KR100803338B1 - 플라즈마 처리장치 - Google Patents

플라즈마 처리장치

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KR100803338B1
KR100803338B1 KR1020060121339A KR20060121339A KR100803338B1 KR 100803338 B1 KR100803338 B1 KR 100803338B1 KR 1020060121339 A KR1020060121339 A KR 1020060121339A KR 20060121339 A KR20060121339 A KR 20060121339A KR 100803338 B1 KR100803338 B1 KR 100803338B1
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전형탁
김석훈
우상현
김형철
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한양대학교 산학협력단
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    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431—Constructional details of the reactor
    • H01J37/3244—Gas supply means
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Abstract

플라즈마 처리장치가 개시된다. 처리되도록 하부전극에 탑재된 기판으로부터 일정 거리 이격되어 설치되며, 격자 구조의 프레임과 상기 프레임 격자 사이에 설치되는 메시로 이루어진 그리드를 구비하며, 상기 그리드에는 직류 바이어스가 인가된다.

Description

플라즈마 처리장치{Plasma processing apparatus}
본 발명은 플라즈마 처리장치에 관한 것으로, 특히 플라즈마 쉬스 영역의 안정성을 확보함과 동시에 소스의 균일한 주입을 달성할 수 있는 기술에 관한 것이다.
최근, 반도체소자의 미세화에 대응하여, 드라이 에칭에 있어서는 고 어스펙트비의 가공 등을 실현하기 위하여, 플라즈마 CVD 및 ALD에 있어서는 고 어스펙트비의 매립 등을 실현하기 위하여 고진공으로 플라즈마 처리를 행하는 일이 요구되고 있다.
종래의 일반적인 평행 평판형의 플라즈마 처리장치는 진공챔버 내에 기판을 얹어놓는 기판전극과 대향전극을 배설하고, 이들 전극 사이에 전극용 고주파 전원에 의해서 고주파 전압을 인가함으로써 진공챔버 내에 플라즈마를 발생시키도록 구성되어 있다.
이러한 플라즈마 처리장치에서 이온, 특히 양이온은 기판 및 박막에 손상을 유발할 수 있기 때문에 이러한 이온을 제어하기 위하여 직류 바이어스를 이용한다.
본 출원인은 이러한 직류 바이어스 인가를 위한 매니폴드 구조를 특허공개 2004-82738에서 제안하였다. 이 특허에 의하면, 처리되도록 탑재된 기판으로부터 일정 거리 이격되어 설치되며, 내부 공간이 형성되고 하부에 복수개의 소스분출공들이 형성되고 측면에 소스를 공급하는 소스공급관이 결합되며, 상기 내부공간과 구획되고 상기 소스분출공들과 겹치지 않도록 상하 관통되는 복수개의 플라즈마 통로들이 형성된 매니폴드를 포함하는 플라즈마 처리장치가 개시되어 있다.
그러나, 이러한 구성에 적용되는 매니폴드의 경우 여러 가지의 문제점을 야기한다.
먼저, 매니폴드에 소스분출공과 플라즈마 통로를 동시에 형성해야 하므로, 가공상 플라즈마 통로의 개수와 직경에 한계가 있다. 플라즈마 통로의 직경이 큰 경우, 플라즈마 형성시 플라즈마 영역과 매니폴드 사이에 형성되는 쉬스(sheath) 영역이 불안정해져서 플라즈마가 매니폴드 아래로 확장되고 이에 따라 이온들이 내려옴으로써 플라즈마 영역이 불안정하게 된다.
또한, 매니폴드의 높이에 의해 플라즈마 통로가 길기 때문에 플라즈마 라디컬(radical)이 반응챔버로 이동하는 시간이 길어지고, 이에 따라 반응성이 좋은 라디컬이 플라즈마 통로를 통과하면서 플라즈마 통로의 측면과 반응함으로써 반응챔버에 유입되는 라디컬의 양이 감소한다. 결국, 라디컬의 양이 감소함으로써, 가령 박막 증착이 효과적으로 이루어지지 않게 된다.
더욱이, 매니폴드의 내부공간에는 하나의 소스공급관이 연결되어 있어 소스공급관이 연결된 위치에 인접하여 형성된 소스분출공에서 소스 분출이 집중되는 현상이 발생한다. 또한, 소스분출공은 상기한 플라즈마 통로와 함께 형성되어야 하므로 개수와 직경에 있어서 한계가 있기 때문에 균일한 소스 주입이 어렵게 된다.
따라서, 본 발명은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위하여 제시되는 것으로, 본 발명의 목적은 플라즈마 쉬스 영역의 안정성을 확보할 수 있는 플라즈마 처리장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 소스의 균일한 주입을 달성할 수 있는 플라즈마 처리장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 매립에 중요한 요소인 라디컬의 양을 최초 상태로 유지할 수 있는 플라즈마 처리장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적과 특징들 및 이점은 이하에 서술되는 바람직한 실시예를 통하여 명확하게 이해될 것이다.
상기한 목적은 처리되도록 하부전극에 탑재된 기판으로부터 일정 거리 이격되어 설치되며, 격자 구조의 프레임과 상기 프레임 격자 사이에 설치되는 메시로 이루어진 그리드를 구비하며, 상기 그리드에는 직류 바이어스가 인가되는 플라즈마 처리장치에 의해 달성된다.
이러한 구성에 의하면, 플라즈마 통로를 구성하는 메시의 개구 사이즈를 작게 함으로써 플라즈마 영역과 매니폴드 사이에 형성되는 쉬스 영역을 안정되게 하여 플라즈마에 존재하는 이온이 그리드 하부로 내려오는 것을 방지할 수 있고, 라디컬이 통과하는 통로의 길이를 아주 짧게 구성함으로써 기판에 유입되는 라디컬의 양이 증가하여 박막 증착과 같은 기판과의 반응이 효과적으로 이루어진다.
바람직하게, 상기 프레임은 관(tube) 형상으로 그 저면에 다수의 소스 분출공이 균일하게 분포 형성되고, 적어도 둘 이상의 소스 주입관이 연통된다.
이러한 구성에 의하면, 그리드 전면에서 소스가 균일하게 배출됨으로써 기판의 증착되는 박막의 균일도가 향상된다.
바람직하게, 상기 소스 분출공은 상기 프레임의 격자 교차점에 형성될 수 있다.
또한, 상기 메시의 사이즈는 상기 플라즈마가 상기 그리드 하부로 내려오지 않도록 쉬스 영역이 안정화되는 크기일 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 일 실시예를 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 처리장치를 보여주는 구성도이다.
도시된 바와 같이, 반응챔버(100) 상부에는 플라즈마 발생 안테나(150)가 설치되고, 여기에 고주파 발생부(140)로부터 고주파 전원이 인가된다. 또한, 상부로부터 반응챔버(100) 내에 연결된 플라즈마 발생가스 주입관(130)을 통하여 플라즈마 발생가스가 주입된다.
반응챔버(100)의 내부에는 하부에 하부전극(120)이 설치되고 하부전극(120) 위에 일정거리 이격하여 그리드(grid; 110)가 설치된다. 그리드(110)에는 바이어스 발생부(160)로부터 직류 바이어스(bias)가 인가된다.
그리드(110)에 인가되는 직류 바이어스는 음의 바이어스이거나 양의 바이어스일 수 있는데, 음의 바이어스가 인가되는 경우에는 양이온을 트랩(trap)하고, 양의 바이어스가 인가되는 경우 양이온을 밀쳐낸다. 바람직하게, 대부분의 가스의 경우 플라즈마 상태에서 음이온의 수가 양이온의 수에 비해 상당히 적으므로 양의 바이어스를 그리드(110)에 인가하여 그리드(110) 하부로 이온이 내려가는 것을 효과적으로 제어할 수 있다.
도 2는 본 발명에 따른 그리드의 구조를 나타내는 저면도이다.
그리드(110)는 격자 구조의 프레임(frame; 114)과 프레임(114)의 격자 내부에 형성된 메시(mesh; 116)로 이루어진다.
프레임(114)은 가령 스테인레스 스틸 등의 재질로 제작될 수 있으며, 이 실시예에서는 원형의 테두리를 구비하지만, 장비의 구조에 따라 사각형이나 타원 등도 가능하다.
바람직하게, 프레임(114)은 그 내부가 전체적으로 연통되는 관(tube) 형태로, 테두리를 구성하는 프레임(114)의 다수의 위치에 소스 주입관(112)이 연통될 수 있다. 이 실시예에서는 소스 주입관(112)이 90°의 각도로 이격하여 설치된 것을 예로 들었으나 이에 한정되는 것은 아니다.
또한, 테두리 안쪽에 격자를 이루는 프레임(114)에서 교차위치에는 소스 분출공(118)이 형성된다.
이러한 구성에 의하면, 프레임(114) 전면에 균일하게 분포된 격자의 교차점에 소스 분출공(118)을 형성함으로써, 다수의 소스 주입관(112)으로부터 입력되는 소스를 전면에 걸쳐 균일하게 분출할 수 있다.
본 발명에 따르면, 격자가 이루는 개구 부분에는 메시(115)가 설치된다. 메시(115)의 개구 사이즈는 플라즈마에서 생성된 라디컬이 통과할 수 있도록 1mm까지의 크기를 갖는다.
이와 같이, 개구 사이즈가 작은 메시(115)를 사용하여 쉬스 영역을 안정화함으로써 그리드(110) 하부로 플라즈마가 확장되어 이온이 그리드(110) 하부로 내려오는 것을 막을 수 있다. 또한, 그리드(110)에 직류 바이어스를 인가할 때, 플라즈마 쉬스 영역이 변화하더라도 쉬스 영역이 안정되게 형성됨으로써 안정된 플라즈마 영역을 형성할 수 있다.
또한, 라디컬이 메시(115)를 통과하는 시간이 짧기 때문에 라디컬이 그리드(110)와의 반응이 적어 유입되는 라디컬의 양이 충분하므로, 가령 박막 증착이 효과적으로 이루어진다.
상기와 같은 구성의 플라즈마 처리장치의 동작을 설명한다.
먼저, 반응챔버(100)의 하부전극(110) 위에 기판을 탑재한 상태에서 그리드(110)에 연통된 소스 주입관(112)을 통하여 소스를 공급하면, 소스는 프레임(114)의 소스 분출공(118)을 통하여 배출된다. 이때, 상기한 바와 같이, 소스 분출공(118)이 프레임(114)의 격자 교차점에 형성되어 있어 소스는 프레임(118) 전면에서 균일하게 배출된다.
이와 동시에, 반응챔버(100) 내에 플라즈마 발생가스 주입관(130)을 통하여 플라즈마 발생가스를 도입하고, 반응챔버(100) 내부를 적당한 압력으로 유지하면서, 고주파 전원(140)으로부터 플라즈마 발생안테나(150)에 고주파 전압을 인가한다. 이에 따라, 도 1에 도시된 바와 같이, 반응챔버(100) 내의 공간 A에 플라즈마가 발생한다.
발생된 플라즈마는 그리드(110)의 메시(116)에 의한 개구를 통하여 하부전극(110)에 탑재된 기판과 반응하게 된다. 이때, 그리드(110)에 인가된 직류 바이어스에 의해 플라즈마에 존재하는 이온을 트랩하거나 밀쳐 내어 그리드(110) 하부로 내려오는 것을 막을 수 있다.
본 발명에 따른 플라즈마 처리장치는 원자층 증착장치(ALD) 또는 화학기상증착장치(CVD)에도 적용할 수 있으며, 산화물, 실리콘 화합물, 단결정 화합물, 다결정 화합물 및 비정질 화합물 등을 Si, SiGe, Ge, Al2O3, GaAs and SiC 등의 기판에 형성할 수 있다.
한편, 본 발명에 따른 플라즈마 처리장치에 적용되는 플라즈마 소스는 고밀도 플라즈마(HDP), 유도결합 플라즈마(ICP), 정전결합 플라즈마(CCP), 전자 싸이클론 공진(ECR) 등의 모든 플라즈마 소스를 포함할 수 있다.
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 중심으로 설명하였지만, 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변경이나 변형을 가할 수 있다.
예를 들어, 프레임은 단면이 원형인 관 이외에 단면이 다각형상의 관을 이용할 수 있으며, 특히 사각형상의 관의 경우는 소스 분출공의 직경을 모두 정확히 일치하도록 형성할 수 있으며, 메시를 프레임에 고정하기 쉽다.
상기 실시예에서는 4개의 소스 주입구를 예로 들었으나, 이에 한정되지 않고 적어도 2개 이상의 소스 주입구를 일정한 간격으로 설치할 수 있다.
또한, 상기 실시예에서 소스 분출공을 격자 교차점에 형성하였으나 이에 한정되지 않고 격자 교차점 사이의 프레임에 형성할 수 있으며, 이 경우 전체적으로 소스 분출공의 개수가 2배가 된다. 이와 같이, 소스 분출공의 직경과 개수는 장비의 특성에 따라 적절하게 조정할 수 있다.
따라서, 본 발명의 범위는 상기한 실시예에 국한되어서는 안되며, 이하에 서술되는 특허청구범위에 의해 결정되어야 한다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 플라즈마 통로를 구성하는 메시의 개구 사이즈를 작게 함으로써 플라즈마 영역과 매니폴드 사이에 형성되는 쉬스 영역을 안정되게 하여 플라즈마에 존재하는 이온이 그리드 하부로 내려오는 것을 방지할 수 있다.
또한, 라디컬이 통과하는 통로의 길이를 아주 짧게 구성함으로써 기판에 유입되는 라디컬의 양이 증가하여 박막 증착과 같은 기판과의 반응이 효과적으로 이루어진다.
또한, 그리드 전면에서 소스가 균일하게 배출됨으로써 기판의 증착되는 박막의 균일도가 향상된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 처리장치를 보여주는 구성도이다.
도 2는 본 발명에 따른 그리드의 구조를 나타내는 저면도이다.

Claims (4)

  1. 플라즈마 처리장치에 있어서,
    처리되도록 하부전극에 탑재된 기판으로부터 일정 거리 이격되어 설치되며, 격자 구조의 프레임과 상기 프레임 격자 사이에 설치되는 메시로 이루어진 그리드를 구비하며,
    상기 그리드에는 직류 바이어스가 인가되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 프레임은 관(tube) 형상으로 그 저면에 다수의 소스 분출공이 균일하게 분포 형성되고, 적어도 둘 이상의 소스 주입관이 연통되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리장치.
  3. 청구항 1 또는 2에 있어서,
    상기 소스 분출공은 상기 프레임의 격자 교차점에 형성되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리장치.
  4. 청구항 1 또는 2에 있어서,
    상기 메시의 사이즈는 상기 플라즈마가 상기 그리드 하부로 내려오지 않도록 쉬스 영역이 안정화되는 크기인 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리장치.
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