KR101310290B1 - Pogo pin and apparatus for inspecting circuit using the same - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A pogo pin and an apparatus for inspecting a circuit using the same are provided to improve reliability of the coupling relation between a pin part and a substrate by contacting the substrate and a hooking part securely with each other. CONSTITUTION: A pogo pin (110) includes a casing (11), a pin part (121) and an elastic body. The casing prepares an accommodation space in the inside. The pin part includes a probe (112a) and a main body (112b). The probe is accommodated in the accommodation space of the casing and comprises a hooking part. One side of the probe is supported by the elastic body and the other side of the probe contacts with an inspection unit. The main body part accommodates the probe and forms the hooking part. The elastic body includes a first elastic member and a second elastic member. The first elastic member elastically presses the pin part to the direction away from the casing, and elastically presses the probe to the direction away from the casing as being arranged in the casing. The second elastic member is arranged between the end of the casing and the hooking part, and elastically presses the main body part to the direction away from the casing.

Description

포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치{POGO PIN AND APPARATUS FOR INSPECTING CIRCUIT USING THE SAME}POGO PIN AND APPARATUS FOR INSPECTING CIRCUIT USING THE SAME}

본 발명은 포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치에 관한 것으로써, 보다 상세하게는 포고핀에 걸림부를 형성하여 기판과 포고핀이 결합될 경우 기판과 포고핀 사이의 결합관계에 대한 신뢰성을 높일 수 있는 포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치에 관한 것이다. The present invention relates to a pogo pin and a circuit inspection apparatus using the same, and more particularly, to form a hooking portion on the pogo pin to increase the reliability of the coupling relationship between the substrate and the pogo pin when the substrate and the pogo pin is coupled It relates to a pogo pin and a circuit inspection device using the same.

포고핀(POGO PIN)은 일반적으로 반도체 측정장비의 탐침용으로 사용되며, 구조적인 특성상 접촉 정확도가 높으므로 안정적인 전류 공급이 가능한 바, 충방전용의 전류 공급장치와 휴대용 단말기에 부설된 카메라 모듈이나 슬라이드 힌지 등에도 폭넓게 적용된다.POGO PIN is generally used for probes of semiconductor measuring equipment, and it is possible to supply stable current because of its high contact accuracy due to its structural characteristics. It is a charging / discharging current supply device and a camera module or slide attached to a portable terminal. Widely applied to hinges and the like.

이러한 포고핀은 각 반도체 소자에 대한 전기적 특성을 검사하기 위한 측정장치에서 피검사체와 전기적 신호를 전달하는 장치 사이의 복수 개의 홀이 형성된 기판에 연결되어 전기적 연결을 매개하는 역할을 한다.These pogo pins are connected to a substrate on which a plurality of holes are formed between the object under test and the device that transmits an electrical signal in a measuring device for inspecting electrical characteristics of each semiconductor device.

한편, 종래에 일반적으로 사용되는 포고핀의 경우, 홀에 연결된 포고핀은 피검사장치와의 접촉으로 이동이 잦아 포고핀과 기판과의 사이에 접촉불량이 빈번하게 발생하는 문제가 있었다.On the other hand, in the case of the pogo pin generally used in the prior art, the pogo pin connected to the hole is frequently moved due to the contact with the device under test, there is a problem that frequently occurs poor contact between the pogo pin and the substrate.

또한, 검사환경이 고주파로 갈수록 높아지는 저항으로 인해 신호전달 과정에서 신호 손실이 발생하는 문제가 있었다.In addition, there is a problem that a signal loss occurs in the signal transmission process due to the resistance that the test environment is increasing at higher frequencies.

본 발명의 과제는 상술한 바와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로써, 포고핀에 걸림부를 형성하여 기판과 포고핀이 결합될 경우 기판과 포고핀 사이의 결합관계에 대한 신뢰성을 높일 수 있는 포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to solve the conventional problems as described above, when the substrate and the pogo pin is coupled to form a catch portion on the pogo pin to increase the reliability of the coupling relationship between the substrate and the pogo pin An object of the present invention is to provide a pin and a circuit inspection device using the same.

상기 과제는, 본 발명에 따라, 내부에 수용공간을 갖는 케이싱; 상기 케이싱의 수용공간에 수용되며, 걸림부를 구비하는 핀부; 상기 핀부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 탄성체;를 포함하되, 상기 핀부는, 일측이 상기 탄성체에 지지되고, 타측은 검사체와 접촉하는 탐침부; 상기 탐침부가 수용되며, 상기 걸림부가 형성되는 몸체부;를 포함하며, 상기 탄성체는, 상기 케이싱 내부에 배치되어 상기 탐침부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 제1탄성부재; 상기 케이싱의 단부와 상기 걸림부 사이에 배치되어 상기 몸체부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 제2탄성부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 포고핀에 의해 달성된다.The object is, according to the present invention, the casing having a receiving space therein; A pin part accommodated in the accommodation space of the casing and having a locking part; An elastic body that elastically presses the pin part in a direction away from the casing; wherein the pin part includes: a probe part having one side supported by the elastic body and the other side contacting the test body; And a body portion in which the probe portion is accommodated and the locking portion is formed, wherein the elastic body includes: a first elastic member disposed inside the casing to elastically press the probe portion away from the casing; And a second elastic member disposed between an end portion of the casing and the engaging portion to elastically press the body portion in a direction away from the casing.

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또한, 상기 과제는, 본 발명에 따라, 피검사체 상의 회로를 검사하는 검사장치에 있어서, 삽입홀을 구비하는 기판; 신호를 공급하는 전극부; 상기 삽입홀 내에 삽입되며 단부는 상기 피검사체에 접촉하되, 상기 전극부로부터 신호를 전달받아 상기 피검사체 상의 회로의 정상동작 여부를 검사하는 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항의 포고핀;를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치에 의해 달성된다.In addition, according to the present invention, there is provided an inspection apparatus for inspecting a circuit on an inspection object, comprising: a substrate having an insertion hole; An electrode unit for supplying a signal; A pogo pin according to any one of claims 1 to 3, inserted into the insertion hole and having an end contacting the test object, and receiving a signal from the electrode unit to check whether the circuit on the test object is normally operated. It is achieved by a circuit inspection device comprising a.

또한, 상기 삽입홀은 복수 개가 형성되며, 상기 포고핀과 상기 기판 사이의 저항이 최소화 되도록 상기 포고핀은 상기 삽입홀에 각각 삽입되어 병렬로 연결되는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치에 의해 달성된다.In addition, a plurality of insertion holes are formed, and the pogo pins are respectively inserted into the insertion holes and connected in parallel so as to minimize resistance between the pogo pins and the substrate.

본 발명에 따른 포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치에 의하면, 핀부에 걸림부를 형성하고 탄성체에 의해 핀부를 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압함으로써, 기판과 걸림부가 긴밀하게 상호 접촉되어 핀부와 기판간의 결합관계에 대한 높은 신뢰성이 제공된다.According to the pogo pin and the circuit inspection apparatus using the same according to the present invention, by forming the engaging portion in the pin portion and elastically presses the pin portion away from the casing by the elastic body, the substrate and the engaging portion are in intimate contact with each other so that the coupling portion between the pin portion and the substrate High reliability is provided.

또한, 기판의 삽입홀의 직경이 포고핀에 비해 넓더라도 돌출부와 삽입홀의 외주면이 접촉됨으로써, 기판과 포고핀 간의 접촉이 이루어질 수 있다.In addition, even if the diameter of the insertion hole of the substrate is wider than the pogo pin, the contact between the protrusion and the outer circumferential surface of the insertion hole can be made contact between the substrate and the pogo pin.

또한, 포고핀이 기판에 병렬로 연결됨으로써 고주파의 환경에서 발생하는 높은 저항으로 인한 신호 전달 손실을 줄일 수 있다.In addition, since the pogo pins are connected in parallel to the substrate, it is possible to reduce the signal transmission loss due to the high resistance generated in the high frequency environment.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 포고핀을 나타내는 사시도이고,
도 2은 본 도1의 포고핀을 분해한 것을 나타내는 분해사시도이고,
도 3는 도 1의 포고핀을 나타내는 단면도이고,
도 4은 도 1의 포고핀을 이용하는 회로 검사장치를 나타내는 단면도이고,
도 5는 도 3의 회로 검사장치에서 포고핀의 제1탄성부재 및 제2탄성부재의 작동상태를 나타내는 단면도이고,
도 6은 도 3의 회로 검사장치에서 도 1의 포고핀에 비해 넓은 직경을 갖는 삽입홀에 걸림부가 접촉하는 상태를 나타내는 단면도이다.1 is a perspective view showing a pogo pin according to an embodiment of the present invention,
Figure 2 is an exploded perspective view showing the decomposition of the pogo pin of Figure 1,
3 is a cross-sectional view showing the pogo pin of FIG.
4 is a cross-sectional view showing a circuit inspection apparatus using the pogo pin of FIG.
5 is a cross-sectional view illustrating an operating state of the first elastic member and the second elastic member of the pogo pin in the circuit inspection apparatus of FIG.
FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating a state where the engaging portion contacts a insertion hole having a wider diameter than that of the pogo pin of FIG. 1 in the circuit inspection apparatus of FIG. 3.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 포고핀에 대하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail with respect to the pogo pin according to an embodiment of the present invention.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 포고핀을 나타내는 사시도이고, 도 2은 본 도1의 포고핀을 분해한 것을 나타내는 분해사시도이고, 도 3는 도 1의 포고핀을 나타내는 단면도이다.1 is a perspective view showing a pogo pin according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is an exploded perspective view showing the decomposition of the pogo pin of Figure 1, Figure 3 is a cross-sectional view showing the pogo pin of FIG.

도 1 내지 도 3에서 도시하는 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 포고핀(110)은 케이싱(111)과 핀부(112)와 탄성체(113)를 포함한다.As shown in Figures 1 to 3, the pogo pin 110 according to an embodiment of the present invention includes a casing 111, the pin portion 112 and the elastic body 113.

상기 케이싱(111)은 내부공간을 갖으며, 그 내부공간에는 후술할 핀부(112)와 제1탄성부재(113a)가 배치된다.The casing 111 has an inner space, and the pin portion 112 and the first elastic member 113a to be described later are disposed in the inner space.

상기 핀부(112)는 케이싱(111)내부에 삽입되며, 핀부(112)로부터 돌출 형성되는 걸림부(112c)가 형성된다.The pin part 112 is inserted into the casing 111 and a locking part 112c protruding from the pin part 112 is formed.

또한, 후술할 탄성체(113)로부터 탄성력을 받아 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압되며, 탐침부(112a)와 몸체부(112b)를 포함한다.In addition, it is elastically pressed in a direction away from the casing 111 receives an elastic force from the elastic body 113 to be described later, and includes a probe portion 112a and a body portion 112b.

상기 탐침부(112a)는 그 일측이 케이싱(111) 내부에 삽입되고, 타측은 후술할 검사체와 접촉하여 후술할 전극부(130)로부터 공급되는 전기적 신호를 전달한다.The probe portion 112a has one side inserted into the casing 111 and the other side contacts the test body to be described later, and transmits an electrical signal supplied from the electrode unit 130 to be described later.

또한, 케이싱(111)내부에 삽입되는 측은 탄성체(113)에 삽입되어 고정될 수 있도록 형성되고, 검사체와 접촉하는 측은 하나 이상의 복수 개가 검사체 측으로 돌출 형성될 수 있다.In addition, the side inserted into the casing 111 is formed to be inserted and fixed to the elastic body 113, the side in contact with the test body may be formed in one or more pieces protruding toward the test body side.

상기 몸체부(112b)는 걸림부(112c)가 형성되며, 탐침부(112a)가 관통되어 내부에 수용될 수 있도록 관통홀이 형성될 수 있다.The body portion 112b may be formed with a locking portion 112c, and a through hole may be formed so that the probe portion 112a may be penetrated and accommodated therein.

상기 탄성체(113)는 핀부(112)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하며, 제1탄성부재(113a)와 제2탄성부재(113b)를 포함한다. The elastic body 113 elastically presses the pin part 112 in a direction away from the casing 111 and includes a first elastic member 113a and a second elastic member 113b.

상기 제1탄성부재(113a)는 케이싱(111) 내부에 배치되어 탐침부(112a)의 일단이 검사체와 접촉되도록 탐침부(112a)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압한다.The first elastic member 113a is disposed inside the casing 111 to elastically press the probe 112a in a direction away from the casing 111 so that one end of the probe 112a contacts the test object.

상기 제2탄성부재(113b)는 케이싱(111)의 단부와 걸림부(112c) 사이에 배치되어 일정 간격으로 홀이 형성된 기판과 돌출부(112c)가 긴밀하게 접촉할 수 있도록 몸체부(112b)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압한다.The second elastic member 113b is disposed between the end portion of the casing 111 and the engaging portion 112c, so that the body portion 112b is in close contact with the substrate in which the holes are formed and the protrusion 112c is in close contact with each other. It elastically presses in the direction away from the casing 111.

여기서, 도면에서는 스프링 형태로 도시되었으나, 이에 한정되지 않고 탄성을 지녀 핀부(112)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압할 수 있는 수단이면 무엇이나 가능하다.Here, although shown in the form of a spring, it is not limited thereto, and any means may be used as long as it can elastically press the pin 112 in a direction away from the casing 111.

또한, 상술한 바와 같은 케이싱(111)과 핀부(112)와 탄성체(113)는 전기적 신호 전달이 용이하도록 전도체로 이루어지거나 전도체 물질이 도포되는 것이 바람직하다.
In addition, the casing 111, the pin 112 and the elastic member 113 as described above is preferably made of a conductor or a conductive material is applied to facilitate the electrical signal transmission.

이하, 상기와 같이 구성된 포고핀을 이용한 회로 검사장치를 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a circuit inspection apparatus using the pogo pin configured as described above with reference to the drawings as follows.

도 4는 도 1의 포고핀을 이용하는 회로 검사장치를 나타내는 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating a circuit test apparatus using the pogo pin of FIG. 1.

도 4에서 도시하는 바와 같이, 회로 검사장치는 포고핀(110)과 기판(120)과 전극부(130)를 포함한다.As shown in FIG. 4, the circuit inspection apparatus includes a pogo pin 110, a substrate 120, and an electrode unit 130.

상기 포고핀(110)은 피검사체(A)와 전극부(130) 사이에 배치되는 기판(120)의 삽입홀(121)에 삽입되어 전극부(130)로부터 공급되는 전기적 신호를 전달한다.The pogo pin 110 is inserted into the insertion hole 121 of the substrate 120 disposed between the object A and the electrode 130 to transmit an electrical signal supplied from the electrode 130.

여기서, 포고핀(110)은 상술한 바와 같은 도 1 내지 도 3에서 설명한 내용의 포고핀(110)이 동일하게 적용된다. Here, the pogo pin 110 is the same as the pogo pin 110 described in Figures 1 to 3 described above.

상기 기판(120)에는 신호 전달을 위한 회로(미도시)가 형성되며, 포고핀(110)이 삽입되는 삽입홀(121)이 형성된다. 삽입홀(121)은 기판(120)을 관통하여 형성되며 회로에 연결되어 삽입홀(121)에 장착된 포고핀(110)의 전기적인 신호가 다른 삽입홀(121)에 장착된 포고핀(110)으로 전달된다.A circuit (not shown) for signal transmission is formed in the substrate 120, and an insertion hole 121 into which the pogo pin 110 is inserted is formed. The insertion hole 121 is formed through the substrate 120 and is connected to a circuit so that an electrical signal of the pogo pin 110 mounted on the insertion hole 121 is mounted on the other insertion hole 121. Is passed).

상기 전극부(130)는 피검사체(A)와 기판(120)간의 전기적 신호 전달 성능을 시험하도록 포고핀(110)에 전기적 신호를 공급한다.The electrode unit 130 supplies an electrical signal to the pogo pin 110 to test the electrical signal transmission performance between the object A and the substrate 120.

본 실시예에 따른 포고핀 및 이를 이용한 회로 검사장치에 의하면, 핀부(112)에 걸림부(112c)를 형성하고 탄성체(130)에 의해 핀부(112)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압함으로써, 기판(120)과 걸림부(112c)가 밀접하게 상호 접촉되어 핀부(112)와 기판(120)간의 결합관계에 대한 높은 신뢰성이 제공된다.According to the pogo pin and the circuit inspection apparatus using the same according to the present embodiment, the engaging portion 112c is formed on the pin portion 112 and the elastic portion 130 is elastically pressed in the direction away from the casing 111 by the elastic body 130. As a result, the substrate 120 and the engaging portion 112c are in close contact with each other, thereby providing a high reliability of the coupling relationship between the pin 112 and the substrate 120.

또한, 포고핀(110)이 기판(120)에 병렬로 연결됨으로써 고주파의 환경에서 발생하는 높은 저항으로 인한 신호 전달 손실을 줄일 수 있다.
In addition, since the pogo pin 110 is connected to the substrate 120 in parallel, it is possible to reduce signal transmission loss due to a high resistance generated in a high frequency environment.

이하, 상술한 바와 같은 포고핀을 이용한 회로 검사장치의 동작을 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the operation of the circuit inspection apparatus using the pogo pin as described above with reference to the drawings as follows.

도 5는 도 3의 회로 검사장치에서 포고핀의 제1탄성부재 및 제2탄성부재의 작동상태를 나타내는 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating an operating state of the first elastic member and the second elastic member of the pogo pin in the circuit inspection apparatus of FIG. 3.

도 5에서 도시하는 바와 같이, 기판(120)의 삽입홀(121)에 삽입된 포고핀(110)의 일측에는 피검사체(A)가 배치되고, 타측에는 포고핀(110)과 전기적으로 연결되는 전극부(130)가 배치된다.As shown in FIG. 5, an inspection object A is disposed at one side of the pogo pin 110 inserted into the insertion hole 121 of the substrate 120, and the other side is electrically connected to the pogo pin 110. The electrode unit 130 is disposed.

전극부(130) 또는 피검사체(A)로부터 포고핀(110)측으로 가해지는 압력에 의해 서로 이격되어 있던 피검사체(A)와 포고핀(110)은 서로 간의 간격이 점점 가까워지면서 피검사체(A)와 포고핀(110)의 표면이 서로 접촉하게 되어 전기적으로 연결된 상태를 이룬다, The test subject A and the pogo pin 110, which were spaced apart from each other by the pressure applied from the electrode 130 or the test subject A toward the pogo pin 110, became closer to each other while the test subject A became closer to each other. ) And the surface of the pogo pin 110 is in contact with each other to form an electrically connected state,

이때, 전극부(130)로부터 소정의 신호가 나오게 되면, 그 신호는 전극부(130)를 거처 포고핀(110), 기판(120)을 통과하여 피검사체(A)의 단자로 전달됨으로써, 검사를 수행하게 된다.At this time, when a predetermined signal is output from the electrode unit 130, the signal is passed through the pogo pin 110 and the substrate 120 via the electrode unit 130, and then transmitted to the terminal of the object A to be inspected. Will be performed.

여기서, 제1탄성부재(113a)는 케이싱(111) 내부에 배치되어 탐침부(112a)가 피검사체(A)와 균일하게 접촉되도록 탐침부(112a)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압한다.Here, the first elastic member 113a is disposed inside the casing 111 to elastically press the probe 112a away from the casing 111 such that the probe 112a is in uniform contact with the object A. FIG. do.

즉, 포고핀(110)이 하나가 배치될 경우에는 포고핀(110)의 탐침부(112a)가 피검사체(A)와 접촉되는 면적이 균일하도록 탄성력을 제공하고, 하나 이상의 복수 개로 포고핀(110)이 배치될 경우에는 각각의 포고핀(110)의 탐칩부(112a)가 피검사체(A)와 균일하게 접촉하도록 탄성력을 제공하는 것이다.That is, when one pogo pin 110 is disposed, the probe portion 112a of the pogo pin 110 provides an elastic force so that the area in contact with the test object A is uniform, and the pogo pins are formed in one or more pieces. When the 110 is disposed is to provide an elastic force so that the tom chip portion (112a) of each pogo pin 110 is in uniform contact with the test object (A).

제2탄성부재(113b)는 케이싱(111)의 단부와 걸림부(112c) 사이에 배치되어 몸체부(112b)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압한다.The second elastic member 113b is disposed between the end of the casing 111 and the engaging portion 112c to elastically press the body portion 112b in a direction away from the casing 111.

다시 설명하면, 몸체부(112b)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압함으로써, 몸체부(112b)에 형성되는 돌출부(112c)가 기판(120)의 삽입홀(121)에 긴밀하게 접촉될 수 있다.In other words, by pressing the body portion 112b in a direction away from the casing 111, the protrusion 112c formed in the body portion 112b may be in close contact with the insertion hole 121 of the substrate 120. Can be.

도 6은 도 3의 회로 검사장치에서 도 1의 포고핀에 비해 넓은 직경을 갖는 삽입홀에 걸림부가 접촉하는 상태를 나타내는 단면도이다.FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating a state where the engaging portion contacts a insertion hole having a wider diameter than that of the pogo pin of FIG. 1 in the circuit inspection apparatus of FIG. 3.

도 6에서 도시하는 바와 같이, 기판(220)에 형성되는 삽입홀(221)의 직경이 포고핀(110)의 직경보다 넓을 경우 제2탄성부재(113b)가 케이싱(111)과 멀어지는 방향으로 몸체부(112b)를 탄성 가압함으로써, 몸체부(112b)의 외측방향으로 돌출형성되는 돌출부(112c)가 삽입홀(221)의 외주면과 접촉하여 삽입홀(221)의 직경이 포고핀(110)에 비해 넓더라도 기판(220)과 포고핀(110)이 접촉될 수 있다.As shown in FIG. 6, when the diameter of the insertion hole 221 formed in the substrate 220 is wider than the diameter of the pogo pin 110, the second elastic member 113b may move away from the casing 111. By elastically pressing the portion 112b, the protrusion 112c protruding outwardly of the body portion 112b is in contact with the outer circumferential surface of the insertion hole 221 so that the diameter of the insertion hole 221 reaches the pogo pin 110. Although wider than that, the substrate 220 and the pogo pin 110 may be in contact with each other.

본 실시예에 의하면, 기판(220)의 삽입홀(121)의 직경이 포고핀(110)에 비해 넓더라도 돌출부(122c)와 삽입홀(221)의 외주면이 접촉됨으로써, 기판(220)과 포고핀(110) 간의 접촉이 이루어질 수 있다.
According to the present embodiment, even if the diameter of the insertion hole 121 of the substrate 220 is wider than that of the pogo pin 110, the protrusion 122c and the outer circumferential surface of the insertion hole 221 are in contact with each other, whereby the substrate 220 and the pogo are contacted. Contact between the pins 110 may be made.

본 발명의 권리범위는 상술한 실시예에 한정되는 것이 아니라 첨부된 특허청구범위 내에서 다양한 형태의 실시예로 구현될 수 있다. 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 변형 가능한 다양한 범위까지 본 발명의 청구범위 기재의 범위 내에 있는 것으로 본다.The scope of the present invention is not limited to the above-described embodiments, but may be embodied in various forms of embodiments within the scope of the appended claims. Without departing from the gist of the invention claimed in the claims, it is intended that any person skilled in the art to which the present invention pertains falls within the scope of the claims described in the present invention to various extents which can be modified.

A : 피검사체 110 : 포고핀
111 : 케이싱 112 : 핀부
112a : 탐침부 112b : 몸체부
112c : 돌출부 130 : 탄성체
131 : 제1탄성부재 132 : 제2탄성부재
120, 220 : 기판 121, 221 : 삽입홀
130 : 전극부A: Test Subject 110: Pogo Pin
111: casing 112: pin portion
112a: probe portion 112b: body portion
112c: protrusion 130: elastic body
131: first elastic member 132: second elastic member
120, 220: substrate 121, 221: insertion hole
130: electrode portion

Claims (5)

내부에 수용공간을 갖는 케이싱;
상기 케이싱의 수용공간에 수용되며, 걸림부를 구비하는 핀부;
상기 핀부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 탄성체;를 포함하되,
상기 핀부는, 일측이 상기 탄성체에 지지되고, 타측은 검사체와 접촉하는 탐침부; 상기 탐침부가 수용되며, 상기 걸림부가 형성되는 몸체부;를 포함하며,
상기 탄성체는, 상기 케이싱 내부에 배치되어 상기 탐침부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 제1탄성부재; 상기 케이싱의 단부와 상기 걸림부 사이에 배치되어 상기 몸체부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 제2탄성부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 포고핀.A casing having an accommodation space therein;
A pin part accommodated in the accommodation space of the casing and having a locking part;
And an elastic body elastically pressing the pin portion in a direction away from the casing.
The pin portion, one side is supported by the elastic body, the other side of the probe in contact with the test body; And a body part in which the probe part is accommodated and the locking part is formed.
The elastic member may include: a first elastic member disposed inside the casing to elastically press the probe part in a direction away from the casing; And a second elastic member disposed between the end portion of the casing and the engaging portion to elastically press the body part in a direction away from the casing. 피검사체 상의 회로를 검사하는 검사장치에 있어서,
삽입홀을 구비하는 기판;
신호를 공급하는 전극부;
상기 삽입홀 내에 삽입되며 단부는 상기 피검사체에 접촉하되, 상기 전극부로부터 신호를 전달받아 상기 피검사체 상의 회로의 정상동작 여부를 검사하는 포고핀;을 포함하며,
상기 포고핀은, 내부에 수용공간을 갖는 케이싱; 상기 케이싱의 수용공간에 수용되며, 걸림부를 구비하는 핀부; 상기 핀부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 탄성체;를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치.In the inspection apparatus for inspecting a circuit on a test object,
A substrate having an insertion hole;
An electrode unit for supplying a signal;
A pogo pin inserted into the insertion hole and having an end contacting the object under test, receiving a signal from the electrode unit, and checking whether the circuit on the object under test is normally operated.
The pogo pins, casing having a receiving space therein; A pin part accommodated in the accommodation space of the casing and having a locking part; And an elastic body elastically pressing the pin portion in a direction away from the casing. 제2항에 있어서,
상기 핀부는 일측이 상기 탄성체에 지지되고, 타측은 검사체와 접촉하는 탐침부; 상기 탐침부가 수용되며, 상기 걸림부가 형성되는 몸체부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치.The method of claim 2,
The pin portion is supported on one side of the elastic body, the other side of the probe in contact with the test body; And a body portion in which the probe portion is accommodated and the locking portion is formed. 제3항에 있어서,
상기 탄성체는 상기 케이싱 내부에 배치되어 상기 탐침부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 제1탄성부재; 상기 케이싱의 단부와 상기 걸림부 사이에 배치되어 상기 몸체부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 제2탄성부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치.The method of claim 3,
The elastic member is disposed inside the casing, the first elastic member to elastically press the probe in a direction away from the casing; And a second elastic member disposed between an end portion of the casing and the engaging portion to elastically press the body portion in a direction away from the casing. 제4항에 있어서,
상기 삽입홀은 복수 개가 형성되며,
상기 포고핀과 상기 기판 사이의 저항이 최소화 되도록 상기 포고핀은 상기 삽입홀에 각각 삽입되어 병렬로 연결되는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치.
5. The method of claim 4,
A plurality of insertion holes are formed,
And the pogo pins are respectively inserted into the insertion holes and connected in parallel so as to minimize resistance between the pogo pins and the substrate.
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