KR100829891B1 - Inspection Method for Liquid Crystal Panel and Image Processing Apparatus - Google Patents
Inspection Method for Liquid Crystal Panel and Image Processing Apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- KR100829891B1 KR100829891B1 KR1020070066153A KR20070066153A KR100829891B1 KR 100829891 B1 KR100829891 B1 KR 100829891B1 KR 1020070066153 A KR1020070066153 A KR 1020070066153A KR 20070066153 A KR20070066153 A KR 20070066153A KR 100829891 B1 KR100829891 B1 KR 100829891B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- liquid crystal
- crystal panel
- photographing
- polarizing plate
- light source
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8848—Polarisation of light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
- G01N2021/8858—Flaw counting
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N2021/9513—Liquid crystal panels
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
본 발명은, 편광판이 없는 액정패널을 검사하는 방법에 있어서, 검사장치의 편광판이나 확산판에 부착한 이물(異物)과 액정패널의 결함을 식별할 수 있는 검사방법을 제공한다. 광원으로부터의 빛이 한 쌍의 편광판을 투과하도록 액정패널의 액정의 배향을 유지한 상태로, 촬영수단에 의해, 상기 촬영수단과 마주보는 편광판의 출사면을 촬영하는 제1 촬영 단계와, 검사장치에서 액정패널을 제거하고, 양 편광판의 편광방향을 서로 직각으로 유지하고 광원을 점등한 상태로, 촬영수단과 마주보는 편광판의 출사면을 촬영하는 제2 촬영 단계와, 검사장치에서 액정패널 및 다른쪽 편광판을 제거하고, 광원을 점등한 상태로, 촬영수단에 의해 상기 촬영수단과 마주보는 확산판의 출사면을 촬영하는 제3 촬영 단계와, 각 촬영에 의해 얻어진 화상에 기초하여, 액정패널의 결함 부위를 추출하는 추출 단계를 포함한다.This invention provides the inspection method which can distinguish the foreign material adhering to the polarizing plate or diffuser plate of a test | inspection apparatus, and the defect of a liquid crystal panel in the method of test | inspecting the liquid crystal panel without a polarizing plate. A first photographing step of photographing the exit surface of the polarizing plate facing the photographing means by the photographing means while maintaining the alignment of the liquid crystal of the liquid crystal panel so that light from the light source passes through the pair of polarizing plates; A second photographing step of removing the liquid crystal panel from the polarizing plate, maintaining the polarization directions of the polarizing plates at right angles to each other, and photographing the exit surface of the polarizing plate facing the photographing means; A third photographing step of photographing the exit surface of the diffusion plate facing the photographing means by the photographing means with the polarizing plate removed and the light source turned on, and based on the images obtained by the photographing, An extraction step of extracting the defect site.
편광판, 확산판, 액정패널, 촬영장치, 이물, 결함, 화상, 검사장치 Polarizing plate, diffuser plate, liquid crystal panel, photographing device, foreign object, defect, image, inspection device
Description
도1은 본 발명에 따른 검사방법을 나타내는 프로우 차트이다.1 is a pro chart showing the inspection method according to the present invention.
도2는 본 발명에 따른 검사방법을 실시하는 검사장치를 개략적으로 나타낸 구성도이다.2 is a configuration diagram schematically showing an inspection apparatus for implementing the inspection method according to the present invention.
도3은 본 발명에 따른 검사장치의 화상처리장치의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다.3 is a block diagram schematically showing the configuration of the image processing apparatus of the inspection apparatus according to the present invention.
도4는 본 발명에 따른 검사방법의 제1 촬영 단계의 촬영상태를 모식적으로 나타낸 설명도이다.4 is an explanatory diagram schematically showing a photographing state in the first photographing step of the inspection method according to the present invention.
도5는 본 발명에 따른 검사방법의 제2 촬영 단계의 촬영상태를 모식적으로 나타낸 도4와 동일한 도면이다.FIG. 5 is a view similar to FIG. 4 schematically showing a photographing state in a second photographing step of the inspection method according to the present invention. FIG.
도6은 본 발명에 따른 검사방법의 제3 촬영 단계의 촬영상태를 모식적으로 나타낸 도4와 동일한 도면이다.FIG. 6 is a view similar to FIG. 4 schematically showing a photographing state in a third photographing step of the inspection method according to the present invention.
도7은 제3 촬영 단계에 의해 얻어지는 제3 화상의 일례를 나타내는 모식도이다.7 is a schematic diagram illustrating an example of a third image obtained by the third imaging step.
* 도면의 주요 부호에 대한 설명 *Description of the main symbols in the drawings
10: 검사장치 12: 액정패널10: inspection device 12: liquid crystal panel
14: 광원 16: CCD 카메라(촬영수단)14: light source 16: CCD camera (shooting means)
18: 한쪽 편광판 20: 다른쪽 편광판18: one polarizer 20: the other polarizer
22: 광 확산판 24: 화상처리장치22: light diffusion plate 24: image processing apparatus
26: 화상 리드(read) 처리부 28a∼28c: 제1 내지 제3 비교부26: image read
30: 추출부30: extraction unit
발명의 분야Field of invention
본 발명은, 액정패널의 결함의 유무를 검사하는 방법 및 그 검사에 이용하는 화상처리장치에 관한 것이고, 특히 편광판이 없는 상태의 액정패널을 위한 검사방법 및 그 화상처리장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting the presence or absence of defects in a liquid crystal panel and an image processing apparatus used for the inspection, and more particularly, to an inspection method for a liquid crystal panel without a polarizing plate and an image processing apparatus for the same.
발명의 배경Background of the Invention
액정패널의 결함 검사방법의 하나로서, 다음의 특허문헌 1에 기재된 방법이 알려져 있다.As one of the defect inspection methods of a liquid crystal panel, the method of following patent document 1 is known.
[특허문헌 1] 일본 특개2004-170495호 공보[Patent Document 1] Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2004-170495
특허문헌 1에 기재된 검사방법에 의하면, 편광판이 양면에 짜 넣어진 액정패널의 배면에 백라이트 광원으로부터의 빛이 조사된다. 상기 백라이트 광의 조사에 의해, 상기 액정패널이 소위 백(白)표시 화면을 표시한 상태로, 백라이트 광원이 배치된 쪽과 반대쪽에 배치된 촬영수단에 의해, 액정패널의 백표시 화면이 촬영된다.According to the inspection method of patent document 1, the light from a backlight light source is irradiated to the back surface of the liquid crystal panel in which the polarizing plate was woven on both surfaces. The back display screen of the liquid crystal panel is picked up by the photographing means arranged on the side opposite to the side where the backlight light source is arranged while the liquid crystal panel displays the so-called white display screen by the backlight light irradiation.
액정패널의 내부에 먼지와 같은 이물이 존재하고, 또 액정패널의 촬영수단쪽 표면에 동일한 이물이 부착해 있으면, 이들 이물로 백라이트 광의 산란이 생기지만, 그 자체는 배경이 되는 백표시 화면보다도 저휘도인 점(흑점)으로서 백표시 화면에 나타난다.If foreign matter such as dust exists inside the liquid crystal panel and the same foreign material adheres to the surface of the photographing means side of the liquid crystal panel, these foreign substances cause scattering of backlight light, but are themselves lower than the white display screen serving as a background. It appears as a luminance point (black point) on the white display screen.
액정패널의 내부에 이물이 존재하면, 액정패널의 화소 자체의 결함과 마찬가지로, 액정패널의 결함으로 간주된다. 그러나 액정패널의 표면에 부착한 이물은 청소에 의해 액정패널로부터 용이하게 제거할 수 있기 때문에, 상기 표면에 부착한 이물에 의한 흑점과, 액정패널의 결함에 의한 흑점을 식별할 필요가 있다.If foreign matter exists inside the liquid crystal panel, it is regarded as a defect of the liquid crystal panel similarly to the defect of the pixels themselves of the liquid crystal panel. However, since foreign matter adhering to the surface of the liquid crystal panel can be easily removed from the liquid crystal panel by cleaning, it is necessary to distinguish between black spots caused by foreign matter adhering to the surface and black spots caused by defects in the liquid crystal panel.
그래서 한 쌍의 편광판이 짜 넣어진 액정패널과 촬영수단 사이에, 편광 필터가 더 삽입된다. 상기 편광 필터는 그 편광방향이 표시패널의 표면에 짜 넣어진 상기 편광판의 편광방향과 직각방향으로 배치된다. 이 상태로 표시패널을 백(白)표시시켜 그 표시화면이 상기 편광 필터를 통하여 촬영된다.Thus, a polarizing filter is further inserted between the liquid crystal panel into which the pair of polarizing plates are incorporated and the photographing means. The polarization filter is disposed in a direction perpendicular to the polarization direction of the polarizing plate whose polarization direction is incorporated on the surface of the display panel. In this state, the display panel is displayed in white, and the display screen is photographed through the polarization filter.
표시패널의 표면에 짜 넣어진 상기 편광판을 투과하는 빛의 편광방향은 상기 편광 필터의 편광방향과 직각이기 때문에, 표시패널의 표면의 상기 편광판을 투과 하는 백라이트 광의 편광 성분은, 상기 편광 필터를 투과하지 않는다. 그 때문에, 촬영수단에 의해 새로 삽입된 상기 편광 필터를 통하여 촬영된 상기 표시패널의 표면은, 흑(黑)표시 화면이 된다. 그러나 표시패널의 표면에 짜 넣어진 상기 편광판 위에 이물이 부착해 있으면, 그 이물에 의해 상기 편광 성분이 산란되기 때문에, 그 산란광이 상기 편광 필터를 투과한다. 다른 한편, 표시패널 내부의 이물에 의해 생기는 산란광은 편광방향을 상호 직교시키는 상기 편광판 및 편광 필터에 의해 차단된다. 그 때문에, 상기 흑표시 화면에는, 표시패널의 표면에 짜 넣어진 상기 편광판 위의 이물이 그 배경보다도 높은 휘도의 점(백점)으로 촬영된다.Since the polarization direction of the light passing through the polarizing plate incorporated on the surface of the display panel is perpendicular to the polarization direction of the polarization filter, the polarization component of the backlight light passing through the polarizing plate on the surface of the display panel passes through the polarization filter. I never do that. Therefore, the surface of the display panel photographed through the polarization filter newly inserted by the photographing means becomes a black display screen. However, if foreign matter adheres to the polarizing plate incorporated on the surface of the display panel, since the polarization component is scattered by the foreign matter, the scattered light passes through the polarization filter. On the other hand, the scattered light generated by the foreign matter inside the display panel is blocked by the polarizing plate and the polarizing filter which orthogonal to the polarization direction. Therefore, on the black display screen, the foreign material on the polarizing plate incorporated on the surface of the display panel is photographed with a point (white point) of luminance higher than that of the background.
따라서 양 화상의 비교에 의해, 상기 백표시 화면 위의 흑점 중, 상기 흑점과 상기 백점과의 중복부분을 상기 편광판 위의 이물의 화상으로서 제거함으로써, 상기 편광판 위의 이물이 액정패널의 결함이라고 오판되는 것을 방지할 수 있다.Therefore, by comparing the two images, by removing the overlapping portion between the black spot and the white spot among the black spots on the white display screen as the foreign material image on the polarizing plate, the foreign material on the polarizing plate is a defect of the liquid crystal panel. Can be prevented.
그러나 액정패널과 백라이트 광원과의 사이에는, 일반적으로 상기 백라이트 광의 휘도 얼룩을 방지하기 위한 광 확산판이 삽입되어 있고, 상기 확산판에 이물이 부착해 있으면, 상기 이물이 상기 백표시 화면의 흑점으로서 관찰된다. 또, 상기 확산판에 부착하는 이물은 상기 편광 필터를 통한 흑(黑)화면에서도 관찰되지 않는다. 그 때문에, 종래의 상기 방법에서는 확산판이 설치되는 경우, 상기 확산판에 부착하는 이물과 상기 액정패널의 결함을 식별할 수 없다.However, when a light diffuser plate is generally inserted between the liquid crystal panel and the backlight light source to prevent luminance unevenness of the backlight light, and foreign matter adheres to the diffuser plate, the foreign material is observed as a black spot on the white display screen. do. In addition, the foreign matter adhering to the diffusion plate is not observed even in the black screen through the polarization filter. Therefore, in the said conventional method, when a diffusion plate is provided, the foreign material adhering to the said diffusion plate and the defect of the said liquid crystal panel cannot be distinguished.
또한, 액정패널의 양면에 편광판이 짜 넣어져 있지 않는 액정패널의 검사에서는, 상기 액정패널의 양면에 각각 편광판이 배치된 상태로, 상기한 바와 같은 백표시 화면이 촬영수단에 의해 촬영된다. 상기 양 편광판 중, 액정패널의 뒷면, 즉 액정패널과 확산판과의 사이에 배치된 한쪽 편광판에 부착한 이물은, 상기 백화면 위의 결함과 동일한 흑점으로서 촬영된다. 게다가 상기 이물은 촬영수단과 이에 근접하는 편광판과의 사이에 삽입되는 상기 편광 필터를 통한 흑화면에서도 촬영되지 않기 때문에, 상기 한쪽 편광판에 부착한 이물과 액정패널의 결함을 식별할 수 없다.In the inspection of the liquid crystal panel in which the polarizing plates are not incorporated on both surfaces of the liquid crystal panel, the white display screen as described above is photographed by the photographing means in a state where the polarizing plates are disposed on both surfaces of the liquid crystal panel, respectively. Of the above two polarizing plates, the foreign matter adhering to the back of the liquid crystal panel, that is, one polarizing plate disposed between the liquid crystal panel and the diffusion plate, is photographed as the same black spot as the defect on the white screen. In addition, since the foreign material is not photographed even on the black screen through the polarization filter inserted between the photographing means and the polarizing plate adjacent to the photographing means, the foreign material attached to the one polarizing plate and the defect of the liquid crystal panel cannot be identified.
또, 수율의 향상 및 자원절약 면에서, 액정패널에 한 쌍의 편광판을 붙이기 전에, 이들 편광판이 설치되어 있지 않는 상태로 액정패널에 결함검사를 실시하는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable to perform defect inspection on the liquid crystal panel in a state in which these polarizing plates are not provided before attaching a pair of polarizing plates to the liquid crystal panel from the viewpoint of improvement of yield and resource saving.
본 발명의 목적은, 편광판이 설치되어 있지 않는 액정패널의 결함을 검사하는 방법에 있어서, 그 검사장치에 포함되는 편광판이나 확산판에 부착한 이물과 액정패널의 결함을 식별할 수 있는 검사방법 및 그 검사에 이용되는 화상처리장치를 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is a method for inspecting a defect of a liquid crystal panel in which a polarizing plate is not provided, wherein the foreign matter attached to the polarizing plate or diffusion plate included in the inspection apparatus and the inspection method capable of identifying a defect of the liquid crystal panel and An image processing apparatus used for the inspection is provided.
본 발명의 상기의 목적 및 기타의 목적들은 하기 설명되는 본 발명에 의하여 모두 달성될 수 있다.The above and other objects of the present invention can be achieved by the present invention described below.
발명의 요약Summary of the Invention
본 발명에 따른 검사방법은, 서로 마주보도록 간격을 두고 배치되는 광원 및 촬영수단과, 상기 광원 및 촬영수단 사이에서 상호 간격을 두고 거의 평행하게 배치되고 편광방향을 소정의 관계로 유지할 수 있는 한 쌍의 편광판과, 상기 광원과 상기 광원 쪽에 배치되는 한쪽 상기 편광판과의 사이에 배치되는 확산판을 갖춘 검사장치를 이용하여, 편광판이 설치되어 있지 않는 액정패널을 그 결함에 대해서 검사하는 방법으로서, 상기 광원으로부터의 빛이 상기 양 편광판을 투과하도록 그 양 편광판 사이에 배치된 상기 액정패널의 액정의 배향을 유지한 상태로, 상기 촬영수단에 의해 다른쪽 상기 편광판의 출사면을 촬영하는 제1 촬영 단계와, 상기 검사장치에 상기 액정패널이 존재하지 않고, 상기 양 편광판의 편광방향을 서로 직각으로 유지하고 상기 광원을 점등한 상태로, 상기 다른쪽 편광판의 상기 출사면을 촬영하는 제2 촬영 단계와, 그리고 상기 검사장치에 상기 액정패널 및 상기 다른쪽 편광판이 존재하지 않고 상기 광원을 점등한 상태로, 상기 촬영수단에 의해 그 촬영수단과 마주보는 상기 확산판의 출사면을 촬영하는 제3 촬영 단계와, 상기 각 촬영 단계에 의해 얻어진 화상에 기초하여, 상기 액정패널의 결함부위를 추출하는 추출 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the inspection method according to the present invention, a pair of light sources and photographing means arranged at intervals to face each other, a pair that is arranged substantially parallel to each other between the light source and the photographing means and can maintain the polarization direction in a predetermined relationship A method for inspecting a defect of a liquid crystal panel in which a polarizing plate is not provided by using a tester equipped with a polarizing plate of the light source and a diffusion plate disposed between the light source and one of the polarizing plates arranged on the light source side, as described above. A first photographing step of photographing the exit surface of the other polarizing plate by the photographing means while maintaining the alignment of the liquid crystal of the liquid crystal panel disposed between the both polarizing plates so that light from the light source passes through the both polarizing plates; And the liquid crystal panel does not exist in the inspection apparatus, and the polarization directions of the polarizing plates are maintained at right angles to each other. A second photographing step of photographing the exit surface of the other polarizing plate with the light source turned on; and the light source being turned on without the liquid crystal panel and the other polarizing plate being present in the inspection apparatus; And a third photographing step of photographing the exit surface of the diffuser plate facing the photographing means by the photographing means, and an extraction step of extracting a defect portion of the liquid crystal panel based on the images obtained by the photographing steps. Characterized in that.
본 발명의 상기 검사방법에서, 제1 촬영 단계에 의해 얻어진 제1 화상은, 상기 광원으로부터의 빛이 상기 양 편광판을 투과하도록 상기 액정패널의 액정의 배향이 유지되어 있기 때문에, 배경이 고휘도인 소위 백화면이 된다. 상기 액정패널의 내부에 이물이 존재하고, 또 상기 광원쪽에 배치된 상기 한쪽 편광판 및 상기 확산판에 이물이 부착해 있으면, 그들 이물에 의한 그림자가 상기 백화면 위에 배경의 휘도보다도 낮은 휘도점(흑점)으로 각각 관찰된다.In the inspection method of the present invention, since the orientation of the liquid crystal of the liquid crystal panel is maintained so that light from the light source passes through the both polarizing plates, the first image obtained by the first photographing step is a so-called background having high luminance. It becomes the back screen. If foreign matter exists inside the liquid crystal panel, and foreign matter adheres to the one polarizing plate and the diffusion plate arranged on the light source side, the shadow by these foreign matters is lower than the luminance of the background on the white screen (black spot). Respectively).
또, 제2 촬영 단계에 의해 얻어진 제2 화상 위에는, 상기 액정패널이 제거되어 있기 때문에, 상기 액정패널에 대한 정보는 포함되지 않고, 상기 광원쪽에 배치된 상기 한쪽 편광판의 액정패널과 마주보는 면에 부착한 이물이 그 산란광에 의해, 다른쪽 편광판을 통하여 배경의 휘도보다도 높은 휘도점(백점)으로 관찰된다. 또, 상기 확산판에 이물이 부착해 있어도, 그 그림자는 양 편광판을 통하여 관찰되기 때문에, 그 그림자는 배경과 분간이 안된다. 그 때문에, 상기 확산판 위에 예를 들어 이물이 존재했다 해도, 그 그림자를 명확하게 잡을 수 없다. 따라서 제2 화상 상에는, 상기 한쪽 편광판 위에 이물이 부착해 있으면, 그 이물에 의한 백점만이 저휘도 배경 중에 관찰된다.In addition, since the liquid crystal panel is removed on the second image obtained by the second photographing step, information about the liquid crystal panel is not included, and on the surface facing the liquid crystal panel of the one polarizing plate disposed on the light source side. The adhered foreign matter is observed by the scattered light at a luminance point (white point) higher than the luminance of the background through the other polarizing plate. In addition, even if foreign matter adheres to the diffusion plate, since the shadow is observed through both polarizing plates, the shadow is indistinguishable from the background. Therefore, even if a foreign material existed on the said diffusion plate, for example, the shadow cannot be caught clearly. Therefore, on the 2nd image, if a foreign material adheres on the said one polarizing plate, only the white point by this foreign material will be observed in a low luminance background.
게다가, 제3 촬영 단계에 의해 얻어진 제3 화상은, 상기 액정패널에 더하여 상기 한쪽 편광판이 제거되기 때문에, 제1 화상에서와 동일한 배경이 고휘도인 소위 백화면이 된다. 따라서 제3 촬영 단계에서는, 상기 광원으로부터의 빛이 상기 확산판 및 상기 한쪽 편광판을 통하여 상기 촬영수단에 의해 촬영되기 때문에, 상기 확산판에 부착한 이물 또는 상기 확산판과 상기 한쪽 편광판과의 사이에 존재하는 이물의 그림자가 각각 배경의 휘도보다 저휘도인 흑점으로 관찰된다.In addition, since the one polarizing plate is removed in addition to the liquid crystal panel, the third image obtained by the third imaging step is a so-called white screen having the same background as that of the first image. Therefore, in the third photographing step, since the light from the light source is photographed by the photographing means through the diffusion plate and the one polarizing plate, the foreign material attached to the diffusion plate or between the diffusion plate and the one polarizing plate. The shadows of the foreign objects present are observed as dark spots, each of which is lower than the luminance of the background.
따라서 제1 화상 상의 흑점 중, 제2 화상 상의 백점 및 제3 화상 상의 흑점과 중복하는 위치의 흑점을 제거하고 남는 흑점을 액정패널 자체의 결함으로 판정함으로써, 액정패널의 결함과 상기 한쪽 편광판 또는 확산판에 부착한 이물을 식별할 수 있게 된다.Therefore, by removing the black spot at the position overlapping with the black spot on the second image and the black spot on the third image among the black spots on the first image, the remaining black spots are determined as defects in the liquid crystal panel itself, thereby deforming the defects of the liquid crystal panel and the one polarizing plate or diffusion. Foreign matter attached to the plate can be identified.
상기 추출 단계는, 상기 제1 촬영 단계에 의해 얻어진 제1 화상으로부터 특 정된 소정의 휘도를 넘지 않는 부분 중, 상기 제2 촬영 단계에 의해 얻어진 제2 화상으로부터 특정된 소정의 휘도를 넘는 부분 및 상기 제3 촬영 단계에 의해 얻어진 제3 화상으로부터 특정된 소정의 휘도를 넘지 않는 부분과 중복하지 않는 부위를 추출하는 것을 포함할 수 있다. 상기 추출 단계에서 추출된 추출부위가 액정패널의 결함임을 판정할 수 있다.The extracting step includes a portion exceeding a predetermined brightness specified from a second image obtained by the second photographing step, and a portion not exceeding a predetermined brightness from the first image obtained by the first photographing step; It may include extracting a portion that does not overlap with a portion that does not exceed a specified brightness from the third image obtained by the third imaging step. It may be determined that the extraction region extracted in the extraction step is a defect of the liquid crystal panel.
상기 액정패널이 예를 들어 TN형인 경우, 제1 촬영 단계에서는, 예를 들어 상기 양 편광판의 편향축은 상호 직각으로 유지되고, 또 상기 액정패널은 액정의 배향에 90도의 비틀림을 준 상태로 상기 한 쌍의 편광판 사이에 배치된다. 이에 의해, 상기 양 편광판의 편향축이 상호 직각으로 유지된 상태에서는, 상기 양 편광판 및 액정패널이 소위 노멀리(normally) 화이트형의 동작을 하도록 조합되어 있다. 따라서 이 조합으로 행해지는 제1 촬영 단계에서는 상기 액정패널의 액정에 전계(電界)를 부여하지 않은 상태로, 한 쌍의 편광판이 짜 넣어진 노멀리 화이트형의 표시패널에서의 백표시 화면과 동등한 제1 화상이 얻어진다.When the liquid crystal panel is, for example, a TN type, in the first imaging step, for example, the deflection axes of the two polarizing plates are kept at right angles to each other, and the liquid crystal panel is in the state of giving a 90 degree twist to the alignment of the liquid crystal. It is arranged between the pair of polarizing plates. Thereby, in the state in which the deflection axes of the both polarizing plates are kept at right angles to each other, the both polarizing plates and the liquid crystal panel are combined so as to perform a so-called normally white operation. Therefore, in the first photographing step performed in this combination, an electric field is not applied to the liquid crystal of the liquid crystal panel, which is equivalent to a white display screen in a normally white display panel in which a pair of polarizing plates are incorporated. The first image is obtained.
제1 촬영 단계에서는, 상기 양 편광판 및 상기 액정을 이들이 노멀리 블랙형을 나타내도록 조합시킬 수 있다. 상기 노멀리 블랙형에서는, 액정패널의 액정에 전계를 부여한 상태로 백표시 화면이 얻어진다. 따라서 상기 노멀리 블랙형의 조합에서는, 액정패널의 액정에 전계를 부여한 상태로, 제1 촬영 단계에서의 백화면이 얻어진다.In the first imaging step, the both polarizing plates and the liquid crystals can be combined so that they show a normally black type. In the normally black type, a white display screen is obtained in a state in which an electric field is applied to the liquid crystal of the liquid crystal panel. Therefore, in the combination of the normally black type | mold, the white screen in a 1st imaging | photography process is obtained in the state which provided the electric field to the liquid crystal of a liquid crystal panel.
본 발명에 따른 화상처리장치는, 상기 제1 화상의 각 부위의 휘도 정보를 제1 역치(threshold)와 비교하는 제1 비교부와, 상기 제2 화상의 각 부위의 휘도 정 보를 제2 역치와 비교하는 제2 비교부와, 상기 제3 화상의 각 부위의 휘도 정보를 제3 역치와 비교하는 제3 비교부와, 상기 제1 내지 제3 비교부로부터의 출력정보에 대응하는 위치 정보를 격납하기 위한 기억부와, 상기 제1 비교부로부터의 출력정보에 대응하는 위치 정보로부터 상기 제2 및 제3 비교부로부터의 출력정보에 대응하는 위치 정보와 중복하지 않는 위치 정보를 결함 부위로서 출력하는 판정부를 갖춘 것을 특징으로 한다.An image processing apparatus according to the present invention includes a first comparison unit for comparing luminance information of each portion of the first image with a first threshold, and luminance information of each portion of the second image with a second threshold value. A second comparator for comparison, a third comparator for comparing luminance information of each part of the third image with a third threshold value, and positional information corresponding to output information from the first to third comparators; And a positional information which does not overlap with the positional information corresponding to the output information from the second and third comparison units from the positional information corresponding to the output information from the first comparing unit and the positional information for storing as a defective part. Characterized in that the determination unit.
본 발명에 따른 상기 화상처리장치에 의하면, 본 발명에 따른 상기 검사방법을 효율적으로 실시할 수 있다. 또, 상기 화상처리장치의 각 비교부 및 정보처리부는 컴퓨터의 CPU의 프로그램 처리에 의해 실현할 수 있다.According to the image processing apparatus according to the present invention, the inspection method according to the present invention can be efficiently performed. Each comparator and information processor of the image processing apparatus can be realized by program processing of a CPU of a computer.
발명의 상세한 설명Detailed description of the invention
도1은 본 발명에 따른 검사방법의 순서를 나타내고, 도2 및 도3은 본 발명의 검사방법을 실시하는데 적절한 검사장치를 나타낸다. 도1에 따른 설명에 앞서, 본 발명에 따른 검사장치(10)를 도2 및 도3에 따라 설명한다.1 shows a procedure of an inspection method according to the present invention, and FIGS. 2 and 3 show an inspection apparatus suitable for carrying out the inspection method of the present invention. Prior to the description of FIG. 1, the
본 발명에 따른 검사장치(10)는, 도2에 나타내어져 있듯이, 액정패널(12)의 결함의 유무를 검사하는데 이용된다. 상기 액정패널(12)은 도시하지 않았지만 종래 잘 알려져 있듯이, 한 쌍의 유리판으로서 서로 마주보는 면에 예를 들어 각각의 배향축을 직교시킨 배향면이 형성된 한 쌍의 유리판 사이에 액정이 봉입(封入)된 액정패널 본체이다. 상기 액정패널 본체의 양면에는 편광판이 붙여져 있지 않다. 상기 액정패널(12)은 예를 들어 TN형 액정패널이다. 상기 TN 액정패널에서는 종래 잘 알려져 있듯이, 한 쌍의 유리판 사이에 전압이 인가되어 있지 않고, 따라서 한 쌍의 배향막 사이에 전계가 부여되어 있지 않는 상태에서는, 한 쌍의 배향막 사이에서의 액정 분자의 배열에 90도의 비틀림이 주어진다. 또 한 쌍의 배향면 사이에 전계가 부여되면 액정의 비틀림은 해소된다.The
상기 편광판이 설치되어 있지 않는 액정패널(12)을 검사하는 검사장치(10)는, 서로 간격을 두고 배치되는 광원(14) 및 촬영수단(16)과, 광원(14) 및 촬영수단(16) 사이에 상호 간격을 두고 거의 평행하게 배치된 한 쌍의 편광판(18, 20)과, 광원(14) 및 상기 광원에 인접하여 배치된 한쪽 편광판(18)과의 사이에 배치된 광 확산판(22)을 갖춘다.The
촬영수단(16)은, 예를 들어 CCD(전하결합소자) 카메라이고, 그 촬영 렌즈면(16a)을 광원(14)의 발광면(14a)에 대향시켜 배치되어 있다. CCD 카메라(16)에는, 촬영 화상을 처리하기 위한 화상처리장치(24)가 접속되어 있다. 광원(14)은 종래 잘 알려진 액정용 백라이트 광원이다.The photographing means 16 is, for example, a CCD (charge coupled device) camera, and the photographing lens surface 16a is disposed to face the
한 쌍의 편광판(18, 20)은, 서로 편광축을 직교시켜 배치되어 있고, 이에 의해 한 쌍의 편광판(18, 20)과, 그 사이에 배치된 액정패널(12)과의 조합은 노말(normal) 화이트 타입의 액정패널 조립체로서 기능한다. 한쪽 편광판(18) 및 광원(14) 사이에 배치된 광 확산판(22)은 종래 잘 알려져 있는 바와 같이, 광원(14)의 휘도 얼룩을 막고, 균일한 백라이트 광의 조사를 가능하게 한다.The pair of
화상처리장치(24)는, 도3에 나타낸 바와 같이, CCD 카메라(16)로부터 받아들인 화상을 스캔함으로써, 화상의 스캔 부위의 셀 좌표(x, y)마다 그 위치 데이터 및 휘도 데이터를 생성하는 화상 리드(read) 처리부(26)와, 제1 내지 제3 비교부(28a 내지 28c)와, 상기 비교부로부터의 출력 데이터에 기초한 위치 정보를 처리하는 추출부(30)와, 기억부(32)와, 각 부(部)의 동작을 제어하는 제어부(34)를 갖춘다.As shown in Fig. 3, the
기억부(32)에는, 화상 리드 처리부(26)에 의해 생성된 상기 데이터가 제어부(34)의 제어 하에서 격납된다. 각 제1 내지 제3 비교부(28a 내지 28c)에는, 휘도에 대한 제1 내지 제3 역치가 각각 설정되어 있다. 제1 내지 제3 비교부(28a 내지 28c)는, 제어부(34)의 제어 하에서, 화상 리드 처리부(26)에 의해 얻어진 휘도 데이터와 각 제1 내지 제3 역치를 비교한다.In the storage unit 32, the data generated by the image read processing
제1 비교부(28a)는, 제어부(34)의 제어 하에서, 비교대상의 휘도 데이터가 제1 역치를 넘지 않을 때, 그 비교 데이터에 대응하는 위치 데이터를 기억부(32)에 출력한다. 또, 제2 비교부(28b)는 제어부(34)의 제어 하에서, 비교대상의 휘도 데이터가 제2 역치를 넘을 때, 그 비교 데이터에 대응하는 위치 데이터를 기억부(32)에 출력한다. 게다가, 제3 비교부(28c)는 제어부(34)의 제어 하에서, 비교대상의 휘도 데이터가 제3 역치를 넘지 않을 때, 그 비교 데이터에 대응하는 위치 데이터를 기억부(32)에 출력한다.Under the control of the
추출부(30)는, 제어부(34)의 제어 하에서, 각 제1 내지 제3 비교부(28a 내지 28c)의 출력정보로부터 얻어지는 상기 위치 정보를 연산 처리한다. 상기 연산 처리에 의해, 추출부(30)는, 제1 비교부(28a)에 의해 얻어진 위치 정보로부터, 제2 비교부(28b) 및 제3 비교부(28c)에 의해 얻어진 위치 정보를 제거한 결과, 남는 위치 정보를 연산 결과로서 출력한다.The
각 제1 내지 제3 비교부(28a 내지 28c) 및 추출부(30)의 동작을 본 발명의 방법의 순서를 나타낸 도1의 프로우 차트를 따라 설명한다.The operation of each of the first to
본 발명의 방법의 제1 촬영 단계(S1)에서는, 도4에 나타나 있듯이, 한 쌍의 편광판(18, 20) 사이에 액정패널(12)이 유지된 상태로 광원(14)이 점등된다. 상기 광원(14)으로부터 광 확산판(22)을 거쳐 광도가 균일화된 조사광의 조사를 받는 상기 액정패널 조합(12, 18, 20)은, 한 쌍의 편광판(18, 20)이 그들의 편광축이 직각이 되도록 배치되어 있기 때문에, 노멀리 화이트형으로서 동작한다. 따라서 액정패널(12)에 전계를 부여하지 않고, CCD 카메라(16)쪽에 위치하는 다른쪽 편광판(20)을 통하여 액정패널(12)을 관찰하면, 전체가 휘도가 높은 백표시로서 관찰된다. 그 때문에, CCD 카메라(16)로 다른쪽 편광판(20)의 출사면(20a) 즉 편광판(20)의 CCD 카메라(16)에 근접하는 면(20a)을 촬영하면, 그 화면은 백표시 화면이 된다.In the first photographing step S1 of the method of the present invention, as shown in FIG. 4, the
이 때, 액정패널(12) 내에 먼지와 같은 이물 A가 존재하면, 이 이물에 의해 산란광이 생기지만, 상기 산란광은 백표시 화면의 휘도와 비교하여 극히 낮다. 그 때문에, 이물 A는 백표시 화면의 배경에서는, 그 배경의 휘도보다 낮은 그림자(흑점)로서 관찰된다. 또, 이물 A에 더하여, 한쪽 편광판(18)의 액정패널(12)과 마주보는 한쪽 면(18a) 위에 이물 B가 부착해 있으면, 상기 이물 B에 의해 산란광이 생기지만, 백표시 화면의 휘도와 비교하여 극히 낮기 때문에, 이물 A와 마찬가지로, 이물 B는 그 그림자(흑점)로서 관찰된다. 게다가 광 확산판(22)의 예를 들어 한쪽 편광판(18)과 마주보는 한쪽 면(22a)에 동일한 이물 C가 부착해 있으면, 상기 이물 C의 그림자도 마찬가지로, 흑점으로서 관찰된다.At this time, if foreign matter A such as dust exists in the
그 결과, 제1 촬영 단계(S1)에서, CCD 카메라(16)에 의해 촬영된 백표시 화면 위에는, 이들 이물 A 내지 C의 흑점이 나타난다. 이들 흑점을 포함하는 상기 백표시 화면의 휘도는, 화상 리드 처리부(26)에 의해, 그 위치 정보와 함께 데이터화된다. 그 화상 데이터의 휘도는, 제1 비교부(28a)에 의해 적정하게 설정된 제1 역치와 비교됨으로써, 이물 A 내지 C에 대응하는 위치 정보가 추출되고, 기억부(32)에 격납된다.As a result, black spots of these foreign materials A to C appear on the white display screen picked up by the
제2 촬영 단계(S2)에서는, 도5에 나타내어져 있듯이, 한 쌍의 편광판(18, 20) 사이에서 액정패널(12)이 제거된다. 그 결과, 한 쌍의 편광판(18, 20) 사이에 액정패널(12)이 없는 상태로, 한 쌍의 편광판(18, 20)을 통하여 광원(14)으로부터 광 확산판(22)을 거친 조사광이 CCD 카메라(16)에 의해 잡힌다. 여기에서, 한 쌍의 편광판(18, 20)은 상기한 바와 같이, 그 편향축을 상호 직교하여 배치되어 있기 때문에, 한쪽 편광판(18)을 투과한 편광이 다른쪽 편광판(20)을 투과하지 않는다. 그 때문에, CCD 카메라(16)에 의해 촬영되는 다른쪽 편광판(20)의 출사면(20a)의 화상은, 전체에 그 휘도가 현저하게 낮은 흑(黑)표시 화면이 된다.In the second imaging step S2, the
이 때, 한쪽 편광판(18)을 투과한 편광이 상기 한쪽 면(18a)에 부착한 이물 B에 닿으면, 상기 편광은 산란을 받기 때문에, 그 산란광의 다른쪽 편광판(20)의 편향축에 따른 편광 성분이 다른쪽 편광판(20)을 투과한다. 이 투과광은 흑표시 화면의 휘도 즉 배경의 휘도와 비교하여 높은 휘도를 나타낸다. 그 때문에, 상기 이물 B가 배경보다도 휘도가 높은 휘점(백점)으로서, 상기 흑표시 화면 위에 나타난 다. 다른 한편, 광 확산판(22) 위의 이물 C에서도, 산란광이 생기지만, 그 산란광은 한쪽 편광판(18)을 거침으로써 편광되고, 그 편광이 다른쪽 편광판(20)에 의해 차폐되기 때문에, 이물 B와 같은 휘점으로서 관찰되지 않고, 흑표시 화면의 배경과 거의 일체가 된다.At this time, when the polarized light transmitted through the one
그 결과, 제2 촬영 단계(S2)에서, CCD 카메라(16)에 의해 촬영된 상기 흑표시 화면 위에는, 이물 B만의 백점(白点)이 나타난다. 상기 백점을 포함하는 상기 흑표시 화면의 휘도는, 화상 리드 처리부(26)에 의해, 그 위치 정보와 함께 데이터화된다. 그 화상 데이터의 휘도는 제2 비교부(28b)에 의해 적정하게 설정된 제2 역치와 비교됨으로써, 이물 B에 대응하는 위치 정보가 추출되고, 기억부(32)에 격납된다.As a result, a white spot of only the foreign material B appears on the black display screen picked up by the
제3 촬영 단계(S3)에서는, 도6에 나타내어져 있듯이, 액정패널(12)에 더하여, 다른쪽 편광판(20)도 제거된다. 이에 의해, CCD 카메라(16)는, 광원(14)으로부터 광 확산판(22) 및 남은 한쪽 편광판(18)을 거친 빛을 잡는다. 이 때, 남은 편광판(18)을 지나는 빛은 상기 편광판의 평광축을 따른 편광이 되는데, 그 편광은 편광판(18)을 투과한다. 그 때문에, CCD 카메라(16)에 의해 촬영되는 편광판(18)의 출사면(18a)은 백표시 화면이 된다. 또, 편광판(18)의 한쪽 면(18a) 위의 이물 B의 산란광은 제거된 다른쪽 편광판(20)을 거치지 않고 CCD 카메라(16)에 잡히기 때문에, 휘점으로서 백표시 화면 위에 나타나므로 그 배경과 거의 일체가 된다.In the third imaging step S3, as shown in Fig. 6, in addition to the
이에 대하여, 광 확산판(22) 위의 한쪽 면 위에 있는 이물 C에서의 산란광은, 남은 편광판(18)을 거침으로써, 그 휘도가 저감되기 때문에, 백표시 화면의 배 경에 그림자로서 표시된다. 그 결과, 제3 촬영 단계(S3)에서, CCD 카메라(16)에 의해 촬영된 상기 백표시 화면 위에는 도7에 나타낸 바와 같이, 이물 C의 그림자만이 흑점으로서 나타난다. 상기 흑점을 포함하는 상기 백표시 화면의 휘도는, 화상 리드 처리부(26)에 의해 그 위치 정보와 함께 데이터화된다. 그 화상 데이터의 휘도는, 제3 비교부(28c)에 의해 적정하게 설정된 제3 역치와 비교됨으로써, 이물 C에 대응하는 위치 정보가 추출되고, 기억부(32)에 격납된다.On the other hand, the scattered light in the foreign material C on one surface on the
제1 및 제2 촬영 단계(S1, S2)에서의 CCD 카메라(16) 및 촬영면 사이의 거리와, 제3 촬영 단계(S3)에서의 그 거리와의 차에 의한 상기 각 위치 정보의 어긋남은, 예를 들어 연산처리에 의해 프로그램적으로(programmatically) 보정할 수 있다.The deviation of the respective positional information due to the difference between the distance between the
제4 추출 단계(S4)에서는, 각 제1 내지 제3 촬영 단계(S1 내지 S3)에서 얻어진 제1 내지 제3 화상 즉 상기 백표시 화면 및 흑표시 화면의 각 화상으로 특정된 각 부위의 상기 위치 정보로부터, 추출부(30)는 액정패널(12)의 결함(A)에 의한 부위를 추출한다. 상기 추출을 위해, 추출부(30)는 제어부(34)의 제어 하에서, 기억부(32)에 격납된 이물 A에 대한 위치 정보로 특정되는 부위 중, 이물 B에 대한 위치 정보로 특정되는 부위 및 이물 C에 대한 위치 정보로 특정되는 부위와 중복하지 않는 부위의 위치 정보를 제어부(34)에 출력한다. 제어부(34)는, 도시하지 않은 예를 들어 디스플레이 패널과 같은 표시부에 좌표 또는 화상으로서 추출부(30)의 추출 결과를 표시한다.In the fourth extraction step S4, the positions of the respective portions specified by the first to third images obtained in each of the first to third imaging steps S1 to S3, that is, the respective images of the white display screen and the black display screen. From the information, the
상기 표시 결과에는, 피검사체인 액정패널(12)의 결함(A)만이 나타나고, 검 사장치(10)의 일부를 구성하는 편광판(18) 및 광 확산판(22)의 이물(B, C)의 그림자가 제거되어 있기 때문에, 액정패널(12)의 진짜 결함(A)을 식별할 수 있다.In the display result, only the defect A of the
상기한 바에서는, 광 확산판(22) 위의 한쪽 면(22a)에 이물(C)이 부착한 예에 따라 설명하였지만, 도6에 점선으로 나타낸 대로, 한쪽 편광판(18)의 다른쪽 면(18b)과 광원(14)의 발광면(14a)과의 사이에 존재하는 이물도 이물 C와 마찬가지고 취급할 수 있기 때문에, 액정패널(12)의 결함(A)을 한쪽 편광판(18)의 다른쪽 면(18b)과 광원(14)의 발광면(14a)과의 사이에 존재하는 이물로부터 식별할 수 있다.In the above description, the foreign material C was attached to one
또, 제1 촬영 단계(S1)에서는, 한 쌍의 편광판(18, 20)을 그 편광축이 상호 직각방향으로 향하도록 배치한 예를 나타내었다. 이 대신에, 한 쌍의 편광판(18, 20)을 그 편광축이 상호 평행해지도록 배치할 수 있다. 이 경우, 편광축을 상호 평행하게 배치된 한 쌍의 편광판(18, 20)과, 그 사이에 배치되는 액정패널(12)은 소위 노멀리 블랙형 액정으로서 기능한다. 그 때문에, 제1 촬영 단계(S1)에서는 액정패널(12)에 전계를 부여한 상태로, CCD 카메라(16)에 의해 편광판(20)의 출사면(20a)을 촬영함으로써, 상기한 백표시 화면과 동일한 제1 화상이 얻어진다.Moreover, in the 1st imaging | photography stage S1, the example which has arrange | positioned a pair of
또, 제1 촬영 단계(S1)에서, 편광축을 상호 평행하게 배치한 한 쌍의 편광판(18, 20)이 이용된 경우, 제2 촬영 단계(S2)에서는 양 편광판(18, 20)은 그 편광축이 상호 직각으로 향하도록 배치된다.In the first imaging step S1, when a pair of
게다가, 제1 촬영 단계(S1)에서, 노멀리 블랙형의 액정으로서 기능시키고, 액정패널(12)에 전계를 부여한 상태로 백표시 화면의 제1 화상을 얻은 경우, 상기 백표시 화면에는 액정패널(12) 내의 이물 A에 의한 결함 외에, 액정패널의 셀 자체의 동작 불량에 의한 흑(黑)결함이 제1 화상에 흑점으로서 검출되기 때문에, 상기 흑결함도 액정패널(12) 자체의 결함으로서 검출할 수 있다.In addition, in the first photographing step S1, when the first image of the back display screen is obtained while functioning as a normally black liquid crystal and applying an electric field to the
본 발명은, 상기 실시예에 한정되지 않고, 그 취지를 벗어나지 않는 한, 다양하게 변경할 수 있다. 예를 들어, 제1 내지 제3 촬영 단계(S1 내지 S3)는 추출 단계(S4) 전에 행해지는 한, 단계 S1 내지 S3 간의 상호 순서는 전후해도 아무런 문제가 생기지 않는다.The present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made without departing from the spirit thereof. For example, as long as the first to third imaging steps S1 to S3 are performed before the extraction step S4, there is no problem even if the mutual order between the steps S1 to S3 is before and after.
본 발명의 상기 검사방법에 의하면, 각 촬영 단계에 의해 얻어진 화상으로부터 액정패널의 결함과, 검사장치의 상기 한쪽 편광판 또는 확산판에 부착한 이물을 식별할 수 있고, 이들 이물을 결함으로 오판하는 것을 확실히 방지할 수 있다.According to the inspection method of the present invention, it is possible to identify defects in the liquid crystal panel and foreign matters attached to one of the polarizing plates or diffusion plates of the inspection apparatus from the images obtained by each photographing step, and to misjudge these foreign objects as defects. It can certainly be prevented.
또, 본 발명의 상기 장치에 의하면, 효율적으로 본 발명의 상기 검사방법을 실시할 수 있다.Moreover, according to the said apparatus of this invention, the said inspection method of this invention can be implemented efficiently.
본 발명의 단순한 변형 내지 변경은 이 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의하여 용이하게 이용될 수 있으며, 이러한 변형이나 변경은 모두 본 발명의 영역에 포함되는 것으로 볼 수 있다.Simple modifications and variations of the present invention can be readily used by those skilled in the art, and all such variations or modifications can be considered to be included within the scope of the present invention.
Claims (5)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2006-00191210 | 2006-07-12 | ||
JP2006191210A JP4842034B2 (en) | 2006-07-12 | 2006-07-12 | Liquid crystal panel inspection method and image processing apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080006454A KR20080006454A (en) | 2008-01-16 |
KR100829891B1 true KR100829891B1 (en) | 2008-05-16 |
Family
ID=39076574
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070066153A KR100829891B1 (en) | 2006-07-12 | 2007-07-02 | Inspection Method for Liquid Crystal Panel and Image Processing Apparatus |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4842034B2 (en) |
KR (1) | KR100829891B1 (en) |
TW (1) | TW200811432A (en) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4960161B2 (en) | 2006-10-11 | 2012-06-27 | 日東電工株式会社 | Inspection data processing apparatus and inspection data processing method |
JP5274622B2 (en) * | 2011-06-27 | 2013-08-28 | 富士フイルム株式会社 | Defect inspection apparatus and method |
WO2018146890A1 (en) | 2017-02-09 | 2018-08-16 | ソニー株式会社 | Information processing device, information processing method, and recording medium |
CN109559308B (en) * | 2018-11-29 | 2022-11-04 | 太原理工大学 | Machine vision-based liquid crystal panel polaroid code spraying detection method and device |
CN111722422B (en) * | 2020-06-10 | 2023-05-02 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | Liquid crystal panel detection method and liquid crystal panel |
KR20220014375A (en) * | 2020-07-23 | 2022-02-07 | 삼성디스플레이 주식회사 | Optical inspecting apparatus and method of inspecting testing member using optical inspecting apparatus |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10160628A (en) | 1996-11-29 | 1998-06-19 | Advantest Corp | Image quality inspection device for lcd panel |
JP2004239674A (en) | 2003-02-04 | 2004-08-26 | Minato Electronics Inc | Apparatus and method for inspecting displaying element in flat liquid crystal display |
JP2006023295A (en) | 2004-06-10 | 2006-01-26 | Canon Inc | Birefringence-measuring method and birefringence measuring apparatus using the same |
KR20060054836A (en) * | 2004-11-16 | 2006-05-23 | 주식회사 쓰리비 시스템 | Method and apparatus for inspecting secondary contamination in a liquid crystal display module |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1195182A (en) * | 1997-09-18 | 1999-04-09 | Advantest Corp | Method for inspecting image quality of liquid crystal display panel |
JP3533946B2 (en) * | 1998-06-25 | 2004-06-07 | セイコーエプソン株式会社 | Liquid crystal display panel inspection apparatus and liquid crystal display panel inspection method |
JP2004170495A (en) * | 2002-11-18 | 2004-06-17 | Micronics Japan Co Ltd | Method and device for inspecting substrate for display |
JP2004287368A (en) * | 2003-01-27 | 2004-10-14 | Tokyo Electron Ltd | Inspecting device |
KR20060044032A (en) * | 2004-11-11 | 2006-05-16 | 삼성전자주식회사 | Test system for display panel and method of testing thereof |
JP4884738B2 (en) * | 2005-09-26 | 2012-02-29 | 株式会社日本マイクロニクス | LCD panel inspection equipment |
-
2006
- 2006-07-12 JP JP2006191210A patent/JP4842034B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-06-15 TW TW096121698A patent/TW200811432A/en not_active IP Right Cessation
- 2007-07-02 KR KR1020070066153A patent/KR100829891B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10160628A (en) | 1996-11-29 | 1998-06-19 | Advantest Corp | Image quality inspection device for lcd panel |
JP2004239674A (en) | 2003-02-04 | 2004-08-26 | Minato Electronics Inc | Apparatus and method for inspecting displaying element in flat liquid crystal display |
JP2006023295A (en) | 2004-06-10 | 2006-01-26 | Canon Inc | Birefringence-measuring method and birefringence measuring apparatus using the same |
KR20060054836A (en) * | 2004-11-16 | 2006-05-23 | 주식회사 쓰리비 시스템 | Method and apparatus for inspecting secondary contamination in a liquid crystal display module |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4842034B2 (en) | 2011-12-21 |
KR20080006454A (en) | 2008-01-16 |
TW200811432A (en) | 2008-03-01 |
JP2008020588A (en) | 2008-01-31 |
TWI340826B (en) | 2011-04-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100829891B1 (en) | Inspection Method for Liquid Crystal Panel and Image Processing Apparatus | |
KR100779135B1 (en) | Apparatus for Inspecting of Liquid Crystal Panel | |
JP2017215277A (en) | Defect inspection system, film manufacturing device and defect inspection method | |
KR20080106020A (en) | Method and apparatus for testing liquid crystal panel | |
US10169855B2 (en) | Method and device for detecting defects on a display subtrate | |
US7800568B2 (en) | Apparatus and method for inspecting liquid crystal display | |
TWI407096B (en) | Defect inspection method and defect inspection apparatus | |
JP2005128016A (en) | Inspection system and method | |
JP2013205091A (en) | Film inspection system, and film inspection method | |
KR100479073B1 (en) | Apparatus of inspection for back light unit | |
JP2008051755A (en) | Inspection apparatus and manufacturing method for display panel | |
KR102063680B1 (en) | Display Panel Inspection Apparatus and Its Method | |
CN115511791A (en) | Liquid crystal grating function detection method and system | |
KR100943242B1 (en) | Method and apparatus for inspecting display panel | |
JP2006201523A (en) | Method and instrument for inspecting liquid crystal display panel | |
TWI647660B (en) | Strip area detection device, strip area detection method, and program recording medium | |
JP2003262843A (en) | Method and device for inspecting liquid crystal panel | |
JP2005351825A (en) | Defect inspection device | |
JP2004170102A (en) | Foreign matter inspection device for liquid crystal display panel | |
JP2007147547A (en) | Density unevenness testing apparatus | |
KR20160032576A (en) | System and Method for Analyzing Image Using High-Speed Camera and Infrared Optical System | |
KR20000016881A (en) | A detection device for pattern defects and a correction device thereof | |
JP2005274383A (en) | Inspection method for hole defect of oriented film | |
KR20180030310A (en) | Defect detecting system of polarization unit and detecting method thereof | |
JP3038718B2 (en) | Method and apparatus for inspecting solder bridge of lead component |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20110223 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140317 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170331 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180321 Year of fee payment: 11 |