KR100919835B1 - 적외선 검출기에서 결점 검출 방법 - Google Patents

적외선 검출기에서 결점 검출 방법

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Abstract

본 발명은 적외선 검출기에 관한 것으로서, 결점을 검출하는 방법에 있어서, 중심 영역과 외곽 영역으로 구분된 제1영상과, 상기 제1영상과는 상이하며 상기 중심 영역과 외곽 영역으로 동일하게 구분된 제2영상을 입력받는 과정과, 상기 입력받은 제1영상 및 제2영상 각각에서 각 픽셀의 이득값 및 오프셋을 계산하는 과정과, 상기 이득값 및 오프셋이 계산된 각 픽셀이 상기 중심 영역에 위치하는지 혹은 외곽 영역에 위치하는지 판별하는 과정과, 상기 중심 영역에 위치한 해당 픽셀의 계산된 이득값 및 오프셋과 미리 설정된 제1임계값을 고려하여 상기 해당 픽셀의 결점 여부를 검출하는 과정과, 상기 외곽 영역에 위치한 해당 픽셀의 계산된 이득값 및 오프셋과 미리 설정된 제2임계값을 고려하여 상기 해당 픽셀의 결점 여부를 검출하는 과정을 포함한다.

Description

적외선 검출기에서 결점 검출 방법{METHOD FOR DETECTING DEFECT IN AN INFRARED DETECTOR}
본 발명은 적외선 검출기(infrared detector)에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 적외선 검출기에서 결점(defect)을 검출하는 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 적외선 검출기는 영상 보상을 수행하지 않을 경우 불균일한 영상을 출력한다. 따라서 상기 적외선 검출기는 영상의 질을 향상시키기 위해 영상 보상을 수행한다. 상기 영상 보상을 수행하기 위해서는 적외선 검출기 영상의 결점을 검출하여, 상기 검출된 결점에 대해 보정을 수행하여야 한다.
종래의 결점 검출 및 등록 방법은, 영상을 분석하여 실험적으로 결정된 임계값(threshold)의 범위를 벗어나는 이득값과 오프셋(offset)을 가지는 픽셀(pixel)이 결점으로 검출되고, 상기 검출된 결점을 등록한다. 상기 등록된 결점은 주변의 정상적인 픽셀들의 값을 이용하여 보정될 수 있다. 하지만, 종래에는 상기 적외선 검출기 영상의 결점을 검출하여 등록하기 위한 구체적인 방안이 제안되지 않았다.
따라서, 본 발명은 적외선 검출기 영상의 결점을 검출하는 방법을 제안한다.
또한, 본 발명은 적외선 검출기 영상을 두개의 영역으로 구분하고, 상기 구분된 영역을 가지는 영상에서 결점을 검출하는 방법을 제안한다.
본 발명의 방법은, 적외선 검출기에서 결점을 검출하는 방법에 있어서, 중심 영역과 외곽 영역으로 구분된 제1영상과, 상기 제1영상과는 상이하며 상기 중심 영역과 외곽 영역으로 동일하게 구분된 제2영상을 입력받는 과정과, 상기 입력받은 제1영상 및 제2영상 각각에서 각 픽셀의 이득값 및 오프셋을 계산하는 과정과, 상기 이득값 및 오프셋이 계산된 각 픽셀이 상기 중심 영역에 위치하는지 혹은 외곽 영역에 위치하는지 판별하는 과정과, 상기 중심 영역에 위치한 해당 픽셀의 계산된 이득값 및 오프셋과 미리 설정된 제1임계값을 고려하여 상기 해당 픽셀의 결점 여부를 검출하는 과정과, 상기 외곽 영역에 위치한 해당 픽셀의 계산된 이득값 및 오프셋과 미리 설정된 제2임계값을 고려하여 상기 해당 픽셀의 결점 여부를 검출하는 과정을 포함한다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 적외선 검출기 영상을 두개의 영역으로 구분하고, 상기 구분된 영역을 가지는 영상에서 결점을 검출하는 방법을 제안함으로써, 결점 검출을 보다 효율적으로 수행할 수 있고 영상을 보상해 줄 수 있는 이점이 있다.
도 1은 본 발명에 따른 두개의 영역으로 구분된 적외선 검출기의 영상을 도시한 도면
도 2는 본 발명의 첫번째 실시예에 따른 적외선 검출기의 결점 검출 및 등록 과정을 도시한 흐름도
도 3은 본 발명의 두번째 실시예에 따른 적외선 검출기의 결점 검출 및 등록 과정을 도시한 흐름도
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 따른 바람직한 실시 예를 상세히 설명한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단된 경우 그 상세한 설명은 생략한다.
본 발명은 적외선 검출기 영상을 두개의 영역으로 구분하고, 상기 구분된 영역 각각별로 결점을 검출하고 등록하는 방법을 제시한다. 이하에서는, 상기 구분된 두개의 영역에 대해 각각 '중심(inner) 영역'과 '외곽(outer) 영역'이라 칭하기로 한다.
한편, 상기 적외선 검출기는 열상 장비에 해당한다. 따라서 본 발명은 영상의 결점을 검출하고 등록하는 모든 열상 장비에 적용 가능하다.
도 1에 도시한 바와 같이, 320240 영상의 경우 상기 중심 영역은 240180 영역이 될 수 있으며, 상기 외곽 영역은 상기 중심 영역을 제외한 나머지 영역이 될 수 있다.
도 2는 본 발명의 첫번째 실시예에 따른 적외선 검출기의 결점 검출 및 등록 과정을 도시한 흐름도이다.
도 2를 참조하면, 202단계에서 상기 적외선 검출기는 핫 레퍼런스(hot reference)와 콜드 레퍼런스(cold reference)에 따른 영상을 각각 입력하고 204단계로 진행한다. 상기 핫 레퍼런스는 기준 온도보다 높은 상태에서 특정 픽셀에서의 영상값을 추출하기 위해 사용되는 입력을 의미하고, 상기 콜드 레퍼런스는 기준 온도보다 낮은 상태에서 상기 특정 픽셀에서의 영상값을 추출하기 위해 사용되는 입력을 의미한다. 상기 204단계에서 상기 적외선 검출기는 상기 핫 레퍼런스 및 콜드 레퍼런스에 따른 영상 각각에서의 각 픽셀의 이득값(gain) 및 오프셋을 계산하고 206단계로 진행한다. 하기 수학식 1은 핫 레퍼런스와 콜드 레퍼런스에 따른 영상 각각에서의 i번 픽셀의 평균값을 결정하는 수학식이며, 하기 수학식 2는 상기 수학식 1을 이용하여 결정된 핫 레퍼런스 및 콜드 레퍼런스의 평균값을 이용하여 각 픽셀의 이득값 및 오프셋을 결정하는 수학식이다.
상기 수학식 1에서 Th는 핫 레퍼런스에 따른 영상에서 전체 픽셀의 평균값을 의미하고, Tc는 콜드 레퍼런스에 따른 영상에서 전체 픽셀의 평균값을 의미하며, Ph(i)는 핫 레퍼런스에 따른 영상에서 i번 픽셀의 영상값을 의미하고, Pc(i)는 콜드 레퍼런스에 따른 영상에서 i번 픽셀의 영상값을 의미한다. 또한, TotalNum은 전체 픽셀의 개수를 의미한다.
상기 수학식 2에서 gain(i)은 i번 픽셀의 이득값을 의미하고, offset(i)는 i번 픽셀의 오프셋을 의미한다. 상기 이득값 및 오프셋의 결정은 모든 픽셀들(i=0부터 TotalNum-1까지)에 대해 수행된다.
상기 206단계에서 상기 적외선 검출기는 상기 수학식 1 및 2에 의해 계산된 핫 레퍼런스의 i번 픽셀의 영상값과 콜드 레퍼런스의 i번 픽셀의 영상값의 차이와, 각 픽셀의 이득값과 오프셋이 하기 수학식 3과 같은 조건들 중 어느 하나를 만족하는지 판별한다.
Ph(i)-Pc(i)<2
Gain(i)>Max_Gain_Threshold
Gain(i)<Min_Gain_Threshold
Offset(i)>Max_Offset_Threshold
Offset(i)<Min_Offset_Threshold
상기 수학식 3에서 Max_Gain_Threshold(최대 이득 임계값), Min_Gain_Threshold(최소 이득 임계값), Max_Offset_Threshold(최대 오프셋 임계값) 및 Min_Offset_Threshold(최소 오프셋 임계값)는 상기 적외선 검출기의 영상을 분석하여 실험적으로 결정된 임계값들로, 픽셀의 결점을 검출하는데 사용된다.
판별 결과, 상기 조건들 중 어느 하나를 만족하는 경우 208단계로 진행하여 i번 픽셀을 결점으로 등록한다. 반면에, 상기 조건들을 어느 하나도 만족하지 않는 경우 210단계로 진행하여 현재 픽셀(i번 픽셀)에서 1 증가된 i+1번 픽셀에 대해 206단계부터 반복한다.
한편, 상술한 바와 같이 최대 이득 임계값 및 최소 이득 임계값, 최대 오프셋 임계값 및 최소 오프셋 임계값을 전체 영상 영역에 동일하게 적용할 경우, 영상의 외곽 영역에 위치한 픽셀들은 결점 검출을 할 수 없는 문제점이 발생할 수 있다. 왜냐하면, 상기 적외선 검출기가 비선형적이고 시변적인 특성을 가지기 때문이다.
따라서 본 발명의 두번째 실시예에서는 상기 적외선 검출기의 영상을 중심 영역과 외곽 영역으로 구분하여 결점을 검출하는 방안에 대해 설명하기로 한다.
도 3은 본 발명의 두번째 실시예에 따른 적외선 검출기의 결점 검출 및 등록 과정을 도시한 흐름도이다.
도 3을 참조하면, 302단계에서 상기 적외선 검출기는 핫 레퍼런스와 콜드 레퍼런스에 따른 영상을 각각 입력하고 304단계로 진행한다. 여기서, 상기 영상 각각은 도 2에서와는 달리 중심 영역과 외곽 영역으로 구분된다. 상기 304단계에서 상기 적외선 검출기는 상기 핫 레퍼런스 및 콜드 레퍼런스에 따른 영상 각각에서의 각 픽셀의 이득값 및 오프셋을 계산하고 306단계로 진행한다. 상기 영상 각각에서의 각 픽셀의 이득값 및 오프셋의 계산은 상기 수학식 1 및 2가 이용된다.
상기 306단계에서 상기 적외선 검출기는 상기 수학식 1 및 2를 이용하여 계산된 이득값 및 오프셋에 해당하는 픽셀이 중심 영역에 위치해 있는지 혹은 외곽 영역에 위치해 있는지를 판별한다. 상기 픽셀이 외곽 영역에 위치해 있는 경우 308단계로 진행하고, 상기 픽셀이 중심 영역에 위치해 있는 경우 310단계로 진행한다.
상기 308단계에서 상기 적외선 검출기는 상기 수학식 1 및 2에 의해 계산된 핫 레퍼런스의 i번 픽셀의 영상값과 콜드 레퍼런스의 i번 픽셀의 영상값의 차이와, 각 픽셀의 이득값과 오프셋이 하기 수학식 4와 같은 조건들 중 어느 하나를 만족하는지 판별한다.
Ph(i)-Pc(i)<2
Gain(i)>Max_Gain_Threshold 1
Gain(i)<Min_Gain_Threshold 1
Offset(i)>Max_Offset_Threshold 1
Offset(i)<Min_Offset_Threshold 1
상기 수학식 4에서의 Max_Gain_Threshold 1(최대 이득 임계값 1), Min_Gain_Threshold 1(최소 이득 임계값 1), Max_Offset_Threshold 1(최대 오프셋 임계값 1) 및 Min_Offset_Threshold 1(최소 오프셋 임계값 1) 역시 상기 적외선 검출기의 영상을 분석하여 실험적으로 결정된 임계값들로, 상기 수학식 3에 기재된 각 임계값과는 다른 값을 가진다. 예컨대, 상기 수학식 3에서 Max_Gain_Threshold와 Min_Gain_Threshold가 각각 2와 6의 값을 가진다고 가정하면, 상기 수학식 4에서 Max_Gain_Threshold 1과 Min_Gain_Threshold 1은 각각 3과 5의 값을 가질 수 있다. 이와 유사하게, 상기 수학식 3에서 Max_Offset_Threshold와 Min_Offset_Threshold가 각각 2와 6의 값을 가진다고 가정하면, 상기 수학식 4에서 Max_Offset_Threshold 1과 Min_Offset_Threshold 1은 각각 3과 5의 값을 가질 수 있다.
상기 308단계에서의 판별 결과, 상기 조건들 중 어느 하나를 만족하는 경우 316단계로 진행하여 i번 픽셀을 결점으로 등록한다. 반면에, 상기 조건들을 어느 하나도 만족하지 않는 경우 312단계로 진행하여 현재 픽셀(i번 픽셀)에서 1 증가된 i+1번 픽셀에 대해 306단계부터 반복한다.
한편, 상기 310단계에서 상기 적외선 검출기는 상기 수학식 1 및 2에 의해 계산된 핫 레퍼런스의 i번 픽셀의 영상값과 콜드 레퍼런스의 i번 픽셀의 영상값의 차이와, 각 픽셀의 이득값과 오프셋이 하기 수학식 5와 같은 조건들 중 어느 하나를 만족하는지 판별한다.
Ph(i)-Pc(i)<2
Gain(i)>Max_Gain_Threshold 2
Gain(i)<Min_Gain_Threshold 2
Offset(i)>Max_Offset_Threshold 2
Offset(i)<Min_Offset_Threshold 2
상기 수학식 5에서의 Max_Gain_Threshold 2(최대 이득 임계값 2), Min_Gain_Threshold 2(최소 이득 임계값 2), Max_Offset_Threshold 2(최대 오프셋 임계값 2) 및 Min_Offset_Threshold 2(최소 오프셋 임계값 2) 역시 상기 적외선 검출기의 영상을 분석하여 실험적으로 결정된 임계값들로, 상기 수학식 3 및 4에 기재된 각 임계값과는 다른 값을 가진다. 예컨대, 상기 수학식 4에서 Max_Gain_Threshold 1과 Min_Gain_Threshold 1이 각각 3과 5의 값을 가진다고 가정하면, 상기 수학식 5에서 Max_Gain_Threshold 2와 Min_Gain_Threshold 2는 각각 1과 7의 값을 가질 수 있다. 이와 유사하게, 상기 수학식 4에서 Max_Offset_Threshold 1과 Min_Offset_Threshold 1이 각각 3과 5의 값을 가진다고 가정하면, 상기 수학식 5에서 Max_Offset_Threshold 2와 Min_Offset_Threshold 2는 각각 1과 7의 값을 가질 수 있다.
상기 310단계에서의 판별 결과, 상기 조건들 중 어느 하나를 만족하는 경우 318단계로 진행하여 i번 픽셀을 결점으로 등록한다. 반면에, 상기 조건들을 어느 하나도 만족하지 않는 경우 314단계로 진행하여 현재 픽셀(i번 픽셀)에서 1 증가된 i+1번 픽셀에 대해 306단계부터 반복한다.
한편, 하나의 임계값을 전체 영상에 적용하였을 경우, 외곽영역은 중심영역에 비해 주변광량비(relative illumination)가 작기 때문에 검출기의 출력 신호 레벨이 작아지게 된다. 그래서 불균일 보정(NUC: Non Uniformity Correction)이 완벽하게 이루어지지 않는다. 이에 대한 문제점을 해결하기 위하여, 해당 픽셀에 대한 값을 무시하여 결점으로 등록시킨 후 결점 보상과 영상 처리를 수행한다.
또한, 본 발명에서는 외곽 영역의 임계값을 중심 영역의 임계값보다 낮은 값으로 설정함으로써 결점등록이 되는 확률을 높였다. 이와 같이 하는 이유는, 상기 중심 영역에 대한 임계값을 외곽 영역과 동일하게 할 경우, 즉 하나의 임계값을 전체 영역에 적용하였을 경우, 정상적으로 반응하는 신호를 결점으로 등록하는 오류를 범할 수 있기 때문이다.
한편 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시 예에 관해 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구의 범위뿐만 아니라 이 특허청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.

Claims (6)

  1. 삭제
  2. 삭제
  3. 적외선 검출기에서 결점을 검출하는 방법에 있어서,
    중심 영역과 외곽 영역으로 구분된 제1영상과, 상기 제1영상과는 상이하며 상기 중심 영역과 외곽 영역으로 동일하게 구분된 제2영상을 입력받는 과정과,
    상기 입력받은 제1영상 및 제2영상 각각에서 각 픽셀의 이득값 및 오프셋을 계산하는 과정과,
    상기 이득값 및 오프셋이 계산된 각 픽셀이 상기 중심 영역에 위치하는지 혹은 외곽 영역에 위치하는지 판별하는 과정과,
    상기 중심 영역에 위치한 해당 픽셀의 계산된 이득값 및 오프셋과 미리 설정된 제1임계값을 고려하여 상기 해당 픽셀의 결점 여부를 검출하는 과정과,
    상기 외곽 영역에 위치한 해당 픽셀의 계산된 이득값 및 오프셋과 미리 설정된 제2임계값을 고려하여 상기 해당 픽셀의 결점 여부를 검출하는 과정을 포함하며,
    상기 제1임계값은 최대 이득 임계값 1(Max_Gain_Threshold 1), 최소 이득 임계값 1(Min_Gain_Threshold 1), 최대 오프셋 임계값 1(Max_Offset_Threshold 1) 및 최소 오프셋 임계값 1(Min_Offset_Threshold 1)을 포함하며, 상기 제2임계값은 최대 이득 임계값 2(Max_Gain_Threshold 2), 최소 이득 임계값 2(Min_Gain_Threshold 2), 최대 오프셋 임계값 2(Max_Offset_Threshold 2) 및 최소 오프셋 임계값 2(Min_Offset_Threshold 2)을 포함하며,
    상기 최대 이득 임계값 1 및 최대 오프셋 임계값 1은 상기 최대 이득 임계값 2 및 최대 오프셋 임계값 2보다 작은 값을 가지며, 상기 최소 이득 임계값 1 및 최소 오프셋 임계값 1은 상기 최소 이득 임계값 2 및 최소 오프셋 임계값 2보다 큰 값을 가지는 결점 검출 방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 외곽 영역에 위치한 해당 픽셀의 결점 여부 검출 과정은;
    상기 최대 이득 임계값 1이 상기 계산된 해당 픽셀의 이득값 미만이거나 혹은 상기 최소 이득 임계값 1이 상기 계산된 해당 픽셀의 이득값을 초과하거나 혹은 상기 최대 오프셋 임계값 1이 상기 계산된 해당 픽셀의 오프셋 미만이거나 혹은 상기 최소 오프셋 임계값 1이 상기 계산된 해당 픽셀의 오프셋을 초과하는 경우, 상기 해당 픽셀을 결점으로 검출하는 과정임을 특징으로 하는 결점 검출 방법.
  5. 제3항에 있어서, 상기 중심 영역에 위치한 해당 픽셀의 결점 여부 검출 과정은;
    상기 최대 이득 임계값 2가 상기 계산된 해당 픽셀의 이득값 미만이거나 혹은 상기 최소 이득 임계값 2가 상기 계산된 해당 픽셀의 이득값을 초과하거나 혹은 상기 최대 오프셋 임계값 2가 상기 계산된 해당 픽셀의 오프셋 미만이거나 혹은 상기 최소 오프셋 임계값 2가 상기 계산된 해당 픽셀의 오프셋을 초과하는 경우, 상기 해당 픽셀을 결점으로 검출하는 과정임을 특징으로 하는 결점 검출 방법.
  6. 제3항에 있어서,
    상기 각 픽셀의 이득값 및 오프셋은 하기 수학식에 의해 결정되며,
    상기 수학식에서 Th는 상기 제1영상에서 전체 픽셀의 평균값을 의미하며 로 나타내며, Tc는 상기 제2영상에서 전체 픽셀의 평균값을 의미하며 로 나타내며, Ph(i)는 제1영상의 i번 픽셀의 영상값을 의미하고, Pc(i)는 제2영상의 i번 픽셀의 영상값을 의미하고, TotalNum은 제1영상 및 제2영상에서 전체 픽셀의 개수를 의미하며, gain(i)는 i번 픽셀의 이득값을, offset(i)는 i번 픽셀의 오프셋을 의미하는 것을 특징으로 하는 결점 검출 방법.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101840837B1 (ko) * 2017-12-06 2018-03-21 엘아이지넥스원 주식회사 적외선 검출기의 온도에 따른 불량화소 검출장치 및 방법
KR102359473B1 (ko) * 2020-10-21 2022-02-08 써모아이 주식회사 열화상 카메라 노이즈 보상 방법 및 장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001268448A (ja) * 2000-03-17 2001-09-28 Olympus Optical Co Ltd 撮像素子の選別方法と撮像素子及び撮像装置
KR20030065141A (ko) * 2002-01-31 2003-08-06 삼성탈레스 주식회사 적외선 열상 장비의 결점을 검출하는 방법
JP2006229626A (ja) * 2005-02-17 2006-08-31 Fuji Photo Film Co Ltd 欠陥画素検出方法
KR100793288B1 (ko) * 2007-05-11 2008-01-14 주식회사 코아로직 영상 처리 장치 및 그 방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001268448A (ja) * 2000-03-17 2001-09-28 Olympus Optical Co Ltd 撮像素子の選別方法と撮像素子及び撮像装置
KR20030065141A (ko) * 2002-01-31 2003-08-06 삼성탈레스 주식회사 적외선 열상 장비의 결점을 검출하는 방법
JP2006229626A (ja) * 2005-02-17 2006-08-31 Fuji Photo Film Co Ltd 欠陥画素検出方法
KR100793288B1 (ko) * 2007-05-11 2008-01-14 주식회사 코아로직 영상 처리 장치 및 그 방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101840837B1 (ko) * 2017-12-06 2018-03-21 엘아이지넥스원 주식회사 적외선 검출기의 온도에 따른 불량화소 검출장치 및 방법
KR102359473B1 (ko) * 2020-10-21 2022-02-08 써모아이 주식회사 열화상 카메라 노이즈 보상 방법 및 장치

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