서, 360°를 분할 회전하는 인덱스 테이블; 상기 인덱스 테이블에 기판을 안착시키는 로딩 유닛; 상기 로딩 유닛을 통해 상기 인덱스 테이블에 안착된 기판의 위치를 검사하는 얼라인 유닛; 기판의 모서리 부위에 챔퍼링 라인을 따라 레이저 빔을 조사하여 기판의 모서리 부위를 절단할 수 있는 레이저 유닛; 및 모서리 부위가 절단되어 챔퍼링 처리된 기판을 상기 인덱스 테이블로부터 배출하는 언로딩 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치를 제공한다.According to the present invention, there is provided a substrate chamfering apparatus for chamfering a corner portion of a substrate, comprising: an index table for rotating the substrate by 360 degrees; A loading unit for placing the substrate on the index table; An aligning unit for inspecting the position of the substrate placed on the index table through the loading unit; A laser unit capable of cutting a corner portion of a substrate by irradiating a laser beam along a chamfering line to a corner portion of the substrate; And an unloading unit for unloading the chamfered substrate from the index table by cutting the edge portions of the substrate.

이때, 상기 레이저 유닛의 레이저 빔이 조사되는 챔퍼링 라인은 직선 또는 곡선으로 형성될 수 있다.At this time, the chamfering line irradiated with the laser beam of the laser unit may be formed as a straight line or a curved line.

이때, 상기 챔퍼링 라인이 곡선으로 형성되는 경우, 상기 레이저 유닛은 상기 챔퍼링 라인을 따라 레이저 빔을 조사하여 기판에 대한 모서리 부위를 절단하도록 동작 제어될 수 있다.At this time, when the chamfering line is formed into a curve, the laser unit may be controlled to be operated to irradiate a laser beam along the chamfering line to cut a corner portion with respect to the substrate.

또한, 상기 챔퍼링 라인이 직선으로 형성되는 경우, 상기 레이저 유닛은 상기 챔퍼링 라인을 따라 레이저 빔을 조사하여 기판에 대한 모서리 부위에 스크라이빙 라인을 형성하도록 동작 제어되고, 상기 레이저 유닛에 의해 형성된 스크라이빙 라인을 따라 기판의 모서리 부위를 브레이킹 절단하는 브레이킹 절단 유닛이 더 구비될 수 있다.Further, when the chamfering line is formed in a straight line, the laser unit is controlled to operate a laser beam along the chamfering line to form a scribing line at a corner portion with respect to the substrate, And a braking cutting unit for braking and cutting the edge portion of the substrate along the formed scribing line.

이때, 상기 브레이킹 절단 유닛은 기판의 모서리 부위를 하향 가압하며 브레이킹 절단하는 절단 핀; 상기 절단 핀을 상하 직선 이동시키는 핀 구동 모듈; 상기 절단 핀에 의해 절단되는 기판의 모서리 부위를 지지하도록 상기 절단 핀의 하부에 상하 탄성 이동 가능하게 배치되는 브레이킹 패드; 및 상기 브레이킹 패드에 안착된 절단 조각을 제거하도록 공기를 분사하는 에어 블로어를 포함하여 구성될 수 있다.The braking and cutting unit may include a cutting pin for bending and cutting a corner portion of the substrate downward; A pin driving module for vertically moving the cutting pin; A braking pad disposed at a lower portion of the cutting pin so as to support a corner portion of the substrate cut by the cutting pin so as to be elastically movable upward and downward; And an air blower that blows air to remove a cutting piece seated on the breaking pad.

또한, 상기 로딩 유닛 및 언로딩 유닛은 진공압을 통해 기판을 진공 압착 또는 압착 해제하는 방식으로 기판을 부착 또는 부착 해제시키는 압착 패드; 상기 압착 패드를 상하 이동시키는 실린더 모듈; 및 상기 실린더 모듈을 수평 방향으로 직선 이동시키는 수평 이송 모듈을 포함하여 구성될 수 있다.Further, the loading unit and the unloading unit may include a compression pad for attaching or detaching a substrate in a vacuum press or a press release state of the substrate through vacuum pressure; A cylinder module for vertically moving the pressing pad; And a horizontal transfer module for linearly moving the cylinder module in a horizontal direction.

또한, 상기 레이저 유닛은 레이저 빔을 발생시키는 레이저 발생기; 상기 레이저 발생기로부터 발생된 레이저 빔을 반사하여 상기 챔퍼링 라인을 따라 조사되도록 레이저 빔의 진행 경로를 조절하는 갈바노미터; 및 상기 갈바노미터로부터 반사된 레이저 빔이 기판에 대해 수직 방향으로 조사되도록 레이저 빔을 포커싱하는 텔레센트릭 렌즈를 포함하여 구성될 수 있다.The laser unit may further include a laser generator for generating a laser beam; A galvanometer which reflects the laser beam generated from the laser generator and adjusts the path of the laser beam to be irradiated along the chamfering line; And a telecentric lens for focusing the laser beam such that the laser beam reflected from the galvanometer is irradiated in a direction perpendicular to the substrate.

한편, 상기 레이저 유닛에 의해 조사되는 레이저 빔은 초단파 레이저 빔으로 적용되고, 상기 초단파 레이저 빔은 파장: 500nm ~ 1100nm, 펄스 폭: 100fs ~ 20ps, 주파수: 200kHz ~ 2000kHz 범위로 형성될 수 있다.
Meanwhile, the laser beam irradiated by the laser unit is applied as a microwave laser beam, and the microwave laser beam may have a wavelength of 500 nm to 1100 nm, a pulse width of 100 fs to 20 ps, and a frequency of 200 kHz to 2000 kHz.

본 발명에 의하면, 기판의 모서리 부위에 챔퍼링 라인을 따라 레이저 빔을 조사하여 더욱 정확하고 절단면의 상태가 매끈한 고품질의 챔퍼링 가공 작업을 수행할 수 있는 효과가 있다.According to the present invention, a laser beam is irradiated along a chamfering line to a corner portion of a substrate, thereby achieving a more accurate and high-quality chamfering work with a smooth cutting surface.

또한, 기판의 모서리 부위에 대한 챔퍼링 가공을 레이저를 이용하여 수행하도록 함으로써, 챔퍼링 라인을 직선 또는 곡선으로 형성할 수 있으며, 이에 따라 기판의 종류 및 용도에 따라 적합한 형태의 챔퍼링 라인을 다양하게 형성할 수 있고, 기판의 강도를 더욱 향상시켜 제조 과정에서 불량율을 저감할 수 있으며, 챔퍼링에 따른 여유 공간을 확보할 수 있어 더욱 다양한 형태의 디자인 구현을 가능하게 하는 효과가 있다.Further, by chamfering the corners of the substrate by using a laser, the chamfering line can be formed into a straight line or a curved line, so that chamfering lines of a suitable shape can be variously In addition, it is possible to further improve the strength of the substrate, to reduce the defective rate in the manufacturing process, to secure a clearance space due to chamfering, and to realize more various forms of design implementation.

또한, 레이저 유닛을 고정시킨 상태로 챔퍼링 라인을 따라 레이저 빔을 조사할 수 있도록 함으로써, 더욱 신속한 공정이 가능하며 장치 전체의 구성을 단순화하고 소형화할 수 있는 효과가 있다.
Further, by allowing the laser beam to be irradiated along the chamfering line in a state where the laser unit is fixed, it is possible to perform a more rapid process, and the structure of the entire device can be simplified and miniaturized.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 챔퍼링 장치의 구성을 개략적으로 도시한 개략도,
도 2 및 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 챔퍼링 장치를 이용한 챔퍼링 공정 순서를 개략적으로 도시한 공정도,
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 챔퍼링 장치를 통한 챔퍼링 라인의 형상을 예시적으로 도시한 도면,
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 챔퍼링 장치의 로딩 유닛 및 언로딩 유닛에 대한 구성을 개략적으로 도시한 도면,
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 챔퍼링 장치의 레이저 유닛에 대한 구성을 개략적으로 도시한 도면,
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 챔퍼링 장치의 브레이킹 절단 유닛에 대한 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a schematic view schematically showing the configuration of a substrate-chamfering apparatus according to an embodiment of the present invention;
FIG. 2 and FIG. 3 are schematic views illustrating a procedure of a chamfering process using a substrate-chamfering apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG.
FIG. 4 is an exemplary illustration of the shape of a chamfering line through a substrate-chamfering apparatus according to an embodiment of the present invention;
5 is a schematic view illustrating a configuration of a loading unit and an unloading unit of a substrate-chamfering apparatus according to an embodiment of the present invention;
6 is a schematic view illustrating a configuration of a laser unit of a substrate-chamfering apparatus according to an embodiment of the present invention;
7 is a view schematically showing a configuration of a breaking cutting unit of a substrate-chamfering apparatus according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. 우선 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the drawings, the same reference numerals are used to designate the same or similar components throughout the drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 챔퍼링 장치의 구성을 개략적으로 도시한 개략도이고, 도 2 및 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 챔퍼링 장치를 이용한 챔퍼링 공정 순서를 개략적으로 도시한 공정도이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 챔퍼링 장치를 통한 챔퍼링 라인의 형상을 예시적으로 도시한 도면이다.FIG. 1 is a schematic view schematically showing the configuration of a substrate-chamfering apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 2 and 3 illustrate a procedure of a chamfering process using a substrate-chamfering apparatus according to an embodiment of the present invention FIG. 4 is an exemplary view showing the shape of a chamfering line through a substrate-chamfering apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG.

먼저, 복합 기판(10)은 종래 기술에서 설명한 바와 같이 각종 평면 디스플레이 장치 등에 사용되는 기판이 적용될 수 있는데, 이러한 복합 기판(10)은 도 1 내지 도 3에 도시된 바와 같이 상부 패널(11)과 하부 패널(12)로 구성되며, 하부 패널(12)이 상부 패널(11)보다 더 크게 형성되어 상부 패널(11)로부터 돌출되는 형태로 구성된다. 하부 패널(12)의 돌출 부위에는 외부 기기와의 전기적 접속을 위한 별도의 연결 단자(13)가 장착된다.First, the composite substrate 10 may be a substrate used for various flat display devices as described in the related art. Such a composite substrate 10 may include an upper panel 11, And the lower panel 12 is formed to be larger than the upper panel 11 and protruded from the upper panel 11. [ A separate connection terminal 13 for electrical connection with an external device is mounted on the protruding portion of the lower panel 12.

본 발명의 일 실시예에 따른 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치는 이러한 복합 기판(10)에 대해 상부 패널(11)보다 돌출된 하부 패널(12)의 모서리 부위를 레이저 빔을 이용하여 챔퍼링하는 장치로서, 인덱스 테이블(100), 로딩 유닛(300a), 얼라인 유닛(200), 레이저 유닛(400) 및 언로딩 유닛(300b)을 포함하여 구성되며, 브레이킹 절단 유닛(500)을 더 포함하여 구성될 수 있다.The apparatus for chamfering a substrate using a laser according to an embodiment of the present invention includes a device for chamfering a corner portion of a lower panel 12 protruding from the upper panel 11 with respect to the composite substrate 10 using a laser beam And a braking cutting unit 500. The braking cutting unit 500 includes an index table 100, a loading unit 300a, an aligning unit 200, a laser unit 400 and an unloading unit 300b. .

인덱스 테이블(100)은 360°를 분할 회전하도록 구성되는데, 인덱스 테이블(100)의 상면에는 분할 회전 각도에 대응하도록 원주 방향을 따라 다수개의 기판 안착부(110)가 형성되며, 각각의 기판 안착부(110)에 복합 기판(10)이 공급 안착되도록 구성된다.The index table 100 is configured to rotate 360 degrees in a divided manner. On the upper surface of the index table 100, a plurality of substrate seating parts 110 are formed along the circumferential direction corresponding to the split rotation angle, And the composite substrate 10 is supplied and placed on the substrate 110.

로딩 유닛(300a)은 별도의 공급부(미도시)로부터 복합 기판(10)을 공급받아 인덱스 테이블(100)의 기판 안착부(110)에 복합 기판(10)을 안착시키는 구성으로, 복합 기판(10)을 파지하여 인덱스 테이블(100)의 정위치에 복합 기판(10)을 이송시키는 다양한 방식으로 구성될 수 있다. The loading unit 300a is configured to receive the composite substrate 10 from a separate supply unit (not shown) and seat the composite substrate 10 on the substrate seating unit 110 of the index table 100. The composite substrate 10 And then transferring the composite substrate 10 to a predetermined position of the index table 100. [0034] FIG.

얼라인 유닛(200)은 로딩 유닛(300a)을 통해 인덱스 테이블(100)에 안착된 복합 기판(10)이 정위치에 안착되었는지 복합 기판(10)의 위치를 검사하는 구성으로, 별도의 카메라(미도시)를 이용하여 복합 기판(10)의 위치 상태를 검사하는 방식으로 구성될 수 있다. 이러한 얼라인 유닛(200)은 다양한 크기의 복합 기판(10)에 대해 적용할 수 있도록 2개의 카메라를 직선 이동 가능하게 장착하고, 카메라의 촬영 각도를 조절하는 미러와, 조명을 위한 백라이트를 구비하는 방식으로 구성될 수 있으며, 이외에도 복합 기판(10)의 위치를 검사할 수 있는 다양한 방식으로 구성될 수 있다.The alignment unit 200 has a configuration for inspecting the position of the composite substrate 10 whether the composite substrate 10 seated on the index table 100 is seated in the correct position through the loading unit 300a, (Not shown) may be used to check the positional state of the composite substrate 10. The alignment unit 200 includes two mirrors for linearly movably mounting two cameras, which can be applied to composite substrates 10 of various sizes, a mirror for adjusting the angle of view of the camera, and a backlight for illumination And may be configured in various manners in which the position of the composite substrate 10 can be inspected.

레이저 유닛(400)은 하부 패널(12)의 모서리 부위에 챔퍼링 라인(C)을 따라 레이저 빔(L)을 조사하도록 구성되는데, 이러한 레이저 유닛(400)은 레이저 빔(L)의 조사를 통해 챔퍼링 라인(C)을 따라 하부 패널(12)의 모서리 부위를 풀 커팅하거나 또는 스크라이빙 라인을 형성하는 방식으로 구성될 수 있다. 만약, 레이저 유닛(400)이 하부 패널(12)의 모서리 부위에 스크라이빙 라인을 형성하도록 동작 제어되는 경우라면, 하부 패널(12)의 모서리 부위를 스크라이빙 라인을 따라 절단할 수 있도록 별도의 브레이킹 절단 유닛(500)이 더 구비될 수 있다.The laser unit 400 is configured to irradiate a laser beam L along a chamfering line C to an edge portion of the lower panel 12 by irradiating the laser beam L Cutting the corner portions of the lower panel 12 along the chamfering line C or forming a scribing line. If the laser unit 400 is controlled so as to form a scribing line at a corner of the lower panel 12, the edge of the lower panel 12 may be separately cut to be cut along the scribing line The braking / cutting unit 500 may be further provided.

즉, 도 2에 도시된 바와 같이 복합 기판(10)에 대해 하부 패널(12)의 모서리 부위에 챔퍼링 라인(C)을 따라 레이저 유닛(400)이 레이저 빔(L)을 조사하고, 이러한 레이저 빔(L)에 의해 하부 패널(12)의 모서리 부위(C1)가 풀 커팅되어 절단되도록 구성될 수 있다. 또는 도 3에 도시된 바와 같이 복합 기판(10)에 대해 하부 패널(12)의 모서리 부위에 챔퍼링 라인(C)을 따라 레이저 유닛(400)이 레이저 빔(L)을 조사하고, 이러한 레이저 빔(L)에 의해 챔퍼링 라인(C)을 따라 스크라이빙 라인이 형성되고, 스크라이빙 라인이 형성된 상태에서 브레이킹 절단 유닛(500)에 의해 하부 패널(12)의 모서리 부위(C1)가 스크라이빙 라인을 따라 절단되도록 구성될 수 있다.2, the laser unit 400 irradiates the laser beam L along the chamfering line C to the edge of the lower panel 12 with respect to the composite substrate 10, And the edge portion C1 of the lower panel 12 is pulled and cut by the beam L. [ The laser unit 400 irradiates the laser beam L along the chamfering line C to the edge of the lower panel 12 with respect to the composite substrate 10 as shown in Fig. The scribing line is formed along the chamfering line C by the bending cutting unit 500 and the edge portion C1 of the lower panel 12 is cut by the breaking cutting unit 500 in the state where the scribing line is formed May be configured to be cut along the crying line.

이와 같이 레이저 유닛(400)이 하부 패널(12)의 모서리 부위를 풀 커팅하거나 또는 스크라이빙 라인 형성하도록 구성될 수 있는데, 이는 사용자의 필요에 따라 다양하게 설정할 수 있다. 예를 들어, 챔퍼링 가공의 신속성을 위해서는 레이저 유닛(400)에 의해 스크라이빙 라인을 형성하고 브레이킹 절단 유닛(500)을 이용하여 절단 작업을 수행하도록 구성할 수 있으며, 챔퍼링 가공의 정확성 및 절단면의 고품질을 위해서는 레이저 유닛(400)에 의해 풀 커팅되도록 구성할 수 있다.As described above, the laser unit 400 may be configured to cut the edges of the lower panel 12 to a full cut or to form scribe lines, which may be variously set according to the needs of the user. For example, to speed up the chamfering process, the laser unit 400 may be configured to form a scribe line and perform a cutting operation using the braking cut unit 500, and the accuracy of the chamfering process and / It can be configured to be pull-cut by the laser unit 400 for high quality of the cut surface.

특히, 본 발명에서는 레이저 유닛(400)을 이용하여 챔퍼링 작업을 수행하기 때문에, 하부 패널(12)의 모서리 부위에 형성되는 챔퍼링 라인(C)을 직선 또는 곡선으로 형성할 수 있으며, 이러한 챔퍼링 라인(C)의 종류에 따라 레이저 유닛(400)이 풀 커팅하거나 또는 스크라이빙 라인을 형성하도록 구성할 수 있다.Particularly, in the present invention, since the chamfering operation is performed using the laser unit 400, the chamfering line C formed at the corner of the lower panel 12 can be formed into a straight line or a curved line, Depending on the type of the furring line C, the laser unit 400 can be configured to be either full-cut or to form a scribe line.

예를 들면, 챔퍼링 라인(C)이 직선으로 형성되는 경우에는, 상대적으로 브레이킹 절단 작업을 정밀하게 수행할 수 있기 때문에, 작업의 신속성을 위해 레이저 유닛(400)이 챔퍼링 라인(C)을 따라 직선 형태의 스크라이빙 라인을 형성하고 브레이킹 절단 유닛(500)을 통해 하부 패널(12)의 모서리 부위를 절단하도록 구성하는 것이 바람직하다. 반면, 챔퍼링 라인(C)이 곡선으로 형성되는 경우에는, 브레이킹 절단 작업의 정확성이 상대적으로 감소되므로, 레이저 유닛(400)에 의해 챔퍼링 라인을 따라 하부 패널(12)의 모서리 부위를 풀 커팅하도록 구성하는 것이 바람직하다.For example, in the case where the chamfering line C is formed in a straight line, since the braking cutting operation can be performed relatively precisely, the laser unit 400 can be moved to the chamfering line C It is preferable to form the scribing line in a straight line shape and cut the edge portion of the lower panel 12 through the breaking cutting unit 500. On the other hand, when the chamfering line C is formed as a curved line, the accuracy of the breaking cutting operation is relatively reduced, so that the edge portion of the lower panel 12 along the chamfering line is cut by the laser unit 400, .

이와 같은 챔퍼링 라인(C)은 도 4에 도시된 바와 같이 직선 및 곡선 형태로 다양하게 형성될 수 있으며, 이외에도 사용자의 필요에 따라 또 다른 다양한 형태로 변경 가능하다. 이와 같이 다양한 형태의 챔퍼링 라인(C)이 가능하기 때문에, 복합 기판(10)의 종류에 따라 적합한 형태의 챔퍼링 라인(C)을 형성할 수 있고, 이에 따라 강도를 더욱 향상시킬 수 있고, 필요없는 부분을 챔퍼링 가공함으로써, 여유 공간을 확보할 수 있어 더욱 다양한 부품 실장 배치 상태 및 디자인을 구현할 수 있다.The chamfering line C may be formed in various shapes, such as a straight line and a curved line, as shown in FIG. 4. In addition, the chamfering line C may be changed into various other forms according to the needs of the user. Since the various types of chamfering lines C are possible in this way, it is possible to form chamfering lines C of a suitable shape according to the type of the composite substrate 10, thereby further improving the strength, By chamfering the unnecessary portions, it is possible to secure a clearance space and realize more various component mounting arrangement state and design.

한편, 이와 같은 레이저 유닛(400)에 의해 조사되는 레이저 빔은 본 발명의 일 실시예에 따라 초단파 레이저 빔이 적용되는 것이 바람직하다. 초단파 레이저는 물질에 열 영향을 최소화하고 물질을 순간적으로 절단할 수 있으며, 절단면이 매끄러운 고품질의 절단 가공이 가능한 장점이 있다. 이러한 초단파 레이저는 본 발명의 일 실시예에 따라 파장: 500nm ~ 1100nm, 펄스 폭: 100fs ~ 20ps, 주파수: 200kHz ~ 2000kHz 범위를 이용하는 것이 바람직하다.Meanwhile, the laser beam irradiated by the laser unit 400 is preferably applied with a microwave laser beam according to an embodiment of the present invention. The microwave laser has the advantage of being able to cut the material instantaneously with minimal thermal effects on the material, and to cut the cutting surface smoothly and with high quality. According to an embodiment of the present invention, the microwave laser preferably has a wavelength of 500 nm to 1100 nm, a pulse width of 100 fs to 20 ps, and a frequency of 200 kHz to 2000 kHz.

언로딩 유닛(300b)은 레이저 유닛(400) 또는 브레이킹 절단 유닛(500)에 의해 하부 패널(12)의 모서리 부위가 절단되어 챔퍼링 처리된 복합 기판(10)을 인덱스 테이블(100)로부터 배출하는 구성으로, 인덱스 테이블(100)에 안착된 복합 기판(10)을 파지하여 인덱스 테이블(100)의 외부에 위치한 별도의 배출부(미도시)로 이송시키는 다양한 방식으로 구성될 수 있으며, 이는 전술한 로딩 유닛(300a)과 대응되는 동일한 방식으로 구성될 수 있다.The unloading unit 300b is configured to remove the edge of the lower panel 12 by the laser unit 400 or the breaking cutting unit 500 and discharge the chamfered composite substrate 10 from the index table 100 (Not shown) positioned outside the index table 100. The index plate 100 may be configured in various manners, such as the above-described method of holding the composite substrate 10 held on the index table 100, And may be configured in the same manner as the loading unit 300a.

이와 같은 로딩 유닛(300a), 얼라인 유닛(200), 레이저 유닛(400), 브레이킹 절단 유닛(500) 및 언로딩 유닛(300b)은 도 1에 도시된 바와 같이 인덱스 테이블(100)의 회전 방향을 따라 순차적으로 배치되는데, 브레이킹 절단 유닛(500)과 언로딩 유닛(300b) 사이에는 별도의 검사 유닛(600)이 구비될 수 있고, 언로딩 유닛(300b)과 로딩 유닛(300a) 사이에는 별도의 청소 유닛(700)이 더 구비될 수 있다. 따라서, 레이저 유닛(400) 또는 브레이킹 절단 유닛(500)에 의해 하부 패널(12)의 모서리 부위가 절단되어 챔퍼링 처리된 복합 기판(10)은 언로딩 유닛(300b)에 의해 인덱스 테이블(100)로부터 배출되기 전에 검사 유닛(600)을 통해 챔퍼링 상태가 검사되도록 구성되고, 언로딩 유닛(300b)에 의해 복합 기판(10)이 배출된 이후, 인덱스 테이블(100)의 해당 위치는 별도의 청소 유닛(700)에 의해 청소되도록 구성된다.
1, the loading unit 300a, the aligning unit 200, the laser unit 400, the braking cutting unit 500, and the unloading unit 300b are disposed in the rotational direction of the index table 100 A separate inspection unit 600 may be provided between the breaking cutting unit 500 and the unloading unit 300b and may be separately provided between the unloading unit 300b and the loading unit 300a. A cleaning unit 700 may be further provided. The composite substrate 10 having the edge portions of the lower panel 12 cut by the laser unit 400 or the breaking cutting unit 500 and subjected to the chamfering treatment is removed from the index table 100 by the unloading unit 300b. And the chamfered state is checked through the inspection unit 600 before being discharged from the index table 100. After the composite substrate 10 is discharged by the unloading unit 300b, Is cleaned by the unit (700).

다음으로, 도 5 내지 도 7을 중심으로 세부 구성에 대해 좀 더 자세히 살펴본다.Next, the detailed configuration will be described in more detail with reference to Figs. 5 to 7.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 챔퍼링 장치의 로딩 유닛 및 언로딩 유닛에 대한 구성을 개략적으로 도시한 도면이고, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 챔퍼링 장치의 레이저 유닛에 대한 구성을 개략적으로 도시한 도면이고, 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 챔퍼링 장치의 브레이킹 절단 유닛에 대한 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.FIG. 5 is a schematic view illustrating a configuration of a loading unit and an unloading unit of a substrate-chamfering apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a cross- FIG. 7 is a view schematically showing a configuration of a breaking cutting unit of a substrate-chamfering apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG.

본 발명의 일 실시예에 따른 로딩 유닛(300a) 및 언로딩 유닛(300b)은 전술한 바와 같이 복합 기판(10)을 파지하여 이송시키는 서로 동일한 형태로 구성될 수 있는데, 도 5에 도시된 바와 같이 진공압을 통해 복합 기판(10)을 진공 압착하거나 압착 해제하는 방식으로 복합 기판(10)을 부착 또는 부착 해제하는 압착 패드(310)와, 압착 패드(310)를 상하 이동시키는 실린더 모듈(320)과, 실린더 모듈(320)을 수평 방향으로 직선 이동시키는 수평 이송 모듈(330)을 포함하여 구성된다.The loading unit 300a and the unloading unit 300b according to an embodiment of the present invention may be configured in the same manner as each other for gripping and transferring the composite substrate 10 as described above, A pressing pad 310 for attaching or detaching the composite substrate 10 in such a manner that the composite substrate 10 is vacuum-pressed or uncompressed through vacuum pressure, a cylinder module 320 for moving the pressing pad 310 up and down And a horizontal transfer module 330 for linearly moving the cylinder module 320 in the horizontal direction.

압착 패드(310)는 별도의 진공 파이프(312)의 일단에 결합되고, 진공 파이프(312)에는 도시되지는 않았으나 별도의 공기압 호스(미도시)가 연결되어 공기압 호스를 통해 진공압을 공급하거나 공급 해제함으로써, 압착 패드(310)가 진공압에 의해 복합 기판(10)을 부착 또는 부착 해제하도록 구성될 수 있다. 이러한 압착 패드(310) 및 진공 파이프(312)는 별도의 지지 브래킷(311)에 연결 결합될 수 있으며, 실린더 모듈(320)은 이러한 지지 브래킷(311)을 상하 이동시키도록 구성될 수 있다. 실린더 모듈(320)은 공기압 또는 유압을 이용한 방식으로 구성된다. 수평 이송 모듈(330)은 실린더 모듈(320)을 수평 방향으로 인덱스 테이블(100)을 향해 근접 또는 원격 방향으로 이동시킨다.A separate pneumatic hose (not shown) is connected to the vacuum pipe 312 to supply or supply the vacuum pressure through the pneumatic hose 312. The vacuum pneumatic hose 310 is connected to one end of the vacuum pipe 312, The pressing pad 310 can be configured to attach or detach the composite substrate 10 by the vacuum pressure. The compression pad 310 and the vacuum pipe 312 may be connected to a separate support bracket 311 and the cylinder module 320 may be configured to move the support bracket 311 up and down. The cylinder module 320 is configured in a manner using air pressure or hydraulic pressure. The horizontal transfer module 330 moves the cylinder module 320 in the horizontal direction toward the index table 100 in the close or remote direction.

이러한 구조에 따라 압착 패드(310)가 복합 기판(10)을 부착시킨 상태로 상하 또는 수평 이동하며 복합 기판(10)을 별도의 저장대(20)로부터 인덱스 테이블(100)에 공급 안착시키거나 또는 인덱스 테이블(100)로부터 별도의 저장대(20)로 배출시키는 방식으로 작동하게 된다.
According to this structure, the pressing pad 310 is vertically or horizontally moved with the composite substrate 10 attached thereto, and the composite substrate 10 is supplied to the index table 100 from a separate storage bin 20, And is discharged from the index table 100 to a separate storage bin 20.

레이저 유닛(400)은 도 6에 도시된 바와 같이 레이저 빔(L)을 발생시키는 레이저 발생기(410)와, 레이저 발생기(410)로부터 발생된 레이저 빔(L)을 반사하여 챔퍼링 라인(C)을 따라 조사되도록 레이저 빔(L)의 진행 경로를 조절하는 갈바노미터(420)와, 갈바노미터(420)로부터 반사된 레이저 빔(L)이 하부 패널(12)에 대해 수직 방향으로 조사되도록 레이저 빔(L)을 포커싱하는 텔레센트릭 렌즈(430)를 포함하여 구성된다.The laser unit 400 includes a laser generator 410 for generating a laser beam L as shown in FIG. 6, a laser beam generator 400 for reflecting the laser beam L generated from the laser generator 410, And a laser beam L reflected from the galvanometer 420 is irradiated in a direction perpendicular to the lower panel 12 so that the laser beam L reflected from the galvanometer 420 is irradiated And a telecentric lens 430 for focusing the laser beam L. [

즉, 레이저 발생기(410)로부터 발생된 레이저 빔(L)은 갈바노미터(420) 내부의 반사 미러(421)에 의해 반사되며 진행 경로가 조절되며, 반사 미러(421)에 의해 반사된 레이저 빔(L)은 텔레센트릭 렌즈(430)를 통과하며 하부 패널(12)에 대해 수직 방향으로 조사되도록 구성된다. 이때, 갈바노미터(420)의 반사 미러(421)는 레이저 빔(L)의 진행 경로를 조절할 수 있도록 회전 가능하게 장착되며, 텔레센트릭 렌즈(430)는 다수개 배치되어 어느 방향의 레이저 빔(L)에 대해서도 항상 하부 패널(12)에 대해 수직 방향으로 조사되도록 레이저 빔(L)을 챔퍼링 라인(C)을 따라 포커싱한다. That is, the laser beam L generated from the laser generator 410 is reflected by the reflection mirror 421 inside the galvanometer 420, the path of the laser beam is adjusted, and the laser beam L reflected by the reflection mirror 421 (L) is configured to pass through the telecentric lens 430 and to be irradiated in a direction perpendicular to the lower panel 12. At this time, the reflecting mirror 421 of the galvanometer 420 is rotatably mounted so as to adjust the traveling path of the laser beam L, and a plurality of the telecentric lenses 430 are arranged, The laser beam L is focused along the chamfering line C so that the laser beam L is always irradiated in a direction perpendicular to the lower panel 12. [

이와 같이 레이저 빔(L)이 하부 패널(12)에 대해 직각 방향으로 조사되기 때문에, 도 6의 확대도에 도시된 바와 같이 하부 패널(12)에는 챔퍼링 라인(C)을 따라 좌우 대칭으로 균일한 형태의 절단 라인을 형성할 수 있다. 이때, 레이저 빔(L)의 초점 위치를 조절함에 따라 하부 패널(12)의 모서리 부위를 풀 커팅하거나 또는 스크라이빙 라인을 형성할 수 있다.Since the laser beam L is irradiated in a direction perpendicular to the lower panel 12 as described above, as shown in the enlarged view of FIG. 6, the lower panel 12 is provided with uniformity One type of cutting line can be formed. At this time, by adjusting the focal position of the laser beam L, the edge portion of the lower panel 12 can be cut by a full cut or a scribing line can be formed.

이와 같은 구조에 따라 레이저 유닛(400)은 챔퍼링 라인(C)을 따라 레이저 빔(L)을 조사하는 과정에서 챔퍼링 라인(C)을 따라 이동하지 않고 고정된 상태로 유지되며, 갈바노미터(420) 및 텔레센트릭 렌즈(430)를 이용하여 레이저 빔(L)이 챔퍼링 라인(C)을 따라 직각 방향으로 조사되도록 작동한다. 따라서, 레이저 유닛(400)을 전체적으로 이동시키지 않고 챔퍼링 공정을 수행할 수 있어 더욱 신속한 작업이 가능하며, 장치 전체의 구성을 단순화 소형화할 수 있다.
According to this structure, the laser unit 400 is kept in a fixed state without moving along the chamfering line C in the process of irradiating the laser beam L along the chamfering line C, The laser beam L is irradiated in a direction perpendicular to the chamfering line C using the laser beam 420 and the telecentric lens 430. [ Therefore, the chamfering process can be performed without moving the laser unit 400 as a whole, so that the work can be performed more quickly, and the configuration of the whole apparatus can be simplified and miniaturized.

브레이킹 절단 유닛(500)은 도 7에 도시된 바와 같이 레이저 유닛(400)에 의해 챔퍼링 라인(C)을 따라 스크라이빙 라인이 형성된 하부 패널(12)의 모서리 부위를 브레이킹 방식으로 절단하는 장치로서, 하부 패널(12)의 모서리 부위를 하향 가압하며 브레이킹 절단하는 절단 핀(510)과, 절단 핀(510)을 상하 직선 이동시키는 핀 구동 모듈(520)과, 절단 핀(510)에 의해 절단되는 하부 패널(12)의 모서리 부위를 지지하도록 절단 핀(510)의 하부에 상하 탄성 이동 가능하게 배치되는 브레이킹 패드(530)와, 브레이킹 패드(530)에 안착된 절단 조각 또는 이물질을 제거하도록 공기를 분사하는 에어 블로어(540)를 포함하여 구성된다.The braking cutting unit 500 is a device for breaking the edge portions of the lower panel 12 formed with the scribing lines along the chamfering line C by the laser unit 400 as shown in Fig. A pin driving module 520 for vertically and linearly moving the cutting pin 510 and a cutting pin 510 for cutting and cutting the edge of the lower panel 12 by a cutting pin 510. [ A breaking pad 530 disposed on the lower portion of the cutting pin 510 to vertically and elastically movably disposed to support a corner portion of the lower panel 12 to be cut, And an air blower 540 that blows air.

절단 핀(510)은 별도의 가동 블록(511)에 결합되며, 핀 구동 모듈(520)은 이러한 가동 블록(511)을 상하 이동시키도록 구성된다. 핀 구동 모듈(520)은 실린더 방식 또는 모터에 의한 리드 스크류 방식 등 다양한 형태로 구성될 수 있다. 브레이킹 패드(530)는 하부에 탄성 스프링(531)이 장착되어 상하 탄성 이동 가능하게 장착되며, 절단 핀(510)이 하향 가압되지 않은 상태에서 하부 패널(12)의 모서리 부위를 상향 지지하도록 배치되고, 절단 핀(510)이 하향 가압함에 따라 하부 패널(12)의 모서리 부위와 함께 하향 이동하며 하부 패널(12)의 모서리 부위가 원활하고 안정적으로 절단되도록 보조하는 기능을 수행한다. 에어 블로어(540)는 하부 패널(12)의 모서리 부위가 절단된 상태로 브레이킹 패드(530)의 상면에 남아있지 않도록 브레이킹 패드(530)의 상면에 공기를 분사하도록 구성된다.The cutting pin 510 is coupled to a separate movable block 511, and the pin driving module 520 is configured to move the movable block 511 up and down. The pin drive module 520 may be configured in various forms such as a cylinder type or a lead screw type by a motor. The breaking pad 530 is mounted so as to be vertically and elastically movable with an elastic spring 531 mounted thereunder and is arranged to support the corner portion of the lower panel 12 upward in a state in which the cutting pin 510 is not pressed downward The cutting pin 510 moves downward together with the corner of the lower panel 12 as the lowering pin 510 is pressed downward to assist smooth and stable cutting of the corner of the lower panel 12. [ The air blower 540 is configured to blow air onto the upper surface of the breaking pad 530 such that the corner of the lower panel 12 is not left on the upper surface of the breaking pad 530 in a cut state.

이때, 브레이킹 패드(530)는 단순 블록 형태로 형성되어 수평면이 하부 패널(12)의 모서리 부위를 지지하는 형태로 형성될 수도 있으나, 이와 달리 원통 형상으로 형성되어 원주면이 하부 패널(12)의 모서리 부위를 지지하는 형태로 형성될 수도 있는 등 다양한 형태로 변경 가능하다. 이때, 브레이킹 패드(530)가 원통 형상으로 형성되는 경우, 브레이킹 패드(530)는 길이 방향의 축을 중심으로 회전하도록, 즉, 브레이킹 패드(530)의 원주면이 회전하도록 장착될 수 있으며, 이를 통해 하부 패널(12)의 절단된 모서리 부위가 브레이킹 패드(530)에 접촉된 상태에서 브레이킹 패드(530)로부터 용이하게 분리될 수 있다.
At this time, the breaking pad 530 may be formed in a simple block shape so that the horizontal surface supports the edge portion of the lower panel 12, but otherwise, the breaking pad 530 may be formed in a cylindrical shape, Or may be formed in a shape that supports the corner portion. At this time, when the breaking pad 530 is formed in a cylindrical shape, the breaking pad 530 may be mounted to rotate about a longitudinal axis, that is, the circumferential surface of the breaking pad 530 may be rotated, The cut edge portion of the lower panel 12 can be easily separated from the breaking pad 530 in contact with the breaking pad 530. [

이상에서는 본 발명의 일 실시예에 따른 챔퍼링 장치가 복합 기판(10)의 하부 패널(12) 모서리 부위를 절단하는 것으로 설명하였으나, 본 발명에 따른 챔퍼링 장치는 이러한 복합 기판(10) 뿐만 아니라 단일 기판에 대해서도 동일한 방식으로 적용될 수 있다. 즉, 단일 기판의 모서리 부위를 이상에서 설명한 절단 방식과 동일한 방식으로 레이저 빔을 이용하여 절단할 수 있다. 예를 들면, 4각형 형태의 단일 기판인 경우, 4개 모서리 부위를 직선 또는 곡선 챔퍼링 라인을 따라 모두 절단하는 방식으로 챔퍼링 가공할 수 있다. 물론, 레이저 빔을 이용하여 풀커팅하거나 또는 레이저 빔을 이용하여 스크라이빙 라인을 형성하고 브레이킹 절단 유닛을 통해 절단하는 방식 모두 적용될 수 있다.
Although the chamfering apparatus according to an embodiment of the present invention has been described as cutting the corner of the lower panel 12 of the composite substrate 10 as described above, the chamfering apparatus according to the present invention is not limited to the composite substrate 10 The same method can be applied to a single substrate. That is, a corner portion of a single substrate can be cut using a laser beam in the same manner as the above-described cutting method. For example, in the case of a single substrate in the form of a quadrangle, chamfering may be performed by cutting all four corner portions along a straight or curved chamfering line. Of course, either a full cut using a laser beam or a laser beam to form a scribing line and cutting through a breaking cutting unit can be applied.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
The foregoing description is merely illustrative of the technical idea of the present invention and various changes and modifications may be made by those skilled in the art without departing from the essential characteristics of the present invention. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are intended to illustrate rather than limit the scope of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas falling within the scope of the same shall be construed as falling within the scope of the present invention.

10: 복합 기판 11: 상부 패널
12: 하부 패널 100: 인덱스 테이블
200: 얼라인 유닛 300a: 로딩 유닛
300b: 언로딩 유닛 310: 압착 패드
320: 실린더 모듈 330: 수평 이송 모듈
400: 레이저 유닛 410: 레이저 발생기
420: 갈바노미터 430: 텔레센트릭 렌즈
500: 브레이킹 절단 유닛 510: 절단 핀
520: 핀 구동 모듈 530: 브레이킹 패드
540: 에어 블로어 600: 검사 유닛
700: 청소 유닛
10: composite substrate 11: upper panel
12: lower panel 100: index table
200: alignment unit 300a: loading unit
300b: Unloading unit 310: Crimp pad
320: Cylinder module 330: Horizontal feed module
400: laser unit 410: laser generator
420: Galvanometer 430: Telecentric lens
500: breaking cutting unit 510: cutting pin
520: pin drive module 530: breaking pad
540: Air blower 600: Inspection unit
700: Cleaning unit

Claims (8)

기판의 모서리 부위를 챔퍼링하는 기판 챔퍼링 장치에 있어서,
360°를 분할 회전하는 인덱스 테이블;
상기 인덱스 테이블에 기판을 안착시키는 로딩 유닛;
상기 로딩 유닛을 통해 상기 인덱스 테이블에 안착된 기판의 위치를 검사하는 얼라인 유닛;
기판의 모서리 부위에 챔퍼링 라인을 따라 레이저 빔을 기판에 대해 수직 방향으로 조사하여 기판의 모서리 부위에 스크라이빙 라인을 형성하는 고정된 하나의 레이저 유닛;
상기 하나의 레이저 유닛에 의해 형성된 스크라이빙 라인을 따라 기판의 모서리 부위를 브레이킹 절단하는 브레이킹 절단 유닛; 및
모서리 부위가 절단되어 챔퍼링 처리된 기판을 상기 인덱스 테이블로부터 배출하는 언로딩 유닛을 포함하고,
상기 브레이킹 절단 유닛은
기판의 모서리 부위를 하향 가압하며 브레이킹 절단하는 절단 핀;
상기 절단 핀을 상하 직선 이동시키는 핀 구동 모듈;
원통 형상으로 형성되고, 상기 절단 핀에 의해 절단되는 기판의 모서리 부위를 상기 원통 형상의 원주면이 기판의 하부에서 지지하도록 상기 절단 핀의 하부에 상하 탄성 이동 가능하게 배치되는 브레이킹 패드; 및
상기 브레이킹 패드에 안착된 절단 조각을 제거하도록 공기를 분사하는 에어 블로어를 포함하고,
상기 브레이킹 패드는 상기 원통 형상의 길이 방향의 축을 중심으로 회전가능한, 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치.
A substrate chamfering apparatus for chamfering corner portions of a substrate,
An index table for rotating 360 ° in a divided manner;
A loading unit for placing the substrate on the index table;
An aligning unit for inspecting the position of the substrate placed on the index table through the loading unit;
A fixed laser unit for irradiating a laser beam along a chamfering line to a corner portion of the substrate in a direction perpendicular to the substrate to form a scribing line at an edge portion of the substrate;
A braking cutting unit braking and cutting a corner portion of the substrate along a scribe line formed by the one laser unit; And
And an unloading unit for discharging the chamfered substrate from the index table,
The braking and cutting unit
A cutting pin for bending and cutting the edge portion of the substrate downward;
A pin driving module for vertically moving the cutting pin;
A braking pad formed in a cylindrical shape and arranged to be movable up and down under the cutting pin so as to support a corner portion of the substrate cut by the cutting pin at a lower portion of the substrate; And
And an air blower for blowing air to remove a cutting piece seated on the breaking pad,
Wherein the breaking pad is rotatable about a longitudinal axis of the cylindrical shape.
제 1 항에 있어서,
상기 하나의 레이저 유닛의 레이저 빔이 조사되는 챔퍼링 라인은 직선 또는 곡선으로 형성되는, 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the chamfering line to which the laser beam of the one laser unit is irradiated is formed in a straight line or a curved line.
제 2 항에 있어서,
상기 챔퍼링 라인이 곡선으로 형성되는 경우, 상기 하나의 레이저 유닛은 상기 챔퍼링 라인을 따라 레이저 빔을 조사하여 기판에 대한 모서리 부위를 절단하도록 동작 제어되는, 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein when the chamfering line is formed into a curved line, the one laser unit is controlled to irradiate a laser beam along the chamfering line to cut a corner portion with respect to the substrate.
제 2 항에 있어서,
상기 챔퍼링 라인이 직선으로 형성되는 경우, 상기 하나의 레이저 유닛은 상기 챔퍼링 라인을 따라 레이저 빔을 조사하여 기판에 대한 모서리 부위에 스크라이빙 라인을 형성하도록 동작 제어되는, 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the one laser unit is operatively controlled to irradiate a laser beam along the chamfering line to form a scribe line at a corner of the substrate when the chamfering line is formed in a straight line, Furring device.
삭제delete 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 로딩 유닛 및 언로딩 유닛은
진공압을 통해 기판을 진공 압착 또는 압착 해제하는 방식으로 기판을 부착 또는 부착 해제시키는 압착 패드;
상기 압착 패드를 상하 이동시키는 실린더 모듈; 및
상기 실린더 모듈을 수평 방향으로 직선 이동시키는 수평 이송 모듈
을 포함하는, 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치.
5. The method according to any one of claims 1 to 4,
The loading unit and the unloading unit
A pressing pad for attaching or detaching the substrate by vacuum pressing or pressing off the substrate through vacuum pressure;
A cylinder module for vertically moving the pressing pad; And
A horizontal feed module for linearly moving the cylinder module in a horizontal direction,
Wherein the substrate is a substrate.
제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 하나의 레이저 유닛은
레이저 빔을 발생시키는 레이저 발생기;
상기 레이저 발생기로부터 발생된 레이저 빔을 반사하여 상기 챔퍼링 라인을 따라 조사되도록 레이저 빔의 진행 경로를 조절하는 갈바노미터; 및
상기 갈바노미터로부터 반사된 레이저 빔이 기판에 대해 수직 방향으로 조사되도록 레이저 빔을 포커싱하는 텔레센트릭 렌즈를 포함하는, 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치.
5. The method according to any one of claims 1 to 4,
The one laser unit
A laser generator for generating a laser beam;
A galvanometer which reflects the laser beam generated from the laser generator and adjusts the path of the laser beam to be irradiated along the chamfering line; And
And a telecentric lens for focusing the laser beam such that the laser beam reflected from the galvanometer is directed in a direction perpendicular to the substrate.
제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 하나의 레이저 유닛에 의해 조사되는 레이저 빔은 초단파 레이저 빔으로 적용되고, 상기 초단파 레이저 빔은 파장: 500nm ~ 1100nm, 펄스 폭: 100fs ~ 20ps, 주파수: 200kHz ~ 2000kHz 범위로 형성되는, 레이저를 이용한 기판 챔퍼링 장치.
5. The method according to any one of claims 1 to 4,
Wherein the laser beam irradiated by the one laser unit is applied as a microwave laser beam and the microwave laser beam is formed in a range of a wavelength of 500 nm to 1100 nm, a pulse width of 100 fs to 20 ps, and a frequency of 200 kHz to 2000 kHz Substrate chamfering device.
KR20130058473A 2013-05-23 2013-05-23 Laser Champering Apparatus for Substrate KR101490322B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20130058473A KR101490322B1 (en) 2013-05-23 2013-05-23 Laser Champering Apparatus for Substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20130058473A KR101490322B1 (en) 2013-05-23 2013-05-23 Laser Champering Apparatus for Substrate

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140138421A KR20140138421A (en) 2014-12-04
KR101490322B1 true KR101490322B1 (en) 2015-02-04

Family

ID=52459111

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR20130058473A KR101490322B1 (en) 2013-05-23 2013-05-23 Laser Champering Apparatus for Substrate

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101490322B1 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108296677B (en) * 2018-01-24 2019-11-12 江苏理工学院 A kind of flabellum shape welder
DE102018119313B4 (en) * 2018-08-08 2023-03-30 Rogers Germany Gmbh Process for processing a metal-ceramic substrate and installation for carrying out the process

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10259041A (en) * 1997-03-19 1998-09-29 Fujitsu Ltd Laminated glass substrate structure and its production
KR20050118535A (en) * 2004-06-14 2005-12-19 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Apparutus and method for grinding panel
KR20110024553A (en) * 2009-09-02 2011-03-09 삼성모바일디스플레이주식회사 Substrate cutting appartus and method for cutting substrate using the same
KR20110068630A (en) * 2009-12-16 2011-06-22 (주)하드램 Apparatus for cutting substrate using laser

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10259041A (en) * 1997-03-19 1998-09-29 Fujitsu Ltd Laminated glass substrate structure and its production
KR20050118535A (en) * 2004-06-14 2005-12-19 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Apparutus and method for grinding panel
KR20110024553A (en) * 2009-09-02 2011-03-09 삼성모바일디스플레이주식회사 Substrate cutting appartus and method for cutting substrate using the same
KR20110068630A (en) * 2009-12-16 2011-06-22 (주)하드램 Apparatus for cutting substrate using laser

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140138421A (en) 2014-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7409730B2 (en) laser reflow equipment
KR20100007272A (en) In-line cutting system for display panel and manufacturing method for display panel using the same
CN206966145U (en) A kind of cell phone back light source vision automatic checkout equipment
TW201801839A (en) Electrostatic chuck table
TW201544879A (en) Optical orientation treatment device
KR20160009561A (en) System for manufacturing optical display device
KR101490322B1 (en) Laser Champering Apparatus for Substrate
KR100921662B1 (en) Apparatus and method for cutting substrate using UV laser
CN107301974B (en) Method for processing wafer
TWI831794B (en) Workpiece separation device and workpiece separation method
KR101490318B1 (en) Laser Edge Healing Apparatus for Substrate
CN108511382B (en) Application method of electrostatic chuck workbench
KR100824962B1 (en) Apparatus and method for cutting substrate using ultrafast frequency laser
KR101229799B1 (en) Laser repair device
KR20200047260A (en) Method and device for inspecting defect of optical film
KR101913579B1 (en) Apparatus for etching substrates
KR101912747B1 (en) Apparatus for etching substrates
JP2009251529A (en) Lighting inspection apparatus
KR20170061621A (en) Apparatus and method for manufacturing a display device member
CN108982547B (en) Device for detecting depression of glass substrate
KR100622410B1 (en) Tft-lcd module assembly assembling apparatus and tft-lcd module assembly assembling method using the same
KR100811115B1 (en) Exhaust hole processing method for display panel
CN115847038A (en) Full-automatic lens assembling and dispensing all-in-one machine and production line thereof
KR102353207B1 (en) Scribing apparatus
KR20150056399A (en) Device for glass cutting

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20181224

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200303

Year of fee payment: 6