KR101439838B1 - Noise measurement method and its measurement system - Google Patents

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KR101439838B1 KR1020080082362A KR20080082362A KR101439838B1 KR 101439838 B1 KR101439838 B1 KR 101439838B1 KR 1020080082362 A KR1020080082362 A KR 1020080082362A KR 20080082362 A KR20080082362 A KR 20080082362A KR 101439838 B1 KR101439838 B1 KR 101439838B1
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켄지 콘도
타케시 이시다
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가부시키가이샤 노이즈 겐큐우죠
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Abstract

본 발명은 방사 노이즈의 분포, 강도의 경향을 파악할 수 있어, 대책해야 할 포인트를 좁힐 수 있고, 또한 대책 후의 효과를 바로 확인할 수 있어, 측정 회수도 줄일 수 있는 노이즈 계측 방법 및 계측 시스템을 제공한다. 계측 대상이 되는 전자 기기(1)로부터 방출되는 전자파에서, 파장이 1mm 이상인 전자파 및 파장이 0.7㎛~1mm 미만인 적외선 영역의 전자파인 2종류의 전자파를 계측하고, 계측한 상기 2종류의 전자파의 방출 위치 및 방출 강도를 전자 기기(11)에서 방출되는 장소에 대응시켜 표시한다.

Figure R1020080082362

노이즈, 방사 노이즈, 적외선 측정부

The present invention provides a noise measurement method and a measurement system capable of grasping the distribution and intensity tendency of radiation noise, narrowing the points to be counteracted, immediately confirming effects after the measures, and reducing the number of measurements . Two types of electromagnetic waves whose electromagnetic waves are 1 mm or more in wavelength and infrared electromagnetic waves whose wavelength is 0.7 to less than 1 mm are measured in the electromagnetic wave emitted from the electronic device 1 to be measured and the two types of electromagnetic waves emitted Position and emission intensity corresponding to the place where the electronic device 11 is emitted.

Figure R1020080082362

Noise, radiation noise,

Description

노이즈 계측 방법 및 계측 시스템{NOISE MEASUREMENT METHOD AND ITS MEASUREMENT SYSTEM}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a noise measurement method and an instrumentation system,

본 발명은 전자 기기에서 방출된 전자파를 가시화(可視化)할 수 있도록 계측하기 위한 노이즈 계측 방법 및 계측 시스템에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a noise measurement method and a measurement system for measuring an electromagnetic wave emitted from an electronic device so as to be visible.

최근에 프린터 기판 등은, 전자 기기의 소형화에 따라 실장(實裝) 밀도가 높아짐과 함께 동작 주파수도 높게 되어 방출 노이즈가 나오기 쉽게 되고, 그 때문에 방출 노이즈 대책이 점점 곤란한 상황이 되고 있다. 예를 들면, 프린터 기판의 방출 노이즈 대책은 패턴 설계에 힘입은 바가 크고, 그 전자 방해 평가에 많은 시간을 요하고 있었다. 이 전자파에 대한 대책으로서, 설계 단계부터 시뮬레이션(simulation)에 의해 행해지고 있었다. 그러나 현실적으로는 시작(試作) 단계에서의 실측에 있어서 평가, 발생 원인 확인 및 대책 효과 확인 등에 있어서 실측의 중요성이 높아지고 있다. 또한, 전자파 방출에 의한 대책 설계와 마찬가지로, 발열에 대한 열 대책 설계가 중요하게 되어, 시뮬레이션 등에 의해 사전 대책이 이루어지고 있었는데, 역시 실측의 중요성이 높아지고 있다. 즉, 현장에서는, 전자파의 대책 후에 열 대책을 다시 설계하거나, 또는 열 대책 후에 전자파의 방출이 커지는 등의 현상에 의해 개발 기간, 평가 기간을 낭비하는 결과가 되는 경우가 있다. 여기에서 전자파란, 전자 기기에서 발생하는 방해가 되는, 파장이 1mm 이상의 전자파 및 파장이 0.7㎛~1mm 미만 정도의 적외선 영역의 전자파를 말한다.In recent years, with the miniaturization of electronic apparatuses, the mounting density of the printer substrate and the like has become higher, and the operating frequency becomes higher, so that the emission noise is more likely to come out, and the countermeasure against the emission noise becomes more and more difficult. For example, measures for coping with emission noise of a printer substrate have been greatly influenced by pattern design, and it took much time to evaluate the electromagnetic disturbance. As countermeasures against this electromagnetic wave, it has been done by simulation from the designing stage. However, in actuality, the importance of actual measurement is increasing in the actual evaluation at the trial (trial) stage, in the confirmation of the cause of occurrence, and in the confirmation of the countermeasure effect. In addition, similar to the countermeasure design by electromagnetic wave emission, thermal countermeasure design against heat generation is important, and countermeasures have been made by simulation or the like, but the importance of actual measurement is also increasing. In other words, on the spot, there is a case where the development period and the evaluation period are wasted due to a phenomenon such as redesigning the thermal after the electromagnetic wave countermeasures, or increasing the emission of the electromagnetic wave after the thermal countermeasure. Here, electromagnetic wave refers to an electromagnetic wave having a wavelength of 1 mm or more and an electromagnetic wave having an infrared wavelength range of 0.7 to less than 1 mm, which is an interference generated in an electronic device.

한편, 본 출원인은 각종 전자 기기 등에서 발생하는 공간파 노이즈의 발생 방향을 탐사하는 공간파 노이즈의 방향 탐사 방법 및 그 탐사 시스템에 관해서 제시하고 있다(예를 들면, 특허 문헌 1 참조). 또한, 전자 회로를 실장한 프린터 배선 기판에서 복사(輻射)하는 노이즈(전자파) 발생 위치를 자동적으로 특정하는 장치에 관련해서 노이즈 파인더 장치가 제시되어 있다(예를 들면, 특허 문헌 2 참조).On the other hand, the applicant of the present invention has proposed a method of searching for a direction of a space-wave noise that exploits the direction of spatial noise generated in various electronic devices and the like and a method of exploring the system. Further, a noise finder apparatus is proposed in relation to an apparatus for automatically specifying a position at which a noise (electromagnetic wave) generated by a printer wiring board on which an electronic circuit is mounted is radiated (see, for example, Patent Document 2).

<특허 문헌 1> 일본 특허 공개 2002-323548호 공보Patent Document 1: JP-A-2002-323548

<특허 문헌 2> 일본 특허 공개 1993-312867호 공보Patent Document 2: JP-A-1993-312867

본 발명은 상기 사정에 감안하여 이루어진 것으로, 방사 노이즈의 분포, 강도(强度)의 경향을 파악할 수 있고, 대책해야 할 포인트를 좁히는 것이 가능하게 되며, 또한 대책 후의 효과를 바로 확인할 수 있고, 측정 회수도 줄일 수 있는 노이즈 계측 방법 및 계측 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is possible to grasp the distribution of radiation noise and the tendency of the intensity, to narrow down the points to be countermeasured, to immediately check the effect after the measures, And to provide a noise measurement method and a measurement system capable of reducing noise.

상기 목적을 달성하기 위해서 청구항 1에 기재된 발명에서는, 측정 대상이 되는 전자 기기로부터 방출되는 전자파에서, 파장이 1mm 이상인 전자파 및 파장이 0.7㎛~1mm 미만인 적외선 영역의 전자파인 2종류의 전자파를 계측하고, 계측한 상기 2종류의 전자파의 방출 위치 및 방출 강도를 상기 전자 기기에서 방출되는 장소에 대응시켜 표시하는 을 특징으로 하는 것이다. 2종류의 전자파 강도를 계측함으로써, 방사 노이즈의 분포, 강도의 경향을 파악하여 대책해야 할 포인트를 좁힐 수 있고, 또한 대책 후의 효과를 바로 확인할 수 있어 측정 회수도 줄일 수 있게 된다.In order to attain the above object, in the invention according to claim 1, two kinds of electromagnetic waves, which are electromagnetic waves of a wavelength of 1 mm or more and electromagnetic waves of an infrared region whose wavelength is less than 0.7 m to 1 mm, are measured from electromagnetic waves emitted from electronic devices to be measured And displays the measured emission positions and emission intensities of the two types of electromagnetic waves in correspondence with the position where the electromagnetic waves are emitted from the electronic device. By measuring the two types of electromagnetic wave intensities, it is possible to narrow down the points to be countermeasures by grasping the tendency of the distribution and strength of the radiation noise, and to immediately check the effect after the countermeasure, thereby reducing the number of times of measurement.

청구항 2에 기재된 발명에 있어서는, 측정 대상이 되는 전자 기기에서 방출되는 파장이 1mm이상의 전자파를 계측하는 전자파 측정부 및 파장이 0.7㎛~1mm 미만의 적외선 영역의 전자파를 계측하는 적외선 측정부를 포함하는 계측부와, 상기 계측부에서 계측한 상기 2종류의 전자파를 독취하여 기억함과 동시에 노이즈 계측을 위한 데이터 처리를 수행하는 데이터 처리부와, 상기 데이터 처리부에서 처리된 데이터를 표시기에 표시 또는 인쇄기에 인쇄시키는 출력부를 포함하는 것을 특징으로 하는 것이다. 2종류의 전자파 강도를 계측함으로써, 방사 노이즈의 분포, 강도의 경향을 파악하여 대책해야 할 포인트를 좁힐 수 있고, 또한 대책 후의 효과를 바로 확인할 수 있어 측정 회수도 줄일 수 있게 된다.In the invention as set forth in claim 2, there is provided a measuring apparatus including an electromagnetic wave measuring unit for measuring an electromagnetic wave having a wavelength of 1 mm or more emitted from an electronic device to be measured and an infrared ray measuring unit for measuring an electromagnetic wave having an infrared wavelength range of 0.7 to 1 mm A data processing unit for reading and storing the two types of electromagnetic waves measured by the measuring unit and performing data processing for noise measurement, and an output unit for displaying data processed by the data processing unit on a display unit or printing on a printing machine . By measuring the two types of electromagnetic wave intensities, it is possible to narrow down the points to be countermeasures by grasping the tendency of the distribution and strength of the radiation noise, and to immediately check the effect after the countermeasure, thereby reducing the number of times of measurement.

청구항 3에 기재된 발명에 있어서는, 상기 전자파 측정부는 평탄한 상자형의 케이스부에 형성되고, 이 케이스부의 상면에는 측정 대상이 되는 상기 전자 기기를 수평으로 배치하는 투명한 판재로 이루어지는 측정판이 설치되고, 이 측정판의 하부의 상기 케이스부 내에 수평한 X축 방향 및 Y축 방향으로 이동하는 전자파 검지용 안테나 프로브가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 것이다. 전자파 검지용 안테나 프로브를 수평한 X축 방향 및 Y축 방향으로 이동시켜서 전자 기기에서 방출되 는 전자파를 검출하는 것이 가능하다. In the invention according to claim 3, the electromagnetic wave measuring unit is formed in a flat box-shaped case part, and a measurement plate made of a transparent plate material horizontally arranging the electronic device to be measured is provided on the upper surface of the case part, And an antenna probe for electromagnetic wave detection which is movable in the horizontal X-axis direction and the Y-axis direction is provided in the case portion at the lower portion of the plate. It is possible to detect the electromagnetic waves emitted from the electronic device by moving the antenna probe for electromagnetic wave detection in the horizontal X-axis direction and the Y-axis direction.

청구항 4에 기재된 발명에 있어서는, 상기 적외선 측정부는 상기 측정판 근방의 상기 케이스부의 상부에 지지축이 설치되고, 이 지지축의 상단부측에 적외선 검지기가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 것이다. 적외선 검지기에 의해 전자파를 계측하는 것이 가능하다.In the invention as set forth in claim 4, the infrared measuring unit is characterized in that a supporting shaft is provided on the upper part of the case part in the vicinity of the measuring plate, and an infrared ray detector is provided on the upper end side of the supporting shaft. It is possible to measure the electromagnetic wave by the infrared detector.

청구항 5에 기재된 발명에 있어서는, 상기 데이터 처리부는 상기 전자파 측정부로부터 송신되어 오는 전자파 데이터를 수신하는 전자파 데이터 입력부와, 상기 적외선 측정부로부터 송신되어 오는 적외선 데이터를 수신하는 적외선 데이터 입력부와, 상기 전자파 데이터 입력부에서 수신한 상기 전자파 데이터를 기억하는 전자파 데이터 기억부와, 상기 적외선 데이터 입력부에서 수신한 적외선 데이터를 기억하는 적외선 데이터 기억부와, 상기 전자파 데이터 기억부 및 적외선 테이터 기억부에 기억한 데이터를 독출하는 데이터 독출부와, 이 데이터 독출부에서 독출한 데이터를 표시 또는 인쇄하기 위해서 출력하는 출력부를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 것이다. 데이터 처리부에 의해 전자파 데이터 및 적외선 데이터를 데이터 처리하여 출력하는 것이 가능하다.The data processing unit may include an electromagnetic wave data input unit for receiving electromagnetic wave data transmitted from the electromagnetic wave measuring unit, an infrared data input unit for receiving infrared data transmitted from the infrared measuring unit, An infrared data storage unit for storing the infrared data received by the infrared data input unit, and an infrared data storage unit for storing the data stored in the electromagnetic wave data storage unit and the infrared data storage unit A data reading unit for reading data and an output unit for outputting data for displaying or printing the data read by the data reading unit. It is possible to process and output the electromagnetic wave data and the infrared data by the data processing unit.

측정 대상이 되는 전자 기기에서 방출되는 전자파에서 파장이 1mm 이상의 전자파 및 파장이 0.7㎛~1mm 미만의 적외선 영역의 전자파를 계측하고, 전자 기기에서 방출되는 장소에 대응시켜 2종류의 전자파 강도를 계측함으로서, 방사 노이즈의 분포, 강도의 경향을 파악할 수 있어 대책해야 할 포인트를 좁힐 수 있고, 또한 대책 후의 효과를 바로 확인할 수 있어 측정 회수도 줄일 수 있는 노이즈 계측 방법 및 계측 시스템을 제공하는 것이 가능하다.An electromagnetic wave having a wavelength of 1 mm or more and an infrared ray having a wavelength of 0.7 to less than 1 mm is measured from electromagnetic waves emitted from an electronic device to be measured and two kinds of electromagnetic wave intensities are measured It is possible to obtain a noise measurement method and a measurement system capable of narrowing the points to be countermeasures and also confirming the effect after the measures and reducing the number of times of measurement.

또한, 측정 대상이 되는 전자 기기에서 방출되는 파장이 1mm 이상의 전자파를 계측하는 전자파 측정부 및 파장이 0.7㎛~1mm 미만의 적외선 영역의 전자파를 계측하는 적외선 측정부를 포함하는 계측부와, 계측부에서 계측한 상기 2종류의 전자파를 독취하여 기억함과 동시에 노이즈 계측을 위한 데이터 처리를 수행하는 데이터 처리부와, 데이터 처리부에서 처리한 데이터를 표시기에 표시 또는 인쇄기에 인쇄시키는 출력부를 포함함으로써, 방사 노이즈의 분포, 강도의 경향을 파악할 수 있어, 대책해야 할 포인트를 좁힐 수 있고, 또한 대책 후의 효과를 바로 확인할 수 있어 측정 회수도 줄일 수 있는 노이즈 계측방법 및 계측시스템을 제공하는 것이 가능하다.A measuring section including an electromagnetic wave measuring section for measuring an electromagnetic wave having a wavelength of 1 mm or more emitted from the electronic device to be measured and an infrared ray measuring section for measuring electromagnetic waves having an infrared wavelength range of 0.7 to 1 mm, A data processing section for reading and storing the two types of electromagnetic waves and performing data processing for noise measurement and an output section for displaying data processed by the data processing section on a display or printing on a display device, It is possible to obtain a noise measurement method and a measurement system capable of narrowing the points to be countermeasured and also capable of immediately confirming the effect after the countermeasure and reducing the number of times of measurement.

이하, 본 발명을 도시한 일 실시 형태에 의해 구체적으로 설명한다. 도 1~도 4는 본 발명 실시 형태의 노이즈 계측을 설명하는 도면이고, 도 1은 노이즈 계측을 위한 구성을 설명하는 도면, 도 2는 노이즈 계측 시스템을 설명하는 도면, 도 3은 노이즈 계측부의 구성을 설명하는 사시도, 도 4는 노이즈 계측부의 케이스부의 평면도이다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to an embodiment shown in the drawings. 1 to 4 are views for explaining noise measurement according to an embodiment of the present invention. Fig. 1 is a view for explaining a configuration for noise measurement, Fig. 2 is a view for explaining a noise measurement system, Fig. 3 is a configuration Fig. 4 is a plan view of a case portion of the noise measuring unit. Fig.

본 발명의 실시 형태의 노이즈 계측은, 측정 대상이 되는 전자 기기(1)로부터 방사되는 노이즈인 전자파를 계측하는 것으로서, 계측부(10)에서 상기 전자파를 파장이 1mm 이상과, 파장이 0.7㎛~1mm의 적외선 영역으로 구분하여 계측하고, 이 계측부(10)에서 계측한 전자파를 데이터 처리부(20)에서 독취하여 기억함과 동시에 노이즈 계측을 위한 데이터 처리를 수행하며, 그 데이터 처리 결과를 출력부(30)에서 출력하는 처리를 수행하는 것이다.The noise measurement according to the embodiment of the present invention measures electromagnetic waves which are noise emitted from the electronic device 1 as an object of measurement and is characterized in that the measurement section 10 measures the electromagnetic wave at a wavelength of 1 mm or more and a wavelength of 0.7 to 1 mm And the electromagnetic wave measured by the measuring unit 10 is read and stored in the data processing unit 20 and data processing for noise measurement is performed. The data processing result is output to the output unit 30, And outputs the processed data.

계측부(10)는, 계측 대상이 되는 전자 기기(1)에서 방출되는 전자파로서, 파장이 1mm 이상의 전자파를 계측하는 전자파 측정부(11)와, 동일한 전자 기기(1)에서 방사되는 파장이 0.7㎛~1mm 미만 정도의 적외선 영역의 전자파를 측정하는 적외선 측정부(12)와, 전자파 측정부(11)의 측정 동작을 제어하는 측정 제어부(13)로 구성된다. 전자파 측정부(11)는 도 3 및 도 4에 나타내는 바와 같이, 평탄한 상자형의 케이스부(14)에 형성되고, 그 케이스부 (14)의 상면에는 측정 대상이 되는 전자 기기(1)를 수평으로 배치하는 투명한 아크릴판 등으로 이루어지는 측정판(15)이 설치되고, 이 측정판(15)의 하부 케이스부(14) 내에는 측정판(15)의 하부에 있어서 수평한 X축 방향 및 Y축 방향으로 이동하는 전자파 검지용 안테나 프로브(17)가 구동부(16)에 설치된 것이다. 즉, 전자파 측정부(11)는, 측정판(15)의 표면에 배치된 전자 기기(1)의 하부에 있어서, 수평한 X축 방향 및 Y축 방향으로 이동하는 안테나 프로브(17)에 의해, 전자 기기(1)에서 방출되는 전자파를 계측하게 된다. 적외선 측정부(12)는 측정판(15) 근방의 케이스부(14)의 상부에 지지축(18)이 설치되고, 이 지지축(18)의 상단부측에 적외선 검지기(19)가 설치된 것이다. 이 적외선 측정부(12)의 지지축(18)은 그 상단부에 설치된 적외선 검지기(19)가 전자 기기(1)의 상부에 위치하도록 조정 가능하게 경사시킬 수 있도록 되어 있다. 즉, 적외선 측정부(12)는 적외선 검지기(19)를 전자 기기(1)의 상부에 위치하도록 조정하고 전자 기기(1)에서 방출되는 적외선 영역의 전자파를 계측하게 된다.The measuring unit 10 includes an electromagnetic wave measuring unit 11 for measuring an electromagnetic wave having a wavelength of 1 mm or more and an electromagnetic wave measuring unit 11 for measuring the electromagnetic wave emitted from the electronic equipment 1, An infrared ray measuring unit 12 for measuring electromagnetic waves in the infrared region of less than about 1 mm and a measurement control unit 13 for controlling the measuring operation of the electromagnetic wave measuring unit 11. [ 3 and 4, the electromagnetic wave measuring unit 11 is formed in a flat box-shaped case unit 14. On the upper surface of the case unit 14, the electronic device 1 to be measured is arranged horizontally And the lower case 14 of the measuring plate 15 is provided with a horizontal X-axis direction and a Y-axis direction on the lower part of the measuring plate 15, An antenna probe 17 for detecting electromagnetic waves is provided on the driving unit 16. [ That is to say, the electromagnetic wave measuring unit 11 is provided with the antenna probe 17 moving in the horizontal X-axis direction and the Y-axis direction on the lower portion of the electronic apparatus 1 disposed on the surface of the measuring plate 15, So that electromagnetic waves emitted from the electronic device 1 are measured. The infrared ray measuring unit 12 is provided with a support shaft 18 at an upper portion of a case portion 14 near the measurement plate 15 and an infrared ray detector 19 at the upper end side of the support shaft 18. The supporting shaft 18 of the infrared ray measuring unit 12 is adjustably inclined so that the infrared ray detector 19 provided at the upper end thereof is positioned above the electronic apparatus 1. [ That is, the infrared ray measuring unit 12 adjusts the infrared ray detector 19 to be located above the electronic apparatus 1 and measures the electromagnetic wave in the infrared ray region emitted from the electronic apparatus 1. [

데이터 처리부(20)는 퍼스널 컴퓨터(personal computer)로 구성되고, 계측부(10)의 전자파 측정부(11) 및 적외선 측정부(12)에서 송신되어 오는 계측 데이터를 수신하고 데이터 처리하는 부분이다. 이 데이터 처리부(20)는 도 1에 나타내는 바와 같이, 전자파 측정부(11)에서 송신되어 오는 전자파 데이터를 수신하는 전자파 데이터 입력부(21)와, 적외선 측정부(12)에서 송신되어 오는 적외선 데이터를 수신하는 적외선 데이터 입력부(22)와, 전자파 데이터 입력부(21)에서 수신한 전자파 데이터를 기억하는 전자파 데이터 기억부(23)와, 적외선 데이터 입력부(22)에서 수신한 적외선 데이터를 기억하는 적외선 데이터 기억부(24)와, 전자파 데이터 기억부(23) 및 적외선 데이터 기억부(24)에 기억된 데이터를 독출하는 데이터 독출부(25)와, 이 데이터 독출부(25)에서 독출된 데이터를 표시 또는 인쇄하기 위해서 출력하는 데이터 출력부(26)로 구성되어 있다.The data processing unit 20 is a personal computer and receives measurement data transmitted from the electromagnetic wave measuring unit 11 and the infrared ray measuring unit 12 of the measuring unit 10 and performs data processing. 1, the data processing section 20 includes an electromagnetic wave data input section 21 for receiving electromagnetic wave data transmitted from the electromagnetic wave measuring section 11, An electromagnetic wave data storage section 23 for storing the electromagnetic wave data received by the electromagnetic wave data input section 21 and an infrared data memory 22 for storing the infrared data received by the infrared data input section 22, A data reading section 25 for reading the data stored in the electromagnetic wave data storing section 23 and the infrared data storing section 24 and a data reading section 25 for displaying the data read by the data reading section 25 And a data output unit 26 for outputting data for printing.

출력부(30)는 데이터 처리부(20)의 데이터 출력부(26)에서 송신되어 오는 독출 데이터를 표시하는 표시기(31)와, 독출 데이터를 인쇄하는 인쇄기(32)로 구성된다. 이 출력부(30)에 있어서는, 전자파 데이터 및 적외선 데이터를 동일한 화면 상에 대응시켜 표시하거나 인쇄하게 된다.The output unit 30 includes a display unit 31 for displaying the read data transmitted from the data output unit 26 of the data processing unit 20 and a printer 32 for printing the read data. In the output section 30, the electromagnetic wave data and the infrared data are displayed on the same screen or printed.

도 5 및 도 6은 본 발명의 실시 형태를 설명하는 도면으로서, 도 5는 전자 기기에서 발생하는 전자파 및 적외선에 대한 대책을 적용하기 전의 전자파의 발생 상태를 도시하는 도면, 도 6은 전자 기기에서 발생하는 전자파 및 적외선에 대한 대책을 적용한 후의 전자파의 발생 상태를 도시하는 도면이다. 도 5 및 도 6에 나타내는 바와 같이, 전자파 데이터의 발생 상황에 관해서는 상부에 사시도로 표시하고, 적외선 데이터의 발생 상황에 관해서는 하부에 평면도로 표시한 상태를 나타낸다.5 and 6 are diagrams for explaining an embodiment of the present invention, wherein FIG. 5 is a diagram showing the state of generation of electromagnetic waves before applying a countermeasure against electromagnetic waves and infrared rays generated in an electronic device, and FIG. Fig. 5 is a diagram showing the state of generation of electromagnetic waves after applying countermeasures against generated electromagnetic waves and infrared rays. As shown in Figs. 5 and 6, the generation status of electromagnetic wave data is shown in a perspective view at the top, and the status of occurrence of infrared data is shown in a bottom plan view.

도 5에 있어서, 상부에 사시도로 나타내는 바와 같이, 전자 기기(1)에서 방출되는 전자파 데이터가 가장 강하게 방출되는 부분인 A1과, 그 하부에 평면으로 나타낸 적외선 데이터가 마찬가지로 강하게 방출되는 부분인 A2가 일치한다. 즉, 전자 기기(1)의 동일한 장소가 전자파 및 적외선의 발생원(發生源)임을 나타낸다. 한편, 도 5에서 적외선 데이터가 강하게 방출되는 부분인 B1에서는, 전자파 데이터는 약한 강도임을 나타낸다. 따라서, 이 B1에 있어서는 열 대책에 중점을 두어야 함을 알 수 있다. As shown in a perspective view in the upper part in Fig. 5, A1, which is the portion where electromagnetic wave data emitted from the electronic device 1 is most strongly emitted, and A2, which is a portion in which the infrared data, Match. That is, it indicates that the same place of the electronic apparatus 1 is a source of generating electromagnetic waves and infrared rays. On the other hand, in Fig. 5, in B1 where the infrared data is strongly emitted, the electromagnetic wave data shows weak intensity. Therefore, it can be understood that in B1, emphasis should be placed on thermal measures.

다음에, 도 6에 있어서, 전자파 데이터 방출에 대한 대책을 적용한 후에는, 전자파 데이터가 약하게 방출되는 부분인 A3는 그 하부에 평면으로 나타나는 적외선 데이터가 마찬가지로 약하게 방출되는 부분인 A4와 일치한다. 따라서, 대책을 적용한 후에 동일한 장소에서는 전자파 데이터와 적외선 데이터의 발생량을 저감시킬수 있음을 나타낸다. 한편, 적외선 데이터가 강하게 방출되던 부분인 B1은 대책을 적용한 후에는 B2와 같이 상대적으로 약하게 방출되고 있는 것을 나타낸다. 또한, 대책을 적용한 후에는 새로운 적외선 데이터가 별도의 장소인 C에서 방출되는 것이 나타난다.Next, in FIG. 6, after applying the countermeasure against electromagnetic wave data emission, A3, which is a portion where electromagnetic wave data is weakly emitted, coincides with A4 which is a portion in which the infrared data appearing in a plane on the lower side thereof are similarly weakly emitted. Therefore, it is shown that the generation amount of the electromagnetic wave data and the infrared data can be reduced in the same place after the countermeasure is applied. On the other hand, B1, which is a part where infrared data is strongly emitted, indicates relatively weak emission like B2 after applying the countermeasure. Also, after applying the countermeasures, it appears that the new infrared data is emitted at a separate site C.

한편, 상기 실시예에 있어서, 전자파 데이터의 발생 상황에 관해서는 상부에 사시도로 표시하고, 적외선 데이터의 발생 상항에 관해서는 하부에 평면도로 표시한 예를 설명하였는데, 양쪽 모두 평면도 혹은 사시도로 표시하는 것도 가능하고, 아울러 이들 표시를 강도에 맞추어서 색채 표시함으로써 이해하기 쉽게 하는 것이 가능하게 된다.On the other hand, in the above embodiment, the generation situation of the electromagnetic wave data is shown in a perspective view at the upper part, and the generation phase of the infrared data is described in a plan view at the lower part. It is also possible to make these displays easier to understand by displaying the colors in accordance with the intensity and displaying them in color.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 노이즈 계측 방법 및 계측 시스템에서는, 출력부(26)를 통해 전자 기기(1)에서 방출되는 전자파를 구분하여 계측한 결과 데이터인 전자파 데이터 및 적외선 데이터의 방출 위치 및 그의 방출 강도를 동시에 표시할 수 있기 때문에, 사용자는 육안으로 출력부(26)의 화면이나 인쇄물을 확인함으로써 전자파 방출의 대책과 적외선 방출의 대책을 동시에 알 수 있다. 즉 사용자는 전자 기기 등으로부터 방사되는 전자파의 분포, 강도의 경향을 용이하게 파악할 수 있어, 전자파 대책을 적용해야 할 포인트를 좁힐 수 있고 전자파 대책을 적용한 후에는, 그 효과를 바로 확인할 수 있어, 대책 수립을 위한 방사 전자파의 계측 회수도 줄일 수 있다.As described above, in the noise measuring method and the measuring system of the present invention, the emission position of the electromagnetic wave data and the infrared data, which are the resultant data obtained by separating and measuring the electromagnetic wave emitted from the electronic device 1 through the output unit 26, The emission intensity can be simultaneously displayed. Therefore, the user can visually confirm the screen of the output unit 26 and the printed matter, thereby simultaneously knowing the countermeasure against the electromagnetic wave emission and the countermeasure against the infrared radiation. That is, the user can easily grasp the tendency of distribution and intensity of electromagnetic waves radiated from an electronic device or the like, thereby narrowing down the points to which the electromagnetic wave countermeasures are applied and immediately after the electromagnetic wave countermeasures are applied, The number of times of measurement of the radiated electromagnetic wave for establishment can be reduced.

방사 노이즈의 분포, 강도의 경향을 파악할 수 있어, 대책해야 할 포인트를 좁힐 수 있고, 대책 후의 효과를 바로 확인할 수 있어, 측정 회수도 줄일 수 있는 노이즈 계측 방법 및 계측 시스템을 제공한다.Provided is a noise measurement method and a measurement system capable of grasping the distribution and intensity tendency of radiation noise, narrowing the points to be counteracted, immediately confirming the effect after the measures, and reducing the number of measurements.

도 1은 본 발명의 실시 형태의 노이즈 계측을 위한 구성을 설명하는 도면.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a view for explaining a configuration for noise measurement according to an embodiment of the present invention; Fig.

도 2는 본 발명의 실시 형태의 노이즈 계측 시스템을 설명하는 도면.2 is a view for explaining a noise measurement system according to an embodiment of the present invention;

도 3은 본 발명의 실시 형태의 노이즈 계측부의 구성을 설명하는 사시도.3 is a perspective view for explaining a configuration of a noise measuring unit according to an embodiment of the present invention;

도 4는 본 발명의 실시 형태의 노이즈 계측부의 케이스부의 평면도.4 is a plan view of a case portion of a noise measuring portion according to an embodiment of the present invention;

도 5는 본 발명의 실시 형태의 전자 기기에서 발생하는 전자파 및 적외선의 대책 전의 발생 상태를 설명하는 도면.5 is a view for explaining a state of occurrence of electromagnetic waves and infrared rays generated in an electronic device according to an embodiment of the present invention before a countermeasure.

도 6은 본 발명의 실시 형태의 전자 기기에서 발생하는 전자파 및 적외선의 대책 후의 발생 상태를 설명하는 도면.Fig. 6 is a view for explaining a state of occurrence of electromagnetic waves and infrared rays generated in an electronic device according to an embodiment of the present invention after a countermeasure. Fig.

<도면 주요 부호의 설명>DESCRIPTION OF THE DRAWINGS

10 : 계측부 11 : 전자파 측정부10: measuring unit 11: electromagnetic wave measuring unit

12 : 적외선 측정부 13 : 측정 제어부12: Infrared ray measuring unit 13: Measurement control unit

14 : 케이스부 15 : 측정판14: case part 15: measuring plate

16 : 구동부 17 : 안테나 프로브16: driving unit 17: antenna probe

18 : 지지축 19 : 적외선 검지기18: Support shaft 19: Infrared detector

20 : 데이터 처리부 21 : 전자파 데이터 입력부20: data processing unit 21: electromagnetic wave data input unit

22 : 적외선 데이터 입력부 23 : 전자파 데이터 기억부22: Infrared data input unit 23: Electromagnetic wave data storage unit

24 : 적외선 데이터 기억부 25 : 데이터 독출부24: Infrared data storage unit 25: Data reading unit

26 : 출력부 30 : 출력부26: output section 30: output section

31 : 표시기 32 : 인쇄기31: Indicator 32: Printer

Claims (5)

삭제delete 측정 대상이 되는 전자 기기로부터 방출되는 파장이 1mm 이상인 전자파를 계측하는 전자파 측정부 및 파장이 0.7㎛~1mm 미만인 적외선 영역의 전자파를 계측하는 적외선 측정부를 포함하는 계측부와,An electromagnetic wave measuring unit for measuring an electromagnetic wave having a wavelength of 1 mm or more emitted from an electronic device to be measured and an infrared ray measuring unit for measuring an electromagnetic wave of an infrared ray having a wavelength of less than 0.7 m to 1 mm; 상기 계측부에서 계측된 상기 파장이 1mm 이상인 전자파 및 상기 파장이 0.7㎛~1mm 미만인 적외선 영역의 전자파를 독취하여 기억함과 동시에 노이즈 계측을 위한 데이터 처리를 수행하는 데이터 처리부와,A data processing unit for reading and storing electromagnetic waves having a wavelength of 1 mm or more and an infrared ray having a wavelength of 0.7 to 1 mm measured by the measuring unit and performing data processing for noise measurement, 상기 데이터 처리부에서 처리된 데이터를 표시기에 표시하거나 또는 인쇄기에 인쇄시키는 출력부An output unit for displaying data processed by the data processing unit on a display device or printing on a printing device, 를 포함하고,Lt; / RTI &gt; 상기 데이터 처리부는, 상기 전자파 측정부에서 송신되어 오는 전자파 데이터를 수신하는 전자파 데이터 입력부와,The data processing unit includes an electromagnetic wave data input unit for receiving the electromagnetic wave data transmitted from the electromagnetic wave measuring unit, 상기 적외선 측정부에서 송신되어 오는 적외선 데이터를 수신하는 적외선 데이터 입력부와,An infrared data input unit for receiving infrared data transmitted from the infrared measurement unit; 상기 전자파 데이터 입력부에서 수신한 상기 전자파 데이터를 기억하는 전자파 데이터 기억부와,An electromagnetic wave data storage unit for storing the electromagnetic wave data received by the electromagnetic wave data input unit; 상기 적외선 데이터 입력부에서 수신한 적외선 데이터를 기억하는 적외선 데이터 기억부와,An infrared data storage unit for storing the infrared data received by the infrared data input unit; 상기 전자파 데이터 기억부 및 적외선 데이터 기억부에 기억된 데이터를 독출하는 데이터 독출부와,A data reading unit for reading data stored in the electromagnetic wave data storage unit and the infrared data storage unit, 상기 데이터 독출부에서 읽어낸 데이터를 표시 또는 인쇄하기 위해서 출력하는 출력부An output unit for outputting data read out from the data reading unit for display or printing; 를 포함하는 것인 노이즈 계측 시스템.And a noise measurement system. 제2항에 있어서, 상기 전자파 측정부는, 평탄한 상자형의 케이스부에 형성되고, 이 케이스부의 상면에는 측정 대상이 되는 상기 전자 기기를 수평으로 배치하는 투명한 판재로 이루어지는 측정판이 설치되고, 상기 측정판 하부의 상기 케이스부 내부에 수평한 X축 방향 및 Y축 방향으로 이동하는 전자파 검지용 안테나 프로 브가 설치되어 있는 것인 노이즈 계측 시스템.The electronic apparatus according to claim 2, wherein the electromagnetic wave measuring unit is formed in a flat box-shaped case part, and a measurement plate made of a transparent plate material horizontally arranging the electronic device to be measured is provided on the upper surface of the case part, And an antenna probe for electromagnetic wave detection is provided inside the case portion in the lower portion and moving in the horizontal X-axis direction and the Y-axis direction. 제3항에 있어서, 상기 적외선 측정부는, 상기 측정판 근방의 상기 케이스부의 상부에 지지축이 설치되고, 상기 지지축의 상단부측에 적외선 검지기가 설치되어 있는 것인 노이즈 계측 시스템.The noise measuring system according to claim 3, wherein the infrared measuring unit is provided with a support shaft at an upper portion of the case portion in the vicinity of the measurement plate, and an infrared ray detector is provided at the upper end side of the support shaft. 삭제delete
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