KR101020019B1 - 내장형 dram을 위한 리프레시 제어기 및 리프레시 제어 방법 - Google Patents
내장형 dram을 위한 리프레시 제어기 및 리프레시 제어 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101020019B1 KR101020019B1 KR1020090057078A KR20090057078A KR101020019B1 KR 101020019 B1 KR101020019 B1 KR 101020019B1 KR 1020090057078 A KR1020090057078 A KR 1020090057078A KR 20090057078 A KR20090057078 A KR 20090057078A KR 101020019 B1 KR101020019 B1 KR 101020019B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- refresh
- signal
- memory bank
- last
- state
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
- G11C11/40618—Refresh operations over multiple banks or interleaving
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F13/00—Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
- G06F13/14—Handling requests for interconnection or transfer
- G06F13/16—Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus
- G06F13/1605—Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus based on arbitration
- G06F13/161—Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus based on arbitration with latency improvement
- G06F13/1636—Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus based on arbitration with latency improvement using refresh
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
- G11C11/40603—Arbitration, priority and concurrent access to memory cells for read/write or refresh operations
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
- G11C11/40611—External triggering or timing of internal or partially internal refresh operations, e.g. auto-refresh or CAS-before-RAS triggered refresh
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/408—Address circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/04—Arrangements for selecting an address in a digital store using a sequential addressing device, e.g. shift register, counter
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/12—Group selection circuits, e.g. for memory block selection, chip selection, array selection
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Dram (AREA)
- Memory System (AREA)
Abstract
Description
Claims (10)
- 외부 액세스 신호를 수신하고, 리프레시 인에이블링 신호 REFN, 리프레시 어드레스 신호 CRA, 및 충돌(confliction) 신호를 발생시키며, 상기 리프레시 인에이블링 신호 REFN 및 상기 리프레시 어드레스 신호 CRA를, 복수의 메모리 뱅크 그룹을 포함하는 내장형 DRAM에 송신하도록 구성된, 내장형 DRAM을 위한 리프레시 제어기에 있어서,리프레시 인터벌 및 클록 사이클에 따라 상기 리프레시 인에이블링 신호 REFN 및 마지막 리프레시 신호 last_ccr을 발생시키도록 구성된, 상태 제어 모듈;상기 복수의 메모리 뱅크 그룹에서, 상기 리프레시 인터벌에서 리프레시될 적어도 하나의 메모리 뱅크 그룹을 검색하고, 상기 외부 액세스 신호 및 상기 검색된 메모리 뱅크 그룹에 따라 상기 리프레시 어드레스 신호 CRA를 발생시키도록 구성된, 리프레시 검색 모듈;상기 리프레시 어드레스 신호 CRA 및 상기 외부 액세스 신호에 따라 상기 복수의 메모리 뱅크 그룹 각각의 상태를 기록하도록 구성된, 스코어보드 모듈; 및상기 외부 액세스 신호, 상기 마지막 리프레시 신호 last_ccr, 및 상기 메모리 뱅크 각각의 상태에 따라 상기 충돌 신호를 발생시키도록 구성된, 충돌 검출 모듈을 포함하는 리프레시 제어기.
- 제1항에 있어서, 상기 상태 제어 모듈은,각각의 리프레시 인터벌의 클록 사이클을 카운트하고, 이 카운트 수가 상기 메모리 뱅크 그룹의 수 - 1보다 작은 경우, 상기 리프레시 인에이블링 신호 REFN을 그것의 제1 상태에 있는 것으로서 설정하고, 상기 마지막 리프레시 신호 last_ccr을 그것의 제1 상태에 있는 것으로 설정하며; 상기 카운트 수가 상기 메모리 뱅크 그룹의 수 - 1과 같을 경우, 상기 리프레시 인에이블링 신호 REFN을 그것의 제1 상태에 있는 것으로 설정하고 상기 마지막 리프레시 신호 last_ccr을 그것의 제2 상태에 있는 것으로 설정하며; 상기 카운트 수가 상기 메모리 뱅크 그룹의 수와 같거나 또는 그보다 클 경우, 상기 리프레시 인에이블링 신호 REFN을 그것의 제2 상태에 있는 것으로 설정하고 상기 마지막 리프레시 신호 last_ccr을 그것의 제1 상태에 있는 것으로 설정하도록 구성되는 것인, 리프레시 제어기.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 리프레시 검색 모듈은,상기 복수의 메모리 뱅크 그룹에서, 상기 리프레시 인터벌에서 리프레시될 제1 메모리 뱅크 그룹을 검색하도록 구성된, 제1 검색 모듈;상기 복수의 메모리 뱅크 그룹에서, 상기 리프레시 인터벌에서 리프레시될 제2 메모리 뱅크 그룹을 검색하도록 구성된, 제2 검색 모듈;상기 검색된 제1 메모리 뱅크 그룹을 상기 외부 액세스 신호와 비교하고 비교 신호를 발생시키도록 구성된, 비교기; 및상기 비교 신호의 제어 하에, 상기 제1 메모리 뱅크 그룹과 상기 제2 메모리 뱅크 그룹 사이에서 선택하고 상기 리프레시 어드레스 신호 CRA를 발생시키도록 구성된, 멀티플렉서를 포함하는 것인, 리프레시 제어기.
- 제1항에 있어서, 상기 스코어보드 모듈은 복수의 카운터들을 포함하고, 상기 복수의 카운터 각각은 상기 복수의 메모리 뱅크 그룹 각각에 대응하는 것인, 리프레시 제어기.
- 제1항에 있어서, 상기 충돌 검출 모듈은, 상기 마지막 리프레시 신호 last_ccr이 그것의 제2 상태에 있고 상기 외부 액세스 신호에 의해 표시된 상기 메모리 뱅크가 상기 리프레시 어드레스 신호 CRA에 의해 표시된 메모리 뱅크 그룹에 속하는 경우 충돌 신호를 발생시키도록 구성되는 것인, 리프레시 제어기.
- 복수의 메모리 뱅크 그룹을 포함하는 내장형 DRAM을 위한 리프레시 제어 방법에 있어서,외부 액세스 신호를 수신하는 단계;각각의 리프레시 인터벌의 클록 사이클에 따라 리프레시 인에이블링 신호 REFN과 마지막 리프레시 신호 last_ccr을 발생시키는 단계;상기 복수의 메모리 뱅크 그룹에서, 상기 리프레시 인터벌에서 리프레시될 적어도 하나의 메모리 뱅크 그룹을 검색하고, 상기 외부 액세스 신호 및 상기 검색 된 메모리 뱅크 그룹에 따라 상기 리프레시 어드레스 신호 CRA를 발생시키는 단계;상기 리프레시 어드레스 신호 CRA 및 상기 외부 액세스 신호에 따라 상기 복수의 메모리 뱅크 그룹 각각의 상태를 기록하는 단계;상기 외부 액세스 신호, 상기 마지막 리프레시 신호 last_ccr, 및 상기 메모리 뱅크 각각의 상태에 따라 충돌 신호를 발생시키는 단계; 및상기 리프레시 인에이블링 신호 REFN 및 리프레시 어드레스 신호 CRA를 상기 내장형 DRAM에 송신하는 단계를 포함하는 리프레시 제어 방법.
- 제6항에 있어서, 상기 리프레시 인에이블링 신호 REFN 및 상기 마지막 리프레시 신호 last_ccr을 발생시키는 단계는,각각의 리프레시 인터벌의 클록 사이클을 카운트하고, 이 카운트 수가 상기 메모리 뱅크 그룹의 수 - 1보다 작은 경우, 상기 리프레시 인에이블링 신호 REFN을 그것의 제1 상태에 있는 것으로 설정하고, 상기 마지막 리프레시 신호 last_ccr을 그것의 제1 상태에 있는 것으로 설정하는 단계; 상기 카운트 수가 상기 메모리 뱅크 그룹의 수 - 1과 같은 경우, 상기 리프레시 인에이블링 신호 REFN을 그것의 제1 상태에 있는 것으로 설정하고, 상기 마지막 리프레시 신호 last_ccr을 그것의 제2 상태에 있는 것으로 설정하는 단계; 및 상기 카운트 수가 상기 메모리 뱅크 그룹의 수와 같거나 또는 그보다 큰 경우, 상기 리프레시 인에이블링 신호 REFN을 그것의 제2 상태에 있는 것으로 설정하고 상기 마지막 리프레시 신호 last_ccr을 그것의 제1 상태에 있는 것으로 설정하는 단계를 포함하는 것인, 리프레시 제어 방법.
- 제6항에 있어서, 상기 메모리 뱅크 그룹을 검색하고 상기 리프레시 어드레스 신호 CRA를 발생시키는 단계는,상기 복수의 메모리 뱅크 그룹에서, 상기 리프레시 인터벌에서 리프레시될 제1 메모리 뱅크 그룹 및 제2 메모리 뱅크 그룹을 검색하는 단계;상기 검색된 제1 메모리 뱅크 그룹을 상기 외부 액세스 신호와 비교하고 비교 신호를 발생시키는 단계; 및상기 비교 신호의 제어 하에서 상기 제1 메모리 뱅크 그룹 및 상기 제2 메모리 뱅크 그룹 사이에서 선택하고 상기 리프레시 어드레스 신호 CRA를 발생시키는 단계를 포함하는 것인, 리프레시 제어 방법.
- 제6항에 있어서, 상기 충돌 신호를 발생시키는 단계는, 상기 마지막 리프레시 신호 last_ccr이 그것의 제2 상태에 있고 상기 외부 액세스 신호에 의해 표시된 타겟 메모리 뱅크가 상기 리프레시 어드레스 신호 CRA에 의해 표시된 메모리 뱅크 그룹에 속하는 경우, 상기 충돌 신호를 발생시키는 단계를 포함하는 것인, 리프레시 제어 방법.
- 제6항에 있어서, 상기 충돌 신호를 발생시키는 단계는, 상기 외부 액세스 신 호에 의해 표시된 메모리 뱅크 그룹이 그것의 제2 상태에 있는 경우, 상기 충돌 신호를 발생시키는 단계를 포함하는 것인, 리프레시 제어 방법.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN200810128078.6 | 2008-07-29 | ||
| CN2008101280786A CN101640065B (zh) | 2008-07-29 | 2008-07-29 | 用于嵌入式dram的刷新控制器及刷新控制方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20100012807A KR20100012807A (ko) | 2010-02-08 |
| KR101020019B1 true KR101020019B1 (ko) | 2011-03-09 |
Family
ID=41608228
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020090057078A Expired - Fee Related KR101020019B1 (ko) | 2008-07-29 | 2009-06-25 | 내장형 dram을 위한 리프레시 제어기 및 리프레시 제어 방법 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7885134B2 (ko) |
| JP (1) | JP5147787B2 (ko) |
| KR (1) | KR101020019B1 (ko) |
| CN (1) | CN101640065B (ko) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9104581B2 (en) * | 2010-06-24 | 2015-08-11 | International Business Machines Corporation | eDRAM refresh in a high performance cache architecture |
| TWI473091B (zh) * | 2011-10-19 | 2015-02-11 | Winbond Electronics Corp | 隨機存取記憶體及其刷新控制器 |
| TWI498889B (zh) * | 2012-03-26 | 2015-09-01 | Etron Technology Inc | 記憶體及更新記憶體的方法 |
| KR101962874B1 (ko) * | 2012-04-24 | 2019-03-27 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치, 메모리 컨트롤러, 메모리 시스템 및 이의 동작 방법 |
| CN103700393B (zh) | 2012-09-28 | 2016-08-03 | 国际商业机器公司 | 用于dram的中间电路和方法 |
| WO2014065774A1 (en) * | 2012-10-22 | 2014-05-01 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Refreshing a group of memory cells in response to presence of potential disturbance |
| CN105163949B (zh) * | 2013-04-15 | 2017-09-05 | 肖特股份有限公司 | 用于改变玻璃和玻璃陶瓷透射的方法以及能够根据该方法制造的玻璃件或玻璃陶瓷件 |
| KR102553181B1 (ko) * | 2016-07-12 | 2023-07-10 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 장치 및 메모리 장치의 동작 방법 |
| EP3605541B1 (en) * | 2017-04-14 | 2025-07-30 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Memory refresh technology and computer system |
| US12001697B2 (en) | 2020-11-04 | 2024-06-04 | Rambus Inc. | Multi-modal refresh of dynamic, random-access memory |
| US20250140300A1 (en) * | 2022-02-04 | 2025-05-01 | Google Llc | Traffic Aware Adaptive Precharge Scheduler For Efficient Refresh Management In Dram Memory Controllers |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6650586B1 (en) | 2000-06-28 | 2003-11-18 | Intel Corporation | Circuit and system for DRAM refresh with scoreboard methodology |
| KR20060036510A (ko) * | 2004-10-25 | 2006-05-02 | 삼성전자주식회사 | 버퍼를 이용하여 리프레쉬하는 메모리 장치 및 그 방법 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0628850A (ja) * | 1992-07-07 | 1994-02-04 | Mitsubishi Electric Corp | ダイナミックramの制御回路 |
| JPH10222979A (ja) * | 1997-01-31 | 1998-08-21 | Mitsubishi Electric Corp | 情報処理装置 |
| JP2000251467A (ja) * | 1999-03-02 | 2000-09-14 | Nec Ibaraki Ltd | メモリリフレッシュ制御装置およびその制御方法 |
| JP2005222581A (ja) * | 2004-02-03 | 2005-08-18 | Renesas Technology Corp | 半導体記憶装置 |
| US7953921B2 (en) * | 2004-12-28 | 2011-05-31 | Qualcomm Incorporated | Directed auto-refresh synchronization |
| US7532532B2 (en) * | 2005-05-31 | 2009-05-12 | Micron Technology, Inc. | System and method for hidden-refresh rate modification |
| US20080270683A1 (en) * | 2007-04-25 | 2008-10-30 | International Business Machines Corporation | Systems and methods for a dram concurrent refresh engine with processor interface |
-
2008
- 2008-07-29 CN CN2008101280786A patent/CN101640065B/zh not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-06-24 JP JP2009149598A patent/JP5147787B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-06-25 KR KR1020090057078A patent/KR101020019B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2009-07-22 US US12/507,224 patent/US7885134B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6650586B1 (en) | 2000-06-28 | 2003-11-18 | Intel Corporation | Circuit and system for DRAM refresh with scoreboard methodology |
| KR20060036510A (ko) * | 2004-10-25 | 2006-05-02 | 삼성전자주식회사 | 버퍼를 이용하여 리프레쉬하는 메모리 장치 및 그 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP5147787B2 (ja) | 2013-02-20 |
| KR20100012807A (ko) | 2010-02-08 |
| CN101640065A (zh) | 2010-02-03 |
| US7885134B2 (en) | 2011-02-08 |
| US20100027363A1 (en) | 2010-02-04 |
| CN101640065B (zh) | 2012-07-04 |
| JP2010033695A (ja) | 2010-02-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR20100012807A (ko) | 내장형 dram을 위한 리프레시 제어기 및 리프레시 제어 방법 | |
| CN101047025B (zh) | 动态半导体存储器及其刷新控制方法 | |
| US7583552B2 (en) | Method and system for providing independent bank refresh for volatile memories | |
| US7088633B2 (en) | Method and system for providing seamless self-refresh for directed bank refresh in volatile memories | |
| US9552255B2 (en) | Memory device with parallel odd and even column access and methods thereof | |
| US10990322B2 (en) | Memory buffer chip, memory system and method of controlling the memory buffer chip | |
| US7054202B2 (en) | High burst rate write data paths for integrated circuit memory devices and methods of operating same | |
| US8773928B2 (en) | Command latency systems and methods | |
| JP4459495B2 (ja) | 半導体記憶装置のリフレッシュ制御方法、及び該制御方法を有する半導体記憶装置 | |
| CN101038783B (zh) | 半导体存储器、存储器系统和存储器系统的操作方法 | |
| US9613668B2 (en) | Semiconductor memory and memory system | |
| US20130097388A1 (en) | Device and data processing system | |
| US8687450B2 (en) | Semiconductor device | |
| US8947956B2 (en) | Delay circuit and latency control circuit of memory, and signal delay method thereof | |
| US9653148B1 (en) | Multi-bank memory device and system | |
| KR102957757B1 (ko) | Dram 메모리 컨트롤러들에서의 효율적인 리프레시 관리를 위한 트래픽 인식 적응형 프리차지 스케줄러 | |
| CN117672291B (zh) | 监测电路、刷新方法及存储器 | |
| JP5333566B2 (ja) | ダイナミック型半導体メモリのリフレッシュ制御方法 | |
| US20250218490A1 (en) | Memory device including row hammer managing circuit, and method of refresh operation for the memory device | |
| CN118824340A (zh) | 一种存储器和控制器 | |
| CN117672292A (zh) | 监测电路、刷新方法及存储器 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| A201 | Request for examination | ||
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| D13-X000 | Search requested |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000 |
|
| D14-X000 | Search report completed |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903 Not in force date: 20140301 Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date: 20140301 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |