KR100758695B1 - 저밀도 파장 분할 다중 방식의 광 파장 및 광 세기측정장치 - Google Patents
저밀도 파장 분할 다중 방식의 광 파장 및 광 세기측정장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100758695B1 KR100758695B1 KR1020070031113A KR20070031113A KR100758695B1 KR 100758695 B1 KR100758695 B1 KR 100758695B1 KR 1020070031113 A KR1020070031113 A KR 1020070031113A KR 20070031113 A KR20070031113 A KR 20070031113A KR 100758695 B1 KR100758695 B1 KR 100758695B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- wavelength
- unit
- light
- light receiving
- filter
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 23
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 33
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000000047 product Substances 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0238—Details making use of sensor-related data, e.g. for identification of sensor or optical parts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/26—Optical coupling means
- G02B6/28—Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals
- G02B6/293—Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals with wavelength selective means
- G02B6/29346—Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals with wavelength selective means operating by wave or beam interference
- G02B6/29361—Interference filters, e.g. multilayer coatings, thin film filters, dichroic splitters or mirrors based on multilayers, WDM filters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
- G01J2001/1668—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors the measuring signal itself varying in time, e.g. periodic, for example blood pulsation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
Description
Claims (6)
- 광 파장 및 광 세기 측정장치에 있어서,광원으로부터 입사되어 자유공간으로 진행하는 광을 적어도 하나 이상의 필터를 통해 각각 수광하고, 어느 하나의 필터에서 수광된 파장을 제외한 다중 파장을 또 다른 필터에서 수광하기 위한 광수광수단과;상기 광수광수단으로부터 수광된 각각의 분리된 파장을 증폭하기 위한 증폭부와;상기 증폭부를 통과한 파장을 중앙제어부로 입력하기 위한 컨버터부와;사용자가 조작을 수행하기 위한 키패드조작부와;중앙제어부에서 처리된 신호를 사용자에게 디스플레이하기 위한 디스플레이부와;키패드조작부의 조작에 의해 상기 디스플레이부에 텍스트 또는 그래프로 전환하여 표시하기 위한 전환표시부와;중앙제어부의 데이터 처리 과정에서 기준 파장 범위 이외의 파장이 입력되면 기준 파장 범위 이외의 파장이 입력되었음을 출력하기 위한 에러파장판단부와;기준 파장 범위 데이터를 저장하기 위한 저장부와;상기 각 부와 전기적으로 연결되어 전반적인 제어를 수행하기 위한 중앙제어부와;전원을 공급하기 위한 전원공급부;를 포함하여 구성되되,상기 광수광수단은,베이스플레이트와,상기 베이스플레이트의 상단에 배치되어 광을 조사할 수 있도록 광원과 연결되는 광컨넥터와,상기 광컨넥터를 통해 입사되는 광의 여러 파장 중 해당하는 특정 파장을 통과시켜 수광하고 그 외의 파장을 반사시킬 수 있도록 필터가 배치되는 수광부를 포함하여 구성되며, 상기 필터가 배치되는 수광부는 베이스플레이트의 양측 길이 방향을 따라 지그재그로 다수 배치되고, 필터는 광컨넥터를 통해 조사되는 광에서 연속적으로 지그재그로 반사시킬 수 있도록 배치되는 것을 특징으로 하는 저밀도 파장 분할 다중 방식의 광 파장 및 광 세기 측정장치.
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 제 1항에 있어서,상기 필터가 배치되는 수광부는,자유 공간 상태에서 입사된 빛을 광섬유를 통하지 않고 자유 공간상에서 직접 수광하는 포토 다이오드인 것을 특징으로 하는 저밀도 파장 분할 다중 방식의 광 파장 및 광 세기 측정장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070031113A KR100758695B1 (ko) | 2007-03-29 | 2007-03-29 | 저밀도 파장 분할 다중 방식의 광 파장 및 광 세기측정장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070031113A KR100758695B1 (ko) | 2007-03-29 | 2007-03-29 | 저밀도 파장 분할 다중 방식의 광 파장 및 광 세기측정장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100758695B1 true KR100758695B1 (ko) | 2007-09-14 |
Family
ID=38737793
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070031113A KR100758695B1 (ko) | 2007-03-29 | 2007-03-29 | 저밀도 파장 분할 다중 방식의 광 파장 및 광 세기측정장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100758695B1 (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101089182B1 (ko) * | 2011-05-11 | 2011-12-02 | 주식회사 피피아이 | 광파장 파워 측정기 |
US9768866B2 (en) | 2014-11-26 | 2017-09-19 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Optical wavelength and power measurement device |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR200234121Y1 (ko) | 2000-07-11 | 2001-11-22 | 박종대 | 아날로그 표시기가 구비된 디지털 레이저 출력 측정장치 |
JP2003075261A (ja) | 2001-08-16 | 2003-03-12 | Agilent Technol Inc | 光パルス測定装置 |
KR20030086010A (ko) * | 2002-05-03 | 2003-11-07 | 주식회사 옵텔콤 | 광파장 자동 식별기능을 구비한 광파워메타 |
KR200385979Y1 (ko) | 2005-03-03 | 2005-06-07 | 최현범 | Cwdm 파장측정을 위한 핸드헬드형 광파장측정기 |
-
2007
- 2007-03-29 KR KR1020070031113A patent/KR100758695B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR200234121Y1 (ko) | 2000-07-11 | 2001-11-22 | 박종대 | 아날로그 표시기가 구비된 디지털 레이저 출력 측정장치 |
JP2003075261A (ja) | 2001-08-16 | 2003-03-12 | Agilent Technol Inc | 光パルス測定装置 |
KR20030086010A (ko) * | 2002-05-03 | 2003-11-07 | 주식회사 옵텔콤 | 광파장 자동 식별기능을 구비한 광파워메타 |
KR200385979Y1 (ko) | 2005-03-03 | 2005-06-07 | 최현범 | Cwdm 파장측정을 위한 핸드헬드형 광파장측정기 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101089182B1 (ko) * | 2011-05-11 | 2011-12-02 | 주식회사 피피아이 | 광파장 파워 측정기 |
US9768866B2 (en) | 2014-11-26 | 2017-09-19 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Optical wavelength and power measurement device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10181696B2 (en) | Photonic integrated circuit | |
US7426347B2 (en) | Shared optical performance monitoring | |
CN105229945B (zh) | 具有集成的信道监测器的波长选择开关 | |
KR100340203B1 (ko) | 파장분할 다중화 방식 광전송 시스템의 광성능 감시장치 | |
US6526199B1 (en) | Arrayed waveguide grating wavelength division multiplexer provided with alignment waveguides and apparatus for aligning the same | |
KR100322125B1 (ko) | 배열격자도파로 모듈 및 이를 이용한 광신호 모니터링 장치 | |
US6619864B2 (en) | Optical channel monitor with continuous gas cell calibration | |
KR100758695B1 (ko) | 저밀도 파장 분할 다중 방식의 광 파장 및 광 세기측정장치 | |
JP3966287B2 (ja) | 光パワー測定機能付き光心線判別装置 | |
JP5274797B2 (ja) | 波長分割多重信号監視装置およびそれを具備する波長分割多重伝送装置 | |
JP4322717B2 (ja) | 光ファイバ温度分布測定装置 | |
CN111466088B (zh) | 波分复用光参数检测接收器 | |
WO2010110186A1 (ja) | 光信号検出装置および光信号検出方法 | |
JP2004077212A (ja) | 光信号の波長と波形を測定する装置 | |
KR20000031647A (ko) | 파장선택형 광검출기를 이용한 파장 분할다중화된 광신호의 채널 정보 검출 장치 및 그 방법 | |
US8027583B2 (en) | Wavelength division multiplexed systems with optical performance monitors | |
KR101089182B1 (ko) | 광파장 파워 측정기 | |
JP4383162B2 (ja) | 光分岐線路監視システム | |
JP5053980B2 (ja) | 光波長多重信号監視装置および方法 | |
JP2011249943A (ja) | 波長分割多重伝送システム、光チャネルモニタ、光チャネルモニタ方法、及び波長分割多重伝送方法 | |
US20070036548A1 (en) | System with a distributed optical performance monitor for use in optical networks | |
KR101545453B1 (ko) | 광 파워 미터 | |
JP4352810B2 (ja) | 合波器・分波器の挿入損失測定方法 | |
KR101904992B1 (ko) | 휴대용 멀티 채널 광 라인 계측기 | |
JP2005142747A (ja) | 光ファイバ情報収集装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
A302 | Request for accelerated examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
G170 | Publication of correction | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120625 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130909 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140910 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150907 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161005 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170907 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190904 Year of fee payment: 13 |