KR100815549B1 - 광신호 검출 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 광신호 검출 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 파장 선택성이 상이한 다수개의 광센서를 이용하여 광원으로부터 제공되는 광신호를 검출함으로써, 상기 광신호의 첨두 파장을 판별하고 상기 첨두 파장에 해당하는 광신호의 세기를 측정하는 광신호 검출 장치에 관한 것이다.
상기한 광신호 검출 장치에 따르면, 별도의 광 필터를 배치할 필요가 없어짐은 물론, 그에 따른 공간 및 비용이 절약되므로 장치의 전체 사이즈를 줄이는 동시에 제조 원가를 절감할 수 있는 효과가 있다.
파장분할다중화, 광신호 검출, 파장, 세기, 첨두 파장

Description

광신호 검출 장치{Optical signal detector}
본 발명은 광신호 검출 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 파장 선택성이 상이한 다수개의 광센서를 이용하여 광원으로부터 제공되는 광신호를 검출함으로써, 상기 광신호의 첨두 파장을 판별하고 상기 첨두 파장에 해당하는 광신호의 세기를 측정하는 광신호 검출 장치에 관한 것이다.
일반적으로 파장분할다중화(WDM; Wavelength Division Multiplexing)된 다채널 광신호를 모니터링하기 위해서는 각 광신호 채널의 광세기(Optical Power), 광파장(Optical Wavelength), 광신호 대 잡음비(OSNR; Optical Signal to Noise Ratio)를 측정해야 한다.
최근에는 초고속 대용량 전송망인 FTTH(fiber to the home) 망의 도입에 따라, FTTH 망의 유지 보수를 위하여 사용하기 간단하고 광원의 파장 및 세기를 정확하게 측정하는 방법이 절실히 요구되고 있다.
IEEE 표준에 의하면 현재 FTTH의 경우 1310nm, 1490 nm, 1550 nm 대역의 파장이 쓰이고 있다. 광 가입자망에서 광섬유 포설(laying) 또는 광섬유 수리/복구 시 광원의 첨두 파장과 그 외 다른 파장들에 대응하는 광신호들의 세기를 측정하고 측정된 값을 이용하여 망의 성능을 정상적으로 유지할 필요가 있다.
도 1은 종래의 광신호 검출 장치를 도시한 블록도이다.
도시된 바와 같이, 종래의 광신호 검출 장치(100)는 광원으로부터 입사되는 광신호의 파장과 세기를 측정하는 장치에 있어서, 광원으로부터 입사되는 광신호의 세기를 검출하여 해당하는 신호를 출력하는 주광검출기(130)와, 광원으로부터 기 설정된 투과 파장대에 해당하는 광신호만 투과시키는 적어도 하나의 광 필터(111 내지 11N, N = 1, 2, 3,...)와, 상기 광 필터(111 내지 11N)에 대응되어 위치하며 상기 광 필터(111 내지 11N)를 투과하는 광신호의 세기에 따라 해당하는 신호를 출력하는 적어도 하나의 보조광검출기(121 내지 12N)와, 상기 주광검출기(130)와 상기 보조광검출기(121 내지 12N)에 의한 검출신호를 처리 가능한 형태로 변환하는 신호변환부(140)와, 상기 보조 광검출기(121 내지 12N)에 의한 검출신호를 토대로 상기 광원의 첨두 파장(Peak Wavelength)을 판별하는 파장판별부(150), 및 상기 주 광검출기(130)에 의한 검출신호를 토대로 상기 첨두 파장에 해당하는 광신호의 세기를 측정하는 세기측정부(160)를 포함하여 구성된다.
그러나, 이러한 종래의 광신호 검출 장치는 상기 광 필터와 상기 보조 광검출기가 공간적으로 떨어져 있기 때문에 그 사이에 광학적 공간 정렬을 안정적으로 구현하기에 어려움이 따르며, 그에 따라 광신호의 파장과 세기를 정확하게 측정할 수 없게 되는 문제점이 있었다. 또한, 불연속 측정값으로부터 복잡한 가우시안 근사값의 계산을 해야 하는 문제점아 있었다 아울러, 상기 광필터의 가격은 물론 실장 공간이 상당하므로 가격이 상승할 뿐만 아니라 장치의 사이즈가 커지는 문제점 도 수반한다.
본 발명은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 광 필터를 사용하지 않고도 광원으로부터 제공되는 광신호의 첨두 파장을 판별하고 상기 첨두 파장에 해당하는 광신호의 세기를 측정하는 광신호 검출 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 기술적인 구성으로서, 본 발명에 따른 광신호 검출 장치는 파장분할다중화된 광신호의 전송 대역인 제1 파장, 제2 파장, 또는 제3 파장을 포함하는 다수의 파장 대역 중 어느 한 대역의 광신호를 제공하는 광원을 모니터링하는 광신호 검출 장치에 있어서, 상기 광원으로부터 입사되는 광신호의 세기를 검출하는 주광센서와, 기 설정된 대역에 해당하는 광신호를 감지하는 다수개의 보조광센서와, 상기 주광센서와 상기 보조광센서에 의한 검출신호를 처리 가능한 형태로 변환하는 신호변환부와, 상기 보조광센서 중 동작되는 광센서의 개수에 따라 상기 광원의 첨두 파장을 판별하는 파장판별부 및 상기 주광센서에 의한 검출신호를 토대로 상기 첨두 파장에 해당하는 광신호의 세기를 측정하는 세기측정부;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 광신호 검출 장치에 있어서, 상기 보조광센서는 제1 파장의 대역에 해당하는 광신호를 감지하는 제1 보조광센서와, 제1 및 제2 파장의 대역에 해당하는 광신호를 감지하는 제2 보조광센서로 이루어진 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 파장판별부는 상기 제1 및 제2 보조광센서가 모두 동작되면 제1 파장을, 상기 제2 보조광센서만 동작되면 제2 파장을 각각 첨두 파장으로 판별하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 광신호 검출 장치에 있어서, 상기 보조광센서는 제1 파장의 대역에 해당하는 광신호를 감지하는 제1 보조광센서와, 제1 및 제2 파장의 대역에 해당하는 광신호를 감지하는 제2 보조광센서, 및 제1 내지 제3 파장의 대역에 해당하는 광신호를 감지하는 제3 광센서로 이루어진 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 파장판별부는 상기 제1 내지 제3 보조광센서가 모두 동작되면 제1 파장을, 상기 제2 및 제3 보조광센서만 동작되면 제2 파장을, 제3 보조광센서만 동작되면 제3 파장을 각각 첨두 파장으로 판별하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 광신호 검출 장치에 있어서, 상기 제1 파장, 상기 제2 파장, 및 상기 제3 파장은 상기 제1 파장에서 상기 제3 파장으로 갈수록 파장의 길이가 점차 긴 것을 특징으로 한다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명의 광신호 검출 장치는 일부 감지대역이 중복되지만 상이한 파장 선택성을 갖는 다수개의 광센서를 적용하여 광원으로부터 제공되는 광신호의 파장 대역을 감지하여 상기 파장 대역의 첨두 파장을 판별하고, 광대역의 파장을 아울러 광신호를 수광하는 주 광센서에 의한 검출신호를 토대로 상기 첨두 파장에 해당하는 광신호의 세기를 측정함으로써, 별도의 광 필터를 배치할 필요가 없이 광원으로부터 제공되는 광신호의 파장 및 세기를 측정함은 물론, 상기 광필터의 설치에 따른 공간 및 비용이 절약되므로 장치의 전체 사이즈를 줄이고 제조원가를 절감하는 효과가 있다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부한 도면에 의거하여 더욱 상세하게 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 광신호 검출 장치를 도시한 블록도이다.
도면에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 광신호 검출 장치(200)는 광원으로부터 입사되는 광신호의 세기를 검출하는 주광센서(230)와, 광원으로부터 기 설정된 대역에 해당하는 광신호를 감지하는 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)와, 상기 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N) 중에서 동작되는 보조광센서의 개수에 따라 광원의 첨두 파장을 판별하여 그에 따른 신호를 출력하는 파장판별부(250), 및 상기 주광센서(230)에 의한 검출신호를 토대로 상기 첨두 파장에 해당하는 광신호의 세기를 측정하는 세기측정부(260)를 포함하여 구성된다.
여기서, 광원은 파장분할다중화된 광신호의 전송 대역인 제1 내지 제N 파장(λ1 내지 λN)대역 중 어느 한 대역의 광신호를 제공하며, 상기 주광센서(230) 및 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)와 어떻게 배치되는지에 대해서는 도 2에서 상세하게 설명하기로 한다.
이 외에도 상기 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)에 의한 검출신호를 상기 파장판별부(250)에서 처리 가능하도록 변환하는 신호변환부(240)를 포함할 수 있음은 물론이다. 또한, 필요에 따라 상기 파장판별부(250)에서 판별된 첨두 파장을 표시하는 표시부(미도시)를 선택적으로 더 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 광신호 검출 장치(200)에 있어서, 상기 주광센서(230)는 넓은 감지대역의 특성을 가지므로 광신호 검출 장치로 삽입되는 광원으로부터 제공되는 광신호의 세기를 파장에 상관 없이 측정한다.
본 발명에 따른 광신호 검출 장치(200)에 있어서, 상기 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)는 일부 감지대역이 서로 중복되지만 상이한 파장 선택성을 갖고 있으며, 적어도 2 개 이상으로 구성됨에 주목하여야 한다.
이때, 그 실시 예로서 상기 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)의 파장 선택성에 대해서는 도 4에서 상세하게 설명하기로 한다.
본 발명에 따른 광신호 검출 장치(200)에 있어서, 상기 신호변환부(240)는 상기 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)가 흡광함에 따라 전류가 흐르는 포토다이오드와 같은 광전 변환 소자로 이루어지므로, 상기 포토다이오드의 전류 신호를 증폭하는 증폭기 및 증폭된 전류 신호를 전압 신호로 변환하는 전류-전압 변환기로 구성된다.
한편, 상기 신호변환부(240)의 일 실시 예로 전류-전압 변환기가 사용되었지만, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 또한, 상기 신호변환부(240)는 아날로그 신호를 디지털로 변환하는 A/D 컨버터를 더 포함함이 바람직하다.
본 발명에 따른 광신호 검출 장치(200)에 있어서, 상기 파장판별부(250)는 입력단자를 통해 상기 주광센서(230) 및 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)가 연결되며, 마이크로프로세서로 구현될 수 있다.
본 발명에 따른 광신호 검출 장치(200)에 있어서, 상기 세기측정부(260)는 상기 신호변환부(240)를 통하여 전압 신호로 변환된 신호가 입력되면, 상기 파장판별부(250)에 의하여 판별된 광원의 첨두 파장을 토대로 룩업 테이블을 참조하여 상기 첨두 파장에 대응되는 보정값을 판별한다. 그리고 보정값을 가산하거나 또는 승산하는 등의 연산 과정을 수행하여 상기 신호변환부(240)에 의해 변환된 신호를 보정할 수 있다. 이후 최종적으로 보정된 신호의 값을 광원의 세기로 결정한다.
따라서 광원을 본 발명의 실시 예에 따른 광신호 검출 장치(200)에 삽입하여 연결하는 과정에서, 상기 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)를 이용하여 광원의 첨두 파장을 자동으로 판별하고, 상기 주광센서(230)로부터 얻어지는 광신호의 세기를 상기 첨두 파장에 따라 보정함으로써, 상기 첨두 파장에 대응하는 광신호의 세기를 정확하게 측정할 수 있다.
도 3은 도 2에 도시된 주광센서와 제1 내지 제N 보조광센서의 배치 구조를 나타낸 예시도이다. 여기서는 N이 3으로서 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)가 상기 제1 내지 제3 보조광센서인 경우를 예로 하여 도면에 도시하였다.
도면에 도시된 바와 같이, 광원이 본 발명의 실시 예에 따른 광신호 검출 장치(200)로 삽입되었을 때 광원은 제1 위치(P1) 및 제2 위치(P2)에 위치하도록 하고, 광원으로부터 상기 제1 위치(P1)에서 방출되는 광신호를 검출할 수 있도록 상기 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)를 배치하며, 광원으로부터 상기 제2 위치(P2)에서 방출되는 광신호를 검출할 수 있도록 상기 주광센서(230)를 배치한다.
이때, 광원이 상기 제1 위치(P1)에서 방출되어 퍼지는 제1 영역이 상기 제2 위치(P2)에서 방출되어 퍼지는 제2 영역보다 넓음을 알 수 있다. 이에 따라 본 발명의 실시 예에서는 상기 주광센서(230)의 크기를 상기 제2 영역(P2) 안으로 입사되는 광을 측정할 수 있는 크기로 구현하고, 상기 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)는 상기 제1 영역(P1) 안으로 입사되는 광을 측정할 수 있는 위치에 배치하였다. 그러나, 본 발명에서 상기 주광센서(230)와 상기 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)는 반드시 전술한 바와 같은 배치 구조로 한정되지는 않는다.
이러한 구조에 따라 광원이 장치에 삽입되기 시작하면서부터 광원으로부터 상기 제1 위치(P1)에서 퍼져 나오는 광신호의 첨두 파장을 측정할 수 있으며, 이후 광원이 장치에 완전히 삽입되었을 때 상기 제2 위치(P2)에서 퍼져 나오는 광신호의 세기도 측정할 수 있다.
상기 주광센서(230)와 상기 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)는 입력되는 광신호의 세기에 해당하는 전기적인 신호를 출력한다. 이러한 광센서의 구조는 당 업계에 공지되어 있으므로 여기서는 상세한 설명을 생략한다.
도 4는 도 2에 도시된 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)의 파장 선택성을 개략적으로 나타낸 예시도이다. 여기서는 상기 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)의 감지대역을 도시하였을 뿐 감지대역 범위 내에서 각 파장에 따른 감도 차이는 고려하지 않았다.
도면에 도시된 바와 같이, 상기 제1 보조광센서(221)는 제1 파장(λ1)의 대역 에 해당하는 광신호를, 상기 제2 보조광센서(222)는 제1 및 제2 파장(λ1, λ2)의 대역에 해당하는 광신호를, 상기 제3 보조광센서(223)는 제1 내지 제3 파장(λ1, λ2, λ3)의 대역에 해당하는 광신호를, ...,그리고 상기 제N 보조광센서(22N)는 상기 제1 내지 제N 파장(λ1 내지 λN)의 대역에 해당하는 광신호를 각각 감지하도록 한다.
만일, N이 2인 경우 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)는 1 및 제2 보조광센서(221, 222)이고, N이 3인 경우 상기 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)는 상기 제1 내지 제3 보조광센서(221 내지 223)이다.
여기서, 상기 제1 내지 제N 파장(λ1 내지 λN)은 상기 제1 파장(λ1)에서 상기 제N 파장(λN)으로 갈수록 점차 파장의 길이가 긴 것이 바람직하다.
이를 위한 실시 예로서 상기 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)는 각각 광신호를 수광하여 반응할 수 있는 최소 에너지 폭인 제1 내지 제N 에너지 밴드갭(BG1 내지 BGN) 특성을 갖도록 하되, 상기 제1 내지 제N 에너지 밴드갭(BG1 내지 BGN)은 상기 제1 에너지 밴드갭(BG1)에서 상기 제N 에너지 밴드갭(BGN)으로 갈수록 점차 그 폭이 좁은 것으로 한다.
이하 N이 3으로서 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)가 상기 제1 내지 제3 보조광센서인 경우에 상기 제1 내지 제3 보조광센서의 에너지 밴드갭에 대해서 보다 상세하게 설명하기로 한다.
상기 제1 보조광센서(221)는 제2 및 제3 파장(λ2, λ3)은 제외하고 제1 파장(λ1)을 포함하는 대역의 광신호만 선택적으로 흡수하도록 하기 위해 상기 제1 에너지 밴드갭(BG1)이 상기 제2 및 제3 에너지 밴드갭(BG2, BG3)보다 넓은 포토다이오드로 형성함이 바람직하다.
상기 제2 광센서(222)는 제3 파장(λ3)은 제외하고 제1 및 제2 파장(λ1, λ2)을 포함하는 대역의 광신호만 선택적으로 흡수하도록 하기 위하여, 상기 제2 에너지 밴드갭(BG2)이 상기 제1 에너지 밴드갭(BG1)보다 좁고 상기 제3 에너지 밴드갭(BG3)보다 넓은 포토다이오드로 형성함이 바람직하다.
상기 제3 보조광센서(223)는 제1 내지 제3 파장(λ1 내지 λ3)을 포함하는 대역의 광신호를 아울러 흡수하도록 하기 위하여 에너지 밴드갭(BG3)이 상기 제1 및 제2 에너지 밴드갭(BG1, BG2)보다 좁은 포토다이오드로 형성함이 바람직하다.
한편, 상기 제1 내지 제3 보조광센서(221 내지 223)에 적용된 에너지 밴드갭이 상이한 포토다이오드의 구조는 당 업계에 공지되어 있으므로 여기서는 상세한 설명을 생략한다.
여기서, 광원은 E-PON(Ethernet-passive optical network) 또는 G-PON(Gigabit-passive optical network)에 사용되는 파장대로서 1310 nm, 1490 nm, 또는 1550 nm 파장 대역 중 어느 한 대역의 광신호를 포함하므로, N이 3인 경우 제1 파장(λ1)이 1310 nm이고, 제2 파장(λ2)이 1490 nm이며, 제3 파장(λ3)이 1550 nm임을 알 수 있다.
이와 같이 구성된 본 발명의 광신호 검출 장치의 동작을 설명하면 다음과 같다. 여기서는 본 발명의 광신호 검출 장치에 있어 제1 내지 제N 보조광센서가 제1 내지 제3 보조광센서(221 내지 223)로 3 개인 경우를 예로 하여 설명하기로 한다.
상기 제1 내지 제3 파장(λ1 내지 λ3)의 대역을 포함하는 다수의 파장 대역 중 어느 한 대역의 광신호를 제공하는 광원이 본 발명에 따른 광신호 검출 장치(200)로 제공되면 상기 광원으로부터 제공되는 광신호가 상기 제1 내지 제3 보조광센서(221 내지 223)로 입사된다. 이에 따라 상기 제1 내지 제3 보조광센서(221 내지 223)는 상기 제1 내지 제3 보조광센서(221 내지 223) 각각에 기 설정된 파장 대역에 따라 선택적으로 광신호를 감지하여 그에 따른 전기적인 신호(이하, 검출 신호)를 출력한다.
더욱 상세하게는, 상기 파장판별부(250)는 그 입력단자를 통해 상기 제1 내지 제3 보조광센서(221 내지 223)에 의한 검출신호가 모두 입력되면 상기 제1 파장(λ1)을 상기 광원의 첨두 파장인 것으로 판별하고, 상기 제2 및 제3 보조광센서(222, 223)에 의한 검출신호만 입력되면 상기 제2 파장(λ2)을 상기 광원의 첨두 파장인 것으로 판별하며, 상기 제3 보조광센서(223)에 의한 검출신호만 입력되면 상기 제3 파장(λ3)을 상기 광원의 첨두 파장인 것으로 판별한다.
여기서, 상기 각 보조광센서에 의한 검출신호가 입력된다는 것은, 상기 각 보조광센서의 고유한 에너지 밴드갭 이상의 광신호가 입력되었을 때 상기 제1 내지 제3 보조광센서(221 내지 223)가 동작되어 광신호의 세기와 비례하는 전기적인 출력 신호가 상기 파장판별부(250)에 입력됨을 의미한다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시 예에 관하여 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 따라서 본 발명의 권리 범위는 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 안 되며, 후술하는 청구범위뿐만 아니라, 이와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
도 1은 종래의 광신호 검출 장치를 도시한 블록도,
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 광신호 검출 장치를 도시한 블록도,
도 3은 도 2에 도시된 주광센서와 제1 내지 제N 보조광센서의 배치 구조를 나타낸 예시도,
도 4는 도 2에 도시된 제1 내지 제N 보조광센서(221 내지 22N)의 파장 선택성을 개략적으로 나타낸 예시도이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호설명>
200 : 광신호 검출 장치 221 내지 22N : 제1 내지 제N 보조광센서
230 : 주광센서 240 : 신호변환부
250 : 파장판별부 260 : 세기측정부
P1, P2 : 제1 및 제2 위치

Claims (6)

  1. 파장분할다중화된 광신호의 전송 대역인 제1 파장, 제2 파장, 또는 제3 파장을 포함하는 다수의 파장 대역 중 어느 한 대역의 광신호를 제공하는 광원을 모니터링하는 광신호 검출 장치에 있어서,
    상기 광원으로부터 입사되는 광신호의 세기를 검출하는 주광센서와;
    기 설정된 대역에 해당하는 광신호를 감지하는 다수개의 보조광센서와;
    상기 주광센서와 상기 보조광센서에 의한 검출신호를 처리 가능한 형태로 변환하는 신호변환부와;
    상기 보조광센서 중 동작되는 광센서의 개수에 따라 상기 광원의 첨두 파장을 판별하는 파장판별부; 및
    상기 주광센서에 의한 검출신호를 토대로 상기 첨두 파장에 해당하는 광신호의 세기를 측정하는 세기측정부;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 광신호 검출 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 보조광센서는 제1 파장의 대역에 해당하는 광신호를 감지하는 제1 보조광센서와, 제1 및 제2 파장의 대역에 해당하는 광신호를 감지하는 제2 보조광센서로 이루어진 것을 특징으로 하는 광신호 검출 장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 파장판별부는 상기 제1 및 제2 보조광센서가 모두 동작되면 제1 파장을, 상기 제2 보조광센서만 동작되면 제2 파장을 각각 첨두 파장으로 판별하는 것을 특징으로 하는 광신호 검출 장치.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 보조광센서는 제1 파장의 대역에 해당하는 광신호를 감지하는 제1 보조광센서와, 제1 및 제2 파장의 대역에 해당하는 광신호를 감지하는 제2 보조광센서, 및 제1 내지 제3 파장의 대역에 해당하는 광신호를 감지하는 제3 광센서로 이루어진 것을 특징으로 하는 광신호 검출 장치.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 파장판별부는 상기 제1 내지 제3 보조광센서가 모두 동작되면 제1 파장을, 상기 제2 및 제3 보조광센서만 동작되면 제2 파장을, 제3 보조광센서만 동작되면 제3 파장을 각각 첨두 파장으로 판별하는 것을 특징으로 하는 광신호 검출 장치.
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 제1 파장, 상기 제2 파장, 및 상기 제3 파장은 상기 제1 파장에서 상기 제3 파장으로 갈수록 파장의 길이가 점차 긴 것을 특징으로 하는 광신호 검출 장 치.
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