SISTEMAS, DISPOSITIVOS Y MÉTODOS PARA UNA COMPENSACIÓN POR
TEMPERATURA EN SISTEMAS DE DETECCIÓN DE FALLA DE ARCO Antecedentes [1] La Patente de US N° 6.678.137 (Masón), que se incorpora a la presente a modo de referencia en su totalidad, reivindica un "disyuntor que interrumpe la corriente de falla de arco (AFCI) que incluye un par de contactos eléctricos para detener el flujo de corriente eléctrica en una porción protegida del circuito de distribución. Un filtro pasa bajo se configura para recibir una señal indicativa de una tensión a través de una resistencia en el circuito de distribución. El filtro pasa bajo amplifica la señal y provee la señal a un circuito de detección de falla de arco. El filtro pasa bajo incluye una resistencia de entrada y una resistencia de realimentación. En una realización de la invención, la resistencia de entrada tiene un coeficiente de temperatura positivo. En otra realización, la resistencia de realimentación tiene un coeficiente de temperatura negativo. En aún otra realización, la resistencia de entrada . tiene un coeficiente de temperatura positivo y la resistencia de realimentación tiene un coeficiente de temperatura negativo. En cualquiera de las realizaciones, cuando la temperatura desciende, la ganancia que provee el circuito de compensación por temperatura aumenta debido a los coeficientes de la
temperatura de las resistencias de entrada y/o de realimentación. Como resultado, los circuitos de detección de falla de arco mantendrán una sensibilidad constante a las fallas de arco en todo el rango de temperatura de funcionamiento del disyuntor AFCI". Ver resumen. [2] La Patente de US N° 6.813.131 (Schmalz) , que se incorpora a la presente a modo de referencia en su totalidad, alega referirse a un "disyuntor que incluye contactos separables, un mecanismo operativo con enclavamiento que tiene un miembro de enclavamiento, un bimetal y un conjunto de disparo por falla de arco. El conjunto de disparo incluye un termistor que es sensible a la temperatura del bimetal, un amplificador que tiene primera y segunda entradas y una salida, un primer resistor que está conectado eléctricamente entre un segundo terminal bimetálico y la primera entrada del amplificador, un segundo resistor que está conectado eléctricamente en paralelo con el termistor, un tercer resistor que está conectado eléctricamente en serie con dicha combinación paralelo, estando dicha combinación serie conectada eléctricamente entre la primera entrada del amplificador y la salida del amplificador. La entrada del segundo amplificador hace referencia al primer terminal bimetálico. La salida del amplificador tiene una tensión que se compensa para el coeficiente de temperatura del bimetal. El conjunto de
disparo provee una señal de disparo como una función de la tensión compensada. Un solenoide responde a la señal de disparo y libera el miembro de enclavamiento para disparar los contactos separables". Ver resumen. [3] La Patente de US N° 5.729.145 (Blades), que se incorpora a la presente a modo de referencia en su totalidad, alega referirse a "la formación del arco en un sistema de alimentación eléctrica de CA se detecta monitoreando la forma de onda de energía para detectar el ruido de alta frecuencia de banda ancha y examinando el ruido detectado para encontrar los patrones de variación en su amplitud que está sincronizada con la forma de onda de energía. Se pueden emplear un detector del barrido de frecuencia de banda estrecha y el promediado sincrónico para mejorar la discriminación del ruido de arco con respecto a la interferencia de fondo. Se describe un interruptor de falla de arco para controlar un circuito único y un detector de recinto completo para detectar la formación del arco en cualquier lugar en un recinto". Ver resumen. Sumario de la invención [4] Ciertas realizaciones e emplificativas comprenden un método, que puede comprender configurar un sistema para comparar un valor eléctrico y un valor umbral pre-almacenado seleccionado de una pluralidad de valores umbral pre-almacenados. El método puede comprender configurar el
sistema para modificar la pluralidad de valores umbral pre-almacenados en base a un cambio predeterminado en la temperatura medida. Breve descripción de las figuras [5] Una amplia variedad de realizaciones potenciales prácticas y útiles serán más fácilmente entendidas a través de la siguiente descripción detallada de ciertas realizaciones ej emplificativas con referencia a las figuras ej emplificativas adjuntas, en las cuales: [6] La Figura 1 es un diagrama de bloques de una realización ej emplificat iva de un sistema 1000; [7] La Figura 2 es un gráfico ej emplificat ivo de la resistencia del sensor como una función de la temperatura; [8] La Figura 3 es una realización ej emplificat iva de un perfil de una forma de onda; [9] La Figura 4 es una realización ej emplificativa de un perfil de una forma de onda [10] La Figura 5 es un gráfico ej emplificat ivo de la variación de la salida del sensor como una función de la temperatura; [11] La Figura 6 es un gráfico ej emplificat ivo de la variación de la salida del sensor como una función de la temperatura ; [12] La Figura 7 es un gráfico ej emplificativo de la tensión de salida como una función de la temperatura;
[13] La Figura 8 es un diagrama de flujo de una realización ej emplificativa de un método 8000; y [14] La Figura 9 es un diagrama de bloques de una realización ej emplificativa de un dispositivo de información 9000; Definiciones [15] En la presente solicitud se aplican las definiciones adjuntas cuando se usan los siguientes términos. Estos términos y definiciones se presentan sin perjuicio y acorde con el contexto de la solicitud, y se reserva el derecho de redefinir estos términos durante la tramitación de esta solicitud o cualquier solicitud que reivindique la prioridad a la presente. Con el propósito de interpretar una reivindicación de una patente que invoque la prioridad a la presente solicitud, cada definición (o término redefinido si una definición original se modifica durante la tramitación de esta patente) funciona como una exclusión clara y no ambigua del objeto por fuera de esa definición . [16] Un(a) - al menos uno/a. [17] Actividad - una acción, acto, paso y/o proceso o porción de los mismos. [18] Adaptado para - es apropiado o adecuado para un uso o situación especifica. [19] Permitir - proveer.
[20] Análogo - una señal que se forma a partir de una medición y/o una entrada continua. [21] Conversión analógico - digital - recibir una entrada analógica y generar una salida digital relacionada a la entrada analógica. [22] y/o - cualquiera de los dos conjuntamente con o en alternativa a. [23] Aparato - un instrumento o dispositivo para un propósito particular. [24] Aproximadamente - casi lo mismo como. [25] Falla de arco - una descarga de electricidad entre dos o más conductores, donde la descarga está asociada con por lo menos un nivel de tensión, corriente y/o energía predeterminado . [26] Asociado con - relacionado a. [27] Automáticamente - actuar u operar de una manera esencialmente independiente de la influencia o el control externo. Por ejemplo, un interruptor de luz automático se puede activar al "ver" a una persona en su campo visual, sin que la persona opere manualmente el interruptor de luz. [28] Red principal - una red de "tráfico" compuesta, con frecuencia, de líneas troncales telefónicas de larga distancia y/o otros enlaces por cable y/o inalámbricos tales como enlaces a microondas y satelitales que se usan para transmitir simultáneamente grandes cantidades de datos entre
los sistemas de computadoras centrales conectadas a Internet. Típicamente, los datos normalmente comunicados no se originan ni terminan en la red principal. [29] En base a - se considera el hacer una determinación. [30] Puede- tiene la capacidad de, en por lo menos algunas realizaciones. [31] Cambio - una transformación o transición desde un estado, condición o fase a otro. [32] Comparar - examinar a fin de notar similitudes o diferencias en relación con otra cosa. [33] Comprender- incluir pero no está limitado a. [34] Configurar - disponer para realizar una función particular . [35] Se configura para - que tiene la capacidad de realizar una función particular. [36] Ambiente a temperatura controlada - una localización en donde se mantiene un perfil térmico dentro de un rango predeterminado. [37] Corregir - cambiar a un valor más deseado. [38] Recuento - un número que se alcanza mediante la acción de contar. [39] Contar - aumentar, típicamente de a uno y comenzando en cero. [40] Transformador de corriente - un dispositivo que se
acopla eléctrica y/o magnéticamente a un circuito eléctrico en donde el dispositivo está adaptado para suministrar una corriente eléctrica secundaria en respuesta a la corriente eléctrica (o "corriente primaria") en el circuito eléctrico, típicamente, la corriente secundaria es una parte proporcional predeterminada de la corriente primaria. [41] Datos - piezas diferentes de información, que usualmente tienen un formato con una forma especial o predeterminada y/o están organizados para expresar conceptos. [42] Definir - establecer el esbozo, la forma o la estructura de. [43] Tiempo de retardo - tiempo que toma para que un disyuntor se abra después de que se detecta una condición de disparo del disyuntor. [44] Detectar - sensar, percibir y/o identificar. [45] Determinar - establecer, obtener y/o calcular. [46] Dispositivo - una máquina, manufactura y/o una colección de las mismas. [47] Digital - no análogo, discreto. [48] Eléctrico - relacionado con electricidad. [49] Energía - potencia utilizable. [50] Háptico - involucra el sentido humano del movimiento cinestésico y/o del sentido humano del tacto. Entre las muchas experiencias potenciales hápticas hay
numerosas sensaciones, diferencias en las sensaciones por la posición del cuerpo y cambios en las sensaciones en base al tiempo que se perciben al menos parcialmente de maneras no visuales, no-audibles y no-olfativas, incluyendo las experiencias del contacto táctil (al ser tocado) , tacto activo, agarre, presión, fricción, tracción, resbalón, estiramiento, fuerza, esfuerzo de torsión, impacto, perforación, vibración, movimiento, aceleración, tirón, pulso, orientación, posición del miembro, gravedad, textura, vacio, hendidura, viscosidad, dolor, picazón, humedad, temperatura, conductividad térmica y capacidad térmica. [51] Dispositivo de información - cualquier dispositivo que tiene la capacidad de procesar información, tal como cualquier computadora de propósito general y/o de propósito especial, tal como una computadora personal, un puesto de trabajo, un servidor, una minicomputadora , una unidad central, una supercomputadora , una terminal de computadora, una computadora portátil, una computadora para llevar puesta y/o un asistente digital personal (PDA), una terminal móvil, un dispositivo Bluetooth, un comunicador, un teléfono "inteligente" (tal como un dispositivo de tipo Treo) , un receptor de servicio de mensajería (por ejemplo, Blackberry) , un localizador, un facsímil, un teléfono celular, un teléfono tradicional, un dispositivo telefónico, un microprocesador o un microcontrolador programado y/o
elementos de circuitos integrados periféricos, un ASIC (circuito integrado para aplicaciones especificas) u otro circuito integrado, un circuito lógico electrónico del hardware tal como un circuito de elementos discretos y/o un dispositivo lógico programable tal como un PLD (dispositivo lógico programable) , PLA (matriz lógica programable) , FPGA (matriz de puertas programable en el campo) o PAL (matriz lógica Y-programable) , o similares, etcétera. En general, cualquier dispositivo en donde reside una máquina de estado finito con la capacidad de implementar por lo menos una porción de un método, una estructura y/o una interfaz gráfica de usuario que se describe en la presente solicitud se puede usar como un dispositivo de información. Un dispositivo de información puede comprender componentes tales como una o más interfaces de red, uno o más procesadores, una o más memorias conteniendo instrucciones y/o uno o más dispositivos de entrada/salida (E/S), una o más interfaces de usuario acopladas a un dispositivo de E/S, etcétera . [52] Dispositivo de entrada/salida (E/S) - cualquier entrada orientada a lo sensorial y/o un dispositivo de salida, tales como un dispositivo de audio, visual, háptico, olfatorio y/o orientado al gusto, que incluyen, por ejemplo, un monitor, una pantalla, un proyector, una pantalla superior, un teclado, un teclado numérico, un ratón, una
bola rastreadora, una palanca de mando, un control de juegos, una rueda, una placa táctil, un panel táctil, un dispositivo señalador, un micrófono, un parlante, una cámara de video, una cámara, un escáner, una impresora, un dispositivo háptico, un vibrador, un simulador táctil y/o una almohadilla táctil, que incluyen potencialmente un puerto en el cual se puede sujetar o conectar un dispositivo E/S. [53] Instrucciones - pautas que están adaptadas para realizar una operación o una función en particular. [54] Inferior - pequeño en magnitud. [55] Instrucciones de máquina - pautas que están adaptadas para lograr que una máquina, tal como un dispositivo de información, realice una operación o una función en particular. Las pautas, que a veces pueden formar una entidad que se denomina "procesador", "núcleo", "sistema operativo", "programa", "aplicación", "utilitario",
"subrutina", "guión", "macro", "archivo", "proyecto", "módulo", "biblioteca", "clase" y/o "objeto", etcétera, se pueden simbolizar como código de máquina, código fuente, código objeto, código compilado, código ensamblado, código interpretable y/o código ejecutable, etcétera, in hardware, firmware y/o software. [56] Soporte legible por la máquina - una estructura física de la cual una máquina puede obtener datos y/o
información. Los ejemplos incluyen una memoria, tarjetas perforadas, etcétera. [57] Legible por la máquina - un dispositivo de información que tiene la capacidad de discernirlo. [58] Administrar - dirigir o controlar. [59] Puede- es admisible y/o se permite para, en por lo menos algunas realizaciones. [60] Medir - determinar una cantidad por comparación con un estándar. [61] Medición - una dimensión, una cuantificación, y/o una capacidad, etcétera, que se determina por observación. [62] Dispositivo de memoria - un aparato con la capacidad de almacenar información analógica o digital, tal como instrucciones y/o datos. Los ejemplos incluyen una memoria no volátil, una memoria volátil, una memoria de acceso aleatorio, RAM, una memoria de sólo lectura, ROM, una memoria flash, un soporte magnético, un disco duro, un disco flexible, una cinta magnética, un soporte óptico, un disco óptico, un disco compacto, un CD, un disco versátil digital, un DVD y/o una matriz raid (conjunto redundante de discos), etcétera. El dispositivo de memoria se puede acoplar a un procesador y/o puede almacenar instrucciones que están adaptadas para ser ejecutadas por un procesador, de acuerdo con una realización que se divulga en la presente solicitud. [63] Método - un proceso, un procedimiento y/o una
colección de actividades relacionadas para lograr algo. [64] Microprocesador - un circuito integrado que comprende una unidad de procesamiento central. [65] Modificar - provocar un cambio. [66] Red - una pluralidad de nodos que están acoplados comunicativamente. Una red puede ser y/o utilizar cualquiera de una vasta variedad de subredes, tales como de circuito conmutado, público conmutado, conmutación de paquetes, datos, teléfono, telecomunicaciones, distribución de video, cable, terrestre, difusión, satélite, banda ancha, corporativa, global, nacional, regional, área amplia, principal, conmutación de paquetes TCP/IP, Ethernet rápida, red en anillo, Internet pública, privada, ATM (modo de transferencia asincrono), multi-dominio y/o subred multizonal, uno o más proveedores de servicios de Internet y/o uno o más dispositivos de información, tales como un conmutador, un enrutador y/o una puerta de enlace que no está conectada directamente a una red de área local, etcétera . [67] Interfaz de red - cualquier dispositivo, sistema o subsistema que tiene la capacidad de acoplar un dispositivo de información a una red. Por ejemplo, una interfaz de red puede ser un teléfono, un teléfono celular, un módem celular, un módem telefónico, un fax módem, un transceptor inalámbrico, una tarjeta ethernet, un cable módem, una
interfaz de la linea digital de suscriptor, un puente, un concentrador (hub) , un enrutador y otro dispositivo similar. [68] Obtener - recibir, calcular, determinar y/o calcular . [69] En un chip - un dispositivo o sistema residente en un circuito integrado. [70] Paquete - un caso discreto de comunicación. [71] Pin - un apéndice eléctricamente conductor de un microprocesado . [72] Pluralidad - el estado de ser plural y/o más de uno . [73] Posible - capacidad de ocurrir o existir. [74] Predeterminado - está establecido por anticipado. [75] Pre-almacenado - está determinado por anticipado y se guarda en un dispositivo de memoria. [76] Prevenir - evitar que suceda un evento. [77] Proceso - realizar operaciones matemáticas y/o lógicas de acuerdo con las instrucciones programadas a fin de obtener la información deseada. [78] Procesador - un dispositivo y/o un conjunto de instrucciones legibles por la máquina para realizar una o más tareas predeterminadas. Un procesador puede comprender uno cualquiera o una combinación del hardware, firmware y/o del software. Un procesador puede utilizar principios, señales y/o entradas mecánicas, neumáticas, hidráulicas,
eléctricas, magnéticas, ópticas, informativas, químicas, y/o biológicas para realizar la o las tareas. En ciertas realizaciones, un procesador puede actuar sobre la información manipulando, analizando, modificando, convirtiendo, transmitiendo la información para usarla mediante un procedimiento ejecutable y/o un dispositivo de información y/o por el enrutamiento de la información a un dispositivo de salida. Un procesador puede funcionar como una unidad de procesamiento central, un controlador local, un controlado remoto, un controlador paralelo y/o un controlador distribuido, etcétera. A menos que se indique de otra manera, el procesador puede ser un dispositivo de propósito general, tal como un microcontrolador y/o un microprocesador, tal como las series Pentium IV del microprocesador fabricado por Intel Corporation de Santa Clara, California. En ciertas realizaciones, el procesador puede ser un dispositivo de propósito especializado, tal como un circuito integrado para aplicaciones específicas (ASIC) o una matriz de puertas programable en el campo (FPGA) que se diseñó para implementar en su hardware y/o en su firmware por lo menos una parte de una realización que se divulga en la presente. [79] Proveer - proporcionar y/o suministrar. [80] Rango - una medida de la extensión de un conjunto de valores.
[81] Tasa - una cantidad del cambio que ocurre durante un periodo de tiempo predeterminado. [82] Relacionado - conectado a y/o asociado con. [83] Relativo - en comparación con. [84] Representar- hacer perceptible a un humano, por ejemplo, como datos, comandos, textos, gráficos, audio, video, animación y/o hiperenlaces , etcétera, tales como por medio de cualquier soporte visual, audio y/o háptico, tales como mediante una pantalla, un monitor, un papel eléctrico, un implante ocular, un implante coclear, un parlante, etcétera . [85] Reiteradamente - una y otra vez; repetitivamente. [86] Resistivo - está asociado con una caída de tensión a través de una resistencia. [87] Bobina de Rogowski - un dispositivo eléctrico para medir una amplitud de una corriente alterna (CA) . Típicamente, comprende una bobina helicoidal de alambre con el conductor de un extremo retornando a través del centro de la bobina al otro extremo, de modo que ambas terminales están en el mismo extremo de la bobina. Luego, un conductor lineal se inserta a través del conjunto completo, de modo que el eje longitudinal del conductor y el eje combado de la bobina son aproximadamente coaxiales. Luego, un cambio de la corriente en el conductor lineal induce una tensión proporcional en la bobina. Una ventaja potencial de una
bobina de Rogowski, sobre otros tipos de bobinas de inducción, es que se puede hacer de extremo abierto y flexible, potencialmente permitiendo de ese modo ser envuelta alrededor de un conductor vivo sin alterarlo. Como típicamente una bobina de Rogowski tiene un núcleo de aire antes que un núcleo de hierro, puede tener una inductancia baja y puede responder a las corrientes instantáneas. También, como típicamente no tiene un núcleo de hierro para saturar, su respuesta típicamente es altamente lineal aún cuando está expuesta a grandes corrientes, tales como aquellas usadas en la transmisión de la energía eléctrica y en soldaduras. Una bobina de Rogowski que se conforma correctamente, con bobinados igualmente espaciados es típicamente inmune a la interferencia electromagnética. [88] Muestreo - (s) un conjunto de elementos que se sacan y analizan para estimar las características de una población; verbo muestrear: tomar una muestra de. [89] Muestrear - obtener una o más mediciones al azar y/o en tiempos predeterminados. [90] Seleccionar - elegir. [91] Auto-calentamiento - que tiene la capacidad de lograr que aumente el nivel de la temperatura sin una aplicación de calor externo. [92] Sensar - detectar o percibir automáticamente. [93] Sensor - un dispositivo o sistema que está
adaptado para detectar o percibir automáticamente. [94] Conjunto - una colección de elementos diferentes que tienen propiedades especificas comunes. [95] Señal - energía transmitida detectable, tal como un impulso o una cantidad eléctrica fluctuante, tal como el voltaje, la corriente o la intensidad del campo eléctrico. [96] Almacenar - ubicar, sujetar y/o retener datos, típicamente en una memoria. [97] Substancialmente - en una gran parte o grado. [98] Sistema - una colección de mecanismos, dispositivos, datos y/o instrucciones donde la colección se diseña para realizar una o más funciones específicas. [99] Temperatura - medida de la energía cinética promedio de las moléculas de una muestra de materia, que se expresa en términos de unidades o grados que están señalados en una escala estándar. [100] Variación que provoca la temperatura - un cambio en un valor que está relacionado con y/o provocado por un cambio en la temperatura. [101] Umbral - un punto que cuando se excede produce un efecto o un resultado dado. [102] Interfaz de usuario - cualquier dispositivo que interpreta información para un usuario y/o solicita información del usuario. Una interfaz de usuario incluye por lo menos uno de los elementos textuales, gráficos, de audio,
de video, animaciones y/o hápticos. Un elemento textual se puede proveer, por ejemplo, por medio de una impresora, un monitor, una pantalla, un proyector, etcétera. Un elemento gráfico se puede proveer, por ejemplo, por medio de un monitor, una pantalla, un proyector y/o un dispositivo de indicación visual, tales como una luz, una bandera, una baliza, etcétera. Un elemento de audio se puede proveer, por ejemplo, por medio de un parlante, un micrófono y/o otro dispositivo de generación y/o recepción de sonido. Un elemento de video o animación se puede proveer, por ejemplo, por medio de un monitor, una pantalla, un proyector y/o otro dispositivo visual. Un elemento háptico puede proveerse, por ejemplo, por medio de un parlante de muy baja frecuencia, un vibrador, un estimulador táctil, una almohadilla táctil, un simulador, un teclado, un teclado numérico, un ratón, una bola rastreadora, una palanca de mando, un control de juegos, una rueda, una placa táctil, un panel táctil, un dispositivo señalador y/o otro dispositivo háptico, etcétera. Una interfaz de usuario puede incluir uno o más elementos textuales tales como, por ejemplo, una o más letras, número, símbolos, etcétera. Una interfaz de usuario puede incluir uno o más elementos gráficos tales como, por ejemplo, una imagen, una fotografía, un dibujo, un icono, una ventana, una barra de título, un panel, una hoja, una lengüeta, una casilla, una matriz, una tabla, una forma, un
calendario, una vista de perfil, un marco, una caja de diálogo, un texto estático, una caja de texto, una lista, una lista para seleccionar, una lista de aparición automática, una lista desplegable, un menú, una barra de herramientas, una plataforma, una caja de control, un botón de radio, un hiperenlace, un buscador, un botón, un control, una paleta de colores, un panel de vista previa, una rueda de color, un dial, un deslizador, una barra de desplazamiento, un cursor, una barra de estado, un indicador de pasos, y/o un indicador de progreso, etcétera. Un elemento textual y/o gráfico puede utilizarse para seleccionar, programar, ajusfar, cambiar, especificar, etcétera, una apariencia, un color de fondo, un estilo de fondo, un estilo del borde, un grosor del borde, un color de primero plano, una fuente, un estilo de fuente, un tamaño de fuente, una alineación, un espaciamiento de linea , una sangría, una longitud máxima de datos, una validación, una búsqueda, un tipo de cursor, un tipo de señalador, un auto-dimensionamiento, una posición y/o una dimensión, etcétera. Una interfaz de usuario puede incluir uno o más elementos de audio tales como, por ejemplo, un control de volumen, un control de altura tonal, un control de velocidad, un selector de voz y/o uno o más elementos para controlar la reproducción de audio, velocidad, pausa, avance rápido, marcha atrás, etcétera. Una interfaz de usuario puede
incluir uno o más elementos de video tales como, por ejemplo, los elementos para controlar la reproducción de video, velocidad, pausa, avance rápido, marcha atrás, acercamiento, alejamiento, rotación y/o inclinación, etcétera. Una interfaz de usuario puede incluir uno o más elementos de animación tales como, por ejemplo, los elementos que controlan la reproducción de la animación, pausa, avance rápido, marcha atrás, acercamiento, alejamiento, rotación, inclinación, color, intensidad, velocidad, frecuencia, apariencia, etcétera. Una interfaz de usuario puede incluir uno o más elementos hápticos tales como, por ejemplo, los elementos que utilizan el estimulo táctil, la fuerza, la presión, la vibración, el movimiento, el desplazamiento, la temperatura, etcétera. [103] Valor - una cantidad numérica asignada o calculada . [104] Por medio de - a modo de y/o utilizando. [105] Tensión - una diferencia en el potencial eléctrico entre cualesquiera dos conductores de un circuito eléctrico. [106] Forma de onda - un perfil, un gráfico y/o un modelo visual de las variaciones de una señal de tensión y/o corriente a lo largo del tiempo. Descripción detallada [107] Ciertas realizaciones ej emplificativas
comprenden un método, que puede comprender configurar un sistema para comparar un valor eléctrico y un valor umbral pre-almacenado seleccionado de una pluralidad de valores umbral pre-almacenados . El método puede comprender configurar el sistema para modificar la pluralidad de valores umbral pre-almacenados en base a un cambio predeterminado en una temperatura medida. [108] Ciertas realizaciones e emplificat ivas comprenden sistemas, dispositivos y métodos para calibrar y/o para compensar por la variación que provoca la temperatura en las mediciones de los elementos para sensar en un sistema de detección de falla de arco y/o un sistema de detección de falla a tierra. [109] La energía eléctrica que se transmite en los sistemas de corriente alterna (CA) puede asociarse con una forma de onda de la tensión y con una forma de onda de la corriente. Las fallas de arco pueden ocurrir en sistemas de CA. Las fallas de arco cambian la forma de onda de la tensión y la forma de onda de la corriente. La presencia de una falla de arco puede detectarse cuando se comparan uno o más puntos sensados en la forma de onda de la tensión y/o en la forma de onda de la corriente con un valor umbral predeterminado. [110] Los posibles componentes para sensar que se utilizan para determinar los puntos sensados comprenden un
sensor resistivo, un transformador de corriente y/o una bobina de Rogowski, etcétera. Los valores sensados por medio de un componente para sensar pueden depender de la temperatura. Entonces, se puede mejorar la precisión de la detección de falla de arco corrigiendo los valores sensados de la temperatura. La corrección por la temperatura, utilizando los valores de la temperatura que se muestrearon a una tasa que se aproxima a la del muestreo de la forma de onda de la tensión y/o de la forma de onda de la corriente, puede impactar sobre la velocidad y/o la eficiencia de la determinación de la falla de arco en ciertos dispositivos de información . [111] Ciertas realizaciones ej emplificativas puede pre-medir, pre-calcular y/o pre-almacenar una pluralidad de correcciones de los valores umbral que están asociados con una pluralidad de los valores umbral de la detección de falla de arco. Cuando se produce una falla de arco en un sistema eléctrico, puede provocar el calentamiento de los componentes eléctricos presentes en dicho sistema eléctrico. Una cantidad de calor generada por la falla de arco puede relacionarse con una magnitud de una corriente eléctrica que está asociada con la falla de arco. Una señal de la falla de arco está caracterizada por una alta corriente que puede generar una mayor cantidad de calor en un circuito eléctrico que aquellas que están caracterizados por una baja
corriente. Por consiguiente, podría ser deseable disparar más rápidamente un dispositivo de protección en un circuito eléctrico para las fallas de arco detectadas que están asociadas con una magnitud de la corriente eléctrica relativamente alta que para las fallas de arco detectadas que están asociadas con una magnitud de la corriente eléctrica relativamente baja. Entonces, se puede asociar cada uno de la pluralidad de valores umbral con un rango de la corriente eléctrica predeterminada. Cada rango de corriente eléctrica predeterminada se puede asociar con un rango de frecuencia por debajo del cual se podría filtrar la corriente eléctrica. Una decisión para disparar el dispositivo de protección en el circuito eléctrico puede depender de un tiempo predeterminado y/o de un número de ciclos de la forma de onda en los cuales el circuito eléctrico puede operar sin peligro con una falla de arco que está caracterizada por una corriente de una magnitud dada. En ciertas realizaciones e emplificativas , cada rango de la corriente eléctrica predeterminada y/o cada valor de la pluralidad de valores umbral de la detección de falla de arco puede determinarse empíricamente. [112] Cada conjunto de una pluralidad de conjuntos de las pluralidades de correcciones de los valores umbral se puede asociar con un rango particular de temperaturas sensadas. En base a una temperatura sensada y a una
corrección del valor umbral almacenado asociado, puede determinarse una temperatura real, y/o puede calcularse y/o almacenarse un umbral corregido de la tensión y/o de la corriente que están asociados con una falla de arco. Los valores sensados de la tensión y/o de la corriente del componente sensado de la tensión y/o de la corriente se pueden comparar con el umbral corregido de la tensión y/o de la corriente para determinar la presencia de una falla de arco y/o disparar el circuito eléctrico sensible a la falla de arco. [113] Ciertas realizaciones ej emplificativas pueden comprender una calibración de temperatura y/o un método de compensación para un sistema interruptor de circuito por falla de arco (AFCI) . El sistema de determinación de la falla de arco puede comprender un dispositivo de información, un microprocesador y/o un circuito integrado para aplicaciones especificas (ASIC) que se configuran para detectar las fallas de arco en un circuito eléctrico. Ciertas realizaciones ej emplificativas pueden compensar por la variación que provoca la temperatura que está asociada con los componentes para sensar, para obtener resultados más precisos en la detección de falla de arco. Ciertas realizaciones ej emplificativas pueden mejorar el funcionamiento de un algoritmo de alta velocidad para la detección del arco en el muestreo de la forma de onda.
Ciertas realizaciones ej emplificativas pueden mejorar los resultados de la compensación por temperatura para ambos componentes para sensar lineal y no lineal. [114] Se pueden configurar ciertos productos AFCI ej emplificativos para identificar una falla de arco si ocurre la falla de arco y también para distinguir la falla de arco de las señales normales y de las señales de ruido generadas por muchos diferentes tipos de productos eléctricos. Para hacerlo, se pueden adaptar un microprocesador o un procesamiento digital de señales (DSP) en base a un producto AFCI para utilizar unos sensores de tensión y/o corriente para introducir una forma de onda y tomar decisiones para la identificación en base a métodos y/o algoritmos de cálculo ej emplificativos que se basan en un análisis de la forma de onda de entrada. Los sensores para la detección de falla de arco pueden comprender un sensor resistivo, un transformador de corriente y/o una bobina de Rogowski, etcétera. [115] La Figura 1 es un diagrama de bloques de una realización e emplificativa de un sistema 1000 que puede comprender uno o más sensores eléctricos 1100. Los sensores eléctricos 1100 se pueden configurar para medir y/o proveer información con respecto a la forma de onda de la tensión y/o la forma de onda de la corriente. Se puede usar el sensor eléctrico 1100, el cual puede proveer las señales a
un primer amplificador de acondicionamiento de señal 1200. El sistema 1000 puede comprender un sensor de temperatura 1300, que puede proveer una señal a un convertidor analógico digital (A/D) 1500 por medio de un segundo amplificador de acondicionamiento de señal 1400. El convertidor A/D 1500 puede configurarse para proveer una o más entradas a un dispositivo de información 1600. En ciertas realizaciones ej emplificativas , un sensor de temperatura 1300, un segundo amplificador de acondicionamiento de señal 1400 y/o un convertidor A/D 1500 pueden estar comprendidos por un dispositivo de información 1600. El dispositivo de información 1600 se puede configurar para proveer una señal que está configurada para proveer instrucciones a un subsistema de control de disparo 1700. El subsistema de control de disparo 1700 se puede configurar para usarlo con actuadores y/o con solenoides que están adaptados para interrumpir un flujo de corriente eléctrica en un circuito que es sensible a una falla de arco detectada. [116] El dispositivo de información 1600 se puede configurar para que compare automáticamente un valor eléctrico y un valor umbral pre-almacenado seleccionado de una pluralidad de valores umbral pre-almacenados . El valor eléctrico se puede relacionar con una medición que provee el sensor eléctrico 1100 que está asociada con el sistema de detección de falla de arco. El dispositivo de información
1600 se puede configurar para modificar la pluralidad de valores umbral pre-almacenados en base a un cambio predeterminado en la temperatura medida. La temperatura medida se puede muestrear a una tasa inferior que una tasa de muestreo de dicha medición eléctrica. El dispositivo de información 1600 puede acoplarse comunicativamente a un dispositivo de memoria 1650, el cual se puede configurar para almacenar la pluralidad de valores umbral pre-almacenados . [117] El dispositivo de memoria 1650 puede ser un soporte legible por la máquina. El dispositivo de memoria 1650 puede comprender instrucciones para configurar un sistema que compara un valor eléctrico y un valor umbral pre-almacenado seleccionado de una pluralidad de valores umbral pre-almacenados. El valor eléctrico se puede relacionar con una medición que provee el sensor eléctrico 1100 que está asociada con un sistema de detección de falla de arco. Las instrucciones pueden ser para configurar el sistema para modificar la pluralidad de valores umbral pre-almacenados en base a un cambio predeterminado en la temperatura medida. El sistema puede adaptarse para muestrear la temperatura medida a una tasa inferior a la tasa de muestreo de la medición eléctrica. [118] En ciertas realizaciones ej emplificativas el dispositivo de información 1600 puede recibir una señal
simbolizada en una onda electromagnética. La señal se puede adaptar para lograr que el dispositivo de información 1600 provea un primer conjunto de instrucciones legibles por la máquina que están adaptadas para configurar el sistema 1000 para que compare un valor eléctrico con un valor umbral pre-almacenado seleccionado de una pluralidad de valores umbral pre-almacenados. El valor eléctrico se puede relacionar con una medición que provee el sensor eléctrico 1100 que está asociado con un sistema de detección de falla de arco. La señal se puede adaptar para lograr que el dispositivo de información 1600 provea un segundo conjunto de instrucciones legibles por la máquina que están adaptadas para configurar el sistema para modificar la pluralidad de valores umbral pre-almacenados en base a un cambio predeterminado en la temperatura medida. El sistema 1000 se puede adaptar para muestrear la temperatura medida a una tasa inferior que una tasa de muestreo de la medición eléctrica. [119] La Figura 2 es un gráfico ej emplificativo de la resistencia del sensor como una función de la temperatura, que puede comprender una curva indicativa de cómo la resistencia en un sensor en particular varia con la temperatura. Ciertos sistemas AFCI ej emplificativos pueden comprender un sensor derivación. Como se ilustra en la Figura 2 un rango de la variación del sensor derivación puede ser tan alta como aproximadamente +/- 25% para un
rango de temperatura entre aproximadamente - 35 grados Celsius y aproximadamente 66 grados Celsius. Las variaciones de esta magnitud pueden no ser consideradas como una variación insignificante ya que los resultados de la detección de falla de arco pueden cambiar a causa de los cambios en la temperatura. [120] La Figura 3 es una realización ej emplificativa de un conjunto de la forma de onda 3000 que ilustra una corriente CA normal ej emplificativa y formas de onda de la falla de arco. Las formas de onda e emplificat ivas pueden comprender muchas otras señales de ruido como también pueden tener características similares a una forma de onda de la falla de arco. A fin de distinguir las formas de onda de la falla de arco por medio de un dispositivo de información, un microprocesador y/o un DSP se puede muestrear una forma de onda. La información de muestreo que se envía al dispositivo de información, en relación a la forma de onda muestreada, debería ser lo más cerca posible a una representación real de la forma de onda. La velocidad de muestreo y la resolución del convertidor (A/D) y la velocidad del dispositivo de información pueden ser importantes en la detección de falla de arco. En ciertas realizaciones ejemplif icativas, las aplicaciones del dispositivo de información pueden capturar características especiales de la forma de onda, tal como un pico o un cambio
de paso para identificar si está ocurriendo o no la formación del arco. Tal como se puede configurar un AFCI para monitorear un circuito en un modo de tiempo real, el dispositivo de información se puede configurar para muestrear la forma de onda y ejecutar un algoritmo de identificación de la formación del arco entre las muestras. Cuando se confirma la formación del arco, el dispositivo de información puede enviar una señal para disparar un disyuntor. En ciertas realizaciones ej emplificativas se pueden relacionar una velocidad de muestreo y la resolución de un convertidor de A/D y una velocidad de un procesador asociado con el dispositivo de información, con un costo del AFCI. En ciertas realizaciones ej emplificativas una velocidad de muestreo del convertidor de A/D y la velocidad del procesador se pueden ajusfar a niveles relativamente altos para detectar con exactitud las características de una forma de onda y se pueden configurar para realizar cálculos entre las muestras. En ciertas realizaciones ej emplificativas una velocidad del dispositivo de información puede no ser suficiente para permitir un cálculo de la compensación por temperatura en cada punto en donde se muestrea la forma de onda. [121] En ciertas realizaciones ej emplificativas un evento de formación de arco se puede identificar y distinguir de otras señales por medio del reconocimiento de
un cambio de paso, amplitud o pico de la señal y/o patrón del pulso de la forma de onda durante un intervalo de tiempo predeterminado. Las formas de onda que se ilustran en la Figura 3 indican que las tasas de muestreo pueden ser importantes para identificar un cambio de paso en la forma de onda. El cambio de paso puede ser substancialmente independiente de la amplitud o del pico de la forma de onda. En ciertas realizaciones ej emplificat ivas , una transformación de la señal de un sensor a un dispositivo de información puede ser de tipo lineal. Para las transformaciones lineales de la señal, el dispositivo de información puede tomar los errores generados por un sensor en la dirección de la amplitud como múltiplos de una constante. Los valores umbral predeterminados se pueden usar para procesar la información de la amplitud recibida desde el sensor como parte de la evidencia para juzgar si está ocurriendo una falla de arco. [122] Suponemos que los valores umbral predeterminados son V = {Ai, A2, An} (1) [123] En ciertas realizaciones ej emplificativas , estos valores predeterminados se pueden fijar y la compensación por temperatura se puede realizar en cada punto de muestreo. En tales realizaciones, el dispositivo de información puede obtener una entrada de la temperatura de
un sensor de temperatura en cada punto de muestreo. El dispositivo de información puede determinar una temperatura actual, modificar cada valor muestreado de un sensor de corriente eléctrica y aplicar un valor corregido a un algoritmo de detección de la formación de arco. En ciertas realizaciones ej emplificativas el cambio de la temperatura puede ser un proceso relativamente lento. Ciertas realizaciones ej emplificat ivas pueden tomar ventaja del proceso relativamente lento mediante la realización de verificaciones y la compensación por temperatura a una frecuencia inferior que una frecuencia a la cual se podría muestrear la forma de onda. La frecuencia de muestreo para una forma de onda e emplificativa puede estar entre aproximadamente 5 kHz y aproximadamente 100 kHz. En ciertas realizaciones ej emplificativas la tasa de muestreo de la temperatura puede ser relativamente más lenta, tal como en un rango de entre aproximadamente 0,01 kHz y 10 kHz. Debido a las características lineales de un sistema de adquisición de señales a partir de un sensor del dispositivo de información, ciertas realizaciones ej emplificat ivas no compensan por la temperatura que causa la variación en cada punto de muestreo. En cambio, se puede sensar la temperatura con una frecuencia inferior a la frecuencia a la cual se podría muestrear la forma de onda. Se pueden hacer correcciones en relación a los valores umbral en un sistema
AFCI sensible a las mediciones de la temperatura que se toman a la frecuencia inferior. [124] En ciertas realizaciones ej emplificativas una relación entre la temperatura y la resistencia se puede expresar como: R = Ro + a · T (2) [125] En donde, R es la resistencia a la temperatura T, T y R0 son valores constantes a temperatura ambiente y a es un coeficiente. La calibración de temperatura puede compensar por un cambio de la resistencia con la temperatura para un sensor derivación. ? = a · ?? (3) [126] En donde ?? representa un cambio de temperatura . [127] Los nuevos valores umbral se pueden expresar como : V = {Ai + ??, A2 + ?2, , An + ??} (4) [128] En la ecuación (4), ?? = An · a · ?? · K · ß (5) [129] En donde ß es una constante relacionada con un rango de la señal y la resolución del sistema y An, a, ?? y K son también valores conocidos para un sistema especifico que están relacionados al rango de la señal y a la resolución de un convertidor A/D. [130] La Figura 4 es una realización
e emplificativa de un perfil de la forma de onda. [131] La Figura 5 es un gráfico ej emplificativo de la variación de la salida del sensor como una función de la temperatura. Algunos componentes para sensar se pueden caracterizar por una variación de la señal no lineal para un cambio en la temperatura, por ejemplo, un transformador de corriente . [132] La Figura 6 es un gráfico ej emplificativo de la variación de la salida del sensor como una función de la temperatura. En ciertas realizaciones ej emplificativas , al definir una pluralidad de segmentos de recta para modelar una curva, esto puede dar como resultado una mejor precisión para la compensación por temperatura cuando se la compara al modelado de la curva con una única linea recta. Se puede usar una linea o múltiples segmentos de recta para aproximar la variación precisa de la temperatura. Los sensores caracterizados por una variación no lineal de la salida con la temperatura se pueden utilizar en un producto (GFCI) interruptor de circuitos por falla a tierra. En ciertas realizaciones ej emplificativas , la compensación de la temperatura se puede aplicar a un sistema GFCI. [133] Como un sensor de la temperatura, que puede estar en el chip o separado del mismo, se puede caracterizar por un cierto grado de variación debida a las variaciones de fabricación o de material, se puede realizar una calibración
para compensar cualquiera de tales variaciones. Un método de calibración puede comprender controlar una temperatura ambiental. Por ejemplo, un producto AFCI o GFCI ensamblado se puede ubicar en un ambiente a una temperatura controlada de aproximadamente 25 grados Celsius. El método de calibración puede comprender energizar al producto AFCI o GFCI ensamblado. El método de calibración puede comprender un retardo durante un periodo predeterminado de tiempo (que puede depender de las características del componente para sensar) para tomar en cuenta el auto-calentamiento del sensor . [134] El método de calibración puede comprender realizar una conversión analógico - digital con el sensor de temperatura seleccionado como entrada. La conversión analógico - digital se puede controlar por medio de una rutina pre-programada que corre en el dispositivo de información y se activa por una señal de entrada. El método de calibración puede comprender calcular las características de desplazamiento y/o de ganancia como una función de la temperatura y/o almacenar las características de desplazamiento y/o de ganancia en un dispositivo de memoria. El método de calibración puede comprender utilizar, durante un proceso de compensación por temperatura real, las características almacenadas de desplazamiento y/o de ganancia que se obtuvieron del dispositivo de memoria para
calcular una temperatura real y/o compensar por las variaciones de la temperatura. [135] La Figura 7 es un gráfico ej emplificativo de la tensión de salida como una función de la temperatura, que ilustra los resultados de las pruebas de temperatura para diferentes proveedores para los sensores de transformador de corriente diferencial (CT) . Los sensores CT diferenciales ej emplificativos pueden tener características similares a los de Danam (disponible de Danam Corporation de San José, California) . Por lo tanto, la compensación por temperatura para los sensores CT podría ser similar para los sensores que proveen los diferentes fabricantes. [136] En ciertas realizaciones ej emplificativas, un método de calibración puede comprender utilizar un terminal del microprocesador como una entrada de conmutación para la calibración de temperatura. Un ajuste por defecto de esta entrada puede ser alto. Siempre que una entrada al terminal del microprocesador es baja, el microprocesador puede leer tres veces la entrada del sensor de temperatura en el chip, hacer un promedio y guardar la información de la temperatura en un dispositivo de memoria como un valor de referencia de la temperatura ambiente (To) . En ciertas realizaciones ej emplificativas , el método de calibración se puede ejecutar durante un proceso de ensamblado a una temperatura ambiente, tal como entre aproximadamente 20 grados Celsius y
aproximadamente 30 grados Celsius. [137] Cuando la entrada al microprocesador es alta, el microprocesador puede obtener una lectura del sensor de temperatura a intervalos de tiempo predeterminados. En ciertas realizaciones ejemplificativas, el intervalo de tiempo puede ser de aproximadamente 500 mS . La diferencia entre la nueva temperatura (T) y la temperatura ambiente se puede usar para ajustar los valores umbral de corriente por defecto en un algoritmo de detección de falla de arco para un sensor derivación. Un valor de referencia apropiado puede guardarse en el dispositivo de memoria durante una inicialización de arranque del sistema. [138] Valores umbrales ej emplificat ivos pueden ser:
V = (A 40Valor, A 50Valor, . . . , A 180Valor} (6) Como, AR = a · ?? (7) [139] Los nuevos valores umbral pueden ser: V = {A 40Valor + ??, A 50Valor + ?2, , A 180Valor +
??} (8) En una ecuación anterior, ?? = An · a · ?? · K · 256 / 3300 (9) En donde An = {40, 50, , 180}; a es aproximadamente 0,001; y K es la ganancia de un amplificador de hardware del sensor derivación de corriente al microprocesador.
[140] Los valores umbral en An se pueden determinar empíricamente. Los valores que se presentan tienen la intención de ser ej emplificat ivos y no restrictivos en su aplicación en otras realizaciones potenciales. En ciertas realizaciones ej emplificat ivas , un rango de señal diseñado para el sensor derivación puede estar entre aproximadamente 0 amps valor eficaz (RMS) y aproximadamente 250 amps RMS. El rango de señal diseñada se puede asociar con una señal de tensión al puerto de entrada A/D del microprocesador que puede estar entre aproximadamente 1,65 volts y aproximadamente 3,30 volts. Los valores umbral en las ecuaciones anteriores se pueden expresar en valores RMS. En ciertas realizaciones ej emplificativas , el microprocesador puede actualizar los valores umbral aproximadamente cada 500 milisegundos , de acuerdo con las ecuaciones anteriores y los cambios de la temperatura. [141] La Figura 8 es un diagrama de flujo de una realización ej emplificat iva de un método 8000. En la actividad 8100, un sistema se puede configurar para determinar una pluralidad de valores umbral. En ciertas realizaciones ej emplificat ivas , el sistema puede configurarse para determinar una pluralidad de valores umbral pre-almacenados después de un tiempo de retardo para permitir el auto-calentamiento de un sensor configurado para medir un valor eléctrico. El sistema se puede configurar
para determinar la pluralidad de valores umbral pre-almacenados sensibles a una temperatura sensada. La temperatura sensada se puede procesar por medio de un método que comprende una conversión analógico - digital. Por ejemplo, la temperatura sensada se puede procesar por medio de un método que comprende una conversión analógico digital que se realiza por medio de un dispositivo de información . [142] En la actividad 8200, la pluralidad de valores umbral se puede almacenar en un dispositivo de memoria . [143] En la actividad 8300 se pueden obtener mediciones. El sistema se puede configurar para obtener la medición que provee el sensor por medio de un sensor resistivo, un transformador de corriente y/o una bobina de Rogowski, etcétera. El sistema se puede configurar para filtrar la medición por medio de un filtro pasa alto para obtener una señal derivada de un rango de frecuencias deseadas. El sistema se puede configurar para muestrear una forma de onda que determina el valor eléctrico, tal como una magnitud de una corriente eléctrica y/o una tensión eléctrica. El sistema se puede configurar para obtener la temperatura medida por medio de un sensor de temperatura en el chip. El sistema se puede configurar para muestrear la medición de temperatura a una tasa inferior que una tasa de
muestreo de la forma de onda. La tasa inferior se puede basar en una tensión del terminal del microprocesador. [144] En la actividad 8400 las mediciones se pueden convertir desde una forma analógica a una forma digital. Por ejemplo, el sistema se puede configurar para convertir la temperatura medida desde una señal analógica a una señal digital dentro de un dispositivo de información y/o externa al dispositivo de información. [145] En la actividad 8500 el sistema se puede configurar para enviar mediciones, tal como el valor eléctrico, al dispositivo de información. [146] En la actividad 8600, una o más de las pluralidades de valores umbral se pueden modificar. El sistema se puede configurar para modificar la pluralidad de valores umbral pre-almacenados en base a un cambio predeterminado en la temperatura medida. [147] En la actividad 8700, el sistema se puede configurar para seleccionar un valor umbral pre-almacenado de una pluralidad de valores umbral pre-almacenados en base a la medición gue provee el sensor y/o la temperatura medida. La pluralidad de valores umbral pre-almacenados puede ser una primera pluralidad de valores umbral pre-almacenados. El sistema se puede adaptar para almacenar una segunda pluralidad de valores umbral pre-almacenados seleccionables por el sistema. En ciertas realizaciones
ej emplificativas , se puede proveer una señal la cual se puede adaptar para configurar el sistema para que modifique la pluralidad de valores umbral pre-almacenados en base a un cambio predeterminado en la temperatura medida. [148] En la actividad 8800 un valor umbral seleccionado puede compararse a una medición de la corriente. El sistema se puede configurar para comparar un valor eléctrico y un valor umbral pre-almacenado seleccionado de una pluralidad de valores umbral pre-almacenados. El valor eléctrico se puede relacionar a una medición que provee un sensor que está asociado con un sistema de detección de falla de arco. En ciertas realizaciones e emplificativas , se puede proveer una señal electromagnética, la que se puede adaptar para configurar el sistema para comparar el valor eléctrico y el valor umbral pre-almacenado seleccionado de la pluralidad de valores umbral pre-almacenados. [149] En la actividad 8900, una señal se puede enviar a un dispositivo configurado para disparar un disyuntor eléctrico. [150] La Figura 9 es un diagrama de bloques de una realización ej emplificativa de un dispositivo de información 9000, que en ciertas realizaciones operativas puede comprender, por ejemplo, el dispositivo de información 1600 de la Figura 1. El dispositivo de información 9000 puede
comprender cualquiera de numerosos componentes, tales como por ejemplo, una o más interfaces de red 9100, uno o más procesadores 9200, una o más memorias 9300 que contienen unas instrucciones 9400, uno o más dispositivos de entrada/salida (E/S) 9500 y/o una o más interfaces de usuario 9600 que están acopladas al dispositivo E/S 9500, etcétera . [151] En ciertas realizaciones ej emplificat ivas , por medio de una o más interfaces de usuario 9600, tal como una interfaz de usuario gráfica, un usuario puede visualizar una interpretación de la información relacionada con la determinación de la falla de arco y/o la compensación por temperatura en un sistema de detección de falla de arco. [152] Aún otras realizaciones prácticas y útiles serán fácilmente evidentes para aquellos expertos en la técnica a partir de la lectura de la descripción detallada previamente enumerada y las figuras de ciertas realizaciones e emplificativas . Deberá entenderse que son posibles numerosas variaciones, modificaciones y realizaciones adicionales y de acuerdo con todas tales variaciones, modificaciones y realizaciones se debe considerar que están dentro del espíritu y el alcance de esta solicitud. [153] Entonces, sin tener en cuenta el contenido de cualquier porción (por ejemplo, título, antecedentes, síntesis, resumen, figura o dibujo, etcétera) de esta
solicitud, a menos que se especifique claramente lo contrario, tal como por medio de una definición, una afirmación o un argumento explícito, con respecto a cualquier reivindicación, tanto de esta solicitud y/o de cualquier reivindicación de cualquier solicitud que invoque la prioridad de la presente y si originalmente se presentó o de otra manera: [154] no hay requerimiento para la inclusión de cualquier característica, función, actividad o elemento, cualquier secuencia particular de actividades o cualquier interrelación particular de elementos que particularmente se describieron o ilustraron; [155] cualesquiera elementos se pueden integrar, segregar y/o duplicar; [156] cualquier actividad se puede repetir, realizar mediante múltiples entidades y/o realizar en múltiples jurisdicciones; y [157] se puede excluir específicamente cualquier actividad o elemento, donde la secuencia de actividades puede variar y/o puede variar la interrelación de los elementos . [158] Por consiguiente, las descripciones y las figuras se deben considerar como ilustrativas en su naturaleza y no como restrictivas. Además, cuando se describe cualquier número o rango en la presente solicitud,
a menos que se indique claramente de otra manera, ese número o rango es aproximado. Cuando en la presente se describe cualquier rango, a menos que esté indicado claramente de otra manera, ese rango incluye todos los valores en el mismo y todos los sub-rangos en el mismo. Cualquier información en cualquier material (por ejemplo, una patente de US, una solicitud de patente de US, un libro, un articulo, etcétera) que ha sido incorporado por referencia en la presente solicitud, se incorpora sólo por referencia hasta el punto de que no exista un conflicto entre tal información y las otras aseveraciones y figuras que se describen en la presente solicitud. En caso de tal conflicto, incluyendo un conflicto que quitara validez alguna reivindicación de la presente o al invocar la prioridad de la presente, entonces, cualquier información conflictiva en dicho material de referencia incorporado, específicamente no se incorpora por referencia en la presente.