KR101183197B1 - 온도 악조건 테스트가 용이한 디스플레이 테스트 시스템 - Google Patents

온도 악조건 테스트가 용이한 디스플레이 테스트 시스템 Download PDF

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Abstract

온도 악조건 테스트가 용이한 디스플레이 테스트 시스템가 게시된다. 본 발명의 내부의 온도 조절이 가능하며, 내부에 디스플레이 셋팅 수단이 설치되는 챔버로서, 상기 디스플레이 셋팅 수단은 테스트되는 테스트 디스플레이를 셋팅하여, 상기 테스트 디스플레이의 영상을 생성하도록 제어하는 상기 챔버; 상기 챔버의 일면에 형성되며, 투과창이 배치되는 선별 투과막으로서, 상기 투과창은 상기 테스트 디스플레이의 영상을 상기 챔버의 외부로 투과시키는 상기 선별 투과막; 및 상기 챔버의 외부에 설치되며, 상기 선별 투과막의 상기 투과창을 통하여 투과되는 상기 테스트 디스플레이의 영상을 계측할 수 있는 계측기기를 구비한다. 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템에 의하면, 테스트 수행자가 극한 온도 환경에 노출되지 않은 상태에서, 디스플레이의 온도 악조건 테스트를 효과적으로 수행할 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템에 의하면, 테스트가 용이하며, 테스트 효율이 현저히 향상된다. 특히, 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템에서는, 테스트 디스플레이의 화면의 사이즈가 비교적 큰 경우에, 상기 선별 투과막에는, 상대적으로 좁은 면적을 가지는 복수개의 투과창들이 분할되어 배치된다. 그 결과, 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템에 의하면, 측정의 정확도가 크게 향상된다.

Description

온도 악조건 테스트가 용이한 디스플레이 테스트 시스템{DISPLAY TEST SYSTEM WITH EASILY PERFORMING TEMPERATURE WORST CASE TEST}
본 발명은 디스플레이 테스트 시스템에 관한 것으로서, 특히 고온이나 저온과 같은 온도 악조건하에서의 테스트가 용이한 디스플레이 테스트 시스템에 관한 것이다.
최근, 디스플레이는 사막과 같은 고온지역이나 극지방과 같은 저온지역에서도 많이 사용되고 있다. 이와 같은 경우, 주변 온도 환경의 차이로 인하여, 디스플레이의 성능이나 화질 특성이 저하될 수도 있다.
이에 따라, 악조건의 온도 환경 상태에서 디스플레이의 성능이나 화질 특성을 테스트하기 위하여, 디스플레이 테스트 시스템이 사용되고 있다.
그런데, 기존의 디스플레이 테스트 시스템은 전체 환경을 모두 고온이나 저온의 극한 온도 환경으로 만들어 놓고 테스트를 진행한다. 이 경우, 테스트 수행자도 극한 온도 환경에 노출된 상태에서 테스트를 수행하게 되므로, 많은 어려움이 발생하게 된다.
그러므로, 기존의 디스플레이 테스트 시스템에서는, 테스트 수행자가 고온이나 저온 상태의 극한 온도 환경에 노출됨에 따른 테스트 효율이 저하되는 문제점이 발생된다.
본 발명의 목적은 종래기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 테스트 수행자의 극한 온도 환경에 노출되지 않은 상태에서, 디스플레이를 효과적으로 테스트할 수 있는 디스플레이 테스트 시스템을 제공하는 데 있다.
상기와 같은 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일면은 디스플레이 테스트 시스템에 관한 것이다. 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템은 내부의 온도 조절이 가능하며, 내부에 디스플레이 셋팅 수단이 설치되는 챔버로서, 상기 디스플레이 셋팅 수단은 테스트되는 테스트 디스플레이를 셋팅하여, 상기 테스트 디스플레이의 영상을 생성하도록 제어하는 상기 챔버; 상기 챔버의 일면에 형성되며, 복수개의 투과창들이 배치되는 선별 투과막으로서, 상기 복수개의 투과창들 각각은 상기 테스트 디스플레이의 영상을 상기 챔버의 외부로 투과시키는 상기 선별 투과막; 및 상기 챔버의 외부에 설치되며, 상기 선별 투과막의 상기 투과창을 통하여 투과되는 상기 테스트 디스플레이의 영상을 계측할 수 있는 계측기기를 구비한다. 그리고, 상기 복수개의 투과창들은 상기 테스트 디스플레이의 영상의 테스트 포인트들에 대응하여, 상기 선별 투과막의 표면에 비중첩적으로 분할되어 형성된다.
삭제
본 발명의 디스플레이 테스트 시스템에 의하면, 테스트 수행자가 극한 온도 환경에 노출되지 않은 상태에서, 디스플레이의 온도 악조건 테스트를 효과적으로 수행할 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템에 의하면, 테스트가 용이하며, 테스트 효율이 현저히 향상된다.
특히, 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템에서는, 테스트 디스플레이(TDS)의 화면의 사이즈가 비교적 큰 경우에, 상기 선별 투과막(200)에는, 상대적으로 좁은 면적을 가지는 복수개의 투과창(WTR)들이 분할되어 배치된다. 그 결과, 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템에 의하면, 큰 사이즈의 테스트 디스플레이(TDS)의 화면에 넓은 면적을 가지는 하나의 투과창(WTR)이 배치되는 선별 투과막(200)에 비하여, 측정의 정확도가 크게 향상된다.
본 발명에서 사용되는 각 도면의 간단한 설명이 제공된다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 테스트 시스템을 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1의 디스플레이 셋팅 수단을 구체적으로 나타내는 도면이다.
도 3a 및 도 3b는 상기 선별 투과막의 예들을 나타내는 도면들이다.
본 발명과 본 발명의 동작상의 잇점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다. 각 도면을 이해함에 있어서, 동일한 부재는 가능한 한 동일한 참조부호로 도시하고자 함에 유의해야 한다. 그리고, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 기술은 생략된다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 테스트 시스템을 나타내는 도면이다. 도 1을 참조하면, 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템은 챔버(100), 선별 투과막(200) 및 계측기기(300)를 구비한다.
상기 챔버(100)는 내부 온도의 조절이 가능하다. 이에 따라, 상기 챔버(100)는 사막과 같은 고온 환경 또는 극지방과 같은 저온 환경 즉, 악조건의 온도 상태로 조절될 수 있게 된다. 바람직하기로는, 상기 챔버(100)는 내부 온도를 측정할 수 있는 온도 감지계(TP1~5)를 내장한다. 이때, 상기 온도 감지계(TP1~4)는 상기 선별 투과막(200)의 4곳 모서리 부근에 배치되어 온도를 측정하며, 상기 온도 감지계(TP5)는 테스트되는 테스트 디스플레이(TDS)의 표면에 접촉하여 온도를 측정한다. 이러한, 상기 온도 감지계(TP1~5)에 의하여, 상기 챔버(100) 내의 온도의 균일성이 확인되고, 조절될 수 있다.
그리고, 상기 챔버(100)는 내부에 디스플레이 셋팅 수단(110)이 설치된다. 상기 디스플레이 셋팅 수단(110)은 테스트되는 테스트 디스플레이(TDS)를 셋팅하여, 상기 테스트 디스플레이(TDS)의 영상을 생성하도록 제어한다.
즉, 상기 디스플레이 셋팅 수단(110)은 상기 챔버(100)의 제어라인(CHL)을 통하여, 상기 챔버(100)의 외부에 배치되는 제어 박스(BCON)와 연결된다. 그리고, 상기 제어 박스(BCON)에 의하여, 상기 테스트 디스플레이(TDS)의 동작이 제어된다.
도 2는 도 1의 디스플레이 셋팅 수단(110)을 구체적으로 나타내는 도면이다. 도 2를 참조하면, 상기 디스플레이 셋팅 수단(110)은 보드 거치대(111) 및 테스트 보드(113)를 구비한다.
상기 보드 거치대(111)는 폭 조절이 가능한 지그(JG)를 구비한다. 상기 테스트 보드(113)는 상기 보드 거치대(111)의 지그(JG)에 거치되며, 상기 테스트 디스플레이(TDS)를 장착한다. 이때, 상기 테스트 보드(113)는 상기 제어 라인(CHL)을 통하여 상기 제어 박스(BCON)에 연결된다. 그리고, 상기 테스트 보드(113)는 상기 제어 박스(BCON)에 의하여 제어되어, 상기 테스트 디스플레이(TDS)의 영상을 생성한다.
다시 도 1을 참조하면, 상기 선별 투과막(200)은 상기 챔버(100)의 일면에 형성된다. 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템은 상기 선별 투과막(200)을 통하여, 주변 온도 환경에 따른 디스플레이의 성능이나 화질 특성에 따른 테스트 즉, 온도 악조건 테스트가 다양한 형태로 진행될 수 있게 된다.
상기 선별 투과막(200)은 투과창(WTR)을 가진다. 그리고, 상기 투과창(WTR)은 상기 테스트 디스플레이(TDS)에 디스플레이되는 영상을 상기 챔버(100)의 외부로 투과시킨다.
도 3a 및 도 3b는 상기 선별 투과막(200)의 예들을 나타내는 도면들이다. 테스트 디스플레이(TDS)의 화면의 사이즈가 비교적 큰 경우에는, 도 3a에 도시되는 바와 같이, 상기 선별 투과막(200)은 복수개의 투과창(WTR)들을 가지도록 구성된다. 이때, 상기 투과창(WTR)들은 상기 테스트 디스플레이(TDS)의 화면상의 테스트 포인트에 대응되도록 상기 선별 투과막(200)의 표면에 비중첩적으로 배치된다. 그리고, 상기 선별 투과막(200)에서, 상기 투과창(WTR)을 제외한 나머지 부분은 차단막(SBK)으로 형성되어, 상기 테스트 디스플레이(TDS)로부터 제공되는 영상의 투과를 차단한다.
삭제
한편, 테스트 디스플레이(TDS)의 화면의 사이즈가 비교적 작은 경우에는, 도 3b에 도시되는 바와 같이, 상기 선별 투과막(200)은 하나의 투과창(WTR)들을 가지도록 구성된다. 이때에도, 상기 선별 투과막(200)에서, 상기 투과창(WTR)을 제외한 나머지 부분은 차단막(SBK)으로 형성되어, 상기 테스트 디스플레이(TDS)로부터 제공되는 영상의 투과를 차단한다.
본 발명의 디스플레이 테스트 시스템에서, 상기 투과창(WTR)은 사이즈 및 모양은 테스트 디스플레이(TDS)의 사이즈 및 모양에 따라 다양한 형태로 변형되어 적용될 수 있다.
다시 도 1을 참조하면, 상기 계측기기(300)는 상기 챔버(100)의 외부에 설치된다. 상기 계측기기(300)는 상기 선별 투과막(200)의 상기 투과창(WTR)을 통하여 투과되는 상기 테스트 디스플레이(TDS)의 영상을 계측할 수 있다.
상기 계측기기(300)는 계측블락(310) 및 위치 확인 카메라(320)를 구비한다. 상기 계측블락(310)은 상기 테스트 디스플레이(TDS)의 영상을 계측하여, 특성을 파악한다. 이때, 상기 위치 확인 카메라(320)는 상기 계측블락(310)의 계측 포인트를 확인한다. 이러한 위치 확인 카메라(320)에 의하여, 상기 계측기기(300)의 계측 포인트는 상기 테스트 디스플레이(TDS)의 테스트 포인트에 용이하게 일치될 있다.
바람직하기로는, 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템은 기류 공급기(BLW)를 더 구비한다. 상기 기류 공급기(BLW)는 상기 선별 투과막(200)에 기류(AIR)를 공급한다. 이때, 상기 기류(AIR)는 테스트 상황에 따라, 적절한 온도를 제어될 수 있다. 이와 같은 기류(AIR)의 공급에 의하여, 상기 선별 투과막(200)은 효과적으로 성애가 방지되며, 또한, 제거될 수 있다.
또한, 바람직하기로는, 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템은 상기 챔버(100)를 지지하는 챔버 받침대(SPCH) 및 기기 받침대(SPSP)를 더 구비한다. 이때, 상기 챔버 받침대(SPCH)는 높이 조절이 가능하다. 그 결과, 상기 챔버(100)도 상기 챔버 받침대(SPCH)에 의하여 높이가 조절된다.
그리고, 상기 기기 받침대(SPSP)도 높이 조절이 가능하다. 그 결과, 상기 계측기기(300)도 상기 챔버 받침대(SPSP)에 의하여 높이가 조절된다.
이와 같은 상기 챔버 받침대(SPCH) 및 상기 기기 받침대(SPSP)에 의하여, 상기 테스트 디스플레이(TDS)의 영상의 테스트 포인트에 상기 선별 투과막(200)의 투과창(WTR)이 효과적으로 상응하게 된다.
계속 도 1을 참조하면, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디스플레이 테스트 시스템은 공기 컨트롤러(400)를 더 구비한다. 상기 공기 컨트롤러(400)는 공기 입력 라인(LIN) 및 공기 출력 라인(LOUT)을 통하여, 상기 챔버(100)에 더운 공기 또는 찬 공기를 주입 및 배출한다. 이에 따라, 상기 챔버(100)의 온도가 제어된다.
상기와 같이, 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템에서는, 상기 공기 컨트롤러(400)가 상기 챔버(100)와 분리되어 구비된다. 이에 따라, 상기 챔버(100)에 공기의 주입 및 배출시에, 테스트되는 상기 테스트 디스플레이(TDS)의 흔들림 및 뜰림 현상이 현저히 완화될 수 있다.
더욱 바람직하기로는, 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템은 파티션(PTS)에 의해 제1 공간(SP1)과 제2 공간(SP2)로 분리되는 집적부스(BST)를 더 구비한다.
이때, 상기 제1 공간(SP1)에는 계측기기(300) 및 기기 받침대(SPSP)가 배치되고, 상기 챔버(100)는 상기 제2 공간(SP2)에 설치된다. 이때, 상기 챔버(100)의 일면에 설치되는 상기 선별 투과막(200)은 상기 파티션(PTS)의 일부에 삽입되어 설치된다. 또한, 상기 챔버 받침대(SPCH), 상기 컨트롤러(400) 및 상기 제어 박스(BCON)는 상기 제2 공간(SP2)에 설치된다.
이때, 상기 제1 공간(SP1)은 암실로 구현되는 것이 바람직하다. 이 경우,빛의 난반사 등과 같은 테스트 방해요소들에 따른 영향을 최소화할 수 있다.
한편, 본 실시예에서, 상기 투과창(WTR)은 투과율이 98% 이상을 가지며, 투과 전후의 영상의 빛의 스펙트럼이 일정하게 유지될 수 있는 유리로 구현되는 것이 바람직하다. 또한, 상기 투과창(WTR)은 성애의 방지를 위하여 다양한 형태로 구현될 수도 있을 것이다.
상기와 같은 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템에 의하면, 테스트 수행자는 극한 온도 환경에 노출되지 않은 상태에서, 디스플레이의 온도 악조건 테스트를 수행할 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템에 의하면, 테스트 효율이 현저히 향상된다.
특히, 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템에서는, 테스트 디스플레이(TDS)의 화면의 사이즈가 비교적 큰 경우에, 상기 선별 투과막(200)에는, 상대적으로 좁은 면적을 가지는 복수개의 투과창(WTR)들이 분할되어 배치된다. 그 결과, 본 발명의 디스플레이 테스트 시스템에 의하면, 큰 사이즈의 테스트 디스플레이(TDS)의 화면에 넓은 면적을 가지는 하나의 투과창(WTR)이 배치되는 선별 투과막(200)에 비하여, 측정의 정확도가 크게 향상된다.
본 발명은 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

Claims (8)

  1. 디스플레이 테스트 시스템에 있어서,
    내부의 온도 조절이 가능하며, 내부에 디스플레이 셋팅 수단이 설치되는 챔버로서, 상기 디스플레이 셋팅 수단은 테스트되는 테스트 디스플레이를 셋팅하여, 상기 테스트 디스플레이의 영상을 생성하도록 제어하는 상기 챔버;
    상기 챔버의 일면에 형성되며, 복수개의 투과창들이 배치되는 선별 투과막으로서, 상기 복수개의 투과창들 각각은 상기 테스트 디스플레이의 영상을 상기 챔버의 외부로 투과시키는 상기 선별 투과막; 및
    상기 챔버의 외부에 설치되며, 상기 선별 투과막의 상기 투과창을 통하여 투과되는 상기 테스트 디스플레이의 영상을 계측할 수 있는 계측기기를 구비하며,
    상기 복수개의 투과창들은
    상기 테스트 디스플레이의 영상의 테스트 포인트들에 대응하여, 상기 선별 투과막의 표면에 비중첩적으로 분할되어 형성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 테스트 시스템.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 디스플레이 셋팅 수단은
    폭 조절이 가능한 지그가 구비되는 보드 거치대; 및
    상기 보드 거치대의 지그에 거치되며, 상기 테스트 디스플레이를 장착하며, 상기 테스트 디스플레이의 영상을 생성하도록, 장착된 상기 테스트 디스플레이를 제어하는 테스트 보드를 구비하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 테스트 시스템.
  3. 삭제
  4. 제1 항에 있어서, 상기 계측기기는
    상기 테스트 디스플레이의 영상을 계측하는 계측블락; 및
    상기 계측블락의 계측 포인트를 확인하기 위한 위치 확인 카메라를 구비하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 테스트 시스템.
  5. 제1 항에 있어서, 상기 디스플레이 테스트 시스템은
    상기 챔버에 공기를 주입하는 공기 컨트롤러를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 테스트 시스템.
  6. 제1 항에 있어서, 상기 디스플레이 테스트 시스템은
    상기 챔버를 지지하는 챔버 받침대로서, 높이 조절이 가능한 상기 챔버 받침대를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 테스트 시스템.
  7. 제6 항에 있어서, 상기 디스플레이 테스트 시스템은
    상기 계측기기를 지지하는 기기 받침대로서, 높이 조절이 가능한 상기 기기 받침대를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 테스트 시스템.
  8. 제1 항에 있어서, 상기 디스플레이 테스트 시스템은
    상기 선별 투과막의 성애 방지 및 제거를 위하여, 상기 선별 투과막에 기류를 공급하는 기류 공급기를 구비하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 테스트 시스템.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100730710B1 (ko) 2005-10-24 2007-06-21 (주)아진 제습기가 구비된 반도체 테스트장치
KR100777041B1 (ko) * 2004-10-22 2007-11-16 삼성전자주식회사 열 테스트를 위한 장치 및 방법
KR100965187B1 (ko) * 2009-11-06 2010-06-24 (주)아이솔루션 악조건 테스트가 가능한 카메라 테스트 시스템

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