KR101194156B1 - Bldc 모터의 스위칭 패턴 검출 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
랜덤하게 발생하는 스위칭 패턴에 따른 회전자의 위치 변화에 의해 발생하는 3개 홀 센서 신호의 변화를 인터럽트로 처리하고, 인터럽트 처리에 따라 위치변화된 시간 또는 타임아웃을 타이머로 측정하여 인버터의 최적 스위칭 패턴을 검출하도록 한 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치 및 방법이 제시된다. 제시된 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치는 회전자를 현재 위치에서 다음 위치로 이동시키기 위한 복수의 스위칭 패턴을 발생하여 인버터로 순차적으로 인가하는 패턴 발생부; 패턴 발생부에서 발생한 스위칭 패턴에 따른 회전자의 홀 센서 신호를 근거로 인터럽트를 발생하는 인터럽트 처리부; 인터럽트 처리부에서 발생한 인터럽트를 근거로 회전자의 위치변환시간을 측정하는 시간 측정부; 및 인터럽트 처리부의 인터럽트 및 시간 측정부의 위치변환시간을 근거로 인버터의 최적 스위칭 패턴을 검출하는 패턴 검출부를 포함한다.
Description
본 발명은 마이크로 컨트롤러로 BLDC 모터를 제어하기 위한 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치 및 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 BLDC 모터의 제어를 위한 인버터의 최적 스위칭 패턴을 검출하는 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로, BLDC 모터(Brushless DC Motor)는 DC모터에서 정류자(commutator) 역할을 하는 브러시(brush)를 제거하고 DC모터의 성질은 그대로 유지되도록 고안된 것으로, 그 구성으로는 3상 코일(U상 코일, V상 코일, W상 코일)로 이루어진 고정자, 영구 자석으로 이루어진 회전자, 그리고 위치 검출 소자(즉, 홀 센서)를 포함한다.
이러한 BLDC 모터는 3상 BLDC 모터의 고정자측 코일의 각 상으로 전류를 흘려주고, 이 전류에 의해 코일에 자계가 발생하도록 하여 회전자를 회전시킨다. 이때, BLDC 모터는 회전자의 자계의 세기를 검출하고, 검출된 자계의 세기에 따라 코일의 각상에 흐르는 전류의 방향을 전환하기 위한 스위칭 소자들을 순차적으로 온/오프시킴으로써 회전자가 한쪽 방향으로 계속해서 회전하도록 한다. 즉, BLDC 모터는 브러시를 사용하지 않고, 브러시가 수행하던 회전자의 위치 검출을 회전자의 자계의 세기를 이용하는 홀 소자를 통해 검출하며, 이렇게 검출된 신호를 이용해 BLDC 모터 회전자의 위치를 제어하는 소정의 위치제어용 신호를 발생시킨다.
하지만, BLDC 모터의 경우 고유특성에 해당하는 모터 내부의 홀 센서 위치, 권선 방향의 스펙을 모르는 경우 그에 맞는 인버터의 스위칭 패턴을 검출하기 어려운 문제점이 있다.
본 발명의 목적은 BLDC 모터의 고유 특성에 해당하는 모터 내부의 홀 센서 위치, 권선 방향 등의 스펙을 모르는 경우 인버터의 최적 스위칭 패턴을 검출하도록 한 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치 및 방법을 제공하는 것이다.
상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 실시예에 따른 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치는, 회전자를 현재 위치에서 다음 위치로 이동시키기 위한 복수의 스위칭 패턴을 발생하여 인버터로 순차적으로 인가하는 패턴 발생부; 패턴 발생부에서 발생한 스위칭 패턴에 따른 회전자의 홀 센서 신호를 근거로 인터럽트를 발생하는 인터럽트 처리부; 인터럽트 처리부에서 발생한 인터럽트를 근거로 회전자의 위치변환시간 또는 상기 회전자가 움직이지 않을 때 타임아웃을 측정하는 시간 측정부; 및 인터럽트 처리부의 인터럽트 및 시간 측정부의 위치변환시간을 근거로 인버터의 최적 스위칭 패턴을 검출하는 패턴 검출부를 포함한다.
패턴 발생부는, 한 상이 동시에 도통되는 스위칭 패턴을 제외한 스위칭 패턴을 순차적으로 발생한다.
시간 측정부는, 스위칭 패턴이 발생하면 시간 측정을 개시하고, 인터럽트 처리부에서 인터럽트가 발생하고 회전자가 다음 위치에 위치하면 시간 측정을 종료하여 위치변환시간으로 측정한다.
시간 측정부는, 스위칭 패턴에 대한 타임아웃 발생 여부를 카운트한다.
패턴 검출부는, 패턴 발생부에서 발생하는 복수의 스위칭 패턴 각각에 연계되는 복수의 위치변환시간을 연계하여 저장한다.
패턴 검출부는, 발생 가능한 모든 스위칭 패턴에 대한 위치변환시간 측정이 완료되면 기저장된 복수의 위치변환시간 중에서 가장 짧은 위치변환시간에 연계된 스위칭 패턴을 최적 스위칭 패턴으로 검출한다.
상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 실시예에 따른 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 방법은, 회전자를 현재 위치에서 다음 위치로 이동시키기 위해 인버터에 인가되는 복수의 스위칭 패턴을 발생하는 단계; 발생한 스위칭 패턴에 따른 회전자의 홀 센서 신호를 근거로 인터럽트를 발생하는 단계; 발생한 인터럽트를 근거로 회전자의 위치변환시간을 측정하는 단계; 및 인터럽트 및 위치변환시간을 근거로 인버터의 최적 스위칭 패턴을 검출하는 단계를 포함한다.
스위칭 패턴을 발생하는 단계에서는 한 상이 동시에 도통되는 스위칭 패턴을 제외한 스위칭 패턴을 순차적으로 발생한다.
위치변환시간을 측정하는 단계는, 스위칭 패턴을 발생하는 단계에서 스위칭 패턴이 발생하는 시간부터 인터럽트를 발생하는 단계에서 인터럽트가 발생할 때까지의 시간을 측정하고, 측정되는 시간을 위치변환시간으로 설정한다.
위치변환시간을 측정하는 단계는, 스위칭 패턴에 대한 타임아웃 발생 여부를 카운트한다.
발생하는 복수의 스위칭 패턴 각각에 연계되는 복수의 위치변환시간을 연계하여 저장하는 단계를 더 포함한다.
최적 스위칭 패턴을 검출하는 단계에서는, 발생 가능한 모든 스위칭 패턴에 대한 위치변환시간 측정이 완료되면 기저장된 복수의 위치변환시간 중에서 가장 짧은 위치변환시간에 연계된 스위칭 패턴을 최적 스위칭 패턴으로 검출한다.
본 발명에 의하면 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치 및 방법은 랜덤하게 발생하는 스위칭 패턴에 따른 회전자의 위치 변화에 의해 발생하는 3개 홀 센서 신호의 변화를 인터럽트로 처리하고, 인터럽트 처리에 따라 위치변화된 시간 또는 타임아웃을 타이머로 측정하여 인버터의 최적 스위칭 패턴을 검출함으로써, 회전자의 회전속도로 각 위치에 가장 적합한 인버터의 스위칭 패턴을 검출할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치를 설명하기 위한 블록도.
도 2 및 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치를 설명하기 위한 도면.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 방법을 설명하기 위한 흐름도.
도 2 및 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치를 설명하기 위한 도면.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 방법을 설명하기 위한 흐름도.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참조하여 설명하기로 한다. 우선 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
이하, 본 발명의 실시예에 따른 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 아래와 같다. 도 1은 본 발명의 실시예에 따른 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치를 설명하기 위한 블록도이고, 도 2 및 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치를 설명하기 위한 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, BLDC 모터(140)의 스위칭 패턴 검출 장치(200)는 패턴 발생부(220), 인터럽트 처리부(240), 시간 측정부(260), 패턴 검출부(280)를 포함하여 구성된다. 여기서, BLDC 모터부(100)는 다수의 전력 스위칭 소자로 구성되는 인버터(120), BLDC 모터(140), BLDC 모터(140)의 회전자 위치를 검출하기 위한 홀 센서(160)로 구성된다.
패턴 발생부(220)는 복수의 스위칭 패턴을 발생하여 인버터(120)로 순차적으로 인가한다. 즉, 패턴 발생부(220)는 회전자의 각 위치에서 최적 스위칭 패턴을 검출하기 위한 복수의 스위칭 패턴을 발생한다. 이때, 패턴 발생부(220)는 회전자를 현재 위치에서 다음 위치로 이동시키기 위한 스위칭 패턴을 순차적으로 발생하여 인버터(120)로 인가한다.
패턴 발생부(220)는 회전자의 위치별로 한 상이 동시에 도통되는 스위칭 패턴을 제외한 복수의 스위칭 패턴을 순차적으로 발생한다. 예를 들어, 도 2에 도시된 바와 같이, 6개의 전력 스위칭 소자로 구성되어 있는 경우, 2개의 전력 스위칭 소자가 하나의 상을 구성한다. 즉, Q1 및 Q2가 U상, Q3 및 Q4가 V상, Q5 및 Q6가 W상을 구성한다. 이때, 패턴 발생부(220)는 Q1 내지 Q6으로 구성되는 인버터(120)에 인가되는 스위칭 패턴을 발생한다. 패턴 발생부(220)는 한 상이 동시에 도통되는 스위칭 패턴을 제외한 스위칭 패턴을 발생한다. 즉, 동일 상인 Q1 및 Q2, Q3 및 Q4, Q5 및 Q6이 동시에 도통되는 스위칭 패턴을 제외한다. 그에 따라, 스위칭 패턴은 하기의 표 1에 도시된 바와 같이 예시할 수 있다.
여기서, 'O'는 도통을 의미하고, 'X'는 미도통을 의미한다.
패턴 발생부(220)는 회전자의 위치별로 최적 스위칭 패턴을 검출하기 위해서, 회전자의 각 위치별로 상기한 스위칭 패턴을 순차적으로 발생하여 인버터(120)로 인가한다. 예를 들어, 도 3에 도시된 바와 같이, 회전자의 위치를 UVW[100], UVW[101], UVW[001], UVW[011], UVW[010], UVW[110]으로 구분한 경우, 패턴 발생부(220)는 6개의 영역에서 각각 상기한 스위칭 패턴들을 순차적으로 발생하여 인버터(120)로 인가한다.
인터럽트 처리부(240)는 패턴 발생부(220)에서 발생한 스위칭 패턴에 따른 회전자의 홀 센서(160) 신호를 근거로 인터럽트를 발생한다. 즉, 패턴 발생부(220)에서 인버터(120)로 인가된 스위칭 패턴들에 의해 회전자가 회전한다. 홀 센서(160)는 회전자의 움직임을 감지하여 홀 센서(160) 신호를 발생한다. 인터럽트 처리부(240)는 홀 센서(160)로부터 발생하는 홀 센서(160) 신호를 근거로 인터럽트를 발생한다. 이때, 인터럽트 처리부(240)는 회전자의 위치변화에 따른 신호로 회전자의 현재 위치를 파악할 수 있는 정보를 포함하는 인터럽트를 발생한다.
시간 측정부(260)는 스위칭 패턴 및 인터럽트를 근거로 회전자의 위치변환시간을 측정한다. 즉, 시간 측정부(260)는 패턴 발생부(220)에서 스위칭 패턴이 발생하면 시간 측정을 시작하고, 회전자의 다음 위치에 해당하는 인터럽트가 인터럽트 처리부(240)에서 발생하면 시간 측정을 종료한다. 그에 따라, 시간 측정부(260)는 스위칭 패턴이 발생한 시간부터 인터럽트가 발생한 시간까지를 측정하여 위치변환시간으로 측정한다.
시간 측정부(260)는 스위칭 패턴에 대한 타임아웃 발생 여부를 카운트한다. 즉, 시간 측정부(260)는 스위칭 패턴이 입력된 후에 일정시간 동안 인터럽트가 발생하지 않으면 타임아웃을 발생한다. 시간 측정부(260)는 스위칭 패턴별로 타임아웃이 발생한 빈도를 카운트한다. 시간 측정부(260)는 카운트한 타임아웃 발생 빈도를 해당 스위칭 패턴과 연계하여 저장한다.
패턴 검출부(280)는 인터럽트 처리부(240)의 인터럽트 및 시간 측정부(260)의 위치변환시간을 근거로 인버터(120)의 최적 스위칭 패턴을 검출한다. 패턴 검출부(280)는 회전자의 각 위치별로 인버터(120)의 최적 스위칭 패턴을 검출한다. 예를 들어, 회전자의 위치를 UVW[100], UVW[101], UVW[001], UVW[011], UVW[010], UVW[110]으로 구분한 경우, 패턴 검출부(280)는 6개의 영역에서 각각 최적 스위칭 패턴을 검출한다.
패턴 검출부(280)는 패턴 발생부(220)에서 발생하는 복수의 스위칭 패턴 각각에 연계되는 복수의 위치변환시간을 연계하여 저장한다. 즉, 패턴 검출부(280)는 회전자의 위치별로 최적의 스위칭 패턴을 검출하기 위한 기준인 위치변환시간을 스위칭 패턴과 연계하여 저장한다.
패턴 검출부(280)는 발생 가능한 모든 스위칭 패턴에 대한 위치변환시간 측정이 완료되면 기저장된 복수의 위치변환시간 중에서 가장 짧은 위치변환시간에 연계된 스위칭 패턴을 최적 스위칭 패턴으로 검출한다. 즉, 패턴 검출부(280)는 모드 스위칭 패턴의 위치변환시간 측정이 완료되면, 저장된 위치변환시간들을 비교하여 가장 짧은 위치변환시간을 검출한다. 패턴 검출부(280)는 검출한 위치변환시간에 연계된 스위칭 패턴을 최적 스위칭 패턴으로 검출한다.
이때, 패턴 검출부(280)는 위치변환시간이 동일한 복수의 스위칭 패턴이 검출되면, 검출된 복수의 스위칭 패턴의 타임아웃 카운트를 비교하여 최적 스위칭 패턴을 검출한다. 즉, 패턴 검출부(280)는 위치변환시간이 동일한 경우 타임아웃 카운트가 가장 낮은 스위칭 패턴을 최적 스위칭 패턴으로 검출한다.
이하, 본 발명의 실시예에 따른 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 방법을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 아래와 같다. 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
먼저, 패턴 발생부(220)는 스위칭 패턴을 발생한다(S120). 이때, 패턴 발생부(220)는 회전자를 현재 위치에서 다음 위치로 이동시키기 위한 스위칭 패턴을 순차적으로 발생하여 인버터(120)로 인가한다. 패턴 발생부(220)는 회전자의 위치별로 한 상이 동시에 도통되는 스위칭 패턴을 제외한 복수의 스위칭 패턴을 순차적으로 발생한다.
시간 측정부(260)는 위치변환시간 측정을 시작한다(S130). 패턴 발생부(220)에서 스위칭 패턴이 발생하면 위치변환시간의 측정을 시작한다. 이때, 인터럽트 처리부(240)는 인버터(120)로 인가된 스위칭 패턴에 따른 회전자의 이동으로 발생하는 홀 센서(160)의 신호를 수신한다. 인터럽트 처리부(240)는 홀 센서(160)의 신호에 따라 인터럽트를 발생한다. 인터럽트 처리부(240)는 회전자의 위치변화에 따른 신호로 회전자의 현재 위치를 파악할 수 있는 정보를 포함하는 인터럽트를 발생한다.
타임아웃이 발생하면(S160; YES), 시간 측정부(260)는 타임아웃 발생 여부를 카운트한다(S180). 즉, 시간 측정부(260)는 패턴 발생부(220)에서 발생한 스위칭 패턴이 인버터(120)로 입력된 후에 측정을 시작한 위치변환시간이 일정시간에 도달하는 동안 인터럽트 처리부(240)에서 인터럽트가 발생하지 않으면 타임아웃 발생으로 판단하여 타임아웃 발생을 카운트한다. 시간 측정부(260)는 카운트한 타임아웃 발생 빈도를 해당 스위칭 패턴과 연계하여 저장한다.
인터럽트 처리부(240)에서 인터럽트가 발생하지 않거나, 회전자가 다음 위치에 위치하지 않으면(S200; NO), BLDC 모터(140)의 회전자를 원래의 위치로 이동시킨다(S220). 이때, 시간 측정부(260)는 위치변환시간을 초기화하고, 패턴 발생부(220)는 기발생한 스위칭 패턴을 인버터(120)로 다시 인가한다. 여기서, 패턴 발생부(220)는 타임아웃 카운트가 설정횟수를 초과하면 다음 스위칭 패턴을 인버터(120)로 인가할 수도 있다.
인터럽트 처리부(240)에서 인터럽트가 발생하고 회전자가 다음 위치에 위치하면(S200; YES), 시간 측정부(260)는 위치변환시간 측정을 종료한다(S240). 즉, 시간 측정부(260)는 회전자의 다음 위치에 해당하는 인터럽트가 인터럽트 처리부(240)에서 발생하면 시간 측정을 종료한다.
패턴 검출부(280)는 시간 측정부(260)에서 측정된 위치변환시간과 스위칭 패턴을 연계하여 저장한다(S260). 패턴 검출부(280)는 회전자의 위치별로 최적의 스위칭 패턴을 검출하기 위한 기준인 위치변환시간을 스위칭 패턴과 연계하여 저장한다.
패턴 발생부(220)에서 발생 가능한 모든 스위칭 패턴이 발생되면(S280; YES), 패턴 검출부(280)는 인버터(120)의 최적 스위칭 패턴을 검출한다(S300). 이때, 패턴 검출부(280)는 발생 가능한 모든 스위칭 패턴에 대한 위치변환시간 측정이 완료되면 기저장된 복수의 위치변환시간 중에서 가장 짧은 위치변환시간에 연계된 스위칭 패턴을 최적 스위칭 패턴으로 검출한다. 즉, 패턴 검출부(280)는 모드 스위칭 패턴의 위치변환시간 측정이 완료되면, 저장된 위치변환시간들을 비교하여 가장 짧은 위치변환시간을 검출한다. 패턴 검출부(280)는 검출한 위치변환시간에 연계된 스위칭 패턴을 최적 스위칭 패턴으로 검출한다. 여기서, 패턴 검출부(280)는 위치변환시간이 동일한 복수의 스위칭 패턴이 검출되면, 검출된 복수의 스위칭 패턴의 타임아웃 카운트를 비교하여 최적 스위칭 패턴을 검출한다. 즉, 패턴 검출부(280)는 위치변환시간이 동일한 경우 타임아웃 카운트가 가장 낮은 스위칭 패턴을 최적 스위칭 패턴으로 검출한다.
상술한 바와 같이, BLDC 모터(140)의 스위칭 패턴 검출 장치(200) 및 방법은 랜덤하게 발생하는 스위칭 패턴에 따른 회전자의 위치 변화에 의해 발생하는 3개 홀 센서 신호의 변화를 인터럽트로 처리하고, 인터럽트 처리에 따라 위치변화된 시간 또는 타임아웃을 타이머로 측정하여 인버터(120)의 최적 스위칭 패턴을 검출함으로써, 회전자의 회전속도로 각 위치에 가장 적합한 인버터(120)의 스위칭 패턴을 검출할 수 있는 효과가 있다.
이상에서 본 발명에 따른 바람직한 실시예에 대해 설명하였으나, 다양한 형태로 변형이 가능하며, 본 기술분야에서 통상의 지식을 가진자라면 본 발명의 특허청구범위를 벗어남이 없이 다양한 변형예 및 수정예를 실시할 수 있을 것으로 이해된다.
100: BLDC 모터부 120: 인버터
140: BLDC 모터 160: 홀 센서
200: 스위칭 패턴 검출 장치 220: 패턴 발생부
240: 인터럽트 처리부 260: 시간 측정부
280: 패턴 검출부
140: BLDC 모터 160: 홀 센서
200: 스위칭 패턴 검출 장치 220: 패턴 발생부
240: 인터럽트 처리부 260: 시간 측정부
280: 패턴 검출부
Claims (12)
- 회전자를 현재 위치에서 다음 위치로 이동시키기 위한 복수의 스위칭 패턴을 발생하여 인버터로 순차적으로 인가하는 패턴 발생부;
상기 패턴 발생부에서 발생한 스위칭 패턴에 따른 회전자의 홀 센서 신호를 근거로 인터럽트를 발생하는 인터럽트 처리부;
상기 인터럽트 처리부에서 발생한 인터럽트를 근거로 회전자의 위치변환시간 또는 상기 회전자가 움직이지 않을 때 타임아웃을 측정하는 시간 측정부; 및
상기 인터럽트 처리부의 인터럽트 및 상기 시간 측정부의 위치변환시간을 근거로 상기 인버터의 최적 스위칭 패턴을 검출하는 패턴 검출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 패턴 발생부는,
복수의 전력 스위칭 소자들 중에서 동일한 상인 전력 스위칭 소자들이 동시에 도통되는 스위칭 패턴을 제외한 스위칭 패턴을 순차적으로 발생하는 것을 특징으로 하는 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 시간 측정부는,
스위칭 패턴이 발생하면 시간 측정을 개시하고, 상기 인터럽트 처리부에서 인터럽트가 발생하고 상기 회전자가 다음 위치에 위치하면 시간 측정을 종료하여 위치변환시간으로 측정하는 것을 특징으로 하는 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 시간 측정부는,
스위칭 패턴에 대한 타임아웃 발생 여부를 카운트하는 것을 특징으로 하는 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 패턴 검출부는,
상기 패턴 발생부에서 발생하는 복수의 스위칭 패턴 각각에 연계되는 복수의 위치변환시간을 연계하여 저장하는 것을 특징으로 하는 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 패턴 검출부는,
발생 가능한 모든 스위칭 패턴에 대한 위치변환시간 측정이 완료되면 기저장된 복수의 위치변환시간 중에서 가장 짧은 위치변환시간에 연계된 스위칭 패턴을 최적 스위칭 패턴으로 검출하는 것을 특징으로 하는 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 장치. - 회전자를 현재 위치에서 다음 위치로 이동시키기 위해 인버터에 인가되는 복수의 스위칭 패턴을 발생하는 단계;
상기 발생한 스위칭 패턴에 따른 회전자의 홀 센서 신호를 근거로 인터럽트를 발생하는 단계;
상기 발생한 인터럽트를 근거로 회전자의 위치변환시간을 측정하는 단계; 및
상기 인터럽트 및 상기 위치변환시간을 근거로 상기 인버터의 최적 스위칭 패턴을 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 방법. - 청구항 7에 있어서,
상기 스위칭 패턴을 발생하는 단계에서는 복수의 전력 스위칭 소자들 중에서 동일한 상인 전력 스위칭 소자들이 동시에 도통되는 스위칭 패턴을 제외한 스위칭 패턴을 순차적으로 발생하는 것을 특징으로 하는 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 방법. - 청구항 7에 있어서,
상기 위치변환시간을 측정하는 단계는,
상기 스위칭 패턴을 발생하는 단계에서 스위칭 패턴이 발생하는 시간부터 상기 인터럽트를 발생하는 단계에서 인터럽트가 발생할 때까지의 시간을 측정하고, 측정되는 시간을 위치변환시간으로 설정하는 것을 특징으로 하는 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 방법. - 청구항 7에 있어서,
상기 위치변환시간을 측정하는 단계는,
스위칭 패턴에 대한 타임아웃 발생 여부를 카운트하는 것을 특징으로 하는 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 방법. - 청구항 7에 있어서,
상기 발생하는 복수의 스위칭 패턴 각각에 연계되는 복수의 위치변환시간을 연계하여 저장하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 방법. - 청구항 7에 있어서,
상기 최적 스위칭 패턴을 검출하는 단계에서는
발생 가능한 모든 스위칭 패턴에 대한 위치변환시간 측정이 완료되면 기저장된 복수의 위치변환시간 중에서 가장 짧은 위치변환시간에 연계된 스위칭 패턴을 최적 스위칭 패턴으로 검출하는 것을 특징으로 하는 BLDC 모터의 스위칭 패턴 검출 방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110062460A KR101194156B1 (ko) | 2011-06-27 | 2011-06-27 | Bldc 모터의 스위칭 패턴 검출 장치 및 방법 |
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KR101194156B1 true KR101194156B1 (ko) | 2012-10-23 |
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Citations (3)
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---|---|---|---|---|
JP2000092885A (ja) | 1998-09-11 | 2000-03-31 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | Dcモータ制御回路 |
JP2002186273A (ja) | 2000-12-11 | 2002-06-28 | Daihen Corp | 直流モータのサーボ制御方法および装置 |
JP2006325346A (ja) | 2005-05-19 | 2006-11-30 | Asmo Co Ltd | ブラシレスモータの制御方法およびブラシレスモータの制御装置並びにブラシレスモータ装置 |
-
2011
- 2011-06-27 KR KR1020110062460A patent/KR101194156B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (3)
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