KR101347683B1 - 사파이어 웨이퍼 검사 장치 - Google Patents

사파이어 웨이퍼 검사 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101347683B1
KR101347683B1 KR1020120083780A KR20120083780A KR101347683B1 KR 101347683 B1 KR101347683 B1 KR 101347683B1 KR 1020120083780 A KR1020120083780 A KR 1020120083780A KR 20120083780 A KR20120083780 A KR 20120083780A KR 101347683 B1 KR101347683 B1 KR 101347683B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
inspection
module
sapphire wafer
sapphire
laser
Prior art date
Application number
KR1020120083780A
Other languages
English (en)
Inventor
문윤재
Original Assignee
(주)유텍시스템
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)유텍시스템 filed Critical (주)유텍시스템
Priority to KR1020120083780A priority Critical patent/KR101347683B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101347683B1 publication Critical patent/KR101347683B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/9501Semiconductor wafers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8835Adjustable illumination, e.g. software adjustable screen

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

본 발명은 사파이어 웨이퍼 검사 장치에 관한 것이고, 구체적으로 레이저 장치로부터 사파이어 웨이퍼에 광을 조사시켜 스캔 카메라로 영상을 획득하여 사파이어 웨이퍼의 표면의 스크래치, 미립자 또는 균열과 같은 표면 불량의 검사가 가능하도록 하는 사파이어 웨이퍼 검사 장치에 관한 것이다. 사파이어 검사 장치는 고정 프레임(F); 고정 프레임(F)에 의하여 지지되는 베이스(B); 베이스(B)의 위쪽 평면에 설치되고 사파이어 웨이퍼의 후면에 광을 조사시키는 후면 조명(124) 및 광학 카메라(125)로 이루어진 후면 검사 유닛(12); 후면 검사 유닛(12)을 경유하여 전달된 사파이어 웨이퍼가 장착되는 전면 검사 모듈(11); 전면 검사 모듈(11)의 한쪽에 설치되어 전면 검사 모듈(11)로 레이저 광을 조사시킬 수 있는 레이저 모듈(13); 및 전면 검사 모듈(11)에서 반사된 레이저 광으로부터 사파이어 웨이퍼의 영상을 획득하는 전면 카메라 모듈(14)을 포함하고, 상기 전면 검사 모듈(11)은 회전이 가능하고 레이저 모듈(13) 및 전면 카메라 모듈(14)은 상하 또는 좌우로 이동이 가능하다.

Description

사파이어 웨이퍼 검사 장치{Apparatus for Inspecting Sapphire Wafer}
본 발명은 사파이어 웨이퍼 검사 장치에 관한 것이고, 구체적으로 레이저 장치로부터 사파이어 웨이퍼에 광을 조사시켜 스캔 카메라로 영상을 획득하여 사파이어 웨이퍼의 표면의 스크래치, 미립자 또는 균열과 같은 표면 불량 여부의 검사가 가능하도록 하는 사파이어 웨이퍼 검사 장치에 관한 것이다.
사파이어 웨이퍼는 발광 다이오드(LED)의 제조에 사용되는 원천 소재로 질화물 또는 화합물 반도체의 증착 기판으로 사용된다. 사파이어는 단결정으로 성장되는 구조 결정의 방향이 결정되고 결정 방향에 따라 A-평면, C-평면 그리고 R-평면으로 추출되어 용도에 따라 기판이 사용된다. C-평면 웨이퍼가 가장 일반적이며 주로 청색과 백색 엘이디 그리고 레이저 다이오드에 적용되고, 일정한 유전 상수와 절연 특성이 요구되는 하이브리드 마이크로전자 분야의 경우 A-평면 웨이퍼가 이용되고 그리고 마이크로전자 분야에서 실리콘 적층을 위하여 R-평면 웨이퍼가 이용될 수 있다. 주로 4 인치 및 6 인치 크기의 웨이퍼가 양산되고 있다.
사파이어 웨이퍼의 특성은 엘이디에 영향을 미치게 되므로 품질 검사가 필수적으로 요구된다. 품질 검사는 사파이어 웨이퍼 전체에 대하여 이루어지는 전수 검사가 되어야 하고 이를 위하여 자동 검사가 이루어지는 것이 유리하다. 그러나 개발된 사파이어 웨이퍼의 자동 검사를 위한 장치는 정밀한 검사가 어렵고 사파이어 기판 전체에 대한 검사가 어렵다는 문제점을 가지고 있다. 검사 장치와 관련된 선행기술로 특허등록번호 제0863341호 '중복 영상을 이용한 에프피디 기판 및 반도체 웨이퍼 검사 시스템'이 있다. 상기 선행기술은 반도체 웨이퍼에 반사되는 반사광을 촬영하기 위한 카메라와; 상기 카메라와 대응되는 방향에 설치 구성되어 카메라의 촬영에 필요한 광량을 공급하기 위한 제1 조명 수단과; 상기 제1 조명 수단으로부터 공급되는 광을 일정 각도로 굴절시켜 평판 디스플레이 패널에 조사시키기 위한 반사 미러와; 검사 컨트롤러로 이루어진 검사 시스템에 대하여 개시하고 있다. 검사 장치와 관련된 다른 선행기술로 특허등록번호 제0866103호 '에프피디 기판 및 반도체 웨이퍼 검사를 위한 복합 광원 이물 검사 시스템'이 있다. 상기 선행기술은 카메라, 제1 조명 수단, 반사 미러 및 검사 컨트롤러로 이루어지고 그리고 평판 디스플레이 패널 또는 반도체 웨이퍼에 묻어 있거나 표면에 존재하는 파티클을 검사하는 검사 시스템에 대하여 개시하고 있다. 제시된 선행기술은 예를 들어 사파이어 웨이퍼의 검사를 위하여 적용되기 어렵다는 문제점을 가진다. 다른 한편으로 현재 자동 검사에 적용되고 있는 검사 장치는 검사를 위하여 많은 시간이 요구된다는 단점을 가진다.
본 발명은 선행기술이 가진 이와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로 아래와 같은 목적을 가진다.
본 발명의 목적은 사파이어 웨이퍼의 불량 여부를 레이저 및 광학 카메라를 이용하여 빠른 시간에 자동으로 검사할 수 있도록 하는 사파이어 웨이퍼 검사 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 하나의 장치에서 전면 검사 및 후면 검사가 동시에 이루어질 수 있도록 하는 사파이어 웨이퍼 검사 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 적절한 실시 형태에 따르면, 사파이어 검사 장치는 고정 프레임; 고정 프레임에 의하여 지지되는 베이스; 베이스의 위쪽 평면에 설치되고 사파이어 웨이퍼의 후면에 광을 조사시키는 후면 조명 및 광학 카메라로 이루어진 후면 검사 유닛; 후면 검사 유닛을 경유하여 전달된 사파이어 웨이퍼가 장착되는 전면 검사 모듈; 전면 검사 모듈의 한쪽에 설치되어 전면 검사 모듈로 레이저 광을 조사시킬 수 있는 레이저 모듈; 및 전면 검사 모듈에서 반사된 레이저 광으로부터 사파이어 웨이퍼의 영상을 획득하는 전면 카메라 모듈을 포함하고, 상기 전면 검사 스테이지는 회전이 가능하고 레이저 모듈 및 전면 카메라 모듈은 상하 또는 좌우로 이동이 가능하다.
본 발명의 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 베이스(B)는 석판 소재로 만들어지고 그리고 고정 프레임과 베이스 사이에 분리 수단이 설치된다.
본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 후면 조명 및 후면 카메라는 베이스를 따라 일정 길이로 형성된 검사 경로에 설치되고 그리고 사파이어 웨이퍼는 이송 트레이에 적재되어 검사 경로를 따라 이동된다.
본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 전면 검사 모듈은 높이 조절이 가능하다.
본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 전면 검사 모듈을 X-축을 따라 이동시키는 제1 이송 레일 및 Y-축을 따라 이동시키는 제2 이송 레일을 더 포함한다.
본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 전면 검사 모듈은 사파이어 웨이퍼를 고정시키는 진공 유닛을 더 포함한다.
본 발명에 따른 검사 장치는 사파이어 웨이퍼에 발생할 수 있는 스크래치, 가장자리 흠집, 이물질의 부착 또는 균열과 같은 모든 불량의 검사가 자동으로 이루어질 수 있도록 한다는 이점을 가진다.
도 1은 본 발명에 따른 사파이어 검사 장치의 실시 예를 도시한 것이다.
도 2a 및 도 2b는 본 발명에 따른 사파이어 검사 장치에서 전면 검사 모듈, 레이저 모듈 및 광학 카메라의 모듈의 실시 예를 도시한 것이다.
도 3은 본 발명에 따른 사파이어 검사 장치에 적용될 수 있는 이송 트레이의 실시 예를 도시한 것이다.
아래에서 본 발명은 첨부된 도면에 제시된 실시 예를 참조하여 상세하게 설명이 되지만 실시 예는 본 발명의 명확한 이해를 위한 것으로 본 발명은 이에 제한되지 않는다.
도 1은 본 발명에 따른 사파이어 검사 장치의 실시 예를 도시한 것이다.
도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 검사 장치는 고정 프레임(F); 고정 프레임(F)에 의하여 지지되는 베이스(B); 베이스(B)의 위쪽 평면에 설치되고 사파이어 웨이퍼의 후면에 광을 조사시키는 후면 조명(125) 및 후면 카메라(124)로 이루어진 후면 검사 유닛(12); 후면 검사 유닛(12)을 경유하여 전달된 사파이어 웨이퍼(W)가 장착되는 전면 검사 모듈(11); 전면 검사 모듈(11)의 한쪽에 설치되어 전면 검사 모듈(11)로 레이저 광을 조사시킬 수 있는 레이저 모듈(13); 및 전면 검사 모듈(11)에서 반사된 레이저 광으로부터 사파이어 웨이퍼의 영상을 획득하는 전면 카메라 모듈(14)을 포함하고, 상기 전면 검사 모듈(11)은 회전이 가능하고 레이저 모듈(13) 및 전면 카메라 모듈(14)은 상하 또는 좌우로 이동이 가능하다.
사파이어 웨이퍼는 엘이디 기판으로 사용될 수 있는 기판을 의미하고 일정 두께를 가지면서 예를 들어 4 인치 또는 6 인치와 같이 일정 크기의 반지름을 가진 것을 의미하지만 이에 제한되지 않는다. 전면 검사 모듈(11), 이송 트레이(121) 및 검사 경로(123)의 크기를 조절하는 것에 의하여 임의의 두께 및 직경을 가지는 사파이어 웨이퍼(W)가 본 발명에 따른 검사 장치에 의하여 검사될 수 있다.
고정 프레임(F)은 일정 높이로 검사 장치를 지지할 수 있는 임의의 구조를 가질 수 있다. 본 발명에 따른 검사 장치는 암실 내부에 설치되고 고정 프레임(F)은 암실 내부에 설치되거나 필요에 따라 이동이 가능한 적절한 구조를 가질 수 있다. 예를 들어 고정 프레임(F)에 이동 바퀴가 설치될 수 있다.
베이스(B)가 고정 프레임(F)에 의하여 지지될 수 있다. 베이스(B)는 검사 장치가 설치되는 기판의 기능을 할 수 있고 요구되는 평탄도, 진동 흡수 기능 및 외부 환경 조건에 대한 저항성을 가져야 한다. 베이스(B)는 예를 들어 평탄도가 5 ㎛ 이하가 되는 석판으로 만들어질 수 있다. 베이스(B)가 석판으로 만들어지는 것은 온도 또는 압력과 같은 외부 조건에 따라 소재의 성질이 변하지 않는다는 장점을 가진다.
베이스(B)는 분리 유닛(18)을 이용하여 고정 프레임(F)에 고정될 수 있다. 분리 유닛(18)은 높이 조절이 가능한 구조를 가질 있다. 도 1에 도시된 것처럼, 고정 프레임(B)은 네 개의 지지 부재(M)를 가질 수 있고 분리 유닛(18)은 각각의 지지 부재(M)의 끝 부분에 설치될 수 있다. 분리 유닛(18)은 높이 조절이 가능하도록 만들어질 수 있다. 예를 들어 분리 유닛(18)은 위쪽 회전체와 위쪽 회전체에 나사 결합이 되는 아래쪽 고정체로 이루어질 수 있고 위쪽 회전체의 회전에 의하여 높이가 조절될 수 있다. 분리 유닛(18)의 높이 조절은 베이스(B)의 경사 조절을 위하여 사용될 수 있다.
베이스(B) 위쪽 평면에 후면 검사 유닛(12)이 설치될 수 있다. 후면 검사 유닛(12)은 이송 트레이(121)의 이동을 위한 LM 가이드(122), LM 가이드(122)를 따라 형성된 검사 경로(123) 및 검사 경로(123)에 배치된 적어도 하나의 후면 조명(124) 및 적어도 하나의 광학 카메라(125)를 포함할 수 있다.
이송 트레이(121)는 카세트 스테이지(도시되지 않음)에 저장된 사파이어 웨이퍼를 정해진 순서에 따라 후면 검사 유닛(12) 및 전면 검사 모듈(11)로 전달할 수 있다. 이송 트레이(121)는 카세트 스테이지로부터 전달된 사파이어 웨이퍼를 전면 검사 모듈로 이송시키기 위하여 예를 들어 모터와 같은 구동 장치에 의하여 LM 가이드(122)를 따라 이동될 수 있다. 이송 트레이(121)에 적재된 사파이어 웨이퍼는 검사 경로(123)를 따라 이동될 수 있고 검사 경로(123)에 적어도 하나의 후면 조명(124) 및 광학 카메라(125)가 설치될 수 있다. 후면 조명(123)은 예를 들어 할로겐 광(halogen light)을 조사할 수 있는 조명 시설이 될 수 있고 광학 카메라(125)는 라인-스캔 카메라(line-scan camera)가 될 수 있다. 도 1에 도시된 것처럼, 검사 경로(123)를 따라 다수 개의 후면 조명(124) 또는 라인 스캔 카메라(125)가 설치될 수 있다. 후면 검사 유닛(12)은 사파이어 웨이퍼 후면의 흑점, 백점 또는 얼룩과 같은 것을 발견하기 위한 것으로 사파이어 웨이퍼의 작동에 직접적인 영향을 미치지 않는 흠결을 발견하기 위하여 행해질 수 있다.
전면 검사 모듈(11)에 사파이어 웨이퍼가 로딩이 되면 전면 검사가 행해질 수 있다. 전면 검사 모듈(11)은 제1 이동 레일을 따라 X-축 방향을 따라 이동되거나 또는 제2 이동 레일을 따라 Y-축 방향을 따라 이동될 수 있다.
전면 검사 모듈(11)은 X-축 방향을 따라 이동이 가능하도록 설치되는 이동 판(111), 이동 판(111)의 위쪽에 설치되는 고정 몸체(112) 및 고정 몸체(112)의 위쪽에 모터와 같은 구동 장치에 의하여 회전이 가능하도록 설치되는 진공 유닛(113)으로 이루어질 수 있다. 이동 판(111)은 이 분야에서 공지된 임의의 형상이 될 수 있고 제1 이동 레일을 따라 좌우로 이동이 될 수 있다. 고정 몸체(112)는 원통 형상으로 예를 들어 모터와 같은 구동 수단에 의하여 이동 판(111)에 회전이 가능하도록 고정될 수 있다. 그리고 진공 유닛(113)은 공기 흡착 방식 또는 진공 방식으로 사파이어 웨이퍼를 전면 검사 모듈(11)에 고정시키는 기능을 한다. 공기 흡착 방식 또는 진공 방식이란 사파이어 웨이퍼의 아래쪽 부분의 공기를 고정 몸체(112)의 아래쪽으로 배출시키는 방식으로 사파이어 웨이퍼를 고정 몸체(11)에 고정시키는 방법을 말한다. 예를 들어 사파이어 웨이퍼가 진공 유닛(113)에 고정되는 경우 공기 펌프를 작동시켜 사파이어 웨이퍼의 아래쪽 부분의 공기를 배출시킬 수 있다. 다양한 방법으로 사파이어 웨이퍼가 진공 유닛(113)에 고정이 될 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
전면 검사 스테이지(11)의 양쪽에 레이저 광을 조사하는 레이저 모듈(13) 및 레이저 모듈(13)로부터 조사되어 사파이어 웨이퍼의 전면에서 반사되어 나오는 빛의 입사되는 전면 카메라 모듈(14)이 설치될 수 있다. 레이저 모듈(13)은 좌우 및 상하로 이동이 가능하도록 설치되면서 이와 동시에 사파이어 웨이퍼에 입사되는 레이저 광의 입사각이 조절되도록 설치될 수 있다 그리고 전면 카메라 모듈(14)은 좌우 및 상하로 이동이 가능하도록 설치되고 그리고 사파이어 웨이퍼에서 반사된 레이저 광의 유입량을 조절할 수 있도록 설치될 수 있다. 이를 위하여 전면 카메라 모듈(14)은 경사각의 조절이 가능하면서 이와 동시에 유입되는 레이저 광의 양을 조절하기 위한 조리개를 가질 수 있다. 다른 한편으로 전면 카메라 모듈 (14)의 앞쪽에 파장 필터 및 색 필터가 설치될 수 있다. 파장 필터는 일정 범위의 파장을 통과시키는 필터에 해당하고 색 필터는 특정 색상의 색을 통과시키는 필터에 해당한다. 일반적으로 레이저에서 조사되는 파장 범위는 정해지고 그리고 파장 또는 주파수에 따라 색이 결정된다. 그러므로 파장 필터 또는 색 필터는 레이저 모듈(13)에서 조사되는 레이저 광의 특성을 고려하여 결정될 수 있다.
전면 카메라 모듈(14)에서 사파이어 웨이퍼의 영상이 얻어지고 얻어진 영상은 예를 들어 영상 해석 프로그램을 가진 컴퓨터와 같은 장치로 전송될 수 있다. 그리고 얻어진 영상으로부터 사파이어 웨이퍼의 불량 여부가 판정될 수 있다.
본 발명에 따르면 검사 장치에 외부 관찰 모듈(15)이 설치될 수 있다. 외부 관찰 모듈(15)은 외부에서 장치의 작동 상황을 육안으로 관찰하기 위하여 설치될 수 있다. 본 발명에 따른 검사 장치는 선명한 영상의 획득을 위하여 암실에 설치될 수 있다. 그러므로 외부에서 장치의 작동 상태가 관찰되기 어렵다. 이와 같은 문제점을 해결하기 위하여 외부 관찰 모듈(15)이 설치되어 검사 장치의 작동 상태가 관찰될 수 있도록 할 수 있다. 다양한 형태의 외부 관찰 모듈(15)이 설치될 수 있다. 외부 관찰 모듈(15)은 예를 들어 적외선 모듈이 되거나 또는 레이저 광의 파장 범위를 벗어나는 광을 조사시키는 조명 장치가 될 수 있다. 다양한 구조를 가지는 외부 관찰 모듈(15)이 설치될 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
아래에서 전면 검사 모듈에 대하여 설명된다.
도 2a 및 도 2b는 본 발명에 따른 사파이어 검사 장치에서 전면 검사 모듈, 레이저 모듈 및 전면 카메라 모듈의 실시 예를 도시한 것이다.
도 2a 및 도 2b를 참조하면, 전면 검사 모듈(11)에 검사 대상이 되는 사파이어 웨이퍼(W)가 고정될 수 있고 사파이어 웨이퍼(W)의 표면에 레이저 광의 조사가 가능한 위치에 레이저 모듈(13)이 설치될 수 있다. 그리고 사파이어 웨이퍼(W)의 표면으로부터 반사된 빛이 집광될 수 있는 위치에 전면 카메라 모듈(14)이 설치될 수 있다.
전면 검사 모듈(11)은 좌우 또는 전후로 이동이 가능하도록 이동 레일에 결합될 수 있는 이동판(111), 이동판(111)에 상하로 이동이 가능하면서 내부에 진공이 형성될 수 있는 공간 또는 진공 형성을 위한 장치가 수용될 수 있는 고정 몸체(112) 및 사파이어 웨이퍼(W)가 고정되는 진공 유닛(113)을 포함할 수 있다. 고정 몸체(112)는 속이 빈 원통 형상이 될 수 있고 위쪽 표면에 트레이 형상의 진공 유닛(113)이 설치될 수 있다. 사파이어 웨이퍼(W)는 진공 유닛(113)의 표면에 뒤쪽 면이 접하도록 위치될 수 있다. 도 2b에 도시된 것처럼, 진공 유닛(113)은 화살표로 표시된 방향 또는 반대 방향으로 회전될 수 있고 회전각은 임의로 조절될 수 있다. 진공 유닛(113)의 회전은 고정 몸체(112)의 회전 또는 진공 유닛(113) 자체의 회전에 의하여 가능하도록 만들어질 수 있다. 다른 한편으로 고정 몸체(112)는 상하 이동이 가능하도록 만들어질 수 있다. 이와 같은 전면 카메라 모듈(14)이 예를 들어 베이스 또는 이동판과 같은 기준 면에 대하여 높이 조절이 가능하도록 만드는 것은 사파이어 웨이퍼의 표면에 존재하는 다양한 형태의 흠결에 대한 선명한 영상을 얻기 위한 것이다. 그리고 진공 유닛(113)이 회전 가능하도록 만드는 것은 다양한 각도에 따른 사파이어 웨이퍼(W)의 표면 영상을 얻을 필요가 있기 때문이다.
레이저 모듈(13)은 사파이어 웨이퍼(W)의 표면에 서로 다른 각으로 레이저 광을 조사할 수 있도록 설치될 수 있다. 그리고 전면 카메라 모듈(14)은 사파이어 웨이퍼(W)로부터 반사되는 광을 다양한 각도에서 수집하여 다양한 각도에서 영상을 획득할 수 있도록 설치될 수 있다. 달리 말하면 레이저 모듈(13)은 상하 또는 좌우로 이동되면서 이와 동시에 사파이어 웨이퍼(W)에 대하여 다양한 입사각을 가지는 레이저 광을 조사할 수 있도록 설치될 수 있다. 그리고 전면 카메라 모듈(14)은 상하 좌우로 이동되면서 이와 동시에 사파이어 웨이퍼(W)로부터 반사되는 레이저 광을 다양한 각에서 수집할 수 있도록 설치될 수 있다.
레이저 모듈(13)과 전면 카메라 모듈(14)은 각각 고정 포스트(P), 고정 포스트(P)의 상하로 이동이 가능하도록 설치되는 높이 조절 부재(21a, 21b), 고정 포스트(P)에 대하여 회전이 가능하도록 설치되는 경사 조절 부재(22a, 22b) 및 경사 조절 부재(22a, 22b)의 회전을 제어하는 회전 장치(23a, 23b)를 포함할 수 있다.
고정 포스트(P)는 위에서 설명된 조건을 충족하기에 적절한 위치에 설치될 수 있고 높이 조절 부재(21a, 21b)는 상하 이동이 가능하도록 설치될 수 있다. 고정 포스트(P)는 베이스에 고정되거나 다른 적절한 프레임에 고정될 수 있다.
높이 조절 부재(21a, 21b)는 고정 포스트(P)에 대하여 수직이 되는 방향으로 또는 베이스의 평면과 평행한 방향으로 연장되는 막대 형상을 가질 수 있다. 높이 조절 부재(21a, 21b)는 포스트(P)를 따라서 상하로 이동이 가능하도록 설치되면서 이와 동시에 레이저 장치(L) 또는 카메라 장치(C)가 좌우로 이동될 수 있도록 설치될 수 있다. 도 2a 및 도 2b에 도시된 것처럼 높이 조절 부재(21a, 21b)의 길이 방향을 따라 고정 돌기를 형성하는 것에 의하여 이동된 위치에서 레이저 모듈(13) 또는 카메라 모듈(14)이 정해진 위치에 고정될 수 있다.
높이 조절 부재(21a, 21b)에 수직이 되는 방향으로 연장되는 경사 조절 부재(22a, 22b)가 회전 장치(23a, 23b)에 고정될 수 있다. 그리고 레이저 장치(L) 및 카메라 장치(C)는 경사 조절 부재(22a, 22b)에 결합될 수 있다. 회전 장치(23a, 23b)에서 경사 조절 부재(22a, 22b)의 회전이 제어될 수 있고 이에 따라 레이저 장치(L) 및 카메라 장치(C)의 방향이 조절될 수 있다.
레이저 장치(L)에서 조사되는 레이저 광(LT)은 사파이어 웨이퍼(W)의 전면에 입사하여 반사되고 반사 광(LR)은 카메라 장치(C)로 유입될 수 있다. 레이저 광(LT) 및 반사 광(LR)의 각은 회전 장치(23a, 23b)의 제어에 따른 경사 조절 부재(22a, 22b)의 회전에 의하여 조절될 수 있다.
경사 조절 부재(22a, 22b)가 연장되는 반대 방향으로 높이 고정 장치(211a, 211b)가 연장될 수 있고 높이 고정 장치(211a, 211b)에 의하여 높이 조절 부재(21a, 21b)가 포스트(P)의 정해진 높이에 고정될 수 있다.
반사된 레이저 광(LR)을 통하여 획득된 영상은 전송 커넥터(27)를 통하여 컴퓨터로 전송되어 사파이어 웨이퍼의 불량 여부가 검사될 수 있다.
다양한 구조를 가지는 높이 조절 및 경사 조절을 위한 장치가 본 발명에 따른 검사 장치에 적용될 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
아래에서 본 발명에 따른 검사 장치에 적용될 수 있는 이송 트레이에 대하여 설명된다.
도 3은 본 발명에 따른 사파이어 검사 장치에 적용될 수 있는 이송 트레이의 실시 예를 도시한 것이다.
도 3을 참조하면, 이송 트레이(121)는 이송 몸체(34) 및 수용 홀(35)로 이루어질 수 있고 검사 경로를 따라 이동될 수 있다. 이송 몸체(34)는 예를 들어 LM 가이드와 같은 장치에 고정되어 이동될 수 있는 구조를 가질 수 있고 수용 홀(35)은 사파이어 웨이퍼가 적재될 수 있도록 원형의 형상을 가질 수 있다.
위에서 설명을 한 것처럼, 후면 조명(125) 및 광학 카메라(124)가 검사 경로에 설치될 수 있다. 후면 조명(125) 및 광학 카메라(124)는 검사 경로에 고정되는 U자형 고정 받침쇠(31)에 설치될 수 있다. 도 3에 도시된 것처럼, 후면 조명(125) 및 광학 카메라(124)는 각각 고정 받침쇠(31)에 높이 승강 장치(32) 및 경사 제어 장치(33)를 이용하여 결합될 수 있다. 높이 승강 장치(32)에 의하여 후면 조명(125)이 상하로 조절되어 정해진 위치에 고정될 수 있고 그리고 경사 제어 장치(33)에 의하여 후면 조명(125)의 조사 각이 조절될 수 있다.
이송 트레이(121)에 사파이어 웨이퍼가 적재되면 정해진 검사 경로를 따라 이동될 수 있다. 검사 경로에 설치된 후명 조명(125)에서 조사된 광은 사파이어 웨이퍼의 후면에 입사되어 반사될 수 있다. 그리고 반사된 광은 광학 카메라(124)에서 수집되어 컴퓨터 장치로 전송되어 영상으로 만들어질 수 있다. 만약 검사 경로에서 사파이어 웨이퍼의 위치가 적절하지 않다면 이송 몸체(34)를 전후로 이동시켜 후면 조명(125)의 조사 위치를 조절할 수 있다. 검사 경로를 따라 다수 개의 광학 카메라(124) 또는 후면 조명(125)이 설치될 수 있다.
다양한 구조를 가지는 이송 트레이(121), 후면 조명(124) 및 광학 카메라(125)가 설치될 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
본 발명에 따른 검사 장치는 사파이어 웨이퍼에 발생할 수 있는 스크래치, 가장자리 흠집, 이물질의 부착 또는 균열과 같은 모든 불량의 검사가 자동으로 이루어질 수 있도록 한다는 이점을 가진다.
위에서 본 발명은 제시된 실시 예를 참조하여 상세하게 설명이 되었지만 이 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 제시된 실시 예를 참조하여 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 다양한 변형 및 수정 발명을 만들 수 있을 것이다. 본 발명은 이와 같은 변형 및 수정 발명에 의하여 제한되지 않으며 다만 아래에 첨부된 청구범위에 의하여 제한된다.
11: 전면 검사 모듈 12: 후면 검사 유닛
13: 레이저 모듈 14: 카메라 모듈
15: 외부 관찰 모듈
18: 분리 유닛
21a, 21b: 높이 조절 부재 22a, 22b: 경사 조절 부재
23a, 23b: 회전 장치 27: 전송 커넥터
31: 고정 받침쇠 32: 높이 승강 장치
33: 경사 제어 장치 34: 이송 몸체
35: 수용 홀
111: 이동 판 112: 고정 몸체
113: 진공 유닛
121: 이송 트레이 122: LM 가이드
123: 검사 경로 124: 후면 조명
125: 광학 카메라 211a, 211b: 높이 고정 장치
F: 고정 프레임 B: 베이스
M: 지지 부재 P: 포스트
C: 카메라 장치 L: 레이저 장치

Claims (6)

  1. 고정 프레임(F);
    고정 프레임(F)에 의하여 지지되는 베이스(B);
    베이스(B)의 위쪽 평면에 설치되고 사파이어 웨이퍼의 후면에 광을 조사시키는 후면 조명(124) 및 광학 카메라(125)로 이루어진 후면 검사 유닛(12);
    후면 검사 유닛을 경유하여 전달된 사파이어 웨이퍼(W)가 장착되는 전면 검사 모듈(11);
    전면 검사 모듈의 한쪽에 설치되어 전면 검사 모듈(11)로 레이저 광을 조사시킬 수 있는 레이저 모듈(13); 및
    전면 검사 모듈(11)에서 반사된 레이저 광으로부터 사파이어 웨이퍼(W)의 영상을 획득하는 전면 카메라 모듈(14)을 포함하고,
    상기 전면 검사 모듈(11)은 회전이 가능하고 레이저 모듈(13) 및 전면 카메라 모듈(14)은 상하 또는 좌우로 이동이 가능한 것을 특징으로 하는 사파이어 웨이퍼 검사 장치.
  2. 청구항 1에 있어서, 베이스(B)는 석판 소재로 만들어지고 그리고 고정 프레임(F)과 베이스(B) 사이에 분리 유닛(18)이 설치되는 것을 특징으로 하는 사파이어 웨이퍼 검사 장치.
  3. 청구항 1에 있어서, 후면 조명(125) 및 후면 카메라(124)는 베이스(B)를 따라 일정 길이로 형성된 검사 경로(123)에 설치되고 그리고 사파이어 웨이퍼는 이송 트레이(121)에 적재되어 검사 경로(123)를 따라 이동되는 것을 특징으로 하는 사파이어 웨이퍼 검사 장치.
  4. 청구항 1에 있어서, 전면 검사 모듈(11)은 높이 조절이 가능한 것을 특징으로 하는 사파이어 웨이퍼 검사 장치.
  5. 청구항 1에 있어서, 전면 검사 모듈(11)을 X-축을 따라 이동시키는 제1 이송 레일 및 Y-축을 따라 이동시키는 제2 이송 레일를 더 포함하는 사파이어 검사 장치.








  6. 삭제
KR1020120083780A 2012-07-31 2012-07-31 사파이어 웨이퍼 검사 장치 KR101347683B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120083780A KR101347683B1 (ko) 2012-07-31 2012-07-31 사파이어 웨이퍼 검사 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120083780A KR101347683B1 (ko) 2012-07-31 2012-07-31 사파이어 웨이퍼 검사 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101347683B1 true KR101347683B1 (ko) 2014-01-03

Family

ID=50144539

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120083780A KR101347683B1 (ko) 2012-07-31 2012-07-31 사파이어 웨이퍼 검사 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101347683B1 (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108520861A (zh) * 2018-06-04 2018-09-11 上海卓晶半导体科技有限公司 一种晶圆及蓝宝石基片切边检测装置
CN109001228A (zh) * 2018-09-18 2018-12-14 华侨大学 一种带背光照明的衬底缺陷检测用回转工作台
CN109494148A (zh) * 2018-12-28 2019-03-19 苏州邱伦智能科技有限公司 一种晶圆刮边机及其使用方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040043741A (ko) * 2002-11-19 2004-05-27 삼성전자주식회사 웨이퍼 검사 장치
JP2007019237A (ja) 2005-07-07 2007-01-25 Tokyo Seimitsu Co Ltd 両面発光素子用プロービング装置
US20110025838A1 (en) 2009-07-31 2011-02-03 Sumco Corporation Method and apparatus for inspecting defects in wafer
KR20110087069A (ko) * 2010-01-25 2011-08-02 주식회사 엘지실트론 웨이퍼의 양면 동시 검사가 가능한 웨이퍼 표면 검사 장치

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040043741A (ko) * 2002-11-19 2004-05-27 삼성전자주식회사 웨이퍼 검사 장치
JP2007019237A (ja) 2005-07-07 2007-01-25 Tokyo Seimitsu Co Ltd 両面発光素子用プロービング装置
US20110025838A1 (en) 2009-07-31 2011-02-03 Sumco Corporation Method and apparatus for inspecting defects in wafer
KR20110087069A (ko) * 2010-01-25 2011-08-02 주식회사 엘지실트론 웨이퍼의 양면 동시 검사가 가능한 웨이퍼 표면 검사 장치

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108520861A (zh) * 2018-06-04 2018-09-11 上海卓晶半导体科技有限公司 一种晶圆及蓝宝石基片切边检测装置
CN109001228A (zh) * 2018-09-18 2018-12-14 华侨大学 一种带背光照明的衬底缺陷检测用回转工作台
CN109001228B (zh) * 2018-09-18 2024-02-27 华侨大学 一种带背光照明的衬底缺陷检测用回转工作台
CN109494148A (zh) * 2018-12-28 2019-03-19 苏州邱伦智能科技有限公司 一种晶圆刮边机及其使用方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI442016B (zh) A light source for illumination and a pattern inspection device using it
WO2008110061A1 (fr) Système d'auto-test de substrat plan et procédé afférent
KR101120226B1 (ko) 표면 검사 장치
KR101442792B1 (ko) 사파이어 웨이퍼의 검사 방법
KR101514409B1 (ko) 비전검사장치
CN110073203B (zh) 检查透明基材上的缺陷的方法和设备
KR101917131B1 (ko) 광학 검사 장치
TWI746289B (zh) 用於至少對半導體裝置之側表面檢測之設備、方法及電腦程式產品
US20130016206A1 (en) Device and method for edge- and surface inspeciton
JP2011192785A (ja) 多結晶シリコン薄膜検査方法及びその装置
KR101347683B1 (ko) 사파이어 웨이퍼 검사 장치
KR20200074928A (ko) 웨이퍼의 에지 영역 검사 시스템
JP2012002648A (ja) ウエハ欠陥検査装置
KR101347689B1 (ko) 사파이어 웨이퍼의 검사를 위한 장치 구조
KR101197709B1 (ko) 기판검사장치
JP7274312B2 (ja) 自動光学検査のための光学系
KR20150001706A (ko) 사파이어 웨이퍼의 검사 및 분류를 위한 시스템
KR101197708B1 (ko) 기판검사장치
KR101157081B1 (ko) 조명장치와 이를 포함하는 기판 검사 장치
KR20140028834A (ko) 사파이어 웨이퍼의 검사 및 분류를 위한 시스템
JP4135283B2 (ja) 検査装置
KR20180050621A (ko) 사파이어 웨이퍼의 검사 및 분류를 위한 시스템
JP2000028535A (ja) 欠陥検査装置
KR20190114065A (ko) 자동 초점 조절 모듈 및 이를 구비한 표면 결함 검출 장치
JP2015102364A (ja) 外観検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20161226

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20171219

Year of fee payment: 5

LAPS Lapse due to unpaid annual fee