KR101314101B1 - 3차원 계측 시스템 및 그 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 3차원 계측 시스템 및 그 방법에 따르면, 격자 문양 또는 체스판형의 격자 문양을 이용하여 패턴을 투영하고, 조도차 계측 방식에 의해 보간하는 것에 의해 보다 정밀도가 높은 3차원 계측 시스템 및 그 방법을 제공할 수 있다.
본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 3차원 계측 시스템은, 일정 패턴을 이용하여 촬상된 패턴 영상 정보로부터 3차원 좌표값을 산출하는 좌표값 산출부; 및 각기 다른 N개 위치의 조명 장치를 이용하여 촬상된 N개의 조도 영상 정보로부터 제 1 지점의 깊이값을 산출하는 깊이값 산출부;를 포함한다.

Description

3차원 계측 시스템 및 그 방법{SYSTEM FOR THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT AND METHOD THEREFOR}
본 발명은 3차원 계측 시스템 및 그 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 일정 패턴을 대상 물체에 투사하여 촬영된 영상 및 다수의 조명 장치에서 얻은 영상 정보를 이용하는 3차원 계측 시스템 및 그 방법에 관한 것이다.
대상 물체의 3차원 좌표를 비접촉식으로 정확히 계측하는 것은 3차원 데이터를 필요로 하는 모든 분야에서 절실하게 요구되어왔고, 이를 위하여 스테레오 정합 방식 및 패턴 투영 방식 등이 주로 제안되어 왔다.
스테레오 정합 방식은 시선을 달리한 2대의 카메라로 촬영하여 얻어진 대상 물체의 영상에서 동일점의 위상차로 3차원 좌표를 계산하는 방식으로, 영상 간 동일점 탐색이 중요한 관건이다. 또한, 2대의 카메라를 이용한 스테레오 정합 방식은 대상 물체가 움직이는 동영상에서도 계측이 가능하며 대상 물체의 표면이 연속적이거나 가려진 면을 포함하고 있어도 계측이 가능하다. 하지만, 2대의 카메라로 찍은 영상들간의 동일점 탐색 결과가 안정적이지 못하며, 특히 대상물이 특징적인 패턴이나 재질, 무늬를 지니지 않은 경우는 정합점들을 찾지 못하는 것이 문제로 되어 있다.
패턴 투영 방식은 일정 패턴을 대상 물체에 투영하여 패턴의 왜곡도를 측정하는 방식이다. 패턴 투영 방식은 결과의 신뢰성이 높으나, 선 사이의 간격이 계측의 정밀도를 결정하게 되어 정밀도가 떨어지며 불연속 표면의 경우 안정적인 결과를 내지 못한다.
본 발명은 전술한 바와 같은 기술적 과제를 해결하는 데 목적이 있는 발명으로서, 격자 문양 또는 체스판형의 격자 문양을 이용하여 패턴을 투영하고, 조도차 계측 방식에 의해 보간하는 것에 의해 보다 정밀도가 높은 3차원 계측 시스템 및 그 방법을 제공하는 것에 그 목적이 있다.
본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 3차원 계측 시스템은, 일정 패턴을 이용하여 촬상된 패턴 영상 정보로부터 3차원 좌표값을 산출하는 좌표값 산출부; 및 각기 다른 N개 위치의 조명 장치를 이용하여 촬상된 N개의 조도 영상 정보로부터 제 1 지점의 깊이값을 산출하는 깊이값 산출부;를 포함한다.
구체적으로, 상기 일정 패턴은, 선으로 이루어진 격자 문양 또는 격자 문양의 격자의 내부가 교대로 채워진 체스판형 격자 문양인 것을 특징으로 한다. 또한, 상기 좌표값 산출부는, 상기 일정 패턴을 이루는 격자셀의 경계선을 추출하는 선 추출 유닛; 및 상기 경계선의 왜곡으로부터, 상기 경계선의 깊이값을 산출하는 제 1 연산 유닛;을 포함하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게는 상기 깊이값 산출부는, M개의 기점 각각에 대해, 상기 N개의 조도 영상 정보에 의한 조도차를 이용하여, 상기 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀 내부의 상기 제 1 지점까지의 표면 기울기값을 산출하고 적분하는 것에 의해, 상기 제 1 지점의 예비적 깊이값을 산출하는 제 2 연산 유닛;을 포함하는 것을 특징으로 한다. 또한, 상기 깊이값 산출부는, 상기 제 2 연산 유닛으로부터 산출된 M개의 상기 예비적 깊이값을 평균하여, 상기 제 1 지점의 최종 깊이값을 산출하는 제 3 연산 유닛;을 더 포함한다. 상기 M개의 기점은, 상기 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀의 경계선을 이루는 임의의 지점인 것을 특징으로 한다. 상기 M개의 기점은, 상기 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀의 꼭지점인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 3차원 계측 방법은, 일정 패턴을 이용하여 촬상된 패턴 영상 정보로부터 3차원 좌표값을 산출하는 좌표값 산출 단계; 및 각기 다른 N개 위치의 조명 장치를 이용하여 촬상된 N개의 조도 영상 정보로부터 제 1 지점의 깊이값을 산출하는 깊이값 산출 단계;를 포함한다. 또한, 상기 일정 패턴은, 선으로 이루어진 격자 문양 또는 격자 문양의 격자의 내부가 교대로 채워진 체스판형 격자 문양이 바람직하다.
상기 좌표값 산출 단계는, 상기 일정 패턴을 이루는 격자의 경계선을 추출하는 단계; 및 상기 경계선의 왜곡으로부터, 상기 경계선의 깊이값을 산출하는 단계;를 포함한다. 아울러, 상기 깊이값 산출 단계는, M개의 기점 각각에 대해, 상기 N개의 조도 영상 정보에 의한 조도차를 이용하여, 상기 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀 내부의 제 1 지점까지의 표면 기울기값을 산출하고 적분하는 것에 의해, 상기 제 1 지점의 예비적 깊이값을 산출하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 깊이값 산출 단계는, M개의 상기 예비적 깊이값을 평균하여, 상기 제 1 지점의 최종 깊이값을 산출하는 단계;를 더 포함하는 것이 바람직하다.
본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 3차원 계측 시스템 및 그 방법에 따르면, 격자 문양 또는 체스판형의 격자 문양을 이용하여 패턴을 투영하고, 조도차 계측 방식에 의해 보간하는 것에 의해 보다 정밀도가 높은 3차원 계측 시스템 및 그 방법을 제공할 수 있다.
도 1은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 3차원 계측 시스템의 구성도.
도 2a 및 도 2b는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 3차원 계측 시스템에 의한 3차원 계측 방법의 설명도.
도 3a 및 도 3b는 각각 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 격자 문양 또는 체스판형 격자 문양 패턴의 예시도.
도 4는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 연산 장치의 구성도.
도 5는 대상 물체의 굴곡 등에 의해 왜곡되게 얻어진 체스판형 격자 문양의 패턴과 경계선의 추출에 대한 설명도.
도 6은 4개의 기점으로부터 제 1 지점의 예비적 깊이값을 평균하여, 제 1 지점의 최종 깊이값을 산출하는 것에 대한 설명도.
도 7은 제 2 연산 유닛에 의한 하나의 격자셀 내부의 제 1 지점까지의 표면 기울기값을 산출하고 적분하는 순서의 예시도.
도 8은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 3차원 계측 방법의 흐름도.
이하, 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 일실시예에 따른 3차원 계측 시스템 및 그 방법에 대해 상세히 설명하기로 한다.
본 발명의 하기의 실시예는 본 발명을 구체화하기 위한 것일 뿐 본 발명의 권리 범위를 제한하거나 한정하는 것이 아님은 물론이다. 본 발명의 상세한 설명 및 실시예로부터 본 발명이 속하는 기술 분야의 전문가가 용이하게 유추할 수 있는 것은 본 발명의 권리 범위에 속하는 것으로 해석된다.
본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 3차원 계측 시스템 및 그 방법을 개략적으로 설명하면 다음과 같다. 먼저, 격자 문양 또는 체스판 문양의 패턴을 대상 물체에 투사한 후 격자 문양 또는 체스판 문양의 왜곡으로부터 3차원 깊이 정보를 획득한다. 다음으로, 격자 문양 또는 체스판 문양 내의 깊이 정보를 조도차 계측 방식으로 구하는 것으로서, 격자 또는 체스판 패턴으로 획득한 깊이 정보 사이의 빈 곳을 조도차 계측법으로 획득한 정보로 보간하여 전체 3차원 정보를 획득하게 된다. 본 발명에 따르면, 조도차 계측 방식의 정밀도를 살리고 누적 오차를 줄이기 위해 격자 또는 체스판에 의한 패턴 투영 방식으로 안정적인 결과를 내도록 제어할 수 있다.
먼저, 도 1은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 3차원 계측 시스템의 구성도를 나타낸다.
도 1로부터 알 수 있는 바와 같이, 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 3차원 계측 시스템은, 대상 물체에 일정 패턴을 투영하는 패턴 투영 장치(100), 대상 물체에 일정 조도를 인가하는 조명 장치(200), 대상 물체를 촬상하는 촬상 장치(300) 및 촬상 장치(300)로부터 획득된 영상 정보를 이용하여 대상 물체의 3차원 좌표값을 산출하는 연산 장치(400)를 포함한다.
도 2a 및 도 2b는, 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 3차원 계측 시스템에 의한 3차원 계측 방법의 설명도이다.
도 2a로부터 알 수 있는 바와 같이, 본 발명의 3차원 계측 시스템에 의한 3차원 계측 방법은, 먼저 패턴 투영 장치(100)가 대상 물체에 패턴을 투영하여, 촬상 장치(300)가 영상 정보를 획득하게 된다. 다음으로, 도 2b로부터 알 수 있는 바와 같이, N개의 조명 장치(200a, 200b, 200c)에서 순차적으로 조명을 켜고 촬상 장치(300) 각각 촬상하여, 촬상 장치(300)가 N개의 조도차가 있는 영상 정보를 획득하게 된다. 마지막으로, 연산 장치(400)가 획득된 영상 정보들을 분석하게 된다.
도 3a 및 도 3b는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 패턴 투영 장치(100)에 의해 투영될, 선으로 이루어진 격자 문양 또는 격자 문양의 격자 내부가 교대로 채워진 체스판형 격자 문양의 패턴을 각각 나타낸다.
본 발명의 조명 장치(200)는 각기 다른 N개 위치에 설치되어, N개의 위치로부터의 조도 영상 정보를 촬상 장치(300)가 촬상할 수 있도록 한다. 다음으로 본 발명의 촬상 장치(300)는, 일반적인 CCD 소자를 이용한 카메라, CMOS 이미지 센서 등을 이용한 카메라 등, 다양한 카메라에 의해 구현될 수 있다. 촬상 장치(300)로부터 획득된 대상 물체의 영상 정보는 연산 장치(400)로 보내어져, 최종적으로 대상 물체의 3차원 좌표값을 산출하게 된다.
즉, 본 발명에서는, 격자 문양 또는 체스판형 격자 문양의 패턴을 대상 물체에 투사하여, 하나의 패턴 영상 정보를 획득하여 패턴의 수직 및 수평 왜곡으로부터 물체의 3차원 깊이값을 구한다. 이로부터 계산된 3차원 좌표는 격자 문양 또는 체스판형 격자 문양의 경계선 부분만 해당된다. 경계선 부분을 제외한 격자 문양 내부의 3차원 깊이값은 조도차 계측으로 구한다. 조도차 계측은 N개 방향의 광원을 교대로 점등 촬영하여 얻어진 N장의 영상 정보로부터의 조도차값과 빛의 표면 입사각 정보를 입력값으로 하여, 표면 화소 단위의 기울기를 구한 후 이를 적분하여 표면의 3차원 정보를 계산하는 것이다.
구체적으로, 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 연산 장치(400)에 의한 3차원 좌표값을 산출하는 방법에 대해 하기에 설명하기로 한다.
도 4는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 연산 장치(400)의 구성도를 나타낸다. 도 4로부터 알 수 있는 바와 같이, 본 발명의 연산 장치(400)는, 좌표값 산출부(410)와 깊이값 산출부(420)를 포함한다.
먼저, 좌표값 산출부(410)는, 일정 패턴을 이용하여 촬상된 패턴 영상 정보로부터 3차원 좌표값을 산출한다. 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 일정 패턴은, 도 3a 및 도 3b에서 나타낸 바와 같이, 선으로 이루어진 격자 문양 또는 격자 문양의 격자의 내부가 교대로 채워진 체스판형 격자 문양인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 좌표값 산출부(410)는, 선 추출 유닛(411) 및 제 1 연산 유닛(412)을 포함한다. 선 추출 유닛(411)은, 일정 패턴을 이루는 격자의 경계선을 추출한다. 또한, 제 1 연산 유닛(412)은, 경계선의 왜곡을 해석하는 것에 의해 경계선의 평면 정보값과 깊이값을 산출하는 역할을 한다. 여기서, 평면 정보값이란 3차원 좌표값 중 x 및 y 좌표값을 이르며, 깊이값이란 3차원 좌표값 중 z 좌표값을 이른다.
도 5는, 대상 물체의 굴곡 등에 의해 왜곡되게 얻어진 체스판형의 격자 패턴과 경계선의 추출에 대한 설명도를 각각 나타낸다.
본 발명의 깊이값 산출부(420)는, 각기 다른 N개 위치의 조명 장치(200)를 이용하여 촬상된 N개의 조도 영상 정보로부터, 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀 내부의 제 1 지점의 최종 깊이값을 산출한다.
본 발명의 깊이값 산출부(420)에 의한 깊이값 산출 방법은 다음과 같다.
I를 센서로부터 얻어진 빛의 광량으로 하고, r, l 을 빛의 반사율과 대상 물체의 고유 반사율로 하여 각도 θ를 대상 표면에 대한 빛의 입사각으로 하면, 빛의 난반사는 다음의 [수학식 1]과 같이 주어진다.
Figure 112012077139970-pat00001
[수학식 1]을 재정리하여 단순화하면, I=S·V 의 단위 벡터 관계식으로 표현된다. 만약, N개의 조명 장치(200)를 3개로 가정한다면, I 는
Figure 112012077139970-pat00002
의 3 방향의 광원으로부터의 얻어진 각 광량으로 하고, 3 방향의 광원의 x-y-z 방향으로부터 구성된 입사각
Figure 112012077139970-pat00003
으로 하면, 미지수는 표면의 기울기 벡터인
Figure 112012077139970-pat00004
가 된다. 따라서, 입사각과 빛의 광량을 알면 표면 기울기가 구해져서 이를 적분하여 표면 높이, 즉 깊이값을 구할 수 있음을 알 수 있다.
본 발명의 깊이값 산출부(420)는, 제 2 연산 유닛(421) 및 제 3 연산 유닛(422)을 포함한다.
제 2 연산 유닛(421)은, M개의 기점 각각에 대해, N개의 조도 영상 정보에 의한 조도차를 이용하여, 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀 내부의 임의의 제 1 지점까지의 표면 기울기값을 산출하고 적분하는 것에 의해, 제 1 지점의 예비적 깊이값을 산출한다. 제 3 연산 유닛(422)은, 제 2 연산 유닛(421)으로부터 산출된 M개의 제 1 지점의 예비적 깊이값을 평균하여, 제 1 지점의 최종 깊이값을 산출한다. 이러한 평균값에 의한 최종 깊이값의 산출에 의해 오차가 더욱 감소될 수 있음을 알 수 있다.
본 발명의 M개의 기점은, 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀의 경계선을 이루는 임의의 지점인 것을 특징으로 한다. 좀 더 바람직하게는, M개의 기점은, 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀의 꼭지점인 것을 특징으로 한다.
도 6은 4개의 기점으로부터 제 1 지점의 예비적 깊이값을 평균하여, 제 1 지점의 최종 깊이값을 산출하는 것에 대한 설명도를 나타낸다. 즉, 도 6으로부터 알 수 있는 바와 같이, 본 발명의 바람직한 3차원 계측 시스템은, 제 1 기점 내지 제 4 기점으로부터 각각 적분값을 산출하고, 이 4개의 적분값을 평균한다.
도 7은 제 2 연산 유닛(421)에 의한 제 1 기점으로부터 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀 내부의 임의의 제 1 지점까지의 표면 기울기값을 산출하고 적분하는 순서의 예시도이다. 도 7로부터 알 수 있는 바와 같이, 제 1 기점으로부터 제 1 지점까지 순차적으로 화소 단위로 표면 기울기값을 산출하여 적분하는 것에 의해, 제 1 지점의 예비적 깊이값을 산출할 수 있다.
다만, 본 발명에서는, 하나의 기점에서 깊이값을 산출하는 것 보다는 다수의 기점에서 깊이값을 산출하여 평균하는 것에 의해 좀 더 정밀도 높은 제 1 지점의 최종 깊이값을 산출한다.
도 8은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 3차원 계측 방법의 흐름도를 나타낸다. 도 8로부터 알 수 있는 바와 같이 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 3차원 계측 방법은, 일정 패턴을 이용하여 촬상된 패턴 영상 정보로부터 3차원 좌표값을 산출하는 좌표값 산출 단계(S100) 및 각기 다른 N개 위치의 조명 장치(200)를 이용하여 촬상된 N개의 조도 영상 정보로부터 제 1 지점의 깊이값을 산출하는 깊이값 산출 단계(S200)를 포함한다.
본 발명의 좌표값 산출 단계(S100)는, 일정 패턴을 이루는 격자의 경계선을 추출하는 단계(S110) 및 경계선의 왜곡으로부터, 경계선의 평면 정보값과 깊이값을 산출하는 단계(S120)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 깊이값 산출 단계(S200)는, M개의 기점 각각에 대해, N개의 조도 영상 정보에 의한 조도차를 이용하여, 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀 내부의 임의의 제 1 지점까지의 표면 기울기값을 산출하고 적분하는 것에 의해, 제 1 지점의 예비적 깊이값을 산출하는 단계(S210), 및 M개의 예비적 깊이값을 평균하여, 제 1 지점의 최종 깊이값을 산출하는 단계(S220)를 포함하는 것이 바람직하다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 3차원 계측 시스템 및 그 방법에 따르면, 격자 문양 또는 체스판형의 격자 문양을 이용하여 패턴을 투영하고, 조도차 계측 방식에 의해 보간하는 것에 의해 보다 정밀도가 높은 3차원 계측 시스템 및 그 방법을 제공할 수 있다.
100 : 패턴 투영 장치 200, 200a, 200b, 200c : 조명 장치
300 : 촬상 장치 400 : 연산 장치
410 : 좌표값 산출부 420 : 깊이값 산출부
411 : 선 추출 유닛 412 : 제 1 연산 유닛
421 : 제 2 연산 유닛 422 : 제 3 연산 유닛

Claims (14)

  1. 일정 패턴을 이용하여 촬상된 패턴 영상 정보로부터 3차원 좌표값을 산출하는 좌표값 산출부; 및
    각기 다른 N개 위치의 조명 장치를 이용하여 촬상된 N개의 조도 영상 정보로부터 제 1 지점의 깊이값을 산출하는 깊이값 산출부;를 포함하는 3차원 계측 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 일정 패턴은,
    선으로 이루어진 격자 문양 또는 격자 문양의 격자의 내부가 교대로 채워진 체스판형 격자 문양인 것을 특징으로 하는 3차원 계측 시스템.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 좌표값 산출부는,
    상기 일정 패턴을 이루는 격자셀의 경계선을 추출하는 선 추출 유닛; 및
    상기 경계선의 왜곡으로부터, 상기 경계선의 깊이값을 산출하는 제 1 연산 유닛;을 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 계측 시스템.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 깊이값 산출부는,
    M개의 기점 각각에 대해, 상기 N개의 조도 영상 정보에 의한 조도차를 이용하여, 상기 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀 내부의 상기 제 1 지점까지의 표면 기울기값을 산출하고 적분하는 것에 의해, 상기 제 1 지점의 예비적 깊이값을 산출하는 제 2 연산 유닛;을 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 계측 시스템.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 깊이값 산출부는,
    상기 제 2 연산 유닛으로부터 산출된 M개의 상기 제 1 지점의 예비적 깊이값을 평균하여, 상기 제 1 지점의 최종 깊이값을 산출하는 제 3 연산 유닛;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 계측 시스템.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 M개의 기점은, 상기 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀의 경계선을 이루는 임의의 지점인 것을 특징으로 하는 3차원 계측 시스템.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 M개의 기점은, 상기 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀의 꼭지점인 것을 특징으로 하는 3차원 계측 시스템.
  8. 일정 패턴을 이용하여 촬상된 패턴 영상 정보로부터 3차원 좌표값을 산출하는 좌표값 산출 단계; 및
    각기 다른 N개 위치의 조명 장치를 이용하여 촬상된 N개의 조도 영상 정보로부터 제 1 지점의 깊이값을 산출하는 깊이값 산출 단계;를 포함하는 3차원 계측 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 일정 패턴은,
    선으로 이루어진 격자 문양 또는 격자 문양의 격자의 내부가 교대로 채워진 체스판형 격자 문양인 것을 특징으로 하는 3차원 계측 방법.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 좌표값 산출 단계는,
    상기 일정 패턴을 이루는 격자의 경계선을 추출하는 단계; 및
    상기 경계선의 왜곡으로부터, 상기 경계선의 깊이값을 산출하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 계측 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 깊이값 산출 단계는,
    M개의 기점 각각에 대해, 상기 N개의 조도 영상 정보에 의한 조도차를 이용하여, 상기 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀 내부의 상기 제 1 지점까지의 표면 기울기값을 산출하고 적분하는 것에 의해 예비적 깊이값을 산출하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 계측 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 깊이값 산출 단계는,
    M개의 상기 예비적 깊이값을 평균하여, 상기 제 1 지점의 최종 깊이값을 산출하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 계측 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 M개의 기점은, 상기 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀의 경계선을 이루는 임의의 지점인 것을 특징으로 하는 3차원 계측 방법.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 M개의 기점은, 상기 일정 패턴에 포함된 하나의 격자셀의 꼭지점인 것을 특징으로 하는 3차원 계측 방법.
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