KR101291111B1 - 광 측정 시스템 - Google Patents

Abstract

본 발명의 LED 광 측정 시스템은 광원을 연속적으로 이송시키기 위한 컨베이어; 상기 컨베이어 상에서 이송되는 상기 광원의 위치를 감지할 수 있는 센서부; 상기 광원의 광량을 측정하기 위하여 하부에 개구부가 형성된 적분구: 상기 광량을 측정하기 위하여 적분구와 연결된 광량 측정 장치; 상기 광원이 상기 적분구에 형성된 개구부 아래에 위치할 때, 광량 측정 및 배출을 위하여 상기 광원을 상하이동시키는 승하강 장치; 상기 컨베이어, 상기 승하강 장치 및 상기 센서부를 제어할 수 있는 제어부;를 포함한다.

Description

광 측정 시스템{LIGHT MEASUREMENT SYSTEM}

본 발명은 광 측정 시스템에 관한 것으로, 본 발명의 광 측정 시스템은 다양한 광원의 광량을 연속적으로 용이하게 측정할 수 있으며, 아울러 광량 측정 오차 감소 및 반복적인 측정에 있어서의 재현성 확보가 용이하다.

광 측정 시스템으로부터 측정하고자 하는 광 특성 값은 광도(Candela) 또는 광속(Lumen)이다.

예를 들어, 기존 광 측정 시스템([문헌1] 참조)에 의한 광도 측정의 경우, 광원의 크기 및 치수에 적합한 지그를 사용하여야 한다. 그렇지 않은 경우 측정시 광의 누설로 인한 광도 값의 변화, 측정자 및 측정상태(위치 및 밀착상태 등)에 따라 광량이 변화하게 된다. 그러나, 광원은 제조업체 또는 모델별로 그 모양이 상이한 경우가 많아 일부의 경우를 제외하고는 해당 광원의 외형에 맞는 지그를 매번 제작하여야 할 뿐만 아니라, 광원의 구동 전원을 공급하기 위한 전원 공급 수단 역시 지그에 적합하게 설계되어야 하는 문제점이 있다.

기존 광 측정 시스템에 의한 광속의 측정은, 광속 측정 장치인 적분구(Intergrating Sphere) 내에 광원을 고정시킨 후, 상기 광원에 적합한 구동 전원을 인가함으로써 이루어진다.

이 경우에도, 도 1에서 나타낸 것과 같이, 광원을 적분구(Intergrating Sphere) 내의 일정위치에 위치시켜 측정하게 되는데, 측정자 및 측정 시기에 따라 측정 위치가 상이하게 될 가능성이 존재하고, 적분구 및 상기 광원을 고정시키는 부재(예를 들어 PCB기판 또는 지그 등)의 전면 및 후면의 반사율 상이로 인하여 광속에 대한 측정치의 반복성 및 재현성이 크게 떨어지게 되는 문제점이 있다.

아울러 광원의 구동상태 유지를 위한 전기 전원의 접속이 필요하며, 상기 전기 전원의 접속에 필요한 전선 및 접속도구(클립 등)에 의한 반사율 감소에 따른 광속 측정 값 오차가 발생하는 문제점이 있다.

[문헌 1] KR 10-0721149 B1(삼성전기주식회사) 2007.05.22. 도면5

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 다양한 광원의 광량을 연속적으로 용이하게 측정할 수 있으며, 또한, 광량 측정 오차 감소 및 반복적인 측정에 있어서의 재현성 확보가 용이한 광 측정 시스템을 제공하는 데 그 목적이 있다.

이를 위하여 본 발명의 광 측정 시스템은, 광원을 연속적으로 이송시키기 위한 컨베이어; 상기 컨베이어 상에서 이송되는 상기 광원의 위치를 감지할 수 있는 센서부; 상기 광원의 광량을 측정하기 위해 하부에 개구부가 형성된 적분구: 상기 광량을 측정하기 위하여 적분구와 연결된 광량 측정 장치; 상기 광원이 상기 적분구에 형성된 개구부 아래에 위치할 때, 광량 측정 및 배출을 위하여 상기 광원을 상하이동시키는 승하강 장치; 상기 승하강 장치에서 PCB를 안정적으로 취부 또는 거치할 수 있는 기구부; 상기 컨베이어, 상기 승하강 장치 및 센서부를 제어할 수 있는 제어부; 상기 적분구에 의해 광량측정 후 측정값에 의해 양품 및 불량을 판별하는 소프트웨어를 탑재한 퍼스널 컴퓨터; 상기 퍼스널 컴퓨터에 의해 측정이 완료된 PCB기판을 양품 및 불량 별로 분리 배출가능한 배출구;를 포함한다.

또한, 상기 광원은 LED, OLED, CCFL, EEFL, 형광등, 백열등 및 방전등 중에서 선택되는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 광 측정 시스템은 상기 광원에 전원을 인가하기 위한 전원공급장치; 상기 전원공급장치로부터의 전원을 공급받는 전원공급장치측 단자; 상기 전원공급장치측 단자와 전기적 접속을 위해 상기 광원을 고정시키는 부재 상에 형성된 전원용 단자; 상기 전원공급장치로부터 상기 전원공급장치측 단자에의 전원공급시 이용되는 전원선을 감싸는 전원연결 홀;을 더 포함한다.

또한, 상기 전원공급장치측 단자는 전도성과 탄성을 함께 구비한 형태로 이루어진다.

또한, 상기 전원연결 홀의 소재는 외란 방지 기능이 있는 금속으로 이루어진 것을 특징으로 하며, 상기 전원공급장치는 상용전원, 상용전원을 정류하는 정류부, 정류된 전압을 평활하는 평활부 및 상기 광원에 적합한 전원을 공급하기 위한 레귤레이터를 포함한다.

본 발명에 따르면, 광원의 광량을 연속적으로 측정할 수 있고, 다양한 광원에 관하여서도 지그 제작이 별도 필요하지 않아 시간적, 경제적 장점이 있다.

또한, 광량의 측정 위치를 항상 일정하게 유지하며, PCB 기판 후면이 광량측정에 영향을 미치지 않는 구조(광원 및 광원을 포함하는 PCB 기판만이 적분구 내에 노출)이기 때문에 광량 측정 오차 감소 및 반복적인 측정에 있어서의 재현성 확보가 용이하다.

도 1은 종래 기술에 따른 광량 측정 오차 원인을 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 광 측정 시스템을 간략하게 도시한 도면이다.
도 3은 LED를 실장한 PCB기판이 광량 측정을 위하여 적분구의 일면에 장착된 형태를 간략하게 도시한 도면이다.
도 4는 적분구의 일면에 장착되는 상기 PCB기판과 전원연결홀을 통한 전원 공급 장치의 상호 유기적인 결합 관계를 간략하게 도시한 도면이다.
도 5는 승하강장치를 통해 LED를 실장한 PCB 기판을 적분구 일면에 장착할 때 승하강 장치에서 PCB 기판을 거치하는 기구부를 도시한 도면이다.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명한다. 이 과정에서 도면에 도시된 구성요소의 크기나 형상 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시될 수 있다. 또한, 본 발명의 구성 및 작용을 고려하여 특별히 정의된 용어들은 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 한다.

또한, 실시예에 있어서는 광원의 일종인 LED에 대하여 중심으로 구체적인 기술적 내용을 기술하겠으나, 본 발명은 다양한 광원, 즉, OLED, CCFL, EEFL, 형광등, 백열등 및 방전등에도 적용 가능함은 물론이다.

일 실시예인 본 발명의 광 측정 시스템(1)은, 도 2에 도시한 바와 같이, LED가 실장된 PCB기판(2)을 연속적으로 이송시키기 위한 제1차 컨베이어(3) 및 제2차 컨베이어(4); 상기 제1차 컨베이어 및 제2차 컨베이어 상에서 이송되는 상기 PCB기판의 위치를 감지할 수 있는 센서부(미도시); 상기 LED의 광량을 측정하기 위하여 하부에 개구부가 형성된 적분구(5) 및 광량 측정 장치(6); 상기 적분구에 형성된 개구부 아래에서 상기 PCB기판을 상하이동시키기 위한 승하강 장치(7); 상기 제1차 컨베이어, 상기 제2차 컨베이어, 상기 승하강 장치 및 센서부를 제어할 수 있는 제어부(미도시);를 포함한다.

상기 PCB 기판(2)을 연속적으로 이송시키기 위한 컨베이어를 제1차 컨베이어 및 제2차 컨베이어와 같이 복수로 구분하여 제작하는 것은 컨베이어를 일체로 제작하는 것보다 제작이 용이하고, 또한, 다양한 측정 환경에 있어서도 상기 PCB 기판(2)의 이송 경로에 적합하게 컨베이어를 배치할 수 있는 장점이 있다. 실시예에 있어서는 2 개의 컨베이어로 설명을 하였으나, 광원의 이송에 문제가 없다면 측정 환경에 적합하게 단수, 또는 2 개 이상의 복수의 컨베이어로 구성할 수 있음은 물론이다.

도 3은 LED를 실장한 PCB기판이 광량 측정을 위하여 적분구의 일면에 장착된 형태를 간략하게 도시한 도면이다. 도 3에 도시한 바와 같이, 상기 PCB기판(2)은 상기 승하강 장치(7)에 의하여 상기 적분구(5)의 개구부에 장착된 후 광량이 측정된다. 본 발명의 광 측정 시스템(1)의 구성을 상세히 설명하면, 상기 LED가 실장된 PCB기판(2)들은 순차적으로 상기 제1차 컨베이어(3) 및 제2차 컨베이어(4)를 이용하여 하부에 개구부가 형성된 상기 적분구(5) 방향으로 이동한다. 상기 PCB기판(2)들 중 측정 대상의 PCB기판(2)이 광량 측정 위치인 상기 적분구(5)의 하부에 형성된 개구부의 하단에 위치할 경우 상기 제1차 컨베이어(3) 및 상기 제2차 컨베이어(4)는 작동이 정지된다. 그 후, 상기 제2차 컨베이어(4)의 하부에 형성된 상기 승하강 장치(7)는 측정 대상인 상기 PCB기판(2)을 상기 적분구(5)에 형성된 개구부에 밀착시키도록 승강시킨다. 그 후, 상기 PCB기판(2)에 실장된 LED에 적합한 전원을 인가하고, 상기 LED로부터 방출된 광량을 상기 광량 측정 장치(6)를 통해 측정한다.

상기 광량 측정이 끝난 상기 PCB기판(2)은 상기 승하강 장치(7)를 이용하여 하강된 후, 상기 제2차 컨베이어(4)에 옮겨지게 되며, 그 후 상기 제2차 컨베이어(4)의 재작동에 의하여 측정이 완료된 상기 PCB기판(3)은 배출구(8)로 배출된다. 이때 측정이 완료된 PCB 기판(2)의 광량 값에 따라 양품 및 불량품으로 분류하는 퍼스널 컴퓨터(미도시)에 의해 PCB기판(2)을 배출구(8)로 분리 배출한다.

또한, 상기 제2차 컨베이어(4)의 재작동과 동시에 상기 제1차 컨베이어(3) 역시 동작하여 상기 제1차 컨베이어(3) 및 제2차 컨베이어(4) 상에 위치한 PCB기판(2)들이 순차적으로 이동하게 된다.

따라서, 상기 PCB기판(2)들의 이송, 광량 측정, 배출 과정의 반복에 의하여 상기 제1 컨베이어(3) 및 제2 컨베이어(4) 상에 위치한 PCB기판(2)들의 연속적인 광량 측정이 가능하다.

상기 PCB기판(2)들이 광량 측정 위치에 정확하게 위치하였는 지 여부는 센서부를 통하여 확인할 수 있다. 본 발명에서는 움직임을 감지할 수 있는 센서부를 상기 제1 컨베이어(3)의 종단(즉, 제2 컨베이어에 가까운 위치) 및 제2 컨베이어(4)의 시작단(즉, 제1 컨베이어에 가까운 위치)에 배치시켜 상기 PCB기판(2)의 이동을 확인함으로써 위치 확인을 하였다. 즉, 일정한 간격으로 위치한 상기 PCB기판(2)을 일정한 속도로 이동시키면서 상기 제1차 컨베이어(3)의 종단과 제2차 컨베이어(4)의 시작단에서의 상기 PCB 기판(2)의 위치를 확인한 후, 상기 PCB기판(2)의 이동 속도로부터 상기 광량 측정 위치를 계산하였다. 그러나, 상기 PCB기판(2)의 위치를 확인하기 위한 센서부의 위치 및 위치 확인 방법은 적분구의 소정의 위치에 상기 PCB기판(2)의 위치 확인이 가능한 센서부를 설치하고, 상기 PCB기판(2)에 상기 센서부가 인지할 수 있는 얼라인 마크를 형성하여 확인하는 등 다양한 변형도 가능하므로, 센서부를 통해 광량 측정 위치를 확인할 수 있는 구성이라면 본 발명의 일실시예에 기술한 구성에 한정하지 않는다.

상기 일 실시한 예에 있어서의 특징은 상기 LED가 실장된 PCB기판(2)을 연속적으로 측정가능하다는 것이다. 기존의 광 측정 시스템은 상기 적분구(5)를 개폐한 후 그 내부에 설치된 지그에 상기 PCB기판(2)을 장착하여 측정을 한 반면, 본 발명의 광 측정 시스템은 상기 적분구(5)의 개폐없이 상기 PCB기판(2)이 연속적으로 상기 적분구(5)의 개구부에 자동적으로 밀착되므로 연속적으로 측정이 가능하여 측정에 걸리는 시간을 단축하는 장점이 있다.

또한, 본 발명은 다양한 크기와 치수를 갖는 광원이라도 외부의 적합한 PCB 기판에 상기 광원을 설치하면 되는 것이므로, 상기 적분구(5)를 개폐하여 그 내부에 지그를 설치하는 기존 광 측정 시스템보다 설치의 용이성, 지그의 범용성에 있어서 뛰어난 효과가 있다. 게다가, 본 발명의 광 측정 시스템은 동일한 광량 측정 과정이 자동으로 반복되므로, 기존의 광 측정 시스템에서 채용되는 사용자가 상기 적분구(5)를 개폐한 후 광원을 장착하고 측정을 완료한 후, 또 다시 상기 적분구(5)를 개폐하고 다음 측정 대상 광원을 장착하여 측정을 수행하는 과정에서 오는 측정자 및 측정 시기에 따른 측정 위치의 상이 및 상기 적분구(5) 및 광원을 고정시키는 부재(예를 들어 PCB기판 또는 지그 등)의 전면 및 후면의 반사율 상이로 인하여 발생할 수 있는 오차를 감소시키는 효과가 있다.

또 다른 실시 예로서, 본 발명의 광 측정 시스템은 상기 LED에 전원을 인가하기 위한 전원공급장치(9), 상기 전원공급장치(9)의 일단에 형성되어 상기 PCB기판(2)에 형성된 PCB기판용 전원용 단자(10)에 LED가 필요로 하는 전원을 공급하는 전원공급장치측 단자(11), 상기 전원공급장치(9)로부터 상기 전원공급장치측 단자(11)에의 전원공급시 이용되는 전원선을 감싸는 전원연결 홀(12)을 더 포함한다.

상기 PCB기판용 전원용 단자(10)와 전기적 접속을 형성하는 상기 전원공급장치측 단자(11)는 상기 PCB기판(2)이 상기 승하강 장치(7)에 의하여 상승할 때에 상기 PCB기판용 전원용 단자(10)와 전기적 접속을 이룬다.

상기 전원공급장치측 단자(11)는 전도성과 탄성을 함께 구비한 형태로 고정 설치되어 있으므로, 반복적인 상기 PCB기판(2)의 광량 측정에 있어서 동일한 측정 환경을 제공한다.

상기 전도성과 탄성을 함께 구비한 형태라는 것은 상기 전원공급장치측 단자(11)가 전도성 재료로 이루어지며, 한 번 압력을 받아 형태가 변형된 후에도 압력이 해지되면 탄성에 의하여 다시 원래 상태로 되돌아 오는 것을 말한다. 일례로 컴퓨터의 자판도 한 번 압력을 받아 형태가 변형된 후에도 압력이 해지되면 탄성에 의하여 다시 원래 상태로 되돌아 오는 것이다. 즉, 전도성과 탄성을 함께 구비한 형태라는 것은 상기 PCB기판(2)이 하강할 경우, 상기 PCB 기판용 전원 단자(10)와 전기적 접속을 이루었던 전원공급장치측 단자(11)가 탄성에 의하여 상기 전기적 접속을 이루기 전의 상태로 복원되는 것을 의미한다.

상기 전원연결 홀(12)은 외란을 방지하기 위한 것으로, 소재는 Cu, Au, Ag, Al 등 외란을 방지하는 금속 소재라면 통상의 기술자가 필요에 따라 채택할 수 있다. 또한, 상기 전원공급장치(9)는 상용전원, 상용전원을 정류하는 정류부, 정류된 전압을 평활하는 평활부, 상기 광원에 적합한 전원을 공급하기 위한 레귤레이터 또는 변압기를 포함한다. 상기 전원공급장치(9)를 이루는 각 구성요소인 상용전원, 정류부, 평활부, 변압기 및 레귤레이터는 해당 기술 분야에 공지된 기술이므로 설명을 생략하나, 본 발명은 공지된 기술을 최적으로 조합한 것에 그 의미가 있다. LED, OLED와 같이 직류 구동인 광원의 경우, 상기 전원공급장치(9)는 상용전원, 정류부, 평활부 및 레귤레이터를 포함하며, CCFL과 같은 교류 구동인 광원의 경우는 상용전원, 변압기를 포함한다.

상기 구성은 상기 적분구(5)의 외부에서 전원 인가가 가능하므로, 기존의 상기 적분구(5) 내에 설치되는 전선 및 접속도구(클립 등)에 의한 반사율의 영향을 최소화할 수 있다. 또한, 외란 방지용 상기 전원연결 홀(12)을 더 구비함으로써 측정의 신뢰성을 확보할 수 있는 효과가 있다.

표 1은 본 발명의 광 측정 시스템과 기존의 광 측정 시스템을 이용한 LED 패키지의 광속 측정 비교결과이다. 각 시스템에 대하여 10회 측정한 결과, 광속의 평균값에는 양 시스템에 차이가 없는 반면 표준편차 및 분산의 값에서는 현저한 차이가 있음을 확인 가능하다. 상기 결과로부터 본 발명에 의한 광 측정 시스템은 기존 광 측정 시스템에 비하여 광량 측정 오차 감소 및 반복적인 측정에 있어서의 재현성 확보에 탁월한 성능을 발휘하는 것을 알 수 있다.

본원 측정시스템과 기존 측정시스템의 광속 비교

측정 회수	1	2	3	4	5	6	7	8	9	10	평균	표준편차	분산
본원 측정 시스템	81.14	81.11	81.19	81.12	81.13	81.10	81.11	81.04	81.03	81.46	81.143	0.1206	0.01453
기존 측정 시스템	81.72	81.96	78.88	79.29	81.87	80.98	81.94	81.51	81.53	81.30	81.100	1.1072	1.22590

표 2는 본 발명의 광 측정시스템과 기존의 광 측정 시스템을 이용한 광속 측정 결과를, 엑셀 프로그램을 활용하여 F-검정한 결과이다.

F-검정은 통계학에서 가설검정에 쓰이는 방법중에 하나로 두 집단(데이터군)의 모분산비에 관한 검정을 통하여 두 집단간의 분산이 같은지 아닌지를 일정유의수준으로 검정하는 통계기법이다. 즉 같은 시료를 사용하여 측정시 데이터의 분산을 분석하여 동일한 데이터로 판단하여도 될지 아닐지를 유의수준 0.05로 분석한 결과이다.

표 2에서도 확인 가능하듯이, F-검정한 결과 P값이 1.306E-0.7로 양 시스템의 측정 값 집단간의 분산 차이가 확연함을 알 수 있다. 이는 두 데이터 간에 분산이 다르며, 분산의 차이를 고려해 볼 때 다른 시료라 할 수 있다(유의수준 0.05).(그러나 데이터는 같은 시료로 측정한 값이다.)

본원 측정시스템과 기존 측정시스템의 측정값에 대한 F-검정

항 목	본원 측정 시스템	기존 측정 시스템
평균	81.143	81.0995
분산	0.014534444	1.2259025
관측수	10	10
자유도	9	9
F 비	0.011856118
P(F<=f) 단측 검정	1.30644E-07
F 기각치 단측 검정	0.314574906

이상에서 본 발명에 따른 실시예들이 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상적 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 범위의 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 다음의 특허청구범위에 의해서 정해져야 할 것이다.

1 : 광 측정 시스템 2 : LED가 실장된 PCB기판
3 : 제1차 컨베이어 4 : 제2차 컨베이어
5 : 적분구 6 : 광량 측정 장치
7 : 승하강 장치 8 : 배출구
9 : 전원공급장치 10 : PCB기판용 전원용 단자
11 : 전원공급장치측 단자 12 : 전원연결 홀

Claims (8)

1. 광 측정 시스템에 있어서,
   상기 광 측정 시스템은 광원을 연속적으로 이송시키기 위한 컨베이어;
   상기 컨베이어 상에서 이송되는 상기 광원의 위치를 감지할 수 있는 센서부;
   상기 광원의 광량을 측정하기 위하여 하부에 개구부가 형성된 적분구;
   상기 광량을 측정하기 위하여 적분구와 연결된 광량 측정 장치;
   상기 광원이 상기 적분구에 형성된 개구부 아래에 위치할 때, 광량 측정 및 배출을 위하여 상기 광원을 상하이동시키는 승하강 장치;
   상기 컨베이어, 상기 승하강 장치 및 상기 센서부를 제어할 수 있는 제어부;
   상기 적분구에서 광량 측정을 완료한 PCB 기판에 대해 양품 및 불량품을 구분하여 배출할 수 있는 배출구;
   상기 광량측정 장치의 측정값을 저장 및 비 정상값을 판별하는 소프트웨어를 탑재한 퍼스널컴퓨터; 를 포함하고,
   상기 센서부는 제1 및 제2 컨베이어를 포함하는 상기 컨베이어 중 상기 제2 컨베이어에 근접한 위치의 상기 제1 컨베이어의 종단과, 상기 제1 컨베이어에 근접한 위치의 상기 제2 컨베이어의 시작단에 배치되어 상기 PCB 기판의 위치를 확인하고,
   상기 제어부는 상기 제1 및 제2 컨베이어를 제어하여 일정한 간격으로 위치한 상기 PCB 기판을 일정한 속도로 이동시키고, 상기 센서부에 의해 확인된 상기 PCB 기판의 위치 및 이동 속도를 이용하여 상기 PCB 기판의 광량 측정 위치를 계산하는 것을 특징으로 하는 광 측정 시스템.
   
2. 제1항에 있어서,
   상기 광원은 LED, OLED, CCFL, EEFL, 형광등, 백열등 및 방전등 중에서 선택되는 것을 특징으로 하는 광 측정 시스템.
   
3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
   상기 광원에 전원을 인가하기 위한 전원공급장치;
   상기 전원공급장치로부터의 전원을 공급받는 전원공급장치측 단자;
   상기 전원공급장치측 단자와 전기적 접속을 위해 상기 광원을 고정시키는 부재 상에 형성된 전원용 단자;
   상기 전원공급장치로부터 상기 전원공급장치측 단자에의 전원공급시 이용되는 전원선을 감싸는 전원연결 홀;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 측정 시스템.
   
4. 제3항에 있어서,
   상기 전원공급장치측 단자는 전도성과 탄성을 함께 구비한 형태로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광 측정 시스템.
   
5. 제3항에 있어서,
   상기 전원연결 홀은 외란 방지 기능이 있는 금속으로 이루어진 것을 특징으로 하는 광 측정 시스템.
   
6. 제3항에 있어서,
   상기 전원공급장치는 상기 광원이 직류 구동일 경우는 상용전원, 정류부, 평활부 및 레귤레이터를 포함하고, 교류 구동일 경우는 상용전원 및 변압기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 측정 시스템.
   
7. 제1항에 있어서,
   상기 승하강장치의 PCB 기판 거치대는 금속 또는 부도체로 만들어지고 PCB 기판의 가장자리를 고정할 수 있는 구조로 된 것을 특징으로 하는 광 측정 시스템.
   
8. 제1항에 있어서,
   상기 배출구는 광량측정 값으로 양품 및 불량품을 판별하는 퍼스널 컴퓨터 내 소프트웨어에 의해 양품 및 불량품을 분리하여 배출할 수 있는 구조를 가지는 것을 특징으로 하는 광 측정 시스템.
   

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