KR100973271B1 - Substrate for semiconductor package and semiconductor package having the same - Google Patents
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Abstract
반도체 패키지용 기판 및 이를 갖는 반도체 패키지가 개시되어 있다. 반도체 패키지용 기판은 제1 면 및 상기 제1 면과 대향 하는 제2 면을 갖는 기판 몸체, 상기 제1 면 상에 배치된 접속 패드들, 상기 제2 면 상에 배치되며 상기 접속 패드들과 전기적으로 접속된 볼 랜드 패턴, 상기 볼 랜드 패턴을 노출하는 개구를 갖는 솔더 레지스트 패턴 및 상기 솔더 레지스트 패턴의 내부에 배치되며, 일부가 상기 개구에 의하여 형성된 상기 솔더 레지스트 패턴의 내측면으로부터 돌출된 보조 볼 랜드 패턴을 포함한다.A substrate for a semiconductor package and a semiconductor package having the same are disclosed. The substrate for a semiconductor package includes a substrate body having a first surface and a second surface opposite the first surface, connection pads disposed on the first surface, and electrically connected to the connection pads disposed on the second surface. A ball land pattern connected to each other, a solder resist pattern having an opening exposing the ball land pattern, and an auxiliary ball disposed inside the solder resist pattern, wherein a part of the auxiliary ball protrudes from an inner surface of the solder resist pattern formed by the opening It includes a land pattern.
Description
본 발명은 반도체 패키지용 기판 및 이를 갖는 반도체 패키지에 관한 것이다.The present invention relates to a substrate for a semiconductor package and a semiconductor package having the same.
최근 들어, 방대한 데이터를 저장 및 방대한 데이터를 처리하는 반도체 칩 및 반도체 칩을 포함하는 반도체 패키지가 개발되고 있다.Recently, semiconductor packages including semiconductor chips and semiconductor chips for storing massive data and processing massive data have been developed.
반도체 패키지는 반도체 칩, 반도체 칩이 실장 되는 기판을 포함한다.The semiconductor package includes a semiconductor chip and a substrate on which the semiconductor chip is mounted.
기판은 반도체 칩 및 외부 기기를 전기적으로 연결하는 접속 부재를 포함하고, 접속 부재는 볼 랜드와 전기적으로 연결된다.The substrate includes a connecting member for electrically connecting the semiconductor chip and an external device, and the connecting member is electrically connected with the ball land.
볼 랜드 및 볼 랜드에 부착된 접속 부재는 열에 의하여 수축 또는 팽창되고, 볼 랜드 및 접속 부재가 반복적으로 수축 또는 팽창됨에 따라 접속 부재가 볼 랜드로부터 이탈되는 불량이 빈번하게 발생 된다.The ball lands and the connection members attached to the ball lands are contracted or expanded by heat, and as the ball lands and the connection members are repeatedly contracted or expanded, defects in which the connection members are separated from the ball lands frequently occur.
본 발명의 하나의 목적은 볼 랜드로부터 접속 부재의 부착 강도를 향상시키기에 적합한 구조를 갖는 반도체 패키지용 기판을 제공한다.One object of the present invention is to provide a substrate for a semiconductor package having a structure suitable for improving the adhesion strength of the connection member from the ball land.
본 발명의 다른 목적은 상기 반도체 패키지용 기판을 포함하는 반도체 패키지를 제공한다.It is another object of the present invention to provide a semiconductor package including the semiconductor package substrate.
본 발명에 따른 반도체 패키지용 기판은 제1 면 및 상기 제1 면과 대향 하는 제2 면을 갖는 기판 몸체, 상기 제1 면 상에 배치된 접속 패드들, 상기 제2 면 상에 배치되며, 상기 접속 패드들과 전기적으로 접속된 볼 랜드 패턴, 상기 볼 랜드 패턴을 노출하는 개구를 갖는 솔더 레지스트 패턴 및 상기 솔더 레지스트 패턴의 내부에 배치되며, 일부가 상기 개구에 의하여 형성된 상기 솔더 레지스트 패턴의 내측면으로부터 돌출된 보조 볼 랜드 패턴을 포함한다.The substrate for a semiconductor package according to the present invention includes a substrate body having a first surface and a second surface facing the first surface, connection pads disposed on the first surface, and disposed on the second surface. A ball land pattern electrically connected to the connection pads, a solder resist pattern having an opening exposing the ball land pattern, and an inner surface of the solder resist pattern formed inside the solder resist pattern, a part of which is formed by the opening And an auxiliary ball land pattern protruding from it.
반도체 패키지용 기판의 상기 볼 랜드 패턴은, 평면상에서 보았을 때, 원판 형상을 갖는다.The ball land pattern of the semiconductor package substrate has a disc shape when viewed in plan view.
반도체 패키지용 기판의 상기 보조 볼 랜드 패턴은 환형 금속 플레이트 형상을 갖는다.The auxiliary ball land pattern of the semiconductor package substrate has an annular metal plate shape.
반도체 패키지용 기판의 상기 보조 볼 랜드 패턴은 상기 보조 볼 랜드 패턴의 내측면으로부터 돌출된 복수개의 요철들을 포함한다.The auxiliary ball land pattern of the semiconductor package substrate may include a plurality of protrusions and protrusions protruding from an inner side surface of the auxiliary ball land pattern.
반도체 패키지용 기판의 상기 솔더 레지스트 패턴은 상기 제2 면 상에 배치 된 제1 솔더 레지스트 패턴 및 상기 보조 볼 랜드 패턴을 덮는 제2 솔더 레지스트 패턴을 포함한다.The solder resist pattern of the semiconductor package substrate includes a first solder resist pattern disposed on the second surface and a second solder resist pattern covering the auxiliary ball land pattern.
반도체 패키지용 기판의 상기 볼 랜드 패턴 및 상기 보조 볼 랜드 패턴은 구리를 포함한다.The ball land pattern and the auxiliary ball land pattern of the semiconductor package substrate include copper.
반도체 패키지용 기판은 상기 볼 랜드 패턴 및 상기 보조 볼 랜드 패턴에 접속된 접속 부재를 더 포함한다.The semiconductor package substrate further includes a connection member connected to the ball land pattern and the auxiliary ball land pattern.
반도체 패키지는 제1 면 및 상기 제1 면과 대향 하는 제2 면을 갖는 기판 몸체, 상기 제1 면 상에 배치된 접속 패드들, 상기 제2 면 상에 배치되며 상기 접속 패드들과 전기적으로 접속된 볼 랜드 패턴, 상기 볼 랜드 패턴을 노출하는 개구를 갖는 솔더 레지스트 패턴 및 상기 솔더 레지스트 패턴의 내부에 배치되며 일부가 상기 개구에 의하여 형성된 상기 솔더 레지스트 패턴의 내측면으로부터 돌출된 보조 볼 랜드 패턴을 포함하는 기판, 상기 볼 랜드 패턴 및 상기 보조 볼 랜드 패턴과 접속되는 접속 부재 및 상기 제1 면 상에 배치되며 상기 접속 패드와 전기적으로 연결된 본딩 패드들을 갖는 반도체 칩을 포함한다.The semiconductor package includes a substrate body having a first side and a second side facing the first side, connection pads disposed on the first side, and electrically connected to the connection pads disposed on the second side. A ball land pattern, a solder resist pattern having an opening exposing the ball land pattern, and an auxiliary ball land pattern disposed inside the solder resist pattern and partially protruding from an inner surface of the solder resist pattern formed by the opening. And a semiconductor chip including a substrate, a connection member connected to the ball land pattern and the auxiliary ball land pattern, and bonding pads disposed on the first surface and electrically connected to the connection pad.
반도체 패키지는 상기 볼 랜드 패턴은 원판 형상을 갖고, 상기 보조 볼 랜드 패턴은 환형 금속 플레이트 형상을 갖는다.In the semiconductor package, the ball land pattern has a disk shape, and the auxiliary ball land pattern has an annular metal plate shape.
반도체 패키지의 상기 보조 볼 랜드 패턴은 상기 보조 볼 랜드 패턴의 내측면을 따라 배치된 복수개의 요철들을 포함한다.The auxiliary ball land pattern of the semiconductor package includes a plurality of irregularities disposed along an inner side surface of the auxiliary ball land pattern.
반도체 패키지의 상기 솔더 레지스트 패턴은 상기 제2 면 상에 배치된 제1 솔더 레지스트 패턴 및 상기 보조 볼 랜드 패턴을 덮는 제2 솔더 레지스트 패턴을 포함한다.The solder resist pattern of the semiconductor package includes a first solder resist pattern disposed on the second surface and a second solder resist pattern covering the auxiliary ball land pattern.
본 발명에 따른 솔더 레지스트 패턴의 내부에 보조 볼랜드 패턴을 형성하여 접속 부재와 전기적으로 접속된 볼 랜드 패턴이 접속 부재로부터 이탈되는 것을 방지하여 반도체 패키지의 신뢰성을 한층 향상시킨다.The auxiliary borland pattern is formed inside the solder resist pattern according to the present invention to prevent the ball land pattern electrically connected to the connection member from being separated from the connection member, thereby further improving the reliability of the semiconductor package.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들에 따른 반도체 패키지용 기판 및 이를 갖는 반도체 패키지에 대하여 상세하게 설명하지만, 본 발명이 하기의 실시예들에 제한되는 것은 아니며, 해당 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명에 따른 반도체 패키지용 기판 및 이를 갖는 반도체 패키지를 다양한 다른 형태로 구현할 수 있을 것이다.Hereinafter, a semiconductor package substrate and a semiconductor package having the same according to embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the following embodiments, Those skilled in the art will be able to implement the semiconductor package substrate and the semiconductor package having the same in various other forms without departing from the technical spirit of the present invention.
도 1은 본 발명의 일실시예에 의한 반도체 패키지용 기판을 도시한 단면도이다. 도 2는 도 1의 'A' 부분 확대도이다.1 is a cross-sectional view showing a semiconductor package substrate according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is an enlarged view of a portion 'A' of FIG. 1.
도 1 및 도 2를 참조하면, 반도체 패키지용 기판(100)은 기판 몸체(10), 접속 패드(20)들, 볼 랜드 패턴(30)들, 솔더 레지스트 패턴(40) 및 보조 볼 랜드 패턴(50)들을 포함한다. 이에 더하여 반도체 패키지용 기판(100)은 접속 부재(60)들을 포함할 수 있다.1 and 2, the
기판 몸체(10)는, 예를 들어, 플레이트 형상을 갖는 인쇄회로기판(PCB)일 수 있다. 기판 몸체(10)는 제1 면(12) 및 제1 면(12)과 대향 하는 제2 면(14)을 포함 한다.The
접속 패드(20)들은 기판 몸체(10)의 제1 면(12) 상에 배치된다. 복수개의 접속 패드(20)들은, 예를 들어, 기판 몸체(10)의 제1 면(12)의 대향 하는 양쪽 에지를 따라 배치될 수 있다.The
볼 랜드 패턴(30)들은 기판 몸체(10)의 제2 면(14) 상에 배치된다. 각 볼 랜드 패턴(30)들은, 예를 들어, 원판 형상을 가질 수 있다. 이에 더하여, 볼 랜드 패턴(30)은 각 볼 랜드 패턴(30)의 에지를 따라 고리 형상으로 형성된 슬릿 형상의 관통홀을 더 포함할 수 있다. 본 실시예에서, 볼 랜드 패턴(30)은 우수한 전기적 특성을 갖는 구리를 포함할 수 있다.The
본 실시예에서, 볼 랜드 패턴(30)들은 기판 몸체(10)의 제2 면(14) 상에, 예를 들어, 국제전기전자표준협회(JEDEC : Joint Electron Device Engineering Council)의 규정에 따라 배치된다.In this embodiment, the
본 실시예에서, 제2 면(14) 상에 배치된 각 볼 랜드 패턴(30)들은 기판 몸체(10) 내에 포함된 도전성 비아(16)를 이용하여 제1 면(12) 상에 배치된 각 접속 패드(20)들과 전기적으로 연결된다.In this embodiment, each of the
솔더 레지스트 패턴(40)은 기판 몸체(10)의 제2 면(14) 상에 배치된다. 솔더 레지스트 패턴(40)은 제2 면(14) 상에 배치된 각 볼 랜드 패턴(30)들을 노출하는 개구들을 갖는다.The
솔더 레지스트 패턴(40)은, 예를 들어, 제1 솔더 레지스트 패턴(42) 및 제2 솔더 레지스트 패턴(44)을 포함할 수 있다.The
제1 솔더 레지스트 패턴(42)은 기판 몸체(10)의 제2 면(14) 상에 배치되고, 제1 솔더 레지스트 패턴(42)은 각 볼 랜드 패턴(30)들을 노출하는 제1 개구들을 갖는다.The first
제2 솔더 레지스트 패턴(44)은 제1 솔더 레지스트 패턴(42) 상에 배치되고, 제2 솔더 레지스트 패턴(44)은 각 볼 랜드 패턴(30)들을 노출하는 제2 개구들을 갖는다.The second
보조 볼 랜드 패턴(50)은 솔더 레지스트 패턴(40)의 내부에 배치된다. 구체적으로, 보조 볼 랜드 패턴(50)은 제1 솔더 레지스트 패턴(42) 및 제2 솔더 레지스트 패턴(44)의 사이에 개재된다.The auxiliary
도 3은 도 1에 도시된 보조 볼 랜드 패턴의 평면도이다.3 is a plan view of the auxiliary ball land pattern illustrated in FIG. 1.
도 3을 참조하면, 보조 볼 랜드 패턴(50)은, 예를 들어, 환형 플레이트 형상을 가질 수 있다. 보조 볼 랜드 패턴(50)은, 예를 들어, 전기적 특성이 우수한 구리를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 3, the auxiliary
환형 플레이트 형상을 갖는 보조 볼 랜드 패턴(50)의 개구의 중심은 볼 랜드 패턴(30)의 중심과 정렬되고, 보조 볼 랜드 패턴(50)의 일부는 솔더 레지스트 패턴(40)의 개구에 의하여 형성된 솔더 레지스트 패턴(40)의 내측면으로부터 소정 길이로 돌출된다.The center of the opening of the auxiliary
솔더 레지스트 패턴(40)의 내측면으로부터 일부가 돌출된 보조 볼 랜드 패턴(50)은 볼 랜드 패턴(30)과 함께 접속 부재와 접속되어 볼 랜드 패턴(30) 및 접속 부재의 기계적 부착 강도를 향상시킨다.The auxiliary
도 4는 도 1에 도시된 보조 볼 랜드 패턴의 다른 실시예를 도시한 평면도이다.4 is a plan view illustrating another embodiment of the auxiliary ball land pattern illustrated in FIG. 1.
도 4를 참조하면, 보조 볼 랜드 패턴(50)은, 예를 들어, 환형 플레이트 형상을 가질 수 있다. 보조 볼 랜드 패턴(50)은, 예를 들어, 전기적 특성이 우수한 구리를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 4, the auxiliary
환형 플레이트 형상을 갖는 보조 볼 랜드 패턴(50)의 개구의 중심은 볼 랜드 패턴(30)의 중심과 정렬되고, 보조 볼 랜드 패턴(50)의 일부는 솔더 레지스트 패턴(40)의 개구에 의하여 형성된 솔더 레지스트 패턴(40)의 내측면으로부터 소정 길이로 돌출된다.The center of the opening of the auxiliary
본 실시예에 의한 보조 볼 랜드 패턴(50)은 보조 볼 랜드 패턴(50)의 내측면으로부터 돌출된 복수개의 요철(52)들을 포함할 수 있다.The auxiliary
솔더 레지스트 패턴(40)의 내측면으로부터 일부가 돌출되며 요철(52)들을 갖는 보조 볼 랜드 패턴(50)은 볼 랜드 패턴(30)과 함께 접속 부재와 접속되어 볼 랜드 패턴(30) 및 접속 부재의 기계적 부착 강도를 보다 향상시킬 수 있다.The auxiliary
도 5는 본 발명의 다른 일실시예에 의한 반도체 패키지를 도시한 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating a semiconductor package in accordance with another embodiment of the present invention.
도 5를 참조하면, 반도체 패키지(500)는 기판(100), 접속 부재(200) 및 반도체 칩(300)을 포함한다.Referring to FIG. 5, the
기판(100)은 기판 몸체(10), 접속 패드(20)들, 볼 랜드 패턴(30)들, 솔더 레지스트 패턴(40) 및 보조 볼 랜드 패턴(50)들을 포함한다.The
플레이트 형상을 갖는 인쇄회로기판인 기판 몸체(10)는 제1 면(12) 및 제1 면(12)과 대향 하는 제2 면(14)을 포함한다.The
접속 패드(20)들은 기판 몸체(10)의 제1 면(12) 상에 배치되고, 접속 패드(20)들은 기판 몸체(10)의 제1 면(12)의 대향 하는 양쪽 에지를 따라 배치될 수 있다.The
볼 랜드 패턴(30)들은 기판 몸체(10)의 제2 면(14) 상에 배치되고, 각 볼 랜드 패턴(30)들은 원판 형상을 갖는다. 이에 더하여, 볼 랜드 패턴(30)은 각 볼 랜드 패턴(30)의 에지를 따라 고리 형상으로 형성된 슬릿 형상의 관통홀을 더 포함할 수 있다. 본 실시예에서, 볼 랜드 패턴(30)은 우수한 전기적 특성을 갖는 구리를 포함할 수 있다.The
볼 랜드 패턴(30)들은 기판 몸체(10)의 제2 면(14) 상에, 예를 들어, 국제전기전자표준협회(JEDEC)의 규정에 의하여 배치된다.The
제2 면(14) 상에 배치된 각 볼 랜드 패턴(30)들은 기판 몸체(10) 내에 포함된 도전성 비아(16)를 이용하여 제1 면(12) 상에 배치된 각 접속 패드(20)들과 전기적으로 연결된다.Each of the
솔더 레지스트 패턴(40)은 기판 몸체(10)의 제2 면(14) 상에 배치된다. 솔더 레지스트 패턴(40)은 제2 면(14) 상에 배치된 각 볼 랜드 패턴(30)들을 노출하는 개구들을 갖는다.The solder resist
솔더 레지스트 패턴(40)은, 예를 들어, 제1 솔더 레지스트 패턴(42) 및 제2 솔더 레지스트 패턴(44)을 포함할 수 있다.The solder resist
제1 솔더 레지스트 패턴(42)은 기판 몸체(10)의 제2 면(14) 상에 배치되고, 제1 솔더 레지스트 패턴(42)은 각 볼 랜드 패턴(30)들을 노출하는 제1 개구들을 갖는다.The first solder resist
제2 솔더 레지스트 패턴(44)은 제1 솔더 레지스트 패턴(42) 상에 배치되고, 제2 솔더 레지스트 패턴(44)은 각 볼 랜드 패턴(30)들을 노출하는 제2 개구들을 갖는다.The second solder resist
보조 볼 랜드 패턴(50)은 솔더 레지스트 패턴(40)의 내부에 배치된다. 구체적으로, 보조 볼 랜드 패턴(50)은 제1 솔더 레지스트 패턴(42) 및 제2 솔더 레지스트 패턴(44)의 사이에 개재된다.The auxiliary
보조 볼 랜드 패턴(50)은 환형 플레이트 형상을 가질 수 있고, 보조 볼 랜드 패턴(50)은, 예를 들어, 전기적 특성이 우수한 구리를 포함할 수 있다.The auxiliary
환형 플레이트 형상을 갖는 보조 볼 랜드 패턴(50)의 개구의 중심은 볼 랜드 패턴(30)의 중심과 정렬되고, 보조 볼 랜드 패턴(50)의 일부는 솔더 레지스트 패턴(40)의 개구에 의하여 형성된 솔더 레지스트 패턴(40)의 내측면으로부터 소정 길이로 돌출된다. 이와 다르게, 보조 볼 랜드 패턴(50)은 보조 볼 랜드 패턴(50)의 내측면에 형성된 복수개의 요철들을 더 포함할 수 있다.The center of the opening of the auxiliary
접속 부재(200)는 각 볼 랜드 패턴(30)과 전기적으로 접속된다. 접속 부재(200)는, 예를 들어, 낮은 용융 온도를 갖는 솔더를 포함할 수 있다.The connection member 200 is electrically connected to each
솔더 레지스트 패턴(40)의 내측면으로부터 일부가 돌출된 보조 볼 랜드 패턴(50)은 볼 랜드 패턴(30)과 함께 접속 부재(200)와 접속되어 볼 랜드 패턴(30) 및 접속 부재(200)의 기계적 부착 강도를 향상시킨다.The auxiliary
반도체 칩(300)은 기판 몸체(10)의 제1 면(12) 상에 배치된다. 반도체 칩(300)은 접착 부재(310)에 의하여 기판 몸체(10)의 제1 면(12) 상에 부착될 수 있다.The
반도체 칩(300)은 본딩 패드(320)들 및 회로부(330)를 포함한다.The
회로부(330)는 데이터를 저장하는 데이터 저장부(미도시) 및/또는 데이터를 처리하는 데이터 처리부(미도시)를 포함한다.The
본딩 패드(320)들은 반도체 칩(300)의 상면 상에 배치되며, 본딩 패드(320)들은 회로부(330)와 전기적으로 연결된다.The
본 실시예에서, 각 본딩 패드(320)는 기판(100)의 접속 패드(20)와 전기적으로 접속된다. 예를 들어, 각 본딩 패드(320)는 도전성 와이어(450)에 의하여 접속 패드(20)와 전기적으로 접속된다.In this embodiment, each
한편, 기판(100), 도전성 와이어(450)는 에폭시 수지를 포함하는 몰딩 부재(470)에 의하여 덮인다.Meanwhile, the
이상에서 상세하게 설명한 바에 의하면, 솔더 레지스트 패턴의 내부에 보조 볼랜드 패턴을 형성하여 접속 부재와 전기적으로 접속된 볼 랜드 패턴이 접속 부재로부터 이탈되는 것을 방지하여 반도체 패키지의 신뢰성을 한층 향상시킨다.As described above in detail, an auxiliary borland pattern is formed inside the solder resist pattern to prevent the ball land pattern electrically connected to the connection member from being separated from the connection member, thereby further improving the reliability of the semiconductor package.
앞서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술 될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로 부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.In the detailed description of the present invention described above with reference to the embodiments of the present invention, those skilled in the art or those skilled in the art having ordinary knowledge in the scope of the present invention described in the claims and It will be understood that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the scope of the art.
도 1은 본 발명의 일실시예에 의한 반도체 패키지용 기판을 도시한 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing a semiconductor package substrate according to an embodiment of the present invention.
도 2는 도 1의 'A' 부분 확대도이다.FIG. 2 is an enlarged view of a portion 'A' of FIG. 1.
도 3은 도 1에 도시된 보조 볼 랜드 패턴의 평면도이다.3 is a plan view of the auxiliary ball land pattern illustrated in FIG. 1.
도 4는 도 1에 도시된 보조 볼 랜드 패턴의 다른 실시예를 도시한 평면도이다.4 is a plan view illustrating another embodiment of the auxiliary ball land pattern illustrated in FIG. 1.
도 5는 본 발명의 다른 일실시예에 의한 반도체 패키지를 도시한 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating a semiconductor package in accordance with another embodiment of the present invention.
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JP2007019275A (en) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Rohm Co Ltd | Substrate, semiconductor device, and manufacturing method thereof |
KR100699892B1 (en) * | 2006-01-20 | 2007-03-28 | 삼성전자주식회사 | Semiconductor device and print circuit board having locking structure for improving a solder joint reliability |
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2008
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060094248A (en) * | 2005-02-24 | 2006-08-29 | 삼성전기주식회사 | An anchor system for solder bump, a method for forming the same, and chip package having the same |
JP2007019275A (en) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Rohm Co Ltd | Substrate, semiconductor device, and manufacturing method thereof |
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