KR101350547B1 - Photosensitive resin composition, photosensitive element utilizing the composition method for formation of resist pattern, and process for production of printed circuit board - Google Patents

Photosensitive resin composition, photosensitive element utilizing the composition method for formation of resist pattern, and process for production of printed circuit board Download PDF

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Abstract

바인더 폴리머와, 에틸렌성 불포화 결합을 가지는 광중합성 화합물과, 하기 식 (1), (2), 또는 (3)으로 표시되는 구조를 가지는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 피라진 화합물을 함유하는 감광성 수지 조성물.
[화학식 1]

Figure 112011077055594-pct00035

[화학식 2]
Figure 112011077055594-pct00036

[화학식 3]
Figure 112011077055594-pct00037

[식 (1)~(3) 중, R1~R12는 각각 독립적으로 알킬기, 시클로 알킬기, 페닐기, 나프틸기 또는 복소환식기를 포함하는 1가의 유기기를 나타내고, R1과 R2, R3 와 R4, R5와 R6, R7과 R8, R9와 R10, R11과 R12는, 서로 결합하여 피라진 골격의 2개의 탄소 원자와 함께 환을 형성하고 있어도 된다. 식 (2), 중 X 및 Y는, 각각 독립적으로 피라진 골격의 2개의 탄소와 함께 형성된 단환구조 또는 축합다환구조의 방향족환을 구성하는 원자군을 나타니고, 식 (3) 중, Z는, 피라진 골격의 4개의 탄소와 함께 형성된, 단환구조 혹은 축합다환구조의 방향족환, 또는, 복소환을 구성하는 원자군을 나타낸다.]It contains a binder polymer, a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond, and at least one pyrazine compound selected from the group consisting of a compound having a structure represented by the following formula (1), (2), or (3): The photosensitive resin composition.
[Chemical Formula 1]
Figure 112011077055594-pct00035

(2)
Figure 112011077055594-pct00036

(3)
Figure 112011077055594-pct00037

[In formula (1)-(3), R < 1 > -R < 12 > respectively independently represents the monovalent organic group containing an alkyl group, a cycloalkyl group, a phenyl group, a naphthyl group, or a heterocyclic group, and R <1> , R <2> , R <3> And R 4 , R 5 and R 6 , R 7 and R 8 , R 9 and R 10 , R 11 and R 12 may be bonded to each other to form a ring together with two carbon atoms of a pyrazine skeleton. In the formula (2), X and Y each independently represent an atomic group constituting an aromatic ring of a monocyclic structure or a condensed polycyclic structure formed with two carbons of a pyrazine skeleton, and in formula (3), Z is A group of atoms constituting an aromatic ring having a monocyclic structure or a condensed polycyclic structure formed with four carbons of the pyrazine skeleton, or a heterocyclic ring.]

Description

감광성 수지 조성물, 이를 이용한 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 형성 방법, 및 프린트 배선판의 제조 방법{PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION, PHOTOSENSITIVE ELEMENT UTILIZING THE COMPOSITION METHOD FOR FORMATION OF RESIST PATTERN, AND PROCESS FOR PRODUCTION OF PRINTED CIRCUIT BOARD}PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION, PHOTOSENSITIVE ELEMENT UTILIZING THE COMPOSITION METHOD FOR FORMATION OF RESIST PATTERN, AND PROCESS FOR PRODUCTION OF PRINTED CIRCUIT BOARD}

본 발명은, 감광성 수지 조성물, 이를 이용한 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 형성 방법, 및 프린트 배선판의 제조 방법에 관한 것이다.This invention relates to the photosensitive resin composition, the photosensitive element using this, the formation method of a resist pattern, and the manufacturing method of a printed wiring board.

프린트 배선판, 플라스마 디스플레이용 배선판, 액정 디스플레이용 배선판, 대규모 집적회로, 박형 트랜지스터, 반도체 패키지 등의 미세 전자 회로의 제조 분야에 있어서는, 에칭이나 도금 등에 이용되는 레지스트 재료로서 감광성 수지 조성물이나 감광성 엘리먼트(적층체)가 널리 이용되고 있다.In the manufacturing fields of microelectronic circuits such as printed wiring boards, wiring boards for plasma displays, wiring boards for liquid crystal displays, large-scale integrated circuits, thin transistors, and semiconductor packages, photosensitive resin compositions and photosensitive elements (such as lamination materials) are used as resist materials used for etching and plating. Sieve) is widely used.

미세 전자 회로는, 예를 들면 이하와 같이 하여 제조된다. 우선, 감광성 엘리먼트의 감광성 수지 조성물층을 회로 형성용 기판 상에 적층(라미네이트)한다. 다음으로, 지지 필름을 박리 제거한 후, 감광성 수지 조성물층의 소정 부분에 활성 광선을 조사하여 노광부를 경화시킨다. 그 후, 미노광부를 기판 상으로부터 제거(현상)함으로써, 기판 상에, 감광성 수지 조성물의 경화물로 이루어지는 레지스트 패턴이 형성된다. 얻어진 레지스트 패턴에 대해 에칭 처리 또는 도금 처리를 실시하여 기판 상에 회로를 형성한 후, 최종적으로 레지스트를 박리 제거하여 미세 전자 회로가 제조된다.A fine electronic circuit is manufactured as follows, for example. First, the photosensitive resin composition layer of the photosensitive element is laminated (laminated) on the circuit forming substrate. Next, after peeling and removing a support film, actinic light is irradiated to the predetermined part of the photosensitive resin composition layer, and an exposure part is hardened. Thereafter, by removing (developing) the unexposed portion from the substrate, a resist pattern made of a cured product of the photosensitive resin composition is formed on the substrate. An etching process or plating process is performed with respect to the obtained resist pattern, and a circuit is formed on a board | substrate, and finally, a resist is peeled off and a fine electronic circuit is manufactured.

상기 노광의 방법으로서는, 종래, 파장 365nm를 중심으로 한 수은등을 광원으로 해서 포토마스크를 개재하여 노광하는 방법이 이용되고 있다. 또한, 최근, 파장 405nm의 장수명이며 고출력인 질화 갈륨계 반도체 청색 레이저나, 파장 355nm의 고체 레이저를 광원으로 하여 패턴의 디지털 데이타를 직접 감광성 수지 조성물층에 묘화하는 직접 묘화 노광법이 제안되고 있다(예를 들면, 비특허문헌 1 참조). DLP(Digital Light Processing)나 LDI(Laser Direct Imaging)로 불리는 이들 직접 묘화 노광법은, 포토마스크를 개재한 노광법보다 위치 맞춤 정밀도가 양호하며, 또한 고정밀 패턴을 얻을 수 있다는 점에서, 고밀도 패키지 기판 제작을 위해서 도입되고 있다.As the method of exposure, the method of exposing through a photomask using the mercury lamp centering on wavelength 365nm as a light source is used conventionally. Moreover, in recent years, the direct drawing exposure method which draws the digital data of a pattern directly on the photosensitive resin composition layer using the long lifetime and high output gallium nitride system blue semiconductor laser of wavelength 405nm or the solid-state laser of wavelength 355nm has been proposed ( For example, see Nonpatent Literature 1). These direct drawing exposure methods, called DLP (Digital Light Processing) or LDI (Laser Direct Imaging), have higher alignment accuracy than the exposure method via a photomask, and can obtain a high-precision pattern. It is introduced for production.

또한, 레이저 노광에 적절한 감광성 재료에 관해서도 검토가 이루어지고 있다. 예를 들면, 반도체 청자색 레이저를 광원으로 했을 경우에 이용되는 감광성 재료로서 특허문헌 1, 2에는, 특정의 개시제를 이용한 감광성 수지 조성물이 개시되어 있다.Moreover, examination is also made about the photosensitive material suitable for laser exposure. For example, as a photosensitive material used when using a semiconductor blue violet laser as a light source, Patent Documents 1 and 2 disclose a photosensitive resin composition using a specific initiator.

특허문헌 1: 일본국 특허공개공보 2002-296764호Patent Document 1: Japanese Patent Publication No. 2002-296764 특허문헌 2: 일본국 특허공개공보 2004-45596호Patent Document 2: Japanese Patent Publication No. 2004-45596

비특허문헌 1: 일렉트로닉스 실장 기술 2002년 6월호(p.74~79)Non-Patent Document 1: Electronics Packaging Technology June 2002 Issue (p.74-79)

그런데, 노광 공정에서는, 생산 효율의 향상을 위해서, 가능한 한 노광 시간을 단축할 필요가 있다. 그러나, 상술한 직접 묘화 노광법에서는, 광원에 레이저 등의 단색광을 이용하는 것 외에, 기판을 주사하면서 광선을 조사하기 때문에, 종래의 포토마스크를 개재한 노광 방법과 비교해서, 많은 노광 시간을 필요로 하는 경향이 있다. 그 때문에, 종래보다 감광성 수지 조성물의 감도를 향상시킬 필요가 있다.By the way, in an exposure process, it is necessary to shorten an exposure time as much as possible in order to improve production efficiency. However, in the above-described direct drawing exposure method, in addition to using monochromatic light such as a laser as a light source and irradiating a light beam while scanning a substrate, a large exposure time is required as compared with the exposure method via a conventional photomask. Tend to. Therefore, it is necessary to improve the sensitivity of the photosensitive resin composition conventionally.

한편, 최근의 프린트 배선판의 고밀도화에 동반하여, 감광성 수지 조성물에 대해서는 고해상성 및 고밀착성에의 요구도 높아지고 있다. 또한 배선의 미세화에 동반하여, 전원선의 저항에 의한 전압 강하의 문제도 표면화하고 있어, 두께 10㎛ 이상의 도금층(도체층)의 형성이 과제가 되고 있다. 두께 10㎛ 이상의 도금층을 형성하기 위해서는, 레지스트에는 15㎛ 이상의 막두께가 필요하게 되지만, 일반적으로 감광층의 막두께가 두꺼워지면 해상성은 저하하는 경향이 있다. 따라서, 막두께와 해상성의 양쪽의 특성을 만족할 수 있는 감광성 수지 조성물이 요구되고 있다.On the other hand, with the recent increase in the density of printed wiring boards, the demand for high resolution and high adhesiveness for photosensitive resin compositions is also increasing. In addition to the miniaturization of wiring, the problem of voltage drop due to the resistance of the power supply line is also surfaced, and the formation of a plating layer (conductor layer) having a thickness of 10 µm or more has been a problem. In order to form a plating layer having a thickness of 10 μm or more, the resist requires a film thickness of 15 μm or more, but in general, when the film thickness of the photosensitive layer becomes thick, resolution tends to decrease. Therefore, the photosensitive resin composition which can satisfy | fill both the characteristics of a film thickness and resolution is calculated | required.

또한, 감광성 수지 조성물은, 도금에 대한 오염성이 낮은 것도 중요하다. 감광성 수지 조성물이 도금욕(plating bath)을 오염하면, 도금 처리를 가한 기판 외관에 변색이 생기거나, 또는, 도금 형성성이 저하하여 단선의 원인이 되는 등의 문제가 있다.Moreover, it is also important that the photosensitive resin composition is low in contamination with plating. When the photosensitive resin composition contaminates a plating bath, there exists a problem of discoloration in the external appearance of the board | substrate to which the plating process was applied, or a fall of plating formability and a cause of disconnection.

또한 감광성 수지 조성물에는, 도금 후의 레지스트의 박리 특성이 뛰어날 것이 요구된다. 박리 특성이 부족한 경우, 도금 처리 후의 레지스트 박리 공정에 있어서, 미세한 배선간의 레지스트를 박리하는 것이 곤란해져, 박리 시간이 증대하여 생산 효율이 저하한다. 또한, 배선간에 박리 잔유물이 생겨, 수율이 저하하는 등의 문제가 있다.Moreover, the photosensitive resin composition is calculated | required to be excellent in the peeling characteristic of the resist after plating. When the peeling characteristic is insufficient, in the resist peeling step after the plating treatment, it is difficult to peel the resist between fine wirings, and the peeling time increases, and the production efficiency decreases. Moreover, there exists a problem of peeling residue which arises between wirings, and a yield falls.

그래서, 본 발명은, 파장 350~410nm의 빛에 대한 감도, 해상성, 밀착성, 박리 특성, 및 도금 형성성이 뛰어나며, 도금에 대한 오염성이 낮은 감광성 수지 조성물, 이를 이용한 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 형성 방법, 및 프린트 배선판의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.Therefore, the present invention is excellent in sensitivity, resolution, adhesion, peeling property, and plating formability to light having a wavelength of 350 to 410 nm, and has a low staining resistance to plating, forming a photosensitive element and a resist pattern using the same. It aims at providing the method and the manufacturing method of a printed wiring board.

본 발명은, 바인더 폴리머와 에틸렌성 불포화 결합을 가지는 광중합성 화합물과, 하기 식 (1), (2), 또는 (3)으로 표시되는 구조를 가지는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 피라진 화합물을 함유하는 감광성 수지 조성물을 제공한다.The present invention is at least one pyrazine selected from the group consisting of a photopolymerizable compound having a binder polymer and an ethylenically unsaturated bond and a compound having a structure represented by the following formula (1), (2), or (3): It provides the photosensitive resin composition containing a compound.

[화학식 1][Formula 1]

Figure 112011077055594-pct00001
Figure 112011077055594-pct00001

식 (1) 중, R1, R2, R3, 및 R4는 각각 독립적으로 알킬기, 시클로 알킬기, 페닐기, 나프틸기 또는 복소환식기를 포함하는 1가의 유기기를 나타내고, R1과 R2, 또는, R3 와 R4는, 서로 결합하여 피라진 골격의 2개의 탄소 원자와 함께 환을 형성하고 있어도 된다.In formula (1), R <1> , R <2> , R <3> and R <4> respectively independently represent the monovalent organic group containing an alkyl group, a cycloalkyl group, a phenyl group, a naphthyl group, or a heterocyclic group, and R <1> , R <2> , Alternatively, R 3 and R 4 may be bonded to each other to form a ring together with two carbon atoms of a pyrazine skeleton.

[화학식 2](2)

Figure 112011077055594-pct00002
Figure 112011077055594-pct00002

식 (2) 중, R5, R6, R7, 및 R8은 각각 독립적으로 알킬기, 시클로 알킬기, 페닐기, 나프틸기 또는 복소환식기를 포함하는 1가의 유기기를 나타내고, R5와 R6, 또는, R7과 R8은, 서로 결합하여 피라진 골격의 2개의 탄소 원자와 함께 환을 형성하고 있어도 된다. X 및 Y는, 각각 독립적으로 피라진 골격의 2개의 탄소와 함께 형성된 단환구조 또는 축합다환구조의 방향족환을 구성하는 원자군을 나타낸다.In formula (2), R <5> , R <6> , R <7> and R <8> respectively independently represent the monovalent organic group containing an alkyl group, a cycloalkyl group, a phenyl group, a naphthyl group, or a heterocyclic group, and R <5> , R <6> , Alternatively, R 7 and R 8 may be bonded to each other to form a ring together with two carbon atoms of a pyrazine skeleton. X and Y respectively independently represent the atomic group which comprises the aromatic ring of the monocyclic structure or condensed polycyclic structure formed with two carbons of a pyrazine skeleton.

[화학식 3](3)

Figure 112011077055594-pct00003
Figure 112011077055594-pct00003

식 (3) 중, R9, R1O, R11, 및 R12는 각각 독립적으로 알킬기, 시클로 알킬기, 페닐기, 나프틸기 또는 복소환식기를 포함한 1가의 유기기를 나타내고, R9와 R10, 또는, R11과 R12는, 서로 결합하여 피라진 골격의 2개의 탄소 원자와 함께 환을 형성하고 있어도 된다. Z는, 피라진 골격의 4개의 탄소와 함께 형성된, 단환구조 혹은 축합다환구조의 방향족환, 또는, 복소환을 구성하는 원자군을 나타낸다.In formula (3), R <9> , R <10> , R <11> and R <12> represent a monovalent organic group containing an alkyl group, a cycloalkyl group, a phenyl group, a naphthyl group, or a heterocyclic group each independently, and R <9> and R <10> , or , R 11 and R 12 may be bonded to each other to form a ring together with two carbon atoms of a pyrazine skeleton. Z represents the atomic group which comprises the aromatic ring of monocyclic structure or condensed polycyclic structure, or heterocyclic ring formed with four carbons of a pyrazine skeleton.

상기 피라진 화합물은, 파장이 350~410nm인 빛에 대해서 비교적 강한 흡수가 있기 때문에, 본 발명의 감광성 수지 조성물은, 파장 350~410nm의 빛에 대해서 양호한 감도를 얻을 수 있다. 또한, 상기 피라진 화합물을 포함하는 본 발명의 감광성 수지 조성물은, 해상성, 밀착성, 경화 후의 감광성 수지 조성물의 박리성(박리 특성), 및 도금 형성성도 뛰어나, 도금에 대한 오염성도 낮은 것이 된다.Since the said pyrazine compound has comparatively strong absorption with respect to the light of wavelength 350-410 nm, the photosensitive resin composition of this invention can obtain favorable sensitivity with respect to the light of wavelength 350-410 nm. Moreover, the photosensitive resin composition of this invention containing the said pyrazine compound is excellent in resolving property, adhesiveness, peeling property (peeling characteristic) of the photosensitive resin composition after hardening, and plating formation property, and also becomes low in contamination with plating.

또한, 상기 피라진 화합물은, 상기 식 (1)로 표시되는 구조를 가지는 화합물인 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable that the said pyrazine compound is a compound which has a structure represented by said Formula (1).

또한, 본 발명의 감광성 수지 조성물에 있어서, 피라진 화합물의 극대 흡수 파장은 350~410nm의 범위 내인 것이 바람직하다. 이에 의해, 파장 350~410nm의 빛에 대해서 양호한 감도를 얻을 수 있음과 함께, 파장 500nm 이상의 장파장측에서의 흡수가 적게 되어, 옐로우색광 하에서의 안정성이 양호해진다.Moreover, in the photosensitive resin composition of this invention, it is preferable that the maximum absorption wavelength of a pyrazine compound exists in the range of 350-410 nm. Thereby, while the favorable sensitivity can be acquired with respect to the light of wavelength 350-410 nm, absorption in the long wavelength side of wavelength 500nm or more becomes small, and stability under yellow light becomes favorable.

또한, 본 발명의 감광성 수지 조성물에 있어서, 바인더 폴리머가, (메타)아크릴산과 스티렌 또는 스티렌 유도체를 공중합 성분으로서 포함하는 것이 바람직하다. 이에 의해, 감광성 수지 조성물의 알칼리 현상성, 해상성 및 밀착성이 더욱 향상된다.Moreover, in the photosensitive resin composition of this invention, it is preferable that a binder polymer contains (meth) acrylic acid and styrene or a styrene derivative as a copolymerization component. Thereby, alkali developability, resolution, and adhesiveness of the photosensitive resin composition further improve.

또한, 본 발명의 감광성 수지 조성물이, 하기 식 (4)로 표시되는 화합물을 함유하는 것이 바람직하다. 이에 의해, 감광성 수지 조성물의 해상성 및 밀착성을 유지하면서, 감도 및 이메징성(레지스트의 발색성)이 향상되는 경향이 있다.Moreover, it is preferable that the photosensitive resin composition of this invention contains the compound represented by following formula (4). Thereby, there exists a tendency for a sensitivity and imaging property (color development property of a resist) to improve, maintaining the resolution and adhesiveness of the photosensitive resin composition.

[화학식 4][Chemical Formula 4]

Figure 112011077055594-pct00004
Figure 112011077055594-pct00004

식 (4) 중, X는 탄소 원자 또는 질소 원자를 나타내고, R13, R14 및 R15는 각각 독립적으로 할로겐 원자 또는 탄소수 1~5의 알킬기를 나타내며, R13, R14 및 R15 중 적어도 하나는 할로겐 원자를 나타낸다. R16은 수소 원자, 탄소수 1~5의 알킬기, 또는, 탄소수 1~5의 알콕시기를 나타내고, l은 0~4의 정수를 나타낸다. l이 2~4일 때, 복수의 R16는 동일해도 달라도 된다.In formula (4), X represents a carbon atom or a nitrogen atom, R <13> , R <14> and R <15> represent a halogen atom or a C1-C5 alkyl group each independently, At least in R <13> , R <14> and R <15> . One represents a halogen atom. R <16> represents a hydrogen atom, a C1-C5 alkyl group, or a C1-C5 alkoxy group, and l shows the integer of 0-4. When l is 2-4, some R <16> may be same or different.

또한, 본 발명의 감광성 수지 조성물은, 수소 공여성 화합물을 더 함유하는 것이 바람직하다. 이에 의해, 감광성 수지 조성물의 감도가 향상된다.Moreover, it is preferable that the photosensitive resin composition of this invention contains a hydrogen donor compound further. Thereby, the sensitivity of the photosensitive resin composition improves.

또한, 본 발명의 감광성 수지 조성물에 있어서, 수소 공여성 화합물은 하기 식 (5)로 표시되는 화합물을 함유하는 것이 바람직하다. 이에 의해, 감광성 수지 조성물의 감도가 더욱 향상되는 경향이 있다.Moreover, in the photosensitive resin composition of this invention, it is preferable that a hydrogen donor compound contains the compound represented by following formula (5). There exists a tendency for the sensitivity of the photosensitive resin composition to improve further by this.

[화학식 5][Chemical Formula 5]

Figure 112011077055594-pct00005
Figure 112011077055594-pct00005

식 (5) 중, R17은 탄소수 1~6의 알킬기, 알콕시기 혹은 에스테르기, 수산기, 또는 할로겐 원자를 나타낸다. n은 0~5의 정수이며, n이 2~5일 때 복수의 R17은 동일해도 달라도 된다.Equation (5) of, R 17 represents an alkyl group, an alkoxy group or an ester group, a hydroxyl group, or a halogen atom having 1 to 6 carbon atoms. n is an integer of 0-5, and when n is 2-5, some R <17> may be same or different.

또한, 본 발명은, 지지체와, 그 지지체 상에 형성된 상기 감광성 수지 조성물로 이루어지는 감광성 수지 조성물층을 구비하는 감광성 엘리먼트를 제공한다. 이러한 감광성 엘리먼트를 이용함으로써, 감도, 해상성, 밀착성, 박리 특성, 및 도금 형성성이 뛰어나며, 도금에 대한 오염성이 낮은 레지스트 패턴을 효율적으로 형성할 수 있다.Moreover, this invention provides the photosensitive element provided with a support body and the photosensitive resin composition layer which consists of the said photosensitive resin composition formed on this support body. By using such a photosensitive element, the resist pattern which is excellent in a sensitivity, resolution, adhesiveness, peeling characteristic, and plating formation property, and is low in contamination with plating can be formed efficiently.

또한, 본 발명은, 상기 감광성 수지 조성물로 이루어지는 감광성 수지 조성물층을 기판 상에 적층하는 적층 공정과, 감광성 수지 조성물층의 소정 부분에 활성 광선을 조사하는 노광 공정과, 감광성 수지 조성물층의 상기 소정 부분 이외의 부분을 기판 상으로부터 제거함으로써, 기판 상에, 감광성 수지 조성물의 경화물로 이루어지는 레지스트 패턴을 형성하는 현상 공정을 포함하는 레지스트 패턴의 형성 방법을 제공한다. 상기 방법에 의하면, 감도, 해상성, 밀착성, 박리 특성, 및 도금 형성성이 뛰어나며, 도금에 대한 오염성이 낮은 레지스트 패턴을 효율적으로 형성할 수 있다.Moreover, this invention is the lamination process of laminating | stacking the photosensitive resin composition layer which consists of said photosensitive resin composition on a board | substrate, the exposure process which irradiates a predetermined part of the photosensitive resin composition layer, and the said predetermined | prescribed of the photosensitive resin composition layer. By removing parts other than a part from a board | substrate, the formation method of the resist pattern including the image development process of forming the resist pattern which consists of hardened | cured material of the photosensitive resin composition on a board | substrate is provided. According to the above method, a resist pattern excellent in sensitivity, resolution, adhesion, peeling property, and plating formability and low in contamination with plating can be efficiently formed.

상기 레지스트 패턴의 형성 방법에 있어서, 활성 광선의 파장은 390~410nm인 것이 바람직하다. 이에 의해, 감도, 해상성, 밀착성, 박리 특성, 및 도금 형성성이 더욱 뛰어난 레지스트 패턴을 형성할 수 있다.In the formation method of the said resist pattern, it is preferable that the wavelength of an actinic light is 390-410 nm. Thereby, the resist pattern which is further excellent in a sensitivity, resolution, adhesiveness, peeling characteristic, and plating formation property can be formed.

또, 본 발명은, 상기 방법에 의해 레지스트 패턴이 형성된 기판을 에칭 또는 도금하는 공정을 포함하는, 프린트 배선판의 제조 방법을 제공한다. 이 제조 방법에 의하면, 고밀도 패키지 기판과 같은 고밀도화한 배선을 가지는 프린트 배선판을 효율적으로 제조할 수 있다.Moreover, this invention provides the manufacturing method of the printed wiring board containing the process of etching or plating the board | substrate with which the resist pattern was formed by the said method. According to this manufacturing method, the printed wiring board which has high density wiring like the high density package board | substrate can be manufactured efficiently.

본 발명에 의하면, 파장 350~410nm의 빛에 대한 감도, 해상성, 밀착성, 박리 특성, 및 도금 형성성이 뛰어나며, 도금에 대한 오염성이 낮은 감광성 수지 조성물, 이를 이용한 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 형성 방법, 및 프린트 배선판의 제조 방법을 제공할 수 있다.According to the present invention, a photosensitive resin composition having excellent sensitivity to light having a wavelength of 350 to 410 nm, resolution, adhesiveness, peeling property, and plating formability, and low pollution to plating, a photosensitive element using the same, and a method of forming a resist pattern And a manufacturing method of a printed wiring board can be provided.

도 1은, 감광성 엘리먼트의 일례를 나타내는 모식 단면도이다.
도 2는, 본 실시예와 관련되는 (C-1)의 1H-NMR 스펙트럼이다.
도 3은, 본 실시예와 관련되는 (C-1)의 13C-NMR 스펙트럼이다.
도 4는, 본 실시예와 관련되는 (C-1), (C-3)의 자외 가시 흡수 스펙트럼이다.
도 5는, 본 실시예와 관련되는 (C-1), (C-2)의 자외 가시 흡수 스펙트럼이다.
1: is a schematic cross section which shows an example of the photosensitive element.
2 is a 1 H-NMR spectrum of (C-1) according to the present example.
3 is a 13C-NMR spectrum of (C-1) related to the present example.
4 is ultraviolet visible absorption spectra of (C-1) and (C-3) according to the present embodiment.
5 is an ultraviolet visible absorption spectrum of (C-1) and (C-2) according to the present embodiment.

이하, 본 발명을 실시하기 위한 최선의 형태에 관하여 상세하게 설명한다. 다만, 본 발명은 이하의 실시형태로 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 명세서에 있어서, (메타)아크릴산이란, 아크릴산 또는 메타크릴산을 의미하고, (메타)아크릴레이트란, 아크릴레이트 또는 메타크릴레이트를 의미하며, (메타)아크릴로일기란, 아크릴로 일기 또는 메타크리로일기를 의미한다. 또한, (폴리)옥시에틸렌사슬은 옥시 에틸렌기 또는 폴리옥시 에틸렌사슬을 의미하고, (폴리)옥시프로필렌사슬은 옥시프로필렌기 또는 폴리옥시프로필렌사슬을 의미한다. 또한 「EO변성」이란, (폴리)옥시에틸렌사슬을 가지는 화합물인 것을 의미하고, 「PO변성」이란, (폴리)옥시프로필렌사슬을 가지는 화합물인 것을 의미하며, 「EO·PO변성」이란, (폴리)옥시에틸렌사슬 및 (폴리)옥시 프로필렌사슬 모두를 가지는 화합물인 것을 의미한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the best form for implementing this invention is demonstrated in detail. However, the present invention is not limited to the following embodiments. In addition, in this specification, (meth) acrylic acid means acrylic acid or methacrylic acid, a (meth) acrylate means an acrylate or methacrylate, and a (meth) acryloyl group is an acryl diary Or methacryloyl group. In addition, a (poly) oxyethylene chain means an oxy ethylene group or a polyoxy ethylene chain, and a (poly) oxypropylene chain means an oxypropylene group or a polyoxypropylene chain. In addition, "EO modification" means that it is a compound which has a (poly) oxyethylene chain, "PO modification" means that it is a compound which has a (poly) oxypropylene chain, and "EO-PO modification" is ( It means a compound having both poly) oxyethylene chain and (poly) oxy propylene chain.

(감광성 수지 조성물)(Photosensitive resin composition)

우선, 본 실시형태와 관련되는 감광성 수지 조성물에 관하여 설명한다. 본 실시형태의 감광성 수지 조성물은, (A) 바인더 폴리머, (B) 광중합성 화합물 및 (C) 광중합 개시제를 함유한다.First, the photosensitive resin composition which concerns on this embodiment is demonstrated. The photosensitive resin composition of this embodiment contains (A) binder polymer, (B) photopolymerizable compound, and (C) photoinitiator.

우선, (A) 성분인 바인더 폴리머에 관하여 설명한다. (A) 바인더 폴리머로서는, 예를 들면, 아크릴계 수지, 스티렌계 수지, 에폭시계 수지, 아미드계 수지, 아미드 에폭시계 수지, 알키드계 수지, 페놀계 수지 등을 들 수 있다. 알칼리 현상성의 견지에서는, 아크릴계 수지가 바람직하다. 이것들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합해서 이용할 수 있다.First, the binder polymer which is (A) component is demonstrated. Examples of the (A) binder polymer include acrylic resins, styrene resins, epoxy resins, amide resins, amide epoxy resins, alkyd resins, and phenol resins. In view of alkali developability, acrylic resins are preferred. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more type.

(A) 바인더 폴리머는, 예를 들면, 중합성 단량체를 래디칼 중합시킴으로써 제조할 수 있다. 상기 중합성 단량체로서는, 예를 들면, 스티렌, 비닐톨루엔, α-메틸스티렌, p-메틸스티렌, p-에틸스티렌 등의 중합 가능한 스티렌 유도체, 아크릴 아미드, 아크릴로니트릴, 비닐-n-부틸에테르 등의 비닐 알코올의 에스테르류, (메타)아크릴산알킬 에스테르, (메타)아크릴산시클로알킬 에스테르, (메타)아크릴산벤질 에스테르, (메타)아크릴산푸르프릴 에스테르, (메타)아크릴산테트라히드로푸르푸릴 에스테르, (메타)아크릴산디메틸아미노에틸 에스테르, (메타)아크릴산디에틸아미노에틸 에스테르, (메타)아크릴산글리시딜 에스테르, 2,2,2-트리플루오로에틸(메타)아크릴레이트, 2,2,3,3-테트라플루오로프로필(메타)아크릴레이트, (메타)아크릴산, α-브로모(메타)아크릴산, α-크롤(메타)아크릴산, β-프릴(메타)아크릴산, β-스티릴(메타)아크릴산, 말레산, 말레산무수물, 말레산모노메틸, 말레산모노에틸, 말레산모노이소프로필 등의 말레산모노에스테르, 푸마르산, 신남산, α-시아노신남산, 이타콘산, 크로톤산, 프로피올산 등을 들 수 있다. 이들은, 1종을 단독으로, 또는 2종류 이상을 조합해서 사용된다.(A) A binder polymer can be manufactured by radically polymerizing a polymerizable monomer, for example. Examples of the polymerizable monomer include polymerizable styrene derivatives such as styrene, vinyltoluene, α-methylstyrene, p-methylstyrene, and p-ethylstyrene, acrylamide, acrylonitrile, vinyl-n-butyl ether, and the like. Esters of vinyl alcohol, (meth) acrylic acid alkyl ester, (meth) acrylic acid cycloalkyl ester, (meth) acrylic acid benzyl ester, (meth) acrylic acid furfuryl ester, (meth) acrylic acid tetrahydrofurfuryl ester, (meth) Dimethylaminoethyl acrylate, diethylaminoethyl ester (meth) acrylate, glycidyl ester (meth) acrylate, 2,2,2-trifluoroethyl (meth) acrylate, 2,2,3,3-tetra Fluoropropyl (meth) acrylate, (meth) acrylic acid, α-bromo (meth) acrylic acid, α-cro (meth) acrylic acid, β-pril (meth) acrylic acid, β-styryl (meth) acrylic acid, maleic acid , Maleic acid Maleic acid monoesters such as anhydride, monomethyl maleate, monoethyl maleate and monoisopropyl maleate, fumaric acid, cinnamic acid, α-cyanocinnamic acid, itaconic acid, crotonic acid, propiolic acid and the like. These are used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

상기 (메타)아크릴산 알킬 에스테르로서는, 예를 들면, (메타)아크릴산 메틸, (메타)아크릴산 에틸, (메타)아크릴산 n-프로필, (메타)아크릴산 이소프로필, (메타)아크릴산 n-부틸, (메타)아크릴산 t-부틸, (메타)아크릴산 펜틸, (메타)아크릴산 헥실, (메타)아크릴산 헵틸, (메타)아크릴산 옥틸, (메타)아크릴산 2-에틸헥실 및 이들의 구조 이성체 등을 들 수 있다. 이들은, 1종을 단독으로, 또는 2종 이상을 조합해서 이용할 수 있다.As said (meth) acrylic-acid alkylester, For example, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, n-propyl (meth) acrylate, isopropyl (meth) acrylate, n-butyl (meth) acrylate, (meth) T-butyl acrylate, pentyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, heptyl (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, and structural isomers thereof. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more type.

(A) 바인더 폴리머는, 알칼리 현상성의 견지에서, 카르복실기를 함유시키는 것이 바람직하고, 예를 들면, 카르복실기를 가지는 중합성 단량체와 그 외의 중합성 단량체를 래디칼 중합시킴으로써 제조할 수 있다. 상기 카르복실기를 가지는 중합성 단량체로서는, (메타)아크릴산이 바람직하다.(A) It is preferable to contain a carboxyl group from a viewpoint of alkali developability, and (A) binder polymer can be manufactured by radically polymerizing the polymerizable monomer which has a carboxyl group, and another polymerizable monomer, for example. As a polymerizable monomer which has the said carboxyl group, (meth) acrylic acid is preferable.

(A) 바인더 폴리머는, 밀착성 향상의 관점에서, 스티렌 또는 스티렌 유도체를 공중합 성분으로서 함유시키는 것이 바람직하다. 상기 스티렌 또는 스티렌 유도체를 공중합 성분으로서 포함하는 경우, 그 함유량은, 밀착성 및 박리 특성을 균형있게 향상시킨다는 관점에서, (A) 성분의 불휘발분 전체에 대해서 5~70중량% 포함하는 것이 바람직하고, 10~65중량% 포함하는 것이 보다 바람직하고, 15~60중량% 포함하는 것이 특히 바람직하다. 함유량이 5중량% 미만이면, 밀착성이 뒤떨어지는 경향이 있고, 70중량%를 넘으면 박리 시간이 길어져, 도금 후의 박리 잔유물이 생기기 쉬워지는 경향이 있다.(A) It is preferable to contain a styrene or a styrene derivative as a copolymerization component from a viewpoint of adhesive improvement. When the said styrene or a styrene derivative is included as a copolymerization component, it is preferable that the content contains 5 to 70 weight% with respect to the whole non volatile matter of (A) component from a viewpoint of improving the adhesiveness and peeling characteristic balance well, It is more preferable to contain 10 to 65 weight%, and it is especially preferable to contain 15 to 60 weight%. When content is less than 5 weight%, there exists a tendency for adhesiveness to be inferior, and when it exceeds 70 weight%, peeling time becomes long and there exists a tendency which the peeling residue after plating tends to produce.

또한, (A) 바인더 폴리머는, (메타)아크릴산벤질 에스테르를 공중합 성분으로서 함유시키는 것이 바람직하다. (메타)아크릴산벤질 에스테르를 공중합 성분으로서 포함하는 경우, 그 함유량은, 해상성 및 박리 특성을 균형있게 향상시킨다는 관점에서, (A) 성분의 불휘발분 전체에 대해서 5~70중량% 포함하는 것이 바람직하고, 10~65중량% 포함하는 것이 보다 바람직하고, 15~60중량% 포함하는 것이 특히 바람직하다. 함유량이 5중량% 미만이면, 해상성이 뒤떨어지는 경향이 있고, 70중량%를 넘으면 박리 시간이 길어져, 도금 후의 박리 잔유물이 생기기 쉬워지는 경향이 있다.Moreover, it is preferable that (A) binder polymer contains (meth) acrylic-acid benzyl ester as a copolymerization component. When (meth) acrylic-acid benzyl ester is included as a copolymerization component, it is preferable that the content contains 5 to 70 weight% with respect to the whole non volatile matter of (A) component from a viewpoint of balancingly improving resolution and peeling characteristics. It is more preferable to contain 10 to 65 weight%, and it is especially preferable to contain 15 to 60 weight%. When content is less than 5 weight%, there exists a tendency for the resolution to be inferior, and when it exceeds 70 weight%, peeling time becomes long and there exists a tendency which the peeling residue after plating tends to produce.

단, 본 발명에 있어서의 중량 평균 분자량 및 수평균 분자량은 겔퍼미에이션 크로마토그래피(GPC)에 의해 측정하여, 표준 폴리스티렌 환산한 값을 사용한 것이다.However, the weight average molecular weight and number average molecular weight in this invention are measured by gel permeation chromatography (GPC), and the value converted into standard polystyrene is used.

(A) 바인더 폴리머의 중량 평균 분자량은, 5000~300000인 것이 바람직하고, 10000~150000인 것이 보다 바람직하고, 20000~80000인 것이 더욱 바람직하고, 30000~70000인 것이 특히 바람직하다. 중량 평균 분자량이 5000 미만이면, 내현상액성이 저하하는 경향이 있고, 300000을 넘으면 현상 시간이 길어지거나 해상성이 높아지거나 박리 특성이 저하하거나 하는 경향이 있다.It is preferable that the weight average molecular weights of (A) binder polymer are 5000-300000, It is more preferable that it is 10000-150000, It is still more preferable that it is 20000-80000, It is especially preferable that it is 30000-70000. If the weight average molecular weight is less than 5000, the developer resistance tends to be lowered. If the weight average molecular weight is more than 300000, the development time is prolonged, the resolution is high, and the peeling property tends to be lowered.

(A) 성분의 산가는 50~250mgKOH/g인 것이 바람직하고, 10~230mgKOH/g인 것이 보다 바람직하고, 130~200mgKOH/g인 것이 보다 바람직하다. 산가가 50mgKOH/g 미만이면, 현상 시간이 길어지는 경향이 있으며, 250mgKOH/g을 넘으면 광경화한 레지스트의 내현상액성(밀착성)이 저하하는 경향이 있다. 또한, 현상 공정으로서 유기용제계 현상액을 이용하는 경우는, 카르복실기를 가지는 중합성 단량체를 소량으로 조제하는 것이 바람직하다.It is preferable that it is 50-250 mgKOH / g, as for the acid value of (A) component, it is more preferable that it is 10-230 mgKOH / g, and it is more preferable that it is 130-200 mgKOH / g. If the acid value is less than 50 mgKOH / g, the developing time tends to be long, and if it exceeds 250 mgKOH / g, the developer resistance (adhesiveness) of the photocured resist tends to decrease. In addition, when using an organic solvent developing solution as a developing process, it is preferable to prepare the polymerizable monomer which has a carboxyl group in small quantities.

(A) 바인더 폴리머는, 분산도(중량 평균 분자량/수평균 분자량)가 1.0~3.0인 것이 바람직하고, 1.0~2.0인 것이 보다 바람직하다. 분산도가 3.0을 넘으면 접착성 및 해상성이 저하하는 경향이 있다.(A) It is preferable that dispersion degree (weight average molecular weight / number average molecular weight) is 1.0-3.0, and, as for a binder polymer, it is more preferable that it is 1.0-2.0. When dispersion degree exceeds 3.0, there exists a tendency for adhesiveness and resolution to fall.

(A) 바인더 폴리머는, 1종을 단독으로, 또는 2종류 이상을 조합해서 사용된다. 2종류 이상을 조합해서 사용하는 경우의 바인더 폴리머로서는, 예를 들면, 다른 공중합 성분으로 이루어지는 2종류 이상의 바인더 폴리머, 다른 중량 평균 분자량의 2종류 이상의 바인더 폴리머, 다른 분산도의 2종류 이상의 바인더 폴리머 등을 들 수 있다. 또한, 일본국 특허공개공보 11-327137호에 기재된 멀티 모드 분자량 분포를 가지는 폴리머를 사용할 수도 있다.(A) A binder polymer is used individually by 1 type or in combination of 2 or more types. As a binder polymer in the case of using in combination of 2 or more types, for example, two or more types of binder polymers which consist of another copolymerization component, two or more types of binder polymers of different weight average molecular weight, two or more types of binder polymers of different dispersion degrees, etc. Can be mentioned. Moreover, the polymer which has the multi-mode molecular weight distribution of Unexamined-Japanese-Patent No. 11-327137 can also be used.

또한, (A) 바인더 폴리머는 필요에 따라서 감광성기를 가지고 있어도 된다.In addition, the (A) binder polymer may have a photosensitive group as needed.

다음으로, (B) 성분인 에틸렌성 불포화 결합을 가지는 광중합성 화합물에 관하여 설명한다.Next, the photopolymerizable compound which has an ethylenically unsaturated bond which is (B) component is demonstrated.

(B) 광중합성 화합물로서는, 분자 내에 적어도 하나의 에틸렌성 불포화 결합을 가지는 것이면 특별히 제한은 없고, 예를 들면, 비스페놀 A계 (메타)아크릴레이트 화합물, 다가 알코올에 α,β-불포화 카르복실산을 반응시켜 얻어지는 화합물, 분자 내에 우레탄 결합을 가지는 (메타)아크릴레이트 화합물 등의 우레탄 모노머, 노닐 페녹시 폴리에틸렌 옥시 아크릴레이트, 프탈산계 화합물, (메타)아크릴산 알킬 에스테르, 글리시딜기 함유 화합물에 α,β-불포화 카르복실산을 반응시켜 얻어지는 화합물 등을 들 수 있다. 이들은, 1종을 단독으로, 또는 2종류 이상을 조합해서 사용된다.(B) There is no restriction | limiting in particular as long as it has at least 1 ethylenically unsaturated bond in a molecule | numerator as a photopolymerizable compound, For example, the bisphenol-A (meth) acrylate compound and the (alpha), (beta)-unsaturated carboxylic acid in polyhydric alcohol A urethane monomer such as a (meth) acrylate compound having a urethane bond in the molecule, a nonyl phenoxy polyethyleneoxy acrylate, a phthalic acid compound, a (meth) acrylic acid alkyl ester, a glycidyl group-containing compound, The compound etc. which are obtained by making (beta)-unsaturated carboxylic acid react are mentioned. These are used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

(B) 광중합성 화합물은, 해상성 및 박리 특성을 향상시키는 관점에서, 비스페놀 A계 (메타)아크릴레이트 화합물을 포함하는 것이 바람직하다. 이들은, (B) 성분 전체의 총량에 대해서 20~80중량% 포함하는 것이 보다 바람직하고, 30~70중량% 포함하는 것이 더욱 바람직하다.(B) It is preferable that a photopolymerizable compound contains a bisphenol-A (meth) acrylate compound from a viewpoint of improving resolution and peeling characteristics. It is more preferable that these contain 20 to 80 weight% with respect to the total amount of the whole (B) component, It is further more preferable to contain 30 to 70 weight%.

비스페놀 A계 (메타)아크릴레이트 화합물로서는, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시폴리에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시폴리프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시폴리부톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시폴리에톡시폴리프로폭시)페닐)프로판 등을 들 수 있으며, 그 중에서도 해상성 및 박리 특성을 더욱 향상시키는 관점에서, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시폴리에톡시)페닐)프로판이 바람직하다.As a bisphenol A type (meth) acrylate compound, 2, 2-bis (4- ((meth) acryloxy polyethoxy) phenyl) propane, 2, 2-bis (4- ((meth) acryloxy polypropoxy) ) Phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolybutoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolyethoxypolypropoxy) phenyl) Propane etc. are mentioned, Especially, 2, 2-bis (4-((meth) acryloxy polyethoxy) phenyl) propane is preferable from a viewpoint of further improving resolution and peeling characteristics.

2,2-비스(4-((메타)아크릴록시폴리에톡시)페닐)프로판으로서는, 2,2-비스(4-((메타)아크릴로일에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시디에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시트리에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시테트라에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시펜타에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시헥사에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시헵타에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시옥타에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시노나에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시데카에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시운데카에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시도데카에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시트리데카에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시테트라데카에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시펜타데카에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시헥사데카에톡시)페닐)프로판 등을 들 수 있다.As 2, 2-bis (4- ((meth) acryloxy polyethoxy) phenyl) propane, 2, 2-bis (4- ((meth) acryloyl ethoxy) phenyl) propane, 2, 2-bis (4-((meth) acryloxydiethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxytriethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth)) Acryloxytetraethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxypentaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyhexaethoxy) Phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyheptaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyoctaethoxy) phenyl) propane, 2, 2-bis (4-((meth) acryloxynonaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxydecaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4- ((Meth) acryloxyundecethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxydodecaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth)) Acryloxytridecaethoxy) phenyl ) Propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxytetradecaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxypentadecaethoxy) phenyl) propane, 2 And 2-bis (4-((meth) acryloxyhexadecaethoxy) phenyl) propane and the like.

2,2-비스(4-((메타)아크릴록시폴리프로폭시)페닐)프로판으로서는, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시디프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시트리프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시테트라프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시펜타프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시헥사프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시헵타프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시옥타프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시노나프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시데카프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시운데카프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시도데카프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시트리데카프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시테트라데카프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시펜타데카프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시헥사데카프로폭시)페닐)프로판 등을 들 수 있다. 이들은, 1종을 단독으로, 또는 2종류 이상을 임의로 조합해서 사용된다.As 2, 2-bis (4- ((meth) acryloxy polypropoxy) phenyl) propane, 2, 2-bis (4- ((meth) acryloxy dipropoxy) phenyl) propane, 2, 2-bis (4-((meth) acryloxytripropoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxytetrapropoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meta ) Acryloxypentapropoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyhexapropoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyheptaprop Foxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyoctapropoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxynonapropoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxydecapropoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyundecapropoxy) phenyl) propane, 2,2-bis ( 4-((meth) acryloxydodecapropoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxytridecapropoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4- ( (Meth) acryloxytetradecapropoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxypentadecapropoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acrylic Roxy hexadecapropoxy) phenyl) propane etc. are mentioned. These are used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

이들 중, 2,2-비스(4-(메타크릴로일에톡시)페닐)프로판은, BPE-100(신나카무라화학공업(주)제, 제품명)으로서 상업적으로 입수 가능하다. 2,2-비스(4-(메타크릴록시펜타에톡시)페닐)프로판은, BPE-500(신나카무라화학공업(주)제, 제품명) 또는 FA-321M(히타치카세이코교가부시키가이샤제, 제품명)으로서 상업적으로 입수 가능하고, 2,2-비스(4-(메타크릴록시펜타데카에톡시)페닐)프로판은, BPE-1300(신나카무라화학공업(주)제, 제품명)으로서 상업적으로 입수 가능하다. 경화물의 가요성, 해상성 및 밀착성의 관점에서는, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시폴리에톡시)페닐)프로판의 1분자 내의 에틸렌옥사이드기의 수는 4~20인 것이 바람직하고, 8~15인 것이 보다 바람직하다. 또한, 박리성, 해상성 및 밀착성을 보다 향상시킬 수 있다는 관점에서는, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시폴리에톡시)페닐)프로판의 1분자 내의 에틸렌옥사이드기의 수는 1~3인 것이 바람직하고, 1분자 내의 에틸렌옥사이드기의 수가 4~20인 화합물 및 1~3인 화합물을 병용하는 것이 특히 바람직하다.Among them, 2,2-bis (4- (methacryloylethoxy) phenyl) propane is commercially available as BPE-100 (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name). 2,2-bis (4- (methacryloxypentaethoxy) phenyl) propane is BPE-500 (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name) or FA-321M (manufactured by Hitachi Kasei Co., Ltd., It is commercially available as a product name), and 2, 2-bis (4- (methacryloxy pentadecaethoxy) phenyl) propane is commercially available as BPE-1300 (made by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name). It is possible. From the viewpoint of flexibility, resolution and adhesion of the cured product, the number of ethylene oxide groups in 1 molecule of 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolyethoxy) phenyl) propane is preferably 4-20. It is more preferable that it is 8-15. In addition, from the viewpoint of further improving the peelability, resolution and adhesion, the number of ethylene oxide groups in 1 molecule of 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolyethoxy) phenyl) propane is 1 It is preferable that it is -3, and it is especially preferable to use together the compound whose number of ethylene oxide groups in 1 molecule is 4-20, and the compound which is 1-3.

2,2-비스(4-((메타)아크릴록시폴리에톡시폴리프로폭시)페닐)프로판으로서는, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시디에톡시옥타프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시테트라에톡시테트라프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴록시헥사에톡시헥사프로폭시)페닐)프로판 등을 들 수 있다.As 2, 2-bis (4- ((meth) acryloxy polyethoxy polypropoxy) phenyl) propane, 2, 2-bis (4- ((meth) acryloxy diethoxy octapropoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxytetraethoxytetrapropoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyhexaethoxyhexapropoxy) phenyl) propane Can be mentioned.

다가 알코올에 α,β-불포화 카르복실산을 반응시켜 얻어지는 화합물로서는, 에틸렌기의 수가 2~14인 폴리에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 프로필렌기의 수가 2~14인 폴리프로필렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 트리메틸올프로판디(메타)아크릴레이트, 트리메틸올프로판트리(메타)아크릴레이트, EO변성 트리메틸올프로판트리(메타)아크릴레이트, PO변성 트리메틸올프로판트리(메타)아크릴레이트, EO, PO변성 트리메틸올프로판트리(메타)아크릴레이트, 테트라메틸올메탄트리(메타)아크릴레이트, 테트라메틸올메탄테트라(메타)아크릴레이트, 디펜타에트리톨펜타(메타)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메타)아크릴레이트 등을 들 수 있다. 이들은, 1종을 단독으로, 또는 2종류 이상을 조합해서 사용된다.As a compound obtained by making (alpha), (beta)-unsaturated carboxylic acid react with a polyhydric alcohol, the polyethyleneglycol di (meth) acrylate whose number of ethylene groups is 2-14, and the polypropylene glycol di (meth) whose number of propylene groups is 2-14. Acrylate, trimethylolpropanedi (meth) acrylate, trimethylolpropanetri (meth) acrylate, EO modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, PO modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, EO, PO Modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, tetramethylol methane tri (meth) acrylate, tetramethylol methane tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (Meth) acrylate etc. are mentioned. These are used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

이들 중, 테트라메틸올메탄트리아크릴레이트는, A-TMM-3(신나카무라화학공업(주)제, 상품명)으로서, EO변성 트리메틸올프로판트리메타크릴레이트는, TMPT21E나, TMPT30E(히타치카세이코교가부시키가이샤 제, 샘플명)으로서 상업적으로 입수 가능하다.Among these, tetramethylol methane triacrylate is A-TMM-3 (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.), and EO-modified trimethylolpropane trimethacrylate is TMPT21E or TMPT30E (Hitachi Kasei Co., Ltd.). Available from Kyobo Industries Ltd., sample name).

(B) 광중합성 화합물은, 알칼리 현상성, 해상성, 밀착성, 또는 박리 특성을 향상시키는 관점에서, 분자 내에 (폴리)옥시에틸렌사슬 또는 (폴리)옥시프로필렌사슬을 가지는 트리메틸올프로판트리(메타)아크릴레이트 화합물을 포함하는 것이 바람직하고, 분자 내에 (폴리)옥시에틸렌사슬을 가지는 트리메틸올프로판트리(메타)아크릴레이트 화합물을 포함하는 것이 보다 바람직하다. 이들은, (B) 성분 전체의 총량에 대해서 5~50중량% 포함하는 것이 보다 바람직하고, 10~40중량% 포함하는 것이 더욱 바람직하다.(B) The photopolymerizable compound is trimethylolpropane tree (meth) having a (poly) oxyethylene chain or a (poly) oxypropylene chain in a molecule from the viewpoint of improving alkali developability, resolution, adhesiveness, or peeling characteristics. It is preferable to contain an acrylate compound, and it is more preferable to contain the trimethylol propane tri (meth) acrylate compound which has a (poly) oxyethylene chain in a molecule | numerator. It is more preferable that these contain 5-50 weight% with respect to the total amount of the whole (B) component, It is further more preferable that 10-40 weight% is included.

또한, (B) 광중합성 화합물은, 감광성 수지 조성물의 경화물(경화막)의 가요성을 향상시키는 관점에서, 분자 내에 (폴리) 옥시 에틸렌사슬 및 (폴리) 옥시 프로필렌사슬의 쌍방을 가지는 폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트를 포함하는 것이 바람직하다. 이들은, (B) 성분 전체의 총량에 대해서 5~50중량% 포함하는 것이 보다 바람직하고, 10~40중량% 포함하는 것이 더욱 바람직하다.In addition, the (B) photopolymerizable compound is a polyalkyl having both a (poly) oxy ethylene chain and a (poly) oxy propylene chain in a molecule from the viewpoint of improving the flexibility of the cured product (cured film) of the photosensitive resin composition. It is preferable to contain lenglycol di (meth) acrylate. It is more preferable to contain 5-50 weight% with respect to the total amount of the whole (B) component, and, as for these, it is still more preferable to contain 10-40 weight%.

상기 폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트로서는, 분자 내의(폴리)옥시알킬렌사슬로서 (폴리)옥시에틸렌사슬 및 (폴리)옥시프로필렌사슬((폴리)옥시-n-프로필렌)사슬 또는 (폴리)옥시이소프로필렌사슬) 모두를 가지는 것이 바람직하다. 또한, 폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트는, 더욱, (폴리)옥시-n-부틸렌사슬, (폴리)옥시-n-펜틸렌사슬, (폴리) 옥시-n-헥실렌사슬이나, 이들의 구조 이성체 등인 탄소 원자수 4~6 정도의 (폴리)옥시알킬렌사슬을 가지고 있어도 된다.As said polyalkylene glycol di (meth) acrylate, it is a (poly) oxyalkylene chain in a molecule | numerator (poly) oxyethylene chain, and (poly) oxypropylene chain ((poly) oxy-n-propylene) chain or (poly) ) Oxyisopropylene chain). In addition, the polyalkylene glycol di (meth) acrylate is further a (poly) oxy-n-butylene chain, a (poly) oxy-n-pentylene chain, a (poly) oxy-n-hexylene chain, You may have a (poly) oxyalkylene chain of about 4-6 carbon atoms which is these structural isomers.

폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트의 분자 내에 있어서, (폴리)옥시에틸렌사슬 및 (폴리)옥시프로필렌사슬은, 각각 연속해서 블록적으로 존재해도, 랜덤에 존재해도 된다. 또한, (폴리)옥시이소프로필렌사슬에 있어서, 프로필렌기의 2급 탄소가 산소 원자에 결합하고 있어도 되고, 1급 탄소가 산소 원자에 결합하고 있어도 된다.In the molecule | numerator of polyalkylene glycol di (meth) acrylate, (poly) oxyethylene chain and a (poly) oxypropylene chain may exist respectively continuously in block form or may exist in random. In addition, in the (poly) oxyisopropylene chain, the secondary carbon of the propylene group may be bonded to the oxygen atom, and the primary carbon may be bonded to the oxygen atom.

폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트로서는, 특히 하기 식 (6), (7) 또는 (8)로 표시되는 화합물이 바람직하다. 이들은 1종을 단독으로, 또는 2종류 이상을 조합해서 사용된다.As polyalkylene glycol di (meth) acrylate, the compound especially represented by following formula (6), (7) or (8) is preferable. These are used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

[화학식 6][Chemical Formula 6]

Figure 112011077055594-pct00006
Figure 112011077055594-pct00006

[화학식 7][Formula 7]

Figure 112011077055594-pct00007
Figure 112011077055594-pct00007

[화학식 8][Formula 8]

Figure 112011077055594-pct00008
Figure 112011077055594-pct00008

상기 식 (6), (7) 및 (8) 중, R18~R23은 각각 독립적으로 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, EO는 옥시에틸렌기를 나타내며, PO는 옥시프로필렌기를 나타낸다. m1, m2, m3 및 m4는 옥시에틸렌기로 이루어지는 구성 단위의 반복수를 나타내고, n1, n2, n3 및 n4는 옥시프로필렌기로 이루어지는 구성 단위의 반복수를 나타내며, 옥시에틸렌기의 반복 총수 m1+m2, m3 및 m4(평균치)는 각각 독립적으로 1~30의 정수를 나타내고, 옥시프로필렌기의 반복 총수 n1, n2+n3 및 n4(평균치)는 각각 독립적으로 1~30의 정수를 나타낸다.In said Formula (6), (7), and (8), R <18> -R <23> represents a hydrogen atom or a methyl group each independently, EO represents an oxyethylene group, PO represents an oxypropylene group. m <1> , m <2> , m <3> and m <4> show the repeating number of the structural unit which consists of an oxyethylene group, n <1> , n <2> , n <3> and n <4> show the repeating number of the structural unit which consists of an oxypropylene group, The repeating total number of groups m 1 + m 2 , m 3 and m 4 (average value) each independently represent an integer of 1 to 30, and the repeating total number n 1 , n 2 + n 3 and n 4 (average value) of the oxypropylene group are respectively Independently, the integer of 1-30 is represented.

상기 식 (6), (7) 또는 (8)로 표시되는 화합물에 있어서, 옥시 에틸렌기의 반복 총수 m1+m2, m3 및 m4는 1~30의 정수이고, 바람직하게는 1~10의 정수이며, 보다 바람직하게는 4~9의 정수이며, 특히 바람직하게는 5~8의 정수이다. 이 반복수의 총수가 30을 넘으면, 해상성 및 밀착성이 나빠져, 양호한 레지스트 형상을 얻기 어려워 지는 경향이 있다.In the compound represented by the formula (6), (7) or (8), the repeating total number m 1 + m 2 , m 3 and m 4 of the oxyethylene group is an integer of 1 to 30, preferably 1 to 10. It is an integer of, More preferably, it is an integer of 4-9, Especially preferably, it is an integer of 5-8. When the total number of this repeating number exceeds 30, resolution and adhesiveness will worsen, and it will become difficult to obtain a favorable resist shape.

또한, 옥시프로필렌기의 반복 총수 n1, n2+n3 및 n4는 1~30의 정수이고, 바람직하게는 5~20의 정수이며, 보다 바람직하게는 8~16의 정수이며, 특히 바람직하게는 10~14의 정수이다. 이 반복수의 총수가 30을 넘으면, 충분한 해상성을 얻기 어려워지게 되어, 슬러지가 발생하기 쉬워지는 경향이 있다.Further, the repeating total number n 1 , n 2 + n 3 and n 4 of the oxypropylene group is an integer of 1 to 30, preferably an integer of 5 to 20, more preferably an integer of 8 to 16, and particularly preferably Is an integer from 10 to 14. When the total number of the repetition numbers exceeds 30, it becomes difficult to obtain sufficient resolution, and sludge tends to be easily generated.

상기 식 (6)으로 표시되는 화합물로서는, R18 및 R19=메틸기, m1+m2=6(평균치), n1=12(평균치)인 비닐 화합물(히타치카세이코교가부시키가이샤제, 상품명: FA-023M) 등을 들 수 있다. 상기 식 (7)로 표시되는 화합물로서는, R20 및 R21=메틸기, m3=6(평균치), n2+n3=12(평균치)인 비닐 화합물(히타치카세이코교가부시키가이샤제, 상품명 FA-024M) 등을 들 수 있다. 상기 식(8)로 표시되는 화합물로서는, R22 및 R23=수소 원자, m4=1(평균치), n4=9(평균치)인 비닐 화합물(신나카무라화학공업(주)제, 샘플명: NK에스테르 HEMA-9P) 등을 들 수 있다. 이들은, 1종을 단독으로, 또는 2종류 이상을 조합해서 사용할 수 있다.Examples of the compound represented by the formula (6) include a vinyl compound (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), wherein R 18 and R 19 = methyl group, m 1 + m 2 = 6 (average), and n 1 = 12 (average). : FA-023M). Examples of the compound represented by the formula (7) include a vinyl compound (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), wherein R 20 and R 21 = methyl group, m 3 = 6 (average), n 2 + n 3 = 12 (average) FA-024M) etc. can be mentioned. Examples of the compound represented by the formula (8) include a vinyl compound (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.), sample name of R 22 and R 23 = hydrogen atom, m 4 = 1 (average), n 4 = 9 (average) : NK ester HEMA-9P), etc. are mentioned. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

상기 분자 내에 우레탄 결합을 가지는 (메타)아크릴레이트 화합물로서는, β위치에 OH기를 가지는 (메타)아크릴 모노머와 디이소시아네이트 화합물(이소포론 디이소시아네이트, 2,6-톨루엔디이소시아네이트, 2,4-톨루엔디이소시아네이트, 1,6-헥사메틸렌디이소시아네이트 등)과의 부가 반응물, 트리스((메타)아크릴록시테트라에틸렌글리콜이소시아네이트)헥사메틸렌이소시아누레이트, EO변성 우레탄디(메타)아크릴레이트, EO, PO변성 우레탄디(메타)아크릴레이트 등을 들 수 있다. EO변성 우레탄디(메타)아크릴레이트로서는, UA-11(신나카무라화학공업(주)제, 제품명)을 들 수 있다. 또한, EO, PO변성 우레탄디(메타)아크릴레이트로서는, UA-13(신나카무라화학공업(주)제, 제품명)을 들 수 있다. 이들은, 1종을 단독으로, 또는 2종류 이상을 조합해서 사용된다.As a (meth) acrylate compound which has a urethane bond in the said molecule | numerator, the (meth) acryl monomer and diisocyanate compound (isophorone diisocyanate, 2,6-toluene diisocyanate, 2,4-toluenedi) which have a (meth) acryl monomer which has an OH group in (beta) position Addition reactant with isocyanate, 1,6-hexamethylene diisocyanate, etc.), tris ((meth) acryloxytetraethylene glycol isocyanate) hexamethylene isocyanurate, EO-modified urethane di (meth) acrylate, EO, PO-modified Urethane di (meth) acrylate etc. are mentioned. Examples of EO-modified urethane di (meth) acrylate include UA-11 (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name). Examples of EO and PO-modified urethane di (meth) acrylates include UA-13 (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name). These are used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

상기 노닐페녹시폴리에틸렌옥시아크릴레이트로서는, 예를 들면, 노닐페녹시테트라에틸렌옥시아크릴레이트, 노닐페녹시펜타에틸렌옥시아크릴레이트, 노닐페녹시헥사에틸렌옥시아크릴레이트, 노닐페녹시헵타에틸렌옥시아크릴레이트, 노닐페녹시옥타에틸렌옥시아크릴레이트, 노닐페녹시노나에틸렌옥시아크릴레이트, 노닐페녹시데카에틸렌옥시아크릴레이트, 노닐페녹시운데카에틸렌옥시아크릴레이트를 들 수 있다. 이들은, 1종을 단독으로, 또는 2종류 이상을 임의로 조합해서 사용된다.As said nonylphenoxy polyethylene oxyacrylate, nonyl phenoxy tetraethylene oxy acrylate, nonyl phenoxy pentaethylene oxy acrylate, nonyl phenoxy hexaethylene oxy acrylate, nonyl phenoxy hepta ethylene oxy acrylate, Nonyl phenoxy octaethylene oxyacrylate, nonyl phenoxy nona ethylene oxy acrylate, nonyl phenoxy deca ethylene oxy acrylate, and nonyl phenoxy undeca ethylene oxy acrylate are mentioned. These are used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

상기 프탈산계 화합물로서는, γ-클로로-β-히드록시프로필-β'-(메타)아크릴로일옥시에틸-o-프탈레이트, β-히드록시알킬-β'-(메타)아크릴로일옥시알킬-o-프탈레이트 등을 들 수 있다. 이들은, 1종을 단독으로, 또는 2종류 이상을 조합해서 사용된다.As said phthalic acid type compound, (gamma) -chloro- (beta) -hydroxypropyl- (beta) '-(meth) acryloyloxyethyl-o-phthalate, (beta) -hydroxyalkyl- (beta)'-(meth) acryloyloxyalkyl- o-phthalate, and the like. These are used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

또한, (B) 광중합성 화합물은, 감광성 수지 조성물의 경화물(경화막)의 박리 특성을 향상시키는 관점에서, 분자 내에 에틸렌성 불포화 결합을 1개 가지는 광중합성 화합물을 포함하는 것이 바람직하고, 그 함유량은, (B) 성분 전체의 총량에 대해서 3~30중량% 포함하는 것이 보다 바람직하고, 5~20중량% 포함하는 것이 더욱 바람직하다.Moreover, it is preferable that the (B) photopolymerizable compound contains the photopolymerizable compound which has one ethylenically unsaturated bond in a molecule | numerator from a viewpoint of improving the peeling characteristic of the hardened | cured material (cured film) of the photosensitive resin composition, It is more preferable to contain 3-30 weight% with respect to the total amount of the whole (B) component, and, as for content, it is still more preferable to contain 5-20 weight%.

(B) 성분의 함유량은, (A) 성분 및 (B) 성분의 총량 100중량부를 기준으로 해서 30~70중량부로 하는 것이 바람직하고, 35~65중량부로 하는 것이 보다 바람직하고, 40~60중량부로 하는 것이 특히 바람직하다. 이 함유량이 30중량부 미만이면, 충분한 감도 및 해상성을 얻기 어려워 지는 경향이 있고, 70중량부를 넘으면, 필름을 형성하기 어려워 지는 경향이 있으며, 또한 양호한 레지스트 형상을 얻기 어려워 지는 경향이 있다.The content of the component (B) is preferably 30 to 70 parts by weight, more preferably 35 to 65 parts by weight, more preferably 40 to 60 parts by weight based on 100 parts by weight of the total amount of the component (A) and the component (B). It is especially preferable to make it rich. When this content is less than 30 weight part, it will become difficult to obtain sufficient sensitivity and resolution, and when it exceeds 70 weight part, it will become difficult to form a film, and also it will become difficult to obtain a favorable resist shape.

다음으로, (C) 성분인 광중합 개시제에 관하여 설명한다.Next, the photoinitiator which is (C) component is demonstrated.

(C) 성분인 광중합 개시제는, (C1) 하기 식 (1)로 표시되는 구조를 가지는 피라진 화합물(이하, 경우에 따라 「(C1) 성분」이라고 한다), (C2) 하기 식 (2)로 표시되는 구조를 가지는 피라진 화합물(이하, 경우에 따라 「(C2) 성분」이라고 한다) 및 (C3) 하기 식 (3)으로 표시되는 구조를 가지는 피라진 화합물(이하, 경우에 따라 「(C3) 성분」이라고 한다)로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 피라진 화합물을 함유한다.The photoinitiator which is (C) component is (C1) the pyrazine compound which has a structure represented by following formula (1) (henceforth called "(C1) component"), (C2) by following formula (2) Pyrazine compound (hereinafter, sometimes referred to as "(C2) component") having a structure represented and (C3) Pyrazine compound (hereinafter, sometimes referred to as "(C3) component) which has a structure represented by following formula (3) At least one pyrazine compound selected from the group consisting of &quot;

[화학식 9][Chemical Formula 9]

Figure 112011077055594-pct00009
Figure 112011077055594-pct00009

식 (1) 중, R1, R2, R3, 및 R4는 각각 독립적으로 알킬기, 시클로 알킬기, 페닐기, 나프틸기 또는 복소환식기를 포함하는 1가의 유기기를 나타내고, R1과 R2, 또는, R3과 R4는, 서로 결합하여 피라진 골격의 2개의 탄소 원자와 함께 환을 형성하고 있어도 된다.In formula (1), R <1> , R <2> , R <3> and R <4> respectively independently represent the monovalent organic group containing an alkyl group, a cycloalkyl group, a phenyl group, a naphthyl group, or a heterocyclic group, and R <1> , R <2> , Alternatively, R 3 and R 4 may be bonded to each other to form a ring together with two carbon atoms of a pyrazine skeleton.

[화학식 10][Formula 10]

Figure 112011077055594-pct00010
Figure 112011077055594-pct00010

식 (2) 중, R5, R6, R7, 및 R8은 각각 독립적으로 알킬기, 시클로 알킬기, 페닐기, 나프틸기 또는 복소환식기를 포함하는 1가의 유기기를 나타내고, R5와 R6, 또는, R7과 R8는, 서로 결합해서 피라진 골격의 2개의 탄소 원자와 함께 환을 형성하고 있어도 된다. X 및 Y는, 각각 독립적으로 피라진 골격의 2개의 탄소와 함께 형성된 단환구조 또는 축합 다환구조의 방향족환을 구성하는 원자군을 나타내고, 2개의 방향족환은, 소정의 구성 원자간의 단결합에 의해 결합하고 있다.In formula (2), R <5> , R <6> , R <7> and R <8> respectively independently represent the monovalent organic group containing an alkyl group, a cycloalkyl group, a phenyl group, a naphthyl group, or a heterocyclic group, and R <5> , R <6> , Alternatively, R 7 and R 8 may be bonded to each other to form a ring together with two carbon atoms of a pyrazine skeleton. X and Y each independently represent an atomic group constituting an aromatic ring of a monocyclic structure or a condensed polycyclic structure formed with two carbons of a pyrazine skeleton, and the two aromatic rings are bonded by a single bond between predetermined constituent atoms, have.

[화학식 11][Formula 11]

Figure 112011077055594-pct00011
Figure 112011077055594-pct00011

식 (3) 중, R9, R10, R11, 및 R12는 각각 독립적으로 알킬기, 시클로 알킬기, 페닐기, 나프틸기 또는 복소환식기를 포함하는 1가의 유기기를 나타내고, R9와 R10, 또는, R11과 R12는, 서로 결합하여 피라진 골격의 2개의 탄소 원자와 함께 환을 형성하고 있어도 된다. Z는, 피라진 골격의 4개의 탄소와 함께 형성된, 단환구조 혹은 축합 다환구조의 방향족환, 또는, 복소환을 구성하는 원자군을 나타낸다.In formula (3), R <9> , R <10> , R <11> and R <12> respectively independently represent the monovalent organic group containing an alkyl group, a cycloalkyl group, a phenyl group, a naphthyl group, or a heterocyclic group, and R <9> , R <10> , Alternatively, R 11 and R 12 may be bonded to each other to form a ring together with two carbon atoms of a pyrazine skeleton. Z represents the atomic group which comprises the aromatic ring of monocyclic structure or condensed polycyclic structure, or heterocyclic ring formed with four carbons of a pyrazine skeleton.

피라진 화합물로서는, (C1) 성분, (C2) 성분, (C3) 성분 중, 감광성 수지 조성물의 감도를 향상시키는 관점에서, (C1) 성분을 이용할 수 있다.As a pyrazine compound, (C1) component can be used from a viewpoint of improving the sensitivity of the photosensitive resin composition among (C1) component, (C2) component, and (C3) component.

상기 식 (1)~(3) 중, 알킬기로서는, 탄소수 1~10의 직쇄상 또는 분기상 알킬기가 바람직하고, 예를 들면, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기, 펜틸기, 헥실기, 헵틸기, 옥틸기, 노닐기, 데실기 및 이들의 구조 이성체를 들 수 있다. 시클로 알킬기로서는, 탄소수 4~10의 시클로 알킬기가 바람직하고, 시클로 부틸기, 시클로 펜틸기, 시클로 헥실기, 시클로 헵틸기, 시클로 옥틸기, 시클로 노닐기, 시클로 데실기를 들 수 있다. 또한, 시클로 알킬기의 수소 원자가, 임의의 치환기로 치환된 것을 들 수 있다. 복소환식기로서는, 예를 들면, 푸라닐기, 티에닐기, 이미다졸릴기, 옥사졸릴기, 피리디닐기 등을 들 수 있다. 또한, 페닐기, 나프틸기 및 복소환식기의 수소 원자는 임의의 치환기로 치환되어 있어도 된다.As said alkyl group in said Formula (1)-(3), a C1-C10 linear or branched alkyl group is preferable, For example, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group, and hep Tyl group, octyl group, nonyl group, decyl group, and these structural isomers are mentioned. As a cycloalkyl group, a C4-C10 cycloalkyl group is preferable, and a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a cycloheptyl group, a cyclo octyl group, a cyclo nonyl group, and a cyclodecyl group are mentioned. Moreover, the thing by which the hydrogen atom of the cycloalkyl group was substituted by arbitrary substituents is mentioned. As a heterocyclic group, a furanyl group, thienyl group, imidazolyl group, an oxazolyl group, a pyridinyl group, etc. are mentioned, for example. In addition, the hydrogen atom of a phenyl group, a naphthyl group, and a heterocyclic group may be substituted by arbitrary substituents.

상기 임의의 치환기로서는, 예를 들면, 탄소수 1~10의 직쇄상 또는 분기상 알킬기, 탄소수 1~10의 직쇄상 또는 분기상 알콕시기, 탄소수 1~10의 에스테르기, 탄소수 1~10의 알킬 아미노기 등을 들 수 있다.As said arbitrary substituent, For example, a C1-C10 linear or branched alkyl group, C1-C10 linear or branched alkoxy group, C1-C10 ester group, C1-C10 alkylamino group Etc. can be mentioned.

R1~R4, R5~R8 또는 R9~R12가, 페닐기, 나프틸기 혹은 복소환식기를 포함하는 1가의 유기기인 경우, 용해성을 향상시키고, 화합물의 광흡수 파장을 가시부(405nm근방)로 조정하는 관점에서, R1~R4 중 적어도 하나, R5~R8 중 적어도 하나, 또는, R9~R12 중 적어도 하나가, 탄소수 1~10의 직쇄상 또는 분기상 알콕시기를 포함하는 것이 바람직하다.When R 1 to R 4 , R 5 to R 8, or R 9 to R 12 are monovalent organic groups containing a phenyl group, a naphthyl group, or a heterocyclic group, solubility is improved and the light absorption wavelength of the compound At least one of R 1 to R 4 , at least one of R 5 to R 8 , or at least one of R 9 to R 12 is a linear or branched alkoxy having 1 to 10 carbon atoms. It is preferable to include a group.

단환구조 또는 축합 다환구조의 방향족환으로서는, 예를 들면, 벤젠, 나프탈렌, 안트라센, 테트라센, 펜타센, 페난트렌, 트리페닐렌, 피렌 및 이들 방향족환의 수소 원자가 임의의 치환기로 치환된 것 등을 들 수 있으며, 가격이나 합성 시의 용해성의 관점에서, 벤젠 또는 나프탈렌인 것이 바람직하다.Examples of the aromatic ring having a monocyclic structure or a condensed polycyclic structure include benzene, naphthalene, anthracene, tetracene, pentacene, phenanthrene, triphenylene, pyrene and those in which the hydrogen atoms of these aromatic rings are substituted with arbitrary substituents. These are mentioned, It is preferable that they are benzene or naphthalene from a viewpoint of price or the solubility at the time of synthesis.

복소환으로서는, 예를 들면, 피리딘, 피리미딘, 피라진, 피롤, 푸란, 티오펜 및 이들 복소환의 수소 원자가 임의의 치환기로 치환된 것 등을 들 수 있으며, 합성 저가의 관점에서, 피리딘인 것이 바람직하다.Examples of the heterocycle include pyridine, pyrimidine, pyrazine, pyrrole, furan, thiophene, and those in which the hydrogen atoms of these heterocycles are substituted with arbitrary substituents. desirable.

또한, R1과 R2, R3와 R4, R5와 R6, R7과 R8, R9와 R10, 또는, R11과 R12가, 서로 결합하여 피라진 골격의 2개의 탄소와 함께 환을 형성하는 경우, 형성되는 환은 지방족환이어도 방향족환이어도 되며, 용해성을 향상시켜, 화합물의 광흡수 파장을 가시부(405nm근방)로 조정한다는 관점에서, 방향족환인 것이 바람직하다. 방향족환으로서는, 벤젠환 또는 나프탈렌환인 것이 보다 바람직하다.In addition, R 1 and R 2 , R 3 and R 4 , R 5 and R 6 , R 7 and R 8 , R 9 and R 10 , or R 11 and R 12 combine with each other to form two carbons of a pyrazine skeleton In the case of forming a ring together, the ring formed may be either an aliphatic ring or an aromatic ring, and is preferably an aromatic ring from the viewpoint of improving solubility and adjusting the light absorption wavelength of the compound to the visible portion (near 405 nm). As an aromatic ring, it is more preferable that it is a benzene ring or a naphthalene ring.

상기 식 (1)로 표시되는 피라진 화합물은, R3과 R4가 서로 결합하여 피라진 골격의 2개의 탄소와 함께 환을 형성하는 경우, 형성되는 환은 방향환인 것이 바람직하고, 나프탈렌환인 것이 보다 바람직하다. 또한, R1 및 R2는, 페닐기인 것이 바람직하고, 페닐기의 수소 원자가 탄소수 1~10의 직쇄상 또는 분기상 알콕시기로 치환되어 있는 것이 보다 바람직하다. 또한, 치환기의 위치는 임의이다. 상기 식(1)로 표시되는 피라진 화합물로서는, 예를 들면, 하기 식 (9), (10), (11), (12)으로 표시되는 화합물 등을 들 수 있다.In the pyrazine compound represented by the formula (1), when R 3 and R 4 are bonded to each other to form a ring together with two carbons of the pyrazine skeleton, the ring formed is preferably an aromatic ring, and more preferably a naphthalene ring. . Moreover, it is preferable that R <1> and R <2> is a phenyl group, and it is more preferable that the hydrogen atom of a phenyl group is substituted by the C1-C10 linear or branched alkoxy group. In addition, the position of a substituent is arbitrary. As a pyrazine compound represented by said Formula (1), the compound etc. which are represented by following formula (9), (10), (11), (12) are mentioned, for example.

[화학식 12]
[Chemical Formula 12]

Figure 112011077055594-pct00012
Figure 112011077055594-pct00012

[화학식 13][Chemical Formula 13]

Figure 112011077055594-pct00013
Figure 112011077055594-pct00013

[화학식 14][Formula 14]

Figure 112011077055594-pct00014
Figure 112011077055594-pct00014

[화학식 15][Formula 15]

Figure 112011077055594-pct00015
Figure 112011077055594-pct00015

또한, 상기 식 (2)로 표시되는 피라진 화합물로서는, 예를 들면, 하기 식 (13), (14)로 표시되는 화합물 등을 들 수 있다.Moreover, as a pyrazine compound represented by said Formula (2), the compound etc. which are represented by following formula (13), (14) are mentioned, for example.

[화학식 16][Chemical Formula 16]

Figure 112011077055594-pct00016
Figure 112011077055594-pct00016

[화학식 17][Chemical Formula 17]

Figure 112011077055594-pct00017
Figure 112011077055594-pct00017

또한, 상기 식 (3)으로 표시되는 피라진 화합물로서는, 예를 들면, 하기 식 (15), (16)으로 표시되는 화합물 등을 들 수 있다.Moreover, as a pyrazine compound represented by said Formula (3), the compound etc. which are represented by following formula (15), (16) are mentioned, for example.

[화학식 18][Chemical Formula 18]

Figure 112011077055594-pct00018
Figure 112011077055594-pct00018

[화학식 19][Chemical Formula 19]

Figure 112011077055594-pct00019
Figure 112011077055594-pct00019

또한, 본감광성 수지 조성물에 있어서, (C1), (C2) 및 (C3) 성분의 극대 흡수 파장은 350~410nm의 범위 내인 것이 바람직하다. 이에 의해, 파장 350~410nm의 빛에 대해서 양호한 감도를 얻을 수 있음과 함께, 파장 500nm 이상의 장파장측에서의 흡수가 적게 되어, 옐로우광하에서의 안정성이 양호해진다.Moreover, in this photosensitive resin composition, it is preferable that the maximum absorption wavelength of (C1), (C2), and (C3) component exists in the range of 350-410 nm. Thereby, while being able to acquire favorable sensitivity with respect to the light of wavelength 350-410 nm, absorption in the long wavelength side of wavelength 500nm or more becomes small, and stability under yellow light becomes favorable.

특히 노광 헤드를 몇 개 가지는 파장 405nm의 직접 묘화 노광 장치를 이용하는 경우는, (C1), (C2) 및 (C3) 성분의 극대 흡수 파장은 380~410nm의 범위 내인 것이 바람직하다. 극대 흡수 파장이 380~410nm의 범위 내임으로써, 각 노광 헤드의 광원에 있어서 발광 파장 분산이 약간 다른 경우라도, 파장 405nm 근방에 있어서의 빛의 흡수량이 거의 일정하게 된다. 그 결과, 노광 헤드 마다 감도에 격차가 생길 가능성을 저감 할 수 있다. 또한, 높은 감도가 안정적으로 얻어지므로, 광중합 개시제의 첨가량을 저감하는 일도 가능해진다.When using the direct drawing exposure apparatus of wavelength 405nm which has several exposure heads especially, it is preferable that the maximum absorption wavelength of (C1), (C2), and (C3) components exists in the range of 380-410 nm. When the maximum absorption wavelength is in the range of 380 to 410 nm, even if the light emission wavelength dispersion is slightly different in the light source of each exposure head, the amount of light absorption near the wavelength of 405 nm becomes substantially constant. As a result, the possibility that a difference arises in a sensitivity for every exposure head can be reduced. Moreover, since high sensitivity is obtained stably, it becomes possible to reduce the addition amount of a photoinitiator.

상기 (C1), (C2) 및 (C3) 성분의 함유량은, (C) 성분 전체의 총량에 대해서 50~100중량%인 것이 바람직하고, 70~100중량%인 것이 보다 바람직하고, 80~100중량%인 것이 더욱 바람직하다. 이 함유량이 50중량% 미만이면 감도 및 해상성이 저하하는 경향이 있다. 또한, 여기서 말하는 「함유량」이란, (C1), (C2) 및 (C3) 성분 중, 2종 이상을 포함하는 경우는, 그들의 합계의 함유량을 의미한다.It is preferable that content of said (C1), (C2) and (C3) component is 50-100 weight% with respect to the total amount of the whole (C) component, It is more preferable that it is 70-100 weight%, 80-100 It is more preferable that it is weight%. When this content is less than 50 weight%, there exists a tendency for a sensitivity and resolution to fall. In addition, the "content" here means content of those sum totals, when two or more types are included in (C1), (C2), and (C3) component.

(C) 광중합 개시제는, (C1), (C2) 및 (C3) 성분에 의한 효과를 해치지 않을 정도로, 그 외의 광중합 개시제를 포함하고 있어도 된다. 그 외의 광중합 개시제로서는, 예를 들면, 벤조페논, 2-벤질-2-디메틸 아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부탄온-1,2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노프로판온-1 등의 방향족 케톤, 알킬안트라퀴논 등의 퀴논류, 벤조인알킬에테르 등의 벤조인에테르 화합물, 벤조인, 알킬벤조인 등의 벤조인 화합물, 벤질디메틸케탈 등의 벤질 유도체, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2량체, 2-(o-플루오로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2량체 등의 2,4,5-트리아릴이미다졸 2량체, 9-페닐아크리딘, 1,7-(9,9'-아크리디닐)헵탄 등의 아크리딘 유도체 등을 들 수 있다. 이들은, 1종을 단독으로, 또는 2종류 이상을 조합해서 사용할 수 있다.(C) Photoinitiator may contain the other photoinitiator so that the effect by (C1), (C2), and (C3) component is not impaired. As another photoinitiator, it is benzophenone, 2-benzyl-2- dimethyl amino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone- 1, 2-methyl-1- [4- (methylthio, for example). ) Phenyl] -2-morpholinopropanone-1, such as aromatic ketones, quinones, such as alkyl anthraquinone, benzoin ether compounds, such as benzoin alkyl ether, benzoin compounds, such as benzoin and alkyl benzoin, benzyl Benzyl derivatives such as dimethyl ketal, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-fluorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, etc. And acridine derivatives such as 2,4,5-triarylimidazole dimer, 9-phenylacridine, and 1,7- (9,9'-acridinyl) heptane. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

또한, 상기 2개의 2,4,5-트리아릴이미다졸의 아릴기의 치환기는 동일해도 되며, 달라도 된다. 이들은, 단독으로 또는 2종류 이상을 조합해서 사용된다.In addition, the substituent of the aryl group of said two 2,4,5-triarylimidazole may be same or different. These are used individually or in combination of 2 or more types.

또한, 그 외의 광중합 개시제로서는, 하기 식 (4)로 표시되는 화합물을 들 수 있다.Moreover, as another photoinitiator, the compound represented by following formula (4) is mentioned.

[화학식 20][Chemical Formula 20]

Figure 112011077055594-pct00020
Figure 112011077055594-pct00020

식 (4) 중, X는 탄소 원자 또는 질소 원자를 나타내고, R13, R14 및 R15는 각각 독립적으로 할로겐 원자 또는 탄소수 1~5의 알킬기를 나타내며, R13, R14 및 R15 중 적어도 하나는 할로겐 원자를 나타낸다. R16는 수소 원자, 탄소수 1~5의 알킬기, 또는, 탄소수 1~5의 알콕시기를 나타내고, l은 0~4의 정수를 나타낸다. l이 2~4일 때, 복수의 R16은 동일해도 달라도 된다.In formula (4), X represents a carbon atom or a nitrogen atom, R <13> , R <14> and R <15> represent a halogen atom or a C1-C5 alkyl group each independently, At least in R <13> , R <14> and R <15> . One represents a halogen atom. R <16> represents a hydrogen atom, a C1-C5 alkyl group, or a C1-C5 alkoxy group, and l shows the integer of 0-4. When l is 2-4, some R <16> may be same or different.

본 발명의 감광성 수지 조성물에 있어서는, (C) 광중합 개시제로서 상기 식 (4)로 표시되는 화합물과 (C1) 성분 또는 (C2) 성분을 조합해서 이용함으로써, 해상성 및 밀착성을 유지하면서, 감도 및 이메징성(레지스트의 발색성)이 향상되는 경향이 있다.In the photosensitive resin composition of this invention, by using the compound represented by the said Formula (4) and (C1) component or (C2) component as a (C) photoinitiator, it is a sensitivity and maintains resolution and adhesiveness, There exists a tendency for the imaging property (color development property of a resist) to improve.

(C) 성분의 광중합 개시제의 함유량으로서는, (A) 성분 및 (B) 성분의 총량 100중량부에 대해서 0.01~10중량부로 하는 것이 바람직하고, 0.05~6중량부로 하는 것이 보다 바람직하고, 0.1~4중량부로 하는 것이 특히 바람직하다. 이 함유량이 0.01중량부 미만에서는 양호한 감도나 해상성이 얻어지지 않는 경향이 있고, 10중량부를 넘으면 양호한 형상이 얻어지지 않는 경향이 있다.As content of the photoinitiator of (C) component, it is preferable to set it as 0.01-10 weight part with respect to 100 weight part of total amounts of (A) component and (B) component, It is more preferable to set it as 0.05-6 weight part, 0.1 ~ It is especially preferable to set it as 4 weight part. When this content is less than 0.01 weight part, there exists a tendency for favorable sensitivity and resolution not to be obtained, and when it exceeds 10 weight part, there exists a tendency for a favorable shape to not be obtained.

또한, 본 발명의 감광성 수지 조성물은, (D) 수소 공여성 화합물을 더 포함하고 있는 것이 바람직하다. 수소 공여성 화합물로서는, 예를 들면, 비스[4-(디메틸아미노)페닐]메탄, 비스[4-(디에틸아미노)페닐]메탄, 로이코 크리스탈바이올렛, 2-메르캅토벤조옥사졸, 하기 식 (5)로 표시되는 화합물 등을 들 수 있으며, 감도를 보다 향상시킬 수 있다. 감도를 더욱 향상시킨다는 관점에서, 하기 식 (5)로 표시되는 화합물을 포함하는 것이 보다 바람직하다. 식 (5)로 표시되는 화합물로서는, 예를 들면, N-페닐글리신 등을 들 수 있다.Moreover, it is preferable that the photosensitive resin composition of this invention contains the (D) hydrogen donor compound further. As the hydrogen donating compound, for example, bis [4- (dimethylamino) phenyl] methane, bis [4- (diethylamino) phenyl] methane, leuco crystal violet, 2-mercaptobenzoxazole, the following formula ( The compound represented by 5), etc. are mentioned, A sensitivity can be improved more. It is more preferable to include the compound represented by following formula (5) from a viewpoint of improving a sensitivity further. As a compound represented by Formula (5), N-phenylglycine etc. are mentioned, for example.

[화학식 21][Chemical Formula 21]

Figure 112011077055594-pct00021
Figure 112011077055594-pct00021

식 (5) 중, R17은 탄소수 1~6의 알킬기, 알콕시기 혹은 에스테르기, 수산기, 또는, 할로겐 원자를 나타낸다. n은 0~5의 정수이며, n이 2~5일 때 복수의 R17은 동일해도 달라도 된다. R17은 탄소수 1~6의 알킬기, 알콕시기 혹은 에스테르기, 수산기, 또는, 할로겐 원자를 나타낸다. n은 0~5의 정수이며, n이 2~5일 때 복수의 R17은 동일해도 달라도 된다. 본 발명의 감광성 수지 조성물에 있어서는, 상기 식 (5)로 표시되는 화합물과 (C1) 성분 또는 (C2) 성분을 조합해서 이용함으로써, 파장 350~410nm의 빛에 대한 감도가 향상하는 경향이 있다.In formula (5), R <17> represents a C1-C6 alkyl group, an alkoxy group or ester group, a hydroxyl group, or a halogen atom. n is an integer of 0-5, and when n is 2-5, some R <17> may be same or different. R <17> represents a C1-C6 alkyl group, an alkoxy group or ester group, a hydroxyl group, or a halogen atom. n is an integer of 0-5, and when n is 2-5, some R <17> may be same or different. In the photosensitive resin composition of this invention, there exists a tendency for the sensitivity with respect to the light of wavelength 350-410nm to improve by using combining the compound represented by the said Formula (5), (C1) component or (C2) component.

(D) 수소 공여체 화합물과의 함유량은, (A) 성분 및 (B) 성분의 총량 100중량부에 대해서 0.01~10중량부로 하는 것이 바람직하고, 0.05~5중량부로 하는 것이 보다 바람직하고, 0.1~2중량부로 하는 것이 특히 바람직하다. 이 배합량이 0.01중량부 미만에서는 양호한 감도가 얻어지지 않는 경향이 있고, 10중량부를 넘으면 필름 형성 후, 이물로서 석출해 버리는 경향이 있다. 이들은, 1종을 단독으로, 또는 2종류 이상을 조합해서 사용된다.(D) It is preferable to make content with a hydrogen donor compound into 0.01-10 weight part with respect to 100 weight part of total amounts of (A) component and (B) component, It is more preferable to set it as 0.05-5 weight part, 0.1 ~ It is especially preferable to set it as 2 weight part. When this compounding quantity is less than 0.01 weight part, there exists a tendency for favorable sensitivity not to be obtained, and when it exceeds 10 weight part, it will tend to precipitate as a foreign material after film formation. These are used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

또한, 감도를 보다 높게 하는 것을 목적으로 하여, (E) 증감 색소를 더 포함하고 있어도 된다. 증감 색소는, 사용하는 활성 광선의 파장에 맞춘 흡수 파장을 가지는 것을 선택할 수 있지만, 극대 흡수 파장이 370nm~420nm인 화합물이 바람직하다. 이러한 증감 색소를 이용함으로써, 특히 파장 405nm의 직접 묘화 노광법의 노광빛에 대해서, 감광성 수지 조성물이 충분히 높은 감도를 가지게 된다. 증감 색소의 극대 흡수 파장이 370nm 미만이면, 직접 묘화 노광빛에 대한 감도가 저하하는 경향이 있고, 420nm 이상이면, 옐로우광하에서의 안정성이 저하하는 경향이 있다.Moreover, for the purpose of making sensitivity higher, you may further include the (E) sensitizing dye. Although a sensitizing dye can select what has the absorption wavelength according to the wavelength of the actinic light to be used, The compound whose maximum absorption wavelength is 370 nm-420 nm is preferable. By using such a sensitizing dye, especially the exposure light of the direct drawing exposure method of wavelength 405nm, the photosensitive resin composition will have a sufficiently high sensitivity. When the maximum absorption wavelength of a sensitizing dye is less than 370 nm, there exists a tendency for the sensitivity to direct drawing exposure light to fall, and when it is 420 nm or more, there exists a tendency for stability under yellow light to fall.

(E) 증감 색소로서는, 예를 들면, 디알킬아미노벤조페논류, 피라졸린류, 안트라센류, 쿠마린, 크산톤류, 옥사졸류, 벤조옥사졸류, 티아졸류, 벤조티아졸류, 트리아졸류, 스틸벤류, 트리아진류, 티오펜류, 나프탈이미드류, 트리아릴아민류 등을 들 수 있다. 증감 색소는 1종을 단독으로, 또는 2종 이상을 조합해서 사용된다.(E) As a sensitizing dye, for example, dialkylaminobenzophenones, pyrazolines, anthracenes, coumarins, xanthones, oxazoles, benzoxazoles, thiazoles, benzothiazoles, triazoles, stilbenes, Triazines, thiophenes, naphthalimides, triarylamines, etc. are mentioned. A sensitizing dye is used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

특히, 390~420nm의 활성 광선을 이용하여 감광성 수지 조성물층의 노광을 실시하는 경우에는, 감도 및 밀착성의 관점에서, (E) 증감 색소는, 피라졸린류, 안트라센류, 쿠마린류 및 트리아릴아민류로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는 것이 바람직하고, 그 중에서도 피라졸린류, 안트라센류 또는 트리아릴아민류를 포함하는 것이 보다 바람직하다.In particular, when exposing the photosensitive resin composition layer using 390-420 nm actinic light, from the viewpoint of sensitivity and adhesiveness, the (E) sensitizing dye is pyrazoline, anthracene, coumarin and triarylamines. It is preferable to include at least 1 sort (s) chosen from the group which consists of, and it is more preferable to contain pyrazoline, anthracene, or triarylamine especially.

(E) 증감 색소의 함유량은, (A) 성분 및 (B) 성분의 총량 100중량부에 대해서 0.01~10중량부로 하는 것이 바람직하고, 0.05~5중량부로 하는 것이 보다 바람직하고, 0.1~2중량부로 하는 것이 특히 바람직하다. 이 배합량이 0.01중량부 미만에서는 양호한 감도나 해상성이 얻어지지 않는다는 경향이 있고, 10중량부를 넘으면 양호한 형상이 얻어지지 않는다는 경향이 있다.It is preferable to make content of (E) sensitizing dye into 0.01-10 weight part with respect to 100 weight part of total amounts of (A) component and (B) component, It is more preferable to set it as 0.05-5 weight part, 0.1-2 weight It is especially preferable to make it rich. If this blending amount is less than 0.01 part by weight, there is a tendency that good sensitivity and resolution are not obtained, and if it exceeds 10 parts by weight, there is a tendency that a good shape cannot be obtained.

본 실시형태와 관련되는 감광성 수지 조성물은, 필요에 따라서, 분자 내에 적어도 하나의 양이온 중합 가능한 환상 에테르를 가지는 광중합성 화합물(옥세탄 화합물 등), 양이온 중합 개시제, 말라카이트그린 등의 염료, 로이코 크리스탈바이올렛 등의 광발색제, 발열색방지제, p-톨루엔술폰아미드 등의 가소제, 안료, 충전제, 소포제, 난연제, 안정제, 밀착성 부여제, 레벨링제, 박리 촉진제, 산화 방지제, 향료, 이메징제, 열가교제 등을 함유해도 된다. 이들은, 1종을 단독으로 또는 2종류 이상을 조합해서 사용된다. 이들의 함유량은, (A) 성분(바인더 폴리머) 및 (B) 성분(광중합성 화합물)의 총량 100중량부에 대해서, 각각 0.01~20중량부 정도로 하는 것이 바람직하다.The photosensitive resin composition which concerns on this embodiment is a photopolymerizable compound (oxetane compound etc.) which has at least 1 cation-polymerizable cyclic ether in a molecule | numerator as needed, dyes, such as a cationic polymerization initiator and malachite green, leuco crystal violet Photochromic agents, exothermic color inhibitors, plasticizers such as p-toluenesulfonamide, pigments, fillers, antifoaming agents, flame retardants, stabilizers, adhesion imparting agents, leveling agents, peeling accelerators, antioxidants, flavoring agents, imaging agents, thermal crosslinking agents, and the like. You may contain it. These are used individually by 1 type or in combination of 2 or more types. It is preferable to make these content into about 0.01-20 weight part with respect to 100 weight part of total amounts of (A) component (binder polymer) and (B) component (photopolymerizable compound), respectively.

상술한 본 실시형태와 관련되는 감광성 수지 조성물을, 유기용제에 용해하고, 고형분 30~60중량%정도의 감광성 수지 조성물의 용액(도포액)으로 하여, 예를 들면, 금속판 등의 표면 상에 도포하여, 건조시킴으로써, 본 실시형태의 감광성 수지 조성물로 이루어지는 감광성 수지 조성물층을 형성할 수 있다. 유기용제로서는, 메탄올, 에탄올, 아세톤, 메틸에틸케톤, 메틸셀로솔브, 에틸셀로솔브, 톨루엔, N,N-디메틸포름아미드, 프로필렌글리콜모노메틸에테르, 또는 이들 혼합 용제를 들 수 있다. 또한, 금속판으로서는, 동, 동계 합금, 니켈, 크롬, 철, 스텐레스 등의 철계 합금, 바람직하게는 동, 동계 합금, 철계 합금을 들 수 있다.The photosensitive resin composition which concerns on this embodiment mentioned above is melt | dissolved in the organic solvent, and is apply | coated on the surface, such as a metal plate, as a solution (coating liquid) of the photosensitive resin composition of about 30 to 60 weight% of solid content, for example. And drying, the photosensitive resin composition layer which consists of the photosensitive resin composition of this embodiment can be formed. Examples of the organic solvent include methanol, ethanol, acetone, methyl ethyl ketone, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, toluene, N, N-dimethylformamide, propylene glycol monomethyl ether, or a mixed solvent thereof. Moreover, as a metal plate, iron-based alloys, such as copper, a copper alloy, nickel, chromium, iron, stainless steel, Preferably copper, a copper alloy, an iron alloy is mentioned.

감광성 수지 조성물층의 두께는, 그 용도에 따라 다르지만, 건조 후의 두께로 1~100㎛ 정도인 것이 바람직하다. 감광성 수지 조성물층의 금속판과는 반대측의 표면을, 보호 필름으로 피복해도 된다. 보호 필름으로서는, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 등의 집합체 필름 등을 들 수 있다.Although the thickness of the photosensitive resin composition layer changes with the uses, it is preferable that it is about 1-100 micrometers in the thickness after drying. The surface of the photosensitive resin composition layer opposite to the metal plate may be coated with a protective film. As a protective film, aggregate films, such as polyethylene and a polypropylene, etc. are mentioned.

(감광성 엘리먼트)(Photosensitive element)

다음으로, 본 실시형태와 관련되는 감광성 수지 조성물층 및 감광성 엘리먼트에 관하여 설명한다. 도 1은, 감광성 엘리먼트의 일례를 나타내는 모식 단면도이다. 감광성 엘리먼트(1)는, 지지 필름(2), 감광성 수지 조성물층(3), 및 경우에 따라 보호 필름(4)이, 이 순서로 적층된 적층체이다.Next, the photosensitive resin composition layer and the photosensitive element which concern on this embodiment are demonstrated. 1: is a schematic cross section which shows an example of the photosensitive element. The photosensitive element 1 is a laminated body in which the support film 2, the photosensitive resin composition layer 3, and the protective film 4 were laminated | stacked in this order in some cases.

지지 필름(2)으로서는, 폴리에틸렌 테레프탈레이트 등의 폴리에스텔, 폴리프로필렌, 폴리에틸렌 등의 내열성 및 내용제성을 가지는 집합체 필름을 이용할 수 있다. 지지 필름(집합체 필름)의 두께는, 1~100㎛인 것이 바람직하고, 5~50㎛인 것이 보다 바람직하고, 5~30㎛인 것이 더욱 바람직하다. 이 두께가 1㎛미만이면, 지지 필름을 박리 할 때에 지지 필름이 찢어지기 쉬워지는 경향이 있고, 100㎛를 넘으면 해상성이 충분히 얻어지기 어려워지는 경향이 있다.As the support film 2, the aggregate film which has heat resistance and solvent resistance, such as polyester, such as polyethylene terephthalate, polypropylene, and polyethylene, can be used. It is preferable that it is 1-100 micrometers, as for the thickness of a support film (assembly film), it is more preferable that it is 5-50 micrometers, and it is still more preferable that it is 5-30 micrometers. When this thickness is less than 1 micrometer, when a peeling of a support film, a support film tends to be torn easily, and when it exceeds 100 micrometers, there exists a tendency which resolution becomes difficult to be obtained sufficiently.

상술한 본 실시형태와 관련되는 감광성 수지 조성물의 용액을, 지지 필름(2)상에 도포하여 건조시킴으로써, 지지 필름(2) 상에 상기 감광성 수지 조성물로 이루어지는 감광성 수지 조성물층(3)을 형성할 수 있다.The photosensitive resin composition layer 3 which consists of said photosensitive resin composition is formed on the support film 2 by apply | coating the solution of the photosensitive resin composition concerning this embodiment mentioned above on the support film 2, and drying it. Can be.

감광성 수지 조성물의 용액의 지지 필름(2) 상에의 도포는, 롤 코터, 콤마 코터, 그라비아 코터, 에어나이프 코터, 다이 코커, 바 코터 등의 공지의 방법에 의해 실시할 수 있다.Application | coating on the support film 2 of the solution of the photosensitive resin composition can be performed by well-known methods, such as a roll coater, a comma coater, a gravure coater, an air knife coater, a die cocker, a bar coater.

감광성 수지 조성물의 용액의 건조는, 70~150℃에서, 5~30분간 정도 실시하는 것이 바람직하다. 건조 후, 감광성 수지 조성물층(3) 중의 잔존 유기용제량은, 후의 공정에서의 유기용제의 확산을 방지한다는 관점에서, 2중량% 이하로 하는 것이 바람직하다.It is preferable to perform drying of the solution of the photosensitive resin composition at 70-150 degreeC for about 5 to 30 minutes. After drying, it is preferable to make the amount of the residual organic solvent in the photosensitive resin composition layer 3 into 2 weight% or less from a viewpoint of preventing the diffusion of the organic solvent in a later process.

감광성 엘리먼트(1)에 있어서의 감광성 수지 조성물층(3)의 두께는, 용도에 따라 다르지만, 건조 후의 두께로 1~100㎛인 것이 바람직하고, 1~50㎛인 것이 보다 바람직하고, 5~50㎛인 것이 더욱 바람직하고, 10~40㎛인 것이 특히 바람직하다. 이 두께가 1㎛ 미만이면, 공업적으로 도공하기 어려워지는 경향이 있고, 100㎛를 넘으면, 밀착성 및 해상성을 충분히 얻기 어려워 지는 경향이 있다.Although the thickness of the photosensitive resin composition layer 3 in the photosensitive element 1 changes with a use, it is preferable that it is 1-100 micrometers in thickness after drying, It is more preferable that it is 1-50 micrometers, 5-50 It is more preferable that it is micrometer, and it is especially preferable that it is 10-40 micrometers. When this thickness is less than 1 micrometer, there exists a tendency for industrial coating to become difficult, and when it exceeds 100 micrometers, there exists a tendency for adhesiveness and resolution to become difficult to fully acquire.

감광성 수지 조성물층(3)에 대한 자외선의 투과율은, 파장 405nm의 자외선에 있어서는 5~75%인 것이 바람직하고, 10~65%인 것이 보다 바람직하고, 15~55%인 것이 특히 바람직하다. 이 투과율이 5% 미만이면, 충분한 밀착성을 얻기 어려워지는 경향이 있고, 75%를 넘으면, 충분한 해상성이 얻기 어려워지는 경향이 있다. 상기 투과율은, UV분광계에 의해 측정할 수 있다. UV분광계로서는, 히타치 제작소제 228A형 W빔 분광 광도계를 들 수 있다.As for the transmittance | permeability of the ultraviolet-ray to the photosensitive resin composition layer 3, it is preferable that it is 5-75% in the ultraviolet-ray of wavelength 405 nm, It is more preferable that it is 10-65%, It is especially preferable that it is 15-55%. When this transmittance | permeability is less than 5%, it will become difficult to obtain sufficient adhesiveness, and when it exceeds 75%, it will tend to become difficult to obtain sufficient resolution. The transmittance can be measured by a UV spectrometer. As a UV spectrometer, the Hitachi, Ltd. type 228A W-beam spectrophotometer is mentioned.

감광성 엘리먼트(1)는, 필요에 따라서, 감광성 수지 조성물층(3)의 지지 필름(2)과는 반대측의 표면을 피복하는 보호 필름(4)를 구비해도 된다.The photosensitive element 1 may be equipped with the protective film 4 which coat | covers the surface on the opposite side to the support film 2 of the photosensitive resin composition layer 3 as needed.

보호 필름(4)로서는, 감광성 수지 조성물층(3)에 대한 접착력이, 지지 필름(2)의 감광성 수지 조성물층에 대한 접착력보다 작은 것이 바람직하고, 또한, 낮은 피시아이의 필름이 바람직하다. 여기서, 「피시아이」란, 재료를 열용해하고, 혼련, 압출, 2축연신, 캐스팅법 등에 의해 필름을 제조할 때에, 재료의 이물, 미용해물, 산화 열화물 등이 필름 중에 수용된 것을 의미한다. 즉, 「낮은 피시아이」란, 필름 중의 상기 이물 등이 적은 것을 의미한다.As the protective film 4, it is preferable that the adhesive force with respect to the photosensitive resin composition layer 3 is smaller than the adhesive force with respect to the photosensitive resin composition layer of the support film 2, and the film of the low fisheye is preferable. Here, "fisheye" means that foreign materials, undissolved matters, oxidative degradation materials, etc. of materials are contained in the film when the material is thermally dissolved and kneaded, extruded, biaxially stretched, cast or the like. . That is, "low fisheye" means that the said foreign material in a film is few.

구체적으로, 보호 필름(4)로서는, 폴리에틸렌 테레프탈레이트 등의 폴리에스텔, 폴리프로필렌, 폴리에틸렌 등의 내열성 및 내용제성을 가지는 집합체 필름을 이용할 수 있다. 시판의 것으로서는, 오지제지사제의 아르판 MA-410, E-200C, 신에츠필름사제 등의 폴리프로필렌 필름, 테이진사제의 PS-25 등의 PS시리즈 등의 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름 등을 들 수 있다. 또한, 보호 필름(4)은 지지 필름과 동일한 것이어도 된다.Specifically, as the protective film 4, an aggregate film having heat resistance and solvent resistance, such as polyester, such as polyethylene terephthalate, polypropylene, and polyethylene, can be used. Commercially available examples include polyethylene terephthalate films such as polypropylene films such as Arpan MA-410, E-200C manufactured by Oji Paper Co., Ltd., and PS series such as PS-25 manufactured by Teijin Co., Ltd. . In addition, the protective film 4 may be the same as that of a support film.

보호 필름(4)의 두께는 1~100㎛인 것이 바람직하고, 5~50㎛인 것이 보다 바람직하고, 5~30㎛인 것이 더욱 바람직하고, 15~30㎛인 것이 특히 바람직하다. 이 두께가 1㎛ 미만이면, 감광성 수지 조성물층(2) 및 보호 필름(4)을 기판 상에 적층(라미네이트)할 때, 보호 필름(4)이 찢어지기 쉬워지는 경향이 있고, 100㎛를 넘으면 염가성의 점에서 충분하지 않게 되는 경향이 있다.It is preferable that the thickness of the protective film 4 is 1-100 micrometers, It is more preferable that it is 5-50 micrometers, It is further more preferable that it is 5-30 micrometers, It is especially preferable that it is 15-30 micrometers. When this thickness is less than 1 micrometer, when laminating (laminating) the photosensitive resin composition layer 2 and the protective film 4 on a board | substrate, there exists a tendency for the protective film 4 to tear easily, and when it exceeds 100 micrometers It tends to be insufficient in terms of inexpensiveness.

감광성 엘리먼트는, 쿠션층, 접착층, 광흡수층, 가스 배리어층 등의 중간층등을 더 가지고 있어도 된다.The photosensitive element may further have intermediate | middle layers, such as a cushion layer, an adhesive layer, a light absorption layer, and a gas barrier layer.

얻어진 감광성 엘리먼트(1)는, 시트상으로 또는 권심에 롤상으로 감아 보관할 수 있다. 롤상으로 감는 경우, 지지 필름(2)이 외측이 되도록 감는 것이 바람직하다. 권심으로서는, 폴리에틸렌 수지, 폴리프로필렌 수지, 폴리스티렌 수지, 폴리염화비닐 수지, ABS 수지(아크릴로니트릴-부타디엔-스티렌 공중합체) 등의 플라스틱을 들 수 있다. 이와 같이 하여 얻어진 롤상의 감광성 엘리먼트의 단면에는, 단면 보호의 견지에서 단면 세퍼레이터를 설치하는 것이 바람직하고, 내에지퓨젼(edge fusion)의 견지에서 방습 단면 세퍼레이터를 설치하는 것이 바람직하다. 곤포(梱包) 방법으로서는, 투습성이 작은 블랙 시트로 싸서 포장하는 것이 바람직하다.The obtained photosensitive element 1 can be wound and stored in a sheet form or a core in roll shape. When winding in roll shape, it is preferable to wind so that the support film 2 may become an outer side. Examples of the core include plastics such as polyethylene resin, polypropylene resin, polystyrene resin, polyvinyl chloride resin, and ABS resin (acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer). In the end face of the roll-shaped photosensitive element obtained in this way, it is preferable to provide a cross-sectional separator from the standpoint of end surface protection, and it is preferable to provide a moisture proof cross-section separator from the standpoint of edge fusion. As a packing method, it is preferable to wrap in a black sheet with small moisture permeability, and to package.

(레지스트 패턴의 형성 방법)(Method of forming resist pattern)

상기 감광성 수지 조성물을 이용하여, 레지스트 패턴을 형성할 수 있다. 본 실시형태와 관련되는 레지스트 패턴의 형성 방법은, (i) 상기 감광성 수지 조성물로 이루어지는 감광성 수지 조성물층을 기판 상에 적층하는 적층 공정과, (ii) 감광성 수지 조성물층의 소정 부분에 활성 광선을 조사하는 노광 공정과, (iii) 감광성 수지 조성물층의 상기 소정 부분 이외의 부분을 기판 상으로부터 제거함으로써, 기판 상에, 감광성 수지 조성물의 경화물로 이루어지는 레지스트 패턴을 형성하는 현상 공정을 가진다.A resist pattern can be formed using the said photosensitive resin composition. The method of forming a resist pattern according to the present embodiment includes (i) a lamination step of laminating a photosensitive resin composition layer made of the photosensitive resin composition on a substrate, and (ii) actinic light on a predetermined portion of the photosensitive resin composition layer. It has an exposure process to irradiate, and (iii) developing process which forms the resist pattern which consists of hardened | cured material of the photosensitive resin composition on a board | substrate by removing parts other than the said predetermined part of the photosensitive resin composition layer from a board | substrate.

(i) 적층 공정(i) a laminating step

우선, 감광성 수지 조성물로 이루어지는 감광성 수지 조성물층을 기판 상에 적층한다. 기판으로서는, 절연층과, 그 절연층 상에 형성된 도체층을 구비한 기판(회로 형성용 기판)을 이용할 수 있다.First, the photosensitive resin composition layer which consists of a photosensitive resin composition is laminated | stacked on a board | substrate. As a board | substrate, the board | substrate (circuit formation board | substrate) provided with the insulating layer and the conductor layer formed on this insulating layer can be used.

감광성 수지 조성물층의 기판 상에의 적층은, 예를 들면, 상기 감광성 엘리먼트의 보호 필름을 제거한 후, 감광성 엘리먼트의 감광성 수지 조성물층을 가열하면서 상기 기판에 압착함으로써 실시된다. 이에 의해, 기판과 감광성 수지 조성물층과 지지 필름으로 이루어지며, 이들이 순서대로 적층된 적층체가 얻어진다.Lamination | stacking on the board | substrate of the photosensitive resin composition layer is performed by crimping | bonding to the said board | substrate, heating the photosensitive resin composition layer of the photosensitive element, for example after removing the protective film of the said photosensitive element. Thereby, the laminated body which consists of a board | substrate, the photosensitive resin composition layer, and a support film and these laminated | stacked in order is obtained.

이 적층 작업은, 밀착성 및 추종성의 견지에서, 감압하에서 실시하는 것이 바람직하다. 압착 시의 감광성 수지 조성물층 및/또는 기판에 대한 가열 온도, 압력 등의 조건에 특별히 제한은 없지만, 70~130℃의 온도에서 실시하는 것이 바람직하고, 0.1~1.OMPa 정도(1~10kgf/cm2 정도)의 압력으로 압착하는 것이 바람직하다. 또한, 감광성 수지 조성물층을 70~130℃로 가열하면, 미리 기판을 예열 처리하는 것은 필요하지 않지만, 적층성을 더욱 향상시키기 위해서, 기판의 예열 처리를 실시할 수도 있다.This lamination operation is preferably carried out under reduced pressure in view of adhesion and followability. There is no restriction | limiting in particular in the conditions, such as the heating temperature and pressure with respect to the photosensitive resin composition layer and / or board | substrate at the time of crimping | bonding, It is preferable to carry out at the temperature of 70-130 degreeC, and about 0.1-1.OMPa (1-10 kgf / compression to a pressure of about 2 cm). In addition, when the photosensitive resin composition layer is heated to 70-130 degreeC, it is not necessary to preheat-process a board | substrate previously, In order to further improve lamination property, you may perform a preheating process of a board | substrate.

(ii) 노광 공정(ii) exposure step

다음으로, 기판 상의 감광성 수지 조성물층의 소정 부분에 활성 광선을 조사하고 그 소정 부분에 노광하여, 경화시킨다. 이 때, 감광성 수지 조성물층 상에 존재하는 지지 필름이 활성 광선에 대해서 투과성을 가지는 경우에는, 지지 필름을 통해 활성 광선을 조사할 수 있지만, 지지 필름이 활성 광선에 대해서 차광성을 가지는 경우에는, 지지 필름을 제거한 후에 감광성 수지 조성물층에 활성 광선을 조사한다.Next, actinic light is irradiated to the predetermined part of the photosensitive resin composition layer on a board | substrate, it is exposed to the predetermined part, and it hardens. At this time, when the support film existing on the photosensitive resin composition layer has transparency to actinic light, actinic light can be irradiated through the support film, but when the support film has light shielding property to actinic light, After removing a support film, actinic light is irradiated to the photosensitive resin composition layer.

노광 방법으로서는, 아트워크로 불리는 네가티브 또는 포지티브 마스크 패턴을 통해 활성 광선을 화상상(畵像狀)으로 조사하는 방법(마스크 노광법)을 들 수 있다. 또한, LDI(Laser Direct Imaging) 노광법이나 DLP(Digital Light Processing) 노광법 등의 직접 묘화 노광법에 의해 활성 광선을 화상상으로 조사하는 방법을 채용해도 된다.As an exposure method, the method (mask exposure method) which irradiates an actinic light to an image image through the negative or positive mask pattern called artwork is mentioned. Moreover, you may employ | adopt the method which irradiates an actinic light on an image by direct drawing exposure methods, such as LDI (Laser Direct Imaging) exposure method and DLP (Digital Light Processing) exposure method.

활성 광선의 광원으로서는, 공지의 광원을 이용할 수 있으며, 예를 들면, 카본 아크등, 수은 증기 아크등, 고압 수은등, 크세논 램프, 아르곤 레이저 등의 가스 레이저, YAG 레이저 등의 고체 레이저, 반도체 레이저 등의 자외선, 가시광선 등을 유효하게 방사하는 것이 이용된다.As a light source of active light, a well-known light source can be used, For example, a carbon arc lamp, a mercury vapor arc lamp, a high pressure mercury lamp, a xenon lamp, a gas laser, such as an argon laser, a solid laser, such as a YAG laser, a semiconductor laser, etc. Effectively emitting ultraviolet rays, visible light, and the like.

활성 광선의 파장(노광 파장)으로서는, 본 발명의 효과를 보다 확실히 얻는다는 관점에서, 350~410nm의 범위 내로 하는 것이 바람직하고, 390~410nm의 범위 내로 하는 것이 보다 바람직하다.As a wavelength (exposure wavelength) of an actinic light, it is preferable to carry out in the range of 350-410 nm from a viewpoint of obtaining the effect of this invention more reliably, and it is more preferable to carry out in the range of 390-410 nm.

(iii) 현상 공정(iii) development process

또한, 감광성 수지 조성물층의 상기 소정 부분 이외의 부분을 기판 상으로부터 제거함으로써, 기판 상에, 감광성 수지 조성물의 경화물로 이루어지는 레지스트 패턴을 형성한다. 감광성 수지 조성물층 상에 지지 필름이 존재하고 있는 경우에는, 지지 필름을 제거하고 나서, 상기 소정 부분(노광 부분) 이외의 부분(미노광 부분)의 제거(현상)를 실시한다. 현상 방법에는, 웨트 현상과 드라이 현상이 있지만, 웨트 현상이 널리 이용되고 있다.Moreover, the resist pattern which consists of hardened | cured material of the photosensitive resin composition is formed on a board | substrate by removing parts other than the said predetermined part of the photosensitive resin composition layer from a board | substrate. When the support film exists on the photosensitive resin composition layer, after removing a support film, parts (unexposed part) other than the said predetermined part (exposed part) are removed (developed). The developing method includes a wet phenomenon and a dry phenomenon, but a wet phenomenon is widely used.

웨트 현상에 의한 경우, 감광성 수지 조성물에 대응한 현상액을 이용하여, 공지의 현상 방법에 의해 현상한다. 현상 방법으로서는, 딥 방식, 배틀 방식, 스프레이 방식, 블러싱, 슬랩핑, 스크랩핑, 요동 침지 등을 이용한 방법을 들 수 있으며, 해상성 향상의 관점에서는, 고압 스프레이 방식이 가장 적합하다. 이들은, 2종 이상의 방법을 조합하여 현상을 실시해도 된다.In the case of wet development, development is carried out by a known development method using a developer corresponding to the photosensitive resin composition. As the developing method, a method using a dip method, a battle method, a spray method, blushing, slapping, scraping, oscillation dipping and the like can be cited. In view of improving resolution, a high pressure spray method is most suitable. These may develop in combination of 2 or more types of methods.

현상액으로서는, 알칼리성 수용액, 수계 현상액, 유기용제계 현상액 등을 들 수 있다.As a developing solution, alkaline aqueous solution, an aqueous developing solution, an organic solvent developing solution, etc. are mentioned.

알칼리성 수용액은, 현상액으로서 이용되는 경우, 안전하고 또한 안정적이며, 조작성이 양호하다. 알칼리성 수용액의 염기로서는, 리튬, 나트륨 또는 칼륨의 수산화물 등의 알칼리 금속 수산화물; 리튬, 나트륨, 칼륨 혹은 암모늄의 탄산염 또는 중탄산염; 인산칼륨, 인산나트륨 등의 알칼리 금속 인산염; 피로인산나트륨, 피로인산칼륨 등의 알칼리 금속 피로인산염 등이 이용된다.When used as a developing solution, alkaline aqueous solution is safe and stable, and its operativity is favorable. As a base of alkaline aqueous solution, Alkali metal hydroxides, such as hydroxide of lithium, sodium, or potassium; Carbonates or bicarbonates of lithium, sodium, potassium or ammonium; Alkali metal phosphates such as potassium phosphate and sodium phosphate; Alkali metal pyrophosphate such as sodium pyrophosphate, potassium pyrophosphate and the like are used.

알칼리성 수용액으로서는, 0.1~5중량% 탄산나트륨의 희박용액, 0.1~5중량% 탄산칼륨의 희박용액, 0.1~5중량%수산화 나트륨의 희박용액, 0.1~5중량% 4붕산 나트륨의 희박용액 등이 바람직하다. 알칼리성 수용액의 pH는 9~11의 범위로 하는 것이 바람직하고, 그 온도는, 감광성 수지 조성물층의 알칼리 현상성에 맞추어 조절된다.As the alkaline aqueous solution, a lean solution of 0.1-5% by weight sodium carbonate, a lean solution of 0.1-5% by weight potassium carbonate, a lean solution of 0.1-5% by weight sodium hydroxide, a lean solution of 0.1-5% by weight sodium tetraborate is preferable. Do. It is preferable to make pH of alkaline aqueous solution into the range of 9-11, and the temperature is adjusted according to the alkali developability of the photosensitive resin composition layer.

알칼리성 수용액 중에는, 표면 활성제, 소포제, 현상을 촉진시키기 위한 소량의 유기용제 등을 혼입시켜도 된다.In alkaline aqueous solution, you may mix surface active agent, an antifoamer, a small amount of organic solvents for promoting image development, etc ..

수계 현상액은, 예를 들면, 물 또는 알칼리성 수용액과 1종 이상의 유기용제로 이루어지는 현상액이다. 여기서, 알칼리성 수용액의 염기로서는, 먼저 기술한 물질 이외에, 예를 들면, 붕사나 메타규산나트륨, 수산화테트라메틸암모늄, 에탄올아민, 에틸렌디아민, 디에틸렌트리아민, 2-아미노-2-히드록시메틸-1,3-프로판디올, 모르폴린 등을 들 수 있다. 수계 현상액의 pH는, 현상이 충분히 실시되는 범위에서 가능한 한 작게 하는 것이 바람직하며, pH8~12로 하는 것이 바람직하고, pH9~10으로 하는 것이 보다 바람직하다.An aqueous developing solution is a developing solution which consists of water or alkaline aqueous solution, and 1 or more types of organic solvents, for example. Here, as the base of the alkaline aqueous solution, in addition to the substances described above, for example, borax, sodium metasilicate, tetramethylammonium hydroxide, ethanolamine, ethylenediamine, diethylenetriamine, 2-amino-2-hydroxymethyl- 1,3-propanediol, morpholine, etc. are mentioned. It is preferable to make pH of an aqueous developing solution as small as possible in the range in which image development is fully performed, It is preferable to set it as pH8-12, and it is more preferable to set it as pH9-10.

수계 현상액에 이용하는 유기용제로서는, 아세톤, 아세트산에틸, 탄소 원자수 1~4의 알콕시기를 가지는 알콕시에탄올, 에틸알코올, 이소프로필알코올, 부틸알코올, 디에틸렌글리콜모노메틸에테르, 디에틸렌글리콜모노에틸에테르, 디에틸렌글리콜모노부틸에테르 등을 들 수 있다. 이들은, 1종을 단독으로, 또는 2종류 이상을 조합해서 사용된다. 수계 현상액에 있어서의 유기용제의 농도는, 통상, 2~90중량%로 하는 것이 바람직하고, 그 온도는, 알칼리 현상성에 맞추어 조정할 수 있다. 수계 현상액 중에는, 계면활성제, 소포제 등을 소량 혼입할 수도 있다.As an organic solvent used for an aqueous developing solution, acetone, ethyl acetate, the alkoxy ethanol which has a C1-C4 alkoxy group, ethyl alcohol, isopropyl alcohol, butyl alcohol, diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, Diethylene glycol monobutyl ether and the like. These are used individually by 1 type or in combination of 2 or more types. It is preferable to make the density | concentration of the organic solvent in an aqueous developing solution normally 2 to 90 weight%, and the temperature can be adjusted according to alkali developability. In the aqueous developer, a small amount of a surfactant, an antifoaming agent, or the like may be mixed.

유기용제계 현상액으로서는, 1,1,1-트리클로로에탄, N-메틸피롤리돈, N,N-디메틸포름아미드, 시클로헥사논, 메틸이소부틸케톤, γ-부틸올락톤 등의 유기용제를 들 수 있다. 이들 유기용제에는, 인화 방지를 위해, 1~20중량%의 범위로 물을 첨가하는 것이 바람직하다.As the organic solvent developer, organic solvents such as 1,1,1-trichloroethane, N-methylpyrrolidone, N, N-dimethylformamide, cyclohexanone, methyl isobutyl ketone and γ-butyl olactone are used. Can be mentioned. It is preferable to add water to these organic solvents in the range of 1-20 weight% in order to prevent flammability.

미노광 부분을 제거한 후, 필요에 따라서 60~250℃ 정도의 가열 또는 02~10J/cm2 정도의 노광을 실시함으로서, 레지스트 패턴을 더욱 경화해도 된다.After removing an unexposed part, you may harden a resist pattern further by heating about 60-250 degreeC or exposing about 02-10 J / cm <2> as needed.

(프린트 배선판의 제조 방법)(Manufacturing method of printed wiring board)

상기 방법에 의해 레지스트 패턴이 형성된 기판을 에칭 또는 도금함으로써, 프린트 배선판을 제조할 수 있다. 기판의 에칭 또는 도금은, 형성된 레지스트 패턴을 마스크로 하여 기판의 도체층 등에 대해서 실시된다.A printed wiring board can be produced by etching or plating a substrate on which a resist pattern is formed by the above method. Etching or plating of the substrate is performed on the conductor layer or the like of the substrate using the formed resist pattern as a mask.

에칭을 실시하는 경우의 에칭액으로서는, 염화 제2동 용액, 염화 제2철 용액, 알칼리 에칭 용액, 과산화 수소 에칭액을 들 수 있으며, 이들 중에서, 에칭 팩터가 양호하다는 점에서 염화 제2철용액을 이용하는 것이 바람직하다.Examples of the etching solution in the case of etching include a cupric chloride solution, a ferric chloride solution, an alkali etching solution, and a hydrogen peroxide etching solution. Among them, a ferric chloride solution is used because the etching factor is good. It is preferable.

도금을 실시하는 경우의 도금 방법으로서는, 황산구리 도금, 피로인산동도금등의 동도금, 하이 드로우 땜납도금 등의 땜납 도금, 와트 욕(유산 니켈-염화 니켈) 도금, 설파민산니켈 등의 니켈 도금, 하드 금도금, 소프트 금도금 등의 금도금등을 들 수 있다.As the plating method for plating, copper plating such as copper sulfate plating, copper plating such as pyrophosphate copper plating, solder plating such as high draw solder plating, watt bath (nickel sulfate-nickel chloride) plating, nickel plating such as nickel sulfamate, and hard gold plating And gold plating such as soft gold plating.

에칭 또는 도금 종료 후, 레지스트 패턴은, 예를 들면, 현상에 이용한 알칼리성 수용액보다 더 강알칼리성의 수용액에 의해 박리할 수 있다. 이 강알칼리성의 수용액으로서는, 예를 들면, 1~10중량% 수산화 나트륨 수용액, 1~10중량%수산화 칼륨 수용액 등이 이용된다. 그 중에서도, 1~10중량% 수산화 나트륨 수용액 또는 수산화 칼륨 수용액을 이용하는 것이 바람직하고, 1~5중량% 수산화 나트륨 수용액 또는 수산화 칼륨 수용액을 이용하는 것이 보다 바람직하다.After completion of etching or plating, the resist pattern can be peeled off by, for example, a stronger alkaline aqueous solution than the alkaline aqueous solution used for development. As this strongly alkaline aqueous solution, 1-10 weight% sodium hydroxide aqueous solution, 1-10 weight% potassium hydroxide aqueous solution, etc. are used, for example. Especially, it is preferable to use the 1-10 weight% sodium hydroxide aqueous solution or the potassium hydroxide aqueous solution, and it is more preferable to use the 1-5 weight% sodium hydroxide aqueous solution or the potassium hydroxide aqueous solution.

레지스트 패턴의 박리 방식으로서는, 침지 방식, 스프레이 방식 등을 들 수 있으며, 이들은 단독으로 이용해도 병용해도 된다. 또한, 레지스트 패턴이 형성된 프린트 배선판은, 다층 프린트 배선판이어도 되며, 지름이 작은 스루홀을 가지고 있어도 된다.As a peeling method of a resist pattern, an immersion system, a spray system, etc. are mentioned, These may be used independently or may be used together. Moreover, a multilayer printed wiring board may be sufficient as the printed wiring board with which the resist pattern was formed, and may have a through hole with a small diameter.

이상, 본 발명의 매우 적합한 실시형태에 관하여 설명했지만, 본 발명은 상기 실시형태에 전혀 한정되는 것은 아니다.As mentioned above, although the very suitable embodiment of this invention was described, this invention is not limited to the said embodiment at all.

이하, 실시예를 들어 본 발명에 관하여 보다 구체적으로 설명한다. 다만, 본 발명은 이하의 실시예로 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples. However, the present invention is not limited to the following examples.

<실시예 1~ 13및 비교예 1><Examples 1-13 and Comparative Example 1>

[감광성 수지 조성물의 용액의 조제][Preparation of solution of photosensitive resin composition]

하기 표 1 및 표 2에 나타내는 성분을, 동표에 나타내는 배합량으로 혼합함으로쏘, 실시예 1~13 및 비교예 1의 감광성 수지 조성물의 용액을 조제하였다. 또한, 표 1 및 표 2에 나타내는 (A) 성분의 배합량은, 불휘발분의 질량(고형 분량)이다. 하기 표 1 및 표 2에 나타내는 각 성분의 상세한 내용에 관해서는, 이하와 같다.The solution of the photosensitive resin composition of Examples 1-13 and the comparative example 1 was prepared by mixing the component shown in following Table 1 and Table by the compounding quantity shown in the same table. In addition, the compounding quantity of (A) component shown in Table 1 and Table 2 is the mass (solid amount) of a non volatile matter. About the detail of each component shown in following Table 1 and Table 2, it is as follows.

<(A) 바인더 폴리머>&Lt; (A) Binder polymer &

[바인더 폴리머(A-1)의 합성][Synthesis of binder polymer (A-1)]

중합성 단량체(모노머)인 메타크릴산 150g, 메타크릴산벤질 에스테르 125g, 메타크릴산메틸 25g 및 스티렌 200g(중량비 30/25/5/40)과, 아조비스이소부틸로니트릴 9.Og을 혼합하여 얻은 용액을 「용액 a」라고 했다.150 g of methacrylic acid as polymerizable monomer (monomer), 125 g of methacrylic acid benzyl ester, 25 g of methyl methacrylate and 200 g of styrene (weight ratio 30/25/5/40) and 9.Og of azobisisobutylonitrile The obtained solution was called "solution a."

메틸셀로솔브 60g 및 톨루엔 40g의 혼합액(질량비 3: 2)에, 아조비스이소부틸로니트릴 1.2g을 용해하여 얻은 용액을 「용액 b」라고 했다.The solution obtained by melt | dissolving 1.2 g of azobisisobutylonitrile in the liquid mixture (mass ratio 3: 2) of 60 g of methyl cellosolves and 40 g of toluene was called "solution b."

교반기, 환류 냉각기, 온도계, 적하 로트 및 질소 가스 도입관을 구비한 플라스크에, 메틸 셀로솔브 270g 및 톨루엔 180g의 혼합액(질량비 3:2)을 투입하고, 플라스크 내에 질소 가스를 불어 넣으면서 교배하여, 80℃까지 가열 승온시켰다.To a flask equipped with a stirrer, a reflux condenser, a thermometer, a dropping lot, and a nitrogen gas introduction tube, a mixed solution (mass ratio 3: 2) of 270 g of methyl cellosolve and 180 g of toluene was introduced, and mixed while blowing nitrogen gas into the flask. Heated and heated up to ° C.

플라스크 내의 상기 혼합액에, 상기 용액 a를 4시간에 걸쳐 적하한 후, 교반하면서 80℃에서 2시간 보온하였다. 다음으로, 플라스크 내의 용액에, 상기 용액 b를 10분간 걸쳐 적하한 후, 플라스크 내의 용액을 교반하면서 80℃에서 3시간 보온하였다. 또한, 플라스크 내의 용액을 30분간 걸쳐 90℃까지 승온시키고, 90℃에서 2시간 보온한 후, 냉각하여 바인더 폴리머(A-1)를 포함하는 액을 얻었다.The solution a was added dropwise to the mixed solution in the flask over 4 hours, and then the mixture was kept at 80 ° C for 2 hours with stirring. Next, the solution b was added dropwise to the solution in the flask over 10 minutes, and then the solution in the flask was kept at 80 ° C for 3 hours with stirring. Furthermore, the solution in a flask was heated up to 90 degreeC over 30 minutes, it was kept at 90 degreeC for 2 hours, and it cooled, and obtained the liquid containing binder polymer (A-1).

바인더 폴리머(A-1)의 불휘발분 (고형분)은 47.8중량%이고, 중량 평균 분자량은 30,000이며, 산가는 196mgKOH/g였다. 또한, 중량 평균 분자량은, 겔퍼미에이션 크로마토그래피법(GPC)에 따라 측정하고, 표준 폴리스티렌의 검량선을 이용하여 환산함으로써 도출했다. GPC의 조건을 이하에 나타낸다.The nonvolatile matter (solid content) of the binder polymer (A-1) was 47.8 wt%, the weight average molecular weight was 30,000, and the acid value was 196 mgKOH / g. In addition, the weight average molecular weight was measured by gel permeation chromatography method (GPC), and it derived by converting using the analytical curve of standard polystyrene. The conditions of GPC are shown below.

(GPC 조건)(GPC conditions)

펌프: 히타치 L-6000형[(주) 히타치제작소제]Pump: Hitachi L-6000 type [made by Hitachi, Ltd.]

컬럼: Gelpack GL-R420 + Gelpack GL-R430 + Gelpack GL-R440(합계 3개)(이상, 히타치카세이코교가부시키가이샤제, 상품명)Column: Gelpack GL-R420 + Gelpack GL-R430 + Gelpack GL-R440 (three in total) (above, Hitachi Kasei Co., Ltd., brand name)

용리액: 테트라 히드로 푸란Eluent: tetrahydrofuran

측정 온도: 40℃Measuring temperature: 40 ° C

유량: 2.05mL/분Flow rate: 2.05 mL / min

검출기: 히타치 L-3300형 RI[(주) 히타치제작소제]Detector: Hitachi L-3300 type RI [made by Hitachi, Ltd.]

<B) 광중합성 화합물><B) Photopolymerizable Compound>

MPT21E: 트리메틸올프로판 폴리옥시에틸렌에테르 트리메타크릴레이트(히타치카세이코교가부시키가이샤제, 상품명)MPT21E: trimethylolpropane polyoxyethylene ether trimethacrylate (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., brand name)

FA-321M: 2,2-비스(4-(메타크릴록시펜타에톡시)페닐)프로판)(히타치카세이코교가부시키가이샤제, 상품명)FA-321M: 2,2-bis (4- (methacryloxypentaethoxy) phenyl) propane) (product made by Hitachi Kasei Co., Ltd., brand name)

FA-024M: 상기 식 (6)으로 표시되는 화합물에 있어서, R20 및 R21=메틸기, m3=6(평균치), n2+n3=12(평균치)인 화합물)(히타치카세이코교가부시키가이샤제, 상품명)FA-024M: In the compound represented by the formula (6), R 20 and R 21 = methyl group, m 3 = 6 (average), n 2 + n 3 = 12 (average)) (Hitachi Kasei Kogyo Co., Ltd.) Shikiisha, brand name)

M-114: 4-노르말노닐페녹시옥타에틸렌글리콜 아크릴레이트(토아합성(주)제, 상품명)M-114: 4-normal nonyl phenoxy octaethylene glycol acrylate (Toa synthetic Co., Ltd. product, brand name)

BPE-100: 2,2-비스(4-(메타크릴록시폴리에톡시)페닐)프로판)(1분자 중에 포함되는 에틸렌옥시드 사슬의 평균이 2.6몰)(신나카무라화학사제, 상품명)BPE-100: 2,2-bis (4- (methacryloxypolyethoxy) phenyl) propane) (an average of ethylene oxide chains contained in 1 molecule is 2.6 mol) (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., brand name)

<광중합 개시제(C)><Photoinitiator (C)>

[광중합 개시제(C-1)의 합성][Synthesis of Photoinitiator (C-1)]

에탄올 20mL, 3,3',4,4'-비페닐테트라아민 2mmol 및 3,3'-디메톡시벤질 4mmol을 플라스크에 가하여 혼합하고, 플라스크 내의 공기를 질소 치환한 후, 혼합물을 80℃에서 12시간 환류하였다. 실온까지 냉각하여, 200mL의 물을 더한 후, 감압 여과에 의해, 생성물(C-1)을 얻었다.20 mL of ethanol, 2 mmol of 3,3 ', 4,4'-biphenyltetraamine and 4 mmol of 3,3'-dimethoxybenzyl were added to the flask, mixed, nitrogen-substituted air in the flask, and the mixture was stirred at 80 ° C. It was refluxed for time. After cooling to room temperature and adding 200 mL of water, the product (C-1) was obtained by filtration under reduced pressure.

도 2에 나타내는 1H-NMR 스펙트럼, 및 도 3에 나타내는 13C-NMR 스펙트럼보다, 생성물 (C-1)이 하기 식 (13)으로 표시되는 구조의 화합물인 것이 확인되었다.It was confirmed that product (C-1) is a compound of the structure shown by following formula (13) from the 1H-NMR spectrum shown in FIG. 2, and the 13C-NMR spectrum shown in FIG.

[화학식 22][Chemical Formula 22]

Figure 112011077055594-pct00022
Figure 112011077055594-pct00022

[광중합 개시제(C-2)의 합성][Synthesis of Photoinitiator (C-2)]

3,3'-디메톡시벤질을 대신해 4,4'-디메톡시벤질을 이용한 것 이외는 상기 (C-1)과 마찬가지로 하여, 하기 식 (14)로 표시되는 구조의 화합물을 얻었다.A compound of the structure represented by the following formula (14) was obtained in the same manner as in (C-1) except that 4,4'-dimethoxybenzyl was used instead of 3,3'-dimethoxybenzyl.

[화학식 23](23)

Figure 112011077055594-pct00023
Figure 112011077055594-pct00023

[광중합 개시제(C-3)의 합성][Synthesis of Photoinitiator (C-3)]

3,3',4,4'-비페닐테트라아민 2mmol 및 3,3'-디메톡시벤질 4mmol 대신에, 2,3-디아미노나프탈렌 2mmol 및 3,3'-디메톡시벤질 2mmol를 이용한 것 이외는 상기(C-1)와 마찬가지로 하여, 하기 식 (11)로 표시되는 구조의 화합물을 얻었다.Instead of using 2 mmol of 3,3 ', 4,4'-biphenyltetraamine and 4 mmol of 3,3'-dimethoxybenzyl, 2 mmol of 2,3-diaminonaphthalene and 2 mmol of 3,3'-dimethoxybenzyl In the same manner as in the above (C-1), a compound having a structure represented by the following formula (11) was obtained.

[화학식 24]&Lt; EMI ID =

Figure 112011077055594-pct00024
Figure 112011077055594-pct00024

[광중합 개시제(C-4)의 합성][Synthesis of Photoinitiator (C-4)]

3,3',4,4'-비페닐테트라아민 2mmol 및 3,3'-디메톡시벤질 4mmol 대신에, 2,3-디아미노나프탈렌 2mmol 및 4,4'-디메톡시벤질 2mmol을 이용한 것 이외는 상기 (C-1)과 마찬가지로 하여, 하기 식 (12)로 표시되는 구조의 화합물을 얻었다.Instead of using 2 mmol of 3,3 ', 4,4'-biphenyltetraamine and 4 mmol of 3,3'-dimethoxybenzyl, other than using 2 mmol of 2,3-diaminonaphthalene and 2 mmol of 4,4'-dimethoxybenzyl In the same manner as in the above (C-1), a compound having a structure represented by the following formula (12) was obtained.

[화학식 25](25)

Figure 112011077055594-pct00025
Figure 112011077055594-pct00025

[그 외의 광중합 개시제][Other photopolymerization initiators]

(C-1), (C-2), (C-3) 및 (C-4) 이외의 광중합 개시제를 이하에 나타낸다.Photoinitiators other than (C-1), (C-2), (C-3), and (C-4) are shown below.

BCIM: 2,2'-비스(2-클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐비스이미다졸(Hampford사제, 상품명)BCIM: 2,2'-bis (2-chlorophenyl) -4,4 ', 5,5'-tetraphenylbisimidazole (made by Hampford, brand name)

TPS: α,α,α-트리브로모메틸페닐술폰TPS: α, α, α-tribromomethylphenylsulfone

(흡수스펙트럼의 측정)(Measurement of absorption spectrum)

이하와 같이 하여, 생성물 (C-1), (C-2), (C-3)의 자외 가시 흡수스펙트럼의 측정을 실시했다.The ultraviolet-visible absorption spectra of the products (C-1), (C-2) and (C-3) were measured as follows.

실시예 1에서 제작한 생성물 (C-1)을 포함하는 필름, 및 실시예 8에서 제작한 생성물 (C-3)을 포함하는 필름을 이용하고, 시마즈사제 자외 가시 분광 광도계 UV2550를 이용하여 각 샘플 필름의 자외 가시 흡수스펙트럼을 측정하였다. 얻어진 결과를 도 4에 나타냈다.Using the film containing the product (C-1) produced in Example 1, and the film containing the product (C-3) produced in Example 8, each sample was made using the ultraviolet visible spectrophotometer UV2550 by Shimadzu Corporation. The ultraviolet visible absorption spectrum of the film was measured. The obtained result is shown in FIG.

또한, 생성물 (C-1), (C-2)를 클로로포름 중, 1×10-5mol/L가 되도록 칭취(秤取)하고, 석영 셀에 넣어 시마즈사제 자외 가시 분광 광도계 UV2550를 이용하여, 각 샘플 용액의 자외 가시 흡수스펙트럼을 측정하였다. 얻어진 결과를 도 5에 나타냈다.In addition, the products (C-1) and (C-2) were chamfered to 1 × 10 −5 mol / L in chloroform and placed in a quartz cell using an ultraviolet visible spectrophotometer UV2550 manufactured by Shimadzu Corporation. The ultraviolet visible absorption spectrum of each sample solution was measured. The obtained result is shown in FIG.

도 4 및 도 5가 나타내는 스펙트럼에 의하면, 생성물 (C-1), (C-2), 및 (C-3)은, 350~410nm의 범위 내에 극대 흡수 파장을 가지는 것이 확인되었다.4 and 5 showed that the products (C-1), (C-2), and (C-3) had maximum absorption wavelengths in the range of 350 to 410 nm.

<(D) 수소 공여성 화합물><(D) hydrogen donor compound>

LCV: 로이코 크리스탈바이올렛LCV: Loikaw Crystal Violet

NPG: N-페닐글리신(R17=수소 원자)NPG: N-phenylglycine (R 17 = hydrogen atom)

(D-1): 2-메르캅토벤조옥사졸(D-1): 2-mercaptobenzoxazole

<(E) 증감 색소><(E) sensitizing dye>

닛카 플로우 MC: 7-디에틸아미노-4-메틸쿠마린(닛뽄카가쿠공업소사제, 상품명)Nikka flow MC: 7-diethylamino-4-methylcoumarin (made by Nippon Chemical Co., Ltd., brand name)

DBA: 9,10-디부톡시안트라센(가와사키카세이공업사제, 상품명)DBA: 9,10-dibutoxy anthracene (made by Kawasaki Kasei Co., Ltd., brand name)

(E-1): 1-페닐-3-(4-이소프로필스티릴)-5-(4-이소프로필페닐)피라졸린(닛뽄카가쿠공업소사제)(E-1): 1-phenyl-3- (4-isopropylstyryl) -5- (4-isopropylphenyl) pyrazoline (made by Nippon Chemical Co., Ltd.)

[표 1][Table 1]

Figure 112011077055594-pct00026
Figure 112011077055594-pct00026

[표 2][Table 2]

Figure 112011077055594-pct00027
Figure 112011077055594-pct00027

(감광성 엘리먼트)(Photosensitive element)

상기 실시예 1~13 및 비교예 1의 감광성 수지 조성물의 용액을, 각각 두께 16㎛의 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름(테이진(주)제, 제품명 「HTF-01」) 상에 균일하게 도포하고, 70℃ 및 110℃의 열풍 대류식 건조기로 건조하여, 건조 후의 막두께가 40㎛인 감광성 수지 조성물층을 형성하였다. 이 감광성 수지 조성물층 상에 보호 필름(타마폴리(주)제, 제품명 「NF-15」)를 첩합하여, 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름(지지 필름)과, 감광성 수지 조성물층과, 보호 필름이 순서대로 적층된 실시예 1~13 및 비교예 1의 감광성 엘리먼트를 얻었다.The solution of the photosensitive resin composition of the said Examples 1-13 and Comparative Example 1 was apply | coated uniformly on the polyethylene terephthalate film (Teijin Co., Ltd. product name "HTF-01") of thickness each 16 micrometers, respectively, 70 It dried with the hot air convection type dryer of 110 degreeC and 110 degreeC, and formed the photosensitive resin composition layer whose film thickness after drying is 40 micrometers. A protective film (Tamapoly Co., Ltd. product name "NF-15") is bonded together on this photosensitive resin composition layer, and a polyethylene terephthalate film (support film), the photosensitive resin composition layer, and a protective film are laminated in order. The obtained photosensitive elements of Examples 1-13 and Comparative Example 1 were obtained.

(적층 기판)(Laminated substrate)

유리 에폭시재와 그 양면에 형성된 동박(두께 35㎛)으로 이루어지는 동장 적층판(히타치카세이코교가부시키가이샤제, 제품명 MCL-E-67)의 동 표면을, #600 상당의 블러쉬를 가지는 연마기(주식회사 산케제)를 이용하여 연마하고, 수세 후, 공기류로 건조했다. 이 동장 적층판을 가온하여 80℃로 승온시킨 후, 실시예 1~13 및 비교예 1의 감광성 엘리먼트를, 기판의 동 표면에 라미네이트(적층)했다. 라미네이트는, 보호 필름을 제거하면서, 각 감광성 엘리먼트의 감광성 수지 조성물층이 기판의 동 표면에 밀착하도록 하여, 온도 120℃, 라미네이트 압력 4kgf/cm2의 조건 하에서 실시했다. 이와 같이 하여, 기판의 동표면 상에 감광성 수지 조성물층 및 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름이 적층된 적층 기판을 얻었다.A polishing machine having a blush equivalent of # 600 on the copper surface of a copper clad laminate (made by Hitachi Chemical Co., Ltd., product name MCL-E-67) made of a glass epoxy material and copper foil (35 µm thick) formed on both sides thereof. (Made by Sanke), and after washing with water, it was dried by air. After heating this copper clad laminated board and heating up at 80 degreeC, the photosensitive element of Examples 1-13 and Comparative Example 1 was laminated (laminated) on the copper surface of a board | substrate. Lamination was performed under the conditions of the temperature of 120 degreeC, and the lamination pressure of 4 kgf / cm <2> , making the photosensitive resin composition layer of each photosensitive element adhere to the copper surface of a board | substrate, removing a protective film. Thus, the laminated substrate by which the photosensitive resin composition layer and the polyethylene terephthalate film were laminated | stacked on the copper surface of the board | substrate was obtained.

(감도의 평가)(Evaluation of sensitivity)

얻어진 적층 기판을 방랭하고, 23℃가 된 시점에서, 적층 기판의 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름 상에, 농도 영역 0.00~2.00, 농도 스텝 0.05, 타블렛의 크기 20mm×187mm, 각 스텝의 크기가 3mm×12mm인 41단 스텝 타블렛을 가지는 포토 툴을 밀착시켰다. 파장 405nm의 청자색 레이저 다이오드를 광원으로 하는 히타치 비아메카닉스사제 직묘기 「DE-1 AH」(상품명)을 사용하고, 소정의 에너지량(노광량)으로 포토 툴 및 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름을 개재하여 감광성 수지 조성물층에 대해서 노광을 실시하였다. 또한, 조도의 측정은, 405nm 대응 프로브를 적용한 자외선 조도계(우시오덴키(주)제, 상품명 「UIT-150」)를 이용해서 실시하였다.When the obtained laminated substrate was left to cool and it became 23 degreeC, on the polyethylene terephthalate film of a laminated substrate, concentration area 0.00-2.00, concentration step 0.05, tablet size 20mm * 187mm, and the size of each step is 3mm * 12mm. Photo tool having 41 steps of step tablets was stuck. Photosensitive resin through a phototool and a polyethylene terephthalate film with a predetermined amount of energy (exposure amount) using a weaving machine "DE-1AH" (trade name) made by Hitachi Via Mechanics Co., Ltd. using a blue violet laser diode having a wavelength of 405 nm as a light source. The composition layer was exposed. In addition, the measurement of illuminance was performed using the ultraviolet illuminometer (The Ushio Denki Corporation make, brand name "UIT-150") to which the 405 nm corresponding probe was applied.

노광 후, 적층 기판으로부터 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름을 박리하고, 감광성 수지 조성물층을 노출시켜, 1중량% 탄산나트륨 수용액을 30℃에서 60초간 스프레이함으로써, 미노광 부분을 제거하였다. 이와 같이 하여, 기판의 동표면 상에 감광성 수지 조성물의 경화물로 이루어지는 경화막을 형성하였다. 경화막으로서 얻어진 스텝 타블렛의 잔존 단수가 20단이 되었을 때의 노광량(mJ/cm2)에 의해, 감광성 수지 조성물의 감도를 평가하였다. 이 수치가 작을수록 감도가 양호한 것을 의미한다. 결과를 표 3 및 표 4에 나타냈다.After exposure, the polyethylene terephthalate film was peeled off from the laminated substrate, the photosensitive resin composition layer was exposed, and the unexposed portion was removed by spraying a 1% by weight aqueous sodium carbonate solution at 30 ° C. for 60 seconds. In this way, the cured film which consists of hardened | cured material of the photosensitive resin composition was formed on the copper surface of a board | substrate. The sensitivity of the photosensitive resin composition was evaluated by the exposure amount (mJ / cm <2> ) when the remaining stage of the step tablet obtained as a cured film became 20 steps. Smaller value means better sensitivity. The results are shown in Table 3 and Table 4.

(해상성 및 밀착성의 평가)(Evaluation of resolution and adhesion)

라인폭(L)/스페이스폭(S)(이하, 「L/S」라고 기재한다.)이 5/5~30/30(단위: ㎛)인 묘화 패턴을 이용하여, 41단 스텝 타블렛의 잔존 단수가 20단이 되는 에너지량으로 상기 적층 기판의 감광성 수지 조성물층에 대해서 노광(묘화)을 실시하였다. 노광 후, 상기 감도의 평가와 같은 현상 처리를 실시하였다.Remaining 41-step step tablet using a drawing pattern having a line width L / space width S (hereinafter referred to as "L / S") of 5/5 to 30/30 (unit: µm) Exposure (drawing) was performed with respect to the photosensitive resin composition layer of the said laminated | multilayer board | substrate with the energy amount used as 20 steps of stages. After the exposure, the same development treatment as that for evaluation of the sensitivity was performed.

현상 후, 스페이스 부분(미노광 부분)이 깔끔하게 제거되고, 또한 라인 부분(노광 부분)이 굴곡이나 결락을 일으키는 일 없이 형성된 레지스트 패턴 중, 가장 작은 라인폭/스페이스폭의 값에 의해, 해상성 및 밀착성을 평가하였다. 이 수치가 작을수록 해상성 및 밀착성이 모두 양호한 것을 의미한다. 결과를 표 3 및 표 4에 나타냈다.After the development, the space portion (unexposed portion) is neatly removed, and the resolution and the line width / space width are reduced by the smallest line width / space width value among the resist patterns formed without causing the line portion (exposed portion) to bend or lose. Adhesiveness was evaluated. The smaller this value means, the better both the resolution and the adhesion. The results are shown in Table 3 and Table 4.

(박리 특성의 평가)(Evaluation of peeling property)

상기 해상성 및 밀착성의 평가에서 얻어진 레지스트 패턴이 형성된 적층 기판을 황산구리/황산 수용액의 도금액에 침지하고, 전(全) 전류치 2A로 15분간 전해동 도금을 실시하였다. 얻어진 도금동 두께는 약 15㎛였다. 도금 후의 적층 기판에, 50℃의 3중량% 수산화 나트륨 수용액을 스프레이하여, 레지스트를 기판으로부터 박리 제거하였다. 광학 현미경을 이용하여 박리 후의 적층 기판을 관찰하고, 도금 패턴(동배선) 간에 있어서의 경화막의 박리 나머지의 유무를 조사하였다. 결과를 표 3 및 표 4에 나타냈다.The laminated substrate on which the resist pattern obtained by the said resolution and adhesiveness evaluation was formed was immersed in the plating liquid of copper sulfate / sulfuric acid aqueous solution, and electrolytic copper plating was performed for 15 minutes by 2 A of total electric current values. The obtained plated copper thickness was about 15 micrometers. 50 degreeC 3 weight% sodium hydroxide aqueous solution was sprayed on the laminated board | substrate after plating, and the resist was peeled off from the board | substrate. The laminated substrate after peeling was observed using the optical microscope, and the presence or absence of the peeling remainder of the cured film between plating patterns (copper wiring) was investigated. The results are shown in Table 3 and Table 4.

(도금 형성성의 평가)(Evaluation of Plating Formability)

상기 박리 특성의 평가에 의해 얻어진 박리 후의 적층 기판을, 광학 현미경을 이용하여 관찰하고, 도금 패턴이 단선 또는 단락하는 일 없이 형성된 가장 작은 도금폭에 의해 도금 형성성을 평가하였다. 이 수치가 작을수록 도금 형성성이 양호한 것을 의미한다. 결과를 표 3 및 표 4에 나타냈다.The laminated board | substrate after peeling obtained by evaluation of the said peeling characteristic was observed using the optical microscope, and plating formation property was evaluated by the smallest plating width formed without the disconnection or short circuit of the plating pattern. Smaller value means better plating formability. The results are shown in Table 3 and Table 4.

(도금에 대한 오염의 방지성의 평가)(Evaluation of prevention of contamination to plating)

각 감광성 엘리먼트를 40cm×50cm의 크기로 자르고, 보호 필름을 제거하여 스텝 타블렛이 20단이 되는 노광량으로 감광성 수지 조성물층에 대해서 노광을 실시하고, 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름을 박리하여 경화막을 얻었다. 이 경화막을 황산구리/황산 수용액의 도금액 1L에 3일간 침지하였다. 할셀 시험 욕조(야마모토 도금 시험기사제)를 이용하여 상기 동장 적층판(기판)에 전 전류치 2A로 15분간 전해동 도금을 실시하였다.Each photosensitive element was cut into the size of 40 cm x 50 cm, the protective film was removed, it exposed to the photosensitive resin composition layer at the exposure amount which becomes a step tablet of 20 steps, the polyethylene terephthalate film was peeled off, and the cured film was obtained. This cured film was immersed in 1 L of plating liquid of copper sulfate / sulfuric acid aqueous solution for 3 days. The copper clad laminate (substrate) was subjected to electrolytic copper plating for 15 minutes at a total current value of 2 A using a Halssel test bath (manufactured by Yamamoto Plating Test Co., Ltd.).

경화막을 침지하고 있지 않는 도금액을 이용했을 경우의 도금을 레퍼런스로 하여, 경화막을 침지한 도금액을 이용했을 경우의 도금의 외관을 눈으로 관찰하였다. 레퍼런스와 비교하여 도금 외관에 변화가 없는 것을 오염성 없음, 변색 등의 변화가 있는 것을 오염성 있음으로 판단하였다. 결과를 표 3 및 표 4에 나타냈다.The appearance of the plating in the case of using the plating solution in which the cured film was immersed was visually observed using the plating in the case of using the plating solution in which the cured film was not immersed. Compared with the reference, there was no change in the appearance of the plating, and there was no contamination, change in discoloration, and the like was determined as being polluted. The results are shown in Table 3 and Table 4.

[표 3][Table 3]

Figure 112011077055594-pct00028
Figure 112011077055594-pct00028

[표 4][Table 4]

Figure 112011077055594-pct00029
Figure 112011077055594-pct00029

실시예 1~15의 감광성 수지 조성물은, 비교예 1에 비해, 파장 405nm의 직접 묘화 노광에 대해서 고감도이며, 또한, 해상성, 밀착성, 및 도금 형성성이 양호하였다. 또한, 레지스트의 박리 특성 및 도금에 대한 오염의 방지성도 양호하게 유지되고 있었다. 특히, 광중합 개시제로서 (C1) 성분 또는 (C2) 성분을 이용하고, 수소 공여성 화합물로서 상기 식 (5)로 표시되는 N-페닐글리신만을 이용한 실시예 2, 8은 감도가 향상했다. 또한, 상기 식 (4)로 표시되는 α,α,α-트리브로모메틸페닐술폰을, (C1) 성분 또는 (C2) 성분과 병용함으로써, (C1) 성분 또는 (C2) 성분을 단독으로 이용했을 때보다 감도가 향상했다. 또한, 상기 식 (4)로 표시되는 α,α,α-트리브로모메틸페닐술폰을 병용했을 때에는, 식 (C-4)로 표시되는 (C1) 성분을 이용한 실시예 15가, 식 (C-3)로 표시되는 (C1) 성분을 이용한 실시예 14 및 식 (C-1)로 표시되는 (C2) 성분을 이용한 실시예 9에 비해, 보다 감도가 향상했다.The photosensitive resin composition of Examples 1-15 was high sensitivity with respect to the direct drawing exposure of wavelength 405nm compared with the comparative example 1, and also the resolution, adhesiveness, and plating formation property were favorable. Moreover, the peeling characteristic of resist and the prevention of the contamination with respect to plating were also maintained favorably. In particular, Examples 2 and 8 using the (C1) component or (C2) component as a photoinitiator, and using only N-phenylglycine represented by said Formula (5) as a hydrogen donating compound improved the sensitivity. In addition, the (C1) component or the (C2) component was used independently by using together the (C1) component or the (C2) component with the (alpha), (alpha), (alpha)-tribromomethylphenyl sulfone shown by said Formula (4). Sensitivity was improved than ever. In addition, when using together the (alpha), (alpha), (alpha)-tribromomethylphenyl sulfone represented by said Formula (4), Example 15 using the (C1) component represented by Formula (C-4) is Formula (C-) Sensitivity was improved compared with Example 14 using the (C1) component represented by 3), and Example 9 using the (C2) component represented by Formula (C-1).

이상으로부터, 감도, 해상성, 밀착성, 박리 특성, 및 도금 형성성이 뛰어나며, 도금에 대한 오염성이 낮은 감광성 수지 조성물, 및 감광성 엘리먼트가 얻어지는 것이 분명해졌다.As mentioned above, it became clear that the photosensitive resin composition and the photosensitive element which are excellent in a sensitivity, resolution, adhesiveness, peeling characteristic, and plating formation, and are low in contamination with plating are obtained.

1 … 감광성 엘리먼트, 2 … 지지 필름, 3 … 감광성 수지 조성물, 4 … 보호 필름.One … Photosensitive element, 2... Support film, 3... Photosensitive resin composition, 4... Protective film.

Claims (11)

바인더 폴리머와, 에틸렌성 불포화 결합을 가지는 광중합성 화합물과, 하기 식 (1), (2), 또는 (3)으로 표시되는 구조를 가지는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 피라진 화합물을 함유하는 감광성 수지 조성물로서,
상기 바인더 폴리머가, (메타)아크릴산과, 스티렌 또는 스티렌 유도체를 공중합 성분으로서 포함하는, 감광성 수지 조성물.
[화학식 1]
Figure 112013060290263-pct00043

[식 (1) 중, R1, R2, R3, 및 R4는 각각 독립적으로 알킬기, 시클로 알킬기, 페닐기, 나프틸기 또는 복소환식기를 포함하는 1가의 유기기를 나타내고, R1과 R2, 또는, R3 와 R4는, 서로 결합하여 피라진 골격의 2개의 탄소 원자와 함께 환을 형성하고 있어도 된다.]
[화학식 2]
Figure 112013060290263-pct00044

[식 (2) 중, R5, R6, R7, 및 R8은 각각 독립적으로 알킬기, 시클로 알킬기, 페닐기, 나프틸기 또는 복소환식기를 포함하는 1가의 유기기를 나타내고, R5와 R6, 또는, R7과 R8은, 서로 결합하여 피라진 골격의 2개의 탄소 원자와 함께 환을 형성하고 있어도 된다. X 및 Y는, 각각 독립적으로 피라진 골격의 2개의 탄소와 함께 형성된 단환구조 또는 축합다환구조의 방향족환을 구성하는 원자군을 나타낸다.]
[화학식 3]
Figure 112013060290263-pct00045

[식 (3) 중, R9, R1O, R11, 및 R12는 각각 독립적으로 알킬기, 시클로 알킬기, 페닐기, 나프틸기 또는 복소환식기를 포함한 1가의 유기기를 나타내고, R9와 R10, 또는, R11과 R12는, 서로 결합하여 피라진 골격의 2개의 탄소 원자와 함께 환을 형성하고 있어도 된다. Z는, 피라진 골격의 4개의 탄소와 함께 형성된, 단환구조 혹은 축합다환구조의 방향족환, 또는, 복소환을 구성하는 원자군을 나타낸다.]
It contains a binder polymer, a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond, and at least one pyrazine compound selected from the group consisting of a compound having a structure represented by the following formula (1), (2), or (3): As a photosensitive resin composition to say,
The photosensitive resin composition in which the said binder polymer contains (meth) acrylic acid and styrene or a styrene derivative as a copolymerization component.
[Chemical Formula 1]
Figure 112013060290263-pct00043

[In formula (1), R <1> , R <2> , R <3> and R <4> respectively independently represent the monovalent organic group containing an alkyl group, a cycloalkyl group, a phenyl group, a naphthyl group, or a heterocyclic group, and R <1> and R <2> Alternatively, R 3 and R 4 may be bonded to each other to form a ring together with two carbon atoms of a pyrazine skeleton.]
(2)
Figure 112013060290263-pct00044

[In formula (2), R <5> , R <6> , R <7> and R <8> respectively independently represent the monovalent organic group containing an alkyl group, a cycloalkyl group, a phenyl group, a naphthyl group, or a heterocyclic group, and R <5> and R <6> Alternatively, R 7 and R 8 may be bonded to each other to form a ring together with two carbon atoms of a pyrazine skeleton. X and Y each independently represent an atomic group constituting an aromatic ring of a monocyclic structure or a condensed polycyclic structure formed with two carbons of a pyrazine skeleton.]
(3)
Figure 112013060290263-pct00045

[In formula (3), R <9> , R <10> , R <11> , and R <12> respectively independently represents the monovalent organic group containing an alkyl group, a cycloalkyl group, a phenyl group, a naphthyl group, or a heterocyclic group, and R <9> , R <10> , Alternatively, R 11 and R 12 may be bonded to each other to form a ring together with two carbon atoms of a pyrazine skeleton. Z represents an atomic group constituting an aromatic ring of a monocyclic structure or a condensed polycyclic structure, or a heterocycle, formed together with four carbons of a pyrazine skeleton.]
제1항에 있어서,
상기 피라진 화합물이, 상기 식 (1)로 표시되는 구조를 가지는 화합물인 감광성 수지 조성물.
The method of claim 1,
The photosensitive resin composition whose said pyrazine compound is a compound which has a structure represented by said Formula (1).
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 피라진 화합물의 극대 흡수 파장이, 350~410nm의 범위 내인 감광성 수지 조성물.
3. The method according to claim 1 or 2,
The photosensitive resin composition whose maximum absorption wavelength of the said pyrazine compound exists in the range of 350-410 nm.
삭제delete 제1항 또는 제2항에 있어서,
하기 식 (4)로 표시되는 화합물을 함유하는 감광성 수지 조성물.
[화학식 4]
Figure 112013060290263-pct00046

[식 (4) 중, X는 탄소 원자 또는 질소 원자를 나타내고, R13, R14 및 R15는 각각 독립적으로 할로겐 원자 또는 탄소수 1~5의 알킬기를 나타내고, R13, R14 및 R15 중 적어도 하나는 할로겐 원자를 나타낸다. R16은 수소 원자, 탄소수 1~5의 알킬기, 또는, 탄소수 1~5의 알콕시기를 나타내고, l은 0~4의 정수를 나타낸다. l이 2~4일 때, 복수의 R16는 동일해도 달라도 된다.]
3. The method according to claim 1 or 2,
The photosensitive resin composition containing the compound represented by following formula (4).
[Chemical Formula 4]
Figure 112013060290263-pct00046

[In Formula (4), X represents a carbon atom or a nitrogen atom, R <13> , R <14> and R <15> represent a halogen atom or a C1-C5 alkyl group each independently, and in R <13> , R <14> and R <15> At least one represents a halogen atom. R <16> represents a hydrogen atom, a C1-C5 alkyl group, or a C1-C5 alkoxy group, and l shows the integer of 0-4. When l is 2-4, some R <16> may be same or different.]
제1항 또는 제2항에 있어서,
수소 공여성 화합물을 더 함유하는 감광성 수지 조성물.
3. The method according to claim 1 or 2,
The photosensitive resin composition containing a hydrogen donor compound further.
제6항에 있어서,
상기 수소 공여성 화합물이, 하기 식 (5)로 표시되는 화합물을 함유하는 감광성 수지 조성물.
[화학식 5]
Figure 112013060290263-pct00047

[식 (5) 중, R17은 탄소수 1~6의 알킬기, 알콕시기 혹은 에스테르기, 수산기, 또는 할로겐 원자를 나타낸다. n은 0~5의 정수이며, n이 2~5일 때, 복수의 R17은 동일해도 달라도 된다.]
The method according to claim 6,
The photosensitive resin composition in which the said hydrogen donor compound contains the compound represented by following formula (5).
[Chemical Formula 5]
Figure 112013060290263-pct00047

[In formula (5), R <17> represents a C1-C6 alkyl group, an alkoxy group or ester group, a hydroxyl group, or a halogen atom. n is an integer of 0-5, and when n is 2-5, some R <17> may be same or different.]
지지체와, 그 지지체 상에 형성된 제1항 또는 제2항에 기재된 감광성 수지 조성물로 이루어지는 감광성 수지 조성물층을 구비하는 감광성 엘리먼트.The photosensitive element provided with a support body and the photosensitive resin composition layer which consists of the photosensitive resin composition of Claim 1 or 2 formed on this support body. 제1항에 기재된 감광성 수지 조성물로 이루어지는 감광성 수지 조성물층을 기판상에 적층하는 적층 공정과,
상기 감광성 수지 조성물층의 소정 부분에 활성 광선을 조사하는 노광 공정과,
상기 감광성 수지 조성물층의 상기 소정 부분 이외의 부분을 상기 기판 상으로부터 제거함으로써, 상기 기판 상에, 상기 감광성 수지 조성물의 경화물로 이루어지는 레지스트 패턴을 형성하는 현상 공정을 포함하는 레지스트 패턴의 형성 방법.
A lamination step of laminating the photosensitive resin composition layer made of the photosensitive resin composition according to claim 1 on a substrate;
An exposure step of irradiating active light to a predetermined portion of the photosensitive resin composition layer;
And a developing step of forming a resist pattern made of a cured product of the photosensitive resin composition on the substrate by removing portions other than the predetermined portion of the photosensitive resin composition layer from the substrate.
제9항에 있어서,
상기 활성 광선의 파장이 390~410nm인, 레지스트 패턴의 형성 방법.
10. The method of claim 9,
The wavelength of the said actinic light is 390-410 nm, The formation method of the resist pattern.
제9항 또는 제10항에 기재된 방법에 의해 레지스트 패턴이 형성된 기판을 에칭 또는 도금하는 공정을 포함하는, 프린트 배선판의 제조 방법.
The manufacturing method of the printed wiring board containing the process of etching or plating the board | substrate with which the resist pattern was formed by the method of Claim 9 or 10.
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