이하에서는 본 발명의 바람직한 하나의 실시형태를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다.
본 발명은 나노 금속성 은을 비전해 침착(electroless deposition)하기 위한 방법이다. 이를 위하여, 먼저 금속성 은으로 환원될 수 있는 이온성 은을 포함하는 은용액과, 상기 은용액용 환원제를 포함하는 환원용액을 각각 준비한다.
상기 은용액은 은막층을 형성하기 위한 금속성 은(Ag)의 공급원이다. 그리고, 상기 환원용액은 상기 은용액과 함께 분무되는 경우, 이온성 은을 환원시켜서 금속성 은을 석출시키는 것이다. 그래서, 이후 단계에서, 기판 위의 일정한 영역에 은용액과 환원용액을 함께 분무하면, 은거울 반응에 의해 나노 금속성 은이 석출되고, 이렇게 석출된 금속성 은이 기판 위에 떨어져서 은막층을 형성하는 것이다.
상기 이온성 은은 반사층으로 사용되기에 적합한 모든 종류의 금속 화합물, 이것의 염, 함유 착물(inclusion complexes), 배위 화합물을 포함할 수 있고, 예를 들면 Ag+ 일 수 있으며, 상기 은용액용 환원제라 함은 상기 은용액에 포함된 이온성 은을 금속성 은으로 환원시키기에 적합한 모든 종류의 환원제를 포함한다.
이어서, 본 발명은 상기와 같이 준비된 은용액과 환원용액을 기판 위의 일정한 영역에 함께 분무하는 단계;를 거친다. 즉, 상기 은용액과 환원용액을 분무하되 분무된 은용액과 환원용액이 기판 위의 일정한 영역에서 만나도록 함께 분무하는 것이다. 다시 말해서, 은용액과 환원용액을 동시에 분무하더라도 기판 위의 서로 다른 영역에 따로 분무하는 것이 아니라, 분무된 은용액과 환원용액이 공중에서 만나 은거울 반응을 이루도록 분무하는 것이다. 예를 들어, 상기 기판 위의 일정한 영역은, 상기 기판에서 떨어진 일정한 공간인 것이 바람직하다.
종래에 일반적인 분무장치는 노즐이 위에서 아래로 수직한 방향으로 되어 있는 것이 보통이라는 점에서, 은용액과 환원용액을 동시에 분무하더라도 이는 기판 위의 서로 다른 영역에 따로 분무하는 것일 수 밖에 없고, 이에 따르면 기판 상에 은용액과 환원용액 중 이미 하나의 용액이 기판에 침착되고, 이어서 다른 용액이 침착된 후, 기판 표면에서 은거울 반응이 일어나는 것이지만, 본 발명은 기판에서 떨어진 일정한 공간에서 금속성 은이 석출되도록 한 것이 특징이다.
이를 위하여, 상기 은용액과 환원용액을 분무하는 노즐은 상기 기판에 대하여 0°초과 내지 90°미만의 범위 내의 각도로 기울어진 채, 분무하는 것이 바람직하고, 더욱 바람직하게는 45°내외로 기울어진 것이 적합니다.
이와 같이, 기판 위의 일정한 영역(바람직하게는, 기판에서 떨어진 일정한 공간)에서 은거울 반응을 시키는 경우, 종래보다 미세한 크기의 금속성 은 입자를 형성할 수 있었고, 이렇게 미세한 크기의 입자는 막 치밀도를 높여서 반사율을 증가시킬 수 있는 효과가 있다.
본 발명자들은 수많은 실험과 수년간의 연구 끝에, 은용액과 환원용액이 20℃ 내지 27℃ 범위 내의 온도를 가지고, 상기 은용액과 환원용액을, 상기 이온성 은 1당량에 대하여 환원제 1 내지 2당량 범위 내의 양으로, 2kg/㎠ 내지 7kg/㎠ 범위 내의 공기압에 의해, 100㎖/분 내지 300㎖/분 범위 내의 속도로, 분무하는 경우 2Å 내지 30Å 범위 내의 직경을 갖는 나노 크기의 입자를 형성할 수 있다는 것을 확인하여, 본 발명은 완성하였다.
한편, 상기 은용액은 이온성 은 이외에 이온성 알루미늄, 금, 니켈 등과 같은 다른 이온성 금속을 더 포함할 수 있고, 그 중에서도 상기 다른 이온성 금속은 이온성 알루미늄일 수 있다.
상기 은용액이 이온성 은만을 포함하는 경우, 환원에 의해 얻어진 나노 크기의 입자 중 은 나노입자는 99.95중량% 이상 포함되는 것이 바람직하고, 상기 은용액이 다른 이온성 금속을 더 포함하는 경우. 은 나노입자는 99.75중량% 이상 포함되는 것이 더욱 바람직하다. 상기 범위 미만으로 포함되면 단파장 영역에서의 반사율이 낮아질 수 있기 때문이다.
이와 같이 이온성 은 외에 다른 이온성 금속을 포함하는 은용액은 다양한 방법에 의해 준비될 수 있다. 예를 들어, 이온성 은이 포함된 제1용액에 알루미늄 나노 입자 분말을 혼합할 수도 있고, 이온성 은이 포함된 제1용액과 이온성 알루미늄이 포함된 제2용액을 혼합하여 준비하는 것도 가능하다. 또한, 은의 염 형태와 알루이늄의 염 형태를 함께 포함하는 은용액으로 준비할 수도 있다.
이에 따라, 상기 은용액과 환원용액을 분무함에 있어서, 상기 은용액에 포함된 이온성 은과 다른 이온성 금속의 응집을 방지하기 위하여, 상기 다른 이온성 금속을 더 포함하는 은용액을 20℃ 내지 60℃ 범위 내의 온도로 0.5시간 내지 2시간 범위 내의 시간 동안 열처리하는 것이 가능하다. 나아가, 상기 열처리된 은용액에 열 중성자를 수분간 조사하는 경우, 입자의 뭉침을 더욱 줄일 수 있는 효과가 있다.
상술한 바와 같은 나노 금속성 은의 비전해 침착방법에 의하면, 기판 위에 나노 크 기의 금속성 은이 침착된 은막층을 형성할 수 있고, 본 발명은 이러한 은막층을 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 크기의 금속성 은이 침착된 기판일 수 있다.
여기서, 상기 나노 크기는 2Å 내지 30Å 범위 내의 직경인 것이 바람직한데, 상기 범위를 벗어나면 반사율과 내구성이 저하되기 때문이다. 또한, 상기 은막층은 110nm 내지 150nm 범위 내의 두께를 가지는 것이 더욱 바람직한데, 상기 범위 미만이면 자외선 또는 가시광선이 새어나가기 쉽고, 상기 범위를 초과하더라고 그 효과는 크게 증가하지 않기 때문이다.
이와 더불어서, 상술한 금속성 은의 비전해 침착방법 및 이에 따른 금속성 은이 침착된 기판에 있어서, 상기 기판은 유리판 또는 석영기판일 수 있고, 상기 유리판으로는 저 철분 유리가 바람직하다. 유리판에 나노 크기의 금속성 은이 침착된 반사판은 반사경으로 사용되어 종래보다 선명한 이미지를 영상화하는데 적합하다.
본 발명은 하기의 실시예에 의하여 보다 더 잘 이해 될 수 있으며, 하기의 실시예는 본 발명의 예시 목적을 위한 것이며, 첨부된 특허청구범위에 의하여 한정되는 보호범위를 제한하고자 하는 것은 아니다.
실시예 1: 나노 은 제법에 의한 비전해 침착
먼저, 은용액은 다음과 같이 준비하였다. 즉, 증류수(순수 수) 100g에 질산은 25.4g을 용해한 후, 10% 암모니아수를 이용하여 PH 10 ~11이 되도록 조절하였고, 여기에 분산제 2.5g을 투입한 다음, 순수 수를 이용하여 전체 액을 500㎖로 맞추었다. 이렇게 준비된 액을 -2~4℃로 유지하면서 교반하여 은용액으로 사용하였다.
그리고, 환원용액으로는 하이드라진 수화물15g과 에탄올 30㎖을 순수 수 455㎖에 용해 시키고, 이것을 0~4℃로 유지하여 환원용액으로 사용하였다.
그런 다음, 상기 준비된 은용액과 환원용액의 온도를 20~27℃로 유지하면서, 상기 질산은 1당량에 대해 하이드라진 수화물 1당량의 양으로, 상기 은용액과 환원용액을, 유리판(아사히그라스, 평판유리 3.2mm) 위에서 1~10cm 정도 떨어진 공간에 약 45°정도로 기울어진 각각의 노즐을 통하여, 2~5kg/㎠ 공기압에 의해 100~300ml/분의 속도로 분무하였다.
본 발명자들은 상기와 같은 공기압 조건, 당량 조건, 온도 조건 및 액량 조건에서만, 나노 크기의 입자(바람직하게는 2~30Å 크기의 은 입자)를 얻을 수 있다는 것을 확인하였고, 하기 표 1 내지 표 5는 그와 같은 실험 결과이다.
[표 1: 공기압에 따른 결과]
2 ㎏/㎠ 미만 |
2~5 ㎏/㎠ |
5 ㎏/㎠ 초과 |
10~200nm 불균일한 입자형성 |
2~30Å |
나노 입자 형성 안됨 |
공기압에 따른 결과, 2~5㎏/㎠에서만 2~30Å의 나노입자를 얻을 수 있었다
[표 2: 당량 변화에 따른 결과]
1당량 미만 |
1~2 당량 |
2 당량 초과 |
나노은 금속 막 두께가 일정치 않음 |
막 두께 조절이 용이 |
나노 은 금속 막 형성 안됨 |
당량 변화에 따른 결과, 1 당량 미만에서는 나노 은 금속 막 두께가 일정치 않았고, 2 당량 초과에서는 나노 은 금속 막 형성 되지 않았으며, 1~2 당량에서만 막 두께 조절이 용이했다.
[표 3: 온도 변화에 따른 결과]
20℃ 미만 |
20 ~25 ℃ |
25 ℃ 초과 |
나노 입자와 금속막 형성 안되었고, 얼룩이 생김 |
2~30Å |
응집현상 발생하여 표면 거칠기 문제가 됨 |
온도 변화에 따른 결과, 20℃ 미만에서는 나노 입자와 금속막이 가 형성되지 않았고, 얼룩이 생기었으며, 25℃ 초과에서는 응집현상 발생하여 표면의 거칠기가 문제가 되었다.
[표 4: 액량에 따른 결과]
100ml 미만 |
100~300ml |
300ml 초과 |
나노은 금속 막 두께 조절 안됨 |
막 두께 조절이 용이 |
나노 은 금속 막 두께 조절 안됨 |
액량 변화에 따른 결과. 100ml 미만과 에서는 300ml 초과에서는 나노 은 금속 막의 두께를 조절 할 수 없었고, 100 ~ 300ml에서 막 두께 조절이 용이했다.
[표 5: 액량 100~300ml조에서 분무 시간에 따른 나노 은 금속 막의 두께]
30초 |
45초 |
50초 |
60초 |
90초 |
50nm |
70nm |
90 ~100nm |
110nm |
150nm |
액량 100 ~ 300ml에서, 분무 시간을 30초, 45초, 50초, 60초, 90초로 하는 경우, 각각에서 두께가 다른 나노 은 금속 막을 형성 할 수 있었다.
상기와 같은 조건에 따라, 은용액과 환원용액이 유리판 위의 공간에서 혼합됨과 동시에 상기 은용액에 포함된 이온성 은이 환원되면서, 2~30Å 크기의 직경을 가지는 은입자가 형성되었고, 이렇게 형성된 나노 크기의 은 입자가 유리판 위에 침착되면서(도 1참조) 5nm~1㎛ 두께의 은막층을 형성하였다. 여기서, 상기 은막층의 두께는 상기 은용액과 환원용액을 분무하는 양과 시간 및 환원제의 양 등에 따라 다르게 할 수 있었고, 본 실시예에서는 분무 시간에 따라 은막층의 두께가 50, 70, 100, 120, 130, 150 nm인 기판을 각각 제조하였다.
이후에는, 미 반응물질을 제거하기 위해 순수 수로 충분히 세정하였다.
이와 같이 하여 제조된 기판에서 나노 은 입자를 전지현미경 Model Joel JSM 2401F를 이용하여 확인하였다.
실시예 2: 나노 은 및 알루미늄을 포함하는 제법에 의한 비전해 침착
먼저, 이온성 은을 포함하는 은용액은 상기 실시예 1에서와 같은 방법으로 제조하였다.
또한, 별도로 순수 수 30g에 질산알루미늄 0.045g을 용해하여 알루미늄 용액을 제조하였고, 이것을 상기 제조된 은용액에 혼합하여 이온성 은 및 이온성 알루미늄을 포함하는 은용액을 준비하였다.
그리고, 환원제로서 d+글루코스 8%, 에탄올 2% 및 가성소다 3%을 혼합하여 총 500ml의 환원용액을 준비하였다.
그런 다음, 상기 준비된 이온성 은 및 이온성 알루미늄을 포함하는 은용액과 환원용액의 온도를 20~27℃로 유지하면서, 상기 질산은 1당량에 대해 d+글루코스 2당량의 양으로, 상기 은용액과 환원용액을, 유리판(아사히그라스, 평판유리 3.2mm) 위에서 1~10cm 정도 떨어진 공간에 약 45°정도로 기울어진 각각의 노즐을 통하여, 2~5kg/㎠ 공기압에 의해 100~300ml/분의 속도로 분무하였다.
이에 따라, 상기 은용액과 환원용액이 유리판 위의 공간에서 혼합됨과 동시에 상기 은용액에 포함된 이온성 은(이온성 알루미늄 포함)이 환원되면서, 2~30Å 크기의 직경을 가지는 은입자(알루미늄 입자 포함)가 형성되었고, 이렇게 형성된 나노 크 기의 은 입자(알루미늄 입자 포함)가 유리판 위에 침착되면서(도 1참조) 5nm~1㎛ 두께의 은막층을 형성하였다. 여기서, 상기 은막층의 두께는 상기 은용액과 환원용액을 분무하는 양과 시간 및 환원제의 양 등에 따라 다르게 할 수 있었다.
이후에는, 미 반응물질을 제거하기 위해 순수 수로 충분히 세정하였다.
실시예 3: 열처리 및 중성자 조사를 거친 나노 입자의 비전해 침착
먼저, 은용액은 증류수(순수 수) 100g에 질산은 17g과 질산알루미늄 0.94g을 용해한 후, 10% 암모니아수를 이용하여 PH 9.5 ~10.5가 되도록 조절하였고, 여기에 분산제 2.5g을 투입한 다음, 순수 수를 이용하여 전체 액을 500㎖로 맞추었다. 이렇게 준비된 액을 2~4℃로 유지하면서 교반하여 이온성 은 및 이온성 알루미늄을 포함하는 은용액으로 사용하였다.
여기서, 미반응된 이온성 은과 이온성 알루미늄은 이온교환수지를 통해서 제거하였고, 상기 이온성 은과 이온성 알루미늄이 응집되는 것을 방지하기 위하여, 상기 이온성 은 및 이온성 알루미늄을 포함하는 은용액을 25~50℃의 온도로 0.5 ~2시간 열처리하였으며, 여기에 열 중성자를 3분간 1.25 × 109 n/cm2/sec로 조사하였다.
그리고, 환원용액은 실시예 2와 같은 방법으로 준비하였다.
그런 다음, 상기 중성자를 조사한 이온성 은 및 이온성 알루미늄을 포함하는 은용액과 환원용액을 상기 실시예 2에서와 같은 방법으로 분무하여, 유리판 위에 은막층을 형성하였다. 여기서, 상기 은막층의 두께는 상기 은용액과 환원용액을 분무하는 양과 시간 및 환원제의 양 등에 따라 다르게 할 수 있었다.
비교예 1~5 : 종래의 은막층을 가지는 반사판
비교예로서 아래와 같은 구조를 가지는 반사판을 준비하였다.
비교예 1 : 유리판에 습식방법으로 은도금층이 형성된 반사판을 준비하였다. 이것은 유리판, 습식은도금층, 구리층 및 다수의 페인트층이 순서대로 적층된 구조를 가지며, 종래에 상업용으로 널리 이용되는 태양 에너지용 반사판이다.
비교예 2 : 알루미늄판에 건식방법으로 은도금층이 형성된 반사판을 준비하였다. 이것은 알루미늄 판(plate)에 99.9% 은을 10-6Torr으로 진공 증착한 것으로서, 은도금층의 두께는 3Å이며, 종래에 상업용으로 널리 이용되던 태양 에너지용 반사판이다.
비교예 3 : 알루미늄 판의 표면을 아노다이징 한 상업용 판을 준비하였다. 이것은 알루미늄 판의 표면을 산화피막한 것이며, 종래에 상업용으로 널리 이용되던 태양 에너지용 반사판이다.
비교예 4 : 기존의 태양 에너지용 반사판과는 반대의 구조, 즉 전면이 유리가 아닌 보호층을 가지는 반사판을 준비하였다. 이것은 실시예 3에 따라 제조된 은막층에 폴리에스터수지를 20㎛두께로 스프레이 코팅하고 건조하여, 폴리머 코팅면층/ 나노 은막층/ 유리판의 구조를 가지고, 상기 폴리머 코팅면층을 전면으로 하여 실험하였다.
비교예 5 : 유리판에 은막층과 구리층이 적층된 일반 거울을 준비하였다.
실험예 1: 반사율 측정 테스트
상기 실시예 및 비교예에 따라 제조된 반사판의 반사율을 Model Shimadzu UV-3100PC 를 이용하여 측정하였다.
먼저, 실시예 1에 따라 110nm 두께로 은막층이 형성된 기판(반사판)과 비교예 1, 2에 따른 반사판의 반사율 측정 결과는 도 2에 나타난 바와 같다. 도 2에서 ④는 일 반적인 태양 에너지 값의 스펙트럼이다. 여기에 나타난 바와 같이, 실시예 1과 비교하여 비교예 1, 2의 경우 가시광선~적외선 영역(약 380~1,000nm)에서 반사율이 저하가 나타났으며, 특히 단파장 영역(350~400nm)에서 반사가 잘 되지 않아 반사효율이 떨어졌다.
그리고, 실시예 1에 따라 110nm 두께로 은막층이 형성된 기판과 비교예 3, 4에 따른 반사판의 반사율 측정 결과를 도 3에 나타내었다. 여기에 나타난 바와 같이, 실시예 1과 비교하여 비교예 3, 4의 경우 가시광선 영역(약 380~780nm)에서의 반사율 저하가 특히 심하게 나타났다.
또한, 실시예 1에 따라 110nm 두께로 은막층이 형성된 기판과 비교예 5에 따른 반사판의 반사율 측정 결과는 도 4에 나타난 바와 같이, 전체 구간에서 실시예 1의 반사율이 높게 측정되었다.
실험예 2: 막 치밀도 테스트
상기 실시예 및 비교예에 따라 제조된 반사판의 막 치밀도를 Zaigo NV6300 모델을 이용한 빛 간섭법에 의하여 측정하였다.
즉, 실시예 1에 따라 110nm 두께로 은막층이 형성된 기판은, 도 5에 나타난 바와 같이, 은막층의 표면이 치밀하게 평평한 것을 확인할 수 있고, Zaigo NV6300 모델에 의해 측정된 막 치밀도 값도 PV 2.279 Ra 0.273로 우수하였다.
이와 비교하여, 비교예 2에 따라 진공증착에 의한 은막층이 형성된 반사판은, 도 6에 나타난 바와 같이, 막치밀도 값이 PV 3.47 Ra 0.51 로 분석되어, 본 발명에 따른 반사판의 막 치밀도가 현저히 우수함을 알 수 있다.
도 7은 막 치밀도에 따른 반사효율의 원리를 설명하기 위한 모식도로서, 상기와 같이 본 발명은 우수한 막 치밀도를 가지는바, 높은 반사율을 가질 수 있는 것이다.
실험예 3: 은막층 두께에 따른 반사율 테스트
상기 실시예 1에 따라 은막층이 형성된 반사판에 대하여, 상기 은막층의 두께별로 빛이 새는 현상을 테스트 하였다.
즉, 상기 실시예 1에 따른 반사판에서 은막층의 두께를 각각 50nm, 70nm, 100nm, 110nm 및 150nm으로 다르게 형성하였고, Model Shimadzu UV-3100PC 를 이용하여 반사율을 측정함으로서, 빛이 새는 현상을 측정하였다.
그 결과는 도 8 및 하기 [표 6]에 나타난 바와 같이, 은막층의 두께가 100nm 미만 에서는 빛이 새는 현상이 확인 되었고, 적외선의 발생 수준(빛이 새는 수준)을 고려하면 은막층의 두께가 110nm 이상인 경우가 가장 바람직한 것으로 나타났다.
[표 6 : 본 발명의 은막층 두께에 따른 반사율]
은 층 두께 (nm) |
분석에 의한 빛 새는 현상(%) |
자외선 |
가시광선 |
적외선 |
50 |
발생 |
발생 |
발생 |
70 |
발생 |
발생 |
발생 |
100 |
없슴 |
없슴 |
0.06 수준 |
110 |
없슴 |
없슴 |
0.03 수준 |
120 |
없슴 |
없슴 |
0.03 수준 |
150 |
없슴 |
없슴 |
0.03 수준 |
실험예 4: 경시변화에 따른 반사율 테스트
상기 실시예 1, 2 및 비교예 1에 따른 반사판에 대하여 Model Shimadzu UV-3100PC 를 이용하여 가시광선 영역에서의 초기 반사율과 경시변화에 따른 반사율을 측정하였다.
경시변화에 따른 반사율은, 낮과 밤, 지역적으로 고온, 냉한, 고습 그리고 바람 등의 외부조건에서 지속적인 품질을 유지하는지 여부를 알아보기 위한 것으로, 외부환경 조건을 Xenon lamp J/㎠, 습도 85 % 온도 60 ℃의 조건에서 500시간, 1000시간, 2000시간, 3000시간 노출되게 한 다음, 반사율을 측정하여 내구성을 실험하였다.
그 결과는 하기 표 7에 나타난 바와 같다. 초기 반사율은 실시예 1, 2에 따른 반사 판이 비교예 1의 반사판보다 약 3% 정도 높았고, 일정시간 내구성 시험을 거친 후의 반사율도 약 약 3~4% 정도 우수하였다.
[표 7 : 내구성 실험 전, 후의 반사율]
시험 항목 |
초 기 반사율(%) |
내구성 시험 후 반사율 (%) |
500 시간 |
1,000시간 |
2,000시간 |
3,000시간 |
실시 예 1 |
96.4 |
96.0 |
95.5 |
94.9 |
94.0 |
실시 예 2 |
96.6 |
96.2 |
95.6 |
95.2 |
94.1 |
비교 예 1 |
93.5 |
93.0 |
92.2 |
91.8 |
90.2 |
상기 표 2에 나타난 바와 같이, 본 발명에 따른 반사판의 반사율이 2% 정도만 개선되더라도, 태양열 발전소 200MW를 기준으로 년간 단위 생산성에서 200MW SEGS Modeling Simulation에 따라 면적 2,000,000㎡ * 에너지 변환율 * 반사율에 의해서 상당한 원가 절감 효과를 가질 수 있는 것이다.
한편, 상기에서는 본 발명을 특정의 바람직한 실시예에 관련하여 도시하고 설명하였지만, 이하의 특허청구범위에 의해 마련되는 본 발명의 기술적 특징이나 분야를 이탈하지 않는 한도 내에서 본 발명이 다양하게 개조 및 변화될 수 있다는 것은 당업계에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백한 것이다.