KR100829891B1 - Inspection Method for Liquid Crystal Panel and Image Processing Apparatus - Google Patents

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KR100829891B1 KR1020070066153A KR20070066153A KR100829891B1 KR 100829891 B1 KR100829891 B1 KR 100829891B1 KR 1020070066153 A KR1020070066153 A KR 1020070066153A KR 20070066153 A KR20070066153 A KR 20070066153A KR 100829891 B1 KR100829891 B1 KR 100829891B1
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Abstract

본 발명은, 편광판이 없는 액정패널을 검사하는 방법에 있어서, 검사장치의 편광판이나 확산판에 부착한 이물(異物)과 액정패널의 결함을 식별할 수 있는 검사방법을 제공한다. 광원으로부터의 빛이 한 쌍의 편광판을 투과하도록 액정패널의 액정의 배향을 유지한 상태로, 촬영수단에 의해, 상기 촬영수단과 마주보는 편광판의 출사면을 촬영하는 제1 촬영 단계와, 검사장치에서 액정패널을 제거하고, 양 편광판의 편광방향을 서로 직각으로 유지하고 광원을 점등한 상태로, 촬영수단과 마주보는 편광판의 출사면을 촬영하는 제2 촬영 단계와, 검사장치에서 액정패널 및 다른쪽 편광판을 제거하고, 광원을 점등한 상태로, 촬영수단에 의해 상기 촬영수단과 마주보는 확산판의 출사면을 촬영하는 제3 촬영 단계와, 각 촬영에 의해 얻어진 화상에 기초하여, 액정패널의 결함 부위를 추출하는 추출 단계를 포함한다.This invention provides the inspection method which can distinguish the foreign material adhering to the polarizing plate or diffuser plate of a test | inspection apparatus, and the defect of a liquid crystal panel in the method of test | inspecting the liquid crystal panel without a polarizing plate. A first photographing step of photographing the exit surface of the polarizing plate facing the photographing means by the photographing means while maintaining the alignment of the liquid crystal of the liquid crystal panel so that light from the light source passes through the pair of polarizing plates; A second photographing step of removing the liquid crystal panel from the polarizing plate, maintaining the polarization directions of the polarizing plates at right angles to each other, and photographing the exit surface of the polarizing plate facing the photographing means; A third photographing step of photographing the exit surface of the diffusion plate facing the photographing means by the photographing means with the polarizing plate removed and the light source turned on, and based on the images obtained by the photographing, An extraction step of extracting the defect site.

편광판, 확산판, 액정패널, 촬영장치, 이물, 결함, 화상, 검사장치 Polarizing plate, diffuser plate, liquid crystal panel, photographing device, foreign object, defect, image, inspection device

Description

액정패널의 검사방법 및 화상처리장치{Inspection Method for Liquid Crystal Panel and Image Processing Apparatus}Inspection Method for Liquid Crystal Panel and Image Processing Apparatus

도1은 본 발명에 따른 검사방법을 나타내는 프로우 차트이다.1 is a pro chart showing the inspection method according to the present invention.

도2는 본 발명에 따른 검사방법을 실시하는 검사장치를 개략적으로 나타낸 구성도이다.2 is a configuration diagram schematically showing an inspection apparatus for implementing the inspection method according to the present invention.

도3은 본 발명에 따른 검사장치의 화상처리장치의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다.3 is a block diagram schematically showing the configuration of the image processing apparatus of the inspection apparatus according to the present invention.

도4는 본 발명에 따른 검사방법의 제1 촬영 단계의 촬영상태를 모식적으로 나타낸 설명도이다.4 is an explanatory diagram schematically showing a photographing state in the first photographing step of the inspection method according to the present invention.

도5는 본 발명에 따른 검사방법의 제2 촬영 단계의 촬영상태를 모식적으로 나타낸 도4와 동일한 도면이다.FIG. 5 is a view similar to FIG. 4 schematically showing a photographing state in a second photographing step of the inspection method according to the present invention. FIG.

도6은 본 발명에 따른 검사방법의 제3 촬영 단계의 촬영상태를 모식적으로 나타낸 도4와 동일한 도면이다.FIG. 6 is a view similar to FIG. 4 schematically showing a photographing state in a third photographing step of the inspection method according to the present invention.

도7은 제3 촬영 단계에 의해 얻어지는 제3 화상의 일례를 나타내는 모식도이다.7 is a schematic diagram illustrating an example of a third image obtained by the third imaging step.

* 도면의 주요 부호에 대한 설명 *Description of the main symbols in the drawings

10: 검사장치 12: 액정패널10: inspection device 12: liquid crystal panel

14: 광원 16: CCD 카메라(촬영수단)14: light source 16: CCD camera (shooting means)

18: 한쪽 편광판 20: 다른쪽 편광판18: one polarizer 20: the other polarizer

22: 광 확산판 24: 화상처리장치22: light diffusion plate 24: image processing apparatus

26: 화상 리드(read) 처리부 28a∼28c: 제1 내지 제3 비교부26: image read processing sections 28a to 28c: first to third comparison sections

30: 추출부30: extraction unit

발명의 분야Field of invention

본 발명은, 액정패널의 결함의 유무를 검사하는 방법 및 그 검사에 이용하는 화상처리장치에 관한 것이고, 특히 편광판이 없는 상태의 액정패널을 위한 검사방법 및 그 화상처리장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting the presence or absence of defects in a liquid crystal panel and an image processing apparatus used for the inspection, and more particularly, to an inspection method for a liquid crystal panel without a polarizing plate and an image processing apparatus for the same.

발명의 배경Background of the Invention

액정패널의 결함 검사방법의 하나로서, 다음의 특허문헌 1에 기재된 방법이 알려져 있다.As one of the defect inspection methods of a liquid crystal panel, the method of following patent document 1 is known.

[특허문헌 1] 일본 특개2004-170495호 공보[Patent Document 1] Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2004-170495

특허문헌 1에 기재된 검사방법에 의하면, 편광판이 양면에 짜 넣어진 액정패널의 배면에 백라이트 광원으로부터의 빛이 조사된다. 상기 백라이트 광의 조사에 의해, 상기 액정패널이 소위 백(白)표시 화면을 표시한 상태로, 백라이트 광원이 배치된 쪽과 반대쪽에 배치된 촬영수단에 의해, 액정패널의 백표시 화면이 촬영된다.According to the inspection method of patent document 1, the light from a backlight light source is irradiated to the back surface of the liquid crystal panel in which the polarizing plate was woven on both surfaces. The back display screen of the liquid crystal panel is picked up by the photographing means arranged on the side opposite to the side where the backlight light source is arranged while the liquid crystal panel displays the so-called white display screen by the backlight light irradiation.

액정패널의 내부에 먼지와 같은 이물이 존재하고, 또 액정패널의 촬영수단쪽 표면에 동일한 이물이 부착해 있으면, 이들 이물로 백라이트 광의 산란이 생기지만, 그 자체는 배경이 되는 백표시 화면보다도 저휘도인 점(흑점)으로서 백표시 화면에 나타난다.If foreign matter such as dust exists inside the liquid crystal panel and the same foreign material adheres to the surface of the photographing means side of the liquid crystal panel, these foreign substances cause scattering of backlight light, but are themselves lower than the white display screen serving as a background. It appears as a luminance point (black point) on the white display screen.

액정패널의 내부에 이물이 존재하면, 액정패널의 화소 자체의 결함과 마찬가지로, 액정패널의 결함으로 간주된다. 그러나 액정패널의 표면에 부착한 이물은 청소에 의해 액정패널로부터 용이하게 제거할 수 있기 때문에, 상기 표면에 부착한 이물에 의한 흑점과, 액정패널의 결함에 의한 흑점을 식별할 필요가 있다.If foreign matter exists inside the liquid crystal panel, it is regarded as a defect of the liquid crystal panel similarly to the defect of the pixels themselves of the liquid crystal panel. However, since foreign matter adhering to the surface of the liquid crystal panel can be easily removed from the liquid crystal panel by cleaning, it is necessary to distinguish between black spots caused by foreign matter adhering to the surface and black spots caused by defects in the liquid crystal panel.

그래서 한 쌍의 편광판이 짜 넣어진 액정패널과 촬영수단 사이에, 편광 필터가 더 삽입된다. 상기 편광 필터는 그 편광방향이 표시패널의 표면에 짜 넣어진 상기 편광판의 편광방향과 직각방향으로 배치된다. 이 상태로 표시패널을 백(白)표시시켜 그 표시화면이 상기 편광 필터를 통하여 촬영된다.Thus, a polarizing filter is further inserted between the liquid crystal panel into which the pair of polarizing plates are incorporated and the photographing means. The polarization filter is disposed in a direction perpendicular to the polarization direction of the polarizing plate whose polarization direction is incorporated on the surface of the display panel. In this state, the display panel is displayed in white, and the display screen is photographed through the polarization filter.

표시패널의 표면에 짜 넣어진 상기 편광판을 투과하는 빛의 편광방향은 상기 편광 필터의 편광방향과 직각이기 때문에, 표시패널의 표면의 상기 편광판을 투과 하는 백라이트 광의 편광 성분은, 상기 편광 필터를 투과하지 않는다. 그 때문에, 촬영수단에 의해 새로 삽입된 상기 편광 필터를 통하여 촬영된 상기 표시패널의 표면은, 흑(黑)표시 화면이 된다. 그러나 표시패널의 표면에 짜 넣어진 상기 편광판 위에 이물이 부착해 있으면, 그 이물에 의해 상기 편광 성분이 산란되기 때문에, 그 산란광이 상기 편광 필터를 투과한다. 다른 한편, 표시패널 내부의 이물에 의해 생기는 산란광은 편광방향을 상호 직교시키는 상기 편광판 및 편광 필터에 의해 차단된다. 그 때문에, 상기 흑표시 화면에는, 표시패널의 표면에 짜 넣어진 상기 편광판 위의 이물이 그 배경보다도 높은 휘도의 점(백점)으로 촬영된다.Since the polarization direction of the light passing through the polarizing plate incorporated on the surface of the display panel is perpendicular to the polarization direction of the polarization filter, the polarization component of the backlight light passing through the polarizing plate on the surface of the display panel passes through the polarization filter. I never do that. Therefore, the surface of the display panel photographed through the polarization filter newly inserted by the photographing means becomes a black display screen. However, if foreign matter adheres to the polarizing plate incorporated on the surface of the display panel, since the polarization component is scattered by the foreign matter, the scattered light passes through the polarization filter. On the other hand, the scattered light generated by the foreign matter inside the display panel is blocked by the polarizing plate and the polarizing filter which orthogonal to the polarization direction. Therefore, on the black display screen, the foreign material on the polarizing plate incorporated on the surface of the display panel is photographed with a point (white point) of luminance higher than that of the background.

따라서 양 화상의 비교에 의해, 상기 백표시 화면 위의 흑점 중, 상기 흑점과 상기 백점과의 중복부분을 상기 편광판 위의 이물의 화상으로서 제거함으로써, 상기 편광판 위의 이물이 액정패널의 결함이라고 오판되는 것을 방지할 수 있다.Therefore, by comparing the two images, by removing the overlapping portion between the black spot and the white spot among the black spots on the white display screen as the foreign material image on the polarizing plate, the foreign material on the polarizing plate is a defect of the liquid crystal panel. Can be prevented.

그러나 액정패널과 백라이트 광원과의 사이에는, 일반적으로 상기 백라이트 광의 휘도 얼룩을 방지하기 위한 광 확산판이 삽입되어 있고, 상기 확산판에 이물이 부착해 있으면, 상기 이물이 상기 백표시 화면의 흑점으로서 관찰된다. 또, 상기 확산판에 부착하는 이물은 상기 편광 필터를 통한 흑(黑)화면에서도 관찰되지 않는다. 그 때문에, 종래의 상기 방법에서는 확산판이 설치되는 경우, 상기 확산판에 부착하는 이물과 상기 액정패널의 결함을 식별할 수 없다.However, when a light diffuser plate is generally inserted between the liquid crystal panel and the backlight light source to prevent luminance unevenness of the backlight light, and foreign matter adheres to the diffuser plate, the foreign material is observed as a black spot on the white display screen. do. In addition, the foreign matter adhering to the diffusion plate is not observed even in the black screen through the polarization filter. Therefore, in the said conventional method, when a diffusion plate is provided, the foreign material adhering to the said diffusion plate and the defect of the said liquid crystal panel cannot be distinguished.

또한, 액정패널의 양면에 편광판이 짜 넣어져 있지 않는 액정패널의 검사에서는, 상기 액정패널의 양면에 각각 편광판이 배치된 상태로, 상기한 바와 같은 백표시 화면이 촬영수단에 의해 촬영된다. 상기 양 편광판 중, 액정패널의 뒷면, 즉 액정패널과 확산판과의 사이에 배치된 한쪽 편광판에 부착한 이물은, 상기 백화면 위의 결함과 동일한 흑점으로서 촬영된다. 게다가 상기 이물은 촬영수단과 이에 근접하는 편광판과의 사이에 삽입되는 상기 편광 필터를 통한 흑화면에서도 촬영되지 않기 때문에, 상기 한쪽 편광판에 부착한 이물과 액정패널의 결함을 식별할 수 없다.In the inspection of the liquid crystal panel in which the polarizing plates are not incorporated on both surfaces of the liquid crystal panel, the white display screen as described above is photographed by the photographing means in a state where the polarizing plates are disposed on both surfaces of the liquid crystal panel, respectively. Of the above two polarizing plates, the foreign matter adhering to the back of the liquid crystal panel, that is, one polarizing plate disposed between the liquid crystal panel and the diffusion plate, is photographed as the same black spot as the defect on the white screen. In addition, since the foreign material is not photographed even on the black screen through the polarization filter inserted between the photographing means and the polarizing plate adjacent to the photographing means, the foreign material attached to the one polarizing plate and the defect of the liquid crystal panel cannot be identified.

또, 수율의 향상 및 자원절약 면에서, 액정패널에 한 쌍의 편광판을 붙이기 전에, 이들 편광판이 설치되어 있지 않는 상태로 액정패널에 결함검사를 실시하는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable to perform defect inspection on the liquid crystal panel in a state in which these polarizing plates are not provided before attaching a pair of polarizing plates to the liquid crystal panel from the viewpoint of improvement of yield and resource saving.

본 발명의 목적은, 편광판이 설치되어 있지 않는 액정패널의 결함을 검사하는 방법에 있어서, 그 검사장치에 포함되는 편광판이나 확산판에 부착한 이물과 액정패널의 결함을 식별할 수 있는 검사방법 및 그 검사에 이용되는 화상처리장치를 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is a method for inspecting a defect of a liquid crystal panel in which a polarizing plate is not provided, wherein the foreign matter attached to the polarizing plate or diffusion plate included in the inspection apparatus and the inspection method capable of identifying a defect of the liquid crystal panel and An image processing apparatus used for the inspection is provided.

본 발명의 상기의 목적 및 기타의 목적들은 하기 설명되는 본 발명에 의하여 모두 달성될 수 있다.The above and other objects of the present invention can be achieved by the present invention described below.

발명의 요약Summary of the Invention

본 발명에 따른 검사방법은, 서로 마주보도록 간격을 두고 배치되는 광원 및 촬영수단과, 상기 광원 및 촬영수단 사이에서 상호 간격을 두고 거의 평행하게 배치되고 편광방향을 소정의 관계로 유지할 수 있는 한 쌍의 편광판과, 상기 광원과 상기 광원 쪽에 배치되는 한쪽 상기 편광판과의 사이에 배치되는 확산판을 갖춘 검사장치를 이용하여, 편광판이 설치되어 있지 않는 액정패널을 그 결함에 대해서 검사하는 방법으로서, 상기 광원으로부터의 빛이 상기 양 편광판을 투과하도록 그 양 편광판 사이에 배치된 상기 액정패널의 액정의 배향을 유지한 상태로, 상기 촬영수단에 의해 다른쪽 상기 편광판의 출사면을 촬영하는 제1 촬영 단계와, 상기 검사장치에 상기 액정패널이 존재하지 않고, 상기 양 편광판의 편광방향을 서로 직각으로 유지하고 상기 광원을 점등한 상태로, 상기 다른쪽 편광판의 상기 출사면을 촬영하는 제2 촬영 단계와, 그리고 상기 검사장치에 상기 액정패널 및 상기 다른쪽 편광판이 존재하지 않고 상기 광원을 점등한 상태로, 상기 촬영수단에 의해 그 촬영수단과 마주보는 상기 확산판의 출사면을 촬영하는 제3 촬영 단계와, 상기 각 촬영 단계에 의해 얻어진 화상에 기초하여, 상기 액정패널의 결함부위를 추출하는 추출 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the inspection method according to the present invention, a pair of light sources and photographing means arranged at intervals to face each other, a pair that is arranged substantially parallel to each other between the light source and the photographing means and can maintain the polarization direction in a predetermined relationship A method for inspecting a defect of a liquid crystal panel in which a polarizing plate is not provided by using a tester equipped with a polarizing plate of the light source and a diffusion plate disposed between the light source and one of the polarizing plates arranged on the light source side, as described above. A first photographing step of photographing the exit surface of the other polarizing plate by the photographing means while maintaining the alignment of the liquid crystal of the liquid crystal panel disposed between the both polarizing plates so that light from the light source passes through the both polarizing plates; And the liquid crystal panel does not exist in the inspection apparatus, and the polarization directions of the polarizing plates are maintained at right angles to each other. A second photographing step of photographing the exit surface of the other polarizing plate with the light source turned on; and the light source being turned on without the liquid crystal panel and the other polarizing plate being present in the inspection apparatus; And a third photographing step of photographing the exit surface of the diffuser plate facing the photographing means by the photographing means, and an extraction step of extracting a defect portion of the liquid crystal panel based on the images obtained by the photographing steps. Characterized in that.

본 발명의 상기 검사방법에서, 제1 촬영 단계에 의해 얻어진 제1 화상은, 상기 광원으로부터의 빛이 상기 양 편광판을 투과하도록 상기 액정패널의 액정의 배향이 유지되어 있기 때문에, 배경이 고휘도인 소위 백화면이 된다. 상기 액정패널의 내부에 이물이 존재하고, 또 상기 광원쪽에 배치된 상기 한쪽 편광판 및 상기 확산판에 이물이 부착해 있으면, 그들 이물에 의한 그림자가 상기 백화면 위에 배경의 휘도보다도 낮은 휘도점(흑점)으로 각각 관찰된다.In the inspection method of the present invention, since the orientation of the liquid crystal of the liquid crystal panel is maintained so that light from the light source passes through the both polarizing plates, the first image obtained by the first photographing step is a so-called background having high luminance. It becomes the back screen. If foreign matter exists inside the liquid crystal panel, and foreign matter adheres to the one polarizing plate and the diffusion plate arranged on the light source side, the shadow by these foreign matters is lower than the luminance of the background on the white screen (black spot). Respectively).

또, 제2 촬영 단계에 의해 얻어진 제2 화상 위에는, 상기 액정패널이 제거되어 있기 때문에, 상기 액정패널에 대한 정보는 포함되지 않고, 상기 광원쪽에 배치된 상기 한쪽 편광판의 액정패널과 마주보는 면에 부착한 이물이 그 산란광에 의해, 다른쪽 편광판을 통하여 배경의 휘도보다도 높은 휘도점(백점)으로 관찰된다. 또, 상기 확산판에 이물이 부착해 있어도, 그 그림자는 양 편광판을 통하여 관찰되기 때문에, 그 그림자는 배경과 분간이 안된다. 그 때문에, 상기 확산판 위에 예를 들어 이물이 존재했다 해도, 그 그림자를 명확하게 잡을 수 없다. 따라서 제2 화상 상에는, 상기 한쪽 편광판 위에 이물이 부착해 있으면, 그 이물에 의한 백점만이 저휘도 배경 중에 관찰된다.In addition, since the liquid crystal panel is removed on the second image obtained by the second photographing step, information about the liquid crystal panel is not included, and on the surface facing the liquid crystal panel of the one polarizing plate disposed on the light source side. The adhered foreign matter is observed by the scattered light at a luminance point (white point) higher than the luminance of the background through the other polarizing plate. In addition, even if foreign matter adheres to the diffusion plate, since the shadow is observed through both polarizing plates, the shadow is indistinguishable from the background. Therefore, even if a foreign material existed on the said diffusion plate, for example, the shadow cannot be caught clearly. Therefore, on the 2nd image, if a foreign material adheres on the said one polarizing plate, only the white point by this foreign material will be observed in a low luminance background.

게다가, 제3 촬영 단계에 의해 얻어진 제3 화상은, 상기 액정패널에 더하여 상기 한쪽 편광판이 제거되기 때문에, 제1 화상에서와 동일한 배경이 고휘도인 소위 백화면이 된다. 따라서 제3 촬영 단계에서는, 상기 광원으로부터의 빛이 상기 확산판 및 상기 한쪽 편광판을 통하여 상기 촬영수단에 의해 촬영되기 때문에, 상기 확산판에 부착한 이물 또는 상기 확산판과 상기 한쪽 편광판과의 사이에 존재하는 이물의 그림자가 각각 배경의 휘도보다 저휘도인 흑점으로 관찰된다.In addition, since the one polarizing plate is removed in addition to the liquid crystal panel, the third image obtained by the third imaging step is a so-called white screen having the same background as that of the first image. Therefore, in the third photographing step, since the light from the light source is photographed by the photographing means through the diffusion plate and the one polarizing plate, the foreign material attached to the diffusion plate or between the diffusion plate and the one polarizing plate. The shadows of the foreign objects present are observed as dark spots, each of which is lower than the luminance of the background.

따라서 제1 화상 상의 흑점 중, 제2 화상 상의 백점 및 제3 화상 상의 흑점과 중복하는 위치의 흑점을 제거하고 남는 흑점을 액정패널 자체의 결함으로 판정함으로써, 액정패널의 결함과 상기 한쪽 편광판 또는 확산판에 부착한 이물을 식별할 수 있게 된다.Therefore, by removing the black spot at the position overlapping with the black spot on the second image and the black spot on the third image among the black spots on the first image, the remaining black spots are determined as defects in the liquid crystal panel itself, thereby deforming the defects of the liquid crystal panel and the one polarizing plate or diffusion. Foreign matter attached to the plate can be identified.

상기 추출 단계는, 상기 제1 촬영 단계에 의해 얻어진 제1 화상으로부터 특 정된 소정의 휘도를 넘지 않는 부분 중, 상기 제2 촬영 단계에 의해 얻어진 제2 화상으로부터 특정된 소정의 휘도를 넘는 부분 및 상기 제3 촬영 단계에 의해 얻어진 제3 화상으로부터 특정된 소정의 휘도를 넘지 않는 부분과 중복하지 않는 부위를 추출하는 것을 포함할 수 있다. 상기 추출 단계에서 추출된 추출부위가 액정패널의 결함임을 판정할 수 있다.The extracting step includes a portion exceeding a predetermined brightness specified from a second image obtained by the second photographing step, and a portion not exceeding a predetermined brightness from the first image obtained by the first photographing step; It may include extracting a portion that does not overlap with a portion that does not exceed a specified brightness from the third image obtained by the third imaging step. It may be determined that the extraction region extracted in the extraction step is a defect of the liquid crystal panel.

상기 액정패널이 예를 들어 TN형인 경우, 제1 촬영 단계에서는, 예를 들어 상기 양 편광판의 편향축은 상호 직각으로 유지되고, 또 상기 액정패널은 액정의 배향에 90도의 비틀림을 준 상태로 상기 한 쌍의 편광판 사이에 배치된다. 이에 의해, 상기 양 편광판의 편향축이 상호 직각으로 유지된 상태에서는, 상기 양 편광판 및 액정패널이 소위 노멀리(normally) 화이트형의 동작을 하도록 조합되어 있다. 따라서 이 조합으로 행해지는 제1 촬영 단계에서는 상기 액정패널의 액정에 전계(電界)를 부여하지 않은 상태로, 한 쌍의 편광판이 짜 넣어진 노멀리 화이트형의 표시패널에서의 백표시 화면과 동등한 제1 화상이 얻어진다.When the liquid crystal panel is, for example, a TN type, in the first imaging step, for example, the deflection axes of the two polarizing plates are kept at right angles to each other, and the liquid crystal panel is in the state of giving a 90 degree twist to the alignment of the liquid crystal. It is arranged between the pair of polarizing plates. Thereby, in the state in which the deflection axes of the both polarizing plates are kept at right angles to each other, the both polarizing plates and the liquid crystal panel are combined so as to perform a so-called normally white operation. Therefore, in the first photographing step performed in this combination, an electric field is not applied to the liquid crystal of the liquid crystal panel, which is equivalent to a white display screen in a normally white display panel in which a pair of polarizing plates are incorporated. The first image is obtained.

제1 촬영 단계에서는, 상기 양 편광판 및 상기 액정을 이들이 노멀리 블랙형을 나타내도록 조합시킬 수 있다. 상기 노멀리 블랙형에서는, 액정패널의 액정에 전계를 부여한 상태로 백표시 화면이 얻어진다. 따라서 상기 노멀리 블랙형의 조합에서는, 액정패널의 액정에 전계를 부여한 상태로, 제1 촬영 단계에서의 백화면이 얻어진다.In the first imaging step, the both polarizing plates and the liquid crystals can be combined so that they show a normally black type. In the normally black type, a white display screen is obtained in a state in which an electric field is applied to the liquid crystal of the liquid crystal panel. Therefore, in the combination of the normally black type | mold, the white screen in a 1st imaging | photography process is obtained in the state which provided the electric field to the liquid crystal of a liquid crystal panel.

본 발명에 따른 화상처리장치는, 상기 제1 화상의 각 부위의 휘도 정보를 제1 역치(threshold)와 비교하는 제1 비교부와, 상기 제2 화상의 각 부위의 휘도 정 보를 제2 역치와 비교하는 제2 비교부와, 상기 제3 화상의 각 부위의 휘도 정보를 제3 역치와 비교하는 제3 비교부와, 상기 제1 내지 제3 비교부로부터의 출력정보에 대응하는 위치 정보를 격납하기 위한 기억부와, 상기 제1 비교부로부터의 출력정보에 대응하는 위치 정보로부터 상기 제2 및 제3 비교부로부터의 출력정보에 대응하는 위치 정보와 중복하지 않는 위치 정보를 결함 부위로서 출력하는 판정부를 갖춘 것을 특징으로 한다.An image processing apparatus according to the present invention includes a first comparison unit for comparing luminance information of each portion of the first image with a first threshold, and luminance information of each portion of the second image with a second threshold value. A second comparator for comparison, a third comparator for comparing luminance information of each part of the third image with a third threshold value, and positional information corresponding to output information from the first to third comparators; And a positional information which does not overlap with the positional information corresponding to the output information from the second and third comparison units from the positional information corresponding to the output information from the first comparing unit and the positional information for storing as a defective part. Characterized in that the determination unit.

본 발명에 따른 상기 화상처리장치에 의하면, 본 발명에 따른 상기 검사방법을 효율적으로 실시할 수 있다. 또, 상기 화상처리장치의 각 비교부 및 정보처리부는 컴퓨터의 CPU의 프로그램 처리에 의해 실현할 수 있다.According to the image processing apparatus according to the present invention, the inspection method according to the present invention can be efficiently performed. Each comparator and information processor of the image processing apparatus can be realized by program processing of a CPU of a computer.

발명의 상세한 설명Detailed description of the invention

도1은 본 발명에 따른 검사방법의 순서를 나타내고, 도2 및 도3은 본 발명의 검사방법을 실시하는데 적절한 검사장치를 나타낸다. 도1에 따른 설명에 앞서, 본 발명에 따른 검사장치(10)를 도2 및 도3에 따라 설명한다.1 shows a procedure of an inspection method according to the present invention, and FIGS. 2 and 3 show an inspection apparatus suitable for carrying out the inspection method of the present invention. Prior to the description of FIG. 1, the inspection apparatus 10 according to the present invention will be described with reference to FIGS.

본 발명에 따른 검사장치(10)는, 도2에 나타내어져 있듯이, 액정패널(12)의 결함의 유무를 검사하는데 이용된다. 상기 액정패널(12)은 도시하지 않았지만 종래 잘 알려져 있듯이, 한 쌍의 유리판으로서 서로 마주보는 면에 예를 들어 각각의 배향축을 직교시킨 배향면이 형성된 한 쌍의 유리판 사이에 액정이 봉입(封入)된 액정패널 본체이다. 상기 액정패널 본체의 양면에는 편광판이 붙여져 있지 않다. 상기 액정패널(12)은 예를 들어 TN형 액정패널이다. 상기 TN 액정패널에서는 종래 잘 알려져 있듯이, 한 쌍의 유리판 사이에 전압이 인가되어 있지 않고, 따라서 한 쌍의 배향막 사이에 전계가 부여되어 있지 않는 상태에서는, 한 쌍의 배향막 사이에서의 액정 분자의 배열에 90도의 비틀림이 주어진다. 또 한 쌍의 배향면 사이에 전계가 부여되면 액정의 비틀림은 해소된다.The inspection apparatus 10 according to the present invention is used to inspect the presence or absence of a defect in the liquid crystal panel 12, as shown in FIG. Although the liquid crystal panel 12 is not shown in the prior art, as is well known, a liquid crystal is enclosed between a pair of glass plates in which, for example, a pair of glass plates face each other, for example, an alignment surface orthogonal to each alignment axis is formed. It is a liquid crystal panel body. The polarizing plate is not attached to both surfaces of the said liquid crystal panel main body. The liquid crystal panel 12 is, for example, a TN type liquid crystal panel. In the TN liquid crystal panel, as is well known in the art, the arrangement of liquid crystal molecules between a pair of alignment films in a state in which no voltage is applied between the pair of glass plates, and thus an electric field is not applied between the pair of alignment films. Is given a twist of 90 degrees. When the electric field is provided between the pair of alignment surfaces, the twist of the liquid crystal is eliminated.

상기 편광판이 설치되어 있지 않는 액정패널(12)을 검사하는 검사장치(10)는, 서로 간격을 두고 배치되는 광원(14) 및 촬영수단(16)과, 광원(14) 및 촬영수단(16) 사이에 상호 간격을 두고 거의 평행하게 배치된 한 쌍의 편광판(18, 20)과, 광원(14) 및 상기 광원에 인접하여 배치된 한쪽 편광판(18)과의 사이에 배치된 광 확산판(22)을 갖춘다.The inspection apparatus 10 for inspecting the liquid crystal panel 12 in which the polarizing plate is not provided includes a light source 14 and a photographing means 16, a light source 14, and a photographing means 16 arranged at intervals from each other. A light diffuser plate 22 disposed between a pair of polarizing plates 18 and 20 disposed substantially parallel to each other with a mutual gap therebetween, and a light source 14 and one polarizing plate 18 disposed adjacent to the light source. )

촬영수단(16)은, 예를 들어 CCD(전하결합소자) 카메라이고, 그 촬영 렌즈면(16a)을 광원(14)의 발광면(14a)에 대향시켜 배치되어 있다. CCD 카메라(16)에는, 촬영 화상을 처리하기 위한 화상처리장치(24)가 접속되어 있다. 광원(14)은 종래 잘 알려진 액정용 백라이트 광원이다.The photographing means 16 is, for example, a CCD (charge coupled device) camera, and the photographing lens surface 16a is disposed to face the light emitting surface 14a of the light source 14. The CCD camera 16 is connected to an image processing device 24 for processing a captured image. The light source 14 is a conventionally well-known backlight light source for liquid crystals.

한 쌍의 편광판(18, 20)은, 서로 편광축을 직교시켜 배치되어 있고, 이에 의해 한 쌍의 편광판(18, 20)과, 그 사이에 배치된 액정패널(12)과의 조합은 노말(normal) 화이트 타입의 액정패널 조립체로서 기능한다. 한쪽 편광판(18) 및 광원(14) 사이에 배치된 광 확산판(22)은 종래 잘 알려져 있는 바와 같이, 광원(14)의 휘도 얼룩을 막고, 균일한 백라이트 광의 조사를 가능하게 한다.The pair of polarizing plates 18 and 20 are arranged with the polarization axes perpendicular to each other, whereby the combination of the pair of polarizing plates 18 and 20 with the liquid crystal panel 12 disposed therebetween is normal. ) As a liquid crystal panel assembly of a white type. The light diffusion plate 22 disposed between the one polarizing plate 18 and the light source 14 prevents luminance unevenness of the light source 14, as is well known in the art, and enables uniform backlight light irradiation.

화상처리장치(24)는, 도3에 나타낸 바와 같이, CCD 카메라(16)로부터 받아들인 화상을 스캔함으로써, 화상의 스캔 부위의 셀 좌표(x, y)마다 그 위치 데이터 및 휘도 데이터를 생성하는 화상 리드(read) 처리부(26)와, 제1 내지 제3 비교부(28a 내지 28c)와, 상기 비교부로부터의 출력 데이터에 기초한 위치 정보를 처리하는 추출부(30)와, 기억부(32)와, 각 부(部)의 동작을 제어하는 제어부(34)를 갖춘다.As shown in Fig. 3, the image processing apparatus 24 scans an image received from the CCD camera 16, thereby generating the position data and the luminance data for each cell coordinate (x, y) of the scanning portion of the image. An image read processing section 26, first to third comparison sections 28a to 28c, an extraction section 30 for processing positional information based on output data from the comparison section, and a storage section 32 ) And a control unit 34 for controlling the operation of each unit.

기억부(32)에는, 화상 리드 처리부(26)에 의해 생성된 상기 데이터가 제어부(34)의 제어 하에서 격납된다. 각 제1 내지 제3 비교부(28a 내지 28c)에는, 휘도에 대한 제1 내지 제3 역치가 각각 설정되어 있다. 제1 내지 제3 비교부(28a 내지 28c)는, 제어부(34)의 제어 하에서, 화상 리드 처리부(26)에 의해 얻어진 휘도 데이터와 각 제1 내지 제3 역치를 비교한다.In the storage unit 32, the data generated by the image read processing unit 26 is stored under the control of the control unit 34. In each of the first to third comparison units 28a to 28c, first to third threshold values for luminance are respectively set. The first to third comparison units 28a to 28c compare the luminance data obtained by the image read processing unit 26 with the respective first to third threshold values under the control of the control unit 34.

제1 비교부(28a)는, 제어부(34)의 제어 하에서, 비교대상의 휘도 데이터가 제1 역치를 넘지 않을 때, 그 비교 데이터에 대응하는 위치 데이터를 기억부(32)에 출력한다. 또, 제2 비교부(28b)는 제어부(34)의 제어 하에서, 비교대상의 휘도 데이터가 제2 역치를 넘을 때, 그 비교 데이터에 대응하는 위치 데이터를 기억부(32)에 출력한다. 게다가, 제3 비교부(28c)는 제어부(34)의 제어 하에서, 비교대상의 휘도 데이터가 제3 역치를 넘지 않을 때, 그 비교 데이터에 대응하는 위치 데이터를 기억부(32)에 출력한다.Under the control of the control unit 34, the first comparison unit 28a outputs the position data corresponding to the comparison data to the storage unit 32 when the luminance data to be compared does not exceed the first threshold. In addition, under the control of the control unit 34, the second comparison unit 28b outputs the position data corresponding to the comparison data to the storage unit 32 when the luminance data to be compared exceeds the second threshold. In addition, under the control of the control unit 34, the third comparison unit 28c outputs the position data corresponding to the comparison data to the storage unit 32 when the luminance data to be compared does not exceed the third threshold.

추출부(30)는, 제어부(34)의 제어 하에서, 각 제1 내지 제3 비교부(28a 내지 28c)의 출력정보로부터 얻어지는 상기 위치 정보를 연산 처리한다. 상기 연산 처리에 의해, 추출부(30)는, 제1 비교부(28a)에 의해 얻어진 위치 정보로부터, 제2 비교부(28b) 및 제3 비교부(28c)에 의해 얻어진 위치 정보를 제거한 결과, 남는 위치 정보를 연산 결과로서 출력한다.The extraction part 30 arithmetic-processes the said positional information obtained from the output information of each of the 1st-3rd comparison parts 28a-28c under the control of the control part 34. FIG. As a result of the arithmetic processing, the extraction unit 30 removes the positional information obtained by the second comparing unit 28b and the third comparing unit 28c from the positional information obtained by the first comparing unit 28a. , And outputs the remaining position information as the operation result.

각 제1 내지 제3 비교부(28a 내지 28c) 및 추출부(30)의 동작을 본 발명의 방법의 순서를 나타낸 도1의 프로우 차트를 따라 설명한다.The operation of each of the first to third comparison units 28a to 28c and the extraction unit 30 will be described according to the flow chart of Fig. 1 showing the procedure of the method of the present invention.

본 발명의 방법의 제1 촬영 단계(S1)에서는, 도4에 나타나 있듯이, 한 쌍의 편광판(18, 20) 사이에 액정패널(12)이 유지된 상태로 광원(14)이 점등된다. 상기 광원(14)으로부터 광 확산판(22)을 거쳐 광도가 균일화된 조사광의 조사를 받는 상기 액정패널 조합(12, 18, 20)은, 한 쌍의 편광판(18, 20)이 그들의 편광축이 직각이 되도록 배치되어 있기 때문에, 노멀리 화이트형으로서 동작한다. 따라서 액정패널(12)에 전계를 부여하지 않고, CCD 카메라(16)쪽에 위치하는 다른쪽 편광판(20)을 통하여 액정패널(12)을 관찰하면, 전체가 휘도가 높은 백표시로서 관찰된다. 그 때문에, CCD 카메라(16)로 다른쪽 편광판(20)의 출사면(20a) 즉 편광판(20)의 CCD 카메라(16)에 근접하는 면(20a)을 촬영하면, 그 화면은 백표시 화면이 된다.In the first photographing step S1 of the method of the present invention, as shown in FIG. 4, the light source 14 is turned on with the liquid crystal panel 12 held between the pair of polarizing plates 18 and 20. In the liquid crystal panel combinations 12, 18, and 20 which are irradiated with irradiated light whose luminance is uniform through the light diffusion plate 22 from the light source 14, a pair of polarizing plates 18 and 20 are perpendicular to their polarization axes. Since it is arrange | positioned so that it may become, it operates as a normally white type | mold. Therefore, when the liquid crystal panel 12 is observed through the other polarizing plate 20 located on the CCD camera 16 side without giving an electric field to the liquid crystal panel 12, the whole is observed as a white display with high luminance. Therefore, if the CCD camera 16 captures the emission surface 20a of the other polarizing plate 20, that is, the surface 20a that is close to the CCD camera 16 of the polarizing plate 20, the screen is displayed with a white display screen. do.

이 때, 액정패널(12) 내에 먼지와 같은 이물 A가 존재하면, 이 이물에 의해 산란광이 생기지만, 상기 산란광은 백표시 화면의 휘도와 비교하여 극히 낮다. 그 때문에, 이물 A는 백표시 화면의 배경에서는, 그 배경의 휘도보다 낮은 그림자(흑점)로서 관찰된다. 또, 이물 A에 더하여, 한쪽 편광판(18)의 액정패널(12)과 마주보는 한쪽 면(18a) 위에 이물 B가 부착해 있으면, 상기 이물 B에 의해 산란광이 생기지만, 백표시 화면의 휘도와 비교하여 극히 낮기 때문에, 이물 A와 마찬가지로, 이물 B는 그 그림자(흑점)로서 관찰된다. 게다가 광 확산판(22)의 예를 들어 한쪽 편광판(18)과 마주보는 한쪽 면(22a)에 동일한 이물 C가 부착해 있으면, 상기 이물 C의 그림자도 마찬가지로, 흑점으로서 관찰된다.At this time, if foreign matter A such as dust exists in the liquid crystal panel 12, the scattered light is generated by the foreign matter, but the scattered light is extremely low compared to the luminance of the white display screen. Therefore, the foreign material A is observed as a shadow (black spot) lower than the luminance of the background on the background of the white display screen. In addition to the foreign material A, if the foreign material B adheres on the one surface 18a facing the liquid crystal panel 12 of the one polarizing plate 18, the foreign material B causes scattered light, but the brightness of the white display screen Since it is extremely low in comparison, like the foreign material A, the foreign material B is observed as the shadow (black spot). In addition, when the same foreign material C adheres to the one surface 22a facing the polarizing plate 18, for example, the light diffusion plate 22, the shadow of the said foreign material C is similarly observed as a black spot.

그 결과, 제1 촬영 단계(S1)에서, CCD 카메라(16)에 의해 촬영된 백표시 화면 위에는, 이들 이물 A 내지 C의 흑점이 나타난다. 이들 흑점을 포함하는 상기 백표시 화면의 휘도는, 화상 리드 처리부(26)에 의해, 그 위치 정보와 함께 데이터화된다. 그 화상 데이터의 휘도는, 제1 비교부(28a)에 의해 적정하게 설정된 제1 역치와 비교됨으로써, 이물 A 내지 C에 대응하는 위치 정보가 추출되고, 기억부(32)에 격납된다.As a result, black spots of these foreign materials A to C appear on the white display screen picked up by the CCD camera 16 in the first photographing step S1. The brightness of the white display screen including these black spots is converted into data by the image read processing unit 26 together with the positional information. The luminance of the image data is compared with the first threshold value appropriately set by the first comparison unit 28a, whereby the positional information corresponding to the foreign materials A to C is extracted and stored in the storage unit 32.

제2 촬영 단계(S2)에서는, 도5에 나타내어져 있듯이, 한 쌍의 편광판(18, 20) 사이에서 액정패널(12)이 제거된다. 그 결과, 한 쌍의 편광판(18, 20) 사이에 액정패널(12)이 없는 상태로, 한 쌍의 편광판(18, 20)을 통하여 광원(14)으로부터 광 확산판(22)을 거친 조사광이 CCD 카메라(16)에 의해 잡힌다. 여기에서, 한 쌍의 편광판(18, 20)은 상기한 바와 같이, 그 편향축을 상호 직교하여 배치되어 있기 때문에, 한쪽 편광판(18)을 투과한 편광이 다른쪽 편광판(20)을 투과하지 않는다. 그 때문에, CCD 카메라(16)에 의해 촬영되는 다른쪽 편광판(20)의 출사면(20a)의 화상은, 전체에 그 휘도가 현저하게 낮은 흑(黑)표시 화면이 된다.In the second imaging step S2, the liquid crystal panel 12 is removed between the pair of polarizing plates 18 and 20, as shown in FIG. As a result, the irradiation light which passed through the light diffuser plate 22 from the light source 14 through the pair of polarizing plates 18 and 20 without the liquid crystal panel 12 between the pair of polarizing plates 18 and 20. This is captured by the CCD camera 16. Here, since the pair of polarizing plates 18 and 20 are arrange | positioned orthogonally to the deflection axis mutually, as mentioned above, the polarized light which permeate | transmitted one polarizing plate 18 does not transmit the other polarizing plate 20. As shown in FIG. Therefore, the image of the emission surface 20a of the other polarizing plate 20 picked up by the CCD camera 16 becomes a black display screen whose luminance is remarkably low throughout.

이 때, 한쪽 편광판(18)을 투과한 편광이 상기 한쪽 면(18a)에 부착한 이물 B에 닿으면, 상기 편광은 산란을 받기 때문에, 그 산란광의 다른쪽 편광판(20)의 편향축에 따른 편광 성분이 다른쪽 편광판(20)을 투과한다. 이 투과광은 흑표시 화면의 휘도 즉 배경의 휘도와 비교하여 높은 휘도를 나타낸다. 그 때문에, 상기 이물 B가 배경보다도 휘도가 높은 휘점(백점)으로서, 상기 흑표시 화면 위에 나타난 다. 다른 한편, 광 확산판(22) 위의 이물 C에서도, 산란광이 생기지만, 그 산란광은 한쪽 편광판(18)을 거침으로써 편광되고, 그 편광이 다른쪽 편광판(20)에 의해 차폐되기 때문에, 이물 B와 같은 휘점으로서 관찰되지 않고, 흑표시 화면의 배경과 거의 일체가 된다.At this time, when the polarized light transmitted through the one polarizing plate 18 touches the foreign material B attached to the one side 18a, the polarized light is scattered, and thus the polarized light along the deflection axis of the other polarizing plate 20 of the scattered light is The polarization component passes through the other polarizing plate 20. This transmitted light shows a high luminance compared with the luminance of the black display screen, that is, the luminance of the background. Therefore, the foreign material B appears on the black display screen as a bright point (white point) having a higher luminance than the background. On the other hand, even in the foreign material C on the light diffuser plate 22, scattered light is generated, but the scattered light is polarized by passing through one polarizing plate 18, and since the polarized light is shielded by the other polarizing plate 20, the foreign material It is not observed as a bright spot like B, and is almost integrated with the background of the black display screen.

그 결과, 제2 촬영 단계(S2)에서, CCD 카메라(16)에 의해 촬영된 상기 흑표시 화면 위에는, 이물 B만의 백점(白点)이 나타난다. 상기 백점을 포함하는 상기 흑표시 화면의 휘도는, 화상 리드 처리부(26)에 의해, 그 위치 정보와 함께 데이터화된다. 그 화상 데이터의 휘도는 제2 비교부(28b)에 의해 적정하게 설정된 제2 역치와 비교됨으로써, 이물 B에 대응하는 위치 정보가 추출되고, 기억부(32)에 격납된다.As a result, a white spot of only the foreign material B appears on the black display screen picked up by the CCD camera 16 in the second photographing step S2. The brightness of the black display screen including the white point is converted into data by the image read processing unit 26 together with the positional information. The luminance of the image data is compared with the second threshold value appropriately set by the second comparison unit 28b, whereby the positional information corresponding to the foreign material B is extracted and stored in the storage unit 32.

제3 촬영 단계(S3)에서는, 도6에 나타내어져 있듯이, 액정패널(12)에 더하여, 다른쪽 편광판(20)도 제거된다. 이에 의해, CCD 카메라(16)는, 광원(14)으로부터 광 확산판(22) 및 남은 한쪽 편광판(18)을 거친 빛을 잡는다. 이 때, 남은 편광판(18)을 지나는 빛은 상기 편광판의 평광축을 따른 편광이 되는데, 그 편광은 편광판(18)을 투과한다. 그 때문에, CCD 카메라(16)에 의해 촬영되는 편광판(18)의 출사면(18a)은 백표시 화면이 된다. 또, 편광판(18)의 한쪽 면(18a) 위의 이물 B의 산란광은 제거된 다른쪽 편광판(20)을 거치지 않고 CCD 카메라(16)에 잡히기 때문에, 휘점으로서 백표시 화면 위에 나타나므로 그 배경과 거의 일체가 된다.In the third imaging step S3, as shown in Fig. 6, in addition to the liquid crystal panel 12, the other polarizing plate 20 is also removed. As a result, the CCD camera 16 captures the light passing through the light diffusion plate 22 and the remaining polarizing plate 18 from the light source 14. At this time, the light passing through the remaining polarizing plate 18 becomes polarized light along the flat axis of the polarizing plate, and the polarized light is transmitted through the polarizing plate 18. Therefore, the emission surface 18a of the polarizing plate 18 picked up by the CCD camera 16 becomes a white display screen. In addition, since the scattered light of the foreign material B on one side 18a of the polarizing plate 18 is caught by the CCD camera 16 without passing through the other polarizing plate 20 that has been removed, it appears on the white display screen as a bright spot. Almost one.

이에 대하여, 광 확산판(22) 위의 한쪽 면 위에 있는 이물 C에서의 산란광은, 남은 편광판(18)을 거침으로써, 그 휘도가 저감되기 때문에, 백표시 화면의 배 경에 그림자로서 표시된다. 그 결과, 제3 촬영 단계(S3)에서, CCD 카메라(16)에 의해 촬영된 상기 백표시 화면 위에는 도7에 나타낸 바와 같이, 이물 C의 그림자만이 흑점으로서 나타난다. 상기 흑점을 포함하는 상기 백표시 화면의 휘도는, 화상 리드 처리부(26)에 의해 그 위치 정보와 함께 데이터화된다. 그 화상 데이터의 휘도는, 제3 비교부(28c)에 의해 적정하게 설정된 제3 역치와 비교됨으로써, 이물 C에 대응하는 위치 정보가 추출되고, 기억부(32)에 격납된다.On the other hand, the scattered light in the foreign material C on one surface on the light diffuser plate 22 is displayed as a shadow in the background of the white display screen because its luminance is reduced by passing through the remaining polarizing plate 18. As a result, in the third imaging step S3, only the shadow of the foreign material C appears as black spots on the white display screen captured by the CCD camera 16 as shown in FIG. The luminance of the white display screen including the black spot is dataized by the image read processing unit 26 together with its positional information. The luminance of the image data is compared with the third threshold value appropriately set by the third comparison unit 28c, whereby the positional information corresponding to the foreign material C is extracted and stored in the storage unit 32.

제1 및 제2 촬영 단계(S1, S2)에서의 CCD 카메라(16) 및 촬영면 사이의 거리와, 제3 촬영 단계(S3)에서의 그 거리와의 차에 의한 상기 각 위치 정보의 어긋남은, 예를 들어 연산처리에 의해 프로그램적으로(programmatically) 보정할 수 있다.The deviation of the respective positional information due to the difference between the distance between the CCD camera 16 and the photographing surface in the first and second photographing steps S1 and S2 and the distance in the third photographing step S3 For example, it can correct programmatically by arithmetic processing.

제4 추출 단계(S4)에서는, 각 제1 내지 제3 촬영 단계(S1 내지 S3)에서 얻어진 제1 내지 제3 화상 즉 상기 백표시 화면 및 흑표시 화면의 각 화상으로 특정된 각 부위의 상기 위치 정보로부터, 추출부(30)는 액정패널(12)의 결함(A)에 의한 부위를 추출한다. 상기 추출을 위해, 추출부(30)는 제어부(34)의 제어 하에서, 기억부(32)에 격납된 이물 A에 대한 위치 정보로 특정되는 부위 중, 이물 B에 대한 위치 정보로 특정되는 부위 및 이물 C에 대한 위치 정보로 특정되는 부위와 중복하지 않는 부위의 위치 정보를 제어부(34)에 출력한다. 제어부(34)는, 도시하지 않은 예를 들어 디스플레이 패널과 같은 표시부에 좌표 또는 화상으로서 추출부(30)의 추출 결과를 표시한다.In the fourth extraction step S4, the positions of the respective portions specified by the first to third images obtained in each of the first to third imaging steps S1 to S3, that is, the respective images of the white display screen and the black display screen. From the information, the extraction part 30 extracts the site | part by the defect A of the liquid crystal panel 12. FIG. For the extraction, the extraction unit 30 is under the control of the control unit 34, the portion specified by the position information for the foreign substance B among the portions specified by the position information about the foreign substance A stored in the storage unit 32 and The control unit 34 outputs the positional information of the portion that does not overlap with the portion specified as the positional information on the foreign material C. The control part 34 displays the extraction result of the extraction part 30 as a coordinate or an image on the display part like a display panel which is not shown in figure.

상기 표시 결과에는, 피검사체인 액정패널(12)의 결함(A)만이 나타나고, 검 사장치(10)의 일부를 구성하는 편광판(18) 및 광 확산판(22)의 이물(B, C)의 그림자가 제거되어 있기 때문에, 액정패널(12)의 진짜 결함(A)을 식별할 수 있다.In the display result, only the defect A of the liquid crystal panel 12 which is the test object appears, and the foreign materials B and C of the polarizing plate 18 and the light diffuser plate 22 constituting a part of the inspection apparatus 10. Since the shadow of is removed, the real defect A of the liquid crystal panel 12 can be identified.

상기한 바에서는, 광 확산판(22) 위의 한쪽 면(22a)에 이물(C)이 부착한 예에 따라 설명하였지만, 도6에 점선으로 나타낸 대로, 한쪽 편광판(18)의 다른쪽 면(18b)과 광원(14)의 발광면(14a)과의 사이에 존재하는 이물도 이물 C와 마찬가지고 취급할 수 있기 때문에, 액정패널(12)의 결함(A)을 한쪽 편광판(18)의 다른쪽 면(18b)과 광원(14)의 발광면(14a)과의 사이에 존재하는 이물로부터 식별할 수 있다.In the above description, the foreign material C was attached to one surface 22a on the light diffusion plate 22, but the other surface of the one polarizing plate 18, as indicated by the dotted line in FIG. Since foreign matter existing between the light emitting surface 14a of the light source 14 and 18b can be handled in the same manner as the foreign material C, the defect A of the liquid crystal panel 12 is the other side of the polarizing plate 18. It can identify from the foreign material which exists between the surface 18b and the light emitting surface 14a of the light source 14. As shown in FIG.

또, 제1 촬영 단계(S1)에서는, 한 쌍의 편광판(18, 20)을 그 편광축이 상호 직각방향으로 향하도록 배치한 예를 나타내었다. 이 대신에, 한 쌍의 편광판(18, 20)을 그 편광축이 상호 평행해지도록 배치할 수 있다. 이 경우, 편광축을 상호 평행하게 배치된 한 쌍의 편광판(18, 20)과, 그 사이에 배치되는 액정패널(12)은 소위 노멀리 블랙형 액정으로서 기능한다. 그 때문에, 제1 촬영 단계(S1)에서는 액정패널(12)에 전계를 부여한 상태로, CCD 카메라(16)에 의해 편광판(20)의 출사면(20a)을 촬영함으로써, 상기한 백표시 화면과 동일한 제1 화상이 얻어진다.Moreover, in the 1st imaging | photography stage S1, the example which has arrange | positioned a pair of polarizing plates 18 and 20 so that the polarization axis may orthogonal to each other was shown. Instead, the pair of polarizing plates 18 and 20 can be arranged so that their polarization axes are parallel to each other. In this case, the pair of polarizing plates 18 and 20 arranged in parallel with each other and the liquid crystal panel 12 arranged therebetween function as a so-called normally black liquid crystal. Therefore, in the first photographing step S1, the emission surface 20a of the polarizing plate 20 is photographed by the CCD camera 16 while the electric field is applied to the liquid crystal panel 12. The same first image is obtained.

또, 제1 촬영 단계(S1)에서, 편광축을 상호 평행하게 배치한 한 쌍의 편광판(18, 20)이 이용된 경우, 제2 촬영 단계(S2)에서는 양 편광판(18, 20)은 그 편광축이 상호 직각으로 향하도록 배치된다.In the first imaging step S1, when a pair of polarizing plates 18, 20 having polarization axes arranged in parallel with each other is used, in the second imaging step S2, both polarizing plates 18, 20 have their polarization axes. It is arranged to face at right angles to each other.

게다가, 제1 촬영 단계(S1)에서, 노멀리 블랙형의 액정으로서 기능시키고, 액정패널(12)에 전계를 부여한 상태로 백표시 화면의 제1 화상을 얻은 경우, 상기 백표시 화면에는 액정패널(12) 내의 이물 A에 의한 결함 외에, 액정패널의 셀 자체의 동작 불량에 의한 흑(黑)결함이 제1 화상에 흑점으로서 검출되기 때문에, 상기 흑결함도 액정패널(12) 자체의 결함으로서 검출할 수 있다.In addition, in the first photographing step S1, when the first image of the back display screen is obtained while functioning as a normally black liquid crystal and applying an electric field to the liquid crystal panel 12, the back display screen includes a liquid crystal panel. In addition to the defects caused by the foreign material A in (12), since black defects due to malfunction of the cell itself of the liquid crystal panel are detected as black spots in the first image, the black defects also serve as defects of the liquid crystal panel 12 itself. Can be detected.

본 발명은, 상기 실시예에 한정되지 않고, 그 취지를 벗어나지 않는 한, 다양하게 변경할 수 있다. 예를 들어, 제1 내지 제3 촬영 단계(S1 내지 S3)는 추출 단계(S4) 전에 행해지는 한, 단계 S1 내지 S3 간의 상호 순서는 전후해도 아무런 문제가 생기지 않는다.The present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made without departing from the spirit thereof. For example, as long as the first to third imaging steps S1 to S3 are performed before the extraction step S4, there is no problem even if the mutual order between the steps S1 to S3 is before and after.

본 발명의 상기 검사방법에 의하면, 각 촬영 단계에 의해 얻어진 화상으로부터 액정패널의 결함과, 검사장치의 상기 한쪽 편광판 또는 확산판에 부착한 이물을 식별할 수 있고, 이들 이물을 결함으로 오판하는 것을 확실히 방지할 수 있다.According to the inspection method of the present invention, it is possible to identify defects in the liquid crystal panel and foreign matters attached to one of the polarizing plates or diffusion plates of the inspection apparatus from the images obtained by each photographing step, and to misjudge these foreign objects as defects. It can certainly be prevented.

또, 본 발명의 상기 장치에 의하면, 효율적으로 본 발명의 상기 검사방법을 실시할 수 있다.Moreover, according to the said apparatus of this invention, the said inspection method of this invention can be implemented efficiently.

본 발명의 단순한 변형 내지 변경은 이 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의하여 용이하게 이용될 수 있으며, 이러한 변형이나 변경은 모두 본 발명의 영역에 포함되는 것으로 볼 수 있다.Simple modifications and variations of the present invention can be readily used by those skilled in the art, and all such variations or modifications can be considered to be included within the scope of the present invention.

Claims (5)

서로 마주보도록 간격을 두고 배치되는 광원 및 촬영수단과; 상기 광원 및 촬영수단 사이에 상호 간격을 두고 거의 평행하게 배치되고 편광방향을 특정 관계로 유지할 수 있는 한 쌍의 편광판과; 상기 광원 및 그 광원 쪽에 배치되는 한쪽 상기 편광판 사이에 배치되는 확산판을 갖춘 검사장치를 이용하여, 편광판이 설치되어 있지 않는 액정패널을 그 결함에 대해서 검사하는 방법에 있어서,Light sources and photographing means disposed at intervals to face each other; A pair of polarizing plates arranged substantially parallel to each other between the light source and the photographing means and capable of maintaining a polarization direction in a specific relationship; In the method of inspecting the defect for the liquid crystal panel in which the polarizing plate is not provided using the inspection apparatus provided with the said light source and the diffuser plate arrange | positioned between the said one polarizing plate arrange | positioned at the light source side, 상기 광원으로부터의 빛이 상기 양 편광판을 투과하도록 상기 양 편광판 사이에 배치된 상기 액정패널의 액정의 배향을 유지한 상태로, 상기 촬영수단에 의해 다른쪽 상기 편광판의 출사면을 촬영하는 제1 촬영 단계;First photographing for photographing the exit surface of the other polarizing plate by the photographing means while maintaining the alignment of the liquid crystal of the liquid crystal panel disposed between the both polarizing plates so that light from the light source passes through the both polarizing plates. step; 상기 검사장치에 상기 액정패널이 존재하지 않는 상태로, 그리고 상기 양 편광판의 편광방향을 서로 직각으로 유지하고 상기 광원을 점등한 상태로, 상기 다른쪽 편광판의 상기 출사면을 촬영하는 제2 촬영 단계;A second photographing step of photographing the exit surface of the other polarizing plate in a state in which the liquid crystal panel is not present in the inspection apparatus, and maintaining the polarization directions of the two polarizing plates at right angles to each other and lighting the light source; ; 상기 검사장치에 상기 액정패널 및 상기 다른쪽 편광판이 존재하지 않고 상기 광원을 점등한 상태로, 상기 촬영수단에 의해 그 촬영수단과 마주보는 상기 확산판의 출사면을 촬영하는 제3 촬영 단계; 및A third photographing step of photographing the exit surface of the diffuser plate facing the photographing means by the photographing means while the liquid crystal panel and the other polarizing plate are not present in the inspection apparatus and the light source is turned on; And 상기 각 촬영 단계에 의해 얻어진 화상에 기초하여, 상기 액정패널의 결함 부위를 추출하는 추출 단계;An extraction step of extracting a defective portion of the liquid crystal panel based on the images obtained by the respective imaging steps; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정패널의 검사방법.Inspection method of the liquid crystal panel comprising a. 제1항에 있어서, 상기 추출 단계는, 상기 제1 촬영 단계에 의해 얻어진 제1 화상으로부터 특정된 소정의 휘도를 넘지 않는 부분 중, 상기 제2 촬영 단계에 의해 얻어진 제2 화상으로부터 특정된 소정의 휘도를 넘는 부분 및 상기 제3 촬영 단계에 의해 얻어진 제3 화상으로부터 특정된 소정의 휘도를 넘지 않는 부분과 중복하지 않는 부위를 추출하는 것을 포함하고, 그 추출 부위가 결함임을 판정하는 것을 특징으로 하는 액정패널의 검사방법.The predetermined step according to claim 1, wherein the extracting step includes a predetermined part specified from the second image obtained by the second photographing step among the portions not exceeding a predetermined brightness specified from the first image obtained by the first photographing step. Extracting a portion which does not overlap with a portion not exceeding the specified predetermined brightness from the portion exceeding the luminance and the third image obtained by the third photographing step, and determining that the extraction portion is a defect. Inspection method of liquid crystal panel. 제1항에 있어서, 상기 제1 촬영 단계에서는, 상기 액정패널은 상기 한 쌍의 편광판과 함께 노멀리 화이트형으로 조합되고, 상기 액정패널의 액정에 전계가 부여되어 있지 않는 상태로 상기 한 쌍의 편광판 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 액정패널의 검사방법.The liquid crystal panel of claim 1, wherein in the first photographing step, the liquid crystal panel is combined with the pair of polarizing plates in a normally white type, and the pair of liquid crystal panels is not provided with an electric field. Inspection method of a liquid crystal panel, characterized in that disposed between the polarizing plate. 제1항에 있어서, 상기 제1 촬영 단계에서는, 상기 액정패널은 상기 한 쌍의 편광판과 함께 노멀리 블랙형으로 조합되고, 상기 액정패널의 액정에 전계가 부여되어 있는 상태로 상기 한 쌍의 편광판 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 액정패널의 검사방법.The pair of polarizing plates of claim 1, wherein in the first photographing step, the liquid crystal panel is combined with the pair of polarizing plates in a normally black type, and an electric field is applied to the liquid crystal of the liquid crystal panel. Inspection method of a liquid crystal panel, characterized in that disposed between. 제1항의 방법에 사용되는 화상처리장치로서, 상기 제1 화상의 각 부위의 휘도정보를 제1 역치와 비교하는 제1 비교부와; 상기 제2 화상의 각 부위의 휘도정보를 제2 역치와 비교하는 제2 비교부와; 상기 제3 화상의 각 부위의 휘도정보를 제3 역치와 비교하는 제3 비교부와; 상기 제1 내지 제3 비교부로부터의 출력정보에 대응하는 위치 정보를 격납하기 위한 기억부와; 상기 제1 비교부로부터의 출력정보에 대응하는 위치 정보로부터 상기 제2 및 제3 비교부로부터의 출력정보에 대응하는 위치 정보와 중복하지 않는 위치 정보를 결함부위로서 출력하는 추출부를 갖춘 것을 특징으로 하는 화상처리장치.An image processing apparatus for use in the method of claim 1, comprising: a first comparison section for comparing luminance information of each portion of the first image with a first threshold value; A second comparing unit which compares luminance information of each part of the second image with a second threshold value; A third comparing unit which compares luminance information of each part of the third image with a third threshold value; A storage unit for storing positional information corresponding to output information from the first to third comparison units; And an extraction unit for outputting, as a defective portion, position information corresponding to output information from the second and third comparison units from position information corresponding to the output information from the first comparing unit. An image processing apparatus.
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