KR101297395B1 - Secondary battery eloctrode panel vision detection method - Google Patents

Secondary battery eloctrode panel vision detection method Download PDF

Info

Publication number
KR101297395B1
KR101297395B1 KR1020110131427A KR20110131427A KR101297395B1 KR 101297395 B1 KR101297395 B1 KR 101297395B1 KR 1020110131427 A KR1020110131427 A KR 1020110131427A KR 20110131427 A KR20110131427 A KR 20110131427A KR 101297395 B1 KR101297395 B1 KR 101297395B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
camera
pole plate
plate
image
electrode plate
Prior art date
Application number
KR1020110131427A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20130064853A (en
Inventor
김종성
고강호
Original Assignee
주식회사 엠플러스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 엠플러스 filed Critical 주식회사 엠플러스
Priority to KR1020110131427A priority Critical patent/KR101297395B1/en
Publication of KR20130064853A publication Critical patent/KR20130064853A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101297395B1 publication Critical patent/KR101297395B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M4/00—Electrodes
    • H01M4/02—Electrodes composed of, or comprising, active material
    • H01M4/04—Processes of manufacture in general
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/10—Energy storage using batteries
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

본 발명은 이차전지용 극판 비젼 검사 방법을 제공하는 것을 목적으로 하는 것으로, 본 발명의 구성은 이송라인을 따라 이동되는 이차전지용 극판(10)의 표면 이미지를 스캔하여 상기 극판(10)을 검사하는 이차전지용 극판 비젼 검사 방법에 있어서, 상기 극판(10)의 전체면을 촬영 영역으로 확보할 수 있는 제1카메라(20)를 배치하여 상기 제1카메라(20)를 이용하여 상기 이동중인 극판(10)의 표면 전체 이미지를 스캔하는 단계와; 상기 극판(10)의 전체면을 촬영하는 상기 제1카메라(20)에 비하여 상대적으로 높은 레졸루션을 갖는 다른 제2카메라(30)를 이용하여 상기 극판(10)의 일부 코너부를 스캔하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.An object of the present invention is to provide a secondary battery pole plate vision inspection method, the configuration of the present invention by scanning the surface image of the secondary battery pole plate 10 which is moved along the transfer line to inspect the secondary plate 10 In the electrode plate vision inspection method for a battery, a first camera 20 capable of securing the entire surface of the electrode plate 10 as a photographing area is arranged to move the electrode plate 10 using the first camera 20. Scanning the entire surface of the image; Scanning some corners of the electrode plate 10 using another second camera 30 having a higher resolution than the first camera 20 photographing the entire surface of the electrode plate 10. Characterized in that.

Description

이차 전지용 극판 비젼 검사 방법{Secondary battery eloctrode panel vision detection method}Secondary battery vision inspection method for secondary batteries {Secondary battery eloctrode panel vision detection method}

본 발명은 이차 전지용 극판 비젼 검사 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 이차전지용 극판의 코너부 일부를 스캔하여 불량 여부를 판별할 수 있을 뿐만 아니라, 극판 전체면을 스캔하여 표면 영상 이미지를 취득함으로써 극판 전체면에 불량이 있는지의 여부를 검출해 낼 수 있는 새로운 이차전지용 극판 비젼 검사 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to a pole plate vision inspection method for a secondary battery, and more particularly, it is possible to scan a part of a corner portion of a pole plate for a secondary battery to determine whether it is defective, or to acquire a surface image image by scanning the entire surface of the pole plate. The present invention relates to a new secondary battery pole plate vision inspection method capable of detecting whether an entire surface is defective.

모바일 기술에 대한 기술 개발과 수요가 증가함에 따라 에너지원으로서 이차전지의 수요가 급격히 증가하고 있으며, 이에 따라 다양한 요구에 부흥할 수 있는 전지에 대한 연구가 행해지고 있다. 특히, 높은 에너지 밀도, 방전 전압 및 출력 안정성의 리튬 이차전지에 대한 수요가 높다.As the technology development and demand for mobile technology increases, the demand for secondary batteries as a source of energy is rapidly increasing, and accordingly, researches on batteries capable of reviving various demands are being conducted. In particular, the demand for a lithium secondary battery of high energy density, discharge voltage and output stability is high.

이차전지는 집전체인 극판의 표면에 활물질을 도포하여 양극과 음극을 구성하고 그 사이에 분리막인 세퍼레이터를 개재하여 전극조립체를 만든 다음, 알루미늄 라미네이트 시트의 파우치형 케이스 내부에 장착하여 제조되는 경우가 많다.Secondary batteries are manufactured by coating an active material on the surface of a pole plate, which is a current collector, to form a positive electrode and a negative electrode, and then forming an electrode assembly through a separator, which is a separator therebetween, and then mounting the inside of a pouch type case of an aluminum laminate sheet. many.

이러한 이차전지의 생산과정에서 가장 중요한 것 중의 하나는 소망하는 성능과 안전성 등을 제공하는지 여부를 확인하는 품질 관리이다. 여기서, 품질 관리는 이차전지가 제대로 충방전 성능을 가지고 있는지를 잘 판단하여 양품을 생산하는 한편, 불량품을 선별해 내는 것이다. 이러한 품질 관리가 잘 이루어짐으로써 고품질의 이차전지를 생산할 수 있다.One of the most important things in the production of such a secondary battery is quality control to check whether it provides the desired performance and safety. Here, the quality control is to determine whether the secondary battery has a good charge and discharge performance to produce a good product, while screening out defective products. This quality control is well made it is possible to produce a high quality secondary battery.

상기 이차전지용 극판에 나타날 수 있는 생산공정 중 일반적인 결함은 극판 사이즈가 규격에 맞지 않거나 극판의 코너부에 접힘 부분이 생기거나 활물질의 코팅 불량 등이다. 이처럼, 이차전지의 성능을 좌우하는 변수로는 여러 가지가 있는데, 상기한 이차전지 극판의 사이즈, 극판에 활물질이 불량 없이 제대로 코팅되었는지의 여부 등이 이차전지의 성능에 영향을 미치게 된다. 다시 말해, 이차전지용 극판의 사이즈 측정은 물론 극판의 접힘이나 활물질의 코팅 불량 여부 등의 검사 역시 이차전지의 품질을 위해 매우 중요하다. 즉, 극판의 사이즈가 규격에 맞지 않거나 접힘 현상이 있거나 활물질 코팅 불량 등이 있는 상태로 그대로 이차전지를 제조하면, 이차전지의 성능 저하 등의 문제가 생기고 이차 전지의 불량을 초래할 수도 있기 때문에, 이차전지 제조 공정 중에 상기 요인으로 인한 불량 극판을 선별해내는 공정이 필수적으로 요구되는 것이다.Common defects in the production process that may appear on the secondary battery pole plate is that the pole plate size does not meet the standard, or the folding portion of the pole plate or the coating of the active material is poor. As such, there are various variables that determine the performance of the secondary battery. The size of the secondary battery pole plate, whether the active material is properly coated on the pole plate without defect, and the like affect the performance of the secondary battery. In other words, the size measurement of the electrode plate for secondary batteries as well as inspection of the folding of the electrode plate or coating of the active material is also very important for the quality of the secondary battery. That is, if the secondary battery is manufactured in a state where the size of the electrode plate does not meet the standard, the folding phenomenon, or the coating of the active material is intact, problems such as deterioration of the performance of the secondary battery may occur, and the secondary battery may be defective. A process for sorting out the defective electrode plates due to the above factors in the battery manufacturing process is essential.

이때, 이차전지용 극판의 검사를 위해서는 비젼 검사 방법을 채용하는데, 이러한 극판 비젼 검사 방법은 상기 극판의 네 코너부 중에서 세 코너부의 X축 라인과 Y축 라인의 일부만 측정하고, 극판의 X축 일부 라인과 Y축 일부 라인을 잊는 가상의 연장선이 만나는 지점을 추적하여 극판의 코너 포인트로 계산함으로써, 극판의 전체 사이즈를 측정하고, 동시에 카메라에 의해 극판의 X축 코너부와 Y측 코너부의 일부 영역에 활물질의 코팅 불량이나 얼룩, 기타 필요한 영역의 치수 불량 등이 있는지의 여부를 검사한다. 기타 필요한 영역의 치수 불량의 일례로는 전극탭의 높이와 전극탭에서 활물질의 코팅 높이 등이 될 수 있는데, 이러한 치수 불량 등을 검사하는 것이다.In this case, a vision inspection method is adopted to inspect the secondary battery pole plate, and this pole plate vision inspection method measures only a part of the X-axis line and the Y-axis line of the three corner portions of the four corner portions of the pole plate, and the X-axis partial line of the pole plate. By tracking the point where the virtual extension line that forgets and some of the Y-axis line meets and calculates it as the corner point of the pole plate, the total size of the pole plate is measured, and at the same time by the camera on the X-axis corner portion and the Y-side corner portion of the pole plate. Examine whether there is a coating defect or unevenness of the active material, or any dimension defect of the required area. Examples of the dimensional defects of other necessary areas may be the height of the electrode tab and the coating height of the active material in the electrode tab, and the like.

이처럼 이차전지용 극판의 네 코너부 중에서 세 코너부의 X축 라인과 Y축 라인의 일부만 측정하여 사이즈를 계산하고 불량 여부를 검출하는 이유는 레졸루션(resolution: 해상도)이 높은 카메라에 의해 극판 전체면을 촬영하여 극판의 사이즈와 극판의 표면 불량 여부 등을 검사하는 경우에는 메인 피씨에서의 캘큘레이션 타임이 많이 들어가므로, 극판을 고속으로 이송하는 상태에서 극판을 측정하기가 현실적으로 어렵기 때문이다. 다시 말해, 고해상도의 카메라에 의해 극판 전체면을 측정하는 경우 극판의 이미지를 획득하여 계산하는 시간(calculation time)이 그만큼 많이 걸리므로, 연속되는 극판 이송 공정 도중에 다음 번 극판의 측정이 불가능하게 되고, 이에 따라, 이송라인을 따라 극판이 투입되고 배출되는 시간(즉, 태그 타임)에 극판의 사이즈나 불량 여부 검출 등을 위한 캘큘레이션 타임(계산 시간)이 매칭되지 못하여 고속 이송라인에서 극판을 측정 검사하기가 용이하지 않은 것이다. 캘큘레이션 타임 뿐만 아니라 극판 전체를 다 보기 위한 기능을 구현하려면 카메라 및 제반 하드웨어의 금액이 상당히 고가이므로, 비경제적이다. 이를테면, 이송되는 극판마다 전체면을 촬영하여 세밀하게 계산(캘큘레이팅)할 수는 있으나, 다음 번의 극판이 지나갈 때까지 타임(캘큘레이션 타임)이 많이 들어서 다음 번 극판의 측정이 안되는 것이다.The reason for calculating the size and detecting the defect by measuring only a part of the X-axis line and the Y-axis line of the three corners among the four corner portions of the secondary battery pole plate is to photograph the entire surface of the electrode plate by a camera having high resolution (resolution). When the size of the electrode plate and the surface of the electrode plate are checked for defects or the like, a large amount of calibration time is required in the main PC, so it is difficult to measure the electrode plate in the state of transporting the electrode plate at high speed. In other words, when measuring the whole surface of the plate by a high-resolution camera takes a lot of time (calculation time) to acquire and calculate the image of the plate, it is impossible to measure the next plate during the continuous plate transfer process, Accordingly, the plate is measured and inspected in the high-speed feed line because the calculation time (calculation time) for detecting the plate size or defect is not matched with the time at which the plate is inserted and discharged (ie, tag time) along the transfer line. It is not easy to do. Implementing the ability to view the entire plate as well as the calibration time is uneconomical, as the cost of the camera and all the hardware is quite expensive. For example, it is possible to calculate (calculate) the entire surface of each pole plate to be transported in detail (calculation), but it takes a lot of time (calculation time) until the next pole plate passes, and the next pole plate cannot be measured.

따라서, 캘큘레이션 타임을 극판의 태그 타임과 맞추기 위해서는 극판의 네 코너부 중에서 세 코너부의 X축 라인과 Y축 라인의 일부만 측정하고, 극판의 X축 일부 라인과 Y축 일부 라인을 이어주는 가상의 연장선이 만나는 지점을 추적하여 극판의 코너 포인트로 계산함으로써, 극판의 전체 사이즈를 측정하고, 동시에 상기 카메라에 의해 극판의 X축 코너부와 Y측 코너부의 일부 영역(즉, 카메라에 의해 스캔된 영역)에 활물질의 코팅 불량 등이 있는지, 극판 코너부 및 전극탭(Tab)은 적절한 길이를 유지하고 있는지의 여부 등을 검사하는 방식을 취하고 있다. 즉, 극판에 대한 캘큘레이션 타임을 태그 타임과 맞추기 위해서는 극판의 전체면을 촬영하지 못하고 각 극판의 네 코너부 중에서 세 개의 코너부 일부 이미지만을 획득하여 극판의 사이즈를 측정하고 극판의 불량 여부를 검사하고 있는 실정이다.Therefore, in order to match the calculation time with the tag time of the pole plate, only a part of the X and Y axis lines of the three corner portions of the four corner portions of the pole plate are measured, and an imaginary extension line connecting some of the X and Y axis lines of the pole plate. By tracking this meeting point and calculating it as the corner point of the electrode plate, the total size of the electrode plate is measured, and at the same time a partial area of the X-axis corner portion and the Y-side corner portion of the electrode plate (ie the area scanned by the camera) by the camera. A method of inspecting whether or not there is a coating defect or the like of the active material and whether or not the electrode plate corner portion and the electrode tab Tab maintain an appropriate length is performed. In other words, in order to match the calculation time of the pole plates with the tag time, the entire surface of the pole plates could not be photographed, and only a partial image of the three corners of the four corners of each pole plate was acquired to measure the size of the pole plates and inspect the defects of the pole plates. I'm doing it.

그런데, 상기와 같이 극판을 검사하는 방식의 문제점은 극판의 일부 코너 부분만을 검사하므로, 상기 극판의 스캔된 코너부를 제외한 나머지 부분에 대한 불량 여부를 검출해내지 못한다는 것이다. 즉, 피검사 대상 극판의 세 코너부, 특히, 세 코너부의 일부 영역만 지정하여 카메라로 촬영 이미지를 획득하여 사이즈와 불량 여부를 검출하고, 극판의 나머지 영역은 빼놓고 검사하기 때문에, 상기 카메라가 스캔하지 못한 극판의 다른 영역에 생겨 있는 불량(예를 들어, 활물질의 코팅 불량이나 얼룩 등으로 인한 불량 등)은 검출하지 못하는 것이며, 이처럼 극판 전체면에 대한 검사가 이루어지지 않아서 불량 극판을 그대로 사용하여 이차전지를 제조하게 되면, 이차전지의 성능이 저하되고 나아가 이차전지의 불량이 초래되는 결과를 낳게 되는 것이다.
However, the problem of the method of inspecting the electrode plate as described above is that only a part of the corner portion of the electrode plate is inspected, and thus it is not possible to detect whether there is any defect in the remaining parts except the scanned corner portion of the electrode plate. That is, since only a part of the three corner portions of the electrode plate to be inspected, in particular, the three corner portions are designated, a photographed image is acquired by the camera to detect a size and a defect, and the remaining area of the electrode plate is inspected without inspection. Defects (for example, defects caused by coating defects or stains of active material, etc.) in other areas of the electrode plate which could not be scanned are not detected. Thus, the inspection of the entire electrode plate surface is not carried out. When the secondary battery is manufactured, the performance of the secondary battery is degraded, and the secondary battery may be defective.

본 발명은 전술한 바와 같은 문제를 해결하기 위해 개발된 것으로, 본 발명의 목적은 이차전지용 극판의 코너부 일부를 스캔하여 불량 여부를 판별할 수 있을 뿐만 아니라, 극판 전체면에 대한 이미지를 스캔하여 극판 전체면에 불량이 있는지의 여부까지도 검출해 낼 수 있으므로, 이차전지의 성능 저하를 방지하고 나아가 이차전지의 불량을 방지함으로써 양질의 이차전지를 생산하는데 기여할 수 있는 등의 바람직한 결과를 가져올 수 있는 새로운 방식의 이차전지용 극판 비젼 검사 방법을 제공하고자 하는 것이다.
The present invention was developed to solve the problems described above, an object of the present invention is to scan a portion of the corner portion of the secondary plate of the secondary battery to determine whether or not defective, by scanning an image of the entire surface of the plate It is possible to detect whether there is a defect on the whole surface of the electrode plate, thereby preventing the degradation of the secondary battery and further preventing the failure of the secondary battery, which can contribute to the production of high quality secondary batteries. It is to provide a new method for the inspection of the pole plate vision for secondary batteries.

상기와 같은 과제를 해결하기 위한 본 발명에 의하면, 이송라인을 따라 이동되는 이차전지용 극판(10)의 표면 이미지를 스캔하여 상기 극판(10)을 검사하는 이차전지용 극판 비젼 검사 방법에 있어서, 상기 극판(10)의 전체면을 촬영 영역으로 확보할 수 있는 제1카메라(20)를 배치하여 상기 제1카메라(20)를 이용하여 상기 이동중인 극판(10)의 표면 전체 이미지를 스캔하는 단계와; 상기 극판(10)의 전체면을 촬영하는 상기 제1카메라(20)에 비하여 상대적으로 높은 레졸루션을 갖는 다른 제2카메라(30)를 이용하여 상기 극판(10)의 적어도 두 개의 코너부 일부를 스캔하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 이차전지용 극판 비젼 검사 방법이 제공된다.According to the present invention for solving the above problems, in the secondary battery pole plate vision inspection method for inspecting the pole plate 10 by scanning the surface image of the pole plate 10 for the secondary battery moved along the transfer line, the pole plate Arranging a first camera (20) to secure the entire surface of the (10) to a photographing area, and scanning the entire surface image of the moving electrode plate (10) by using the first camera (20); Scan a portion of at least two corner portions of the electrode plate 10 using another second camera 30 having a higher resolution than the first camera 20 photographing the entire surface of the electrode plate 10. Provided is a method of inspecting a pole plate vision for a secondary battery, comprising the steps of:

상기 극판(10)의 표면 전체 이미지를 스캔하는 단계는, 상기 극판(10)의 복수개의 코너부 중에서 적어도 두 개의 대각선 코너부를 스캔하는 제2카메라(30)의 레졸루션에 비하여 상대적으로 레졸루션이 낮은 제1카메라(20)를 이용하여 상기 극판(10) 전체면에 대한 이미지를 취득함으로써 상기 극판(10)의 표면 전체면에 대한 불량 여부를 검출하는 단계이며, 상기 극판(10)의 코너부 측정 단계는, 상기 극판(10) 전체면 스캔 단계에서 사용되는 제1카메라(20)에 비하여 상대적으로 레졸루션이 높은 제2카메라(30)를 이용하여 상기 극판(10)의 적어도 두 개의 코너부의 일부 이미지를 스캔하여 상기 스캔 이미지를 활용하여 상기 극판(10)의 각 코너부의 서로 만나는 꼭지점을 추적함으로써 상기 극판(10)의 사이즈를 계산하고 동시에 상기 극판(10)의 상기 코너부의 표면 불량 여부도 검출하는 것을 특징으로 한다.The scanning of the entire surface of the electrode plate 10 may include a lower resolution than the resolution of the second camera 30 scanning at least two diagonal corners of the plurality of corner portions of the electrode plate 10. 1 is a step of detecting whether the entire surface of the electrode plate 10 is defective by acquiring an image of the whole surface of the electrode plate 10 by using the camera 20, the corner measuring step of the electrode plate 10 Partial images of at least two corner portions of the pole plate 10 are obtained by using a second camera 30 having a higher resolution than the first camera 20 used in the entire surface scanning step of the pole plate 10. Scan and track the vertices of each corner portion of the electrode plate 10 using the scanned image to calculate the size of the electrode plate 10 and at the same time the surface of the corner portion of the electrode plate 10. It characterized by also detecting the amount or not.

상기 극판(10)의 코너부 측정 단계에서는, 상기 제2카메라를 이용하여 각 코너부의 스캔된 이미지를 이용하여 코너부위의 필요한 데이터를 추출하고, X축 및 Y축 방향의 라인 이미지를 추출하여 가상의 연장선을 이어서 각 꼭지점을 찾고, 상기 계산된 꼭지점을 이용하여 극판의 사이즈를 계산하는 것을 특징으로 한다.In the corner measurement step of the pole plate 10, the necessary data of the corner portion is extracted by using the scanned image of each corner portion by using the second camera, and the line images in the X-axis and Y-axis directions are extracted to be virtual. Finding each vertex after the extension line of, characterized in that for calculating the size of the electrode plate using the calculated vertex.

상기 극판(10)의 코너부 측정 단계에서는, X축 방향 제2카메라(30)를 이용하여 극판(10)의 적어도 두 개의 코너부의 X축 방향의 일부 라인을 스캔하고 동시에 Y축 방향의 제2카메라(30)를 이용하여 극판(10)의 각 코너부의 Y축 방향의 일부 라인을 스캔하는 단계와, 상기 극판(10)의 각 코너부에서 스캔된 X축 라인과 Y축 라인을 연장시키는 가상의 꼭지점을 추적하여 상기 극판(10)의 각 코너부 꼭지점을 셋팅하고, 상기 셋팅된 꼭지점에서 X축 라인과 Y축 라인으로 연장된 라인을 추적하여 상기 극판(10)의 사이즈를 계산하도록 구성할 수도 있다.In the corner portion measuring step of the pole plate 10, the X-axis direction second camera 30 is used to scan some lines in the X-axis direction of at least two corner portions of the pole plate 10 and at the same time the second in the Y-axis direction. Scanning some lines in the Y-axis direction of each corner portion of the pole plate 10 using the camera 30, and virtually extending the X-axis line and the Y-axis line scanned at each corner portion of the pole plate 10. Set the corners of each corner portion of the pole plate 10 by tracking the vertices of, and track the lines extending from the set vertex to the X-axis line and Y-axis line to calculate the size of the pole plate 10 It may be.

상기 제1카메라(20)를 상기 극판(10) 위에 배치하여 상기 극판(10)의 전체면을 촬영하여 표면 이미지를 스캔하는 단계와, 상기 제1카메라(20)의 다음 단에 배치되도록 상기 제2카메라(30)를 설치하여 상기 제1카메라(20)에 의해 상기 극판(10) 전체면의 스캔 이미지가 확보된 다음에 상기 제2카메라(30)에 의해 상기 극판(10)의 대각선 방향 두 코너부의 상대적으로 더 세밀한 표면 이미지를 스캔하는 단계를 포함하되, 상기 극판(10)의 표면 이미지 스캔 단계에 더하여 상기 제1카메라(20)와 상기 제2카메라(30)에 의해 확보된 스캔 이미지 데이터를 상기 메인 피씨(40)에 통보하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.Arranging the first camera 20 on the pole plate 10 to scan the entire surface of the pole plate 10 to scan a surface image, and to place the first camera 20 on the next stage of the first camera 20. 2 camera 30 is installed to secure the scanned image of the entire surface of the pole plate 10 by the first camera 20, and then the diagonal direction of the pole plate 10 by the second camera 30 Scanning a relatively finer surface image of the corner portion, in addition to scanning the surface image of the electrode plate 10, scan image data secured by the first camera 20 and the second camera 30. It is characterized in that it further comprises the step of notifying the main PC (40).

상기 극판(10)의 스캔된 이미지를 이용한 사용자 지정의 데이터를 추출하고, 상기 추출된 데이터가 극판(10)의 정해진 사양값 범위에 들어오는지의 여부를 검출하는 것을 특징으로 한다.And extracting user-specified data using the scanned image of the electrode plate 10 and detecting whether the extracted data falls within a predetermined specification value range of the electrode plate 10.

상기 제1카메라(20)와 제2카메라(30)에 의해 스캔된 영상 이미지에서 에지 추출 알고리즘 및 표면 밝기 (gray level) 데이터 등을 사용하여 필요한 값 등을 계산해 내는 것을 특징으로 한다.In the image images scanned by the first camera 20 and the second camera 30, a necessary value may be calculated using an edge extraction algorithm and surface brightness (gray level) data.

상기 제1카메라(20)와 상기 제2카메라(30) 상기 메인 피씨(40) 사이에 인터페이스되는 비젼 제어부를 더 포함하고, 상기 비젼 제어부는 상기 제1카메라(20)와 상기 제2카메라(30)와 상기 메인 피씨(40)의 중앙 처리장치(44)와 영상 인터페이스(46) 및 디스플레이 장치(46)를 포함하도록 구성하여, 상기 제1카메라(20)와 상기 제2카메라(30)에 의해 취득된 상기 극판(10)의 표면 상태 데이터를 상기 메인 피씨(40)에 전송하고, 상기 디스플레이 장치(46)에는 상기 메인 피씨(40)에 전송된 상기 극판(10)의 데이터를 표시하여 확인할 수 있도록 하는 것을 특징으로 하는 이차전지용 극판 비젼 검사 방법이 제공된다.And a vision controller which is interfaced between the first camera 20 and the second camera 30 and the main PC 40, wherein the vision controller includes the first camera 20 and the second camera 30. FIG. ) And the central processing unit 44 of the main PC 40, the image interface 46, and the display device 46, by the first camera 20 and the second camera 30. The acquired surface state data of the electrode plate 10 is transmitted to the main PC 40, and the display device 46 displays the data of the electrode plate 10 transmitted to the main PC 40 to confirm. A pole plate vision inspection method for a secondary battery is provided.

상기 제1카메라(20)를 상기 극판(10) 위에 배치하여 상기 극판(10)의 전체면을 촬영하여 표면 이미지를 스캔하는 단계와, 상기 제1카메라(20)의 다음 단에 배치되도록 상기 제2카메라(30)를 설치하여 상기 제1카메라(20)에 의해 상기 극판(10) 전체면의 스캔 이미지가 확보된 다음에 상기 제2카메라(30)에 의해 상기 극판(10)의 대각선 방향 두 코너부의 상대적으로 더 세밀한 표면 이미지를 스캔하는 단계를 포함하되, 상기 극판(10)의 표면 이미지 스캔 단계에 더하여 상기 제1카메라(20)와 상기 제2카메라(30)에 의해 확보된 스캔 이미지 데이터를 상기 메인 피씨(40)에 통보하는 단계를 더 포함한다.Arranging the first camera 20 on the pole plate 10 to scan the entire surface of the pole plate 10 to scan a surface image, and to place the first camera 20 on the next stage of the first camera 20. 2 camera 30 is installed to secure the scanned image of the entire surface of the pole plate 10 by the first camera 20, and then the diagonal direction of the pole plate 10 by the second camera 30 Scanning a relatively finer surface image of the corner portion, in addition to scanning the surface image of the electrode plate 10, scan image data secured by the first camera 20 and the second camera 30. Notifying the main PC 40 further includes.

상기 극판(10)의 스캔된 이미지를 이용한 사용자 지정의 데이터를 추출하고, 상기 추출된 데이터가 극판(10)의 정해진 사양값 범위에 들어오는지의 여부를 검출하는 것을 특징으로 한다.And extracting user-specified data using the scanned image of the electrode plate 10 and detecting whether the extracted data falls within a predetermined specification value range of the electrode plate 10.

상기 제1카메라(20)와 제2카메라(30)에 의해 스캔된 영상 이미지에서 에지 추출 알고리즘 및 표면 밝기 (gray level) 데이터 등을 사용하여 필요한 값 등을 계산해 내는 것을 특징으로 한다.In the image images scanned by the first camera 20 and the second camera 30, a necessary value may be calculated using an edge extraction algorithm and surface brightness (gray level) data.

상기 제1카메라(20)와 상기 제2카메라(30) 상기 메인 피씨(40) 사이에 인터페이스되는 비젼 제어부를 더 포함하고, 상기 비젼 제어부는 상기 제1카메라(20)와 상기 제2카메라(30)와 상기 메인 피씨(40)의 영상 획득부(42)와 중앙 처리장치(44)와 영상 인터페이스(46) 및 디스플레이 장치(46)를 포함하도록 구성하여, 상기 제1카메라(20)와 상기 제2카메라(30)에 의해 취득된 상기 극판(10)의 표면 상태 데이터를 상기 메인 피씨(40)에 전송하고, 상기 디스플레이 장치(46)에는 상기 메인 피씨(40)에 전송된 상기 극판(10)의 데이터를 표시하여 확인할 수 있도록 하는 것을 특징으로 한다.
And a vision controller which is interfaced between the first camera 20 and the second camera 30 and the main PC 40, wherein the vision controller includes the first camera 20 and the second camera 30. FIG. ), The image acquisition unit 42, the central processing unit 44, the image interface 46, and the display device 46 of the main PC 40, and the first camera 20 and the first device. The surface state data of the electrode plate 10 acquired by the two cameras 30 is transmitted to the main PC 40, and the display device 46 is transmitted to the main PC 40. It is characterized in that to display the data to be confirmed.

본 발명은 이송라인을 따라 이동되는 이차전지용 극판(10)의 전체면을 촬영 영역으로 확보할 수 있는 제1카메라(20)를 이용하여 이동중인 극판(10)의 표면 전체 이미지를 스캔하는 단계와, 상기 극판(10)의 전체면을 촬영하는 제1카메라(20)에 비하여 상대적으로 높은 레졸루션을 갖는 다른 제2카메라(30)를 이용하여 극판(10)의 적어도 두 개의 코너부를 스캔하는 단계를 포함한다. 이때, 극판(10)의 스캔되는 코너부의 갯수는 세 코너부가 될 수도 있고 두 개의 코너부가 될 수도 있는데, 실제로 극판(10)의 전체면을 스캔하는 제1카메라(20)가 있기 때문에 두 개의 대각선 코너부(정확하게는, 극판의 전극탭 인접 코너부와 이러한 전극탭 인접 코너부와 대각선 방향인 다른 코너부)로 하는 것이 보다 더 경제적이고 속도면에서도 유리하다.The present invention includes the steps of scanning the entire image of the surface of the electrode plate 10 being moved by using the first camera 20 to secure the entire surface of the secondary battery pole plate 10 moved along the transfer line as a photographing area; Scanning at least two corner portions of the electrode plate 10 using another second camera 30 having a higher resolution than the first camera 20 photographing the entire surface of the electrode plate 10. Include. At this time, the number of corners to be scanned of the pole plate 10 may be three corners or two corners, and since there is actually a first camera 20 that scans the entire surface of the pole plate 10, the two diagonals It is more economical and advantageous in speed as the corner portion (exactly, the corner portion adjacent to the electrode tab of the electrode plate and another corner portion diagonal to the corner portion of the electrode tab adjacent).

따라서, 본 발명은 제2카메라(30)에 비하여 상대적으로 레졸루션이 낮은 제1카메라(20)에 의해서는 제2카메라(30)가 획득하는 세밀한 불량 이미지에 비하여 보다 덜 세밀한 불량(활물질의 코팅 불량 등에 의해 육안으로 확인할 수 있는 얼룩과 같은 불량(12))이나 극판(10)의 둘레부의 접힘 불량 등을 먼저 검출하여 불량 극판(10)을 선별해 내고, 상기 극판(10) 코너부의 일부를 스캔하는 단계에서는 극판(10) 전체면 스캔 단계에서 사용되는 제1카메라(20)에 비하여 상대적으로 레졸루션이 보다 높은 제2카메라(30)를 이용하여 극판(10)의 적어도 두 개의 코너부(전극탭 인근의 코너부 및 전극탭 대각선 방향의 코너부를 포함)의 일부 이미지를 스캔하여, 이러한 스캔 이미지를 활용하여 극판(10)의 두 개의 코너부의 서로 만나는 꼭지점을 추적함으로써 극판(10)의 사이즈를 계산하고 동시에 극판(10)의 코너부의 표면 불량 여부도 검출할 수 있고, 동시에 극판(10) 코너부에서 전극탭까지의 이격거리, 전극탭에서의 활물질 코팅 높이 등 스캔된 이미지를 활용한 사용자 지정의 데이터 추출을 하여 정해진 사양값(normal standard value) 범위 내에 들어오는지 등을 검출할 수 있으므로, 불량 극판(10)을 그대로 사용하여 이차전지를 제조하는 경우를 방지하고, 이로 인하여 이차전지의 고성능이 보장되고 양질의 이차전지를 생산하는데 기여하는 효과를 가져올 수 있다. 즉, 본 발명은 극판(10)의 일부에 대한 불량 검사가 아니라 극판(10) 전체면에 대한 불량 검사를 실시하여 불량 극판(10)을 신속하고 완전하게 검출함으로써 능률적인 이차전지의 생산성은 보장함은 물론 완벽한 불량 극판(10) 선별 작업을 할 수 있다는 점에서 본 발명의 의미가 크다 하겠다.
Therefore, in the present invention, the first camera 20 having a lower resolution than the second camera 30 has a less detailed defect than the fine defect image obtained by the second camera 30 (coating of the active material is poor). Defects such as stains (12) that can be visually confirmed by the naked eye, or folding defects around the periphery of the pole plate 10 are first detected to sort out the defective pole plate 10, and a portion of the corner portion of the pole plate 10 is scanned. In the step of performing at least two corner portions (electrode tabs) of the electrode plate 10 using the second camera 30 having a higher resolution than the first camera 20 used in the scanning of the electrode plate 10 whole surface. Scans some images of adjacent corners and corners of the electrode tab diagonally, and utilizes the scanned images to track the vertices of the two corners of the electrode plate 10 meeting each other. Calculate the size and detect the surface defect of the corner of the electrode plate 10 at the same time, at the same time using the scanned image, such as the separation distance from the corner of the electrode plate 10 to the electrode tab, the coating height of the active material on the electrode tab By extracting user-defined data, it is possible to detect whether it is within a normal standard value range, thereby preventing the manufacture of a secondary battery using the defective electrode plate 10 as it is, and thereby High performance is guaranteed and can contribute to the production of high quality secondary batteries. That is, according to the present invention, the inspection of the entire surface of the electrode plate 10 is performed instead of the defect inspection of a part of the electrode plate 10 to quickly and completely detect the defective electrode plate 10, thereby ensuring efficient productivity of the secondary battery. Of course, the meaning of the present invention is great in that the perfect defective plate 10 can be screened.

도 1은 본 발명에 의한 이차전지용 극판 비젼 검사방법을 개념적으로 보여주는 사시도
도 2는 본 발명에 따른 이차전지용 극판 비젼 검사방법에 의해 극판의 전체면을 촬영하는 단계를 개념적으로 보여주는 평면도
도 3은 본 발명에 따른 이차전지용 극판 비젼 검사방법에 의해 극판의 코너부 일부를 촬영하는 단계를 개념적으로 보여주는 평면도
도 4는 본 발명에 따른 이차전지용 극판 비젼 검사방법에 채용되는 비젼 검사 시스템의 구조를 개략적으로 보여주는 도면
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 의한 이차전지용 극판 비젼 검사방법을 개념적으로 보여주는 사시도
도 6은 도 5에 도시된 이차전지용 극판 비젼 검사방법에 의해 극판의 전체면과 극판의 코너부를 촬영하는 단계를 개념적으로 보여주는 평면도1 is a perspective view conceptually showing a pole plate vision inspection method for a secondary battery according to the present invention
2 is a plan view conceptually illustrating a step of photographing the entire surface of the pole plate by the pole plate vision inspection method for a secondary battery according to the present invention.
3 is a plan view conceptually illustrating a step of photographing a part of the corner portion of the pole plate by the pole plate vision inspection method for a secondary battery according to the present invention.
4 is a view schematically showing the structure of a vision inspection system employed in the pole plate vision inspection method for a secondary battery according to the present invention.
5 is a perspective view conceptually showing a method of inspecting a pole plate vision for a secondary battery according to another embodiment of the present invention;
6 is a plan view conceptually illustrating a step of photographing the entire surface of the electrode plate and the corners of the electrode plate by the electrode plate vision inspection method of FIG. 5.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세히 설명한다.
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도면을 참조하면, 본 발명의 실시예는 이송라인을 따라 이동되는 이차전지용 극판(10)의 표면 이미지를 스캔하여 상기 극판(10)을 검사하는 이차전지용 극판 비젼 검사 방법으로서, 상기 극판(10)의 전체면을 촬영 영역으로 확보할 수 있는 제1카메라(20)를 배치하여 제1카메라(20)를 이용하여 이동중인 극판(10)의 표면 전체 이미지를 스캔하는 단계와, 상기 극판(10)의 전체면을 촬영하는 제1카메라(20)에 비하여 상대적으로 높은 레졸루션을 갖는 다른 제2카메라(30)를 이용하여 극판(10)의 대각선 방향 두 코너부의 일부를 스캔하는 단계를 포함하며, 이송 중인 이차전지용 극판(10)의 전체면을 제2카메라(30)에 비하여 상대적으로 레졸루션(해상도)가 낮은 제1카메라(20)로 촬영하여 극판(10) 전체면의 불량 여부를 검출하여 이차전지 극판(10) 선별 작업에 있어서의 신뢰성을 상당히 높이고 나아가 양질의 이차전지 제품을 생산하는데 기여할 수 있다는 점이 주요 특징이다.Referring to the drawings, an embodiment of the present invention is a secondary battery pole plate vision inspection method for inspecting the pole plate 10 by scanning the surface image of the secondary plate pole plate 10 moved along a transfer line, the pole plate 10 Arranging a first camera 20 capable of securing the entire surface of the electrode plate to a photographing area, and scanning the entire surface image of the electrode plate 10 being moved using the first camera 20, and the electrode plate 10. Scanning a portion of the two corners in the diagonal direction of the pole plate 10 using another second camera 30 having a relatively high resolution compared to the first camera 20 photographing the entire surface of the substrate. The entire surface of the secondary battery pole plate 10 being used is photographed with the first camera 20 having a lower resolution (resolution) than the second camera 30 to detect whether the entire surface of the electrode plate 10 is defective or not. In pole plate 10 sorting work Improve the reliability problems that can significantly contribute to the further production of high quality rechargeable battery products are the main features.

한편, 해상도란 디스플레이 장치(모니터와 같은 장치)의 화면상에 포함되어 있는 픽셀의 숫자를 말하는데, 대개 가로 방향의 픽셀수와 세로 방향을 픽셀 수의 곱하기 형태로 나타내는 경우가 많다. 화면 이미지의 선명도는 해상도와 모니터의 크기에 좌우된다. 동일한 해상도에서는 크기가 적은 모니터에서 더 선명하고 크기가 큰 모니터로 갈수록 선명도가 떨어지는데, 그 이유는 면적이 더 크면서도 같은 갯수의 픽셀이 분포되어 있기 때문이다. 예를 들어, 1인치라는 정해진 화면 공간에 많은 수의 픽셀이 들어가면 그만큼 이미지를 정밀하게 표현할 수 있을 것이고, 1인치 공간에 픽셀이 상대적으로 적게 들어가면 그만큼 이미지를 덜 정밀하게 표현할 수 있을 것이다.On the other hand, the resolution refers to the number of pixels included on the screen of a display device (a device such as a monitor). In general, the number of pixels in the horizontal direction and the vertical direction are often expressed in the form of multiplication of the number of pixels. The sharpness of the screen image depends on the resolution and the size of the monitor. At the same resolution, the sharper and larger monitors from smaller monitors become less sharp because they have a larger area and the same number of pixels. For example, a large number of pixels in a given screen space of 1 inch will be able to represent the image precisely, and a relatively small number of pixels in 1 inch of space will render the image less precise.

본 발명에서는 카메라의 픽셀수가 상대적으로 높으면 촬영 이미지 그만큼 더 선명하게 취득되고 카메라의 픽셀수가 상대적으로 적게 들어가면 촬영 이미지가 그만큼 흐려지지만 픽셀수가 상대적으로 높은 것에 비하여 피촬영물의 보다 넓은 면을 촬영한 이미지를 취득할 수 있다는 원리를 취득하여 피촬영 이송 대상물인 이차전지용 극판(10)을 검사할 때에 제2카메라(30)에 비하여 상대적으로 해상도가 낮은 제1카메라(20)를 사용하여 상기 극판(10)의 전체면을 촬영하며, 이처럼 극판(10)의 전체면을 촬영한 이미지 데이터를 이용하여 극판(10)의 전체면에 대한 불량 여부를 검출하는 것이다. 다시 말해, 본 발명은 픽셀수가 적어지면 계산속도가 상대적으로 빠르다는 점을 이용하여 제1카메라(20)에 의해 피촬영물의 보다 넓은 면을 촬영한 이미지를 취득하고, 이러한 극판(10) 전체면의 스캔 이미지를 취득하여 극판(10) 전체면에 대한 불량 여부를 신속하게 검출할 수 있다는 점에서 의미가 크다. In the present invention, when the number of pixels of the camera is relatively high, the captured image is acquired more clearly. When the number of pixels of the camera is relatively smaller, the captured image is blurred as much, but the image of the wider surface of the photographed object is taken as compared to the relatively high number of pixels. The pole plate 10 is obtained by using a first camera 20 having a relatively lower resolution than the second camera 30 when inspecting a secondary battery pole plate 10 as a photographed transfer object by acquiring the principle of acquisition. Photographing the entire surface of the, by using the image data photographed on the entire surface of the electrode plate 10 is to detect whether or not the defect on the entire surface of the electrode plate 10. In other words, the present invention obtains an image obtained by photographing a wider surface of the photographed object by the first camera 20 by using the fact that the calculation speed is relatively high when the number of pixels decreases. This is significant in that it is possible to quickly detect whether or not a defect is with respect to the entire surface of the electrode plate 10 by acquiring a scanned image of the.

본 발명에서는 이송중인 극판(10)의 화면 이미지 획득을 위하여 제1카메라(20) 및 제2카메라(30)를 에리어 스캔(Area scan) 카메라로 채용한다. 이러한 에리어 스캔 카메라는 이동중인 대상물의 위치나 치수의 계측, 결함검출 등에 이용한다. 즉, 이송라인을 따라 이송중인 이차전지용 극판(10)이 에리어 스캔 카메라를 경유함에 따라, 에리어 스캔 카메라가 연속 라인의 영상 데이터(즉, 필요 면적에 대한 정지 영상)을 획득하고, 에리어 스캔 카메라로부터의 영상 데이터는 비젼 시스템에 제공되고, 이러한 비젼 시스템 안에서 극판(10)의 영상 프레임들이 포착된다. 구체적으로, 제1카메라(20)에 의해서는 이송중인 극판(10)의 전체면을 촬영한 영상 데이터가 획득되고, 제2카메라(30)에 의해서는 극판(10)의 적어도 두 개의 코너부(좀더 구체적으로는 전극탭(15) 인접 코너부와 전극탭(15) 대각선 방향 코너부)의 일부를 촬영한 영상 데이터가 획득되는 것이다. 본 발명에서는 전극탭(15) 인접 코너부와 전극탭(15) 전체면과 다른 대각선 방향 코너부를 스캔하여 영상 데이터를 획득하게 된다.In the present invention, the first camera 20 and the second camera 30 are used as an area scan camera to obtain a screen image of the pole plate 10 being transferred. Such an area scan camera is used for measuring the position and dimension of a moving object, detecting defects, and the like. That is, as the secondary battery pole plate 10 being transported along the transfer line passes through the area scan camera, the area scan camera acquires the image data of the continuous line (that is, the still image for the required area), Image data is provided to the vision system, in which the image frames of the electrode plate 10 are captured. Specifically, the first camera 20 acquires image data photographing the entire surface of the pole plate 10 being transferred, and the second camera 30 at least two corner portions of the pole plate 10 ( More specifically, image data obtained by capturing a portion of an adjacent corner portion of the electrode tab 15 and a diagonal corner portion of the electrode tab 15 is obtained. In the present invention, image data is acquired by scanning a corner portion adjacent to the electrode tab 15 and a diagonal corner portion different from the entire surface of the electrode tab 15.

상기 극판(10)의 표면 전체 이미지를 스캔하는 단계에서는 극판(10)의 두 코너부(two corner portion)를 스캔하는 제2카메라(30)의 레졸루션에 비하여 상대적으로 레졸루션이 낮은 제1카메라(20)를 이용하여 극판(10) 전체면을 촬영하여 극판(10) 전체면에 대한 이미지를 취득함으로써 극판(10)의 표면 전체면에 대한 불량 여부를 검출한다. 이때, 제1카메라(20)에 의해서 포착되는 불량은 제2카메라(30)에서 획득된 극판(10)의 세밀한 이미지에 비하여 보다 덜 세밀한 불량, 예를 들어, 육안으로 확인할 수 있는 얼룩(활물질의 코팅 불량 등으로 생긴 것이라 할 수 있음)이나 극판(10)의 둘레부의 접힘 불량 등이다. 즉, 상대적으로 레졸루션이 높은 제2카메라(30)에 비하여 상대적으로 레졸루션이 더 낮은 제1카메라(20)에서는 상당히 세밀한 불량을 검출해는 대신에 극판(10) 전체면에 생겨 있는 보다 덜 세밀한 불량(상기한 얼룩 불량이나 접힘 불량 등)을 검출해내는 것이다. 도 2에서는 제1카메라(20)에 의해 극판(10)의 촬영되는 영역(SA1)이 도시되어 있다.In the scanning of the entire surface image of the electrode plate 10, the first camera 20 having a lower resolution than the resolution of the second camera 30 scanning two corner portions of the electrode plate 10. By taking the entire surface of the electrode plate 10 by using a) to obtain an image of the entire surface of the electrode plate 10 to detect whether or not the defect on the entire surface of the electrode plate 10. In this case, the defect captured by the first camera 20 is less detailed than the fine image of the electrode plate 10 obtained by the second camera 30, for example, a stain that can be visually confirmed by the naked eye. Or poor folding of the periphery of the electrode plate 10. That is, the first camera 20 having a lower resolution than the second camera 30 having a relatively high resolution does not detect a very fine defect, but a less detailed defect that occurs on the entire surface of the pole plate 10. (Stain defects, folding defects, etc. mentioned above) are detected. In FIG. 2, an area SA1 of the pole plate 10 photographed by the first camera 20 is illustrated.

상기한 바와 같이, 극판(10)의 두 코너부 측정 단계에서는 극판(10) 전체면 스캔 단계에서 사용되는 제1카메라(20)에 비하여 상대적으로 레졸루션이 보다 높은 제2카메라(30)를 이용하여 극판(10)의 대각선 방향 두 코너부의 일부 이미지를 스캔하여 스캔 이미지를 활용하여 극판(10)의 두 코너부의 서로 만나는 꼭지점(P1,P2)에서 연장되는 극판(10)의 가로 라인(X축 방향 라인)과 세로 라인(Y축 방향 라인)을 추적함으로써 극판(10)의 전체 사이즈를 계산하고 동시에 극판(10)의 두 코너부의 표면 불량 및 치수 불량 여부 등도 검출한다. 즉, 제2카메라(10)에 의해 극판(10)의 두 대각선 방향 코너부(구체적으로, 한 쪽의 전극탭 인접 코너부와 전극탭 전체면과 상기 전극탭 대각선 방향의 다른 쪽 코너부)를 스캔하여 활물질의 코팅 불량이나 얼룩, 기타 필요한 영역의 치수 불량 등이 있는지의 여부를 검사한다. 기타 필요한 영역의 치수 불량의 일례로는 전극탭의 높이와 전극탭에서 활물질의 코팅 높이 등이 될 수 있는데, 이러한 치수 불량 등을 검사하는 것이다.As described above, in the measurement of the two corner portions of the pole plate 10, the second camera 30 having a higher resolution is used than the first camera 20 used in the scan of the whole surface of the pole plate 10. A horizontal line (X-axis direction) of the electrode plate 10 extending from the vertices P1 and P2 where the two corner portions of the electrode plate 10 meet each other by scanning some images of two corner portions in the diagonal direction of the electrode plate 10 by using the scanned images. The total size of the pole plate 10 is calculated by tracing the line) and the vertical line (the line in the Y-axis direction), and at the same time, the surface defects and the dimension defects of the two corner portions of the pole plate 10 are also detected. That is, two diagonal corner portions (specifically, one electrode tab adjacent corner portion, an electrode tab whole surface, and the other corner portion in the diagonal direction of the electrode tab) of the electrode plate 10 are formed by the second camera 10. Scanning is carried out to check for coating defects, smudges and other dimensional defects of the active area. Examples of the dimensional defects of other necessary areas may be the height of the electrode tab and the coating height of the active material in the electrode tab, and the like.

상기 극판(10)의 두 코너부 측정 단계에서는 제2카메라(30)를 이용하여 극판(10)의 각 코너부의 스캔된 이미지를 이용하여 코너부의 필요한 데이터를 추출하고, X축 및 Y축 방향의 라인 이미지를 추출하여 가상의 연장선을 이어서 각 꼭지점을 찾고, 계산된 꼭지점을 이용하여 극판(10)의 사이즈를 계산하는 과정으로 이루어 질 수 있다. X축 및 Y축 방향의 라인 이미지 이외에 표면 이미지를 추출하여 각 꼭지점을 찾고, 계산된 꼭지점을 이용하여 극판(10)의 사이즈를 계산하는 것도 가능하다. 도 3에서는 제2카메라(30)에 의해 극판(10)의 촬영되는 영역이 표시되고 계산의 속도를 높이기 위해 라인 추출에 필요한 관심 영역(SA2)이 도시되어 있고, 제2카메라(30)에 의해 촬영된 X축 라인과 Y축 라인을 바탕으로 추적된 코너 꼭지점(P1,P2)이 도시되어 있다. 한편, 제2카메라(30)의 레졸루션은 필요에 따라 조절할 수 있음은 물론이다.In the measurement of the two corner portions of the electrode plate 10, the necessary data of the corner portions is extracted using the scanned image of each corner portion of the electrode plate 10 using the second camera 30, and the X and Y axis directions are extracted. By extracting a line image, the virtual extension line is found to find each vertex, and the size of the pole plate 10 may be calculated using the calculated vertices. It is also possible to find each vertex by extracting a surface image in addition to the line image in the X- and Y-axis directions, and calculate the size of the electrode plate 10 using the calculated vertices. In FIG. 3, the area photographed of the electrode plate 10 is displayed by the second camera 30, and the region of interest SA2 required for line extraction is shown to speed up the calculation, and the second camera 30 is shown. The corner vertices P1 and P2 traced based on the captured X-axis and Y-axis lines are shown. On the other hand, the resolution of the second camera 30 can of course be adjusted as necessary.

또한, 본 발명에서는 제1카메라(20)를 극판(10) 위에 배치하여 극판(10)의 전체면을 촬영하여 표면 이미지를 스캔하는 단계와, 제1카메라(20)의 다음 단에 배치되도록 제2카메라(30)를 설치하여 제1카메라(20)에 의해 극판(10) 전체면의 스캔 이미지가 확보된 다음에 제2카메라(30)에 의해 극판(10)의 대각선 방향 두 코너부의 상대적으로 더 세밀한 표면 이미지를 스캔하는 단계를 포함하되, 극판(10)의 표면 이미지 스캔 단계에 더하여 제1카메라(20)와 제2카메라(30)에 의해 확보된 스캔 이미지 데이터를 비젼 제어부를 통하여 메인 피씨(40)에 통보하는 단계를 더 포함한다.In addition, in the present invention, the first camera 20 is disposed on the pole plate 10 to photograph the entire surface of the pole plate 10 to scan a surface image, and to be disposed at the next stage of the first camera 20. 2 the camera 30 is installed to secure the scanned image of the entire surface of the pole plate 10 by the first camera 20, and then the two cameras 30 are relatively two corners of the diagonal direction of the pole plate 10 by the second camera 30. The method may further include scanning a more detailed surface image, and in addition to the surface image scanning step of the pole plate 10, scan image data obtained by the first camera 20 and the second camera 30 through the vision control unit. 40, further comprising the step of notifying.

본 발명에서는 제1카메라(20)와 제2카메라(30)에 의해 촬영된 영상 이미지가 메인 피씨(40)로 통보되고, 메인 피씨(40)에서는 극판(10)의 스캔된 이미지를 이용한 사용자 지정의 데이터를 추출하고, 상기 추출된 데이터가 극판(10)의 정해진 사양값 범위에 들어오는지의 여부를 검출한다. 즉, 스캔된 이미지에서 에지 추출 알고리즘 및 표면 밝기 (gray level) 데이터 등을 사용하여 필요한 값 등을 계산해 내는 것이고, 이러한 계산된 값이 정해진 사양값(즉, 극판(10)의 정상 규격 사이즈나 정상 표면 밝기(gray level) 데이터 등)의 범위 내에 들어오지 않으면 극판(10)의 불량으로 판별하고, 이렇게 불량으로 판별된 극판(10)은 이송라인 상에 설치된 자동 취출기에 의해 해당 불량 극판(10)을 신속하게 취출하는 것이다.In the present invention, the image image taken by the first camera 20 and the second camera 30 is notified to the main PC 40, the user PC using the scanned image of the pole plate 10 in the main PC 40 Is extracted, and it is detected whether the extracted data falls within a predetermined specification value range of the electrode plate 10. In other words, the edge extraction algorithm and the surface brightness (gray level) data, etc. are calculated from the scanned image, and the calculated values are calculated to the predetermined specification values (that is, the normal specification size or normal of the plate 10). If it does not fall within the range of the surface brightness (gray level data, etc.), it is determined that the pole plate 10 is defective, and the pole plate 10 determined as such a failure is determined by the automatic extraction machine installed on the transfer line. It is quick to take out.

본 발명에서는 고속으로 이송(대략 초당 2장 이상)되는 다수개의 이차전지용 극판(10)의 표면을 촬영하여 이미지 데이터를 획득하고, 이러한 데이터를 이용하여 필요한 값(극판 사이즈나 불량 여부 등)을 추출하기 위한 알고리즘 등의 계산(연산)을 수행하는데, 상기 제2카메라(30)에 비하여 레졸루션이 더 낮은 제1카메라(20)를 사용하는 이유는 극판(10)의 전체면을 모두 촬영하여 세밀한 촬영 이미지를 취득하여 계산(캘큘레이팅)할 수는 있으나, 이처럼 제1카메라(20)에서 세밀한 극판(10) 이미지를 취득하여 계산할 경우에는 다음번의 극판(10)이 지나갈때까지 캘큘레이션 타임이 그만큼 많이 들어서 다음 번의 극판(10) 측정이 안되기 때문이며, 이에 따라, 극판(10)의 전체 표면 이미지를 취득하여 연산하고 불량 극판(10)을 검출하기 위해서는 제2카메라(30)에 비하여 레졸루션이 보다 낮은 제1카메라(20)를 사용하는 것이 필수적으로 요구된다. 즉, 초당 대략 고속 이송 중인 개별 이차전지용 극판(10)을 신속하게 촬영하여 연산(계산)하고 다음 번의 극판(10)도 신속하게 촬영하여 연산하는 과정을 바로바로 수행해야 하는데, 상기 제1카메라(20)의 레졸루션을 제2카메라(30)의 레졸루션에 비하여 낮은 것을 사용하여 촬영하는 방식을 채용함으로써 이러한 극판(10)의 전체면에 대한 촬영 이미지 획득이 원활하게 이루어질 수 있게 되며, 제1카메라(20)에 의해 극판(10)의 전체면을 촬영하여 극판(10)의 표면 데이터를 획득함으로써 태그 타임(즉, 극판(10)이 들어오는 시간과 나가는 시간)을 맞춰줄 수 있게 된다.According to the present invention, image data is obtained by photographing the surfaces of a plurality of secondary battery pole plates 10 which are transported at a high speed (approximately two or more per second), and extracts necessary values (such as pole plate size or defects) using such data. Algorithm for performing the calculation (operation) is performed, the reason for using the first camera 20 having a lower resolution than the second camera 30, the reason for using the entire surface of the pole plate 10 to take a detailed shot Although it is possible to acquire and calculate an image (calculation), in the case of obtaining and calculating the fine electrode plate 10 image in the first camera 20 as described above, the calculation time is increased until the next pole plate 10 passes. This is because the next pole plate 10 cannot be measured. Accordingly, the second camera 30 is connected to the second camera 30 in order to acquire and calculate the entire surface image of the pole plate 10 and detect the defective pole plate 10. And it is not necessarily required to use a resolution lower than the first camera (20). That is, a process of quickly photographing and calculating (calculating) the individual secondary battery pole plates 10 being transferred at about high speed per second and rapidly photographing and calculating the next pole plate 10 should be performed immediately. By employing a method of photographing the resolution of 20 using a lower one than the resolution of the second camera 30, the photographed image of the entire surface of the electrode plate 10 can be obtained smoothly, and the first camera ( It is possible to match the tag time (that is, the time when the pole plate 10 enters and goes out) by photographing the entire surface of the pole plate 10 to obtain surface data of the pole plate 10.

상기 제1카메라(20)(즉, 제2카메라(30)에 비하여 레졸루션이 낮은 카메라)는 극판(10)의 사이즈가 달라지는 경우에 대응하여 극판(10)의 상부에서 승강되는 구조를 가지도록 하고 동시에 승강 위치에 대응하여 레졸루션도 자동 조절되도록 하는 것이 바람직하다. 제1카메라(20) 승강수단은 모터와 이에 연결된 엘엠 가이드 등과 같은 공지의 승강장치를 채용할 수 있을 것이며, 제1카메라(20) 레졸루션 조절은 후술할 비젼 제어부에 프로그래밍된 제어 알고리즘에 의해 이루어지도록 할 수 있을 것이다.The first camera 20 (that is, a camera having a lower resolution than the second camera 30) has a structure of elevating from the top of the pole plate 10 in response to the case where the size of the pole plate 10 is changed. At the same time, it is desirable to automatically adjust the resolution corresponding to the lift position. The lifting means of the first camera 20 may employ a well-known lifting device such as an EL guide connected to the motor, and the first camera 20 resolution adjustment may be performed by a control algorithm programmed in a vision controller to be described later. Could be.

극판(10)의 사이즈가 상대적으로 커진다면 제1카메라(20)를 상승시켜서 극판(10)의 전체면을 촬영할 수 있도록 해야 할 것이며, 제1카메라(20)가 상승되어 극판(10)에서 멀어지면 제1카메라(20)가 포착하는 극판(10) 표면의 선명도가 떨어질 수 있기 때문에, 제1카메라(20)가 극판(10)에서 상대적으로 더 높이 상승하면 제1카메라(20)의 레졸루션을 좀더 높여주는 것이 바람직하며, 이렇게 함으로써 제1카메라(20)가 극판(10)의 전체면을 촬영하여 이미지를 획득하면서 극판(10) 표면의 불량 여부를 검출할 수 있을 것이며, 반대로 극판(10)의 사이즈가 상대적으로 작아진다면 제1카메라(20)를 하강시켜 극판(10) 전체면에서 불량 여부를 검출할 수 있을 것이다. 이를테면, 제1카메라(20)의 높이 가변성을 확보하여 모든 사이즈의 극판(10)에 대한 검사가 이루어지도록 할 수 있는 것이다.If the size of the pole plate 10 becomes relatively large, the first camera 20 should be raised so that the entire surface of the pole plate 10 can be photographed, and the first camera 20 is raised to move away from the pole plate 10. Since the sharpness of the surface of the pole plate 10 captured by the ground first camera 20 may be reduced, when the first camera 20 rises relatively higher on the pole plate 10, the resolution of the first camera 20 may be reduced. It is preferable to further increase, and by doing so, the first camera 20 may detect the defect of the surface of the electrode plate 10 while acquiring an image by photographing the entire surface of the electrode plate 10, and conversely, the electrode plate 10. If the size of R is relatively small, the first camera 20 may be lowered to detect whether there is a defect in the entire surface of the electrode plate 10. For example, the height variability of the first camera 20 may be secured so that inspection of the pole plates 10 of all sizes is performed.

또한, 상기 제2카메라(30)에 의해서는 극판(10)의 대각선 방향 두 코너부의 일부 표면 이미지를 획득하여 극판(10) 사이즈를 측정하고 극판(10) 두 코너부의 불량 여부도 검출하는데, 두 군데의 제2카메라(30) 중에서 한 군데의 제2카메라(30), 예를 들어, 극판(10)의 상면을 기준으로 좌상측 제2카메라(30)의 위치값(position value)을 절대값(기준 위치)로 잡고, 다른 한 군데의 제2카메라(30)는 극판(10)의 사이즈가 달라지는 것에 대응하여 위치 변경이 이루어지도록 하는 것이 바람직하다. 즉, 극판(10)의 사이즈가 상대적으로 커지면 절대값으로 지정된 제2카메라(30)는 정지시킨 상태에서 다른 위치의 제2카메라(30)는 위치 이동(X축 또는 Y축 이동)하면 될 것이다. 제2카메라(30)의 이동은 X축 플로터와 Y축 플로터가 이동하는 장치를 채용하는 경우 등을 고려해 볼 수 있을 것이다. 그리고, 상기 제2카메라(30)에서 절대값을 설정하는 것은 메인 피씨(40)의 마우스를 이용하여 가능할 것이다. 결국, 제1카메라(20)의 높이 가변성을 확보하고 제2카메라(30)의 이동성을 확보함으로써, 극판(10)의 사이즈 측정에 있어서 유연성을 가질 수 있게 된다. 물론, 제1카메라(20)와 제2카메라(30)는 도시되지 않은 지지대에 장착되어 각각 상하 이동과 X축 Y축 이동이 가능한 구조를 취할 수 있다.In addition, the second camera 30 obtains a partial surface image of two corner portions in the diagonal direction of the electrode plate 10 to measure the size of the electrode plate 10 and detects whether the corner portions of the electrode plate 10 are defective. The absolute value of the position value of the upper left second camera 30 is determined based on the upper surface of the second camera 30, for example, the pole plate 10, among the second cameras 30. It is preferable that the position of the second camera 30 is changed so as to correspond to a change in the size of the pole plate 10. That is, when the size of the pole plate 10 becomes relatively large, the second camera 30 having the absolute value is stopped and the second camera 30 in another position may move in position (X-axis or Y-axis movement). . The movement of the second camera 30 may be considered in the case of employing a device in which the X-axis plotter and the Y-axis plotter move. And, setting the absolute value in the second camera 30 will be possible using the mouse of the main PC (40). As a result, by securing the height variability of the first camera 20 and the mobility of the second camera 30, it is possible to have flexibility in measuring the size of the pole plate 10. Of course, the first camera 20 and the second camera 30 may be mounted on a support (not shown) to have a structure capable of vertical movement and X-axis Y-axis movement, respectively.

한편, 상기 제1카메라(20)와 제2카메라(30)의 성능을 저하시키지 않으려면, 주기적인 캘리브레이션(calibration), 다시 말해, 제1카메라(20)와 제2카메라(30)의 동작 조건들을 주기적으로 조정할 수 있다. 구체적으로, 조명계의 조도를 주기적으로 보상하고, 입력 신호(극판(10) 표면 스캔 이미지 데이터라 할 수 있음)에 대한 제1카메라(20)와 제2카메라(30)의 레졸루션, 제1카메라(20)와 제2카메라(30)의 각도 등을 주기적으로 갱신할 수 있을 것이다. 조명계의 조도는 물론 조도 조절 장치에 의해 수행할 수 있고, 제1카메라(20)와 제2카메라(30)의 레졸루션 조절은 각 카메라(20 및 30)에 내장되거나 회로적으로 연결된 제어부(미도시)에서 수행 가능하며, 제1카메라(20) 및 제2카메라(30)의 각도도 물론 공지의 각도 조절기를 이용하여 가능할 것이다.On the other hand, in order not to degrade the performance of the first camera 20 and the second camera 30, periodic calibration, that is, operating conditions of the first camera 20 and the second camera 30 You can adjust them periodically. Specifically, the illumination of the illumination system is periodically compensated, and the resolution of the first camera 20 and the second camera 30 with respect to the input signal (which may be referred to as surface scan image data of the electrode plate 10), and the first camera ( 20) and the angle of the second camera 30 may be periodically updated. Illumination of the illumination system can of course be performed by the illumination control device, and the resolution adjustment of the first camera 20 and the second camera 30 is a control unit (not shown) that is built in or circuitry connected to each camera (20 and 30) ), And the angles of the first camera 20 and the second camera 30 may also be possible using a known angle adjuster.

제1카메라(20)와 제2카메라(30) 개별 교정 단계에서는 레졸루션 조절, 디스토션(distortion) 조정, 카메라 간의 상대 거리, 상대 회전 각도 등의 조절, 1~2회의 조작에 의한 오토 캘리브레이션(auto calibration) 등이 이루어질 수 있고, 조명계의 조절 단계에서는 극판(10)의 획득 이미지 최적화를 달성하기 위한 조명 최적화 모드를 조절할 수 있을 것이다.In the individual calibration step of the first camera 20 and the second camera 30, the resolution adjustment, the distortion adjustment, the relative distance between the cameras, the adjustment of the relative rotation angle, etc., auto calibration by one or two operations ), And in the adjusting step of the illumination system, it is possible to adjust the illumination optimization mode for achieving the acquired image optimization of the electrode plate 10.

본 발명에서 채용되는 비젼 제어부는 제1카메라(20)와 제2카메라(30) 및 메인 피씨(40) 사이에 인터페이스되도록 구성할 수 있다. 이러한 비젼 제어부는 제1카메라(20)와 제2카메라(30)와 메인 피씨(40)에 연결된 영상 획득부(42)와 중앙 처리장치(44)와 영상 인터페이스(46) 및 디스플레이 장치(46)를 포함하도록 구성하여, 상기 제1카메라(20)와 제2카메라(30)에 의해 취득된 극판(10)의 표면 상태 데이터를 메인 피씨(40)의 영상 획득부(42)를 통해 중앙 처리장치(44)에 전송하고, 메인 피씨(40)의 영상 인터페이스(46)는 극판의 촬영된 영상 이미지를 전송하여 디스플레이 장치(46)에서 확인하도록 할 수 있다.The vision controller employed in the present invention may be configured to interface between the first camera 20, the second camera 30, and the main PC 40. The vision controller includes an image acquisition unit 42, a central processing unit 44, an image interface 46, and a display device 46 connected to the first camera 20, the second camera 30, and the main PC 40. And the surface state data of the pole plate 10 acquired by the first camera 20 and the second camera 30 through the image acquisition unit 42 of the main PC 40. The video interface 46 of the main PC 40 may transmit the captured video image of the electrode plate to be confirmed by the display device 46.

상기 제1카메라(20)와 제2카메라(30)에 의해 촬영한 영상 데이터를 메인 피씨(40)의 영상 획득부(42)에 전송하고, 이러한 영상 획득부(42)는 전송된 영상 데이터를 처리하여 프레임 단위로 출력하도록 할 수 있다.The image data photographed by the first camera 20 and the second camera 30 is transmitted to the image acquisition unit 42 of the main PC 40, and the image acquisition unit 42 transmits the transferred image data. Can be processed and output in units of frames.

상기 메인 피씨(40)의 중앙 처리장치(44)에서는 영상 획득부(42)에서 포착된 영상 데이터를 분석하여 제1카메라(20)와 제2카메라(30)의 검사 결과 데이터를 영상 인터페이스(46)에 입력시키고, 이러한 영상 인터페이스(46)는 중앙 처리장치(44)로부터의 영상 데이터를 인터페이싱하여 디스플레이 장치(46)에 입력시키므로, 디스플레이 장치(46)에서는 제1카메라(20)와 제2카메라(30)의 검사 결과 데이터(촬영된 극판(10) 표면의 영상 데이터)가 디스플레이되도록 할 수 있다.The central processing unit 44 of the main PC 40 analyzes the image data captured by the image acquisition unit 42 and displays the test result data of the first camera 20 and the second camera 30 in the image interface 46. Since the image interface 46 interfaces image data from the central processing unit 44 and inputs the image data to the display device 46, the display device 46 includes a first camera 20 and a second camera. The test result data 30 (image data of the surface of the photographed pole plate 10) may be displayed.

따라서, 본 발명은 고속 이송 중인 극판(10)의 표면을 상기 제1카메라(20)와 제2카메라(30)에 의해 촬영하여 표면 이미지를 취득하는 단계와, 극판(10)의 이미지가 취득되면 비젼 제어부는 기준값을 이용하여 취득된 극판(10) 이미지에 불량이 있는지의 여부를 판단하는 단계와, 극판(10)의 획득 이미지에 불량이 발생되면 비젼 제어부는 극판(10) 표면의 불량 정보를 발생하여 출력하는 단계로 구성될 수 있는 것이다. 이때, 메인 피씨(40)에 연결된 키보드나 마우스는 비젼 제어부에 작업자가 정보나 초기 설정값을 입력하기 위해 사용될 수 있고, 디스플레이 장치(46)에는 극판(10) 표면 이미지의 획득 결과나 기타 결과를 작업자가 시각적으로 볼 수 있도록 할 수 있다.Therefore, according to the present invention, the surface of the pole plate 10 being transported at high speed is photographed by the first camera 20 and the second camera 30 to obtain a surface image, and when the image of the pole plate 10 is acquired. The vision controller determines whether there is a defect in the obtained pole plate 10 image by using a reference value, and when a failure occurs in the acquired image of the pole plate 10, the vision controller determines defect information on the surface of the pole plate 10. It can be configured to generate and output. In this case, a keyboard or a mouse connected to the main PC 40 may be used for the operator to input information or an initial setting value to the vision control unit, and the display device 46 may acquire an acquisition result or other result of the surface image of the electrode plate 10. It can be made visible to the operator.

한편, 상기 디스플레이 장치(46)(모니터)에서는 캘리브레이션 결과값(수정 가능), 제1카메라(20)와 제2카메라(30)의 실시간 취득 영상(측정된 엣지, 모서리 표시, 측정값), 극판(10)의 불량 또는 양호 여부(OK, NG), 데이터 처리시간, 생산 속도, 입출력 신호(I/O 카드 신호), 양품률과 공정능력지수 등의 측정 통계, 불량 누적수 등을 디스플레이할 수 있을 것이며, 오차 범위 설정, 측정 영역 설정(마우스 활용), 측정 항목 취사 선택 조작을 할 수 있을 것이다.On the other hand, the display device 46 (monitor), the calibration result value (can be modified), the real-time acquired image (measured edge, edge display, measured value) of the first camera 20 and the second camera 30, the pole plate (10) It can display whether it is defective or good (OK, NG), data processing time, production speed, input / output signal (I / O card signal), measurement statistics such as yield rate and capability index, cumulative defect number, etc. It will be possible to set the error range, set the measurement area (using the mouse), and select the measurement item.

또한, 상기 비젼 제어부를 통해서는 데이터 전송 및 저장이 이루어질 수 있다. 즉, 메인 피씨(40)로 극판(10)의 양불 여부 데이터(OK, NG 정보), 측정값의 전송이 이루어지며, NG 이미지 저장이 이루어질 수 있다. NG 이미지는 폴더 단위 분류 저장되고, 자동 삭제되는 기능을 가지도록 할 수 있다. 또한, 모드 선택이 가능하도록 모든 측정값을 롤 단위, 매거진 단위, 롯트 단위, 오퍼레이터 단위로 저장되도록 할 수 있을 것이다.In addition, data may be transmitted and stored through the vision controller. In other words, whether or not the data (OK, NG information) of the pole plate 10, the measurement value is transmitted to the main PC 40, the NG image can be stored. The NG image may be classified and stored in a folder unit and automatically deleted. In addition, all measurement values may be stored in roll units, magazine units, lot units, and operator units to allow mode selection.

한편, 고속 이송중인 각각의 극판(10)을 신속하게 촬영하여 인식하고 극판(10) 표면 이미지 데이터 전송과 계산을 위해서는 트리거 기능을 가지도록 하는 것이 바람직하다. 다시 말해, 제1카메라(20)와 제2카메라(30)에 연결된 트리거 출력장치(20)를 구비하여, 극판(10)의 이동 거리와 속도 등을 측정하고, 극판(10)의 일정한 이동 거리와 속도 등에 비례하여 트리거 출력신호를 제1카메라(20)와 제2카메라(30)에 인터페이스되어 있는 메인 피씨(40)로 전송한다. 그러면, 상기 트리거 출력장치(20)에서 트리거 출력신호를 입력받은 메인 피씨(40)는 트리거 출력신호를 기초로 하여 제1카메라(20) 및 제2카메라(30)로 하여금 피사체인 극판(10)에 대한 촬영을 하도록 하는 것이다.On the other hand, it is desirable to have each of the pole plate 10 during high-speed transfer to quickly photograph and recognize, and to have a trigger function for the transmission and calculation of the surface image data of the pole plate 10. In other words, provided with a trigger output device 20 connected to the first camera 20 and the second camera 30, to measure the moving distance and the speed of the pole plate 10, the constant movement distance of the pole plate 10 The trigger output signal is transmitted to the main PC 40 which is interfaced with the first camera 20 and the second camera 30 in proportion to the speed and the like. Then, the main PC 40 receiving the trigger output signal from the trigger output device 20 causes the first camera 20 and the second camera 30 to be the subject plate 10 based on the trigger output signal. To shoot for.

따라서, 본 발명에 의하면, 제1카메라(20)에 의해 극판(10) 전체면을 스캔하는 단계와 제2카메라(30)에 의해 극판(10)의 대각선 방향 두 코너부를 스캔하는 단계를 수행하는데, 상기 극판(10) 코너부의 일부를 스캔하는 단계에서는 극판(10) 전체면 스캔 단계에서 사용되는 제1카메라(20)에 비하여 상대적으로 레졸루션이 보다 높은 제2카메라(30)를 이용하여 극판(10)의 두 코너부의 일부 이미지를 스캔하여 스캔 이미지를 활용하여 극판(10)의 두 코너부의 서로 만나는 코너 꼭지점(P1,P2)을 추적함으로써 극판(10)의 사이즈를 계산하고 동시에 극판(10)의 두 코너부의 표면 불량 여부도 검출하고, 아울러, 제2카메라(30)의 레졸루션에 비하여 상대적으로 레졸루션이 낮은 제1카메라(20)에 의해 극판(10)의 표면 전체를 스캔하여 극판(10) 전체면에 대한 이미지를 취득함으로써 극판(10)의 표면 전체면에 대한 불량 여부를 검출하여 신속하게 불량 극판(10)을 검출 선별할 수 있으므로, 불량 극판(10)을 그대로 사용하여 이차전지를 제조하는 경우를 방지하고, 이로 인하여 이차전지의 고성능이 보장되고 양질의 이차전지를 생산하는데 기여하는 효과를 가져올 수 있다. 물론, 불량으로 판별된 극판(10)은 미도시된 취출 장치에 의해 이송라인에서 신속하게 선별 취출될 수 있을 것이다.Therefore, according to the present invention, the step of scanning the entire surface of the pole plate 10 by the first camera 20 and the step of scanning two corners of the diagonal direction of the pole plate 10 by the second camera 30 is performed. In the scanning of a part of the corner portion of the electrode plate 10, the electrode plate may be formed using the second camera 30 having a higher resolution than the first camera 20 used in the electrode plate 10 whole surface scanning step. 10) calculates the size of the pole plate 10 by scanning some images of the two corner portions and tracking corner vertices P1 and P2 where the two corner portions of the pole plate 10 meet each other using the scanned image. The surface of the pole plate 10 is also scanned by detecting the surface defects of the two corner portions of the second plate 30 by the first camera 20 having a lower resolution than the resolution of the second camera 30. By taking an image of the whole surface By detecting the defects on the entire surface of the electrode plate 10 to detect whether the defective electrode plate 10 can be detected and sorted quickly, it is possible to prevent the manufacture of the secondary battery using the defective electrode plate 10 as it is, Due to the high performance of the secondary battery is guaranteed and can contribute to the production of high-quality secondary battery. Of course, the pole plate 10 determined to be defective may be quickly sorted out from the transfer line by a drawing device not shown.

즉, 상대적으로 레졸루션이 낮은 제1카메라(20)에 의해서는 제2카메라(30)가 획득하는 세밀한 불량 이미지에 비하여 보다 덜 세밀한 불량, 예를 들어, 육안으로 확인할 수 있는 얼룩(활물질의 코팅 불량으로 생긴 것 등)이나 극판(10)의 둘레부의 접힘 불량 등을 검출하여 제2카메라(30)에 의해 극판(10)의 코너부를 촬영하기 전에 먼저 불량 극판(10)을 선별해 내는 것이며, 이처럼 제2카메라(30)에 의해 보다 세밀하게 극판(10)의 코너부를 스캔하기 전에 먼저 불량 극판(10)을 신속하게 검출하여 선별함으로써 능률적인 이차전지의 생산성은 보장하면서도 거의 완벽한 불량 극판(10) 선별 작업을 할 수 있다는 점에서 본 발명의 특징이 있는 것이다.That is, by the first camera 20 having a relatively low resolution, a less detailed defect, for example, a stain that can be seen with the naked eye compared to the detailed defective image obtained by the second camera 30, may be a defect (coating of an active material). , Etc.) or a defective folding of the circumference of the pole plate 10, and the like, before the corner portion of the pole plate 10 is photographed by the second camera 30, the defective pole plate 10 is first sorted out. Before scanning the corners of the electrode plate 10 in more detail by the second camera 30, the defective electrode plate 10 is quickly detected and sorted, thereby ensuring efficient productivity of the secondary battery while ensuring almost perfect defective electrode plate 10. There is a feature of the present invention in that screening can be performed.

한편, 본 발명에 의하면, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제1카메라(20)와 제2카메라(30)에 의해 동일 포지션에서 극판(10)의 표면을 촬영하는 방법을 채용할 수 있다.Meanwhile, according to the present invention, as illustrated in FIG. 5, a method of photographing the surface of the electrode plate 10 at the same position by the first camera 20 and the second camera 30 may be employed.

다시 말해, 도 5는 본 발명의 다른 실시예에 의한 이차전지용 극판 비젼 검사방법을 개념적으로 보여주는 사시도로서, 도 5를 참조하면, 제1카메라(20)와 제2카메라(30)를 따로 분리되도록 배치하는 것이 아니라 제1카메라(20)와 제2카메라(30)를 동일 포지션(동일 위치)에 배치(이때, 미도시된 카메라 지지 프레임 등에 제1카메라(20)와 제2카메라(30)를 함께 장착하여 동일 포지션에 배치되도록 할 수 있음)하고, 극판(10)의 표면을 촬영할 때에 제1카메라(20)에 의해 극판(10)의 전체면을 촬영하면서 동시에 제2카메라(30)에 의해 극판(10)의 일부(즉, 극판(10)의 적어도 대각선 방향 두 개의 코너부)를 촬영하여 극판(10)을 스캔하는 방식을 채용할 수 있는 것이다.In other words, FIG. 5 is a perspective view conceptually illustrating a method of inspecting a secondary plate pole plate for a secondary battery according to another embodiment of the present invention. Referring to FIG. 5, the first camera 20 and the second camera 30 are separated from each other. Instead of placing the first camera 20 and the second camera 30 in the same position (the same position) (at this time, the first camera 20 and the second camera 30 to the camera support frame, not shown) And the entire surface of the electrode plate 10 by the first camera 20 while photographing the surface of the electrode plate 10 while simultaneously photographing the entire surface of the electrode plate 10 by the second camera 30. It is possible to employ a method of scanning the pole plate 10 by photographing a part of the pole plate 10 (that is, at least two diagonal portions of the pole plate 10 in the diagonal direction).

이를테면, 도 5에 도시된 본 발명의 다른 실시예는 제1카메라(20)와 제2카메라(30)를 각각 다른 포지션에 분리되도록 배치하는 것이 아니라 하나의 카메라 셋트로 통합함으로써, 극판(10)을 표면을 제1카메라(20)와 제2카메라(30)에 의해 다른 포지션에서 촬영하지 않고 동일 포지션에서 촬영하는 개념이라 할 수 있다.For example, another embodiment of the present invention shown in FIG. 5 is not arranged to separate the first camera 20 and the second camera 30 in different positions, but instead integrated into one camera set, the pole plate 10 It can be referred to as a concept of photographing the surface in the same position without photographing the surface by the first camera 20 and the second camera 30 in different positions.

또한, 본 발명에 의하면, 상기 제1카메라(20)와 제2카메라(30)를 각각 다른 지점인 제1포지션과 제2포지션에 배치하여, 상기 제1카메라(20)는 제1포지션에서 극판(10)의 전체 표면을 촬영하고, 상기 제2카메라(30)는 제2포지션에서 극판(10)의 일부 표면(즉, 극판(10)의 적어도 두 대각선 방향 코너부)을 촬영하는 방법을 채용할 수 있음은 물론이다.In addition, according to the present invention, the first camera 20 and the second camera 30 are disposed at different positions of the first position and the second position, respectively, so that the first camera 20 is the pole plate in the first position. Image of the entire surface of the (10), and the second camera 30 employs a method of photographing a part of the surface of the pole plate 10 (that is, at least two diagonal corners of the pole plate 10) in the second position. Of course you can.

여기서, 제1포지션과 제2포지션이라 함은 제1카메라(20)의 극판(10) 촬영 위치와 제2카메라(30)의 극판(10) 촬영 위치가 서로 다르다는 의미로서, 본 발명은 상기한 동일 포지션에서 극판(10)의 표면을 스캔하는 방법과 다른 포지션(즉, 제1포지션과 제2포지션)에서 극판(10)의 표면을 스캔하는 방법을 기본적으로 포함하는 것이지만, 이해를 돕기 위해 상기와 같이 제1카메라(20)에 의해 제1포지션에서 극판(10)의 전체 표면을 스캔하고 제2카메라(30)에 의해 제2포지션에서 극판(10)의 일부 표면을 스캔하는 방법을 재차 설명하였음을 이해해야 할 것이다.Here, the first position and the second position means that the photographing position of the pole plate 10 of the first camera 20 and the photographing position of the pole plate 10 of the second camera 30 are different from each other. It basically includes a method of scanning the surface of the electrode plate 10 in the same position and a method of scanning the surface of the electrode plate 10 in different positions (ie, the first position and the second position). As described above, the method of scanning the entire surface of the electrode plate 10 in the first position by the first camera 20 and scanning a part of the surface of the electrode plate 10 in the second position by the second camera 30 will be described again. It should be understood.

정리하면, 본 발명은 제1카메라(20)는 제1포지션에서 극판(10)의 표면을 촬영하고, 상기 제2카메라(30)는 제1카메라(20)와는 다른 위치인 제2포지션에서 극판(10)의 표면을 촬영하는 방법은 물론, 상기 제1카메라(20)와 제2카메라(30)를 동일 포지션에 배치하여 극판(10)의 표면을 동일 포지션에서 동시에 촬영하는 방법을 모두 포함하는 개념이라 하겠다.
In summary, in the present invention, the first camera 20 photographs the surface of the pole plate 10 in the first position, and the second camera 30 is the pole plate in a second position which is different from the first camera 20. In addition to the method of photographing the surface of the (10), including the first camera 20 and the second camera 30 in the same position, including both the method of simultaneously photographing the surface of the pole plate 10 in the same position It is a concept.

이상, 본 발명의 특정 실시예에 대하여 상술하였다. 그러나, 본 발명의 사상 및 범위는 이러한 특정 실시예에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 요지를 변경하지 않는 범위 내에서 다양하게 수정 및 변형이 가능하다는 것을 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이해할 것이다. The specific embodiments of the present invention have been described above. It is to be understood, however, that the scope and spirit of the present invention is not limited to these specific embodiments, and that various modifications and changes may be made without departing from the spirit of the present invention. If you have, you will understand.

따라서, 이상에서 기술한 실시예들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이므로, 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 하며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
Therefore, it should be understood that the above-described embodiments are provided so that those skilled in the art can fully understand the scope of the present invention. Therefore, it should be understood that the embodiments are to be considered in all respects as illustrative and not restrictive, The invention is only defined by the scope of the claims.

10. 극판 20. 제1카메라
30. 제2카메라 40. 메인 피씨
42. 영상 획득부 44. 중앙 처리장치
46. 영상 인터페이스 50. 디스플레이 장치10. Polar Plate 20. First Camera
30. Second Camera 40. Main PC
42. Image Acquisition Unit 44. Central Processing Unit
46. Video Interface 50. Display Device

Claims (8)

이송라인을 따라 이동되는 이차전지용 극판(10)의 표면 이미지를 스캔하여 상기 극판(10)을 검사하는 이차전지용 극판 비젼 검사 방법에 있어서,
상기 극판(10)의 전체면을 촬영 영역으로 확보할 수 있는 제1카메라(20)를 배치하여 상기 제1카메라(20)를 이용하여 상기 극판(10)의 표면 전체 이미지를 스캔하는 단계와;
상기 극판(10)의 전체면을 촬영하는 상기 제1카메라(20)에 비하여 더 큰 레졸루션을 갖는 다른 제2카메라(30)를 이용하여 상기 극판(10)의 적어도 두 개의 코너부를 스캔하는 단계;를 포함하며,
상기 극판(10)의 표면 전체 이미지를 스캔하는 단계는, 상기 극판(10)의 코너부를 스캔하는 제2카메라(30)의 레졸루션에 비하여 레졸루션이 더 낮은 제1카메라(20)를 이용하여 상기 극판(10) 전체면에 대한 이미지를 취득함으로써 상기 극판(10)의 표면 전체면에 대한 불량 여부를 검출하는 단계이며, 상기 극판(10)의 코너부 측정 단계는, 상기 극판(10) 전체면 스캔 단계에서 사용되는 제1카메라(20)에 비하여 레졸루션이 더 큰 제2카메라(30)를 이용하여 상기 극판(10)의 코너부의 일부 이미지를 스캔하여 상기 스캔 이미지를 활용하여 상기 극판(10)의 코너부의 서로 만나는 코너 꼭지점(P1,P2)을 추적함으로써 상기 극판(10)의 사이즈를 계산하고 동시에 상기 극판(10)의 코너부의 표면 불량 여부도 검출하는 단계인 것을 특징으로 하는 이차전지용 극판 비젼 검사 방법.
In the secondary battery pole plate vision inspection method for inspecting the pole plate 10 by scanning the surface image of the secondary plate pole plate 10 moved along a transfer line,
Arranging a first camera (20) to secure the entire surface of the electrode plate (10) as a photographing area and scanning the entire surface image of the electrode plate (10) using the first camera (20);
Scanning at least two corner portions of the pole plate (10) using another second camera (30) having a larger resolution than the first camera (20) taking the entire surface of the pole plate (10); Including;
The scanning of the entire surface of the electrode plate 10 may be performed by using the first camera 20 having a lower resolution than the resolution of the second camera 30 scanning the corners of the electrode plate 10. (10) Detecting whether the entire surface of the electrode plate 10 is defective by acquiring an image of the entire surface, and measuring the corner portion of the electrode plate 10 may scan the entire surface of the electrode plate 10. The image of the corner portion of the electrode plate 10 is scanned by using the second camera 30 having a larger resolution than that of the first camera 20 used in the step. Computing the size of the pole plate 10 by tracking the corner vertices (P1, P2) that meet each other of the corner portion and at the same time detects whether the surface defects of the corner portion of the pole plate 10, the pole plate vision inspection for secondary batteries Way .
제1항에 있어서,
상기 제1카메라(20)와 상기 제2카메라(30)에 의해 동일 포지션에서 상기 극판(10)의 표면을 촬영하는 것을 특징으로 하는 이차전지용 극판 비젼 검사 방법.
The method of claim 1,
The method of claim 1, wherein the first camera 20 and the second camera 30 photograph the surface of the electrode plate 10 at the same position.
제1항에 있어서,
상기 제1카메라(20)에 의해 제1포지션에서 상기 극판(10)의 표면을 촬영하고, 상기 제2카메라(30)에 의해 제2포지션에서 상기 극판(10)의 표면을 촬영하는 것을 특징으로 하는 이차전지용 극판 비젼 검사 방법.
The method of claim 1,
The surface of the electrode plate 10 is photographed by the first camera 20 in the first position, and the surface of the electrode plate 10 is photographed by the second camera 30 in the second position. A pole plate vision inspection method for secondary batteries.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 극판(10)의 코너부 측정 단계에서는, X축 방향 제2카메라(30)를 이용하여 극판(10)의 코너부의 X축 방향의 일부 라인을 스캔하고 동시에 Y축 방향의 제2카메라(30)를 이용하여 극판(10)의 코너부의 Y축 방향의 일부 라인을 스캔하는 단계와, 상기 극판(10)의 코너부에서 스캔된 X축 라인과 Y축 라인을 연장시키는 가상선을 추적하여 상기 극판(10)의 두 코너부 꼭지점(P1,P2)을 셋팅하고, 상기 셋팅된 두 코너부의 꼭지점(P1,P2)에서 X축 라인과 Y축 라인으로 연장된 라인을 추적하여 상기 극판(10)의 사이즈를 계산하는 것을 특징으로 하는 이차전지용 극판 비젼 검사 방법.
The method of claim 1,
In the corner measurement step of the pole plate 10, the X-axis direction second camera 30 is used to scan some lines in the X-axis direction of the corner portion of the pole plate 10, and at the same time, the second camera 30 in the Y-axis direction. Scanning some lines in the Y-axis direction of the corner portions of the electrode plate 10 using;), and tracking virtual lines extending from the X-axis lines and the Y-axis lines scanned at the corner portions of the electrode plate 10. The pole plate 10 is set by setting two corner vertices P1 and P2 of the pole plate 10 and tracking lines extending from the set corner vertices P1 and P2 to the X-axis line and the Y-axis line. The secondary plate vision inspection method for a secondary battery, characterized in that to calculate the size.
제1항에 있어서,
상기 제1카메라(20)를 상기 극판(10) 위에 배치하여 상기 극판(10)의 전체면을 촬영하여 표면 이미지를 스캔하는 단계와, 상기 제1카메라(20)의 다음 단에 배치되도록 상기 제2카메라(30)를 설치하여 상기 제1카메라(20)에 의해 상기 극판(10) 전체면의 스캔 이미지가 확보된 다음에 상기 제2카메라(30)에 의해 상기 극판(10)의 적어도 두 개의 대각선 방향 코너부의 상대적으로 더 세밀한 표면 이미지를 스캔하는 단계를 포함하되, 상기 극판(10)의 표면 이미지 스캔 단계에 더하여 상기 제1카메라(20)와 상기 제2카메라(30)에 의해 확보된 스캔 이미지 데이터를 메인 피씨(40)에 통보하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이차전지용 극판 비젼 검사 방법.
The method of claim 1,
Arranging the first camera 20 on the pole plate 10 to scan the entire surface of the pole plate 10 to scan a surface image, and to place the first camera 20 on the next stage of the first camera 20. 2 camera 30 is installed to secure the scanned image of the entire surface of the pole plate 10 by the first camera 20, and then at least two of the pole plates 10 by the second camera 30. Scanning a more detailed surface image of a diagonal corner portion, the scanning secured by the first camera 20 and the second camera 30 in addition to the surface image scanning step of the electrode plate 10. The secondary plate electrode vision inspection method further comprising the step of notifying the image data to the main PC (40).
제6항에 있어서,
상기 제1카메라(20)와 제2카메라(30)에 의해 촬영된 영상 이미지가 상기 메인 피씨(40)로 통보되고, 상기 메인 피씨(40)에서는 상기 극판(10)의 상기 극판(10)의 스캔된 이미지를 이용한 데이터를 추출하고, 상기 추출된 데이터가 극판(10)의 정해진 사양값 범위에 들어오는지의 여부를 검출하여 상기 극판(10)의 불량 여부를 판별하는 것을 특징으로 하는 이차전지용 극판 비젼 검사 방법.
The method according to claim 6,
The image images captured by the first camera 20 and the second camera 30 are notified to the main PC 40, and the main PC 40 of the pole plate 10 of the pole plate 10 is notified. Extracting data using the scanned image and detecting whether the extracted data falls within a predetermined specification value range of the pole plate 10 to determine whether the pole plate 10 is defective. method of inspection.
제6항에 있어서,
상기 제1카메라(20)와 상기 제2카메라(30) 및 상기 메인 피씨(40) 사이에 인터페이스되는 비젼 제어부를 더 포함하고, 상기 비젼 제어부는 상기 제1카메라(20)와 상기 제2카메라(30)와 상기 메인 피씨(40)에 연결된 영상 획득부(42)와 중앙 처리장치(44)와 영상 인터페이스(46) 및 디스플레이 장치(46)를 포함하도록 구성하여, 상기 제1카메라(20)와 상기 제2카메라(30)에 의해 취득된 상기 극판(10)의 표면 상태 데이터를 상기 메인 피씨(40)에 전송하고, 상기 디스플레이 장치(46)에는 상기 메인 피씨(40)에 전송된 상기 극판(10)의 데이터를 표시하여 확인할 수 있도록 하는 것을 특징으로 하는 이차전지용 극판 비젼 검사 방법.The method according to claim 6,
And a vision controller interfaced between the first camera 20, the second camera 30, and the main PC 40, wherein the vision controller includes the first camera 20 and the second camera ( 30, an image acquisition unit 42 connected to the main PC 40, a central processing unit 44, an image interface 46, and a display device 46, and the first camera 20. The surface state data of the pole plate 10 acquired by the second camera 30 is transmitted to the main PC 40, and the display device 46 is transferred to the main PC 40. 10) A pole plate vision inspection method for a secondary battery, characterized in that to display and confirm the data.
KR1020110131427A 2011-12-09 2011-12-09 Secondary battery eloctrode panel vision detection method KR101297395B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110131427A KR101297395B1 (en) 2011-12-09 2011-12-09 Secondary battery eloctrode panel vision detection method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110131427A KR101297395B1 (en) 2011-12-09 2011-12-09 Secondary battery eloctrode panel vision detection method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20130064853A KR20130064853A (en) 2013-06-19
KR101297395B1 true KR101297395B1 (en) 2013-08-14

Family

ID=48861621

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110131427A KR101297395B1 (en) 2011-12-09 2011-12-09 Secondary battery eloctrode panel vision detection method

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101297395B1 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210045181A (en) * 2019-10-16 2021-04-26 (주) 피토 multi-type secondary battery stacking device having vision inspection
KR102312730B1 (en) * 2020-05-20 2021-10-15 (주) 인텍플러스 System for inspecting exterior of battery
KR102331861B1 (en) 2020-12-14 2021-12-01 한준희 Apparatus and method for inspecting secondary battery
KR20230020221A (en) * 2021-08-03 2023-02-10 주식회사 디에이테크놀로지 System And Method for Calibration of Electrode During Manufacturing Secondary Battery Cell

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102133915B1 (en) * 2016-03-29 2020-07-15 주식회사 엘지화학 Defect detecting system and method of electrode assembly
US10769770B2 (en) * 2018-05-07 2020-09-08 Cummins Enterprise Llc Quality monitoring system and quality monitoring method for fuel cell manufacturing line and quality monitoring system for manufacturing line
KR102187988B1 (en) * 2018-12-13 2020-12-07 (주)제이디 apparatus for measuring size of battery
CN109580483A (en) * 2018-12-25 2019-04-05 广州量子激光智能装备有限公司 A kind of pole piece burr visual detection equipment
KR102023739B1 (en) 2019-04-17 2019-09-20 주식회사 엘지화학 Inner crack detection device for secondary battery using eddy current
WO2023091335A1 (en) * 2021-11-19 2023-05-25 Applied Materials, Inc. Systems and methods for the in-line measurement of alkali metal- or alkali ion-containing structures and alkali ion-containing structures

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10326348A (en) * 1997-05-27 1998-12-08 Taiyo Yuden Co Ltd Appearance inspection device
KR20060043462A (en) * 2004-03-29 2006-05-15 아주하이텍(주) Automatic optical inspection system for printed circuit board of film, tape type and method for processing of the same
JP2010230431A (en) * 2009-03-26 2010-10-14 Kirin Brewery Co Ltd Inspection apparatus
KR20110046901A (en) * 2009-10-29 2011-05-06 삼성전기주식회사 Substrate inspection system and substrate inspection method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10326348A (en) * 1997-05-27 1998-12-08 Taiyo Yuden Co Ltd Appearance inspection device
KR20060043462A (en) * 2004-03-29 2006-05-15 아주하이텍(주) Automatic optical inspection system for printed circuit board of film, tape type and method for processing of the same
JP2010230431A (en) * 2009-03-26 2010-10-14 Kirin Brewery Co Ltd Inspection apparatus
KR20110046901A (en) * 2009-10-29 2011-05-06 삼성전기주식회사 Substrate inspection system and substrate inspection method

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210045181A (en) * 2019-10-16 2021-04-26 (주) 피토 multi-type secondary battery stacking device having vision inspection
KR102259235B1 (en) * 2019-10-16 2021-06-01 (주) 피토 multi-type secondary battery stacking device having vision inspection
KR102312730B1 (en) * 2020-05-20 2021-10-15 (주) 인텍플러스 System for inspecting exterior of battery
KR102331861B1 (en) 2020-12-14 2021-12-01 한준희 Apparatus and method for inspecting secondary battery
KR20230020221A (en) * 2021-08-03 2023-02-10 주식회사 디에이테크놀로지 System And Method for Calibration of Electrode During Manufacturing Secondary Battery Cell
KR102630749B1 (en) * 2021-08-03 2024-01-30 주식회사 디에이테크놀로지 System And Method for Calibration of Electrode During Manufacturing Secondary Battery Cell

Also Published As

Publication number Publication date
KR20130064853A (en) 2013-06-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101297395B1 (en) Secondary battery eloctrode panel vision detection method
CN102175700B (en) Method for detecting welding seam segmentation and defects of digital X-ray images
KR101354863B1 (en) Systems and methods for detecting defects in printed solder paste
CN105784716B (en) Friction plate Quality Inspection System
JP7005930B2 (en) Sheet inspection equipment and inspection system
CN113196337B (en) Image processing device, work robot, substrate inspection device, and specimen inspection device
CN106767423A (en) Automatic Visual Inspection instrument
CN108469437B (en) Method and device for detecting defects of float glass
JP6903268B2 (en) Electronic component transfer device and electronic component inspection device
CN110596139A (en) Screen defect detection method and system
CN111025701A (en) Curved surface liquid crystal screen detection method
KR20230108774A (en) Vision inspection system for detecting defects of electrodes for secondary batteries using depth camera and stereo camera
CN109932369A (en) A kind of abnormity display panel testing method and device
CN112889087A (en) Automatic inspection of sheet material parts of arbitrary shape during film formation
CN114636706A (en) Comprehensive method and device for image detection of solar cell after film coating
CN113030095A (en) Polaroid appearance defect detecting system
CN115384052A (en) Intelligent laminating machine automatic control system
KR101068356B1 (en) Method for inspecting defect of the Pixels in display panel device by image
CN111398294B (en) Straw particle defect detection system and detection method based on machine vision
KR102592603B1 (en) Monitoring method for vision inspection apparatus
CN102856214A (en) Circuit board mounting method
CN108230385B (en) Method and device for detecting number of ultra-high laminated and ultra-thin cigarette labels by single-camera motion
CN116698753A (en) Mini-LED panel defect detection equipment and method based on machine vision
CN113953208B (en) Full-automatic sorting device and method for electronic components
JP5050398B2 (en) Display panel inspection method, inspection apparatus, and manufacturing method

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160802

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180724

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190730

Year of fee payment: 7