KR101108436B1 - 음영판독식 스캐닝방법 - Google Patents
음영판독식 스캐닝방법 Download PDFInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 41
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 37
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 8
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 abstract description 6
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 14
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000004606 Fillers/Extenders Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
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-
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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Abstract
Description
도 2는 도 1에 도시한 슬릿형 마스크의 일예를 나타낸 도면;
도 3은 광학 영상 형성 처리계의 일예를 나타낸 도면;
도 4는 스캐닝 유닛을 구성하는 주요 구성요소간의 관계를 나타낸 블록도;
도 5는 스캐닝 유닛을 이루는 주요 구성들간의 연결관계를 나타낸 개략도;
도 6은 본 발명 스캐닝 장치를 이용 스캐닝작업이 행하여지는 과정을 설명하기 위한 도면;
도 7은 본 발명 스캐닝 장치를 이용 스캐닝하는 방법의 일실시예를 나타낸 도면;
도 8은 본 발명 스캐닝 장치를 이용 스캐닝하는 방법의 다른 실시일예를 나타낸 도면;
도 9는 본 발명 스캐닝 장치를 이용 스캐닝하는 방법의 일실시예를 나타낸 순서도;
도 10은 본 발명 스캐닝 장치를 이용 스캐닝하는 방법의 일실시예를 나타낸 순서도;
도 11은 본 발명 스캐닝 장치를 이용 평판형상의 대상물에 형상의이상 여부를 감지하는 방법을 설명하기 위한 도면; 및
도 12는 본 발명 스캐닝 장치를 이용 스캐닝 시 대상물의 이상여부를 알려주는 주요 구성간의 관계를 나타낸 블록도;
도 13은 데이터 입력부 및 데이터 저장부가 구비된 스캐닝 장치를 나타낸 블록도이다.
104: 빔 스플리터 200: 스캐닝 장치
206: 대물 렌즈 207: 대상물
300: 원통형 수광 렌즈 310: 슬릿형 마스크
311: 슬릿 320: 광학 영상 처리계
411: 제1이송유닛 422: 제2이송유닛
433: 제3이송유닛 770: 신호부
Claims (5)
- 원통형으로 이루어지며 그 길이방향이 Y축방향과 평행하며 빛이 조사되는 방향이 Z축방향을 이루는 대물렌즈와, 대상물이 스캐닝 시 확보된 영상데이터에 있어서 음영을 판독하는 음영테이터판독유닛과 광로길이보정을 위하여 X축방향으로 선형으로 움직이는 제3스캐닝 스테이지 및 역반사기를 포함하여 이루어진 스캐닝 유닛을 이용 스캐닝하는 방법에 있어서,
Z축에 있어서 상기 대상물의 최저 위치를 파악하는 단계;
Z축에 있어서 상기 대상물의 최고 위치를 파악하는 단계;
Z축에 있어서 상기 파악된 최저위치와 최고위치 사이의 거리를 파악하는 단계;
Z축상 임의의 지점에 상기 대물렌즈를 고정하고, Y축 및 Z축에 모두 수직한 방향(X축방향)을 따라 상기 대물렌즈를 이동시키면서 스캐닝하는 단계; 및
상기 제3스캐닝 스테이지 및 역반사기를 이용 광로 길이 보정을 하는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 음영 판독식 스캐닝 방법. - 삭제
- 삭제
- 삭제
- 제1항에 있어서,
Z축의 음영 값을 통하여 대상물의 형상을 파악하는 단계;
상기 대물렌즈의 최저위치 및 최고위치간의 거리와 상기 파악된 음영 값을 비교,검토하는 단계; 및
Z축에 따른 음영 값의 변화를 교정하는 단계;
를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 음영 판독식 스캐닝 방법.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090005831 | 2009-01-23 | ||
KR20090005831 | 2009-01-23 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20100086942A KR20100086942A (ko) | 2010-08-02 |
KR101108436B1 true KR101108436B1 (ko) | 2012-01-31 |
Family
ID=42753878
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020100004452A KR101108436B1 (ko) | 2009-01-23 | 2010-01-18 | 음영판독식 스캐닝방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101108436B1 (ko) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07167793A (ja) * | 1993-12-16 | 1995-07-04 | Hitachi Ltd | 位相差半導体検査装置および半導体装置の製造方法 |
KR19990039496A (ko) * | 1997-11-13 | 1999-06-05 | 윤종용 | 셔틀방식 스캐너의 화상편차 보정방법 및 그 장치 |
KR20060083730A (ko) * | 2005-01-18 | 2006-07-21 | 삼성전자주식회사 | 전자사진 화상형성장치 및 방법 |
KR20060134590A (ko) * | 2005-06-23 | 2006-12-28 | 삼성전자주식회사 | 조절수단을 포함하는 스캐닝 장치 |
-
2010
- 2010-01-18 KR KR1020100004452A patent/KR101108436B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR20060134590A (ko) * | 2005-06-23 | 2006-12-28 | 삼성전자주식회사 | 조절수단을 포함하는 스캐닝 장치 |
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KR20100086942A (ko) | 2010-08-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20100118 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
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E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
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|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20120116 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20120117 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150116 Year of fee payment: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20150116 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160216 Year of fee payment: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20160216 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170116 Year of fee payment: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20170116 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180116 Year of fee payment: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20180116 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190219 Year of fee payment: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20190219 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20200206 Year of fee payment: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20200206 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
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