JP2009074934A - Sample analyzer - Google Patents
Sample analyzer Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009074934A JP2009074934A JP2007244273A JP2007244273A JP2009074934A JP 2009074934 A JP2009074934 A JP 2009074934A JP 2007244273 A JP2007244273 A JP 2007244273A JP 2007244273 A JP2007244273 A JP 2007244273A JP 2009074934 A JP2009074934 A JP 2009074934A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- light source
- detector
- light
- movable stage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
本発明は、光源からX線、紫外線、可視光線又は赤外線などを試料に照射し、その透過光又は蛍光を検出して分析する試料分析装置に関し、特に、光源及び検出器を試料に照射する光の波長に合わせて交換可能な試料分析装置に関する。 The present invention relates to a sample analyzer that irradiates a sample with X-rays, ultraviolet rays, visible rays, or infrared rays from a light source, and detects and analyzes the transmitted light or fluorescence, and in particular, light that irradiates the sample with a light source and a detector. The present invention relates to a sample analyzer that can be exchanged according to the wavelength.
試料にさまざまな波長の光を照射し、そこから生じる蛍光や透過光を分析することで、試料の特性を分析する装置が知られている。 There is known an apparatus for analyzing characteristics of a sample by irradiating the sample with light of various wavelengths and analyzing fluorescence and transmitted light generated therefrom.
例えば、光源にX線を用いる分析装置は、X線を試料に照射し、これに応じて試料から発生する蛍光X線を検出器で検出し、この蛍光X線の波長スペクトルから、試料に含まれる元素を判別することができる。蛍光X線の波長は元素に固有なので、蛍光X線の波長を分析することによって、試料に含まれる元素を判別することができる(特許文献1−6)。 For example, an analyzer that uses X-rays as a light source irradiates a sample with X-rays, detects fluorescent X-rays generated from the sample in response to the detection, and includes the X-ray in the sample from the wavelength spectrum of the fluorescent X-rays Can be discriminated. Since the wavelength of the fluorescent X-ray is unique to the element, the element contained in the sample can be determined by analyzing the wavelength of the fluorescent X-ray (Patent Documents 1-6).
また、X線透過光を検出することにより、試料内部の透視画像が撮影され、非破壊により内部状態を可視化することができる。 Further, by detecting the X-ray transmitted light, a fluoroscopic image inside the sample is taken, and the internal state can be visualized by nondestructive.
さらに、光源に紫外線を用いる分析装置は、光源から紫外線を試料に照射し、その蛍光スペクトルを分析することにより、試料の成分の検出に用いることができる。また、遺伝子の損傷の情報を得ることもできる。 Furthermore, an analyzer that uses ultraviolet light as a light source can be used to detect the components of the sample by irradiating the sample with ultraviolet light from the light source and analyzing the fluorescence spectrum. It is also possible to obtain information on gene damage.
また、光源に赤外線を用いる分析装置は、例えば、内部に血管などの生体物を含む試料に赤外線を試料に照射し、例えばその透過光を検出することにより、試料内部の血管の画像化などの用途に用いることができる。 In addition, an analyzer that uses infrared light as a light source, for example, irradiates a sample with a biological object such as a blood vessel inside with infrared light, and detects the transmitted light, thereby imaging a blood vessel inside the sample. Can be used for applications.
このように、光源の波長により検出可能な対象物は異なり、分析対象となる試料の種類、分析目的などに応じて、光源の種類、波長を変える必要がある。また、蛍光や透過光を検出する検出器も光源の波長に対応するものを用意する必要がある。また、検出器の感度、特性に応じて、検出器の配置位置も個別に設定する必要がある。
そのため、従来においては、光源の種類毎(X線、紫外線、可視光線、赤外線などの波長帯域毎)に別々の試料分析装置が製造され、光源の種類(波長帯域)別に専用の装置を用意する必要がある。 Therefore, conventionally, a separate sample analyzer is manufactured for each type of light source (for each wavelength band such as X-rays, ultraviolet rays, visible light, infrared rays, etc.), and a dedicated device is prepared for each type of light source (wavelength band). There is a need.
また、蛍光や透過光を検出する検出器も光源の波長に合ったものを用意する必要があり、検出器の種類毎に、その特性、感度などは異なるため、設置された光源に合わせて最適な位置にあらかじめ固定化されて、それぞれの試料分析装置に搭載される。 In addition, it is necessary to prepare a detector that detects the fluorescence and transmitted light according to the wavelength of the light source, and the characteristics and sensitivity vary depending on the type of detector, so it is optimal for the light source installed. It is fixed in advance at various positions and mounted on each sample analyzer.
そこで、本発明は、一つの装置により、異なる波長帯域の光に対する分析を行うことができる試料分析装置を提供することにある。なお、本明細書では、「光」という用語は、可視光に限らず、赤外線、紫外線、X線など可視光以外の波長帯域の電磁波を含むものとして用いる。 Therefore, the present invention is to provide a sample analyzer that can analyze light of different wavelength bands with a single device. Note that in this specification, the term “light” is not limited to visible light, but includes electromagnetic waves in a wavelength band other than visible light, such as infrared rays, ultraviolet rays, and X-rays.
上記目的を達成するための本発明の試料分析装置の第一の構成は、試料が載置され且つ前記試料を幅方向及び奥行き方向に移動可能な第一の可動ステージと、試料にX線、紫外線、可視光、赤外線のいずれかを照射する光源と、光の照射により生じる透過光又は蛍光を検出する第一の検出器と、前記第一の検出器が取り付けられ、前記第一の検出器を幅方向及び高さ方向に移動可能とする第二の可動ステージと、前記第一の可動ステージと前記光源と前記第一の検出器と前記第二の可動ステージとを内部に包含する筐体とを備え、前記光源は、X線光源、紫外線光源、可視光光源、赤外線光源のうちの一つであり、いずれか一つの光源が他の光源と交換可能に前記筐体の内部に取り付けられ、前記第一の検出器は、前記筐体の内部に取り付けられた光源に応じて、前記第二の可動ステージに交換可能に取り付けられ、さらに、前記第二の可動ステージ上に設定される透過光検出用取付位置又は蛍光検出用取付位置のいずれか一方に付け替え可能に取り付けられることを特徴とする。 In order to achieve the above object, a first configuration of the sample analyzer of the present invention includes: a first movable stage on which a sample is placed and capable of moving the sample in the width direction and the depth direction; A light source that emits one of ultraviolet light, visible light, and infrared light, a first detector that detects transmitted light or fluorescence generated by light irradiation, and the first detector are attached, and the first detector Including a second movable stage that can move in a width direction and a height direction, the first movable stage, the light source, the first detector, and the second movable stage. The light source is one of an X-ray light source, an ultraviolet light source, a visible light source, and an infrared light source, and any one of the light sources is attached to the inside of the casing so as to be exchangeable with another light source. The first detector is mounted inside the housing Depending on the light source, it is attached to the second movable stage in a replaceable manner, and is further set to either the transmitted light detection mounting position or the fluorescence detection mounting position set on the second movable stage. It is attached so that it can be replaced.
本発明の試料分析装置の第二の構成は、上記第一の構成において、前記光源は、前記筐体内部の底部に取り付けられ、前記光源の上部に前記第一の可動ステージが設けられ、前記光源は、第一の可動ステージの下方から光を試料に照射し、前記第一の可動ステージの上部に前記第一の検出器が取り付けられた前記第二の可動ステージが設けられることを特徴とする。 According to a second configuration of the sample analyzer of the present invention, in the first configuration, the light source is attached to a bottom portion inside the housing, the first movable stage is provided on the light source, The light source is provided with the second movable stage in which the sample is irradiated with light from below the first movable stage, and the first detector is attached to the top of the first movable stage. To do.
本発明の試料分析装置の第三の構成は、上記第一又は第二の構成において、前記筐体は、前記筐体の正面を開閉するための第一の扉と前記筐体の側面を開閉するための第二の扉とを有することを特徴とする。 According to a third configuration of the sample analyzer of the present invention, in the first or second configuration, the casing opens and closes a first door for opening and closing a front surface of the casing and a side surface of the casing. It has the 2nd door for doing, It is characterized by the above-mentioned.
本発明の試料分析装置の第四の構成は、上記第一乃至第三の構成のいずれかにおいて、前記蛍光を検出するための取付部位は、前記第一の検出器の前記試料に対する角度を調整可能であることを特徴とする。 According to a fourth configuration of the sample analyzer of the present invention, in any one of the first to third configurations, an attachment site for detecting the fluorescence adjusts an angle of the first detector with respect to the sample. It is possible.
本発明の試料分析装置の第五の構成は、上記第一乃至第四の構成のいずれかにおいて、前記第二のステージに取り付けられ、前記試料の表面高さを検出する第二の検出器を備えることを特徴とする。 According to a fifth configuration of the sample analyzer of the present invention, in any one of the first to fourth configurations, a second detector that is attached to the second stage and detects the surface height of the sample is provided. It is characterized by providing.
本発明の試料分析装置では、波長帯域の異なる光源を交換可能に取り付けられ、取り付けられた光源に対応する検出器を最適な位置に位置決めして取り付けることが可能であるので、1台の試料分析装置により、異なる波長帯域の光を用いた汎用の分析装置として用いることができる。 In the sample analyzer of the present invention, light sources having different wavelength bands are interchangeably attached, and a detector corresponding to the attached light source can be positioned and attached at an optimal position, so that one sample analysis can be performed. Depending on the device, it can be used as a general-purpose analyzer using light of different wavelength bands.
すなわち、波長帯域毎に別々の試料分析装置を用意する必要はなく、本発明の試料分析装置の光源と検出器を交換するだけで、異なる波長帯域による測定を行うことができるようになる。 That is, it is not necessary to prepare a separate sample analyzer for each wavelength band, and it is possible to perform measurements in different wavelength bands by simply replacing the light source and detector of the sample analyzer of the present invention.
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。しかしながら、かかる実施の形態例が、本発明の技術的範囲を限定するものではない。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. However, such an embodiment does not limit the technical scope of the present invention.
図1は、本発明の実施の形態における試料分析装置の外観斜視図である。試料分析装置の筐体1は、幅50cm程度、奥行き50cm程度、高さ70cm程度の大きさのほぼ直方体形状を有し、その正面に窓を有する正面扉2が設けられる。正面扉2を開けることで、筐体内部の試料ステージに試料を載せる作業や、筐体内部の光源や検出器の交換作業が行える程度の広さの開口部が形成される。また、筐体1の側面にも、補助扉3が設けられる。補助扉3を開けることで、作業者の手が筐体内部に挿入できる程度の広さの開口部となり、作業者は、一方の手を正面扉2から筐体内部に入れ、他方の手を補助扉3から筐体内部に入れることで、異なる方向から筐体内部に手を入れることができるため、正面扉2から両手を筐体内部に入れる場合に比べて、筐体内部での光源や検出器の交換のための取付作業、取り外し作業を容易に行うことができる。補助扉3には、窓が設けられてもよい。また、補助扉3は、左右いずれの側面に設けられてもよく、さらに、左右両側面に設けられてもよい。正面扉2及び補助扉3の開く方向は、開く方向は、上下開き、左右開きの何れでもよい。また、X線光源を利用可能とするために、筐体は鉛や鉄でシールドされ、窓も鉛入りガラスとする。
FIG. 1 is an external perspective view of a sample analyzer according to an embodiment of the present invention. A housing 1 of the sample analyzer has a substantially rectangular parallelepiped shape with a width of about 50 cm, a depth of about 50 cm, and a height of about 70 cm, and a
図2は、本発明の実施の形態における試料分析装置の第一の内部構成例を示す図である。図2において、試料は試料ステージ10に載せられる。試料ステージ10は、幅方向(X方向)及び奥行き方向(Y方向)に可動ないわゆるXYステージであり、試料ステージ10の移動に伴い、試料ステージ10の可動範囲内において試料を光源12に対して移動させることができる。可動距離は、例えば幅方向及び奥行き方向それぞれ25mm程度であり、位置決め精度は例えば10μm以上である。
FIG. 2 is a diagram showing a first internal configuration example of the sample analyzer according to the embodiment of the present invention. In FIG. 2, the sample is placed on the
本発明の試料分析装置と電気的に接続するコンピュータ装置(図示せず)からの制御信号により、試料に対する光の照射位置を幅方向(X方向)及び奥行き方向(Y方向)に移動させることにより、試料の微細領域毎の蛍光スペクトルを検出することができる。例えば、蛍光X線分析装置としても用いる場合、分析対象の元素に対する蛍光X線の検出結果をマッピングすることにより、元素の試料のXY平面における分布状態を知ることができる。 By moving a light irradiation position on the sample in the width direction (X direction) and the depth direction (Y direction) by a control signal from a computer device (not shown) electrically connected to the sample analyzer of the present invention. The fluorescence spectrum for each fine region of the sample can be detected. For example, when used as a fluorescent X-ray analyzer, the distribution state of the sample of the element on the XY plane can be known by mapping the detection result of the fluorescent X-ray with respect to the element to be analyzed.
なお、試料ステージ10の移動は、所定のインターフェースを介して、コンピュータ装置からの操作信号により制御される。コンピュータ装置は、試料ステージ10の移動のみならず、以下に説明する検出器用ステージ16の移動、光源12の照射のON/OFF、検出器14のON/OFFなど各種操作手段、制御手段として機能する。また、コンピュータ装置は、検出器14からの検出信号(又は所定のインターフェース装置(例えば筐体1内に内蔵されるスペクトル解析装置)を介して変換された信号)を受信し、所定の分析処理アルゴリズムによる分析処理及び画像処理を実行し、分析結果をモニタ画面に表示する。マッピング処理も、試料表面に対する座標と当該座標位置に対する検出結果を対応付けることで、特定の元素の分布状態をマッピング画像として表示することができる。コンピュータ装置は、汎用のパーソナルコンピュータを利用することができる。
The movement of the
試料ステージ10の下部に光源12が配置され、光源12は、真上方向に光を照射する。すなわち、試料ステージ10に載せられた試料の下側から試料に光が照射される。試料ステージ10は、光源12からの光路に対応する部分が開口した中空部10Aを有し、試料を試料ステージ10に載せる場合は、その中空部10Aを塞ぐ板状、皿状のような試料台11を介して、試料は試料ステージ10に載せられる。試料台11は、光源の波長を透過させる特性の材料で形成される必要があり、光源の種類に応じて、適宜選択される。
A
光源12は、X線を発生するX線光源、紫外線を発生する紫外線光源(紫外レーザを含む)、可視光線を発生する可視光光源(発光ダイオード、可視光レーザを含む)、赤外線を発生する赤外線光源(赤外レーザ、YAGレーザを含む)など、それぞれ異なる波長帯域の光を発生する複数の光源のいずれかを選択可能であり、選ばれた光源は、試料ステージ10の下部であって、筐体1の底部にネジなどで固定される。
The
筐体1の底部には、例えば、筐体1に固定される光源取付板(図示せず)が設けられ、光源取付板には、さまざまな大きさ、形状に対応するための複数のネジ穴を設けておく。光源12は、この光源取付板上に載せられ、光源の大きさ、形状に合わせて、例えば、スチールベルトのような金属バンドで光源取付板に光源12をネジ止めして固定する。固定手段は、金属バンドに限らず、他のさまざまな固定手法が適用可能である。
For example, a light source mounting plate (not shown) fixed to the housing 1 is provided at the bottom of the housing 1, and the light source mounting plate has a plurality of screw holes for accommodating various sizes and shapes. Is provided. The
試料ステージ10の上部には、試料への光照射に対応する蛍光又は透過光を検出する検出器14が設けられる。検出器14は、検出器用ステージ16に取り付けられる。検出器用ステージ12は、幅方向(X方向)及び高さ方向(Z方向)に可動ないわゆるXZステージであり、検出器用ステージ16を移動させることで、検出器14の位置を移動させることができる。可動距離は、例えば幅方向が200mm、高さ方向が100mm程度である。
A
検出器用ステージ16には、例えば、検出器用ステージ16に固定される検出器取付板17が設けられ、検出器取付板17には、検出器14のさまざまな大きさ、形状に対応するための複数のネジ穴を設けておく。検出器14は、この検出器取付板17に、例えばスチールベルトのような金属バンドでネジ止めして固定される。固定手段は、金属バンドに限らず、他のさまざまな固定手法が適用可能である。すなわち、検出器14は、検出器取付板17を介して検出器用ステージ16に取り付けられる。光源12の波長に対応する検出器14が適宜選択され取り付けられ、X線を検出するための検出器14としては、例えば、電子冷却式の高感度シリコン検出器が用いられる。
The
図示される検出器取付板17は、一例として、蛍光検出用の取付位置と透過光検出用の取付位置の両方を有する。両方に検出器14を取り付けることで、蛍光検出と透過光検出を同時に行うことが可能となる。もちろん、検出器14を一つ取り付ける場合は、どちらか一方に、付け替え可能に取り付けられる。
The illustrated
蛍光検出用の取付位置に取り付けられた検出器14は、図示されるように、透過光の光路となる試料の真上から幅方向にずれた位置で試料に向くように斜めに取り付けられる。検出器取付板17には、蛍光検出用の角度調節機構17Aが設けられ、最適な角度に検出器14を位置決めして固定する。試料の大きさ、検出器14の大きさ、検出器14の感度などに応じて、検出器14と試料との間の距離が最適になるように検出器用ステージ16を幅方向及び高さ方向に移動させて、検出器14の位置を決定する。
透過光検出用の取付位置に取り付けられた検出器14は、図示されるように、透過光の光路となる試料の真上の位置で試料に向くように真下に向けて取り付けられる。検出器14が試料の真上にくるように、検出器用ステージを幅方向に移動させ、また、試料との間の距離が最適になるように高さ方向を調節する。
As shown in the figure, the
As shown in the drawing, the
さらに、検出器取付板17には、検出器14とともに、カメラ18が取り付けられてもよい。カメラ18は例えばCCDカメラであり、レンズ21を介した撮影画像は、コンピュータ装置(上述)所定のモニタ画面に表示される。本発明の試料分析装置を制御するためのコンピュータ装置が、所定のインターフェースを介してカメラ18からの撮影信号を受信し、所定の画像処理アルゴリズムに従い、モニタ画面に撮影画像を表示する。また、コンピュータ装置は、さらに、あらかじめ撮影画像に座標を設定可能であって、作業者がマウスなどの入力手段を操作して、画面に表示されるカーソルにより画面上の試料の位置を選択すると、選択位置に対応する座標が決定し、当該座標位置に光源12からの光が照射されるように試料ステージ10を移動させる。なお、モニタ画像から指定された位置に光が照射されるように試料ステージ10を移動制御する技術は既存の技術が適用可能である。
Furthermore, a
第一の内部構成例では、光源12が筐体1の底部の平らな位置に取り付けられるので、光源の種類、大きさ、形状、重量を問わず、さまざまな光源を安定して状態に容易に取り付けることができる。そして、光源からの光を真上に照射し、試料ステージ10の下側から試料に光を照射し、検出器14が試料ステージ10上で透過光又は蛍光をする構成とすることで、透過光を検出するための位置と蛍光を検出するための位置とが比較的接近した位置関係となるので、一つの小型の検出器用ステージ16に、蛍光検出用位置と透過光検出用位置を設けることができ、図1に示すような小型の筐体の装置一台で、蛍光検出と透過光検出の両方に対応することが可能となる。また、検出器14を検出器用ステージ16に取り付け、その位置を可動なものとすることで、光源の種類に対応した検出器をその最適な位置に取り付けることが可能となる。
図3は、第一の内部構成例に対応する筐体内での具体的な組み立て例を示す図である。 図3(a)は、筐体正面からの内部構成図、図3(b)は、筐体側面からの内部構成図である。試料ステージ10は、支柱15により筐体底部に取り付けられ、検出器用ステージ16は、筐体背面に固定されたフレーム19に取り付けられている。また、図3では、蛍光検出用位置にのみ検出器14が取り付けられている状態が示される。
In the first internal configuration example, the
FIG. 3 is a diagram illustrating a specific example of assembly in the housing corresponding to the first internal configuration example. 3A is an internal configuration diagram from the front of the housing, and FIG. 3B is an internal configuration diagram from the side of the housing. The
また、筐体背面の後ろ側には、制御装置群を格納する領域22が設けられる。制御装置群は、例えば、試料ステージ10及び検出器用ステージ16のドライバ及びコントローラ、電源装置、検出器14用のアンプ、スペクトル解析装置などを含む。筐体1内に、これらの制御装置群が格納されるので、試料分析装置に、分析結果の画像表示手段、操作手段、制御手段としてのコンピュータ装置を接続するだけのシンプルな構成で、試料分析が実現される。
An area 22 for storing a control device group is provided on the rear side of the rear surface of the housing. The control device group includes, for example, a driver and controller for the
図4は、本発明の実施の形態における試料分析装置の第二の内部構成例を示す図である。第二の内部構成例は、第一の内部構成例に加えて、高さ計測検出器20を備える。高さ計測検出器20は、例えば、接触型変位センサ、非接触型レーザ変位センサ、ピエゾ変位センサなどである。高さ計測検出器20を搭載することにより、第一の内部構成例における蛍光検出、透過光検出に加えて、試料の高さ及び表面形状が計測可能となる。高さ計測検出器20は、検出器取付板17に取付可能であり、検出器用ステージ16を移動させることで、高さ計測検出器20を所望の位置に移動させることができる。高さ計測検出器20のプローブ(探針)20Aの先端をカメラ18の中心と同軸上に配置することで、カメラ18の画像をモニタし、試料の表面位置を確認しながら、高さ計測が可能となる。
FIG. 4 is a diagram illustrating a second internal configuration example of the sample analyzer according to the embodiment of the present invention. The second internal configuration example includes a height measurement detector 20 in addition to the first internal configuration example. The height measurement detector 20 is, for example, a contact displacement sensor, a non-contact laser displacement sensor, a piezo displacement sensor, or the like. By mounting the height measurement detector 20, in addition to fluorescence detection and transmitted light detection in the first internal configuration example, the height and surface shape of the sample can be measured. The height measurement detector 20 can be attached to the
また、高さ計測検出器20として非接触型レーザ変位センサを用いる場合は、カメラ18のレンズ21の鏡筒内に搭載することも可能である。この場合においても、レーザの照射軸とカメラの中心とを同軸上に設定することで、カメラ18の画像をモニタし、試料の表面位置を確認しながら、高さ計測が可能となる。なお、レンズ21は、顕微鏡であってもよい。
Further, when a non-contact type laser displacement sensor is used as the height measurement detector 20, it can be mounted in the lens barrel of the
高さ計測検出器20を有することで、本発明の試料分析装置は、X線分析装置として用いる場合、試料の内部情報(蛍光検出により、試料に含有される元素の特定、元素分布状況、透過光検出により、試料の内部透視)の検出を可能とするともに、X線では観察できない試料の外部情報(例えば、高さや表面形状)の検出をも可能とし、一台の試料分析装置により、試料の内部及び外部を多面的に計測、分析することが可能となる。 By having the height measurement detector 20, when the sample analyzer of the present invention is used as an X-ray analyzer, internal information of the sample (identification of elements contained in the sample, element distribution status, transmission by fluorescence detection) Photodetection enables detection of the sample's internal fluoroscopy, as well as detection of external information (for example, height and surface shape) of the sample that cannot be observed with X-rays. It is possible to measure and analyze the inside and outside of the multifaceted.
上述の実施の形態例では、光源12は、筐体1の底部に取付可能な大きさのユニットである場合について説明したが、これに限らず、例えば、筐体1に入れることができない大型の光源から照射された光を光ファイバで導き、補助扉3から光ファイバの先端を筐体1の底部に固定するようにすることで、外部の光源を本発明の試料分析装置の光源として利用することができる。この場合、外部から筐体1内に導入された光ファイバが、本発明の試料分析装置の光源に対応することとなる。
In the above-described embodiment, the
また、光源の波長を、X線、紫外線、可視光、赤外線と便宜上区分したが、波長の異なる光源が複数種類存在することを示すために区分したものであり、区分はこれに限られない。例えば、赤外線を遠赤外線と近赤外線にさらに区分することを妨げるものでもない。 Moreover, although the wavelength of the light source was divided into X-rays, ultraviolet rays, visible light, and infrared rays for convenience, it is divided to indicate that there are a plurality of types of light sources having different wavelengths, and the division is not limited to this. For example, it does not prevent further division of infrared rays into far infrared rays and near infrared rays.
1:筐体、2:正面扉、3:補助扉、10:試料ステージ、10A:中空部、11:試料台、12:光源、14;検出器、15:支柱、16:検出器用ステージ、17:検出器取付板、17A:角度調節機構、18:カメラ、19:フレーム、20:高さ計測検出器、21:レンズ、22:制御装置群格納領域 1: Housing, 2: Front door, 3: Auxiliary door, 10: Sample stage, 10A: Hollow part, 11: Sample stage, 12: Light source, 14: Detector, 15: Support column, 16: Stage for detector, 17 : Detector mounting plate, 17A: Angle adjustment mechanism, 18: Camera, 19: Frame, 20: Height measurement detector, 21: Lens, 22: Control device group storage area
Claims (5)
試料にX線、紫外線、可視光、赤外線のいずれかを照射する光源と、
光の照射により生じる透過光又は蛍光を検出する第一の検出器と、
前記第一の検出器が取り付けられ、前記第一の検出器を幅方向及び高さ方向に移動可能とする第二の可動ステージと、
前記第一の可動ステージと前記光源と前記第一の検出器と前記第二の可動ステージとを内部に包含する筐体とを備え、
前記光源は、X線光源、紫外線光源、可視光光源、赤外線光源のうちの一つであり、いずれか一つの光源が他の光源と交換可能に前記筐体の内部に取り付けられ、
前記第一の検出器は、前記筐体の内部に取り付けられた光源に応じて、前記第二の可動ステージに交換可能に取り付けられ、さらに、前記第二の可動ステージ上に設定される透過光検出用取付位置又は蛍光検出用取付位置のいずれか一方に付け替え可能に取り付けられることを特徴とする試料分析装置。 A first movable stage on which a sample is placed and which can move the sample in the width direction and the depth direction;
A light source that irradiates the sample with X-rays, ultraviolet rays, visible light, or infrared rays;
A first detector for detecting transmitted light or fluorescence generated by light irradiation;
A second movable stage to which the first detector is attached and which allows the first detector to move in a width direction and a height direction;
A housing containing the first movable stage, the light source, the first detector, and the second movable stage;
The light source is one of an X-ray light source, an ultraviolet light source, a visible light source, and an infrared light source, and any one light source is attached to the inside of the casing so as to be exchangeable with another light source,
The first detector is replaceably attached to the second movable stage in accordance with a light source attached to the inside of the housing, and further, transmitted light set on the second movable stage. A sample analyzer, wherein the sample analyzer is attached to either one of a detection mounting position or a fluorescence detection mounting position so as to be replaceable.
前記光源は、前記筐体内部の底部に取り付けられ、前記光源の上部に前記第一の可動ステージが設けられ、前記光源は、第一の可動ステージの下方から光を試料に照射し、前記第一の可動ステージの上部に前記第一の検出器が取り付けられた前記第二の可動ステージが設けられることを特徴とする試料分析装置。 In claim 1,
The light source is attached to the bottom inside the housing, the first movable stage is provided on the light source, the light source irradiates the sample with light from below the first movable stage, and the first A sample analyzing apparatus, wherein the second movable stage having the first detector attached thereto is provided on an upper part of one movable stage.
前記筐体は、前記筐体の正面を開閉するための第一の扉と前記筐体の側面を開閉するための第二の扉とを有することを特徴とする試料分析装置。 In claim 1 or 2,
The sample analysis apparatus, wherein the case has a first door for opening and closing a front surface of the case and a second door for opening and closing a side surface of the case.
前記蛍光を検出するための取付部位は、前記第一の検出器の前記試料に対する角度を調整可能であることを特徴とする試料分析装置。 In any one of Claims 1 thru | or 3,
The sample analysis apparatus according to claim 1, wherein the attachment site for detecting the fluorescence is capable of adjusting an angle of the first detector with respect to the sample.
前記第二の可動ステージに取り付けられ、前記試料の表面高さを検出する第二の検出器を備えることを特徴とする試料分析装置。 In any one of Claims 1 thru | or 4,
A sample analyzer, comprising a second detector attached to the second movable stage and detecting the surface height of the sample.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007244273A JP2009074934A (en) | 2007-09-20 | 2007-09-20 | Sample analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007244273A JP2009074934A (en) | 2007-09-20 | 2007-09-20 | Sample analyzer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009074934A true JP2009074934A (en) | 2009-04-09 |
Family
ID=40610048
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007244273A Withdrawn JP2009074934A (en) | 2007-09-20 | 2007-09-20 | Sample analyzer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009074934A (en) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100956873B1 (en) | 2009-12-28 | 2010-05-11 | 한국기계연구원 | Inspection system using x-ray |
WO2012063097A1 (en) | 2010-11-08 | 2012-05-18 | Reametrix Inc. | Sample assembly for a measurement device |
JP2016109502A (en) * | 2014-12-04 | 2016-06-20 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | Fluorescent x-ray analysis device |
US9446411B2 (en) | 2011-02-24 | 2016-09-20 | Reametrix, Inc. | Sample assembly for a measurement device |
JP2017015488A (en) * | 2015-06-30 | 2017-01-19 | 株式会社ニコン | Imaging device |
JP2018155680A (en) * | 2017-03-21 | 2018-10-04 | 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構 | Cassette loading device |
JP6423048B1 (en) * | 2017-06-16 | 2018-11-14 | マルバーン パナリティカル ビー ヴィ | X-ray analysis of drilling fluid |
WO2020017076A1 (en) * | 2018-07-17 | 2020-01-23 | 富士電機株式会社 | X-ray inspection device |
US10564115B2 (en) | 2016-05-26 | 2020-02-18 | Malvern Panalytical B.V. | X-ray analysis of drilling fluid |
WO2022005142A1 (en) * | 2020-06-29 | 2022-01-06 | Seegene, Inc. | Nucleic acid detection device comprising movable light detection assembly |
JP7452387B2 (en) | 2020-11-18 | 2024-03-19 | 株式会社島津製作所 | X-ray inspection device, management server for the X-ray inspection device, and management method for the X-ray inspection device |
-
2007
- 2007-09-20 JP JP2007244273A patent/JP2009074934A/en not_active Withdrawn
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100956873B1 (en) | 2009-12-28 | 2010-05-11 | 한국기계연구원 | Inspection system using x-ray |
WO2012063097A1 (en) | 2010-11-08 | 2012-05-18 | Reametrix Inc. | Sample assembly for a measurement device |
US9669406B2 (en) | 2010-11-08 | 2017-06-06 | Reametrix, Inc. | Sample assembly for a measurement device |
US9446411B2 (en) | 2011-02-24 | 2016-09-20 | Reametrix, Inc. | Sample assembly for a measurement device |
JP2016109502A (en) * | 2014-12-04 | 2016-06-20 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | Fluorescent x-ray analysis device |
JP2017015488A (en) * | 2015-06-30 | 2017-01-19 | 株式会社ニコン | Imaging device |
US10564115B2 (en) | 2016-05-26 | 2020-02-18 | Malvern Panalytical B.V. | X-ray analysis of drilling fluid |
JP2018155680A (en) * | 2017-03-21 | 2018-10-04 | 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構 | Cassette loading device |
JP2019002844A (en) * | 2017-06-16 | 2019-01-10 | マルバーン パナリティカル ビー ヴィ | X-ray analysis of drilling fluid |
JP6423048B1 (en) * | 2017-06-16 | 2018-11-14 | マルバーン パナリティカル ビー ヴィ | X-ray analysis of drilling fluid |
WO2020017076A1 (en) * | 2018-07-17 | 2020-01-23 | 富士電機株式会社 | X-ray inspection device |
KR20200096562A (en) * | 2018-07-17 | 2020-08-12 | 후지 덴키 가부시키가이샤 | X-ray inspection device |
JPWO2020017076A1 (en) * | 2018-07-17 | 2021-01-07 | 富士電機株式会社 | X-ray inspection equipment |
KR102390721B1 (en) | 2018-07-17 | 2022-04-26 | 후지 덴키 가부시키가이샤 | X-ray inspection device |
WO2022005142A1 (en) * | 2020-06-29 | 2022-01-06 | Seegene, Inc. | Nucleic acid detection device comprising movable light detection assembly |
JP7452387B2 (en) | 2020-11-18 | 2024-03-19 | 株式会社島津製作所 | X-ray inspection device, management server for the X-ray inspection device, and management method for the X-ray inspection device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2009074934A (en) | Sample analyzer | |
US6292532B1 (en) | Fluorescent X-ray analyzer useable as wavelength dispersive type and energy dispersive type | |
KR101739597B1 (en) | Fluorescent x-ray analysis device and fluorescent x-ray analysis method | |
JP5307504B2 (en) | X-ray analyzer and X-ray analysis method | |
US8903040B2 (en) | X-ray multiple spectroscopic analyzer | |
US7948247B2 (en) | Metal identifying device and metal identifying method | |
JP3904543B2 (en) | X-ray crystal orientation measuring apparatus and X-ray crystal orientation measuring method | |
KR20110023730A (en) | X-ray analysis apparatus and x-ray analysis method | |
CA2639159A1 (en) | Method, apparatus and system for rapid and sensitive standoff detection of surface contaminants | |
US7663390B2 (en) | Inspection apparatus and method | |
US20140286474A1 (en) | X-Ray Fluorescence Analyzer | |
US9658175B2 (en) | X-ray analyzer | |
KR20160006108A (en) | Sample support plate for x-ray analysis and apparatus for fluorescent x-ray analysis | |
KR101387844B1 (en) | X-ray analyzing apparatus and x-ray analyzing method | |
US20140105368A1 (en) | X-ray analysis apparatus | |
EP1674851B1 (en) | Near field analysis apparatus | |
JP5925725B2 (en) | Integrating sphere and reflected light measurement method | |
JP6492389B1 (en) | X-ray diffraction measurement device | |
JP3718818B2 (en) | Cathodoluminescence sample holder and cathodoluminescence spectrometer | |
US20120168623A1 (en) | Observation and analysis unit | |
JP5967491B2 (en) | X-ray diffractometer and X-ray incident angle detection method in X-ray diffractometer | |
KR101158859B1 (en) | Portable X-ray fluorescence analytical apparatus including alignment system for optical components | |
US11846594B2 (en) | Single-crystal X-ray structure analysis apparatus and sample holder | |
JP6944952B2 (en) | Radiation detector | |
JP2006275901A (en) | Device and method for crystal evaluation |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100917 |
|
A072 | Dismissal of procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A073 Effective date: 20120124 |
|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20120207 |