KR100927956B1 - Breaking inspection device of glass substrate - Google Patents

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Abstract

본 발명은 유리기판의 파단 검사장치에 관한 것으로서, 그 주요 구성은 컨베이어의 입력단 또는 출력단의 좌우변 일측에 장착되어, 상기 컨베이어에 의해 이송되는 사각 유리기판의 한 변에 발생한 크랙과 상기 한 변의 양 모서리에 발생한 쪽떨어짐을 감지하는 제1 센서; 상기 컨베이어의 입력단 또는 출력단의 좌우변 타측에 상기 제1 센서와 대응하는 위치에 일렬로 장착되어, 상기 컨베이어에 의해 이송되는 상기 사각 유리기판의 다른 한 변에 발생한 크랙과 상기 한 변의 양 모서리에 발생한 쪽떨어짐을 감지하는 제2 센서; 및 상기 유리기판으로 인해 온/오프되는 상기 제1 센서와 상기 제2 센서의 동작 시차가 설정된 오차범위 이상일 때, 상기 유리기판을 불량으로 판단하고, 상기 컨베이어를 정지시키도록 되어 있는 마이콤 보드;로 이루어지는 것을 특징으로 하며, 위와 같은 구성에 따르면 유리기판의 상하변 및 네 모서리에 크랙이나 쪽떨어짐과 같은 파단이 있을 때 제1 및 제2 센서 사이에 발생하는 온/오프 동작의 시차나 양 센서 각각의 총동작경과시간의 단축을 이용해 파단으로 인한 유리기판의 불량여부를 판단하므로, 불량검사를 보다 신속하고, 편리하면서도 정밀하게 할 수 있게 된다.The present invention relates to a fracture inspection apparatus of a glass substrate, the main configuration of which is mounted on one side of the left and right sides of the input terminal or the output terminal of the conveyor, the amount of cracks and the amount of one side of the rectangular glass substrate conveyed by the conveyor A first sensor for detecting a falling edge generated at a corner; Cracks generated on the other side of the rectangular glass substrate conveyed by the conveyor and mounted on the other side of the left and right sides of the input terminal or the output terminal of the conveyor in a line corresponding to the first sensor, A second sensor for detecting a falling off; And a microcomputer board configured to determine that the glass substrate is defective and stop the conveyor when an operation time difference between the first sensor and the second sensor turned on / off due to the glass substrate is greater than or equal to a set error range. According to the configuration described above, the time difference or both of the on / off operation between the first and second sensors when there is a fracture such as cracks or falling off the upper and lower sides and four corners of the glass substrate, respectively Since the glass substrate is judged to be defective due to breakage by shortening the elapsed time of operation, the defect inspection can be performed more quickly, conveniently and precisely.

유리기판, 파단, 크랙, 쪽떨어짐, 검사, 감지 Glass substrate, break, crack, drop, inspection, detection

Description

유리기판의 파단 검사장치{Fracture inspecting system for a glass substrate}Fracture inspection system for a glass substrate

본 발명은 유리기판의 파단 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 유리기판을 이송하는 로딩 또는 언로딩 컨베이어에 유리기판의 양부를 검사하는 파단 감지센서를 장착하고, 유리기판에 의해 온/오프되는 감지센서의 온/오프 동작시간차를 이용해 유리기판 네 모서리의 쪽떨어짐이나 상하변의 크랙과 같은 파단을 찾아냄으로써 유리기판의 양부판단을 쉽고, 정밀하며, 신속하게 할 수 있도록 한 유리기판의 파단을 검사하는 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for inspecting breakage of a glass substrate, and more particularly, to a loading or unloading conveyor for transporting a glass substrate, to which a break detection sensor for inspecting the quality of the glass substrate is mounted and turned on / off by a glass substrate. Inspects the breakage of the glass substrate to make it easy, accurate and quick to detect the breakage of the glass substrate by detecting breaks such as side edges of the four edges of the glass substrate or cracks on the upper and lower sides by using the on / off operating time difference of the sensor. It relates to a device to.

일반적으로 LCD나 PDP 등과 같은 평판디스플레이를 제조하는데 필요한 유리기판은 제조 공정 중에 크랙이나 불순물 등 있을 수 있는 결함을 찾아내기 위해 다양한 형태의 검사를 하도록 되어 있는 바, 특히 잦은 이송과 운반으로 인해 네 모서리 부분이 쉽게 깨져 쪽떨어짐이 발생하기 때문에, 지금까지 유리기판을 고품질로 유지하기 위해서는 이 모서리 부분에 대한 검사는 필수적인 절차로서 반드시 거치도록 되어 있었다.In general, glass substrates required for manufacturing flat panel displays such as LCDs and PDPs are inspected in various forms to find possible defects such as cracks and impurities during the manufacturing process. Since the parts are easily broken and falling off, inspection of these edges has been required as a necessary procedure to maintain the glass substrate in high quality.

이를 위해 종전에는 검사원이 육안으로 직접 유리기판을 검사하였으나, 검사 정확도가 매우 떨어져 제품불량이 양산되는 문제점이 있었다. 이에, 검사 카메라가 장착된 전용 테이블을 이용해 유리기판의 모서리에서 발생하는 쪽떨어짐 등 파단을 검사함으로써 검사 정확도와 속도를 높여 검사의 효율성을 향상시키고자 하는 시도가 있었다.For this purpose, in the past, the inspector inspected the glass substrate directly with the naked eye, but there was a problem in that the defect of the product was mass produced due to the very poor inspection accuracy. Thus, an attempt was made to improve inspection efficiency by increasing inspection accuracy and speed by inspecting fracture such as side dropping occurring at the edge of the glass substrate using a dedicated table equipped with an inspection camera.

그러나, 최근 들어 LCD나 PDP TV가 점차 대형화되어 감에 따라 이들의 제작에 사용되는 유리기판의 크기도 함께 대형화되었으며, 이에 따라, 유리기판은 운반이나 이송 수단에 의해 지지 또는 파지되는 네 모서리 뿐만 아니라, 자중으로 인해 처짐이 발생하는 상하 횡변 부분에도 크랙이 발생하게 되면서, 네 모서리만을 검사하도록 되어 있는 기존의 검사장치로는 횡변에 발생한 크랙까지 빠짐없이 감지해 낼 수 없는 문제점이 있었다. In recent years, however, as LCDs and PDP TVs have become larger in size, the size of glass substrates used for their production has also increased in size. Accordingly, glass substrates are not only supported by four corners supported or held by a conveying or conveying means. In addition, as cracks are generated in upper and lower side portions where deflection occurs due to self-weight, there is a problem that the existing inspection apparatus that only inspects four corners cannot detect cracks occurring in the side edges.

또, 종래의 파단 검사장치는 전용 검사 테이블로 유리기판을 옮겨 놓고 정지된 상태에서 파단 여부를 검사해야 하기 때문에, 검사 준비시간 및 검사시간이 길어지고, 검사에 따른 작업량이 많이 늘어나 전체적으로 검사의 효율성이 떨어지는 또 다른 문제점이 있었다.In addition, the conventional fracture inspection apparatus has to move the glass substrate to a dedicated inspection table and inspect the fracture in a stationary state, so that the inspection preparation time and inspection time are long, and the amount of work according to the inspection is increased, and the overall inspection efficiency is increased. There was another issue with this drop.

본 발명은 위와 같은 종래의 크랙 검사장치가 가지고 있는 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로, 유리기판을 이송하는 로딩 또는 언로딩 컨베이어의 입력 또는 출력단의 좌우에 두 개의 파단 감지센서를 장착함으로써 이 파단 감지센서의 온/오프 시간차를 이용해 컨베이어 위를 이동하는 유리기판의 네 모서리와 횡변에 발생한 파단을 신속하고, 간편하면서도, 높은 정밀도로 검사할 수 있도록 하는 데 그 목적이 있다. The present invention has been proposed to solve the problems of the conventional crack inspection device as described above, by detecting the failure by mounting two break detection sensors on the left and right of the input or output terminal of the loading or unloading conveyor for transporting the glass substrate The purpose is to enable fast, simple, and high-precision inspection of breaks in the four corners and transverse sides of glass substrates moving on the conveyor using the on / off time difference of the sensors.

따라서, 본 발명은 위와 같은 목적을 달성하기 위해, 컨베이어의 입력단 또는 출력단의 좌우변 일측에 장착되어, 상기 컨베이어에 의해 이송되는 사각 유리기판의 한 변에 발생한 크랙과 상기 한 변의 양 모서리에 발생한 쪽떨어짐을 감지하는 제1 센서; 상기 컨베이어의 입력단 또는 출력단의 좌우변 타측에 상기 제1 센서와 대응하는 위치에 일렬로 장착되어, 상기 컨베이어에 의해 이송되는 상기 사각 유리기판의 다른 한 변에 발생한 크랙과 상기 한 변의 양 모서리에 발생한 쪽떨어짐을 감지하는 제2 센서; 및 상기 유리기판으로 인해 온/오프되는 상기 제1 센서와 상기 제2 센서의 동작 시차가 설정된 오차범위 이상일 때, 상기 유리기판을 불량으로 판단하고, 상기 컨베이어를 정지시키도록 되어 있는 마이콤 보드;로 이루어지고, 상기 마이콤 보드는 상기 유리기판으로 인해 온/오프되는 상기 제1 센서와 상기 제2 센서의 동작 시간이 일치하면서, 상기 제1 및 제2 센서 각각의 총동작경과시간 측정값이 기준값과 비교해 설정된 오차범위 이상으로 작아질 때, 상기 유리기판을 불량으로 판단하고, 상기 컨베이어를 정지시키도록 되어 있는 유리기판의 파단 검사장치를 제공한다.Therefore, in order to achieve the above object, the present invention is mounted on one side of the left and right sides of the input terminal or the output terminal of the conveyor, the crack generated on one side of the rectangular glass substrate conveyed by the conveyor and the side generated on both sides of the one side A first sensor detecting a fall off; Cracks generated on the other side of the rectangular glass substrate conveyed by the conveyor and mounted on the other side of the left and right sides of the input terminal or the output terminal of the conveyor in a line corresponding to the first sensor, A second sensor for detecting a falling off; And a microcomputer board configured to determine that the glass substrate is defective and stop the conveyor when an operation time difference between the first sensor and the second sensor turned on / off due to the glass substrate is greater than or equal to a set error range. The microcomputer board may be configured such that the total operation elapsed time of each of the first and second sensors is equal to a reference value while the operation time of the first sensor and the second sensor is turned on / off by the glass substrate. In comparison with the above-described set error range, the glass substrate is judged to be defective and the breakage inspection apparatus for the glass substrate is configured to stop the conveyor.

본 발명의 유리기판의 파단 검사장치에 의하면, 컨베이어에 의해 이송되는 유리기판의 상하변 및 네 모서리를 일렬로 정렬된 제1 및 제2 파단감지센서에 의해 검사하여 상하변이나 네 모서리 중 어느 한 쪽에 크랙이나 쪽떨어짐이 있을 경우 발생하는 양 센서의 온/오프 동작시차 또는 제1 및 제2 센서 각각이 온 상태에서 오프되었다가 다시 온될 때까지 걸린 총동작경과시간을 측정하여 이 측정값과 이미 설정되어 있는 기준값을 비교하여 두 값의 차이가 허용오차범위 밖에 있을 때 유리 기판을 불량으로 판단하여 제거하는 간단한 방법에 의해 유리기판의 양부를 결정할 수 있게 된다. According to the fracture inspection apparatus of the glass substrate of the present invention, the upper and lower edges and four corners of the glass substrate conveyed by the conveyor are inspected by the first and second fracture detection sensors arranged in a line, which is one of the upper and lower edges or the four corners. This measurement value is measured by measuring the time difference between the on / off operation of both sensors when there is a crack or a drop in the side, or the total elapsed time taken until each of the first and second sensors is turned off and then on again. By comparing the reference values set, when the difference between the two values is outside the tolerance range, it is possible to determine the quality of the glass substrate by a simple method of judging and removing the glass substrate as defective.

따라서, 유리기판의 불량검사를 위해 컨베이어를 매번 정지시키지 않아도 되므로 유리기판의 생산 또는 조립 라인의 효율성을 제고할 수 있게 된다. 또한, 컨베이어를 고속으로 동작시키면서도 1/1000초 단위로 검사가 가능하기 때문에 유리기판의 불량 검사가 신속하고 정밀하게 이루어지므로, 유리기판의 검사 작업 자체의 능률도 일층 향상시킬 수 있게 된다.Therefore, it is not necessary to stop the conveyor every time for the defect inspection of the glass substrate, thereby improving the efficiency of the production or assembly line of the glass substrate. In addition, since the inspection can be performed in units of 1/1000 seconds while operating the conveyor at a high speed, defect inspection of the glass substrate can be performed quickly and precisely, thereby improving the efficiency of the inspection operation of the glass substrate itself.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 유리기판의 파단 검사장치를 첨부 도면을 참조로 상세히 설명한다.Hereinafter, the fracture inspection apparatus of the glass substrate according to the preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명의 유리기판의 파단 검사장치는 도 1에 도면부호 1로 개략 도시된 바와 같이, 로딩 컨베이어(10) 또는 언로딩 컨베이어(도시 생략) 위로 이송되는 유리기판(3)의 파단 유무를 검사하기 위한 것으로, 기존의 검사장치가 유리기판을 고정시켜 놓고 육안이나 카메라로 모서리 부분을 검사하던 것과는 달리, 컨베이어(10) 위를 이동하는 유리기판(3)의 네 모서리 부분과 횡변을 검사할 수 있도록 크게, 제1 및 제2 파단감지센서(20,30)와 마이콤 보드(50)로 구성되어 있다.The fracture inspection apparatus of the glass substrate of the present invention, as shown schematically in FIG. 1, to inspect the fracture of the glass substrate 3 that is transported onto the loading conveyor 10 or the unloading conveyor (not shown). Unlike the conventional inspection device which fixed the glass substrate and inspecting the corner portion with the naked eye or a camera, the four inspection parts and the side edges of the glass substrate 3 moving on the conveyor 10 can be inspected. In general, the first and second break detection sensors 20 and 30 and the microcomputer board 50 are configured.

여기에서, 먼저 제1 파단감지센서(20)는 도 1에 도시된 것처럼 로딩 컨베이어(10)의 입력단(11)에서 또는 도시되어 있지 않지만 언로딩 컨베이어의 출력단에서 컨베이어(10) 벨트의 좌우변 일측에 즉, 예컨대 도 1에 도시된 것처럼 좌변에 장착된다. Here, first the first break detection sensor 20 is shown at the input end 11 of the loading conveyor 10 as shown in FIG. 1 or at the output end of the unloading conveyor, although not shown, one side of the left and right sides of the belt of the conveyor 10. That is, for example, it is mounted on the left side as shown in FIG.

따라서, 제1 센서(20)는 컨베이어(10)를 따라 이송되는 직사각형 형태의 유리기판(3)의 한 쪽 횡변 즉, 상변(4)과 이 상변(4)의 양쪽 모서리(6,7)에 있을 수 있는 파단 부분 즉, 상변(4)의 크랙과 상변(4) 양 모서리(6,7)의 쪽떨어짐을 감지하도록 되어 있다.Accordingly, the first sensor 20 is disposed on one side of the rectangular glass substrate 3, which is conveyed along the conveyor 10, that is, the upper side 4 and both edges 6 and 7 of the upper side 4. It is to detect the possible breakage part, that is, the crack of the upper side 4 and the side fall of both edges 6 and 7 of the upper side 4.

또한, 제2 센서(30)도 마찬가지로 도 1에 도시된 바와 같이 로딩 컨베이어(10) 또는 언로딩 컨베이어(도시 생략)의 입력단(11) 또는 출력단(도시 생략)에서 컨베이어(10) 벨트의 다른 일측 즉, 우변에 장착되는 바, 컨베이어(10)의 축선을 중심으로 제1 센서(20)와 선대칭되는 지점에 일렬로 장착된다.In addition, the second sensor 30 is similarly shown in FIG. 1, on the other end of the conveyor 10 belt at the input end 11 or the output end (not shown) of the loading conveyor 10 or the unloading conveyor (not shown). That is, the bar is mounted on the right side, and is mounted in a line at a point that is linearly symmetrical with the first sensor 20 about the axis of the conveyor 10.

따라서, 컨베이어(10) 위로 이송되는 직사각형 유리기판(3)의 하변(5)에 발생할 수 있는 크랙이나 이 하변(5) 양쪽의 모서리(8,9)에 있을 수 있는 쪽떨어짐 등과 같은 파단을 감지하도록 되어 있다.Accordingly, it is possible to detect breakage such as cracks that may occur on the lower side 5 of the rectangular glass substrate 3 transported over the conveyor 10, or side-facing that may be on the corners 8, 9 of both sides of the lower side 5. It is supposed to.

이와 같이, 컨베이어(10)를 타고 이동하는 유리기판(3)의 상하변(4,5)과 네 모서리(6,7,8,9)의 파단을 감지하도록 되어 있는 제1 및 제2 센서(20,30)는 근접센서 등 유리기판의 근접 여부를 감지할 수 있는 것이면 어떤 것이든 적용이 가능하나, 본 실시예에서와 같이 광센서를 사용하는 것이 바람직하다. 그러므로, 예컨대, 도 1에 도시된 것처럼 제1 센서(20)는 위쪽의 발광부(21)와 아래쪽의 수광부(22)로, 제2 센서(30)는 위쪽의 발광부(31)와 아래쪽의 수광부(32)로 각각 구성할 수 있으며, 따라서 제1 및 제2 센서(20,30)는 각각 발광부(21,31)와 수광부(22,32) 사이로 유리기판(3)이 지나갈 때 발광부(21,31)에서 조사되는 빛이 유리기판(3)에 의해 차단되면서 수광부(22,32)에서 수광이 이루어지지 않고 오프되며, 유리기판(3) 이 완전히 빠져나가는 순간 발광부(21,31) 조사광이 수광부(22,32)에 재차 수광되면서 다시 온되는 온/오프 동작을 하게 된다.As such, the first and second sensors configured to detect breakage of the upper and lower sides 4 and 5 and the four corners 6, 7, 8 and 9 of the glass substrate 3 moving on the conveyor 10 ( 20 and 30 may be applied to any one as long as it can detect proximity of a glass substrate such as a proximity sensor, but it is preferable to use an optical sensor as in the present embodiment. Therefore, for example, as shown in FIG. 1, the first sensor 20 is the upper light emitting part 21 and the lower light receiving part 22, and the second sensor 30 is the upper light emitting part 31 and the lower light emitting part. Each of the first and second sensors 20 and 30 may be configured as the light receiving unit 32, so that the light emitting unit may pass when the glass substrate 3 passes between the light emitting units 21 and 31 and the light receiving units 22 and 32, respectively. The light irradiated from the light emitting parts 22 and 32 is turned off without receiving light from the light receiving parts 22 and 32 while the light emitted from the light emitting parts 21 and 31 is blocked by the glass substrate 3. The irradiation light is received by the light receiving units 22 and 32 again to perform on / off operation.

한편, 위와 같이 유리기판(3)의 이동에 따라 온/오프되는 감지센서(20,30)의 동작신호에 의해 유리기판(3)의 파단 여부와 대략의 파단위치를 파악할 수 있도록 해 주는 마이콤 보드(50)는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 마이콤을 내장한 하나의 회로기판으로서, 유리기판(3) 중에 발생한 파단으로 인해 온/오프되는 제1 및 제2 센서(20,30)의 동작신호를 수신하여 유리기판(3)의 불량 여부를 판단하고, 필요에 따라 직접적으로 또는 PLC 등 메인 시스템을 이용해 컨베이어(10)의 운전을 멈추어 불량으로 판정된 유리기판(3)을 제거할 수 있도록 한다. On the other hand, the microcomputer board to determine whether the glass substrate 3 is broken and the approximate breaking unit value by the operation signal of the detection sensor 20, 30 that is turned on / off in accordance with the movement of the glass substrate 3 as described above 1 and 2, as shown in FIG. 1 and FIG. 2, the first and second sensors 20 and 30 are turned on / off due to breakage occurring in the glass substrate 3 as a circuit board incorporating a microcomputer. It is possible to determine whether the glass substrate 3 is defective by receiving an operation signal, and if necessary, stop the operation of the conveyor 10 directly or by using a main system such as a PLC to remove the glass substrate 3 determined as defective. To help.

또, 마이콤 보드(50)는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 중앙 상부에 LCD와 같은 디스플레이(51)가 장착되는 바, 이 디스플레이(51)는 제1 및 제2 센서(20,30)에 의해 유리기판(3)의 상하변(4,5)에 존재하는 크랙이나 네 모서리(6,7,8,9)에 존재하는 쪽떨어짐 등의 파단이 감지된 시간을 표시하거나 또는 제1 및 제2 센서(20,30)에 의해 감지되는 크랙이나 쪽떨어짐이 불량인지 여부를 결정하는 허용오차범위를 사용자가 설정할 때 설정값을 표시하는 역할을 한다.In addition, as shown in FIGS. 1 and 2, the microcomputer board 50 is equipped with a display 51 such as an LCD in the upper center thereof, and the display 51 includes first and second sensors 20 and 30. Indicates the time at which breakage, such as cracks in the upper and lower edges 4 and 5 of the glass substrate 3 and falling off in the four corners 6, 7, 8 and 9, is detected by And setting a tolerance value when the user sets an allowable range for determining whether the crack or the drop detected by the second sensors 20 and 30 is defective.

한편, 위와 같이 허용오차범위의 설정값 등을 변경하기 위해서는 디스플레이(51) 뿐만 아니라 적절한 스위치도 필요하게 되는데, 이를 위해 마이콤 보드(50)는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 디스플레이(51) 아래에 복수의 스위치(52,53,54,55,56)를 구비하고 있다. 이들 중, 먼저 스위치(52)는 리셋버튼으로, 마이콤 보드(50)가 오동작할 경우 이 보드(50)를 처음 상태로 리셋시킬 때 사용한 다. 스위치(53)는 앞서 설명한 것처럼 제1 및 제2 센서(20,30)에 의해 감지되는 파단을 불량으로 할 것인지 여부를 결정하는 허용오차범위를 설정할 때, 설정 동작을 개시하기 위해 사용한다. 스위치(54)와 스위치(55)는 스위치(53)에 의해 설정 동작이 개시된 후 설정값 즉, 제1 및 제2 센서(20,30)의 동작시간을 증감하는 대 사용하는 버튼으로서, 스위치(54)는 시간을 증가시킬 때, 스위치(55)는 시간을 감소시킬 때 각각 사용한다. 이때 양 스위치(54,55)는 바람직하게는, 예컨대 한 번 누를 때는 1/1000초씩, 계속 누르고 있으면 1/100초, 1/10초 씩 기하급수적으로 빠르게 설정시간을 조정할 수 있도록 되어 있다. 끝으로, 스위치(56)는 디스플레이(51)의 모드를 변경하는 버튼으로, 센서(20,30)에 의해 파단이 감지된 시간을 표시하는 시간 표시화면 또는 허용오차범위를 입력할 때 입력된 값을 표시하는 설정값 입력화면 등으로 디스플레이(51)의 표시화면을 전환할 때 사용한다.On the other hand, in order to change the setting value of the tolerance range as described above, not only the display 51 but also an appropriate switch is required. For this purpose, the microcomputer board 50 is shown in FIGS. A plurality of switches 52, 53, 54, 55, and 56 are provided below. Among these, first, the switch 52 is a reset button, and when the microcomputer board 50 malfunctions, it is used to reset the board 50 to the initial state. The switch 53 is used to start the setting operation when setting the tolerance range for deciding whether or not the break detected by the first and second sensors 20 and 30 is made to be defective as described above. The switch 54 and the switch 55 are buttons used for increasing or decreasing the set value, that is, the operating time of the first and second sensors 20 and 30 after the setting operation is started by the switch 53. 54 is used to increase time, and switch 55 is used to decrease time, respectively. At this time, the two switches 54 and 55 are preferably configured to quickly adjust the set time exponentially, for example, by 1/1000 second when pressed once, and by 1/100 second and 1/10 seconds when kept pressed. Finally, the switch 56 is a button for changing the mode of the display 51. The switch 56 is a value input when inputting a time display screen or a tolerance range indicating the time when the break is detected by the sensors 20 and 30. It is used to switch the display screen of the display 51 to a set value input screen for displaying.

이제, 위와 같이 구성된 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 유리기판의 파단 검사장치의 작용을 도 1 및 도 3에 따라 설명한다.Now, the operation of the fracture inspection apparatus of the glass substrate according to the preferred embodiment of the present invention configured as described above will be described with reference to FIGS.

본 발명의 검사장치(1)에 의해 유리기판(3)의 파단 여부를 검사하기 위해서는 먼저, 본 발명의 제1 및 제2 파단감지센서(20,30)가 장착된 컨베이어(10) 위에 검사할 유리기판(3)을 올리고(S01), 컨베이어(10)를 구동하여 유리기판(3)을 도 3의 화살표 방향으로 이동시킨다(S02).In order to inspect whether the glass substrate 3 is broken by the inspection device 1 of the present invention, the first and second break detection sensors 20 and 30 of the present invention are first inspected on the conveyor 10. The glass substrate 3 is raised (S01) and the conveyor 10 is driven to move the glass substrate 3 in the direction of the arrow of FIG. 3 (S02).

이렇게 이동하던 유리기판(3)이 센서(20,30)의 발광부(21,31)와 수광부(22,32) 사이로 들어오면, 각각의 발광부(21,31)에서 조사된 빛이 유리기판(3)에 의해 차단되어 수광부(22,32)로 도달하지 않게 되면서 센서(20,30)는 오프된 다(S03). 일정 시간이 경과한 다음, 유리기판(3)이 발광부(21,31)와 수광부(22,32) 사이를 빠져나오는 순간 수광부(22,32)에서 수광이 재개되며, 이때 양 센서(20,30)는 재차 온된다.When the glass substrate 3 moved in this way enters between the light emitting units 21 and 31 and the light receiving units 22 and 32 of the sensors 20 and 30, the light emitted from each of the light emitting units 21 and 31 is transferred to the glass substrate. The sensors 20 and 30 are turned off while being blocked by (3) and not reaching the light receiving units 22 and 32 (S03). After a certain period of time, light reception is resumed at the light receiving parts 22 and 32 as soon as the glass substrate 3 exits between the light emitting parts 21 and 31 and the light receiving parts 22 and 32. 30) is turned on again.

이와 같이 하나의 유리기판(3)이 양 센서(20,30)를 통과했을 때 이 유리기판(3)에 의한 양 센서(20,30)의 오프타임 즉, 오프된 상태로 경과된 시간이 측정되고, 이렇게 측정된 오프타임은 유리기판(3)의 횡방향 길이에 따라 마이콤 보드(50)에 이미 설정되어 있는 오프타임 기준값과 비교되며(S05), 측정값과 기준값의 오차가 허용오차범위 내에 있을 때, 해당 유리기판(3)을 양품으로 판단하여 다음 공정으로 진행시킨다(S06).As described above, when one glass substrate 3 passes through both sensors 20 and 30, the off time of the sensors 20 and 30 by the glass substrate 3, that is, the time elapsed in the off state is measured. The measured off-time is compared with the off-time reference value already set on the microcomputer board 50 according to the transverse length of the glass substrate 3 (S05), and the error between the measured value and the reference value is within the tolerance range. When present, the glass substrate 3 is judged as good quality and proceeds to the next step (S06).

한편, 유리기판(3)에 의해 센서(20,30) 중 어느 한 쪽(20)이 먼저 오프된 후 시차를 두고 나머지 한 쪽(30)이 오프되는 경우(S04), 각 센서(20,30)가 오프로 동작되는 시점의 차이 즉, 동작시차를 측정한 값과 기설정된 동작시차 기준값 사이의 차이가 허용오차범위를 벗어나면(S05), 마이콤 보드(50)는 유리기판(3)의 우측 모서리(6,8)에 쪽떨어짐이 있는 것으로 판단하여, 직접적으로 또는 PLC 등 유리기판(3) 이송라인 전체를 관리하는 메인 시스템을 통해 컨베이어(10)의 운전을 멈추고(S07), 해당 유리기판(3)을 들어낼 수 있도록 해준다. 이때, 어느 한 쪽 즉, 제1 센서(20)의 동작시점을 기준으로 다른 한 쪽 즉, 제2 센서(30)의 동작시점을 감산하여 동작시차를 구하면, 그 결과가 양수인지 또는 음수인지에 따라 쪽떨어짐이 우측 모서리(6,8) 중 상하단 어느 쪽 모서리에 발생하였는지도 구별해 낼 수 있게 된다. On the other hand, when one of the sensors 20, 30 of the sensor 20, 30 is first turned off by the glass substrate 3, and then the other side 30 is turned off with a time difference (S04), each sensor (20,30) When the difference between the time point at which the) is turned off, that is, the difference between the measured value of the operating parallax and the preset operating parallax reference value is outside the tolerance range (S05), the microcomputer board 50 moves to the right side of the glass substrate 3. It is determined that there is a drop in the corners 6 and 8, and the operation of the conveyor 10 is stopped directly or through the main system that manages the entire transfer line of the glass substrate 3 such as PLC (S07). (3) allows you to lift. At this time, if one side of the other, that is, the operation time of the second sensor 30 is subtracted based on the operation time of the first sensor 20, and the operation time difference is obtained, the result is positive or negative. Accordingly, it is possible to distinguish which side edge occurs at the top and bottom edges of the right edges 6 and 8.

또한, 유리기판(3)의 상하변(4,5) 중 어느 한 쪽 변(4)에 크랙이 발생한 경우에도 마찬가지로, 유리기판(3)으로 인해 이미 오프되어 있던 어느 한 쪽 센서 즉, 제1 센서(20)가 크랙을 통해 순간적으로 온되더라도 다른 한 쪽 센서 즉, 제2 센서(30)는 여전히 오프되어 있기 때문에, 당연히 양 센서(20,30)가 온으로 동작되는 시점은 상당히 긴 시간차를 갖게 되며(S04), 따라서 양 센서(20,30)의 동작시차는 기설정된 시차값보다 훨씬 더 커지게 되므로(S05), 시차값이 허용오차범위를 넘어서는 순간 마이콤 보드(50)는 유리기판(3)의 상하변(4,5) 중 어느 한 쪽 변(4)에 크랙이 발생한 것으로 판단하여, 컨베이어(10)의 운전을 멈추고(S07), 해당 유리기판(3)을 불량 처리할 수 있도록 해준다. 이때에도, 마찬가지로 어느 쪽 센서가 온으로 동작되었는가에 따라 양 센서(20,30) 동작시차의 양음이 반대로 나타나므로, 이에 따라 크랙이 상하변(4,5) 어느 쪽에 발생하였는지를 알 수 있게 된다.In addition, in the case where a crack occurs on either side 4 of the upper and lower sides 4 and 5 of the glass substrate 3, one of the sensors already turned off due to the glass substrate 3, that is, the first Since the other sensor, that is, the second sensor 30, is still off even though the sensor 20 is momentarily turned on through the crack, the time when both sensors 20 and 30 are operated on will have a considerably long time difference. (S04), and therefore, the operating parallax of both sensors 20 and 30 is much larger than the preset parallax value (S05), so that the moment when the parallax value exceeds the tolerance range, the microcomputer board 50 becomes a glass substrate ( It is determined that a crack has occurred on either side 4 of the upper and lower sides 4 and 5 of 3), the operation of the conveyor 10 is stopped (S07), and the glass substrate 3 can be treated poorly. Do it. At this time as well, since the positive and negative of the parallax of operation of both sensors 20 and 30 are reversed depending on which sensor is turned on, it is possible to know which crack occurred on the upper and lower sides 4 and 5.

마찬가지로, 유리기판(3)의 후미인 좌변 상하 모서리(7,9)에 쪽떨어짐이 발생한 경우에도, 각각의 센서(20,30)가 유리기판(3)으로 인해 오프되어 있다가 재차 온되는 동작시점이 달라지는 바(S04), 이에 따라 유리기판(3)의 좌측 모서리(7,9) 중 어느 쪽에 쪽떨어짐이 발생하였는지를 확인하고, 컨베이어(10)를 멈춘 후(S07), 해당 유리기판(3)을 제거할 수 있게 된다.Similarly, even when a drop occurs in the upper left and lower corners 7 and 9 of the rear side of the glass substrate 3, the respective sensors 20 and 30 are turned off due to the glass substrate 3 and then turned on again. The view point is different (S04), according to which of the left edges (7, 9) of the glass substrate 3, and whether the falling off occurs, and after stopping the conveyor (10) (S07), the glass substrate (3) ) Can be removed.

그런데, 예외적으로 이와 같은 쪽떨어짐이나 크랙이 유리기판(3)의 횡축선에 대해 대칭적으로 발생했을 때 즉, 파단의 감지가 양 센서(20,30)에서 동시에 이루어진 경우, 다시 말해서 양 센서(20,30)의 동작시차가 허용오차범위 내에 있을 때를 감안하여 마이콤 보드(50)는 정상적인 유리기판(3)이 양 센서(20,30)를 통과하 는 데 걸리는 시간값을 가지고 있어 양 센서(20,30)에 온/오프 동작시차가 발생하지 않았더라도 즉, 동작시차가 허용오차범위 내에 있는 경우라 하더라도(S03), 각각의 센서(20,30)가 온에서 오프되었다가 재차 온될 때까지 걸린 총동작경과시간이 설정된 시간값과 허용오차범위를 벗어나 일치하지 않으면(S05) 마이콤 보드(50)는 해당 유리기판(3)을 불량으로 판정하여(S07) 제거하게 된다.By the way, exceptionally when such a fall or crack occurs symmetrically with respect to the horizontal axis of the glass substrate 3, that is, when the detection of the break is made at both sensors 20 and 30 at the same time, in other words, both sensors ( The microcomputer board 50 has a time value for the normal glass substrate 3 to pass through both sensors 20 and 30 in consideration of when the operating time difference of 20 and 30 is within the tolerance range. Even when the on / off operation time difference does not occur at (20, 30), that is, even when the operating time difference is within the tolerance range (S03), when each sensor 20, 30 is turned off from on and then turned on again If the total operation time elapsed until the difference does not match the set time value and the tolerance range (S05), the microcomputer board 50 determines that the glass substrate 3 is defective (S07).

한편, 마이콤 보드(50)는 이와 같이 파단이 발생한 시점을 디스플레이(51)를 통해서 표시할 수 있으며, 유리기판(3)의 제조 정밀도에 부합하도록 스위치(53,54,55)를 조작하여 제1 및 제2 센서(20,30)의 동작시차 또는 각각의 총동작경과시간 측정값의 기준값에 대한 허용오차범위를 임의로 설정할 수 있다. 즉, 본 발명의 검사장치(1)는 1/1000초와 같이 짧은 시간 단위로도 파단의 유무를 검사할 수 있으므로, 허용오차범위를 1/100초 단위까지 미세하게 설정할 수 있으며, 따라서 이송 중인 유리기판(3)으로부터 길이로 환산하면 ㎜단위의 파단을 감지하여 해당 유리기판(3)을 불량 처리할 수 있게 된다.On the other hand, the microcomputer board 50 may display the time point of the break through the display 51, the first to operate the switch (53, 54, 55) in accordance with the manufacturing precision of the glass substrate (3) And a tolerance range for the operation parallaxes of the second sensors 20 and 30 or the reference value of each total operation elapsed time measurement value. That is, since the inspection device 1 of the present invention can inspect the presence or absence of fracture even in a short time unit such as 1/1000 second, the tolerance range can be finely set up to 1/100 second unit, and thus is being transferred. When converted from the glass substrate 3 to the length, it is possible to detect the fracture in mm unit and to perform defective processing on the glass substrate 3.

도 1은 본 발명에 따른 유리기판의 파단 검사장치를 개략 도시한 사시도.1 is a perspective view schematically showing a fracture inspection apparatus of a glass substrate according to the present invention.

도 2는 도 1에 도시된 마이콤 보드가 상세 도시된 블록도. FIG. 2 is a detailed block diagram of the microcomputer board shown in FIG. 1.

도 3은 본 발명에 따른 유리기판의 파단 검사장치에 의해 유리기판의 양부를 판단하여 불량품을 제거하는 과정을 도식화한 블록도.Figure 3 is a block diagram illustrating a process of removing defective products by determining the quality of the glass substrate by the fracture inspection apparatus of the glass substrate according to the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

1 : 파단 검사장치 3 : 유리기판1: fracture inspection device 3: glass substrate

4 : 상변 5 : 하변4: upper side 5: lower side

6,7,8,9 : 모서리 10 : 컨베이어6,7,8,9: corner 10: conveyor

11 : 입력단 20 : 제1 센서11: input terminal 20: first sensor

21 : 발광부 22 : 수광부21 light emitting portion 22 light receiving portion

30 : 제2 센서 31 : 발광부30 second sensor 31 light emitting unit

32 : 수광부 50 : 마이콤 보드32: light receiver 50: microcomputer board

51 : 디스플레이 52,53,54,55,56 : 스위치 51: display 52,53,54,55,56: switch

Claims (4)

삭제delete 컨베이어(10)의 입력단(11) 또는 출력단의 좌우변 일측에 장착되어, 상기 컨베이어(10)에 의해 이송되는 사각 유리기판(3)의 한 변(4)에 발생한 크랙과 상기 한 변(4)의 양 모서리(6,7)에 발생한 쪽떨어짐을 감지하는 제1 센서(20);Cracks and one side (4) generated on one side (4) of the square glass substrate (3), which is mounted on the left and right sides of the input end 11 or output end of the conveyor (10) conveyed by the conveyor (10) A first sensor 20 for detecting a side drop generated at both edges 6 and 7 of the first and second edges 6 and 7; 상기 컨베이어(10)의 입력단(11) 또는 출력단의 좌우변 타측에 상기 제1 센서(20)와 대응하는 위치에 일렬로 장착되어, 상기 컨베이어(10)에 의해 이송되는 상기 사각 유리기판(3)의 다른 한 변(5)에 발생한 크랙과 상기 한 변(5)의 양 모서리(8,9)에 발생한 쪽떨어짐을 감지하는 제2 센서(30); 및The rectangular glass substrate 3 which is mounted in a line at a position corresponding to the first sensor 20 on the left and right sides of the input terminal 11 or the output terminal of the conveyor 10 and is transported by the conveyor 10. A second sensor (30) for detecting cracks occurring on the other side (5) of the side and falling off at both edges (8, 9) of the one side (5); And 상기 유리기판(3)으로 인해 온/오프되는 상기 제1 센서(20)와 상기 제2 센서(30)의 동작 시차가 설정된 허용오차범위 이상일 때, 상기 유리기판(3)을 불량으로 판단하고, 상기 컨베이어(10)를 정지시키도록 되어 있는 마이콤 보드(50);로 이루어지고,When the operating parallax between the first sensor 20 and the second sensor 30 turned on / off due to the glass substrate 3 is greater than or equal to a set tolerance range, the glass substrate 3 is determined to be defective, A microcomputer board 50 configured to stop the conveyor 10; 상기 마이콤 보드(50)는 상기 유리기판(3)으로 인해 온/오프되는 상기 제1 센서(20)와 상기 제2 센서(30)의 동작 시간이 일치하면서, 상기 제1 및 제2 센서(20,30) 각각의 총동작경과시간 측정값이 기준값과 비교해 설정된 오차범위 이상으로 작아질 때, 상기 유리기판(3)을 불량으로 판단하고, 상기 컨베이어(10)를 정지시키도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 유리기판의 파단 검사장치.The microcomputer board 50 is the first and second sensors 20, the operation time of the first sensor 20 and the second sensor 30 is turned on / off due to the glass substrate 3, the first and second sensors 20 And 30) when the total elapsed time measurement value of each of them becomes smaller than the set error range compared with the reference value, the glass substrate 3 is judged to be defective and the conveyor 10 is stopped. Breaking inspection device for glass substrates. 제2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 마이콤 보드(50)는 상기 제1 및 제2 센서(20,30)에 의해 상기 유리기판(3)의 크랙이나 쪽떨어짐이 감지된 시간을 표시하거나, 상기 제1 및 제2 센서(20,30) 간의 동작시차의 허용오차범위 또는 상기 제1 및 제2 센서(20,30) 각각의 총동작경과시간 측정값과 기준값이 갖는 차이의 허용오차범위를 설정하기 위한 디스플레이(51)와 스위치(52,53,54,55,56)를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 유리기판의 파단 검사장치.The microcomputer board 50 may display a time at which a crack or a drop of the glass substrate 3 is detected by the first and second sensors 20 and 30 or the first and second sensors 20 and 30 may be detected. A display 51 and a switch for setting the tolerance range of the time difference between the operation time difference or the difference between the total operating elapsed time measurement value of each of the first and second sensors 20 and 30 and the reference value; 52, 53, 54, 55, 56) broken glass inspection apparatus characterized in that it comprises. 제3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 제1 및 제2 센서(20,30)는 각각 발광부(21,31)와 수광부(22,32)로 이루어진 광센서인 것을 특징으로 하는 유리기판의 파단 검사장치.The first and second sensors (20, 30) are broken inspection apparatus of the glass substrate, characterized in that the light sensor consisting of the light emitting portion (21, 31) and the light receiving portion (22, 32), respectively.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102085565B1 (en) 2019-11-28 2020-03-06 주식회사 유니온씨티 Sensor for Detecting Glass Breakage
KR102127206B1 (en) 2019-11-27 2020-06-29 주식회사 피치케이블 System and Method for Remote Real-Time Intergrated Management of Bus Platform, and Recording Medium having Computer Readable Program for Executing the Method
KR102145971B1 (en) 2020-06-08 2020-08-19 주식회사 피치케이블 Remote real-time integral management system of Bus Platform having function for prevention of infection
KR102271311B1 (en) * 2020-07-21 2021-07-01 주식회사 에이치앤이루자 Inspecting Apparatus for Brocken of Glass Substrate and Inspection Method using the Same

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101282757B1 (en) * 2012-01-11 2013-07-05 (주)유텍시스템 Scan inspection apparatus and scan inspection method for glass edge
KR101703954B1 (en) * 2013-08-26 2017-02-07 주식회사 엘지화학 Apparatus and method for detecting defect of glass plate
KR102137401B1 (en) * 2018-03-06 2020-07-24 주식회사 엘지화학 Method for predicting crack of the plate glass
CN109632810A (en) * 2019-01-03 2019-04-16 京东方科技集团股份有限公司 Display panel crack detecting method and system

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001153816A (en) * 1999-11-25 2001-06-08 Nippon Sheet Glass Co Ltd Method and device for detecting edge defect in glass plate
KR100411579B1 (en) 2001-04-20 2003-12-18 주식회사 에이스월드 Apparatus for testing glass transmission rate using light
KR20060104185A (en) * 2005-03-29 2006-10-09 (주)대현상공 Surface inspection apparatus using optical sensors

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001153816A (en) * 1999-11-25 2001-06-08 Nippon Sheet Glass Co Ltd Method and device for detecting edge defect in glass plate
KR100411579B1 (en) 2001-04-20 2003-12-18 주식회사 에이스월드 Apparatus for testing glass transmission rate using light
KR20060104185A (en) * 2005-03-29 2006-10-09 (주)대현상공 Surface inspection apparatus using optical sensors

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102127206B1 (en) 2019-11-27 2020-06-29 주식회사 피치케이블 System and Method for Remote Real-Time Intergrated Management of Bus Platform, and Recording Medium having Computer Readable Program for Executing the Method
KR102085565B1 (en) 2019-11-28 2020-03-06 주식회사 유니온씨티 Sensor for Detecting Glass Breakage
KR102145971B1 (en) 2020-06-08 2020-08-19 주식회사 피치케이블 Remote real-time integral management system of Bus Platform having function for prevention of infection
KR102271311B1 (en) * 2020-07-21 2021-07-01 주식회사 에이치앤이루자 Inspecting Apparatus for Brocken of Glass Substrate and Inspection Method using the Same

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KR20090057584A (en) 2009-06-08

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