KR100893235B1 - 난수 생성기용 방법 및 장치 - Google Patents

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Abstract

난수들을 생성하기 위한 방법 및 장치가 기술된다. 일 양상에서, 무선 통신 장치에서 사용하기 위한 난수들을 생성하기 위한 방법은 난수들을 생성하는 단계; 상기 생성된 난수들의 샘플을 수집하는 단계; 및 평균값, 표준편차 및/또는 엔트로피와 같은 적어도 하나의 메트릭을 계산하는 단계를 포함한다. 게다가, 본 방법은 상기 메트릭을 대응 기준값과 비교하는 단계; 및 상기 생성된 난수들이 적정 분포를 달성하도록 상기 비교의 결과에 기초하여 상기 메트릭을 조절하는 단계를 포함한다. 다른 양상에서, 난수들을 생성하기 위한 장치는 난수들을 조절하기 위하여 난수들 및 피드백 값들을 생성하는 하드웨어 소자들 및 아날로그 잡음 생성기를 포함한다. 게다가, 장치는 난수들을 조절하기 위한 제어 알고리즘을 수행하는 명령들을 실행할 수 있는 프로세서를 포함한다.

Description

난수 생성기용 방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR RANDOM-NUMBER GENERATOR}
본 발명은 난수 생성기에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 무선 통신 장치의 대량 생산을 위한 안정하고 일관된 자체 교정 난수 생성기용 방법 및 장치에 관한 것이다.
무선 통신 단말 또는 장치에서는 예컨대 암호화 응용을 위하여 난수 생성기에 대한 필요성이 요구된다. 그러나, 동작 조건의 변화(온도, 전압 및 전류의 변화와 같은) 및 소자 특성의 변화(소자 제조, 노후화, 보관 수명 및 작동 수명의 불일치로 인한)는 기존의 난수 생성기의 난수 생성 성능을 변화시킨다. 결과적으로, 균등하게 수행하도록 제조된 유사한 장치들은 구성요소 난수 생성기들의 특성이 변화하기 때문에 그들의 성능 또한 변동되며 이에 따라 다른 난수 분포들을 발생시킨다.
따라서, 소자 특성, 동작 조건 및 환경의 변동에도 불구하고 균등하게 수행하는 난수 생성기에 대한 필요성이 요구된다. 또한, 유사하게 제조된 장치들이 유사하게 동작하고 균등하고 일관된 성능을 가지도록 하는 필요성이 요구된다.
기술된 실시예들은 난수들을 생성하기 위한 신규하고 개선된 방법들 및 장치들을 제공한다. 일 양상에서, 무선 통신 장치에서 사용하기 위한 난수들을 생성하는 방법은 적어도 하나의 조절가능한 입력 값에 기초하여 조절가능한 분포를 갖는 난수들을 생성하는 단계, 및 생성된 난수들의 샘플을 수집하는 단계를 포함한다. 또한, 본 방법은 수집된 샘플에 기초하여 평균값, 표준편차 및/또는 엔트로피와 같은 적어도 하나의 메트릭을 계산하는 단계, 및 상기 메트릭을 대응하는 기준값과 비교하는 단계를 포함한다. 게다가, 본 방법은 생성된 난수들이 적정 분포를 달성하도록 상기 비교 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계를 포함한다. 또한, 상기 비교 단계의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계는 상기 생성된 난수들로 하여금 적정의 수치적인 평균을 달성하도록 하기 위해서, 아날로그 잡음 전압을 생성하기 위한 dc 오프셋 값을 조절하는 단계, 및 상기 생성된 난수들로 하여금 적정의 수치적인 범위를 달성하도록 하기 위해서 기준 전압 값을 조절하는 단계를 포함한다.
다른 양상에서, 난수들을 생성하기 위한 장치는 난수들 및 이들의 분포를 조절하기 위하여 난수들 및 피드백 값들을 생성하는 하드웨어 소자들 및 아날로그 잡음 생성기를 포함한다. 게다가, 본 장치는 난수들 및 이들의 분포를 조절하는 제어 알고리즘들을 실행하는 명령들을 실행할 수 있는 프로세서를 포함한다.
본 발명의 특징들 및 장점들은 첨부 도면들을 참조로하여 실시예들에 대한 상세한 설명을 고찰할때 더욱더 명백해 질 것이다.
도 1은 난수 생성기의 블록도.
도 2는 난수들을 생성하기 위한 흐름도.
도 3는 유사하게 제조된 장치들에 대한 잡음 전압 파형들을 도시한 도면.
도 4는 조절이 없는 경우 유사하게 제조된 장치들에 대한 난수 분포들을 도시한 도면.
도 5는 자동 조절을 사용하는 경우 유사하게 제조된 장치들에 대한 유사한 난수 분포들을 도시한 도면.
여러 실시예들이 상세히 설명되기 전에, 본 발명의 범위는 이하의 상세한 설명에 기술되거나 또는 도면들에 도시된 구성의 세부사항들 및 소자들의 배열에 제한되지 않아야 한다는 것을 이해해야 한다. 또한, 여기에서 사용된 구 및 용어는 설명을 위한 것이며 제한요소로서 간주되지 않아야 한다는 것이 이해되어야 한다.
도 1은 일 실시예에 따른 자동 자체-조절 난수 생성기(100)의 블록도를 도시한다. 난수 생성기(100)는 일반적으로 아날로그 잡음 생성기 하드웨어(102), 제어 프로세서 하드웨어(104), 및 제어 프로세서 소프트웨어 모듈(106)을 포함한다. 아날로그 잡음 생성기 하드웨어(102)는 보통 평균값 X 및 표준편차 S로 분포되는 랜덤 아날로그 전압을 제공한다. 아날로그 잡음 생성기 하드웨어(102)는 일 실시예에 따라 신호 컨디셔닝을 위하여 잡음 다이오드(108) 및 증폭기(110)를 포함할 수 있다. 잡음 다이오드는 동작 특성의 부분중 "무릎(knee)" 부분에서 동작하도록 바어이싱되는 역방향 항복 영역에서 사용될 수 있다. 다이오드가 이러한 영역에서 동작될때, 다이오드의 단자들에서의 AC 전압은 다이오드의 대역폭 전반에 걸쳐 편평한 스펙트럼 밀도를 가진 가우시안 분포이다.
제어 프로세서 하드웨어(104)는 ADC(아날로그-디지털 변환기)(112), CPU(중앙처리장치) 또는 컴퓨터, 및 DAC들(디지털-아날로그 변환기들)(114, 116)을 포함한다. ADC(112)는 전압 기준(V-Ref) 값에 기초하여 정상적으로 분포된 아날로그 잡음 전압을 양자화하고 난수들을 생성한다. 제어 소프트웨어 모듈과 함께 CPU는 양자화된 잡음 전압의 샘플, 예컨대 난수들에 기초하여 적어도 하나의 메트릭을 계산하고 ADC(112)에 대한 기준 전압(V-Ref) 입력 및 증폭기(110)의 DC 오프셋 입력을 조절하여, ADC의 능력을 가진 전체 범위 "윈도우"내로 난수들의 분포를 적합하게 한다. DC 오프셋은 난수들의 평균 X를 나타내며, 기준 전압(V-Ref)은 난수들의 표준편차를 나타낸다. ADC 기준 전압은 ADC의 전체-스케일 양자화 능력에 대응하며, 즉 ADC 기준 전압은 변환기를 오버 스케일링(over scaling)하지 않고 디지털화될 수 있는 ADC에 최대 전압을 세팅한다. 따라서, 기준 전압의 조절은 ADC의 피크-투-피크 전압 변환에 직접 비례한다.
일 실시예에 따르면, 제어 프로세서 소프트웨어 모듈(106)은 ADC(112)에 의하여 생성된 난수들의 샘플에 대하여 동작하며, DAC들(114, 116)로 각각 피드백되도록 선택된 샘플의 평균 X 및 표준편차 S를 계산한다. 평균값 X는 파형(118)에 의하여 도시된 바와같이 ADC(112)에 의하여 생성된 난수들의 히스토그램의 피크 위치를 제어하기 위하여 사용된다. 표준편차 S는 파형(120)에 의하여 도시된 바와같이 ADC(112)에 의하여 생성된 난수들의 히스토그램의 폭을 제어하기 위하여 사용된다.
단지 소수만이 구축되고 동작 환경이 준정적(quasi-static)인 전형적인 난수 생성기 시스템들에서, 시스템들은 모든 시스템들 전반에 걸쳐 일관된 난수 분포를 달성하기 위하여 그것의 부분들을 변경함으로서 조절될 수 있다. 그러나, 이동전화들과 같은 대량생산시에는 대량생산 전반에 걸쳐 그리고 가변 동작 조건들하에서 난수 분포를 일정하게 하는 자동 조절 능력에 대한 필요성이 요구된다.
도 2는 일 실시예에 따라 난수 분포들을 조절하기 위한 흐름도를 기술한다. 단계(202)에서, DC 오프셋 및 기준 전압(V-Ref)의 임의의 초기값들이 선택되며, 이는 난수 생성기가 마지막으로 조절될때 획득된 최종 값들일 수 있다. 단계(204)에서는 ADC(112)에 의하여 생성된 난수들의 샘플이 선택된다. 단계(206)에서는 난수들의 선택된 샘플의 평균값이 계산되어 기준 평균값과 비교된다. 기준 평균값은 난수 생성기의 ADC 비트 폭에 기초하여 선택될 수 있다. 예컨대, 8-비트 ADC에 대하여, 기준 또는 적정 평균값은 적정 가우시안 난수 히스토그램(122)에 따르도록 127이다. 127의 기준 평균값은 8-비트 ADC 범위의 중간점에 상응한다. 단계(106)에서 수행된 비교에 기초하여, 증폭기(110)에 입력되는 DC 오프셋 값은 경우에 따라 종래에 공지된 임의의 선형, 비선형 또는 적응 제어 알고리즘을 통해 단계(208 또는 210)에서 조절된다.
유사하게, 단계(212)에서, 난수들의 선택된 샘플의 표준편차 값이 계산되어 기준 표준편차 값과 비교된다. 기준 표준편차 값은 난수 생성기의 정확도 또는 ADC 전체 스케일 값에 기초하여 선택될 수 있다. 예컨대, 8-비트 ADC(112)에 대하여, 기준 또는 적정 표준편차 값은 적정 가우시안 난수 히스토그램(122)에 따르도록 약 42이다. 42의 기준 표준편차 값은 8-비트 ADC 범위의 약 1/6에 상응하며, 이에 따라 ADC에서 6 시그마의 난수 분포를 제공한다. 단계(212)에서 수행되는 비교에 기초하여, DAC(116)에 대한 입력은 경우에 따라 종래에 공지된 임의의 선형, 비선형 또는 적응 제어 알고리즘을 통해 단계(214 또는 216)에서 조절된다.
도 3은 3개의 유사하게 제조된 장치들에 의하여 생성된 3개의 잡음 전압 파 형들을 도시한다. 이들 잡음 전압 파형들은 각각의 증폭기(110)의 출력에서 생성된 신호들에 상응한다. 이들 파형들은 구성요소 소자 특성들, 동작 조건들 및 환경의 차이 때문에 일반적으로 다른 평균 및 표준 편차 값을 가진다.
도 4는 자동 조절을 수행하지 않는 경우 도 3을 참조로 하여 앞서 언급된 3개의 유사하게 제조된 장치들에 대한 3개의 난수 분포들을 기술한다. 이들 난수 분포들은 각각의 ADC들(112)의 출력에서 생성된 난수들에 상응한다. 난수 분포들은 다른 평균 및 표준 편차 값들을 계속해서 가진다.
그러나, 도 5는 자동 조절 메커니즘을 사용한 경우 도 3을 참조로 하여 앞서 언급된 유사하게 제조된 장치들에 대한 균일한 난수 분포들을 기술한다. 이들 난수 분포들은 각각의 ADC(112)의 출력에서 생성된 난수들에 상응한다. 난수 분포들은 구성요소 소자 특성들, 동작 조건들 및 환경의 차이에도 불구하고 바람직하게 동일하거나 또는 매우 유사한 평균 및 표준 편차 값들을 가진다.
따라서, 여기에 기술된 제어 프로세서 및 소프트웨어 모듈은 가변 동작 조건들하에서 다수의 유사하게 제조된 장치들 전반에 걸쳐 유사한 난수 분포들을 생성하기 위하여 난수 생성기를 조절한다. 예컨대, 평균 및 시그마 조절 기준이 만족된후에, 난수 생성기는 교정된 것으로 고려되며, 제품의 초기 제조 환경 변화 및 라이프 사이클에 대하여 일정한 메트릭들을 적정 응용을 위한 난수들에 제공할 준비를 한다.
다른 실시예에 있어서, 생성된 난수들에 난수성(randomness)이 얼마나 많이 존재하는지를 지시하는 엔트로피와 같은 추가 메트릭들이 계산되고 난수 생성기의 성능을 조절하기 위하여 조절될 수 있다.
당업자는 정보 및 신호들이 다양한 다른 기술들 및 프로토콜들중 일부를 사용하여 표현될 수 있다는 것을 이해해야 한다. 예컨대, 예컨대, 앞의 상세한 설명 전반에 걸쳐 참조될 수 있는 데이터, 지시어, 명령어, 정보, 신호, 비트, 심볼 및 칩은 전압, 전류, 전자기 파, 자계 또는 자기입자, 광계 또는 광입자, 또는 이들의 임의의 결합에 의해 표현될 수 있다.
당업자들은 여기에 기술된 실시예들과 관련하여 설명된 다양한 예시적인 논리 블록, 모듈, 회로, 및 알고리즘 단계가 전자 하드웨어, 컴퓨터 소프트웨어, 또는 이들의 결합으로 구현될 수 있다는 것을 인식해야 한다. 이러한 하드웨어 및 소프트웨어의 상호 호환성을 명확하게 기술하기 위하여, 다양한 예시적인 소자, 블록, 모듈, 회로, 및 단계는 그들의 기능들과 관련하여 앞서 기술되었다. 이러한 기능이 하드웨어로 구현되는지 또는 소프트웨어로 구현되는지의 여부는 전체 시스템상에 부여된 특정 응용 및 설계 제약들에 따른다. 당업자는 각각의 특정 응용에 대하여 가변 방식으로 기술된 기능을 구현할 수 있으나 이러한 구현 결정은 본 발명의 범위를 벗어나지 않고 해석되어야 한다.
여기에 기술된 실시예들과 관련하여 설명된 다양한 예시적인 논리 블록, 모듈, 및 회로는 범용 프로세서, 디지털 신호 처리기(DSP), 주문형 집적 회로(ASIC), 필드 프로그램가능 게이트 어레이(FPGA) 또는 다른 프로그램가능 논리 디바이스, 개별 게이트 또는 트랜지스터 논리장치, 개별 하드웨어 소자, 또는 여기에 기술된 기능들을 수행하도록 설계된 임의의 결합에 의해 구현 또는 수행될 수 있다. 범용 프로세서는 마이크로 프로세서일 수 있으나, 대안적으로 프로세서는 임의의 종래의 프로세서, 제어기, 마이크로 제어기, 또는 상태 머신일 수 있다. 프로세서는 또한 계산장치들의 결합, 예컨대 DSP와 마이크로프로세서의 결합, 다수의 마이크로 프로세서들의 결합, DSP 코어와 관련된 하나 이상의 마이크로프로세서들의 결합, 또는 임의의 다른 구성들로서 구현될 수 있다.
여기에 기술된 실시예들과 관련하여 설명된 방법 또는 알고리즘의 단계들은 하드웨어, 프로세서에 의해 실행되는 소프트웨어 모듈, 또는 이들의 결합으로 직접 구현될 수 있다. 소프트웨어 모듈은 RAM 메모리, 플래시 메모리, ROM 메모리, EPROM 메모리, EEPROM 메모리, 레지스터, 하드 디스크, 제거가능 디스크, CD-ROM, 또는 당업계에 공지된 임의의 다른 형태의 저장 매체에 상주할 수 있다. 예시적 저장 매체는 프로세서에 접속되며, 프로세서는 저장 매체로부터 정보를 판독하고 저장 매체에 정보를 기록할 수 있다. 대안으로써, 저장 매체는 프로세서와 통합될 수 있다. 프로세서 및 저장 매체는 ASIC에 배치될 수 있다. ASIC는 MS와 같은 사용자 단말에 배치될 수 있거나 또는 BS에 배치될 수 있다. 대안으로써, 프로세서 및 저장 매체는 사용자 단말에서 개별 소자로서 배치될 수 있다.
기술된 실시예들의 이전 설명은 당업자로 하여금 본 발명을 실시 및 이용할 수 있도록 하기 위하여 제공된다. 이들 실시예에 대한 다양한 수정들은 당업자들에게 자명할 것이고, 여기에서 한정된 일반적 원리들은 본 발명의 사상 또는 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시예들에 적용될 수 있다. 따라서, 본 발명은 여기에 기술된 실시예들에 제한되지 않으며 여기에 기술된 원리들 및 신규한 특 징들과 일치하는 가장 넓은 범위를 따를 것이다.

Claims (40)

  1. 무선 통신 장치에서 사용하기 위한 난수들을 생성하기 위한 방법으로서,
    적어도 하나의 조절가능한 입력 값에 기초하여, 조절가능한 분포를 갖는 난수들을 생성하는 단계;
    상기 생성된 난수들의 샘플을 수집하는 단계;
    상기 샘플에 기초하여 적어도 하나의 메트릭(metric)을 계산하는 단계;
    상기 메트릭을 대응하는 기준값과 비교하는 단계; 및
    상기 생성된 난수들이 적정 분포(desired distribution)를 달성하도록 상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계를 포함하고,
    상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계는,
    상기 생성된 난수들로 하여금 적정의 수치적인 평균을 달성하도록 하기 위해서 아날로그 잡음 전압을 생성하기 위한 dc 오프셋 값을 조절하는 단계, 및
    상기 생성된 난수들로 하여금 적정의 수치적인 범위를 달성하도록 하기 위해서 기준 전압 값을 조절하는 단계를 포함하는, 난수 생성 방법.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 메트릭은 평균값을 포함하는, 난수 생성 방법.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 메트릭은 표준편차 값을 포함하는, 난수 생성 방법.
  4. 제 1항에 있어서, 상기 메트릭은 엔트로피 값(entropy value)을 포함하는, 난수 생성 방법.
  5. 제 1항에 있어서, 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계는 선형 알고리즘을 통해서 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계를 포함하는, 난수 생성 방법.
  6. 제 1항에 있어서, 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계는 비선형 알고리즘을 통해서 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계를 포함하는, 난수 생성 방법.
  7. 제 1항에 있어서, 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계는 적응 알고리즘을 통해서 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계를 포함하는, 난수 생성 방법.
  8. 무선 통신 장치에서 난수들을 생성하기 위한 장치로서,
    적어도 하나의 조절가능한 입력 값에 기초하여, 조절가능한 분포를 갖는 난수들을 생성하는 수단;
    상기 생성된 난수들의 샘플을 수집하는 수단;
    상기 샘플에 기초하여 적어도 하나의 메트릭(metric)을 계산하는 수단;
    상기 메트릭을 대응하는 기준값과 비교하는 수단; 및
    상기 생성된 난수들이 적정 분포를 달성하도록 상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 수단을 포함하고,
    상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 수단은,
    상기 생성된 난수들로 하여금 적정의 수치적인 평균을 달성하도록 하기 위해서 아날로그 잡음 전압을 생성하기 위한 dc 오프셋 값을 조절하는 수단, 및
    상기 생성된 난수들로 하여금 적정의 수치적인 범위를 달성하도록 하기 위해서 기준 전압 값을 조절하는 수단을 포함하는, 난수 생성 장치.
  9. 제 8항에 있어서, 상기 메트릭은 평균값을 포함하는, 난수 생성 장치.
  10. 제 8항에 있어서, 상기 메트릭은 표준편차 값을 포함하는, 난수 생성 장치.
  11. 제 8항에 있어서, 상기 메트릭은 엔트로피 값을 포함하는, 난수 생성 장치.
  12. 제 8항에 있어서, 상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 수단은 선형 알고리즘을 통해서 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 수단을 포함하는, 난수 생성 장치.
  13. 제 8항에 있어서, 상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 수단은 비선형 알고리즘을 통해서 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 수단을 포함하는, 난수 생성 장치.
  14. 제 8항에 있어서, 상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 수단은 적응 알고리즘을 통해서 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 수단을 포함하는, 난수 생성 장치.
  15. 무선 통신 장치에서 난수들을 생성하는 방법을 실행하는 수단을 내장한 컴퓨터 판독가능 매체로서, 상기 난수 생성 방법은,
    적어도 하나의 조절가능한 입력 값에 기초하여, 조절가능한 분포를 갖는 생성된 난수들의 샘플에 따라서 적어도 하나의 메트릭을 계산하는 단계;
    상기 메트릭과 대응하는 기준값을 비교하는 단계; 및
    상기 생성된 난수들이 적정 분포를 달성하도록 상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계를 포함하고,
    상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계는,
    상기 생성된 난수들로 하여금 적정의 수치적인 평균을 달성하도록 하기 위해서 아날로그 잡음 전압을 생성하기 위한 dc 오프셋 값을 조절하는 단계, 및
    상기 생성된 난수들로 하여금 적정의 수치적인 범위를 달성하도록 하기 위해서 기준 전압 값을 조절하는 단계를 포함하는, 컴퓨터 판독가능 매체.
  16. 제 15항에 있어서, 상기 메트릭은 평균값을 포함하는, 컴퓨터 판독가능 매체.
  17. 제 15항에 있어서, 상기 메트릭은 표준편차 값을 포함하는, 컴퓨터 판독가능 매체.
  18. 제 15항에 있어서, 상기 메트릭은 엔트로피 값을 포함하는, 컴퓨터 판독가능 매체.
  19. 제 15항에 있어서, 상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계는 선형 알고리즘을 통해서 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계를 포함하는, 컴퓨터 판독가능 매체.
  20. 제 15항에 있어서, 상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계는 비선형 알고리즘을 통해서 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계를 포함하는, 컴퓨터 판독가능 매체.
  21. 제 15항에 있어서, 상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계는 적응 알고리즘을 통해서 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계를 포함하는, 컴퓨터 판독가능 매체.
  22. 생성된 난수들을 조절하는 방법을 실행하는 프로세서로서, 상기 조절방법은,
    적어도 하나의 조절가능한 입력 값에 기초하여, 조절가능한 분포를 갖는 생성된 난수들의 샘플에 따라서 적어도 하나의 메트릭을 계산하는 단계;
    상기 메트릭과 대응하는 기준값을 비교하는 단계; 및
    상기 생성된 난수들이 적정 분포를 달성하도록 상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계를 포함하고,
    상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계는,
    상기 생성된 난수들로 하여금 적정의 수치적인 평균을 달성하도록 하기 위해서 아날로그 잡음 전압을 생성하기 위한 dc 오프셋 값을 조절하는 단계, 및
    상기 생성된 난수들로 하여금 적정의 수치적인 범위를 달성하도록 하기 위해서 기준 전압 값을 조절하는 단계를 포함하는, 프로세서.
  23. 삭제
  24. 삭제
  25. 삭제
  26. 삭제
  27. 제 1항에 있어서, 상기 샘플에 기초하여 적어도 하나의 메트릭을 계산하는 단계는,
    상기 샘플의 평균값을 나타내는 제 1 메트릭을 계산하는 단계, 및
    상기 샘플의 표준편차를 나타내는 제 2 메트릭을 계산하는 단계를 포함하는, 난수 생성 방법.
  28. 제 1항에 있어서, 상기 적정 분포는 상기 난수들에 대한 범위의 중심 값에 상응하는 평균값을 갖는 가우시안 분포인, 난수 생성 방법.
  29. 제 8항에 있어서, 상기 샘플에 기초하여 적어도 하나의 메트릭을 계산하는 수단은,
    상기 샘플의 평균값을 나타내는 제 1 메트릭을 계산하는 수단, 및
    상기 샘플의 표준편차를 나타내는 제 2 메트릭을 계산하는 수단를 포함하는, 난수 생성 장치.
  30. 제 8항에 있어서, 상기 적정 분포는 상기 난수들에 대한 범위의 중심 값에 상응하는 평균값을 갖는 가우시안 분포인, 난수 생성 장치.
  31. 제 15항에 있어서, 상기 샘플에 따라서 적어도 하나의 메트릭을 계산하는 단계는,
    상기 샘플의 평균값을 나타내는 제 1 메트릭을 계산하는 단계, 및
    상기 샘플의 표준편차를 나타내는 제 2 메트릭을 계산하는 단계를 포함하는, 컴퓨터 판독가능 매체.
  32. 제 15항에 있어서, 상기 적정 분포는 상기 난수들에 대한 범위의 중심 값에 상응하는 평균값을 갖는 가우시안 분포인, 컴퓨터 판독가능 매체.
  33. 제 22항에 있어서, 상기 메트릭은 평균값을 포함하는, 프로세서.
  34. 제 22항에 있어서, 상기 메트릭은 표준편차 값을 포함하는, 프로세서.
  35. 제 22항에 있어서, 상기 메트릭은 엔트로피 값을 포함하는, 프로세서.
  36. 제 22항에 있어서, 상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계는 선형 알고리즘을 통해서 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계를 포함하는, 프로세서.
  37. 제 22항에 있어서, 상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계는 비선형 알고리즘을 통해서 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계를 포함하는, 프로세서.
  38. 제 22항에 있어서, 상기 비교의 결과에 기초하여 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계는 적응 알고리즘을 통해서 상기 조절가능한 입력 값을 조절하는 단계를 포함하는, 프로세서.
  39. 제 22항에 있어서, 상기 샘플에 따라서 적어도 하나의 메트릭을 계산하는 단계는,
    상기 샘플의 평균값을 나타내는 제 1 메트릭을 계산하는 단계, 및
    상기 샘플의 표준편차를 나타내는 제 2 메트릭을 계산하는 단계를 포함하는, 프로세서.
  40. 제 22항에 있어서, 상기 적정 분포는 상기 난수들에 대한 범위의 중심 값에 상응하는 평균값을 갖는 가우시안 분포인, 프로세서.
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