KR101047131B1 - Automatic generation device for calibration data of multi-channel signal control circuit - Google Patents

Automatic generation device for calibration data of multi-channel signal control circuit Download PDF

Info

Publication number
KR101047131B1
KR101047131B1 KR1020080135578A KR20080135578A KR101047131B1 KR 101047131 B1 KR101047131 B1 KR 101047131B1 KR 1020080135578 A KR1020080135578 A KR 1020080135578A KR 20080135578 A KR20080135578 A KR 20080135578A KR 101047131 B1 KR101047131 B1 KR 101047131B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
sensor
output
controller
simulation
Prior art date
Application number
KR1020080135578A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20100077587A (en
Inventor
정혜승
이상래
김주년
김준규
이재득
Original Assignee
한국항공우주연구원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국항공우주연구원 filed Critical 한국항공우주연구원
Priority to KR1020080135578A priority Critical patent/KR101047131B1/en
Publication of KR20100077587A publication Critical patent/KR20100077587A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101047131B1 publication Critical patent/KR101047131B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
    • G01R35/005—Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/12—Circuits for multi-testers, i.e. multimeters, e.g. for measuring voltage, current, or impedance at will
    • G01R15/125—Circuits for multi-testers, i.e. multimeters, e.g. for measuring voltage, current, or impedance at will for digital multimeters
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)

Abstract

본 발명에 따르면, 컨트롤러; 측정 센서에서 감지된 센싱 신호의 측정값과 동일한 신호 형태 및 크기를 갖도록 상기 센싱 신호를 모사(Copy)하여, 상기 컨트롤러의 제어에 따라 일정 크기를 갖는 센서 모사 신호를 출력하는 센서 신호 모사기; 상기 컨트롤러의 제어에 따라, 상기 센서 신호 모사기와 복수 개의 다채널 신호조절 회로를 신호 연결하여, 상기 센서 신호 모사기로부터 출력된 센서 모사 신호를 입력받아 상기 다채널 신호조절 회로로 전달하는 매트릭스 스위치; 상기 다채널 신호 조절 회로에 의해 신호 조절 및 A/D 변환된 센서 모사 신호를 입력받아, 상기 컨트롤러에 입력 가능한 일정한 통신 규격을 갖는 출력신호의 형태로 변환시키는 버스분석기;를 포함하며, 상기 컨트롤러는, 상기 센서 신호 모사기로부터 출력된 센서 모사 신호와, 상기 버스분석기를 통해 입력된 출력 센서 신호를 저장하며, 저장된 상기 센서 모사 신호와 상기 출력 센서 신호의 신호값을 상호 비교 분석하여 교정데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 다채널 신호조절 회로의 교정데이터 자동생성 장치를 개시한다.According to the invention, the controller; A sensor signal copying unit for copying the sensing signal to have the same signal shape and size as the measured value of the sensing signal sensed by the measuring sensor, and outputting a sensor simulation signal having a predetermined size under the control of the controller; A matrix switch configured to signal-connect the sensor signal simulator and the plurality of multi-channel signal control circuits to receive the sensor simulation signals output from the sensor signal simulators and to transfer them to the multi-channel signal control circuits; And a bus analyzer configured to receive a sensor simulation signal that has been controlled and A / D converted by the multi-channel signal control circuit and converted into a form of an output signal having a predetermined communication standard input to the controller. And storing a sensor simulation signal output from the sensor signal simulator and an output sensor signal input through the bus analyzer, and generating calibration data by comparing and analyzing signal values of the stored sensor simulation signal and the output sensor signal. Disclosed is an apparatus for automatically generating calibration data of a multi-channel signal conditioning circuit.

교정데이터, 신호변환, 버스분석기 Calibration Data, Signal Conversion, Bus Analyzer

Description

다채널 신호조절 회로의 교정데이터 자동생성 장치{Automatic Calibration Data Producing Device for Multi-Channel Signal Conditioning Circuit}Automatic Calibration Data Producing Device for Multi-Channel Signal Conditioning Circuit}

본 발명은 다채널 신호조절 회로의 교정데이터 자동생성 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 다채널 신호조절 회로를 점검시 실시간으로 오차범위 환산에 적용 가능한 교정데이터를 자동적으로 생성하는 교정데이터 자동생성 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for automatically generating calibration data of a multi-channel signal control circuit, and more particularly, to an apparatus for automatically generating calibration data that automatically generates calibration data applicable to error range conversion in real time when checking a multi-channel signal conditioning circuit. It is about.

일반적으로 측정 센서의 신호조절 회로는, 필터, 위트스톤 브릿지, 앰프 및 전압 레퍼런스 등으로 구성된다. 이런 구성요소들은 일반적으로 입력대 출력비가 선형적이어서 앰프이득과 바이어스를 계수로 하는 1차 다항식으로 기술 가능하지만, 실제 앰프 출력범위의 하단과 상단부분은 비선형적인 경우가 많으며, 정밀도가 높아질수록 이론값과 실제 출력값의 오차가 커져서 신뢰성이 저하되는 문제점이 있었다.Typically, the signal conditioning circuit of a measurement sensor consists of a filter, a Wheatstone bridge, an amplifier, and a voltage reference. These components can be described as first-order polynomials, where the input-to-output ratio is generally linear, resulting in amplifier gain and bias as coefficients.However, the lower and upper portions of the actual amplifier output range are often nonlinear. There was a problem that the reliability is lowered due to a large error between the value and the actual output value.

이런 문제점을 해결하기 위하여, 종래에는 신호조절 회로의 전 구간에 대해 원하는 정밀도의 입력대 출력 데이터를 테이블로 저장해 두고 이를 측정 센서 점검시 활용하는 방식을 적용하였는데, 이는 정밀한 테이블 작성에 매우 많은 시간이 소요되는 단점이 있었다.In order to solve this problem, conventionally, a method of storing input-output data with desired precision for all sections of the signal control circuit as a table and applying the same to a measurement sensor check is applied. There was a disadvantage.

한편, 종래에는 한 개의 센서 신호 모사 장치로 다수의 신호조절 회로를 검사하기 위해서는, 센서 신호 모사장치와 신호조절 회로간 연결은 터미널 블록을 이용하여 일정한 회로 연결 조건에 맞추어 수작업으로 연결되었다.Meanwhile, in the related art, in order to inspect a plurality of signal control circuits with one sensor signal simulation device, the connection between the sensor signal simulation device and the signal control circuit has been manually connected in accordance with a predetermined circuit connection condition using a terminal block.

따라서, 검사 대상의 신호조절 회로의 점검채널을 교체할 때에는 일일이 수작업에 의존해야 하기 때문에 시간이 많이 걸리는 단점이 있었고, 특히, 작업자의 실수로 인해 신호조절 회로의 단락이 빈번하여, 상기 신호조절 회로의 검사 진행이 원활하지 못하게 되거나, 신호조절 회로를 구성하는 소자가 훼손되는 문제점이 있었다.Therefore, when replacing the inspection channel of the signal control circuit to be inspected, there is a disadvantage that it takes a lot of time because it has to rely on manual labor, and in particular, the short circuit of the signal control circuit is frequently caused by an operator's mistake. There is a problem that the progress of the inspection is not smooth or the elements constituting the signal control circuit are damaged.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로,The present invention was created to solve the above problems,

측정 센서의 신호조절 회로 교정시 비선형적인 앰프의 입력대 출력을 정확하게 측정하기 위하여, 신호조절 회로의 전 구간에 대해 원하는 정밀도의 입력대 출력 데이터를 테이블로 저장한 후, 이를 상기 측정 센서 점검시 실시간 활용하는데 그 목적이 있다.In order to accurately measure the input-to-output of the nonlinear amplifier when calibrating the signal-control circuit of the measuring sensor, the input-to-output data with the desired precision for the entire section of the signal-control circuit is stored in a table, which is then measured in real time. The purpose is to use.

또한, 다채널 매트릭스 스위치(Matrix Switch)를 사용하여 상기 센서 신호 모사기와 신호조절 회로간을 신호 연결함으로써, 수작업으로 인한 시간 소모를 크게 줄여주며, 작업자의 실수로 인해 빈번하게 발생할 수 있는 신호조절 회로의 단락을 방지하는데 또 다른 목적이 있다.In addition, by using a multi-channel matrix switch (Matrix Switch) to connect the signal between the sensor signal simulator and the signal control circuit, it greatly reduces the time spent by manual operation, the signal control circuit that can occur frequently due to the operator's mistakes Another purpose is to prevent short circuits.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 다채널 신호조절 회로의 교정데이터 자동생성 장치는, 컨트롤러; 측정 센서에서 감지된 센싱 신호의 측정값과 동일한 신호 형태 및 크기를 갖도록 상기 센싱 신호를 모사(Copy)하여, 상기 컨트롤러의 제어에 따라 일정 크기를 갖는 센서 모사 신호를 출력하는 센서 신호 모사기; 상기 컨트롤러의 제어에 따라, 상기 센서 신호 모사기와 복수 개의 다채널 신호조절 회로를 신호 연결하여, 상기 센서 신호 모사기로부터 출력된 센서 모사 신호를 입력받아 상기 다채널 신호조절 회로로 전달하는 매트릭스 스위치; 상기 다채널 신호 조절 회로에 의해 신호 조절 및 A/D 변환된 센서 모사 신호를 입력받아, 상기 컨트롤러에 입력 가능한 일정한 통신 규격을 갖는 출력신호의 형태로 변환시키는 버스분석기;를 포함하며, 상기 컨트롤러는, 상기 센서 신호 모사기로부터 출력된 센서 모사 신호와, 상기 버스분석기를 통해 입력된 출력 센서 신호를 저장하며, 저장된 상기 센서 모사 신호와 상기 출력 센서 신호의 신호값을 상호 비교 분석하여 교정데이터를 생성하는 것을 특징으로 한다.The apparatus for automatically generating calibration data of a multi-channel signal control circuit according to the present invention for achieving the above object, the controller; A sensor signal copying unit for copying the sensing signal to have the same signal shape and size as the measured value of the sensing signal sensed by the measuring sensor, and outputting a sensor simulation signal having a predetermined size under the control of the controller; A matrix switch configured to signal-connect the sensor signal simulator and the plurality of multi-channel signal control circuits to receive the sensor simulation signals output from the sensor signal simulators and to transfer them to the multi-channel signal control circuits; And a bus analyzer configured to receive a sensor simulation signal that has been controlled and A / D converted by the multi-channel signal control circuit and converted into a form of an output signal having a predetermined communication standard input to the controller. And storing a sensor simulation signal output from the sensor signal simulator and an output sensor signal input through the bus analyzer, and generating calibration data by comparing and analyzing signal values of the stored sensor simulation signal and the output sensor signal. It is characterized by.

또한, 상기 측정 센서는, 온도 측정 센서, 변형률 측정 센서, 압력 측정 센서 및 습도 측정 센서 중 선택된 하나 이상의 측정 센서일 수 있다.The measuring sensor may be at least one measuring sensor selected from a temperature measuring sensor, a strain measuring sensor, a pressure measuring sensor, and a humidity measuring sensor.

게다가, 상기 버스분석기는, 상기 다채널 신호조절 회로로부터 전달 받은 상기 출력 센서 신호를 MIL-STD-1553B의 통신 규격을 갖는 출력신호의 형태로 변환시키도록 구비될 수 있다.In addition, the bus analyzer may be provided to convert the output sensor signal received from the multi-channel signal conditioning circuit into an output signal having a communication standard of MIL-STD-1553B.

아울러, 상기 컨트롤러는, 상기 센서 모사 신호와 상기 출력 센서 신호를 저장하되, 테이블 형태의 텍스트 파일로 저장되는 것이 바람직하다. In addition, the controller may store the sensor simulation signal and the output sensor signal, but may be stored in a text file in a table form.

본 발명에 따른 다채널 신호조절 회로의 교정데이터 자동생성 장치에 의하면, 센서 신호 모사기와 복수 개의 다채널 신호조절 회로가 다채널 매트릭스 스위치에 의해 자동적으로 신호 연결되므로, 수작업에 의해 발생 가능한 회로 단락의 위험을 줄여주며, 교정 데이터를 실시간 획득할 수 있는 효과를 제공한다.According to the apparatus for automatically generating calibration data of the multi-channel signal control circuit according to the present invention, since the sensor signal simulator and the plurality of multi-channel signal control circuits are automatically signal-connected by the multi-channel matrix switch, the circuit short circuit which can be generated manually It reduces the risk and provides the effect of obtaining calibration data in real time.

또한, 교정데이터가 테이블 형태의 텍스트 파일로 저장되므로, 신호조절 회로의 해당 채널에 대한 실제 센서 점검시 상기 교정데이터를 실시간 활용 가능한 장점이 있다.In addition, since the calibration data is stored in a text file in the form of a table, there is an advantage that the calibration data can be utilized in real time when the actual sensor check for the corresponding channel of the signal conditioning circuit.

이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여, 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Prior to this, terms or words used in the present specification and claims should not be construed as being limited to the common or dictionary meanings, and the inventors should properly explain the concept of terms in order to best explain their own invention. Based on the principle that it can be defined, it should be interpreted as meaning and concept corresponding to the technical idea of the present invention.

따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.Therefore, the embodiments described in the specification and the drawings shown in the drawings are only the most preferred embodiment of the present invention and do not represent all of the technical idea of the present invention, various modifications that can be replaced at the time of the present application It should be understood that there may be equivalents and variations.

도 1은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 다채널 신호조절 회로의 교정데이터 자동생성 장치의 구성을 나타낸 개략도이다.1 is a schematic diagram showing the configuration of a device for automatically generating calibration data of a multi-channel signal control circuit according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다채널 신호조절 회로의 교정데이터 자동생성 장치(이하 '교정데이터 자동생성 장치'라 함)는, 컨트롤러(110), 센서 신호 모사기(120), 매트릭스 스위치(130) 및 버스 분석기(140)를 포함한다.As shown in FIG. 1, the apparatus for automatically generating calibration data (hereinafter, referred to as an apparatus for automatically generating calibration data) of the multi-channel signal control circuit of the present invention includes a controller 110, a sensor signal simulator 120, and a matrix switch. 130 and bus analyzer 140.

먼저, 상기 센서 신호 모사기(120)는, 측정 센서에서 감지된 센싱 신호의 측정값과 동일한 신호 형태 및 크기를 갖도록 상기 센싱 신호를 모사(Copy)하여, 상기 컨트롤러(110)의 제어에 따라 일정 크기를 갖는 센서 모사 신호를 출력하는 기능을 한다.First, the sensor signal simulator 120 copies the sensing signal to have the same signal shape and size as the measured value of the sensing signal sensed by the measurement sensor, and according to the control of the controller 110, the sensor signal simulator 120 copies the sensing signal. It functions to output a sensor simulation signal having a.

여기서, 상기 측정 센서는, 온도 측정 센서, 변형률(Strain) 측정 센서, 압력 측정 센서 및 습도 측정 센서 중에서 선택된 하나 이상의 측정 센서를 의미한다.Here, the measuring sensor means at least one measuring sensor selected from a temperature measuring sensor, a strain measuring sensor, a pressure measuring sensor, and a humidity measuring sensor.

또한, 일반적으로 상기 온도 측정 센서, 변형률 측정 센서, 압력 측정 센서 및 습도 측정 센서에 의해 감지된 측정값은 저항(Ω), 전압(V) 및 전류(A)의 형태로 상기 측정값의 크기를 출력하여 나타낸다.Also, in general, the measured values detected by the temperature measuring sensor, the strain measuring sensor, the pressure measuring sensor, and the humidity measuring sensor may change the magnitude of the measured value in the form of resistance (Ω), voltage (V), and current (A). Output it.

즉, 상기 센서 신호 모사기(120)는, 상기 다양한 측정 센서에 따라 감지된 측정값과 동일한 형태로 저항, 전압 또는 전류의 형태로 측정값의 크기를 출력할 수 있다.That is, the sensor signal simulator 120 may output the magnitude of the measured value in the form of resistance, voltage or current in the same form as the measured value detected according to the various measurement sensors.

여기서, 다채널 신호조절회로(200)는 측정 센서의 출력신호를 A/D 변환에 알맞는 일정 크기의 전기적 신호로 변환하는 기능을 수행한다. 예를 들어 임의의 온도 측정 센서는 온도범위 0℃ ~ +100℃ 에서 100Ω ~ 138.5Ω의 저항값 범위를 갖는다고 할 때, 상기 다채널 신호조절회로(200)는 상기 저항값 범위를 0V ~ 5V의 전기신호로 변환하게 된다.Here, the multi-channel signal control circuit 200 performs a function of converting the output signal of the measurement sensor into an electrical signal of a predetermined size suitable for A / D conversion. For example, when an arbitrary temperature measuring sensor has a resistance value range of 100 Hz to 138.5 Hz in a temperature range of 0 ° C to + 100 ° C, the multi-channel signal control circuit 200 sets the resistance value range to 0V to 5V. Is converted into an electrical signal.

또한, 상기 센서 신호 모사기(120)는, 상기 저항값 범위에서 사용자가 원하는 정밀도로 저항값을 순차적으로 출력하고, 출력된 저항값은 다채널 신호조절 회로(200)에 의해 특정한 전압값으로 변환되며, 변환된 전기신호는 A/D 변환을 거쳐 버스분석기(140)를 통해 컨트롤러(110)로 전송된다. 그리고, 상기 컨트롤러(110)은 센서 신호 모사기(120)에서 생성된 저항값과 상기 버스분석기(140)를 통해 전송된 출력값을 텍스트 파일 형태의 테이블로 저장한다.In addition, the sensor signal simulator 120 sequentially outputs a resistance value with a precision desired by the user within the resistance value range, and the output resistance value is converted into a specific voltage value by the multi-channel signal control circuit 200. The converted electrical signal is transmitted to the controller 110 through the bus analyzer 140 through A / D conversion. In addition, the controller 110 stores a resistance value generated by the sensor signal simulator 120 and an output value transmitted through the bus analyzer 140 as a table in the form of a text file.

이와 관련하여, 상기 다양한 측정 센서 중 온도 측정 센서의 예를 들어 설명하면, 측정 환경에서의 온도가 0℃일 경우, 상기 온도 측정 센서가 이를 감지하여 저항 100Ω의 크기로 측정 출력값을 나타낸다면, 상기 센서 신호 모사기(120)는 상기 컨트롤러(110)로부터 입력되는 임의의 입력값이 0℃로 입력되면, 상기 온도 측정 센서가 감지한 온도 대비 출력값과 동일한 형태 및 크기인 100Ω으로 이를 나타내게 되는 것이다.In this regard, if the temperature measuring sensor is described as an example of the various measuring sensors, when the temperature in the measurement environment is 0 ℃, if the temperature measuring sensor detects this and represents the measured output value with the size of the resistance 100Ω, When any input value input from the controller 110 is input at 0 ° C., the sensor signal simulator 120 may indicate this as 100 μs having the same shape and size as the output value compared to the temperature detected by the temperature measuring sensor.

한편, 상기 매트릭스 스위치(130)는, 상기 컨트롤러(110)의 제어에 따라 상기 센서 신호 모사기(120)와 복수 개의 다채널 신호조절 회로(200)를 신호 연결하여, 상기 센서 신호 모사기(120)로부터 출력된 센서 모사 신호를 입력받아 상기 다채널 신호조절 회로(200)로 전달하는 기능을 한다.On the other hand, the matrix switch 130, the sensor signal simulator 120 and a plurality of multi-channel signal control circuit 200 by the signal control under the control of the controller 110, from the sensor signal simulator 120 Receives the output of the sensor simulation signal and transmits to the multi-channel signal control circuit 200.

또한, 상기 다채널 신호조절 회로(200)는 상기 다양한 측정 센서별로 대응되는 복수 개의 채널이 구비되는 것이 바람직하다.In addition, the multi-channel signal control circuit 200 is preferably provided with a plurality of channels corresponding to the various measurement sensors.

즉, 상기 매트릭스 스위치(130)는, 컨트롤러(110)로부터 입력된 복수 개의 임의의 입력값들에 대응하여 상기 센서 신호 모사기(120)로부터 출력된 복수 개의 센서 모사 신호를 입력받아, 상기 복수 개의 센서 모사 신호가 갖는 개별적인 신호특성에 맞는 다채널 신호조절 회로(200)에 연결되는 것이다.That is, the matrix switch 130 receives a plurality of sensor simulation signals output from the sensor signal simulator 120 in response to a plurality of arbitrary input values input from the controller 110, and receives the plurality of sensors. It is connected to the multi-channel signal control circuit 200 according to the individual signal characteristics of the simulated signal.

예를 들어 설명하면, 상기 컨트롤러(110)로부터 입력된 임의의 입력값이 0℃로 입력되면, 상기 센서 신호 모사기(120)는 이를 상기 온도 측정 센서로부터 출력되는 측정값과 동일한 형태 및 크기인 100Ω으로 나타내며, 상기 100Ω의 출력값은 상기 매트릭스 스위치(130)에 의해 상기 복수 개의 다채널 신호조절 회로(200) 중 온도 측정 센서의 신호를 조절하는 다채널 신호조절 회로의 하나의 채널과 연결되어 입력되는 것이다.For example, when an arbitrary input value input from the controller 110 is input at 0 ° C., the sensor signal simulator 120 measures 100 Ω which is the same shape and size as the measured value output from the temperature measuring sensor. The output value of 100 kHz is one channel of the multi-channel signal control circuit for controlling the signal of the temperature measuring sensor of the plurality of multi-channel signal control circuit 200 by the matrix switch 130 and It is connected and entered.

이와 같이, 본 발명에 따른 다채널 신호조절 회로(200)의 교정데이터 자동생성 장치(100)에 의하면, 센서 신호 모사기(120)와 다채널 신호조절 회로(200)를 연결하기 위한 별도의 수작업이 필요로 하지 않고, 센서 신호 모사기(120)와 복수 개의 다채널 신호조절 회로(200)가 다채널 매트릭스 스위치(130)에 의해 자동적으로 신호 연결되므로, 수작업에 의해 발생 가능한 회로 단락의 위험을 줄여주며, 교정 데이터를 실시간 점검할 수 있는 효과를 구현할 수 있는 것이다.As described above, according to the apparatus 100 for automatically generating calibration data of the multi-channel signal control circuit 200 according to the present invention, a separate manual operation for connecting the sensor signal simulator 120 and the multi-channel signal control circuit 200 is performed. Without the need, since the sensor signal simulator 120 and the plurality of multi-channel signal conditioning circuits 200 are automatically signal-connected by the multi-channel matrix switch 130, it reduces the risk of manual short circuit In other words, it is possible to realize the effect of checking the calibration data in real time.

이후, 상기 다채널 신호조절 회로(200)로 입력된 각각의 센서 모사 신호는, 상기 버스 분석기(140) 및 컨트롤러(110)의 입력 신호 레벨에 따라 신호 조절됨과 동시에 A/D 변환(Analog to Digital)된다.Thereafter, each of the sensor simulation signals input to the multi-channel signal control circuit 200 is controlled according to the input signal levels of the bus analyzer 140 and the controller 110 and A / D conversion (Analog to Digital) is performed. )do.

한편, 상기 버스 분석기(140)는, 상기와 같이 신호 조절 및 A/D 변환된 센서 모사 신호를 입력받아, 상기 컨트롤러(110)에 입력 가능한 일정한 통신 규격을 갖는 출력 센서 신호의 형태로 변환시킨다.On the other hand, the bus analyzer 140 receives the signal control signal and the A / D converted sensor simulation signal as described above, and converts it into the form of an output sensor signal having a certain communication standard that can be input to the controller 110.

여기서, 상기 일정한 통신 규격은 통상적으로 이용되는 신뢰성이 우수한 통신 규격을 의미하며, 본 발명의 일실시예에서와 같이 소형 위성 발사체에 적용되는 경우에는, MIL-STD-1553B의 통신 규격을 갖는 것이 바람직하다.Here, the predetermined communication standard means a communication standard having excellent reliability, and when applied to a small satellite projectile as in an embodiment of the present invention, it is preferable to have a communication standard of MIL-STD-1553B. Do.

상기 컨트롤러(110)는, 상술한 바와 같이 센서 신호 모사기(120), 매트릭스 스위치(130)를 제어하여, 센서 신호 모사기(120)로부터 센서 모사 신호를 발생시키며, 매트릭스 스위치(130)를 이용하여 상기 센서 신호 모사기(120)로부터 발생된 센서 모사 신호의 신호 특성에 맞추어 다채널 신호조절 회로(200)와 자동적으로 연결시킨다.As described above, the controller 110 controls the sensor signal simulator 120 and the matrix switch 130 to generate a sensor simulation signal from the sensor signal simulator 120, and uses the matrix switch 130. It is automatically connected to the multi-channel signal control circuit 200 in accordance with the signal characteristics of the sensor simulation signal generated from the sensor signal simulator 120.

또한, 상기 컨트롤러(110)는, 상기 센서 신호 모사기(120)로부터 출력된 센서 모사 신호와, 상기 버스 분석기(140)를 통해 입력된 출력 센서 신호를 저장하며, 저장된 상기 센서 모사 신호와 상기 출력 센서 신호의 신호값을 상호 비교 분석하여 교정데이터를 생성한다.In addition, the controller 110 stores the sensor simulation signal output from the sensor signal simulator 120 and the output sensor signal input through the bus analyzer 140, and the stored sensor simulation signal and the output sensor. Compensation data is generated by comparing and analyzing signal values of signals.

여기서, 컨트롤러(110)는, 상기 센서 모사 신호와 출력 센서 신호를 저장하되, 테이블 저장 형태를 갖는 텍스트 파일로 저장되도록 구비되는 것이 바람직하다.Here, the controller 110 may be configured to store the sensor simulation signal and the output sensor signal, and to store the text data in a text file having a table storage form.

즉, 상기 신호조절 회로(200)에 실제 측정 센서가 연결될 경우, 상기 컨트롤러(110)는 상기와 같이 텍스트 파일로 저장된 데이터 파일을 메모리로 로드한다. 또한, 상기 버스 분석기(140)로 입력된 센서 출력 신호는 메모리에 로드된 테이블에 대입되어 신호조절 회로(200)로 입력된 센서값을 추정할 수 있게 되는 것이다. That is, when the actual measurement sensor is connected to the signal control circuit 200, the controller 110 loads the data file stored as a text file into the memory as described above. In addition, the sensor output signal input to the bus analyzer 140 is substituted into the table loaded in the memory to estimate the sensor value input to the signal control circuit 200.

이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술 사상과 아래에 기재될 청구범위의 균등 범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.As described above, although the present invention has been described by way of limited embodiments and drawings, the present invention is not limited thereto and is intended by those skilled in the art to which the present invention pertains. Of course, various modifications and variations are possible within the scope of equivalents of the claims to be described.

도 1은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 다채널 신호조절 회로의 교정데이터 자동생성 장치의 구성을 나타낸 개략도이다.1 is a schematic diagram showing the configuration of a device for automatically generating calibration data of a multi-channel signal control circuit according to an exemplary embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

100...교정데이터 자동생성 장치 110...컨트롤러100 ... Automatic generation of calibration data 110 ... Controller

120...센서 신호 모사기 130...매트릭스 스위치120 ... Sensor Signal Simulator 130 ... Matrix Switch

140...버스 분석기 200...신호조절 회로140 ... Bus Analyzer 200 ... Signal Control Circuit

Claims (4)

컨트롤러;controller; 측정 센서에서 감지된 센싱 신호의 측정값과 동일한 신호 형태 및 크기를 갖도록 상기 센싱 신호를 모사(Copy)하여, 상기 컨트롤러의 제어에 따라 일정 크기를 갖는 센서 모사 신호를 출력하는 센서 신호 모사기;A sensor signal copying unit for copying the sensing signal to have the same signal shape and size as the measured value of the sensing signal sensed by the measuring sensor, and outputting a sensor simulation signal having a predetermined size under the control of the controller; 상기 컨트롤러의 제어에 따라, 상기 센서 신호 모사기와 복수 개의 다채널 신호조절 회로를 신호 연결하여, 상기 센서 신호 모사기로부터 출력된 센서 모사 신호를 입력받아 상기 다채널 신호조절 회로로 전달하는 매트릭스 스위치;A matrix switch configured to signal-connect the sensor signal simulator and the plurality of multi-channel signal control circuits to receive the sensor simulation signals output from the sensor signal simulators and to transfer them to the multi-channel signal control circuits; 상기 다채널 신호 조절 회로에 의해 신호 조절 및 A/D 변환된 센서 모사 신호를 입력받아, 상기 컨트롤러에 입력 가능한 일정한 통신 규격을 갖는 출력신호의 형태로 변환시키는 버스분석기;를 포함하며,And a bus analyzer for receiving a signal simulation signal A / D converted by the multi-channel signal control circuit and converting the sensor simulation signal into a form of an output signal having a predetermined communication standard input to the controller. 상기 컨트롤러는, 상기 센서 신호 모사기로부터 출력된 센서 모사 신호와, 상기 버스분석기를 통해 입력된 출력 센서 신호를 테이블 형태의 텍스트 파일로 저장하며, 저장된 상기 센서 모사 신호와 상기 출력 센서 신호의 신호값을 상호 비교 분석하여 교정데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 다채널 신호조절 회로의 교정데이터 자동생성 장치.The controller may store a sensor simulation signal output from the sensor signal simulator and an output sensor signal input through the bus analyzer as a text file in a table form, and store signal values of the stored sensor simulation signal and the output sensor signal. Compensation data automatic generation device of a multi-channel signal conditioning circuit, characterized in that for generating calibration data by comparing and analyzing each other. 제 1항에 있어서, 상기 측정 센서는,The method of claim 1, wherein the measurement sensor, 온도 측정 센서, 변형률 측정 센서, 압력 측정 센서 및 습도 측정 센서 중 선택된 하나 이상의 측정 센서인 것을 특징으로 하는 다채널 신호조절 회로의 교정 데이터 자동생성 장치.And at least one measurement sensor selected from a temperature measurement sensor, a strain measurement sensor, a pressure measurement sensor, and a humidity measurement sensor. 제 1항에 있어서, 상기 버스분석기는,The method of claim 1, wherein the bus analyzer, 상기 다채널 신호조절 회로로부터 전달 받은 상기 출력 센서 신호를 MIL-STD-1553B의 통신 규격을 갖는 출력신호의 형태로 변환시키는 것을 특징으로 하는 다채널 신호조절 회로의 교정데이터 자동생성 장치.And automatically converting the output sensor signal received from the multi-channel signal control circuit into a form of an output signal having a communication standard of MIL-STD-1553B. 삭제delete
KR1020080135578A 2008-12-29 2008-12-29 Automatic generation device for calibration data of multi-channel signal control circuit KR101047131B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080135578A KR101047131B1 (en) 2008-12-29 2008-12-29 Automatic generation device for calibration data of multi-channel signal control circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080135578A KR101047131B1 (en) 2008-12-29 2008-12-29 Automatic generation device for calibration data of multi-channel signal control circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20100077587A KR20100077587A (en) 2010-07-08
KR101047131B1 true KR101047131B1 (en) 2011-07-06

Family

ID=42638919

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080135578A KR101047131B1 (en) 2008-12-29 2008-12-29 Automatic generation device for calibration data of multi-channel signal control circuit

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101047131B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2773270C1 (en) * 2021-07-13 2022-06-01 Федеральное автономное учреждение "Центральный аэрогидродинамический институт имени профессора Н.Е. Жуковского" (ФАУ "ЦАГИ") Automatic calibrator of channels for measuring signals of measuring system sensors

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107860953B (en) * 2017-12-18 2019-12-24 珠海格力电器股份有限公司 Three-phase electric energy metering module and calibration method thereof
CN107941380A (en) * 2017-12-18 2018-04-20 天津市计量监督检测科学研究院 A kind of PCR analyzer multichannel temperature calibrating installation
KR102013644B1 (en) * 2018-11-13 2019-08-23 한국항공우주연구원 Error reduction device for automatic calibrator of sensor acquisition instrument

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100583921B1 (en) 2004-03-26 2006-05-26 한국항공우주연구원 System For On-board large Flight Data Acquisition With The Star Network, The Method Thereof
KR100704599B1 (en) 2005-10-24 2007-04-06 한국항공우주연구원 Reconfigurable telemetry data bus architecture
JP2008538956A (en) 2005-04-28 2008-11-13 エレクタ アクチボラゲット（パブル） Method and apparatus for suppressing interference in electromagnetic multi-channel measurements

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100583921B1 (en) 2004-03-26 2006-05-26 한국항공우주연구원 System For On-board large Flight Data Acquisition With The Star Network, The Method Thereof
JP2008538956A (en) 2005-04-28 2008-11-13 エレクタ アクチボラゲット（パブル） Method and apparatus for suppressing interference in electromagnetic multi-channel measurements
KR100704599B1 (en) 2005-10-24 2007-04-06 한국항공우주연구원 Reconfigurable telemetry data bus architecture

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2773270C1 (en) * 2021-07-13 2022-06-01 Федеральное автономное учреждение "Центральный аэрогидродинамический институт имени профессора Н.Е. Жуковского" (ФАУ "ЦАГИ") Automatic calibrator of channels for measuring signals of measuring system sensors

Also Published As

Publication number Publication date
KR20100077587A (en) 2010-07-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8797025B2 (en) Compensation methods for digital source-measure-units (SMUs)
CN108172152B (en) Current detection device and detection method of display panel
US8604765B2 (en) Resistance simulation and common mode rejection for digital source-measure units
KR101047131B1 (en) Automatic generation device for calibration data of multi-channel signal control circuit
KR101375363B1 (en) Apparatus for measuring temperature using thermistor
US10359321B2 (en) On-chip circuit and method for accurately measuring die temperature of an integrated circuit
CN210775825U (en) Step response characteristic checking system of converter station direct current measuring device
RU2417349C1 (en) Procedure for measurement of relative deformations of structures with multi-pointed tensometric measuring system
KR102013644B1 (en) Error reduction device for automatic calibrator of sensor acquisition instrument
JP2015040776A (en) Sensor sheet calibration device, and program used therefor
KR100974346B1 (en) Digital probe inspection device and its method
CN113108814A (en) Multi-channel resistance circuit and device
US7499821B2 (en) Sensor drift characteristic testing
JP4209429B2 (en) Strain / temperature measurement method
CN110967548B (en) Program-controlled variable resistor device with current detection function and working method
CN108398601B (en) Comprehensive tester for steering column handle
US3947675A (en) Computer interactive resistance simulator (CIRS)
JPH11118617A (en) Temperature controller
KR100899998B1 (en) Method for calibration of analog input/output card
JP4464217B2 (en) Strain measuring device and strain gauge discrimination method
US8437974B2 (en) Calibration detection system and method
CN110471469B (en) Self-adaptive temperature control method based on PI algorithm
CN108536126B (en) Point inspection instrument and point inspection method of DCS (distributed control system)
Simulator About the Simulator…
Singh et al. Enhancement in wind tunnel data acquisition system using NI-LabVIEW

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140701

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150630

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160502

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee