KR100861253B1 - Display test apparatus with job changing jumper board - Google Patents
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Abstract
Description
도 1은 종래의 탐침보드가 구비된 평판디스플레이 검사장치를 나타내는 도면.1 is a view showing a flat panel display inspection apparatus provided with a conventional probe board.
도 2는 본 발명의 제 1실시예에 따른 잡 체인지용 점퍼보드가 구비된 평판디스플레이 검사장치를 나타내는 도면.2 is a view showing a flat panel display inspection apparatus equipped with a jumper board for job change according to the first embodiment of the present invention.
도 3은 본 발명의 제 2실시예에 따른 잡 체인지용 점퍼보드가 구비된 평판디스플레이 검사장치를 나타내는 도면.3 is a view showing a flat panel display inspection apparatus equipped with a jumper board for job change according to a second embodiment of the present invention.
도 4는 본 발명의 제 2실시예에 따른 잡 체인지용 점퍼보드가 보드 장착 블록에 장착 및 탈착되는 단면도.Figure 4 is a cross-sectional view of the jumper board for job change according to the second embodiment of the present invention is mounted on and removed from the board mounting block.
본 발명은 잡 체인지용 점퍼보드를 구비한 평판디스플레이 검사장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 TFT LCD, STN LCD, LED, PDP, OLED 와 같은 평판디스플레이의 단위픽셀들에 대한 불량 유무와 전기적 특성을 검사함에 있어, 검사대상이 되는 평판디스플레이의 모델에 따라 용이하게 교체할 수 있는 잡 체인지용 점퍼보 드를 구비한 평판디스플레이 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a flat panel display inspection device having a jumper board for job change, and more particularly, to determine whether there are defects and electrical characteristics of unit pixels of a flat panel display such as TFT LCD, STN LCD, LED, PDP, and OLED. In the inspection, the present invention relates to a flat panel display inspection device having a jumper board for job change that can be easily replaced according to the model of the flat panel display to be inspected.
종래의 평판디스플레이 검사장치(10)는 도 1에 도시된 바와 같이 사각형상으로서, 사각의 테두리부분으로는 각각 독립적으로 분리된 상하좌우 4개의 탐침블록(11)이 형성되어 있다.The conventional flat panel
한편, 상기 탐침블록(11)들의 외측으로는 모델별 평판디스플레이(16)의 단위픽셀들에 대한 불량 유무와 전기적 특성을 검사하기 위해서 필요한 전기신호를 전달해 주는 케이블의 말단에 형성된 소켓(13)들과 결합 될 수 있도록 단자(12)가 형성되어 있다.On the other hand, the
또한, 상기 탐침블록(11)의 내측으로는 상하좌우 탐침블록(11)들로 둘러싸여 중앙에 위치한 평판디스플레이(16)의 가장자리부분에 상기 케이블들로부터 전달받은 전기신호가 인가될 수 있도록 다수개의 탐침(14)들이 형성되어 있다.In addition, the
그리고, 상기 탐침블록(11)의 외측과 내측 사이 부분에는 외측에서 입력되는 전기신호가 내측의 탐침(14)으로 전달되도록 하기 위한 회로배선이 되어있는데, 탐침블록(11) 마다에는 검사대상이 되는 평판디스플레이의 모델에 따라 상이한 경로로 회로배선되어 있다.And, there is a circuit wiring for the electric signal input from the outside in the portion between the outside and the inside of the
하지만, 상술한 구성을 가진 종래의 평판디스플레이 검사장치에 있어서, 검사대상이 되는 평판디스플레이(16)의 모델의 교체에 따라, 상기 탐침블록(11)의 교체가 수반되어야 하는데, 상기 탐침블록(11)의 교체시 탐침블록(11)의 단자(12)에 연결된 케이블 소켓(13)을 분리시키고 통째로 해당 탐침블록(11)을 교체시킨 후 교체된 새로운 탐침블록(11)의 단자(12)에 상기 케이블 소켓(13)을 재결합하여야 하 는 번거로운 문제점이 있다.However, in the conventional flat panel display inspection apparatus having the above-described configuration, according to the replacement of the model of the
도 1을 참조하여 상기의 문제점을 보다 구체적으로 살펴본다.With reference to Figure 1 looks at the above problem in more detail.
검사대상이 되는 평판디스플레이의 모델이 A모델일 때, A모델에 해당하는 평판디스플레이(16)의 제 1셀에 P1, P2, P3 및 P4가 상기 탐침블록(11)을 통해 각각 S1, S2, S3 및 S4의 전기신호를 전달받고 있다.When the model of the flat panel display to be inspected is A model, P 1 , P 2 , P 3 and P 4 are respectively formed in the first cell of the
하지만, 검사대상이 되는 평판디스플레이(16)의 모델이 교체되고, 교체된 평판디스플레이의 제 1셀에 P1, P2, P3 및 P4 가 각각 S2, S3, S4 및 S1 의 전기신호를 필요로 한다면, 그에 따른 상기 탐침블록(11)도 S2->P1 S3->P2 S4->P3 및 S1->P4 경로로 회로배선된 탐침블록(11)으로 교체되어야 하는데, 도 1에 도시된 바와 같이 평판디스플레이 검사장치의 4면으로 형성되어 있는 탐침블록(11)의 단자(12)와 케이블 소켓(13)의 분리 및 결합이 불편하다는 문제점이 있다.However, the model of the
또한, 검사대상이 되는 평판디스플레이(16)의 모델 교체 따라 수반되는 상기 탐침블록(11)의 단자(12)와 케이블 소켓(13) 간의 분리 및 결합 시간이 지연됨에 따라 평판디스플레이(16)의 검사가 신속하게 진행되지 못한다는 문제점이 있다.In addition, the inspection of the
또한, 검사대상이 되는 상기 평판디스플레이(16) 모델의 개수만큼 상이한 경로로 회로배선된 다양한 종류의 탐침블록(11)이 필요한데, 그에 따른 제작비용이 많이 소비된다는 문제점이 있다.In addition, there is a need for various types of
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 평판디스 플레이의 단위픽셀들에 대한 불량 유무와 전기적 특성을 검사함에 있어, 검사대상이 되는 평판디스플레이의 모델에 따라 간편하게 교체할 수 있는 잡 체인지용 점퍼보드를 구비한 평판디스플레이 검사장치를 제공하는 것이다.The present invention has been made to solve the above problems, in inspecting the presence or absence of defects and electrical characteristics of the unit pixels of the flat panel display, a job that can be easily replaced according to the model of the flat panel display to be inspected It is to provide a flat panel display inspection device having a jumper board for change.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 잡 체인지용 점퍼보드가 구비된 평판디스플레이 검사장치는 전기신호를 전달하는 케이블과 연결가능하도록 길이방향을 따라 외측면에 형성된 단자(212)와 검사대상이 되는 평판디스플레이(230)와 접촉가능하도록 내측면에 형성된 탐침(214)으로 이루어진 보드 장착 블록(210) 및 상기 보드 장착 블록(210)에 검사대상이 되는 평판디스플레이(230)의 모델에 따라 장착 및 탈착되어 교체되는 잡 체인지용 점퍼보드(220)를 포함하되, 상기 보드 장착 블록(210)에는 소정의 텐션을 가진 리노핀(215)이 배열되어 있고, 상기 리노핀(215)이 배열된 상면 가장자리의 길이방향을 따라 일측으로는 소정의 공간이 형성된 가이드 홈부(216)가 형성되어 있으며, 타측으로는 보드 락 레버(217)가 형성되어 있어, 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)의 일측을 상기 가이드 홈부(216)에 삽입시킨 상태에서 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)를 상기 리노핀(215)위에 위치시키고 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)의 타측에 상기 보드 락 레버(217)를 거는 장착과 장착의 역순으로 이루어지는 탈착을 통해 상기 보드 장착 블록(210)에서의 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)의 교체가 이루어지는 것을 특징으로 한다.Flat display inspection device equipped with a jumper board for job change of the present invention for achieving the above object is a
바람직하게는, 상기 보드 장착 블록(210)에는 핀 소켓(211)이 형성되어 있고, 잡 체인지용 점퍼보드(220)에는 핀(221)이 형성되어 있어, 상기 핀(221)이 상기 핀 소켓(211)에 삽입되고 추출됨에 따라 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)가 상기 보드 장착 블록(210)에 장착되고 탈착되어 교체되는 것을 특징으로 한다.Preferably, the
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이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 잡 체인지용 점퍼보드를 구비한 평판디스플레이 검사장치를 더욱 상세하게 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in more detail a flat display inspection apparatus having a jumper board for job change according to the present invention.
이하에서 본 발명은 평판디스플레이 검사장치에 있어서, 평판디스플레이의 단위픽셀들에 대한 불량 유무와 전기적 특성을 검사함에 있어, 검사대상이 되는 평판디스플레이의 모델에 따라 간편하게 교체할 수 있는 잡 체인지용 점퍼보드를 바람직한 실시예로 설명할 것이나, 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정되거나 제한되지 않고 당업자에 의해 변형되어 다양하게 실시될 수 있음은 물론이다.Hereinafter, the present invention is a flat panel display inspection device, the jumper board for job change that can be easily replaced according to the model of the flat panel display to be inspected in the inspection of the presence and failure of the unit pixels of the flat panel display It will be described as a preferred embodiment, but the technical idea of the present invention is not limited to this, but can be variously modified and implemented by those skilled in the art.
도 2는 본 발명의 제 1실시예에 따른 잡 체인지용 점퍼보드를 구비한 평판디스플레이 검사장치를 나타내는 도면이다.2 is a view showing a flat panel display inspection apparatus having a jumper board for job change according to the first embodiment of the present invention.
본 발명에 따른 잡 체인지용 점퍼보드가 장착된 평판디스플레이 검사장치(200)는 좌우상하 측면에 형성된 보드 장착 블록(210) 및 상기 보드 장착 블록(210)에 장착되는 잡 체인지용 점퍼보드(220)로 구성된다.The flat panel
상기 보드 장착 블록(210)은 외측면으로 단자(212)가 형성되어 있고 내측면으로는 검사대상이 되는 평판디스플레이와 직접 접촉하는 탐침(214)이 형성되어 있으며, 상기 단자(212)와 탐침(214)이 형성된 외측과 내측에는 상기 잡체인지용 점퍼보드(220)에 형성된 핀과 결합 될 수 있는 핀 소켓(211)이 형성되어 있다.The
즉, 상기 단자(212)는 전기신호를 전달하는 케이블의 말단에 형성된 케이블 소켓(213)과 결합한다.That is, the
상기 단자(212)에 형성된 단자들은 각각이 절연되어 있으며, 해당 단자(212)들은 상기 케이블로부터 각기 다른 전기신호를 전달받는다.The terminals formed in the
상기에서 말하는 각기 다른 전기신호는 그 파형이 상이할 수도 있으며, 전압의 크기가 상이할 수도 있다.The different electrical signals described above may have different waveforms and different voltages.
한편, 상기 핀 소켓(211)은 단자(212)와 연결된 외측의 핀 소켓(211) 라인과 탐침(214)과 연결된 내측의 핀 소켓(211) 라인이 상기 보드 장착 블록(210)에 형성되어 있다.Meanwhile, the
상기 탐침(214)은 검사대상이 되는 평판디스플레이(230)의 가장자리 부분에 접촉하여 전기신호를 평판디스플레이(230)에 전달하게 된다.The
그리고, 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)는 인쇄회로기판(PCB)으로서, 일면에는 상기 외측의 핀 소켓(211)과 상기 내측의 핀 소켓(211)에 각각 대응되어 삽입될 수 있도록 외측과 내측 두 라인으로 핀(221)들이 형성되어 있다. In addition, the
한편, 상기 핀(221)이 형성된 면과 그 반대쪽 면에는 상기 외측과 내측의 핀(221)이 서로 다양한 경로로 연결되도록 하는 회로배선이 되어있다.On the other hand, the surface formed with the
상술한 구성들로 이루어진 잡 체인지용 점퍼보드가 장착된 평판디스플레이 검사장치의 검사과정을 상세히 설명한다.The inspection process of the flat panel display inspection apparatus equipped with the jumper board for job change having the above-described configurations will be described in detail.
먼저, 검사대상이 되는 평판디스플레이(230)를 상하좌우 가장자리에 위치한 보드 장착 블록(210)들의 한가운데 위치시키고, 해당 평판디스플레이(230)의 모델에 해당하는 잡 체인지용 점퍼보드(220)를 상기 보드 장착 블록(210)에 장착시킨 다.First, the
즉, 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)에 형성된 핀(221)이 상기 보드 장착 블록(210)에 형성되어 있는 핀 소켓(211)에 삽입되어 장착되어 진다.That is, the
상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)가 상기 보드 장착 블록(210)에 창착되면, 단자(212)를 통해 전달되어 외측의 핀 소켓(211)라인에 대기상태에 있던 전기신호가 내측의 핀 소켓(211)라인에 전달되게 된다.When the
이때, 외측의 핀 소켓(211)라인으로부터 내측의 핀 소켓(211)라인으로 전달되는 전기신호는 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)에 회로배선된 경로에 따라 전달되게 된다. At this time, the electric signal transmitted from the
이후, 내측의 핀 소켓(211)라인으로 전달된 전기신호는 검사대상인 평판디스플레이의 가장자리 부분과 접촉하고 있는 탐침(214)에 전달되어 해당 평판디스플레이(230)의 단위픽셀들에 대한 불량 유무와 전기적 특성검사에 이용된다.Thereafter, the electrical signal transmitted to the inner line of the
그리고, 단위픽셀들에 대한 불량 유무와 전기적 특성검사가 완료되어 상기 평판 디스플레이(230)의 모델이 교체되면, 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)의 교체는 상기 핀(221)을 상기 핀 소켓(211)으로부터 추출하여 해당 잡 체인지용 점퍼보드(220)를 탈착해 내고, 탈착 순서의 역순으로 교체된 평판디스플레이(230)에 맞는 잡 체인지용 점퍼보드(220)를 상기 잡 보드 장착 블록(210)에 장착함으로써 간편하게 이루어진다.In addition, when the defectiveness of the unit pixels and the electrical characteristic test are completed and the model of the
이때, 좌ㆍ우측에 형성된 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)는 검사대상이 되는 평판디스플레이(230)의 가로방향으로 형성된 단위픽셀들에 대한 불량 유무와 전 기적 특성을 검사하는 한편, 상ㆍ하측에 형성된 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)는 검사대상이 되는 평판디스플레이(230)의 세로방향으로 형성된 단위픽셀들에 대한 불량 유무와 전기적 특성을 검사하게 된다.At this time, the job
본 발명에 따른 평판디스플레이 검사장치로부터 간편하게 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)를 간편하게 장착 및 탈착할 수 있는 또 다른 실시예를 살펴본다.Look at another embodiment that can be easily mounted and detached the
먼저, 도 3은 본 발명의 제 2실시예에 따른 잡 체인지용 점퍼보드를 구비한 평판디스플레이 검사장치를 나타내는 도면이다.First, Figure 3 is a view showing a flat panel display inspection apparatus having a jumper board for job change according to a second embodiment of the present invention.
도 3에 도시된 바와 같이 제 2실시예에서는 상술한 제 1실시예에서의 보드 장착 블록(210) 내ㆍ외측에 형성된 핀 소켓(211) 대신에 상기 보드 장착 블록(210)의 내ㆍ외측으로 리노핀(215)이 형성되어 있다. As shown in FIG. 3, in the second embodiment, instead of the
또한, 상기 보드 장착 블록(210)에 핀 소켓(211)이 형성되어 있지 않고 리노핀(215)이 형성되어 있어, 제 2실시예에서의 잡 체인지용 점퍼보드(220)는 제 1실시예에서의 핀(221)이 형성되어 있던 위치에 상기 리노핀(215)에 접촉될 수 있는 전극이 인쇄회로기판에 인쇄되어 있으며, 양측으로 형성된 전극 간에는 회로배선되어 있다.In addition, since the
한편, 상기 리노핀(215)은 저면이 막혀있고 상부면이 뚫려있는 원통형 부재의 내부공간에 스프링이 내장되어 있고, 해당 스프링 위로 철핀의 일부분이 삽입되어 일정한 텐션을 가진 부재이다.On the other hand, the
또한, 도 4에 도시된 바와 같이 상기 보드 장착 블록(210)의 길이 방향을 따라 한쪽 가장자리에는 가이드 홈(216)가 형성되어 있으며, 다른 한쪽의 가장자리로 는 보드 락 레버(217)가 형성되어 있는데, 상기 가이드 홈(216)는 장착되는 잡 체인지용 점퍼보드(220)가 상기 보드 장착 블록(210)에 똑바로 가이드 되어 장착되도록 하며, 상기 보드 락 레버(217)는 상기 가이드 홈(216)에 의해 가이드 되어 상기 보드 장착 블록(210)에 장착된 잡 체인지용 점퍼보드(220)가 평판디스플레이 검사 중에 이탈되지 않도록 고정시킨다.In addition, as shown in FIG. 4, a
또한, 상기 보드 락 레버(217)는 검사대상이 되는 평판디스플레이의 모델이 교체됨에 따라 상기 보드 장착 블록(210)에 장착된 잡 체인지용 점퍼보드(220)의 교체가 간편하게 이루어질 수 있도록 한다.In addition, the
상술한 제 2실시예에 따른 평판 디스플레이 검사장치의 검사과정을 간단히 설명한다.The inspection process of the flat panel display inspection apparatus according to the second embodiment will be described briefly.
상기 보드 장착 블록(210)의 외측 리노핀(215)에 대기상태에 있는 전기신호는 상기 가이드 홈(215)에 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)가 삽입되고 보드 락 레버(217)에 의해 고정 및 장착되면, 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)의 회로배선된 경로를 따라 내측의 리노핀(215)으로 전달된다.The electric signal in the standby state on the
상기 보드 장착 블록(210)의 내측 리노핀(215)에 전달된 전기신호는 상기 탐침(214)에 전달되고 상기 탐침(214)과 접속하고 있는 평판디스플레이(230)의 가장자리 부분에 인가된다.The electrical signal transmitted to the
상기 평판디스플레이(230)의 검사는 상하좌우 측면의 탐침(214)으로부터 인가되는 전기신호를 전달받아 이루어진다.Inspection of the
검사대상이 되는 상기 평판디스플레이(230)의 모델이 교체되면, 상기 보드 장착 블록(210)에 장착된 잡 체인지용 점퍼보드(220)도 교체되어야 하는데, 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)의 교체는 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)에 걸려있는 보드 락 레버(217)를 풀어 교체된 평판디스플레이(230)의 모델에 맞게 경로로 회로배선된 새로운 잡 체인지용 점퍼보드(220)로 교체시키고 다시 상기 보드 락 레버(217)를 상기 잡 체인지용 점퍼보드(220)에 걸어 고정 및 장착시킴으로써 간편하게 이루어진다.When the model of the
이상에서 설명한 본 발명은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 있어 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하므로 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니다.The present invention described above is capable of various substitutions, modifications, and changes without departing from the technical spirit of the present invention for those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains. It is not limited to the drawings.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명에 나타난 잡 체인지용 점퍼보드를 구비한 평판디스플레이 검사장치는 핀이 형성된 잡 체인지형 보드를 소켓에 삽입하고 추출하거나 또는, 보드 장착 블록 위에 올려놓고 보드 락 레버를 거는 장착과 장착의 역순으로 탈착함으로써 간편하고 신속하게 잡 체인지형 보드를 교체할 수 있는 효과가 있다.As described above, the flat panel display inspection device having a jumper board for job change shown in the present invention inserts and extracts a job-changed board with a pin into a socket, or puts a board lock lever on a board mounting block. By removing and mounting in the reverse order of mounting, the job change board can be replaced easily and quickly.
또한, 신속한 잡 체인지형 보드 교체로 인해 다양한 모델의 평판디스플레이의 단위픽셀들에 대한 불량 유무와 전기적 특성을 신속하게 검사할 수 있는 효과가 있다.In addition, due to the rapid job change board replacement, there is an effect that can quickly check the presence and failure of the unit pixels of the various models of flat panel display and electrical characteristics.
또한, 검사대상이 되는 평판디스플레이의 모델이 교체될 때마다 탐침블록을 통째로 교체해야만 하는 종래의 평판디스플레이 검사장치와는 달리 간단한 구조의 잡 체인지용 점퍼보드만을 교체함으로써 비용을 절감할 수 있는 효과가 있다.In addition, unlike the conventional flat panel display inspection apparatus, in which the probe block must be replaced as a whole when the model of the flat panel display to be inspected is replaced, it is possible to reduce the cost by replacing only the jumper board for the job change with a simple structure. have.
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070062738A KR100861253B1 (en) | 2007-06-26 | 2007-06-26 | Display test apparatus with job changing jumper board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070062738A KR100861253B1 (en) | 2007-06-26 | 2007-06-26 | Display test apparatus with job changing jumper board |
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KR100861253B1 true KR100861253B1 (en) | 2008-10-02 |
Family
ID=40152585
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR1020070062738A KR100861253B1 (en) | 2007-06-26 | 2007-06-26 | Display test apparatus with job changing jumper board |
Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR100861253B1 (en) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004170237A (en) | 2002-11-20 | 2004-06-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Lighting inspection device for display panel |
JP2004170236A (en) | 2002-11-20 | 2004-06-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Lighting inspection device for display panel |
JP2007024582A (en) * | 2005-07-13 | 2007-02-01 | Agilent Technol Inc | Inspection device for display panel, and interface used therefor |
-
2007
- 2007-06-26 KR KR1020070062738A patent/KR100861253B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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