KR101136137B1 - 중박리 실리콘 이형필름 - Google Patents

중박리 실리콘 이형필름 Download PDF

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KR101136137B1 KR1020090132115A KR20090132115A KR101136137B1 KR 101136137 B1 KR101136137 B1 KR 101136137B1 KR 1020090132115 A KR1020090132115 A KR 1020090132115A KR 20090132115 A KR20090132115 A KR 20090132115A KR 101136137 B1 KR101136137 B1 KR 101136137B1
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Abstract

본 발명은 중박리 실리콘 이형필름에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 인라인 또는 오프라인 제조 공정을 거쳐 전기 전자용 및 광학 디스플레이 용도의 편광판 제조 공정에서 이형필름으로 사용할 경우에 있어서, 점착층에 대한 우수한 밀착 특성으로 편광판 제조 공정에서 점착층과 이형필름 사이의 들뜸 현상으로 발생되는 점착층 줄무늬 형태 결점을 개선할 수 있으며, 또한 이형층의 우수한 외관 특성으로 편광판 출하 검사시 이형필름에 의해 발생될 수 있는 결점의 과검출 및 미검출 등의 혼란을 최소화 할 수 있는 중박리 실리콘 이형필름에 관한 것이다. 이를 위해 본 발명에 따른 중박리 실리콘 이형필름은 폴리에스테르 필름과, 상기 폴리에스테르 필름의 적어도 일면에 실리콘 이형 조성물로 적어도 1회 도포된 도포층을 포함하는 중박리 실리콘 이형필름으로서,
하기 식 1과 식 2를 동시에 만족하되,
0.8≤ La ≤ 1.2 (식 1)
4 ≤ Rf ≤ 25 (식 2)
여기서, "La"는 상기 실리콘 이형 조성물이 도포된 후 14일 숙성된 이형필름의 박리력 값과 상기 실리콘 이형 조성물이 도포된 후 미숙성된 이형필름의 박리력 값의 비이고, "Rf"는 상기 실리콘 이형 도포층에 대한 박리력 값(gf/in.)인 것을 특징으로 한다.
중박리, 편광판, 이형 필름, 박리력

Description

중박리 실리콘 이형필름{Silicone Tight Release Coating Film}
본 발명은 중박리 실리콘 이형필름에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 인라인 또는 오프라인 제조 공정을 거쳐 전기 전자용 및 광학 디스플레이 용도의 편광판 제조 공정에서 이형필름으로 사용할 경우에 있어서, 점착층에 대한 우수한 밀착 특성으로 편광판 제조 공정에서 점착층과 이형필름 사이의 들뜸 현상으로 발생되는 점착층 줄무늬 형태 결점을 개선할 수 있으며, 또한 이형층의 우수한 외관 특성으로 편광판 출하 검사시 이형필름에 의해 발생될 수 있는 결점의 과검출 및 미검출 등의 혼란을 최소화 할 수 있는 중박리 실리콘 이형필름에 관한 것이다.
일반적으로, 편광판이라 함은 빛이 통과할 때 일정한 방향으로 진동하는 빛만을 통과시키는 필름으로서 액정 디스플레이(LCD) 장치에 사용되는데, 이러한 편광판은 제조과정 중 최소 두 번 이상의 실리콘 이형필름 사용 공정을 거쳐 완성된다.
또한 근래 LCD 장치는 고성능화, 고화질화 및 대화면화의 기술이 적용되고 있으며, 기존 디스플레이 장치 대비 경박화, 저 에너지 소비 특성으로 그 채용 및 보급 속도가 현저하게 증가되고 있다.
그러나, LCD의 새로운 성장을 위해서는 가격 감소 및 비용 합리화가 중요한 포인트로 지적되고 있으며, 이 때문에 LCD의 중요한 부품인 편광판의 품질 및 수율 안정화 유지가 크게 중요시 되면서, 공정 검사, 품질 검사, 출하 검사의 기준이 점점 까다로워 지고 있다.
이러한 편광판의 일반적인 제조과정을 살펴보면, 보호 필름 및 편광판의 적어도 일면에 점착층을 형성하고, 그 점착층 위에 실리콘 이형필름을 적층한 후 롤 상태로 운반 및 보관하게 된다. 이 후 각각의 적층체 롤은 원하는 사이즈 별로 제단 하여 보관 및 제조 공정에 투입되는데, 종래의 실리콘 이형필름은 경박리 특성만 적용되다 보니 편광필름 제단 후 점착층과 이형층간의 밀착력 부족으로 들뜸 현상이 발생되며, 상기 요인으로 들뜸 부위와 부착부위 경계지점에서 줄무늬 형태의 자국이 발생되며, 이러한 줄무늬 형태 자국은 점착층에 전사되어 심각한 외관 불량이 발생될 수 있다. 또한 상기와 같은 들뜸 현상은 편광판 가공 후 시간이 경과 할수록 실리콘 이형필름의 도포층이 숙성되어 경박리화가 진행되면서 보다 강한 수준의 줄무늬 형태 자국이 발생되어 편광판 전체가 불량 처리가 되는 문제가 발생 될 수 있다.
일반적으로 편광판 제조 과정에서 상기와 같은 품질 불량에 대한 검사로 외관 결점 및 이물에 대한 검사가 중요한 항목으로 관리되고 있으며, 이러한 외관 결점 및 이물 검사는 검사원의 육안 검사로 진행되는데, 편광판의 대형화와 더불어 실리콘 이형필름의 외관 결점 및 이물 등의 문제가 편광판의 정확한 육안 검사를 저해하는 경우가 있고, 그로 인하여 편광판의 품질 문제가 과검출 및 미검출되는 혼란이 발생될 소지가 있어 이를 해결하기 위한 제품이 절실한 실정이다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 본 발명의 목적은 편광판 가공시 사용되는 점착제 층과 이형층 사이의 들뜸 현상을 제거하고자 인라인 또는 오프라인 코팅 공정을 거쳐, 점착층에 대한 밀착력이 우수한 중박리 실리콘 이형필름을 제공하자고 하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 편광판 제조 과정 중 이물 및 외관 검사시 이형필름에 의해 발생되는 결점의 과검출 및 미검출이 최소화 되도록 외관 특성이 우수한 중박리 실리콘 이형필름을 제공하고자 하는 것이다.
본 발명의 상기 및 다른 목적과 이점은 바람직한 실시예를 설명한 하기의 설명으로부터 보다 분명해 질 것이다.
상기 목적은, 폴리에스테르 필름과, 상기 폴리에스테르 필름의 적어도 일면에 실리콘 이형 조성물로 적어도 1회 도포된 도포층을 포함하는 중박리 실리콘 이형필름으로서,
하기 식 1과 식 2를 동시에 만족하되,
0.8≤ La ≤ 1.2 (식 1)
4 ≤ Rf ≤ 25 (식 2)
여기서, "La"는 상기 실리콘 이형 조성물이 도포된 후 14일 숙성된 이형필름 의 박리력 값과 상기 실리콘 이형 조성물이 도포된 후 미숙성된 이형필름의 박리력 값의 비이고, "Rf"는 상기 실리콘 이형 도포층에 대한 박리력 값(gf/in.)인 것을 특징으로 하는 중박리 실리콘 이형필름에 의해 달성된다.
바람직하게는, 상기 중박리 실리콘 이형필름은 하기 식 3을 더 만족하되,
0 ≤ Ex ≤ 0.1 (식 3)
여기서, "Ex"는 상기 실리콘 이형 도포층에서 추출되는 Si 이행량(cps)인 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 실리콘 이형 조성물은 알케닐폴리실록산, 하이드로전폴리실록산, 박리력 조절제, 실란 커플링제, 및 백금 킬레이트 촉매를 포함하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 박리력 조절제는 오르가노 폴리실록산 수지이되, 상기 알케닐폴리실록산 100중량부에 대하여 5 ~ 20 중량부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 박리력 조절제는 하이드록실기를 포함하는 오르가노 폴리실록산 수지인 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 박리력 조절제는 알케닐기를 포함하는 오르가노 폴리실록산 수지인 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 박리력 조절제는 하이드록실기/알케닐기의 비 0.1 ~ 0.5를 포함하는 오르가노 폴리실록산 수지인 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 실리콘 이형 조성물은 0.5 ~ 3 중량%의 고형분을 함유하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따르면, 인라인 또는 오프라인 제조 공정을 거쳐 전기 전자용 및 광학 디스플레이 용도의 편광판 제조 공정에서 이형필름으로 사용할 경우에 있어서, 점착층에 대한 우수한 밀착 특성으로 편광판 제조 공정에서 점착층과 이형필름 사이의 들뜸 현상으로 발생되는 점착층 줄무늬 형태 결점을 개선할 수 있으며, 또한 이형층의 우수한 외관 특성으로 편광판 출하 검사시 이형필름에 의해 발생될 수 있는 결점의 과검출 및 미검출 등의 혼란을 최소화 할 수 있는 등의 효과를 가진다.
이하, 본 발명의 실시예를 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다. 이들 실시예는 오로지 본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위해 예시적으로 제시한 것일 뿐, 본 발명의 범위가 이들 실시예에 의해 제한되지 않는다는 것은 당업계에서 통상의 지식을 가지는 자에 있어서 자명할 것이다.
본 발명에 따른 중박리 실리콘 이형필름은 폴리에스테르 필름과 상기 폴리에스테르 필름의 적어도 일면에 실리콘 이형 조성물로 적어도 1회 도포된 도포층을 포함하는 중박리 실리콘 이형필름에 관한 것으로서, 하기 식1과 2를 동시에 만족하는 것을 특징으로 한다.
0.8≤ La ≤ 1.2 (식 1)
4 ≤ Rf ≤ 25 (식 2)
여기서, "La"는 상기 실리콘 이형 조성물이 도포된 후 14일 숙성된 이형필름의 박리력 값과 실리콘 이형 조성물이 도포된 후 미숙성된 이형필름의 박리력 값의 비이고, "Rf"는 상기 실리콘 이형 도포층에 대한 박리력 값(gf/in.)이다.
바람직하게는 상기 중박리 실리콘 이형필름은 하기 식 3을 더 만족하되,
0 ≤ Ex ≤ 0.1 (식 3)
여기서, "Ex"는 상기 실리콘 이형 도포층에서 추출되는 Si 이행량(cps)인 것을 특징으로 한다.
본 발명에 사용되는 폴리에스테르 필름은 종류의 제한이 없으나, 종래에 실리콘 이형코팅의 기재필름으로 알려져 있는 공지의 것을 사용할 수 있다. 본 발명에서는 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리부틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트 등의 폴리에스테르계 수지를 중심으로 설명하나 본 발명의 실리콘 이형 조성물의 기재는 폴리에스테르 시트 또는 필름에 한정되지 않는다. 상기 필름을 구성하는 폴리에스테르는 방향족 디카르복시산과 지방족 글리콜을 중축합시켜 얻은 폴리에스테르를 가리킨다. 상기 방향족 디카르복시산으로는 테레프탈산 또는 2,6-나프탈렌 디카르복시산 등을 들 수 있고, 지방족 글리콜로서는 에틸렌글리콜, 디에틸렌글리콜 또는 1,4-시클로헥산디메탄올 등을 들 수 있다.
대표적인 폴리에스테르로서는 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리에틸렌-2,6-나트탈렌디카르복실레이트(PEN) 등이 있다. 상기 폴리에스테르는 제 3성분을 함유한 공중합체도 가능하다. 상기 공중합 폴리에스테르의 디카르복시산 성분으로서는, 이소프탈산, 프탈산, 테레프탈산, 2,6-나프탈렌디카르복시산, 아디프산, 세바스산, 옥시카르복시산(예컨대, P-옥시벤조산 등)을 들 수 있고, 글리콜 성분으로서 에틸렌글리콜, 디에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 부탄디올, 1,4-시클로헥산디메탄올, 네오펜틸글리콜 등을 들 수 있다. 이들의 디카르복시산 성분 및 글리콜 성분은 2종 이상을 병용하여도 좋다. 또한 본 발명에 따른 기재 필름은 높은 투명성을 갖는 동시에 생산성 및 가공성이 우수한 일축 또는 이축 배향 필름을 사용한다.
또한 본 발명에 따른 폴리에스테르 필름은 우수한 롤(Roll)간 주행 특성을 부여하기 위해 입자들을 함유한다. 첨가되는 입자는 우수한 미끄러짐 특성을 나타낼 수 있다면 종류의 특별한 제한이 없다. 본 발명에서는 실리카, 산화 실리콘, 탄산 칼슘, 황산 칼슘, 인산 칼슘, 탄산 마그네슘, 인산 마그네슘, 탄산 바륨, 카올린, 산화 알류미늄, 산화 티탄 등을 포함할 수 있다. 사용하는 입자의 형상에는 특별히 한정되는 것은 아니나, 구상, 괴상, 봉상, 판상 입자 중 어떤 것이라도 본 발명에 사용될 수 있다. 또한 입자의 경도, 비중 및 색상에 대해 특별히 제한하지 않으며, 필요에 따라 2 종류 이상을 병행 사용 할 수도 있다. 또한 사용하는 입자의 평균 입경은 0.1 ~ 5㎛ 을 만족하는 것이 바람직하고, 바람직하게는 0.1 ~ 2㎛ 범위이다. 평균 입경이 0.1㎛ 미만일 경우는 입자간의 응집현상이 발생하여, 분산 불량이 발생될 수 있고, 평균 입경이 5 ㎛를 초과하면 필름의 표면 거칠기 특성이 나빠져 후 가공시 코팅 불량이 발생될 수 있다.
또한, 폴리에스테르 필름 중의 입자 함유량은 0.01 ~ 5 중량%를 만족하는 것이 바람직하고, 더욱 바람직하게는 0.01 ~ 3 중량% 범위이다. 함유량이 0.01 중량% 미만일 경우는 폴리에스테르 필름의 미끄러짐 특성이 나빠져 롤 간의 주행 특성이 나빠질 수 있으며, 함유량이5 중량%를 초과할 경우는 필름의 표면 평활성이 나빠질 수 있다.
다음으로 본 발명에 따른 중박리 실리콘 이형필름의 상기 실리콘 이형 조성물은 알케닐폴리실록산, 하이드로전폴리실록산, 박리력 조절제, 실란 커플링제, 및 백금킬레이트 촉매를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 실리콘 이형 조성물의 구성 중 상기 알케닐폴리실록산(Alkenyl Polysiloxane)은 부가형, 축합형, 자외선 경화형 등 어느 타입이라도 사용할 수 있으나, 대표적인 분자구조는 다음의 화학식 1과 같다.
[화학식 1]
Figure 112009080886126-pat00001
Figure 112009080886126-pat00002
여기서, m과 n은 0 이상의 정수이다.
상기 알케닐폴리실록산은 분자 내에 알케닐기를 함유하며, 알케닐기가 분자 중의 어느 부분에 존재하여도 좋으며, 최소 2개 이상 존재하는 것이 바람직하다. 또한 분자구조는 직쇄상 또는 분지상이라도 좋으며, 직쇄와 분지가 함께 있는 구조라도 좋다.
또한 본 발명에 따른 실리콘 이형 조성물의 구성 중 경화제로는 부가형, 축합형, 자외선 경화형 등 어느 타입이라도 사용할 수 있으며, 본 발명의 대표적인 경화제인 하이드로전폴리실록산(Hydrogen polysiloxane)의 대표적인 분자구조는 다음의 화학식 2와 같다.
[화학식 2]
Figure 112009080886126-pat00003
여기서, p와 q는 0 이상인 정수이다.
상기 하이드로전폴리실록산은 직쇄상, 분지상 또는 환상의 어느 쪽이라도 좋으며, 이들의 혼합물도 좋다. 또한 점도나 분자량도 한정되지는 않지만, 상기 알케닐폴리실록산과의 상용성이 양호하여야 하며, 사용량은 상기 알케닐폴리실록산의 알케닐기 1개에 대하여 실리콘 원자에 결합한 하이드로전기가 1.0 내지 2.0개의 범위가 되는 것이 바람직하다. 알케닐 폴리실록산의 알케닐기 1개에 대하여 실리콘 원자에 결합한 수소원자가 1.0개 미만인 경우 양호한 경화성을 얻지 못하게 되는 문제점이 있을 수 있으며, 2.0개를 초과하는 경우 경화 후의 탄성이나 물리적 성질이 저하되는 문제점이 있을 수 있으며, 또한 잔류 하이드로전기와 점착제층의 반응에 의해 경시 박리력 변화가 커지는 문제가 발생된다. 바람직하게는 상기 알케닐폴리실록산 100중량부에 대하여 상기 하이드로전폴리실록산 2.5 ~ 5.0 중량부를 포함한다. 한편, 본 발명에 따른 실리콘 이형 조성물에서는 알케닐폴리실록산에 비하여 하이드로전폴리실록산의 양이 많으면 가교가 많이 진행되어 유연성이 감소하여 막의 균열이 생성되어 평활성이 감소한다.
본 발명에 따른 상기 실리콘 이형코팅 조성물 중 박리력 조절제는 오르가노 폴리실록산 수지로서 다음의 화학식 3과 같으며, D, T, Q의 단위가 직쇄상, 또는 환상으로 반복된 구조를 갖는 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 상기 오르가노폴리실록산 수지의 반복 수치는 특별히 제한은 없으나 일반적인 코팅 설비에서 가공하기 위해서는 톨루엔에 고형분30% 수준으로 희석하여 점도가 15000 cp이하가 되는 크기가 바람직하다. 또한 바람직하게는 상기 박리력 조절제상의 치환기 R은 메틸, 비닐, 헥세닐, 페닐, 하이드록실 중 어느 하나 또는 둘 이상이 동시에 포함되는 것이 바람직하다.
[화학식 3]
Figure 112009080886126-pat00004
R=Methyl, Vinyl, Hexenyl, phenyl, hydorxyl
본 발명에 따른 중박리 실리콘 이형필름은 편광판의 점착층과의 들뜸 현상이 발생되지 않는 특성이 요구된다. 이를 만족하기 위해서 상기 박리력 조절제에 하이드록실기가 포함되어 점착층의 카르복실기, 하이드록실기 등과 상호 작용하여 밀착력을 향상시켜 주는 것이 바람직하다.
본 발명에 따른 중박리 실리콘 이형필름은 시간 경과에 따른 이형필름의 경박리화가 방지되어야 한다. 이를 만족하기 위해서 상기 박리력 조절제에 알케닐기가 포함되는 것이 바람직하며, 경화제인 하이드로전폴리실록산과 반응하여 실리콘 도포층의 가교 밀도를 향상시켜, 도포층 내에서 시간 경과에 따른 박리력 조절제의 침강을 방지하여 경박리화를 방지하는 역할을 한다.
본 발명에 따른 상기 실리콘 이형코팅 조성물 중 박리력 조절제는 바람직하게는 상기 알케닐폴리실록산 100중량부에 대하여 상기 박리력 조절제 5 ~ 20 중량부를 포함한다. 박리력 조절제 함량이 5 중량부 미만이면 점착층과의 충분한 밀착력이 나타나지 않으며, 20 중량부를 초과할 경우에는 중박리화가 일어나 점착층과의 박리 불량이 발생될 수 있다.
본 발명에 따른 상기 박리력 조절제는 하이드록실기/알케닐기의 비가 0.1 ~ 0.5 인 것이 바람직하다. 상기 하이드록실기/알케닐기의 비가 0.1 미만인 경우 점착층과의 충분한 밀착력이 나타지지 않으며, 상기 비가 0.5를 초과 할 경우에는 점착층의 카르복실기, 하이드록실기와 과반응이 일어나 박리 불량이 발생될 수 있다.
또한 본 발명에 따른 실리콘 이형 조성물의 구성 중 실란 커플링제는 기재와 도막의 가교 역할로 나타내는 물질로써 내용제 특성을 발현시켜주는 중요한 역할을 한다. 커플링제의 구성요소로서 에폭시 실란계, 아미노 실란계, 비닐 실란계, 메타크릴옥시 실란계, 이소시아네이트 실란계이면 어떤 것이나 사용할 수 있으며, 1종 내지 2종 이상 혼합하여 사용 가능하다. 바람직하게는 상기 알케닐폴리실록산 100중량부에 대하여 상기 실란 커플링제 0.5 ~ 3.0 중량부를 포함한다.
또한 본 발명에 따른 상기 실리콘 이형 조성물은 전체 코팅 조성물 중량에 대해 0.5 ~ 3 중량%의 고형분이 포함되도록 희석한 후 상기 폴리에스테르 필름에 코팅한다. 상기 코팅 조성물에 사용되는 용매는 본 발명의 고형분을 분산시켜 폴리에스테르 필름상에 도포시킬 수 있는 것이면 종류의 제한은 없다. 상기 편광판 부재용 실리콘 이형 조성물의 고형분 함량이 0.5 중량% 미만일 경우 균일한 실리콘 코팅층이 형성되지 않아 점착층과 합지된 후 박리시 뜯김 현상 등의 문제점이 발생될 수 있으며, 3 중량% 를 초과할 경우 필름간의 블로킹 현상이 발생되며, 제품 외관 손상 및 경시 박리력 변화를 유발할 수 있기 때문이다.
이하, 본 발명의 실시예 및 비교예를 사용하여 본 발명을 상세히 설명한다.
[실시예]
[실시예 1]
폴리에스테르 필름의 일면에 알케닐폴리실록산 100 중량부에 대하여 하이드로전폴리실록산 2.6 중량부, 박리력 조절제(-OH/-Vi = 0.3) 5중량부, 실란 커플링제 1.0중량부 및 백금 킬레이트 촉매 500ppm을 톨루엔/MEK 1:1 용매에 희석하여 전체 고형분 함량이 2 중량 %인 실리콘 이형 조성물을 제조하여 10 미크론 두께로 도포하였다. 도포 후 180 ℃ 열풍 건조기에서 20초간 열처리하여 중박리 실리콘 이형필름을 제조하였다.
[실시예 2]
하이드로전폴리실록산을 알케닐폴리실록산 100중량부 대비2.7 중량부, 박리력 조절제(-OH/-Vi = 0.3) 10중량부로 첨가하는 것을 제외하고는, 상기 실시예 1과 동일한 방법으로 수행하여 중박리 실리콘 이형필름을 제조하였다.
[실시예 3]
박리력 조절제(-OH/-Vi = 0.1) 10중량부를 첨가하는 것을 제외하고는, 상기 실시예 2와 동일한 방법으로 수행하여 중박리 실리콘 이형필름을 제조하였다.
[실시예 4]
박리력 조절제(-OH/-Vi = 0.5) 10중량부를 첨가하는 것을 제외하고는, 상기 실시예 2와 동일한 방법으로 수행하여 중박리 실리콘 이형필름을 제조하였다.
[실시예 5]
하이드로전폴리실록산을 알케닐폴리실록산 100중량부 대비2.9 중량부, 박리력 조절제(-OH/-Vi = 0.3) 20중량부로 첨가하는 것을 제외하고는, 상기 실시예 1과 동일한 방법으로 수행하여 중박리 실리콘 이형필름을 제조하였다.
[비교예]
[비교예 1]
하이드로전폴리실록산을 알케닐폴리실록산 100중량부 대비2.5 중량부, 박리력 조절제를 첨가하지 않는 것을 제외하고는, 상기 실시예 1과 동일한 방법으로 수행하여 중박리 실리콘 이형필름을 제조하였다.
[비교예 2]
하이드로전폴리실록산을 알케닐폴리실록산 100중량부 대비3.1 중량부, 박리력 조절제(-OH/-Vi = 0.3) 30중량부로 첨가하는 것을 제외하고는, 상기 실시예 1과 동일한 방법으로 수행하여 중박리 실리콘 이형필름을 제조하였다.
[비교예 3]
박리력 조절제(-OH/-Vi = 1) 10중량부로 첨가하는 것을 제외하고는, 상기 실시예 2와 동일한 방법으로 수행하여 중박리 실리콘 이형필름을 제조하였다.
다음으로 상기 실시예 1~5및 비교예 1~3에서 제조된 필름에 대한 물성 평가를 하기와 같은 방법으로 실시하여 그 결과를 표 1에 나타내었다.
[실험예]
[실험예 1: Si 이행량 측정]
<분석 시료 준비>
① 실리콘 코팅된 측정용 샘플을5cm X 5cm사이즈로 준비한다.
② 바닥면이 5cm X 5cm 이상인 bottle에 MIBK(methylisobutyl ketone)용제 40㎖를 준비한다.
③ "②"의 bottle에 "①"시료를 용제에 잠기게 한 후 30분간 방치한다.
④ "②"의 bottle에서 시료를 제거하고, 측정용 MIBK를 얻는다.
<분석 조건 및 방법>
X-RAY 형광분석기(Panalytical社: 모델명 minipal4)를 사용하여 시료(MIBK) 20㎖를13kv, 300㎂, 캡톤필터 적용으로 120초간 분석하여 검출되는Si 함량(cps, count/sec)을 기록한다.
[실험예 2: 박리력 측정]
- 시료 준비
① 실리콘 코팅된 측정용 샘플을 미숙성 시료(A)와 25℃, 50%RH 에서 14일 보관 시료(B)를 준비한다.
② 실리콘 코팅 면에 표준 점착테이프(Nitto 502, 폭 2in.)를 붙인 후 이 샘플을 상온(25℃) 조건에서 20g/cm2의 하중으로 1일 압착 후 물성 측정
- 측정 기기: chem-instrument AR-1000
- 측정 방법:
① 180°박리각도, 박리속도 12 in/분
② 샘플 크기 500mm x 1500mm, 박리력 측정크기 250㎜ x 1500mm
- 측정 데이터: 박리력 단위는g/in 이며 측정값은 5회 측정하여 평균값 산출
[표 1]
구분 Si 이행량
(cps)		 박리력 (gf/in.) 변화율
(B/A)
미숙성 이형필름(A) 14일 숙성 이형필름(B)
실시예 1 0.07 5.2 4.9 0.94
실시예 2 0.06 10.8 8.8 0.81
실시예 3 0.03 9.2 7.5 0.82
실시예 4 0.08 13.0 12.1 0.92
실시예 5 0.06 23.2 20.3 0.88
비교예 1 0.29 2.9 2.1 0.72
비교예 2 0.05 38.7 34.2 0.88
비교예 3 0.21 29.3 8.5 0.29
상기 표 1에서 확인할 수 있는 바와 같이, 본 발명에 따른 실시예 1~5는 적절한 박리력과 우수한 경시 박리 안정성 및 실리콘 전사율이 적은 특성을 함께 보유함을 확인할 수 있다. 그러나 박리력 조절제를 포함하지 않은 비교예 1의 경우 점착층 합지 후 점착층과의 밀착력이 충분히 발현되지 않아 적절한 박리력에 도달되지 않아 점착층과의 들뜸현상이 발생할 우려가 있다. 또한, 경화밀도가 충분하지 않아 실리콘 전사량이 증가됨을 확인 할 수 있으며, 박리력 조절제가 과량 첨가된 비교예 2와 박리력 조절제의 하이드록실기가 과량 포함된 비교예 3의 경우 박리력이 너무 높아 점착층과 합지 후 이형필름이 잘 박리되지 않음을 확인할 수 있다.
본 명세서에서는 본 발명자들이 수행한 다양한 실시예 가운데 몇 개의 예만을 들어 설명하는 것이나 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정하거나 제한되지 않고, 당업자에 의해 변형되어 다양하게 실시될 수 있음은 물론이다.

Claims (8)

  1. 중박리 실리콘 이형필름에 있어서,
    폴리에스테르 필름과, 상기 폴리에스테르 필름의 적어도 일면에 실리콘 이형 조성물로 적어도 1회 도포된 도포층을 포함하는 중박리 실리콘 이형필름으로서,
    하기 식 1과 식 2를 동시에 만족하되,
    0.8≤ La ≤ 1.2 (식 1)
    4 ≤ Rf ≤ 25 (식 2)
    여기서, "La"는 상기 실리콘 이형 조성물이 도포된 후 14일 숙성된 이형필름의 박리력 값과 상기 실리콘 이형 조성물이 도포된 후 미숙성된 이형필름의 박리력 값의 비이고, "Rf"는 상기 실리콘 이형 도포층에 대한 박리력 값(gf/in.)이고,
    상기 실리콘 이형 조성물은 알케닐폴리실록산 100 중량부, 하이드로전폴리실록산 2.5~5.0 중량부, 박리력 조절제 5~20 중량부 및 실란 커플링제 0.5~3.0 중량부를 포함하되, 상기 박리력 조절제는 하이드록실기/알케닐기의 비 0.1 ~ 0.5를 포함하는 오르가노 폴리실록산 수지인 것을 특징으로 하는, 중박리 실리콘 이형필름.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 중박리 실리콘 이형필름은 하기 식 3을 더 만족하되,
    0 ≤ Ex ≤ 0.1 (식 3)
    여기서, "Ex"는 상기 실리콘 이형 도포층에서 추출되는 Si 이행량(cps)인 것을 특징으로 하는, 중박리 실리콘 이형필름.
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 실리콘 이형 조성물은 0.5 ~ 3 중량%의 고형분을 함유하는 것을 특징으로 하는, 중박리 실리콘 이형필름.
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