KR101170850B1 - conductive sheet - Google Patents

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KR101170850B1
KR101170850B1 KR1020060011902A KR20060011902A KR101170850B1 KR 101170850 B1 KR101170850 B1 KR 101170850B1 KR 1020060011902 A KR1020060011902 A KR 1020060011902A KR 20060011902 A KR20060011902 A KR 20060011902A KR 101170850 B1 KR101170850 B1 KR 101170850B1
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Abstract

본 발명은 쉬트형 도전재에 관한 것으로서 구체적으로는 쉬트의 좌우방향은 물론 상하방향까지 모든 방향으로 전기전도성을 갖는 도전재, 특별히 충격흡수성과 유연성을 더욱 향상시키면서 동시에 상하방향으로 획기적으로 향상된 고전도율을 갖도록 구성된 쉬트형 도전재에 관한 것이다.The present invention relates to a sheet-type conductive material, specifically, a conductive material having electrical conductivity in all directions not only in the left and right directions of the sheet, but also in the vertical direction, and in particular, the high conductivity is dramatically improved in the vertical direction while further improving the shock absorption and flexibility. It relates to a sheet-type conductive material configured to have.

이는 전자부품 중의 도전재료로 사용되거나 전자기파 차폐재의 재료로 사용될 수 있다.It may be used as a conductive material in electronic components or as a material for electromagnetic wave shielding materials.

이를 위해 유연성 폴리머 쉬트(polymer sheet)에 천공되는 홀(hole)과 상기 홀의 측면과 상기 폴리머 쉬트 양면에 형성되는 도전층을 포함하여 구성하되 특별히 상기 홀의 측면 상에 형성되는 측면도전층의 전기전도도를 가장 효율적으로 높일 수 있는 방법으로서 증착박막의 스텝커버리지(step coverage)를 향상시키고 부착력과 내마모성 및 박막의 효율성을 함께 향상시켜 주는 구조와 방법을 제공한다.To this end, it comprises a hole perforated in a flexible polymer sheet and a conductive layer formed on both sides of the hole and on both sides of the polymer sheet, and particularly the electrical conductivity of the side conductive layer formed on the side of the hole As a method to efficiently increase, the present invention provides a structure and a method for improving the step coverage of the deposited thin film, and improving both the adhesion, the wear resistance, and the efficiency of the thin film.

쉬트형 도전재, 전자파 차폐, 전기전도도 Sheet type conductive material, electromagnetic shielding, electrical conductivity

Description

쉬트형 도전재 {conductive sheet}Sheet-type conductive material {conductive sheet}

도1; 완전천공 홀(hole)을 갖는 기재와 그 위에 증착층이 형성된 도전재1; Substrate having a fully perforated hole and a conductive material having a deposition layer formed thereon

도2; 도1의 것 위에 별도의 돌출기와 함몰구를 추가로 구성한 기재와 그 위에 증착층이 형성된 도전재2; A substrate further comprising a separate protrusion and depression on the one of FIG. 1 and a conductive material having a deposition layer formed thereon

도3; 기재의 표면 일부를 위로 돌출되도록 하거나 표면 밑으로 함몰되도록 하여 그 단면 일부가 상면과 하면 표면에 대하여 사선 방향으로 형성된 천공 홀을 포함하여 구성되는 기재와 그 위에 증착층이 형성된 도전재3; A substrate having a deposition layer formed thereon and a substrate formed of a substrate having a hole formed on the upper surface and the lower surface of the substrate so as to protrude upward or recess below the surface.

도4; 천공홀의 단면중 일부분 면이 상기 상층면과 하층면에 대하여 사선 방향으로 존재하도록 형성된 기재와 그위에 증착층이 형성된 도전재4; Substrate formed in such a manner that a portion of the cross-section of the hole is in the oblique direction with respect to the upper surface and the lower surface and the conductive material having a deposition layer formed thereon

도5; 도3에서의 돌출구 27이 상면과 하면 모두에 형성된 기재 위에 증착층이 형성된 도전재5; The conductive material in which the evaporation layer was formed on the base material formed in both the upper surface and the lower surface of the protrusion 27 in FIG.

도6; 상면과 하면에서 천공홀의 단면 구조가 모두 완면한 사선 방향으로 형성된 기재6; Substrate formed in the oblique direction in which the cross-sectional structure of the perforation hole in both the upper and lower surfaces is smooth

도7; 도1의 것 위에 추가로 함몰구를 형성한 기재Figure 7; Substrate further formed with depressions on the one of FIG.

도8;좁은 폭의 천공 홀을 갖는 기재 위에 증착하는 그림Fig. 8 Deposition on a substrate with a narrow width of perforation hole

도9; 좁은 폭의 천공 홀을 갖는 기재의 한 부분을 위로 들어올려서 스텝커버리지(step coverage)를 향상시키는 그림Figure 9; A figure that improves step coverage by lifting up a part of the substrate with a narrow perforated hole

도10; 좁은 폭의 천공 홀을 갖는 기재의 두 부분을 위 아래로 엇갈리게 하여 스텝커버리지를 향상시키는 그림Figure 10; Illustration of improving step coverage by staggering two parts of the substrate with a narrow perforated hole up and down

도11; 도9, 도10의 방법을 실행하기 위해 컷팅선 형성법에 의해 천공 홀의 일부를 기재에 붙어 있게 남겨놓고 천공 홀을 형성한 그림Figure 11; 9 and 10 are formed by forming a punched hole while leaving a part of the drilled hole attached to the substrate by a cutting line forming method.

도12; 도11의 AA단면도Figure 12; AA sectional view of FIG.

도13; 도 12의 각부분을 위 아래로 엇갈리게 들어올린 그림Figure 13; Figure of lifting up and down each part of Figure 12

도 14; 도12과 도 13을 다른방법으로 설명한 그림14; 12 and 13 illustrate another method

1;유연성 폴리머 쉬트 (polymer sheet) 3; 완전히 천공된 홀(hole) 5; 증착(pvd)박막 7; 돌출기 9; 함몰구 11; 기재의 상면과 수직 방향으로 천공된 홀의 단면 13; 기재의 하면과 사선 방향으로 천공된 홀의 단면(이것은 홀의 단면이거나 혹은 기재의 변형에 의해 형성될 수도 있음) 15, 19; 천공 홀의 최소 폭(직경) 17;천공 홀의 최대 폭(직경) 51; 표면 도전층 53; 측면 도전층 71; 윗면 쪽으로 올려져 코팅되는 리프(leaf) 73; 밑면 쪽으로 내려져 코팅되는 리프(leaf) 101; 윗면 스퍼터링 소스(sputtering source) 103; 밑면 스퍼터링 소스 105; 코팅진행 중에 소스로부터 기재 방향으로 진행하는 코팅물질 1; flexible polymer sheet 3; Fully perforated holes 5; Deposited (pvd) thin film 7; Protrusion 9; Depression 11; Section 13 of the hole drilled in a direction perpendicular to the upper surface of the substrate; Cross-sections of holes drilled obliquely to the bottom surface of the substrate, which may be a cross-section of the holes or may be formed by deformation of the substrate 15, 19; The minimum width of the drilled hole (diameter) 17; the maximum width of the drilled hole (diameter) 51; Surface conductive layer 53; Side conductive layer 71; Leaf 73 which is raised upward and coated; Leaf 101 lowered to the bottom and coated; Top sputtering source 103; Bottom sputtering source 105; Coating material traveling from source to substrate during coating

본 발명은 전자부품 또는 재료로 사용되는 쉬트형 도전재에 관한 것이다. 근 래의 전자 제품들은 경박단소화라는 추세에 따라 작은 공간 안에 여러가지 부품들이 집적되어 있는 경우가 대부분이다. 특히 고주파 발진 회로가 있는 경우와 고주파 신호처리 도선이 배치되어 있는 경우 전자기파의 흡수 차폐가 필수적인 관건이 되고 있다. 예를 들어 휴대폰이나 평판표시장치의 경우 전자부품 간의 고주파 간섭을 예방하여야 하며 외부로의 방출 또한 철저히 방지되어야 할 것이다.The present invention relates to a sheet-type conductive material used as an electronic component or material. In recent years, electronic products have tended to have various components integrated in a small space according to the trend of light and short. Especially when there is a high frequency oscillation circuit and when a high frequency signal processing lead is arranged, absorption shielding of electromagnetic waves becomes an essential factor. For example, in the case of a mobile phone or a flat panel display device, high frequency interference between electronic components should be prevented and emission to the outside should also be thoroughly prevented.

이러한 과업을 달성하기 위해 흔히 공지 기술에 의한 전자기파 흡수제, 또는 전자기파 차폐재가 개발되어 사용되고 있으며, 이러한 부품의 가장 흔한 형태로서 전도성 직물과 이를 이용한 전자파 가스켓들이 다수 시판 사용되고 있는 실태이다.In order to accomplish this task, an electromagnetic wave absorber or an electromagnetic wave shielding material according to a known technique is often developed and used. As the most common form of such a component, a conductive fabric and electromagnetic gaskets using the same are commercially available.

그러나 상기 전도성 직물과 이를 이용한 전자파 가스켓들은 그 제조방법이 복잡하고 제품의 형상에 있어서 극히 제한적이라는 한계와 그 생산단가가 고가라는 문제를 안고 있을 뿐만 아니라 매우 얇은 형상의 가스켓이나 미세한 형상의 제품으로 만들기가 매우 곤란한 것이 사실이다.However, the conductive fabric and the electromagnetic gasket using the same have a problem that the manufacturing method is complicated and the product shape is extremely limited in the shape of the product and the production cost is expensive, and the product is made of a very thin gasket or a minute shape product. It is true that it is very difficult.

이러한 문제 중의 일부, 즉 단가문제를 해결하기 위하여 스텐리 알(Stanley R)에게 부여된 미국특허 6,541,698 에서는 매우 미세한 돌출기를 무수히 갖고 있는 얇은 필름의 어느 한 면 위에 건식증착법에 의한 박막을 형성하고, 이 필름을 이용하여 공지 기술에 의한 전자파 가스켓을 제조함으로써 도전성직물에 의한 제품보다 생산비를 낮추는 방안을 제시하고 있다. 그러나 이것은 필름의 단면에 물리적 증착(pvd) 방법으로 단순한 코팅을 실시한 것으로서 필름 단면의 상하방향으로는 전혀 통전되지 않는 것이므로 2차원적인 도전성만 부여하는 것이라서 생산단가는 저렴하지만 제조의 용이성 또는 제품의 다양성에서는 여전히 한계를 갖고 있다. In order to solve some of these problems, namely, the unit price problem, US Patent 6,541,698 granted to Stanley R, forms a thin film by dry deposition on one side of a thin film having a myriad of very fine protrusions. By manufacturing the electromagnetic gasket according to the known technology using the proposed method to lower the production cost than the product by the conductive fabric. However, this is a simple coating on the cross section of the film by physical vapor deposition (pvd) method, and because it is not energized at all in the vertical direction of the cross section of the film, it gives only two-dimensional conductivity, so the production cost is low, but the ease of manufacture or the variety of products Esau still has limitations.

특별히 공지 기술에 의한 도전성직물(부직포)을 이용하여 제조되는 가스켓의 경우 특정한 형상으로 제조하기 위해서 많은 공정과 생산기계들을 필요로 한다. 이를 해결하기 위해 상하좌우 모든 방향으로 통전이 가능하며 일정한 두께를 갖는 도전재료들과 이를 원하는 형상으로 간단히 절단하여 사용하는 방법을 제안하고 있다. 이를 실현한 발명으로 들 수 있는 대한민국특허 10-0471194 에서는 스펀지 재료를 무전해 도금방법으로 금속층을 부여하고 이를 상하좌우 방향으로 통전이 가능한 도전성 쉬트로 제시하고 있다. 그러나 이 제품의 경우 무엇보다 심각한 공해를 일으키는 도금공정이 개입되고 있으며 더욱이 제품의 탄성저하 및 매우 복잡하고 낮은 생산성이 커다란 문제가 되고 있다. In particular, in the case of a gasket manufactured using a conductive fabric (nonwoven fabric) according to the known art, many processes and production machines are required to produce a specific shape. In order to solve this problem, it is possible to conduct electricity in all directions of up, down, left, and right, and to propose conductive materials having a constant thickness and a method of simply cutting them into a desired shape. In Korean Patent No. 10-0471194, which can be considered as an invention that realizes this, the sponge material is provided as a conductive sheet that can be provided with a metal layer by an electroless plating method and can be energized in up, down, left and right directions. However, in the case of this product, a plating process causing serious pollution is involved, and furthermore, the elasticity of the product and very complicated and low productivity are a big problem.

또 다른 발명으로는 대한민국특허 10-0478830 에서는 발포수지 쉬트에 다수의 홀을 만든 후 이것을 전도성 수지로 코팅하고 건조시키는 방법으로 상하로 통전이 가능한 도전성 쉬트를 만드는 방법을 제시하고 있으나 이는 전도성 수지의 높은 가격을 비롯하여 에너지 효율성 등 제품 단가의 문제가 남아 있어서 이 제품의 대중화를 가로 막는 문제의 요소로 작용하고 있다. In another invention, Korean Patent 10-0478830 proposes a method of making a conductive sheet that can be energized up and down by making a plurality of holes in a foamed resin sheet and coating it with a conductive resin and drying it. Price and energy efficiency, such as product cost, remain, which is a problem that prevents the popularization of this product.

이외에도 여러가지 발명과 제안이 있으나 상기한 선행기술들의 문제를 해결한 구성은 아직 없는 실태이다. 따라서 여전히 공해문제가 발생하지 않으며, 생산 단가가 저렴하고, 유연성과 탄성이 보장되고, 신뢰성이 향상된 상하좌우 통전기능을 갖는 도전재의 개발이 요구되고 있는 실정이다. In addition, there are various inventions and proposals, but there is no configuration that solves the problems of the prior arts. Therefore, there is still a need for the development of a conductive material having no pollution problem, low production cost, flexibility and elasticity, and improved reliability of up, down, left and right conduction.

이를 해결하기 위해서 유연성 쉬트에 다수의 천공 홀(hole) 또는 커팅슬릿( cutting slit; 이하 홀로 통일하여 칭함)을 형성한 합성수지 쉬트를 준비하고, 상기 쉬트의 상/하(아래/위) 표면과 상기 천공 홀의 측면에 각 각 상/하 표면도전층과 연결도전층을 물리적 증착방법으로 균일하게 코팅하여 상기 홀의 측면에 고르게 코팅된 연결도전층으로 하여금 상기 상/하 표면에 코팅된 표면도전층들을 전기적으로 연결하여 상/하 표면도전층이 전기적으로 연결된; 상하좌우 모든 방향으로 통전 기능을 갖는 도전재와 그 코팅 방법이 제안될 수 있다. In order to solve this problem, a synthetic sheet having a plurality of perforations or cutting slits (hereinafter referred to as holes) is prepared in a flexible sheet, and the upper and lower surfaces of the sheet and the upper and lower surfaces are formed. The upper and lower surface conductive layers and the connection conductive layers are uniformly coated on the sides of the perforated holes by physical vapor deposition, thereby providing a connection conductive layer evenly coated on the sides of the holes to electrically connect the surface conductive layers coated on the upper and lower surfaces. Upper and lower surface conductive layers are electrically connected to each other; A conductive material having a conduction function in all directions of up, down, left and right and a coating method thereof may be proposed.

그러나 이러한 제품 역시 기본적으로 심대한 문제를 갖고 있다. 즉 물리적 증착방법의 한계로 인하여 발생되는 몇가지 현상들이 그것인데, 그 중에서 가장 중대한 문제는 물리적 증착방법의 가장 큰 문제라 할 수 있는 불량한 스텝커버리지(step coverage) 현상이다. 물리적 증착은, 무전해 도금이나 디핑(deeping)방법에 의한 수지코팅과는 달리, 코팅 소스(coating source)와 마주 보고 있는 면 쪽에는 두껍게 코팅이 잘 되지만 마주 보고 있지 않은 측면이나 뒷면 쪽에는 코팅이 이루어지기 어렵다. 이러한 문제 중에서 뒷면 쪽의 코팅은 그 상당하는 뒷면 쪽에 코팅 소스를 추가로 배치함으로써 해결할 수 있다. 그러나 폭(또는 직경)이 좁고 깊은 천공 홀의 내측면에 코팅하는 방법은 여전히 커다란 문제의 장벽으로 남아 있다. 이렇듯 코팅 소스와 마주보는 면과 측면에 각 각 물리적으로 증착(코팅)되는 박막의 두께 비율을 스텝커버리지라 한다. 상기 두께 비율이 100%에 가까울수록 '스텝커버리지가 좋다'라고 표현하기도 한다. 스텝커버리지를 향상시켜 주기 위해서는 (물리적 증착 방법의 형태를 막론하고) 물리적 증착을 수행하는 진공 챔버(chamber) 내의 진공도를 (대기압에 가깝게) 낮추어 그 내부에 존재하는 기체와 증기(vapor)들의 평균자유행정(mean free path)을 짧게 만들어 주거나 또는 피코팅기재(substrate) 자체에 바이어스 전압(bias voltage)을 인가해 주는 것이 그 필수 조건이다. 그러나 상기 피코팅기재는 연속적으로 공급되는 부도체일 경우가 대부분이다. 따라서 바이어스 전압 인가방법은 실현이 불가능함으로 제외하고, 평균자유행정을 짧게 만들어 주는 방법을 이용하여야 한다. 그러나 본 발명자가 실시한 반복된 실험 결과의 면밀한 분석과 공지의 연구 보고서들을 통하여 다음과 같은 결함들을 발견하게 되었다. 즉 이 방법 역시 좁고 깊은 천공 홀의 내측 면을 균일하게 코팅할 수는 있으나, 다음에 기술되는 여러가지 질적인 문제들로 인해 커다란 장벽에 부딪히게 된다는 것이다. 상기와 같이 평균자유행정을 줄여주는 방법으로 코팅할 경우 코팅소스로부터 출발한 증착물질은 일정한 거리(path)를 비행하는 동안 다른 기체(혹은 증기)들과 부딪히는 횟수가 많아지게 된다. 즉 다른 물질들과 혼합되거나 활성분자들과 화합될 가능성이 늘어남으로 그 순도에 적지 않은 악영향을 주게 된다. 상기한 화합의 형태는 주로 산화 혹은 질화의 형태가 된다. 이는 금속 박막층 중에 금속 산화물 또는 금속 질화물을 불순물로 포함하게 하는 결과를 초래하게 된다. 즉 금속도전층의 전기전도도(conductivity)의 저하를 일으킨다. 여기에 더하여 상기 불순물(주로 유전체)의 혼입 결과로 박막은 좀더 유전체의 특성을 따라가며 강도가 저하되고 깨지기 쉬운(brittle) 특성을 나타낸다. 또한 증착물질이 다른 기체들과 부딪히는 동안 운동에너지를 상당량 손실하게 되어 물리적 증착 박막이 피코팅기재 위에 코팅되는 접착력과 박막 밀도는 당연히 저하될 수밖에 없다. 즉 깨지기 쉬울 뿐 아니라 피코팅 기재로부터 탈착이 일어나거나 박막 자체가 그 연속성을 잃어 단락현상을 보이는 등 전도재로서의 치명적인 결함을 갖게 된다. 게다가 증착물질이 다른 분자들과 부딪히는 횟수가 늘어날수록 산란(scattering)되는 량이 늘어나기 때문에 피코팅기재 위에 코팅되지 않고 진공챔버의 내벽에 부착되는 물질들이 많아져 고가의 증착물질을 허비하게 되며 이에 따라 당연히 코팅속도는 저하되고 생산비용은 증가한다. 상기한 바와 같이 일반적인 방법, 즉 평균자유행정을 줄여주는 방법에 의해 스텝커버리지를 향상시키고자 한다면 당면한 문제해결에 큰 도움이 되지 못한다는 결론을 얻었다. But these products also have serious problems by default. That is, some of the phenomena caused by the limitations of the physical vapor deposition method, the most significant of which is the poor step coverage (phenomena) of the biggest problem of the physical vapor deposition method. Physical vapor deposition is different from resin coating by electroless plating or deeping method, but it is well coated on the side facing the coating source, but on the side or back side not facing each other. It is difficult to make. Of these problems, the coating on the back side can be solved by placing additional coating sources on the corresponding back side. However, the method of coating on the inner side of narrow and deep drill holes still remains a major problem barrier. As such, the thickness ratio of the thin film deposited on the side and side facing the coating source is called step coverage. The closer the thickness ratio is to 100%, the better the step coverage. To improve step coverage, the average degree of freedom of gases and vapors in the interior is reduced by lowering the degree of vacuum (close to atmospheric pressure) in the vacuum chamber (regardless of the type of physical deposition method) that performs the physical deposition. It is essential to shorten the mean free path or to apply a bias voltage to the substrate itself. However, in most cases, the substrate to be coated is a non-conductor supplied continuously. Therefore, the bias voltage application method should be used, except that it is impossible to realize, and a method of making the average free stroke short. However, through the in-depth analysis of the results of repeated experiments carried out by the inventors and known research reports, the following defects were found. In other words, this method can evenly coat the inner side of the narrow and deep drill hole, but it encounters a large barrier due to various quality problems described below. As described above, when the coating is performed in such a way as to reduce the average free stroke, the deposition material starting from the coating source is more likely to collide with other gases (or vapors) while flying at a certain path. In other words, the possibility of mixing with other substances or compounding with active molecules increases the adverse effect on the purity. The form of the above-mentioned compound is mainly in the form of oxidation or nitriding. This results in the inclusion of the metal oxide or metal nitride as impurities in the metal thin film layer. That is, the electrical conductivity of the metal conductive layer is reduced. In addition, as a result of the incorporation of the impurities (mainly dielectric), the thin film follows the characteristics of the dielectric, and exhibits a low strength and a brittle characteristic. In addition, as the deposition material collides with other gases, a considerable amount of kinetic energy is lost, so that the adhesion and the film density of the physically deposited thin film on the coated substrate are inevitably deteriorated. That is, not only fragile, but also desorption occurs from the substrate to be coated or the thin film itself loses its continuity, resulting in a fatal defect as a conductive material. In addition, as the number of deposition materials collide with other molecules increases, the amount of scattering increases, thus increasing the amount of materials deposited on the inner wall of the vacuum chamber rather than being coated on the substrate to be coated, thus causing expensive deposition materials. Naturally, the coating speed is lowered and the production cost is increased. As mentioned above, it was concluded that if the step coverage was improved by the general method, that is, the method of reducing the average free stroke, it would not be very helpful in solving the present problem.

본 발명의 목적은 상기한 모든 문제점들을 완벽하게 해결하고 신뢰성이 높은 도전재를 제공하기 위한 것이다. 즉 코팅물질을 절약할 수 있으며, 접착력이 향상되고, 전기전도도와 밀도가 높아지며, 내구성과 전기전도특성의 저하 및 파괴가 방지된 쉬트형도전재를 제공하기 위한 것이다. An object of the present invention is to completely solve all the above problems and to provide a highly reliable conductive material. That is, to provide a sheet-type conductive material that can save coating materials, improve adhesion, increase electrical conductivity and density, and prevent degradation and destruction of durability and electrical conductivity characteristics.

본 발명의 또 다른 목적은 내구성과 내마모성이 향상된 도전재와 전자기파를 흡수하고 차단하는 기능을 함께 보유하는 쉬트형도전재를 제공하기 위한 것이다.It is still another object of the present invention to provide a sheet-type conductive material having both a conductive material having improved durability and wear resistance and a function of absorbing and blocking electromagnetic waves.

본 발명은 평균자유행정을 줄이지 않고(즉 물리적 증착 공정이 실시되는 진공도를) 통상적인 물리적 증착이 실행되는 진공도 또는 그 보다 더 높은 진공영역(high vacuum range)에서도 매우 양호한 스텝커버리지(step coverage)를 수득할 수 있도록 하기와 같은 구성으로 상기 도전재 기재의 형상을 구성함으로써 (양호한 스 텝커버리지를 얻기 위해) 평균자유행정을 줄일 때 발생되는 상기한 모든 문제를 해결하도록 하였다.The present invention provides very good step coverage even at reduced vacuum levels (ie, the degree of vacuum in which the physical vapor deposition process is carried out) and at higher vacuum ranges or at higher vacuum ranges where conventional physical vapor deposition is carried out. By forming the shape of the conductive material base material in the following configuration so as to obtain it, it was to solve all the above-mentioned problems caused when reducing the average free stroke (to obtain a good step coverage).

이를 위해 본 발명의 첫 번째 양태로서 유연성 폴리머(polymer) 재료로 만들어진 쉬트(sheet)형 기재(substrate)와, 상기 쉬트형 기재의 지정된 위치에 형성된 천공 홀(hole) 또는 커팅슬릿(cutting slit)과, 상기 기재의 상하면에 전체적으로 각각 형성된 상표면도전층과 하표면도전층, 그리고 상기 천공 홀(또는 커팅슬릿)에 형성된 상태로 상기 상/하표면도전층을 전기적으로 서로 접속해 주는 연결도전층을 포함하여 이루어지는 상하좌우 모든방향으로 통전기능을 갖으며 상기 연결도전층 박막에 대하여 스텝커버리지(step coverage) 향상을 도모한 쉬트형 도전재에 있어서, 상기 표면도전층과 연결도전층의 면저항 비율(표면도전층의 면저항 / 연결도전층의 면저항)은 적어도 0.02 이상이며, (표면도전층 박막의 두께 / 연결도전층 박막의 두께 비율)박막 두께의 비율은 50 이하이고, 상기 도전층은 모두 물리적 증착(physical vapor deposition)방법에 의해 형성된 20나노메타 이상 5미크론 이하의 두께를 갖는 금속(합금)박막이며, 상기 도전재의 단위면적당 형성된 상기 연결도전층 박막의 수평 단면적은 적어도 20㎛2/cm2이상이며, 특별히 물리적 증착 방법으로(적어도) 상기 연결도전층을 증착하는 단계가 시작되는 시점에서 상기 홀(또는 슬릿)에 코팅될 상기 연결도전층 표면의 법선 일부(연결도전층 표면의 한 지점으로부터 세워진 수직선)가 상/하표면과 사선(diagonal line)을 이루게되는 형상이거나 (또는) 상기 홀(또는 슬릿)의 깊이(d 혹은 높이h 명세서에 기재할 것)와 폭(또는 직 경)의 비율이 10(깊이/폭) 이하가 되는 형상 중 한 가지 이상을 만족하는 것임을 특징으로 하는 상하방향 전기전도도와 내구신뢰성 및 경제성이 향상된 쉬트형 도전재가 제공된다. 상기에서 스텝커버리지 향상을 도모하여 면저항 비율을 0.02 이상으로 하고 박막 두께 비율을 50 이하로 하는 이유는 상기 상/하표면도전층의 과도한 두께를 방지하면서 코팅물질의 낭비를 방지하기 위함이며, 동시에 국소적으로 과도한 두께 편차로 인한 박막 구조의 불균형을 해소하여 내구성을 높이기 위함이다. 또 상기 도전층의 두께를 20나노메타 이상 5미크론 이하로 제한하는 이유는 20나노메타 이하의 경우에는 도전기능을 상실하게 되며 5미크론 이상의 경우에는 박막 자체의 스트레스(stress)가 과도하여져서 도전재의 형상을 변형시킬 뿐 아니라 탈착의 원인이 되기 때문이다. 또한 상기 도전재의 단위 면적당 형성된 상기 연결도전층 박막의 수평 단면적을 적어도 20㎛2/cm2이상으로 하는 이유는 그 이하일 경우 상하방향으로의 전기저항이 지나치게 커서 상/하 방향 도전재로서의 의미를 잃게 되기 때문이다. 특별히 물리적 증착방법으로 상기 연결도전층을 증착하는 단계가 시작되는 시점에서 상기 홀(또는 슬릿)에 코팅될 상기 연결도전층 일부표면의 법선(연결도전층 표면의 한 지점으로부터 세워진 수직선)이 상/하표면과 사선(diagonal line)을 이루게되는 형상이고(또는) 상기 홀(또는 슬릿)의 깊이(d 혹은 높이h 명세서에 기재할 것)와 폭(또는 직경)의 비율이 10(깊이/폭) 이하가 되는 형상 중 한 가지 이상을 만족하도록 하는 이유는 평균자유행정이 큰 고진공 분위기에서 상기 연결도전층의 물리적 증착공정을 실행하더라도 매우 양호한 스텝커버리지 를 얻을 수 있이기 때문이다. 즉 평균자유행정을 줄이는 방법으로 스텝커버리지 향상을 도모하기 위하여 저진공 분위기에서 상기 연결도전층을 증착할 때에 일어나는 상기의 여러가지 문제점들을 해결하기 위함이다. 예를 들어 상기 홀에 코팅될 상기 연결도전층, 즉 홀의 내측 표면의 법선 모두가 상/하표면과 평행을 이루는 형상인 동시에 그 깊이/폭의 비율이 10 이상일 경우에는 통상적인 진공압력 하에서 통상적인 물리적 증착방법으로는 상기와 같은 조건의 양호한 연결도전막을 증착할 수 없기 때문이다. 스텝커버리지를 향상시키기 위한 관건은 코팅과정 중에 코팅소스(coating source)로부터 코팅기재 방향으로 진행되는 코팅물질 방향과 평행되는 면, 즉 상기 도전기재에 형성된 천공 홀의 측면(연결 도전층이 형성될 부위)에 '여하히 더 많은 코팅물질이 증착되도록 하느냐'하는 것이다. 가장 효율적인 방법은 상기 홀의 측면이 코팅물질 진행방향 105에 대하여 도8의 그림과 같이 평행한 형태가 되도록 구성하는 방법이 아니라, 도4, 도6, 도9, 도10, 도13의 그림과 같이 사선으로 마주보는 형태로 구성하는 방법이다. 코팅물질의 진행방향 105에 대하여 수직으로 만나는 형태일 경우에는 가장 많은 량의 코팅물질이 증착됨으로 가장 바람직하겠지만 현실적으로 불가능하므로 사선으로 마주보는 형태가 바람직하다. 또한 천공 홀의 폭(w)는 0에 가까울수록 그 측면에 증착되는 코팅물질의 두께 또한 0에 근접하게 되어 스텝커버리지는 최악의 상태가 된다. 여기서 중요한 것은 천공 홀의 폭(w)자체의 크기보다는 천공 홀의 깊이/폭의 비율이 더 중요하다는 것이다. 상기 깊이/폭의 비율이 작을수록 더 좋은 스텝커버리지를 실현할 수 있으며, 가장 바람직하게는 깊이/폭의 비율도 작고, 상기 홀(또는 슬릿)에 코팅될 상기 연결도전층 일 부표면의 법선(연결도전층 표면의 한 지점으로부터 세워진 수직선)이 상/하표면과 사선(diagonal line)을 이루게되는 형상으로 구성된 것이라면 더욱 바람직할 것이다. 여기서 도9, 도10, 도13과 같이 커팅슬릿에 의해 만들어진 커팅리프(cutting leaf)가 위로 또는 아래로 제쳐진 상태에서는 상기에서 말하는 홀의 폭은 무한대로 볼 수 있는 것이다. 즉 깊이/폭의 비율이 0에 근접하게 됨으로써 스텝커버리지는 대단한 향상을 보이게 된다. 이러한 구성에 의하여 스텝커버리지가 향상된 연결도전층 박막을 형성하게 되면 본래의 목적인 상/하방향으로의 전기전도도가 획기적으로 향상됨은 물론, 물리적 증착 공정의 선택 폭이 넓어지게 됨으로 보다 유리하고 생산성이 높은 공정을 이용할 수 있으며, 보다 높은 고진공 영역에서 증착공정을 수행할 수 있으므로 산란되어 허비되는 증착물질을 최소화하여 고가의 증착물질 또한 절약할 수 있다. 더욱이 고진공 분위기에서 증착되므로 박막 자체의 순도가 향상되어 변질방지가 이루어지며 접착력과 박막밀도가 향상되므로 내구성과 내마모성 신뢰성이 향상된다. 또한 상기에서 '특별히 물리적 증착 방법으로(적어도) 상기 연결도전층을 증착하는 단계가 시작되는 시점에서'라는 시간적인 단서를 붙이는 이유는 증착이 시작되고 진행되는 동안, 또는 증착이 완료된 후에는 상기 도전재 기재의 형상이 온도 상승에 의하여 변형되고(또는) 수축되어 상기 조건과 달라질 수 있고 상기 증착이 완료된 후 상기 도전재의 형상을 인위적으로 변경하여 본 발명의 양태를 피해갈 가능성이 있기 때문이다. 스텝커버리지 향상을 위해 중요한 것은 증착공정이 시작되는 시점과 증착이 진행되는 시점에서 상기 홀의 형상이 중요하기 때문에 '특별히 물리적 증착 방법으로(적어도) 상기 연결도전층을 증착하는 단계가 시작되는 시점에서'라는 단서를 붙인 것이다. To this end, a first aspect of the present invention provides a sheet-like substrate made of a flexible polymer material, a perforation hole or a cutting slit formed at a designated position of the sheet-like substrate. And a conductive layer for connecting the upper and lower surface conductive layers electrically connected to each other in a state formed in the boring hole (or the cutting slit), respectively, on the upper and lower surfaces of the substrate. In the sheet-type conductive material having a conduction function in all directions up, down, left, and right and to improve step coverage for the connection conductive layer thin film, the surface resistance ratio between the surface conductive layer and the connection conductive layer (surface conduction) Sheet resistance of the layer / sheet resistance of the connecting conductive layer) is at least 0.02 or more (thickness ratio of the surface conductive layer thin film / thickness of the connecting conductive layer thin film) 50 or less, and the conductive layer is a metal (alloy) thin film having a thickness of 20 nanometers or more and 5 microns or less formed by a physical vapor deposition method, and the conductive layer thin film formed per unit area of the conductive material. The horizontal cross-sectional area is at least 20 μm 2 / cm 2 or more, and the normal of the surface of the connection layer to be coated in the hole (or slit) at the beginning of the step of depositing the connection layer, in particular by physical vapor deposition (at least). Some (vertical lines erected from a point on the surface of the connecting layer) form a diagonal line with the upper / lower surface or (or) the depth (d or height h) of the hole (or slit) shall be stated in the specification. ) Up and down electrical conductivity, durability, and economics, characterized in that it satisfies at least one of the shape that the ratio of the width (or diameter) is 10 (depth / width) or less. The sheet-like conductive material is provided. In order to improve step coverage, the sheet resistance ratio is set to 0.02 or more and the thin film thickness ratio is set to 50 or less in order to prevent waste of the coating material while preventing excessive thickness of the upper and lower surface conductive layers. This is to improve the durability by solving the imbalance of the thin film structure due to excessive thickness variation. The reason for limiting the thickness of the conductive layer to 20 nanometers or more and 5 microns or less is that the conductive function is lost in the case of 20 nanometers or less, and the stress of the thin film itself becomes excessive in the case of 5 microns or more. This is because it not only deforms the shape but also causes desorption. In addition, the reason why the horizontal cross-sectional area of the connection conductive layer thin film formed per unit area of the conductive material is at least 20 μm 2 / cm 2 or more is less than that, so that the electrical resistance in the vertical direction is too large to lose meaning as the vertical / lower conductive material. Because it becomes. In particular, at the beginning of the step of depositing the connection conductive layer by a physical vapor deposition method, a normal (vertical line erected from a point on the surface of the connection conductive layer) of a part of the surface of the connection conductive layer to be coated on the hole (or slit) is formed. It is a shape that forms a diagonal line with the lower surface and / or the ratio of the depth (d or height h) of the hole (or slit) to the width (or diameter) is 10 (depth / width). The reason for satisfying one or more of the following shapes is that very good step coverage can be obtained even by performing the physical vapor deposition process of the connection conductive layer in a high vacuum atmosphere having a large average free stroke. That is, to solve the above-mentioned problems occurring when the connection conductive layer is deposited in a low vacuum atmosphere in order to improve the step coverage by reducing the average free stroke. For example, when the connection conductive layer to be coated on the hole, that is, the normals of all inner surfaces of the hole are parallel to the upper / lower surface and the depth / width ratio is 10 or more, This is because a good connection conductive film under the above conditions cannot be deposited by the physical vapor deposition method. The key to improving step coverage is the surface parallel to the direction of the coating material proceeding from the coating source to the coating substrate during the coating process, that is, the side of the punched hole formed in the conductive substrate (where the connection conductive layer is to be formed). 'Will you allow more coating material to be deposited'? The most efficient method is not to configure the side of the hole to be parallel to the coating material traveling direction 105 as shown in Figure 8, as shown in Figures 4, 6, 9, 10, 13 It is a method of forming in a form facing diagonally. In the case where the coating material meets the direction perpendicular to the traveling direction 105, the most desirable amount of coating material is deposited, but since it is impossible in reality, the form facing diagonally is preferable. In addition, as the width w of the hole is closer to zero, the thickness of the coating material deposited on the side thereof is also closer to zero, resulting in the worst case step coverage. What is important here is that the ratio of the depth / width of the drilling hole is more important than the width (w) of the drilling hole itself. The smaller the ratio of depth / width, the better step coverage can be realized, and most preferably, the ratio of depth / width is small, and the normal (connection) of a part of the surface of the connection conductive layer to be coated on the hole (or slit). It would be more desirable if the vertical lines erected from a point on the surface of the conductive layer were configured to form a diagonal line with the upper and lower surfaces. 9, 10, and 13, the cutting leaf (cutting leaf) made by the cutting slit (cutting leaf) made up aside or down, the width of the above-mentioned hole can be seen indefinitely. In other words, as the depth / width ratio approaches zero, step coverage is greatly improved. When the connection conductive layer thin film having the improved step coverage is formed by such a configuration, the electrical conductivity in the up / down direction, which is the original purpose, is greatly improved, and the selection of the physical deposition process is expanded, which is more advantageous and more productive. Since the process can be used and the deposition process can be performed in a higher high vacuum region, it is possible to minimize the deposited materials that are scattered and wasted, thereby saving expensive deposition materials. Furthermore, since the deposition is performed in a high vacuum atmosphere, the purity of the thin film itself is improved to prevent alteration, and the adhesion and thin film density are improved, thereby improving durability and wear resistance reliability. In addition, the reason for attaching the temporal clue 'at the time when the step of depositing the connection conductive layer by the physical physical deposition method (at least) starts' is that the conduction during or during the deposition or after the completion of the deposition is performed. This is because the shape of the material substrate may be deformed and / or contracted by a rise in temperature to be different from the above conditions, and there is a possibility of artificially changing the shape of the conductive material after the deposition is completed, thereby avoiding the aspect of the present invention. It is important to improve the step coverage because the shape of the hole is important at the start of the deposition process and at the time of the deposition process, 'at the time when the step of depositing the connection conductive layer by the physical deposition method (at least) begins'. Is attached to the clue.

상기 본 발명에 의한 쉬트형도전재는 상하좌우 모든 방향에서 전기전도도가 대단히 우수하며 그 어떤 선행 기술에 의한 도전재 보다 훌륭한 전(全)방향 도전재를 제공한다. 그러나 여전히 아쉬운 점이 남아있다. 내구성과 내마모성이 그것이다. 특히 도1, 도3, 도4, 도5와 같은 구조의 도전재는 표면에 대한 마찰(scratch)에 대하여 매우 취약하다. 상기와 같은 구조의 쉬트형도전재 표면에 마찰이 가해지면 상/하표면도전층과 연결도전층이 서로 접합된 지점 (예를 들어 27과 같은 지점)에서 매우 얇은 박막이 떨어져 나가면서 상호간의 접합이 절단되어 버린다. 이와 같이 연결도전층이 상/하표면도전층 사이에서 전기적 연결기능을 잃어버리게 된다면 상하좌우 전방향 도전재로서의 의미가 없어지게 되며 그 기능상에 중대한 결점을 갖게 된다.The sheet-type conductive material according to the present invention is very excellent in electrical conductivity in all directions up, down, left and right, and provides an omnidirectional conductive material which is superior to the conductive material according to any prior art. However, there is still a disappointment. It is durable and wear resistant. In particular, the conductive material having a structure as shown in Figs. 1, 3, 4 and 5 is very vulnerable to scratches on the surface. When friction is applied to the surface of the sheet-like conductive material of the above structure, very thin films are separated from each other where the upper / lower surface conductive layer and the connecting conductive layer are bonded to each other (for example, as shown in 27), and the bonding between them is performed. It is cut off. As such, if the connection conductive layer loses the electrical connection function between the upper and lower surface conductive layers, the connection conductive layer loses its meaning as a vertical conductive material in all directions.

상기와 같은 취약점을 보강하여 내구성과 내마모성 및 신뢰성이 더욱 향상된 도전재를 제공하기 위하여 본 발명의 또 다른 양태로서 상기 상/하표면 중 적어도 한 면에 표면으로부터 돌출된 돌출부와, 상기 돌출부의 최정상(가장 높은부위)보다 낮은 높이(상기 돌출부 최정상에서 볼 때 상/하표면 쪽 부위)에 '안전' 연결도전층이 존재하며 상기 연결도전층 박막의 수평 단면적은 상기 도전재의 단위면적당 평균 20㎛2/cm2이상임을 특징으로 하는 쉬트형도전재가 제공된다. 상기에서 돌출부를 두는 이유는 상/하표면도전층을 마찰로부터 보호하기 위함이며, 상기 돌출부보다 낮은 곳에 '안전' 연결도전층을 두는 이유는 마찰에 의해 상/하표면도전층 중 일부 박막층이 손상되더라도 중대한 기능과 역할을 하는 연결도전층은 안전하게 보호되도록 하기 위함이다. 여기서 연결도전층 앞에 '안전'이란 단어를 부가한 이유는 돌출부 정상이나 최외표면에 노출되어 있는(즉 마찰로부터 취약한 곳에 드러나 있는) 연결도전층과 구별하기 위함이다. 또한 상기 도전재의 단위 면적당 형성된 상기 연결도전층 박막의 수평 단면적을 적어도 20㎛2/cm2이상으로 하는 이유는 그 이하일 경우 상하방향으로의 전기저항이 지나치게 커서 도전재로서의 의미를 잃게 되기 때문이다.In another aspect of the present invention, a protrusion protruding from a surface on at least one of the upper and lower surfaces, and the top of the protrusion to reinforce the above weakness to provide a conductive material having improved durability, wear resistance, and reliability. There is a 'safe' connection conductive layer at a height lower than the highest portion (upper / lower surface side of the protrusion), and the horizontal cross-sectional area of the connection conductive layer thin film averages 20 µm 2 / per unit area of the conductive material. Sheet type conductive material is provided, characterized in that the cm 2 or more. The reason for the protrusion is to protect the upper / lower surface conductive layer from friction, and the reason for placing the 'safe' connection conductive layer lower than the protrusion is that some of the upper / lower surface conductive layers are damaged by friction. Even if this is the case, the connection layer, which plays a crucial role and function, is to be protected. The reason why the word 'safe' is added before the connection layer is to distinguish it from the connection layer that is exposed to the top of the protrusion or the outermost surface (ie, exposed to friction). In addition, the horizontal cross-sectional area of the connection conductive layer thin film formed per unit area of the conductive material is at least 20 μm 2 / cm 2 or more because the electric resistance in the vertical direction is too large to lose the meaning as the conductive material.

이와 유사한 도전재를 제공하기 위하여 본 발명의 또 다른 양태와 같이 상기에서 상/하표면 중 적어도 한 면에 표면으로부터 함몰된 함몰부와, 상기 최외곽 표면보다 두께 중심 방향으로 함몰된 부위(상기 표면에서 볼 때 두께 중심 쪽 부위)에 '안전' 연결도전층이 존재하며 상기 연결도전층 박막의 수평 단면적은 상기 도전재의 단위면적당 평균 20㎛2/cm2이상임을 특징으로 하는 쉬트형도전재가 제공된다. 상기에서 함몰부를 두고 최외곽 표면보다 두께 중심 방향으로 함몰된 부위에 '안전' 연결도전층을 두는 이유는 역시 마찰로부터 상기 연결도전층 박막을 보호하기 위함이다. 역시 상기 도전재의 단위 면적당 형성된 상기 연결도전층 박막의 수평 단면적을 적어도 20㎛2/cm2이상으로 하는 이유는 그 이하일 경우 상하방향으로의 전기저항이 지나치게 커서 도전재로서의 의미를 잃게 되기 때문이다.In order to provide a similar conductive material, as in another embodiment of the present invention, the recessed portion is recessed from the surface on at least one of the upper and lower surfaces, and the portion recessed in the thickness center direction than the outermost surface (the surface In the above, there is provided a 'safe' connection conductive layer in the center portion of the thickness, and the horizontal cross-sectional area of the connection conductive layer thin film is 20 µm 2 / cm 2 or more per unit area of the conductive material. . The reason for placing the 'safe' connection conductive layer in a portion recessed in the thickness center direction of the outermost surface with the recessed portion is to protect the connection conductive layer thin film from friction. The reason why the horizontal cross-sectional area of the connection conductive layer thin film formed per unit area of the conductive material is at least 20 μm 2 / cm 2 or more is because if the electric resistance in the vertical direction is too large, it loses its meaning as a conductive material.

상기의 도전재는 보다 다양한 기능의 제품으로 향상시키기 위해 여러 가지 부가기능을 접목하여 제공될 수 있다. 그 한 예로서 본 발명의 또 다른 양태와 같 이 상기 도전재의 기재는 전자기파 흡수재, 열전도체, 원적외선 복사체 중에서 선택된 한 가지 이상을 포함함을 특징으로 하는 쉬트형도전재가 제공될 수 있다. 또한 상기 쉬트형도전재의 어느 한 면 이상에 (도전성) 점착층을 추가로 더 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 쉬트형도전재도 제공될 수 있다. 본 발명의 명세서나 도면에 포함된 양태들은 그 실시 예를 제시한 것으로서 이 외에도 본 발명의 기술적 사상을 토대로 하여 다양한 양태의 쉬트형도전재가 제공될 수 있을 것이다.The conductive material may be provided by incorporating various additional functions in order to improve the product to a more versatile function. As an example, as in another embodiment of the present invention, a sheet-type conductive material may be provided, wherein the base material of the conductive material includes at least one selected from electromagnetic wave absorbers, thermal conductors, and far-infrared radiators. In addition, the sheet-type conductive material may be provided by further comprising a (conductive) adhesive layer on at least one surface of the sheet-type conductive material. Aspects included in the specification or drawings of the present invention has been shown an embodiment thereof, in addition to the sheet-type conductive material of various aspects may be provided based on the technical spirit of the present invention.

본 발명에 의한 쉬트형도전재는 전자기파 차폐 필름, 막, 쉬트 또는 가스켓이나 쿠션재로 사용될 수 있으며 상하좌우 전방향으로의 도전기능을 필요로하는 전자제품의 재료로 사용될 수 있을 것이며, 보다 저렴하고 경제적인 방법으로 보다 다양한 기능을 갖으며 신뢰성이 향상된 쉬트형도전재를 제공하여 고가의 도전성발포재나 도전성직물 및 도전성부직포를 대체할 수 있을 것이다.Sheet-type conductive material according to the present invention can be used as an electromagnetic shielding film, film, sheet or gasket or cushioning material and can be used as a material for electronic products that require a conductive function in all directions up, down, left and right, and is cheaper and more economical. The method may provide a sheet-type conductive material having more various functions and improved reliability, thereby replacing expensive conductive foam materials, conductive fabrics, and conductive nonwoven fabrics.

Claims (5)

유연성 폴리머(polymer) 재료로 만들어진 쉬트(sheet)형 기재(substrate)와, 상기 쉬트형 기재의 지정된 위치에 형성된 천공 홀(hole) 또는 커팅슬릿(cutting slit)과, 상기 기재의 상하면에 전체적으로 각각 형성된 상표면도전층과 하표면도전층, 그리고 상기 천공 홀 또는 커팅슬릿에 형성된 상태로 상기 상표면도전층과 하표면도전층을 전기적으로 서로 접속해 주는 연결도전층을 포함하여 이루어지는 상하좌우 모든방향으로 통전기능을 갖으며 상기 연결도전층 박막에 대하여 스텝커버리지(step coverage) 향상을 도모한 쉬트형 도전재에 있어서, 상기 표면도전층과 연결도전층의 면저항 비율(표면도전층의 면저항 / 연결도전층의 면저항)은 적어도 0.02 이상이며, 표면도전층 박막두께와 연결도전층 박막두께의 비율(표면도전층 박막의 두께 / 연결도전층 박막의 두께)은 50 이하이고, 상기 도전층은 모두 물리적 증착(physical vapor deposition)방법에 의해 형성된 20나노메타 이상 5미크론 이하의 두께를 갖는 금속 또는 금속합금박막이며, 상기 도전재의 단위면적당 형성된 상기 연결도전층 박막의 수평 단면적은 적어도 202/cm2이상이며, 물리적 증착 방법으로 상기 연결도전층을 증착하는 단계가 시작되는 시점에서 상기 홀 또는 슬릿에 코팅될 상기 연결도전층 표면의 법선(연결도전층 표면의 한 지점으로부터 세워진 수직선) 일부가 상표면 및 하표면과 사선(diagonal line)을 이루게되는 형상, 또는 상기 홀 또는 슬릿의 깊이와 폭의 비율(깊이/폭)이 10이하가 되는 형상 중 한 가지 이상을 만족하는 것임을 특징으로 하는 쉬트형 도전재A sheet-shaped substrate made of a flexible polymer material, a perforation hole or cutting slit formed at a designated position of the sheet-shaped substrate, and formed entirely on the upper and lower surfaces of the substrate, respectively. Power supply function in all directions of up, down, left and right, including a trademark conductive layer, a lower conductive layer, and a connection conductive layer electrically connecting the trademark conductive layer and the lower surface conductive layer to each other in a state formed in the perforation hole or the cutting slit. In the sheet-type conductive material having a step and improve the step coverage of the connection conductive layer thin film, the surface resistance ratio of the surface conductive layer and the connection conductive layer (surface resistance of the surface conductive layer / sheet resistance of the connection conductive layer) ) Is at least 0.02 and the ratio of the surface conductive layer thin film thickness to the connection conductive film thin film thickness (thickness of the surface conductive layer film / thickness of the connection conductive film thin film) ) Is 50 or less, and the conductive layer is a metal or metal alloy thin film having a thickness of 20 nanometers or more and 5 microns or less formed by physical vapor deposition, and the connection conductive layer formed per unit area of the conductive material. The horizontal cross-sectional area of the thin film is at least 20 2 / cm 2 and the normal to the surface of the connection layer to be coated on the hole or slit at the beginning of the step of depositing the connection layer by physical vapor deposition (connection layer surface One of a shape in which a portion of the vertical line formed from one point of the line forms a diagonal line with the trademark surface and the lower surface, or a shape in which the ratio (depth / width) of the hole or slit is 10 or less. Sheet type conductive material characterized by satisfying the above 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete
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KR100477019B1 (en) 2002-08-30 2005-03-17 에스엔케이폴리텍(주) High polymer microcellular foam conductive gaskets and method for preparing thereof

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