KR100758460B1 - 스테인레스 강판의 표면결함 검출방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (2)
- 다수의 스테인레스 강판별로 그레이 레벨(Gray Level)을 정의하는 단계;표면결함을 검출할 스테인레스 강판의 표면에 광을 조사하여 상기 표면의 화상을 획득하는 단계;상기 스테인레스 강판의 그레이 레벨에 대한 등급을 결정하는 단계;상기 결정된 스테인레스 강판의 그레이 레벨 등급에 따라서 상기 획득된 표면화상에 대한 화상신호의 출력 게인을 조정하는 단계;상기 조정된 출력 게인을 적용하여 상기 표면화상에 대한 화상신호의 출력을 증폭하는 단계; 및상기 증폭된 화상신호로부터 상기 강판의 표면결함을 검출하는 단계; 를 포함하는 스테인레스 강판의 표면결함 검출방법.
- 제1항에 있어서,상기 그레이 레벨 등급이 낮을수록 상기 화상신호의 출력을 상대적으로 크게 증폭하는 것을 특징으로 하는 스테인레스 강판의 표면결함 검출방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060104202A KR100758460B1 (ko) | 2006-10-25 | 2006-10-25 | 스테인레스 강판의 표면결함 검출방법 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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KR100758460B1 true KR100758460B1 (ko) | 2007-09-14 |
Family
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KR1020060104202A KR100758460B1 (ko) | 2006-10-25 | 2006-10-25 | 스테인레스 강판의 표면결함 검출방법 |
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KR (1) | KR100758460B1 (ko) |
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