KR101108436B1 - 음영판독식 스캐닝방법 - Google Patents
음영판독식 스캐닝방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101108436B1 KR101108436B1 KR1020100004452A KR20100004452A KR101108436B1 KR 101108436 B1 KR101108436 B1 KR 101108436B1 KR 1020100004452 A KR1020100004452 A KR 1020100004452A KR 20100004452 A KR20100004452 A KR 20100004452A KR 101108436 B1 KR101108436 B1 KR 101108436B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- scanning
- axis
- objective lens
- light
- axis direction
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K5/00—Casings, cabinets or drawers for electric apparatus
- H05K5/0091—Housing specially adapted for small components
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K5/00—Casings, cabinets or drawers for electric apparatus
- H05K5/02—Details
- H05K5/0217—Mechanical details of casings
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
Description
도 2는 도 1에 도시한 슬릿형 마스크의 일예를 나타낸 도면;
도 3은 광학 영상 형성 처리계의 일예를 나타낸 도면;
도 4는 스캐닝 유닛을 구성하는 주요 구성요소간의 관계를 나타낸 블록도;
도 5는 스캐닝 유닛을 이루는 주요 구성들간의 연결관계를 나타낸 개략도;
도 6은 본 발명 스캐닝 장치를 이용 스캐닝작업이 행하여지는 과정을 설명하기 위한 도면;
도 7은 본 발명 스캐닝 장치를 이용 스캐닝하는 방법의 일실시예를 나타낸 도면;
도 8은 본 발명 스캐닝 장치를 이용 스캐닝하는 방법의 다른 실시일예를 나타낸 도면;
도 9는 본 발명 스캐닝 장치를 이용 스캐닝하는 방법의 일실시예를 나타낸 순서도;
도 10은 본 발명 스캐닝 장치를 이용 스캐닝하는 방법의 일실시예를 나타낸 순서도;
도 11은 본 발명 스캐닝 장치를 이용 평판형상의 대상물에 형상의이상 여부를 감지하는 방법을 설명하기 위한 도면; 및
도 12는 본 발명 스캐닝 장치를 이용 스캐닝 시 대상물의 이상여부를 알려주는 주요 구성간의 관계를 나타낸 블록도;
도 13은 데이터 입력부 및 데이터 저장부가 구비된 스캐닝 장치를 나타낸 블록도이다.
104: 빔 스플리터 200: 스캐닝 장치
206: 대물 렌즈 207: 대상물
300: 원통형 수광 렌즈 310: 슬릿형 마스크
311: 슬릿 320: 광학 영상 처리계
411: 제1이송유닛 422: 제2이송유닛
433: 제3이송유닛 770: 신호부
Claims (5)
- 원통형으로 이루어지며 그 길이방향이 Y축방향과 평행하며 빛이 조사되는 방향이 Z축방향을 이루는 대물렌즈와, 대상물이 스캐닝 시 확보된 영상데이터에 있어서 음영을 판독하는 음영테이터판독유닛과 광로길이보정을 위하여 X축방향으로 선형으로 움직이는 제3스캐닝 스테이지 및 역반사기를 포함하여 이루어진 스캐닝 유닛을 이용 스캐닝하는 방법에 있어서,
Z축에 있어서 상기 대상물의 최저 위치를 파악하는 단계;
Z축에 있어서 상기 대상물의 최고 위치를 파악하는 단계;
Z축에 있어서 상기 파악된 최저위치와 최고위치 사이의 거리를 파악하는 단계;
Z축상 임의의 지점에 상기 대물렌즈를 고정하고, Y축 및 Z축에 모두 수직한 방향(X축방향)을 따라 상기 대물렌즈를 이동시키면서 스캐닝하는 단계; 및
상기 제3스캐닝 스테이지 및 역반사기를 이용 광로 길이 보정을 하는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 음영 판독식 스캐닝 방법. - 삭제
- 삭제
- 삭제
- 제1항에 있어서,
Z축의 음영 값을 통하여 대상물의 형상을 파악하는 단계;
상기 대물렌즈의 최저위치 및 최고위치간의 거리와 상기 파악된 음영 값을 비교,검토하는 단계; 및
Z축에 따른 음영 값의 변화를 교정하는 단계;
를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 음영 판독식 스캐닝 방법.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090005831 | 2009-01-23 | ||
KR20090005831 | 2009-01-23 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20100086942A KR20100086942A (ko) | 2010-08-02 |
KR101108436B1 true KR101108436B1 (ko) | 2012-01-31 |
Family
ID=42753878
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020100004452A KR101108436B1 (ko) | 2009-01-23 | 2010-01-18 | 음영판독식 스캐닝방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101108436B1 (ko) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07167793A (ja) * | 1993-12-16 | 1995-07-04 | Hitachi Ltd | 位相差半導体検査装置および半導体装置の製造方法 |
KR19990039496A (ko) * | 1997-11-13 | 1999-06-05 | 윤종용 | 셔틀방식 스캐너의 화상편차 보정방법 및 그 장치 |
KR20060083730A (ko) * | 2005-01-18 | 2006-07-21 | 삼성전자주식회사 | 전자사진 화상형성장치 및 방법 |
KR20060134590A (ko) * | 2005-06-23 | 2006-12-28 | 삼성전자주식회사 | 조절수단을 포함하는 스캐닝 장치 |
-
2010
- 2010-01-18 KR KR1020100004452A patent/KR101108436B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07167793A (ja) * | 1993-12-16 | 1995-07-04 | Hitachi Ltd | 位相差半導体検査装置および半導体装置の製造方法 |
KR19990039496A (ko) * | 1997-11-13 | 1999-06-05 | 윤종용 | 셔틀방식 스캐너의 화상편차 보정방법 및 그 장치 |
KR20060083730A (ko) * | 2005-01-18 | 2006-07-21 | 삼성전자주식회사 | 전자사진 화상형성장치 및 방법 |
KR20060134590A (ko) * | 2005-06-23 | 2006-12-28 | 삼성전자주식회사 | 조절수단을 포함하는 스캐닝 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20100086942A (ko) | 2010-08-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102438824B1 (ko) | 3차원 반도체 구조체들의 검사를 위한 결함 발견 및 레시피 최적화 | |
KR102525814B1 (ko) | 반도체 웨이퍼 검사용 3차원 이미징 | |
KR102235580B1 (ko) | 반도체 웨이퍼 검사를 위한 결함 마킹 | |
KR102367236B1 (ko) | 레이저 암시야 시스템에서 반점을 억제하는 방법 및 장치 | |
JP3323537B2 (ja) | 微細構造評価装置及び微細構造評価法 | |
US9816940B2 (en) | Wafer inspection with focus volumetric method | |
JP5171744B2 (ja) | 欠陥検査方法およびその装置 | |
TWI402498B (zh) | 影像形成方法及影像形成裝置 | |
CN108680544A (zh) | 一种结构化照明的光切片荧光显微成像方法和装置 | |
US20180293724A1 (en) | Inspection method and inspection apparatus | |
US20130329039A1 (en) | Defect inspection method and device thereof | |
JPH06294750A (ja) | 光学式基板検査装置 | |
KR20120099481A (ko) | 결함 검사 방법 및 그 장치 | |
WO2010024067A1 (ja) | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | |
WO2012029222A1 (ja) | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | |
KR101445463B1 (ko) | 결함 검사 방법 및 그 장치 | |
EP2831657A2 (en) | Improved confocal microscopy methods and devices | |
KR100913508B1 (ko) | 공초점을 이용한 3차원 스캐닝 장치 및 스캐닝 방법 | |
US8681343B2 (en) | Three dimensional inspection and metrology based on short pulses of light | |
KR101108436B1 (ko) | 음영판독식 스캐닝방법 | |
WO2022145391A1 (ja) | 走査型共焦点顕微鏡および走査型共焦点顕微鏡の調整方法 | |
TW202311732A (zh) | 製造半導體裝置的方法 | |
JP2010085165A (ja) | 表面検査装置および表面検査方法 | |
JP3897203B2 (ja) | ボールグリッドアレイのボール高さ計測方法 | |
JPH07208917A (ja) | 自動焦点合わせ方法及び装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150116 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160216 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170116 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180116 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190219 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20200206 Year of fee payment: 9 |