KR100828568B1 - 전자파장해 시험 장치 및 방법 - Google Patents

전자파장해 시험 장치 및 방법 Download PDF

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이진호
간종만
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국방과학연구소
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Abstract

본 발명에 따른 전자파장해 시험 장치 및 방법은 수신 시스템 내 수신기의 응답 특성 그래프를 이용하여, 시험하고자 하는 상호 변조 신호 및 불요 신호의 크기에 해당하는 수평 가상선의 이하 레벨에 해당되는 응답 특성 그래프의 주파수 대역만을 시험함으로써, 시험 시간을 절약할 수 있는 장점이 있다.
또한, 전자파장해 시험 주파수 대역을 상기 수신기의 튜닝 주파수 대역을 제외하고 스캔하여 추출하는 것에 의해서도 시험 시간을 절약하고 있다.
EMI, 전자파장해, 시험, 수신기, 수신 시스템, 응답 특성 곡선

Description

전자파장해 시험 장치 및 방법{Apparatus and method for EMI test}
도 1은 상호 변조의 개념을 나타낸 그래프.
도 2는 불요 신호의 개념을 나타낸 그래프.
도 3은 종래의 전자파장해 시험 장치를 나타낸 블럭도.
도 4는 종래의 전자파장해 시험 방법 중 상호 변조의 시험에 관계된 그래프.
도 5는 종래의 전자파장해 시험 방법 중 불요 신호의 시험에 관계된 그래프.
도 6은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 전자파장해 시험 장치를 나타낸 블럭도.
도 7은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 전자파장해 시험 방법 중 상호 변조의 시험에 관계된 그래프.
도 8은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 전자파장해 시험 방법 중 불요 신호의 시험에 관계된 그래프.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
10, 111...수신기 20, 120...신호 생성부
21...제1 신호 발생기 22, 26...필터/감쇄기
23, 27...3포트 회로망 25...제2 신호 발생기
29...신호 측정 장비 30...성능 확인 모니터
110...수신 시스템 113...디지털 신호 처리기
131...응답 특성 측정부 130...반응 확인부
본 발명은 전자파장해 시험 장치 및 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게 설명하면 수신기의 전자파장해(電磁波障害, electromagnetic interference, EMI)에 대한 반응을 효과적이고 신속하게 시험할 수 있는 장치 및 방법에 관한 것이다.
전자파장해는 다른 기기나 시스템의 동작에 장해를 주는 잡음을 말한다.
대부분의 전기에너지 이용설비는 어느 정도의 전자파잡음을 발생시키며, 이러한 잡음은 공중을 통한 전자파 방사의 형태나 전원선 같은 도선을 통한 전도의 형태로 전달된다.
상기 전자파장해는 통신기 및 레이더와 같은 수신기에 큰 영향을 미치게 되는데, 이중에서 상호 변조(Intermodulation) 및 불요(Spurious) 신호로 인한 영향에 대해서는 반드시 전자파장해 시험을 통하여 내성 유무를 확인하여야 한다.
상호 변조는 도 1에 도시된 바와 같이 수신기의 수신 주파수 대역 외의 주파수 대역에서 수신된 큰 레벨을 가진 둘 이상의 주파수가 합성에 의하여 수신기의 수신 주파수 대역에 영향을 미치는 경우(①)를 의미하며, 불요 신호는 도 2에 도시 된 바와 같이 수신 주파수 대역 외의 주파수 대역에서 수신된 큰 레벨의 주파수가 수신 주파수 대역에 영향을 미치는 경우(②)를 의미하는 것으로, 상기 상호 변호 및 불요 신호에 대한 내성 유무는 수신기의 신뢰성를 결정짓는 요소로 작용하게 된다.
따라서, 상호 변조 및 불요 신호에 대한 수신기의 반응여부 시험을 수행하여 수신기의 신뢰성을 판별하여야 하며, 그 시험 장치는 다음과 같다.
도 3은 종래의 전자파장해 시험 장치를 나타낸 블럭도로서, 살펴보면 시험 대상이 되는 수신기(10)와, 시험 신호를 생성하여 상기 수신기(10)에 송신하는 신호 생성부(20) 및 상기 시험 신호에 대한 상기 수신기(10)의 반응을 확인하는 성능 확인 모니터(30)로 이루어져 있다.
상기 신호 생성부(20)는 전자파장해 시험에 사용되는 신호를 생성하는 제1 신호 발생기(21) 및 제2 신호 발생기(25)와, 상기 신호 발생기(21)(25)에서 생성된 신호를 적절하게 필터링 및 감쇄하는 필터/감쇄기(22)(26)와, 상기 수신기(10)의 입력단에 연결되어 상기 시험 신호의 신뢰성을 측정하는 신호 측정 장비(29) 및 상기 요소들을 연결하는 3포트 회로망(23)(27)로 구성되어 있다.
이와 같은 구성의 상기 신호 생성부(20)는 상호 변조 및 불요 신호의 모의 신호를 생성하여 상기 수신기(10)로 송신하게 된다.
상기 성능 확인 모니터(30)는 상기 신호 생성부(20)에서 송신된 시험 신호에 대한 상기 수신기(10)의 반응을 확인하게 되며, 내부적으로는 외부로의 디스플레이, 데이터베이스화 등을 위하여 상기 수신기가 실질적으로 적용되는 시스템의 디 지털 신호 처리기(미도시)가 구비 또는 모의적으로 구비되어 있는 경우도 있다.
이와 같은 구성의 전자파장해 시험 장치의 동작을 도면을 참조하여 살펴보면 다음과 같다.
도 4는 종래의 전자파장해 시험 방법 중 상호 변조의 시험에 관계된 그래프로서, 먼저, 도 4에 나타낸 수신기의 응답 특성 곡선은 편의상 삽입된 것이며, 종래의 전자파장해 시험에서는 이용되지 않는 부분임을 언급한다.
상호 변조에 대한 반응 시험에서는 예상되는 상호 변조 신호의 크기 레벨을 설정하고, 그 레벨에 맞게 상기 제1 신호 발생기(21) 및 제2 신호 발생기(25)에서 신호를 생성한다.
상기 수신기(10)가 최고 감도를 나타내는 주파수를 f0(이는 수신기의 설계시, 또는 간단한 측정에 의하여 파악 가능)라 할때, 상기 제1 신호 발생기(21)에서 생성된 제1 전자파장해 시험 신호를 이용해 상기 f0에서부터 스캔하면서 상기 수신기(10)가 반응하지 않는 주파수 f1을 추출하게 되며, 추출된 상기 f1에 상기 제1 전자파장해 시험 신호를 고정하여 상호 변조에 필요한 두개 이상의 신호 중 하나로 동작하도록 한다.
그 후, 상기 f1으로부터 전자파장해가 발생되지 않는 주파수 구간인 Δf(종래, 학술지 등에 기재된 사항)만큼 이격된 주파수 f2에서부터 상기 제2 신호 발생기(25)에서 생성된 제2 전자파장해 시험 신호를 이용해 시험 범위(도 4 및 5에 나 타난 좌우 끝 주파수-종래, 학술지 등에 기재된 사항)까지 스캔을 해나가면서, 상기 성능 확인 모니터(30)를 통하여 상기 수신기(10)가 반응을 보이는지 확인을 하게 된다.
즉, 상기 제2 전자파장해 시험 신호를 상호 변조에 필요한 두개 이상의 신호 중 다른 하나로 동작하도록 하는 것으로, 상기 제1 전자파장해 시험 신호와 상호 변조가 이루어지게 하여, 상기 수신기(10)가 반응을 보이면 상호 변조에 대한 내성 시험을 통과하지 못한 것으로, 반응을 보이지 않으면 상호 변조에 대한 내성 시험을 통과한 것으로 판정하게 된다.
앞에서도 언급했지만, 도 4에 나타낸 응답 특성 곡선은 상기 과정에서 사용되는 것이 아니며, 도 4의 이해를 돕기 위한 수단임을 환기한다.
도 5는 종래의 전자파장해 시험 방법 중 불요 신호의 시험에 관계된 그래프로서, 먼저, 도 5에 나타낸 수신기의 응답 특성 곡선도 도 4에서와 마찬가지로 편의상 삽입된 것이며, 종래의 전자파장해 시험에서는 이용되지 않는 부분임을 언급한다.
불요 신호에 대한 반응 시험에서는 예상되는 불요 신호의 크기 레벨을 설정하고, 그 레벨에 맞게 제2 신호 발생기(25)에서 제2 전자파장해 시험 신호를 생성한다.
상기 제1 신호 발생기(21)에서는 도 4의 설명에서 언급된 f0에서 감지가 가능한 최저 크기 레벨의 신호(기준 신호)인 제1 전자파장해 시험 신호를 생성한다.
먼저, 상기 제1 전자파장해 시험 신호를 상기 f0에 고정하고, 상기 제2 전자파장해 시험 신호를 상기 f0에서부터 스캔한다. 상기 수신기(10)의 동작 주파수 대역에 2개의 신호인 제1 및 제2 전자파장해 시험 신호가 혼재하므로, 이상 반응을 보이게 되며, 일정 주파수에서부터는 상기 제1 전자파장해 시험 신호에 대한 반응만을 보이게 된다. 이 때의 일정 주파수가 f1이 되며, 상기 f1에서부터가 불요 신호에 대한 시험 주파수 대역이 되는 것이다.
이후, 상기 수신기(10)의 허용 주파수 범위(fHI, fLOW)까지 상기 제2 전자파장해 시험 신호가 불요 신호로서 동작하며 스캔을 수행하게 되며, 상기 허용 주파수 범위부터 시험 범위까지 상기 제2 전자파장해 시험 신호에 일정 크기 레벨을 더하여 불요 신호로서 동작하게 하며 스캔을 수행하게 된다.
상기 제2 전자파장해 시험 신호에 일정 크기 레벨을 더하여 불요 신호로서 동작하게 하는 것은, 허용 주파수 범위 외에서는 아무리 큰 신호가 들어와도 상기 수신기가 영향을 받지 않아야 하기 때문이다.
상기 f1에서부터의 스캔에서 상기 수신기(10)가 상기 제1 전자파장해 시험 신호에 대한 반응 외에 다른 반응을 보이면 불요 신호에 대한 내성 시험을 통과하지 못한 것으로, 다른 반응을 보이지 않으면 불요 신호에 대한 내성 시험을 통과한 것으로 판정하게 된다.
이상에서 살펴본 종래의 전자파장해 시험 장치는 결과적으로 f0에서부터 시 험 범위까지, 전 범위에 대한 스캔을 수행하고 있는데, 이는 소요되는 시간의 비효율성이라는 문제점을 야기시키게 된다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 개선하기 위하여 창출된 것으로서, 신속한 전자파장해 시험이 가능한 전자파장해 시험 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 수신기가 구비된 수신 시스템의 전자파장해(EMI) 반응을 시험하는 장치에 있어서, 소정 크기 레벨의 전자파장해 시험 신호를 생성하여 상기 수신 시스템으로 송신하는 신호 생성부와; 상기 수신 시스템 내 수신기의 출력단에 위치하여 상기 수신 시스템 내 수신기의 일반적인 응답 특성 곡선을 추출하는 응답 특성 측정부가 구비된 반응 확인부를 포함하고, 상기 반응 확인부는 상기 신호 생성부와 연동하여 상기 소정 레벨의 전자파장해 시험 신호에 대응되는 상기 수신 시스템의 전자파장해 시험 주파수 대역을 추출한 후, 상기 전자파장해 시험 주파수 대역 중 상기 응답 특성 곡선이 상기 전자파장해 시험 신호의 레벨 이하인 주파수 대역에 대해서만 반응을 확인하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 수신기가 구비된 수신 시스템의 전자파장해(EMI) 반응을 시험하는 장치에 있어서, 소정 크기 레벨의 전자파장해 시험 신호를 생성하여 상기 수신 시스템으로 송신하는 신호 생성부와; 상기 수신 시스템의 출력단에 위치하여 상기 신호 생성부와 연동하여 상기 소정 레벨의 전자파장해 시험 신호에 대응되는 상기 수신 시스템의 전자파장해 시험 주파수 대역을 추출하여 상기 전자파장해 시험 주파수 대역에서 상기 수신 시스템의 반응을 확인하는 반응 확인부를 포함하고, 상기 반응 확인부는 상기 수신 시스템 내 수신기의 튜닝 주파수 대역을 제외한 주파수에서부터 스캔을 실시하여 상기 전자파장해 시험 주파수 대역을 추출하는 것을 다른 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 수신기가 구비된 수신 시스템의 전자파장해(EMI) 반응을 시험하는 장치에 있어서, 소정 크기 레벨의 전자파장해 시험 신호를 생성하여 상기 수신 시스템으로 송신하는 신호 생성부와; 상기 수신 시스템 내 수신기의 출력단에 위치하여 상기 수신 시스템 내 수신기의 일반적인 응답 특성 곡선을 추출하는 응답 특성 측정부가 구비된 반응 확인부를 포함하고, 상기 반응 확인부는 상기 신호 생성부와 연동하여 상기 소정 레벨의 전자파장해 시험 신호에 대응되는 상기 수신 시스템의 전자파장해 시험 주파수 대역을 상기 수신 시스템 내 수신기의 튜닝 주파수 대역을 제외한 주파수에서부터 스캔을 실시하여 추출한 후, 상기 전자파장해 시험 주파수 대역 중 상기 응답 특성 곡선이 상기 전자파장해 시험 신호의 레벨 이하인 주파수 대역에 대해서만 반응을 확인하는 것을 또다른 특징으로 한다.
여기서, 상기 수신 시스템 내의 수신기만을 시험하는 경우, 상기 반응 확인부는 상기 전자파장해 시험 주파수 대역의 추출없이 상기 응답 특성 곡선이 상기 전자파장해 시험 신호의 레벨 이하인 주파수 대역에 대해서만 반응을 확인하는 것이 바람직하며, 상기 신호 생성부의 전자파장해 시험 신호가 불요 신호를 모의한 것인 경우, 상기 신호 생성부는 상기 수신 시스템의 허용 주파수 범위 외에서는 상 기 전자파장해 시험 신호의 크기에 소정 크기를 더한 레벨의 허용 범위외 신호를 생성하여 상기 수신 시스템으로 송신하고, 반응 확인부는 상기 수신 시스템의 허용 주파수 범위 외에서는 상기 응답 특성 곡선이 상기 허용 범위외 신호의 레벨 이하인 주파수 대역에 대해서만 반응을 확인하는 것이 바람직하다.
한편, 상기 수신 시스템은 디지털 신호처리기를 더 포함하는 것이 바람직하다.
보다, 구체적으로, 상기 신호 생성부는 같은 크기 레벨을 갖는 제1 및 제2 전자파장해 시험 신호를 생성하여 상기 수신 시스템으로 송신하고, 상기 반응 확인부는 상기 제1 전자파장해 시험 신호를 사용하여, 상기 수신 시스템이 반응하지 않는 주파수 f1을 추출한 후, 상기 제1 전자파장해 시험 신호를 상기 f1에 고정하고, 상기 f1에서부터 전자파장해가 발생되지 않는 주파수 구간인 Δf만큼 이격된 주파수 f2에서부터 상기 제2 전자파장해 시험 신호를 이용하여 상기 수신 시스템의 반응을 확인하며, 이때, 상기 반응 확인부는 상기 응답 특성 곡선이 상기 f2에서부터의 구간에서 상기 제2 전자파장해 시험 신호의 레벨 이하인 주파수 대역에 대해서만 반응을 확인하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 신호 생성부는 상기 수신 시스템의 수신기가 최고 감도를 보이는 주파수 f0에서 반응을 보이는 최저 크기 레벨의 제1 전자파장해 시험 신호와, 상기 제1 전자파장해 시험 신호보다 큰 레벨의 제2 전자파장해 시험 신호 및 상기 제2 전자파장해 시험 신호에 소정 크기의 레벨을 더한 제3 전자파장해 시험 신호를 생성하여 상기 수신 시스템으로 송신하고, 상기 반응 확인부는 상기 제1 전자파장해 시험 신호를 상기 f0에 고정하고, 상기 제2 전자파장해 시험 신호를 이용하여 상기 수신 시스템이 상기 제1 전자파장해 시험 신호에 정상 반응을 보이는 주파수 f1을 추출한 후, 상기 f1에서부터 상기 제2 전자파장해 시험 신호를 이용하여 상기 수신 시스템의 반응을 확인하고, 상기 수신 시스템의 허용 주파수의 최대치(fHI)에서부터는 상기 제3 전자파장해 시험 신호를 이용하여 상기 수신 시스템의 반응을 확인하며, 이때, 상기 반응 확인부는 상기 응답 특성 곡선이 상기 f1에서부터 허용 주파수의 최대치까지는 상기 제2 전자파장해 시험 신호의 레벨, 상기 허용 주파수의 최대치에서부터는 상기 제3 전자파장해 시험 신호의 레벨 이하인 주파수 대역에 대해서만 반응을 확인하는 것이 바람직하다.
한편, 상기 반응 확인부는 상기 전자파장해 시험 주파수 대역 중 상기 응답 특성 곡선이 상기 전자파장해 시험 신호의 레벨 이하인 주파수 대역 중 최외곽의 주파수 대역까지의 구간을 스캔하여 반응을 확인할 수도 있다.
이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 바람직한 일실시예를 상세히 설명하도록 한다.
도 6은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 전자파장해 시험 장치를 나타낸 블럭도이다.
도 6을 참조하면, 본 실시예에 따른 전자파장해 시험 장치는 소정 크기 레벨의 전자파장해 시험 신호를 생성하여 수신 시스템(110)으로 송신하는 신호 생성부와(120); 상기 수신 시스템(110) 내 수신기(111)의 출력단에 위치하여 상기 수신 시스템 내 수신기(111)의 일반적인 응답 특성 곡선을 추출하는 응답 특성 측정부(131)가 구비된 반응 확인부(130)로 이루어져 있다.
상기 수신 시스템(110)은 좁게는 수신기(111)만을 의미할 수도 있으나, 본 실시예에서는 상기 수신기(111)가 실질적으로 적용되는 시스템을 의미한다. 따라서, 상기 수신 시스템(110)은 상기 수신기(111)뿐만 아니라 디스플레이부 및 상기 디스플레이부와 상기 수신기 사이에서 각종 디지털 신호 처리를 수행하는 기기를 총칭하는 디지털 신호 처리기(113)가 구비되어 있다.
상기 신호 생성부(120)는 상기 수신 시스템(110)의 전자파장해 시험에 필요한 모의 신호인 소정 레벨의 전자파장해 시험 신호를 생성하는 요소로, 종래와 그 구성이 동일하므로, 자세한 설명은 생략한다.
상기 반응 확인부(130)는 상기 수신 시스템(110) 내에 구비된 수신기(111)의 응답 특성 곡선을 추출하는 응답 특성 측정부(131)가 구비되어 있는데, 상기 응답 특성 곡선의 추출은 미리 수행된 실험 또는 기존에 조사된 자료에 의하여 대체가 가능하다.
상기 반응 확인부(130)는 상기 신호 생성부(120)와 연동하여 상기 소정 레벨의 전자파장해 시험 신호에 대응되는 상기 수신 시스템(110)의 전자파장해 시험 주 파수 대역을 추출한 후, 상기 전자파장해 시험 주파수 대역 중 상기 응답 특성 곡선이 상기 전자파장해 시험 신호의 레벨 이하인 주파수 대역에 대해서만 반응을 확인한다. 이때, 상기 전자파장해 시험 주파수 대역 중 상기 응답 특성 곡선이 상기 전자파장해 시험 신호의 레벨 이하인 주파수 대역(a)이 다수 존재할 경우, 상기 (a) 대역에서만 스캔을 수행하고, 다수 존재하게 되는 상기 (a) 대역 사이의 대역은 스캔을 수행하지 않는 경우, 스캔과정이 복잡해 질 수 있으므로, 상기 (a) 대역들 중 최외곽에 해당하는 (a) 대역의 끝대역까지를 일괄적으로 스캔하여 반응을 확인할 수도 있다.
상기 실시예에 따른 전자파장해 시험 장치의 동작을 살펴보면, 먼저 상기 신호 생성부(120)에서 소정 크기 레벨의 전자파장해 시험 신호를 생성하여 상기 수신 시스템(110)으로 송신한다. 상기 반응 확인부(130)는 상기 먼저 상기 전자파장해 시험 신호를 이용하여 상기 수신 시스템의 전자파장해 시험 주파수 대역(시험이 필요한 구간)을 추출한다.
그 후, 상기 반응 확인부(130)는 상기 전자파장해 시험 주파수 대역 중에서 미리 추출되어 있는 상기 수신 시스템 내 수신기의 응답 특성 곡선이 상기 전자파장해 시험 신호의 레벨 이하인 실 시험 주파수 대역을 추출하게 되며, 상기 실 시험 주파수 대역에 대해서만 상기 수신 시스템의 반응을 확인한다.
본 실시예에 따른 전자파장해 시험 장치의 처리과정을 보다 상세하게 설명하면, 먼저 상호 변조에 대한 시험을 나타낸 도 7에 도시된 바와 같이 상기 신호 생성부(120)에서는 예상되는 상호 변조 신호의 크기 레벨을 설정하고, 그 레벨에 맞 게 제1 전자파장해 시험 신호와 제2 전자파장해 시험 신호를 생성한다.
다음으로, 상기 수신 시스템(110)이 최고 감도를 나타내는 주파수를 f0(이는 수신기 또는 수신 시스템의 설계시, 또는 간단한 측정에 의하여 파악 가능)라 할때, 상기 제1 전자파장해 시험 신호를 이용해 상기 f0에서부터 스캔하면서 상기 수신기(10)가 반응하지 않는 주파수 f1을 추출하게 되며, 추출된 상기 f1에 상기 제1 전자파장해 시험 신호를 고정하여 상호 변조에 필요한 두개 이상의 신호 중 하나로 동작하도록 한다.
그 후, 상기 f1으로부터 전자파장해가 발생되지 않는 주파수 구간인 Δf(종래, 학술지 등에 기재된 사항, 일반적으로 f0에서 f1까지가 Δf가 된다)만큼 이격된 주파수 f2를 추출한 후, 상기 f2를 가로지르는 수평 가상선을 긋고, 상기 수평 가상선과 미리 추출된 상기 수신 시스템(110) 내 수신기(111)의 응답 특성 곡선과 대비한다.
이때, 상기 응답 특성 곡선이 상기 수평 가상선 이하의 크기(이하의 레벨)를 보이는 주파수 대역(⑤)에 대해서만 상기 제2 전자파장해 시험 신호를 상호 변조에 필요한 두개 이상의 신호 중 다른 하나로 동작하도록 하여 스캔하는 것으로 상기 제1 전자파장해 시험 신호와 상호 변조가 이루어지게 하여, 상기 수신 시스템(110)이 반응을 보이면 상호 변조에 대한 내성 시험을 통과하지 못한 것으로, 반응을 보이지 않으면 상호 변조에 대한 내성 시험을 통과한 것으로 판정한다.
즉, 종래 전자파장해 시험 주파수 대역인 f2에서 시험 범위까지의 전 구간(상호 변조에 대한 전자파장해 시험 주파수 대역)을 시험하던 것에 비하여 응답 특성 곡선이 상기 수평 가상선 이하의 크기를 보이는 주파수 대역인 ⑤ 구간에 대해서만 시험을 실시하는 것이다. 이와 같은 시험이 가능한 것은 전자파장해 시험시 상기 ⑤ 구간 이외의 주파수 대역에서는 상호 변조가 발생되지 않고 있는 것을 실험적으로 확인하여, 상기 ⑤ 구간 외에서의 시험은 무의미한 것임을 확인했기 때문이다.
한편, 도 7에서는 수신기의 응답 특성 곡선과, 수신 시스템의 응답 특성 곡선 두개를 나타내고 있는데, 상기 수신기의 응답 특성 곡선은 확보가 이루어져 있는 상태이나, 상기 수신 시스템의 응답 특성 곡선은 파악이 불가능하다. 이는 수신 시스템 내의 디지털 신호 처리기에 대한 응답 특성 곡선의 파악이 불가능하다는 문제에 기인하는 것으로, 결과적으로 도 7에 나타낸 수신 시스템의 응답 특성 곡선은 가상으로 설정한 것이다.
그러나, 상기 수신 시스템의 응답 특성 곡선은 상기 수신기의 응답 특성 곡선과 상기 디지털 신호 처리기의 응답 특성 곡선의 교집합 형태로 형성될 것이므로, 결과적으로 도 7에 나타낸 수신 시스템의 응답 특성 곡선과 같이 수신기의 응답 특성 곡선에 비하여 안쪽과 위에 형성된(안정된) 모습을 띠게 될 것이다. 최악의 경우, 즉 상기 디지털 신호 처리기의 응답 특성 곡선이 전 주파수 대역에 걸쳐 상기 수신기의 응답 특성 곡선보다 바깥쪽과 아래에 형성된다고 하더라도, 상기 수 신 시스템의 응답 특성 곡선은 상기 수신기의 응답 특성 곡선이 될 것이다.
따라서, 최악의 상태를 감안하더라도 상기 ⑤ 구간만을 시험하면 되는 것이다.
상기 시험 과정에서는 응답 특성 곡선을 모르는 수신 시스템의 상호 변조에 대한 전자파장해를 시험하는 관계로, f1을 추출하기 위하여 상기 제1 전자파장해 시험 신호를 f0에서부터 스캔하여 추출을 하고 있지만, 만약 수신 시스템이 아닌 상기 수신 시스템 내에 구비된 수신기만을 시험하고자 하는 경우에는 상기 제1 전자파장해 시험 신호를 사용할 필요없이 확보된 상기 수신기의 응답 특성 곡선에 상기 수평 가상선을 긋는 것만으로 f1을 추출할 수 있다. 물론 이 경우 상기 f1은 상기 수신기의 응답 특성 곡선 상의 한 지점이 될 것이다.
한편, 상기 반응 확인부(130)는 상기 전자파장해 시험 주파수 대역 중 상기 응답 특성 곡선이 상기 전자파장해 시험 신호의 레벨 이하인 주파수 대역 중 최외곽의 주파수 대역까지의 구간을 스캔하여 반응을 확인할 수도 있는데, 이는 스캔 상의 편의를 위한 것으로 도 7에서는 사각형으로 둘러싼 것 같이 좌우측으로 상기 구간보다 먼 구간까지 스캔을 하는 것으로 설정하고 있다. 요점은 f2에서 ⑤의 끝 주파수까지만 스캔을 수행하면 되는 것이다.
한편, 상기 반응 확인부(130)는 상기 수신 시스템에 대한 상호 변조 시험에서 f1을 추출하여 전자파장해 시험 주파수 대역을 추출하는 경우, 상기 수신 시스템 내 수신기(111)의 튜닝 주파수 대역을 제외한 주파수에서부터 스캔을 실시하여 스캔 구간을 줄일 수 있다. 이 또한, 튜닝 주파수 대역에서는 상호 변조의 시험이 무의미한 것을 실험적으로 확인한 것에 근거한 것이며, 도 7과 같이 튜닝 주파수 대역이 적은 통신기에서는 시험 시간에 대한 효과가 미비하나 레이더와 같이 튜닝 주파수 대역이 광범위한 경우에는 상당한 시간의 절약이 가능하다.
다음으로 불요 신호에 대한 시험에 대해서는 도 8에 도시된 바와 같이 상기 신호 생성부(120)에서 예상되는 불요 신호의 크기 레벨을 설정하고, 그 레벨에 맞게 제2 전자파장해 시험 신호 및 상기 제2 전자파장해 시험 신호에 소정 크기의 레벨을 더한 제3 전자파장해 시험 신호를 생성하고, 앞에서 언급된 f0에서 감지가 가능한 최저 크기 레벨의 신호(기준 신호)인 제1 전자파장해 시험 신호를 생성한다.
먼저, 상기 제1 전자파장해 시험 신호를 상기 f0에 고정하고, 상기 제2 전자파장해 시험 신호를 이용하여 상기 f0에서부터 스캔한다. 상기 수신 시스템(110)의 동작 주파수 대역에 2개의 신호인 제1 및 제2 전자파장해 시험 신호가 혼재하므로, 이상 반응을 보이게 되며, 일정 주파수에서부터는 상기 제1 전자파장해 시험 신호에 대한 반응(정상 반응)만을 보이게 된다. 이 때의 상기 일정 주파수가 f1이 되며, 상기 f1에서부터가 불요 신호에 대한 전자파장해 시험 주파수 대역이 된다.
그 후, 상기 f1을 가로지르는 수평 가상선(제2 전자파장해 시험 신호의 크기 레벨과 동일)을 긋고, 상기 수평 가상선과 미리 추출된 상기 수신 시스템(110) 내 수신기(111)의 응답 특성 곡선과 대비한다.
이때, 상기 응답 특성 곡선이 상기 수평 가상선 이하의 크기(이하의 레벨)를 보이는 주파수 대역(⑤)에 대해서만 상기 제2 및 제3 전자파장해 시험 신호를 불요 신호로 동작하도록 하여, 상기 수신 시스템(110)이 반응을 보이면 불요 신호에 대한 내성 시험을 통과하지 못한 것으로, 반응을 보이지 않으면 불요 신호에 대한 내성 시험을 통과한 것으로 판정한다.
즉, 종래 전자파장해 시험 주파수 대역인 f1에서 시험 범위까지의 전 구간(불요 신호에 대한 전자파장해 시험 주파수 대역)을 시험하던 것에 비하여 응답 특성 곡선이 상기 수평 가상선 이하의 크기를 보이는 주파수 대역인 ⑤ 구간에 대해서만 시험을 실시하는 것이다. 이와 같은 시험이 가능한 것은 전자파장해 시험시 상기 ⑤ 구간 이외의 주파수 대역에서는 불요 신호가 영향을 미치지 않고 있는 것을 실험적으로 확인하여, 상기 ⑤ 구간 외에서의 시험은 무의미한 것임을 확인했기 때문이다.
이때, 상기 f1에서부터 상기 수신 시스템(110)의 허용 주파수 범위(fHI, fLOW)까지는 상기 ⑤ 구간에 한해서 상기 제2 전자파장해 시험 신호가 불요 신호로서 동작하며 스캔을 수행하게 되며, 상기 허용 주파수 범위부터 시험 범위까지는 상기 ⑤ 구간에 한해서 상기 제2 전자파장해 시험 신호에 일정 크기 레벨을 더한 상기 제3 전자파장해 시험 신호(허용 범위외 신호)를 불요 신호로서 동작하게 하며 스캔을 수행하게 된다.
상기 제2 전자파장해 시험 신호에 일정 크기 레벨을 더한 상기 제3 전자파장해 시험 신호를 불요 신호로서 동작하게 하는 것은, 허용 주파수 범위 외에서는 아무리 큰 신호가 들어와도 상기 수신 시스템이 영향을 받지 않아야 하기 때문이다. 상기 제3 전자파장해 시험 신호의 크기는 수신 시스템이 손상되지 않는 일정 범위에서 예상되는 가장 큰 크기로 정하는 것이 바람직하다.
물론, 이에 맞추어 상기 허용 주파수 범위부터 시험 범위까지는 상기 제3 전자파장해 시험 신호의 크기 레벨에 해당하는 제2 수평 가상선을 설정하고, 상기 응답 특성 곡선이 상기 제2 수평 가상선의 레벨 이하인 부분이 ⑤ 구간이 될 것이다.
한편, 도 8에서도 도 7에서와 마찬가지로 수신기의 응답 특성 곡선과, 수신 시스템의 응답 특성 곡선 두개를 나타내고 있는데, 역시 상기 수신기의 응답 특성 곡선은 확보가 이루어져 있는 상태이나, 상기 수신 시스템의 응답 특성 곡선은 파악이 불가능하므로, 결과적으로 도 8에 나타낸 수신 시스템의 응답 특성 곡선은 설명의 편의를 위하여 가상으로 설정한 것임은 도 7과 동일하다.
도 7과 마찬가지로 도 8에서도, 상기 수신 시스템의 응답 특성 곡선은 상기 수신기의 응답 특성 곡선과 상기 디지털 신호 처리기의 응답 특성 곡선의 교집합 형태로 형성될 것이므로, 결과적으로 도 8에 나타낸 수신 시스템의 응답 특성 곡선과 같이 수신기의 응답 특성 곡선에 비하여 안쪽과 위에 형성된(안정된) 모습을 띠게 될 것이다. 최악의 경우, 즉 상기 디지털 신호 처리기의 응답 특성 곡선이 전 주파수 대역에 걸쳐 상기 수신기의 응답 특성 곡선보다 바깥쪽과 아래에 형성된다고 하더라도, 상기 수신 시스템의 응답 특성 곡선은 상기 수신기의 응답 특성 곡선 이 될 것이다.
따라서, 최악의 상태를 감안하더라도 상기 ⑤ 구간만을 시험하면 되는 것이다.
상기 시험 과정에서는 응답 특성 곡선을 모르는 수신 시스템의 불요 신호에 대한 전자파장해를 시험하는 관계로, f1을 추출하기 위하여 상기 제2 전자파장해 시험 신호를 f0에서부터 스캔하여 추출을 하고 있지만, 만약 수신 시스템이 아닌 상기 수신 시스템 내에 구비된 수신기만을 시험하고자 하는 경우에는 상기 제1 전자파장해 시험 신호를 사용할 필요없이 확보된 상기 수신기의 응답 특성 곡선에 상기 수평 가상선을 긋는 것만으로 f1을 추출할 수 있다. 물론 이 경우 상기 f1은 상기 수신기의 응답 특성 곡선 상의 한 지점이 될 것이다.
한편, 앞에서 설명된 바와 마찬가지로 상기 반응 확인부(130)는 상기 전자파장해 시험 주파수 대역 중 상기 응답 특성 곡선이 상기 전자파장해 시험 신호의 레벨 이하인 주파수 대역 중 최외곽의 주파수 대역까지의 구간을 스캔하여 반응을 확인할 수도 있는데, 이는 스캔 상의 편의를 위한 것으로 도 8에서도 사각형으로 둘러싼 것 같이 좌우측으로 상기 구간보다 먼 구간까지 스캔을 하는 것으로 설정하고 있다. 요점은 f1에서 ⑤의 끝 주파수까지만 스캔을 수행하면 되는 것이다.
상기 반응 확인부(130)는 앞서 설명된 바와 같이 상기 수신 시스템에 대한 불요 신호 시험에서 f1을 추출하여 전자파장해 시험 주파수 대역을 추출하는 경우, 상기 수신 시스템 내 수신기(111)의 튜닝 주파수 대역을 제외한 주파수에서부터 스캔을 실시하여 스캔 구간을 줄일 수 있다. 이 또한, 튜닝 주파수 대역에서는 불요 신호의 시험이 무의미한 것을 실험적으로 확인한 것에 근거한 것이며, 도 8과 같이 튜닝 주파수 대역이 적은 통신기에서는 시험 시간에 대한 효과가 미비하나 레이더와 같이 튜닝 주파수 대역이 광범위한 경우에는 상당한 시간의 절약이 가능하다.
한편, 앞에서 레벨이란 용어를 사용하고 있는데, 이는 응답 특성 곡선과의 비교의 용이함을 고려하여, 제1, 제2 및 제3 전자파장해 시험 신호의 크기를 상기 수평 가상선과 같이 '선(線)'적으로 표현하기 위한 것임을 언급한다.
또한, 상세한 설명에서는 f0의 우측만을 설명하고 있으나, 상기 f0의 좌측으로도 도에 나타난 바와 같이 f1', f2'등으로 설정한 것 외에는 위와 동일한 구성 및 방법으로 시험이 이루어지므로 설명을 생략한다.
이상에서 설명된 바와 같이, 본 발명에 따른 전자파장해 시험 장치 및 방법은 수신 시스템 내 수신기의 응답 특성 그래프를 이용하여, 시험하고자 하는 상호 변조 신호 및 불요 신호의 크기에 해당하는 수평 가상선의 이하 레벨에 해당되는 응답 특성 그래프의 주파수 대역만을 시험함으로써, 시험 시간을 절약할 수 있는 장점이 있다.
또한, 전자파장해 시험 주파수 대역을 상기 수신기의 튜닝 주파수 대역을 제외하고 스캔하여 추출하는 것에 의해서도 시험 시간을 절약하고 있다.

Claims (12)

  1. 수신기가 구비된 수신 시스템의 전자파장해(EMI) 반응을 시험하는 장치에 있어서,
    소정 크기 레벨의 전자파장해 시험 신호를 생성하여 상기 수신 시스템으로 송신하는 신호 생성부와;
    상기 수신 시스템 내 수신기의 출력단에 위치하여 상기 수신 시스템 내 수신기의 일반적인 응답 특성 곡선을 추출하는 응답 특성 측정부가 구비된 반응 확인부를 포함하고,
    상기 반응 확인부는 상기 신호 생성부와 연동하여 상기 소정 크기 레벨의 전자파장해 시험 신호에 대응되는 상기 수신 시스템의 전자파장해 시험 주파수 대역을 추출한 후, 상기 전자파장해 시험 주파수 대역 중 상기 응답 특성 곡선이 상기 전자파장해 시험 신호의 크기 레벨 이하인 주파수 대역에 대해서만 반응을 확인하는 것을 특징으로 하는 전자파장해 시험 장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 수신 시스템 내의 수신기만을 시험하는 경우, 상기 반응 확인부는 상기 전자파장해 시험 주파수 대역의 추출없이 상기 응답 특성 곡선이 상기 전자파장해 시험 신호의 크기 레벨 이하인 주파수 대역에 대해서만 반응을 확인하는 것을 특징으로 하는 전자파장해 시험 장치.
  5. 삭제
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 수신 시스템은 디지털 신호처리기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파장해 시험 장치.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 신호 생성부는 같은 크기 레벨을 갖는 제1 및 제2 전자파장해 시험 신호를 생성하여 상기 수신 시스템으로 송신하고,
    상기 반응 확인부는 상기 제1 전자파장해 시험 신호를 사용하여, 상기 수신 시스템이 반응하지 않는 주파수 f1을 추출한 후, 상기 제1 전자파장해 시험 신호를 상기 f1에 고정하고, 상기 f1에서부터 전자파장해가 발생되지 않는 주파수 구간인 Δf만큼 이격된 주파수 f2에서부터 상기 제2 전자파장해 시험 신호를 이용하여 상기 수신 시스템의 반응을 확인하며,
    이때, 상기 반응 확인부는 상기 응답 특성 곡선이 상기 f2에서부터의 구간에서 상기 제2 전자파장해 시험 신호의 크기 레벨 이하인 주파수 대역에 대해서만 반응을 확인하는 것을 특징으로 하는 전자파장해 시험 장치.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 신호 생성부는 상기 수신 시스템의 수신기가 최고 감도를 보이는 주파수 f0에서 반응을 보이는 최저 크기 레벨의 제1 전자파장해 시험 신호와, 상기 제1 전자파장해 시험 신호보다 큰 크기 레벨의 제2 전자파장해 시험 신호 및 상기 제2 전자파장해 시험 신호에 소정 크기 레벨을 더한 제3 전자파장해 시험 신호를 생성하여 상기 수신 시스템으로 송신하고,
    상기 반응 확인부는 상기 제1 전자파장해 시험 신호를 상기 f0에 고정하고, 상기 제2 전자파장해 시험 신호를 이용하여 상기 수신 시스템이 상기 제1 전자파장해 시험 신호에 정상 반응을 보이는 주파수 f1을 추출한 후, 상기 f1에서부터 상기 제2 전자파장해 시험 신호를 이용하여 상기 수신 시스템의 반응을 확인하고, 상기 수신 시스템의 허용 주파수의 최대치에서부터는 상기 제3 전자파장해 시험 신호를 이용하여 상기 수신 시스템의 반응을 확인하며,
    이때, 상기 반응 확인부는 상기 응답 특성 곡선이 상기 f1에서부터의 구간에서부터 허용 주파수의 최대치까지는 상기 제2 전자파장해 시험 신호의 크기 레벨, 상기 허용 주파수의 최대치에서부터는 상기 제3 전자파장해 시험 신호의 크기 레벨 이하인 주파수 대역에 대해서만 반응을 확인하는 것을 특징으로 하는 전자파장해 시험 장치.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 반응 확인부는 상기 전자파장해 시험 주파수 대역 중 상기 응답 특성 곡선이 상기 전자파장해 시험 신호의 크기 레벨 이하인 주파수 대역 중 최외곽의 주파수 대역까지의 구간을 스캔하여 반응을 확인하는 것을 특징으로 하는 전자파장해 시험 장치.
  10. 수신기가 구비된 수신 시스템의 전자파장해(EMI) 반응을 시험하는 방법에 있어서,
    소정 크기 레벨의 전자파장해 시험 신호를 생성하여 상기 수신 시스템으로 송신하는 단계와;
    상기 전자파장해 시험 신호를 이용하여 상기 수신 시스템의 전자파장해 시험 주파수 대역을 추출하는 단계와;
    상기 전자파장해 시험 주파수 대역 중 미리 추출되어 있는 상기 수신 시스템 내 수신기의 응답 특성 곡선이 상기 전자파장해 시험 신호의 크기 레벨 이하인 실 시험 주파수 대역을 추출하는 단계와;
    상기 실 시험 주파수 대역에 대해서 상기 수신 시스템의 반응을 확인하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파장해 시험 방법.
  11. 삭제
  12. 삭제
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105093014A (zh) * 2015-07-23 2015-11-25 山东省科学院自动化研究所 一种电磁干扰测试方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0526929A (ja) * 1991-07-22 1993-02-05 Sanki Denshi Kogyo Kk 電磁波測定装置
KR980006977A (ko) * 1996-06-21 1998-03-30 김광호 무선기기의 수신감도 측정장치 및 그 방법
KR20000052543A (ko) * 1998-12-21 2000-08-25 윤종용 디지털 수신기를 위한 자기 테스트 회로 및 동작 방법
KR20070036338A (ko) * 2005-09-29 2007-04-03 엘지전자 주식회사 데이터 방송 수신기의 기능 테스트 시스템

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0526929A (ja) * 1991-07-22 1993-02-05 Sanki Denshi Kogyo Kk 電磁波測定装置
KR980006977A (ko) * 1996-06-21 1998-03-30 김광호 무선기기의 수신감도 측정장치 및 그 방법
KR20000052543A (ko) * 1998-12-21 2000-08-25 윤종용 디지털 수신기를 위한 자기 테스트 회로 및 동작 방법
KR20070036338A (ko) * 2005-09-29 2007-04-03 엘지전자 주식회사 데이터 방송 수신기의 기능 테스트 시스템

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105093014A (zh) * 2015-07-23 2015-11-25 山东省科学院自动化研究所 一种电磁干扰测试方法
CN105093014B (zh) * 2015-07-23 2017-10-10 山东省科学院自动化研究所 一种电磁干扰测试方法

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