JP3825383B2 - 3次元形状計測方法および3次元形状計測装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は被計測物体の3次元形状または3次元形状と色を計測する方法および装置であり、主に計測産業、通信産業、映像産業の分野において用いられる。
【0002】
【従来の技術】
カメラを用いて被計測物体の3次元形状を取得する様々な計測方法が提案されている。これらの方法はステレオ法に代表される被計測物体に特別な照明を照射しないパッシブ型計測法と、被計測物体に特別な照明を照射するアクティブ型計測法に分類できる。
【0003】
パッシブ型計測法はカメラ2台でできるため非常に低コストで汎用性もあり、昔から精力的に研究されてきたが、未だに計測の信頼性が低く汎用的に使える方法としては実用段階に至っていない。
【0004】
一方、アクティブ型計測法は計測精度、分解能、計測信頼性も実用水準に到達しており、近年では動画像計測も可能となった。しかしながら、一般に装置が大型かつ高価であり携帯化できるサイズヘの小型化が困難である問題があった。
【0005】
また、アプリケーションによっては計測精度や分解能が低くて構わない場合も多いが、従来のアクティブ型計測法ではこれらのスペックを下げても装置の低価格化や小型化を効率よくはかることができない。
【0006】
これに対し、異なる距離から拡散光を被計測物体に照射して撮影し、各々の画像の輝度値の比を取ることによって距離を求める装置がある(特許文献1)。
この装置の構成を図1に示す。11は遠方の光源、12は近方の光源、13は被計測物体、14はカメラである。この装置は計測精度、分解能はあまり高くないものの、基本的には2つの光源とカメラを用意するだけで装置を構成することができるので、極めて低価格に作ることが可能であり、比較的小型の装置にすることも可能である。
【0007】
この装置の動作原理を数式で説明する。
遠方の光源11と被計測物体13間の距離をx、遠方の光源11および近方の光源12の光量をLとする(簡潔な式で説明するため光量を同じLとしたが本計測法は11と12の相対的な強度比が既知であれば異なる光量であっても構わない)と、遠方の光源11で照明された被計測物体13上のある地点の輝度V1は、遠方の光源11と近方の光源12からの照射光をカメラ方向へ反射する反射率をkとすると、
(式1)V1=kL/4πx2
の輝度で撮影される。近方の光源12が遠方の光源11より距離x0だけ被計測物体13に近いとすると、近方の光源12で照明された該地点の輝度V2は、
(式2)V2=kL/4π(x−x0)2
の輝度で撮影される。式1と式2の比をとることによって、距離xが、
(式3)x=x0/{1−√(V1/V2)}
として求まる。
【0008】
前記特許文献1では1点の距離計測なのか3次元形状全体の計測なのか明示されていないが、計測原理は同じで3次元形状計測を明示的に示した発明が特許文献2の請求項に記載されている。また、特許文献2と同様な発明が数式の表現を変えて、特許文献3の請求項1、2、特許文献4の請求項1、特許文献5の請求項1、特許文献6の請求項1に記載されている。
【0009】
【特許文献1】
特開昭61−155909号公報
【特許文献2】
特公平6−076888号公報
【特許文献3】
特開2002−077944号公報
【特許文献4】
特開2002−065581号公報
【特許文献5】
特開2002−095625号公報
【特許文献6】
特開2002−065585号公報
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、この従来の計測方法には以下に掲げる問題点がある。
1.外光が存在すると正しい距離を求められない。
外光が存在する場合、外光量をLa、外光を撮影カメラの向きに反射する反射率をk’とすると、式1、式2は以下の式4、式5に置き換わる。
(式4)V1=k’La+kL/4πx2
(式5)V2=k’La+kL/4π(x−x0)2
これらの式の比をとっても、未知の量であるk’、Laが残るため距離xを求めることが出来ない。従って、従来の計測方法では暗室や内視鏡のように外光がない環境下でしか動作できない。外光が存在する場合にも正しい距離を計測できる計測方法および装置を提供することが本発明の課題1である。
【0011】
2.被計測物体の黒い領域や照明から遠い領域と白い領域や照明に近い領域を同時に計測することが困難である。
被計測物体の黒い(低反射率)領域や照明から遠い領域が計測できるように光量を上げると、被計測物体の白い(高反射率)領域や照明に近い領域の輝度がオーバーフローを起こして撮影できなくなる。一方で、オーバーフローを避けるため光量を下げると、被計測物体の黒い領域や照明から遠い領域の輝度が非常に小さくなってしまう。本計測法では輝度値V1とV2のわずかな差を利用して距離を算出するので、V1やV2の値そのものが小さいと、その差はTVカメラの撮影できる輝度階調未満となり計測不能となってしまう問題が起こる。この計測不能な状態をここではアンダーフローと呼ぶことにする。被計測物体の白黒の濃淡や照明からの遠近に関わらず全体を計測できる計測方法および装置を提供することが本発明の課題2である。
【0012】
3.計測分解能が悪い。
被計測物体上の反射率の違いや照明からの遠近によって、撮影された画像は広範囲な輝度分布を有する。それと比較してV1とV2の差はわずかな値でしかない。例えば、V1とV2の差が数階調しかないとするなら、計測分解能もわずか数階調に過ぎない。これでは物体の存在位置がわかる程度の大まかな距離情報しか取得できない。計測分解能を向上した計測方法および装置を提供することが本発明の課題3である。
【0013】
【課題を解決するための手段】
課題1を解決するため、本発明請求項1の方法は図2に示すステップで処理を行う。第1のステップ21において拡散光をある距離から被計測物体に照射し、被計測物体を撮影、記録することによって画像1を取得し、第2のステップ22において第1のステップよりx0だけ近い距離から拡散光を被計測物体に照射し、被計測物体を撮影、記録することによって画像2を取得し、第3のステップ23において、無照明、または、第1のステップ21または第2のステップ22の距離から拡散光の光量を変えて被計測物体に照射し、被計測物体を撮影、記録することによって画像3を取得し、第4のステップ24において画像1と画像2と画像3の同位置の画素に記録された輝度値を演算することによって該画素に写っている被計測物体までの距離を算出し、第5のステップ25において第4のステップ24の処理を全画素に行うことによって被計測物体の3次元形状を求める。
【0014】
各ステップ毎に行われる作用について説明する。第1のステップ21において、ある距離から拡散光を被計測物体に照射し、被計測物体を撮影、記録することによって画像1を取得する。この時、被計測物体上のある地点の輝度V1は、拡散光の強度をL、該地点と照明手段までの距離をx、照明光を撮影手段方向に反射する反射率をk、外光の光量をLa、外光を撮影手段方向に反射する反射率をk’とすると、
(式4)V1=k’La+kL/4πx2
なる輝度値で撮影される。
【0015】
次に第2のステップ22において、第1のステップ21より距離x0だけ近い距離から拡散光を被計測物体に照射し、被計測物体を撮影、記録することによって画像2を取得する。この時、被計測物体上の該地点の輝度V2は、
(式5)V2=k’La+kL/4π(x−x0)2
なる輝度値で撮影される。
【0016】
次に第3のステップ23において、無照明、または、第1のステップ21または第2のステップ22の距離から拡散光の光量を変えて被計測物体に照射し、被計測物体を撮影、記録することによって画像3を取得する。ここで無照明であるならば、光源で照明された被計測物体中の同位置の輝度V3は、
(式6)V3=k’La
となり、第1のステップ21の位置から拡散光の光量を1/n倍で照射するなら、
(式61)V3=k’La+kL/4nπx2
となり、第2のステップ22の位置から拡散光の光量を1/n倍で照射するなら、
(式62)V3=k’La+kL/4nπ(x−x0)2
となる。
【0017】
次に第4のステップ24において、画像1と画像2と画像3の同位置の画素に記録された輝度値を演算することによって該画素に写っている被計測物体の距離を算出する。例えば画像3が無照明で撮影された画像の場合、式4、式5、式6を連立させることによって、
(式7)x=x0/〔1−√{(V1−V3)/(V2−V3)}〕
にて距離xが算出される。
【0018】
なお、式61や式62を式6の代わりに用いてもnが既知であればxは算出できる。外光はあるが照明光に比べて光量が小さい場合、補助的に照明する式61や式62の方法は計測精度を高める上で有利である。
【0019】
最後に第5のステップ25において、第4のステップ24の画素の演算処理を画像全体に適用することによって画像に写った被計測物体の3次元形状を算出する。
【0022】
請求項1の第1〜第5のステップを行うことによって、外光の存在する条件下でも形状計測が可能となり課題1を解決することができる。
【0023】
課題2を解決するため、本発明請求項1の方法は以下に示すステップの処理を行う。第6のステップにおいて、十分に強い(弱い)光量の拡散光を照射して、第1〜第5のステップを行い被計測物体の3次元形状を計測する。第7のステップにおいて、第6のステップで取得した画像内で輝度値がオーバーフロー(アンダーフロー)して計測できなかった領域について、光量を弱く(強く)して、再度第6のステップを実行して計測できなかった領域を再計測する。第8のステップにおいて、計測できない領域がなくなるか、または、所定の反復回数に達するまで第7のステップを繰り返す。
【0024】
十分に強い光量から計測を開始し徐々に光量を落とす場合を例にとって各ステップで行われる作用の説明を行う。まず、第6のステップにおいて、十分に強い光量の拡散光を照射して、第1〜第5のステップを行い被計測物体の3次元形状を計測する。すると、図3(A)に示すような被計測物体の白い領域や照明に近い領域の輝度が撮影においてオーバーフローを起こしてしまい計測できなかった領域35が発生している。
【0025】
次に第7のステップにおいて光量を弱くして第6のステップを繰り返す。すると、図3(B)に示すように前回オーバーフローを起こして計測できなかった領域の一部が再計測可能となる。一方、被計測物体の黒い領域や照明から遠い領域の中からアンダーフローで計測できなかった領域36が発生するが、該領域は前回の計測にて既に計測済みである。第8のステップにおいて、計測できない領域がなくなるか、または、所定の反復回数に達するまで第7のステップを繰り返す。すると、図3(C)に示すようにオーバーフローを起こしていた領域が全て再計測でき、図3(A)から(C)までの計測できた領域を全てあわせると全領域が計測できていることになる。
十分弱い光量から始める場合は、図3(C)から始まり、図3(A)にて計測が終了することとなる。
【0026】
本発明請求項2の装置は、光量を変えられ異なる距離から拡散光を照射する照明手段と、被計測物体を撮影する手段と、画像データの記録手段と、画像データの演算手段を有し、請求項1の方法に従って動作する。
【0027】
まず、光量を変えられ異なる距離から拡散光を照射する照明手段と、被計測物体を撮影する手段とを用いて第6のステップを実行し、計測可能だった領域のみ計測結果を記録する。次に第7のステップを実行して新たに計測可能となった領域について計測結果を追加記録する。そして、計測できない領域がなくなるか、または、所定の反復回数に達するまで第7のステップを繰り返すことによって被計測物体の3次元形状を求める。
【0028】
請求項1の方法または請求項2の装置を用いることによって、前述のように課題1を解決することができると共に、被計測物体の白黒の濃淡や照明からの遠近に関わらず全体の3次元形状が計測可能となり課題2を解決することができる。
【0029】
課題3を解決するため、本発明請求項3の方法は以下に示すステップの処理を行う。第1のステップにて被計測物体までの距離を徐々にN回変えた距離から拡散光を被計測物体を照射し、各照射毎に被計測物体の画像を撮影、記録することによってN枚の画像1から画像Nまでを取得する。第2のステップにて、無照明で被計測物体を撮影、記録することによって画像N+1を取得する。第3のステップにて、画像1から画像Nの中から画像iと画像jを選び、画像iと画像jと画像N+1の同位置の画素に記録された輝度値を演算することによって該画素に写っている被計測物体までの距離を全画素にわたって算出し、計測不能であった領域は計測不能の印を付けてメモリに格納する。
【0030】
その一例として、請求項1の第1〜第5のステップを組み合わせて距離を算出する方法を示す。請求項1の第1〜第5のステップを行い距離を算出するためには距離の異なる拡散光で撮影された2枚の画像と画像N+1が必要なので、例えば、N=4(画像1から画像4)の撮影を行った場合には、画像1と画像2、画像2と画像3、画像3と画像4、画像1と画像3、画像2と画像4、画像1と画像4の組と、画像5(N+1)で演算することによって6つの距離が算出できる。これらの平均値を最終的な距離とする。第4のステップにて、画像iと画像jを変えて第3のステップを、所定回数だけ繰り返す。第5のステップにて、各画素について、計測不能であった画素を除いてメモリに格納された所定回数分の被計測物体までの距離の平均値を、画像iと画像jを撮影するときの距離差に応じた重み付けをした加重平均を用いて求めることにより、被計測物体の3次元形状を求める。
【0031】
請求項3の作用について説明する。図4は実際の距離と計測の結果得られる距離との関係を表したグラフを画像の組み合わせ毎に示した図である。4つの距離x1、x2、x3、x4(ただしx1>x2>x3>x4)から拡散光を照射して4枚の画像1から画像4を取得した場合、これらの画像の組み合わせによって得られるグラフを45から410に示す。本来、理想的にはグラフは斜線でなければならないが、いずれのグラフも分解能が悪いため階段状の折れ線となる。しかし、これらのグラフの平均値を算出すると411が得られ、階段が細かくなる、つまり、計測分解能が向上して斜線に近づくのがわかる。
【0032】
本発明請求項4の装置は、少なくとも3ヶ所以上の異なる距離から拡散光を照射する照明手段と、被計測物体を撮影する手段と、画像データの記録手段と、画像データの演算手段を有し、請求項3の方法に従って動作する。
【0033】
請求項4の装置の動作について説明する。少なくとも3ヶ所以上の異なる距離から拡散光を照射する照明手段と、被計測物体を撮影する手段と、画像データの記録手段を用いて第1のステップと第2のステップを実行する。次に、画像データの演算手段を用いて第3のステップと第4のステップを実行する。
【0034】
請求項3の方法または請求項4の装置を用いることによって、計測分解能を向上した計測方法および装置を実現することができ課題3を解決できる。
【0035】
【発明の実施の形態】
本発明請求項1の方法および請求項2の装置の前提となる参考例を図5および図6を用いて説明する。図5は参考例の装置の構成図、図6は図5の装置を用いて行う参考例の方法のフローチャートである。図5において、51は遠方から拡散光を照射するライト、52は手前から拡散光を照射するライト、53は被計測物体、54は撮影カメラであり、本参考例では画像データをデジタルデータとして出力するカメラを使用する。55は画像データの格納メモリ、56は画像の演算器、57は形状データの格納メモリ、58は全体の制御装置である。なお、55から58はパソコンやワークステーションで構成し、56と58にはCPUを使用し、55と57はメモリまたは磁気記録媒体等の記憶領域を区分して使用しても良い。
【0036】
参考例の装置を用いて参考例の方法を実行する動作を図6のフローチャートに従って説明する。ステップ61において、制御装置58は遠方のライト51を点灯させ、撮影カメラ54に被計測物体53を撮影させて得られた画像データ1を画像メモリ55に格納後、遠方のライト51を消灯する。ステップ62において、制御装置58は手前のライト52を点灯させ、撮影カメラ54に被計測物体53を撮影させて得られた画像データ2を画像メモリ55に格納後、手前のライト52を消灯する。ステップ63において、撮影カメラ54に被計測物体53を撮影させて得られた画像データ3を画像メモリ55に格納する。ステップ64において、制御装置58は画像演算器56に座標値(i,j)を与えて、該座標値の画素の輝度値から距離データの算出を命令する。ステップ65において、画像演算器56は座標値(i,j)の画素の輝度値を画像1、画像2、画像3から取り出す。この輝度値をそれぞれV1、V2、V3とする。ステップ66において、画像演算器56は以下の式で示される演算を行って座標値(i,j)における距離データx(i,j)を算出し形状データメモリ57に格納する。
(式8)x(i,j)=x0/〔1−√{(V1−V3)/(V2−V3)}〕
【0037】
なお、遠方のライト51と手前のライト52間の距離x0は既知であり画像演算器56に予め与えられているものとする。ステップ67において、制御装置58は画像の全座標において算出処理が終了したか判定し、算出処理されていれば終了する。そうでなければ、ステップ68にて未算出の座標値(i,j)を決定してステップ64に戻る。なお、画像を左上から順次走査して座標値(i,j)を決定し、右下の座標値に到達したことを終了の判定条件とすれば容易に座標値(i,j)決定や終了判定が実現できることは言うまでもない。
【0038】
本発明請求項1の方法および請求項2の装置の一実施形態を図7および図8を用いて説明する。図7は請求項2の装置の構成図、図8は図7の装置を用いて行う請求項1の方法のフローチャートである。図7において、71は指定された光量の拡散光を照射する遠方のライト、72は指定された光量の拡散光を照射する手前のライト、73は被計測物体、74は撮影カメラであり、本実施例では画像データをデジタルデータとして出力するカメラを使用する。75は画像データの格納メモリ、76は画像の演算器、77は形状データの格納メモリ、78は全体の制御装置、79は計測済みフラグデータの格納メモリである。なお、75から79はパソコンやワークステーションで構成し、76と78にはCPUを使用し、75と77と79はメモリまたは磁気記録媒体等の記憶領域を区分して使用しても良い。
【0039】
また、遠方のライト71や手前のライト72の光量を制御する代わりに、撮影カメラ74のシャッタ解放時間を制御することによって、光量を制御するのと同等の作用を行っても良い。
【0040】
請求項2の装置を用いて請求項1の方法を実行する動作を図8のフローチャートに従って説明する。ステップ81において照明の初期強度Lを設定する。次第に照明強度を下げながら計測する場合には、Lは十分大きな値とし、次第に照明強度を上げながら計測する場合には、Lは十分小さな値とする。次に、形状データメモリ77に格納された画像全画素に対応して設けられた計測済みフラグFを全て0にリセットする。ステップ82において、制御装置78は遠方のライト71を強度Lで点灯させ、撮影カメラ74に被計測物体73を撮影させて得られた画像データ1を画像メモリ75に格納後、遠方のライト71を消灯する。ステップ83において、制御装置78は手前のライト72を強度Lで点灯させ、撮影カメラ74に被計測物体73を撮影させて得られた画像データ2を画像メモリ75に格納後、手前のライト72を消灯する。ステップ84において、撮影カメラ74に被計測物体73を撮影させて得られた画像データ3を画像メモリ75に格納する。ステップ85において、制御装置78は計測済みフラグ格納メモリ79に格納された全フラグを1画素毎に順次読み出し、座標値(i,j)のF=0ならば座標値(i,j)を画像演算器76に与えて該座標値の画素の距離データの算出を命令する。初期状態は全フラグF=0なので、初めに実行するステップ85は全画素について命令することになる。ステップ86において、画像演算器76は座標値(i,j)の画素の輝度値を画像1、画像2、画像3から取り出す。この輝度値をそれぞれV1、V2、V3とする。ステップ87において、オーバーフローまたはアンダーフローの状態であるか調べる。予め設定された最大輝度値Vmaxに対してV1>VmaxまたはV2>Vmaxであった時にオーバーフローとみなし、予め設定されたVminに対してVmin>|V1−V2|であった時にアンダーフローとみなす。どちらの状態であっても画像演算器76はステップ88の処理を行わない。どちらの状態にもない時は、計測可能と見なしてステップ88に進む。ステップ88において、画像演算器76は以下の式で示される演算を行って座標値(i,j)における距離データx(i,j)を算出し77に格納し、座標値(i,j)のフラグFを1にセットする。
(式8)x(i,j)=x0/〔1−√{(V1−V3)/(V2−V3)}〕
【0041】
なお、遠方のライト71と手前のライト72間の距離x0は既知であり画像演算器76に予め与えられているものとする。ステップ89において制御装置78は計測済みフラグ格納メモリ79の全フラグを調べ全てのフラグF=1ならば終了する。そうでなければ、ステップ810からステップ82〜88を反復して繰り返すが、反復回数が一定以上になった場合にも終了する。ステップ810において、次第に照明強度を下げながら計測する場合にはLを小さくし、次第に照明強度を上げながら計測する場合にはLを大きくしてステップ82に戻る。
【0042】
本実施例ではどの画素の距離も一回の計測で求めることになるが、実際には数回計測できる場合もある。そこで、計測できる場合には距離を算出して全て形状データメモリ77に書き込んでおき、計測終了後に複数回計測した距離の平均または加重平均を取ることによって最終的な距離としても良い。この場合、計算コストは増大するが、計測データのSN比を向上できる利点がある。本実施形態では、照明強度を単調に減少または増加させながら計測を行う例を示した。しかし、本発明の方法では、照明強度は各撮影において互いに異なるように設定しさえすればよく、必ずしも単調に変化させなくてもよい。
【0043】
本発明請求項3の方法および請求項4の装置の一実施形態を図9および図10を用いて説明する。図9は請求項4の装置の構成図、図10は図9の装置を用いて行う請求項3の方法のフローチャートである。図9において、91は拡散光を照射するライト、92はライトの距離を変える移動装置、93は被計測物体、94は撮影カメラであり、本実施例では画像データをデジタルデータとして出力するカメラを使用する。95は撮影回数分の画像データの格納メモリ、96は画像の演算器、97は複数枚分の形状データの格納メモリ、98は全体の制御装置、99は最終形状データの格納メモリである。なお、95から99はパソコンやワークステーションで構成し、96と98にはCPUを使用し、95と97と99はメモリまたは磁気記録媒体等の記憶領域を区分して使用しても良い。また、91と92を組み合わせる代わりに、異なる距離に複数のライトを用意して切り替えて使っても良い。
【0044】
図9の装置を用いて請求項3の方法を実行する動作を図10のフローチャートに従って説明する。ステップ101において、制御装置98は、移動装置92に指令して、ライト91を所定の位置に移動させ、ステップ102においてライト91を点灯させ、撮影カメラ94に被計測物体93を撮影させて得られた画像データを画像メモリ95に格納後、ライト91を消灯する。ステップ103において、ステップ101とステップ102を所定の回数N繰り返す。なお、各繰り返し毎にライト91は被計測物体93との距離が小さくなるように移動させる。ステップ104において、撮影カメラ94に被計測物体93を撮影させて得られた画像データを画像メモリ95に格納する。ステップ105において制御装置98は形状データ算出に使う画像データiと画像データj(i≠j)を画像演算器96に与えて形状データの算出を命令する。ステップ106において、画像演算器96は画像メモリ95から画像データiと画像データjと画像データN+1を取り出し、参考例の方法に基づいて3次元形状データを算出し形状データメモリ97に格納する。なお、オーバーフローやアンダーフローによって計測不能であった領域は計測不能の印をつけておく。これは該領域では距離に0や負数を書き込むことによって容易に実現できる。ステップ107にて、制御装置98はステップ105とステップ106をM回繰り返す。なお、繰り返し毎に画像演算器96に与えるiとjは変えるものとする。例えば、照明下で撮影した画像がN枚得られている場合、iとjの組み合わせは最大でN(N−1)/2通りあるので、全ての組み合わせを実行するならM=(N−1)/2となる。ただし、常に全部の組み合わせを計算させる必要はない。ステップ108にて形状データ1から形状データMの平均値を求めて最終形状データメモリ99に最終的な形状データを書き込む。各画素毎に距離の平均を求める際に、計測不能だった画素が含まれていた場合は、該画素を除いて平均を求める。
【0045】
なお、本実施例では参考例の方法を用いたが、計測不能領域を除去するため請求項1の方法を用いることができる。
また、特にアンダーフローは照明の距離差が小さい時に生成しやすいので、距離差の小さい撮影データの全組み合わせは除外して形状データを求めても良い。
また、距離差が大きい画像を用いて算出した形状データほどノイズの影響の少ないデータとなるので、ステップ108において、単なる平均ではなく距離差に応じた重み付けをした加重平均を用いても良い。
【0046】
以上、本発明者によってなされた発明を、前記実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは勿論である。
【0047】
【発明の効果】
請求項1の方法および請求項2の装置を用いることによって、外光の存在する条件下でも形状計測が可能となると共に、被計測物体の白黒の濃淡や照明からの遠近に関わらず全体の3次元形状が計測可能となる。
請求項3の方法または請求項4の装置を用いることによって、計測分解能を向上した計測方法および装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来の装置の構成を示した図である。
【図2】 本発明請求項1の方法を示した図である。
【図3】 オーバーフロー領域やアンダーフロー領域の発生を示した図である。
【図4】 実際の距離と計測された距離の対応を示すグラフである。
【図5】 参考例の装置の実施例の構成図である。
【図6】 参考例の方法の実施例のフローチャートである。
【図7】 本発明請求項2の装置の実施例の構成図である。
【図8】 本発明請求項1の方法の実施例のフローチャートである。
【図9】 本発明請求項4の装置の実施例の構成図である。
【図10】 本発明請求項3の方法の実施例のフローチャートである。
【符号の説明】
11…遠方の光源、12…近方の光源、13…被計測物体、14…カメラ、35…オーバーフローで計測できなかった領域、36…アンダーフローで計測できなかった領域、45〜411…実際の距離と計測の結果得られる距離との関係を表したグラフ、51、71…遠方のライト、52、72…手前のライト、53、73、93…被計測物体、54、74、94…撮影カメラ、55、75、95…画像メモリ、56、76、96…画像演算器、57、77、97…形状データメモリ、58、78、98…制御装置、79…計測済みフラグ格納メモリ、91…ライト、92…移動装置、99…最終形状データメモリ
Claims (4)
- ある距離から拡散光を被計測物体に照射し、被計測物体を撮影、記録することによって画像1を取得する第1のステップと、
第1のステップとは異なる距離から拡散光を被計測物体に照射し、被計測物体を撮影、記録することによって画像2を取得する第2のステップと、
無照明で、または、第1のステップまたは第2のステップの距離から拡散光の光量を変えて被計測物体に照射して、被計測物体を撮影、記録することによって画像3を取得する第3のステップと、
画像1と画像2と画像3の同位置の画素に記録された輝度値を演算することによって該画素に写っている被計測物体までの距離を算出する第4のステップと、
第4のステップを全画素に行うことによって被計測物体の3次元形状を求める第5のステップと、
拡散光の光量を指定して第1〜第5のステップを行わせ、被計測物体の3次元形状を計測する第6のステップと、第6のステップにて取得したいずれかの画像内で輝度値が所定の値より大きいか、または、画像1と画像2の同位置の画素間の輝度値の差の絶対値が所定の値より小さい領域について、拡散光の光量を変えて再度第6のステップを実行することにより再計測する第7のステップと、
前記領域がなくなるか、または、所定の反復回数に達するまで第7のステップを繰り返す第8のステップ
を有することを特徴とする3次元形状計測方法。 - 光量を変えられ異なる距離から拡散光を照射する照明手段と、
該照明手段で照明された被計測物体を撮影する手段と、
画像データの記録手段と、
画像データの演算手段を有し、
請求項1の方法で動作することを特徴とする3次元形状計測装置。 - 被計測物体までの距離を少なくとも3ヶ所以上互いに変えた拡散光で被計測物体を照射し、各照射毎に被計測物体の画像を撮影することによってN枚の画像1から画像Nまでを撮影、記録する第1のステップと、
無照明で被計測物体を撮影、記録することによって画像N+1を取得する第2のステップと、
画像1から画像Nの中から画像iと画像jを選び、画像iと画像jと画像N+1の同位置の画素に記録された輝度値を演算することによって該画素に写っている被計測物体までの距離を全画素にわたって算出し、計測不能であった領域は計測不能の印を付けてメモリに格納する第3のステップと、
画像iと画像jを変えて第3のステップを、所定回数だけ繰り返す第4のステップと、
各画素について、計測不能であった画素を除いてメモリに格納された所定回数分の被計測物体までの距離の平均値を、画像iと画像jを撮影するときの距離差に応じた重み付けをした加重平均を用いて求めることにより、被計測物体の3次元形状を求める第5のステップ
を有することを特徴とする3次元形状計測方法。 - 少なくとも3ヶ所以上の互いに異なる距離から拡散光を照射する照射手段と、
被計測物体を撮影する手段と、
画像データの記録手段と、
画像データの演算手段を有し、
請求項3の方法で動作することを特徴とする3次元形状計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002282512A JP3825383B2 (ja) | 2002-09-27 | 2002-09-27 | 3次元形状計測方法および3次元形状計測装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002282512A JP3825383B2 (ja) | 2002-09-27 | 2002-09-27 | 3次元形状計測方法および3次元形状計測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004117235A JP2004117235A (ja) | 2004-04-15 |
JP3825383B2 true JP3825383B2 (ja) | 2006-09-27 |
Family
ID=32276643
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3825383B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104685318A (zh) * | 2013-06-27 | 2015-06-03 | 松下电器(美国)知识产权公司 | 具有多个光源的运动传感器装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4580824B2 (ja) * | 2005-06-15 | 2010-11-17 | パナソニック株式会社 | 部品教示データ作成方法 |
JP4574609B2 (ja) * | 2006-12-14 | 2010-11-04 | 国立大学法人豊橋技術科学大学 | レーザーポインタを用いた天井クレーンによる搬送方法及び天井クレーンシステム |
JP5141452B2 (ja) * | 2008-09-05 | 2013-02-13 | 富士通株式会社 | 姿勢計測装置及び姿勢計測方法 |
JP5519396B2 (ja) * | 2010-05-11 | 2014-06-11 | 有限会社シーフォン | 立体画像作成装置及び立体画像作成方法 |
KR101314101B1 (ko) | 2012-09-24 | 2013-10-04 | 위프코 주식회사 | 3차원 계측 시스템 및 그 방법 |
JP6302414B2 (ja) * | 2013-04-26 | 2018-03-28 | パナソニック インテレクチュアル プロパティ コーポレーション オブ アメリカPanasonic Intellectual Property Corporation of America | 複数の光源を有するモーションセンサ装置 |
WO2015001770A1 (ja) * | 2013-07-01 | 2015-01-08 | パナソニック インテレクチュアル プロパティ コーポレーション オブ アメリカ | 複数の光源を有するモーションセンサ装置 |
JP6623812B2 (ja) * | 2016-02-17 | 2019-12-25 | セイコーエプソン株式会社 | 位置検出装置、及び、そのコントラスト調整方法 |
-
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---|---|---|---|---|
CN104685318A (zh) * | 2013-06-27 | 2015-06-03 | 松下电器(美国)知识产权公司 | 具有多个光源的运动传感器装置 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004117235A (ja) | 2004-04-15 |
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