KR100919062B1 - 반도체 패키지용 토글래스(Ｔｏｇｇｌｅ Ｌｅｓｓ) 캐리어 - Google Patents

Abstract

테스트할 반도체 패키지가 수용될 관통부를 가지는 캐리어본체와; 각각의 양단이 관통부의 서로 마주하는 내벽들에 회동 가능하게 연결되고, 회동위치에 따라 관통부에 장착된 반도체 패키지를 간섭하여 이탈을 방지하는 제1 및 제2래치부재; 및 제1 및 제2래치부재 각각의 양단부 각각을 동시에 간섭하여 제1 및 제2래치부재를 동시에 회동 및 복원시키는 구동유닛;을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지용 캐리어가 개시된다.

Description

반도체 패키지용 토글래스(Ｔｏｇｇｌｅ Ｌｅｓｓ) 캐리어{A Toggle Less carrier for semiconductor package}

본 발명은 반도체 패키지용 캐리어에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 테스트 대상 반도체 패키지를 탑재할 수 있는 반도체 패키지용 토글래스(Toggle Less) 캐리어에 관한 것이다.

일반적으로 반도체 패키지 제조 공정에 의해 제조된 반도체 패키지는 출하되기 전에 전기적 특성 검사와 기능 테스트(function test)와 같은 신뢰성 테스트를 거치게 된다. 제조된 반도체 패키지를 테스트 장치로 이송하며, 테스트 완료된 반도체 패키지를 분류하기 위해 이송하는 장비로 핸들러(handler)가 주로 사용되고 있다.

핸들러는 다수의 반도체 패키지를 테스트 장치 내에 반송하고, 각 반도체 패키지를 테스트 소켓을 통하여 테스트 헤드에 전기적으로 접촉시켜 테스트 공정을 진행한다. 그리고 테스트가 완료된 각 반도체 패키지를 테스트 헤드(test head)로부터 반출하여 테스트 결과에 따라서 분류한다.

이때 핸들러는 개별적인 반도체 패키지가 각각 수납되는 다수의 캐리어가 테스트 트레이(test tray)에 좌우로 정렬된 상태로 테스트 챔버 내로 이송시킴으로써, 반도체 패키지를 테스트할 수 있다.

여기서, 상기 테스트 트레이에는 각각의 반도체 패키지를 장착하는 캐리어가 개별적으로 장착될 수 있다.

도 1은 종래의 반도체 패키지용 캐리어를 나타내 보인 도면으로서, 중앙부분에 관통부(11)를 가지는 캐리어본체(10)와, 상기 캐리어본체(10)의 상부에 승강 가능하게 설치되는 누름부재(20) 및 상기 캐리어본체(10)의 하부에 결합되며 상기 관통부를 통해 이송되는 반도체 패키지를 지지하는 포켓부(31)를 가지는 포켓부재(30)를 구비한다. 상기 포켓부재(30)는 결합핀(40)에 의해 캐리어본체(10)에 움직임 가능하게 결합된다.

상기 구성에 의하면, 캐리어본체(10)의 관통부(11) 내측에는 한 쌍의 래치부재(13)가 회동 가능하게 설치된다. 이 래치부재(13)는 상기 누름부재(20)의 누름동작시 회동하여 포켓부재(30)에 반도체 패키지를 장착 및 분리할 수 있도록 하고, 누름부재(20)의 해제시에는 포켓부재(30)의 포켓부(31)에 안착된 반도체 패키지가 이탈되지 못하도록 지지하는 역할을 한다.

구체적으로, 상기 한 쌍의 래치부재(13)는 그 각각의 양단이 캐리어본체(10)에 회동 가능하게 연결된다. 그리고 각 래치부재(13)는 서로 반대쪽 단부에 상부로 돌출되게 접촉부(13a)가 형성된다. 상기 접촉부(13a)는 상기 누름부재(20)를 누를 때, 그 누름부재(20)에 접촉되어 가압력을 전달받는 부분이다.

그리고 상기 접촉부(13a)의 하부에는 토션스프링(14)이 접촉되게 설치되어, 래치부재(13)를 일방향으로 탄성 가압함으로써, 포켓부재(30)에 안착된 반도체 패키지의 이탈을 방지하는 위치로 래치부재(13)를 이동시킨다.

그런데, 상기와 같은 종래의 캐리어의 경우에는 다음과 같은 문제점이 있다. 즉, 상기 각각의 래치부재(13)들은 어느 한쪽 단부에서만 누름부재(20)에 접촉되어 편심된 접촉 가압력을 받게 되므로, 래치부재(13)의 회동시 래치부재(13)에 편부하가 발생하여 래치부재(13)의 양단이 균형있게 회동되지 못하고, 편심되게 회동되는 문제점이 있다. 이와 같이 래치부재(13)가 편심된 상태로 회동되면, 래치부재(13)가 불완전하게 회동됨으로써 반도체 패키지의 안정적인 안착 및 해체동작을 장담할 수 없기 때문에, 반도체 패키지의 테스트를 위한 이동시 반도체 패키지를 손상시킬 수 있는 위험이 있다.

본 발명은 상기와 같은 점을 감안하여 창안된 것으로서, 래치의 동작시 편부하 발생을 최소화할 수 있도록 구조가 개선된 반도체 패키지용 토글래스(Toggle Less) 캐리어를 제공하는데 그 목적이 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 반도체 패키지용 토글래스(Toggle Less) 캐리어는, 테스트할 반도체 패키지가 수용될 관통부를 가지는 캐리어본체와; 각각의 양단이 상기 관통부의 서로 마주하는 내벽들에 회동 가능하게 연결되고, 회동위치에 따라 상기 관통부에 장착된 반도체 패키지를 간섭하여 이탈을 방지하는 제1 및 제2래치부재; 및 상기 제1 및 제2래치부재 각각의 양단부 각각을 동시에 간섭하여 상기 제1 및 제2래치부재를 동시에 회동 및 복원시키는 구동유닛;을 포함하는 것을 특징으로 한다.

여기서, 상기 구동유닛은, 상기 캐리어본체의 상부에 승강 가능하게 설치되며, 하강시 상기 제1 및 제2래치부재들의 일단을 간섭하여 회동시키는 제1토글부재와; 상기 관통부를 사이에 두고 상기 제1토글부재과 대칭되게 상기 캐리어본체의 상부에 승강 가능하게 설치되어 하강시 상기 제1 및 제2래치부재의 타단을 간섭하여 회동시키는 제1토글부재와; 상기 캐리어본체의 상부에 승강 가능하게 설치되며, 하강시 상기 제1 및 제2토글부재를 간섭하여 하강시키는 누름부재와; 상기 캐리어본체와 상기 누름부재 사이에 설치되는 압축스프링; 및 상기 제1 및 제2래치부재를 초기위치로 이동되게 하는 탄성력을 제공하는 제1 및 제2탄성부재;를 포함하는 것이 바람직하다.

또한, 상기 제1 및 제2래치부재 각각은, x축 방향으로 서로 대면하는 상기 관통부의 제1내벽들 각각에 회동가능하게 지지되는 한 쌍의 회동축과; 상기 한 쌍의 회동축 각각에서 상기 x축에 직교하는 y축 방향으로 연장되는 연장부들과; 상기 연장부들 각각의 단부를 상기 x축방향에 나란하게 연결하는 연결부; 및 상기 연결부의 중앙부분에서 상기 연결부와 직교하도록 연장되며, 회동위치에 따라서 관통부 내측으로 출몰되는 간섭부;를 포함하는 것이 좋다.

또한, 상기 제1 및 제2래치부재 각각은, 상기 회동축과 나란한 방향으로 상기 회동축과 이웃한 위치에서 상기 연장부의 자유단부에서 연장되어 상기 토글부재에 간섭되는 접촉부를 더 포함하는 것이 좋다.

또한, 캐리어본체는 상기 제1 및 제2토글부재를 승강 가능하게 수용하도록 상기 캐리어본체의 상면과 상기 관통부 내벽 각각으로부터 인입 형성된 제1 및 제2토글수용홈을 가지는 것이 좋다.

또한, 상기 제1 및 제2토글부재 각각은, 중앙 부분으로부터 상기 y축과 나란하게 양측으로 대칭되게 분기되어 상기 제1 및 제2래치부재의 단부들을 동시에 접촉하도록 마련된 한 쌍의 접촉부를 가지는 것이 좋다.

또한, 상기 제1 및 제2탄성부재 각각은, 상기 관통부 내부의 서로 마주하는 내측에 설치되어 상기 제1 및 제2래치부재 각각의 단부를 지지하도록 설치되는 제1 및 제2토션스프링을 포함하는 것이 좋다.

또한, 상기 제1 및 제2탄성부재 각각은, 상기 제1 및 제2토글부재를 탄력적으로 지지하도록 설치되는 압축스프링을 포함하며, 상기 제1 및 제2토글부재의 상승시 상기 제1 및 제2래치부재를 간섭하여 원위치로 복귀시키는 것이 좋다.

본 발명의 실시예에 따른 반도체 패키지용 캐리어에 따르면, 양단이 회동가능하게 설치되는 제1 및 제2래치부재는 한 쌍으로 마련된 토글부재들에 의해 양단 각각이 동시에 접촉되어 연동되도록 구성됨으로써, 래치부재들의 동작시 편부하가 발생하는 것을 방지할 수 있게 된다.

따라서, 래치부재들이 안정되게 동작됨으로써 오동작이나 작동불량으로 인하여 반도체 패키지의 테스트불량 등이 발생하는 것을 방지할 수 있게 된다.

또한, 래치부재와 토글부재가 연동하도록 구성됨으로써, 래치부재들의 동작이 보다 안정되고 좌우 균등하게 동작될 수 있게 된다.

도 1 및 도 2는 종래의 반도체 패키지용 캐리어를 나타내 보인 개략적인 도면.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 반도체 패키지용 토글래스(Toggle Less) 캐리어를 나타내 보인 사시도.

도 3은 도 2에 도시된 반도체 패키지용 토글래스(Toggle Less) 캐리어를 나타내 보인 분리 사시도.

도 4a는 도 3에 도시된 캐리어본체를 발췌하여 나타내 보인 사시도.

도 4b는 도 4a에 도시된 캐리어본체의 평면도.

도 5a는 도 3에 도시된 제1 및 제2래치부재의 평면도.

도 5b는 도 3에 도시된 제1 및 제2래치부재의 측단면도.

도 6a는 도 2의 Ⅰ-Ⅰ선 단면도.

도 6b는 도 2의 Ⅱ-Ⅱ선 단면도.

도 6c는 도 2의 Ⅲ-Ⅲ선 단면도.

도 7a는 도 3에 도시된 토글부재의 사시도.

도 7b는 도 7a에 도시된 토글부재의 측면도.

도 7c는 도 7a에 도시된 토글부재의 저면도.

도 8a 내지 도 8c는 본 발명의 다른 실시예에 따른 반도체 패키지용 토글래스(Toggle Less) 캐리어를 설명하기 위한 도면.

< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 >

100..캐리어본체 101..관통부

105,106..토글수용홈 107..축공

110..포켓부재 210,220..제1 및 제2토글부재

130..탄성스프링 140..누름부재

150..압축스프링 200..포켓부재

201..포켓부 300..구동유닛

310,320..제1, 제2토글부재 330..누름부재

340..압축스프링 350,450..제1탄성부재

360,460..제2탄성부재

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 반도체 패키지용 토글래스(Toggle Less) 캐리어를 자세히 설명하기로 한다.

도 2, 도 3, 도 4a 및 도 4b를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 반도체 패키지용 토글래스(Toggle Less) 캐리어는, 캐리어본체(100)와, 제1 및 제2래치부재(210,220)와, 구동유닛(300)을 구비한다.

상기 캐리어본체(100)는 테스트할 반도체 패키지가 수용될 관통부(101)를 그 중앙부분에 가진다. 본 발명의 실시예에서는 관통부(101)가 2개가 마련된 듀얼 캐리어 구조를 예로 들어 설명하고자 하며, 본 발명이 이에 한정되지 않는 것은 당연하다.

상기 관통부(101)는 대략 4각 틀 형태로 캐리어본체(100)를 상하로 관통하도록 형성된다. 캐리어본체(100)의 하부에는 관통부(101)를 통해 이동된 반도체 패키지가 안착되는 포켓부재(110)가 결합핀(120)에 의해 움직임 가능하게 결합된다. 상기 포켓부재(110)의 중앙부분에는 상하로 관통된 포켓부(111)가 형성되며, 포켓부(111)의 내측면에는 반도체 패키지가 안착되는 안착리브(112)가 형성된다. 상기 포켓부재(110)는 결합핀(120)이 관통형성되는 장공(113)이 형성된 돌출리브(114)를 가진다. 상기 돌출리브(114)가 캐리어본체(100)의 하측에 형성된 결합홈에 삽입되도록 포켓부재(110)를 위치시킨 상태에서, 결합핀(120)을 캐리어본체(100)의 측면의 핀홀(103)에 끼워 넣음으로써, 포켓부재(110)를 캐리어본체(100의 하부에 움직임 가능하게 결합할 수 있게 된다.

또한, 상기 캐리어본체(100)에는 캐리어본체(100)의 상면(104)으로부터 인입되고, 관통부(101)와도 연결되도록 제1 및 제2토글수용홈(105,106)이 형성된다. 상기 제1 및 제2토글수용홈(105,106)은 관통부(101)를 사이에 두고 좌우(x축) 방향으로 서로 마주하도록 위치되며, y축 방향으로는 관통부(101)의 중앙부분에 위치하도록 마련된다.

또한, 상기 관통부(101)의 x축 방향으로 마주하는 제1내벽들(101a)에는 한 쌍의 축공(107)이 인입형성된다. 상기 축공(107)은 한 쌍이 토글수용홈(105,106)을 사이에 두고 대칭되게 형성된다.

상기 제1 및 제2래치부재(210,220)는 관통부(101) 내부에서 회동 가능하도록 설치됨으로써, 관통부(101)를 통해 포켓부재(110)에 안착된 반도체 패키지의 이탈을 방지하도록 지지하는 역할을 한다.

도 2, 도 3, 도 5a 및 도 5b를 참조하면, 상기 제1 및 제2래치부재(210,220) 각각은 한 쌍의 회동축(211,221)과, 회동축들(211,221) 각각에서 y축 방향으로 연장되는 연장부들(212,222)과, 연장부들(212)(222) 각각을 연결하는 연결부(213,223)와, 간섭부(214,224) 및 접촉부(215,225)를 구비한다.

상기 회동축(211,221)은 상기 관통부(101)의 제1내벽(101a)에 형성된 축공(107)에 삽입되며, 제1 및 제2래치부재(210,220)의 회동 중심이 된다.

상기 연장부(212,222)는 회동축(211,221)의 회동중심을 기준으로 직교하는 방향 즉, y축 방향으로 연장되며, 제1내벽(101a)에 인접되게 위치된다. 그리고 이러한 연장부(212,222)의 끝단은 연결부(213,223)에 의해 일체로 연결된다.

상기 간섭부(214,224)는 연결부(213,223)의 중앙부분에서 연결부(213,223)와 직교하며, 상기 관통부(101)의 아래쪽으로 연장되도록 형성된다. 이러한 간섭부(214,224)는 래치부재들(210,220)의 회동위치에 따라서 관통부(101)의 제2내벽들(101b)로부터 이격되어 돌출되는 위치(도 6b의 상태)와, 제2내벽(101b)에 밀착되는 위치(도 6c의 상태) 사이에서 선택적으로 이동됨으로써, 테스트할 반도체 패키지의 이동을 허용하거나 차단하게 된다.

상기 접촉부(215,225)는 회동축(211,221)과 나란하게 서로 이웃한 위치에 형성된다. 이러한 접촉부(215,225)는 후술할 제1 및 제2토글부재(310,320)에 간섭되도록 x축 방향으로 돌출되게 형성된다. 즉, 접촉부(215,225)는 연장부(212,222)의 자유단부에서 제1내벽(101a)쪽으로 돌출되게 형성된다.

상기에서 설명한 바와 같이, 제1 및 제2래치부재(210,220)는 x축을 중심으로 하여 서로 대칭되는 구조를 가지며, 서로 대칭되게 설치된다.

상기 구동유닛(300)은 제1 및 제2래치부재(210,220) 각각의 양단부 각각을 동시에 간섭하여 제1 및 제2래치부재(210,220)를 편부하 없이 동시에 회동시키기 위한 것이다. 도 2, 도 6a, 도 6b 및 도 6c를 참조하면, 상기 구동유닛(300)은 제1 및 제2토글부재(310,320)와, 누름부재(330)와, 압축스프링(340) 및 제1 및 제2탄성부재(350,360)를 구비한다.

상기 제1토글부재(310)는 캐리어본체(100)의 제1토글수용홈(105)에 승강 가능하게 수용되며, 하강시 상기 제1 및 제2래치부재(210,220)의 일단을 간섭하여 회동시킨다. 상기 제2토글부재(320)는 x축 방향으로 관통부(101)를 사이에 두고 제1토글부재(310)와 대칭되게 마련되며, 제2토글수용홈(106)에 승강 가능하게 설치된다. 이 제2토글부재(320)도 하강시 제1 및 제2래치부재(210,220)의 타단을 간섭하여 회동시킨다. 구체적으로, 제1 및 제2토글부재(310,320)는 제1 및 제2래치부재(210,220)의 네 접촉부들(215,225)를 동시에 간섭하도록 설치된다. 도 2 및 도 6a에서는 설명의 편의를 위해서 좌측의 누름부재(330)는 눌린 상태로 도시하였고, 우측의 누름부재(330)는 눌려지지 않은 상태로 도시하였으나, 실제로는 동시에 승강되는 것이다.

도 7a 및 도 7b를 참조하면, 상기 제1 및 제2토글부재(310,320)는 중앙부분에서 y축 방향으로 나란하게 양측으로 분기되어 상기 접촉부들(215,225)을 동시에 접촉하여 하강시키기 위한 한 쌍의 제1접촉부(311,321)를 가진다.

또한, 제1 및 제2토글부재(310,320)는 상승시 제1 및 제2래치부재들(210,220)의 접촉부들(215,225)을 동시에 접촉하여 상승시키기 위한 한 쌍의 제2접촉부(312,322)를 더 구비할 수 있다. 상기 제2접촉부들(312,322)은 제1접촉부들(311,321)의 하부(z축 방향으로)에 위치되며 서로 소정 거리 이격되게 형성된다. 따라서 제1 및 제2접촉부들(311,321)(312,322) 사이에는 상기 접촉부들(215,225)이 끼워지는 홈(313,323)이 형성됨으로써, 제1 및 제2래치부재들(210,220)은 제1 및 제2토글부재(310,320)와 연동되어 함께 동작될 수 있게 된다.

또한, 도 7c에 도시된 바와 같이, 제1 및 제2토글부재(310,320)는 그 하부면으로부터 소정깊이로 스프링수용홈(316,326)이 형성된다. 상기 스프링수용홈(316,326)에는 제1 및 제2탄성부재(350)(360)가 삽입되어 결합된다.

상기 제1 및 제2탄성부재(350)(360)는 스프링수용홈(315,325)에 삽입된 상태로 상기 토글수용홈(105,106)의 바닥에 지지됨으로써, 제1 및 제2토글부재(310,320)를 탄력적으로 지지하게 된다.

상기 누름부재(330)는 캐리어본체(100)의 상부를 덮도록 설치되며, 상기 압축스프링(340)에 의해 탄력적으로 지지된다. 상기 압축스프링(340)은 한 쌍이 누름부재(330)의 대각선상의 양측을 각각 지지하도록 캐리어본체(100)와 누름부재(330) 사이에 설치된다.

상기 누름부재(330)가 하강되면, 상기 제1 및 제2토글부재(310,320)가 누름부재(330)에 눌려서 하강될 수 있게 된다. 그리고 누름부재(330)를 누르는 힘을 제거하면, 압축스프링(340)의 탄성복원력에 의해 상승하여 원위치로 복귀하게 된다.

이상에서 설명한 본 발명의 실시예에 따른 반도체 패키지용 캐리어는, 캐리어본체(100)의 관통부(101)에 서로 대칭되게 설치되며, 양단 각각이 회동 가능하게 설치되는 제1 및 제2래치부재(210,220)의 양단 각각을 동시에 간섭하여 회동시키도록 제1 및 제2토글부재(310,320)가 관통부(101)를 사이에 두고 대칭되게 설치된다.

따라서, 종래와는 달리 제1 및 제2래치부재(210,220) 각각의 단부들을 동시에 간섭하여 회동시킬 수 있기 때문에, 래치부재들(210,220)에 편부하가 발생되지 않고 안정되게 회동될 수 있게 된다. 래치부재들(210,220)이 안정된 자세로 회동됨으로써, 편부하로 인한 오동작이나 동작불능을 방지할 수 있게 됨으로써 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있게 된다.

또한, 제1 및 제2토글부재(310,320)가 제1 및 제2탄성부재(350,360)에 의해 탄력적으로 지지되되, 상기 탄성부재(350,360)는 압축스프링으로 구성됨으로 인하여 토글부재들(310,320)에는 편심이나 토션력이 작용하지 않고, 상하 방향으로 안정되게 승강 가능하게 된다. 따라서 제1 및 제2토글부재(310,320)의 승강시 제1 및 제2래치부재(210,220)의 단부들과 동일한 힘으로 접촉될 수 있게 된다.

즉, 도 6a, 도 6b 및 도 6c에 도시된 바와 같이, 토글부재(310)가 제1 및 제2래치부재(210,220) 사이의 중심에 위치된 상태로, 승강시 래치부재들(210,220)을 동시에 접촉하여 연동시킬 수 있게 됨으로써, 래치부재들(210,220)의 안정된 동작이 가능하게 된다.

또한, 도 8a 및 도 8b를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 반도체 패키지용 캐리어는, 제1 및 제2래치부재(210,220)를 탄력적으로 지지하기 위한 제1 및 제2탄성부재로서 제1 및 제2토션스프링(450,460)을 포함하는데 그 특징이 있다.

상기 제1 및 제2탄성부재(450,460)는 도 8c에 도시된 바와 같이, 각각이 관통부(101)의 제1내벽(101a) 쪽에 마련되어 제1 및 제2래치부재(210,220)의 일단을 탄력적으로 지지하도록 설치된다.

상기 구성에 의하면, 도 8a 및 도 8b에 도시된 바와 같이, 래치부재들(210,220)은 토글부재들(310,320)에 눌려서 회동되면서 제1 및 제2토션스프링들(450,460) 각각이 도 8b와 같이 압축되고, 토글부재(310,320)에 누르는 힘이 해제시, 토션스프링들(450,460)의 토션복원력에 의해 토글부재들(310,320)과 래치부재들(210,220)이 도 8a와 같은 위치로 복귀될 수 있게 된다. 이러한 구성에 있어서도, 한 쌍의 래치부재(210,220)가 제1 및 제1토글부재(310,320)에 의해 동시에 눌려서 동작됨으로써, 편부하에 의한 오동작이나 동작불능 발생을 억제할 수 있게 된다.

Claims (8)

1. 테스트할 반도체 패키지가 수용될 관통부를 가지는 캐리어본체와;

   각각의 양단이 상기 관통부의 서로 마주하는 내벽들에 회동 가능하게 연결되고, 회동위치에 따라 상기 관통부에 장착된 반도체 패키지를 간섭하여 이탈을 방지하는 제1 및 제2래치부재; 및

   상기 제1 및 제2래치부재 각각의 양단부 각각을 동시에 간섭하여 상기 제1 및 제2래치부재를 동시에 회동 및 복원시키는 구동유닛;을 포함하며,

   상기 구동유닛은,

   상기 캐리어본체의 상부에 승강 가능하게 설치되며, 하강시 상기 제1 및 제2래치부재들의 일단을 간섭하여 회동시키는 제1토글부재와;

   상기 관통부를 사이에 두고 상기 제1토글부재과 대칭되게 상기 캐리어본체의 상부에 승강 가능하게 설치되어 하강시 상기 제1 및 제2래치부재의 타단을 간섭하여 회동시키는 제2토글부재와;

   상기 캐리어본체의 상부에 승강 가능하게 설치되며, 하강시 상기 제1 및 제2토글부재를 간섭하여 하강시키는 누름부재와;

   상기 캐리어본체와 상기 누름부재 사이에 설치되는 압축스프링; 및

   상기 제1 및 제2래치부재를 초기위치로 이동되게 하는 탄성력을 제공하는 제1 및 제2탄성부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지용 토글래스(Toggle Less) 캐리어.
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3. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2래치부재 각각은,

   x축 방향으로 서로 대면하는 상기 관통부의 제1내벽들 각각에 회동가능하게 지지되는 한 쌍의 회동축과;

   상기 한 쌍의 회동축 각각에서 상기 x축에 직교하는 y축 방향으로 연장되는 연장부들과;

   상기 연장부들 각각의 단부를 상기 x축방향에 나란하게 연결하는 연결부; 및

   상기 연결부의 중앙부분에서 상기 연결부와 직교하도록 연장되며, 회동위치에 따라서 관통부 내측으로 출몰되는 간섭부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지용 토글래스(Toggle Less) 캐리어.
4. 제3항에 있어서, 상기 제1 및 제2래치부재 각각은, 상기 회동축과 나란한 방향으로 상기 회동축과 이웃한 위치에서 상기 연장부의 자유단부에서 연장되어 상기 토글부재에 간섭되는 접촉부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지용 토글래스(Toggle Less) 캐리어.
5. 제1항, 제3항 및 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 캐리어본체는 상기 제1 및 제2토글부재를 승강 가능하게 수용하도록 상기 캐리어본체의 상면과 상기 관통부 내벽 각각으로부터 인입 형성된 제1 및 제2토글수용홈을 가지는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지용 토글래스(Toggle Less) 캐리어.
6. 제5항에 있어서, 상기 제1 및 제2토글부재 각각은,

   중앙 부분으로부터 상기 y축과 나란하게 양측으로 대칭되게 분기되어 상기 제1 및 제2래치부재의 단부들을 동시에 접촉하도록 마련된 한 쌍의 접촉부를 가지는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지용 토글래스(Toggle Less) 캐리어.
7. 제1항, 제3항 및 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 및 제2탄성부재 각각은,

   상기 관통부 내부의 서로 마주하는 내측에 설치되어 상기 제1 및 제2래치부재 각각의 단부를 지지하도록 설치되는 제1 및 제2토션스프링을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지용 토글래스(Toggle Less) 캐리어.
8. 제1항, 제3항 및 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 및 제2탄성부재 각각은,

   상기 제1 및 제2토글부재를 탄력적으로 지지하도록 설치되는 압축스프링을 포함하며, 상기 제1 및 제2토글부재의 상승시 상기 제1 및 제2래치부재를 간섭하여 원위치로 복귀시키는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지용 토글래스(Toggle Less) 캐리어.