KR100830253B1 - 마이크로핀 열 교환기 - Google Patents
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Abstract
마이크로핀 열 솔루션을 포함하는 장치가 설명된다. 이 장치는 기판 및 기판에 열적으로 결합된 다수의 마이크로핀들을 포함한다. 마이크로핀들은 기판 위에 픽셀과 같은 패턴으로 배열된다.
마이크로핀, 열 솔루션, 열 교환기
Description
본 발명은 전자 장치 및 시스템의 냉각에 관한 것이고, 구체적으로 마이크로 냉각(micro-cooling) 기술에 관한 것이나 이에 한정되는 것은 아니다.
전자 장치들이 더욱 강력해지고 소형화되면서(즉, 더욱 조밀하게 패킹되면서), 전자 장치들이 소비하는 전력이 많은 양의 열을 생성할 수 있다. 이러한 전자 장치들에 의해 생성되는 열은 전자 장치의 동작에 유해할 수 있다. 따라서, 전자 컴포넌트와 연관된 공통된 관심사는 열의 제거이다.
예를 들어, 전자 장치는 집적 회로(IC) 다이(die)를 포함할 수 있다. 열 솔루션(heat solution)이 IC 다이로부터 열 소실(dissipation)을 용이하게 하기 위해 IC에 열적으로(thermally) 결합될 수 있다. 일반적으로, 열 솔루션은 다수의 핀(fin) 또는 채널을 갖는 히트 싱크(heat sink)의 형태(즉, 수동 솔루션)가 될 수 있다. 공기가 핀 또는 채널을 지나치면서, 열이 IC 다이에서 주위의 공기로 핀 또는 채널을 경유하여 전달될 수 있다. 다른 방법으로, 능동 솔루션은 핀 또는 채널을 가로지르는 강제 유체(forced fluid)의 형태가 될 수 있다. 그러나 핀 또는 채널을 사용하는 것은 IC 다이로부터의 열을 효율적이고 균일하게 제거하지 못하는데, 이는 IC 다이의 서로 다른 영역들로부터의 열 생성 차이와 같은 다양한 효과들 에 기인하며 이에 한정되는 것은 아니다.
본 발명의 다양한 실시예들이 예시에 의해 도시되며, 첨부된 도면에 의해 제한되지 않는다. 첨부된 도면에서 유사한 참조번호는 유사한 요소를 나타낸다.
도 1a, 1b는 본 발명의 일 실시예에 따른, 마이크로핀 열 솔루션을 포함하는 장치를 도시한 도면.
도 2는 일 실시예에 따른, 마이크로핀들을 형성하는 방법을 도시한 도면.
도 3은 다른 실시예에 따른, 마이크로핀 열 솔루션을 포함하는 장치를 도시한 도면.
도 4는 다른 실시예에 따른, 마이크로핀 열 솔루션을 포함하는 장치를 도시한 도면.
도 5는 다른 실시예에 따른, 마이크로핀 열 솔루션을 포함하는 장치를 도시한 도면.
도 6a, 6b는 다양한 실시예들에 따른, 마이크로핀 열 솔루션을 포함하는 장치를 도시한 도면.
도 7a, 7b는 다양한 실시예들에 따른, 마이크로핀 열 솔루션을 도시한 도면.
다양한 실시예들에서, 마이크로핀(micropin) 열 솔루션을 포함하는 장치가 설명된다. 이하 설명에서, 다양한 실시예들이 설명될 것이다. 그러나 당업자는 다양한 실시예들이 하나 이상의 특정 세부 사항이 없이도, 또는 다른 방법, 물질, 컴포넌트 등을 이용하여서도 실시될 수 있다는 것을 인식할 것이다. 다른 예에서, 잘 알려진 구조, 물질 또는 동작은 본 발명의 다양한 실시예들의 특징들을 모호하지 않게 하기 위하여 도시하지 않거나 상세히 설명하지 않았다. 유사하게, 본 발명의 완전한 이해를 돕기 위해 설명을 목적으로 특정 번호, 물질 및 환경이 설정되었다. 그럼에도 불구하고 본 발명은 특정 세부사항 없이 실시될 수 있다. 다른 예에서, 잘 알려진 특징들이 본 발명을 모호하지 않게 하기 위하여 생략되거나 단순화되었다. 더 나아가, 도면에 도시된 다양한 실시예들은 예시적인 것이며 반드시 축적대로 그려진 것은 아님을 이해하여야 한다.
본 명세서를 통해 "일 실시예" 또는 "하나의 실시예"라는 언급은 그 실시예와 관련하여 설명된 특정 특징, 구조, 물질 또는 특성이 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 포함되어있음을 의미한다. 그러므로, 본 명세서를 통해 다양한 위치에서 나타나는 모든 "일 실시예에서" 또는 "하나의 실시예에서"라는 구문은 반드시 동일한 실시예 또는 발명을 언급하고 있는 것은 아니다. 더 나아가, 특정 특징들, 구조들, 물질들 또는 특성들은 하나 이상의 실시예에서 임의의 적절한 방식으로 결합될 수 있다.
다양한 동작들이 본 발명의 이해에 있어 가장 도움이 되는 방식으로, 순차적으로 다수의 개별 동작들로서 설명될 것이다. 그러나 설명의 순서는 이 동작들이 반드시 그 순서에 의존하는 것을 의미하는 것으로 생각되어서는 안된다. 특히, 이러한 동작들은 제시된 순서대로 수행될 필요는 없다.
도 1a, 1b는 본 발명의 일실시예에 따른, 마이크로핀 열 솔루션을 포함하는 장치를 도시한다. 도 1a에 도시된 것은 장치(100)의 측면도이다. 도 1a에서, 장치(100)는 기판(102)과 다수의 마이크로핀들(104)을 포함한다. 도 1b는 장치(100)의 상면도를 도시한다. 따라서, 도 1b에 도시된 바와 같이 마이크로핀들(104)은 본 발명의 다양한 실시예들에 따라 기판(102) 위에 픽셀과 같은 패턴(pixel like pattern)으로 배열된다.
도 1b를 참조하면, 마이크로핀들(104)은 마이크로핀들(104) 사이에 사전 결정된 공간을 제공하도록 배열될 수 있다. 이후 더 자세히 설명되는 바와 같이, 사전 결정된 공간은 그 공간을 통과하여 흐르는 물질에 적어도 부분적으로 기초할 수 있으며, 그 물질은 액체 형태의 물이 될 수 있으며 이에 한정되는 것은 아니다. 더 나아가, 도 1b에 도시된 픽셀과 같은 패턴으로 배열된 마이크로핀들(104)은 모든 방향으로의 물질 흐름을 용이하게 하는데, 방향은 도 1b에서 볼 수 있듯이 적어도 두 방향(예컨대, x 방향과 y 방향)이 될 수 있으며 이에 한정되는 것은 아니다.
도 1a에 도시된 실시예에서, 마이크로핀들(104)이 기판(102)으로부터 형성될 수 있다. 즉, 다양한 식각 방법들이 기판(102)으로부터 마이크로핀들(104)을 형성하기 위해 사용될 수 있으며, 그 방법들에는 깊은 반응성 이온 식각 (DRIE; deep reactive ion etching), 습식 식각, 미세가공(micromachining) 등이 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 따라서, 마이크로핀들(104)은 실리콘과 같은 반도체 물질로 구성될 수 있으며, 반도체 물질은 반드시 실리콘에 한정되는 것은 아니다. 다른 방법으로, 마이크로핀들(104)은 형성되어 기판(102)상에 배치될 수 있다. 즉, 마이크로핀들(104)은 금속들(예컨대, 구리)과 미세가공 방법들과 같은(이에 한정되 는 것은 아님) 다양한 물질 및 방법으로 만들어진 후, 기판상에 배치될 수 있다. 또한, 기판(102)은 집적 회로(IC) 다이(die)가 될 수 있다. 다른 방법으로, 기판(102)은 IC 다이에 열적으로 결합될 수 있다.
기판으로부터의 열 에너지(즉, 열)는 마이크로핀들(104)로 전달될 수 있다. 일 실시예에서, 마이크로핀들(104)은 기판(102)상에 형성되어 있으므로, 마이크로핀들(104)은 IC 다이에 열적으로 결합될 수 있고, 순차적으로 마이크로핀들(104)은 마이크로핀들(104)과 실질적 접촉을 하고 있는 물질로 열 전달을 용이하게 한다. 다른 방법으로, 마이크로핀들(104)은 기판에 열적으로 결합될 수 있고, 순차적으로 기판은 IC 다이에 열적으로 결합될 수 있다. 즉, 효율적으로 마이크로핀들(104)은 IC 다이에 열적으로 결합된다.
도 2는 일 실시예에 따른, 마이크로핀들을 형성하는 방법을 도시한다. 도 2에 도시된 것은 기판(202)을 측면에서 본 것이다. 기판(202)은 실리콘계 물질 및 금속계 물질(예컨대, 실리콘, 구리 등)과 같이(이에 한정되는 것은 아님) 열 전달을 용이하게 하기에 적절한 물질로 구성될 수 있다. 다양한 식각 방법들이 기판(202)에 적용될 수 있으며, 그 방법들에는 DRIE, 습식 식각, 미세가공 등이 있으며 이에 한정되는 것은 아니다. 식각 공정 결과, 다수의 마이크로핀들(204)이 기판(202)으로부터 형성될 수 있다.
예시된 실시예에서, 마이크로핀들(204)와 함께 형성되는 것은 측벽(204)이 될 수 있다. 이후 더 자세히 설명되는 바와 같이, 다양한 실시예들에서, 측벽(206)은 디바이스 내에 마이크로핀들(204)의 실질적인 둘러쌈(enclosure)를 용이 하게 하여 집적 회로(IC) 다이로부터 열의 제거를 용이하게 하며, 커버는 더 나아가 마이크로핀들(204)의 둘러쌈을 더욱 용이하게 할 수 있다.
도 3은 다른 실시예에 따른, 마이크로핀 열 솔루션을 포함하는 장치를 도시한다. 도 3에서, 장치(300)의 측면도가 도시된다. 장치(300)는 도 1a, 1b에 도시된 장치(100)와 유사하게 기판(302)과 다수의 마이크로핀들(304)을 포함한다. 그러나, 도 3에서, 장치(300)는 마이크로핀들(304) 및 기판(302) 사이에 배치된 인터페이스층(306)을 포함한다.
일 실시예에 따라, 인터페이스층(306)은 마이크로핀들(304)를 구조적으로 지지하고 열 커플링(thermal coupling)을 용이하게 하는 다이아몬드 필름(이에 한정되는 것은 아님)과 같은 물질로 구성될 수 있다. 이전에 설명된 바와 같이, 마이크로핀들(304)은 반도체 물질로 만들어질 수 있고, 따라서, 인터페이스층은 마이크로핀들(304)을 구조적으로 지지하고, 기판(302)에서 마이크로핀들(304)로의 열 커플링(즉, 열 전달)을 용이하게 할 수 있게 된다. 여기서도 다시, 기판은 IC 다이가 되거나 IC 다이에 열적으로 결합될 수 있는 기판이 될 수 있다.
일 실시예에서, 인터페이스층(306)은 구리(CU), 금(Au), 니켈(Ni), 알루미늄(Al), 티타늄(Ti), 탄탈륨(Ta), 은(Ag), 백금(Pt) 및 이것들의 임의의 조합과 같이(이에 한정되는 것은 아님) 다양한 열 성질을 갖는 납땜 가능한(solderable) 물질로 구성될 수 있다. 따라서, 일 실시예에서, 마이크로핀들(304)은 구리와 같은(이에 한정되는 것은 아님) 금속 물질로 구성될 수 있다.
도 3에 대해 계속 언급하면, 인터페이스 물질(306) 뿐 아니라 다양한 접착 물질(도시하지 않음)이 마이크로핀들(304) 및 기판(302) 사이에 사용될 수 있다는 점을 당업자는 이해하여야 한다.
도 4는 다른 실시예에 따른, 마이크로핀 열 솔루션을 포함하는 장치를 도시한다. 도 4에 도시된 것은 디바이스(400)를 포함하는 장치의 단면도이다. 디바이스(400)는 기판(402)과 다수의 마이크로핀들(404)을 포함한다. 이 실시예에 도시된 바와 같이, 기판(402)은 디바이스(400)의 하부를 제공한다. 또한, 디바이스(400)는 마이크로핀들(404)을 실질적으로 둘러싸는 벽(406)을 포함한다. 더 나아가, 마이크로핀들(404) 위에 배치된 커버(408)는 마이크로핀들(404)이 실질적으로 디바이스(400) 내에 둘러싸이게 한다.
마이크로핀들(404) 및 측벽(406)은 도 2에서 설명된 바와 같이 모두 기판(402)로부터 형성될 수 있다. 커버(408)는 다양한 부착 방법을 통하여 마이크로핀들(404)에 부착될 수 있으며, 부착 방법에는 납땜, 접착, 양극 본딩(anodic bonding), 열 압축 본딩(thermal compression bonding) 등이 있으며 이에 한정되는 것은 아니다. 또한, 커버는 다양한 물질들로 구성될 수 있는데, 그 물질들로는 아크릴계 물질(예컨대, 필라델피아의 롬&하스 코오포레이션의 plexiglas®)과 같은 것이 있으며 이에 한정되는 것은 아니다.
디바이스(400)는 입구(inlet; 410)와 출구(outlet; 412)를 포함한다. 이후 상세하게 설명되는 바와 같이, 입구(410) 및 출구(412)는 마이크로핀들(404)을 통한 물질의 흐름을 용이하게 한다. 또한, 도 4에서, 인터페이스층(414)은 커 버(408)와 마이크로핀들(404) 사이에 도시된다. 인터페이스층(414)는 커버(408)와 마이크로핀들(404) 사이의 시일(seal)을 용이하게 하는 임의의 종류의 층이 될 수 있다. 따라서, 인터페이스층(414)은 납땜 가능한 물질, 접착 물질 또는 그들의 임의의 조합으로 구성될 수 있다.
도 5는 다른 실시예에 따른, 마이크로핀 열 솔루션을 포함하는 장치를 도시한다. 도 5에 도시된 것은 디바이스(500)를 포함하는 장치의 단면도이다. 디바이스(500)는 기판(502) 및 다수의 마이크로핀들(504)을 포함한다. 이 실시예에 도시된 바와 같이, 기판(502)은 디바이스(500)의 하부를 제공한다. 또한, 디바이스(500)는 도 4에 도시된 디바이스(400)와 유사하게 마이크로핀들(504)을 실질적으로 둘러싸는 벽(506)을 포함한다. 그러나, 도 5에 도시된 실시예에서, 커버(508)는 커버(508)상에 형성된 마이크로핀들(504)을 포함한다. 여기서도 다시, 마이크로핀들(504)은 실질적으로 디바이스(500) 내에 둘러싸인다.
디바이스(500)는 입구(510) 및 출구(512)를 포함한다. 이후 상세하게 설명되는 바와 같이, 입구(510) 및 출구(512)는 마이크로핀들(504)을 통한 물질의 흐름을 용이하게 한다. 또한, 도 5에서, 인터페이스층(514)은 마이크로핀들(504) 및 기판(502) 사이에 도시된다. 인터페이스층(514)은 마이크로핀들(504) 및 기판(502) 사이의 시일을 용이하게 하는 임의의 종류의 층이 될 수 있다. 따라서, 인터페이스층(514)은 납땜 가능한 물질, 접착 물질 또는 그들의 임의의 조합으로 구성될 수 있다.
앞서 언급된 바와 같이, 마이크로핀들(504)를 포함하는 커버(508)는 실리콘 및 금속과 같은(이에 한정되는 것은 아님) 임의의 물질로 구성될 수 있다. 또한, 예시된 실시예에서, 마이크로핀들(504)을 포함하는 커버(508)는 도 2에 설명된 바대로(즉, 다양한 식각 방법들로) 형성될 수 있다.
도 1 내지 5에서, 다수의 마이크로핀들이 도 1b에 도시된 바와 같이 픽셀과 같은 패턴으로 배열될 수 있다. 또한, 이전에 설명한 바와 같이, 기판은 IC 다이일 수 있다. 다른 방법으로, 기판은 IC 다이에 열적으로 결합된 기판일 수 있다. 당업자는 기판 및 마이크로핀들이 다양한 열 인터페이스 물질(TIMs; thermal interface materials)을 경유하여 열적으로 결합될 수 있음을 이해하여야 한다.
일 실시예에서, 각각의 마이크로핀은 대략 50 마이크론의 너비, 50 마이크론의 두께 및 300 마이크론의 높이의 전체적 치수를 가질 수 있다. 도 1b를 참조하면, 일 예시적 배열에서, 피치(pitch)는 대략 50 마이크론이며 기판은 대략 가로 1센티미터 세로 1 센티미터의 치수를 가질 수 있다. 따라서, 이 예시적 배열에서, 핀들의 개수는 대략 10000개의 마이크로핀들이 될 수 있다.
다양한 열적 및 기계적 고려들이 인터페이스층 및/또는 접착층(도시되지 않음)에 사용되는 물질에 영향을 줄 수 있다. 예를 들어, 열적 고려는 열 팽창 계수(CTE) 고려, 열 전도도 등을 포함할 수 있다. 일부 기계적 고려는 굳기, 강도 등을 포함할 수 있다. 더 나아가, 다양한 실시예들에서, 마이크로핀들(104)은 기본적인(primitive) 기하학적 모양 및 복잡한 기하학적 모양과 같은(이에 한정되는 것은 아님) 임의의 종류의 모양이 될 수 있다. 예를 들어, 마이크로핀들(104)은 원통형, 직사각형꼴, 대칭성이 없는 모양 등이 될 수 있다.
도 6a 및 6b는 다양한 실시예들에 따른 마이크로핀 열 솔루션을 포함하는 장치를 도시한다. 도 6a에 도시된 것은, 마이크로핀들(602)을 포함하는, 도 1 내지 5에 도시된 장치들을 나타낼 수 있는 장치를 포함하는 전자 시스템(600)의 단면도이다. 전자 시스템(600)은 IC 다이(604)의 바로 상부에 배치된 마이크로핀들(602)을 포함하는 것으로 도시된다{즉, 마이크로핀들(602)는 IC 다이(604)에 열적으로 결합된다}. IC 다이(604)는 다수의 땜납 범프들(solder bumps; 608)을 경유하여 기판(606)에 전기적으로 결합될 수 있다. 기판(606)은 땜납 범프들(612)을 경유하여 배선판(wiring board; 610)에 전기적으로 결합될 수 있다. 따라서, IC 다이(604)에 의해 생성되는 열이 마이크로핀들(602)로 전달될 수 있다.
이제 도 6b로 가서, 도 6b에 도시된 것은 마이크로핀들(602)을 포함하는, 도 1 내지 5에 도시된 장치들을 나타낼 수 있는 장치(620)을 포함하는 전자 시스템(620)의 단면도이다. 도 6b에서, 마이크로핀들(602)은 기판(622)에 열적으로 결합되는 것으로 도시되어 있고, 순차적으로 기판(622)은 IC 다이(624)에 열적으로 결합될 수 있다. 도 6b에 도시된 바와 같이, 인터페이스층(626)이 기판(622) 및 IC 다이(624) 사이에 배치될 수 있다. 이전에 언급된 바와 같이, 인터페이스층(626)은 TIM이 될 수 있어서, 기판(622)과 IC 다이(624)의 열 커플링을 용이하게 하고, 그로인해 IC 다이(624)에서 마이크로핀들(602)로의 열 전달을 용이하게 한다.
도 6b를 계속해서 언급하면, 장치(620)가 IC 다이(622)에 열적으로 결합되는 것으로 도시된다. IC 다이는 땜납 범프들(608)을 경유하여 기판(606)에 전기적으 로 결합될 수 있다. 기판(606)은 땜납 범프들(612)을 경유하여 배선판(610)에 전기적으로 결합될 수 있다. 여기서도 다시, IC 다이(622)에 의해 생성되는 열이 마이크로핀들(602)로 전달될 수 있는데, 이는 마이크로핀들(602)이 효과적으로 IC 다이(622)에 열적으로 결합될 수 있기 때문이다.
도 6a 및 6b에 도시된 바와 같이, 마이크로핀들(602)은 디바이스(600 및 620) 내에 실질적으로 둘러싸인다. 그러나, 이전에 설명한 바와 같이, 마이크로핀들(602)은 실질적으로 둘러싸여져야할 필요는 없다(도 1 내지 3 참조). 또한, 다양한 실시예들에서, 배선판(610)은 배선판에 전기적으로 결합된 다양한 디바이스들을 포함할 수 있는데, 디바이스들에는 메모리 디바이스(예컨대, 플래시 메모리 디바이스)와 같은 것이 있고 이에 한정되는 것은 아니다.
도 7a 및 7b는 다양한 실시예들에 따른 마이크로핀 열 솔루션을 도시한다. 도 7a에 도시된 것은 도 4 내지 6에 도시된 장치들을 나타낼 수 있는 장치(700)의 상면도이다. 따라서, 그 장치는 디바이스(400 및 500)를 실질적으로 둘러싸는 다수의 마이크로핀들(404 및 504)을 포함한다. 또한, 디바이스(400 및 500)는 입구(410 및 510) 및 출구(412 및 512)를 포함한다. 도시된 바와 같이, 마이크로핀들(404 및 504)은 이전에 설명한대로 픽셀과 같은 패턴으로 배열된다.
이제 도 7b를 참조하면, 장치(700)가 열 교환 시스템 내에 포함된다. 도 7b에도시된 것은 열 교환 시스템(720)의 개략도이다. 열 교환 시스템(720)은 장치(700), 펌프(722) 및 열 교환기(724)를 포함한다.
이전에 설명한대로, 장치(700)는 입구(410 및 510) 및 출구(412 및 512)를 포함한다. 펌프(722)는 입구(726) 및 출구(728)를 포함한다. 열 교환기(724)는 입구(730) 및 출구(732)를 포함한다. 도 7에 도시된 바와 같이, 물질의 전달을 용이하게 하기 위해 펌프(728)의 출구는 장치(700)(즉, 디바이스)의 입구(410 및 510)에 결합될 수 있다{즉 물질을 전달할 수 있게(transferably) 결합됨}. 펌프(728)의 입구(726)는 열 교환기(724)의 출구(732)에 물질을 전달할 수 있게 결합된다. 출구(412 및 512)는 열 교환기(724)의 입구(730)에 물질을 전달할 수 있게 결합된다.
도 7b에 도시된 바와 같이, 액체 물(liquid water)과 같은(이에 한정되는 것은 아님) 물질이 장치(700)로 펌프될 수 있다. IC 다이에 열적으로 결합되는 마이크로핀들은 액체 물로의 열 전달을 용이하게 한다. 많은 열이 액체 물로 전달되면서, 액체 물은 증기가 될 수 있다. 더 나아가, IC 다이의 다양한 영역들이 다양한 양의 열을 생성하기 때문에, 마이크로핀들의 사용 및 마이크로핀들이 배열되는 방식은 IC 다이의 균일한 냉각을 용이하게 한다.
펌프(722) 및 열 교환기(724)는 전기삼투 펌프와 같은(이에 한정되는 것은 아님), 임의의 종류의 펌프 및 열 교환기가 될 수 있다. 또한, 열 교환 시스템(720)에 사용되는 물질은 유체, 기체 및 나노입자들과 같은(이에 한정되는 것은 아님) 임의의 물질이 될 수 있다.
도 7b에 예시된 실시예에서, 펌프(722)는 장치(700)로 물질을 제공한다. 그 장치는 이전에 설명한대로 IC 다이로부터의 열의 제거를 용이하게 한다. 열 교환기(724)는 가열된 물질을 받아 다른 방열체(heat sink; 도시하지 않음)로 그 열을 제거한다. 본 발명의 실시예들을 모호하게 하지 않기 위해 열 교환 시스템(720)의 다양한 컴포넌트들이 도시되지 않음을 이해하여야 한다. 예를 들어, 다양한 밸브, 시일 등이 있을 수 있다.
예시된 실시예들과 관련하여 본 발명의 원리들을 설명하고 도시하였으나, 예시된 실시예들은 그러한 원리들에서 벗어나지 않고도 배열과 세부사항에 있어서 수정될 수도 있다는 것을 인식하여야 할 것이다. 그리고, 비록 전술한 논의는 특정 실시예들에 초점을 맞추었으나, 다른 구성들이 고려될 수 있다. 특히 "일 실시예에서", "다른 실시예에서" 등과 같은 표현들이 여기서 사용되었으나, 이러한 구문들은 일반적으로 기준이 되는 실시예의 가능성을 나타내는 것일 뿐, 본 발명을 특정 실시예 구성들로 한정하려는 것이 아니다. 여기서 사용된 것과 같이, 이러한 용어들은 다른 실시예들로 결합될 수 있는 동일한 또는 상이한 실시예들을 나타낼 수 있다.
그러므로, 위의 설명에서 볼 수 있듯이, 마이크로핀 열 솔루션을 포함하는 새로운 장치가 설명되었다.
요약에 설명된 것을 포함하여 본 발명의 예시된 실시예들의 위 설명은, 본 발명을 총망라하거나, 개시된 정확한 형태로 본 발명을 제한하고자 하는 것이 아니다. 당업자가 인식할 수 있듯이, 본 발명의 특정 실시예들 및 예시들은 예시를 목적으로 여기에 설명되었으며, 다양한 동등한 변경들이 본 발명의 범위 내에서 가능하다. 그러므로, 여기의 설명은 본 발명에 대한 제한이 아니라 예시로서 간주되어야 한다.
결과적으로, 여기에 설명된 실시예들의 넓고 다양한 변형의 관점에서, 이 상세한 설명은 단지 예시를 위한 것이며, 본 발명의 범위를 제한하는 것으로 생각되어서는 안된다. 그러므로, 본 발명으로서 청구하는 것은 이하 청구항 및 그 균등물의 범위와 사상 내에 있을 수 있는 그러한 모든 변경들이다.
Claims (37)
- 표면을 갖는 기판;상기 기판 위에 픽셀과 같은 패턴(pixel like pattern)으로 배열되고, 상기 기판에 열적으로(thermally) 결합된 복수의 마이크로핀들; 및상기 복수의 마이크로핀들 위에 배치된 커버를 포함하며,상기 복수의 마이크로핀들은, 상기 복수의 마이크로핀들을 가로질러 상기 기판의 표면에 평행한 적어도 두 방향으로 물질의 흐름을 용이하게 하도록 배열되는, 마이크로핀 열 교환 장치.
- 제1항에 있어서,상기 복수의 마이크로핀들은, 상기 기판으로부터 형성된 복수의 마이크로핀들을 포함하는 마이크로핀 열 교환 장치.
- 제1항에 있어서,상기 기판은, 집적 회로(IC) 다이(die)를 포함하는 마이크로핀 열 교환 장치.
- 제1항에 있어서,상기 복수의 마이크로핀들은, 인터페이스층에 결합된 복수의 마이크로핀들을 포함하고, 상기 인터페이스층은 상기 기판에 열적으로 결합된 마이크로핀 열 교환 장치.
- 제4항에 있어서,상기 인터페이스층은, 다이아몬드 필름을 포함하는 마이크로핀 열 교환 장치.
- 제4항에 있어서,상기 인터페이스층은 납땜 가능한(solderable) 층을 포함하는 마이크로핀 열 교환 장치.
- 제6항에 있어서,상기 납땜 가능한 층은, 구리(Cu), 금(Au), 니켈(Ni), 알루미늄(Al), 티타늄(Ti), 탄탈륨(Ta), 은(Ag) 및 백금(Pt) 중 적어도 하나로부터 형성된 납땜 가능한 층을 포함하는 마이크로핀 열 교환 장치.
- 제1항에 있어서,상기 복수의 마이크로핀들은, 디바이스 내에 실질적으로 둘러싸인 복수의 마이크로핀들을 포함하고, 상기 디바이스는 상기 복수의 마이크로핀들의 위에 배치된 커버를 포함하는 마이크로핀 열 교환 장치.
- 제8항에 있어서,상기 디바이스는, 입구(inlet) 및 출구(outlet)를 더 포함하는 마이크로핀 열 교환 장치.
- 제9항에 있어서,펌프를 더 포함하고, 상기 펌프는 출구를 포함하며, 상기 출구는 상기 디바이스의 입구에 물질을 전달할 수 있게(material transferably) 결합된 마이크로핀 열 교환 장치.
- 제1항에 있어서,상기 복수의 마이크로핀들은, 디바이스 내에 실질적으로 둘러싸인 복수의 마이크로핀들을 포함하고, 상기 디바이스는 상기 복수의 마이크로핀들이 그 위에 형성되는 커버를 포함하는 마이크로핀 열 교환 장치.
- 제11항에 있어서,상기 디바이스는, 입구 및 출구를 더 포함하는 마이크로핀 열 교환 장치.
- 제12항에 있어서,펌프를 더 포함하고, 상기 펌프는 출구를 포함하며, 상기 출구는 상기 디바이스의 입구에 물질을 전달할 수 있게 결합된 마이크로핀 열 교환 장치.
- 제1항에 있어서,상기 복수의 마이크로핀들 각각은, 원통형, 직사각형꼴 및 비대칭성 모양 중 하나를 갖는 마이크로핀을 포함하는 마이크로핀 열 교환 장치.
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- 삭제
- 열 교환 시스템으로서,표면을 갖는 기판과,상기 기판에 열적으로 결합된 상기 복수의 마이크로핀들 - 상기 복수의 마이크로 핀들은, 상기 복수의 마이크로핀들을 가로질러 상기 기판의 표면에 평행한 적어도 두 방향으로 물질의 흐름을 용이하게 하도록 상기 기판 위에 픽셀과 같은 패턴(pixel like pattern)으로 배열됨 -을 포함하고, 입구 및 출구를 가지는 디바이스;입구와 출구를 가지고, 상기 출구는 상기 디바이스의 입구에 물질을 전달할 수 있게 결합된 펌프; 및입구 및 출구를 가지고, 상기 입구는 상기 디바이스의 출구에 물질을 전달할 수 있게 결합되고, 상기 출구는 상기 펌프의 입구에 물질을 전달할 수 있게 결합된 열 교환기를 포함하는 열 교환 시스템.
- 열 교환 시스템으로서,기판과,상기 기판에 열적으로 결합된 상기 복수의 마이크로핀들로서, 상기 복수의 마이크로핀들을 가로질러 적어도 두 방향으로 물질의 흐름을 용이하게 하도록 상기 기판 위에 픽셀과 같은 패턴(pixel like pattern)으로 배열되는 복수의 마이크로핀들을 포함하고, 입구 및 출구를 가지는 디바이스;입구와 출구를 가지고, 상기 출구는 상기 디바이스의 입구에 물질을 전달할 수 있게 결합된 펌프; 및입구 및 출구를 가지고, 상기 입구는 상기 디바이스의 출구에 물질을 전달할 수 있게 결합되고, 상기 출구는 상기 펌프의 입구에 물질을 전달할 수 있게 결합된 열 교환기를 포함하며,상기 복수의 마이크로핀들은, 상기 기판으로부터 형성된 복수의 마이크로핀들을 포함하는 열 교환 시스템.
- 열 교환 시스템으로서,기판과,상기 기판에 열적으로 결합된 상기 복수의 마이크로핀들로서, 상기 복수의 마이크로핀들을 가로질러 적어도 두 방향으로 물질의 흐름을 용이하게 하도록 상기 기판 위에 픽셀과 같은 패턴(pixel like pattern)으로 배열되는 복수의 마이크로핀들을 포함하고, 입구 및 출구를 가지는 디바이스;입구와 출구를 가지고, 상기 출구는 상기 디바이스의 입구에 물질을 전달할 수 있게 결합된 펌프; 및입구 및 출구를 가지고, 상기 입구는 상기 디바이스의 출구에 물질을 전달할 수 있게 결합되고, 상기 출구는 상기 펌프의 입구에 물질을 전달할 수 있게 결합된 열 교환기를 포함하며,상기 복수의 마이크로핀들에 열적으로 결합된 집적 회로(IC) 다이를 더 포함하는 열 교환 시스템.
- 열 교환 시스템으로서,기판과,상기 기판에 열적으로 결합된 상기 복수의 마이크로핀들로서, 상기 복수의 마이크로핀들을 가로질러 적어도 두 방향으로 물질의 흐름을 용이하게 하도록 상기 기판 위에 픽셀과 같은 패턴(pixel like pattern)으로 배열되는 복수의 마이크로핀들을 포함하고, 입구 및 출구를 가지는 디바이스;입구와 출구를 가지고, 상기 출구는 상기 디바이스의 입구에 물질을 전달할 수 있게 결합된 펌프; 및입구 및 출구를 가지고, 상기 입구는 상기 디바이스의 출구에 물질을 전달할 수 있게 결합되고, 상기 출구는 상기 펌프의 입구에 물질을 전달할 수 있게 결합된 열 교환기를 포함하며,상기 디바이스는, 상기 복수의 마이크로핀들을 실질적으로 둘러싸는 디바이스를 포함하고, 상기 디바이스는 상기 복수의 마이크로핀들 위에 배치되는 커버를 포함하는 열 교환 시스템.
- 열 교환 시스템으로서,기판과,상기 기판에 열적으로 결합된 상기 복수의 마이크로핀들로서, 상기 복수의 마이크로핀들을 가로질러 적어도 두 방향으로 물질의 흐름을 용이하게 하도록 상기 기판 위에 픽셀과 같은 패턴(pixel like pattern)으로 배열되는 복수의 마이크로핀들을 포함하고, 입구 및 출구를 가지는 디바이스;입구와 출구를 가지고, 상기 출구는 상기 디바이스의 입구에 물질을 전달할 수 있게 결합된 펌프; 및입구 및 출구를 가지고, 상기 입구는 상기 디바이스의 출구에 물질을 전달할 수 있게 결합되고, 상기 출구는 상기 펌프의 입구에 물질을 전달할 수 있게 결합된 열 교환기를 포함하며,상기 디바이스는, 상기 복수의 마이크로핀들을 실질적으로 둘러싸는 디바이스를 포함하고, 상기 디바이스는 상기 복수의 마이크로핀들이 그 위에 형성되는 커버를 포함하는 열 교환 시스템.
- 전자 시스템으로서,집적 회로(IC) 다이에 열적으로 결합되며 표면을 갖는 기판;상기 기판에 열적으로 결합되고, 상기 기판 위에 픽셀과 같은 패턴으로 배열된 복수의 마이크로핀들;상기 복수의 마이크로핀들 위에 배치된 커버;상기 IC 다이에 전기적으로 결합된 배선판(wiring board); 및상기 배선판에 전기적으로 결합된 메모리 디바이스를 포함하며,상기 복수의 마이크로핀들은, 상기 복수의 마이크로핀들을 가로질러 상기 기판의 표면에 평행한 적어도 두 방향으로 물질의 흐름을 용이하게 하도록 배열되는, 전자 시스템.
- 제22항에 있어서,상기 복수의 마이크로핀들은, 상기 기판으로부터 형성된 복수의 마이크로핀들을 포함하는 전자 시스템.
- 전자 시스템으로서,집적 회로(IC) 다이에 열적으로 결합된 기판;상기 기판에 열적으로 결합되고, 상기 기판 위에 픽셀과 같은 패턴으로 배열된 복수의 마이크로핀들;상기 IC 다이에 전기적으로 결합된 배선판(wiring board); 및상기 배선판에 전기적으로 결합된 메모리 디바이스를 포함하며,상기 복수의 마이크로핀들은, 디바이스 내에 실질적으로 둘러싸인 복수의 마이크로핀들을 포함하고, 상기 디바이스는 상기 복수의 마이크로핀들 위에 배치되는 커버를 포함하는 전자 시스템.
- 제24항에 있어서,상기 디바이스는, 입구 및 출구를 더 포함하는 전자 시스템.
- 제25항에 있어서,펌프를 더 포함하고, 상기 펌프는 출구를 가지며, 상기 출구는 상기 디바이스의 입구에 결합된 전자 시스템.
- 전자 시스템으로서,집적 회로(IC) 다이에 열적으로 결합된 기판;상기 기판에 열적으로 결합되고, 상기 기판 위에 픽셀과 같은 패턴으로 배열된 복수의 마이크로핀들;상기 IC 다이에 전기적으로 결합된 배선판(wiring board); 및상기 배선판에 전기적으로 결합된 메모리 디바이스를 포함하며,상기 복수의 마이크로핀들은, 디바이스 내에 실질적으로 둘러싸인 복수의 마이크로핀들을 포함하고, 상기 디바이스는 상기 복수의 마이크로핀들이 그 위에 형성되는 커버를 포함하는 전자 시스템.
- 제27항에 있어서,상기 디바이스는 입구 및 출구를 더 포함하는 전자 시스템.
- 제28항에 있어서,펌프를 더 포함하고, 상기 펌프는 출구를 가지며, 상기 출구는 상기 디바이스의 입구에 물질을 전달할 수 있게 결합된 전자 시스템.
- 제22항에 있어서,상기 메모리 디바이스는, 플래시 메모리 디바이스를 포함하는 전자 시스템.
- 전자 시스템으로서,집적 회로(IC) 다이에 열적으로 결합된 기판;상기 기판에 열적으로 결합된 복수의 마이크로핀들로서, 상기 복수의 마이크로핀들을 가로질러 물질의 흐름을 용이하게 하도록 상기 기판 위에 픽셀과 같은 패 턴으로 배열되며, 입구 및 출구를 가지는 디바이스 내에 실질적으로 둘러싸이는 복수의 마이크로핀들;입구와 출구를 가지고, 상기 출구는 상기 디바이스의 입구에 물질을 전달할 수 있게 결합된 펌프; 및입구 및 출구를 가지고, 상기 입구는 상기 디바이스의 출구에 물질을 전달할 수 있게 결합되고, 상기 출구는 상기 펌프의 입구에 물질을 전달할 수 있게 결합된 열 교환기;상기 기판에 전기적으로 결합된 배선판; 및상기 배선판에 전기적으로 결합된 메모리 디바이스를 포함하는 전자 시스템.
- 제31항에 있어서,상기 복수의 마이크로핀들은, 상기 기판으로부터 형성된 복수의 마이크로핀들을 포함하는 전자 시스템.
- 제31항에 있어서,상기 디바이스는, 상기 복수의 마이크로핀들 위에 배치되는 커버를 갖는 디바이스를 포함하는 전자 시스템.
- 제31항에 있어서,상기 디바이스는, 커버를 갖는 디바이스를 포함하고, 상기 커버는 그 위에 상기 복수의 마이크로핀들이 형성되는 전자 시스템.
- 제31항에 있어서,상기 메모리 디바이스는, 플래시 메모리 디바이스를 포함하는 전자 시스템.
- 제1항에 있어서,상기 복수의 마이크로핀들은 적어도 일방향에 대해 어긋나게 배열되는, 마이크로핀 열 교환 장치.
- 제22항에 있어서,상기 복수의 마이크로핀들은 적어도 일방향에 대해 어긋나게 배열되는, 전자 시스템.
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Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7365980B2 (en) * | 2003-11-13 | 2008-04-29 | Intel Corporation | Micropin heat exchanger |
US7612370B2 (en) * | 2003-12-31 | 2009-11-03 | Intel Corporation | Thermal interface |
JP2007294891A (ja) * | 2006-03-30 | 2007-11-08 | Dowa Metaltech Kk | 放熱器 |
US8143719B2 (en) * | 2007-06-07 | 2012-03-27 | United Test And Assembly Center Ltd. | Vented die and package |
US20090077553A1 (en) * | 2007-09-13 | 2009-03-19 | Jian Tang | Parallel processing of platform level changes during system quiesce |
WO2010059879A2 (en) * | 2008-11-20 | 2010-05-27 | Cyanto Corporation | Heat exchanger apparatus and methods of manufacturing cross reference |
US20120211199A1 (en) * | 2011-02-22 | 2012-08-23 | Gerald Ho Kim | Silicon-Based Cooling Package with Diamond Coating for Heat-Generating Devices |
US9713284B2 (en) | 2015-07-15 | 2017-07-18 | Hong Kong Applied Science And Technology Research Institute Co. Ltd. | Locally enhanced direct liquid cooling system for high power applications |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR0158783B1 (ko) * | 1994-09-29 | 1998-12-01 | 가네꼬 히사시 | 접속 핀을 통해 기판과 캡에 접속된 전자 부품을 탑재하는 멀티 칩 세라믹 모듈 |
US20010027855A1 (en) * | 1999-10-22 | 2001-10-11 | Budelman Gerald A. | Heatsink with integrated blower for improved heat transfer |
KR20020088300A (ko) * | 2001-05-21 | 2002-11-27 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 냉매를 방열재로 사용한 반도체 패키지 |
US20020185260A1 (en) * | 2000-11-21 | 2002-12-12 | Calaman Douglas P. | Liquid cooled heat exchanger with enhanced flow |
US20030136547A1 (en) * | 2001-12-06 | 2003-07-24 | Dieter Gollan | Heat transfer surface with a microstructure of projections galvanized onto it |
KR20030068633A (ko) * | 2002-02-15 | 2003-08-25 | 이엠씨테크(주) | 열전소자를 이용한 집적회로 냉각장치 |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6487118A (en) | 1987-05-21 | 1989-03-31 | Komatsu Mfg Co Ltd | Manufacture of micropin fin for heat exchanger and tool for machining said micropin fin |
CA2053055C (en) * | 1990-10-11 | 1997-02-25 | Tsukasa Mizuno | Liquid cooling system for lsi packages |
US5158136A (en) | 1991-11-12 | 1992-10-27 | At&T Laboratories | Pin fin heat sink including flow enhancement |
US5344795A (en) * | 1992-09-22 | 1994-09-06 | Microelectronics And Computer Technology Corporation | Method for encapsulating an integrated circuit using a removable heatsink support block |
JPH07211832A (ja) * | 1994-01-03 | 1995-08-11 | Motorola Inc | 電力放散装置とその製造方法 |
US5852548A (en) * | 1994-09-09 | 1998-12-22 | Northrop Grumman Corporation | Enhanced heat transfer in printed circuit boards and electronic components thereof |
US5587880A (en) * | 1995-06-28 | 1996-12-24 | Aavid Laboratories, Inc. | Computer cooling system operable under the force of gravity in first orientation and against the force of gravity in second orientation |
US6039114A (en) * | 1996-01-04 | 2000-03-21 | Daimler - Benz Aktiengesellschaft | Cooling body having lugs |
US5796049A (en) * | 1997-04-04 | 1998-08-18 | Sundstrand Corporation | Electronics mounting plate with heat exchanger and method for manufacturing same |
CN2349672Y (zh) * | 1998-11-26 | 1999-11-17 | 官有莹 | 晶片冷却循环系统装置 |
CN1148627C (zh) * | 1999-04-08 | 2004-05-05 | 富准精密工业(深圳)有限公司 | 电脑芯片散热装置及其制造方法 |
US6729383B1 (en) * | 1999-12-16 | 2004-05-04 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Fluid-cooled heat sink with turbulence-enhancing support pins |
CN2447939Y (zh) * | 2000-09-25 | 2001-09-12 | 万在工业股份有限公司 | 铝铜焊接式散热器 |
US6653730B2 (en) * | 2000-12-14 | 2003-11-25 | Intel Corporation | Electronic assembly with high capacity thermal interface |
US6679315B2 (en) * | 2002-01-14 | 2004-01-20 | Marconi Communications, Inc. | Small scale chip cooler assembly |
US7000684B2 (en) * | 2002-11-01 | 2006-02-21 | Cooligy, Inc. | Method and apparatus for efficient vertical fluid delivery for cooling a heat producing device |
US6986382B2 (en) * | 2002-11-01 | 2006-01-17 | Cooligy Inc. | Interwoven manifolds for pressure drop reduction in microchannel heat exchangers |
US20040112571A1 (en) * | 2002-11-01 | 2004-06-17 | Cooligy, Inc. | Method and apparatus for efficient vertical fluid delivery for cooling a heat producing device |
US6771508B1 (en) * | 2003-02-14 | 2004-08-03 | Intel Corporation | Method and apparatus for cooling an electronic component |
US6820684B1 (en) * | 2003-06-26 | 2004-11-23 | International Business Machines Corporation | Cooling system and cooled electronics assembly employing partially liquid filled thermal spreader |
US7365980B2 (en) | 2003-11-13 | 2008-04-29 | Intel Corporation | Micropin heat exchanger |
-
2003
- 2003-11-13 US US10/713,236 patent/US7365980B2/en not_active Expired - Fee Related
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2004
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-
2007
- 2007-06-13 HK HK07106354.0A patent/HK1098877A1/xx not_active IP Right Cessation
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR0158783B1 (ko) * | 1994-09-29 | 1998-12-01 | 가네꼬 히사시 | 접속 핀을 통해 기판과 캡에 접속된 전자 부품을 탑재하는 멀티 칩 세라믹 모듈 |
US20010027855A1 (en) * | 1999-10-22 | 2001-10-11 | Budelman Gerald A. | Heatsink with integrated blower for improved heat transfer |
US20020185260A1 (en) * | 2000-11-21 | 2002-12-12 | Calaman Douglas P. | Liquid cooled heat exchanger with enhanced flow |
KR20020088300A (ko) * | 2001-05-21 | 2002-11-27 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 냉매를 방열재로 사용한 반도체 패키지 |
US20030136547A1 (en) * | 2001-12-06 | 2003-07-24 | Dieter Gollan | Heat transfer surface with a microstructure of projections galvanized onto it |
KR20030068633A (ko) * | 2002-02-15 | 2003-08-25 | 이엠씨테크(주) | 열전소자를 이용한 집적회로 냉각장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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