KR101476601B1 - Nickel electroless plating solution and electronic component using same - Google Patents

Nickel electroless plating solution and electronic component using same Download PDF

Info

Publication number
KR101476601B1
KR101476601B1 KR1020120091302A KR20120091302A KR101476601B1 KR 101476601 B1 KR101476601 B1 KR 101476601B1 KR 1020120091302 A KR1020120091302 A KR 1020120091302A KR 20120091302 A KR20120091302 A KR 20120091302A KR 101476601 B1 KR101476601 B1 KR 101476601B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
plating solution
nickel
electroless nickel
electronic component
plating
Prior art date
Application number
KR1020120091302A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20140025105A (en
Inventor
정보묵
정일웅
김두호
원동수
박재승
김민희
Original Assignee
주식회사 케이피엠테크
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 케이피엠테크 filed Critical 주식회사 케이피엠테크
Priority to KR1020120091302A priority Critical patent/KR101476601B1/en
Publication of KR20140025105A publication Critical patent/KR20140025105A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101476601B1 publication Critical patent/KR101476601B1/en

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/31Coating with metals
    • C23C18/32Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron
    • C23C18/34Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron using reducing agents
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/18Pretreatment of the material to be coated
    • C23C18/1851Pretreatment of the material to be coated of surfaces of non-metallic or semiconducting in organic material
    • C23C18/1872Pretreatment of the material to be coated of surfaces of non-metallic or semiconducting in organic material by chemical pretreatment
    • C23C18/1886Multistep pretreatment
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/18Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material
    • H05K3/181Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by electroless plating

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)

Abstract

무전해 니켈(내지 니켈-인) 도금액 및 이를 이용한 전자 부품이 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 무전해 니켈 도금액은 수용성 니켈염, 환원제, 안정제, 착화제 및 pH 조정제를 포함하는 무전해 니켈 합금 도금액에 있어서, 테트라에틸렌펜타아민을 더 포함한다. Electroless nickel (or nickel-phosphorus) plating solution and electronic parts using the same are disclosed. The electroless nickel plating solution according to an embodiment of the present invention further comprises tetraethylenepentamine in an electroless nickel alloy plating solution containing a water soluble nickel salt, a reducing agent, a stabilizer, a complexing agent and a pH adjusting agent.

Description

무전해 니켈 도금액 및 이를 이용한 전자 부품{NICKEL ELECTROLESS PLATING SOLUTION AND ELECTRONIC COMPONENT USING SAME}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an electroless nickel plating solution and an electronic component using the electroless nickel plating solution.

본 발명은 도금액 및 이를 이용한 전자 부품에 관한 것으로, 보다 상세하게는 내절곡성을 향상시킨 무전해 니켈 도금액 및 이를 이용한 전자 부품에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a plating solution and an electronic component using the same. More particularly, the present invention relates to an electroless nickel plating solution improved in bending resistance and an electronic component using the same.

일반적으로 인쇄회로기판은 반도체 부품의 실장을 위한 와이어본딩 부위 및 솔더링 부위로 이루어진 표면처리부를 구비한다. Generally, a printed circuit board has a surface treatment portion composed of a wire bonding portion and a soldering portion for mounting a semiconductor component.

상기 표면처리부는 보통 구리로 형성되는데, 이는 구리가 전기이동에 대한 저항이 낮아 반도체 소자 등의 신뢰성을 향상시킬 수 있을 뿐만 아니라 비저항이 알루미늄의 1/2 수준이어서 작은 폭으로 형성하여도 신호전달 속도를 증가시킬 수 있기 때문이다. The surface treatment portion is usually made of copper because copper has a low resistance against electric movement to improve the reliability of a semiconductor device and the like. In addition, since the resistivity is a half of that of aluminum, Can be increased.

그러나, 외부로 노출된 구리는 자체 표면 산화막에 의한 보호(passivation) 효과가 크지 않으므로 표면이 산화되기가 용이하다는 단점이 있다. 즉, 표면처리부에 이용되는 구리의 경우, 시간이 경과함에 따라 산화되고 부식될 우려가 크므로 이와 같은 솔더링 및 와이어본딩 특성이 상기 부식에 의해 손상되지 않도록, 종래에는 노출된 구리층 위에 니켈-인/금 도금, 니켈-인/팔라듐(또는 팔라듐-인 합금)/금 도금을 0.1~10㎛ 두께로 형성하여 표면처리부를 구성하는 방법이 사용되어 왔다. However, copper exposed to the outside has a disadvantage that it is easy to oxidize the surface since the passivation effect of the surface oxide film is not large. That is, in the case of copper used for the surface treatment portion, since it is likely to be oxidized and corroded with the lapse of time, there is a risk that the soldering and wire bonding characteristics are not damaged by the corrosion, / Gold plating, nickel-phosphorus / palladium (or palladium-phosphorus alloy) / gold plating is formed to a thickness of 0.1 to 10 mu m to constitute the surface treatment portion.

그런데, 경성 인쇄회로기판의 경우에는 크게 문제 되지 않으나, 전자부품을 제조하거나 사용시에 소정 정도 휘어지거나 변형이 발생되어야 하는 연성 인쇄회로기판에 있어서는 종래 표면처리부가 상기 변형 등에 제대로 대응하지 못하므로 제품 수명이 짧아진다는 문제점이 있었다.  However, in the case of a flexible printed circuit board in which the flexible printed circuit board must be bent or deformed to a predetermined degree when the electronic component is manufactured or used, the conventional surface treatment unit can not properly cope with the deformation, Is shortened.

구리층 위에 형성되는 니켈-인/금 도금층 또는 니켈-인/팔라듐(또는 팔라듐-인 합금)/금 도금층에 있어서 니켈-인 피막의 두께에 비해 금 피막 또는 팔라듐(또는 팔라듐-인 합금) 피막의 두께가 상대적으로 훨씬 얇으므로, 연성인쇄회로기판의 변형에 대응하기 위해서는 니켈-인 피막의 내절곡성(절곡 등의 변형에 저항하는 특성)을 향상시킬 필요가 있다. (Or palladium-phosphorus alloy) coating film on the nickel-phosphorus / gold plating layer or the nickel-phosphorus / palladium (or palladium-phosphorus alloy) / gold plating layer formed on the copper layer in comparison with the thickness of the nickel- In order to cope with the deformation of the flexible printed circuit board, it is necessary to improve the bendability (resistance to deformation such as bending) of the nickel-phosphorus film because the thickness is relatively much thinner.

따라서 니켈-인 피막의 내절곡성을 향상시킬 수 있는 방안이 모색되는 바이다.Accordingly, a method of improving the bending resistance of the nickel-phosphorus film is sought.

본 발명의 실시예들은 내절곡성이 향상된 무전해 니켈 도금액과, 상기 무전해 니켈 도금액을 이용하여 도금층을 형성시킴으로써 내절곡성이 향상된 전자부품을 제공하고자 한다.Embodiments of the present invention provide an electroless nickel plating solution with improved bending resistance and an electronic part with improved bending resistance by forming a plating layer using the electroless nickel plating solution.

본 발명의 일 측면에 따르면, 수용성 니켈염, 환원제, 안정제, 착화제 및 pH 조정제를 포함하는 무전해 니켈-인 도금액에 있어서, 상기 무전해 니켈-인 도금액의 내절곡성 향상을 위하여 테트라에틸렌펜타아민을 더 포함하는 무전해 니켈 도금액이 제공될 수 있다. According to an aspect of the present invention, there is provided an electroless nickel-phosphorus plating solution comprising a water-soluble nickel salt, a reducing agent, a stabilizer, a complexing agent, and a pH adjusting agent. In order to improve the bending resistance of the electroless nickel- An electroless nickel plating solution may further be provided.

삭제delete

삭제delete

삭제delete

본 발명의 다른 측면에 따르면, 황산니켈 6수화물 10~45 g/L, 차아인산나트륨 1수화물 15~45 g/L, 28% 암모니아수 1~40 ml/L, 젖산 1~20 g/L, 사과산 1~20 g/L, 아디프산 1~20 g/L, 글루탐산나트륨 1수화물 1~10 g/L, 아세트산납 3수화물 0.1~50 mg/L, 티오우레아 0.05~5 mg/L 및 테트라에틸렌펜타아민 0.0001~1 mg/L을 포함하는 무전해 니켈 도금액이 제공될 수 있다. According to another aspect of the present invention there is provided a pharmaceutical composition comprising 10 to 45 g / L nickel sulfate hexahydrate, 15 to 45 g / L sodium hypophosphite monohydrate, 1 to 40 ml / L of 28% ammonia water, 1 to 20 g / 1 to 20 g / L of adipic acid, 1 to 20 g / L of adipic acid, 1 to 10 g / L of sodium glutamate monohydrate, 0.1 to 50 mg / L of lead acetate trihydrate, 0.05 to 5 mg / An electroless nickel plating solution containing 0.0001 to 1 mg / L of pentaamine can be provided.

삭제delete

본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 상기 무전해 니켈 도금액을 이용하여 도금층을 형성시킨 전자부품이 제공될 수 있으며, 이 때 상기 전자부품은 연성인쇄회로기판일 수 있다.According to still another aspect of the present invention, there is provided an electronic component in which a plating layer is formed using the electroless nickel plating solution, wherein the electronic component may be a flexible printed circuit board.

본 발명의 실시예들은 도금액에 특정 화합물을 첨가하여 니켈(내지 니켈-인) 피막이 구리층의 수직 방향으로 성장하게 함으로써 무전해 니켈 도금액의 내절곡성을 향상시킬 수 있다. Embodiments of the present invention can improve the bending resistance of the electroless nickel plating solution by adding a specific compound to the plating solution to cause the nickel (or nickel-phosphorus) coating to grow in the vertical direction of the copper layer.

또한, 상기 무전해 니켈 도금액을 이용하여 도금층을 형성시킴으로써 연성인쇄회로기판과 같은 전자부품의 내절곡성을 향상시킬 수 있다.Further, by forming the plating layer using the electroless nickel plating solution, the bending resistance of an electronic component such as a flexible printed circuit board can be improved.

도 1은 종래 무전해 니켈 도금액에서의 도금층 형성 모습의 이미지이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 무전해 니켈 도금액에서의 도금층 형성 모습의 이미지이다.
1 is an image of a plating layer formation in a conventional electroless nickel plating solution.
2 is an image of a plating layer formation in an electroless nickel plating solution according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 실시예들에 대하여 구체적으로 설명하도록 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail.

본 발명의 일 실시예에 따른 무전해 니켈 도금액은 수용성 니켈염, 환원제, 안정제, 착화제 및 pH 조정제를 포함하는 무전해 니켈 합금 도금액에 있어서, 하기 [화학식 1]을 더 포함하는 것을 특징으로 한다. The electroless nickel plating solution according to an embodiment of the present invention is characterized by further comprising a water-soluble nickel salt, a reducing agent, a stabilizer, a complexing agent and a pH adjusting agent, .

[화학식 1][Chemical Formula 1]

R1-[(CH2)l-NH-(CH2)m]n-R2 R1 - [(CH 2) l -NH- (CH 2) m] n -R2

여기에서, l,m,n은 1 이상의 정수이고, n=1인 경우에 R1 및 R2는 NH2이다. 또한, n이 2 이상인 경우에 R1 및 R2는 NH2,CH3,OH,CH2OH,COOH 중 선택되는 것으로 R1 및 R2는 같거나 다를 수 있다.Here, l, m, n are R1 and R2, in the case where an integer of 1 or more, n = 1 is NH 2. In addition, n it is 2 or more in the case R1 and R2 may be NH 2, CH 3, that is selected from OH, CH 2 OH, COOH R1 and R2 are the same or different.

본 명세서에서 "무전해 도금액"이란 무전해 도금(electroless plating)에 이용되는 도금액을 의미하는 것으로, 상기 무전해 도금은 전기를 사용하지 않고 화학 반응을 통해 도금하는 방식으로 도금액에 포함된 금속이온이 전자를 받아서 환원되어 도금되는 물체의 표면에 달라붙는 원리를 이용하는 것이다. In the present specification, the term "electroless plating solution" means a plating solution used for electroless plating. In the electroless plating, the metal ions contained in the plating solution are electroplated through a chemical reaction without using electricity. It uses the principle that it receives electrons and sticks to the surface of the object to be reduced and plated.

이하, 각 구성에 대하여 설명하도록 한다. Hereinafter, each configuration will be described.

(1) 수용성 니켈염은 석출되어 도금되는 주된 물질이다. 상기 수용성 니켈염의 예로는 황산니켈, 염화니켈, 아세트산니켈, 탄산니켈, 수산화니켈 및 이들의 혼합물 등이 있으나, 이에 한정되는 것은 아니고 공지의 수용성 니켈염을 모두 포함할 수 있다. 상기 수용성 니켈염에서 니켈 이온의 함량은 0.5 내지 20 g/L일 수 있다. 수용성 니켈염(또는 니켈 이온)의 함량이 지나치게 많은 경우에는 제품생산비용이 필요이상으로 증가하는 문제가 있으며, 반대로 지나치게 적은 경우에는 도금되지 않는 문제가 있다.(1) The water-soluble nickel salt is a main material to be precipitated and plated. Examples of the water soluble nickel salt include nickel sulfate, nickel chloride, nickel acetate, nickel carbonate, nickel hydroxide, and mixtures thereof, but not limited thereto, and may include all known water soluble nickel salts. The content of nickel ion in the water soluble nickel salt may be 0.5 to 20 g / L. If the content of the water-soluble nickel salt (or nickel ion) is excessively large, there is a problem that the cost of production of the product is increased more than necessary. On the other hand, when the content is too small, plating is not performed.

(2) 환원제는 니켈 이온을 니켈 금속으로 환원시키는 기능을 한다. 상기 환원제는 차아인산 또는 차아인산염을 사용할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니고 무전해 니켈(내지 니켈-인) 합금 도금액에서 사용되는 공지의 환원제를 모두 포함할 수 있다. 한편, 상기 차아인산 및 차아인산염의 예로는 차아인산나트륨, 차아인산칼륨 등이 있다. 상기 환원제의 함량은 0.1 내지 100 g/L일 수 있다. 환원제의 함량이 지나치게 많은 경우에는 제품생산비용이 필요이상으로 증가할 뿐만 아니라 도금액의 안정성이 저하되는 문제가 있으며, 반대로 지나치게 적은 경우에는 도금되지 않는 문제가 있다.(2) The reducing agent functions to reduce nickel ions to nickel metal. The reducing agent may include hypophosphorous acid or hypophosphite, but is not limited thereto, and may include all known reducing agents used in the electroless nickel (or nickel-phosphorus) alloy plating solution. On the other hand, examples of the hypophosphorous acid and hypophosphite include sodium hypophosphite, potassium hypophosphite, and the like. The content of the reducing agent may be 0.1 to 100 g / L. When the content of the reducing agent is excessively large, the production cost of the product is increased more than necessary and the stability of the plating solution is deteriorated. On the other hand, when the amount is too small, plating is not performed.

(3) 안정제는 도금액의 분해를 저지시키는 기능을 하는 것으로, 석출되는 니켈 입자를 작게 해주는 결정립 미세화제의 역할을 할 수도 있다. 상기 니켈 입자의 결정립이 미세화될 경우에는 용접성 및 내절곡성이 향상될 수 있다. 상기 안정제는 납, 비스무트 등의 중금속을 포함하는 화합물이거나 황을 포함하는 화합물일 수 있다. 전자의 예로는 아세트산납, 구연산납, 아세트산비스무트, 구연산 비스무트 등이 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다. 또한, 후자의 예로는 티오우레아, 알킬티오우레아, 티오디아세트산, 티오디아세트산염, 티오디글리콜산, 디티오네이트, 디티오네이트염, 티오황산, 티오황산염, 티오황산소다, 티오시안산나트륨, 티오시안산칼륨, 티오글리콜산 등이 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다. 상기 안정제의 함량은 0.0001 내지 100 mg/L일 수 있다. 안정제의 함량이 지나치게 많은 경우 도금이 되지 않는 문제가 있으며, 반대로 지나치게 적은 경우에는 도금액의 안정성이 저하되는 문제가 있다.(3) The stabilizer has a function of inhibiting the decomposition of the plating liquid, and may serve as a grain refinement agent for reducing nickel particles to be precipitated. When the crystal grains of the nickel particles are made finer, the weldability and the bending resistance can be improved. The stabilizer may be a compound containing a heavy metal such as lead, bismuth, or a compound containing sulfur. Examples of the former include, but are not limited to, lead acetate, lead citrate, bismuth acetate, and bismuth citrate. Examples of the latter include thiourea, alkylthiourea, thiodiacetate, thiodiacetate, thiodiglycolate, dithionate, dithionate salt, thiosulfate, thiosulfate, sodium thiosulfate, sodium thiocyanate , Potassium thiocyanate, thioglycolic acid, and the like, but are not limited thereto. The content of the stabilizer may be 0.0001 to 100 mg / L. If the content of the stabilizer is excessively large, there is a problem that plating can not be performed. Conversely, if the amount is too small, the stability of the plating solution is deteriorated.

(4) 착화제는 니켈염을 착화시켜 안정적인 니켈 이온을 공급하는 기능을 한다. 상기 착화제는 호박산, 아디프산, 젖산, 말로닉산, 구연산, 옥살산 등의 카르복실산 및 이들의 염이나, 글리신, 글루타민산, 글루탐, 알가닌 등의 아미노산 및 이들의 염을 사용할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니고 무전해 니켈-인 합금 도금액에서 사용되는 공지의 착화제를 모두 포함할 수 있다. 상기 착화제의 함량은 0.1 내지 100 g/L일 수 있다. 착화제의 함량이 지나치게 많은 경우 제품생산비용이 필요이상으로 증가하는 문제가 있으며, 반대로 지나치게 낮은 경우에는 도금액의 안정성이 저하되거나 석출속도가 저하되는 문제가 있다.(4) The complexing agent functions to ignite a nickel salt to supply stable nickel ions. The complexing agent may be a carboxylic acid such as succinic acid, adipic acid, lactic acid, malonic acid, citric acid or oxalic acid, or a salt thereof, or an amino acid such as glycine, glutamic acid, glutamate, But the present invention is not limited thereto and may include all known complexing agents used in the electroless nickel-phosphorus alloy plating solution. The content of the complexing agent may be 0.1 to 100 g / L. If the content of the complexing agent is too large, there is a problem that the production cost of the product increases more than necessary. On the contrary, when the amount is too low, the stability of the plating solution is lowered or the deposition rate is lowered.

(5) pH 조정제는 도금액의 pH를 조정하는 기능을 한다. 상기 pH 조정제는 산 또는 염기를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 pH 조정제는 황산, 인산, 염산, 아황산, 질산, 탄산 등의 산성 물질, 또는 암모니아수, 수산화나트륨, 수산화칼륨 등의 알킬리성 물질을 포함할 수 있으며 상기 열거된 물질이 2 이상 혼합된 형태를 포함하는 것도 가능하다. 또한, 상기 pH 조정제는 상기 열거된 물질로 한정되는 것은 아니고, 도금액의 pH를 조정하기 위한 산 및/또는 염기를 포함하는 공지의 물질을 모두 포함할 수 있다. pH 조정제는 도금액의 목적하는 pH를 달성하기 위하여 첨가되는 것이므로 경우에 따라 다양한 함량을 가질 수 있다. (5) The pH adjusting agent functions to adjust the pH of the plating solution. The pH adjusting agent may include an acid or a base. For example, the pH adjusting agent may include an acidic substance such as sulfuric acid, phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, nitric acid, or carbonic acid, or an alkylic substance such as ammonia water, sodium hydroxide, potassium hydroxide, And the like. In addition, the pH adjuster is not limited to the above listed materials, and may include all known materials including acids and / or bases for adjusting the pH of the plating solution. The pH adjusting agent is added in order to achieve the desired pH of the plating liquid, so that it may have various contents depending on the case.

(6) 상기 [화학식 1]로 표현되는 화합물은 본 발명의 일 실시예에 따른 무전해 니켈 도금액의 내절곡성(folding endurance)을 향상시키는 기능을 한다. 상기 [화학식 1]은 디에틸렌트리아민, 트리에틸렌테트라아민 또는 테트라에틸렌펜타아민을 포함할 수 있으며, 이에 한정되지 않고 상기 [화학식 1]을 만족하는 모든 화합물을 포함할 수 있다. 한편, 본 명세서에서 "내절곡성"이란 절곡 등의 변형에 저항하는 특성을 의미하며, 내절곡성이 향상된다는 의미는 절곡 등의 변형이 가해지는 경우에 손상/파괴되지 정도가 종전보다 낮음을 말한다. (6) The compound represented by the formula (1) functions to improve the folding endurance of the electroless nickel plating solution according to one embodiment of the present invention. The above formula (1) may include diethylene triamine, triethylene tetramine, or tetraethylene pentaamine, but not limited thereto, and may include all compounds satisfying the above formula (1). In the present specification, the term " bending resistance "refers to a property of bending or the like to resist deformation. The term " improved bending resistance " means that the degree of bending or breaking is lowered.

관련하여, 도 1은 종래 무전해 니켈 도금액에서의 도금층 형성 모습의 이미지이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 무전해 니켈 도금액에서의 도금층 형성 모습의 이미지이다. 도 1 및 도 2는 주사전자현미경(SEM, Scanning Electron Microscope)을 사용하여 ×10,000 배율로 촬영하였다. FIG. 1 is an image of a plating layer formation in a conventional electroless nickel plating solution, and FIG. 2 is an image of a plating layer formation in an electroless nickel plating solution according to an embodiment of the present invention. 1 and 2 were photographed at a magnification of × 10,000 using a scanning electron microscope (SEM).

도 1 및 도 2를 참조하면, 종래 무전해 니켈 도금액에서는 니켈 피막의 성장시 구리층의 수평방향으로 성장하는 경향이 있었으므로 내절곡성이 목적하는 수준에 도달하지 못하는 문제점이 있었다(도 1). 그러나, 본 발명의 일 실시예에 따른 무전해 니켈 도금액에서는 폴리아민을 첨가하여 니켈 피막이 구리층의 수직 방향으로 우선 성장하게 함으로써 상기 내절곡성을 향상시켰다(도 2). 이에 대해서는 후술할 시험예에서 보충하여 설명하도록 한다. Referring to FIGS. 1 and 2, in the conventional electroless nickel plating solution, since the copper layer tends to grow in the horizontal direction during the growth of the nickel coating, there is a problem that the bending resistance can not reach the desired level (FIG. However, in the electroless nickel plating solution according to one embodiment of the present invention, the polyamide was added so that the nickel film was first grown in the vertical direction of the copper layer to improve the bending resistance (FIG. 2). This will be supplemented by a test example to be described later.

상기 [화학식 1]의 함량은 0.00001 내지 100mg/L일 수 있다. 상기 [화학식 1]의 함량이 지나치게 많은 경우에는 도금속도가 저하되는 문제가 있으며, 반대로 지나치게 적은 경우에는 니켈 도금층의 수직성장이 제대로 이루어지지 않으므로 내절곡성 향상을 기대하기 어렵다는 문제가 있다.The content of [Formula 1] may be 0.00001 to 100 mg / L. When the content of [Formula 1] is excessively high, the plating rate is lowered. On the other hand, when the content is too small, vertical growth of the nickel plating layer is not achieved properly.

상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들은 폴리아민을 포함하여 니켈 피막이 구리층의 수직 방향으로 성장하게 함으로써 무전해 니켈 도금액의 내절곡성을 향상시킬 수 있다는 장점을 갖는다. As described above, the embodiments of the present invention have an advantage in that the nickel film including the polyamine grows in the vertical direction of the copper layer, thereby improving the bending resistance of the electroless nickel plating solution.

또한, 본 발명에서는 상술한 무전해 니켈 도금액을 이용하여 도금층을 형성시킨 전자부품을 더 제공할 수 있다. 이 때, 상기 전자부품은 연성인쇄회로기판일 수 있다. 상기 전자부품(연성인쇄회로기판)은 내절곡성이 향상된 무전해 니켈-인 합금 도금액에 의하여 도금층이 형성되었으므로 장기간 사용시에도 손상/파괴되지 않아 제품 수명이 길어진다는 장점을 갖는다. Further, in the present invention, it is possible to further provide an electronic component in which a plating layer is formed using the electroless nickel plating solution described above. At this time, the electronic component may be a flexible printed circuit board. Since the plating layer is formed by the electroless nickel-phosphorus alloy plating solution having improved bending resistance, the electronic component (flexible printed circuit board) has an advantage that the life of the product is prolonged because it is not damaged / destroyed even when used for a long time.

이하, 본 발명의 시험예에 대하여 설명하도록 한다. 다만, 하기의 시험예가 본 발명을 한정하지 않음은 자명하다. Hereinafter, a test example of the present invention will be described. However, it is apparent that the following test examples do not limit the present invention.

시험예Test Example

(1) (One) 비교예Comparative Example  And 실시예의Example 준비 Ready

시험을 위하여, 하기 [표 1]에 기재된 비교예 및 실시예 1,2,3의 도금액을 준비하였다. 또한, 탈지, 산세(acid cleaning), 표면활성 처리 등의 도금을 위한 전처리 공정을 거쳐 구리(배선)층이 형성된 연성인쇄회로기판을 준비하였다. For the test, the plating solutions of Comparative Examples described in [Table 1] and Examples 1, 2, and 3 were prepared. Further, a flexible printed circuit board on which a copper (wiring) layer was formed through a pretreatment process for plating such as degreasing, acid cleaning, and surface activation treatment was prepared.

다음으로, 10리터 용기에 이온교환수 5리터를 채우고 비교예 및 실시예 1,2,3의 도금액을 각각 첨가하여 용해시킨 후에 이온교환수를 이용하여 전체 부피가 10리터가 되도록 하여 도금욕을 조성하였다(pH는 4.6으로 맞춰졌다). 다음으로, 상기 연성인쇄회로기판을 82℃에서 10분간 상기 도금욕에 침지시킴으로써 니켈-인 도금층이 형성된 연성인쇄회로기판을 얻었다. 다음으로, 상기 연성인쇄회로기판을 금도금액(AUL-5, KPM TECH社)에 침지하여 상기 니켈-인 도금층 상부에 0.04~0.08㎛의 두께를 갖는 금도금층을 형성하였다.Next, 5 liters of ion-exchanged water was filled in a 10-liter vessel, and a plating bath of Comparative Example and Examples 1, 2 and 3 were respectively added and dissolved. Then, ion-exchanged water was used to make a total volume of 10 liters, (PH was adjusted to 4.6). Next, the flexible printed circuit board was immersed in the plating bath at 82 캜 for 10 minutes to obtain a flexible printed circuit board on which a nickel-phosphorus plating layer was formed. Next, the flexible printed circuit board was immersed in a gold plating solution (AUL-5, KPM TECH) to form a gold-plated layer having a thickness of 0.04 to 0.08 μm on the nickel-phosphorous plating layer.

(2)  (2) 내절곡성Bending 평가 evaluation

상기 (1)에서 준비된 비교예 및 실시예 1,2,3에 대하여 내절곡성 평가시험을 행하였다. 상기 내절곡성 평가시험은 JIS P 8115(지류, 판지류의 내절곡성 평가방법)에 규정된 평가방법을 통하여 이루어졌다. 보다 구체적으로는 JIS P 8115 MIT 자동절곡시험기에 비교예 및 실시예 1,2,3에 해당하는 연성인쇄회로기판을 부착하고 상기 연성인쇄회로기판이 파단될 때까지의 절곡회수를 측정하였다. The comparative example prepared in the above (1) and the examples 1, 2, and 3 were subjected to an endurance evaluation test. The above-mentioned bending resistance evaluation test was carried out through the evaluation method prescribed in JIS P 8115 (method of evaluating the bending resistance of a tributary and a plate tributary). More specifically, the flexible printed circuit boards corresponding to the comparative example and the first, second, and third embodiments were attached to the JIS P 8115 MIT automatic bending test machine, and the bending times until the flexible printed circuit board was broken were measured.

(3) 시험결과(3) Test results

하기 [표 1]에서는 비교예 및 실시예 1,2,3의 구성, 각 구성의 함량, 도금층의 두께 및 내절곡성 평가결과를 정리하였다. 비교예 및 실시예 1,2,3은 상술한 것과 같이 연성인쇄회로기판을 82℃에서 10분간 상기 도금욕에 침지시켜 도금층을 형성시킴으로써 얻어졌다(pH는 4.6).In Table 1 below, the compositions of Comparative Examples and Examples 1, 2 and 3, the content of each composition, the thickness of the plating layer and the evaluation results of the bending resistance are summarized. Comparative Example and Examples 1, 2, and 3 were obtained by dipping the flexible printed circuit board in the plating bath at 82 캜 for 10 minutes as described above to form a plating layer (pH is 4.6).

단위unit 비교예Comparative Example 실시예 1Example 1 실시예 2Example 2 실시예 3Example 3 황산니켈6수화물Nickel sulfate hexahydrate g/Lg / L 2222 2222 2222 2222 차아인산나트륨1수화물Sodium hypophosphite monohydrate g/Lg / L 2525 2525 2525 2525 28% 암모니아수28% ammonia water ml/Lml / L 3030 3030 3030 3030 젖산Lactic acid g/Lg / L 1515 1515 1515 1515 사과산Malic acid g/Lg / L 1010 1010 1010 1010 아디프산Adipic acid g/Lg / L 1010 1010 1010 1010 글루탐산나트륨1수화물Sodium glutamate monohydrate g/Lg / L 5.05.0 5.05.0 5.05.0 5.05.0 아세트산납3수화물Lead acetate trihydrate mg/Lmg / L 1.01.0 1.01.0 1.01.0 1.01.0 티오우레아Thiourea mg/Lmg / L 0.10.1 0.10.1 0.10.1 0.10.1 디에틸렌트리아민Diethylenetriamine mg/Lmg / L -- 0.010.01 -- -- 트리에틸렌테트라아민Triethylenetetraamine mg/Lmg / L -- -- 0.0050.005 -- 테트라에틸렌펜타아민Tetraethylene pentaamine mg/Lmg / L -- -- -- 0.0030.003 도금층 두께Plating layer thickness ㎛(10분)(10 minutes) 2.02.0 1.91.9 1.91.9 1.81.8 내절곡성(절곡횟수)Bending resistance (bending frequency) 횟수Number of times 7878 313313 415415 435435

상기 [표 1]을 참조하면, 다른 조건이 동일한 상태에서 디에틸렌트리아민, 트리에틸렌테트라아민 또는 테트라에틸렌펜타아민이 추가적으로 포함된 무전해 니켈-인 합금 도금액(실시예 1,2,3)의 경우가 그렇지 않은 경우(비교예)에 비하여 내절곡성이 크게 향상되었음(4배 이상)을 알 수 있다. Referring to Table 1, the electroless nickel-phosphorus alloy plating solution (Examples 1, 2 and 3) containing diethylenetriamine, triethylenetetraamine or tetraethylenepentamine under the same conditions as those of the electroless nickel- (4 times or more) in comparison with the case where the case is not the case (Comparative Example).

이상, 본 발명의 실시예들에 대하여 설명하였으나, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서, 구성 요소의 부가, 변경, 삭제 또는 추가 등에 의해 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있을 것이며, 이 또한 본 발명의 권리범위 내에 포함된다고 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, many modifications and changes may be made by those skilled in the art without departing from the spirit and scope of the invention as defined in the appended claims. The present invention can be variously modified and changed by those skilled in the art, and it is also within the scope of the present invention.

Claims (5)

수용성 니켈염, 환원제, 안정제, 착화제 및 pH 조정제를 포함하는 무전해 니켈 도금액에 있어서, 상기 무전해 니켈 도금액의 내 절곡성 향상을 위하여 테트라에틸렌펜타아민을 더 포함하는 무전해 니켈 도금액.An electroless nickel plating solution comprising a water-soluble nickel salt, a reducing agent, a stabilizer, a complexing agent, and a pH adjuster, wherein the electroless nickel plating solution further comprises tetraethylene pentaamine for improving resistance to bending of the electroless nickel plating solution. 황산니켈 6수화물 10~45 g/L, 차아인산나트륨 1수화물 15~45 g/L, 28% 암모니아수 1~40 ml/L, 젖산 1~20 g/L, 사과산 1~20 g/L, 아디프산 1~20 g/L, 글루탐산나트륨 1수화물 1~10 g/L, 아세트산납 3수화물 0.1~50 mg/L, 티오우레아 0.05~5 mg/L 및 테트라에틸렌펜타아민 0.0001~1 mg/L을 포함하는 무전해 니켈 도금액.Nickel sulfate hexahydrate 10 to 45 g / L, sodium hypophosphite monohydrate 15 to 45 g / L, 28% ammonia water 1 to 40 ml / L, lactic acid 1 to 20 g / 1 to 20 g / L of dibasic acid, 1 to 10 g / L of sodium glutamate monohydrate, 0.1 to 50 mg / L of lead acetate trihydrate, 0.05 to 5 mg / L of thiourea and 0.0001 to 1 mg / And an electroless nickel plating solution. 삭제delete 청구항 1 또는 2에 따른 무전해 니켈 도금액을 이용하여 도금층을 형성시킨 전자부품.An electronic component in which a plating layer is formed using the electroless nickel plating solution according to claim 1 or 2. 청구항 4에 있어서,
상기 전자부품은 연성인쇄회로기판인 전자부품.
The method of claim 4,
Wherein the electronic component is a flexible printed circuit board.
KR1020120091302A 2012-08-21 2012-08-21 Nickel electroless plating solution and electronic component using same KR101476601B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120091302A KR101476601B1 (en) 2012-08-21 2012-08-21 Nickel electroless plating solution and electronic component using same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120091302A KR101476601B1 (en) 2012-08-21 2012-08-21 Nickel electroless plating solution and electronic component using same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140025105A KR20140025105A (en) 2014-03-04
KR101476601B1 true KR101476601B1 (en) 2014-12-24

Family

ID=50640431

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120091302A KR101476601B1 (en) 2012-08-21 2012-08-21 Nickel electroless plating solution and electronic component using same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101476601B1 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102121755B1 (en) * 2020-02-20 2020-06-12 주식회사 씨엠케미칼 An electroless nickel plating solution easy to convert use
CN111763932A (en) * 2020-06-01 2020-10-13 东莞市斯坦得电子材料有限公司 Nickel plating process for flexible printed circuit board

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003253477A (en) * 2002-01-29 2003-09-10 Bayer Ag Corrosion inhibitor and method for protecting metallic material in strong alkaline medium
JP2005082883A (en) * 2003-09-11 2005-03-31 Okuno Chem Ind Co Ltd Electroless nickel plating liquid
KR20110083586A (en) * 2011-07-01 2011-07-20 삼성전기주식회사 Electroless nickel solution composition

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003253477A (en) * 2002-01-29 2003-09-10 Bayer Ag Corrosion inhibitor and method for protecting metallic material in strong alkaline medium
JP2005082883A (en) * 2003-09-11 2005-03-31 Okuno Chem Ind Co Ltd Electroless nickel plating liquid
KR20110083586A (en) * 2011-07-01 2011-07-20 삼성전기주식회사 Electroless nickel solution composition

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140025105A (en) 2014-03-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5526440B2 (en) Printed wiring board formed using reduced deposition type electroless gold plating solution for palladium film
JP5466600B2 (en) Displacement gold plating solution and method of forming joint
JP2010261082A (en) Electroless palladium plating solution
JP2008184679A (en) Activation composition for electroless palladium plating
JP5288362B2 (en) Multilayer plating film and printed wiring board
TWI709663B (en) Plating bath composition for electroless plating of gold, method for depositing a gold layer and use of ethylenediamine derivative
JP6569026B1 (en) Electroless palladium plating solution and palladium film
JP3800213B2 (en) Electroless nickel plating solution
KR101476601B1 (en) Nickel electroless plating solution and electronic component using same
US8771409B2 (en) Electroless gold plating solution and electroless gold plating method
JP2010255010A (en) Electroless gold plating bath
US20120244276A1 (en) Method for depositing a palladium layer suitable for wire bonding on conductors of a printed circuit board, and palladium bath for use in said method
CN105051254B (en) For the method for the copper surface active of electroless-plating
JP4230813B2 (en) Gold plating solution
KR101462562B1 (en) Electroless nikel plating solution and electronic component using same
EP3517651B1 (en) Electroless gold plating bath
KR100894127B1 (en) Electroless nickel plating solution and non-cyanogen substitutional electroless gold plating solution
JP4051513B2 (en) Replacement type electroless gold plating solution
JP2004250765A (en) Gold plating liquid, and method of producing electronic component
JP7316250B2 (en) Electroless gold plating bath and electroless gold plating method
JP5066691B2 (en) Method to stabilize electroless gold plating bath
JP2007162061A (en) Autocatalytic electroless gold-plating liquid

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee