KR100843529B1 - 휘발성 메모리에서 지시된 뱅크 리프레시를 위한 무결절성자기-리프레시를 제공하는 방법 및 시스템 - Google Patents
휘발성 메모리에서 지시된 뱅크 리프레시를 위한 무결절성자기-리프레시를 제공하는 방법 및 시스템 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (29)
- 복수의 뱅크를 가지고, 자동-리프레시 모드 및 자기-리프레시 모드를 포함하는 복수의 동작 모드 중 하나에 착수하도록 구성된 휘발성 메모리; 및상기 휘발성 메모리에게 상기 복수의 동작 모드 중 하나에 착수할 것을 지시하도록 구성된 메모리 제어기를 포함하며,상기 메모리 제어기가 상기 휘발성 메모리에게 상기 자기-리프레시 모드에 착수할 것을 지시할 때, 상기 메모리 제어기는 엔트리 뱅크 어드레스를 상기 휘발성 메모리에 제공하도록 더 구성되며, 상기 엔트리 뱅크 어드레스는 상기 자기-리프레시 모드 동안에 리프레시되어야 하는 최초 뱅크에 대응하고,상기 휘발성 메모리가 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 상기 휘발성 메모리는 엑시트 뱅크 어드레스가 상기 메모리 제어기에 이용가능하도록 더 구성되며, 상기 엑시트 뱅크 어드레스는 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 이전에 리프레시된 최종 뱅크에 대응하는, 메모리 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 메모리 제어기는, 상기 메모리 제어기가 상기 엑시트 뱅크 어드레스를 수신한 이후에, 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 이전에 리프레시된 상기 최종 뱅크에 후속하는 뱅크를 리프레시하기 위해, 상기 휘발성 메모리에 자동-리프레시 커맨드를 발행하도록 더 구성된, 메모리 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 상기 휘발성 메모리는 엑시트 행 어드레스가 상기 메모리 제어기에 이용가능하도록 더 구성되며, 상기 엑시트 행 어드레스는 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 이전에 리프레시된 최종 행에 대응하는, 메모리 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 휘발성 메모리는 동적 랜덤 액세스 메모리 (DRAM) 또는 동기식 DRAM 중 하나인, 메모리 시스템.
- 엔트리 뱅크 어드레스 래치, 엑시트 뱅크 어드레스 래치 및 복수의 뱅크를 갖는 휘발성 메모리; 및자동-리프레시 모드 및 자기-리프레시 모드를 포함하는 복수의 동작 모드 중 하나에 착수할 것을 상기 휘발성 메모리에게 지시하도록 구성된 메모리 제어기를 포함하며,상기 메모리 제어기가 상기 휘발성 메모리에게 자기-리프레시 모드에 착수할 것을 지시할 때, 상기 메모리 제어기는 엔트리 뱅크 어드레스를 상기 엔트리 뱅크 어드레스 래치에 로드하도록 더 구성되며, 상기 엔트리 뱅크 어드레스는 상기 자기-리프레시 모드 동안에 리프레시되어야 하는 최초 뱅크에 대응하고,상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 상기 휘발성 메모리는 엑시트 뱅크 어드레스를 상기 엑시트 뱅크 어드레스 래치에 로드하도록 더 구성되며, 상기 엑시트 뱅크 어드레스는 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 이전에 리프레시된 최종 뱅크에 대응하고, 상기 엑시트 뱅크 어드레스 래치는 상기 메모리 제어기에 액세스가능한, 메모리 시스템.
- 제 5 항에 있어서,상기 메모리 제어기는, 상기 메모리 제어기가 상기 엑시트 뱅크 어드레스 래치로부터 상기 엑시트 뱅크 어드레스를 검색한 이후에, 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 전에 리프레시된 상기 최종 뱅크에 후속하는 뱅크를 리프레시하기 위해, 상기 휘발성 메모리에 자동-리프레시 커맨드를 발행하도록 더 구성되는, 메모리 시스템.
- 제 5 항에 있어서,상기 휘발성 메모리는 상기 메모리 제어기에 액세스가능한 엑시트 행 어드레스 래치를 더 포함하며,상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 상기 휘발성 메모리는 엑시트 행 어드레스를 상기 엑시트 행 어드레스 래치에 로드하도록 더 구성되며, 상기 엑시트 행 어드레스는 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 전에 리프레시된 최종 행에 대응하는, 메모리 시스템.
- 제 5 항에 있어서,상기 휘발성 메모리는 동적 랜덤 액세스 메모리 (DRAM) 또는 동기식 DRAM 중 하나인, 메모리 시스템.
- 복수의 뱅크, 엔트리 뱅크 어드레스를 저장하는 제 1 저장 수단 및 엑시트 뱅크 어드레스를 저장하는 제 2 저장 수단을 가지는 휘발성 메모리; 및자동-리프레시 모드 및 자기-리프레시 모드를 포함하는 복수의 동작 모드 중 하나에 착수할 것을 상기 휘발성 메모리에게 지시하도록 구성된 메모리 제어기를 포함하며,상기 메모리 제어기가 상기 휘발성 메모리에게 상기 자기-리프레시 모드에 착수할 것을 지시할 때, 상기 메모리 제어기는 상기 엔트리 뱅크 어드레스를 상기 제 1 저장 수단에 로드하도록 더 구성되며, 상기 엔트리 뱅크 어드레스는 상기 자기-리프레시 모드 동안에 리프레시되어야 하는 최초 뱅크에 대응하고,상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 상기 휘발성 메모리는 상기 엑시트 뱅크 어드레스를 상기 제 2 저장 수단에 로드하도록 더 구성되며, 상기 엑시트 뱅크 어드레스는 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 전에 리프레시된 최종 뱅크에 대응하고, 상기 제 2 저장 수단은 상기 메모리 제어기에 액세스가능한, 메모리 시스템.
- 제 9 항에 있어서,상기 메모리 제어기는, 상기 메모리 제어기가 상기 제 2 저장 수단으로부터 상기 엑시트 뱅크 어드레스를 검색한 이후에, 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 전에 리프레시된 상기 최종 뱅크에 후속하는 뱅크를 리프레시하기 위해, 상기 휘발성 메모리에 자동-리프레시 커맨드를 발행하도록 더 구성된, 메모리 시스템.
- 제 9 항에 있어서,상기 휘발성 메모리는 엑시트 행 어드레스를 저장하는 제 3 저장 수단을 더 포함하며,상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 상기 휘발성 메모리는 상기 엑시트 행 어드레스를 상기 제 3 저장 수단에 로드하도록 더 구성되며, 상기 엑시트 행 어드레스는 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 전에 리프레시된 최종 행에 대응하고, 상기 제 3 저장 수단은 상기 메모리 제어기에 액세스가능한, 메모리 시스템.
- 제 10 항에 있어서,상기 휘발성 메모리는 동적 랜덤 액세스 메모리 (DRAM) 또는 동기식 DRAM 중 하나인, 메모리 시스템.
- 복수의 뱅크, 엔트리 뱅크 어드레스 래치, 엑시트 뱅크 어드레스 래치, 리프레시 클록 및 리프레시 카운터를 가지는 휘발성 메모리로서, 상기 리프레시 카운터는 행 어드레스 카운터 및 행 증분 카운터를 더 가지고, 상기 리프레시 클록은 상기 리프레시 카운터 및 상기 엔트리 뱅크 어드레스 래치를 제어하도록 구성되며, 상기 행 증분 카운터는 상기 행 어드레스 카운터를 증분하도록 구성되는, 상기 휘발성 메모리; 및상기 휘발성 메모리를 제어하여 자동-리프레시 모드 또는 자기-리프레시 모드에 착수하도록 구성된 메모리 제어기로서, 타겟 뱅크에 대한 뱅크 어드레스를 상기 엔트리 뱅크 어드레스 래치에 로드하도록 더 구성된, 상기 메모리 제어기를 포함하며,상기 메모리 제어기는 상기 휘발성 메모리에게 상기 자동-리프레시 모드에 착수할 것을 지시하여, 상기 타겟 뱅크에 대한 자동-리프레시 동작을 수행하도록 더 구성되고,상기 행 증분 카운터는 자동-리프레시 동작이 수행될 때마다 증분되도록 구성되고,상기 행 증분 카운터는 소정의 수의 자동-리프레시 동작이 수행된 이후에 상기 행 어드레스 카운터를 증분하도록 더 구성되고,상기 행 어드레스 카운터는 상기 자동-리프레시 동작에 관한 상기 타겟 뱅크의 행을 식별하는데 이용가능한 행 어드레스를 포함하고,상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드에 진입할 때, 상기 휘발성 메모리는 상기 엔트리 뱅크 어드레스 래치에 저장된 상기 뱅크 어드레스 및 상기 리프레시 카운터에 저장된 컨텐츠를 이용하여 하나 이상의 자기-리프레시 동작을 수행하도록 더 구성되고,상기 휘발성 메모리는 각각의 자기-리프레시 동작 이후에 상기 엔트리 뱅크 어드레스 래치 및 상기 리프레시 카운터를 증분하도록 더 구성되고,상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 상기 휘발성 메모리는 상기 엔트리 뱅크 어드레스 래치의 현재 값을 상기 엑시트 뱅크 어드레스 래치에 로드하도록 구성되며, 상기 엑시트 뱅크 어드레스 래치 내의 값이 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 전에 리프레시된 최종 뱅크에 대응하는, 메모리 시스템.
- 제 13 항에 있어서,상기 엑시트 뱅크 어드레스 래치는 상기 메모리 제어기에 액세스가능하고,상기 메모리 제어기는, 상기 메모리 제어기가 상기 엑시트 뱅크 어드레스 래치에 저장된 값을 검색한 이후에, 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 전에 리프레시된 상기 최종 뱅크에 후속하는 뱅크를 리프레시하기 위해, 상기 휘발성 메모리에 자동-리프레시 커맨드를 발행하도록 더 구성된, 메모리 시스템.
- 제 13 항에 있어서,상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 상기 휘발성 메모리는 상기 행 증분 카운터를 재설정하지 않도록 더 구성된, 메모리 시스템.
- 제 13 항에 있어서,상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 상기 메모리 제어기는 평균 리프레시 주기 내에 임의의 추가적인 리프레시를 발행하지 않도록 더 구성된, 메모리 시스템.
- 제 13 항에 있어서,상기 휘발성 메모리는 엑시트 행 어드레스 래치를 더 포함하며,상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 상기 휘발성 메모리는 상기 행 어드레스 카운터의 현재 값을 상기 엑시트 행 어드레스 래치에 로드하도록 구성되며, 상기 엑시트 행 어드레스 래치 내의 값은 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 전에 리프레시된 최종 행에 대응하는, 메모리 시스템.
- 제 13 항에 있어서,상기 휘발성 메모리는 동적 랜덤 액세스 메모리 (DRAM) 또는 동기식 DRAM 중 하나인, 메모리 시스템.
- 엔트리 뱅크 어드레스 래치, 엑시트 뱅크 어드레스 래치, 복수의 뱅크, 및 복수의 리프레시 행 카운터를 가지는 휘발성 메모리로서, 각각의 리프레시 행 카운터는 대응하는 뱅크와 관련되고 타겟 행 어드레스를 저장하도록 구성된, 상기 휘발성 메모리; 및상기 휘발성 메모리에게 자동-리프레시 모드에 착수할 것을 지시하도록 구성되고, 또한, 타겟 뱅크 어드레스를 상기 엔트리 뱅크 어드레스 래치에 로드하도록 구성된 메모리 제어기를 포함하며,상기 휘발성 메모리는 상기 자동-리프레시 모드에서 자동-리프레시 동작을 수행하도록 구성되며, 상기 자동-리프레시 동작은, 상기 타겟 뱅크와 관련된 상기 리프레시 행 카운터에 저장된 상기 타겟 행 어드레스를 이용하여 상기 타겟 뱅크 어드레스에 의해 식별되는 상기 타겟 뱅크에 대해 수행되고,상기 메모리 제어기는 상기 휘발성 메모리에게 자기-리프레시 모드에 착수할 것을 지시하도록 더 구성되고,상기 휘발성 메모리는 현재의 타겟 뱅크 어드레스를 발생시키기 위해, 상기 엔트리 뱅크 어드레스 래치를 증분함으로써 상기 자기-리프레시 모드에서 상기 복수의 뱅크를 통해 사이클링하도록 더 구성되고,각각의 자기-리프레시 동작 동안에, 상기 휘발성 메모리는 상기 관련된 리프레시 행 카운터에 저장된 상기 타겟 행 어드레스에 기초하여 상기 현재의 타겟 뱅크 어드레스에 의해 식별되는 뱅크를 리프레시하도록 더 구성되고,상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 상기 휘발성 메모리는 상기 엔트리 뱅크 어드레스 래치에 저장된 값을 상기 엑시트 뱅크 어드레스 래치에 로드하도록 더 구성되며, 상기 엑시트 뱅크 어드레스 래치 내의 값은 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 전에 리프레시된 최종 뱅크에 대응하는, 메모리 시스템.
- 제 19 항에 있어서,상기 엑시트 뱅크 어드레스 래치는 상기 메모리 제어기에 액세스가능하고,상기 메모리 제어기는, 상기 메모리 제어기가 상기 엑시트 뱅크 어드레스 래치에 저장된 값을 검색한 이후에, 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 전에 리프레시된 상기 최종 뱅크에 후속하는 뱅크를 리프레시하기 위해, 상기 휘발성 메모리에 자동-리프레시 커맨드를 발행하도록 더 구성된, 메모리 시스템.
- 제 19 항에 있어서,상기 휘발성 메모리는, 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드에 진입하기 전에 임의의 선행하는 리프레시를 수행하지 않도록 더 구성된, 메모리 시스템.
- 제 19 항에 있어서,상기 휘발성 메모리는 상기 메모리 제어기에 액세스가능한 엑시트 행 어드레스 래치를 더 포함하며,상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 상기 휘발성 메모리는, 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 전에 리프레시된 상기 최종 뱅크와 관련된 상기 리프레시 행 카운터에 저장된 값을 상기 엑시트 행 어드레스 래치에 로드하도록 더 구성된, 메모리 시스템.
- 제 19 항에 있어서,상기 휘발성 메모리는 동적 랜덤 액세스 메모리 (DRAM) 또는 동기식 DRAM 중 하나인, 메모리 시스템.
- 복수의 뱅크를 가진 휘발성 메모리에 대한 메모리 리프레시를 제어하는 방법으로서,상기 휘발성 메모리에 엔트리 뱅크 어드레스를 포워딩하는 단계;상기 엔트리 뱅크 어드레스에 기초하여 하나 이상의 자기-리프레시 동작을 수행하기 위해 자기-리프레시 모드에 착수할 것을 상기 휘발성 메모리에게 지시하는 단계로서, 상기 엔트리 뱅크 어드레스는 상기 하나 이상의 자기-리프레시 동작이 시작되어야 하는 타겟 뱅크에 대응하는, 상기 자기-리프레시 동작의 수행 지시 단계; 및상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 엑시트 뱅크 어드레스가 이용가능하도록 상기 휘발성 메모리에게 지시하는 단계로서, 상기 엑시트 뱅크 어드레스는 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 전에 리프레시된 최종 뱅크에 대응하는, 상기 엑시트 뱅크 어드레스의 이용 지시 단계를 포함하는, 메모리 리프레시 제어 방법.
- 제 24 항에 있어서,상기 엑시트 뱅크 어드레스에 의해 식별된 상기 뱅크에 후속하는 뱅크에 대한 자동-리프레시 동작을 수행하기 위해, 자동-리프레시 모드에 착수할 것을 상기 휘발성 메모리에게 지시하는 단계를 더 포함하는, 메모리 리프레시 제어 방법.
- 제 24 항에 있어서,상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 엑시트 행 어드레스가 이용가능하도록 상기 휘발성 메모리에게 지시하는 단계를 더 포함하며,상기 엑시트 행 어드레스는 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 전에 리프레시된 최종 행에 대응하는, 메모리 리프레시 제어 방법.
- 엔트리 뱅크 어드레스 래치, 엑시트 뱅크 어드레스 래치 및 복수의 뱅크를 가지는 휘발성 메모리에 대한 메모리 리프레시를 제어하는 방법으로서,상기 엔트리 뱅크 어드레스 래치에 엔트리 뱅크 어드레스를 로드하는 단계;상기 엔트리 뱅크 어드레스 래치로부터 상기 엔트리 뱅크 어드레스를 검색할 것을 상기 휘발성 메모리에게 지시하는 단계;상기 엔트리 뱅크 어드레스에 기초하여 하나 이상의 자기-리프레시 동작을 수행하기 위해, 자기-리프레시 모드에 착수할 것을 상기 휘발성 메모리에게 지시하는 단계로서, 상기 엔트리 뱅크 어드레스는 상기 하나 이상의 자기-리프레시 동작이 시작되어야 하는 타겟 뱅크에 대응하는, 상기 지시 단계; 및상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 상기 엑시트 뱅크 어드레스 래치에 엑시트 뱅크 어드레스를 저장하는 단계로서, 상기 엑시트 뱅크 어드레스는 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 전에 리프레시된 최종 뱅크에 대응하는,상기 저장 단계를 포함하는, 메모리 리프레시 제어 방법.
- 제 27 항에 있어서,상기 엑시트 뱅크 어드레스 래치로부터 상기 엑시트 뱅크 어드레스를 검색하는 단계; 및상기 엑시트 뱅크 어드레스에 의해 식별되는 뱅크에 후속하는 뱅크에 대한 자동-리프레시 동작을 수행하기 위해, 자동-리프레시 모드에 착수할 것을 상기 휘발성 메모리에게 지시하는 단계를 더 포함하는, 메모리 리프레시 제어 방법.
- 제 27 항에 있어서,상기 휘발성 메모리는 엑시트 행 어드레스 래치를 더 포함하며,상기 방법은, 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료할 때, 상기 엑시트 행 어드레스 래치에 상기 엑시트 행 어드레스를 저장하는 단계를 더 포함하며,상기 엑시트 행 어드레스는 상기 휘발성 메모리가 상기 자기-리프레시 모드를 종료하기 전에 리프레시된 최종 행에 대응하는, 메모리 리프레시 제어 방법.
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KR100748460B1 (ko) * | 2006-08-16 | 2007-08-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 및 그 제어방법 |
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US7922509B2 (en) * | 2007-06-15 | 2011-04-12 | Tyco Electronics Corporation | Surface mount electrical connector having insulated pin |
US7590021B2 (en) * | 2007-07-26 | 2009-09-15 | Qualcomm Incorporated | System and method to reduce dynamic RAM power consumption via the use of valid data indicators |
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US8310893B2 (en) * | 2009-12-16 | 2012-11-13 | Micron Technology, Inc. | Techniques for reducing impact of array disturbs in a semiconductor memory device |
US9053812B2 (en) | 2010-09-24 | 2015-06-09 | Intel Corporation | Fast exit from DRAM self-refresh |
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KR20150015560A (ko) * | 2013-07-30 | 2015-02-11 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체장치를 포함하는 반도체시스템 |
JP2015076110A (ja) * | 2013-10-08 | 2015-04-20 | マイクロン テクノロジー, インク. | 半導体装置及びこれを備えるデータ処理システム |
KR102163983B1 (ko) * | 2013-11-07 | 2020-10-12 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 |
KR20160023274A (ko) * | 2014-08-22 | 2016-03-03 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 장치 및 이를 포함하는 메모리 시스템 |
US10331526B2 (en) * | 2015-07-31 | 2019-06-25 | Qualcomm Incorporated | Systems, methods, and apparatus for frequency reset of a memory |
US9875785B2 (en) * | 2015-10-01 | 2018-01-23 | Qualcomm Incorporated | Refresh timer synchronization between memory controller and memory |
US11079945B2 (en) * | 2018-09-20 | 2021-08-03 | Ati Technologies Ulc | Dynamic configuration of memory timing parameters |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4687107A (en) | 1985-05-02 | 1987-08-18 | Pennwalt Corporation | Apparatus for sizing and sorting articles |
US5999472A (en) | 1997-08-08 | 1999-12-07 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Multi-bank synchronous semiconductor memory device with easy control |
US6310814B1 (en) * | 1998-03-10 | 2001-10-30 | Rambus, Inc. | Rambus DRAM (RDRAM) apparatus and method for performing refresh operations |
US20020023193A1 (en) * | 2000-05-18 | 2002-02-21 | Nec Corporation | Semiconductor memory and address controlling method thereof |
US20030218930A1 (en) * | 2002-05-22 | 2003-11-27 | Infineon Technologies North America Corp. | Partial refresh for synchronous dynamic random access memory (sdram) circuits |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7236416B2 (en) * | 2004-05-21 | 2007-06-26 | Qualcomm Incorporated | Method and system for controlling refresh in volatile memories |
US7184350B2 (en) * | 2004-05-27 | 2007-02-27 | Qualcomm Incorporated | Method and system for providing independent bank refresh for volatile memories |
US7079440B2 (en) * | 2004-05-27 | 2006-07-18 | Qualcomm Incorporated | Method and system for providing directed bank refresh for volatile memories |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4687107A (en) | 1985-05-02 | 1987-08-18 | Pennwalt Corporation | Apparatus for sizing and sorting articles |
US5999472A (en) | 1997-08-08 | 1999-12-07 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Multi-bank synchronous semiconductor memory device with easy control |
US6310814B1 (en) * | 1998-03-10 | 2001-10-30 | Rambus, Inc. | Rambus DRAM (RDRAM) apparatus and method for performing refresh operations |
US20020023193A1 (en) * | 2000-05-18 | 2002-02-21 | Nec Corporation | Semiconductor memory and address controlling method thereof |
US20030218930A1 (en) * | 2002-05-22 | 2003-11-27 | Infineon Technologies North America Corp. | Partial refresh for synchronous dynamic random access memory (sdram) circuits |
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