KR100842462B1 - Substrate edge part cleaning apparatus and substrate edge part cleaning method - Google Patents

Substrate edge part cleaning apparatus and substrate edge part cleaning method Download PDF

Info

Publication number
KR100842462B1
KR100842462B1 KR1020077002488A KR20077002488A KR100842462B1 KR 100842462 B1 KR100842462 B1 KR 100842462B1 KR 1020077002488 A KR1020077002488 A KR 1020077002488A KR 20077002488 A KR20077002488 A KR 20077002488A KR 100842462 B1 KR100842462 B1 KR 100842462B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
cleaning
substrate
edge
color filter
camera
Prior art date
Application number
KR1020077002488A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20070022887A (en
Inventor
료이치로 가타노
신지로 츠지
Original Assignee
마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤 filed Critical 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤
Priority to KR1020077002488A priority Critical patent/KR100842462B1/en
Publication of KR20070022887A publication Critical patent/KR20070022887A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100842462B1 publication Critical patent/KR100842462B1/en

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B11/00Cleaning flexible or delicate articles by methods or apparatus specially adapted thereto
    • B08B11/04Cleaning flexible or delicate articles by methods or apparatus specially adapted thereto specially adapted for plate glass, e.g. prior to manufacture of windshields
    • B08B1/143
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

본 발명은 액정 디스플레이에 사용되는 글래스 기판의 테두리부를 세정할 때 각 글래스 기판의 세정도를 판정하는 기판 테두리부 세정 장치를 제공한다.

이 기판 테두리부 세정 장치(100)는 직선적으로 이동하면서 디스플레이(A)용 기판의 테두리부를 닦아냄으로써 세정하는 세정 헤드를 구비하고, 이 기판 테두리부 세정 장치는, 세정 헤드와 함께 이동함으로써, 기판에 배치되는 컬러 필터의 테두리 부근의 이미지를 캡춰하는 카메라(117)를 포함한다. 이 카메라(117)는 세정된 기판 부분의 표면 상태 정보를 얻으며, 기판 테두리부 세정 장치(100)는 또한 표면 상태 정보를 기초로 세정도를 판정하는 세정도 판정부(306)를 포함한다.

Figure R1020077002488

The present invention provides a substrate edge cleaning device that determines the degree of cleaning of each glass substrate when cleaning the edges of the glass substrate used in the liquid crystal display.

This board | substrate edge cleaning apparatus 100 is equipped with the cleaning head which wash | cleans by wiping the edge of the board | substrate for display A, moving linearly, This board | substrate edge cleaning apparatus moves to a board | substrate by moving with a cleaning head. And a camera 117 for capturing an image near the edge of the color filter disposed. This camera 117 obtains the surface state information of the cleaned board | substrate part, and the board | substrate edge part washing | cleaning apparatus 100 also includes the cleaning degree determination part 306 which determines the cleaning degree based on surface state information.

Figure R1020077002488

Description

기판 테두리부 세정 장치 및 기판 테두리부 세정 방법{SUBSTRATE EDGE PART CLEANING APPARATUS AND SUBSTRATE EDGE PART CLEANING METHOD}Substrate edge cleaning device and substrate edge cleaning method {SUBSTRATE EDGE PART CLEANING APPARATUS AND SUBSTRATE EDGE PART CLEANING METHOD}

본 발명은 LCD용 기판을 세정하는 세정 장치 등에 관한 것으로, 특히 기판의 테두리부를 헝겊으로 닦아냄으로써 세정하는 기판 테두리부 세정 장치 등에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a cleaning apparatus for cleaning an LCD substrate, and more particularly, to a substrate edge cleaning apparatus for cleaning by wiping the edge of the substrate with a cloth.

최근, LCD는 컴퓨터용 모니터와 텔레비젼용 스크린으로 널리 보급되어 사용되며, 이런 LCD에 대한 다양한 수요가 급속히 증대되고 있다. 이런 상황 하에서, LCD의 양호한 가격과 품질 향상에 대한 강한 요구가 있다. 따라서, LCD용 기판에 전자부품을 장착하는 과정에서 장착 품질과 수율을 향상하는 것이 매우 중요한 과제이다. Recently, LCDs are widely used as computer monitors and television screens, and various demands for such LCDs are rapidly increasing. Under these circumstances, there is a strong demand for good price and quality improvement of LCDs. Therefore, it is very important to improve mounting quality and yield in the process of mounting electronic components on LCD substrates.

장착 품질 등을 향상하기 위해서, 장착 품질 등을 개선하기 위해서 전자 부품이 LCD의 기판에 장착되기 이전에 기판의 단자 설정 영역은 세정된다. 이와 같이, 이런 전자부품 등의 불량 접속이 개선된다. In order to improve the mounting quality and the like, in order to improve the mounting quality and the like, the terminal setting region of the substrate is cleaned before the electronic component is mounted on the substrate of the LCD. Thus, poor connection of such an electronic component is improved.

LCD용 기판의 테두리부의 세정에 관해, 단자가 배치되는 테두리부를 세정액 등을 함유하는 헝겊으로 닦아냄으로써 이런 테두리부를 세정하는 자동 세정 장치가 개발되어 있다. 또한, 이런 장치는 발명(예컨대, 특허문헌1 : 일본국 특허 제3445709호 공보)에 제안되고 있다.Regarding the cleaning of the edge portion of the LCD substrate, an automatic cleaning device for cleaning such edge portions has been developed by wiping the edge portions on which terminals are disposed with a cloth containing a cleaning liquid or the like. Moreover, such an apparatus is proposed by invention (for example, patent document 1: Unexamined-Japanese-Patent No. 3445709).

이런 LCD용 자동 세정 장치는 세정 효율이 매우 높고 또한 장착 품질의 개선에 크게 기여하고 있다. 그러나, 이런 장치를 둘러싸는 환경이 변화하고 있고, 즉, LCD용 최근 기판에 대한 성능 요구를 만족하기에 충분치 않다.Such automatic cleaning device for LCDs has a very high cleaning efficiency and greatly contributes to the improvement of mounting quality. However, the environment surrounding such devices is changing, i.e. not sufficient to meet the performance requirements for modern substrates for LCDs.

첫번째 이유는 이하에 기술하는 문제가 있다. 전자부품의 장착 밀도가 높아지기 때문에, 기판 표면의 높은 세정도(cleaning degree)를 유지하는 것이 필요하다. 그럼에도 불구하고, 불충분한 세정 작업이 당연한 과정으로 실행된다. 이는 세정 작업을 장시간 간격에 걸쳐 반복하는 동안 기판 표면의 세정도가 표준치 이하의 값까지 감소하지만 세정도가 경험적 규칙에 따라서만 평가되기 때문이다. 그 결과, 최종 제품의 수율이 악화된다.The first reason is a problem described below. As the mounting density of electronic components becomes high, it is necessary to maintain a high degree of cleaning of the substrate surface. Nevertheless, insufficient cleaning operations are carried out in due course. This is because while the cleaning operation is repeated over a long time interval, the degree of cleaning of the substrate surface decreases to a value below the standard value, but the degree of cleaning is evaluated only according to empirical rules. As a result, the yield of the final product is deteriorated.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위해서 안출되었다. 본 발명의 첫번째 목적은, 기판의 테두리부의 세정도를 평가할 수 있는 기판 테두리부 세정 장치와 기판 테두리부 세정 장치에 의해 실행된 세정 방법을 제공하는 데에 있다.The present invention has been made to solve the above-mentioned problem. A first object of the present invention is to provide a substrate edge cleaning apparatus capable of evaluating the degree of cleaning of the edge portion of a substrate and a cleaning method performed by the substrate edge portion cleaning apparatus.

두번째 이유는 이하에 기술하는 문제가 있다. LCD 테두리에 이미지가 표시되지 않기 때문에 LCD의 테두리부(프레임)를 가능한 좁게 하는 것이 요구된다. 그러나, 종래 세정 장치는 위치의 충분한 정확도를 갖는 이런 좁은 프레임을 세정할 수 없다.The second reason is the problem described below. Since no image is displayed on the LCD border, it is required to make the LCD frame as narrow as possible. However, conventional cleaning devices cannot clean such narrow frames with sufficient accuracy of position.

여기서, 도 1에 도시한 바와 같이, LCD용 기판은, 전자부품이 장착되는 프레임을 갖는 글래스 기판(B)과, 이 글래스 기판(B)보다 약간 작은 컬러 필터(C)를 포함한다.Here, as shown in Fig. 1, the LCD substrate includes a glass substrate B having a frame on which an electronic component is mounted, and a color filter C slightly smaller than the glass substrate B.

또, 이런 프레임을 좁게 하기 위해서, 글래스 기판(B)이 가능한 작게 제조되고 전자 부품이 가능한 컬러 필터(C)에 근접 장착되는 것이 요구된다. 연신에 의해, 전자부품의 장착 품질을 향상하기 위해서, LCD용 기판(A)의 프레임은 위치의 고정확도를 갖는 컬러 필터(C)에 가장 근접하게 세정되어야 한다.In addition, in order to narrow such a frame, it is required that the glass substrate B is made as small as possible and mounted close to the color filter C where electronic components are possible. By stretching, in order to improve the mounting quality of the electronic component, the frame of the LCD substrate A must be cleaned closest to the color filter C having a high accuracy of position.

그러나, 도 1에 도시한 바와 같이, 종래 세정 장치는 글래스 기판(B)의 테두리부에 장착된 세 개의 핀(D)을 세정 장치에 가압함으로써 기판(A)과 세정 헤드(E) 사이의 위치 관계를 결정한다. 그러나, 글래스 기판(B)과 컬러 필터(C) 사이의 설정 공차가 큰 경우, 즉, 글래스 기판(B)과 세정 헤드(E) 사이의 위치 관계가 결정되는 컬러 필터(C)가 글래스 기판(B)으로부터 변위되는 실시예의 경우 컬러 필터(C)와 세정 헤드(E) 사이의 위치 관계가 완전하게 결정되는 것을 의미하지 않는다. 이처럼, 컬러 필터(C)에 가능한 근접하게 테두리부를 세정하는 것이 어렵다. 글래스 기판(B)에서 소정 폭을 갖는 테두리부를 세정하는 것이 가능하다. 그러나, 컬러 필터(C)의 일부가 테두리부에 변위되는 경우, 컬러 필터(C)는 세정 동작에서 손상된다.However, as shown in Fig. 1, the conventional cleaning apparatus is positioned between the substrate A and the cleaning head E by pressing three pins D mounted on the edge portion of the glass substrate B to the cleaning apparatus. Determine the relationship. However, when the set tolerance between the glass substrate B and the color filter C is large, that is, the color filter C in which the positional relationship between the glass substrate B and the cleaning head E is determined is the glass substrate ( The embodiment displaced from B) does not mean that the positional relationship between the color filter C and the cleaning head E is completely determined. As such, it is difficult to clean the edges as close to the color filter C as possible. It is possible to clean the edge portion having a predetermined width in the glass substrate B. FIG. However, when a part of the color filter C is displaced in the edge portion, the color filter C is damaged in the cleaning operation.

본 발명은 또한 전술한 문제점을 해결하기 위해 안출되었다. 본 발명의 두번째 목적은, (a) 컬러 필터(C)가 글래스 기판(B) 상의 올바른 설정 위치로부터 변위되는 경우에 글래스 기판(B)의 테두리부를 컬러 필터(C)에 가능한 근접하게 세정할 수 있는 기판 테두리부 세정 장치와, (b) 기판 테두리부 세정 방법을 제공하는 데에 있다. The present invention has also been made to solve the above-mentioned problems. The second object of the present invention is to (a) clean the edges of the glass substrate B as close to the color filter C as possible when the color filter C is displaced from the correct setting position on the glass substrate B. It is providing the board | substrate edge part washing | cleaning apparatus which exists, and (b) a board | substrate edge part washing method.

상기 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은, 직선적으로 이동하면서 디스플레이용 기판의 테두리부를 닦아냄으로써 세정하는 세정 헤드를 갖는 기판 테두리부 세정 장치로서, 세정 헤드와 함께 이동함으로써, 기판에 배치되는 컬러 필터의 테두리 부근의 이미지를 캡춰하는 카메라를 포함한다.In order to achieve the above object, the present invention is a substrate edge cleaning device having a cleaning head for cleaning by wiping the edge of the display substrate while moving in a linear manner, the apparatus comprising a color filter disposed on the substrate by moving with the cleaning head. It includes a camera that captures images near the edges.

본 발명의 제1 태양에서, 기판 테두리부 세정 장치에 있어서, 카메라는 세정된 기판 부분의 표면 상태 정보를 얻으며, 기판 테두리부 세정 장치는 또한 표면 상태 정보를 기초로 세정도를 판정하는 세정도 판정부를 포함하는 것이 바람직하다.In the first aspect of the present invention, in the substrate edge cleaning apparatus, the camera obtains surface state information of the cleaned substrate portion, and the substrate edge portion cleaning apparatus further determines the degree of cleaning based on the surface state information. It is preferable to include a part.

이는 표면 상태의 세정도를 판정하는 것을 가능하게 한다. 이처럼 닦음용 헝겊을 교환하는 시간을 파악하고 불충분한 세정을 검출함으로써 수율을 개선하는 것이 가능하다.This makes it possible to determine the degree of cleaning of the surface state. As such, it is possible to improve the yield by grasping the time to replace the wipe cloth and detecting insufficient cleaning.

또, 본 발명의 제2 태양에서, 기판 테두리부 세정 장치는, 카메라로부터 얻어진 표면 상태 정보를 기초로 기판에 배치된 컬러 필터의 테두리 위치를 검출하는 테두리 검출부와, 테두리 검출부에 의해 검출된 위치 정보를 기초로 컬러 필터의 테두리와 세정 헤드 사이의 위치 관계를 파악하는 기판 위치 파악부와, 기판 위치 파악부에 의해 파악된 위치 관계 정보를 기초로 기판 위치를 조정하는 기판유지부를 추가로 포함한다.Moreover, in the 2nd aspect of this invention, the board | substrate edge part washing | cleaning apparatus is an edge detection part which detects the edge position of the color filter arrange | positioned on a board | substrate based on the surface state information obtained from the camera, and the positional information detected by the edge detection part. And a substrate holding portion for grasping the positional relationship between the edge of the color filter and the cleaning head, and a substrate holding portion for adjusting the position of the substrate based on the positional relationship information grasped by the substrate positioning portion.

이는 컬러 필터의 테두리와 세정 헤드 사이의 위치 관계를 직접적으로 파악함으로써 기판 위치를 조정하도록 한다. 따라서, 기판을 세정하기 위해 컬러 필터(C)에 가능한 근접시키는 것이 가능하다.This allows the substrate position to be adjusted by directly grasping the positional relationship between the edge of the color filter and the cleaning head. Therefore, it is possible to get as close as possible to the color filter C to clean the substrate.

본 발명의 제3 태양에서, 기판 테두리부 세정 장치는, 세정 헤드의 세정방향으로 전후방에 배치된 카메라를 추가로 포함하고, 장치에서, 세정전 정보 기억부는 세정방향으로 전방에 배치된 카메라로부터 얻어진 표면 상태 정보를 기억하고, 세정후 정보 기억부는 세정방향으로 후방에 배치된 카메라로부터 얻어진 표면 상태 정보를 기억하고, 세정도 판정부는 세정 헤드의 세정 동작이 진행되는 동안 단계적으로 세정도를 판정한다.In a third aspect of the present invention, the substrate edge cleaning apparatus further includes a camera disposed forwards and backwards in the cleaning direction of the cleaning head, wherein the pre-cleaning information storage unit is obtained from the camera disposed forward in the cleaning direction. The surface state information is stored, the post-cleaning information storage section stores the surface state information obtained from the camera disposed rearward in the cleaning direction, and the cleaning degree determining section determines the cleaning degree step by step while the cleaning operation of the cleaning head is in progress.

이는 세정 동작 동안 기판 표면의 세정도를 단계적으로 검사하는 것이 가능하다. 따라서, 실시간으로 불충분한 세정의 발생을 파악하는 것이 가능하고, 하기 프로세스에 악영향 없이 불충분한 세정에 대처하는 것이 가능하다.This makes it possible to step-by-step the degree of cleaning of the substrate surface during the cleaning operation. Therefore, it is possible to grasp the occurrence of insufficient cleaning in real time, and to cope with insufficient cleaning without adversely affecting the following process.

또, 상기 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 디스플레이용 기판을 유지하는 기판유지부와, 직선적으로 이동하면서 기판의 테두리부를 닦아냄으로써 세정하는 세정 헤드와, 세정 헤드와 함께 이동하면서 기판에 배치되는 컬러 필터의 테두리 부근의 이미지를 캡춰하는 카메라를 구비하는 기판 테두리부 세정 장치에 적용되는 기판 테두리부 세정 방법으로서, 카메라는 세정된 기판 부분의 표면 상태 정보를 얻고, 기판 테두리부 세정 방법은 표면 상태 정보를 기초로 세정도를 판정하는 것을 추가로 포함한다.Moreover, in order to achieve the said objective, this invention provides the board | substrate holding part which hold | maintains a display board, the cleaning head which wash | cleans by wiping the edge of a board | substrate while moving linearly, and the color arrange | positioned to a board | substrate moving with a cleaning head, A substrate edge cleaning method applied to a substrate edge cleaning apparatus including a camera capturing an image near the edge of a filter, wherein the camera obtains surface state information of the cleaned substrate portion, and the substrate edge portion cleaning method includes surface state information. Determining the degree of cleaning on the basis of the;

이는 기판 위치의 조정 뿐만 아니라 기판 표면의 세정도를 판정하는 것이 가능하다. 닦음용 헝겊을 교환하는 시간을 파악하고 불충분한 세정을 검출함으로써 수율을 향상하는 것이 가능하다.This makes it possible to determine not only the adjustment of the substrate position but also the degree of cleaning of the substrate surface. It is possible to improve the yield by grasping the time to replace the wipe cloth and detecting insufficient cleaning.

또, 상기 목적을 달성하기 위해서, 본 발명의 기판 테두리부 세정 방법은, 디스플레이용 기판을 유지하는 기판유지부와, 상기 기판의 테두리부를 직선적으로 이동하면서 기판의 테두리부를 닦아냄으로써 세정하는 세정 헤드와, 세정 헤드와 함께 이동하면서 기판에 배치된 컬러 필터의 테두리 부근의 이미지를 캡춰하는 카메라를 구비하는 기판 테두리부 세정장치에 적용되는 기판 테두리부 세정 방법으로서, 카메라로부터 얻어진 표면 상태 정보를 기초로 기판 상에 배치된 컬러 필터의 테두리 위치를 검출하는 단계와, 위치 관계 정보를 기초로 컬러 필터의 테두리와 세정 헤드 사이의 위치 관계를 파악하는 단계와, 파악하는 단계에서 얻어진 위치 정보를 기초로 기판 위치를 조정하기 위해 기판유지부를 구동함으로써 기판 위치를 조정하는 단계를 포함한다.Moreover, in order to achieve the said objective, the board | substrate edge part cleaning method of this invention is the board | substrate holding part which hold | maintains a display substrate, the cleaning head which wash | cleans by wiping the edge part of a board | substrate, moving linearly the edge part of the said board | substrate; A substrate edge cleaning method applied to a substrate edge cleaning device including a camera for capturing an image near the edge of a color filter disposed on a substrate while moving with a cleaning head, the substrate edge cleaning method comprising: a substrate based on surface state information obtained from a camera; Detecting the position of the edge of the color filter disposed on the substrate; determining the positional relationship between the edge of the color filter and the cleaning head based on the positional relationship information; and positioning the substrate based on the positional information obtained in the determining step. Adjusting the substrate position by driving the substrate holding portion to adjust the It should.

이는 컬러 필터 테두리와 세정 헤드 사이의 위치 관계를 직접적으로 파악함으로써 기판 위치를 조정하는 것이 가능하다. 따라서, 컬러 필터(C)에 가능한 근접하게 LCD용 기판의 테두리부를 세정하는 것이 가능하다.This makes it possible to adjust the substrate position by directly grasping the positional relationship between the color filter edge and the cleaning head. Therefore, it is possible to clean the edges of the LCD substrate as close to the color filter C as possible.

본 발명은 카메라가 컬러 필터 테두리의 위치를 파악함으로써 컬러 필터에 가능한 근접하게 기판을 세정할 수 있다.The present invention allows the camera to clean the substrate as close to the color filter as possible by locating the color filter edges.

또, 세정도를 판정함으로써 각 기판에 불충분한 세정을 검출하는 것이 가능하다.In addition, it is possible to detect insufficient cleaning for each substrate by determining the degree of cleaning.

본원에 대한 기술적 배경에 관한 추가 정보Additional information regarding the technical background of the present application

명세서, 도면 및 특허청구범위를 포함하는 2004년 9월 3일자로 출원된 일본특허출원 제2004-257553의 개시 내용은 그 전체 내용이 본원에 참고로 내재하고 있다.The disclosure of Japanese Patent Application No. 2004-257553, filed September 3, 2004, including the specification, drawings, and claims, is hereby incorporated by reference in its entirety.

본 발명의 이들 다른 목적, 장점 및 특징은 본 발명의 특정 실시형태를 도시하는 첨부도면과 함께 이하 발명의 상세한 설명으로부터 명백하다.These and other objects, advantages and features of the present invention are apparent from the following detailed description, taken in conjunction with the accompanying drawings which illustrate certain embodiments of the invention.

도 1은 LCD용 종래 기판에 관한 위치 결정 상태를 도시하는 평면도이다.1 is a plan view showing a positioning state of a conventional substrate for LCD.

도 2는 본 발명의 실시형태에 관한 기판 테두리부 세정 장치를 부분 도시하는 사시도이다.It is a perspective view which shows a part of board | substrate edge part washing | cleaning apparatus which concerns on embodiment of this invention.

도 3은 기판 테두리부 세정 장치에 의해 실행된 세정에 기여하는 부분을 확대 도시하는 사시도이다.3 is an enlarged perspective view showing a part contributing to cleaning performed by the substrate edge cleaning device.

도 4는 세정 작업 동안 기판 테두리부 세정 장치를 제어하는 세정제어부를 도시하는 블록선도이다.4 is a block diagram showing a cleaning control unit that controls the substrate edge cleaning apparatus during the cleaning operation.

도 5는 기판 테두리부 세정 장치의 세정 동작을 도시하는 순서도이다.5 is a flowchart showing a cleaning operation of the substrate edge cleaning device.

도 6은 본 발명의 다른 실시형태에 관한 기판 테두리부 세정 장치의 작업을 도시하는 순서도이다.It is a flowchart which shows the operation | movement of the board | substrate edge part washing | cleaning apparatus which concerns on other embodiment of this invention.

도 7은 세정되는 LCD용 기판의 일부를 도시하는 평면도이다.7 is a plan view showing a part of the LCD substrate to be cleaned.

도 8은 LCD용 종래 기판이 소정 위치에 배치되는 상태를 도시하는 평면도이다.8 is a plan view showing a state where a conventional substrate for LCD is disposed at a predetermined position.

도 9는 기판 테두리부의 이미지 정보를 가시화하는 블록선도이다. 9 is a block diagram for visualizing image information of a substrate edge.

(제1 실시형태)(First embodiment)

다음에, 본 발명의 실시형태는 도면을 참조로 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Next, embodiment of this invention is described with reference to drawings.

도 2는 본 발명의 실시형태에 관한 기판 테두리부 세정 장치(100)를 도시하는 부분 사시도이다.2 is a partial perspective view showing the substrate edge cleaning device 100 according to the embodiment of the present invention.

도면에 도시한 바와 같이, 기판 테두리부 세정 장치(100)는 전자부품을 접속용 단자(F)를 장착하는 테두리부를 테이프 형상 헝겊으로 닦아냄으로써, 도 7에 도시한 LCD용 기판의 테두리부를 세정한다. 기판 테두리부 세정 장치는, 로더(101)와, 기판유지부(102)와, 백업(103)과, 세정 헤드(110)를 포함한다.As shown in the figure, the substrate edge cleaning apparatus 100 cleans the edge of the LCD substrate shown in Fig. 7 by wiping the edge for mounting the electronic component with the connection terminal F with a tape cloth. . The substrate edge cleaning device includes a loader 101, a substrate holding unit 102, a backup 103, and a cleaning head 110.

로더(101)는 LCD용 기판을 기판 테두리부 세정 장치(100)로 유지하는 것이다. 로더(101)는 LCD용 기판(A)을 기판 테두리부 세정 장치(100) 외부로부터 슬라이더(104)에 장착하고 슬라이더(104)를 미끄럼이동함으로써 기판유지부(102)로 기판을 통과할 수 있다.The loader 101 holds the LCD substrate as the substrate edge cleaning device 100. The loader 101 can pass the substrate to the substrate holding unit 102 by mounting the LCD substrate A on the slider 104 from the outside of the substrate edge cleaning device 100 and sliding the slider 104. .

기판유지부(102)는 지지된 기판(A)을 세정 위치에 유지하고, 기판(A)을 언로더(도시생략)로 통과하며, 기판(A)의 위치를 세정 위치에서 세정 헤드(110)에 조정할 수 있다. 기판유지부(102)는, 지지된 기판(A)을 수평방향으로 회전할 수 있는 기판유지수단을 이루는 패널 스테이지(121)와, 이 패널 스테이지(121)를 수평방향으로 이동할 수 있는 XY 테이블(122)을 포함한다.The substrate holding unit 102 maintains the supported substrate A at the cleaning position, passes the substrate A through an unloader (not shown), and moves the position of the substrate A to the cleaning head 110 at the cleaning position. Can be adjusted. The substrate holding part 102 includes a panel stage 121 that forms a substrate holding means capable of rotating the supported substrate A in the horizontal direction, and an XY table capable of moving the panel stage 121 in the horizontal direction ( 122).

백업(103)은 세정위치에 배치된 기판(A)의 전체 테두리부 아래로부터 유지하는 장치이다. 백업(103)에는 진공펌프에 접속된 가요성 아코디언 패드(105)가 등간격으로 종방향으로 설정된다. 이들 아코디언 패드(105)는 진공 흡착에 의해 백업(103)에 장착된 기판(A)을 흡인하고, 기판(A)의 테두리부를 백업(103)으로 당기며, 기판(A)의 테두리부를 백업(103)의 표면에 접착하는 역할을 수행한다. 이들 아코디언 패드(105)를 갖는 백업(103)은 세정 작업 동안 기판(A)을 유지하므로 기판(A)을 헝겊에 의해 닦어 내어 세정한다. 이처럼, 컬러 필터(C)에 순차적인 손상을 유발하는 컬러 필터(C)가 이동하는 것을 방지할 수 있다. 또, 기판의 테두리부를 불충분하게 세정되는 것을 방지할 수 있다.The backup 103 is an apparatus for holding from below the entire edge of the substrate A disposed at the cleaning position. In the backup 103, the flexible accordion pad 105 connected to the vacuum pump is set in the longitudinal direction at equal intervals. These accordion pads 105 suck the substrate A mounted on the backup 103 by vacuum suction, pull the edge of the substrate A to the backup 103, and back up the edge of the substrate A ( Adhesion to the surface of 103). The back-up 103 with these accordion pads 105 holds the substrate A during the cleaning operation so that the substrate A is wiped with a cloth to clean it. As such, the color filter C, which causes sequential damage to the color filter C, can be prevented from moving. In addition, insufficient cleaning of the edge portion of the substrate can be prevented.

또, 백업(103)은 또한 기판(A)의 테두리부를 백업(103)의 표면에 당김으로써, 즉, 아코디언 패드(105)를 이용하여 기판(A)의 테두리부를 흡인함으로써 서지(surge)를 교정할 수 있다. 기판(A)이 큰 경우, 기판(A)의 테두리부에서 이런 서지는 커진다. 이런 서지는 불충분한 세정의 원인이 될 수 있다. 이처럼, 세정 효율은 특히 상기 경우에서 백업(103)에 의해 개선될 수 있다.In addition, the backup 103 also corrects the surge by pulling the edge of the substrate A to the surface of the backup 103, that is, by sucking the edge of the substrate A using the accordion pad 105. can do. When the substrate A is large, this surge becomes large at the edge portion of the substrate A. Such surges can cause insufficient cleaning. As such, the cleaning efficiency can be improved in particular by the backup 103 in this case.

도 3은 기판 테두리부 세정 장치(100)에 의해 실행된 세정에 기여하는 부분을 확대 도시하는 사시도이다.3 is an enlarged perspective view showing a part contributing to cleaning performed by the substrate edge cleaning device 100.

도면에 도시한 바와 같이, 세정 헤드(110)는 기판 테두리부 세정 장치(100)의 본체에 소정의 직선 상을 이동하면서 기판의 테두리부를 닦아서 세정한다. 세정 헤드(110)는 백업(103)에 평행하게 배치된 레일(111) 상에 설정되므로 자유롭게 미끄럼이동할 수 있다. 이 세정 헤드(110)는, 닦음용 테이프형상 헝겊(114)을 공급하는 공급 릴(112)과, 테이프형상 헝겊(114)의 사용부를 권취하는 수집 릴(113)과, 공급 릴(112)로부터 공급된 테이프형상 헝겊(114)을 가압하는 가압 롤러(115)와, 테이프형상 헝겊(114)의 인장을 조정함으로써 헝겊(114)과 기판(A) 사이의 접촉을 선 접촉시키는 조정 롤러(116)를 포함한다. 또, 세정 헤드(110)는 기판의 배면을 세정하기 위해서 기판(A)의 배면에, 공급 릴(112)과, 수집 릴(113)과, 가압 롤러(115)와, 조정 롤러(116)로 이루어지는 동일한 세트의 롤러를 포함한다.As shown in the figure, the cleaning head 110 wipes and cleans the edges of the substrate while moving a predetermined straight line on the main body of the substrate edge cleaning device 100. Since the cleaning head 110 is set on the rail 111 disposed in parallel with the backup 103, the cleaning head 110 can slide freely. The cleaning head 110 is supplied from a supply reel 112 for supplying a wipe cloth 114 for wiping, a collection reel 113 for winding up the use portion of the tape cloth 114, and a supply reel 112. An adjusting roller 116 for linearly contacting the contact between the cloth 114 and the substrate A by adjusting the tension of the pressure roller 115 for pressing the supplied tape-shaped cloth 114 and the tension of the tape-shaped cloth 114. It includes. In addition, the cleaning head 110 includes a supply reel 112, a collection reel 113, a pressure roller 115, and an adjustment roller 116 on the rear surface of the substrate A in order to clean the rear surface of the substrate. The same set of rollers.

가압 롤러(115)는 기판(A)에 탈부착가능하다. 가압 롤러(115)가 기판(A)으로부터 분리되면서 지지될 때 헝겊(114)으로 기판(A)을 닦아내지 않고 세정 헤드(110)를 미끄럼이동할 수 있다.The pressure roller 115 is detachable from the substrate A. FIG. When the pressure roller 115 is supported while being separated from the substrate A, the cleaning head 110 may be slid without wiping the substrate A with the cloth 114.

또, 카메라(117)는 세정 헤드(110)의 세정방향으로 전후에 각각 배치되어 있다. 이들 카메라(117)는 기판(A)의 테두리부의 이미지를 캡춰하고, 즉 기판(A)에 배치된 컬러 필터(C)의 테두리 인접부를 캡춰한다. 이들 카메라(117)는 세정 헤드(110)와 함께 이동할 수 있고, 기판(A)의 표면에 장착된 컬러 필터(C)의 테두리를 파악하고 또한 글래스 기판(B)에 장착된 단자(F)를 포함하는 기판(A)의 테두리부를 파악한다.Moreover, the camera 117 is arrange | positioned before and after each in the washing | cleaning direction of the washing head 110. As shown in FIG. These cameras 117 capture an image of an edge portion of the substrate A, that is, capture an edge portion of the color filter C disposed on the substrate A. These cameras 117 can move together with the cleaning head 110, grasp the edges of the color filter C mounted on the surface of the substrate A, and also connect the terminal F mounted on the glass substrate B. The edge part of the containing board | substrate A is grasped | ascertained.

세정 헤드(110)는 세정 헤드(110)의 이동방향으로 나란히 배치된 두 개의 카메라(117)를 포함하는 것에 주목한다. 이들 두 개의 카메라(117) 중, 세정 헤드(110)의 이동방향으로 전방에 배치된 카메라(117)는 전방 카메라(118)로 기능하고 세정 헤드(110)의 이동방향으로 후방에 배치된 카메라(117)는 후방 카메라(119)로 기능한다. 즉, 카메라(117), 전방 카메라(118) 또는 후방 카메라(119)의 기능은 세정 헤드(110)의 이동방향에 의존한다. Note that the cleaning head 110 includes two cameras 117 arranged side by side in the moving direction of the cleaning head 110. Of these two cameras 117, the camera 117 disposed forward in the moving direction of the cleaning head 110 serves as the front camera 118 and is disposed rearward in the moving direction of the cleaning head 110 ( 117 functions as a rear camera 119. That is, the function of the camera 117, the front camera 118 or the rear camera 119 depends on the moving direction of the cleaning head 110.

도 4는 세정 작업 동안 기판 테두리부 세정 장치(100)를 제어하는 세정제어부(300)를 도시하는 블록선도이다.4 is a block diagram showing a cleaning control unit 300 that controls the substrate edge cleaning apparatus 100 during the cleaning operation.

도면에 도시한 세정제어부(300)는 세정 장치(100)의 기판 테두리부에 매설된 처리부이다. 세정제어부(300)는 세정 헤드(110)에 설치된 카메라(117)와, 기판(A) 의 위치를 세정 헤드(110)에 조정할 수 있는 기판유지부(102)와, 세정도의 정보와 같은 각종 종류의 정보를 표시할 수 있는 표시장치(301)에 접속되어 있다.The cleaning control unit 300 shown in the drawing is a processing unit embedded in the substrate edge of the cleaning apparatus 100. The cleaning control unit 300 includes a camera 117 installed in the cleaning head 110, a substrate holding unit 102 that can adjust the position of the substrate A to the cleaning head 110, and various kinds of information such as information on the degree of cleaning. It is connected to the display apparatus 301 which can display a kind of information.

또, 세정제어부(300)는, 세정전 정보기억부(302)와, 세정후 정보기억부(303)와, 기판 위치 파악부(304)와, 기판유지부 제어부(305)와, 세정도 판정부(306)를 포함한다.In addition, the cleaning control unit 300 includes a pre-cleaning information storage unit 302, a post-cleaning information storage unit 303, a substrate positioning unit 304, a substrate holding unit control unit 305, and a cleaning degree plate. A government 306.

표시장치(301)는, 예컨대, 세정도 판정부(306)에 의해 이루어진 판정을 표시할 수 있는 액정 모니터이다.The display device 301 is, for example, a liquid crystal monitor capable of displaying a determination made by the washing degree determining unit 306.

세정전 정보 기억부(302)는 기판(A)의 테두리부에서 세정 이전 표면의 이미지 정보를 기억하고, 이 이미지는 전방 카메라(118)에 의해 캡춰된다.The pre-cleaning information storage unit 302 stores image information of the surface before cleaning at the edge of the substrate A, and this image is captured by the front camera 118.

유사하게, 세정후 정보 기억부(303)는 기판(A)의 테두리부에서 세정 이후 표면의 이미지 정보를 기억하고, 이 이미지는 후방 카메라(119)에 의해 캡춰된다.Similarly, the post-cleaning information storage unit 303 stores image information of the post-cleaning surface at the edge portion of the substrate A, and this image is captured by the rear camera 119.

기판 위치 파악부(304)는 전방 카메라(118)로부터의 위치 정보와, 전방 카메라(118)에 의해 캡춰된 컬러 필터(C)의 테두리의 이미지 정보를 분석함으로써 얻어진 컬러 필터(C)의 테두리의 위치 정보를 파악한다. 기판 위치 파악부(304)는 컬러 필터(C)의 두 코너를 연결하는 테두리 선을 파악할 수 있고 세정 헤드(110)의 이동 궤적의 선과 선 사이의 위치 관계를 파악할 수 있다. 즉, 기판 위치 파악부(304)는 (a) 컬러 필터(C)의 두 코너를 연결하는 테두리 선이 세정 헤드(110)의 이동 궤도의 선에 평행한지 여부와, (b) 이들 선이 서로 평행하지 않은 경우 이들 두 선에 의해 형성된 각도를 파악할 수 있다. 또, 기판 위치 파악부(304)는 세정 헤드(110)의 테두리부와 컬러 필터(C)의 두 코너를 연결하는 테두리 선 사이의 거리 를 파악한다.The substrate positioning unit 304 analyzes the position information from the front camera 118 and the image information of the edge of the color filter C captured by the front camera 118. Identify location information. The substrate positioning unit 304 may determine an edge line connecting two corners of the color filter C, and may determine a positional relationship between the line and the line of the movement trajectory of the cleaning head 110. That is, the substrate positioning unit 304 determines whether (a) an edge line connecting two corners of the color filter C is parallel to a line of the moving trajectory of the cleaning head 110, and (b) these lines are mutually different. If they are not parallel, the angle formed by these two lines can be determined. In addition, the substrate positioning unit 304 grasps the distance between the edge of the cleaning head 110 and the edge connecting the two corners of the color filter C.

기판유지부 제어부(305)는, 세정 헤드(110)와 컬러 필터(C) 사이의 위치 관계가 기판 위치 파악부(304)에 의해 파악된 기판 위치 정보를 기초로 소정의 범위에 해당하도록 기판유지부(102)를 제어한다. 보다 상세하게는, 본 실시형태에서, 기판유지부 제어부(305)는 세정 헤드(110)의 이동 궤도의 테두리 선이 컬러 필터(C)의 두 코너를 연결하는 테두리 선에 평행하게 되는 방식으로 기판(A)을 유지하는 패널 스테이지(121)를 구동한다. 그 후, 도 8에 도시한 바와 같이, 기판유지부 제어부(305)는 닦음용 테이프형상 헝겊의 단부와 컬러 필터(C)의 단부 사이의 거리(t)가 0.3 mm가 되도록 XY 테이블(122)을 구동한다. The substrate holding part control part 305 holds a board | substrate so that the positional relationship between the washing | cleaning head 110 and the color filter C may correspond to a predetermined range based on the board | substrate position information grasped | ascertained by the board position grasping part 304. The unit 102 is controlled. More specifically, in the present embodiment, the substrate holding part control unit 305 is a substrate in such a manner that the border line of the moving track of the cleaning head 110 is parallel to the border line connecting two corners of the color filter C. The panel stage 121 holding (A) is driven. Then, as shown in FIG. 8, the board | substrate holding part control part 305 uses the XY table 122 so that the distance t between the edge part of the wiping tape-shaped cloth and the edge part of the color filter C may be 0.3 mm. To drive.

세정도 판정부(306)는 이미지 정보를 분석함으로써 세정도를 판정한다. 세정도 판정부(306)는, 세정전 정보기억부(302)에 기억된 세정전 정보와 세정후 정보기억부(303)에 기억된 세정후 정보를 기초로, 기판(A)의 테두리부의 세정 전후의 표면 상태를 기초로 세정전 미립자의 점유율과 세정후 미립자의 점유율을 계산한 후, 이미지 정보를 기초로 먼지와 같은 미립자의 점유율을 비교한다. 미립자의 점유율이 소정치 이하로 감소하지 않았다고 판정한 경우, 세정도 판정부(306)는 표시장치(301)에 경고를 표시한다.The cleaning degree determining unit 306 determines the cleaning degree by analyzing the image information. The cleaning degree determining unit 306 cleans the edges of the substrate A based on the pre-cleaning information stored in the pre-cleaning information storage unit 302 and the post-cleaning information stored in the post-cleaning information storage unit 303. After calculating the occupancy of the fine particles before washing and the occupancy of the fine particles after washing on the basis of the surface state before and after, the occupancy ratio of fine particles such as dust is compared based on the image information. When it is determined that the occupancy rate of the fine particles has not decreased below the predetermined value, the cleaning degree determining unit 306 displays a warning on the display device 301.

미립자의 점유율을 계산하는 구체적인 실시예를 이하에 설명한다.Specific examples for calculating the occupancy rate of the fine particles will be described below.

세정후 정보 기억부(303)에 기억되는 표면 상태의 이미지 정보는 도 9에 가시화된다. 도 9는 기판(A)의 테두리부인 세정 영역(601) 상의 미립자(602)를 파악시키는 이미지 정보를 제공한다. 그 후, 세정도 판정부(306)는 이 이미지 정보를 기초로 가시 분야(603)를 특정하고 이 가시 분야(603)의 세정도를 판정한다. 즉, 세정도 판정부(306)는 가시 분야(603)에서 세정 영역(601)과 미립자(602)의 이진화 과정(binarize process)을 실행하고, 이진화 이미지 정보에 따라 기판(A)의 표면 상의 미립자(602)를 추출함으로써 미립자(602)의 총 영역 크기를 계산한다. The image information of the surface state stored in the post-cleaning information storage unit 303 is visualized in FIG. 9. 9 provides image information for identifying the fine particles 602 on the cleaning area 601, which is an edge of the substrate A. FIG. Thereafter, the cleaning degree determining unit 306 specifies the visible field 603 based on this image information, and determines the cleaning degree of the visible field 603. That is, the cleaning degree determining unit 306 executes a binarize process of the cleaning region 601 and the fine particles 602 in the visible field 603, and fine particles on the surface of the substrate A according to the binarization image information. The total area size of the particulates 602 is calculated by extracting 602.

유사하게, 미립자(602)의 총 영역 크기는 세정전 정보기억부(302)에 기억된 표면 상태의 이미지 정보를 기초로 계산된다. Similarly, the total area size of the fine particles 602 is calculated based on the image information of the surface state stored in the pre-clean information storage unit 302.

그 후, 세정후 미립자(602)의 계산된 총 영역 크기가 예컨대 세정 이전 미립자의 총 영역 크기의 50 퍼센트 이하까지 감소하지 않은 경우, 경고가 표시된다.Thereafter, a warning is displayed if the calculated total area size of the particulates 602 after cleaning does not decrease to 50 percent or less of the total area size of the particulates before cleaning, for example.

또, 세정후 미립자(602)의 최대 크기가 예컨대 적어도 10 내지 20 미크론 또는 기판 상의 리드 와이어 사이의 간격보다 작은 경우, 경고가 표시될 수 있다.In addition, a warning may be displayed if the maximum size of the microparticles 602 after cleaning is, for example, at least 10-20 microns or less than the spacing between the lead wires on the substrate.

이어서, 기판 테두리부 세정 장치(100)의 동작은 도면을 참조로 설명한다.Next, the operation of the substrate edge cleaning apparatus 100 will be described with reference to the drawings.

도 5는 기판 테두리부 세정 장치(100)의 세정 동작을 도시하는 순서도이다.5 is a flowchart showing a cleaning operation of the substrate edge cleaning device 100.

기판 테두리부 세정 장치(100)는, 로더(101)를 이용하여, LCD 기판 상에 전자부품을 장착하는 과정에서 상류로부터 유지된 기판(A)을 수납한다. 그 후, 로더(101)는 수납된 위치로 이동한 기판유지부(102)의 패널 스테이지(121) 상에 기판(A)을 장착한다. 기판(A)을 수납한 후, 기판유지부(102)는 기판(A)이 세정되는 위치까지 기판(A)을 반입한다(단계 401).The board | substrate edge part washing | cleaning apparatus 100 accommodates the board | substrate A hold | maintained from upstream in the process of mounting an electronic component on an LCD board | substrate using the loader 101. FIG. Thereafter, the loader 101 mounts the substrate A on the panel stage 121 of the substrate holding unit 102 moved to the stored position. After storing the board | substrate A, the board | substrate holding part 102 carries in the board | substrate A to the position where the board | substrate A is wash | cleaned (step 401).

이어서, 기판(A)의 테두리부는 백업(103)에 장착되고, 백업(103)은 아코디언 패드(105)를 이용하여 기판(A)의 테두리부 인접부를 진공 흡착한다. 이와 같이, 기판(A)은 기판(A)의 테두리부에서 서지를 교정하면서 지속적으로 유지된다(단계 402). Subsequently, the edge portion of the substrate A is mounted on the backup 103, and the backup 103 vacuum-adsorbs the edge portion adjacent to the substrate A using the accordion pad 105. In this manner, the substrate A is continuously maintained while correcting the surge at the edge of the substrate A (step 402).

이어서, 기판 테두리부 세정 장치(100)는 세정 헤드(110)의 가압 롤러(115)가 기판(A)에서 분리된 상태에서, 즉 테이프형상 헝겊(114)이 기판(A)을 닦아내지 않는 상태에서 전방 카메라(118)를 이용하여 기판(A)에 장착된 컬러 필터(C)의 코너(G1)를 파악한다. 그 후, 기판 위치 파악부(304)는 이미지 정보를 분석하고 코너(G1)의 절대 위치를 파악한다(기판 테두리부 세정 장치(100)의 본체에 대한 위치)(단계 403). Subsequently, the substrate edge cleaning apparatus 100 is a state in which the pressure roller 115 of the cleaning head 110 is separated from the substrate A, that is, the tape-shaped cloth 114 does not wipe the substrate A. Uses the front camera 118 to determine the corner G1 of the color filter C mounted on the substrate A. FIG. Subsequently, the substrate positioning unit 304 analyzes the image information and grasps the absolute position of the corner G1 (position to the main body of the substrate edge cleaning apparatus 100) (step 403).

이어서, 기판 테두리부 세정 장치(100)는 테이프형상 헝겊(114)이 상기 경우와 같이 기판(A)을 닦아내지 않는 상태에서, 세정 헤드(110)를 미끄럼이동하면서, 전방 카메라(118)를 이용하여 기판(A)의 테두리부의 표면 상태를 파악한 후, 세정전 정보기억부(302)에 세정 이전 표면 상태를 기억시킨다(단계 404)  Subsequently, the substrate edge cleaning apparatus 100 uses the front camera 118 while sliding the cleaning head 110 while the tape-shaped cloth 114 does not wipe the substrate A as in the case described above. After grasping the surface state of the edge portion of the substrate A, the pre-cleaning information storage unit 302 stores the surface state before cleaning (step 404).

이어서, 기판(A)의 코너(G2)에 도달할 때, 전방 카메라(118)는 컬러 필터(C)의 코너(G2)를 파악한다. 그 후, 상술한 경우와 같이, 기판 위치 파악부(304)는 이미지 정보를 분석하고 코너(G2)의 절대 위치를 파악한다(기판 테두리부 세정 장치(100)의 본체에 대한 위치)(단계 405).Subsequently, when reaching the corner G2 of the substrate A, the front camera 118 grasps the corner G2 of the color filter C. As shown in FIG. Thereafter, as in the case described above, the substrate positioning unit 304 analyzes the image information and grasps the absolute position of the corner G2 (position to the main body of the substrate edge cleaning apparatus 100) (step 405 ).

이어서, 기판 위치 파악부(304)는 (a) 두 코너(G1)(G2) 사이를 서로 연결함으로써 얻어지고 컬러 필터의 테두리를 지시하는 테두리 선과, (b) 세정 헤드(110)(직선)의 이동 궤적 사이의 관계를 계산한다. 기판(A)의 위치를 조정하기 위해서, 기판 테두리부 세정 장치(100)는 백업(103)에 의한 흡인 지지를 해제시키고(단계 420), 그 후 계산된 관계를 기초로 양 직선이 서로 평행하도록 기판 유지 제 어부(305)는 패널 스테이지(121)를 구동한다. 그 후, 도 8에 도시한 바와 같이, 테이프 형상 헝겊(114)의 테두리와 컬러 필터(C)의 테두리 사이의 거리(t)가 0.3 mm가 되도록 기판유지부 제어부(305)는 XY 테이블(122)를 구동하고, 세정 헤드(110)와 기판(A) 사이의 위치 관계를 조정한다(단계 406).Subsequently, the substrate positioning unit 304 is (a) an edge line obtained by connecting the two corners G1 and G2 to each other and indicating the edge of the color filter, and (b) the cleaning head 110 (straight line) of the Calculate the relationship between the moving trajectories. In order to adjust the position of the substrate A, the substrate edge cleaning apparatus 100 releases the suction support by the backup 103 (step 420), and then the two straight lines are parallel to each other based on the calculated relationship. The substrate holding control unit 305 drives the panel stage 121. Then, as shown in FIG. 8, the board | substrate holding part control part 305 is XY table 122 so that the distance t between the edge of the tape-shaped cloth 114 and the edge of the color filter C may be 0.3 mm. ) And adjust the positional relationship between the cleaning head 110 and the substrate A (step 406).

조정이 완료될 때, 기판 테두리부 세정 장치(100)는 백업(103)에 의해 기판을 다시 흡입 지지하고(단계 421), 테이프 형상 헝겊(114)이 기판(A)의 닦여지는 영역에 접촉하기 위해서 세정 헤드(110)의 가압 롤러(115)를 기판(A)에 근접시키고, 세정 헤드(110)를 미끄럼이동시킴으로써 기판(A)의 테두리부를 세정한다(단계 407).When the adjustment is completed, the substrate edge cleaning apparatus 100 suction-supports the substrate again by the backup 103 (step 421), and the tape-shaped cloth 114 contacts the wiped area of the substrate A. In order to close the pressure roller 115 of the cleaning head 110 to the substrate A, the edge of the substrate A is cleaned by sliding the cleaning head 110 (step 407).

또, 기판 테두리부 세정 장치(100)는 세정방향으로 후방에 장착된 후방 카메라(119)를 이용하여 세정 이후 기판(A)의 표면 상태를 파악하며, 세정후 정보기억부(303)가 세정 이후 표면 상태를 기록하도록 한다(단계 408).In addition, the substrate edge cleaning apparatus 100 grasps the surface state of the substrate A after cleaning by using the rear camera 119 mounted to the rear in the cleaning direction, and the information storage unit 303 after cleaning Record the surface condition (step 408).

기판(A) 일면의 세정작업이 완료된 후, 세정도 판정부(306)는 세정전 정보기억부(302)에 기억된 기판의 테두리부의 표면의 이미지 정보를 분석함으로써 먼지와 같은 미립자의 점유율을 계산한다. 유사하게, 세정도 판정부(306)는 초기에 얻어진 결과와 비교하기 위해서 세정후 정보기억부(303)에 기억된 기판의 테두리부의 동일 영역의 이미지 정보로부터 얻어진 미립자의 점유율을 계산한다. 미립자의 점유율이 임계치 이하로 감소하지 않는다고 판정하는 경우, 즉 세정도가 양호하지 않다고 판정한 경우(단계 409: N), 세정도 판정부(306)는 표시장치(301)에 경고를 표시한다(단계 410).After the cleaning operation on one surface of the substrate A is completed, the cleaning degree determining unit 306 calculates the occupancy rate of the fine particles such as dust by analyzing the image information of the surface of the edge of the substrate stored in the information storage unit 302 before cleaning. do. Similarly, the cleaning degree determining unit 306 calculates the occupancy rate of the fine particles obtained from the image information of the same area of the edge portion of the substrate stored in the post-cleaning information storage unit 303 in order to compare with the result obtained initially. When it is determined that the occupancy rate of the fine particles does not decrease below the threshold, that is, when it is determined that the cleaning degree is not good (step 409: N), the cleaning degree determining unit 306 displays a warning on the display device 301 ( Step 410).

한편, 세정도가 양호하다고 세정도 판정부(306)에서 판정된 경우(단계 409: Y), 기판(A)의 일면의 세정작업은 종료된 것으로 간주한다. 그 후, 기판(A)의 다른 면을 세정하기 위해서 기판(A)은 90도로 회전된 후, 다음 기판이 반입된다. On the other hand, when the cleaning degree determining unit 306 determines that the cleaning degree is good (step 409: Y), the cleaning operation on one surface of the substrate A is considered to be finished. Thereafter, the substrate A is rotated 90 degrees to clean the other side of the substrate A, and then the next substrate is loaded.

지금까지 기술한 바와 같이, 본 실시형태에 관한 기판 테두리부 세정 장치(100)는 컬러 필터의 테두리와 세정 헤드(110) 사이의 위치 관계를 카메라(117)를 이용하여 정확하게 파악한 후 기판(A)의 위치를 조정할 수 있다. 따라서, 기판 테두리부 세정 장치(100)는 기판(A)과 컬러 필터(C)의 설정 공차에 관계 없이 정확하게 컬러 필터(C)의 테두리 바로 이전까지 테이프형상 헝겊(114)을 배치할 수 있으므로, 세정 헤드(110)와 컬러 필터(C) 사이의 거리를 유지하면서 닦음 동작을 실행할 수 있다.As described so far, the substrate edge cleaning apparatus 100 according to the present embodiment accurately grasps the positional relationship between the edge of the color filter and the cleaning head 110 using the camera 117, and then the substrate A You can adjust the position of. Therefore, since the substrate edge cleaning apparatus 100 can arrange the tape-shaped cloth 114 until immediately before the edge of the color filter C, regardless of the setting tolerances of the substrate A and the color filter C, The wiping operation may be performed while maintaining the distance between the cleaning head 110 and the color filter C.

또, 위치 파악용 카메라가 세정도 판정용 카메라로서 사용된다. 이는 빈번하게 이동하는 세정 헤드(110)에 부착된 부품 수를 감소시킬 수 있기 때문에 기판 테두리부 세정 장치의 비용을 저하시킬 수 있다. 또, 세정 과정을 단순화함으로써 세정을 위한 지연 시간(tact time)을 감소시킬 수 있다.In addition, a positioning camera is used as a washing degree determination camera. This can reduce the cost of the substrate edge cleaning apparatus because the number of parts attached to the frequently moving cleaning head 110 can be reduced. In addition, by simplifying the cleaning process, it is possible to reduce the tact time for cleaning.

본 실시형태는 세정 이전 표면 상태와 세정 이후 표면 상태를 비교함으로써 세정도를 판정하는 경우를 기술하지만, 본 발명에 따른 세정도의 판정은 전술한 방법에 제한되지 않는다.Although this embodiment describes the case where the degree of cleaning is determined by comparing the surface state before cleaning with the surface state after cleaning, the determination of the cleaning degree according to the present invention is not limited to the above-described method.

예컨대, 세정도는 하기 방법으로 판정될 수 있다. 세정후 기판(A)의 표면 상태가 파악되고, 미립자의 이미지가 그 표면 이미지로부터 추출되고, 미립자의 크기 또는 미립자의 점유율이 계산된 후, 세정도는 계산된 값을 기초로 판정된다.For example, the degree of cleaning can be determined by the following method. After cleaning, the surface state of the substrate A is grasped, an image of the fine particles is extracted from the surface image, and after the size of the fine particles or the occupancy rate of the fine particles is calculated, the degree of cleaning is determined based on the calculated values.

이 방법은 세정도가 절대 기준을 기초로 평가되는 경우에 적합하다.This method is suitable when the degree of cleanliness is evaluated based on absolute criteria.

(제2 실시형태)(2nd embodiment)

이어서, 본 발명의 다른 실시형태는 도면을 참조로 이하에 설명한다. 본 실시형태의 장치의 구조는 이전 실시형태와 동일하므로 그 설명은 여기서 생략한다.Next, another embodiment of this invention is described below with reference to drawings. Since the structure of the apparatus of this embodiment is the same as the previous embodiment, the description is omitted here.

도 6은 본 실시형태의 기판 테두리부 세정 장치(100)의 동작을 도시하는 순서도이다.6 is a flowchart showing the operation of the substrate edge cleaning device 100 of the present embodiment.

기판(A)의 반입 동작(단계 401)은 이전 실시형태와 동일하다.The loading operation (step 401) of the substrate A is the same as in the previous embodiment.

이어서, 기판 테두리부 세정 장치는 세정 헤드(110)의 세정 방향으로 전방에 장착된 전방 카메라(118)를 이용하여 세정 작업이 시작되는 기판(A)의 코너(도 7의 G1, G2)인 영역을 파악한다(단계 501).Subsequently, the substrate edge cleaning apparatus is an area that is a corner (G1, G2 in FIG. 7) of the substrate A at which the cleaning operation starts using the front camera 118 mounted forward in the cleaning direction of the cleaning head 110. (Step 501).

또, 기판(A)의 세정 이전 표면의 이미지는 전방 카메라(118)에 의해 캡춰되고 생성되는 이미지 정보가 세정전 정보기억부(302)에 기억된다(단계 502).In addition, the image of the surface before cleaning of the substrate A is captured by the front camera 118 and the image information generated is stored in the pre-cleaning information storage unit 302 (step 502).

코너(G)가 전방 카메라(118)에 의해 파악된 후, 기판 위치 파악부(304)는 이미지 정보를 분석함으로써 컬러 필터(C)의 테두리와 세정 헤드(110) 사이의 거리를 파악한다. 컬러 필터(C)의 테두리와 세정 헤드(110) 사이의 거리가 소정 거리 범위 내에 해당하지 않는 경우(단계 503: N), 기판 위치 파악부(304)는 기판유지부 제어부(305)를 이용하여 기판유지부(102)를 제어하므로 소정 거리 범위 내에 해당하는 값으로 거리를 조정한다(단계 504).After the corner G is grasped by the front camera 118, the substrate positioning unit 304 grasps the distance between the edge of the color filter C and the cleaning head 110 by analyzing the image information. If the distance between the edge of the color filter C and the cleaning head 110 does not fall within a predetermined distance range (step 503: N), the substrate positioning unit 304 may use the substrate holding unit control unit 305. Since the substrate holding unit 102 is controlled, the distance is adjusted to a value within a predetermined distance range (step 504).

이어서, 기판(A)의 테두리부는 세정 헤드(110)를 세정 방향으로 전진함으로 써 닦아 낸다(단계 505).Subsequently, the edge of the substrate A is wiped by advancing the cleaning head 110 in the cleaning direction (step 505).

이어서, 기판(A)의 세정된 영역은, 세정 헤드(110)의 세정방향으로 후방에 장착된 후방 카메라(119)에 의해 파악된다(단계 506). 그 후 기판(A)의 세정된 영역의 이미지 정보가 세정후 정보기억부(303)에 기억된다(단계 507).Subsequently, the cleaned region of the substrate A is captured by the rear camera 119 mounted rearward in the cleaning direction of the cleaning head 110 (step 506). Thereafter, the image information of the cleaned region of the substrate A is stored in the post-cleaning information storage unit 303 (step 507).

이어서, 세정도 판정부(306)는 표면의 세정 이전 부분과 세정 이후 부분의 이미지 정보를 분석하고, 각각의 부분의 미립자의 점유율을 계산한 후, 양 점유율을 비교한다. 세정도가 양호하지 않다고 세정도 판정부(306)에서 판정하는 경우(단계 508: N), 표시장치(301)에 그 사실을 표시하고(단계 509) 세정을 종료한다.Subsequently, the cleaning degree determining unit 306 analyzes the image information of the pre-washing part and the post-cleaning part of the surface, calculates the occupancy rate of the fine particles of each part, and then compares both occupancy rates. When the cleaning degree determining unit 306 determines that the cleaning degree is not good (step 508: N), the fact is displayed on the display device 301 (step 509), and the cleaning is finished.

한편, 세정도가 양호하다고 세정도 판정부(306)에서 판정하는 경우(단계 508: Y), 전방 카메라(118)에 의한 파악(단계 501)으로부터 세정도의 판정(단계 508)까지를 반복함으로써 세정 작업을 계속한다.On the other hand, when the cleaning degree determination unit 306 determines that the cleaning degree is good (step 508: Y), the process is repeated from the grasp by the front camera 118 (step 501) to the determination of the cleaning degree (step 508). Continue cleaning.

세정 헤드(110)가 세정 종료 위치에 도달할 때(단계 510: Y), 세정 작업을 종료한다.When the cleaning head 110 reaches the cleaning end position (step 510: Y), the cleaning operation ends.

지금까지 기술한 바와 같이, 기판 테두리부 세정 장치(100)는 세정 헤드(110)의 위치와 닦음 동작을 진행함에 따라 기판(A)을 단계적으로 조정할 수 있다. 이는 기판(A)의 위치를 사전에 파악하는 작업을 제거할 수 있으므로, 세정 작업에 대한 지연 시간을 향상할 수 있다. 또, 카메라가 세정방향으로 전후방에 배치되기 때문에, 세정 작업을 진행함에 따라 세정도를 판정할 수 있다. 세정 작업 동안에도 불충분한 세정을 조기에 검출할 수 있으므로, 작업의 낭비를 제거할 수 있다.As described so far, the substrate edge cleaning apparatus 100 can adjust the substrate A in stages as the cleaning head 110 is positioned and wiped. This can eliminate the job of grasping the position of the substrate A in advance, thereby improving the delay time for the cleaning operation. Moreover, since a camera is arrange | positioned back and front in a washing | cleaning direction, a washing degree can be determined as a washing | cleaning operation advances. Inadequate cleaning can be detected early during the cleaning operation, thus eliminating the waste of the operation.

본 발명의 일부 예시적 실시형태가 지금까지 상세히 기술하였지만, 본 발명 의 신규한 개시와 장점을 벗어나지 않고 예시적 실시형태에 다양한 변형이 가능하다는 것을 당분야 당업자는 용이하게 파악할 것이다. 따라서, 모든 변형은 본 발명의 범위에 포함한다.While some exemplary embodiments of the invention have been described in detail above, those skilled in the art will readily appreciate that various modifications may be made to the exemplary embodiments without departing from the novel disclosure and advantages of the invention. Accordingly, all modifications are included within the scope of the present invention.

본 발명은 LCD용 기판의 테두리부를 세정하는 세정 장치, 특히 LCD용 기판에 매설될 수 있는 전자부품 장착 과정에서 하나의 라인으로서 세정 장치 등에 적용될 수 있다.The present invention can be applied to a cleaning apparatus for cleaning an edge of an LCD substrate, in particular, a cleaning apparatus or the like as one line in an electronic component mounting process that may be embedded in an LCD substrate.

Claims (13)

직선적으로 이동하면서 디스플레이용 기판의 테두리부를 닦아냄으로써 세정하는 세정 헤드를 구비한 기판 테두리부 세정 장치로서, A substrate edge cleaning device having a cleaning head for cleaning by wiping the edges of a display substrate while moving linearly, 상기 세정 헤드와 함께 이동함으로써, 기판에 배치되는 컬러 필터의 테두리 부근의 이미지를 캡춰하는 카메라를 포함하는 기판 테두리부 세정 장치.And a camera for capturing an image near the edge of the color filter disposed on the substrate by moving with the cleaning head. 청구항 1에 있어서, The method according to claim 1, 상기 카메라는 세정된 기판 부분의 표면 상태 정보를 얻고,The camera obtains surface state information of the cleaned substrate portion, 상기 기판 테두리부 세정 장치는, 또한 표면 상태 정보를 기초로 세정도(cleaning degree)를 판정하도록 동작가능한 세정도 판정부를 포함하는 기판 테두리부 세정 장치.And the substrate edge cleaning apparatus further comprises a cleaning degree determination portion operable to determine a cleaning degree based on surface state information. 청구항 2에 있어서, The method according to claim 2, 상기 카메라는 세정되는 기판 부분의 표면 상태 정보를 얻고,The camera obtains surface state information of the portion of the substrate being cleaned, 상기 기판 테두리부 세정 장치는, 또한 상기 카메라로부터 얻어진 세정 이전 표면 상태 정보를 기억하도록 동작가능한 세정전 정보 기억부와,The substrate edge cleaning device further includes a pre-clean information storage unit operable to store pre-clean surface state information obtained from the camera; 상기 카메라로부터 얻어진 세정 이후 표면 상태 정보를 기억하도록 동작가능한 세정후 정보 기억부를 포함하며,A post-cleaning information storage section operable to store post-cleaning surface state information obtained from said camera, 상기 세정도 판정부는 세정전 정보와 세정후 정보를 비교함으로써 세정도를 판정하도록 동작가능한 기판 테두리부 세정 장치.And the cleaning degree determining unit is operable to determine the cleaning degree by comparing the pre-cleaning information and the post-cleaning information. 청구항 3에 있어서,The method according to claim 3, 상기 세정 헤드의 세정방향으로 전후방에 배치된 카메라를 추가로 포함하고,Further comprising a camera disposed in front and rear in the cleaning direction of the cleaning head, 상기 세정전 정보 기억부는 세정방향으로 전방에 배치된 상기 카메라로부터 얻어진 표면 상태 정보를 기억하도록 동작가능하고,The pre-clean information storage section is operable to store surface state information obtained from the camera disposed forward in the cleaning direction, 상기 세정후 정보 기억부는 세정방향으로 후방에 배치된 상기 카메라로부터 얻어진 표면 상태 정보를 기억하도록 동작가능하고,The post-cleaning information storage section is operable to store surface state information obtained from the camera disposed rearward in the cleaning direction, 상기 세정도 판정부는 상기 세정 헤드의 세정 동작이 진행되는 동안 단계적으로 세정도를 판정하도록 동작가능한 기판 테두리부 세정 장치. And the cleaning degree determining unit is operable to determine the cleaning degree step by step while a cleaning operation of the cleaning head is in progress. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 카메라로부터 얻어진 표면 상태 정보를 기초로 기판에 배치된 컬러 필터의 테두리 위치를 검출하도록 동작가능한 테두리 검출부와,An edge detector operable to detect an edge position of a color filter disposed on a substrate based on surface state information obtained from the camera; 상기 테두리 검출부에 의해 검출된 위치 정보를 기초로 컬러 필터의 테두리와 상기 세정 헤드 사이의 위치 관계를 파악하도록 동작가능한 기판 위치 파악부와,A substrate positioning unit operable to determine a positional relationship between the edge of the color filter and the cleaning head based on the positional information detected by the edge detecting unit; 상기 기판 위치 파악부에 의해 파악된 위치 관계 정보를 기초로 기판 위치를 조정하도록 동작가능한 기판유지부를 추가로 포함하는 기판 테두리부 세정 장치.And a substrate holding portion operable to adjust the substrate position based on the positional relationship information grasped by the substrate positioning portion. 청구항 5에 있어서,The method according to claim 5, 상기 기판 위치 파악부는 상기 테두리 검출부에 의해 얻어진 컬러 필터의 두 코너의 위치 정보로부터 컬러 필터의 전체 테두리의 위치 정보를 유도하도록 동작가능하고,The substrate positioning unit is operable to derive position information of the entire edge of the color filter from position information of two corners of the color filter obtained by the edge detecting unit, 상기 기판유지부는 (a) 컬러 필터의 전체 테두리의 위치 정보와, (b) 컬러 필터의 테두리와 상기 세정 헤드 사이의 위치 관계를 기초로 기판 위치를 조정하도록 동작가능한 기판 테두리부 세정 장치.And the substrate holding portion is operable to adjust the substrate position based on (a) the positional information of the entire edge of the color filter and (b) the positional relationship between the edge of the color filter and the cleaning head. 청구항 5에 있어서,The method according to claim 5, 상기 기판 위치 파악부는, 세정 동작을 진행하면서 컬러 필터의 테두리와 세정 헤드 사이의 위치 관계를 단계적으로 파악하도록 동작가능하며,The substrate positioning unit is operable to grasp the positional relationship between the edge of the color filter and the cleaning head in a step while performing the cleaning operation, 상기 기판유지부는, 상기 기판 위치 파악부에 의해 파악된 위치 관계 정보를 기초로 세정 동작을 진행하는 동안 기판 위치를 단계적으로 조정하도록 동작가능한 기판 테두리부 세정 장치. And the substrate holding unit is operable to adjust the substrate position step by step during the cleaning operation based on the positional relationship information identified by the substrate positioning unit. 디스플레이용 기판을 유지하는 기판유지부와, 직선적으로 이동하면서 기판의 테두리부를 닦아냄으로써 세정하는 세정 헤드와, 세정 헤드와 함께 이동하면서 기판에 배치된 컬러 필터의 테두리 부근의 이미지를 캡춰하는 카메라를 포함하는 기판 테두리부 세정 장치에 적용되는 기판 테두리부 세정 방법으로서,A substrate holding part for holding a display substrate, a cleaning head for cleaning by wiping the edge of the substrate while moving linearly, and a camera for capturing an image near the edge of the color filter disposed on the substrate while moving with the cleaning head; A substrate edge cleaning method applied to a substrate edge cleaning device, 카메라는 세정된 기판 부분의 표면 상태 정보를 얻고,The camera obtains surface condition information of the cleaned substrate portion, 기판 테두리부 세정 방법은 표면 상태 정보를 기초로 세정도를 판정하는 단계를 추가로 포함하는 기판 테두리부 세정 방법.The substrate edge cleaning method further comprises the step of determining the degree of cleaning based on the surface state information. 청구항 8에 있어서,The method according to claim 8, 카메라는 세정되는 기판 부분의 표면 상태 정보를 얻고,The camera obtains surface condition information of the portion of the substrate being cleaned, 상기 기판 테두리부 세정 방법은 카메라로부터 얻어진 세정 이전 표면 상태 정보를 기억하는 단계와, 카메라로부터 얻어진 세정 이후 표면 상태 정보를 기억하는 단계를 포함하고,The substrate edge cleaning method includes storing pre-cleaning surface state information obtained from a camera, and storing post-cleaning surface state information obtained from a camera, 상기 판정하는 단계는 세정 이전 정보와 세정 이후 정보를 비교함으로써 세정도를 판정하는 단계인 기판 테두리부 세정 방법.And determining the cleaning degree by comparing the pre-cleaning information with the post-cleaning information. 청구항 8에 있어서, The method according to claim 8, 세정 헤드의 세정방향으로 전후방에 배치되는 두 개의 카메라가 사용되고, Two cameras are used which are arranged in front and rear in the cleaning direction of the cleaning head, 상기 기판 테두리부 세정 방법은, The substrate edge cleaning method, 세정방향으로 전방에 배치된 카메라로부터 얻어진 표면 상태 정보를 기억하는 단계와,Storing surface state information obtained from a camera disposed forward in the cleaning direction; 세정방향으로 후방에 배치된 카메라로부터 얻어진 표면 상태 정보를 기억하는 단계를 포함하고,Storing surface state information obtained from a camera disposed rearward in the cleaning direction, 상기 판정하는 단계는 세정 헤드의 세정 동작을 진행하면서 단계적으로 세정도를 판정하는 단계인 기판 테두리부 세정 방법.And the determining step is a step of determining the degree of cleaning step by step while the cleaning operation of the cleaning head. 디스플레이용 기판을 유지하는 기판유지부와, 직선적으로 이동하면서 기판의 테두리부를 닦아냄으로써 세정하는 세정 헤드와, 세정 헤드와 함께 이동하면서 기판에 배치된 컬러 필터의 테두리 부근의 이미지를 캡춰하는 카메라를 포함하는 기판 테두리부 세정장치에 적용되는 기판 테두리부 세정 방법으로서, A substrate holding part for holding a display substrate, a cleaning head for cleaning by wiping the edge of the substrate while moving linearly, and a camera for capturing an image near the edge of the color filter disposed on the substrate while moving with the cleaning head; A substrate edge cleaning method applied to a substrate edge cleaning device, 카메라로부터 얻어진 표면 상태 정보를 기초로 기판 상에 배치된 컬러 필터의 테두리 위치를 검출하는 단계와,Detecting the edge position of the color filter disposed on the substrate based on the surface state information obtained from the camera; 위치 관계 정보를 기초로 컬러 필터의 테두리와 세정 헤드 사이의 위치 관계를 파악하는 단계와,Determining the positional relationship between the edge of the color filter and the cleaning head based on the positional relationship information; 상기 파악하는 단계에서 얻어진 위치 정보를 기초로 기판 위치를 조정하기 위해 기판유지부를 구동함으로써 기판 위치를 조정하는 단계를 포함하는 기판 테두리부 세정 방법.And adjusting the substrate position by driving the substrate holding portion to adjust the substrate position based on the positional information obtained in the grasping step. 청구항 11에 있어서, The method according to claim 11, 상기 파악하는 단계는 세정 작업을 실행하지 않고 세정 헤드를 이동함으로써 컬러 필터의 두 코너의 위치 정보를 얻는 단계와, 두 코너의 위치 정보를 기초로 컬러 필터의 전체 테두리의 위치 정보를 파악하는 단계를 포함하며,The determining may include obtaining position information of two corners of the color filter by moving the cleaning head without executing the cleaning operation, and identifying position information of the entire edge of the color filter based on the position information of the two corners. Include, 상기 조정하는 단계는 (a) 컬러 필터의 전체 테두리의 위치 정보와, (b) 컬러 필터의 테두리와 세정 헤드 사이의 위치 관계의 정보를 기초로 기판 위치를 조정하는 단계인 기판 테두리부 세정 방법.And adjusting the substrate position based on (a) the position information of the entire edge of the color filter and (b) the information of the positional relationship between the edge of the color filter and the cleaning head. 청구항 11에 있어서,The method according to claim 11, 상기 파악하는 단계는, 세정 동작을 진행하면서 컬러 필터의 테두리와 세정 헤드 사이의 위치 관계를 단계적으로 파악하는 단계이며, The step of grasping is a step of grasping the positional relationship between the edge of the color filter and the cleaning head while the cleaning operation is performed. 상기 조정하는 단계는 얻어진 위치 관계를 기초로 기판 위치를 단계적으로 조정하는 단계인 기판 테두리부 세정 방법.And the adjusting step is a step of adjusting the substrate position step by step based on the obtained positional relationship.
KR1020077002488A 2004-09-03 2005-08-01 Substrate edge part cleaning apparatus and substrate edge part cleaning method KR100842462B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020077002488A KR100842462B1 (en) 2004-09-03 2005-08-01 Substrate edge part cleaning apparatus and substrate edge part cleaning method

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2004-00257553 2004-09-03
KR1020077002488A KR100842462B1 (en) 2004-09-03 2005-08-01 Substrate edge part cleaning apparatus and substrate edge part cleaning method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20070022887A KR20070022887A (en) 2007-02-27
KR100842462B1 true KR100842462B1 (en) 2008-07-01

Family

ID=41639215

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020077002488A KR100842462B1 (en) 2004-09-03 2005-08-01 Substrate edge part cleaning apparatus and substrate edge part cleaning method

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100842462B1 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108246754B (en) * 2017-12-30 2024-04-09 苏州慧桥自动化设备有限公司 Centrifugal rotary cleaning device for liquid crystal display panel photomask
KR102304257B1 (en) * 2019-12-30 2021-09-23 세메스 주식회사 Apparatus for cleaning transport vehicle

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09153526A (en) * 1995-09-27 1997-06-10 Toshiba Corp Carrier device and method of tcp as well as manufacturing method of plane displayer

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09153526A (en) * 1995-09-27 1997-06-10 Toshiba Corp Carrier device and method of tcp as well as manufacturing method of plane displayer

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
미국특허공보 5831247호
일본공개특허공보 평9-153526호

Also Published As

Publication number Publication date
KR20070022887A (en) 2007-02-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7803231B2 (en) Substrate edge part cleaning apparatus and substrate edge part cleaning method
JP5532657B2 (en) Screen printing apparatus and squeegee mechanism
US10747105B2 (en) Cleaning module, cleaning apparatus and method of cleaning photomask
KR101208773B1 (en) Probe polishing method, program therefor, and probe apparatus
KR100829892B1 (en) Apparatus for Inspecting of Display Panel
JP6387100B2 (en) Screen printing device
CN104550158A (en) Fully-automatic LCD (Liquid Crystal Display) terminal cleaning machine
KR100842462B1 (en) Substrate edge part cleaning apparatus and substrate edge part cleaning method
JP6465489B2 (en) Cleaning head and cleaning method
US20150013152A1 (en) Component mounting system
JP2007307750A (en) Screen printing equipment
US9673165B2 (en) Component mounting apparatus
JP4850725B2 (en) Ability diagnosis device
CN115320228A (en) Screen printing apparatus, mask cleaner, and squeegee
CN108029233B (en) Component mounting machine
JP2009133696A (en) Inspection method of substrate and inspection device of substrate
JP6194200B2 (en) Screen printing apparatus and cleaning processing apparatus
JP7012216B2 (en) Screen printing device
JP2990110B2 (en) Electronic component automatic mounting system
WO2023026564A1 (en) Component mounting device and evaluation method
JPH0735696A (en) Particle aggregation detecting and removing apparatus
CN219985462U (en) Display screen with dust removal cleaning structure
JP2023170204A (en) Printing device and printing method
JPH09325172A (en) Inspection device and method for burn-in board
JP7012215B2 (en) Screen printing device and mask cleaner

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120611

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130603

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee