KR101041695B1 - 아크 결함 검출시 적응성 ｒｆ 감지를 위한 디바이스들, 시스템들, 및 방법들 - Google Patents

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지멘스 인더스트리 인코포레이티드
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Abstract

특정 예시적인 실시예들은 입력 신호에 응답하는 출력 신호를 자동으로 생성하는 단계를 포함할 수 있는 방법을 포함한다. 입력 신호는 아크 결함을 가리킬 수 있다. 출력 신호는 전기 회로가 개방되게 하도록 구성될 수 있다. 출력 신호는 제 1 진폭을 가진 제 1 임계값을 바탕으로 하는 유도 신호에 응답하여 생성될 수 있다.

Description

아크 결함 검출시 적응성 ＲＦ 감지를 위한 디바이스들, 시스템들, 및 방법들{DEVICES, SYSTEMS, AND METHODS FOR ADAPTIVE RF SENSING IN ARC FAULT DETECTION}
본 발명은 아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 디바이스들, 시스템들, 및 방법들에 관한 것이다.
여기에 전체적으로 참조로써 통합된 미국특허 5,729,145(Blades)는 "AC 전력 시스템의 아킹이 광대역 고주파 노이즈로부터의 전력 파형을 모니터하고, 전력 파형에 동기화된 진폭의 변화 패턴들에 대해 검출된 노이즈를 시험함으로써 검출된다. 협대역, 스위프-주파수 검출기 및 동기 평균화는 백그라운드 간섭으로부터 아크 노이즈의 판별을 개선하기 위하여 사용될 수 있다. 단일 회로를 제어하기 위한 아킹 결함 차단기, 및 하우스 내의 임의 장소에서 아킹 검출을 위한 전체 하우스 모니터는 기술된다"를 인용한다. 요약서 참조.
여기에 전체적으로 참조로써 통합된 미국특허 공개 20050254187(Chu)는 " 회로내 아크 결함들의 이벤트 바탕 검출 장치 및 방법. 적어도 하나의 센서는 회로내 전기 신호의 이상 이벤트들을 감지하기 위하여 배열된다. 이상 이벤트들은 전기 신호 파형의 왜곡들을 포함한다. 처리기는 이상 이벤트들을 식별하고, 이상 이 벤트들이 아크 결함을 가리킬 때 알람 신호를 생성한다. 이상 이벤트들은 전류 파형 왜곡들 및/또는 전압 파형 왜곡들을 포함할 수 있다. 파형 왜곡들은 간접적으로 측정될 수 있다; 임피던스는 회로와 직렬로 배치되어, 전류 왜곡들은 임피던스 양단 전압 강하시 왜곡들을 형성하고, 상기 경우 전압 왜곡들은 이상 이벤트들일 수 있다. 아크 결함들은 이상 이벤트들에 대한 개별 AC 사이클들 같은 간격들을 시험하고, m 간격들의 이동 시리즈 중 적어도 n이 적어도 p 이상 이벤트들을 포함하는지 결정하여 식별될 수 있다. 작동기는 아크 결함 보호를 제공하기 위하여 회로를 차단하기 위한 회로 차단기 같이 검출된 임의의 아크 결함들을 대항하기 위해 사용될 수 있다. 종래 회로들은 아크 결함 보호용 작동기와 함께 아크 결함 검출을 위한 감지기 및 처리기로 개장될 수 있다"를 인용한다. 요약서 참조.
여기에 전체적으로 참조로써 통합된 미국특허 6,459,273(Dollar)는 "로드에 전류를 운반하는 전기 전도체(14)를 가진 시스템에 대한 스퍼터링 아크 결함 검출기(10). 스퍼터링 아크 결함 검출기는 전도체의 전류 작용에 응답하여 가변 신호를 생성하기 위한 전도체에 결합된 전류 모니터(64)를 포함한다. 레벨 검출기(58)는 모니터에 결합되고 가변 신호가 제 1 레벨을 초과할 때 제 1 펄스를 생성한다. 단계 검출기(62)는 모니터에 결합되고 가변 신호의 빠른 단계적 증가에 응답한다. 단계 검출기는 가변 신호가 제 2 레벨을 초과할 때 제 2 펄스를 생성한다. 레벨 검출기 및 단계 검출기에 결합된 아크 검증기(48)는 제 1 및 제 2 펄스들을 결합하고, 결합된 펄스들이 제 3 레벨을 초과할 때 결함 신호를 생성한다"를 인용한다. 요약서 참조.
특정 예시적인 실시예들은 입력 신호에 응답하여 출력 신호를 자동으로 생성하는 것을 포함할 수 있는 방법을 포함한다. 입력 신호는 아크 결함을 가리킨다. 출력 신호는 전기 회로가 개방되게 하도록 구성될 수 있다. 출력 신호는 제 1 진폭을 가진 제 1 임계값을 바탕으로 유도된 신호에 응답하여 생성될 수 있다.
다양한 잠재적인 실제의 유용한 실시예들은 첨부 예시적인 도면들을 참조하여 특정 예시적인 실시예들의 다음 상세한 설명을 통하여 보다 쉽게 이해될 것이다.
도 1은 예시적인 아크 결함 조건 및 예시적인 노이즈 파형 모두에 의해 생성된 신호 세기 파형들의 도면이다.
도 2는 시스템(2000)의 예시적인 실시예의 블록도이다.
도 3은 예시적인 아크 결함 검출 방법(3000)의 흐름도이다.
도 4는 정보 디바이스(4000)의 예시적인 실시예의 블록도이다.
다음 용어들이 여기에서 실질적으로 사용될 때, 첨부된 정의들은 적용된다. 이들 용어들 및 정의들은 편견 없이 제공되고, 본 출원과 일치하며, 이 출원 또는 이 출원의 우선권을 주장하는 임의의 출원의 진행 동안 이들 용어들을 재정의하기 위한 권리는 예비된다. 본 우선권을 주장하는 임의의 특허 청구항을 해석하기 위하여, 각각의 정의(또는 만약 본래 정의들이 특허의 진행 동안 보정되었다면 재정 의된 용어)는 그 정의 외측의 주제의 명확하고 명백한 거부권으로서 기능한다.
어(a) - 적어도 하나.
활동 - 활동, 작동, 단계, 및/또는 처리 또는 처리의 일부.
~ 적응된 - 특정 용도 또는 상황에 적당하거나 적합하게 이루어진.
알고리즘 - 하나 또는 그 이상의 미리 결정된 결과들을 제공하기 위하여 적응된 머신 명령들.
증폭기 - 디바이스를 통과하는 신호들의 진폭을 증가시키는 디바이스.
증폭 - 신호의 진폭을 증가시키기 위해.
진폭 - 크기.
아날로그 - 연속적인 측정값 및/또는 입력으로부터 형성된 신호.
아날로그 대 디지털 컨버터 - 아날로그 입력을 수신하고 아날로그 입력에 관련된 디지털 출력을 출력하기 위하여 구성된 디바이스.
분석 - 어(a)
및/또는 - 결합하거나 택일적으로.
장치 - 특정 목적을 위한 기구 또는 디바이스.
대략적으로 - 거의 동일한.
아크 결함 - 둘 또는 그 이상의 전도체들 사이의 전기 방전, 상기 방전은 적어도 미리 결정된 전압, 전류 및/또는 전력 레벨과 연관됨.
연관하다 - 조인, 함께 접속, 및/또는 관련시키기 위해.
~와 연관된 - ~와 관련된.
자동으로 - 외부 영향 또는 제어에 필수적으로 무관한 방식으로 작동 또는 동작. 예를 들어, 자동 광 스위치는 사람이 수동으로 광 스위치를 동작시키지 않고, 시야 내(in its view) 사람을 "본" 후 턴 온할 수 있다.
평균 - 설정 양들의 카운트에 의해 설정 양의 합을 나눔으로써 얻어진 값.
아래 - 크기 미만.
사이 - 분리 간격 내.
캘리브레이트 - 표준과 비교하여 검사, 조절, 및/또는 결정.
할 수 있다 - 적어도 몇몇 실시예들에서 할 수 있는.
유발하다 - 효과를 생성하기 위해.
변화시키다 - 보다 바람직한 값으로 수정하기 위해.
검사하다 - 조사 및/또는 테스트하기 위해.
회로 - 전기 전도 경로.
회로 차단기 - 교류 전기 회로를 자동으로 개방하기 위하여 제공된 디바이스.
코드 - 머신 판독 가능 명령들.
포함하는 - 포함하지만 제한되지 않는.
구성하다 - 특정 용도 또는 상황에 적당하거나 적합하게 하다.
~하기 위해 구성된 - 특정 기능을 수행할 수 있는.
컨버팅 - 변환, 적응, 및/또는 변화시키기 위해.
수정하다 - 보다 바람직한 값으로 변화시키기 위해.
변조 - 목표된 형태로부터 변경된 상태.
카운트 - (n.) 카운팅에 의해 도달된 수.
카운트하다 - (v.) 통상적으로 영에서 시작하여 일씩 증가시키기 위해.
생성하다 - 초래하기 위해.
전류 - 전기 에너지의 흐름.
데이터 - 일반적으로 특정 또는 미리 결정된 방식으로 포맷화되고 및/또는 개념들을 표현하기 위하여 구성된 정보의 별개의 부분들.
데이터 구조 - 데이터가 효과적으로 조작되게 하는 데이터의 수집부 및/또는 데이터가 특정 데이터 조작 기능들을 지원하기 위하여 설계된 데이터 엘리먼트들 사이의 논리적 관계의 구성. 데이터 구조는 데이터 구조의 특성들을 기술하기 위하여 메타 데이터를 포함할 수 있다. 데이터 구조들의 예들은 어레이, 딕셔너리, 그래프, 해시, 히프(heap), 링크된 리스트, 매트릭스, 오브젝트, 큐, 링, 스택, 트리, 및/또는 벡터를 포함할 수 있다.
전용하다 - 특정 용도, 작동, 유발, 및/또는 엔티티에 전체적으로 위임 및/또는 제공하기 위해.
정의하다 - ~의 윤곽, 형태, 또는 구조를 설정하기 위해.
유도하다 - 소스로부터 얻기 위해.
검출하다 - 감지, 인지, 및/또는 식별.
결정하다 - 얻음, 계산, 결정, 추론, 및/또는 조사하기 위해.
디바이스- 머신, 제조, 및/또는 이들의 수집부.
차동 전류 - 제 1 전기 전도체를 수반한 전기 전하의 제 1 흐름 및 제 2 전기 전도체를 수반한 전기 전하의 제 2 흐름 사이의 차.
디지털 - 비아날로그; 이산.
직류(DC) - 비교류 전류.
듀티 사이클 - 펄스 트레인이 높은 논리 상태인 시간 퍼센트지.
전기 - 전기성을 포함.
전기적으로 결합된 - 전기 에너지를 전달하기 위하여 적응된 방식으로 접속됨.
에너지 - 이용 가능한 전력.
평가하다 - 계산하기 위해 및/또는 대략적으로 및/또는 임시로 결정하기 위해.
초과하다 - ~보다 크기면에서 크다.
실행하다 - 하나 또는 그 이상의 머신 명령들을 수행하기 위해.
결함 - 아크 결함 또는 접지 결함.
보다 적은 - 기준과 비교하여 수가 작은.
필터 - (n.) 전기 신호 부분을 제거하기 위하여 구성된 하나 또는 그 이상의 전기적으로 결합된 구성요소들.
필터링 - (v.) 전기 신호 부분을 제거하기 위해.
주파수 - 미리 결정된 시간 기간 발생 횟수.
~로부터 - 소스를 가리키기 위하여 사용됨.
이득 - 출력 대 입력의 비율로서 표현된 신호 전력, 전압, 및/또는 전류의 증가 또는 감소.
생성하다 - 생성, 형성, 발생, 및/또는 존재를 초래하다.
보다 큰 - 크기면에서 큰.
접지 결함 - 접지에 대한 전기 디바이스 또는 회로의 단락.
촉각 - 운동감각 움직임의 인간 감지 및/또는 터치의 인간 감지를 포함. 많은 잠재적 촉각 경험들은 다수의 감각들, 감각들의 몸 위치 차, 및 적어도 부분적으로 비시각, 비청각, 및 비후각 방식으로 감지되는 감각들의 시간 바탕 변화들이고, 상기 감각들은 감촉 터치(터치됨)의 존재들, 활동 터치, 움켜쥠, 압력, 마찰, 수축, 미끌어짐, 늘림, 힘, 토크, 충격, 찌름, 진동, 움직임, 가속도, 경련, 펄스, 방향, 수족 위치, 중력, 외면 느낌, 간격, 리세스, 점성도, 고통, 가려움, 습기, 온도, 열 전도성, 및 열적 능력을 포함한다.
과거(historical) - 이전 시간으로부터.
가리키다 - 표시하다.
가리키는 - 가리키기 위하여 사용하는.
표시기 - 관심을 끌기 위한 표시.
정보 디바이스 - 임의의 범용 컴퓨터 및/또는 특정 목적 컴퓨터 같은 정보를 처리할 수 있는 임의의 디바이스로서, 상기 컴퓨터는 퍼스널 컴퓨터, 워크스테이션, 서버, 마이크로컴퓨터, 메인프레임, 슈퍼컴퓨터, 컴퓨터 터미널, 랩톱, 착용 가능 컴퓨터, 및/또는 퍼스널 디지털 어시스탄트(PDA), 모바일 터미널, 블루투쓰 디바이스, 통신기, "스마트" 폰(Treo-like device), 메시징 서비스(예를 들어, Blackberry) 수신기, 페이저, 팩시밀리, 셀룰러 텔리폰, 지상 전화, 텔리포닉 디바이스, 프로그램된 마이크로프로세서 또는 마이크로제어기 및/또는 주변 집적 회로 엘리먼트들, ASIC 또는 다른 집적 회로, 이산 엘리먼트 회로 같은 하드웨어 전자 논리 회로, 및/또는 PLD, PLA, FPGA, 또는 PAL, 또는 등등 같은 프로그램 가능한 논리 디바이스를 포함한다. 일반적으로 여기에 기술된 방법, 구조, 및/또는 그래픽 사용자 인터페이스의 적어도 일부를 실행할 수 있는 무한 상태 머신을 가진 임의의 디바이스는 정보 디바이스로서 사용될 수 있다. 정보 디바이스는 하나 또는 그 이상의 네트워크 인터페이스들, 하나 또는 그 이상의 처리기들, 명령들을 포함하는 하나 또는 그 이상의 메모리들, 및/또는 하나 또는 그 이상의 입력/출력(I/O) 디바이스들, I/O 디바이스에 결합된 하나 또는 그 이상의 사용자 인터페이스들, 등등 같은 구성요소들을 포함할 수 있다.
개시하다 - 사용하기 위한 무언가 및/또는 몇몇 미래 이벤트를 준비하다.
입력 - 디바이스의 전기적 입력에 관련됨.
입력/출력(I/O) 디바이스 - 청각, 시각, 촉각, 후각, 및/또는 미각 지향 디바이스 같은 임의의 감지 지향 입력 및/또는 출력 디바이스로서, 상기 디바이스는 예를 들어 모니터, 디스플레이, 프로젝터, 오버헤드 디스플레이, 키보드, 키패드, 마우스, 트랙볼, 조이스틱, 게임패드, 휠, 터치패드, 터치 패널, 포인트 디바이스, 마이크로폰, 스피커, 비디오 카메라, 카메라, 스캐너, 프린터, 촉각 디바이스, 진동기, 촉각 시뮬레이터, 및/또는 잠재적으로 I/O 디바이스가 부착 또는 접속될 수 있는 포트를 포함하는 촉각 패드를 포함한다.
킬로헤르쯔 - 초당 수천 번의 사이클들의 카운트.
~보다 낮은 - 무언가에 관련하여 크기면에서 보다 작은,
저역 통과 - 미리 결정된 최대 임계값 아래 주파수를 특징으로 하는 신호의 서브 신호들이 필터링되지 않고, 신호로부터 미리 결정된 최대 임계값 보다 높은 주파수들을 특징으로 하는 필터 서브 신호들이 필터링되게 하도록 구성됨.
머신 명령들 - 정보 디바이스 같은 머신이 하나 또는 그 이상의 특정 활동들, 동작들, 또는 기능들을 수행하게 하도록 적응된 방향들. 몇몇 "처리기', 커널", "연산 시스템", "프로그램", "애플리케이션", "유틸리티", "서브루틴", "스크립트", "매크로", "파일", "프로젝트", "모듈", 라이브러리", "클래스", 및/또는 "오브젝트", 등등이라 불리는 엔티티로부터 후일 형성할 수 있는 명령들은 하드웨어, 펌웨어, 및/또는 소프트웨어에서 머신 코드, 소스 코드, 오브젝트 코드, 컴파일 코드, 어셈블리 코드, 통역 코드, 및/또는 실행 코드, 등등으로서 구현될 수 있다.
머신 판독 가능 매체 - 머신이 데이터 및/또는 정보를 얻을 수 있는 물리적 구조. 실시예들은 메모리, 펀치 카드들, 등등을 포함한다.
크기 - 사이즈 또는 범위.
관리하다 - 명형 또는 제어하기 위해.
할 수 있다 - 적어도 몇몇 실시예들에서 허용 및/또는 허가됨.
측정하다 - 표준과 관련한 몇몇 값을 결정하다.
측정값 - 관찰에 의해 결정된 크기, 수량, 및/또는 용량.
메모리 디바이스 - 명령들 및/또는 데이터 같은 아날로그 또는 디지털 정보를 저장할 수 있는 장치. 실시예들은 비휘발성 메모리, 휘발성 메모리, 랜덤 액세스 메모리, RAM, 판독 전용 메모리, ROM, 플래시 메모리, 자기 매체, 하드 디스크, 플로피 디스크, 자기 테이프, 광학 매체, 광학 디스크, 컴팩트 디스크, CD, 디지털 다기능 디스크, DVD 및/도는 레이드(raid) 어레이, 등등을 포함한다. 메모리 디바이스는 여기에 기술된 실시예에 따라 처리기에 결합되고 및/또는 처리기에 의해 실행되도록 제공된 명령들을 저장할 수 있다.
방법 - 처리, 과정, 및/또는 무언가를 달성하기 위한 관련 활동들의 수집.
마이크로프로세서 - 중앙 처리 유니트를 포함하는 집적 회로.
혼합하다 - 복합 신호를 형성하기 위하여 결합하다.
네트워크 - 통신적으로 결합된 다수의 노드들. 네트워크는 임의의 다양한 서브 네트워크들이고 및/또는 사용할 수 있고, 상기 서브 네트워크들은 회로 스위칭, 공용 스위칭, 패킷 스위칭, 데이터, 텔레폰, 원격통신, 비디오 분배, 케이블, 지상, 브로드캐스트, 위성, 광대역, 코포레이트, 글로벌, 국내, 지역, 광역, 백본, 패킷 스위칭 TCP/IP, 빠른 이더넷, 토큰 링, 공용 인터넷, 사적, ATM, 다중 도메인, 및/또는 다중 존 서브 네트워크, 하나 또는 그 이상의 인터넷 서비스 제공자들, 및/또는 스위치, 라우터, 및/또는 직접적으로 로컬 영역 네트워크에 접속되지 않은 게이트웨이 같은 하나 또는 그 이상의 정보 디바이스들, 등등을 포함한다.
네트워크 인터페이스 - 네트워크에 정보 디바이스를 결합할 수 있는 임의의 디바이스, 시스템, 또는 서브시스템. 예를 들어, 네트워크 인터페이스는 텔레폰, 셀룰러 폰, 셀룰러 모뎀, 텔레폰 데이터 모뎀, 팩스 모뎀, 무선 트랜스시버, 이더넷 카드, 케이블 모뎀, 디지털 가입자 라인 인터페이스, 브리지, 허브, 라우터, 또는 다른 유사한 디바이스일 수 있다.
얻다 - 수신, 계산, 결정 및/또는 계산하다.
발생하다 - 일어나다.
동작하는 - 기능하는 상태.
개방하다 - 전류가 실질적으로 흐름이 제한되는 갭을 형성하다.
발진하는 캐리어 - 미리 결정된 시간 변화 파형.
출력하다 - 무언가 형성 및/또는 생성되다.
외측 - 내에 없음.
파라미터 - 전기 전압 값, 전류 값, 및/또는 주파수 값 같은 한 세트의 측정 가능한 팩터들 중 하나.
퍼센티지 - 전체에 관련하여 비율 또는 일부.
수행하다 - 실행하다.
핀 - 마이크로프로세서의 전기 전도성 부가물.
다수 - 다수 및/또는 하나 초과의 상태.
전력 공급기 - 전기 에너지 소스.
잠재성 - 존재하지만 아직 존재하지 않음.
미리 결정된 - 미리 설정된.
방지하다 - 발생으로부터 이벤트를 유지하다.
가능성 - 발생 가능성의 양적 표현.
처리기 - 하나 또는 그 이상의 미리 결정된 임무들을 수행하기 위한 머신 판독 가능 명령들의 디바이스 및/또는 세트. 처리기는 하드웨어, 펌웨어, 및/또는 소프트웨어 중 임의의 하나 또는 결합을 포함할 수 있다. 처리기는 임무들을 수행하기 위한 기계, 공기, 수압, 전기, 자기, 광학 정보, 화학, 및/또는 생물학, 신호, 및/또는 입력들을 사용할 수 있다. 특정 실시예들에서, 처리기는 실행가능한 프로시저 및/또는 정보 디바이스에 의해 사용하기 위한 정보를 조작, 분석, 변형, 컨버팅, 전송하고, 및/또는 상기 정보를 출력 디바이스에 라우팅함으로써 상기 정보상에 작용할 수 있다. 처리기는 중앙 처리 유니트, 로컬 제어기, 원격 제어기, 병렬 제어기, 및/또는 분산된 제어기, 등등으로서 기능할 수 있다. 만약 반대로 언급되지 않으면, 처리기는 캘리포니아 주 산타 클라라의 인텔 코포레이션에 의해 제조된 펜티엄 Ⅳ 시리즈 마이크로프로세서인 마이크로제어기 및/또는 마이크로프로세서 같은 범용 디바이스일 수 있다. 특정 실시예들에서, 처리기는 여기에 개시된 실시예의 적어도 일부를 하드웨어 및/또는 펌웨어에서 실행하기 위하여 설계되었던 애플리케이션 지정 집적 회로(ASIC) 또는 필드 프로그램 가능 게이트 어레이(FPGA) 같은 전용 디바이스일 수 있다.
형성하다 - 제조 또는 만들기 위해.
계량하다 - 계산, 평가, 또는 예측하다.
제공하다 - 줌, 공급, 제공, 및/또는 이용 가능하게 하다.
범위 - 한 세트의 값들의 범위 측정값.
수신하다 - 얻음, 입수, 획득, 및/또는 수여받다.
추천하다 - 제안, 칭찬, 권고, 및/또는 찬성하다.
기준 - 무언가에 관련하여 값 및/도는 방향을 제공하는 표시기.
관련 - 비교.
렌더 - 임의의 비쥬얼, 오디오, 및/또는 촉각 수단, 디스플레이, 모니터, 전기 페이퍼, 시간 인식, 스피커, 등등을 통하여 예를 들어 데이터, 명령들, 텍스트, 그래픽들, 오디오, 비디오, 애니메이션, 및/또는 하이퍼링크들, 등등으로서 인간에게 인식되게 하는.
반복적으로 - 되풀이; 반복적으로,
요구 - (n.) 무언가를 요구하는 메시지.
요구하다 - (v.) 바람 및/또는 요청을 표현하다.
저항 전류 센서 - 저항기 양단 전압 강하를 통하여 전기 흐름을 측정하기 위하여 구성된 디바이스.
저항기 - 전자 흐름을 방해함으로써 전기 회로의 전류를 제어하기 위하여 사용된 디바이스.
응답하는 - 영향 및/또는 자극에 대한 반작용하는.
재시작하다 - 다시 시작하다.
운용 상태 - 동작 또는 비동작 표시.
샘플링 - 전체를 나타내는 일부를 취하는.
선택하다 - 대안들로부터 선택 또는 선발하다.
센서 - 자동으로 검출 또는 지각하기 위해 제공된 디바이스 또는 시스템.
세트 - 관련된 대다수.
신호 - 전력, 에너지, 압력, 유속, 점성도, 밀도, 토크, 충격, 힘, 전압, 전류, 저항, 기자력, 자기장 세기, 자기장 플럭스, 자속 밀도, 자기 저항, 투자율, 굴절율, 광학 파장, 극성, 반사, 전송, 위상 시프트, 농도, 및/또는 온도, 등등 같은 공기, 수압, 음향, 유체, 기계, 전기, 자기, 광학, 화학, 및/또는 생물학 변수에서 자동으로 검출할 수 있는 변수들로서 인코드된 작동들을 위한 머신 명령들 같은 정보. 환경에 따라, 신호는 동기, 비동기, 하드 리얼 타임(hard real-time), 소프트 리얼 타임(soft real-time), 비실시간, 연속 생성, 연속 가변, 아날로그, 이산적 생성, 이산적 가변, 양자화, 디지털, 연속 측정, 및/또는 이산적 측정, 등등일 수 있다.
시뮬레이트 - 다른 무언가의 표현 또는 모델로서 생성하다.
단일 - 하나의 아이템.
저장하지 - 통상적으로 메모리에 데이터를 배치, 홀딩, 및/또는 유지하다.
실질적으로 - 큰 범위 또는 정도로.
시스템 - 메카니즘들, 디바이스들, 데이터, 및/또는 명령들의 수집부로서, 상기 수집부는 하나 또는 그 이상의 특정 기능들을 수행하기 위하여 설계됨.
온도 - 표준 스케일 상에서 설계된 단위들 또는 온도들 측면에서 표현된 문제의 샘플내 분자들의 평균 동역학 에너지의 측정값.
종료하다 - 정지시키다.
시간 기간 - 정의된 기간의 간격.
전송하다 - 신호로서 전송, 제공, 줌, 및/또는 공급하다.
트립 - (n.) 전기 회로에서 전류 흐름을 차단하는 전기 회로의 개방.
트립하다 - (v.) 전기 회로 개방을 위해; 전기 회로에서 전류 흐름을 자동으로 차단하기 위해.
보다 높은 - 무언가에 관련하여 크기면에서 큰.
사용자 - 디바이스를 사용하는 임의의 사람, 처리, 디바이스, 프로그램, 프로토콜, 및/또는 시스템.
사용자 인터페이스 - 사용자에게 정보를 렌더링하고 및/또는 사용자로부터 정보를 요구하기 위한 임의의 디바이스. 사용자 인터페이스는 적어도 하나의 텍스츄얼, 그래픽, 오디오, 비디오, 애니메이션, 및/또는 촉간 엘리먼트들을 포함한다. 텍스츄얼 엘리먼트는 예를 들어 프린터, 모니터, 디스플레이, 프로젝터, 등등에 의해 제공될 수 있다. 그래픽 엘리먼트는 예를 들어 모니터, 디스플레이, 프로젝터, 및/또는 광, 플래그, 비콘, 등등 같은 시각적 표시 디바이스를 통하여 제공될 수 있다. 오디오 엘리먼트는 예를 들어 스피커, 마이크로폰, 및/또는 사운드 생성 및/또는 수신 디바이스를 통하여 제공될 수 있다. 비디오 엘리먼트 또는 애니메이션 엘리먼트는 예를 들어 모니터, 디스플레이, 프로젝터, 및/또는 다른 비쥬얼 디바이스를 통하여 제공될 수 있다. 촉각 엘리먼트는 예를 들어 매우 낮은 주파수 스피커, 진동기, 촉각 시뮬레이터, 촉각 패드, 시뮬레이터, 키보드, 키패드, 마우스, 트랙볼, 조이스틱, 게임패드, 휠, 터치패드, 터치 패널, 포인팅 디바이스, 및/또는 다른 촉각 디바이스, 등등을 통하여 제공될 수 있다. 사용자 인터페이스는 예를 들어 하나 또는 그 이상의 문자들, 숫자, 심볼들, 등등 같은 하나 또는 그 이상의 텍스츄얼 엘리먼트들을 포함할 수 있다. 사용자 인터페이스는 예를 들어 이미지, 사진, 그림, 아이콘, 윈도우, 제목 바, 패널, 시트, 탭, 드로어(drawer), 매트릭스, 테이블, 폼, 캘린더, 아웃라인 뷰, 프레임, 다이알로그 박스, 스태틱 텍스트, 텍스트 박스, 리스트, 피크 리스트, 팝업 리스트, 풀 다운 리스트, 메뉴, 툴 바, 독(dock), 체크 박스, 무선 버튼, 하이퍼링크, 브라우저, 버튼, 제어부, 팔레트, 프리뷰 패널, 컬러 휠, 다이얼, 슬라이더, 스크롤 바, 커서, 상태 바, 스텝퍼, 및/또는 진행 표시기, 등등 같은 하나 또는 그 이상의 그래픽 엘리먼트들을 포함할 수 있다. 텍스츄얼 및/또는 그래픽 엘리먼트는 외관, 배경 컬러, 배경 스타일, 경계 스타일, 경계 두께, 전경 컬러, 폰트, 폰트 스타일, 폰트 크기, 정렬, 라인 간격, 인덴트(indent), 최대 데이터 길이, 유효성, 질문, 커서 타입, 포인터 타입, 인증, 위치, 및/또는 크기 등등을 선택, 프로그래밍, 조절, 변화, 지정, 등등하기 위하여 사용될 수 있다. 사용자 인터페이스는 예를 들어 불륨 제어, 피치 제어, 속도 제어, 음성 선택기 같은 하나 또는 그 이상의 오디오 엘리먼트들, 및/또는 오디오 플레이, 속도, 일시중지, 빨리 감기, 역방향 감기, 등등을 제어하기 위한 하나 또는 그 이상의 엘리먼트들을 포함할 수 있다. 사용자 인터페이스는 예를 들어 비디오 플레이, 속도, 일시중지, 빨리 감기, 역방향 감기, 줌인, 줌아웃, 회전, 및/또는 경사, 등등을 제어하는 엘리먼트들 같은 하나 또는 그 이상의 비디오 엘리먼트들을 포함할 수 있다. 사용자 인터페이스는 예를 들어 애니메이션 플레이, 일시중지, 빨리 감기, 역방향 감기, 줌인, 줌아웃, 회전, 경사, 컬러, 세기, 속도, 주파수, 외관, 등등 같은 하나 또는 그 이상의 애니메이션 엘리먼트들을 포함할 수 있다. 사용자 인터페이스는 예를 들어 촉각 자극, 힘, 압력, 진동, 움직임, 변위, 온도, 등등 같은 하나 또는 그 이상의 촉각 엘리먼트들을 포함할 수 있다.
사용하다 - 사용되게 하다.
값 - 할당되거나 계산된 수지 양.
변수 측정값 - 무언가 변화하는 범위.
통해 - 에 의해 및/또는 사용에 의해.
전압 - 전기 회로의 임의의 두 개의 전도체들 사이의 전위 차.
파형 - 시간에 따른 신호 전압 및/또는 전류의 변수들의 프로파일, 그래프, 및/또는 시각적 모델.
웨이트 - 중요성을 표시하는 값.
내 - 안.
특정 실시예들은 입력 신호에 응답하여 출력 신호를 자동으로 생성하는 것을 포함할 수 있는 방법을 제공한다. 입력 신호는 아크 결함을 가리킬 수 있다. 입력 신호는 전기 회로가 개방되게 구성될 수 있다. 출력 신호는 제 1 진폭을 가진 제 1 임계값을 바탕으로 유도된 신호에 응답하여 생성될 수 있다.
교류(AC) 전력 시스템들의 낮은 암페어 아킹은 결함에 의해 생성된 광대역 무선 주파수(RF) 에너지 함량 측정값을 통하여 비아킹 조건들로부터 구별될 수 있다. 하나 또는 그 이상의 전력 라인을 통한 광대역(BPL) 신호들 및/또는 노이즈 신호들은 아크 결함 생성 파형들과 유사한 특성들을 포함할 수 있는 파형들을 특징으로 할 수 있다. 노이즈는 AC 전력 시스템 내에서 도통될 수 있고 및/또는 방사될 수 있다.
특정 예시적인 실시예들은 아크 결함 및 BPL 및/또는 노이즈 신호들 및/또는 파형들 사이에서 구별할 수 있다. 특정 예시적인 실시예들은 RF 에너지를 감지하여 아크 결함 검출기가 아크 결함 검출에 사용되는 주파수들을 포함하는 주파수 함량 및 가변 세기들의 다양한 광대역 무선 주파수(RF) 노이즈 소스들의 존재 내에서 동작하게 할 수 있다. 부가적으로, 다중 노이즈 소스들은 동시에 보상될 수 있다.
특정 예시적인 실시예들은 환경적 광대역 RF 노이즈 조건들이 모든 설치 위치들 및/또는 특정 위치의 다른 시간에서 일정하지 않다는 것이 가정될 때, 아킹 및 비아킹 조건들 사이를 판별하기 위하여 제공될 수 있다. 특정 예시적인 실시예들은 센서 데이터의 과거를 바탕으로 아크 결함 센서 데이터의 분석에 사용되는 특정 임계값 진폭들을 업데이트할 수 있다. 최신 과거 센서 데이터를 바탕으로 한 임계값 진폭들의 업데이트는 환경 RF 노이즈의 존재시 아크 결함 검출 시스템의 비교적 우수한 성능을 제공할 수 있다. 환경 노이즈는 짧은 시간 기간들에 걸쳐 일정한 것으로 가정될 수 있다.
특정 예시적인 실시예들에서, RF 신호는 E 코어 모양 페라이트 센서일 수 있는 RF 센서를 통하여 AC 브랜치로부터 얻어질 수 있다. 신호는 발진 캐리어와 혼합될 수 있다. 특정 예시적인 실시예들은 광대역 RF 신호들의 관련성을 결정하기 위하여 제공된 하나 또는 그 이상의 알고리즘들을 포함할 수 있다. 신호는 일단 캐리어와 혼합되면 필터 및/또는 증폭될 수 있다. 신호의 에너지 레벨은 대응하는 수신된 신호 강도 표시기(RSSI)로 표시, 양자화, 및/또는 표현된다. RSSI 신호는 광대역 조건들(예를 들어, 아크 결함 조건들), AC 회로 브랜치에서 광대역 정보 브로드캐스팅의 다른 소스들, 및/또는 광대역 환경 노이즈, 등등을 나타낼 수 있는 변수 신호일 수 있다.
특정 예시적인 실시예들은 하나 또는 그 이상의 하드웨어(마이크로프로세서 및/또는 애플리케이션 지정 집적 회로, 등등 형태), 펌웨어, 및/또는 소프트웨어로 실행될 수 있다. 특정 예시적인 실시예들은 아날로그 대 디지털 전환(A/D) 능력들을 가진 혼합된 신호 마이크로프로세서를 포함할 수 있다. 마이크로프로세서는 아크 결함 검출과 연관된 센서들 및/또는 알고리즘들의 하나 또는 그 이상의 특성들을 바탕으로 선택될 수 있다.
마이크로프로세서에 대한 A/D 입력은 잠재적으로 아크 결함 및/또는 RF 노이즈의 소스들에 의해 유발된 광대역 RF 신호 강도(에너지)를 나타낼 수 있는 변수 신호에 의해 구동될 수 있다. 마이크로프로세서는 적응성 센서 알고리즘뿐 아니라 아크 결함 검출 알고리즘 모두를 실행할 수 있다.
특정 예시적인 실시예들은 다른 RF 노이즈 환경들에서 동작할 수 있는 시스템의 성능을 개선하기 위하여 센서 데이터를 분석하는데 사용된 임계값 진폭들을 조절할 수 있다. 아킹이 발생하였는지 여부를 결정하기 위하여 실시간으로 센서 데이터를 분석하는 아크 결함 검출 알고리즘은 이들 임계값 진폭들을 사용할 수 있다. 임계값 진폭들은 입력 RSSI 신호의 특정 특성들을 결정하기 위하여 사용될 수 있는 전압 값들일 수 있다. 조절값은 비교적 짧은 시간 간격(예를 들어, 몇초)을 통해 수집된 과거 센서 데이터를 바탕으로 계산될 수 있다. 조절은 변수의 비교적 작은 레벨이 과거 센서 데이터에서 검출될 때 이루어질 수 있다. 비교적 작은 변수 레벨은 아킹 조건들이 발생하지 않고 검출된 환경 광대역 RF 노이즈가 비교적 일정하다는 것을 나타낼 수 있다. 비교적 작은 변수 레벨이 검출될 때, 특정한 예시적인 실시예들은 하나 또는 그 이상의 배경 노이즈 특성들의 변화를 보상하기 위하여 임계 진폭을 조절하기 위해 제공된 알고리즘을 포함할 수 있다.
특정 예시적인 실시예들에서, 하나 또는 그 이상의 임계 진폭들에 대한 알고리즘은 한 쌍의 아크 결함 검출 알고리즘과 병렬로 동작할 수 있다. 특정 예시적인 실시예들은 아크 결함 검출 알고리즘 같은 다른 알고리즘들을 사용하기 위하여 제공될 수 있는 A/D 컨버터로부터의 센서 데이터를 사용할 수 있다. 특정 예시적인 실시예들은 과거 데이터의 비교적 긴 기간 트렌드들을 분석할 때 모든 인입 데이터를 처리할 수 없다. 특정 예시적인 실시예들에서, 하나 또는 그 이상의 임계 진폭들을 조절하기 위한 알고리즘은 미리 결정된 시간 간격에서 실행하기 위하여 제공될 수 있다. 미리 결정된 시간 간격은 대략 150, 135.6, 99, 84.9, 77.2, 40, 33.4, 25, 12, 8.2, 5, 2.2, 2 밀리초일 수 있고, 그 사이의 임의의 값 또는 서브범위일 수 있다. 특정 예시적인 실시예들은 다른 알고리즘들(예를 들어, 아크 결함 검출 알고리즘)에 의한 분석 동안 임계 진폭들에 대한 변화들을 피하기 위하여 알고리즘 사이에 핸드쉐이킹(handshaking) 메카니즘을 포함할 수 있다. 따라서, 특정 예시적인 실시예들은 만약 잠재적인 아킹 조건들에 대한 분석이 진행 중인 것을 하나 또는 그 이상의 쌍 알고리즘들이 신호하면 임계 진폭들을 업데이트할 수 없다.
특정 예시적인 실시예들은 쌍 알고리즘이 공전하고 다음 잠재적인 아킹 조건을 기다리는 것을 쌍 알고리즘으로부터의 핸드쉐이킹 신호가 가리킨 후 미리 결정된 시간 동안 기다리도록 적응될 수 있다. 미리 결정된 시간 기간은 대략 1000, 800.1, 625, 499, 386.1, 300, 277, 188.1, 99, 50, 25 밀리 초 및/또는 그 사이의 임의의 값 또는 서브범위일 수 있다.
미리 결정된 시간 기간 후, 특정 예시적인 실시예들은 만약 임계 진폭 업데이트가 요구되는지, 만약 요구되면 새로운 임계 진폭들이 무엇이어야 하는지를 결정하기 위하여 데이터를 수집하기 시작할 수 있다.
도 1은 예시적인 아크 결함 조건 및 예시적인 노이즈 조건 모두에 의해 생성된 신호 세기 파형들의 도면이다. 아크 결함 조건은 아크 결함 파형(1400)을 특징으로 할 수 있는 신호를 발생시킬 수 있다. 노이즈 조건은 노이즈 파형(1300)을 특징으로 할 수 있는 신호를 발생시킬 수 있다. 노이즈 파형(1300)은 제 1 갭 시간 간격(1500) 및 제 2 갭 시간 간격(1600) 같은 하나 또는 그 이상의 갭 시간 간격들을 특징으로 할 수 있다. 제 1 갭 시간 간격(1500)은 제 2 갭 간격(1600)과 별개이고 적당하게 다른 기간일 수 있다. 노이즈 파형(1300)은 진폭(1350)을 특징으로 할 수 있다.
제 1 임계값(1100) 및/또는 제 2 임계값(1200)은 노이즈 파형(1300) 및 아크 결함 파형(1400) 사이를 구별하기 위하여 구성된 아크 결함 검출 회로와 연관될 수 있다. 제 1 임계값(1100) 및 제 2 임계값(1200)은 노이즈 파형(1300)을 특징으로 하는 노이즈 신호의 신호 특성들의 검출된 변화에 응답하여 변화되도록 구성될 수 있다.
도 2는 회로(2100)를 포함할 수 있는 시스템(2000)의 예시적인 실시예의 블록도이고, 상기 회로의 교류 전류는 센서(2200)에 의해 감지 및/또는 검출될 수 있다. 센서(2200)로부터의 신호는 필터(2250)에 제공될 수 있다. 필터(2250)는 센서(2200)로부터의 신호로부터 RSSI 신호 및 로드 전류 신호를 유도하기 위하여 구성될 수 있다. 필터(2250)는 RSSI 파형 및/또는 로드 전류 파형을 특징으로 하는 신호들을 처리를 위해 정보 디바이스(2300)에 제공하기 위해 구성될 수 있다. 정보 디바이스(2300) 이전 및/또는 상기 정보 디바이스에서, 상기 신호는 처리 및/또는 샘플링될 수 있다. 정보 디바이스(2300)에서, 결과적인 데이터는 미리 결정된 시간 기간 동안 파형의 영 교차 횟수가 제 1 미리 결정된 임계값을 초과하지만, 제 2 미리 결정된 임계값 미만인지를 식별, 예를 들어 결정하기 위하여 분석될 수 있다. 아킹 이벤트(2600) 및/또는 아킹 조건의 결정 및/또는 검출, 및/또는 위험한 아킹 조건의 검출에 응답하여 정보 디바이스(2300)에 의해 생성된 신호로 인해, 스위치(2500)는 회로(2100)를 차단한다. 스위치(2500)는 아크 결함 회로 차단기(AFCI) 같은 회로 차단기일 수 있다. 스위치(2500)는 출력 신호에 응답하여 회로(2100)를 개방하기 위하여 구성된 디바이스일 수 있다.
특정 예시적인 실시예들에서, 정보 디바이스(2300)는 입력 신호에 응답하여 출력 신호를 자동으로 생성할 수 있도록 구성될 수 있는 처리기를 포함할 수 있다. 입력 신호는 아크 결함을 가리킬 수 있다. 출력 신호는 개방 스위치(2500) 같이 회로(2100)가 개방되게 하도록 구성될 수 있다. 출력 신호는 제 1 진폭을 가진 제 1 임계값을 바탕으로 유도된 신호에 응답하여 생성될 수 있다. 제 1 임계값은 만약 측정된 전기 파라미터의 과거 샘플링된 값들의 미리 결정된 퍼센트지가 미리 결정된 시간 기간 동안 미리 결정된 범위 내에 있다면 제 1 진폭으로부터 제 2 진폭으로 변화될 수 있다. 제 1 임계값에 대한 제 2 진폭은 측정된 전기 파라미터의 과거 샘플링된 값들의 미리 결정된 카운트의 평균을 바탕으로 할 수 있다.
특정 예시적인 실시예들에서, 센서(2200), 필터(2250), 정보 디바이스(2300), 작동기(2400), 및/또는 스위치(2500)는 회로 차단기(2700)에 의해 포함될 수 있다.
도 3은 방법(3000)의 예시적인 실시예의 흐름도이다. 동작(3100)에서, 아크 결함 검출 알고리즘이 실행중인지 결정이 이루어진다. 아크 결함 알고리즘은 당업자에게 공지된 임의의 예시적인 알고리즘일 수 있다. 만약 아크 결함 알고리즘이 실행 중이면, 특정 예시적인 실시예들은 아크 결함 알고리즘과 연관된 하나 또는 그 이상의 임계 진폭들에 대한 업데이트를 방지할 수 있다. 특정 예시적인 실시예들에서, 동작(3100)은 방법(3000)의 동작들 동안 미리 결정된 및/또는 랜덤한 시간들에서 반복될 수 있다. 특정 예시적인 실시예들에서, 임계값의 전위 변화는 아크 결함 결정 알고리즘이 동작하는 것의 결정에 응답하여 종료될 수 있다.
동작(3200)에서, 스타트 시간이 결정될 수 있다. 예를 들어, 스타트 시간은 방법(3000)이 아크 결함 검출 알고리즘의 공전 상태를 검출하였기 때문에 경과된 미리 결정된 시간 간격을 바탕으로 할 수 있다.
동작(3300)에서, 샘플 값들은 얻어지고 및/또는 기록될 수 있다. 샘플링된 값들은 얻어진 입력 신호로부터 얻어질 수 있다. 특정 예시적인 실시예들에서, 샘플링된 값들의 미리 결정된 횟수는 얻어지고 및/또는 저장될 수 있다. 샘플링된 값들의 카운트는 500, 399, 243, 122, 98, 76, 56, 41, 24, 12, 8, 4, 2 같은 임의의 카운트이고, 및/또는 그 사이의 임의의 값 또는 서브범위일 수 있다. 특정 예시적인 실시예들에서, 각각의 샘플링된 값들은 미리 결정된 시간 간격에서 얻어질 수 있다. 미리 결정된 시간 간격은 대략 300, 243,7, 199, 176, 154.3, 100, 85.1, 44.3, 24, 12, 6, 4, 2 밀리초이고, 및/또는 그 사이의 임의의 값 또는 서브범위일 수 있다.
동작(3400)에서, 미리 결정된 범위 내의 값들을 포함하는 샘플들의 퍼센트지가 결정될 수 있다. 예를 들어, 모든 샘플링된 값들은 미리 결정된 제한과 비교될 수 있다. 샘플링된 값들이 전압들일 때, 미리 결정된 제한은 대략 500, 422.5, 350, 299.1, 187.6, 100, 77.3, 50, 33.2, 25, 20, 18.1, 12, 10 밀리볼트(mV)이고, 및/또는 그 사이의 임의의 값 또는 서브범위일 수 있다. 특정 예시적인 실시예들에서, 동작(3400)은 미리 결정된 시간 양이 경과된 후 반복될 수 있다. 미리 결정된 시간 양은 대략 50, 33.1, 28.8, 16.4, 12, 9.9, 5.4, 4, 2, 0.9, 0.5 초이고, 및/또는 그 사이의 임의의 값 또는 서브범위일 수 있다.
특정 예시적인 실시예들에서, 만약 샘플들의 미리 결정된 퍼센티지가 미리 결정된 범위 내에 있으면, 임계값 진폭들을 업데이트하기 위한 결정이 이루어질 수 있다. 만약 샘플들의 미리 결정된 퍼센트지가 미리 결정된 범위 내에 없다면, 방법(300)을 리셋하고 임계값 진폭들을 업데이트하지 않는 결정이 이루어질 수 있다. 미리 결정된 퍼센티지는 대략 98, 88.8, 75.3, 68.1, 60, 50, 45, 41.1, 33, 27.4, 20이고, 및/또는 그 사이의 값 또는 서브범위일 수 있다. 따라서, 특정 예시적인 실시예들에서, 특정 임계값 진폭은 과거 샘플링된 값들의 미리 결정된 카운트와 연관된 미리 결정된 변수 측정값이 미리 결정된 임계값 및/또는 진폭 아래에 있을때만 변화될 수 있다.
동작(3500)에서, 샘플들의 미리 결정된 카운트의 평균은 결정될 수 있다. 평균될 샘플들의 미리 결정된 카운트는 대략 100, 67, 60, 45, 31, 17, 12, 8, 4, 3이고 및/또는 그 사이의 임의의 값 또는 서브범위일 수 있다.
동작(3600)에서, 하나 또는 그 이상의 업데이트된 임계 진폭들은 결정될 수 있다. 예를 들어, 하부 임계값 진폭은 미리 결정된 샘플들의 평균에 제 1 미리 결정된 증가분을 가산함으로써 결정될 수 있다. 제 1 미리 결정된 증가분은 대략 500, 411, 345.6, 234.9, 166.6, 100, 98, 80.1, 65, 50, 24, 20 밀리볼트이고, 및/또는 그 사이의 임의의 값 또는 서브범위일 수 있다. 상부 임계값 진폭은 미리 결정된 샘플들의 평균에 제 2 미리 결정된 증가분을 가산함으로써 결정될 수 있다. 제 2 미리 결정된 증가분은 대략 1000, 812, 677.6, 480.4, 333.3, 200, 181, 155.3, 112, 99.6, 56.0, 40 밀리볼트이고, 및/또는 그 사이의 임의의 값 또는 서브범위일 수 있다.
동작(3700)에서, 하나 또는 그 이상의 임계값 진폭들은 업데이트될 수 있다. 예를 들어, 동작(3600)에서 결정된 임계 진폭들은 아크 결함 검출 알고리즘에 대한 임계값 진폭들로서 사용하기 위하여 하나 또는 그 이상의 미리 결정된 위치들에 저장될 수 있다.
동작(3800)에서, 아크 결함 검출 알고리즘은 업데이트된 임계 진폭들을 바탕으로 실행할 수 있다. 아크 결함 검출 알고리즘은 하나 또는 그 이상의 입력 신호 센서들로부터 입력 신호를 얻기 위하여 제공될 수 있다. 입력 신호는 발진 캐리어와 혼합될 수 있다. 혼합된 신호는 필터링될 수 있다. 필터링된 신호는 증폭될 수 있다. 증폭된 신호의 에너지 진폭은 측정될 수 있다. 증폭된 신호의 에너지 진폭은 부가적인 아크 결함 검사들이 수행되어야 하는지를 결정하기 위하여 하나 또는 그 이상의 임계 진폭들에 대하여 비교될 수 있다. 특정 예시적인 실시예들에서, 아크 결함 검출 알고리즘은 RSSI 신호를 유도 및/또는 얻을 수 있다. RSSI 신호는 아크 결함 존재를 결정하기 위하여 분석될 수 있다.
동작(3900)에서, 회로 차단기는 아크 결함 검출 알고리즘에 의해 아크 결함 결정에 응답하여 트립될 수 있다. 예를 들어, 출력 신호는 입력 신호에 응답하여 자동으로 생성될 수 있다. 입력 신호는 아크 결함을 가리킬 수 있다. 출력 신호는 전기 회로가 개방되게 하도록(예를 들어, 회로 차단기가 트립될 수 있음) 구성될 수 있다. 출력 신호는 제 1 진폭을 가진 제 1 임계값을 바탕으로 유도된 신호(예를 들어, RSSI 신호)에 응답하여 생성될 수 있다. 제 1 임계값은 만약 측정된 전기 파라미터의 과거 샘플링된 값들의 미리 결정된 퍼센티지가 미리 결정된 시간 기간 동안 미리 결정된 범위 내에 있다면 제 1 진폭으로부터 제 2 진폭으로 변화될 수 있다. 제 1 임계값에 대한 제 2 진폭은 측정된 전기 파라미터의 과거 샘플링된 값들의 미리 결정된 카운트의 평균을 바탕으로 할 수 있다.
출력 신호는 제 3 진폭을 가진 제 2 임계값을 바탕으로 할 수 있는 유도된 신호에 응답하여 생성될 수 있다. 제 1 임계값은 만약 측정된 전기 파라미터의 과거 샘플링된 값들의 미리 결정된 퍼센티지가 미리 결정된 시간 기간 동안 미리 결정된 범위 내에 있다면 제 3 진폭으로부터 제 4 진폭으로 변화될 수 있다. 제 2 임계값에 대한 제 4 진폭은 측정된 전기 파라미터의 과거 샘플링된 값들의 미리 결정된 카운트의 평균을 바탕으로 할 수 있다.
도 4는 특정 동작 실시예들에서 예를 들어 도 2의 정보 디바이스(2300)를 포함할 수 있는 정보 디바이스(4000)의 예시적인 실시예의 블록도이다. 정보 디바이스(4000)는 예를 들어 하나 또는 그 이상의 네트워크 인터페이스들(4100), 하나 또는 그 이상의 처리기들(4200), 명령들(4400)을 포함하는 하나 또는 그 이상의 메모리들(4300), 하나 또는 그 이상의 입력/출력(I/O) 디바이스들(4500), 및/또는 I/O 디바이스(4500)에 결합된 하나 또는 그 이상의 사용자 인터페이스들(4600), 등등 같은 임의의 다수의 구성요소들을 포함할 수 있다.
특정 예시적인 실시예들에서, 그래픽 사용자 인터페이스 같은 하나 또는 그 이상의 사용자 인터페이스들(4600)을 통하여, 사용자는 아크 결함을 검출하고, 아크 결함 검출 시스템에 관련된 하나 또는 그 이상의 임계 진폭들을 변화시키고, 및/또는 검출된 아크 결함에 응답하여 회로 차단기를 트립하고, 등등에 관련된 정보의 렌더링을 볼 수 있다.
주의
다른 실제적이고 유용한 실시예들은 특정 예시적인 실시예들의 상기 상세한 설명 및 도면들을 판독하는 당업자에게 명백하게 될 것이다. 다수의 변형들, 변화들, 및 부가적인 실시예들이 가능하고, 이에 따라 모든 상기 변형들, 변화들, 및 실시예들이 이 출원의 사상 및 범위내에 있는 것으로 고려되는 것은 이해되어야 한다.
따라서, 이 출원의 임의의 부분(예를 들어, 제목, 분야, 배경, 요약, 초록, 도면, 등등)의 내용과 무관하게, 만약 임의의 청구항과 관련하여 명확한 정의, 주장, 또는 의견 처럼 반대로 기술되지 않으면, 이 출원 및/또는 이 우선권을 주장하는 임의의 출원의 임의의 청구항이든, 및 본래 제공되었든 그렇지 않든:
임의의 특정 기술 또는 도시된 특성, 기능, 작용, 또는 엘리먼트, 임의의 동작들의 특정 시퀀스, 또는 엘리먼트의 임의의 특정 상호관계에 대한 요구 사항이 없고;
임의의 엘리먼트들은 통합, 분리, 및/또는 되풀이될 수 있고;
임의의 동작은 반복되고, 다중 엔티티들에 의해 수행되고, 및/또는 다중 권한들에서 수행되고; 및
임의의 동작 또는 엘리먼트는 특정하게 배제될 수 있고, 동작들의 시퀀스는 가변할 수 있고, 및/또는 엘리먼트들의 상호관계는 가변할 수 있다.
게다가, 임의의 수 또는 범위가 여기에 기술될 때, 명확하게 반대로 언급되지 않으면, 수 또는 범위는 개략적이다. 임의의 범위가 여기에 기술될 때, 다르게 명확하게 언급되지 않으면, 상기 범위는 모든 값들 및 모든 서브범위들을 포함한다. 예를 들어, 만약 1 내지 10의 범위가 기술되면, 그 범위는 예를 들어 1.1, 2.5, 3.335, 5, 6.179, 8.9999 등등 같은 그 가시의 모든 값들을 포함하고, 예를 들어 1 내지 3.65, 2.8 내지 8.14, 1.93 내지 9, 등등 같은 그 사이의 모든 서브범위들을 포함한다.
여기에 참조로써 통합된 임의의 자료의 임의의 정보(예를 들어, 미국특허, 미국특허 출원, 책, 논설, 등등)은 여기에 나타난 상기 정보 및 다른 언급들 및 도면들 사이의 충돌이 존재하지 않는 범위까지 참조로써 통합된다. 여기 무효한 임의의 청구항 또는 찾고자하는 우선권을 렌더하는 충돌을 포함하는 상기 충돌이 발생하는 경우, 참조 자료로써 통합된 임의의 상기 충돌 정보는 여기에 참조로써 통합되지 않는다.
따라서, 상세한 설명들 및 도면들은 자연적으로 도시된 것이고, 제한되지 않는 것이 고려된다.

Claims (19)

  1. 아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 방법으로서,
    회로 차단기에서 입력 신호에 응답하여 출력 신호를 자동으로 생성하는 단계 ― 상기 입력 신호는 아크 결함이 교류(AC) 전력 시스템의 전기 회로에서 발생하였는지 여부를 가리키고, 상기 출력 신호는 상기 전기 회로가 개방되게 하도록 구성되고, 상기 출력 신호는 제 1 진폭을 갖는 제 1 임계값을 바탕으로 유도된 신호에 응답하여 생성되며, 상기 제 1 임계값은 상기 아크 결함을 구별하기 위한 기준으로서 사용됨 ―;
    만약 측정된 전기 파라미터의 과거(historical) 샘플링된 값들의 미리 결정된 퍼센티지가 미리 결정된 시간 기간 동안 미리 결정된 범위 내에 있다면, 상기 제 1 임계값을 상기 제 1 진폭으로부터 제 2 진폭으로 변화시키는 단계 ― 상기 제 1 임계값에 대한 상기 제 2 진폭은 상기 측정된 전기 파라미터의 상기 과거 샘플링된 값들의 미리 결정된 카운트의 평균을 바탕으로 함 ―; 및
    상기 제 2 진폭을 가진 상기 제 1 임계값을 바탕으로 유도된 신호에 응답하여 상기 출력 신호를 자동으로 생성하는 단계
    를 포함하는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    아크 결함 검출 알고리즘이 동작한다는 결정에 응답하여 상기 제 1 임계값의 전위 변화를 종료하는 단계를 더 포함하는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 입력 신호를 얻는 단계를 더 포함하는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 입력 신호를 발진하는 캐리어(oscillating carrier)와 혼합하는 단계를 더 포함하는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 입력 신호를 발진하는 캐리어와 혼합하는 단계; 및
    상기 혼합된 신호를 필터링하는 단계
    를 더 포함하는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 방법.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 입력 신호를 발진하는 캐리어와 혼합하는 단계;
    상기 혼합된 신호를 필터링하는 단계; 및
    상기 필터링된 신호를 증폭하는 단계
    를 더 포함하는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 방법.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 입력 신호를 발진하는 캐리어와 혼합하는 단계;
    상기 혼합된 신호를 필터링하는 단계;
    상기 필터링된 신호를 증폭하는 단계; 및
    상기 증폭된 신호의 에너지 진폭을 측정하는 단계
    를 더 포함하는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 방법.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 유도된 신호를 얻는 단계를 더 포함하는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 방법.
  9. 제 1 항에 있어서,
    과거 샘플링된 값들의 상기 미리 결정된 카운트와 연관된 미리 결정된 변수 측정값이 제 2 임계값 아래일 때만 상기 제 1 임계값을 변화시키는 단계를 더 포함하는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 방법.
  10. 제 1 항에 있어서,
    미리 결정된 시간 기간 후 상기 제 1 임계값을 변화시키도록 구성된 동작을 재시작하는 단계를 더 포함하는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 방법.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 측정된 전기 파라미터의 각각의 상기 과거 샘플링된 값들을 저장하는 단계를 더 포함하는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 방법.
  12. 제 1 항에 있어서,
    상기 샘플링된 값이 상기 미리 결정된 범위내에 있는지를 결정하기 위하여 상기 측정된 전기 파라미터의 샘플링된 값을 검사하는 단계를 더 포함하는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 방법.
  13. 제 1 항에 있어서,
    제 3 진폭을 가진 제 2 임계값을 자동으로 변화시키는 단계를 더 포함하고, 만약 상기 측정된 전기 파라미터의 과거 샘플링된 값들의 상기 미리 결정된 퍼센티지가 상기 미리 결정된 시간 기간 동안 상기 미리 결정된 범위내에 있다면, 상기 제 2 임계값은 상기 제 3 진폭으로부터 제 4 진폭으로 변화되고, 상기 제 2 임계값에 대한 상기 제 4 진폭은 상기 측정된 전기 파라미터의 상기 과거 샘플링된 값들의 상기 미리 결정된 카운트의 평균을 바탕으로 하는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 방법.
  14. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2 진폭은 상기 측정된 전기 파라미터의 과거 샘플링된 값들의 상기 미리 결정된 카운트의 샘플링된 평균에 미리 결정된 전압 값을 가산함으로써 결정되는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 방법.
  15. 삭제
  16. 아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 동작들을 위한 머신 명령들을 포함하는 머신 판독 가능 매체로서, 상기 동작들은,
    회로 차단기에서 입력 신호에 응답하여 출력 신호를 자동으로 생성하는 동작 ― 상기 입력 신호는 아크 결함이 교류(AC) 전력 시스템의 전기 회로에서 발생하였는지 여부를 가리키고, 상기 출력 신호는 상기 전기 회로가 개방되게 하도록 구성되고, 상기 출력 신호는 제 1 진폭을 가진 제 1 임계값을 바탕으로 유도된 신호에 응답하여 생성되고, 상기 제 1 임계값은 상기 아크 결함을 구별하기 위한 기준으로서 사용됨 ―;
    만약 측정된 전기 파라미터의 과거 샘플링된 값들의 미리 결정된 퍼센티지가 미리 결정된 시간 기간 동안 미리 결정된 범위 내에 있다면, 상기 제 1 임계값을 상기 제 1 진폭으로부터 제 2 진폭으로 변화시키는 동작 ― 상기 제 1 임계값에 대한 상기 제 2 진폭은 상기 측정된 전기 파라미터의 상기 과거 샘플링된 값들의 미리 결정된 카운트의 평균을 바탕으로 함 ―; 및
    상기 제 2 진폭을 가진 상기 제 1 임계값을 바탕으로 유도된 신호에 응답하여 상기 출력 신호를 자동으로 생성하는 동작
    을 포함하는,
    머신 판독 가능 매체.
  17. 아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 시스템으로서,
    처리기를 포함하고, 상기 처리기는,
    회로 차단기에서 입력 신호에 응답하여 출력 신호를 자동으로 생성하고 ― 상기 입력 신호는 아크 결함이 교류(AC) 전력 시스템의 전기 회로에서 발생하였는지 여부를 가리키고, 상기 출력 신호는 상기 전기 회로가 개방되게 하도록 구성되고, 상기 출력 신호는 제 1 진폭을 가진 제 1 임계값을 바탕으로 유도된 신호에 응답하여 생성되며, 상기 제 1 임계값은 상기 아크 결함을 구별하기 위한 기준으로서 사용됨 ―;
    만약 측정된 전기 파라미터의 과거 샘플링된 값들의 미리 결정된 퍼센티지가 미리 결정된 시간 기간 동안 미리 결정된 범위 내에 있다면, 상기 제 1 임계값을 상기 제 1 진폭으로부터 제 2 진폭으로 변화시키고 ― 상기 제 1 임계값에 대한 상기 제 2 진폭은 상기 측정된 전기 파라미터의 상기 과거 샘플링된 값들의 미리 결정된 카운트의 평균을 바탕으로 함 ―; 및
    상기 제 2 진폭을 가진 상기 제 1 임계값을 바탕으로 유도된 신호에 응답하여 상기 출력 신호를 자동으로 생성하도록
    구성된,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 시스템.
  18. 제 17 항에 있어서,
    상기 출력 신호에 응답하여 상기 전기 회로를 개방하도록 구성된 디바이스를 더 포함하는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 시스템.
  19. 제 17 항에 있어서,
    상기 처리기를 포함하는 회로 차단기를 더 포함하는,
    아크 결함 검출시 적응성 RF 감지를 위한 시스템.
KR1020097004006A 2006-07-27 2007-06-13 아크 결함 검출시 적응성 ｒｆ 감지를 위한 디바이스들, 시스템들, 및 방법들 KR101041695B1 (ko)

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