KR100900452B1 - 전기 회로 단락 시험 장치 - Google Patents

전기 회로 단락 시험 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100900452B1
KR100900452B1 KR1020070104954A KR20070104954A KR100900452B1 KR 100900452 B1 KR100900452 B1 KR 100900452B1 KR 1020070104954 A KR1020070104954 A KR 1020070104954A KR 20070104954 A KR20070104954 A KR 20070104954A KR 100900452 B1 KR100900452 B1 KR 100900452B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
probe
circuit
display unit
short circuit
short
Prior art date
Application number
KR1020070104954A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20090039358A (ko
Inventor
박영수
Original Assignee
박영수
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 박영수 filed Critical 박영수
Priority to KR1020070104954A priority Critical patent/KR100900452B1/ko
Publication of KR20090039358A publication Critical patent/KR20090039358A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100900452B1 publication Critical patent/KR100900452B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06788Hand-held or hand-manipulated probes, e.g. for oscilloscopes or for portable test instruments
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31914Portable Testers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

본 발명은 전기 회로의 단락 시험 장치를 개시한다. 보다 상세하게는 전기 회로의 두 지점의 단락 여부를 확인하기 위한 시험 장치에 있어서, 상기 전기 회로에서 단락 여부를 측정하고자 하는 제1 지점과 접촉하는 프로브팁, 상기 전자 회로의 단락 여부에 따라 빛을 발생시키는 상태 표시부 및 상기 상태 표시부에 전원을 공급하는 전원공급부를 포함하는 구동부를 포함하는 제1 프로브; 상기 전자 회로의 또 다른 제2 지점과 접촉하는 제2 프로브; 및 상기 제1 프로브와 제2 프로브를 전기적으로 연결하는 연결선을 포함하는 것을 특징으로 하는 시험 장치를 제공한다. 본 발명은 전기 회로의 단락 여부만을 확인하는 작업에 있어서 작업 속도를 크게 향상시킬 수 있는 효과를 가진다.
전기 회로, 단락, 프로브, LED

Description

전기 회로 단락 시험 장치 {Electric circuit open-short tester}
본 발명은 전기 회로 단락 시험 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는 전기 회로의 두 지점의 단락 여부를 확인하기 위하여 두 지점에 각각 접촉하는 접촉 수단을 구비하고 상기 접촉 수단을 통하여 단락 여부를 확인하는 시험 장치에 관한 것이다.
일반적으로 전기 회로는 PCB(Printed circuit board, 인쇄 배선 회로용 기판)위에 여러 소자들이 실장되어 구성되어 있다. 이와 같은 다수의 전기 회로로 구성되어 있는 전기 및 전자 제품의 대량 생산 시에는 자동화 기기로 PCB에 여러 소자들을 납땜하여 실장시키고 있다. 하지만 제품의 설계 과정에서는 수작업으로 PCB에 여러 소자들을 납땜하여 실장시켜 전기 회로를 구성하게 되는 경우가 많고, 설계 과정이 완료되어 시험 제품이 나오기까지 각 소자들의 단락 상태에 대한 검사가 반복하여 이루어지게 된다. 그리고 자동화 기기로 대량의 PCB에 여러 소자들을 납땜하여 실장시킨 전기 회로의 경우에도 전기 회로의 단락 시험을 위한 공정이 제조 과정에 포함되게 된다. 이와 같이 전기 회로의 단락 여부를 확인해야 할 경우에 시험 장치로 멀티미터(Multimeter)가 주로 사용된다.
멀티미터는 전압과 전류 및 저항 등의 여러 가지 전기적 특성을 측정할 수 있는 다항목 측정기이며 측정 시에는 멀티미터에 구비된 선택 스위치를 조정하여 사용자가 원하는 전기 회로의 전기적 특성을 측정 가능하다. 또한 멀티미터는 지침으로 눈금을 읽게 되어 있는 아날로그 멀티미터와 측정값이 수치로 나타나는 디지털 멀티미터로 나눌 수 있다. 이와 같이 멀티미터는 전기 회로와 관련한 시험이 필요한 경우에 여러 종류의 수치를 선택 스위치를 조절하여 측정 가능 하다는 점에서 장점을 가지고 있다.
하지만 멀티미터는 제품의 설계시에 수작업으로 PCB에 소자를 납땜하여 실장하는 경우나 소량 다품종인 제조공정중 제품의 시험 단계 혹은 완성된 제품의 수리 과정에서 전기 회로의 단락 여부만을 확인하는 작업에 있어서는 기기의 휴대성과 작업의 효율성이 좋지 못하다는 문제점이 있다.
본 발명은 이와 같은 종래의 전기 회로 단락 유무를 확인하기 위한 시험 장치가 가지고 있는 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 전기 회로의 단락 유무를 확인하는데 있어서 간단한 방법으로 작업 수행이 가능하도록 하는 시험 장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
또한 본 발명은 회로가 밀집하여 구성되어 있는 PCB의 납땜 포인트 및 기타 모든 회로의 단락 여부를 확인하는데 있어서 작업 효율을 높이고 안전사고를 방지할 수 있는 시험 장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 전기 회로 단락 시험 장치는 전기 회로의 단락 여부를 확인하기 위한 시험 장치에 있어서, 상기 전기 회로에서 단락 여부를 측정하고자 하는 제1 지점과 접촉하는 프로브팁, 상기 전기 회로의 단락 여부에 따라 빛을 발생시키는 상태 표시부 및 상기 상태 표시부에 전원을 공급하는 전원 공급부를 포함하는 구동부를 포함하는 제1 프로브; 상기 전기 회로의 또 다른 제2 지점과 접촉하는 제2 프로브; 및 상기 제1 프로브와 제2 프로브를 전기적으로 연결하는 연결선을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따르면 측정하고자 하는 전기 회로의 두 지점이 단락 상태일 경우상태 표시부에서 빛을 발하므로, 두 지점 간의 단락 여부를 즉시 확인할 수 있다. 따라서 전기 회로의 단락 시험만을 반복 수행하는 상황 하에서 작업 속도가 크게 향상된다. 그리고 연결선을 시험자의 목에 걸치고 사용하는 식으로 활용이 가능하므로 작업시에 작업대 위에 복잡하게 얽혀있는 코드에 의하여 발생하던 안전사고 가능성이 제거된다. 또한 소량 다품종인 제조 공정 하에서 작업자가 곧바로 단락 시험을 수행할 수 있기 때문에 공정을 단순화하는 개선 작업이 가능해진다. 마지막으로 시험 장치의 크기를 소형화할 수 있으므로 이동 중이나 출퇴근 시에도 손쉽게 휴대가 가능하다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세하게 설명한다. 우선 각 도면의 구성 요소들에 참조 부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다. 또한, 이하에서 본 발명의 바람직한 실시예를 설명할 것이나, 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정하거나 제한되지 않고 당업자에 의해 다양하게 실시될 수 있음은 물론이다.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전기 회로 단락 시험 장치의 정면 투시도이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 본 고안의 시험 장치(10)는 전기 회로의 단락 여부를 측정하고자 하는 제1 지점과 접촉하기 위한 제1 프로브(100)와, 상기 전기 회로의 측정하고자 하는 또 다른 제2 지점과 접촉하기 위한 제2 프로브(200), 및 제1 프로브(100)와 제2 프로브(200) 사이에 결합되는 연결선(300)을 포함한다.
제1 프로브(100)는 전기 회로의 측정 지점과 접촉하는 역할을 하는 프로브팁(110)과 연결선(300)을 제1 프로브(100)와 전기적으로 연결시키기 위한 코드홀더(150) 및 코드홀더(150)와 프로브팁(110) 사이에 결합되는 구동부(120)로 구성된다.
구동부(120)의 양단에는 프로브팁(110) 및 코드홀더(150)와의 결합이 가능하도록 수나사 형태의 제1 체결부(123)와 제2 체결부(127)가 구비된다. 구동부(120)의 내부에는 전기 회로의 단락 여부에 따라 빛을 발생시키기 위한 상태 표시부(도2a 참조)가 결합되며 상태 표시부에 전원을 공급하기 위한 전원 공급부(140)가 구비되어 있다.
상태 표시부는 빛을 발생시키는 수단으로 LED 램프(132)를 사용하며, 제 1체결부(123)에 형성된 고정홈(125)에 LED 램프(132)가 고정되는 방식으로 구동부(120)의 내부에 결합되는 것이 바람직하다.
프로브팁(110) 및 코드홀더(150)는 각각의 단부에 구동부(120)와의 결합을 위한 동일한 암나사 형태의 제3 체결부(115) 및 제4 체결부(155)가 구비되며, 프로브팁(110) 및 코드홀더(150)의 내부면에는 구동부(120)와 결합시 전기적 연결이 가능하도록 도전성을 갖는 탄성부재(160)가 결합된다.
시험 장치(10)의 동작 원리는 다음과 같다. 먼저 전기 회로의 단락 여부를 측정하고자 하는 제1 지점과 제1 프로브(100)가 접촉하고, 다음으로 전기 회로의 측정하고자 하는 또 다른 제2 지점과 제2 프로브(200)가 접촉하게 된다. 이때 시험 장치(10)의 제1 프로브(100), 제2 프로브(200), 연결선(300) 및 측정하고자 하는 전기 회로의 두 지점은 하나의 회로를 구성하게 된다. 이때 전기 회로의 두 지점이 단락 상태이면 상기 구성된 회로는 폐회로로써 동작하므로 LED 램프(132)가 빛을 발하게 된다.
본 발명의 실시에 있어서, 프로브팁(110)의 상부에는 검침 몰입 버튼(미도시)이 추가로 구비될 수 있다. 프로브팁(110)의 내부에는 서로 다른 크기의 검침들이 프로브팁(110)의 내주면을 따라 구비되며, 프로브팁(110)의 외주면에는 각각의 검침들과 연결된 검침 가압 버튼(미도시)이 구비됨이 바람직하다. 여기서 서로 다른 크기의 검침들이 구비되는 이유는 복잡한 구성을 가진 전기 회로의 단락 시험시 상황에 맞는 검침을 선택하여 단락 시험을 효율적으로 실시하기 위함이다.
전기 회로 단락 시험시에는 검침 가압 버튼을 가압 하강시켜 검침이 외부로 노출되도록 한다. 이때에 검침 가압 버튼은 검침 몰입 버튼 하위의 걸림 턱에 걸려 노출된 상태가 안정되도록 하고, 전기 회로의 단락 시험을 끝내거나 다른 크기의 검침을 필요로 할 경우에는 검침 몰입 버튼을 누르면 검침 가압 버튼의 지지 상태가 풀려 검침이 다시 프로브팁(110) 내부로 몰입되도록 하는 구조를 가지는 것이 바람직하다.
도 2a는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 상태표시부의 측면 단면도이다. 도 2a에 도시된 바와 같이 상태 표시부(130)는 LED 램프(132)와 LED 램프(132)의 양 단자에 각각 결합되는 제1 리드선(134)과 제2 리드선(136), 및 제1 리드선(134)과 제2 리드선(136) 사이에 결합되는 양면 기판(138)을 포함하며, 제1 리드선(134) 및 제2 리드선(136)과 양면기판(138)간의 결합면에는 전기적 연결을 위하여 납땜부(139)가 구비된다. 따라서 제1 리드선(134)은 전원공급부(140)의 일측과 제2 리드선(136)은 도전성을 갖는 탄성부재(160)와 전기적으로 연결된다.
상태표시부(130)는 구동부(120)의 전원공급부(140)가 배열된 방향에 수직으로 배치된다. 본 실시예에서 상태표시부(130)의 양면기판(138)의 양측에는 양극과 음극에 대응되는 제1 리드선(134)과 제2 리드선(136)이 위치하는데, 이러한 상태표시부(130)가 프로브팁(110)과 코드홀더(150)와의 전기적 연결을 용이하게 하기 위해서는, 도 2a에 도시된 바와 같이 상태표시부(130)의 양면기판(138)이 전원공급부(140) 배열 방향에 수직으로 배치됨이 바람직하다. 또한, 이 경우 전원공급부(140)와 프로브팁(110)간의 간격을 최소화 할 수 있다.
상태표시부(130)는 구동부(120)의 제1 체결부(123)에 구비된 고정홈(125)에 LED 램프(132)가 고정되며 구동부(120)에 결합되는데, LED 램프(132)를 제1 체결부(123)에 구비된 고정홈(125)에 고정시키는 이유는 상태표시부(130)를 안정적으로 구동부(120)에 고정하고 단락 시험 중에 LED 램프(132)가 파손되는 것을 방지하며 LED 램프(132)의 교체 시에 구동부(120)로부터 상태표시부(130)의 분리를 용이하게 하기 위함이다.
도 2b는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 상태 표시부의 정면 단면도이다. 도 2b에 도시된 바와 같이 상태 표시부(130)는 LED 램프(132)의 일극과 결합된 제2 리드선(136)이 양면 기판(138)의 일측에 결합되어 있고 제2 리드선(136)과 양면 기판(138)과의 결합면에는 전기적 연결을 위하여 납땜부(139)가 구비된다.
이와 같이 상태표시부(130)를 구성하는데 있어 양면 기판(138)을 사용하는 이유는 상태 표시부(130)가 차지하는 공간을 최소화 하여 제1 프로브(100)를 소형으로 제작하기 위함이다.
도 3a는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 시험 장치의 제1 프로브 결합 투시도이다. 도 3a에 도시된 바와 같이 구동부(120)의 제1 체결부(123)는 프로브팁(110)의 제3 체결부(115)와 결합되며, 구동부(120)의 제2 체결부(127)는 코드홀더(150)의 제4 체결부(155)와 결합되어 상태표시부(도 2a 참조)의 LED 램프(132)는 프로브팁(110) 측으로 향하게 된다.
도 3b는 본 발명의 또 다른 바람직한 실시예에 따른 시험 장치의 제1 프로브 결합 투시도 이다. 도 3b에 도시된 바와 같이 구동부(120)의 제1 체결부(123)는 코드홀더(150)의 제4 체결부(155)와 결합되며, 구동부(120)의 제2 체결부(127)는 프로브팁(110)의 제3 체결부(115)와 결합되어 상태표시부(도 2a 참조)의 LED 램프(132)는 코드홀더(150) 측으로 향하게 된다.
이와 같이 상태표시부가 프로브팁(110) 측 또는 코드홀더(150) 측으로 위치 변경이 가능하도록 구성되는 이유는, 복잡한 구성을 가진 전기 회로의 단락 시험 시에는 접촉 지점에 프로브팁(110)의 탐침을 깊숙히 넣은 상태에서 수차례 반복하여 전기 회로 각 지점의 단락 여부를 확인하게 되는데 이때마다 매번 시선을 아래로 하여 단락 여부를 확인해야 하므로 그에 따른 불편함이 생긴다. 따라서 이러한 불편함을 없애고 편리하게 작업이 가능하도록 하여 작업 능률과 속도를 향상시키기 위함이다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 수정, 변결 및 치환이 가능할 것이다. 따라서 본 발명에 개시된 실시예 및 첨부된 도면들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예 및 첨부된 도면에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구 범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
본 발명은 제1 프로브와 제2 프로브 및 연결선으로 구성을 간략화시켜 제작비용을 절감하며, 단락 시험시에 제1 프로브에 결합되어 있는 상태표시부의 LED 램프의 점등 여부로 단락 여부를 즉시 확인 가능하므로 작업을 효율적으로 수행할 수 있다. 그리고 소형으로 제작이 가능하므로 휴대성과 이동성 면에서 장점을 지닌다.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전기 회로 단락 시험 장치의 정면 투시 분해도,
도 2a는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전기 회로 단락 시험 장치의 상태표시부 측면 단면도,
도 2b는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전기 회로 단락 시험 장치의 상태표시부 정면 단면도,
도 3a는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전기 회로 단락 시험 장치의 제1 프로브 결합도, 및
도 3b는 본 발명의 또 다른 바람직한 실시예에 따른 전기 회로 단락 시험 장치의 제1 프로브 결합도 이다.
<도면의 부위에 대한 간단한 설명>
(10) : 시험 장치 (100) : 제1 프로브
(110) : 프로브팁 (115) : 제3 체결부
(120) : 구동부 (123) : 제1 체결부
(125) : 고정홈 (127) : 제2 체결부
(130) : 상태 표시부 (132) : LED 램프
(134) : 제1 리드선 (136) : 제2 리드선
(138) : 양면 기판 (139) : 납땜부
(140) : 전원 공급부 (150) : 코드홀더
(155) : 제4 체결부 (160) : 탄성부재
(200) : 제2 프로브 (300) : 연결선

Claims (6)

  1. 전기 회로의 단락 여부를 확인하기 위한 시험 장치에 있어서,
    상기 전기 회로에서 단락 여부를 측정하고자 하는 제1 지점과 접촉하는 프로브팁, 상기 전기 회로의 단락 여부에 따라 빛을 발생시키는 상태 표시부 및 상기 상태 표시부에 전원을 공급하는 전원 공급부를 포함하는 구동부를 포함하는 제1 프로브;
    상기 전기 회로의 또 다른 제2 지점과 접촉하는 제2 프로브; 및
    상기 제1 프로브와 상기 제2 프로브 사이를 전기적으로 연결하는 연결선을 포함하고,
    상기 상태 표시부는,
    LED 램프와, 상기 LED 램프의 양 단자에 각각 결합되어 있는 제1 리드선과, 제2 리드선 및 상기 제1 리드선과 상기 제2 리드선 사이에 결합되어 상기 양 단자를 전기적으로 연결하는 양면기판을 포함하며,
    상기 구동부의 양단에는,
    수나사 형태의 제1 체결부 및 제2 체결부가 구비되고, 상기 제1 체결부에는 상기 LED 램프의 고정을 위한 고정홈이 형성되며,
    상기 제1 프로브는,
    상기 연결선과 결합되며, 상기 연결선을 상기 제1 프로브와 전기적으로 연결시키는 코드홀더를 더 포함하며,
    상기 프로브팁과 상기 코드홀더는,
    단부에 상기 구동부와의 결합을 위한 암나사 형태의 제3 체결부 및 제4 체결부를 구비하며, 각각의 내부면에는 상기 구동부와 전기적인 연결을 위한 도전성을 갖는 탄성부재가 결합되고,
    상기 제3 체결부 및 상기 제4 체결부는 동일한 형태로 구비되며, 상기 상태 표시부는 상기 프로브팁 측 또는 상기 코드홀더 측으로 위치 변경이 가능하고,
    상기 프로브팁은 내부에 구비되어 있는 서로 다른 크기의 검침들이 선택적으로 출몰되어 사용될 수 있도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 전기회로 단락 시험 장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 삭제
KR1020070104954A 2007-10-18 2007-10-18 전기 회로 단락 시험 장치 KR100900452B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070104954A KR100900452B1 (ko) 2007-10-18 2007-10-18 전기 회로 단락 시험 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070104954A KR100900452B1 (ko) 2007-10-18 2007-10-18 전기 회로 단락 시험 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20090039358A KR20090039358A (ko) 2009-04-22
KR100900452B1 true KR100900452B1 (ko) 2009-06-02

Family

ID=40763254

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020070104954A KR100900452B1 (ko) 2007-10-18 2007-10-18 전기 회로 단락 시험 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100900452B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101240412B1 (ko) * 2012-12-28 2013-03-11 (주)키삭 리드팁과 리드와이어의 단선 방지 구조를 가지는 멀티미터기용 테스트 리드

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100315966B1 (ko) * 1999-02-19 2001-12-12 최기선 단락위치검출장치

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100315966B1 (ko) * 1999-02-19 2001-12-12 최기선 단락위치검출장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR20090039358A (ko) 2009-04-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4767999B2 (ja) 電気計器用自動結線装置
CN202018494U (zh) 四线式pcb测试治具
JPH07191080A (ja) 電気接続の完全性を測定するための装置と方法
CN205506865U (zh) 测试治具针床及测试设备
KR200396053Y1 (ko) 휴대용 전기 테스터
CN205749626U (zh) 高便捷性万用表
KR100900452B1 (ko) 전기 회로 단락 시험 장치
US20110031990A1 (en) Socketless Integrated Circuit Contact Connector
JP2012018116A (ja) 回路基板検査用プローブユニットおよび回路基板検査装置
US8188760B2 (en) Curve tracer signal conversion for integrated circuit testing
CN215641420U (zh) 一种测试灵活的飞针测试机探针装置
US3873915A (en) Combination flashlight and electric circuit tester
US1970232A (en) Testing device
CN112630539B (zh) 一种用于fpc性能测试的测试针模以及测试装置
TWI744920B (zh) 測試裝置
CN210376638U (zh) 一种用于测试cir设备模块电源电气参数的装置
US5650727A (en) Circuit continuity testing device
KR101965984B1 (ko) 멀티 테스터기
KR20100060509A (ko) 테스터용 프로브 장치
CN212410653U (zh) 一种可伸缩可更换探针的针表笔
KR0139886Y1 (ko) 케이블 단선/단락 검사장치
CN218003570U (zh) 电子元件测试座
CN220019674U (zh) 一种线束型集成母排的测试装置
CN214750676U (zh) 一种pcba电压测试装置
CN218886100U (zh) 电池多参数检测设备

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120516

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130522

Year of fee payment: 5

LAPS Lapse due to unpaid annual fee