KR101366192B1 - 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은, 헤드부 및 몸체부를 가진 나사가 배치되는 슬롯을 구비하는 이송 유닛; 상기 나사가 상기 이송 유닛에 의해 검사 영역에 위치한 때 상기 나사의 이미지를 획득하는 카메라 유닛; 상기 슬롯에 설치되고, 상기 헤드부를 지지할 수 있도록 상기 슬롯의 중앙 영역으로 돌출 형성되는 광투과성의 지지 유닛; 및 상기 몸체부의 하측에 배치되어 상기 나사에서 반사된 광을 상기 지지 유닛을 투과하여 상기 카메라 유닛으로 입사시키는 반사 부재를 구비하는 광학 유닛을 포함하는, 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치를 제공한다.

Description

나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치{VISION INSPECTION APPARATUS FOR INSPECTING OUTER SURFACE OF SCREW}
본 발명은 헤드부 및 몸체부를 가진 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치에 관한 것이다.
기술의 발전으로 인해 제품 간의 기능 평준화가 이루어지면서 휴대폰, 디지털TV 등과 같은 다양한 디지털 전자제품의 슬림화가 대세를 이루어지고 있다. 이러한 디지털 전자제품의 슬림화에 대응하여 나사 등과 같은 체결부품에도 초소형/정밀화 트랜드가 나타나고 있다. 이에 따라 슬림화된 디지털 전자제품에는 다양한 형태의 정밀나사가 적용되고 있다.
이러한 정밀나사의 검사를 위해, 최근에는 정밀나사의 치수 내지 형상 등을 자동으로 검사하여 양품과 불량품으로 구분하는 비전 검사 장치가 널리 이용되고 있다. 이러한 비전 검사 장치는 일반적으로 나사의 헤드부가 이송판의 슬릿의 상측면에 직접 지지되도록 구성된다. 이러한 구성에 의하면, 나사의 외주면 윤곽(실루엣) 촬영시에 나사의 헤드부가 정확하게 촬영되지 못하고, 슬릿의 상측면이 마모되는 경우 나사가 올바른 자세로 정렬되지 못해 검사의 정확도가 떨어질 뿐만 아니라 이송판 자체를 교체하게 되어 경제적으로도 효율성이 떨어지게 된다. 또한, 나사의 사이즈가 큰 경우, 나사가 슬릿에 끼워질 수 없어 이송판 자체를 교체하여야만 한다.
본 발명의 목적은, 나사의 외면을 정확하게 검사할 수 있으면서도 간단한 조치로 복수의 사이즈의 나사를 검사할 수 있도록 하는, 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치를 제공하는 것이다.
상기 과제를 실현하기 위한 본 발명의 일 실시예와 관련된 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치는, 헤드부 및 몸체부를 가진 나사가 배치되는 슬롯을 구비하는 이송 유닛; 상기 나사가 상기 이송 유닛에 의해 검사 영역에 위치한 때 상기 나사의 이미지를 획득하는 카메라 유닛; 상기 슬롯에 설치되고, 상기 헤드부를 지지할 수 있도록 상기 슬롯의 중앙 영역으로 돌출 형성되는 광투과성의 지지 유닛; 및 상기 몸체부의 하측에 배치되어 상기 나사에서 반사된 광을 상기 지지 유닛을 투과하여 상기 카메라 유닛으로 입사시키는 반사 부재를 구비하는 광학 유닛을 포함할 수 있다.
여기서, 상기 이송 유닛은, 그 가장자리 영역에 상기 슬롯이 형성되는 이송판을 더 포함하고, 상기 지지 유닛은, 상기 이송판의 슬롯의 내면에서 돌출 형성되는 지지 부재를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 이송판은, 상기 슬롯의 내면에 형성되는 결합홈을 더 포함하고, 상기 지지 유닛은, 상기 지지 부재에서 돌출 형성되어, 상기 결합홈에 착탈 가능하게 고정되는 결합 부재를 더 포함할 수 있다.
여기서, 상기 지지 유닛은, 상기 슬롯의 마주하는 내면에 각각 설치되고, 상기 헤드부의 지름보다 작고 상기 몸체부의 지름보다 큰 너비를 갖도록 상호 이격되어 배치되는 복수의 지지 부재를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 지지 부재는, 상기 헤드부의 바닥면과 대응하여 평면의 형태로 형성되는 상면부와, 상기 상면부와 경사지게 형성되는 경사면부를 포함할 수 있다.
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여기서, 상기 카메라 유닛은 상기 헤드부의 상측에 배치될 수 있다.
여기서, 상기 반사 부재는, 상기 헤드부의 바닥면 및 상기 몸체부에서 반사된 광을 상기 카메라 유닛으로 입사시킬 수 있도록 상기 나사 측으로 벌어지게 형성되는 환형의 콘미러를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 이송 유닛은, 상기 나사를 상기 검사 영역으로 이송하는 이송판; 및 상기 이송판의 가장자리 영역에 설치되고, 상기 슬롯의 너비와 동일한 너비를 갖도록 상호 이격되어 배치되는 복수의 인덱스 블록을 더 포함하고, 상기 지지 유닛은, 상기 복수의 인덱스 블록의 마주하는 양 측면에 각각 착탈 가능하게 설치되는 복수의 지지 부재를 포함할 수 있다.
상기와 같이 구성되는 본 발명에 관련된 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치에 의하면, 나사의 헤드부를 지지하는 지지 유닛이 슬롯의 내면으로부터 돌출 형성되므로, 나사와 슬롯 사이의 공간이 넓어 나사의 정확한 이미지를 획득할 수 있다. 이에 따라, 나사의 검사 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
또한, 지지 유닛이 슬롯에 착탈 가능하게 설치되므로, 지지 유닛 만을 교체하는 간단한 조치로 복수의 사이즈의 나사를 검사할 수 있다. 이에 따라, 이송 유닛 자체를 교체할 필요가 없어 경제적으로 우수하다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치의 평면도이다.
도 2는 도 1의 화살표(A) 방향에서 바라본 모습을 도시한, 도 1의 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치의 측면 확대도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치의 측면 확대도이다.
도 4는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치의 평면도이다.
도 5는 도 4의 화살표(B) 방향에서 바라본 모습을 도시한, 도 4의 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치의 측면 확대도이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 본 명세서에서는 서로 다른 실시예라도 동일·유사한 구성에 대해서는 동일·유사한 참조번호를 부여하고, 그 설명은 처음 설명으로 갈음한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)를 도시한 도면이다.
본 도면을 참조하면, 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)는 공급 유닛(110), 이송 유닛(120), 지지 유닛(130), 제1 검사 유닛(140), 제2 검사 유닛(150), 및 배출 유닛(160)을 포함할 수 있다.
공급 유닛(110)은 나사(S)를 공급하는 요소이다. 공급 유닛(110)은 호퍼(미도시)로부터 공급받은 나사(S)를 진동정렬방식으로 일차적으로 정렬하면서 이송하는 바울 피더(111, bowl feeder), 및 이 바울 피더(111)의 배출구에 연이어 설치되어 나사(S)를 2차적으로 정렬하면서 직선방향으로 이송하는 리니어 피더(113, linear feeder) 등으로 이루어질 수 있다.
이송 유닛(120)은 공급 유닛(110)으로부터 나사(S)를 공급받아 나사(S)를 원주방향(R)으로 이송시키는 요소이다. 이송 유닛(120)은 원형의 이송판(121)을 포함할 수 있다. 이 이송판(121)은 공급 유닛(110)의 배출구에 인접하여 배치되고, 일정한 회전속도로 회전가능하게 설치될 수 있다. 이송판(121)의 일측에는 공급위치(P1)가 위치하고, 이 공급위치(P1)에는 리니어 피더(113)의 배출구가 인접하여 배치될 수 있다. 이에 따라, 나사(S)는 리니어 피더(113)로부터 이송판(121)의 공급위치(P1)로 안정적으로 공급될 수 있다. 이송판(121)의 외주면에는 복수의 슬롯(123)이 형성되고, 이송판(121)의 회전에 의해 각 슬롯(123)이 공급위치(P1)로 이동하면, 공급 유닛(110)으로부터 공급되는 나사(S)가 각 슬롯(123)에 개별적으로 수용될 수 있다. 이와 같이 각 슬롯(123)에 나사(S)가 수용된 상태에서 이송판(121)이 회전함에 따라 나사(S)는 원주방향(R)으로 이송될 수 있다.
지지 유닛(130)은 이송 유닛(120)의 가장자리 영역에 상호 이격되어 설치될 수 있다. 지지 유닛(130), 및 이송 유닛(120)에 대해서는 도 2, 및 도 3을 참조하여 구체적으로 후술한다.
다시 도 1을 참조하면, 제1 검사 유닛(140)은 이송 유닛(120)에 의해 이송되는 나사(S)의 헤드부(SH, 도 2 참조)를 검사하는 요소이다. 제1 검사 유닛(140)은 이송판(121)의 가장자리의 일 측에 배치될 수 있다. 제1 검사 유닛(140)은 나사(S)의 헤드부(SH)의 상면(SH1, 도 2 참조)을 검사할 수 있으며, 나사(S)의 헤드부(SH)를 촬영하는 상면 카메라(141)를 포함할 수 있다. 제1 검사 유닛(140)은 헤드부(SH)의 바닥면(SH2) 및 몸체부(SB, 이하 도 2 참조)를 촬영할 수도 있으며, 이에 대해서는 도 3을 참조하여 후술한다.
다시 도 1을 참조하면, 제2 검사 유닛(150)은 이송 유닛(120)에 의해 이송되는 나사(S)의 측면을 검사하는 요소이다. 제2 검사 유닛(150)은 이송판(121)의 가장자리의 일 측에 인접하게 설치된 측면 카메라(151), 및 이 측면 카메라(151)의 맞은편에 배치된 광원(153)을 포함할 수 있다. 이송판(121)의 회전에 의해 나사(S)가 제2 검사 유닛(150)으로 이송되면 측면 카메라(151) 및 광원(153)에 의해 슬롯(123)에 배치된 나사(S)의 헤드부(SH) 및 몸체부(SB)의 외주면 윤곽이 정확하게 촬영될 수 있다.
배출 유닛(160)은 양품 배출부(161), 불량품 배출부(163), 및 미분류 배출부(165)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 이들 배출부는 이송판(121)의 가장자리에 각각 시계방향 순으로 설치될 수 있다.
양품 배출부(161)는 제1 검사 유닛(140) 및 제2 검사 유닛(150)에 의해 검사되어 양품으로 인정된 나사(S)를 수거하도록 구성될 수 있다. 불량품 배출부(163)는 제1 검사 유닛(140) 및 제2 검사 유닛(150)에 의해 검사되어 불량품으로 인정된 나사(S)를 수거하도록 구성될 수 있다. 미분류 배출부(165)는 제1 검사 유닛(140) 및 제2 검사 유닛(150) 등에 의해 검사되지 않은 나사(S)만을 수거하도록 구성될 수 있다.
도 2는 도 1의 화살표(A) 방향에서 바라본 모습을 도시한, 도 1의 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)의 측면 확대도이다.
본 도면을 참조하면, 이송 유닛(120)은 이송판(121)을 포함할 수 있으며, 이 이송판(121)은 그 가장자리 영역에 두께 방향을 따라 슬롯(123)이 형성될 수 있다. 이 슬롯(123)은 나사(S)의 몸체부(SB)의 지름(D1)보다 충분히 큰 너비를 갖도록 형성되어, 나사(S)의 몸체부(SB)는 슬롯(123)의 내면(123a)으로부터 충분히 이격될 수 있다. 이 슬롯(123)의 마주하는 내면(123a)에는 각각 결합홈(125)이 형성될 수 있다.
지지 유닛(130)은 나사(S)를 지지하는 요소이다. 지지 유닛(130)은 지지 부재(131), 및 결합 부재(133)를 포함할 수 있다.
지지 부재(131)는 이송판(121)의 슬롯(123)의 내면(123a)에서 슬롯(123)의 중앙 영역(C)으로 돌출 형성될 수 있다. 지지 부재(131)는 헤드부(SH)의 바닥면(SH2)과 대응하여 평면의 형태로 형성되는 상면부(131a)와, 상면부(131a)와 경사지게 형성되는 경사면부(131b)를 포함할 수 있다. 또한, 지지 부재(131)는 복수 개가 구비될 수 있으며, 이들 각각은 슬롯(123)의 마주하는 내면(123a)에 각각 설치될 수 있다. 여기서, 복수의 지지 부재(131)는 헤드부(SH)의 지름(D2)보다 작고 몸체부(SB)의 지름(D1)보다 큰 너비를 갖도록 상호 이격되어 배치될 수 있다. 또한, 지지 부재(131)는 광투과성의 소재로 이루어질 수 있다.
결합 부재(133)는 지지 부재(131)를 슬롯(123)으로부터 착탈 가능하게 하는 요소이다. 결합 부재(133)는 지지 부재(131)에서 돌출 형성되어 결합홈(125)에 착탈 가능하게 고정될 수 있다.
카메라 유닛(170)은 나사(S)를 촬영하는 요소이다. 카메라 유닛(170)은 도 1에 도시된 제1 검사 유닛(140)의 상면 카메라(141), 및 제2 검사 유닛(150)의 측면 카메라(151)일 수 있다.
이하에서는, 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)의 작동 방식에 대하여 설명한다.
이송판(121)으로 공급된 나사(S)는 지지 부재(131)의 상면부(131a)에 그 헤드부(SH)의 바닥면(SH2)이 지지됨으로써 슬롯(123)에 배치될 수 있다. 여기서, 나사(S)는 둥근머리 나사(S)와 같이 헤드부(SH)의 바닥면(SH2)이 넓고 평평한 형태의 나사(S)일 수 있다. 본 실시예에서 지지 부재(131)의 상면부(131a)는 평면의 형태를 가지므로, 나사(S)의 헤드부(SH)는 지지 부재(131)의 상면부(131a)에 안정적으로 안착될 수 있다.
이와 같이 슬롯(123)에 안착된 나사(S)는 카메라 유닛(170)에 의해 그 측면이 촬영될 수 있다. 여기서, 카메라 유닛(170)은 도 1에 도시된 제2 검사 유닛(150)의 측면 카메라(151)일 수 있다. 상술한 것과 같이, 슬롯(123)은 나사(S)의 몸체부(SB)의 지름(D1)보다 충분히 큰 너비를 가지므로, 나사(S)의 몸체부(SB)는 슬롯(123)의 내면(123a)으로부터 충분히 이격되고, 이에 따라 나사(S)의 몸체부(SB)에 대한 윤곽(실루엣) 영상이 카메라 유닛(170)에 의해 정확하게 촬영될 수 있다. 또한, 지지 부재(131)는 평평한 상면부(131a)와 경사지게 형성되는 경사면부(131b)를 가지므로, 보다 명확한 나사(S)의 윤곽을 획득할 수 있어 검사의 신뢰도를 향상시킬 수 있다. 이와 함께, 지지 부재(131)는 광투과성의 소재로 이루어질 수 있으므로, 측면 촬영시 나사(S)의 윤곽 만이 나타나는 정확한 헤드부(SH)의 바닥면(SH2)의 이미지를 획득할 수 있다.
지지 부재(131)는 슬롯(123)의 결합홈(125)과 착탈 가능하게 고정되는 결합 부재(133)에 의해 슬롯(123)의 내면(123a)에서 분리될 수 있다. 이러한 구성에 의하면, 지지 부재(131)가 마모되는 경우, 지지 부재(131)만을 교체함으로써 이송판(121)을 그대로 사용할 수 있다. 또한, 상이한 사이즈의 나사(S)를 검사하는 경우, 지지 부재(131)만을 나사(S)의 사이즈에 대응하는 사이즈의 지지 부재(131)로 교체함으로써 이송판(121)을 그대로 사용할 수 있다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100')의 측면 확대도이다. 이하에서는, 상술한 실시예와의 차이점을 중심으로 본 실시예에 따른 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100')에 대하여 설명한다.
본 도면을 참조하면, 지지 유닛(130)은 광투과성의 소재로 형성되는 지지 부재(131)를 포함할 수 있다. 또한, 본 실시예에서 카메라 유닛(170')은 도 1에 도시된 제1 검사 유닛(140)의 상면 카메라(141)일 수 있다. 이에 따라, 카메라 유닛(170')은 나사(S)의 헤드부(SH)의 상측에 배치될 수 있다.
광학 유닛(180)은 나사(S)에서 반사된 광(L)의 진행 방향을 변경하여 카메라 유닛(170')으로 입사시키는 요소이다. 광학 유닛(180)은 반사 부재(181)를 포함할 수 있다. 이 반사 부재(181)는 몸체부(SB)의 하측에 배치되어 나사(S)에서 반사된 광(L)을 지지 부재(131)를 투과하여 카메라 유닛(170')으로 입사시킬 수 있다. 이 반사 부재(181)는 나사(S) 측으로 벌어지는 형태로 구성되는 환형의 콘미러(183)를 포함할 수 있다.
이하에서는, 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100')의 작동 방식에 대하여 설명한다.
상술한 것과 같이, 광학 유닛(180)인 반사 부재(181)는 몸체부(SB)의 하측에 배치될 수 있다. 또한, 반사 부재(181)는 환형의 콘미러(183)로 구성되는데, 이러한 구성에 의하면, 헤드부(SH)의 바닥면(SH2) 및 몸체부(SB)에서 반사된 광(L)은 광투과성의 지지 부재(131)를 투과하여 카메라 유닛(170')으로 입사될 수 있다. 여기서, 카메라 유닛(170')은 도 1에 도시된 제1 검사 유닛(140)의 상면 카메라(141)이므로, 제1 검사 유닛(140)은 헤드부(SH)의 상면(SH1)은 물론 헤드부(SH)의 바닥면(SH2) 및 몸체부(SB)의 이미지를 동시에 획득할 수 있다. 이에 따라, 도 1의 제2 검사 유닛(150)은 별도로 구비되지 않을 수도 있다.
도 4는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100'')의 평면도이다.
본 도면을 참조하면, 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100'')는 공급 유닛(110), 이송 유닛(120''), 지지 유닛(130''), 제1 검사 유닛(140), 제2 검사 유닛(150), 및 배출 유닛(160)을 포함할 수 있다.
여기서, 이송 유닛(120'')은 전술한 이송판(121) 이외에, 복수의 인덱스 블록(127)을 포함할 수 있다. 이 복수의 인덱스 블록(127)은 이송판(121)의 가장자리 영역에 설치되고, 상술한 슬롯(123)의 너비와 동일한 너비를 갖도록 상호 이격되어 배치될 수 있다. 이하에서는, 도 5를 참조하여 본 실시예에 따른 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100'')에 대해 전술한 실시예와의 차이점을 중심으로 설명한다.
도 5는 도 4의 화살표(B) 방향에서 바라본 모습을 도시한, 도 4의 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100'')의 측면 확대도이다.
본 도면을 참조하면, 이송 유닛(120'')의 복수의 인덱스 블록(127)은 슬롯(123)의 너비와 동일한 너비를 갖도록 상호 이격되어 배치될 수 있다. 여기서, 복수의 인덱스 블록(127) 사이의 슬롯(123)은 나사(S)가 수용될 수 있도록 나사(S)의 몸체부(SB)의 지름(D1)보다 충분히 크게 형성될 수 있다.
지지 유닛(130'')은 지지 부재(131''), 및 결합 부재(133'')를 포함할 수 있다. 여기서, 지지 부재(131'')는 복수의 인덱스 블록(127)의 마주하는 양 측면(123''a)에 각각 착탈 가능하게 설치될 수 있다.
이하에서는, 본 실시예에 따른 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100'')의 작동 방식에 대해 설명한다.
복수의 인덱스 블록(127)의 이격 설치에 의해 구성된 슬롯(123)에 나사(S)가 수용되면, 나사(S)의 몸체부(SB)는 슬롯(123)에서 인덱스 블록(127)의 측면(123''a)으로부터 충분히 이격되고, 이에 따라 나사(S)의 몸체부(SB)에 대한 윤곽(실루엣) 영상이 제2 검사 유닛(150)에 의해 정확하게 촬영될 수 있다.
이와 달리, 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100'')는 전술한 실시예에서와 같이 상면 카메라(141), 및 광학 유닛(180)을 구비할 수도 있다. 이러한 구성에 의하면, 헤드부(SH)의 상면(SH1) 및 바닥면(SH2)과 몸체부(SB)의 이미지가 모두 카메라 유닛(170)인 상면 카메라(141)에 의해 획득될 수 있으므로, 도 4에 도시된 제2 검사 유닛(150)이 별도로 구비되지 않을 수도 있다.
상기와 같은 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치는 위에서 설명된 실시예들의 구성과 작동 방식에 한정되는 것이 아니다. 상기 실시예들은 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 구성될 수도 있다.
100,100',100'': 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치
110: 공급 유닛 120,120',120'': 이송 유닛
130,130',130'': 지지 유닛 140: 제1 검사 유닛
150: 제2 검사 유닛 160: 배출 유닛
170: 카메라 유닛 180: 배출 유닛

Claims (10)

  1. 헤드부 및 몸체부를 가진 나사가 배치되는 슬롯을 구비하는 이송 유닛;
    상기 나사가 상기 이송 유닛에 의해 검사 영역에 위치한 때 상기 나사의 이미지를 획득하는 카메라 유닛;
    상기 슬롯에 설치되고, 상기 헤드부를 지지할 수 있도록 상기 슬롯의 중앙 영역으로 돌출 형성되는 광투과성의 지지 유닛; 및
    상기 몸체부의 하측에 배치되어 상기 나사에서 반사된 광을 상기 지지 유닛을 투과하여 상기 카메라 유닛으로 입사시키는 반사 부재를 구비하는 광학 유닛을 포함하는, 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 이송 유닛은,
    그 가장자리 영역에 상기 슬롯이 형성되는 이송판을 더 포함하고,
    상기 지지 유닛은,
    상기 이송판의 슬롯의 내면에서 돌출 형성되는 지지 부재를 포함하는, 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 이송판은,
    상기 슬롯의 내면에 형성되는 결합홈을 더 포함하고,
    상기 지지 유닛은,
    상기 지지 부재에서 돌출 형성되어, 상기 결합홈에 착탈 가능하게 고정되는 결합 부재를 더 포함하는, 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 지지 유닛은,
    상기 슬롯의 마주하는 내면에 각각 설치되고, 상기 헤드부의 지름보다 작고 상기 몸체부의 지름보다 큰 너비를 갖도록 상호 이격되어 배치되는 복수의 지지 부재를 포함하는, 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 지지 부재는,
    상기 헤드부의 바닥면과 대응하여 평면의 형태로 형성되는 상면부와, 상기 상면부와 경사지게 형성되는 경사면부를 포함하는, 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치.

  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 제1항에 있어서,
    상기 카메라 유닛은 상기 헤드부의 상측에 배치되는, 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 반사 부재는,
    상기 헤드부의 바닥면 및 상기 몸체부에서 반사된 광을 상기 카메라 유닛으로 입사시킬 수 있도록 상기 나사 측으로 벌어지게 형성되는 환형의 콘미러를 포함하는, 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 이송 유닛은,
    상기 나사를 상기 검사 영역으로 이송하는 이송판; 및
    상기 이송판의 가장자리 영역에 설치되고, 상기 슬롯의 너비와 동일한 너비를 갖도록 상호 이격되어 배치되는 복수의 인덱스 블록을 더 포함하고,
    상기 지지 유닛은,
    상기 복수의 인덱스 블록의 마주하는 양 측면에 각각 착탈 가능하게 설치되는 복수의 지지 부재를 포함하는, 나사의 외면을 검사하기 위한 비전 검사 장치.
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