KR101423571B1 - 다수의 시험을 동시 진행할 수 있는 시험 장치 및 방법 - Google Patents

다수의 시험을 동시 진행할 수 있는 시험 장치 및 방법 Download PDF

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KR101423571B1
KR101423571B1 KR1020130007262A KR20130007262A KR101423571B1 KR 101423571 B1 KR101423571 B1 KR 101423571B1 KR 1020130007262 A KR1020130007262 A KR 1020130007262A KR 20130007262 A KR20130007262 A KR 20130007262A KR 101423571 B1 KR101423571 B1 KR 101423571B1
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Abstract

본 발명은 다수의 시험을 동시에 진행할 수 있는 시험장치 및 방법에 관한 것으로, 이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 시험 장치는, N개의 시험대가 구비되고(상기 N은 자연수임), 회전할 수 있도록 구비된 회전플레이트; 상기 N개의 시험대와 전기적으로 연결되는 다수의 케이블; 및 상기 회전플레이트의 회전동작을 제어하는 구동제어부를 포함하고, 상기 N개의 시험대에서 동시에 이루어지는 시험이 완료되면, 상기 구동제어부는 상기 회전플레이트를
Figure 112013006458270-pat00017
도 정방향으로 회전시키며, 각 시험대에서의 모든 시험이 완료되면, 상기 구동제어부는 상기 회전플레이트를
Figure 112013006458270-pat00018
도 역방향으로 회전시키는 것을 특징으로 한다.

Description

다수의 시험을 동시 진행할 수 있는 시험 장치 및 방법{TEST APPARATUS AND METHOD FOR SIMULTANEOUS TESTING}
본 발명은 다수의 시험을 동시에 진행할 수 있는 시험장치 및 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 다수의 시험을 동시에 진행할 수 있도록 구비된 회전플레이트를 이용한 시험장치 및 방법에 관한 것이다.
카메라 모듈, 휴대폰 및 뮤직 플레이어의 기판 등의 대상물체를 시험하기 위한 시험장치(10)는 도 5에 도시된 바와 같이, 다수의 시험대, 예컨대 네 개의 시험대(11a, 11b, 11c, 11d)가 구비된 회전플레이트(11)를 이용한다. 회전플레이트(11)의 각 시험대(11a, 11b, 11c, 11d)에는 동일한 대상물체를 놓은 상태에서 각 시험대(11a, 11b, 11c, 11d)에서 동시에 서로 다른 시험이 이루어지도록 한다. 그리고 한 번의 동시 시험이 완료되면, 회전플레이트(11)를 회전시켜 각 대상물체에 대한 다른 시험이 이루어지도록 한다.
이렇게 대상물체에 대해 시험을 함으로써, 동시에 네 개의 대상물체에 대해 각 시험대(11a, 11b, 11c, 11d)에서 네 개의 시험을 실시할 수 있기 때문에 시험 시간을 단축할 수 있는 효과가 있다. 그런데, 이렇게 회전플레이트(11)를 회전시켜 시험을 진행할 때, 각 시험대(11a, 11b, 11c, 11d)와 시험결과를 수신하기 위한 테스터가 케이블로 연결되면, 회전플레이트(11)의 회전으로 케이블이 꼬이는 등의 문제가 발생한다.
그렇기 때문에 도 5에 도시된 바와 같이, 회전플레이트(11)의 각 시험대(11a, 11b, 11c, 11d) 하부에는 테스터와 전기적 연결을 위한 동일한 형상의 접속단자(12)가 구비되어, 물리적 접촉에 의한 전기적 연결과 분리에 의한 연결의 단절이 이루어지도록 한다. 이렇게 구비된 회전플레이트(11)가 동작하기 위해서는 먼저 접속단자(12)의 연결을 끊기 위해 회전플레이트(11)가 상승한 다음, 90도 회전되고, 다시 하강하여 접속단자(12)가 테스터와 전기적으로 연결된다.
즉, 각 시험대(11a, 11b, 11c, 11d)에서 동시에 이루어지는 한 번의 시험이 완료될 때마다, 접속단자(12)의 전기적 연결을 끊고 회전 후 다시 연결하는 것이 반복된다.
이러한 접속단자(12)로는 전도성 물체인 포고핀(pogo pin, 12a)을 주로 사용하는데, 계속적 사용으로 인해 포고핀(12a)의 마모가 발생하여 전기적 연결에 문제가 생기거나, 접속단자(12)에 이물질 등이 끼어 접속 불량이 발생하는 문제가 발생할 수 있다. 이로 인해 각 시험대(11a, 11b, 11c, 11d)에서 시험된 대상물체에 대한 시험 결과가 테스터로 정상적으로 전송되지 않아 정상적인 시험이 이루어지지 않을 수 있다.
또한, 접속단자(11)의 전기적 접속의 끊어졌다 다시 연결되는 것이 반복될 때마다, 각 시험대(11a, 11b, 11c, 11d)에서는 시험을 위한 시험대상물을 새로 인식하거나 초기화시켜야 하기 때문에 이로 인한 시간적인 손실이 발생하는 문제가 있다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명은 회전플레이트를 이용하여 시험할 때, 각 시험대와 테스터를 케이블로 연결하여 접속단자로 인한 문제가 발생하지 않도록 하면서도 케이블이 계속되는 회전 동작에 의해 꼬이는 것을 방지함으로써, 다수의 시험을 동시 진행할 수 있는 시험장치 및 방법을 제공하는데 목적이 있다.
이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 시험 장치는, 시험대상물이 안착되는 N개의 시험대가 구비되고(상기 N은 자연수임), 회전할 수 있도록 설치된 회전플레이트; 상기 N개의 시험대의 회전 궤적을 따라 배치되고, 상기 회전플레이트가 정지했을 때 상기 N개의 시험대에 대응되는 위치에 설치된 다수의 시험사이트; 상기 N개의 시험대 또는 상기 N개의 시험대에 안착된 시험대상물과 전기적으로 연결되는 다수의 케이블; 및 상기 회전플레이트의 회전동작을 제어하는 구동제어부를 포함하고, 상기 구동제어부는 상기 다수의 시험사이트에서 각각 이루어지는 시험이 완료될 때마다 순차적으로 상기 회전플레이트를 정방향으로
Figure 112013006458270-pat00001
도씩 N-1회 회전시키고, 역방향으로
Figure 112013006458270-pat00002
도 만큼 1회 회전시키는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 다수의 케이블은 상기 회전플레이트의 중앙에 위치한 케이블 홀을 통해 외부로 연결될 수 있다.
그리고 상기 다수의 케이블과 전기적으로 연결되고, 상기 N개의 시험대에 안착된 시험대상물을 제어하고 이들로부터 시험이 이루어진 결과를 수신하는 테스터를 더 포함할 수 있다.
여기서, 상기 테스터는 상기 N개의 시험대 중 어느 하나 이상에 시험대상물이 안착되면, 안착된 시험대상물에 대한 모든 시험이 이루어질 수 있도록 상기 시험대상물을 부팅(booting)시키는 것이 바람직하다.
한편, 이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 시험 장치는, M가지의 시험을 하기 위해 시험대상물이 안착되는 N개의 시험대가 구비되고(상기 M과 N은 자연수이며, M은 N보다 크지 않은 자연수임), 회전할 수 있도록 구비된 회전플레이트; 상기 N개의 시험대의 회전 궤적을 따라 배치되고, 상기 회전플레이트가 정지했을 때 상기 N개의 시험대에 대응되는 위치에 설치된 다수의 시험사이트; 상기 N개의 시험대 또는 상기 N개의 시험대에 안착된 시험대상물과 전기적으로 연결되는 다수의 케이블; 및 상기 회전플레이트의 회전동작을 제어하는 구동 제어부를 포함하고, 상기 구동제어부는 상기 다수의 시험사이트에서 각각 이루어지는 시험이 완료될 때마다 순차적으로 상기 회전플레이트를 정방향으로
Figure 112013006458270-pat00003
도씩 M-1회 회전시키고, 역방향으로
Figure 112013006458270-pat00004
도 만큼 1회 회전시키는 것을 특징으로 한다.
또 한편, 이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 시험 방법은, 시험대상물이 안착되는 N개의 시험대(상기 N은 자연수임)가 구비된 회전플레이트가 상기 N개의 시험대의 회전 궤적을 따라 배치된 다수의 시험사이트 각각에 대응되게 정지시키는 1단계; 상기 다수의 시험사이트에서 각각 대응되는 시험대상물에 대한 시험을 수행하고, 시험결과를 상기 N개의 시험대 또는 상기 N개의 시험대에 안착된 시험대상물에 연결된 케이블을 통해 테스터로 전송하는 2단계; 및 다음 시험을 위한 상기 회전플레이트를 정방향으로
Figure 112013006458270-pat00005
도씩 N-1회 회전시키고, 역방향으로
Figure 112013006458270-pat00006
도 만큼 1회 회전시키는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 N개의 시험대 중 임의의 시험대가 상기 다수의 시험사이트 중 미리 정해진 어느 한 사이트에 정지하였을 때, 시험대상물을 상기 임의의 시험대에 안착시키고, 상기 임의의 시험대가 상기 다수의 시험사이트를 거쳐 상기 미리 정해진 한 사이에 다시 정지하였을 때, 상기 시험대상물을 분리할 수 있다.
여기서, 상기 시험대상물이 상기 임의의 시험대에서 분리될 때까지 다시 부팅이 이루어지지 않도록 상기 시험대상물이 상기 임의의 시험대에 안착되었을 때, 안착된 시험대상물을 부팅(booting)하는 것이 바람직하다.
본 발명에 의하면, 다수의 시험을 동시에 진행하기 위해 N개의 시험대가 구비된 회전플레이트를 이용하여 시험을 하더라도 접속단자를 사용하지 않고, 케이블을 사용하여 접속단자로 인해 발생하는 문제가 발생하지 않고 시험의 효율을 높일 수 있는 효과가 있다. 더욱이, 케이블을 사용하더라도 회전플레이트를 정방향 회전과 역방향 회전이 이루어지도록 구동 제어하기 때문에 케이블이 꼬이는 등의 문제가 발생하지 않도록 할 수 있어, 시험 효율을 높일 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 다수의 시험을 동시에 진행할 수 있는 시험 장치를 도시한 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 시험 장치를 도시한 개략도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 시험 장치의 동작을 도시한 개략도이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 시험 장치의 동작을 도시한 개략도이다.
도 5는 종래의 시험 장치를 도시한 개략도이다.
본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 더 구체적으로 설명한다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다수의 시험을 동시에 진행할 수 있는 시험 장치(100)는 회전플레이트(110), 시험사이트(120), 케이블(130), 구동제어부(140) 및 테스터(150)를 포함하여 구성된다. 여기서 다수의 시험을 동시에 진행한다고 함은 반드시 동일한 시간 동안에 다수의 시험을 수행하는 것에 한정되는 것은 아니고, 시험 장치의 동작 상의 동일한 스텝에 다수의 시험을 수행하는 것을 포함하는 의미이다.
회전플레이트(110)는 N개의 시험대(112)가 구비되어 있으며, 각 시험대(112)에는 카메라모듈이나 휴대폰, 스마트폰이나 뮤직 플레이어의 기판 등의 시험대상물이 놓일 수 있다. 그리고 본 발명의 일실시예에서는 도 2에 도시된 바와 같이, 네 개의 시험대(112a, 112b, 112c, 112d)가 구비된 회전플레이트(110)에 대해 설명한다.
도 2에 도시된 바와 같이, 네 개의 시험대(112a, 112b, 112c, 112d)는 회전플레이트(110)의 중심에서 동일한 거리가 이격된 위치에 위치하고 있으며, 각 시험대(112a, 112b, 112c, 112d) 간의 이격 거리도 동일하게 위치되도록 한다. 즉, 회전플레이트(110)의 중심을 기준으로 각 시험대(112a, 112b, 112c, 112d)는 동일한 각도만큼 이격되어 위치된다.
시험사이트(120)는 회전플레이트에 구비된 각 시험대(112a, 112b, 112c, 112d)의 회전 궤적을 따라 N개(본 실시예에서는 4개)가 배치되며, 각 시험사이트(120a, 120b, 120c, 120d)에서는 시험대상물에 대해 각각의 시험이 이루어진다. 여기서, 시험이 회전플레이트의 회전이 정지되었을 때 이루어질 수 있도록 각 시험사이트(120a, 120b, 120c, 120d)는 각 시험대(112a, 112b, 112c, 112d)의 위치에 대응되게 위치한다. 상기 시험사이트(120)는 적어도 하나의 로딩사이트, 즉 각 시험대((112a, 112b, 112c, 112d)에 시험대상물을 안착시키거나 분리하는 사이트를 포함할 수 있다.
케이블(130)은 시험대(112)와 테스터(150)가 전기적으로 연결될 수 있도록 시험대(112)와 각각 전기적으로 연결된다. 또는, 케이블(130)은 시험대(120)에 안착된 각 시험대상물과 직접 전기적으로 연결될 수 있다. 그리고 케이블(130)은 회전플레이트(110)의 중심부분의 케이블(130) 홀을 통해 각 시험대(112)에 전기적으로 연결되며 회전플레이트(110)가 회전되더라도 시험대(112)에서 케이블(130)의 전기적 연결이 끊어지지 않도록 일정 길이 이상으로 여유가 있게 구비되는 것이 바람직하다.
도 1에 도시된 바와 같이, 구동제어부(140)는 회전플레이트(110)와 전기적으로 연결되어 회전플레이트(110)의 동작을 제어한다. 이러한 구동제어부(140)의 제어 동작과 이를 통해 구현되는, 본 발명의 시험 장치를 이용한 시험 방법에 대해서는 도 3a 내지 도g에 도시된 도면을 참조하여 설명한다.
도 3a에 도시된 바와 같이, 제1시험대(112a)가 아래쪽에 위치한 상태에서 제1시험사이트(120a)에서는 제1시험대(112a)에 안착된 시험대상물에 대한 첫 번째 시험이 이루어진다. 제1시험사이트(120a)에서의 시험이 완료되면, 구동제어부(140)는 도 3b와 같은 위치로, 제1시험대(112a)가 오른쪽에 위치하도록 회전플레이트(110)를 반시계 방향으로 90도 회전시킨다. 이 상태에서, 제2시험사이트(120b)에서는 제1시험대(112a)에 안착된 시험대상물에 대한 두 번째 시험이 이루어진다. 그리고 제1시험사이트(120a)에서는 제4시험대(112d)에 안착된 시험대상물에 대한 첫 번째 시험이 이루어진다. 여기서, 본 발명의 일실시예에서는 반시계 방향의 회전을 정방향 회전이라 한다.
제1 및 제2시험사이트(120a, 120b)에서의 시험이 완료되면, 구동제어부(140)는 도 3c와 같은 위치로, 제1시험대(112a)가 위쪽에 위치하도록 회전플레이트(110)를 반시계 방향으로 90도 회전시킨다. 이 상태에서, 제3시험사이트(120c)에서는 제1시험대(112a)에 안착된 시험대상물에 대한 세 번째 시험이 이루어진다. 그리고 제2시험사이트(120b)에서는 제4시험대(112d)에 안착된 시험대상물에 대한 두 번째 시험이 이루어지고, 제1시험사이트(120a)에서는 제3시험대(112c)에 안착된 시험대상물에 대한 첫 번째 시험이 이루어진다. 이렇게 제1 내지 제3시험사이트(120a, 120b, 120c)에서의 시험이 완료되면, 구동제어부(140)는 도 3d와 같은 위치로, 제1시험대(112a)가 왼쪽에 위치하도록 회전플레이트(110)를 다시 반시계 방향으로 90도 회전시킨다. 이 상태에서, 제4시험사이트(120d)에서는 제1시험대(112a)에 안착된 시험대상물에 대한 네 번째 시험이 이루어지고, 제3시험사이트(120c)에서는 제4시험대(112d)에 안착된 시험대상물에 대한 세 번째 시험이 이루어진다. 그리고 제2시험사이트(120b)에서는 제3시험대(112c)에 안착된 시험대상물에 대한 두 번째 시험이 이루어지며, 제1시험사이트(120a)에서는 제2시험대(112b)에 안착된 시험대상물에 대한 첫 번째 시험이 이루어진다.
그리고 제1 내지 제4시험사이트(120a, 120b, 120c, 120d)에서의 각 시험이 모두 완료되면, 구동제어부(140)는 다시 도 3e와 같은 위치로, 제1시험대(112a)가 아래쪽에 위치하도록 회전플레이트(110)를 회전시킨다. 이때, 도 3d에서 도 3e의 위치로 회전플레이트(110)가 회전할 때는 반시계 방향이 아닌 시계방향으로 270도 역회전하도록 구동제어부(140)는 회전플레이트(110)를 제어한다. 여기서, 도 3e에서의 회전플레이트(110) 위치는 도 3a에서의 회전플레이트(110) 위치와 동일하다.
이 상태에서, 제4시험사이트(120d)에서는 제4시험대(112d)에 안착된 시험대상물에 대한 네 번째 시험이 이루어지고, 제3시험사이트(120c)에서는 제3시험대(112c)에 안착된 시험대상물에 대한 세 번째 시험이 이루어지며, 제2시험사이트(120b)에서는 제2시험대(110b)에 안착된 시험대상물에 대한 두 번째 시험이 이루어진다. 그리고 제1시험사이트(120a)에서는 제1시험사이트(120a)부터 제4시험사이트(120d)까지의 네 가지 시험을 모두 마친 시험대상물을 제1시험대(112a)로부터 분리하고 새로운 시험대상물을 여기에 안착시키고, 새로운 시험대상물에 대한 첫 번째 시험을 수행할 수 있다.
이렇게 제1 내지 제4시험사이트(120a, 120b, 120c, 120d)에서의 각 시험이 모두 완료되면, 구동제어부(140)는 다시 도 3f와 같은 위치로, 제1시험대(112a)가 오른쪽에 위치하도록 회전플레이트(110)를 반시계 방향으로 90도 회전시킨다. 이 상태에서, 제4시험사이트(120d)에서는 제3시험대(112c)에 안착된 시험대상물에 대한 네 번째 시험이 이루어지고, 제3시험사이트(120c)에서는 제2시험대(112b)에 안착된 시험대상물에 대한 세 번째 시험이 이루어진다. 그리고 제1시험사이트(120a)에서는 제1시험사이트(120a)부터 제4시험사이트(120d)까지의 네 가지 시험을 모두 마친 시험대상물을 제4시험대(112d)로부터 분리하고 새로운 시험대상물을 여기에 안착시키고, 새로운 시험대상물에 대한 첫 번째 시험을 수행할 수 있다. 제2시험사이트(120b)에서는 제1시험대(112a)에 새로 안착된 시험대상물에 대한 두 번째 시험이 수행된다.
각 시험이 모두 완료되면, 구동제어부(140)는 도 3g와 같은 위치로, 제1시험대(112a)가 위쪽에 위치하도록 회전플레이트(110)를 반시계 방향으로 90도 회전시킨다. 이 상태에서, 제4시험사이트(120d)에서는 제2시험대(112b)에 안착된 시험대상물에 대한 네 번째 시험이 이루어진다. 제1시험사이트(120a)에서는 제1시험사이트(120a)부터 제4시험사이트(120d)까지의 네 가지 시험을 모두 마친 시험대상물을 제3시험대(112c)로부터 분리하고 새로운 시험대상물을 여기에 안착시키고, 새로운 시험대상물에 대한 첫 번째 시험을 수행할 수 있다. 제2시험사이트(120b)에서는 제4시험대(112d)에 새로 안착된 시험대상물에 대한 두 번째 시험이 수행되고, 제3시험사이트(120c)에서는 제1시험대(112c)에 새로 안착된 시험대상물에 대한 세 번째 시험이 수행된다.
상기와 같은 과정을 연속적으로 수행하면서 모든 시험대상물에 대하여 첫 번째 시험부터 네 번째 시험까지 동일한 순서로 시험을 완료할 수 있다. 이때, 구동제어부(140)는 회전플레이트(110)를 정방향인 반시계 방향으로 90도씩 3회 회전시키고, 이어서 역방향인 시계 방향으로 1회 회전시키는 동작을 반복한다. 즉, 회전플레이트(110)가 정방향인 반시계 방향으로 회전되다가 최초의 위치로 되돌아올 때는 역방향인 시계 방향으로 회전되기 때문에, 회전플레이트(110)의 중앙에서 각 시험대(112a, 112b, 112c, 112d)나 시험대상물에 연결된 케이블(130)이 꼬이지 않도록 한다.
여기서, 시험대상물은 카메라 모듈이나 스마트폰 등이므로 각 시험사이트(120a, 120b, 120c, 120d)에서 시험이 이루어지기 위해서는 부팅(booting)이 된 상태에서 시험이 이루어져야 한다. 이를 위해 본 발명에서의 테스터(150)는 각각의 시험대상물이 각 시험대(112a, 112b, 112c, 112d)에 안착될 때마다 시험이 이루어질 수 있도록 안착된 시험대상물을 부팅시킨다. 그리고 부팅된 상태에서 각 시험사이트(120a, 120b, 120c, 120d)를 순차적으로 거치는 동안에는 다시 부팅하는 과정을 거치지 않아도 각 시험대(112a, 112b, 112c, 112d)에서 시험대상물이 분리될 때까지 각각의 시험을 모두 수행할 수 있다. 이는 케이블(130)이 유선으로 각 시험대(112a, 112b, 112c, 112d)나 시험대상물과 전기적 연결된 상태가 유지되기 때문이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 회전플레이트(210)를 도시한 것으로, 회전플레이트(210)에 여덟 개의 시험대가 구비된 것을 도시한 것이다. 회전플레이트(210)가 도 4의 (a)의 위치에서 도 4의 (h)까지 회전될 때는 정방향인 반시계 방향으로 45도씩 일곱 번 회전되면서 각 위치에서 시험이 이루어진다. 그리고 모든 시험이 완료되면, 회전플레이트(210)는 도 4의 (h)의 위치에서 도 4의 (a)의 위치로, 즉, 제1시험대(212a)가 왼쪽 아래에 위치한 상태에서 아래쪽에 위치한 상태로, 역방향인 시계방향으로 315도 회전한다. 이렇게 구동제어부(140)는 회전플레이트(210)를 제어함으로써, 케이블(130)이 꼬이지 않도록 한다.
다시 말해, 구동제어부(140)는 회전플레이트(110)에 구비된 시험대(112)의 개수에 따라 각 시험이 이루어지는 위치에 시험대(112)가 위치할 수 있도록 회전플레이트(110)의 회전 각도를 제어한다. 정리하면, N개의 시험대(112)가 구비된 회전플레이트(110)를 이용하여 시험할 때, 구동제어부(140)는 각 시험을 위해 회전플레이트(110)를 정방향으로
Figure 112013006458270-pat00007
도씩 N-1회 회전시켜 시험이 이루어지도록 제어한다. 그 다음에 구동제어부(140)는 회전플레이트(110)를 역방향으로
Figure 112013006458270-pat00008
도 만큼 1회 회전시켜 회전플레이트(110)를 최초의 위치로 되돌리고 다음 시험이 이루어지도록 한다.
이때, 회전플레이트(110)에 N개의 시험대(112)가 구비되더라도, N종류의 시험이 이루어지는 것이 아닌, M종류의 시험이 이루어질 수 있는데, 이런 경우, 구동제어부(140)는 회전플레이트(110)를 정방향으로
Figure 112013006458270-pat00009
도씩 M-1회 회전시켜 각 위치에서 시험이 이루어지도록 제어하고, 회전플레이트가 M-1회 회전되어 시험이 완료되면, 회전플레이트(110)를 역방향으로
Figure 112013006458270-pat00010
도 만큼 1회 회전시켜 회전플레이트(110)의 위치를 최초의 위치로 원위치 시킨다. 여기서, M은 N보다 크지 않은 자연수이다.
즉, 일례로, 네 개의 시험대(112)가 구비된 회전플레이트(110)를 이용하여 세 종류의 시험을 하는 경우, 구동제어부(140)는 도 3a의 위치에서 도 3c의 위치까지 회전플레이트(110)가 90도씩 회전되도록 제어한다. 그리고 도 3c의 위치에서 도 3a의 위치로 원위치 시키기 위해 구동제어부(140)는 회전플레이트(110)가 역방향으로 180도 회전되도록 제어한다.
위에서 설명한 바와 같이 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이므로, 본 발명이 상기 실시예에만 국한되는 것으로 이해돼서는 안 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 등가개념으로 이해되어야 할 것이다.
100: 시험 장치
110, 210: 회전플레이트 112: 시험대
112a, 212a : 제1시험대 112b: 제2시험대
112c: 제3시험대 112d: 제4시험대
120a: 제1시험사이트 120b: 제2시험사이트
120c: 제3시험사이트 120d: 제4시험사이트
130: 케이블 140: 구동제어부
150: 테스터

Claims (8)

  1. 시험대상물이 안착되는 N개의 시험대가 구비되고(상기 N은 자연수임), 회전할 수 있도록 설치된 회전플레이트;
    상기 N개의 시험대의 회전 궤적을 따라 배치되고, 상기 회전플레이트가 정지했을 때 상기 N개의 시험대에 대응되는 위치에 설치된 다수의 시험사이트;
    상기 N개의 시험대 또는 상기 N개의 시험대에 안착된 시험대상물과 전기적으로 연결되는 다수의 케이블; 및
    상기 회전플레이트의 회전동작을 제어하는 구동제어부를 포함하고,
    상기 구동제어부는 상기 다수의 시험사이트에서 각각 이루어지는 시험이 완료될 때마다 순차적으로 상기 회전플레이트를 정방향으로
    Figure 112013006458270-pat00011
    도씩 N-1회 회전시키고, 역방향으로
    Figure 112013006458270-pat00012
    도 만큼 1회 회전시키는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 다수의 케이블은 상기 회전플레이트의 중앙에 위치한 케이블 홀을 통해 외부로 연결되는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 다수의 케이블과 전기적으로 연결되고, 상기 N개의 시험대에 안착된 시험대상물을 제어하고 이들로부터 시험이 이루어진 결과를 수신하는 테스터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  4. 청구항 3에 있어서,
    상기 테스터는 상기 N개의 시험대 중 어느 하나 이상에 시험대상물이 안착되면, 안착된 시험대상물에 대한 모든 시험이 이루어질 수 있도록 상기 시험대상물을 부팅(booting)시키는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  5. M가지의 시험을 하기 위해 시험대상물이 안착되는 N개의 시험대가 구비되고(상기 M과 N은 자연수이며, M은 N보다 크지 않은 자연수임), 회전할 수 있도록 구비된 회전플레이트;
    상기 N개의 시험대의 회전 궤적을 따라 배치되고, 상기 회전플레이트가 정지했을 때 상기 N개의 시험대에 대응되는 위치에 설치된 다수의 시험사이트;
    상기 N개의 시험대 또는 상기 N개의 시험대에 안착된 시험대상물과 전기적으로 연결되는 다수의 케이블; 및
    상기 회전플레이트의 회전동작을 제어하는 구동 제어부를 포함하고,
    상기 구동제어부는 상기 다수의 시험사이트에서 각각 이루어지는 시험이 완료될 때마다 순차적으로 상기 회전플레이트를 정방향으로
    Figure 112013006458270-pat00013
    도씩 M-1회 회전시키고, 역방향으로
    Figure 112013006458270-pat00014
    도 만큼 1회 회전시키는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  6. 시험대상물이 안착되는 N개의 시험대(상기 N은 자연수임)가 구비된 회전플레이트가 상기 N개의 시험대의 회전 궤적을 따라 배치된 다수의 시험사이트 각각에 대응되게 정지시키는 1단계; 및
    상기 다수의 시험사이트에서 각각 대응되는 시험대상물에 대한 시험을 수행하고, 시험결과를 상기 N개의 시험대 또는 상기 N개의 시험대에 안착된 시험대상물에 연결된 케이블을 통해 테스터로 전송하는 2단계;를 포함하고,
    다음 시험을 위한 상기 회전플레이트를 정방향으로
    Figure 112014010716486-pat00015
    도씩 N-1회 회전시키고, 역방향으로
    Figure 112014010716486-pat00016
    도 만큼 1회 회전시키는 것을 특징으로 하는 시험 방법.
  7. 청구항 6에 있어서,
    상기 N개의 시험대 중 임의의 시험대가 상기 다수의 시험사이트 중 미리 정해진 어느 한 사이트에 정지하였을 때, 시험대상물을 상기 임의의 시험대에 안착시키고,
    상기 임의의 시험대가 상기 다수의 시험사이트를 거쳐 상기 미리 정해진 한 사이트에 다시 정지하였을 때, 상기 시험대상물을 분리하는 것을 특징으로 하는 시험 방법.
  8. 청구항 7에 있어서,
    상기 시험대상물이 상기 임의의 시험대에 안착되었을 때, 안착된 시험대상물을 부팅(booting)하고, 상기 임의의 시험대에서 분리될 때까지 다시 부팅이 이루어지지 않도록 상기 시험대상물이 부팅된 상태를 유지하는 것을 특징으로 하는 시험 방법.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101921021B1 (ko) * 2018-04-06 2018-11-21 (주)이즈미디어 회전식 카메라모듈 검사장치
CN110850337A (zh) * 2019-10-24 2020-02-28 广州市槿泓电子有限公司 一种多线束测试系统、方法、装置及存储介质

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002107435A (ja) 2000-09-28 2002-04-10 Tokin Corp 永久磁石検査装置および永久磁石検査方法
JP2006029908A (ja) * 2004-07-14 2006-02-02 Hioki Ee Corp 基板検査装置が備える検査プローブのための気体噴射機構
KR20060128088A (ko) * 2005-06-08 2006-12-14 동양반도체 주식회사 카메라 모듈의 오픈 쇼트 테스트 장치
KR20100137066A (ko) * 2009-06-22 2010-12-30 오주환 작업성이 향상된 전자기기용 표면 검사장치

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002107435A (ja) 2000-09-28 2002-04-10 Tokin Corp 永久磁石検査装置および永久磁石検査方法
JP2006029908A (ja) * 2004-07-14 2006-02-02 Hioki Ee Corp 基板検査装置が備える検査プローブのための気体噴射機構
KR20060128088A (ko) * 2005-06-08 2006-12-14 동양반도체 주식회사 카메라 모듈의 오픈 쇼트 테스트 장치
KR20100137066A (ko) * 2009-06-22 2010-12-30 오주환 작업성이 향상된 전자기기용 표면 검사장치

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101921021B1 (ko) * 2018-04-06 2018-11-21 (주)이즈미디어 회전식 카메라모듈 검사장치
US10764570B2 (en) 2018-04-06 2020-09-01 Ismedia Co., Ltd. Rotating inspector for camera module
CN110850337A (zh) * 2019-10-24 2020-02-28 广州市槿泓电子有限公司 一种多线束测试系统、方法、装置及存储介质

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