KR101249788B1 - Communications Network Structure for Display Module Aging System - Google Patents

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Abstract

본 발명은 CAN 버스를 통한 디스플레이 모듈 에이징 장치의 통신 네트워크 구조에 관한 것으로, 디스플레이 모듈을 에이징하기 위한 시험조건들을 설정하고 시험운영 상태를 모니터링하기 위한 시험운영 컴퓨터 및 상기 디스플레이 모듈의 시험을 위한 시험용 패턴을 생성하여 제공하는 에이징 시험 제어기를 포함하는 디스플레이 모듈 에이징 장치에 있어서, 시험운영 컴퓨터에 물리적으로 연결된 하나 또는 다수의 중간 통신장치 및 각각의 중간 통신장치와 CAN(Controller Area Network) 버스를 통하여 연결되는 에이징 시험 제어기를 포함하는 다수의 에이징 시험 수행부를 포함한다. 따라서 통신 시스템이 단순화되어 시스템의 설치 및 관리가 용이하고 생산 및 설치, 유지보수 비용이 절감되는 효과가 있다. The present invention relates to a communication network structure of a display module aging device through a CAN bus, and includes a test computer for setting test conditions for aging a display module and monitoring a test operation state and a test pattern for testing the display module. An aging device for a display module including an aging test controller for generating and providing a device, comprising: one or more intermediate communication devices physically connected to a test computer, and each intermediate communication device connected to each other through a CAN (Controller Area Network) bus And a plurality of aging test performers including an aging test controller. Therefore, the communication system is simplified, so that the installation and management of the system is easy and production, installation, and maintenance costs are reduced.

Description

디스플레이 모듈 에이징 시스템의 통신 네트워크 구조{Communications Network Structure for Display Module Aging System}Communication Network Structure for Display Module Aging System

본 발명은 디스플레이 모듈의 에이징에 관한 것으로, 특히 CAN 버스를 통한 디스플레이 모듈 에이징 시스템의 통신 네트워크 구조에 관한 것이다.
The present invention relates to aging of a display module, and more particularly to a communication network structure of a display module aging system via a CAN bus.

LCD, OLED 등과 같은 디스플레이 모듈의 에이징 시험에 있어서, 종래 기술은 시험운영 컴퓨터와 확장통신 장치를 상위계층에서 연결하는 방식으로 이더넷 네트워크로 연결하였다. 확장통신 장치는 여러 개의 시리얼 확장 인터페이스를 가지고 있어 점대점(Point to Point) 방식으로 각각의 에이징 시험 제어기와 연결된다. 시리얼 인터페이스 확장은 하드웨어에 매우 종속적이기 때문에 하나의 장치에서 확장 가능한 채널이 제한적일 수밖에 없다. 지정된 채널 이상으로 확장하기 위해서는 여러 개의 확장통신 장치를 설치해야 한다. 즉, 종래의 에이징 시스템은 이러한 확장 장치를 이용하여 블록(하나의 확장통신 장치에 연결된 에이징 시험 제어기들) 단위로 구성되어 있다.In the aging test of display modules such as LCD and OLED, the prior art is connected to the Ethernet network by connecting the test computer and the extended communication device in the upper layer. The extended communication device has several serial extension interfaces that are connected to each aging test controller in a point-to-point manner. Since serial interface extensions are very hardware dependent, there is only a limited number of expandable channels in a single device. In order to extend beyond the designated channel, several expansion communication devices should be installed. That is, the conventional aging system is configured in units of blocks (aging test controllers connected to one extension communication device) using such an extension device.

구체적으로, 두 개 이상의 확장통신 장치를 설치하여 여러 개의 블록단위로 나누어 관리할 수 있고, 각각의 블록단위로 디스플레이 모듈을 시험할 수 있다. 즉, 시스템의 구조상 하나의 물리적인 블록에서 한 가지의 모델만 시험할 수 있는 것이다.Specifically, two or more extension communication devices may be installed and managed in units of blocks, and the display module may be tested in units of blocks. That is, only one model can be tested in one physical block because of the structure of the system.

또한, 데이터의 전송에 있어서 동일한 블록에 연결된 에이징 시험 제어기에 동일한 데이터를 각각 순차적으로 전송해야 한다. 따라서 확장 장치에 연결된 수만큼의 동일한 전송을 반복하는 구조로서 비교적 큰 데이터를 전송하는 경우 오랜 시간이 걸리는 문제가 있다. 그리고 종래의 통신확장 장치는 다수의 시리얼 포트를 제어하기 위하여 다중 채널 및 스위칭 장치가 물리적으로 지원되어야 하는 구조로서 복잡하고 가격이 높아지는 문제가 있다.In addition, in transmitting data, the same data must be sequentially transmitted to an aging test controller connected to the same block. Therefore, as a structure of repeating the same number of transmissions connected to the expansion device, there is a problem that it takes a long time to transmit relatively large data. In addition, the conventional communication expansion device is a structure in which multiple channels and switching devices must be physically supported in order to control a plurality of serial ports, which is complicated and expensive.

한편, 각각의 에이징 시험 제어기를 하나의 확장통신 장치에 연결하는 구조로서 각각의 에이징 시험 제어기에서 확장통신 장치까지 이어진 케이블의 길이가 길어져 설치가 어렵고 비용 또한 증가할 수밖에 없고, 케이블의 길이 및 이에 따른 노이즈로 인하여 데이터의 손실을 가져와 시스템의 안정성을 떨어뜨리는 문제점이 있다.On the other hand, as a structure for connecting each aging test controller to one extended communication device, the length of the cable from each aging test controller to the extended communication device is long, which makes installation difficult and costs inevitably increase. There is a problem that the loss of data due to the noise to reduce the stability of the system.

본 발명자는 이와 같은 문제점을 해결하기 위하여 디스플레이 모듈의 에이징 시험을 위한 통신방식에 CAN 통신 방식을 도입하기에 이른 것이다. CAN(Controller Area Network, 계측제어통신망)은 다수의 전자장비 사이에 일대일 통신(Point to Point) 방식이 부적합하여 이를 개선하기 위하여 개발된 다중통신(Multi Master Communication) 방식이다. 초기에는 차량용 네트워크를 위하여 시리얼 통신 네트워크로 개발되었는데, 두 가닥의 꼬인 선으로 다수의 ECU를 병렬로 연결하여 ECU 상호간의 정보 교환을 우선순위대로 처리하는 방식이 있으며, 네트워크 상의 모든 디바이스는 전송되는 모든 메시지를 확인할 수 있으며, 해당 메시지가 필터링되어야 하는지 여부를 결정할 수 있다. 또한 CAN은 노이즈에 강하다는 장점이 있어 근래에는 차량용뿐만 아니라 철도, 항공기, 의료기, 승강기 등 다양한 분야에서의 응용이 이루어지고 있다. 본 발명자는 이러한 CAN 통신방식을 종래의 디스플레이 모듈 에이징 시험방식에서 드러난 문제점을 해결하기 위하여 적용하기에 이른 것이다.
In order to solve such a problem, the present inventors have introduced a CAN communication method to a communication method for an aging test of a display module. CAN (Controller Area Network) is a Multi Master Communication (Multi Master Communication) method developed to improve the point-to-point communication between a number of electronic devices is not suitable. Initially developed as a serial communication network for vehicle networks, two ECUs were connected in parallel to connect multiple ECUs in parallel to process information exchange between ECUs in the order of priority. You can check the message and determine whether the message should be filtered. In addition, CAN has the advantage of being resistant to noise, and thus has been applied to various fields such as railways, aircrafts, medical devices, and lifts in recent years. The present inventors have applied such a CAN communication method to solve the problems revealed in the conventional display module aging test method.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 디스플레이 모듈 에이징을 위한 통신 네트워크 구조로서 시험운영 컴퓨터가 직렬 인터페이스나 이더넷 네트워크 버스를 통하여 상위계층에서 중간 통신장치와 연결되고 중간 통신장치에서 CAN 통신으로 변환시키는 통신 네트워크 구조를 제공하는 것을 목적으로 한다.
The present invention is a communication network structure for display module aging in order to solve the above problems, the test computer is connected to the intermediate communication device in the upper layer through the serial interface or Ethernet network bus and the communication is converted from the intermediate communication device to CAN communication The purpose is to provide a network structure.

이와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 디스플레이 모듈을 에이징하기 위한 시험조건들을 설정하고 시험운영 상태를 모니터링하기 위한 시험운영 컴퓨터 및 상기 디스플레이 모듈의 시험을 위한 시험용 패턴을 생성하여 제공하는 에이징 시험 제어기를 포함하는 디스플레이 모듈 에이징 장치에 있어서, 상기 시험운영 컴퓨터에 물리적으로 연결된 하나 또는 다수의 중간 통신장치 및 상기 각각의 중간 통신장치와 CAN(Controller Area Network) 버스를 통하여 연결되는 상기 에이징 시험 제어기를 포함하는 다수의 에이징 시험 수행부를 포함한다.In order to achieve the above object, the present invention provides an aging test controller which sets test conditions for aging a display module and generates and provides a test computer for testing the display module and a test computer for monitoring test operation. A display module aging device comprising: one or more intermediate communication devices physically connected to the test computer and the aging test controller connected to each of the intermediate communication devices via a controller area network (CAN) bus. It includes a plurality of aging test performers.

상기 중간 통신장치는 상기 시험운영 컴퓨터와 USB, RS232 및 이더넷 중 어느 하나를 통하여 연결되어 데이터를 송수신하는 제1 마이크로 컨트롤러 및 상기 제1 마이크로 컨트롤러에 연결되어 데이터를 CAN 버스로 전송하거나 CAN 버스로부터 데이터를 수신하는 제1 CAN 트랜시버를 포함하여 상기 시험운영 컴퓨터와의 인터페이스를 CAN 통신으로 변환할 수 있다.The intermediate communication device is connected to the test computer through any one of USB, RS232, and Ethernet to transmit and receive data, and is connected to the first microcontroller to transmit data to or from the CAN bus. Including a first CAN transceiver for receiving the interface with the test computer can be converted into CAN communication.

상기 중간 통신장치는 데이터를 일시 저장하기 위한 메모리를 더 포함할 수 있다.The intermediate communication device may further include a memory for temporarily storing data.

상기 에이징 시험 제어기는 CAN 버스에 연결되어 상기 중간 통신장치와 통신하도록 하는 제2 CAN 트랜시버, 패턴 FPGA(Field Programmable Gate Array), 및 CAN 버스를 통하여 전송받은 데이터에 따라 상기 패턴 FPGA를 제어하여 디스플레이 모듈로 시험패턴을 출력하도록 하는 제2 마이트로 컨트롤러를 포함할 수 있다.The aging test controller is connected to a CAN bus to control the pattern FPGA according to a second CAN transceiver, a pattern field programmable gate array (FPGA), and data transmitted through the CAN bus to communicate with the intermediate communication device. The controller may include a second miter for outputting a test pattern.

상기 에이징 시험 제어기는 데이터를 일시 저장하기 위한 EEPROM, FRAM 등의 비휘발성 메모리를 더 포함할 수 있다.The aging test controller may further include a nonvolatile memory such as EEPROM, FRAM, etc. for temporarily storing data.

또한, 상기 중간 통신장치 및 상기 에이징 시험 제어기 사이의 통신 및 간섭 방지를 위하여, 상기 시험운영 컴퓨터에 의하여 설정된 호스트 ID, 상기 에이징 시험 제어기 고유의 디바이스 ID 및 호스트/디바이스의 ID 관리 및 초기설정을 위한 설정용 ID를 할당하여 중간통신장치 및 각각의 에이징 시험기를 설정 및 제어할 수 있다.Also, for communication and interference prevention between the intermediate communication device and the aging test controller, a host ID set by the test computer, a device ID unique to the aging test controller, and ID / host management and initial setting of a host / device A setting ID can be assigned to configure and control the intermediate communication device and each aging tester.

이에 더하여, 동일한 시험 모델을 그룹화한 그룹 ID 및 동일한 CAN 버스 상에 연결된 모든 에이징 시험 제어기에 대한 공통 ID를 할당해서 할당된 디바이스/그룹/공통ID로 데이터를 전송하여 여러종류 또는 하나의 종류의 디스플레이 모듈을 정해진 디스플레이 패턴 및 조건으로 시험할 수 있다.
In addition, group IDs grouping the same test model and common IDs for all aging test controllers connected on the same CAN bus are assigned to transfer data to the assigned device / group / common ID for multiple or one type of display. Modules can be tested with defined display patterns and conditions.

이와 같이 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 에이징 장치의 통신 네트워크 구조에 의하면, 종래에 비하여 통신 시스템이 단순화되어 시스템의 설치 및 관리가 용이하고 생산 및 설치, 유지보수 비용이 절감되는 효과가 있다. 예를 들면, 확장 통신장치의 설치 수량 및 장치의 구조, 각 장치 간의 통신라인의 수 및 길이가 축소되어 원가를 절감할 수 있다.As described above, according to the communication network structure of the display module aging apparatus according to the present invention, the communication system is simplified as compared with the related art, so that the installation and management of the system is easy and the production, installation, and maintenance costs are reduced. For example, the installation quantity of the extended communication device and the structure of the device, the number and length of communication lines between the devices can be reduced to reduce the cost.

또한, 하나의 에이징 쳄버에서 별도의 통신 장치 확장 및 물리적으로 설치, 변경하지 않고 데이터 통신을 통하여 다양한 디스플레이 모듈을 네크워크 ID 설정만으로 제어할 수 있다. 통신방식에 있어서도 신뢰성이 향상되고 개별적인 에이징 시험 제어기와의 펌웨어 업그레이드 및 디스플레이 모듈에 대한 정보, 패턴 정보 등의 데이터 전송속도 및 처리속도를 향상시킬 수 있다.
In addition, it is possible to control various display modules by only setting network IDs through data communication without expanding and physically installing and changing a separate communication device in one aging chamber. In the communication method, the reliability is improved, and the data transmission speed and processing speed of the firmware upgrade and display module information and pattern information with the individual aging test controller can be improved.

도 1은 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 디스플레이 모듈 에이징 장치의 통신 네트워크 구조를 개략적으로 도시한 블럭도;
도 2는 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 통신 네트워크 구조에 적용된 CAN 버스의 구조를 도시한 개념도;
도 3은 도 2의 CAN 버스 구조에 반복기를 추가한 구성도;
도 4는 도 1의 중간 통신장치(300)의 내부구성을 개략적으로 도시한 블럭도;
도 5는 도 1의 에이징 시험 제어기(400)를 개략적으로 도시한 블럭도;
도 6은 본 발명의 하나의 실시 예로서 하나의 CAN 버스(20)에 여러 개의 에이징 시험 제어기(400)를 연결한 구성도;
도 7은 본 발명의 하나의 실시 예에 따라 CAN ID를 설정하는 방식을 설명하는 예시도;
도 8은 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 통신 네트워크 구조에서의 데이터 전송 순서 및 운영흐름에 대한 예시도; 및
도 9는 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 통신 네트워크 구조에 의하여 디스플레이 모듈을 에이징하기 위한 시스템의 전체 흐름도이다.1 is a block diagram schematically illustrating a communication network structure of a display module aging device according to one embodiment of the present invention;
2 is a conceptual diagram illustrating a structure of a CAN bus applied to a communication network structure according to an embodiment of the present invention;
3 is a configuration diagram in which a repeater is added to the CAN bus structure of FIG. 2;
4 is a block diagram schematically showing an internal configuration of the intermediate communication device 300 of FIG.
5 is a schematic block diagram of the aging test controller 400 of FIG.
6 is a configuration diagram in which several aging test controllers 400 are connected to one CAN bus 20 as one embodiment of the present invention;
7 is an exemplary view illustrating a method of setting a CAN ID according to one embodiment of the present invention;
8 is an exemplary diagram illustrating a data transmission order and an operation flow in a communication network structure according to an embodiment of the present invention; And
9 is an overall flowchart of a system for aging a display module by a communication network structure according to an embodiment of the present invention.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세하게 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 디스플레이 모듈 에이징 장치의 통신 네트워크 구조를 개략적으로 도시한 블럭도이다. 도 1을 참조하면, 디스플레이 모듈(200)을 에이징하기 위한 시험조건들을 설정하고 시험운영상태를 모니터링하기 위한 시험운영 컴퓨터(100) 및 상기 디스플레이 모듈(200)의 시험을 위한 시험용 패턴을 생성하여 제공하는 에이징 시험 제어기(400)를 포함하는 디스플레이 모듈 에이징 장치에 있어서, 본 발명의 디스플레이 모듈 에이징 장치의 통신 네트워크 구조는 하나 또는 다수의 중간 통신장치(CAN Adaptor: 이하에서, CAN ADP로도 명명한다)(300)가 시험운영 컴퓨터(100)에 물리적으로 연결되고, 에이징 시험 제어기(400)가 각각의 중간 통신장치(300)와 CAN(Controller Area Network) 버스(20)를 통하여 CAN 통신으로 연결된다. 1 is a block diagram schematically illustrating a communication network structure of a display module aging apparatus according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 1, test conditions for aging the display module 200 may be set and a test pattern for testing the display computer 200 and a test computer 100 for monitoring a test operation state may be generated and provided. In the display module aging apparatus comprising an aging test controller 400, the communication network structure of the display module aging apparatus of the present invention is one or more intermediate communication apparatus (CAN Adapter: hereinafter also referred to as CAN ADP) ( 300 is physically connected to the test computer 100, and the aging test controller 400 is connected to CAN communication through each intermediate communication device 300 and a controller area network (CAN) bus 20.

종래 기술에서는 상위계층이 시험운영 컴퓨터와 에이징 시험 제어기 사이가 네트워크 구조로 연결되어 있는 반면에, 본 발명의 디스플레이 모듈 에이징 장치의 통신 네트워크 구조는 도 1에 도시된 바와 같이 하위계층인 중간 통신장치(300)와 각각의 에이징 시험 제어기(400)가 독립된 네트워크 구조로 연결되어 있다. 즉, 종래 기술에서는 하나의 시험운영 컴퓨터에 여러 개의 에이징 시험 제어기를 설치, 확장하여 관리하는 구조인 반면에, 본 발명의 디스플레이 모듈 에이징 장치의 통신 네트워크 구조는 하나의 중간 통신 장치(300)를 연결하여 CAN 버스(20) 상에 다수의 에이징 시험 제어기(400)가 설치되는 구조로서 물리적으로 각각의 블록이 구성되는 종래 기술에서의 방식에 비하여 네트워크 ID를 통하여 응용계층에서 논리적인 구조로 각각의 에이징 시험 제어기(400)를 제어하는 구조이다. 따라서 중간 통신장치(300)를 기준으로 하나의 CAN 버스(20)에 다수의 장치(여기서는 에이징 시험 제어기(400))를 연결하여 사용할 수 있으므로 별도로 통신 장치를 확장하지 않고 에이징 시스템을 구축할 수 있는 장점이 있다. 또한, 도 1의 아래쪽에 도시된 바와 같이 하나의 시험운영 컴퓨터(100) 또는 서버에서 다수의 에이징 쳄버를 관리할 수 있도록 하나 이상의 중간 통신장치(CAN ADP n)를 별도의 CAN 버스(CAN 버스 n)에 연결하여 추가로 설치할 수 있다. 따라서 물리적으로 CAN 버스에 동시에 연결할 수 없는 구조 또는 하나의 서버 컴퓨터에서 다수의 에이징 쳄버를 관리하는 경우 등과 같이 시스템을 확장하는 경우에 이용될 수 있다.In the prior art, the upper layer is connected between the test computer and the aging test controller in a network structure, whereas the communication network structure of the display module aging device of the present invention is a lower layer intermediate communication device (as shown in FIG. 300 and each aging test controller 400 are connected in an independent network structure. That is, in the related art, a structure in which a plurality of aging test controllers are installed, extended, and managed in one test computer is used, whereas the communication network structure of the display module aging device of the present invention connects one intermediate communication device 300. The aging test controller 400 is installed on the CAN bus 20, and each aging is performed in a logical structure at the application layer through a network ID, compared to the conventional method in which each block is physically configured. It is a structure that controls the test controller 400. Therefore, since a plurality of devices (here, the aging test controller 400) can be connected to one CAN bus 20 based on the intermediate communication device 300, an aging system can be constructed without expanding a communication device separately. There is an advantage. Also, as shown in the lower part of FIG. 1, one or more intermediate communication devices (CAN ADP n) may be connected to a separate CAN bus (CAN bus n) to manage a plurality of aging chambers in one test computer 100 or a server. Can be installed in addition. Therefore, it can be used when the system is extended, such as a structure that cannot be physically connected to the CAN bus simultaneously, or when managing multiple aging chambers from one server computer.

도 2는 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 통신 네트워크 구조에 적용된 CAN 버스의 구조를 도시한 개념도이다. CAN 통신의 각 종단에는 종단 저항(25)이 연결되어 있다. 하나의 CAN 버스에는 병렬로 다수의 노드(도 2에서는 노드 A, B 및 C가 연결된 예가 도시되어 있다)가 연결될 수 있는데 11 비트 ID를 사용하는 경우 최대 2048개(노드 당 하나의 ID 할당시)의 노드를 연결할 수 있고, 29 비트 ID를 사용하는 경우에는 536백만 개의 메시지 ID를 생성할 수 있다. 또한, 하나의 노드에 여러 개의 메시지 ID를 할당하여 사용할 수도 있다. CAN 버스는 두 개의 꼬인 선(CAN_H 및 CAN_L)으로 구성되는데 두 개의 라인의 일정 이상의 진폭(Diff)으로 데이터를 구분하기 때문에 EMI(Electromagnetic Interference)에 강한 구조를 갖는다.2 is a conceptual diagram illustrating a structure of a CAN bus applied to a communication network structure according to an embodiment of the present invention. A terminating resistor 25 is connected to each end of the CAN communication. One CAN bus can have multiple nodes connected in parallel (examples of nodes A, B, and C connected in FIG. 2). Up to 2048 (with one ID assigned per node) when using 11-bit IDs. Nodes can be connected, and if using a 29-bit ID, 536 million message IDs can be generated. In addition, a plurality of message IDs may be assigned to one node and used. The CAN bus is composed of two twisted lines (CAN_H and CAN_L), which have strong structure against Electromagnetic Interference (EMI) because it divides data by a certain amplitude (Diff) of two lines.

CAN 버스는 1Mbps의 속도를 기준으로 40m 떨어진 거리까지 데이터의 신뢰성을 보장할 수 있다. 통신속도를 낮추면 보다 장거리까지도 보장할 수 있다. 예를 들어, 125Kbps 정도의 속도로 약 500m의 거리까지 통신할 수 있다. 도 2에 도시된 바와 같이 꼬임 케이블을 사용하거나 케이블을 차폐하면 좀 더 장거리까지의 통신도 안정적으로 보장할 수 있다. 종래의 RS-232C 통신을 이용하는 경우보다 통신 손실률이 낮아 보다 빠른 속도로 데이터 통신이 가능하여 시스템 처리속도를 전반적으로 향상시킬 수 있다.The CAN bus can guarantee data reliability up to 40m away at a speed of 1Mbps. Lowering the communication speed can guarantee even longer distances. For example, it can communicate at a distance of about 500m at a speed of about 125Kbps. Using a twisted cable or shielding the cable, as shown in Figure 2 can ensure a stable communication even longer distance. As communication loss rate is lower than that of conventional RS-232C communication, data communication can be performed at a higher speed, thereby improving overall system processing speed.

CAN 버스의 통신 라인이 길어질수록 신호의 감쇄로 인하여 정상적인 통신을 보장할 수가 없다. 도 3은 일정한 거리 이상으로 떨어진 거리에서도 통신 품질을 확보하기 위하여 CAN 버스 상에 반복기를 연결한 구성을 도시한다. 하나의 반복기를 설치하는 경우 통신 가능거리를 약 2배까지 확장할 수 있으며, CAN 버스의 종단에서 반복기가 설치된 개수만큼 통신 도달거리를 추가로 연장할 수 있다.The longer the communication line on the CAN bus, the more attenuated the signal can cause to ensure normal communication. 3 illustrates a configuration in which a repeater is connected on a CAN bus to secure communication quality even at a distance away from a predetermined distance. If one repeater is installed, the communication distance can be extended by about twice, and the communication reach can be further extended by the number of repeaters installed at the end of the CAN bus.

도 4는 도 1의 중간 통신장치(300)의 내부구성을 개략적으로 도시한 블럭도이다. 도 4를 참조하면, 중간 통신장치(300)는 시험운영 컴퓨터와 USB, RS232 및 이더넷 등을 통해 연결되어 데이터를 송수신하는 제1 마이크로 컨트롤러(310) 및 제1 마이크로 컨트롤러(310)에 연결되어 데이터를 CAN 버스로 전송하거나 CAN 버스로부터 데이터를 수신하는 제1 CAN 트랜시버(320)를 포함하여 시험운영 컴퓨터와의 인터페이스를 CAN 통신으로 변환할 수 있다.4 is a block diagram schematically illustrating an internal configuration of the intermediate communication device 300 of FIG. 1. Referring to FIG. 4, the intermediate communication device 300 is connected to the first microcontroller 310 and the first microcontroller 310 and the first microcontroller 310, which are connected to the test computer through USB, RS232, Ethernet, and the like to transmit and receive data. The first CAN transceiver 320 for transmitting to or receiving data from the CAN bus can convert the interface with the test computer to CAN communication.

여기에서, 중간 통신장치(300)는 시험운영 컴퓨터와 RS-232C, USB, 또는 이더넷(Ethernet)으로 연결할 수 있다. 에이징 쳄버의 구조상 시험운영 컴퓨터와 CAN ADP 및 에이징 시험 제어기 사이의 거리가 길어지는 경우에는 이더넷으로 연결하는 것이 바람직하다. CAN ADP에 포함된 마이크로 컨트롤러는 CAN 컨트롤러, SRAM, 플래시 메모리를 내장 또는 외장할 수 있다. 또한 RS-232C, USB 또는 이더넷을 통하여 전송받은 데이터를 Device/Group/Common ID 별로 에이징 시험 제어기로 전송할 수 있다. 에이징 시험 제어기로 전송할 데이터는 제1 CAN 트랜시버(320)를 통하여 CAN 버스와 연결되어 전송되며 8 바이트 단위로 패킷이 나뉘어 지정된 ID의 에이징 시험 제어부로 전송된다. 각 에이징 시험 제어기로부터 응답 데이터가 수신되면 RS-232C, USB 또는 이더넷에 따라 정해진 포맷으로 변환되어 데이터를 시험운영 컴퓨터로 전송한다.Here, the intermediate communication device 300 may be connected to the test computer and the RS-232C, USB, or Ethernet (Ethernet). If the distance between the test computer and the CAN ADP and the aging test controller is long due to the structure of the aging chamber, an Ethernet connection is preferable. The microcontroller included in the CAN ADP can have a built-in or external CAN controller, SRAM and flash memory. In addition, data received through RS-232C, USB or Ethernet can be sent to the aging test controller by Device / Group / Common ID. The data to be transmitted to the aging test controller is transmitted by being connected to the CAN bus through the first CAN transceiver 320 and the packet is divided into 8 byte units and transmitted to the aging test controller having a specified ID. When response data is received from each aging test controller, it is converted into a format according to RS-232C, USB or Ethernet, and the data is transmitted to the test computer.

상기 중간 통신장치(300)는 데이터를 일시 저장하기 위한 메모리(330)를 더 포함할 수 있다. 펌웨어 업그레이드를 위한 고용량 데이터는 필요에 따라 이 메모리에 저장되었다가 전송할 수 있다. 바람직하게는 이러한 용도를 위한 메모리로 플래시 메모리를 사용할 수 있다.The intermediate communication device 300 may further include a memory 330 for temporarily storing data. High-capacity data for firmware upgrades can be stored in this memory and sent as needed. Preferably, flash memory can be used as the memory for this purpose.

도 5는 도 1의 에이징 시험 제어기(400)를 개략적으로 도시한 블럭도이다. 도 5를 참조하면, 에이징 시험 제어기(400)는 CAN 버스에 연결되어 중간 통신장치(300)와 통신하도록 하는 제2 CAN 트랜시버(420), 패턴 FPGA(Field Programmable Gate Array)(430), 및 CAN 버스를 통하여 전송받은 데이터에 따라 패턴 FPGA(430)를 제어하여 디스플레이 모듈로 시험패턴을 출력하도록 하는 제2 마이트로 컨트롤러(410)를 포함할 수 있다.5 is a block diagram schematically illustrating the aging test controller 400 of FIG. 1. Referring to FIG. 5, an aging test controller 400 is connected to a CAN bus to communicate with a second communication device 300, a second CAN transceiver 420, a pattern field programmable gate array (FPGA) 430, and CAN. The controller 410 may include a second miter for controlling the pattern FPGA 430 according to the data transmitted through the bus to output the test pattern to the display module.

에이징 시험 제어기(400)는 장치 디버깅, ID 설정 및 초기화를 위하여 별도의 시리얼 포트(440)를 내장할 수 있다. 시리얼 포트(440)로 USB 또는 UART/RS-232C를 사용할 수 있다. 제2 마이크로 컨트롤러(410)는 CAN 컨트롤러, SRAM 및 플래시 메모리를 내장 또는 외장할 수 있다. 제2 마이크로 컨트롤러(410)에 의한 장치의 설정은 CAN 버스를 통하여 시험운영 컴퓨터로부터 전송받은 디스플레이 모듈에 대한 정보 및 시험패턴 정보에 의하여 이루어지고, 패턴 FPGA를 통하여 디스플레이 모듈로 시험패턴을 출력하게 된다. 또한, 에이징 시험 제어기(400)는 인버터를 통하여 전원 및 백라이트를 제어하고 전압/전류를 모니터링하여 결과를 CAN 버스를 통하여 CAN ADP로 전송한다. 또한, 에이징 시험 제어기(400)는 데이터를 일시 저장하기 위한 EEPROM, FRAM 등의 비휘발성 메모리(450)를 더 포함할 수 있다.The aging test controller 400 may have a separate serial port 440 for device debugging, ID setting, and initialization. The serial port 440 may use USB or UART / RS-232C. The second microcontroller 410 may internally or externally include a CAN controller, an SRAM, and a flash memory. The setting of the device by the second microcontroller 410 is made by the information and test pattern information on the display module received from the test computer through the CAN bus, and outputs the test pattern to the display module through the pattern FPGA. . In addition, the aging test controller 400 controls the power supply and the backlight through the inverter, monitors the voltage / current and transmits the result to the CAN ADP through the CAN bus. In addition, the aging test controller 400 may further include a nonvolatile memory 450 such as an EEPROM or a FRAM for temporarily storing data.

도 6은 본 발명의 하나의 실시 예로서 하나의 CAN 버스(20)에 여러 개의 에이징 시험 제어기(400)를 연결한 구성도이다. 도 6을 참조하여 본 발명에 따른 장치의 동작을 설명하면, 본 발명에서는 한 종류 또는 여러 종류의 LCM을 하나의 에이징 라인 안에서 도시한 바와 같이 여러 그룹으로 분리하여 제어 및 시험할 수 있다. 한 종류의 LCM 을 동일한 패턴 및 조건으로 시험할 경우, 그룹 ID(Group ID)를 모두 동일하게 설정하거나 공통 ID(Common ID)로 데이터를 전송하여 시험할 수 있다. 종래의 시리얼 일대일(Point to Point) 방식은 순차적으로 데이터가 전송되므로 접속된 수(n 개) 만큼의 사이클이 수행되는 반면에, 본 발명의 경우에는 동일한 ID에 해당되는 디바이스(여기서는 에이징 시험 제어기)들이 모두 데이터를 동시에 전달받아서 하나의 사이클에 n 개의 디바이스가 실행된다. 예를 들어, 종래의 방식으로 펌웨어 업그레이드하는 경우 각각 하나의 장치별로 업그레이드하는데 수분이 소요되어 모든 장치를 업그레이드하는데 많은 시간이 소요되는데 비하여, 본 발명에 따르면 하나의 장치를 업그레이드하는 만큼의 짧은 시간 내에 통신을 할 수 있다.6 is a configuration diagram in which several aging test controllers 400 are connected to one CAN bus 20 as one embodiment of the present invention. Referring to FIG. 6, the operation of the apparatus according to the present invention can be described. In the present invention, one or several types of LCMs can be divided into various groups as shown in one aging line to control and test. If one type of LCM is tested with the same pattern and condition, all group IDs can be set identically or they can be tested by sending data with a common ID. In the conventional serial point to point method, since data is sequentially transmitted, as many as n connected cycles are performed, in the present invention, a device corresponding to the same ID (here, an aging test controller) They all receive data simultaneously so that n devices run in one cycle. For example, in the case of upgrading the firmware in a conventional manner, it takes several minutes to upgrade each device, and thus many hours are required to upgrade all the devices. You can communicate.

시험 모듈의 종류 및 패턴, 시험 조건에 따라서 디바이스 ID 별 또는 그룹 ID 별로 나누어 시험을 수행할 수 있다. 디바이스 ID는 하나의 에이징 시험 제어기마다 고유의 ID를 가지게 되고, 그룹 ID는 동일한 시험 모델끼리 그룹화하여 설정할 수 있다. 각각의 ID는 호스트(또는 서버)에 해당하는 시험운영 컴퓨터에서 CAN ADP를 통하여 유연하게 설정할 수 있다.Depending on the type and pattern of the test module and the test conditions, the test may be divided by device ID or group ID. The device ID has a unique ID for each aging test controller, and the group ID can be set by grouping the same test models. Each ID can be flexibly set via CAN ADP on the test computer corresponding to the host (or server).

도 7은 본 발명의 하나의 실시 예에 따라 CAN ID를 설정하는 방식을 설명하는 예시도이다. 도 7을 참조하면, CAN ADP(300)는 호스트로 고유의 호스트 ID 및 CFG ID(Configuration ID)를 가지고 있다. 호스트 ID는 시험운영 컴퓨터 관리자가 PC 인터페이스를 통하여 ID를 전송하여 설정할 수 있다. CFG ID는 모델별 또는 LOT 별로 개발 및 생산시 프로그램되거나 설정되어 생산된다.7 is an exemplary view illustrating a method of setting a CAN ID according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 7, the CAN ADP 300 has a unique host ID and a CFG ID (Configuration ID) as a host. The host ID can be set by the test computer administrator by sending the ID through the PC interface. CFG IDs are programmed or set during development and production by model or by lot.

각 에이징 시험 제어기가 Device/Group/Common/Configuration ID를 가지게 되면 Device 및 Group/Common ID는 시험운영 컴퓨터 관리자가 CAN ADP를 통하여 ID를 전송하여 설정할 수 있다. 하나의 에이징 시험 제어기(400)마다 고유의 Device ID를 각각 가지게 되며, 동일한 LCM 모델/패턴/시험조건의 경우에는 동일한 Group ID로 설정해서 제어할 수 있다. Common ID(또는 Public ID)의 경우 해당 CAN 버스 상에 연결된 모든 에이징 시험 제어기(400)는 동일한 Common ID를 가지게 된다. CFG ID는 생산자가 모델별로 동일한 ID를 프로그램하거나 LOT 별로 생산시에 설정된다. CFG ID의 설정은 USB 및 UART 등을 통하여 설정할 수 있다.When each aging test controller has Device / Group / Common / Configuration ID, Device and Group / Common ID can be set by sending the ID through CAN ADP. Each aging test controller 400 has a unique Device ID, and in the case of the same LCM model / pattern / test conditions, the same group ID can be set and controlled. In the case of Common ID (or Public ID), all aging test controllers 400 connected on the corresponding CAN bus will have the same Common ID. The CFG ID is set by the producer when programming the same ID for each model or for each lot. CFG ID can be set through USB and UART.

도 8은 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 통신 네트워크 구조에서의 데이터 전송 순서 및 운영흐름에 대한 예시도이다. 도 8을 참조하면, 시험운영 컴퓨터에서 에이징 시험 제어기로 Common ID로 호스트 ID를 전송한다. 이에 따라 CAN 버스에 연결된 모든 에이징 시험 제어기에서 Device ID를 응답한다. 이때, 하나의 버스로 여러 개의 장치에서 데이터를 전송하게 되는데 CAN 버스는 CSMA/CD(Carrier Sense Multiple Access with Collision Detection)에 따라 버스를 액세스하므로 충돌이 발생하지 않으며 식별자 ID를 기준으로 우선순위에 따라 전송이 이루어진다. 통신 선로에 우선 처리 중인 데이터가 존재하여 데이터 전송이 실패하는 경우에는 기존 데이터 전송이 완료된 후에 다시 전송하게 된다. CAN 패킷 구조에 ID, 데이터 길이, 데이터, CRC, Acknowledge가 포함되어 패킷 데이터의 신뢰성을 보장할 수 있다.8 is an exemplary diagram for a data transmission order and operation flow in a communication network structure according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 8, the host ID is transmitted from the test computer to the aging test controller as a common ID. Accordingly, all aging test controllers connected to the CAN bus respond with a Device ID. In this case, data is transmitted from multiple devices on one bus. Since the CAN bus accesses the bus according to Carrier Sense Multiple Access with Collision Detection (CSMA / CD), no collision occurs and the priority is based on the identifier ID. The transmission is made. If data transfer fails due to the existence of data being processed on the communication line, it is transmitted again after the existing data transfer is completed. The CAN packet structure includes ID, data length, data, CRC, and Acknowledge to ensure packet data reliability.

시험운영 컴퓨터가 에이징 시험 제어기로 각 디바이스 ID를 전송받으면 에이징 쳄버에 설정된 LCM 모델 및 시험조건에 따라서 각각의 에이징 시험 제어기에 Group ID를 전송한다. 시험운영 컴퓨터는 현재 버스에 연결된 에이징 시험 제어기에 개별 또는 그룹별로 연결된 ID를 주기적으로 요청해서 수신받을 수 있다. 이때, 각 에이징 시험 제어기의 상태를 함께 전송받을 수 있다.When the test computer receives each device ID to the aging test controller, the group ID is transmitted to each aging test controller according to the LCM model and test conditions set in the aging chamber. The test computer can periodically receive and receive IDs connected individually or in groups to the aging test controller currently connected to the bus. At this time, the state of each aging test controller may be received together.

ID 설정이 완료되면 에이징 시험 제어기의 펌웨어 업그레이드 여부를 확인하는 과정을 개시한다. 이벤트가 있을 경우, 전체/그룹 또는 각 에이징 시험 제어기별로 ID를 구분하여 독립적으로 또는 동시에 데이터 전송이 가능하다. 펌웨어 업그레이드 확인이 종료되면 그룹별로 LCM/패턴/시험조건 데이터를 전송하여 디스플레이 모듈에 대한 시험을 진행한다.After the ID setting is completed, the process of checking whether the aging test controller is upgraded or not is started. If there is an event, data can be transmitted independently or simultaneously by classifying IDs by whole / group or by each aging test controller. When the firmware upgrade check is completed, test the display module by transmitting LCM / pattern / test condition data for each group.

도 9는 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 통신 네트워크 구조에 의하여 디스플레이 모듈을 에이징하기 위한 시스템의 전체 흐름도이다. 도 9를 참조하면, 시험운영 컴퓨터를 통하여 에이징 프로그램 및 각 에이징 시험 제어기의 ID를 제어한다. LCM/패턴/시험조건을 편집한 후에 데이터를 에이징 시험 제어기로 전송하고 에이징 시험을 시작한다. 에이징 시험시에는 정해진 조건에 따라 운영자가 점검하거나 전압/전류 모니터링 및 NG 체크를 통하여 정해진 시간 동안 시험을 수행한다. 에이징 시간이 종료되면서 시험을 완료하게 되고 에러가 발생한 에이징 시험 제어기의 LCM은 불량으로 판정하고 NG Status 확인 및 이에 따른 처리를 하게 된다.9 is an overall flowchart of a system for aging a display module by a communication network structure according to an embodiment of the present invention. 9, the aging program and the ID of each aging test controller are controlled through a test computer. After editing the LCM / pattern / test conditions, transfer the data to the aging test controller and start the aging test. In the aging test, the operator checks according to the specified conditions or performs the test for a fixed time through voltage / current monitoring and NG check. As the aging time expires, the test is completed, and the LCM of the aging test controller in which an error occurs is determined to be defective, and the NG status is checked and processed accordingly.

이상에서와 같이 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 설명함에 있어서, 특정의 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적으로 사용된 것이지 의미를 한정하거나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 따라서 본 기술 분야에 속하는 통상의 지식을 가진 자에 의하여 다양한 변형 및 균등한 실시가 가능하다는 것을 이해하여야 하고, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.
In the following description of the present invention with reference to the accompanying drawings as described above, specific terms have been used, which are merely used for the purpose of illustrating the present invention to limit the meaning or scope of the invention described in the claims It is not intended to be limiting. Therefore, it should be understood that various modifications and equivalent implementations may be made by those skilled in the art, and the true technical protection scope of the present invention should be determined by the technical spirit of the appended claims. .

Claims (7)

삭제delete 디스플레이 모듈을 에이징하기 위한 시험조건들을 설정하고 시험운영상태를 모니터링하기 위한 시험운영 컴퓨터 및 상기 디스플레이 모듈의 시험을 위한 시험용 패턴을 생성하여 제공하는 에이징 시험 제어기를 포함하는 디스플레이 모듈 에이징 장치에 있어서,
하나 또는 다수의 중간 통신장치가 상기 시험운영 컴퓨터에 물리적으로 연결되고, 상기 에이징 시험 제어기가 상기 각각의 중간 통신장치와 CAN(Controller Area Network) 버스를 통하여 CAN 통신으로 연결되고,
상기 중간 통신장치는 상기 시험운영 컴퓨터와 USB, RS232 및 이더넷 중 어느 하나를 통하여 연결되어 데이터를 송수신하는 제1 마이크로 컨트롤러 및 상기 제1 마이크로 컨트롤러에 연결되어 데이터를 CAN 버스로 전송하거나 CAN 버스로부터 데이터를 수신하는 제1 CAN 트랜시버를 포함하여 상기 시험운영 컴퓨터와의 인터페이스를 CAN 통신으로 변환하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 에이징 장치의 통신 네트워크 구조.
A display module aging device comprising a test computer for setting test conditions for aging a display module and monitoring a test operation state and an aging test controller for generating and providing a test pattern for testing the display module.
One or more intermediate communication devices are physically connected to the test computer, the aging test controller is connected in CAN communication via each of the intermediate communication devices and a controller area network (CAN) bus,
The intermediate communication device is connected to the test computer through any one of USB, RS232, and Ethernet to transmit and receive data, and is connected to the first microcontroller to transmit data to or from the CAN bus. The communication network structure of the display module aging device, including converting the interface with the test computer to the CAN communication including a first CAN transceiver for receiving a.
제2항에 있어서, 상기 중간 통신장치는 데이터를 일시 저장하기 위한 메모리를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 에이징 장치의 통신 네트워크 구조.
3. The communication network structure of claim 2, wherein the intermediate communication device further comprises a memory for temporarily storing data.
제2항에 있어서, 상기 에이징 시험 제어기는 CAN 버스에 연결되어 상기 중간 통신장치와 통신하도록 하는 제2 CAN 트랜시버, 패턴 FPGA(Field Programmable Gate Array), 및 CAN 버스를 통하여 전송받은 데이터에 따라 상기 패턴 FPGA를 제어하여 디스플레이 모듈로 시험패턴을 출력하도록 하는 제2 마이트로 컨트롤러를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 에이징 장치의 통신 네트워크 구조.
3. The pattern of claim 2, wherein the aging test controller is connected to a CAN bus to communicate with the intermediate communication device, a pattern field programmable gate array (FPGA), and the pattern according to data transmitted through the CAN bus. A communication network structure of a display module aging device comprising a controller as a second miter for controlling the FPGA to output a test pattern to the display module.
제4항에 있어서, 상기 에이징 시험 제어기는 데이터를 일시 저장하기 위한 메모리를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 에이징 장치의 통신 네트워크 구조.
5. The communication network structure of claim 4, wherein the aging test controller further comprises a memory for temporarily storing data.
디스플레이 모듈을 에이징하기 위한 시험조건들을 설정하고 시험운영상태를 모니터링하기 위한 시험운영 컴퓨터 및 상기 디스플레이 모듈의 시험을 위한 시험용 패턴을 생성하여 제공하는 에이징 시험 제어기를 포함하는 디스플레이 모듈 에이징 장치에 있어서,
하나 또는 다수의 중간 통신장치가 상기 시험운영 컴퓨터에 물리적으로 연결되고, 상기 에이징 시험 제어기가 상기 각각의 중간 통신장치와 CAN(Controller Area Network) 버스를 통하여 CAN 통신으로 연결되고,
상기 중간 통신장치 및 상기 에이징 시험 제어기 사이의 통신 및 간섭 방지를 위하여, 상기 시험운영 컴퓨터에 의하여 설정된 호스트 ID, 상기 에이징 시험 제어기 고유의 디바이스 ID, 및 호스트/디바이스의 ID 관리 및 초기설정을 위한 설정용 ID를 할당하여 디스플레이 모듈을 시험하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 에이징 장치의 통신 네트워크 구조.
A display module aging device comprising a test computer for setting test conditions for aging a display module and monitoring a test operation state and an aging test controller for generating and providing a test pattern for testing the display module.
One or more intermediate communication devices are physically connected to the test computer, the aging test controller is connected in CAN communication via each of the intermediate communication devices and a controller area network (CAN) bus,
In order to prevent interference and communication between the intermediate communication apparatus and the aging test controller, a host ID set by the test computer, a device ID unique to the aging test controller, and a setting for ID management and initial setting of a host / device A communication network structure of a display module aging device, wherein the display module is tested by assigning a user ID.
제6항에 있어서, 동일한 시험 모델을 그룹화한 그룹 ID 및 동일한 CAN 버스 상에 연결된 모든 에이징 시험 제어기에 대한 공통 ID를 할당해서 할당된 디바이스/그룹/공통ID로 데이터를 전송하여 여러종류 또는 하나의 종류의 디스플레이 모듈을 정해진 디스플레이 패턴 및 조건으로 시험하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 에이징 장치의 통신 네트워크 구조.The method according to claim 6, wherein the group ID grouping the same test model and the common ID for all the aging test controllers connected on the same CAN bus are allocated to transmit data to the assigned device / group / common ID to transfer data to one or more types. A communication network structure of a display module aging device, characterized by testing a display module of a kind with a predetermined display pattern and condition.
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