KR101477034B1 - Substrate transfer apparatus - Google Patents
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Abstract
본 발명은 복수 매의 기판들을 연속적으로 공정 챔버로 로딩/언로딩하여 기판 반송 시간을 절약하여 생산성을 향상시킬 수 있는 기판 처리 시스템에 관한 것이다. 본 발명에 따른 기판 처리 시스템은, 외부로부터 기판들이 제공되는 제1기판 출입구를 갖는 트랜스퍼 챔버; 제1,2기판 지지부와 상기 트랜스퍼 챔버와 연결되는 제2기판 출입구를 포함하는 공정 챔버; 및 상기 트랜스퍼 챔버에 설치되며, 상기 제1기판출입구를 통하여 외부로부터 처리 전 기판들을 인수받아 상기 제1,2기판 지지부로 반송하고, 상기 제1,2기판 지지부로부터 처리 후 기판들을 상기 제1기판 출입구를 통하여 외부로 인계하는 기판 반송 장치를 포함하며, 상기 기판 반송 장치는, 상기 제1기판 출입구를 통해 기판들을 인수인계하는 위치와, 상기 제1,2기판 지지부로 기판을 반송하기 위한 위치 간을 회동하는 제1반송부 및 제2반송부를 포함하며, 상기 제1반송부는, 상기 제1기판 출입구와 대향되는 위치에 구비되는 제1스핀들과; 상기 제1스핀들에 결합되며, 제1회전반경을 갖고 제1회전각만큼 제1방향으로 회동하며 상기 제2기판 지지부로 기판을 반송하는 제1회전 플레이트암을 포함하고, 상기 제2반송부는, 상기 제1기판 출입구와 대향되는 위치에 상기 제1스핀들 보다 상기 제1기판 출입구 쪽으로 가깝게 배치되는 제2스핀들과; 상기 제2스핀들에 결합되며, 제2회전반경을 갖고 제2회전각만큼 상기 제1방향으로 회동하며 상기 제2기판 지지부 보다 상기 기판들을 인수인계하는 위치로부터 멀게 배치된 상기 제1기판 지지부에 기판을 반송하는 제2회전 플레이트암을 포함하고, 상기 기판들을 인수인계하는 위치는 상기 제1기판 출입구의 전방에 형성되고, 상기 기판들을 인수인계하는 위치에서 상기 제1회전 플레이트암과 상기 제2회전 플레이트암의 단부는 하나의 정렬선에 수직으로 정렬되고, 상기 제2회전 플레이트암의 제2회전반경은 상기 제1회전 플레이트암의 제1회전반경보다 회전 반경이 작고, 제2회전각이 상기 제1회전각 보다 큰 것을 특징으로 한다. The present invention relates to a substrate processing system capable of improving productivity by saving a substrate transfer time by continuously loading / unloading a plurality of substrates into a process chamber. A substrate processing system according to the present invention includes: a transfer chamber having a first substrate entry port through which substrates are provided from the outside; A process chamber including first and second substrate supporting portions and a second substrate entrance port connected to the transfer chamber; And transfer chambers provided in the transfer chamber and receiving substrates from the outside through the first substrate entry / exit port and transferring the substrates to the first and second substrate support sections, And a substrate transfer device for transferring the substrate to the outside via an entrance, wherein the substrate transfer device is configured to transfer a substrate between the position for taking over the substrates through the first substrate entrance and the position for transferring the substrate to the first and second substrate supporting parts The first conveying portion includes a first spindle disposed at a position opposite to the first substrate entrance, and a second conveying portion that rotates the first conveying portion and the second conveying portion. And a first rotating plate arm coupled to the first spindle and having a first rotation radius and rotating in a first direction by a first rotation angle and for transporting the substrate to the second substrate support, A second spindle disposed closer to the first substrate entrance port than the first spindle at a position opposite to the first substrate entry / exit port; A first substrate support portion coupled to the second spindle, the first substrate support portion having a second radius of rotation and pivotable in a first direction by a second rotation angle and away from a position that takes over the substrates from the second substrate support portion, Wherein a position for taking over the substrates is formed in front of the first substrate entry / exit port, and the first rotation plate arm and the second rotation plate Wherein an end portion of the plate arm is vertically aligned with one alignment line, a second rotation radius of the second rotation plate arm is smaller than a first rotation radius of the first rotation plate arm, And is larger than the first rotation angle.
기판, 이송, 챔버 Substrate, transport, chamber
Description
본 발명은 기판 처리 시스템에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로는 복수 매의 기판들을 연속적으로 공정 챔버로 로딩/언로딩하여 기판 반송 시간을 절약하여 생산성을 향상 시킬 수 있는 기판 처리 시스템에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE
최근, 액정 디스플레이 장치, 플라즈마 디스플레이 장치, 반도체 장치들의 제조를 위한 기판 처리 설비들은 복수 매의 기판을 일관해서 처리할 수 있는 클러스터 시스템이 일반적으로 채용되고 있다.2. Description of the Related Art In recent years, a liquid crystal display device, a plasma display device, and a substrate processing apparatus for manufacturing semiconductor devices have generally employed a cluster system capable of processing a plurality of substrates in a single process.
일반적으로, 클러스터(cluster) 시스템은 이송 로봇(또는 핸들러; handler)과 그 주위에 마련된 복수의 기판 처리 모듈을 포함하는 멀티 챔버형 기판 처리 시스템을 지칭한다. Generally, a cluster system refers to a multi-chamber type substrate processing system that includes a transfer robot (or handler) and a plurality of substrate processing modules provided therearound.
클러스터 시스템은 반송실(transfer chamber)과 반송실내에 회동이 자유롭게 마련된 이송 로봇을 구비한다. 반송실의 각 변에는 기판의 처리 공정을 수행하기 위한 공정 챔버가 장착된다. 이와 같은 클러스터 시스템은 복수개의 기판을 동시에 처리하거나 또는 여러 공정을 연속해서 진행 할 수 있도록 함으로 기판 처리량을 높이고 있다. 기판 처리량을 높이기 위한 또 다른 노력으로는 하나의 공정 챔 버에서 복수 매의 기판을 동시에 처리하도록 하여 시간당 기판 처리량을 높이도록 하고 있다.The cluster system includes a transfer chamber and a transfer robot provided freely rotatable in the transfer chamber. At each side of the transport chamber, a process chamber for carrying out the processing process of the substrate is mounted. Such a cluster system increases the throughput of a substrate by simultaneously processing a plurality of substrates or allowing various processes to proceed in succession. Another effort to increase substrate throughput is to process a plurality of substrates simultaneously in one process chamber to increase the substrate throughput per hour.
그런데, 공정 챔버가 복수 매의 기판을 동시(또는 연속적으로)에 처리하더라도 공정 챔버에 처리 전후의 기판들이 효율적으로 교환되지 못하는 경우 시간적 손실이 발생하게 된다.However, even if a plurality of substrates are processed simultaneously (or continuously) in the process chamber, a time loss occurs if the substrates can not be efficiently exchanged in the process chamber.
또한, 통상적인 클러스터 시스템은 6각형의 반송실을 구성하는 데 있어서(기본적으로 4개의 공정 챔버와 2개의 로드락 챔버로 구성되는 경우), 반송실이 차지하는 면적 때문에 설비전체의 면적은 물론, 제조 라인 내의 설비배치에 있어서 중시되는 설비폭이 필요이상으로 증가되고, 반송실을 진공상태로 유지시키는 데 필요한 진공설비의 규모가 증가되어 장치비 및 설치비가 증가하게 된다. 또한, 이러한 반송실의 면적은, 설치되는 공정챔버의 개수가 증가함에 따라서 더욱 가중된다. In addition, in a typical cluster system, in forming a hexagonal transport chamber (basically composed of four process chambers and two load lock chambers), due to the area occupied by the transport chamber, The installation width of the facility in the line is increased more than necessary and the scale of the vacuum equipment required to keep the transport chamber in a vacuum is increased to increase the equipment cost and installation cost. Further, the area of the transport chamber is further increased as the number of process chambers to be installed increases.
그럼으로 복수 매의 기판을 처리하는 공정 챔버에서 복수 매의 기판을 동시(또는 연속적으로)에 처리하는 것과 더불어 처리 전후의 기판들을 보다 효율적으로 교환할 수 있는 기판 이송 장치가 개발되고 있다. Thus, a substrate transfer apparatus capable of more efficiently exchanging substrates before and after processing, in addition to simultaneously (or continuously) processing a plurality of substrates in a process chamber for processing a plurality of substrates has been developed.
본 발명은 효율적으로 기판을 이송할 수 있는 기판 반송 장치를 갖는 기판 처리 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a substrate processing system having a substrate transfer apparatus capable of efficiently transferring a substrate.
또한, 본 발명은 기판의 반송 시간을 감소시켜 생산성을 향상시킬 수 있는 기판 처리 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다. It is another object of the present invention to provide a substrate processing system capable of reducing the substrate transportation time and improving productivity.
또한, 본 발명은 작은 설비 면적을 가지는 기판 처리 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.It is another object of the present invention to provide a substrate processing system having a small facility area.
또한, 본 발명은 불필요한 진공면적으로 축소함으로써 장치비 및 설치비를 최소화할 수 있는 기판 처리 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.It is another object of the present invention to provide a substrate processing system capable of minimizing an apparatus cost and an installation cost by reducing to an unnecessary vacuum area.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 기판 처리 시스템은, 외부로부터 기판들이 제공되는 제1기판 출입구를 갖는 트랜스퍼 챔버; 제1,2기판 지지부와 상기 트랜스퍼 챔버와 연결되는 제2기판 출입구를 포함하는 공정 챔버; 및 상기 트랜스퍼 챔버에 설치되며, 상기 제1기판출입구를 통하여 외부로부터 처리 전 기판들을 인수받아 상기 제1,2기판 지지부로 반송하고, 상기 제1,2기판 지지부로부터 처리 후 기판들을 상기 제1기판 출입구를 통하여 외부로 인계하는 기판 반송 장치를 포함하며, 상기 기판 반송 장치는, 상기 제1기판 출입구를 통해 기판들을 인수인계하는 위치와, 상기 제1,2기판 지지부로 기판을 반송하기 위한 위치 간을 회동하는 제1반송부 및 제2반송부를 포함하며, 상기 제1반송부는, 상기 제1기판 출입구와 대향되는 위치에 구비되는 제1스핀들과; 상기 제1스핀들에 결합되며, 제1회전반경을 갖고 제1회전각만큼 제1방향으로 회동하며 상기 제2기판 지지부로 기판을 반송하는 제1회전 플레이트암을 포함하고, 상기 제2반송부는, 상기 제1기판 출입구와 대향되는 위치에 상기 제1스핀들 보다 상기 제1기판 출입구 쪽으로 가깝게 배치되는 제2스핀들과; 상기 제2스핀들에 결합되며, 제2회전반경을 갖고 제2회전각만큼 상기 제1방향으로 회동하며 상기 제2기판 지지부 보다 상기 기판들을 인수인계하는 위치로부터 멀게 배치된 상기 제1기판 지지부에 기판을 반송하는 제2회전 플레이트암을 포함하고, 상기 기판들을 인수인계하는 위치는 상기 제1기판 출입구의 전방에 형성되고, 상기 기판들을 인수인계하는 위치에서 상기 제1회전 플레이트암과 상기 제2회전 플레이트암의 단부는 하나의 정렬선에 수직으로 정렬되고, 상기 제2회전 플레이트암의 제2회전반경은 상기 제1회전 플레이트암의 제1회전반경보다 회전 반경이 작고, 제2회전각이 상기 제1회전각 보다 큰 것을 특징으로 한다. According to an aspect of the present invention, there is provided a substrate processing system including: a transfer chamber having a first substrate entrance port through which substrates are provided from the outside; A process chamber including first and second substrate supporting portions and a second substrate entrance port connected to the transfer chamber; And transfer chambers provided in the transfer chamber and receiving substrates from the outside through the first substrate entry / exit port and transferring the substrates to the first and second substrate support sections, And a substrate transfer device for transferring the substrate to the outside via an entrance, wherein the substrate transfer device is configured to transfer a substrate between the position for taking over the substrates through the first substrate entrance and the position for transferring the substrate to the first and second substrate supporting parts The first conveying portion includes a first spindle disposed at a position opposite to the first substrate entrance, and a second conveying portion that rotates the first conveying portion and the second conveying portion. And a first rotating plate arm coupled to the first spindle and having a first rotation radius and rotating in a first direction by a first rotation angle and for transporting the substrate to the second substrate support, A second spindle disposed closer to the first substrate entrance port than the first spindle at a position opposite to the first substrate entry / exit port; A first substrate support portion coupled to the second spindle, the first substrate support portion having a second radius of rotation and pivotable in a first direction by a second rotation angle and away from a position that takes over the substrates from the second substrate support portion, Wherein a position for taking over the substrates is formed in front of the first substrate entry / exit port, and the first rotation plate arm and the second rotation plate Wherein an end portion of the plate arm is vertically aligned with one alignment line, a second rotation radius of the second rotation plate arm is smaller than a first rotation radius of the first rotation plate arm, And is larger than the first rotation angle.
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본 발명은 복수 매의 기판을 동시에 또는 연속적으로 처리하는 기판 처리 설비에서 처리 전/후의 기판 교환을 신속히 수행할 수 있어서 설비의 처리율을 높여서 전체적인 기판의 생산성을 높일 수 있다. 또한, 기판의 로딩과 언로딩을 동시에 수행하는 기판 이송 장치가 제공됨으로서 복수 매의 기판 처리를 위한 공정 챔버의 구현이 매우 용이하다. 또한, 본 발명은 기판의 반송 시간을 감소시켜 생산성을 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명은 시스템의 면적 및 시스템 폭을 획기적으로 축소시킴으로써 장치비 및 설치비를 최소화할 수 있다. The present invention can rapidly perform substrate exchange before and after processing in a substrate processing facility for simultaneously or continuously processing a plurality of substrates, thereby increasing the throughput of facilities and increasing the productivity of the entire substrate. In addition, since a substrate transfer apparatus that simultaneously performs loading and unloading of a substrate is provided, it is very easy to implement a process chamber for processing a plurality of substrates. Further, the present invention can improve the productivity by reducing the substrate transportation time. Further, the present invention can minimize the apparatus cost and the installation cost by drastically reducing the area and system width of the system.
본 발명을 충분히 이해하기 위해서 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참조하여 설명한다. 본 발명의 실시예는 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상세히 설명하는 실시예로 한정되는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 실시예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공 되어지는 것이다. 따라서 도면에서의 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해서 과장되어 표현될 수 있다. 각 도면에서 동일한 부재는 동일한 참조부호로 도시한 경우가 있음을 유의하여야 한다. 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 기술은 생략된다.For a better understanding of the present invention, a preferred embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. The embodiments of the present invention may be modified into various forms, and the scope of the present invention should not be construed as being limited to the embodiments described in detail below. The present embodiments are provided to enable those skilled in the art to more fully understand the present invention. Therefore, the shapes and the like of the elements in the drawings can be exaggeratedly expressed to emphasize a clearer description. It should be noted that in the drawings, the same members are denoted by the same reference numerals. Detailed descriptions of well-known functions and constructions which may be unnecessarily obscured by the gist of the present invention are omitted.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명의 기판 이송 장치 및 그것을 사용한 기판 처리 설비를 상세히 설명한다. 또, 상기 도면들에서 동일한 기능을 수행하는 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호를 병기한다. Hereinafter, a substrate transfer apparatus and a substrate processing apparatus using the same according to the present invention will be described in detail with reference to the preferred embodiments of the present invention with reference to the accompanying drawings. In the drawings, the same reference numerals are used to denote elements performing the same function.
본 발명의 기본적인 의도는 복수 매의 기판 처리 능력을 구비한 기판 처리 시스템에서 보다 효율적인 기판 교환 방식을 제공함으로서 생산성을 높이고 시스템의 면적 및 폭을 획기적으로 줄일 수 있도록 하는데 있다. The basic intention of the present invention is to provide a more efficient substrate exchange system in a substrate processing system having a plurality of substrate processing capabilities, thereby improving productivity and drastically reducing the area and width of the system.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 기판 처리 시스템을 보여주는 도면이다. 1 is a view showing a substrate processing system according to an embodiment of the present invention.
도면을 참조하면, 기판 처리 시스템(1)은 제1,2기판 지지부(230,220)가 설치된 공정 챔버(200)가 구비되고, 공정 챔버(200)와 나란하게 트랜스퍼 챔버(300)가 제공된다. 기판 처리 시스템(1)의 전방에는 캐리어(C)가 장착되는 인덱스(800)가 구비되며 인덱스(800)와 트랜스퍼 챔버(300) 사이에는 로드락 챔버(700)가 구비된다.The
인덱스(800)는 설비 전방 단부 모듈(equipment front end module, 이하 EFEM)이라고도 하며, 때로는 로드 락 챔버(700)를 포괄하여 명칭 된다. 로드락 챔버(700)에는 필요에 따라 처리 후 기판을 냉각하기 위한 냉각 챔버(미도시됨)가 구 비될 수 있다. 또는 트랜스퍼 챔버(300)가 냉각 처리 기능을 수행하도록 한다면, 별도의 냉각 챔버는 생략될 수도 있을 것이다. 공정 챔버(200)로 진행하는 기판에 대한 예열이 필요한 경우에도 별도의 예열 챔버(미도시됨)를 구비하도록 할 수 있으며, 냉각 챔버 또는 트랜스퍼 챔버가 예열 기능을 수행하도록 한다면 별도로 구비치 않을 수도 있다.
트랜스퍼 챔버(300)와 로드락 챔버(700) 사이에는 제1기판 출입구(310)가 개설되어 있으며, 트랜스퍼 챔버(300)와 공정 챔버(200) 사이에는 제2기판 출입구(210)가 개설되어 있다. 제1,2기판 출입구(310,210)는 각각 슬릿 밸브(미도시됨)에 의해 개폐 작동된다. A first
로드 락 챔버(700)는 대기압에서 동작되는 대기압 반송 로봇(400)이 구비된다. 대기압 반송 로봇(400)은 트랜스퍼 챔버(300)와 인덱스(800) 사이에서 기판 이송을 담당하며, 회동, 승강 및 하강이 가능하다. 대기압 반송 로봇(400)은 캐리어(C)로부터 일회 동작에 2장의 기판(W)을 반출하여 트랜스퍼 챔버(300)로 반입할 수 있고, 2 장의 처리전 기판과 2 장의 처리후 기판을 동시에 교환할 수 있도록 4개의 앤드 이팩터(410)를 각각 구비한 싱글 암 구조를 갖는 로봇으로 구성된다. 대기압 반송 로봇(400)은 본 실시예에서 보여주는 싱글 암 구조의 방식 이외에도 통상적인 반도체 제조 공정에서 사용되는 다양한 로봇들이 사용될 수 있다. 예를 들어, 4장의 기판을 하나의 암으로 핸들링 할 수 있는 블레이드 구조의 암을 구비한 로봇이나, 2개 이상의 암을 구비한 로봇 또는 이들을 혼합적으로 채용한 로봇 등과 같은 다양한 구조의 로봇들이 사용될 수 있다. The
공정 챔버(200)에는 두 개의 기판 지지부(220, 230)가 제2기판 출입구(210)와 나란하게 일렬로 배열되고, 기판 반송 장치(100)의 회전 플레이트 암(131,132,141,142)들이 회전하는 경로 상에 배치된다. Two
제1기판 지지부(230)는 대기압 반송 로봇(400)과 기판 반송 장치(100)간의 기판 인수인계 위치(또는 제1기판 출입구)(a)로부터 가깝게 위치되며, 제2기판 지지부는 제1기판 지지부(230)보다 대기압 반송 로봇(400)과 기판 반송 장치(100)간의 기판 인수인계 위치로부터 멀리 위치된다. The first
제1,2기판 지지부(220,230)는 기판 반송 장치(100)로부터 기판(w)을 인수/인계하기 위한 리프트 핀들을 갖으며, 제1,2기판 지지부(220,230)의 리프트 핀들은 기판(w)의 인수/인계를 위한 높이가 서로 다르게 설정된다. 예컨대, 제1기판 출입구(310)에서 가장 가까운 제1기판 지지부(230)에서의 인수/인계 높이가 가장 낮고, 그 다음에 제2기판 지지부(230) 순으로 기판의 인수/인계 높이가 순차적으로 높아진다. 이러한 기판 지지부들에서의 기판 인수/인계 높이가 상이하게 설정된 것은 기판 반송 장치(100)가 기판들을 로딩/언로딩 과정에서의 간섭 및 충돌을 예방하기 위한 것이다. The first and second substrate supports 220 and 230 have lift pins for receiving and transferring the substrate w from the
예컨대, 공정 챔버(200)는 2개 이상의 기판 지지부를 구비할 수 있으며, 기판 지지부의 개수에 따라 기판 반송 장치(100)의 회전플레이트 암의 개수도 변경될 수 있다. For example, the
여기서 공정 챔버(200)는 다양한 기판 프로세싱 작동들을 수행하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 반응 챔버는 포토 레지스트를 제거하기 위해서 플라즈마를 이 용하여 포토 레지스트를 제거하는 애싱(ashing) 챔버일 수 있고, 반응 챔버는 절연막을 증착시키도록 구성된 CVD(Chemical Vapor Deposition) 챔버일 수 있고, 반응 챔버는 인터커넥트 구조들을 형성하기 위해 절연막에 애퍼쳐(aperture)들이나 개구들을 에치하도록 구성된 에치 챔버일 수 있고, 반응 챔버는 장벽(barrier) 막을 증착시키도록 구성된 PVD 챔버일 수 있으며, 반응 챔버는 금속막을 증착시키도록 구성된 PVD 챔버일 수 있다. 집적 회로 또는 칩의 완전한 제조에 요구되는 모든 프로세스를 수행하기 위해 다수의 프로세싱 시스템들이 요구될 수 있다. Wherein the
본 발명의 기판 처리 시스템에서 처리되는 피 처리 기판(w)은 대표적으로 반도체 회로를 제조하기 위한 웨이퍼 기판이거나, 액정 디스플레이를 제조하기 위한 유리 기판이다. 본 기판 처리 시스템의 도시된 구성 외에도 집적 회로 또는 칩의 완전한 제조에 요구되는 모든 프로세스를 수행하기 위해 다수의 프로세싱 시스템들이 요구될 수 있다. 그러나, 본 발명의 명확한 설명을 위하여 통상적인 구성이나 당업자 수준에서 이해될 수 있는 구성들은 생략하였다. The substrate W to be processed in the substrate processing system of the present invention is typically a wafer substrate for manufacturing a semiconductor circuit or a glass substrate for manufacturing a liquid crystal display. In addition to the illustrated configuration of the present substrate processing system, multiple processing systems may be required to perform all of the processes required for the complete fabrication of an integrated circuit or chip. However, for the sake of clarity of the present invention, the conventional configuration and the configuration that can be understood by those skilled in the art are omitted.
트랜스퍼 챔버(300)는 공정 챔버(200)와 인접한 일측에 위치된다. 트랜스퍼 챔버(300)는 대기압 반송 로봇(400)과의 기판 출입을 위한 제1기판 출입구(310)를 갖는다. 트랜스퍼 챔버(300)에는 기판 반송 장치(100)가 설치된다. 도 1에 표시된 "a"는 대기압 반송 로봇(400)과 기판 반송 장치(100) 간의 기판 인수인계 위치를 나타내며, 인출부호 P30은 대기압 반송 로봇(400)에 의한 기판 이동 방향을 나타낸다. 또한, R1과 P20은 기판 반송 장치(100)의 제1반송부(130)의 회전 반경과 회전각을 나타내며, R2과 P10은 기판 반송 장치의 제2반송부(140)의 회전 반경과 회전 각을 나타낸다.The
도 2는 도 1에 도시된 기판 반송 장치를 보여주는 도면이다. 도 3은 제1,2회전 플레이트 암이 대기 위치에서 대기하고 있는 상태를 보여주는 도면이고, 도 4에는 제1,2회전 플레이트 암이 공정 챔버의 제1,2기판 지지부 상으로 펼쳐진 상태를 보여주는 도면이다.FIG. 2 is a view showing the substrate transport apparatus shown in FIG. 1. FIG. FIG. 3 is a view showing a state in which the first and second rotating plate arms are standing by at a standby position, FIG. 4 is a view showing a state in which the first and second rotating plate arms are spread on the first and second substrate supporting portions of the process chamber to be.
도 2 내지 도 4를 참조하면, 기판 반송 장치(100)는 제1기판출입구(310)를 통하여 대기압 반송 로봇(400)으로부터 처리 전 기판들을 인수받아 제1,2기판 지지부(230,220)로 반송하고, 제1,2기판 지지부(230,220)로부터 처리 후 기판들을 제1기판 출입구(310)를 통하여 대기압 반송 로봇(400)으로 인계하기 위한 것이다. 2 to 4, the
기판 반송 장치(100)는 2매의 기판(w)을 처리하기 위한 공정 챔버(200)에서 2매의 기판(w)을 동시에 반송할 수 있다. 기판 반송 장치(100)는 한번에 2장의 기판(w)을 제1,2기판 지지부(230,220)로 로딩 및 언로딩 할 수 있는 것으로, 특히 본 발명의 실시예에서 도시한 제1,2기판 지지부(230,220)를 갖는 공정 챔버로의 기판(w) 이송에 매우 적합한 구조를 갖고 있다. The
기판 반송 장치(100)는 서로 다른 스핀들을 갖는 제1반송부(130)와 제2반송부(140)로 구분될 수 있다. 제1반송부(130)는 대기압 반송 로봇(400)을 통해 기판들을 인수인계하는 위치(a)와 제1기판 지지부(230) 간의 기판 반송을 위한 제1회전 반경(R1)을 갖는다. 제2반송부(140)는 대기압 반송 로봇(400)을 통해 기판들을 인수인계하는 위치(a)와 제2기판 지지부(220) 간의 기판 반송을 위해 제1회전 반경(R1)보다 짧은 제2회전 반경(R2)을 갖는다.The
제1반송부(130)는 제1스핀들(110)과 제1스핀들(110)에 장착되어 제1회전 반경(R1)을 갖고 제1회전각(P20)만큼 회동하는 제1회전 플레이트 암들(131,132)을 포함한다. 제1회전 플레이트 암들(131,132)은 처리 전 기판을 로딩 시키기 위한 로딩용 회전 플레이트 암(131)과 처리 후 기판을 언로딩 시키기 위한 언로딩용 회전 플레이트 암(132)으로 이루어지며, 이들 회전 플레이트 암의 끝단에는 기판이 놓여지는 엔드 이펙터(133,134)를 갖는다. The
제2반송부(140)는 제2스핀들(120)과 제2스핀들(120)에 장착되어 제2회전 반경(R2)을 갖고 제2회전각(P10)만큼 회동하는 제2회전 플레이트 암들(141,142)을 포함한다. 제2회전 플레이트들(141,142)은 처리 전 기판을 로딩 시키기 위한 로딩용 회전 플레이트 암(141)과 처리 후 기판을 언로딩 시키기 위한 언로딩용 회전 플레이트 암(142)으로 이루어지며, 이들 회전 플레이트 암의 끝단에는 기판이 놓여지는 엔드 이펙터(143,144)를 갖는다. The
도 3 및 도 4에서와 같이, 기판 반송 장치(100)의 제1반송부(130)와 제2반송부(140)는 제1,2회전 플레이트 암들(131,132,141,142)의 엔드 이펙터(133,134,143,144)가 트랜스퍼 챔버(300)의 인수인계 위치(대기 위치)(a)에서 하나의 정렬선에 수직으로 정렬된 상태에서 대기압 반송 로봇(400)으로부터 기판들을 인수인계 받는다. 그리고, 제1,2회전 플레이트 암들(131,132,141,142)이 제1,2스핀들(110,120)을 중심으로 기설정된 회전각으로 회전되면, 제1,2회전 플레이트 암들(131,132,141,142)의 엔드 이펙터는 각각의 해당하는 기판 지지부(230,220) 상부에 위치하게 된다.3 and 4, the
도 5는 제2회전 플레이트의 스윙 동작으로 보여주는 도면이다. 도 6은 제1회전 플레이트의 스윙 동작을 보여주는 도면이다. 5 is a view showing a swing motion of the second rotating plate. 6 is a view showing the swing motion of the first rotating plate.
도 5에서와 같이, 제2반송부(140)의 제2회전 플레이트들(141,142)은 제1반송부(130)의 제1회전 플레이트들(131,132) 보다 회전 반경이 작은 대신에 회전각(회전 범위)이 크다. 또한, 제2회전 플레이트들(141,142)은 스윙 동작시 제1기판 지지부(230) 상부를 경유해서 제2기판 지지부(220) 상부로 이동하게 된다. 따라서, 제2회전 플레이트들(141,142)은 제1회전 플레이트들(131,132) 높이보다 아래에 위치되는 것이 바람직하다. 도 6에서와 같이, 제1회전 플레이트들(131,132)은 기판의 인수인계 위치(a)로부터 가장 가깝게 위치하는 제1기판 지지부(230)로의 기판 로딩/언로딩을 담당하게 된다. 따라서, 제1반송부(130)의 제1회전 플레이트들(131,132)은 제2회전 플레이트들(141,142) 보다 회전 반경이 큰 대신에 회전각이 작은 것을 알 수 있다. 5, the second
도 7은 제1스핀들과 제2스핀들이 동일 선상에 위치된 기판 반송 장치를 보여주는 도면이다.7 is a view showing a substrate transfer apparatus in which the first spindle and the second spindle are located on the same line.
도 7을 참조하면, 제1반송부(130)의 제1스핀들(110)과 제2반송부(140)의 제2스핀들(120)은 동일 선상에 위치되며, 이 경우 트랜스퍼 챔버(300)의 면적은 증가될 수 있다. 도 7에서와 같이, 제1반송부(130)와 제2반송부(140)의 스핀들(110,120)이 동일 선상에 위치되는 경우와, 도 1에서와 같이 제1반송부(130)와 제2반송부(140)의 스핀들이 다른 선상에 위치되는 경우를 비교해보면, 도 7의 제1반송부(130)의 회전반경과 제2반송부의 회전 반경이 그렇지 아니한 경우 대비 증가 하였음을 알 수 있다. 따라서, 도 7에 도시된 제1반송부(130)와 제2반송부(140)는 회전 반경이 증가한 만큼 트랜스퍼 챔버(300)의 면적 역시 상대적으로 증가될 수 있다.7, the
도 8은 공정 챔버가 트랜스퍼 챔버의 양측에 서로 대칭되게 배치된 실시예를 보여주는 도면이다. 8 is a view showing an embodiment in which the process chambers are disposed symmetrically with respect to each other on both sides of the transfer chamber.
공정 챔버(200)는 트랜스퍼 챔버의 일측방향에만 배치되지 않고, 도 8 및 도 9에서와 같이 트랜스퍼 챔버(300a,300b)의 양측에 서로 대칭되게 배치될 수 있다. The
도 8에 도시된 바와 같이, 제1공정챔버(200-1)와 제2공정 챔버(200-2)는 트랜스퍼 챔버(300a)의 양측에 서로 대칭되게 배치된다. 제1공정챔버(200-1)와 제2공정 챔버(200-2) 각각은 제1기판 지지부(230-1,230-2)와 제2기판 지지부(220-1,220-2)를 각각 포함하며, 트랜스퍼 챔버(300a)와 연결되는 제2기판 출입구(210-1,210-2)를 갖는다. 한편, 트랜스퍼 챔버(300a)는 제1공정챔버(200-1)와 제2공정 챔버(200-2) 사이에 삼각 형상의 공간을 제공하며, 그 공간의 중앙으로는 대기압 반송 로봇(400)으로부터 4장의 기판들이 제공된다. 트랜스퍼 챔버(300a)에는 제1기판 반송 장치(100-1)와 제2기판 반송 장치(100-2)가 서로 대칭되게 배치된다. As shown in FIG. 8, the first process chamber 200-1 and the second process chamber 200-2 are symmetrically disposed on both sides of the transfer chamber 300a. Each of the first process chamber 200-1 and the second process chamber 200-2 includes a first substrate support 230-1 and 230-2 and a second substrate support 220-1 and 220-2, And second substrate outlets 210-1 and 210-2 connected to the chamber 300a. Meanwhile, the transfer chamber 300a provides a triangular space between the first process chamber 200-1 and the second process chamber 200-2, and the transfer chamber 300a is provided at the center of the space with the atmospheric
제1기판 반송 장치(100-1)와 제2기판 반송 장치(100-2)는 서로 다른 스핀들을 갖는 제1반송부(130-1,130-2)와 제2반송부(140-1,140-2)를 포함한다. The first substrate carrying apparatus 100-1 and the second substrate carrying apparatus 100-2 are constituted by the first carrying units 130-1 and 130-2 having different spindles and the second carrying units 140-1 and 140-2, .
제1기판 반송 장치(100-1)의 제1반송부(130-1)는 대기압 반송 로봇(400)을 통해 기판들을 인수인계하는 위치(a)와 제1공정 챔버(200-1)의 제1기판 지지부(230-1) 간의 기판 반송을 위한 제1회전 반경(R1)을 갖는다. 제1기판 반송 장치 의 제2반송부(140-1)는 대기압 반송 로봇(400)을 통해 기판들을 인수인계하는 위치(a)와 제1공정 챔버의 제2기판 지지부(220-1) 간의 기판 반송을 위해 제1회전 반경(R1)보다 짧은 제2회전 반경(R2)을 갖는다. The first transfer part 130-1 of the first substrate transfer apparatus 100-1 transfers the position a of transferring the substrates through the
제2기판 반송 장치의 제1반송부(130-2)는 대기압 반송 로봇(400)을 통해 기판들을 인수인계하는 위치(a)와 제2공정 챔버의 제1기판 지지부(230-2) 간의 기판 반송을 위한 제1회전 반경(R1)을 갖는다. 제2기판 반송 장치의 제2반송부(140-2)는 대기압 반송 로봇(400)을 통해 기판들을 인수인계하는 위치(a)와 제2공정 챔버의 제2기판 지지부(220-2) 간의 기판 반송을 위해 제1회전 반경(R1)보다 짧은 제2회전 반경(R2)을 갖는다.The first transfer part 130-2 of the second substrate transfer device transfers the substrate between the position a for transferring substrates through the atmospheric
제1,2기판 반송 장치의 제1반송부(130-1,130-2) 각각은 제1스핀들(110-1,110-2)에 장착되어 제1회전 반경(R1)을 갖고 제1회전각(P20)만큼 회동하는 제1회전 플레이트 암들(131,132)을 포함하며, 제1,2기판 반송 장치의 제2반송부(140-1,140-2) 각각은 제1스핀들(120-1,120-2)에 장착되어 제2회전 반경(R1)을 갖고 제2회전각(P20)만큼 회동하는 제2회전 플레이트 암들(141,142)을 포함한다.The first transfer units 130-1 and 130-2 of the first and second substrate transfer apparatuses are mounted on the first spindles 110-1 and 110-2 and have a first rotation radius R1 and a first rotation angle P20, The first and second transfer plate arms 140-1 and 140-2 of the first and second substrate transfer apparatuses are mounted on the first spindles 120-1 and 120-2, And second
여기서 주목해야할 부분은 제1기판 반송 장치(100-1)의 기판 인수인계 위치와 제2기판 반송 장치(100-2)의 기판 인수인계 위치가 하나의 정렬선에 수직으로 정렬된다는 것이며, 따라서 제1기판 반송 장치(100-1)와 제2기판 반송 장치(100-2)는 하나의 정렬선에 수직으로 정렬된 상태에서 대기압 반송 로봇(400)으로부터 기판들을 인수인계 받는다. It should be noted that the substrate take-over position of the first substrate transfer apparatus 100-1 and the substrate take-over position of the second substrate transfer apparatus 100-2 are vertically aligned with one alignment line, The first substrate transport apparatus 100-1 and the second substrate transport apparatus 100-2 receive substrates from the atmospheric
도 9는 공정 챔버가 트랜스퍼 챔버(300b)의 양측에 서로 대칭되게 배치된 또 다른 실시예를 보여주는 도면이다. 도 10은 도 9에 도시된 기판 반송 장치를 보여주는 도면이다. 9 is a view showing another embodiment in which the process chambers are disposed symmetrically with respect to each other on both sides of the transfer chamber 300b. 10 is a view showing the substrate transport apparatus shown in Fig.
도 9 및 도 10에 도시된 바와 같이, 제1공정챔버(200-1)와 제2공정 챔버(200-2)는 트랜스퍼 챔버(300b)의 양측에 서로 대칭되게 배치된다. 제1공정챔버(200-1)와 제2공정 챔버(200-2) 각각은 제1기판 지지부(230-1,230-2)와 제2기판 지지부(220-1,220-2)를 각각 포함하며, 트랜스퍼 챔버(300b)와 연결되는 제2기판 출입구(210-1,210-2)를 갖는다. 한편, 트랜스퍼 챔버(300b)는 제1공정챔버(200-1)와 제2공정 챔버(200-2) 사이에 대략 정사각 형상의 공간으로 이루어지며, 일측에는 대기압 반송 로봇(400)에 의해 반송되는 기판들이 들어오고 나가는 제1기판 출입구(310)가 제공된다.As shown in FIGS. 9 and 10, the first process chamber 200-1 and the second process chamber 200-2 are symmetrically disposed on both sides of the
트랜스퍼 챔버(300b)에는 기판 반송 장치(100a)가 배치되는데, 이 기판 반송 장치(100a)는 제1공정챔버(200-1)의 제1기판 지지부(230-1)로의 기판 반송을 담당하는 제1반송부(130a-1)와, 제2공정챔버(200-2)의 제1기판 지지부(230-2)로의 기판 반송을 담당하는 제2반송부(130a-2) 그리고 제1공정챔버(200-1)의 제2기판 지지부(220-1)와 제2공정챔버(200-2)의 제2기판 지지부(220-2)로 기판 반송을 담당하는 제3반송부(140a)를 포함한다. A
제1반송부(130a-1)와 제2반송부(130a-2)는 서로 상이한 위치에 설치되는 제1스핀들(110a-1)과 제2스핀들(110a-2)을 구비하고, 제1스핀들(110a-1)과 제2스핀들(110a-2) 각각에는 로딩용 회전 플레이트 암(131)과 언로딩용 회전 플레이트 암(132)이 설치된다. 그리고, 제3반송부(140a)는 제1반송부(130a-1)와 제2반송 부(130a-2) 사이에 위치되며, 제3스핀들(120a-1)에 총 4개의 회전 플레이트 암(141-1,141-2,142-1,142-2)이 설치된 구조를 갖는다. 제3반송부(140a)의 회전 플레이트들 중에서 2개는 제1공정 챔버(200-1)의 제2기판 지지부(220-1)로의 기판 반송을 위한 로딩용/언로딩용 회전 플레이트 암(141-1,142-1)이며, 나머지 2개는 제2공정 챔버(200-2)의 제2기판 지지부(220-2)로의 기판 반송을 위한 로딩용/언로딩용 회전 플레이트(141-2,142-2)이다. 이처럼, 도 9에 도시된 기판 반송 장치(100a)는 3개의 반송부를 적용하여 제1,2공정챔버(200-1,200-2)의 제1,2기판 지지부로의 기판 반송을 수행할 수 있는 것이다. The first conveying
도 11 및 도 12는 기판 반송 장치의 다른 실시예를 보여주는 도면이다.11 and 12 are views showing another embodiment of the substrate transfer apparatus.
도 11 및 도 12에서와 같이, 기판 반송 장치(500)는 스핀들(510)과 제1,2,3,4 회전 플레이트 암(531,532,541,542)을 포함한다. 제1,2,3,4 회전 플레이트 암(531,532,541,542)은 단일 스핀들(510)에 설치되며, 신축 동작 및 스윙 동작에 의해 각자 해당되는 제1,2기판 지지부(230,220)로 기판들을 로딩/언로딩한다. 제1,2 회전 플레이트 암(531,532)은 제1기판 지지부(230)로의 기판 반송을 담당하며, 제3,4 회전 플레이트 암(541,542)은 제2기판 지지부(220)로의 기판 반송을 담당한다. 특히, 제3,4회전 플레이트 암(541,542)은 트랜스퍼 챔버의 기판 인수인계 위치에서 기판들을 인수 인계받아 제2기판 지지부(220)상으로 회전되는 회전반경(R7)을 갖기 위해 신축 플레이트 암(543)들이 다단 신축된 구조로 이루어진다. 제3,4회전 플레이트 암(541,542)은 기판 반송을 위해 신축 플레이트 암(543)이 제1간격(P70)만큼 수축되어 그 길이가 가변된 후에 기판을 제2기판 지지부(220)상으로 반송하게 된다.11 and 12, the
제1기판 지지부(230)와 제2기판 지지부(220)는 스핀들(510)을 중심으로 서로 다른 회전 반경상에 위치된다. 예컨대, 제1기판 지지부(230)는 대기압 반송 로봇(400)으로부터 기판들을 인수인계하는 위치(대기 위치)(a)와 동일한 회전 반경(R6)에 위치된다. 따라서, 제1,2 회전 플레이트 암(531,532)은 대기압 반송 로봇(400)으로부터 기판을 인수인계 받은 위치에서 곧바로 스윙 동작을 통해 기판을 제1기판 지지부(230) 상으로 반송할 수 있다. 하지만, 제2기판 지지부(230)는 스핀들(510)을 기준으로 제1기판 지지부(230)보다 짧은 회전 반경(R7)상에 위치되기 때문에 제3,4회전 플레이트 암(541,542)의 길이를 줄이는 신축 동작을 한 위치에서 스윙 동작을 통해 기판을 제2기판 지지부(220) 상으로 반송하게 된다.The
도 13에는 3개의 기판 지지부를 갖는 공정 챔버가 도시되어 있다. 도14에는 제1,2,3기판 지지부로의 기판 반송을 각각 보여주는 도면이다. Figure 13 shows a process chamber having three substrate supports. Fig. 14 is a view showing the substrate transport to the first, second and third substrate supporting portions, respectively.
도 13 및 도 14에서와 같이, 3개의 기판 지지부(260,250,240)를 갖는 공정 챔버(200b)로의 기판 반송은 로딩용 회전 플레이트 암 언로딩용 회전 플레이트 암이 한 쌍으로 이루어지는 제1,2,3반송부(550,560,570)와 이들 회전 플레이트 암들이 설치되는 스핀들(510a)을 갖는 기판 반송 장치(500b)에 의해 이루어진다. As shown in FIGS. 13 and 14, the substrate transfer to the
좀 더 구체적으로 살펴보면, 도 13과 도 14에 개시된 기판 반송 장치(500a)는 제1기판 지지부(260)를 담당하는 로딩/언로딩용의 제1,2회전 플레이트 암으로 이루어지는 제1반송부(550)와, 제2기판 지지부(250)를 담당하는 로딩/언로딩용의 제3,4회전 플레이트 암으로 이루어지는 제2반송부(560) 그리고 제3기판 지지 부(240)를 담당하는 로딩/언로딩용의 제5,6회전 플레이트 암으로 이루어지는 제3반송부(570)로 구성된다. 특히, 제2반송부(560)와 제3반송부(570)의 제3,4회전 플레이트 암과 제5,6회전 플레이트 암은 트랜스퍼 챔버(300b)의 기판 인수인계 위치에서 기판들을 인수 인계받아 제2기판 지지부(250) 및 제3기판 지지부(260)상으로 회전되는 회전반경을 갖기 위해 도 12에서와 같은 신축 플레이트 암들이 다단 신축된 구조로 이루어진다. More specifically, the
도 15 및 도 16은 본 발명의 다른 실시예를 보여주는 도면들이다.15 and 16 are views showing another embodiment of the present invention.
도 15 및 도 16에 도시된 바와 같이, 제1공정챔버(200b-1)와 제2공정 챔버(200b-2)는 트랜스퍼 챔버(300b)의 양측에 서로 대칭되게 배치된다. 제1공정챔버(200b-1)와 제2공정 챔버(200b-2) 각각은 제1기판 지지부(260-1,260-2)와 제2기판 지지부(250-1,250-2) 그리고 제3기판 지지부(240-1,240-2)를 각각 포함하며, 트랜스퍼 챔버(300b)와 연결되는 제2기판 출입구(210-1,210-2)들을 갖는다. 제1,2공정 챔버는 제1,2,3 기판 지지부 사이를 구획하는 격벽(290)을 포함하며, 제2기판 출입구(210-1,210-2)는 격벽에 의해 구획된 제1,2,3기판 지지부가 위치되는 공간으로 기판 출입이 가능하도록 각각 설치된다.As shown in FIGS. 15 and 16, the
한편, 트랜스퍼 챔버(300b)는 제1공정챔버(200b-1)와 제2공정 챔버(200b-2) 사이에 대략 직사각 형상의 공간으로 이루어지며, 일측에는 대기압 반송 로봇(400)에 의해 반송되는 기판들이 들어오고 나가는 제1기판 출입구(310)가 제공된다.The
트랜스퍼 챔버(300b)에는 기판 반송 장치(600)가 배치되는데, 이 기판 반송 장치(600)는 제1공정챔버(200b-1)의 제1,2,3기판 지지부(260-1,250-1,240-1)로의 기판 반송을 담당하는 제1반송부(630), 제2반송부(640), 제3반송부(650)와, 제2공정챔버(200b-2)의 제1,2,3기판 지지부(260-2,250-2,240-2)로의 기판 반송을 담당하는 제4반송부(660), 제5반송부(670), 제6반송부(680)를 포함한다. 이들 반송부는 하나의 단일 스핀들(610)에 설치된다. 이들 반송부는 각각 로딩/언로딩용의 회전 플레이트 암을 포함하는데, 이들 회전 플레이트 암은 기판 반송시 X축 및 Y축으로 방향 전환을 위한 적어도 하나의 관절부(690)를 포함한다. 도 16에서와 같이, 반송부들의 회전 플레이트 암은 관절부(690)에서 꺽이면서 각각의 기판 지지부로 기판을 반송하게 된다. The
도 17은 제1,2,3기판 지지부의 설치 높이를 보여주는 도면이다.17 is a view showing the installation heights of the first, second and third substrate supporting portions.
도 17의 (a)에서와 같이, 제1공정 챔버(200b-1)의 제1,2,3 기판 지지부(260-1,250-1,240-1)는 동일한 높이로 설치되며, 이때 각각의 기판 지지부(260-1,250-1,240-1)에 설치되는 리프트 핀들은 기판 반송시 상호 간섭이 발생되지 않도록 서로 다른 높이에서 기판을 인수인계 받는 것이 바람직하다. 물론, 제2공정챔버의 기판 지지부들도 동일한 구성으로 이루어지며 이에 대한 설명은 생략하기로 한다. As shown in FIG. 17A, the first, second and third substrate supporting portions 260-1, 250-1 and 240-1 of the
한편, 도 17의 (b)를 보면, 제1,2,3 기판 지지부(260-1,250-1,240-1)가 서로 다른 높이에 설치될 수 있으며, 이러한 기판 지지부(260-1,250-1,240-1)에서는 리프트 핀들이 모두 동일한 높이만큼 상승하여 기판을 인수인계 받을 수 있다.17B, the first, second and third substrate supporting portions 260-1, 250-1 and 240-1 may be installed at different heights, and the substrate supporting portions 260-1, 250-1 and 240-1, The lift pins all rise to the same height to take over the substrate.
본 발명에 의하면, 트랜스퍼 챔버 내부의 높이 및 면적을 슬림화할 수 있고 기판 이송 장치의 설치 비용을 줄일 수 있는 이점이 있다. 즉, 트랜스퍼 챔버에 설치된 기판 이송 장치는 한번에 복수의 기판들을 로딩함과 동시에 언로딩할 수 있기 때문이다. According to the present invention, the height and the area inside the transfer chamber can be made slim, and the installation cost of the substrate transfer apparatus can be reduced. That is, the substrate transfer apparatus installed in the transfer chamber can load and unload a plurality of substrates at one time.
이상에서 설명된 본 발명의 실시예는 예시적인 것에 불과하며, 본 발명이 속한 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 잘 알 수 있을 것이다. 그럼으로 본 발명은 상기의 상세한 설명에서 언급되는 형태로만 한정되는 것은 아님을 잘 이해할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다. 또한, 본 발명은 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 그 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and equivalent arrangements may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. Accordingly, it is to be understood that the present invention is not limited to the above-described embodiments. Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims. It is also to be understood that the invention includes all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims.
본 발명의 기판 이송 장치는 반도체 집적 회로의 제조, 평판 디스플레이 제조, 태양전지의 제조와 같은 다양한 기판 처리 공정을 위한 기판 처리 시스템으로 매우 유용하다.The substrate transfer apparatus of the present invention is very useful as a substrate processing system for various substrate processing processes such as the manufacture of semiconductor integrated circuits, the manufacture of flat panel displays, and the manufacture of solar cells.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 기판 처리 시스템을 보여주는 도면이다. 1 is a view showing a substrate processing system according to an embodiment of the present invention.
도 2는 도 1에 도시된 기판 반송 장치를 보여주는 도면이다. FIG. 2 is a view showing the substrate transport apparatus shown in FIG. 1. FIG.
도 3은 제1,2회전 플레이트 암이 대기 위치에서 대기하고 있는 상태를 보여주는 도면이다.3 is a view showing a state in which the first and second rotating plate arms are standing by at a standby position.
도 4에는 제1,2회전 플레이트 암이 공정 챔버의 제1,2기판 지지부 상으로 펼쳐진 상태를 보여주는 도면이다.4 is a view showing a state in which the first and second rotating plate arms are spread on the first and second substrate supporting portions of the process chamber.
도 5는 제2회전 플레이트의 스윙 동작으로 보여주는 도면이다. 5 is a view showing a swing motion of the second rotating plate.
도 6은 제1회전 플레이트의 스윙 동작을 보여주는 도면이다. 6 is a view showing the swing motion of the first rotating plate.
도 7은 제1스핀들과 제2스핀들이 동일 선상에 위치된 기판 반송 장치를 보여주는 도면이다.7 is a view showing a substrate transfer apparatus in which the first spindle and the second spindle are located on the same line.
도 8은 공정 챔버가 트랜스퍼 챔버의 양측에 서로 대칭되게 배치된 실시예를 보여주는 도면이다. 8 is a view showing an embodiment in which the process chambers are disposed symmetrically with respect to each other on both sides of the transfer chamber.
도 9는 공정 챔버가 트랜스퍼 챔버의 양측에 서로 대칭되게 배치된 또 다른 실시예를 보여주는 도면이다. 9 is a view showing another embodiment in which the process chambers are arranged symmetrically with respect to each other on both sides of the transfer chamber.
도 10은 도 9에 도시된 기판 반송 장치를 보여주는 도면이다. 10 is a view showing the substrate transport apparatus shown in Fig.
도 11 및 도 12는 기판 반송 장치의 다른 실시예를 보여주는 도면이다.11 and 12 are views showing another embodiment of the substrate transfer apparatus.
도 13은 3개의 기판 지지부를 갖는 공정 챔버가 도시되어 있다. Figure 13 shows a process chamber having three substrate supports.
도 14는 제1,2,3기판 지지부로의 기판 반송을 각각 보여주는 도면이다. 14 is a view showing the substrate transport to the first, second and third substrate supporting portions, respectively.
도 15 및 도 16은 본 발명의 다른 실시예를 보여주는 도면들이다.15 and 16 are views showing another embodiment of the present invention.
도 17은 제1,2,3기판 지지부의 설치 높이를 보여주는 도면이다.17 is a view showing the installation heights of the first, second and third substrate supporting portions.
*도면의 주요부분에 대한 부호설명*Description of the Related Art [0002]
1 : 기판처리 시스템 100 : 기판이송장치1: substrate processing system 100: substrate transfer device
110 : 제1스핀들 120 : 제2스핀들110: first spindle 120: second spindle
130 : 제1반송부 140 : 제2반송부130: first transport section 140: second transport section
200 : 공정챔버 210 : 제2기판 출입구200: process chamber 210: second substrate entrance
220 : 제2기판 지지부 230 : 제1기판 지지부220: second substrate supporting part 230: first substrate supporting part
240 : 제3기판 지지부 250 : 제2기판 지지부240: third substrate supporting part 250: second substrate supporting part
260 : 제1기판 지지부 290 : 격벽 260: first substrate supporting part 290: partition wall
300 : 트랜스퍼 챔버 310 : 제1기판 출입구300: transfer chamber 310: first substrate doorway
400 : 반송로봇 410 : 앤드 이팩터400: conveying robot 410: end effector
500 : 기판 반송장치 510 : 스핀들500: substrate transfer device 510: spindle
600 : 기판반송장치 610 : 스핀들600: substrate transfer device 610: spindle
630 : 반송부 640 : 제2반송부630: Carrier part 640: Second carrier part
650 : 제3반송부 660 : 제4반송부650: Third conveying section 660: Fourth conveying section
670 : 제5반송부 680 : 제6반송부670: fifth conveying section 680: sixth conveying section
690 : 관절부690: joints
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KR100781816B1 (en) * | 2006-09-18 | 2007-12-03 | 위순임 | Substrate transfer equipment and substrate processing system using the same |
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