KR100749919B1 - Moving aging chamber of display indication module - Google Patents

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KR100749919B1
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김성곤
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(주)에이원메카
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Abstract

A movable aging chamber of a display module is provided to store and manage permanently temperature data, test results and an abnormality alarming signal by writing the temperature data, the test results and the abnormality alarming signal in an external counting apparatus using an RFID(Radio Frequency IDentification) sensor. A movable aging chamber of a display module includes a first palette and a second palette. The first palette is composed of a power supply unit(22), a transfer conveyer(21) applied with power from the power supply unit, a temperature sensor(23) for checking the temperature of a rectangular sealed space, a heater(24) for controlling the temperature of the rectangular sealed space according to the result of the temperature sensor, and a cooling unit(25) for decreasing the temperature step by step. The second palette(300) is composed of a display module(41) for testing an aging reliability, an RFID sensor, a support unit, and an angle adjusting unit. The RFID sensor(33) is used for writing the test results of the display module and the temperature data of the temperature sensor in an external counting apparatus or transmitting the test results and the temperature data to a process main apparatus. The supply unit(31) is used for keeping obliquely the display module in combination with the RFID sensor. The angle adjusting unit(32) is used for changing the angle of the support unit.

Description

디스플레이 표시모듈의 이동식 에이징 챔버{Moving aging chamber of display indication module}Moving aging chamber of display indication module

도 1은 종래의 디스플레이 표시모듈 에이징 장치를 나타내 보인 개략도로서 고온 에이징의 경우를 보인 것이다. 1 is a schematic view showing a conventional display display module aging apparatus, showing a case of high temperature aging.

도 2는 도 1의 에이징 장치를 이용한 상온 에이징의 경우를 나타내 보인 개략도이다.2 is a schematic view showing a case of room temperature aging using the aging apparatus of FIG.

도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 표시모듈의 이동식 에이징 챔버의 제1팔레트 내부에 제2팔레트 실장을 보인 우측면 사시도이다.3 is a right side perspective view illustrating a second pallet mounting inside a first pallet of a movable aging chamber of a display display module according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 표시모듈의 이동식 에이징 챔버의 제1팔레트를 정면 사시한 도면이다.4 is a front perspective view of a first pallet of the movable aging chamber of the display display module according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 표시모듈의 이동식 에이징 챔버의 제2팔레트를 정면 사시한 도면이다.5 is a front perspective view of a second pallet of the movable aging chamber of the display display module according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 표시모듈의 이동식 에이징 챔버의 제1팔레트 하단에 삽설된 전원 공급부를 보인 도면이다.6 is a view showing a power supply inserted in a lower portion of the first pallet of the movable aging chamber of the display display module according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for main parts of the drawings>

21 : 이송컨베이어 22 : 전원 공급부21: conveying conveyor 22: power supply

23 : 온도 센서 24 : 히터23: temperature sensor 24: heater

25 : 냉각부 31 : 지지대25 cooling part 31 support

32 : 각도 조절기 33 : 알에프아이디(RFID)센서32: angle adjuster 33: RFID sensor

41 : 디스플레이 표시모듈 200 : 제1팔레트41: display display module 200: the first palette

300 : 제2팔레트 300: second palette

본 발명은 디스플레이 표시모듈(LCD,PDP,EL)의 생산 공정설비에 관한 것으로, 특히 제1팔레트의 내부 밀폐 중공에 디스플레이 표시모듈을 다량 적치하여 신뢰성을 테스트할 수 있는 디스플레이 표시모듈의 이동식 에이징 챔버에 관한 것이다.The present invention relates to a production process equipment of the display display module (LCD, PDP, EL), in particular a mobile aging chamber of the display display module that can test the reliability by placing a large amount of the display display module in the interior sealed hollow of the first pallet It is about.

일반적으로 액정디스플레이의 제조과정 중엔 통상의 제조공정을 통하여 제조된 액정디스플레이가 주위의 온도변화에 따라서도 제대로 구동이 이루어지는지 여부를 사전에 확인하기 위하여 신뢰성 테스트를 위한 에이징 공정을 거치게 된다.In general, during the manufacturing process of the liquid crystal display, the liquid crystal display manufactured through a conventional manufacturing process is subjected to an aging process for reliability testing in order to confirm in advance whether the liquid crystal display is properly driven in accordance with the ambient temperature change.

이러한 에이징 공정은 에이징 챔버내에 액정디스플레이를 팔레트에 의하여 이송 거치시킨 상태에서 소정 온도하에서 일정 시간동안 액정디스플레이를 작동시켜 액정디스플레이의 구동이 제대로 이루어지는지 여부를 판단하게 되는 것이다.The aging process is to determine whether the driving of the liquid crystal display is performed by operating the liquid crystal display for a predetermined time under a predetermined temperature in a state in which the liquid crystal display is transferred to the aging chamber by a pallet.

그런데, 이러한 에이징 공정에서 액정디스플레이의 1차 팔레트도 가열과 냉각이 이루어지면서 열팽창과 수축의 반복적인 영향을 받게 되고 소재의 특성상 열변형이 발생하여 팔레트의 수명을 단축시키는 요인으로 작용하고 있다.However, in such an aging process, the first pallet of the liquid crystal display is also subjected to repeated expansion and contraction of heat expansion and contraction while heating and cooling is performed, and thermal deformation occurs due to the characteristics of the material, thereby acting as a factor of shortening the life of the pallet.

또한, 종래의 에이징 공정 설비는 외부에 대형 고정 거푸집과 내부에 10~30미터의 연결 컨베이어를 구비하여 32인치 이상의 디스플레이 표시모듈 10~30대를 동시에 에이징을 하고 있으나, 앞공정에서 제작된 디스플레이 표시모듈을 에이징하기 전에 정해진 수량이 될 때까지 대기 및 적재하는 공간과 시간을 할당할 수밖에 없는 문제점이 있다.In addition, the conventional aging process equipment is equipped with a large fixed formwork on the outside and a connecting conveyor of 10 to 30 meters inside to aging 10 to 30 display display modules of 32 inches or more at the same time, the display display produced in the previous process There is a problem that the space and time to wait and load until a fixed quantity is allocated before aging the module.

도 1 및 도 2는 종래 디스플레이 표시모듈 에이징 장치의 일예를 나타내 보인 개략도로서, 도 1은 고온 에이징을 하는 경우를 보인 것이고, 도 2는 상온 에이징을 하는 경우를 보인 것이다. 1 and 2 is a schematic view showing an example of a conventional display display module aging apparatus, Figure 1 shows a case of high temperature aging, Figure 2 shows a case of room temperature aging.

도 1 및 도 2를 참조하면, 종래의 디스플레이 표시모듈 에이징 장치는 40 내지 60°C의 실내온도 유지가 가능하도록 된 에이징챔버(13)와, LCD 모듈(10)이 적재된 랙(11)을 수납하는 카세트(12)와, 상기 디스플레이 표시모듈(10)을 디스플레이된 상태로 구동시키기 위하여 외부로부터 상기 디스플레이 표시모듈(10)에 전기적 신호를 인가하기 위한 전원(14)과, 상기 디스플레이 표시모듈(10)과 전원(14)을 전기적으로 접속하기 위한 케이블(15)을 포함하여 구성된다. 1 and 2, the conventional display display module aging apparatus includes an aging chamber 13 capable of maintaining an indoor temperature of 40 to 60 ° C., and a rack 11 on which the LCD module 10 is loaded. A cassette 12 for receiving, a power source 14 for applying an electrical signal to the display display module 10 from the outside in order to drive the display display module 10 in the displayed state, and the display display module ( 10) and a cable 15 for electrically connecting the power source 14.

상기 구성의 종래 디스플레이 표시모듈 에이징 장치에서 고온 에이징을 하는 경우에는, 다수의 디스플레이 표시모듈(10)이 적재된 랙(11)을 카세트(12)에 다단으로 적재하여 실내온도가 고온(40 내지 60°C)으로 제어되는 에이징챔버(13) 내에 수납시키고, 상기 전원(14)으로부터 상기 디스플레이 표시모듈(10)에 전기적 신호를 인가하여 디스플레이된 상태에서 에이징을 할 수 있도록 되어 있다. In the case of high temperature aging in the conventional display display module aging apparatus having the above configuration, the rack 11 on which the plurality of display display modules 10 are stacked is stacked on the cassette 12 in multiple stages so that the room temperature is high (40 to 60). It is accommodated in the aging chamber 13 controlled by ° C), and the aging can be performed in the displayed state by applying an electrical signal from the power supply 14 to the display display module 10.

한편, 상기한 바와 같은 고온 에이징이 완료되면 도 2에 도시된 바와 같이 상기 카세트(12)를 에이징챔버(13)의 외부로 인출하여 검사자가 각 디스플레이 표시모듈(10)의 화면을 개별적으로 점검 및 조정해야 하는 문제점이 있다. Meanwhile, when the high temperature aging as described above is completed, the cassette 12 is drawn out of the aging chamber 13 as shown in FIG. 2 so that an inspector individually inspects the screens of the display display module 10 and There is a problem that needs to be adjusted.

그러나, 이러한 종래의 디스플레이 표시모듈 에이징 장치는 에이징챔버의 실내 크기가 제한되므로 1회 에이징시 에이징 챔버 내에 수납되는 디스플레이 표시모듈의 수량이 제한된다. 즉, 배치(batch)작업으로 인하여 에이징 작업효율이 저하되는 문제점이 있다.However, since the indoor size of the aging chamber is limited in the conventional display display module aging apparatus, the quantity of the display display module accommodated in the aging chamber is limited in one aging. That is, there is a problem that the aging efficiency is lowered due to the batch operation.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 본 발명의 목적은 디스플레이 표시모듈의 고온 및 저온 에이징을 제1팔레트의 인-라인(In-Line) 상태에서 신뢰성 테스트를 실시하여 사용자가 알 수 있게 외부 전송하여 기록하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 표시장치의 이동식 에이징 챔버를 제공하는데 있다.An object of the present invention devised to solve the above problems is to carry out an external test so that the user can know the high and low temperature aging of the display display module by performing a reliability test in an in-line state of the first palette. It is to provide a mobile aging chamber of the display display device characterized in that the recording.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 목적은 디스플레이 표시모듈을 제2팔레트의 지지대에 탑재하여 지지대의 사선 각도를 조절할 수 있게 제작하여 제1팔레트 내부 공간에 적치함으로써 디스플레이 표시모듈을 다량 에이징할 수 있는 것을 특징으로 하는 디스플레이 표시장치의 이동식 에이징 챔버를 제공하는데 있다.Another object of the present invention for achieving the above object is to mount the display display module on the support of the second pallet to adjust the diagonal angle of the support, so that the display display module can be aged in the interior space of the first pallet, thereby aging a large amount of the display display module. It is to provide a mobile aging chamber of the display display device, characterized in that.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 디스플레이 표시장치의 이동식 에이징 챔버는, 소정의 사각 밀폐 중공의 하단에 설치되어 외부 한전 입력 전원을 공급받아 팔레트로 전원을 출력하는 전원 공급부와, 상기 전원 공급부에 연계되어 장입 및 장출 구동을 행하기 위한 이송컨베이어와, 상기 전원 공급부에 연결되어 상기 사각 밀폐 공간의 소정 범위내의 온도를 체크(Check)하기 위한 온도센서와, 상기 온도센서에 연결되어 온도가 유지될 수 있도록 승온 및 등온 제어를 하기 위한 히터와, 장출 시점을 확인하며 점진적으로 온도를 하강시키는 냉각부로 구성된 제1팔레트와; The movable aging chamber of the display display device of the present invention for achieving the above object is a power supply for outputting the power to the pallet is installed at the lower end of a predetermined rectangular sealed hollow receiving the external KEPCO input power, and the power supply A conveying conveyor for charging and discharging driving in connection with a temperature sensor; a temperature sensor connected to the power supply unit; and a temperature sensor for checking a temperature within a predetermined range of the rectangular sealed space; A first pallet comprising a heater for controlling temperature rise and isothermal temperature, and a cooling unit for checking a loading time and gradually lowering the temperature;

상기 제1팔레트에 장입하여 에이징 신뢰성 테스트를 하기 위한 디스플레이 표시모듈과, 상기 디스플레이 표시모듈의 에이징(Aging) 신뢰성 테스트 결과와 상기 온도 센서에서 체킹(Checking)된 온도의 데이터를 외부 카운팅(Counting) 장치인 PC에 기록하거나 공정 메인(Main)장치로 전송하는 알에프아이디(RFID)센서와, 상기 알에프아이디센서에 연계되어 상기 디스플레이 표시모듈의 사선 각도를 유지하기 위한 지지대와, 상기 지지대의 사선 각도를 가변시키기 위한 각도조절기로 구성된 제2팔레트;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.An external counting device that displays a display display module for inserting the first pallet into an aging reliability test, a result of an aging reliability test of the display display module, and data of temperature checked by the temperature sensor. RF ID sensor for recording to PC or transmitting to process main device, support for maintaining diagonal angle of display display module in connection with RF ID sensor, and variable diagonal angle of support Characterized in that it comprises; a second pallet consisting of an angle adjuster for making.

상기 전원 공급부는 제1팔레트에 제2팔레트를 1~5개 탑재하여 제2팔레트의 하단 접지를 통해 상기 디스플레이 표시모듈로 간헐적으로 전원을 인가하는 것을 특징으로 한다.The power supply unit may mount 1 to 5 second pallets on the first pallet to intermittently supply power to the display display module through the bottom ground of the second pallet.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면에 의거하여 상세히 설명한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 표시모듈의 이동식 에이징 챔버의 제1팔레트 내부에 제2팔레트 실장을 보인 우측면 사시도이고, 도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 표시모듈의 이동식 에이징 챔버의 제1팔레트를 정면 사시한 도면이고, 도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 표시모듈의 이동식 에이징 챔버의 제2팔레트를 정면 사시한 도면이고, 도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 표시모듈의 이동식 에이징 챔버의 제1팔레트 하단에 삽설된 전원 공급부를 보인 도면이다.3 is a right side perspective view showing a second pallet mounted inside a first pallet of a mobile aging chamber of a display display module according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a mobile aging chamber of a display display module according to an embodiment of the present invention. 5 is a front perspective view of a first pallet of FIG. 5 is a front perspective view of a second pallet of a movable aging chamber of a display display module according to an embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a display according to an embodiment of the present invention. The power supply unit inserted into the lower end of the first pallet of the mobile aging chamber of the display module is shown.

도 3 내지 도 6 에 도시된 바와 같이, 본 발명의 에이징 챔버의 제1팔레트(200)는 소정의 사각 밀폐 중공의 하단에 설치되어 외부 한전 입력 전원을 공급받아 팔레트로 전원을 출력하는 전원 공급부(22)와, 상기 전원 공급부(22)에 연계되어 장입 및 장출 구동을 행하기 위한 이송컨베이어(21)와, 상기 전원 공급부(22)에 연결되어 사각 밀폐 공간의 소정 범위내의 온도를 체크하기 위한 온도센서(23)와, 상기 온도센서(23)에 연결되어 온도를 유지시킬 수 있도록 승온 및 등온 제어를 하기 위한 히터(24)와, 장출 시점을 확인하며 점진적으로 온도를 하강시키는 냉각부(25)로 구성되어 진다. As shown in Figures 3 to 6, the first pallet 200 of the aging chamber of the present invention is installed at the lower end of a predetermined rectangular sealed hollow power supply unit for receiving the external electric power input power to output power to the pallet ( 22), a transfer conveyor 21 for charging and discharging driving in connection with the power supply 22, and a temperature for checking a temperature within a predetermined range of the rectangular sealed space connected to the power supply 22 A sensor 23, a heater 24 for temperature raising and isothermal control connected to the temperature sensor 23 to maintain a temperature, and a cooling unit 25 gradually checking the loading time and gradually lowering the temperature. It consists of

본 발명의 에이징 챔버의 제2팔레트(300)는 제1팔레트(200)에 장입하여 에이징 신뢰성 테스트를 하기 위한 디스플레이 표시모듈(41)과, 상기 디스플레이 표시모듈(41)의 에이징 신뢰성 테스트 결과와 상기 온도 센서(23)에서 체킹된 온도의 데이터를 외부 카운팅 장치인 PC에 기록하거나 공정 메인 장치(미도시)로 전송하는 알에프아이디센서(33)와, 상기 알에프아이디센서(33)에 연계되어 상기 디스플레이 표시모듈(41)의 사선 각도를 유지하기 위한 지지대(31)와, 상기 지지대(31)의 사선 각도를 가변시키기 위한 각도조절기(32)로 구성되어 진다.The second pallet 300 of the aging chamber of the present invention is loaded into the first pallet 200 to perform an aging reliability test, a display display module 41, an aging reliability test result of the display display module 41, and the The RTID sensor 33 for recording data of the temperature checked by the temperature sensor 23 to a PC, which is an external counting device, or transmitting the data to a process main device (not shown), and the display in association with the RFID sensor 33. It consists of a support 31 for maintaining the diagonal angle of the display module 41, and an angle adjuster 32 for varying the diagonal angle of the support (31).

여기서, 상기 제1팔레트(200)는 32인치이상 디스플레이 표시모듈(41)을 1~5개 정도 실장 가능한 사각 밀폐 중공을 형성한다. 이때, 상기 제1팔레트(200)는 제2팔레트(300)를 장입 및 장출할 수 있는 도어(미도시)를 구비한다.Here, the first pallet 200 forms a rectangular sealed hollow for mounting 1 to 5 display display modules 41 of 32 inches or more. In this case, the first pallet 200 is provided with a door (not shown) for charging and unloading the second pallet 300.

여기서, 상기 제2팔레트(300)는 디스플레이 표시모듈(41)을 실장하여 제1팔레트(200)의 도어를 열어 이송컨베이어(21)에 의해 제1팔레트(200) 내부로 장입하게 된다. 지지대(31)는 디스플레이 표시모듈(41)을 탑재하고, 배면에 각도조절기(32)를 구비하여 지지대(31)의 사선 각도를 가변하게 된다. Here, the second pallet 300 mounts the display display module 41 to open the door of the first pallet 200 and is charged into the first pallet 200 by the conveying conveyor 21. The support 31 is mounted with the display display module 41, and is provided with an angle adjuster 32 on the back to vary the oblique angle of the support 31.

상기 디스플레이 표시모듈(41)은 고온, 저온, 진동, 드롭(Drop) 등의 자극에 의해 내구성이 얼마나 되는가를 테스트하기 위해 제1팔레트(200)에 투입하게 되면 도어가 닫히고, 동시에 전원 공급부(22)에서 전원이 공급되며 히터(24)가 가동되게 된다. When the display display module 41 is put into the first palette 200 to test how long the durability is due to stimulus such as high temperature, low temperature, vibration, and drop, the door is closed and at the same time, the power supply 22 Power is supplied and the heater 24 is operated.

이때, 상기 전원 공급부(22)에서는 제1팔레트(200)에 제2팔레트(300)가 탑재된 것이 확인되면 제1팔레트(200) 하단 접지와 제2팔레트(300)를 통해 디스플레이 표시모듈(41)에 간헐적으로 전원을 인가하게 된다.In this case, when it is confirmed that the second pallet 300 is mounted on the first pallet 200 in the power supply unit 22, the display display module 41 is connected to the bottom of the first pallet 200 and the second pallet 300. ) Is intermittently applied.

그리고, 외부 카운팅 장치인 PC와 에이징공정 흐름을 제어하는 공정 메인장치(미도시)는 제1팔레트(200)의 내부 온도설정과 온도유지/히팅/냉각의 시간을 가변 설정하게 된다. 이때, 상기 승온은 통상 30~80℃이며, 등온은 통상 60℃로 설정하게 된다. In addition, the PC, which is an external counting device, and a process main device (not shown) for controlling the aging process flow may variably set an internal temperature setting and a time for maintaining / heating / cooling the first pallet 200. At this time, the said temperature increase is 30-80 degreeC normally, and isothermal is set to 60 degreeC normally.

여기서, 상기 승온 및 등온을 온도센서(23)에서 지속적으로 체크하게 되며, 온도센서(23)에서 온도를 체킹하게 되면 알에프아이디(RFID)센서(33)에 의해 온도의 데이터 정보와 테스트 결과물을 외부 카운팅 장치인 PC에 기록하거나 공정 메인장치로 전송하기 시작한다.Here, the temperature and isothermal temperature is continuously checked by the temperature sensor 23, and when the temperature is checked by the temperature sensor 23, the data information of the temperature and the test result are externally displayed by the RFID sensor 33. Start recording to the counting device PC or transfer to the process main unit.

여기서, 상기 공정 메인장치의 공정 흐름을 실시간 처리를 제어 신호로 알에프아이디(RFID)센서를 통해 전송하게 된다. 이때, 냉각부(25)는 히터를 오프(OFF)시키고 냉각을 시작하여 일정 온도까지 하강시킨다.Here, the process flow of the process main unit is transmitted through the RFID sensor as a control signal in real time. At this time, the cooling unit 25 turns off the heater (OFF) and starts cooling to lower to a predetermined temperature.

상기 알에프아이디(RFID)센서(33)는 히터(24)와 냉각부(25)가 가동되는 동안 디스플레이 표시모듈(41)에 이상이 발생하면 외부 카운팅 장치인 PC에 기록하거나 공정 메인장치로 전송하여 이상 발생 알림 신호음을 발생시킨다.The RFID sensor 33 records an external counting device to a PC or transmits it to a process main device when an error occurs in the display display module 41 while the heater 24 and the cooling unit 25 are operated. An abnormality notification beep sound is generated.

본 발명은 전술한 실시 예에 국한되지 않고 본 발명의 기술사상이 허용하는 범위 내에서 다양하게 변형하여 실시할 수가 있다.The present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made within the scope of the technical idea of the present invention.

이상에서와 같이 본 발명에 따르면 디스플레이 표시모듈의 이동식 에이징 챔버는 알에프아이디(RFID)센서에 의해 온도의 데이터 정보와 테스트 결과물 및 이상 발생 알림 신호음을 외부 카운팅 장치에 기록하거나 공정 메인 장치로 전송하여 영구히 보관 관리할 수 있는 이점이 있다.As described above, according to the present invention, the mobile aging chamber of the display display module records data data of the temperature, test results, and abnormality notification signals to the external counting device or transmits them to the process main device by the RFID sensor. There is an advantage to archiving.

또한, 본 발명은 디스플레이 표시모듈을 제2팔레트의 지지대에 탑재하여 지지대의 사선 각도를 조절할 수 있게 제작하여 제1팔레트 내부 공간에 적치함으로써 디스플레이 표시모듈을 다량 에이징할 수 있는 이점이 있다.In addition, the present invention has the advantage that the display display module can be mounted on the support of the second pallet to adjust the diagonal angle of the support to be placed in the inner space of the first pallet, thereby aging the display display module in large quantities.

Claims (2)

소정의 사각 밀폐 중공의 하단에 설치되어 외부 한전 입력 전원을 공급받아 팔레트로 전원을 출력하는 전원 공급부(22)와, 상기 전원 공급부(22)에 연계되어 장입 및 장출 구동을 행하기 위한 이송컨베이어(21)와, 상기 전원 공급부(22)에 연결되어 상기 사각 밀폐 공간의 소정 범위내의 온도를 체크(Check)하기 위한 온도센서(23)와, 상기 온도센서(23)에 연결되어 온도가 유지될 수 있도록 승온 및 등온 제어를 하기 위한 히터(24)와, 장출 시점을 확인하며 점진적으로 온도를 하강시키는 냉각부(25)로 구성된 제1팔레트(200)와; A power supply unit 22 installed at a lower end of a predetermined rectangular sealed hollow and receiving external KEPCO input power and outputting power to a pallet; and a transfer conveyor for charging and discharging driving in connection with the power supply unit 22; 21 and a temperature sensor 23 connected to the power supply 22 to check a temperature within a predetermined range of the rectangular sealed space, and connected to the temperature sensor 23 to maintain a temperature. A first pallet (200) configured to include a heater (24) for temperature control and isothermal control, and a cooling unit (25) which gradually checks the time of loading and gradually lowers the temperature; 상기 제1팔레트(200)에 장입하여 에이징(Aging) 신뢰성 테스트를 하기 위한 디스플레이 표시모듈(41)과, 상기 디스플레이 표시모듈(41)의 에이징(Aging) 신뢰성 테스트 결과와 상기 온도 센서에서 체킹(Checking)된 온도의 데이터를 외부 카운팅(Counting) 장치인 PC에 기록하거나 공정 메인(main)장치로 전송하는 알에프아이디(RFID)센서(33)와, 상기 알에프아이디(RFID)센서(33)에 연계되어 상기 디스플레이 표시모듈(41)의 사선 각도를 유지하기 위한 지지대(31)와, 상기 지지대(31)의 사선 각도를 가변시키기 위한 각도조절기(32)로 구성된 제2팔레트(300);를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 디스플레이 표시모듈의 이동식 에이징 챔버. A display display module 41 for charging to the first pallet 200 for aging reliability test, an aging reliability test result of the display display module 41, and checking at the temperature sensor. ) Is connected to the RFID sensor 33 and the RFID sensor 33 for recording the data of the temperature into a PC which is an external counting device or transmitting the data to a process main device. And a second pallet (300) composed of a support (31) for maintaining an oblique angle of the display display module (41) and an angle adjuster (32) for varying the oblique angle of the support (31). Mobile aging chamber of the display display module, characterized in that. 제1항에 있어서, 상기 전원 공급부(22)는, The method of claim 1, wherein the power supply unit 22, 제1팔레트(200)에 제2팔레트(300)를 1~5개 탑재하여 상기 제2팔레트(300)의 하단 접지를 통해 상기 디스플레이 표시모듈(41)로 간헐적으로 전원을 인가하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 표시모듈의 이동식 에이징 챔버. 1 to 5 second pallets 300 are mounted on the first pallet 200 to intermittently supply power to the display display module 41 through the bottom ground of the second pallet 300. Movable aging chamber of display display module.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990035289A (en) * 1997-10-31 1999-05-15 윤종용 Aging device for liquid crystal display

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990035289A (en) * 1997-10-31 1999-05-15 윤종용 Aging device for liquid crystal display

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100981528B1 (en) * 2008-07-15 2010-09-10 삼성모바일디스플레이주식회사 Aging apparatus and methode of mother plate with organic light emitting display panels

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