KR101092008B1 - Test wheel for testing electrical property of multi layer ceramic capacitor and the manufacturing method thereof - Google Patents

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Abstract

본 발명의 목적은 적층박막 세라믹 캐패시터의 테스트 능률을 향상시킬 수 있고, 정밀도를 유지하면서 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 용이하게 테스트할 수 있고, 정전기의 발생을 방지할 수 있을 뿐만 아니라, 적층박막 세라믹 캐패시터의 품질 균일성을 유지할 수 있음과 동시에, 정전기 방지제를 혼합한 폴리옥시메틸렌 수지 용융물을 사출성형에 의해 대량생산할 수 있고, 제조 코스트를 절감할 수 있다는 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠을 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to improve the test efficiency of a laminated thin film ceramic capacitor, to easily test the electrical characteristics of the laminated thin film ceramic capacitor while maintaining precision, and to prevent the generation of static electricity, as well as to the laminated thin film. To test the electrical properties of laminated thin film ceramic capacitors that can maintain the quality uniformity of ceramic capacitors, and can mass-produce polyoxymethylene resin melts mixed with antistatic agents by injection molding and reduce manufacturing costs. To provide a test wheel.

적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠 Test wheels for testing the electrical properties of thin film ceramic capacitors

Description

적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠 및 그 제조방법{TEST WHEEL FOR TESTING ELECTRICAL PROPERTY OF MULTI LAYER CERAMIC CAPACITOR AND THE MANUFACTURING METHOD THEREOF} TEST WHEEL FOR TESTING ELECTRICAL PROPERTY OF MULTI LAYER CERAMIC CAPACITOR AND THE MANUFACTURING METHOD THEREOF}

본 발명은 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 특히 적층박막 세라믹 캐패시터의 테스트 능률을 향상시킬 수 있고, 정밀도를 유지하면서 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 용이하게 테스트할 수 있고, 정전기의 발생을 방지할 수 있을 뿐만 아니라, 적층박막 세라믹 캐패시터의 품질 균일성을 유지할 수 있음과 동시에, 정전기 방지제를 혼합한 폴리옥시메틸렌 수지 용융물을 사출성형에 의해 대량생산할 수 있고, 제조 코스트를 절감할 수 있는 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠 및 그 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test wheel for testing the electrical properties of a multilayer thin film ceramic capacitor and a method of manufacturing the same. In particular, the test efficiency of the multilayer thin film ceramic capacitor can be improved, and the electrical properties of the multilayer thin film ceramic capacitor can be maintained while maintaining precision. Not only can it be easily tested, it is possible to prevent the generation of static electricity, and it is possible to maintain the uniformity of the quality of the laminated thin film ceramic capacitor, and to mass produce polyoxymethylene resin melt mixed with the antistatic agent by injection molding. The present invention relates to a test wheel for testing electrical characteristics of a multilayer thin film ceramic capacitor capable of reducing manufacturing costs and a method of manufacturing the same.

종래로부터 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠은 그 크기에 비하여 두께가 너무 얇아서 사출성형에 의해 제조하였을 경우 테스트 휠이 뒤틀려서 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 정밀하게 테스트할 수 없다는 문제점이 있었을 뿐만 아니라, 적층박막 세라믹 캐패시터의 테스트 능률을 향상시킬 수 없다는 문제점이 있었으며, 또한 품질 균일성을 유지할 수 없다는 문제점이 있었다.Conventionally, the test wheel for testing the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor is too thin for its size, so when the test wheel is manufactured by injection molding, the test wheel is warped so that the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor cannot be accurately tested. Not only was there a problem, there was a problem that the test efficiency of the laminated thin film ceramic capacitor could not be improved, and there was also a problem that quality uniformity could not be maintained.

그런데, 이러한 문제점을 해결하기 위하여 최근에는 컴퓨터 수치제어(CNC)절삭기를 이용한 절삭가공으로 에폭시(FR4)기판을 커팅하여 서로 일정간격을 두고 제1 내지 제4 원호선 상에 각각 100개씩의 제1 내지 제4 흡입/배출구를 각각 커팅하고, 상기 제1 내지 제4 흡입/배출구의 직경방향으로 오목홈을 형성하여 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠을 제작함에 따라 그 제조비용을 절감할 수 없을 뿐만 아니라, 제1 내지 제4 원호선 상에 각각 100개씩의 제1 내지 제4 흡입/배출구를 일정간격을 두고 형성할 수 없어 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성 및 정전기 발생으로 인하여 정밀하게 테스트할 수 없다는 등의 여러 가지 문제점이 있었다. However, in order to solve this problem, recently, epoxy (FR4) substrates are cut by a cutting process using a computer numerical control (CNC) cutter, and each of the first 100 pieces on the first to fourth circular arcs is spaced at a predetermined interval from each other. Cutting the fourth suction / discharge port, respectively, and forming a concave groove in the radial direction of the first to fourth suction / discharge port to produce a test wheel for testing the electrical characteristics of the laminated thin film ceramic capacitor, In addition, the first to fourth suction / exhaust ports can not be formed at a predetermined interval on the first to fourth circular arcs. There were various problems, such as the inability to test.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 이루어진 것으로서, 본 발명의 목적은 적층박막 세라믹 캐패시터의 테스트 능률을 향상시킬 수 있는 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠 및 그 제조방법을 제공하는데 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the problems of the prior art as described above, an object of the present invention is to test the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor to improve the test efficiency of the thin film ceramic capacitor and It is to provide a method of manufacturing the same.

본 발명의 다른 목적은 정밀도를 유지하면서 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 정밀하게 테스트할 수 있는 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠 및 그 제조방법을 제공하는데 있다.It is another object of the present invention to provide a test wheel for testing the electrical properties of a multilayer thin film ceramic capacitor capable of precisely testing the electrical properties of the multilayer thin film ceramic capacitor while maintaining precision and a method of manufacturing the same.

본 발명의 또 다른 목적은 정전기의 발생을 방지할 수 있는 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠 및 그 제조방법을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a test wheel and a method of manufacturing the same for testing electrical characteristics of a multilayer thin film ceramic capacitor capable of preventing generation of static electricity.

본 발명의 또 다른 목적은 품질 균일성을 유지할 수 있는 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠 및 그 제조방법을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a test wheel and a method of manufacturing the same for testing electrical characteristics of a multilayer thin film ceramic capacitor capable of maintaining quality uniformity.

본 발명의 또 다른 목적은 정전기 방지제를 혼합한 폴리옥시메틸렌 용융물을 사출성형에 의해 대량생산할 수 있는 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠 및 그 제조방법을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a test wheel for testing the electrical properties of a laminated thin film ceramic capacitor capable of mass-producing a polyoxymethylene melt mixed with an antistatic agent by injection molding, and a manufacturing method thereof.

본 발명의 또 다른 목적은 제조 코스트를 절감할 수 있는 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠 및 그 제조방법을 제공하는데 있다.Still another object of the present invention is to provide a test wheel and a method of manufacturing the same for testing electrical characteristics of a multilayer thin film ceramic capacitor capable of reducing a manufacturing cost.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠은 두께가 0.48±0.03mm 내지 2.92±0.03mm이고, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하는 테스트장치의 원형지그가 삽입되도록 중앙에 형성된 중앙 관통공과, 상기 테스트장치의 위치고정용 제1 핀이 삽입되도록 상기 중앙 관통공의 중심을 통과하는 직경선(R1)으로부터 하부로 0.619°떨어진 지점과 상기 중앙 관통공의 중심점을 통과하는 185.9±0.05mm 직경의 원호선(P)과의 교차점을 중심으로 직경이 12.7+0.03mm인 제1 기준홀과, 테스트장치의 위치고정용 제2 핀이 삽입되도록 상기 제1 기준홀의 대향측에 상기 제1 기준홀의 중심점을 지나는 직경선(R1)으로부터 15.104°하부로 떨어져서 상기 원호선(P) 상에 형성되는 직경이 9.52+0.03mm인 제2 기준홀과, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공의 중심점을 통과하는 240.24±0.1mm 직경의 제1 원호선(P1) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제1 흡입/배출구와, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공의 중심점을 통과하는 252.94±0.1mm 직경의 제2 원호선(P2) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제2 흡입/배출구와, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공의 중심점을 통과하는 265.64±0.1mm 직경의 제3 원호선(P3) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제3 흡입/배출구와, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공의 중심점을 통과하는 278.34±0.1mm 직경의 제4 원호선(P4) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제4 흡입/배출구로 구성되어 있는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the test wheel for testing the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor of the present invention has a thickness of 0.48 ± 0.03mm to 2.92 ± 0.03mm, and is a prototype of a test apparatus for testing the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor. A center through hole formed at the center to insert the jig, and a point 0.60.6 ° downward from the diameter line R1 passing through the center of the center through hole to insert the first pin for fixing the position of the test apparatus. The first reference hole having a diameter of 12.7 + 0.03mm and a second pin for fixing the position of the test apparatus are inserted at the intersection with the circular arc P having a diameter of 185.9 ± 0.05mm passing through the center point of the test apparatus. A second group having a diameter of 9.52 + 0.03mm formed on the arc P, being 15.104 ° below the diameter line R1 passing through the center point of the first reference hole on the opposite side of the reference hole; In order to test the electrical characteristics of the hole and the laminated thin film ceramic capacitor, the laminated thin film ceramic capacitor is sucked, and the electrical thin film ceramic capacitor is tested for the electrical property of the sucked thin film ceramic capacitor. Test the electrical characteristics of the 100 first suction and discharge ports formed on the first circular arc P1 of 240.24 ± 0.1mm diameter passing through the center point of the center through hole and the laminated thin film ceramic capacitor 252.94 ± 0.1 passing through the center point of the center through hole to suck the laminated thin film ceramic capacitor and test the electrical characteristics of the sucked laminated thin film ceramic capacitor, and then discharge the laminated thin film ceramic capacitor 100 pieces each formed at a spacing of 3.6 ° on the second circular arc P2 having a diameter of mm 2 In order to test the electrical properties of the suction and discharge ports and the laminated thin film ceramic capacitors, the thin film ceramic capacitors are sucked, and the electrical properties of the sucked laminated thin film ceramic capacitors are tested. 100 third suction / exit ports respectively formed at intervals of 3.6 ° on the third circular arc P3 having a diameter of 265.64 ± 0.1mm passing through the center point of the central through hole, and the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor In order to test the characteristics, the laminated thin film ceramic capacitors are sucked and the electrical properties of the sucked laminated thin film ceramic capacitors are tested, and the laminated thin film ceramic capacitors are passed through the center point of the center through hole to classify and discharge the genuine thin film ceramic capacitors. Formed on the fourth circular arc P4 having a diameter of 278.34 ± 0.1mm at intervals of 3.6 °, respectively. It is characterized by consisting of 100 fourth suction / discharge ports.

또한, 본 발명의 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠의 제조방법은 적층박막 세라믹 캐패시터의 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠의 반제품을 고정금형과 가동금형 사이에 형성된 원형 성형공간 내에 폴리옥시메틸렌 수지 용융물을 주입하여 테스트 휠의 반제품을 성형하는 테스트 휠 반제품 성형공정과, 사출성형기에 설치된 고정금형으로부터 가동금형이 떨어질 때 상기 테스트 휠 반제품 성형공정에서 성형된 테스트 휠의 반제품을 취출하는 테스트 휠 반제품 취출공정과, 상기 테스트 휠 반제품 취출공정에서 취출된 테스트 휠의 반제품의 평탄도를 유지하도록 15℃ 내지 25℃의 온도에서 1kg/cm2 내지 5kg/cm2의 압력을 가하면서 1분 내지 15분간 냉각하는 냉각공정과, 상기 냉각공정에서 냉각된 테스트 휠의 반제품의 외측 원형 스트립 영역을 제거하기 위하여 CNC절삭기에 의해 외측 원호선(P6)을 따라 절삭/제거함과 동시에, 중앙 관통공을 형성하기 위하여 내측 원호선(P5)을 따라 내측 원형 스트립 영역을 CNC절삭기에 의해 절삭/제거하는 절삭/제거공정과, 상기 절삭/제거공정에서 외측 원형 스트립 영역 및 내측 원형 스트립 영역을 절삭/제거한 후에 테스트장치의 위치고정용 제1 핀이 삽입되도록 상기 중앙 관통공의 중심을 통과하는 직경선(R1)으로부터 하부로 0.619° 떨어진 지점과 상기 중앙 관통공의 중심점을 통과하는 185.9±0.05mm 직경의 원호선(P)과의 교차점을 중심으로 직경이 12.7+0.03mm인 제1 기준홀을 형성함과 동시에, 상기 테스트장치의 위치고정용 제2 핀이 삽입되도록 상기 제1 기준홀의 대향측에 상기 제1 기준홀의 중심점을 지나는 직경선(R1)으로부터 15.104°하부로 떨어져서 상기 원호선(P) 상에 형성되는 직경이 9.52+0.03mm인 제2 기준홀을 형성하는 제1 및 제2 기준홀 형성공정과, 상기 제1 및 제2 기준홀 형성공정에서 상기 제1 및 제2 기준홀을 형성하여 제조된 적층박막 세라믹 캐패시터의 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠의 완제품의 칫수 및 평탄도를 검사하는 검사공정을 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the manufacturing method of the test wheel for testing the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor of the present invention is a semi-finished product of the test wheel for testing the properties of the laminated thin film ceramic capacitor in a circular molding space formed between the fixed mold and the movable mold Test wheel semi-finished product molding process for molding semi-finished product of test wheel by injecting melt of oxymethylene resin, and test to take out semi-finished product of test wheel molded in semi-finished test wheel molding process when movable mold falls from fixed mold installed in injection molding machine wheel semi-finished product taken out while applying a step of the test wheel semi-finished product take-out process 1kg at a test temperature of 15 ℃ to 25 ℃ to maintain the flatness of the wheel semi-finished product taken out of the / cm 2 to a pressure of 5kg / cm 2 to 1 minute A cooling step of cooling for 15 minutes and a return of the test wheel cooled in the cooling step The inner circular strip region along the inner circular arc P5 is formed on the CNC cutter to form a center through hole while simultaneously cutting / removing along the outer circular arc P6 by the CNC cutting machine to remove the outer circular strip region of the The cutting / removing process of cutting / removing by cutting, and cutting and removing the outer circular strip region and the inner circular strip region in the cutting / removing process so that the first pin for fixing the position of the test apparatus is inserted. A first diameter of 12.7 + 0.03mm, centered at the intersection of the arc line P having a diameter of 195.9 ± 0.05mm passing through the center point of the central through hole and 0.619 ° downward from the diameter line R1 passing through 15.1 from the diameter line R1 passing through the center point of the first reference hole on the opposite side of the first reference hole so as to form the reference hole and insert the second pin for fixing the position of the test apparatus. First and second reference hole forming steps of forming a second reference hole having a diameter of 9.52 + 0.03mm, which is formed on the arc P, by falling down by 04 °; and forming the first and second reference holes. It characterized in that it comprises a test step of checking the dimensions and flatness of the finished product of the test wheel for testing the properties of the laminated thin film ceramic capacitors formed by forming the first and second reference holes.

본 발명의 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠 및 그 제조방법에 의하면, 적층박막 세라믹 캐패시터의 테스트 능률을 향상시킬 수 있고, 정밀도를 유지하면서 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 용이하게 테스트할 수 있고, 정전기의 발생을 방지할 수 있을 뿐만 아니라, 적층박막 세라믹 캐패시터의 품질 균일성을 유지할 수 있음과 동시에, 다량생산으로 인한 제조 코스트를 절감할 수 있다는 효과가 있다.According to the test wheel for testing the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor and the manufacturing method thereof, the test efficiency of the laminated thin film ceramic capacitor can be improved, and the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor can be easily maintained while maintaining the precision. In addition to being able to test and prevent the generation of static electricity, it is possible to maintain the quality uniformity of the laminated thin-film ceramic capacitor and to reduce the manufacturing cost due to mass production.

본 발명의 바람직한 실시예에 따른 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠에 관하여 첨부 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.A test wheel for testing electrical characteristics of a multilayer thin film ceramic capacitor according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠을 개략적으로 도시한 전면도이고, 도 2는 도 1의 배면도이고, 도 3은 도 2에서 직경선을 따라 취한 단면도이고, 도 4는 도 2에서 "A"부분의 종단면도이고, 도 5는 도 4의 평면도이고, 도 6은 도 5에서 화살표 A-A선을 따라 취한 단면도이다.1 is a front view schematically showing a test wheel for testing electrical characteristics of a multilayer thin film ceramic capacitor according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a rear view of FIG. 1, and FIG. 3 is a diameter in FIG. 2. 4 is a longitudinal cross-sectional view taken along the line “A” in FIG. 2, FIG. 5 is a plan view of FIG. 4, and FIG. 6 is a cross-sectional view taken along arrow AA in FIG. 5.

도 1 내지 도 6에 도시한 바와 같이 본 발명의 일실시예에 따른 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠(100)은 두께가 0.48 ±0.03mm 내지 2.92±0.03mm이고, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하는 테스트장치(도시하지 않음)의 원형지그가 삽입되도록 중앙에 형성된 중앙 관통공(10)과, 상기 테스트장치의 위치고정용 제1 핀(도시하지 않음)이 삽입되도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심을 통과하는 직경선(R1)으로부터 하부로 0.619°떨어진 지점과 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 185.9±0.05mm 직경의 원호선(P)과의 교차점을 중심으로 직경이 12.7+0.03mm인 제1 기준홀(12)과, 상기 테스트장치의 위치고정용 제2 핀(도시하지 않음)이 삽입되도록 상기 제1 기준홀(12)의 대향측에 상기 제1 기준홀(12)의 중심점을 지나는 직경선(R1)으로부터 15.104°하부로 떨어져서 상기 원호선(P) 상에 형성되는 직경이 9.52+0.03mm인 제2 기준홀(14)과, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 240.24±0.1mm 직경의 제1 원호선(P1) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제1 흡입/배출구(16)와, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 252.94±0.1mm 직경의 제2 원호선(P2) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제2 흡입/배출구(18)와, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 265.64±0.1mm 직경의 제3 원호선(P3) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제3 흡입/배출구(20)와, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 278.34±0.1mm 직경의 제4 원호선(P4) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제4 흡입/배출구(22)로 구성되어 있다. 1 to 6, the test wheel 100 for testing the electrical characteristics of the multilayer thin film ceramic capacitor according to an embodiment of the present invention has a thickness of 0.48 ± 0.03mm to 2.92 ± 0.03mm, laminated thin film A central through hole 10 formed at the center of the circular jig of the test apparatus (not shown) for testing the electrical characteristics of the ceramic capacitor is inserted, and a first pin (not shown) for fixing the position of the test apparatus. Between an arc point P of 185.9 ± 0.05mm diameter passing the center point of the center through hole 10 and a point 0.619 ° downward from the diameter line R1 passing through the center of the center through hole 10. On the opposite side of the first reference hole 12 so that the first reference hole 12 having a diameter of 12.7 + 0.03mm and the second pin for fixing the position of the test apparatus (not shown) are inserted around the intersection point. Directly passing through the center point of the first reference hole 12 Laminated thin-film ceramics for testing the electrical characteristics of the second reference hole 14 having a diameter of 9.52 + 0.03mm formed on the arc P, and a thin-film ceramic capacitor, which are formed at a distance of 15.104 ° from the hard wire R1. 240.24 ± 0.1mm diameter passing through the center point of the center through hole 10 to suck out the capacitor and test the electrical characteristics of the sucked laminated thin ceramic capacitor, and then discharge the laminated thin ceramic capacitor into genuine and defective parts. 100 first suction / exhaust ports 16 formed on the first circular arc P1 at intervals of 3.6 °, and the laminated thin film ceramic capacitors were sucked to test the electrical characteristics of the laminated thin film ceramic capacitors. After testing the electrical characteristics of the sucked laminated thin film ceramic capacitor, the central tube to discharge the laminated thin film capacitor 100 second suction / exhaust holes 18 formed on the second circular arc P2 having a diameter of 252.94 ± 0.1mm passing through the center point of the ball 10 at intervals of 3.6 °, and the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor. At the same time as the suction of the laminated thin film ceramic capacitor to test the characteristics, and after testing the electrical characteristics of the sucked laminated thin film ceramic capacitor, the center point of the central through-hole 10 to classify and discharge the laminated thin film ceramic capacitor genuine / defective parts 100 third suction / exhaust ports 20 formed at 3.6 ° intervals on a third circular arc P3 having a diameter of 265.64 ± 0.1mm passing through the stack, and laminated to test electrical characteristics of the laminated thin film ceramic capacitor. The thin film ceramic capacitor is sucked and the electrical properties of the sucked laminated thin film ceramic capacitor are tested. It consists of 100 fourth suction / discharge ports 22 formed at intervals of 3.6 ° on the fourth circular arc P4 having a diameter of 278.34 ± 0.1mm passing through the center point of the central through hole 10. .

상기 제1 내지 제4 흡입/배출구(16,18,20.22)에는 도 3 및 도 4에 도시한 바와 같이 그 배면측에 테스트장치에서 흡입하는 흡입력에 의해 상기 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입하도록 길이가 3.0mm인 제1 내지 제4 흡입/배출홈(16a,18a,20a.22a)이 각각 형성되어 있고, 상기 제1 내지 제4 흡입/배출구(16,18,20.22)의 각 코너부에는 상기 적층박막 세라믹 캐패시터를 용이하게 흡입하도록 각각 라운드되어 있다. The first to fourth suction / discharge ports 16, 18, 20.22 have a length of 3.0 to suck the laminated thin ceramic capacitor by suction force sucked by the test apparatus on the rear side thereof, as shown in FIGS. 3 and 4. The first to fourth suction / discharge grooves 16a, 18a, 20a. 22a, which are mm, are formed, respectively, and the laminated thin film is formed at each corner of the first to fourth suction / discharge holes 16, 18, 20.22. Each is rounded to facilitate suction of the ceramic capacitor.

또한, 상기 제1 내지 제4 흡입/배출구(16,18,20.22)의 일측 입구부는 도 4 및 도 5에 도시한 바와 같이 상기 적층박막 세라믹 캐패시터를 용이하게 흡입하도록 30°의 각도로 커팅된 제1 내지 제4 커팅부(16b,18b,20b,22b)가 형성되어 있다.In addition, one side inlet portion of the first to fourth suction / discharge ports 16, 18, and 20.22 is cut at an angle of 30 ° to easily suck the laminated thin ceramic capacitor, as shown in FIGS. 4 and 5. First to fourth cutting portions 16b, 18b, 20b, and 22b are formed.

상기 제1 내지 제4 흡입/배출구(16,18,20.22)는 테스트 휠(100)의 두께가 0.48±0.03mm일 경우에 그 가로×세로 길이가 각각 0.4±0.05mm × 0.4±0.05mm이고, 테스트 휠(100)의 두께가 각각 0.86±0.03mm일 경우에 그 가로×세로 길이가 각각 0.65±0.05mm × 0.65±0.05mm이고, 테스트 휠(100)의 두께가 1.36±0.03mm일 경우에 그 가로×세로 길이가 각각 1.06±0.05mm × 1.06±0.05mm이고, 테스트 휠(100)의 두께가 2.92±0.03mm일 경우에 그 가로×세로 길이가 각각 1.8±0.05mm × 1.95±0.05mm이다.The first to fourth suction / exhaust ports 16, 18, 20.22 are 0.4 ± 0.05mm × 0.4 ± 0.05mm in length and width when the test wheel 100 has a thickness of 0.48 ± 0.03mm, respectively. When the thickness of the test wheel 100 is 0.86 ± 0.03mm, the width × length is 0.65 ± 0.05mm × 0.65 ± 0.05mm, respectively, and when the thickness of the test wheel 100 is 1.36 ± 0.03mm When the width x length is 1.06 ± 0.05 mm x 1.06 ± 0.05 mm, respectively, and the thickness of the test wheel 100 is 2.92 ± 0.03 mm, the width x length is 1.8 ± 0.05 mm x 1.95 ± 0.05 mm, respectively.

상기 중앙 관통공(10)은 그 직경이 167.73+0.2mm인 것이 바람직하다.The central through hole 10 preferably has a diameter of 167.73 + 0.2mm.

다음에, 상기와 같이 이루어진 본 발명의 일실시예에 따른 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠의 제조방법에 대하여 설명한다.Next, a method of manufacturing a test wheel for testing the electrical characteristics of the laminated thin film ceramic capacitor according to the embodiment of the present invention made as described above will be described.

도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성 을 테스트하기 위한 테스트 휠의 반제품을 개략적으로 도시한 전면도이고, 도 8은 도 7의 배면도이다.FIG. 7 is a front view schematically showing a semi-finished product of a test wheel for testing electrical characteristics of a multilayer thin film ceramic capacitor according to an embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a rear view of FIG.

먼저 도 7 및 도 8에 도시한 바와 같이 본 발명의 일실시예에 따른 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠(100)은 고정금형과 가동금형 사이에 형성된 원형 성형공간 내에 폴리옥시메틸렌(POM ; Poly Oxy Methylene) 수지 용융물을 주입하여 테스트 휠의 반제품(110)을 성형하고(테스트 휠 반제품 성형공정), 도시하지 않은 사출성형기에 설치된 고정금형으로부터 가동금형이 떨어질 때 상기 테스트 휠 반제품 성형공정에서 성형된 테스트 휠(100)의 반제품(110)을 취출하고(테스트 휠 반제품 취출공정), 상기 테스트 휠 반제품 취출공정에서 취출된 테스트 휠의 평탄도를 유지하도록 상온(15 내지 25℃의 온도)에서 2 내지 5kg/cm2의 압력을 가하면서 1 내지 15분간 냉각한다(냉각공정). First, as shown in FIGS. 7 and 8, the test wheel 100 for testing the electrical characteristics of the multilayer thin film ceramic capacitor according to an embodiment of the present invention may be formed of polyoxy within a circular molding space formed between a stationary mold and a movable mold. Injection of methylene (POM; Poly Oxy Methylene) resin to inject the semi-finished product 110 of the test wheel (test wheel semi-finished molding process), and the test wheel semi-finished product when the movable mold falls from the stationary mold installed in the injection molding machine (not shown) Take out the semi-finished product 110 of the test wheel 100 formed in the molding process (test wheel semi-finished product extraction process), and maintain the flatness of the test wheel taken out in the test wheel semi-finished product extraction process at room temperature (15-25 ℃ At a temperature of 2 to 5 kg / cm 2 and cooling for 1 to 15 minutes (cooling step).

상기 냉각공정에서 냉각된 테스트 휠의 반제품(110)의 외측 원형 스트립 영역(28)을 제거하기 위하여 CNC절삭기(컴퓨터 수치제어 절삭기 ; Computer Numerical Control 절삭기)에 의해 외측 원호선(P6)을 따라 절삭/제거함과 동시에, 중앙 관통공(10)을 형성하기 위하여 내측 원호선(P5)을 따라 내측 원형 스트립 영역(24)을 CNC절삭기에 의해 절삭/제거하고(절삭/제거공정), 상기 절삭/제거공정에서 외측 원형 스트립 영역(28) 및 내측 원형 스트립 영역(24)을 절삭/제거한 후에 상기 테스트장치의 위치고정용 제1 핀(도시하지 않음)이 삽입되도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심을 통과하는 직경선(R1)으로부터 하부로 0.619°떨어진 지점과 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 185.9±0.05mm 직경의 원호선(P)과의 교차점을 중심으로 직경이 12.7±0.03mm인 제1 기준홀(12)을 형성함과 동시에, 상기 테스트장치의 위치고정용 제2 핀(도시하지 않음)이 삽입되도록 상기 제1 기준홀(12)의 대향측에 상기 제1 기준홀(12)의 중심점을 지나는 직경선(R1)으로부터 15.104°하부로 떨어져서 상기 원호선(P) 상에 형성되는 직경이 9.52±0.03mm인 제2 기준홀(14)을 형성하고(제1 및 제2 기준홀 형성공정), 상기 제1 및 제2 기준홀 형성공정에서 상기 제1 및 제2 기준홀(12,14)을 형성하여 제조된 본 발명에 따른 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠의 완제품의 칫수 및 평탄도를 검사한다(검사공정).Cutting along the outer arc P6 by a CNC cutting machine (Computer Numerical Control Cutting Machine) to remove the outer circular strip area 28 of the semifinished product 110 of the test wheel cooled in the cooling process. Simultaneously with removal, the inner circular strip region 24 is cut / removed by a CNC cutting machine along the inner arc P5 to form the center through hole 10 (cutting / removing step), and the cutting / removing step After cutting / removing the outer circular strip region 28 and the inner circular strip region 24 through the center of the central through hole 10 so that the first pin (not shown) for fixing the position of the test apparatus is inserted. A diameter of 12.7 ± 0.03mm around the intersection point of the arc line P of 185.9 ± 0.05mm diameter passing through the center point of the central through hole 10 and the point 0.619 ° downward from the diameter line R1 Forming the first reference hole 12 At the same time, from the diameter line R1 passing through the center point of the first reference hole 12 on the opposite side of the first reference hole 12 so that the second pin (not shown) for fixing the position of the test apparatus is inserted. The second reference hole 14 having a diameter of 9.52 ± 0.03 mm formed on the circular arc P is formed to fall below 15.104 ° (first and second reference hole forming steps), and the first and second Inspecting the dimensions and flatness of the finished product of the test wheel for testing the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor according to the present invention manufactured by forming the first and second reference holes (12,14) in the reference hole forming process (Inspection process).

본 발명에 따른 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠의 완제품의 검사공정은 3차원 측정기(Sheffield사에서 제조한 모델명 ; Discovery2)에 의해서 상기 제1 및 제2 기준홀(12,14)의 직경, 중앙 관통공(10)의 직경, 제1 내지 제4 원호선(P1 내지 P4)의 길이, 제1 내지 제4 흡입/배출구(16,18,20,22)의 직경, 제1 내지 제4 흡입/배출홈(16a,18a,20a.22a)의 칫수, 제1 내지 제4 커팅부(16b,18b,20b,22b)의 칫수, 직경 및 두께를 측정하고, 석정반(금성계측기에서 제조, 모델명;600 × 450)에 의해서 평탄도를 검사한다.Inspection process of the finished product of the test wheel for testing the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor according to the present invention is the first and second reference holes (12, 14) by a three-dimensional measuring machine (model name manufactured by Sheffield; Discovery 2) ), The diameter of the central through hole 10, the length of the first to fourth circular arcs (P1 to P4), the diameter of the first to fourth suction / discharge ports (16, 18, 20, 22), the first Measure the dimensions, diameters and thicknesses of the first to fourth cutting portions 16b, 18b, 20b, and 22b, the dimensions of the fourth to fourth suction / exhaust grooves 16a, 18a, and 20a.22a. The flatness is checked by the manufacturer, model name; 600 x 450).

상기 테스트 휠의 반제품(110)은 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 240.24±0.1mm 직경의 제1 원호선(P1) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제1 흡입/배출구(16)와, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 각각 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 252.94±0.1mm 직경의 제2 원호선(P2) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제2 흡입/배출구(18)와, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 265.64±0.1mm 직경의 제3 원호선(P3) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제3 흡입/배출구(20)와, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 278.34±0.1mm 직경의 제4 원호선(P4) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제4 흡입/배출구(22)와, 내측 원호선(P5)과 상기 중앙 관통공(10)의 직경(167.73±0.2mm) 사이에 다수의 직사각형 형상의 오목홈(24a)이 형성되고 상기 오목홈(24a) 사이에 용융수지가 주입되는 주입부(24b)가 형성된 내측 원형 스트립 영역(24)과, 상기 내측 원호선(P5)으로부터 제1 원호선(P1)까지의 폭이 평탄하게 형성된 중앙 원형 스트립 영역(26)과, 상기 중앙 관통공(10)의 중심점으로부터 289.72+0.2mm의 외측 원호선(P6) 외측에 형성되며 일정간격을 두고 직사각형 형상의 관통구(28a)가 형성되며 상기 관통구(28a) 사이에 용융수지가 배출되는 배출부(28b)가 형성된 외측 원형 스트립 영역(28)으로 구성되어 있다. In order to test the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor, the semi-finished product 110 of the test wheel sucks the laminated thin film ceramic capacitor and at the same time tests the electrical properties of the sucked laminated thin film ceramic capacitor. 100 first suction / discharge ports 16 formed at intervals of 3.6 ° on the first circular arc P1 having a diameter of 240.24 ± 0.1mm passing through the center point of the central through hole 10 so as to classify and discharge the defective products. ), And in order to test the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitors, the laminated thin film ceramic capacitors are sucked, and the electrical properties of the sucked laminated thin film ceramic capacitors are tested, and then the laminated thin film ceramic capacitors are classified and discharged, respectively. 3.6 on the second circular arc P2 having a diameter of 252.94 ± 0.1mm passing through the center point of the central through hole 10 so as to In order to test the electrical properties of the 100 second suction / exhaust holes 18 and the laminated thin film ceramic capacitors, which are formed at intervals of, respectively, the multilayer thin film ceramic capacitors are sucked and the electrical properties of the sucked laminated thin film ceramic capacitors are tested. After that, the thin film ceramic capacitors are formed at intervals of 3.6 ° on the third circular arc P3 having a diameter of 265.64 ± 0.1mm passing through the center point of the central through hole 10 so as to classify and discharge the genuine thin film ceramic capacitors. In order to test the electrical properties of the 100 third suction / exhaust ports 20 and the laminated thin film ceramic capacitors, the laminated thin film ceramic capacitors were sucked at the same time as the electrical properties of the sucked laminated thin film ceramic capacitors were tested. 278.34 ± 0.1mm diameter passing through the center point of the central through hole 10 to classify and discharge the genuine / defective product 100 fourth suction / discharge ports 22 formed on the fourth circular arc P4 at intervals of 3.6 °, the inner circular arc P5 and the diameter of the central through hole 10 (167.73 ± 0.2 mm) Inner circular strip region 24 having a plurality of rectangular concave grooves 24a formed therebetween and an injection portion 24b through which molten resin is injected between the concave grooves 24a, and the inner circular arc line ( A central circular strip region 26 having a flat width from P5 to the first circular arc P1 and an outer circular arc P6 outside of the center point of the central through hole 10 of 289.72 + 0.2 mm. And a rectangular through hole 28a formed at a predetermined interval, and is formed of an outer circular strip region 28 having a discharge part 28b through which the molten resin is discharged between the through holes 28a.

상기 폴리옥시메틸렌 수지는 적층박막 세라믹 캐패시터의 특성을 정밀하게 측정할 수 있도록 용융전에 폴리옥시메틸렌 수지 1000kg당 3gr의 정전기 방지제(맥스 케미칼사에서 제조한 등급 as100 ; 대전 방지제라고도 한다)를 혼합한 것을 사용함으로서, 사용 중에 본 발명에 따른 적층박막 세라믹 캐패시터의 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠(100)에서 정전기의 발생을 방지할 수 있다.The polyoxymethylene resin is a mixture of 3gr of antistatic agent (grade as100 manufactured by Max Chemical; also known as antistatic agent) per 1000kg of polyoxymethylene resin before melting so that the characteristics of the laminated thin film ceramic capacitor can be accurately measured. By using, it is possible to prevent the generation of static electricity in the test wheel 100 for testing the properties of the laminated thin film ceramic capacitor according to the invention during use.

다음에, 상기와 같이 이루어진 본 발명의 일실시예에 따른 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠의 작용에 대하여 설명한다.Next, the operation of the test wheel for testing the electrical characteristics of the laminated thin film ceramic capacitor according to an embodiment of the present invention made as described above will be described.

먼저, 본 발명의 일실시예에 따른 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠(100)에 형성된 중앙 관통공(10) 내에 도시하지 않은 테스트장치의 원형지그를 삽입하면서 제1 및 제2 기준홀(12,14)을 상기 테스트장치의 위치고정용 제1 핀(도시하지 않음) 및 제2 핀(도시하지 않음)에 각각 삽입한다.First, the circular jig of the test apparatus (not shown) is inserted into the central through hole 10 formed in the test wheel 100 for testing electrical characteristics of the multilayer thin film ceramic capacitor according to an embodiment of the present invention. 2 Insert the reference holes 12 and 14 into the first pin (not shown) and the second pin (not shown) for fixing the position of the test apparatus.

그런데, 본 발명은 제1 원호선(P1) 상에 3.6°의 간격을 두고 100개의 제1 흡입/배출구(16)이 각각 형성되어 있고, 제2 원호선(P2) 상에 3.6°의 간격을 두고 100개의 제2 흡입/배출구(18)이 각각 형성되어 있고, 제3 원호선(P3) 상에 3.6°의 간격을 두고 100개의 제3 흡입/배출구(20)이 각각 형성되어 있고, 제4 원호선(P4) 상에 3.6°의 간격을 두고 100개의 제4 흡입/배출구(22)가 각각 형성되어 있을 뿐만 아니라, 상기 제1 내지 제4 흡입/배출구(16,18,20.22)의 배면측에 제1 내지 제4 흡입/배출홈(16a,18a,20a.22a)이 각각 형성되어 있고, 상기 제1 내지 제4 흡입/배출구(16,18,20.22)의 각 코너부에는 상기 적층박막 세라믹 캐패시터를 용이하게 흡입하도록 라운드되어 있음과 동시에, 또한, 상기 제1 내지 제4 흡입/배출구(16,18,20.22)의 일측 입구부는 도 4 및 도 5에 도시한 바와 같이 상기 적층박막 세라믹 캐패시터를 용이하게 흡입하도록 30°의 각도로 커팅된 제1 내지 제4 커팅부(16b,18b,20b,22b)가 형성되어 있으므로, 도시하지 않은 테스트장치에서 진공흡입하면 제1 내지 제4 흡입/배출구(22) 내에 적층박막 세라믹 캐패시터가 흡입되어 상기 적층박막 세라믹 캐패시터의 특성을 용이하고 신속하게 테스트할 수 있고, 테스트 후에 도시하지 않은 테스트장치에서 공기를 블로잉하면 상기 제1 내지 제4 흡입/배출홈(16a,18a,20a.22a) 및 상기 제1 내지 제4 흡입/배출구(16,18,20.22)를 통해서 블로잉 공기가 각각 배출되어 상기 적층박막 세라믹 캐패시터의 정품 및 불량품을 분리하여 각각 수집할 수 있다. However, in the present invention, 100 first suction / exhaust ports 16 are formed at intervals of 3.6 ° on the first circular arc P1, respectively, and 3.6 ° on the second circular arc P2. 100 second suction / discharge ports 18 are formed respectively, and 100 third suction / discharge ports 20 are respectively formed at intervals of 3.6 ° on the third circular arc P3. Not only 100 fourth suction / discharge ports 22 are formed on the arc P4 at intervals of 3.6 °, but also the rear sides of the first to fourth suction / discharge ports 16, 18, and 20.22. First to fourth suction / discharge grooves 16a, 18a, and 20a.22a are respectively formed in the corners of the first to fourth suction / discharge holes 16,18,20.22, respectively. At the same time, the inlet portion of the first to fourth suction / discharge ports 16, 18, 20.22 is rounded to facilitate suction of the capacitor, and the lamination as shown in FIGS. 4 and 5. Since the first to fourth cutting parts 16b, 18b, 20b, and 22b cut at an angle of 30 ° are formed to easily suck the thin film ceramic capacitor, the vacuum is sucked in a test apparatus (not shown) to form the first to fourth cuts. The laminated thin film ceramic capacitor is sucked into the suction / exhaust port 22 so that the characteristics of the laminated thin film ceramic capacitor can be easily and quickly tested, and when the air is blown in a test apparatus (not shown) after the test, the first to fourth suctions are discharged. Blowing air is discharged through the discharge grooves 16a, 18a, 20a and 22a and the first to fourth suction / discharge ports 16, 18 and 20.22, respectively, to separate genuine and defective parts of the laminated thin film ceramic capacitor, respectively. Can be collected.

따라서, 본 발명은 적층박막 세라믹 캐패시터의 테스트 능률을 향상시킬 수 있고, 정밀도를 유지하면서 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 용이하게 테스트할 수 있고, 정전기의 발생을 방지할 수 있을 뿐만 아니라, 적층박막 세라믹 캐패시터의 품질 균일성을 유지할 수 있음과 동시에, 정전기 방지제를 혼합한 폴리옥시메틸렌 수지 용융물을 사출성형에 의해 대량생산할 수 있고, 제조 코스트를 절감할 수 있다.Therefore, the present invention can improve the test efficiency of the laminated thin film ceramic capacitor, can easily test the electrical characteristics of the laminated thin film ceramic capacitor while maintaining the precision, and can prevent the generation of static electricity, as well as the laminated thin film The quality uniformity of the ceramic capacitor can be maintained, and the polyoxymethylene resin melt mixed with the antistatic agent can be mass-produced by injection molding, and the manufacturing cost can be reduced.

상기 설명에 있어서, 특정 실시예를 들어서 도시하고 설명하였으나, 본 발명 은 이에 한정되는 것은 아니며, 예를 들면 본 발명의 개념을 이탈하지 않는 범위내에서 이 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 여러가지로 설계 변경할 수 있음은 물론이다.In the above description, the specific embodiments have been shown and described, but the present invention is not limited thereto, for example, by those skilled in the art without departing from the concept of the present invention. Of course, the design can be changed in many ways.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠을 개략적으로 도시한 전면도이다.1 is a front view schematically showing a test wheel for testing electrical characteristics of a multilayer thin film ceramic capacitor according to an embodiment of the present invention.

도 2는 도 1의 배면도이다.2 is a rear view of FIG. 1.

도 3은 도 2에서 직경선을 따라 취한 단면도이다. 3 is a cross-sectional view taken along the diameter line in FIG. 2.

도 4는 도 2에서 "A"부분의 종단면도이다. 4 is a longitudinal cross-sectional view of the portion "A" in FIG.

도 5는 도 4의 평면도이다.5 is a plan view of FIG. 4.

도 6은 도 5에서 화살표 A-A선을 따라 취한 단면도이다. 6 is a cross-sectional view taken along the arrow A-A in FIG.

도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠의 반제품을 개략적으로 도시한 전면도이다.FIG. 7 is a schematic front view of a semifinished product of a test wheel for testing electrical characteristics of a multilayer thin film ceramic capacitor according to an embodiment of the present invention.

도 8은 도 7의 배면도이다.8 is a rear view of FIG. 7.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *Description of the Related Art [0002]

10:중앙 관통공 12:제1 기준홀10: center through hole 12: first reference hole

14:제2 기준홀 16:제1 흡입/배출구14: 2nd reference hole 16: 1st suction / exhaust port

16a:제1 흡입/배출홈 16b:제1 커팅부16a: first suction / discharge groove 16b: first cutting portion

18:제2 흡입/배출구 18a:제2 흡입/배출홈 18: Second suction / discharge outlet 18a: Second suction / discharge groove

18b:제2 커팅부 20:제3 흡입/배출구18b: 2nd cutting part 20: 3rd suction / outlet

20a:제3 흡입/배출홈 20b:제3 커팅부20a: 3rd suction / discharge groove 20b: 3rd cutting part

22:제4 흡입/배출구 22a:제4 흡입/배출홈 22: 4th suction / outlet 22a: 4th suction / outlet groove

22b:제4 커팅부 24:내측 원형 스트립 영역22b: fourth cutout 24: inner circular strip region

24a:오목홈 24b:주입부24a: recessed groove 24b: injection part

26:중앙 원형 스트립 영역 28:외측 원형 스트립 영역26: center circular strip area 28: outer circular strip area

28a:관통구 28b:배출부28a: through hole 28b: discharge section

100:테스트 휠 110:테스트 휠의 반제품100: Test wheel 110: Semifinished product of the test wheel

Claims (7)

두께가 0.48±0.03mm 내지 2.92±0.03mm이고, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하는 테스트장치의 원형지그가 삽입되도록 중앙에 형성된 중앙 관통공(10)과, A center through hole 10 having a thickness of 0.48 ± 0.03mm to 2.92 ± 0.03mm and formed at the center thereof so as to insert a circular jig of a test apparatus for testing electrical characteristics of the laminated thin film ceramic capacitor; 테스트장치의 위치고정용 제1 핀이 삽입되도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심을 통과하는 직경선(R1)으로부터 하부로 0.619°떨어진 지점과 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 185.9±0.05mm 직경의 원호선(P)과의 교차점을 중심으로 직경이 12.7+0.03mm인 제1 기준홀(12)과, 185.9 passing through the point 0.619 ° downward from the diameter line R1 passing through the center of the center through hole 10 so that the first pin for fixing the position of the test device is inserted and the center point of the center through hole 10. A first reference hole 12 having a diameter of 12.7 + 0.03mm around the intersection point with the circular arc P having a diameter of ± 0.05mm, 테스트장치의 위치고정용 제2 핀이 삽입되도록 상기 제1 기준홀(12)의 대향측에 상기 제1 기준홀(12)의 중심점을 지나는 직경선(R1)으로부터 15.104°하부로 떨어져서 상기 원호선(P) 상에 형성되는 직경이 9.52+0.03mm인 제2 기준홀(14)과, The arc line is separated by 15.104 ° from the diameter line R1 passing through the center point of the first reference hole 12 on the opposite side of the first reference hole 12 so that the second pin for fixing the position of the test apparatus is inserted. A second reference hole 14 having a diameter of 9.52 + 0.03mm formed on (P), 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 240.24±0.1mm 직경의 제1 원호선(P1) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제1 흡입/배출구(16)와, In order to test the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor, the multilayer thin film ceramic capacitor is sucked and the electrical properties of the sucked laminated thin film ceramic capacitor are tested. 100 first suction / discharge ports 16 formed at intervals of 3.6 ° on the first circular arc P1 having a diameter of 240.24 ± 0.1mm passing through the center point of the ball 10, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 252.94±0.1mm 직경의 제2 원호선(P2) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제2 흡입/배출구(18)와,In order to test the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor, the multilayer thin film ceramic capacitor is sucked and the electrical properties of the sucked laminated thin film ceramic capacitor are tested. 100 second suction / exhaust holes 18 formed at intervals of 3.6 ° on the second circular arc P2 having a diameter of 252.94 ± 0.1mm passing through the center point of the ball 10, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 265.64±0.1mm 직경의 제3 원호선(P3) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제3 흡입/배출구(20)와, In order to test the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor, the multilayer thin film ceramic capacitor is sucked and the electrical properties of the sucked laminated thin film ceramic capacitor are tested. 100 third suction / exhaust ports 20 formed at intervals of 3.6 ° on the third circular arc P3 having a diameter of 265.64 ± 0.1mm passing through the center point of the ball 10, 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 적층박막 세라믹 캐패시터를 흡입함과 동시에, 흡입된 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트한 후에 적층박막 세라믹 캐패시터를 정품/불량품을 분류해서 배출하도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 278.34±0.1mm 직경의 제4 원호선(P4) 상에 3.6°의 간격을 두고 각각 형성된 100개의 제4 흡입/배출구(22)로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠.In order to test the electrical properties of the laminated thin film ceramic capacitor, the multilayer thin film ceramic capacitor is sucked and the electrical properties of the sucked laminated thin film ceramic capacitor are tested. Characterized in that it is composed of 100 fourth suction / discharge ports 22 formed at intervals of 3.6 ° on the fourth circular arc P4 having a diameter of 278.34 ± 0.1mm passing through the center point of the ball 10. Test wheels for testing the electrical properties of thin film ceramic capacitors. 삭제delete 제1항에 있어서, 상기 제1 내지 제4 흡입/배출구(16,18,20.22)는 그 일측 입구부가 상기 적층박막 세라믹 캐패시터를 용이하게 흡입하도록 30°의 각도로 커팅된 제1 내지 제4 커팅부(16b,18b,20b,22b)가 각각 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠.According to claim 1, wherein the first to fourth suction / discharge port (16, 18, 20.22) is the first to fourth cutting is cut at an angle of 30 ° so that one side inlet portion easily sucks the laminated thin ceramic capacitor A test wheel for testing the electrical characteristics of a multilayer thin film ceramic capacitor, characterized in that the portions (16b, 18b, 20b, 22b) are formed, respectively. 삭제delete 적층박막 세라믹 캐패시터의 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠의 반제품(110)을 고정금형과 가동금형 사이에 형성된 원형 성형공간 내에 폴리옥시메틸렌 수지 용융물을 주입하여 테스트 휠의 반제품을 성형하는 테스트 휠 반제품 성형공정과, Test wheel semi-finished product forming process for molding semi-finished product of test wheel by injecting polyoxymethylene resin melt into circular molding space formed between fixed mold and movable mold for semi-finished product 110 of test wheel for testing the characteristics of laminated thin film ceramic capacitor and, 사출성형기에 설치된 고정금형으로부터 가동금형이 떨어질 때 상기 테스트 휠 반제품 성형공정에서 성형된 테스트 휠의 반제품을 취출하는 테스트 휠 반제품 취출공정과, A test wheel semifinished product taking-out process of taking out a semifinished product of a test wheel formed in the test wheel semifinished product forming process when the movable mold is dropped from the stationary mold installed in the injection molding machine; 상기 테스트 휠 반제품 취출공정에서 취출된 테스트 휠의 반제품의 평탄도를 유지하도록 15℃ 내지 25℃의 온도에서 1kg/cm2 내지 5kg/cm2의 압력을 가하면서 1분 내지 15분간 냉각하는 냉각공정과, Cooling process of cooling for 1 minute to 15 minutes while applying a pressure of 1kg / cm 2 to 5kg / cm 2 at a temperature of 15 ℃ to 25 ℃ to maintain the flatness of the semi-finished product of the test wheel taken out of the test wheel semi-finished product and, 상기 냉각공정에서 냉각된 테스트 휠의 반제품의 외측 원형 스트립 영역(28)을 제거하기 위하여 CNC절삭기에 의해 외측 원호선(P6)을 따라 절삭/제거함과 동시에, 중앙 관통공(10)을 형성하기 위하여 내측 원호선(P5)을 따라 내측 원형 스트립 영역(24)을 CNC절삭기에 의해 절삭/제거하는 절삭/제거공정과, In order to remove the outer circular strip region 28 of the semi-finished product of the test wheel cooled in the cooling process, cutting / removing along the outer circular line P6 by a CNC cutting machine and simultaneously forming the central through hole 10. A cutting / removing process of cutting / removing the inner circular strip region 24 along the inner circular arc P5 by a CNC cutting machine, 상기 절삭/제거공정에서 외측 원형 스트립 영역(28) 및 내측 원형 스트립 영역(24)을 절삭/제거한 후에 테스트장치의 위치고정용 제1 핀이 삽입되도록 상기 중앙 관통공(10)의 중심을 통과하는 직경선(R1)으로부터 하부로 0.619° 떨어진 지점과 상기 중앙 관통공(10)의 중심점을 통과하는 185.9±0.05mm 직경의 원호선(P)과의 교차점을 중심으로 직경이 12.7+0.03mm인 제1 기준홀(12)을 형성함과 동시에, 상기 테스트장치의 위치고정용 제2 핀이 삽입되도록 상기 제1 기준홀(12)의 대향측에 상기 제1 기준홀(12)의 중심점을 지나는 직경선(R1)으로부터 15.104°하부로 떨어져서 상기 원호선(P) 상에 형성되는 직경이 9.52+0.03mm인 제2 기준홀(14)을 형성하는 제1 및 제2 기준홀 형성공정과, After cutting / removing the outer circular strip region 28 and the inner circular strip region 24 in the cutting / removing process, passing through the center of the central through hole 10 to insert the first pin for fixing the position of the test apparatus. A diameter of 12.7 + 0.03mm around the intersection of the arc line P having a diameter of 185.9 ± 0.05mm passing through the center point of the central through hole 10 and 0.619 ° downward from the diameter line R1. A diameter passing through the center point of the first reference hole 12 on the opposite side of the first reference hole 12 so that the first reference hole 12 is formed and the second pin for fixing the position of the test apparatus is inserted. First and second reference hole forming steps of forming a second reference hole 14 having a diameter of 9.52 + 0.03mm formed on the arc P, being 15.104 ° lower from the line R1; 상기 제1 및 제2 기준홀 형성공정에서 상기 제1 및 제2 기준홀(12,14)을 형성하여 제조된 적층박막 세라믹 캐패시터의 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠의 완제품의 칫수 및 평탄도를 검사하는 검사공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 적층박막 세라믹 캐패시터의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 휠의 제조방법.Inspecting the dimensions and flatness of the finished product of the test wheel for testing the characteristics of the laminated thin film ceramic capacitors manufactured by forming the first and second reference holes 12 and 14 in the first and second reference hole forming processes Method of manufacturing a test wheel for testing the electrical properties of a laminated thin film ceramic capacitor, characterized in that it comprises an inspection process. 삭제delete 삭제delete
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