KR101056105B1 - Classification device of electronic component inspector - Google Patents

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Abstract

본 발명은 전자부품 검사기의 분류장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 회전하는 유리판 위에 다수 개의 공급부에 의해 다수 개의 궤도로 전자부품을 공급시키고, 공급된 전자부품은 이동 중 촬영부에 의해 각 면의 영상이 획득되며, 획득된 영상은 마이컴으로 전송되어 각 전자부품에 대한 양품과 불량품 및 재검사품으로 각 궤도마다 분류하는 분류장치를 갖는 전자부품 검사기에 있어서, 상기 분류장치는 다수의 궤도를 따라 이동되는 각 전자부품을 각 궤도에 따라 다른 위치에서 양품과 불량품 및 재검사품으로 분류하되, 동일한 상태의 전자부품들은 각각 하나의 배출통으로 유도하여 분류된다.The present invention relates to an apparatus for classifying an electronic component inspector. More particularly, the electronic component is supplied to a plurality of tracks by a plurality of supply units on a rotating glass plate, and the supplied electronic components are connected to each side by a photographing unit during movement. An image is obtained, and the obtained image is transmitted to the microcomputer and has a classification device for classifying each track into good or bad and re-inspection for each electronic component. The classification device moves along a plurality of tracks. Each electronic part is classified into good, defective and reinspected items at different locations according to each track, and the electronic parts in the same state are classified into one discharge container.

상기와 같은 본 발명에 의하면, 두 개 이상의 궤도로 공급되는 전자부품을 양품, 불량품 및 재검사품으로 용이하게 분류시킬 수 있고, 분류된 각 양품, 불량품 및 재검사품의 전자부품을 동일한 상태별로 하나의 배출통으로 배출 및 저장시킬 수 있어 종래보다 작업시간 및 공정이 감소하여 작업 효율성을 향상시킬 수 있다.According to the present invention as described above, it is possible to easily classify the electronic parts supplied in two or more tracks as good, defective and re-inspected products, and discharge one electronic component of each classified good, defective and re-inspected products for the same state. Can be discharged and stored in the barrel can reduce the working time and process than conventional to improve the work efficiency.

전자부품, 검사기, 분류장치 Electronic parts, tester, sorting device

Description

전자부품 검사기의 분류장치{The discharging device for testing apparatus of electronic parts}The discharging device for testing apparatus of electronic parts

본 발명은 분류장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 두 개 이상의 궤도를 따라 외형검사가 이루어진 전자부품을 각 궤도별로 양품, 불량품 및 재검사품으로 분류하되, 각 궤도의 동일한 상태의 전자부품을 하나의 배출통으로 배출 및 저장하여 종래보다 작업시간 및 공정이 감소하여 작업 효율성을 향상시킬 수 있는 전자부품 검사기의 분류장치에 관한 것이다.The present invention relates to a sorting apparatus, and more particularly, to classify the electronic components that have been inspected along two or more tracks into good, defective and re-inspected items for each track, and to have one electronic component in the same state of each track. The present invention relates to a sorting apparatus for an electronic component inspector, which can improve work efficiency by reducing work time and process by discharging and storing in a discharge bin.

일반적으로, 반도체 장비 또는 전자기기에 설치되기 전에 전자부품에 대한 불량검사를 실시하여 상태를 확인하기 위한 작업을 수행한다.In general, before installation to a semiconductor device or an electronic device, a defect inspection for the electronic component is carried out to check the state.

종래에 실시되는 전자부품에 대한 대부분 검사는 작업장에 여러 명이 현미경과 같은 기구를 이용하여 검사하게 되어 있으나, 이는 많은 량의 전자부품을 검사하는데 장시간이 소요되고, 정확성에서도 한계가 있어 검사를 실시하기에는 작업성이 떨어지는 문제가 있다.Most of the inspection of the conventional electronic components are inspected by several people in the workplace using a device such as a microscope, but this takes a long time to inspect a large amount of electronic components, and there is a limit in accuracy, so There is a problem of poor workability.

이러한 문제점을 해소하기 위해, 스테인레스의 재질로 이루어진 2개의 원형 판을 사용하거나 드럼을 2개 사용하여 드럼의 측면에서 진공(Vacuum)으로 흡착한 다음 회전을 하고, 회전이 끝나는 지점에서 또 하나의 드럼이 흡착하여 전자부품을 검사하는 기기를 개발하였다.In order to solve this problem, using two circular plates made of stainless steel or using two drums, a vacuum is sucked on the side of the drum and then rotated, and another drum at the end of the rotation A device for inspecting electronic components by adsorption was developed.

그러나 이 또한 수공 검사보다는 작업시간이 단축 되었으나, 많은 량을 검사하는 데는 여러 동작이 반복됨에 따라 전자제품을 검사하는 데 있어 정확성과 많은 시간이 소요되는 문제는 여전하였다.However, this also shortened the work time than manual inspection, but the problem of accuracy and time consuming to inspect the electronic products still remained as many operations are repeated to inspect a large amount.

이에 따라, 회전수단에 전자부품을 일정 간격으로 공급하여 각 면을 검사하고, 양품과 불량품 및 재검사품으로 각각 분류하여 배출시키는 전자부품 검사기기를 개발하여 사용하고 있다.Accordingly, an electronic component inspection device has been developed and used to supply electronic components to the rotating means at regular intervals to inspect each side, and to classify and discharge them into good, defective, and reinspected articles, respectively.

도 1은 종래 전자부품 검사기를 도시한 도면이다.1 is a diagram illustrating a conventional electronic component tester.

도면에서 도시한 바와 같이, 전자부품 검사기는 피이더 수단(210)과 리니어 피이더 수단(212)(212'), 회전수단(220), 정렬수단(230)(230'), 촬영 수단(240)(240'), 분류 수단(250)(250'), 엔코더(260) 및 마이컴(270)을 포함하여 이루어진다.As shown in the figure, the electronic component inspector includes a feeder means 210 and a linear feeder means 212 and 212 ', a rotating means 220, an alignment means 230 and 230', and an imaging means 240. 240 ', sorting means 250 and 250', encoder 260 and microcomputer 270.

그리고 리니어 피이더 수단(212)(212')과 정렬수단(230)(230'), 촬영 수단(240)(240') 및 분류 수단(250)(250') 등이 각 두 개씩 구비되어 2개의 전자부품 각각에 대해 소정 작업(예:공급, 정렬, 촬영, 분류 등)이 수행된다.And two linear feeder means 212, 212 ', alignment means 230, 230', photographing means 240, 240 ', and sorting means 250, 250', etc. A predetermined operation (eg, supply, alignment, photographing, classification, etc.) is performed for each of the four electronic components.

이 피이더 수단(210)은 호퍼(미도시됨)를 통해 공급된 다량의 전자부품(2)(2')을 진동 작용에 의해 리니어 피이더 수단(212)(212')으로 이동시킨다.This feeder means 210 moves a large amount of electronic components 2, 2 'supplied through a hopper (not shown) to the linear feeder means 212, 212' by vibrating action.

그리고 리니어 피이더 수단(212)(212')은 두 개 구비되며, 각각의 리니어 피 이더 수단을 통해 전자부품(2)(2')을 회전수단(220)의 유리판(222) 위(보다 상세하게는 유리판 위의 각 궤도임)에 두 개의 궤도(a)(b)를 그리며 각각 순차적으로 공급하게 된다.In addition, two linear feeder means 212 and 212 'are provided, and through each linear feeder means, the electronic component 2, 2' is placed on the glass plate 222 of the rotating means 220 (more details). Preferably, each track on the glass plate) draws two tracks (a) and (b) and supplies them sequentially.

이와 같이, 두 개의 궤도(a)(b)를 그리며 공급된 전자부품(2)(2')은 정렬수단(정렬장치)(230)(230')에 의해 유리판(222) 상에서 정렬되고, 이동 중 촬영 수단(240)(240')에 의해 각 면의 형상을 촬영하게 된다.As such, the electronic components 2, 2 'supplied with the two trajectories a) and b' are aligned on the glass plate 222 by the alignment means (alignment device) 230 and 230 'and move. The shape of each surface is taken by the photographing means 240 and 240 '.

촬영 수단(240)(240')에 의해 촬영된 영상신호는 마이컴(270)으로 전송되고, 마이컴(270)은 이 영상신호와 전자부품의 숫자를 확인하기 위해 감지하는 카운터센서(274)(274')의 신호 및 엔코더(260) 등의 신호를 입력하여 처리 및 제어한다. The image signal photographed by the photographing means 240, 240 'is transmitted to the microcomputer 270, and the microcomputer 270 detects the image signal and the number of electronic components to detect the counter sensors 274 and 274. Signal and encoder 260 and the like are processed and controlled.

그리고 제어수단(272)은 상기 마이컴 (270)의 신호에 의해 압축 공기 노즐을 제어하는 신호를 출력하고, 전자부품의 양품과 불량품 및 재검사품의 개수의 확인이 가능하도록 디스플레이부를 포함하여 구성된다.The control means 272 outputs a signal for controlling the compressed air nozzle according to the signal of the microcomputer 270, and includes a display unit to check the number of good parts, defective items, and re-inspected items of the electronic parts.

또한, 분류수단(250)(250')은 제어수단(272)에 의해 압축 공기를 분사하는 노즐들(252b,254b,256b)(252b',254b',256b')과, 상기 노즐들로부터 분사되는 압축 공기에 의해 튕겨지는 전자부품들을 담기 위한 배출통들(252a,254a,256a)(252a',254a',256a')로 이루어진다. In addition, the sorting means 250, 250 'are nozzles 252b, 254b, 256b and 252b', 254b 'and 256b' for injecting compressed air by the control means 272, and the jets from the nozzles. And discharge bins 252a, 254a, and 256a for storing electronic components bounced by the compressed air.

이러한 배출통들은 내측 궤도(a)에 있는 전자부품(2)을 담기 위한 배출통(252a,254a,256a)들과, 외측 궤도(b)에 있는 전자부품(2')을 담기 위한 배출통(252a',254a',256a')들로 소정간격 이격되어 구비된다.These discharge bins are discharge bins 252a, 254a, 256a for holding the electronic component 2 in the inner track (a) and discharge bins for holding the electronic component 2 'in the outer track (b) ( 252a ', 254a', and 256a 'are spaced a predetermined distance apart.

소정간격으로 이격된 각 배출통은 전자부품을 양품과 불량품 및 재검사품으 로 분류하여 배출시키는 것으로, 제어수단(272)의 신호에 의해 전자부품들을 각각 구분하여 각각의 배출통들(252a,254a,256a)(252a',254a',256a')에 분류하게 된다.Each discharge bin spaced at a predetermined interval is to discharge the electronic components into good and bad and re-inspected products, and to separate the electronic components by the signal of the control means 272, respectively, the respective discharge bins 252a and 254a, 256a) (252a ', 254a', and 256a ').

특히, 불량품의 경우에는 그 불량 타입에 따라 각각 다르게 분류할 수 있도록 불량용 배출통을 다수 개 설치하게 된다.Particularly, in the case of defective products, a plurality of defective discharge containers may be installed so that they may be classified differently according to their defective types.

그러나, 이와 같은 분류수단은 각 배출통들로 배출된 전자부품을 다음 공정으로 이동시키기 위해 다수의 배출통들을 각각 분리하고, 동일한 상태의 전자부품끼리 다시 모아서 이동시켜야 되는 번거로움이 있다.However, such a sorting means is troublesome to separate each of the plurality of discharge bins in order to move the electronic components discharged to the respective discharge bins to the next process, and to collect and move the electronic parts in the same state again.

즉, 분류장치에 의해 각 상태별로 분류된 전자부품을 작업자가 다시 정리를 해야되는 정리공정이 있기 때문에 작업 시간 및 그에 따른 비용이 발생되어 작업효율이 저하되는 문제점이 있다.That is, since there is a cleaning process in which a worker needs to clean up the electronic parts classified by each state by the sorting device, there is a problem in that work time and costs are generated and work efficiency is lowered.

이에 본 발명은 상기와 같은 문제점들을 해소하기 위해 안출된 것으로써, 회전하는 유리판 상에 두 개 이상의 궤도를 따라 외형검사가 이루어진 전자부품을 각 궤도별로 양품, 불량품 및 재검사품으로 분류하되, 각 궤도의 동일한 상태의 전자부품을 하나의 배출통으로 배출 및 저장하도록 분류장치를 구비하여 종래보다 작업시간 및 공정을 감소시킬 수 있다. Therefore, the present invention is devised to solve the above problems, the electronic components that have been inspected along the two or more tracks on the rotating glass plate is classified as good, defective or re-inspected for each track, each track It is provided with a sorting device to discharge and store the electronic components of the same state in a single discharge bin can reduce the work time and process than conventional.

특히, 분류장치의 다수의 분류통에서 동일한 상태의 전자부품을 하나의 배출통으로 유도하는 가이드부가 구비되어 분류된 전자부품을 용이하게 하나의 배출통으로 배출 및 저장할 수 있어 작업 효율성을 향상시킬 수 있는 전자부품 검사기의 분류장치를 제공하는 것이 목적이다.In particular, a plurality of sorting bins of the sorting device is provided with a guide for guiding the electronic parts of the same state into a single discharge bin can easily discharge and store the sorted electronic components in a single discharge bin to improve the work efficiency An object of the present invention is to provide a sorting device for a component inspector.

상기 목적을 이루기 위한 본 발명은, 회전하는 유리판 위에 다수 개의 공급부에 의해 다수 개의 궤도로 전자부품을 공급시키고, 공급된 전자부품은 이동 중 촬영부에 의해 각 면의 영상이 획득되며, 획득된 영상은 마이컴으로 전송되어 각 전자부품에 대한 양품과 불량품 및 재검사품으로 각 궤도마다 분류하는 분류장치를 갖는 전자부품 검사기에 있어서, 상기 분류장치는 다수의 궤도를 따라 이동되는 각 전자부품을 각 궤도에 따라 다른 위치에서 양품과 불량품 및 재검사품으로 분류하되, 동일한 상태의 전자부품들은 각각 하나의 배출통으로 유도하여 분류된다.According to the present invention for achieving the above object, the electronic component is supplied to the plurality of tracks by a plurality of supply parts on the rotating glass plate, the supplied electronic parts are obtained images of each surface by the photographing unit during movement, the obtained image Is an electronic component inspection device having a classification device which is transmitted to a microcomputer and classified for each track as good and defective and re-inspection for each electronic part, wherein the classification device assigns each electronic component moved along a plurality of tracks to each track. Therefore, they are classified as good, defective and reinspected at different locations, but electronic components of the same condition are classified by induction into one discharge bin.

바람직하게, 상기 분류장치는, 양품통과 불량품통 및 재검사품통을 갖고, 상기 마이컴에 의해 전자부품을 분류시키는 두 개 이상의 분류통, 양품배출공간과 불량품배출공간 및 재검사품배출공간으로 구성되고, 상기 각 분류통에서 분류된 전자부품을 양품, 불량품, 재검사품으로 저장하는 배출통, 및 상기 각 분류통에서 양품통과 불량품통 및 재검사품통으로 분류된 전자부품을 상기 배출통의 양품배출공간과 불량품배출공간 및 재검사품배출공간으로 유도하는 가이드부를 포함하여 이루어진다.Preferably, the sorting apparatus has a non-deposit article, a defective article and a re-inspection cylinder, and comprises at least two sorting cylinders for classifying the electronic parts by the microcomputer, a quantitative discharge space, a defective article discharge space, and a retest article discharge space. A discharge bin for storing the electronic parts classified in each sorting bin as good, defective or reinspected articles, and the electronic parts classified as good, defective and retested bins in each sorting bin. It comprises a guide leading to the space and re-examined product discharge space.

그리고 상기 분류통은 압축공기를 발사하는 에어노즐이 구비되어 상기 마이컴의 제어에 의해 전자부품을 각 양품통과 불량품통 및 재검사품통으로 분류시킨다.In addition, the sorting cylinder is provided with an air nozzle for firing compressed air to classify the electronic component into each of the good and bad parts and the re-inspection box under the control of the microcomputer.

또한, 상기 가이드부는, 상기 각 분류통의 각 양품통을 연결하여 상기 각 양품통에 분류된 전자부품을 상기 배출통의 양품배출공간으로 유도하는 양품가이드, 상기 각 분류통의 각 불량품통을 연결하여 상기 각 불량품통에 분류된 전자부품을 상기 배출통의 불량품배출공간으로 유도하는 불량품가이드, 및 상기 각 분류통의 각 재검사품통을 연결하여 상기 각 재검사품통에 분류된 전자부품을 상기 배출통의 재검사품배출공간으로 유도하는 재검사품가이드를 포함하여 이루어진다.In addition, the guide unit is connected to each courage of each sorting bin, the guide for guiding the electronic components classified in each bin to the discharge space of the discharge bin, connecting each defective bin of each sorting bin Connecting the defective parts guide for inducing the electronic parts classified in each defective container to the defective product discharge space of the discharge container, and each re-inspecting container of each sorting container to connect the electronic parts classified in the re-testing container to the discharge container. It includes a reinspection product guide leading to the reinspection product discharge space.

상기한 바와 같이, 본 발명에 의한 전자부품 검사기의 분류장치에 의하면, 두 개 이상의 궤도로 공급되는 전자부품을 양품, 불량품 및 재검사품으로 용이하게 분류시킬 수 있고, 분류된 각 양품, 불량품 및 재검사품의 전자부품을 동일한 상태별로 하나의 배출통으로 배출 및 저장시킬 수 있어 종래보다 작업시간 및 공정이 감소하여 작업 효율성을 향상시킬 수 있게 하는 매우 유용하고 효과적인 발명이다.As described above, according to the classification apparatus of the electronic component inspector according to the present invention, it is possible to easily classify the electronic components supplied by two or more tracks into good, defective and re-inspected products, and each classified good, defective and re-inspected. It is a very useful and effective invention that can be discharged and stored in a single discharge container for each of the same state of the product to reduce the working time and process than the conventional to improve the work efficiency.

이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

또한, 본 실시 예는 본 발명의 권리범위를 한정하는 것은 아니고 단지 예시로 제시된 것이며, 그 기술적 요지를 이탈하지 않는 범위 내에서 다양한 변경이 가능하다.In addition, the present embodiment is not intended to limit the scope of the present invention, but is presented by way of example only, and various modifications may be made without departing from the technical gist of the present invention.

도 2는 본 발명에 따른 전자부품 검사기의 분류장치가 구비된 상태를 도시한 도면이고, 도 3은 본 발명에 따른 전자부품 검사기의 분류장치를 도시한 도면이며, 도 4는 본 발명에 따른 전자부품 검사기의 분류장치의 정면도를 도시한 도면이고, 도 5는 본 발명에 따른 전자부품 검사기의 분류장치의 작동상태를 도시한 도면이다.2 is a view showing a state equipped with a classification device of the electronic component tester according to the present invention, Figure 3 is a view showing a classification device of the electronic component tester according to the present invention, Figure 4 is an electronic according to the present invention FIG. 5 is a view showing a front view of the sorting apparatus of the component inspector, and FIG. 5 is a view showing an operating state of the sorting apparatus of the electronic component inspector according to the present invention.

도면에서 도시한 바와 같이, 전자부품 검사기는 피이더 수단(210)과 리니어 피이더 수단(212, 212'), 회전수단(220), 정렬수단(230, 230'), 촬영 수단(240, 240'), 분류 수단(250, 250'), 엔코더(260) 및 마이컴(270)을 포함하여 이루어진다.As shown in the figure, the electronic component inspector includes a feeder means 210 and a linear feeder means 212 and 212 ', a rotating means 220, an alignment means 230 and 230', and a photographing means 240 and 240. '), Sorting means 250, 250', encoder 260 and microcomputer 270.

그리고 리니어 피이더 수단(212, 212')과 정렬수단(230, 230'), 촬영 수단(240, 240') 및 분류 수단(250, 250') 등이 각 두 개 이상씩 구비되어 두 개 이 상의 전자부품 각각에 대해 소정 작업(예: 공급, 정렬, 촬영, 분류 등)이 수행된다.The linear feeder means 212 and 212 ', the alignment means 230 and 230', the photographing means 240 and 240 'and the sorting means 250 and 250' are provided with two or more, respectively. A predetermined operation (eg supply, alignment, photographing, classification, etc.) is performed for each of the electronic components on the image.

호퍼(미 도시)를 통해 공급된 다량의 전자부품(2, 2')을 피이더 수단(210)의 진동 작용에 의해 각각의 리니어 피이더 수단(212, 212')으로 이동시키고, 각각의 리니어 피이더 수단(212, 212')으로 이동된 전자부품(2, 2')은 회전수단(220)의 유리판(222) 상에 두 개 이상의 궤도(a, b: 본 발명에서는 두 개로 표시함.)를 그리며 각각 순차적으로 공급하게 된다.A large amount of electronic components 2, 2 'supplied through a hopper (not shown) is moved to each linear feeder means 212, 212' by vibrating action of the feeder means 210, and each linear The electronic components 2 and 2 'moved to the feeder means 212 and 212' are represented by two or more tracks a and b on the glass plate 222 of the rotating means 220 in the present invention. Each one is fed sequentially.

이와 같이, 두 개의 궤도(a, b)를 그리며 공급된 전자부품(2, 2')은 정렬수단(230, 230')에 의해 유리판(222) 상에서 정렬되고, 이동 중 촬영 수단(240, 240')에 의해 각 면의 형상을 촬영하게 된다.In this way, the electronic parts 2 and 2 'supplied with two trajectories a and b are aligned on the glass plate 222 by the alignment means 230 and 230', and the photographing means 240 and 240 during movement. The shape of each surface is photographed by ').

그리고 촬영 수단(240, 240')에 의해 촬영된 전자부품(2, 2')의 위치정보는 엔코더(260)에 의해 자료가 수집되고, 카운터센서(274, 274')에 의해 전자부품(2, 2')의 숫자가 체크된다.The position information of the electronic parts 2 and 2 'photographed by the photographing means 240 and 240' is collected by the encoder 260, and the electronic parts 2 are collected by the counter sensors 274 and 274 '. , 2 ') is checked.

이와 같이, 촬영 수단(240, 240')에 의해 촬영된 영상신호와 엔코더(260)에 의한 신호 및 카운터센서(274, 274')의 신호는 마이컴(270)으로 전송되고, 마이컴(270)은 각 신호를 입력하여 처리 및 제어한다.  As such, the image signal photographed by the photographing means 240 and 240 ', the signal by the encoder 260, and the signal of the counter sensors 274 and 274' are transmitted to the microcomputer 270, and the microcomputer 270 Each signal is input and processed and controlled.

다시 말해, 마이컴(270)은 분류장치(100)를 제어하여 각각의 전자부품(2, 2')을 상태에 따라 분류하고, 배출시키는 것이다.In other words, the microcomputer 270 controls the classification apparatus 100 to classify and discharge the electronic components 2 and 2 'according to the state.

분류장치(100)는 다수의 궤도(a, b)를 따라 이동되는 각 전자부품(2, 2')을 각 궤도에 따라 다른 위치에서 양품과 불량품 및 재검사품으로 분류하되, 동일한 상태의 전자부품(2, 2')들은 각각 하나의 배출통(110, 110')으로 유도하여 분류시킨다.The sorting apparatus 100 classifies each electronic component 2 and 2 'which are moved along a plurality of tracks a and b into good, defective and reinspected items at different positions according to each track. (2, 2 ') are guided and classified into a single discharge bin (110, 110'), respectively.

이러한 분류장치(100)는 두 개 이상의 분류통(110, 110')과 배출통(120) 및 다수의 가이드부(130)로 구성되고, 분류통(110, 110')은 각각 양품통(112, 112')과 불량품통(114, 114') 및 재검사품통(116, 116')이 구비된다.The sorting device 100 is composed of two or more sorting bins (110, 110 ') and the discharge container 120 and a plurality of guides 130, the sorting bins (110, 110') are each yangtong 112 112 ') and defective bins 114 and 114' and retest bins 116 and 116 '.

그리고 배출통(120)은 양품배출공간(122)과 불량품배출공간(124) 및 재검사품배출공간(126)으로 구성되고, 각 분류통(110, 110')에서 분류된 전자부품(2, 2')을 양품, 불량품, 재검사품으로 각각 배출되어 저장된다.And the discharge container 120 is composed of a good product discharge space 122, the defective product discharge space 124 and the re-inspection product discharge space 126, the electronic components (2, 2) sorted in each sorting bin (110, 110 ') ') Is discharged and stored as good, defective or reinspected.

또한, 가이드부(130)는 각 분류통(110, 110')에서 양품통(112, 112')과 불량품통(114, 114') 및 재검사품통(116, 116')으로 분류된 전자부품(2, 2')을 배출통(120)의 양품배출공간(122)과 불량품배출공간(124) 및 재검사품배출공간(126)으로 유도하여 각 분류통(110, 110')들의 동일 상태 전자부품(2, 2')을 각각 분류한 상태로 배출 및 저장하게 되는 것이다.In addition, the guide part 130 may be classified into electronic parts (112, 112 '), defective goods (114, 114') and re-inspection (116, 116 ') in each sorting container (110, 110'). 2, 2 ') to the good discharge space 122, the defective discharge space 124 and the re-examination discharge space 126 of the discharge bin 120, the same state electronic components of each sorting bin (110, 110') (2, 2 ') are classified and discharged and stored.

이때, 분류통(110, 110')은 압축공기를 발사하는 에어노즐(140)이 구비되어 마이컴(270)의 제어에 의해 전자부품(2, 2')을 각 양품통(112, 112')과 불량품통(114, 114') 및 재검사품통(116, 116')으로 분류시키게 된다.At this time, the sorting cylinder (110, 110 ') is provided with an air nozzle 140 for firing compressed air to control the electronic parts (2, 2') each of the yangyang 112 (112, 112 ') under the control of the microcomputer (270). And defective containers (114, 114 ') and re-inspection containers (116, 116').

다시 말해, 촬영 수단(240, 240')과 엔코더(260) 및 카운터센서(274, 274')의 신호에 따라 마이컴(270)이 분류장치(100)의 에어노즐(140)을 제어하여 각 전자부품(2, 2')을 상태에 따라 분류통(110, 110')의 양품통(112, 112')과 불량품통(114, 114') 및 재검사품통(116, 116')으로 이동시키는 것이다.In other words, the microcomputer 270 controls the air nozzle 140 of the sorting apparatus 100 according to the signals of the photographing means 240 and 240 ', the encoder 260 and the counter sensors 274 and 274'. The parts 2 and 2 'are moved to the good containers 112 and 112' of the sorting bins 110 and 110 ', the defective bins 114 and 114' and the retesting bins 116 and 116 'according to the state. .

각 분류통(110, 110')으로 이동된 전자부품(2, 2')은 가이드부(130)에 의해 배출통(120)의 각 공간으로 이동하는 것으로, 가이드부(130)는 양품가이드(132)와 불량품가이드(134) 및 재검사품가이드(136)로 구성된다.The electronic parts 2 and 2 'moved to the respective sorting bins 110 and 110' are moved to the respective spaces of the discharge bin 120 by the guide part 130, and the guide part 130 is a good quality guide ( 132 and the defective article guide 134 and the re-inspection article guide 136.

양품가이드(132)는 각 분류통(110, 110')의 각 양품통(112, 112')을 연결하여 각 양품통(112, 112')에 분류된 전자부품(2, 2')을 배출통(120)의 양품배출공간(122)으로 유도하게 되고, 불량품가이드(134)는 각 분류통(110, 110')의 각 불량품통(114, 114')을 연결하여 각 불량품통(114, 114')에 분류된 전자부품(2, 2')을 배출통(120)의 불량품배출공간(124)으로 유도하게 된다.The supply guide 132 connects the supply bins 112 and 112 'of the sorting bins 110 and 110' to discharge the electronic components 2 and 2 'classified in the supply bins 112 and 112'. Guided to the good discharge space 122 of the cylinder 120, the defective guide 134 is connected to each defective container 114, 114 'of each sorting cylinder (110, 110') each defective container 114, The electronic parts 2 and 2 'classified in 114' are guided to the defective product discharge space 124 of the discharge container 120.

그리고 재검사품가이드(136)는 각 분류통(110, 110')의 각 재검사품통(116, 116')을 연결하여 각 재검사품통(116, 116')에 분류된 전자부품(2, 2')을 배출통(120)의 재검사품배출공간(126)으로 유도함에 따라 각 상태에 따른 전자부품(2, 2')을 용이하게 분류하고, 배출시킬 수 있다.In addition, the reinspection product guide 136 connects the reinspection containers 116 and 116 'of each sorting container 110 and 110' to classify the electronic parts 2 and 2 'classified into the reinspection containers 116 and 116'. By inducing the re-inspection product discharge space 126 of the discharge container 120, the electronic components 2, 2 'according to each state can be easily classified and discharged.

도 1은 종래 전자부품 검사기를 도시한 도면이고,1 is a view showing a conventional electronic component inspector,

도 2는 본 발명에 따른 전자부품 검사기의 분류장치가 구비된 상태를 도시한 도면이며,2 is a view showing a state in which the classification device of the electronic component tester according to the present invention,

도 3은 본 발명에 따른 전자부품 검사기의 분류장치를 도시한 도면이고,3 is a view showing a classification apparatus of an electronic component inspector according to the present invention;

도 4는 본 발명에 따른 전자부품 검사기의 분류장치의 정면도를 도시한 도면이며,4 is a view showing a front view of the classification apparatus of the electronic component inspector according to the present invention,

도 5는 본 발명에 따른 전자부품 검사기의 분류장치의 작동상태를 도시한 도면이다.5 is a view illustrating an operating state of the classification apparatus of the electronic component inspector according to the present invention.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>

100 : 분류장치 110, 110' : 분류통100: sorting device 110, 110 ': sorting container

112, 112' : 양품통 114, 114' : 불량품통112, 112 ': Non-consumption bin 114, 114': Defective bin

116, 116' : 재검사품통 120 : 배출통116, 116 ': retest container 120: discharge container

122 : 양품배출공간 124 : 불량품배출공간122: space for discharging goods 124: space for discharging defective products

126 : 재검사품배출공간 130 : 가이드부126: re-inspection product discharge space 130: guide unit

132 : 양품가이드 134 : 불량품가이드132: Good guide 134: Defective guide

136 : 재검사품가이드 140 : 에어노즐136: re-inspection guide 140: air nozzle

Claims (4)

회전하는 유리판 위에 다수 개의 공급부에 의해 다수 개의 궤도로 전자부품을 공급시키고, 공급된 전자부품은 이동 중 촬영부에 의해 각 면의 영상이 획득되며, 획득된 영상은 마이컴으로 전송되어 각 전자부품에 대한 양품과 불량품 및 재검사품으로 각 궤도마다 분류하는 분류장치를 갖는 전자부품 검사기에 있어서,The electronic parts are supplied to the plurality of tracks by the plurality of supply parts on the rotating glass plate, and the supplied electronic parts are acquired by the photographing part during the movement, and the obtained images are transferred to the microcomputer to the electronic parts. In the electronic component inspection machine having a classification device for classifying each track into a good or bad or re-inspected product, 상기 분류장치는 다수의 궤도를 따라 이동되는 각 전자부품을 각 궤도에 따라 다른 위치에서 양품과 불량품 및 재검사품으로 분류하되, 동일한 상태의 전자부품들은 각각 하나의 배출통으로 유도하여 분류시키는 것으로,The sorting apparatus classifies each electronic component moving along a plurality of tracks into good and defective and re-inspected articles at different locations according to each track, and classifies the electronic components in the same state by inducing them into one discharge container. 양품통과 불량품통 및 재검사품통을 갖고, 상기 마이컴에 의해 전자부품을 분류시키는 두 개 이상의 분류통;At least two sorting bins having good and defective bins and re-inspecting bins for sorting electronic components by the microcomputer; 양품배출공간과 불량품배출공간 및 재검사품배출공간으로 구성되고, 상기 각 분류통에서 분류된 전자부품을 양품, 불량품, 재검사품으로 저장하는 배출통; 및A discharge bin configured of a good discharge space, a bad discharge space, and a re-inspection discharge space, and storing the electronic parts classified in the sorting bins as good, defective, and retest items; And 상기 각 분류통에서 양품통과 불량품통 및 재검사품통으로 분류된 전자부품을 상기 배출통의 양품배출공간과 불량품배출공간 및 재검사품배출공간으로 유도하는 가이드부를 포함하여 이루어지며,And a guide unit for guiding the electronic parts classified into the non-defective container, the defective product container, and the re-examination container in each sorting container to the good discharge space, the defective discharge space, and the re-inspection discharge space of the discharge container. 상기 가이드부는,The guide unit, 상기 각 분류통의 각 양품통을 연결하여 상기 각 양품통에 분류된 전자부품을 상기 배출통의 양품배출공간으로 유도하는 양품가이드;A quality guide for connecting electronic supplies of each sorting container to guide the electronic components classified in each sorting container into the goods discharge space of the discharge container; 상기 각 분류통의 각 불량품통을 연결하여 상기 각 불량품통에 분류된 전자부품을 상기 배출통의 불량품배출공간으로 유도하는 불량품가이드; 및A defective article guide connecting each defective article of each sorting bin to guide the electronic parts classified into each defective article into a defective product discharge space of the discharge bin; And 상기 각 분류통의 각 재검사품통을 연결하여 상기 각 재검사품통에 분류된 전자부품을 상기 배출통의 재검사품배출공간으로 유도하는 재검사품가이드를 포함하여 이루어지는 전자부품 검사기의 분류장치.And a reinspection product guide connecting the reinspection containers of each sorting container to guide the electronic parts classified in the reinspection containers into the reinspection product discharge space of the discharge container. 삭제delete 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 분류통은 압축공기를 발사하는 에어노즐이 구비되어 상기 마이컴의 제어에 의해 전자부품을 각 양품통과 불량품통 및 재검사품통으로 분류시키는 것을 특징으로 하는 전자부품 검사기의 분류장치.The sorting cylinder is provided with an air nozzle for releasing compressed air, and the sorting apparatus of the electronic component inspector, characterized in that the electronic parts are classified into each good and poor goods and defective inspection and re-inspection by the control of the microcomputer. 삭제delete
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